Escolar Documentos
Profissional Documentos
Cultura Documentos
) [(
)]
[(
)]
[(
)]
Assim, a incerteza na soma ou diferena de medidas a soma dos quadrados das incertezas de
cada medida.
Para produtos e divises a regra : seja
Apostila Metrologia
5
Assim;
() [
(
[
(
[
(
A incerteza relativa em um produto ou diviso a raiz quadrada da soma das incertezas
RELATIVAS de cada medio.
A regra geral para as incertezas, em uma funo geral f(x1, x2,...,xn), onde x so as incertezas
dada por:
() [ (
))
A utilizao da frmula da propagao da varincia no clculo da propagao da
incerteza no sempre correta, pois depende da linearizao da funo envolvida.
Assim, a frmula de soma e diferenas de incertezas exata, mas a do o produto ou
diviso de qualquer funo no linear aproximada. A aproximao satisfatria se o
erro relativo de x no for muito grande (u(x) < 20% u).
INSTRUMENTOS
Conhea quais instrumentos mais conhecidos e usados na rea de metrologia para inspeo da
qualidade.
Paqumetro: O paqumetro um instrumento usado para medir as dimenses lineares internas,
externas e de profundidade de uma pea. Consiste em uma rgua graduada, com encosto fixo,
sobre a qual desliza um cursor.
Faixa de Medio: definida como a faixa de utilizao do instrumento, dentro do qual se
admite que o erro do instrumento de medio mantm se, dentro dos limites especificados.
Os paqumetros geralmente so fabricados com faixa de operao de 150 mm a 2000 mm ou no
sistema ingls de 6a 80.
Resoluo: Menor diferena entre indicaes de um dispositivo mostrador que pode ser
significativamente percebida, ou seja menor leitura do instrumento.
Relgios apalpadores: Relgios apalpadores so instrumentos de medio utilizados na
indstria para diversos fins, como a excentricidade de peas, o alinhamento e centragem de
peas nas mquinas, o paralelismos entre faces, medies internas e medies de detalhes de
difcil acesso. Seu funcionamento consiste basicamente num mecanismo que transforma o
deslocamento radial de uma ponta de contato em movimento axial transmitido a um relgio
comparador, no qual pode-se obter a leitura da dimenso.
Apostila Metrologia
6
Relgio comparador: Idem ao item anterior.
Micrometro: O micrmetro funciona por um parafuso micromtrico e muito mais preciso que
a craveira, que funciona por deslizamento de uma haste sobre uma pea dentada e permite a
leitura da espessura por meio de um nnio ou de um mecanismo semelhante ao de um relgio
analgico.
Multmetro: Destinado a medir e avaliar grandezas eltricas, um Multmetro ou Multiteste
(Multimeter ou DMM - digital multimeter em ingls) um instrumento que pode ter mostrador
analgico (de ponteiro) ou digital.
Rguas: Muito utilizadas na medida de comprimentos, as mesma diferem das reguas comuns,
eles tem de estar calibradas.
Apostila Metrologia
7
Rugosmetro: Utilizado para inspeo de rugosidade de um material, ou seja verifica-se no caso
em uma rea plana qual o nvel de salincias a mesma tem, o mesmo tem como padro a medida
RZ.
Mquina de medio tridimensional: O controle de qualidade dimensional to antigo quanto
a prpria indstria, mas somente nas ltimas dcadas vem ocupando a importante posio que
lhe cabe. O aparecimento de sistemas de medio tridimensional significa um grande passo
nessa recuperao e traz importantes benefcios, tais como aumento da exatido, economia de
tempo e facilidade de operao, especialmente depois da incorporao de sistemas de
processamento de dados. Em alguns casos, constatou-se que o tempo de medio gasto com
instrumentos de medio convencionais ficou reduzido a um tero com a utilizao de uma
mquina de medir coordenadas tridimensional MMC manual sem computador,
e a um dcimo com a incorporao do computador.
Durmetro: Usado na medir a dureza de um material, a mesma muito utilizada em fabricas de
aos, metais, forjarias e centro de usinagem.
Projetor de perfil: Quando uma pea muito pequena, fica difcil visualizar seu perfil e
verificar suas medidas com os aparelhos e instrumentos comuns. Esse problema resolvido com
os projetores de perfil. O projetor de perfil destina-se verificao de peas pequenas,
Apostila Metrologia
8
principalmente de formato complexo. Ele permite projetar em sua tela de vidro a imagem
ampliada da pea. Esta tela possui gravadas duas linhas perpendiculares, que podem ser
utilizadas como referncia nas medies. O projetor possui uma mesa de coordenadas mvel
com dois cabeotes micromtricos, ou duas escalas lineares, posicionados a 90.Ao colocar a
pea que ser medida sobre a mesa, obtemos na tela uma imagem ampliada, pois a mesa possui
uma placa de vidro em sua rea central que permite que a pea seja iluminada por baixo e por
cima simultaneamente, projetando a imagem na tela do projetor. O tamanho original da pea
pode ser ampliado 5, 10, 20, 50 ou 100 vezes por meio de lentes intercambiveis, o que permite
a verificao de detalhes da pea em vrios tamanhos. Em seguida, move-se a mesa at que uma
das linhas de referncia da tela tangencie o detalhe da pea e zera-se o cabeote micromtrico
(ou a escala linear). Move-se novamente a mesa at que a linha de referncia da tela tangencie a
outra lateral do detalhe verificado. O cabeote micromtrico (ou a escala linear)
indicar a medida. O projetor de perfil permite tambm a medio de ngulos, pois sua tela
rotativa e graduada de 1 a 360 em toda a sua volta.
TABELAS DE UNIDADES DE MEDIDA
Apostila Metrologia
9
Sistema de Medida Americano:
Apostila Metrologia
10
EXERCCIOS
1. Escolha a alternativa que completa corretamente
a lacuna:
10,5 km + 35 dm + 550 cm = ............. metros.
A) 10.509,00 m
B) 1.009,50 m
C) 10.095,00 m
D) 1.095,00 m
E) 10.850,00 m
2. Marque a alternativa correta quanto converso
do seguinte valor:
1 (p) = ......................................... polegadas
A) 6
B) 8
C) 10
D) 12
E) 14
3. Os mltiplos e submltiplos do metro esto entre:
a) metro e micrometro;
b) exametro e attometro;
Apostila Metrologia
11
c) quilmetro e decmetro;
d) metro e milmetro.
4. Um sistema totalmente diferente do sistema mtrico o:
a) japons;
b) francs;
c) americano;
d) ingls.
5. Por meio da rgua, micrmetro, comparador, os erros de forma podem ser:
a) detectados e corrigidos;
b) detectados e eliminados;
c) detectados e medidos;
d) detectados e reduzidos.
R: 1:a; 2:d; 3:b; 4:c; 5:c
Apostila Metrologia
12