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estatstico
4 Tendncias em estabilidade:
Estudos de tendncias de estabilidade de acompanhamento
(incluindo at estudos de produtos de degradao) quando
analisados em conjunto com outros dados fornecidos
(tendncias de resultados de controle em processo e de
resultados de produtos terminados) podem levantar questes
antes no visualizadas..
8 Registros de produtos:
Numa anlise de reviso peridica de produtos podemos
perceber certas necessidades de fomentar/complementar
informaes de registros.
9 Extenso de investigaes:
Algumas extenses de investigao podem ser levantadas como
necessrias, como por exemplo, performance de diferentes
fornecedores para um mesmo processo/produto.
ndice
Uso
Definio
Cp, Pp
O processo est
Taxa de tolerncia (a largura dos limites de especificao)
centrado entre os
variao atual (tolerncia do processo)
limites de especificao
Cpk, Ppk
O processo no est
centrado entre os
limites de
especificao, mas cai
sobre ou entre eles
Pp
Desempenho: Intervalo de tolerncia dividido pelo desempenho
do processo;
Desconsidera a centralizao do processo;
No sensvel aos deslocamentos (causas especiais) dos dados;
Quanto maior o ndice, menos provvel que o processo esteja
fora das especificaes;
Um processo com uma curva estreita (um Pp elevado) pode no
estar de acordo com as necessidades do cliente se no for
centrado dentro das especificaes.
Clculo do ndice
Os ndices de Performance do processo utilizam o
desvio-padro calculado.
LSE (Limite Superior de Especificao) = 2.5
LIE (Limite Inferior de Especificao) = 0.05
(Desvio-padro calculado) = 0.5350
2,45 = 0, 7632
3,21
Ppk :
- Indica quo prxima a mdia est do valor alvo
do processo;
- o ajuste do ndice Pp para uma distribuio
no-centrada entre os limites de especificao;
- sensvel aos deslocamentos (causas
especiais) dos dados;
Pp bom
Causa: variao menor que a faixa dos limites de
especificao
Ppk bom
Causa a distribuio est centrada e h uma variao
menor que a faixa dos limites de especificao
Processo: satisfatrio
Pp alto
Causa: baixa variao em relao faixa dos limites de
especificao
Ppk alto
Causa: a distribuio est centrada e h uma baixa
variao em relao faixa dos limites de especificao
Processo: capaz
Pp alto
Causa: baixa variao em relao faixa dos limites de
especificao
Ppk baixo
Causa: h uma baixa variao em relao faixa dos
limites de especificao, mas a distribuio no est
centrada
Processo: incapaz
Concluso:
Processo centrado na mdia: uso de Pp e Cp
Vantagem:
1- Monitorar processos de fabricao (avaliar
performance de mquina).
2 Monitorar resultados de estabilidade avaliar OOT
3 Dar suporte a outros sistemas: necessidade de
controle de mudana; input para programa de
manuteno da empresa; output para rea de
desenvolvimento de produtos (OOT estabilidade).
Obrigado!
Cludio Cabral