Mdulo 5

Capacidade do processo,
etapas para implantao do CEP
e as ferramentas utilizadas
em conjunto com o CEP

Capacidade do processo
Aps verificar se um processo est estvel, sob
controle estatstico e que as medidas individuais
tenham distribuio normal possvel executar uma
anlise muito importante: a capacidade do processo.
A capacidade do processo demonstra, por meio de
ndices numricos, quanto um processo capaz de
produzir um produto atendendo a dada especificao
(valor nominal tolerncia). De posse do ndice de
capacidade possvel avaliar se o processo ir
satisfazer ou no as especificaes.
O processo estar sob controle estatstico significa estar
somente sob influncias de causas comuns. Isto implica
que os parmetros estimados para o processo so
confiveis, uma vez, que no existem causas especiais
perturbando a variao natural do processo. Ento,
esses
parmetros
(mdia,
frao
de
noconformidades, desvio padro, amplitude, etc.) podem
ser utilizados com um grau significante de confiana.

Capacidade do processo
Capacidade a habilidade do processo em produzir produtos dentro dos limites de
especificao.
Utilizam-se tcnicas estatsticas, a fim de estudar a variabilidade do processo,
comparando-a com as especificaes (tolerncias).
Diz-se que um processo capaz quando o mesmo atende estatisticamente s
especificaes.
Os principais ndices utilizados para obter a capacidade do processo so o Cp e o Cpk.
Limite superior
de especificao
LSE

Limite inferior
de especificao
LIE

medidas

Convenes adotadas

= MDIA DO PROCESSO
= DESVIO-PADRO DO PROCESSO
x= MDIA GERAL DAS AMOSTRAS
R= AMPLITUDE MDIA DAS AMOSTRAS
s= DESVIO-PADRO MDIO DAS AMOSTRAS
LIE= LIMITE INFERIOR DA ESPECIFICAO
LSE= LIMITE SUPERIOR DA ESPECIFICAO

d2 - fator para clculo de capacidade de

processo

n
2
3
4
5
6
7
8
9
10

D3
0,076
0,136
0,184
0,223

D4
3,267
2,574
2,282
2,114
2,004
1,924
1,864
1,816
1,777

D
0,709
0,524
0,446
0,403
0,375
0,353
0,338
0,325
0,314

c4
0,798
0,886
0,921
0,940
0,952
0,959
0,965
0,969
0,973

d2
1,128
1,693
2,059
2,326
2,534
2,704
2,847
2,970
3,078

FONTE: MONTGOMERY, D.C. Introduction to statistical quality control. 2 ed. New York, John Wiley, 1991.

Capacidade do processo
Os limites 3 so conhecidos como limites naturais de tolerncia:
LNST = + 3 (limite natural superior de tolerncia)
LNIT = - 3 (limite natural inferior de tolerncia)
O limite de 6 sobre a distribuio de uma caracterstica de qualidade do produto vem
a ser a capacidade do produto, onde o desvio padro do processo otimizado
e estvel (sob controle):
Capacidade do produto = 6
Como o valor de , em geral, desconhecido, para obter a capacidade do
processo usa-se um estimador:
= R / d2

(onde R a mdia das amplitudes das amostras e d2 um valor que

depende do tamanho da amostra (n 10))

Se n > 10 e foi feito o grfico de controle x s , o estimador de :

= (x - x) / n 1 (onde n o tamanho da amostra e x a mdia das amostras)

ndice de Capacidade Potencial do

Processo (Cp)
No existe uma relao matemtica ou estatstica entre limite de controle e limite de
especificao. Os limites de controle so definidos em funo da variabilidade do
processo e medido pelo desvio padro. Os limites de especificao so
estabelecidos no projeto pelos engenheiros, pela administrao ou pelo cliente.
A melhor forma de se verificar a adequao de um processo s necessidade da
engenharia de produto atravs do estudo de capacidade do processo ou da relao
entre a capacidade do processo e a diferena entre os limites de especificao. Esta
relao conhecida como ndice de capacidade potencial do processo - Cp.
Cp: ndice de capacidade potencial do processo, leva em considerao a disperso
do processo (curto prazo) em relao aos limites de especificao.

LSE LIE
Cp =
R/ d
6
2

Sendo:
LSE = limite superior de
especificao;
LIS = limite inferior de
especificao;
6 = capacidade do processo.

ndice de Capacidade Potencial do

Processo (Cp)
LIE

-6

LSE

-5

-4

-3

-2

-1

3 Desvios para cada lado da mdia do processo

Tolerncia Total ( Limites de Especificao)

LSE LIE
Cp =
R/ d
6
2

ndice de Capacidade Potencial do

Processo (Cp)
A anlise do ndice de capacidade muito til na
tomada de decises sobre a adequao do processo
s especificaes. Uma regra prtica para esta
anlise descrita a seguir:
- Processo Vermelho: (Cp < 1), a capacidade do
processo inadequada tolerncia exigida.
- Processo amarelo: (1 Cp 1,33), a capacidade
do processo est em torno da diferena entre as
especificaes.
- Processo Verde: (Cp > 1,33), a capacidade do
processo adequada tolerncia exigida.

ndice de Capacidade Nominal do Processo

(Cpk)
Na prtica, nem sempre o processo esta centrado na mdia, ou seja, pode-se chegar
a concluses erradas quanto a capacidade do processo. Se o processo no se
encontrar centrado na mdia, Kane (1986) props a utilizao do ndice de
Performance (Cpk):
Cpk: ndice de capacidade nominal do processo, leva em considerao a disperso
do processo (curto prazo) e centragem do processo em relao aos limites de
especificao.

LSE X
Cps =
3 R / d
2

X LIE
Cpi =
3 R / d

LSE X X LIE
Cpk = min
,

R / d2
R / d2

ndice de Capacidade Nominal do Processo

(Cpk)
LIE

-6

LSE

-5

-4

-3

-2

-1 ALVO 1 2
3 DESVIOS

DIFERENA ENTRE MDIA E LIE

X LIE
Cpi =
3 R / d2

3 DESVIOS

DIFERENA ENTRE LSE E A MDIA

Cps =

LSE X
3 R / d
2

Observaes importantes

Cp sempre maior ou igual a Cpk

Quando o processo est centralizado, ou seja, a sua mdia est bem no meio
da especificao, ento Cp = Cpk

Sempre que Cpk < 1, h gerao de produtos no-conformes

Tanto Cp como Cpk s tm resultados vlidos se a distribuio dos valores
individuais for normal

No caso de especificaes unilaterais, somente se utiliza o ndice Cpk

ndices de Desempenho
Pp: ndice de desempenho potencial do processo, leva em considerao a disperso
do processo em relao aos limites de especificao.

LSE LIE
Pp =
6 S
Ppk: ndice de desempenho nominal do processo, leva em considerao a disperso
e centragem do processo em relao aos limites de especificao.

LSE X X LIE
Ppk = min
,

3
3

S
S

Relacionamento entre Cp e Cpk e PPM

Nvel Sigma
1
2
3
4
5
6

Cp
0,33
0,67
1,00
1,33
1,67
2,00

Cpk
0,33
0,67
1,00
1,33
1,67
2,00

ppm
317.311
45.500
2.700
63
0,57
0,002

Relacionamento entre Cp e Cpk

LIE

ALVO

LSE

Cp = 1
Cpk = 1
LIE

ALVO

LSE

Cp = 1
Cpk = 0
LIE

ALVO

LSE

Cp = 1
Cpk = -1

Exemplos de ndices de capacidade

O processo est
deslocado, mas
no excede os
limites de
especificao.

LIE

10

11

12

13

14

LSE

15

16

LIE

17

11

12

13

14

Cp

Cpi

Cps

Cpk

13

1,5

2,5

1,5

Cp

Cpi

Cps

Cpk

14

2.0

2.0

18

LSE

O processo est
centrado e atende
as especificaes.
10
18

15

16

17

2.0

Exemplos de ndices de capacidade

T

LIE

LSE

O processo est
deslocado, mas
no excede os
limites de
especificao.

15

Cp
2

Cpi
2,5

Cps
1,5

Cp

Cpi

Cps

Cpk

3,0

1,0

1,0

10

11

12

13

14

15

16

17

LIE

18
LSE

O processo est
deslocado, mas
no excede os
limites de
especificao.

16

10

11

12

13

14

Cpk
1,5

15

16

17

18

Exemplos de ndices de capacidade

O processo est
deslocado e excede
os limites de
especificao,
produzindo produtos
no-conformes.

LIE

LSE

17

10

11

12

13

14

15

16

17

18

Cp
2

Cpi
3,5

Cps
0,5

Cpk
0,5

Anlise de Cpk

Cpk
2,0

Nvel do
Processo
A

1,33 at
1,99

1,00 at
1,32

< 1,00

Conceito do Processo
Excelente Confivel, os operadores do processo
exercem completo controle sobre o mesmo.
Capaz Relativamente confivel, os operadores do
processo exercem controle sobre as operaes, mas o
controle da qualidade monitora e fornece informaes
para evitar a deteriorao do processo
Relativamente Incapaz Pouco confivel, requer
controle contnuo das operaes, tanto pela fabricao
quanto pelo controle da qualidade, visando evitar
constantes descontroles e perdas devido a refugos,
retrabalhos, paralisaes, etc.
Totalmente incapaz O processo no tem condies de
manter as especificaes ou padres, por isso,
requerido o controle, reviso e seleo de 100% das
peas, produtos ou resultados

Exerccio

O nosso processo tem os seguintes valores

histricos, quanto temperatura de reao:

Mdia: 60C
Desvio padro: 2C

O projeto exige que a temperatura da reao seja

controlada entre 52 e 68C. O processo capaz de
atender especificao do projeto

Resposta do exerccio

Mdia: 60C
Desvio padro: 2C
Mnimo: 52C
Mximo: 68C

Mdia = 68 52 / 2 = 60C

coerente

Cp = LSE LIE / 6 = 68 52 / 6. 2 = 1,333

O processo capaz

Exerccio

O nosso processo tem os seguintes valores

histricos, quanto PUREZA do produto:

Mdia: 97%
Especificao atual: 95% (mnimo)
Desvio padro: 0,4%

A rea de Vendas identificou um potencial

cliente, mas que exige uma especificao
mnima de 95,8%.
Podemos garantir a qualidade e atender ao
novo cliente?

Resposta do exerccio
Mdia: 97%
Desvio padro: 0,4%
Espec (min): 95%

Quando h apenas o limite inferior de especificao:

Cpi = LIE / 3 = 97 95 / 3. 0,4 = 1,67

O processo atual capaz!

Condies para se implantar Controle

Estatstico de Processo - CEP
Descrever o processo cuja histria ser documentada;
Definir os parmetros a serem controlados;
Definir os critrios referentes condio de controle (linha central) e a condio
fora de controle ( limites de controle) dos parmetros selecionados;
Definir quais, como, quando e onde os dados sero coletados e registrados;
Definir os grficos, as formas e a freqncia de registro dos dados;
Definir os procedimentos a serem executados quando ocorrerem condies fora
de controle;
Definir as atribuies e responsabilidades pelo procedimentos de controle dos
processos;
Treinar a equipe para lanar e interpretar corretamente os dados nos grficos;
Ter concludo os estudos sobre Capacidade de Inspeo, cujos resultados devem
indicar que a capacidade aceitvel, numa escala aceitvel, marginal e
inaceitvel;
Disponibilizar todas as planilhas de registro de dados nos locais apropriados ou
prximos a eles.

Etapas para implantao do CEP

 Etapa 01 Identificar o projeto, caracterstica a ser
acompanhada
 Etapa 02 Definir o tipo de carta de controle que ser
usada
 Etapa 03 Definir os LSC, LIC e LM
 Etapa 04 Criar o modelo onde as medidas ou
inspees sero registradas
 Etapa 05 Verificar o sistema de medio atual para a
caracterstica definida e garantir que esteja adequado
 Etapa 06 Treinar operadores ou / e inspetores de
qualidade
 Etapa 07 Obter e analisar os dados
 Etapa 08 Calcular a capacidade do processo
 Etapa 09 Verificar se o processo ou no capaz
 Etapa 10 Se o processo no for capaz deve-se
elaborar um plano de ao para corrigir as no
conformidades identificadas (5W2H)
 Etapa 11 Implantar o plano de ao
 Etapa 12 Medir a eficcia e tomar outras aes se
necessrio

Ferramentas normalmente utilizadas em

apoio ao CEP

Fluxograma;
Diagrama Ishikawa (Espinha de Peixe);
Folhas de Verificao;
Diagramas de Pareto;
Histogramas;
Diagrama de Disperso.

Cada ferramenta simples para implementar.

Essas ferramentas normalmente so utilizadas em conjunto.

1 Ferramenta Fluxograma
Inspeo de um setor
da Empresa

Incio

Definir
gargalos

Chegada
ao setor

Relatrio

Verificar
documentao

No

Em ordem?
Sim

Inspeo
linha 1
1

parcial

Verificar erros

Apurar
responsabilidades

Verificar
controle

Sim

H
atraso?
No

Inspeo
linha 2

Relatrio final

Relatrio
parcial
Fim

2 Ferramenta Diagrama Ishikawa (Espinha

de Peixe)
DIAGRAMA ESPINHA DE PEIXE

Causas

Meio ambiente

Mtodo

Material

Mo de Obra

Efeito

Causas

Management

Material

Medio

Mquina

Os diagramas de causa e efeito so elaborados para ilustrar claramente as diversas

causas ou fatores que afetam um problema, separando-os em grupos e relacionando as
causas. Para cada efeito, provavelmente haver diversas categorias principais de
causas. Por exemplo, as causas principais da variao do processo so normalmente
conhecidas como 8M: Material, Mquina, Mo-de-Obra, Mtodo, Meio Ambiente,
Management (gerenciamento), Matria Prima e Medio.

3 Ferramenta - Folha de Verificao Exemplo

ERRO DE DIGITAO

JAN.

FEV.

MAR.

ABR.

TOTAL

Ortografia

ll

Pontuao

lll

llll

ll

llll

13

Nmeros errados

Manchas

Pargrafos

ll

lll

lllll

ll

12

Alinhamento

llll

llllll

llll

llllll

20

TOTAL

11

17

14

14

56

Que eventos esto ocorrendo? (Ex.: tipo de defeito):

Ortografia, pontuao, manchas, pargrafos, nmeros errados e alinhamento.
Quando quantas vezes ocorrem os eventos? (Ex.: freqncia dos defeitos):
Ortografia:5; Pontuao:13; Manchas:4; Pargrafos:12; Nmeros Errados:2;
Alinhamento:20.
Onde esto ocorrendo os eventos? (Ex.: localizao do defeito):
No local onde foram colhidas as informaes.

4 Ferramenta - Diagrama de Pareto Exemplo

N
D
E
F
E
I
T
O
S

28
24
20
16
12
8
4
0

ALI
NHA
MEN
TO

PON
TUA
O

PA
R
GRA
FOS

TIPO DE DEFEITO

Na figura o eixo vertical esquerdo mostra o nmero de defeitos para cada tipo de
defeito.
O eixo horizontal relaciona os tipos de defeitos comeando com aquele mais
freqente, esquerda, e movimentando-se em direo ao menos freqente,
direita.

5 Ferramenta - Histograma

Freqncia

Histograma um grfico de barras que ilustra a variao de dados quantitativos,

ele til porque proporciona uma representao visual da distribuio dos valores
observados facilitando a apresentao e anlise dos dados. Em funo de sua
forma ilustrativa ele possibilita a visualizao de variaes que dificilmente
veramos em uma simples tabela de dados.

Freqncia
nmero de vezes
que o valor se
repetiu

Classes (ou grupo)

dos dados
observados

Medidas
Mdia da
Populao

6 Ferramenta Diagrama de Disperso

Observe como os pontos marcados formam um padro de agrupamento. A

direo e a proximidade dos pontos nos indicam a intensidade da relao entre
as variveis.

Quanto mais o padro tender a uma linha reta mais forte a relao entre as
variveis. Uma linha reta significaria que cada vez que uma varivel se
modificasse, a outra tambm se modificaria na mesma proporo.

Varivel 2

Varivel 1

Bibliografia
 Controle estatstico de processo Trabalho - Prof. Dr. Roberto Antonio Martins
2002
 DIRETRIZES BSICAS PARA IMPLANTAO DO CONTROLE ESTATSTICO
DE PROCESSOS - Eveline Chaves Toledo, Mrio Celso Canavezi, Shirley da
Luz Soares Mestranda em Gerncia da Produo - Escola Federal de
Engenharia de Itajub Departamento de Produo Itajub MG
 As causas comuns no CEP so inerentes ao processo? Carlos H. Domenech
www.statistical.com.br/artigos.asp
 Introduo ao CEP- Controle Estatstico de Processo - Prof. Jos Carlos de
Toledo - GEPEQ Grupo de Estudo e Pesquisa em Qualidade - DEP- UFSCar
 CEP para processos contnuos e em bateladas Alberto Wunderler Ramos,
2000
 Controle Estatstico da Qualidade Antnio F. B. Costa, Eugnio K. Epprecht,
Luiz C. R. Carpinetti, 2008

Fim do Mdulo 5