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FILOMENA BARBOSA RODRIGUES MENDES

Anlise de Medidas de Perdas Magnticas em Lminas


de Ao ao Silcio

FLORIANPOLIS
2004

UNIVERSIDADE FEDERAL DE SANTA CATARINA


PROGRAMA DE PS GRADUAO EM ENGENHARIA
ELTRICA

Anlise de Medidas de Perdas Magnticas em Lminas


de Ao ao Silcio

Dissertao submetida
Universidade Federal de Santa Catarina
como parte dos requisitos para a
obteno do grau de Mestre em Engenharia Eltrica

FILOMENA BARBOSA RODRIGUES MENDES

Florianpolis, maro de 2004.

Anlise de Medidas de Perdas Magnticas em Lminas de Ao


ao Silcio
Filomena Barbosa Rodrigues Mendes

Esta dissertao foi julgada adequada para obteno do Ttulo de Mestre em Engenharia
Eltrica, rea de Concentrao em Eletromagnetismo e Dispositivos Eletromagnticos, e
aprovada em sua forma final pelo Programa de Ps-Graduao em Engenharia Eltrica da
Universidade Federal de Santa Catarina.

Prof. Nelson Jhoe Batistela, Dr.


Orientador

Prof. Jefferson Luis Brum Marques, Ph.D.


Coordenador do Programa de Ps-Graduao em Engenharia Eltrica

Banca Examinadora:

Prof. Nelson Jhoe Batistela, Dr.


Presidente

Prof. Patrick Kuo-Peng, Dr.


Co-orientador

Prof. Renato Carlson, Dr.

Prof. Joo Carlos dos Santos Fagundes, Dr.

Eng. Luiz Von Dokonal, M.Sc.

ii

Deus, por todas as coisas.


Aos meus pais:
Jesuno Barbosa (in memorian), pelos ensinamentos e boas recordaes
e Leontina, pela incansvel espera de meu retorno casa.
iii

AGRADECIMENTOS
O fato de representar formalmente a autoria desta dissertao, no significa que ela
tenha resultado apenas do esforo individual. Ela contou com diversas co-autorias
presenciais ou no. Frutos de vnculos estabelecidos com colegas do GRUCAD (grupo de
concepo e anlise de dispositivos eletromagnticos), com colegas de diversos
laboratrios, com pessoas de reas distintas engenharia e de muitos outros vnculos, no
menos importantes, que deram sua importante contribuio na consolidao deste trabalho.
Assim, passo a destac-las sumariamente agradecendo as pessoas e os organismos que
contriburam para viabilizao desta pesquisa.
No Brasil agradeo:
-

meu esposo Fredy pela compreenso, incentivo e afeto.

minhas filhas Lesly e Ketty pela constante espera das horas de lazer em
minha companhia.

minha irm Ftima pelo apio e parceria.

o Wilson e o Marcelo pelo excelente atendimento.

a CAPES, pela concepo da bolsa que permitiu a realizao deste estudo.

a professora Jackeline e aos professores do centro tecnolgico que


acompanharam e participaram de minha jornada acadmica.

a famlia Santos: Manuel (in memorian), Glria, Ana Maria, Arliane e


Andria pelo apio e amizade.

a Elsa e a Eliane pelo companheirismo e incentivo.

a Laura, Vanessa, Paula e a Isaura por alegrarem e acompanharem minhas


filhas em minha ausncia.

a todos os estudantes convnio de Cabo Verde; Angola; Guin Bissau;


Haiti, Moambique, Mxico, Nicargua e Colmbia pelas horas de lazer
que serviram de inspirao. Aos meus amigos: Miriam, Paula Gago,
Teresa Veiga, Miranda, Ana Martins, Bela, Jairson, Lucala, Ronise,
Haleinge, Maria, Telita, Adilson, Oulimata, Anglica, Tapias e Zelaya
pelo incentivo.

a todos os colegas do GRUCAD pelo apio dirio e pelos momentos de


lazer.

iv

a Fabiana Lana pelos longos debates e pelo incentivo.

o Esai pelo apio e momentos de lazer promovidos.

os colegas de outros laboratrios pelo suporte fornecido.

Em Cabo Verde comeo por agradecer minha me Leontina, meus irmos:


Francisco, Francisca, Augusto e demais familiares, pelo incentivo e pela paciente espera de
meu retorno casa.
Em Coimbra agradeo minha irm Helena, pela interminvel espera de minha
visita.
Em Angola agradeo minha irm Maria da Conceio e demais familiares pelo
apoio moral e espiritual.
Nos Estados Unidos agradeo minha irm Anita e demais familiares por todo apio
concedido.
No Peru agradeo meus sogros Maglrio e Suzana; cunhados e demais familiares
pelo apio distncia e pela longa espera de minha visita.

Resumo da Dissertao apresentada UFSC como parte dos requisitos necessrios


para a obteno do grau de Mestre em Engenharia Eltrica.

Anlise de Medidas de Perdas Magnticas em Lminas de Ao


ao Silcio
Filomena Barbosa Rodrigues Mendes
Maro/2004

Orientador: Nelson Jhoe Batistela, Dr.


Co-orientador: Patrick Kuo-Peng, Dr.
rea de Concentrao: Eletromagnetismo e Dispositivos Eletromagnticos.
Palavras-chave: medio da perda magntica; caracterizao magntica.
Nmero de Pginas: 99.

RESUMO: Neste trabalho, apresenta-se uma anlise de procedimentos de medida de


perdas magnticas em lminas de ao ao silcio. Comparam-se vrias metodologias para
medio da perda magntica e da permeabilidade magntica. Esta pesquisa considera
apenas a categoria de aos de gro no orientado. Comparam-se os procedimentos de
ensaio e medio apresentados pelas normas brasileira NBR 5161, americana ASTM
A343, japonesa JIS C2550 e pela norma da comisso eletrotcnica internacional IEC 4042. Foi desenvolvida uma estratgia de separao das perdas magnticas em trs
componentes: perda por histerese; por correntes de Foucault e perda excedente. Esta
estratgia, denominada de eliminao do ensaio da perda por histerese, no requer
equipamentos que permitam realizar o ensaio em freqncias muito baixas, onde se podem
desprezar as perdas dinmicas. Nesta estratgia so necessrios dois ensaios: da perda
total, com variao da induo magntica, mantendo a freqncia fixa e da perda total,
com variao da freqncia, mantendo a induo magntica constante.

vi

Abstract of Dissertation presented to UFSC as a partial fulfillment of the requirements for


the degree of Master in Electrical Engineering.

Analysis of Measurements of the Magnetic Losses in Sheet Steel


Silicon
Filomena Barbosa Rodrigues Mendes
March / 2004

Advisor: Nelson Jhoe Batistela, Dr.


Co-advisor: Patrick Kuo-Peng, Dr.
Area of Concentration: Electromagnetism and Electromagnetic Devices.
Keywords: iron losses measurements; magnetic characterization.
Number of Pages: 99.

ABSTRACT: This work presents an analysis of the non oriented sheet steel silicon
magnetic losses measurements process. Comparisons between measurements procedures
of iron losses and permeability introduced by Brazilian standard NBR 5161, American
standard ASTM A343, Japanese standard JIS C2550 and by international electrotechnical
commission IEC 404-2 are performed. A strategy of iron loss separation are also
developped in this work. The iron loss are separated in three components: hysteresis loss;
eddy current loss and excess loss. In this strategy, called hysteresis loss elimination
strategy, no low frequencies measurements (where the dynamic losses are neglected) is
needed. Consequently only two measurements are needed: total loss with variation of the
induction keeping frequency fix and total loss with variation of the frequency keeping the
induction constant.

vii

SUMRIO

LISTA DE TABELAS ................................................................................................................................ x


LISTA DE FIGURAS ................................................................................................................................ xi
LISTA DE SIGLAS E SMBOLOS ........................................................................................................... xii
INTRODUO .......................................................................................................................................... 1
1. RESUMO DAS NORMAS SOBRE O TESTE DE EPSTEIN E SINOPSE COMPARATIVA .................. 7
1.1 Quadro de Epstein ............................................................................................................................. 8
1.1.1 Objetivo das Normas Tcnicas..................................................................................................... 8
1.1.2 Procedimento para Corte das Lminas e Isolao Adicional entre as Lminas............................... 9
1.1.3 Procedimento de Medida da Espessura ...................................................................................... 11
1.1.4 Medida da Densidade de Massa ................................................................................................. 12
1.1.5 Condies Necessrias para o Ensaio......................................................................................... 14
1.1.6 Modelo de Separao da Perda Magntica ................................................................................. 17
1.1.7 Instrumentos para Obteno da Perda Magntica Total e da Permeabilidade Magntica .............. 17
1.1.8 Valor Convencional do Caminho Magntico, Massa Magneticamente Efetiva e Seo Transversal
.......................................................................................................................................................... 20
1.1.9 Esquema de Ligao para o Ensaio da Perda Magntica e da Permeabilidade Magntica ............ 22
1.1.10 Compensao da Queda de Tenso Devido ao Fluxo Disperso ................................................. 25
1.1.11 Reduo da Relutncia ............................................................................................................ 28
1.1.12 Procedimentos para o Ensaio ................................................................................................... 28
1.1.13 Obteno da Perda Especfica Total ......................................................................................... 32
1.1.14 Correo da Perda Magntica .................................................................................................. 33
1.1.15 Separao da Perda Total: Perda por Histerese e Perda por Correntes de Foucault .................... 35
1.1.16 Obteno da Permeabilidade Magntica................................................................................... 37
1.1.17 Reprodutibilidade.................................................................................................................... 39
1.1.18 Relatrio de Teste ................................................................................................................... 40
1.2 Roteiro de Ensaio Baseado nas Normas Tcnicas ............................................................................. 41
1.3 Concluso........................................................................................................................................ 50
2. MEDIO E ANLISE DE RESULTADOS CONFORME AS NORMAS DO TESTE DE EPSTEIN .. 51
2.1 Ensaio da Perda Total ...................................................................................................................... 52
2.1.1 Normas Tcnicas....................................................................................................................... 52
2.1.2 Medidas Realizadas atravs do SDCMM ................................................................................... 54
2.2 Separao das Perdas no Ncleo ...................................................................................................... 57
2.2.1 Norma Brasileira NBR 5161...................................................................................................... 57
2.2.2 Medio Utilizando o SDCMM ................................................................................................. 59
2.3 Alimentao do Quadro de Epstein sem Imposio da Forma Senoidal no Secundrio ...................... 62
2.3.1 Norma Brasileira NBR5161....................................................................................................... 62
2.3.2 Leitura Realizada com o SDCMM ............................................................................................. 62
2.4 Ensaio da Permeabilidade Magntica ............................................................................................... 64
2.4.1 Determinao da Permeabilidade Conforme as Normas Tcnicas ............................................... 64
2.4.2 Medio Utilizando o SDCMM ................................................................................................. 65
2.4.3 Comparao com os Resultados Obtidos Conforme as Normas Tcnicas e a Medio Atravs do
SDCMM............................................................................................................................................ 65
2.5 Concluso........................................................................................................................................ 67
3. ESTRATGIAS DE SEPARAO DAS PERDAS .............................................................................. 69
3.1 Estratgia de Separao das Perdas Considerada como Referncia.................................................... 70
3.2 Generalizao da Estratgia de Referncia........................................................................................ 70
3.3 Estratgia de Eliminao do Ensaio da Perda por Histerese............................................................... 76

viii

3.4 Resultados ....................................................................................................................................... 82


3.4.1 Estratgia de Referncia ............................................................................................................ 83
3.4.2 Estratgia de Generalizao....................................................................................................... 85
3.4.3 Estratgia de Eliminao do Ensaio da Perda por Histerese ........................................................ 86
3.5 Concluso........................................................................................................................................ 89
4. CONCLUSO GERAL......................................................................................................................... 90
APNDICE 1 MTODO DO EMPUXO ................................................................................................ 92
APNDICE 2 INFORMAES ADICIONAIS...................................................................................... 95
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS ....................................................................................................... 98

ix

LISTA DE TABELAS
Tabela 1: Objetivo das normas tcnicas........................................................................................................ 8
Tabela 2: Procedimento para corte das lminas e isolao adicional entre as lminas. ................................... 9
Tabela 3: Procedimento de medida da espessura. ....................................................................................... 11
Tabela 4: Medida da densidade de massa. .................................................................................................. 12
Tabela 5: Condies necessrias para o ensaio. .......................................................................................... 14
Tabela 6: Modelo de separao da perda magntica.................................................................................... 17
Tabela 7: Instrumentos para obteno da perda magntica total. ................................................................. 17
Tabela 8: Instrumentos para obteno da permeabilidade magntica. .......................................................... 19
Tabela 9: Valor convencional do caminho magntico, massa magneticamente efetiva e seo transversal. .. 20
Tabela 10: Esquema de ligao para o ensaio da perda magntica............................................................... 22
Tabela 11: Esquema de ligao para o ensaio da permeabilidade magntica................................................ 23
Tabela 12: Compensao da queda de tenso devido ao fluxo disperso. ...................................................... 25
Tabela 13: Reduo da relutncia............................................................................................................... 28
Tabela 14: Procedimentos para o ensaio. .................................................................................................... 28
Tabela 15: Clculo da perda especfica total............................................................................................... 32
Tabela 16: Correo da perda magntica. ................................................................................................... 33
Tabela 17: Separao das Perdas................................................................................................................ 35
Tabela 18: Obteno da permeabilidade magntica. ................................................................................... 37
Tabela 19: Reprodutibilidade..................................................................................................................... 39
Tabela 20: Relatrio de teste...................................................................................................................... 40
Tabela 21: Dados do ensaio segundo a norma brasileira NBR5161 ............................................................. 52
Tabela 22: Dados do ensaio segundo as normas americana, japonesa e norma da comisso eletrotcnica
internacional. ..................................................................................................................................... 53
Tabela 23: Dados do ensaio utilizando-se o SDCMM................................................................................. 54
Tabela 24: Dados do ensaio segundo a norma NBR 5161. .......................................................................... 58
Tabela 25: Separao das perdas segundo a norma NBR5161..................................................................... 58
Tabela 26: Dados obtidos atravs da leitura do SDCMM............................................................................ 59
Tabela 27: Separao das perdas atravs da leitura do SDCMM. ................................................................ 60
Tabela 28: Correo das perdas segundo a norma brasileira NBR5161. ...................................................... 62
Tabela 29: Correo das perdas utilizando leituras do SDCMM.................................................................. 63
Tabela 30: Ensaio da permeabilidade magntica segundo as normas tcnicas.............................................. 64
Tabela 31: Ensaio da permeabilidade magntica atravs da leitura do SDCMM. ......................................... 65
Tabela 32: Dados do ensaio da perda por histerese, perda total 50 Hz e perda total 1T. .......................... 83
Tabela A2.1: leituras do voltmetro de valor mdio calibrado em valor eficaz. ............................................ 97

LISTA DE FIGURAS
Fig. 1: a) Quadro de Epstein; b) Disposio das lminas............................................................................... 5
Fig.2: Induo magntica........................................................................................................................... 53
Fig.3: Corrente primria e tenso secundria 50 Hz e 1,632 T. ................................................................. 55
Fig.4: Induo magntica........................................................................................................................... 55
Fig.5: Ensaio 50Hz. Perda total por unidade de massa em funo da amplitude da induo magntica. ..... 56
Fig.6: Ensaio 1 T. Perda total por ciclo em funo da freqncia.............................................................. 58
Fig.7: Ensaio 1 T. Separao das perdas. ................................................................................................. 59
Fig.8: Ensaio 1 T: a) Perda total; b) Perda total por ciclo em funo da freqncia. .................................. 60
Fig.9: Ensaio 1T, variando a freqncia................................................................................................... 61
Fig.10: Tenso secundria e corrente primria 1T e 150 Hz, e fator de forma de 1,1112. .......................... 61
Fig.11: Perda total 50 Hz. ....................................................................................................................... 63
Fig.12: Sinais de tenso e corrente 50 Hz, 1,614 T e F=1,13. ................................................................... 64
Fig.13: Curva B-H do material................................................................................................................... 66
Fig.14: Sinais de tenso e corrente 50 Hz e 0,295 T. ................................................................................ 66
Fig.15: Reta de solues. ........................................................................................................................... 73
Fig.16: Fluxograma da estratgia de generalizao. .................................................................................... 75
Fig.17: Diviso do segmento de reta. ......................................................................................................... 77
Fig.18: Fluxograma da estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese........................................ 80
Fig.19: Fluxograma geral da estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese. .............................. 82
Fig.20: Caracterizao 50Hz: a) Separao das perdas. b) Separao das perdas corrigida. ....................... 84
Fig.21: Perda Total em 1T em funo da freqncia. .................................................................................. 85
Fig.22: Separao das Perdas: a) Caracterizao 50 Hz; b) Perda total em 1T em funo da freqncia. ... 85
Fig.23: Separao das perdas: a) Caracterizao 50Hz; b) Perda total em 1T em funo da freqncia. .... 86
Fig.24: Separao das perdas: a) Caracterizao 50Hz; b) Perda total em 1T em funo da freqncia. .... 87
Fig.25: Separao das perdas: a) Caracterizao 50Hz; b) Perda total em 1T em funo da freqncia. .... 88
Fig.26: Separao das perdas: a) Caracterizao 50Hz; b) Perda total em 1T em funo da freqncia. .... 88
Fig.A1: Mtodo do Empuxo. ..................................................................................................................... 93
Fig. A2: Equipamentos convencionais e padronizados conforme a NBR5161, utilizados nos ensaios. ......... 97

xi

LISTA DE SIGLAS E SMBOLOS


[m/s2]

Acelerao.

Ap

Constante do material relacionada s correntes de Foucault.

Ah

Constante do material relacionada as propriedades de


histerese do material.

Induo magntica.

[T]

Bm

Amplitude da induo magntica na amostra.

[T]

Bm

Amplitude da induo magntica obtida atravs da


tenso secundria.

[T]

Espessura da lmina.

[m]

Empuxo.

[N]

Efm

Tenso induzida no enrolamento secundrio do indutor


mtuo.

[V]

Percentagem da perda por correntes de Foucault na


induo e freqncia correspondentes Ps observada.

Fator de forma da tenso secundria.

Freqncia.

[Hz]

Fi

Fora.

[N]

f0

Freqncia base (ou de caracterizao do material).

[Hz]

Fp

Fator de forma da tenso primria.

Coeficiente de atrito de um objeto magntico.

Acelerao da gravidade.

[m/s2]

Hm

Amplitude do campo magntico.

[A/m]

Valor eficaz do campo magntico.

[A/m]

Percentagem da perda por histerese na induo e freqncia


correspondentes Ps observada.

He

Campo por excesso.

[A/m]

Im

Amplitude da corrente de excitao.

[A]

I1

Valor eficaz da corrente primria.

[A]

xii

kh

Relao entre a perda por histerese e a perda magntica


total para fluxo senoidal.

kp

Relao entre a perda por correntes de Foucault e a perda


magntica total para fluxo senoidal.

Indutncia mtua.

[H]

Lm

Indutncia mtua do indutor mtuo.

[H]

Comprimento da amostra.

[m]

le

Distncia entre os eletrodos de potencial.

[m]

lm

Valor convencional para o comprimento do


caminho magntico efetivo.

[m]

Massa total da amostra.

[kg]

ma

Massa magneticamente efetiva da amostra.

[kg]

me

massa da amostra emersa.

[kg]

mi

Massa da amostra imersa.

[kg]

n om

Nmero de objetos magnticos ativos.

NI

Norma infinito.

N1

Nmero de espiras primrias do quadro de Epstein.

N2

Nmero de espiras secundrias do quadro de Epstein.

Potncia dissipada.

[W]

Peso do material.

[N]

Pc

Perda magntica total da amostra para fluxo senoidal.

[W]

Ptot

Perda total.

[W]

Ph

Perda por histerese do material.

[W]

Pd

Perda dinmica.

[W]

Pclas

Perda por correntes de Foucault.

[W]

Pe

Perda excedente.

[W]

Pm

Potncia medida pelo wattmetro.

[W]

Ps

Perda especfica total da amostra.

[W/kg]

Pt

Perda total calculada para fluxo com fator de forma diferente


de 1,11 1% .

P 'm

[W]

Potncia lida pelo wattmetro para fluxo com fator de

xiii

forma diferente de 1,11 1% .

[W]

Pp

Perda por correntes de Foucault.

[W]

Resistncia da amostra.

[]

Ri

Resistncia equivalente a dos equipamentos


conectados no enrolamento secundrio do quadro de
Epstein (incluso o circuito de tenso do wattmetro).

Rt

[]

Resistncia em srie do enrolamento secundrio do


quadro de Epstein e do indutor de compensao.

[]

Rv

Resistncia interna do voltmetro de valor mdio.

[ ]

R2

Resistncia secundria do quadro de Epstein.

[ ]

Rn

Resistncia do resistor de preciso.

[ ]

Rm

Resistncia secundria do indutor mtuo.

[ ]

Coeficiente de determinao.

Seo transversal da amostra.

St

Seo transversal total do enrolamento secundrio

[m2]
[m2]

do quadro de Epstein.
SI

Sistema Internacional.

SDCMM

Sistema digital de caracterizao magntica de materiais.

U2

Leitura do voltmetro de valor mdio da tenso


secundria em um semi-perodo entre duas
passagens por zero (retificada).

U2m

[V]

Leitura do voltmetro de valor mdio da tenso


secundria em um semi-perodo entre duas
passagens por zero (retificada).

[V]

U2

Tenso secundria eficaz.

[V]

Um

Amplitude da tenso do resistor de preciso.

[V]

Um

Tenso secundria mdia do indutor mtuo (retificada).

[V]

vd

Volume deslocado.

[m3]

V0

Parmetro equivalente a um campo coercitivo.

Wh

Perda por histerese.

[J/kg]

Wf

Perda por correntes de Foucault.

[J/kg]

xiv

We

Perda excedente.

[J/kg]

Wsh

Perda por histerese em regime senoidal.

[J/kg]

Wtot

Perda total.

[J/kg]

Expoente do modelo de Steinmetz.

Valor mdio de x.

Valor mdio de y.

Densidade de massa da amostra.

[kg/m3]

Densidade de massa da gua.

[kg/m3]

Resistividade eltrica do material.

[.m]

%Si

Percentagem de silcio presente no material.

%Al

Percentagem de alumnio presente no material.

Permeabilidade magntica do vcuo.

Diferena das perdas originada pela distoro da onda.

Condutividade eltrica do material.

xv

[H/m]
[m]-1

INTRODUO
Considerando a abordagem eletromagntica, para caracterizar um material
necessrio determinar os parmetros que descrevem o meio e a perda magntica que nele
ocorre. Para descrever o meio necessrio obter seu valor de permeabilidade magntica e
seu valor de condutividade eltrica. Para caracterizar o material, tendo em vista a perda
magntica, seleciona-se um modelo de perda magntica e determinam-se seus parmetros.
A caracterizao do material do ponto de vista eletromagntico constitui um tema
bastante amplo, logo, necessrio destacar os critrios que nortearam as prioridades desta
pesquisa. Neste trabalho, analisam-se os procedimentos de medio da perda magntica e
da permeabilidade magntica em lminas de ao ao silcio, em operao com freqncias
menores que 300 Hz. Supe-se que o campo magntico e a induo magntica variam em
apenas uma direo. Considera-se apenas a categoria de aos de gro no orientado. Este
estudo no contempla o efeito da temperatura, do envelhecimento, da isolao entre
lminas, o efeito de proximidade de corrente nos enrolamentos, das capacitncias parasitas
e o efeito pelicular. Alguns destes efeitos podem ser desprezados com segurana, pois
trabalha-se em freqncias relativamente baixas.
Para determinar o campo magntico utiliza-se a lei de Ampre. Ressaltam-se as
seguintes consideraes [1]: como no existe acesso ao campo magntico vetorial, toma-se
o vetor diferencial do caminho amperiano colinear ao campo magntico. Desta forma
possvel resolver a integral da equao utilizando-se o mdulo do vetor campo magntico.
O campo magntico ser considerado constante em todos os pontos do caminho
amperiano. Assim, mede-se este campo de forma indireta atravs da corrente primria,
apesar da dificuldade existente na determinao do comprimento do caminho magntico
efetivo.
A induo magntica obtida atravs da lei de Faraday. Segundo esta lei um fluxo
magntico variando no tempo produz uma tenso induzida num circuito fechado,
originando uma corrente eltrica. Esta lei utilizada simultaneamente com a lei de Lenz
que expressa a oposio da tenso induzida em relao ao fluxo que a produziu. A corrente
no circuito fechado produz uma induo magntica oposta induo magntica original
[1]. Da mesma forma que para o campo magntico, no existe acesso induo magntica

vetorial ou a sua efetiva distribuio em uma seo transversal. Logo, utiliza-se o mdulo
da induo magntica e o mdulo do vetor diferencial de rea para resolver a equao da
lei de Faraday. A induo magntica suposta constante na seo transversal do circuito.
Perante o exposto, mede-se a induo magntica de forma indireta atravs da tenso
secundria induzida.
As consideraes acima apresentadas resultam em valores aproximados no
processo de medio da perda magntica e, principalmente, da permeabilidade do material.
As propriedades magnticas, obtidas desta forma, possuem influncia econmica por
determinarem a eficincia de dispositivos eletromagnticos. Estes dados fornecem
requisitos para negociao, levantamento do projeto e controle da qualidade do material.
Assim, incentivam-se pesquisas na melhoria das propriedades dos materiais, na
modelagem do comportamento do material sob diferentes condies de magnetizao, na
caracterizao do material atravs de medidas da perda magntica e da permeabilidade
magntica (curva B-H).
Dado um transformador sem carga e magnetizado, a energia consumida pelo seu
ncleo corresponde principalmente perda magntica. Esta perda define a qualidade do
material do ncleo. A perda magntica total quando determinada define a qualidade do
material, mesmo sendo um valor obtido em condies especficas (formato da amostra,
tenses no material, instrumento de teste e processo de magnetizao) que podem no
corresponder s condies reais que o produto final estar submetido [2].
A perda magntica medida mantendo-se a induo magntica na forma de onda
senoidal (para efeitos de comparao de resultados) e o campo magntico variando
livremente. Tambm os modelos de previso da perda magntica que sero utilizados
mostram que a variao temporal da induo magntica provoca perda magntica,
tornando-se necessrio controlar as distores na forma do fluxo magntico. No quadro de
Epstein, devido no linearidade do material (visvel na curva B-H) e a resistncia
primria, a tenso primria no senoidal quando se mantm a tenso secundria senoidal.
Conseqentemente, para fluxo senoidal a corrente de excitao no senoidal. A corrente
de excitao deve evoluir livremente no tempo, enquanto que a induo magntica deve ser
mantida senoidal. O valor da perda magntica obtido atravs da corrente primria e da
tenso secundria (para no incluir a parcela da perda no cobre do enrolamento primrio
[4]).

A perda magntica depende de diversos fatores, entre eles, das condies de ensaio
(especificamente amplitude da induo magntica e freqncia) e da amostra (sua direo
de estampagem em relao ao sentido de laminao, espessura, resistividade eltrica e
densidade). Quanto direo da amostra, a perda magntica influenciada pela anisotropia
das propriedades magnticas. As propriedades magnticas variam com a direo da
induo magntica e do campo magntico devido existncia da textura do material. A
textura do material est relacionada com a distribuio no aleatria dos gros [2].
Em nvel micro estrutural, a perda magntica depende das discordncias e do
tamanho do gro. Gros so cristais que constituem o material [2].
Os circuitos magnticos, que utilizam aos em suas partes constituintes, possuem
variadas formas. Para caracterizar o material magntico utilizam-se equipamentos de teste
os quais exigem formatos especiais [2]. A amostra toroidal apresenta a vantagem de formar
um circuito magntico fechado, com o fluxo magntico completamente localizado no
interior dos enrolamentos. Amostra neste formato seria ideal para caracterizao do
material, se no fosse a dificuldade na determinao do comprimento do caminho
magntico mdio. Amostras neste formato apresentam ainda as seguintes desvantagens:
necessidade de confeccionamento de enrolamentos para cada amostra de teste, e dispor os
enrolamentos no formato da amostra difcil.
A amostra constituda por lminas utilizada em equipamentos com circuito de
fechamento (yoke[27]). O circuito de fechamento construdo por um material distinto
da amostra, tendo elevada permeabilidade e baixa perda magntica. Este processo
encontrado no teste de chapa nica. Este tipo de amostra tambm utilizado no teste de
Epstein, sendo este ltimo o ensaio de medio da perda magntica mais utilizado no
Brasil [3].
O teste de chapa nica apresenta as seguintes vantagens: facilitar a preparao da
amostra (amostra maior que 100mm no necessita recozimento para alvio de tenses);
utilizar menor quantidade de material (chapa nica) e possibilitar ensaio na direo
transversal e longitudinal (para circuitos de fechamento quadrados). Entretanto, necessita
ajustes pelo teste de Epstein e no apresenta boa reprodutibilidade como este ltimo. No
teste de chapa nica as medidas da perda magntica podem ser influenciadas pela presso
que o circuito de fechamento superior exerce na amostra, pelo alinhamento da amostra no

interior dos circuitos de fechamento, pelos tipos de circuitos de fechamento e pelas


dimenses da amostra [3].
Os materiais amorfos, tendo caractersticas de alta permeabilidade, baixas perdas e
aplicao em freqncias muito superiores a 60 Hz, dificultam a utilizao do quadro de
Epstein. O teste de chapa nica recomendado por atingir freqncias mais elevadas.
Neste caso, o magnetismo residual dos circuitos de fechamento podem afetar a preciso da
medida visto que a amostra apresenta baixa perda magntica.
A amostra constituda por lminas de seo retangular ou circular utilizada em
circuitos abertos (solenides) com as linhas de fluxo fechando-se pelo ar. Nestas
condies, devem ser considerados o campo magntico terrestre e o campo
desmagnetizante. Este ltimo ope-se ao campo magntico aplicado e tem origem na
polarizao da amostra. O campo magntico na amostra resultante da diferena dos
referidos campos magnticos. Por esta razo, existe uma preferncia em se utilizar
circuitos fechados como o toride, teste de Epstein e teste de chapa nica [2].
O teste de Epstein e o teste de chapa nica permitem testar vrias amostras no
mesmo aparelho, no sendo necessrio confeccionar enrolamentos para cada amostra como
no caso do teste toroidal. O teste de Epstein apresenta alta reprodutibilidade e, sendo um
dos testes mais utilizados, os resultados so bem aceitos por consumidores de ao ao silcio
como referncia. Por outro lado, o circuito magntico do quadro de Epstein no
homogneo. A magnetizao do material no uniforme porque alm de surgirem nos
cantos pequenos entreferros que aumentam a relutncia, existe uma quantidade de massa
adicional proveniente da superposio das lminas. Para minimizar os entreferros feita
uma presso local, originando uma tenso mecnica que altera as propriedades magnticas
do material. As desvantagens do teste esto relacionadas tambm ao tempo gasto na
preparao da amostra (quantidade de lminas); ao desperdio de material; montagem e
desmontagem das lminas no teste; necessidade de recozimento de amostras para alvio
de tenses de corte devido dimenso da amostra [3].
Para o teste de Epstein, as lminas no devem apresentar curvatura (desvio de
aplainamento) originada pelas bobinas de armazenamento do material. Nestas condies,
as amostras so foradas quando inseridas no quadro surgindo deformaes elsticas. Estas
deformaes elevam a perda magntica. Durante o ensaio as lminas podem vibrar
originando reentrncias na curva de histerese [2]. Nas lminas para o teste de Epstein, a

induo magntica e o campo magntico so medidos no comprimento da amostra. Esta


amostra pode ser estampada na direo longitudinal, transversal ou qualquer outra direo
do sentido de laminao do material (a amostra toroidal apresenta a vantagem de
possibilitar um arranjo das lminas que fornea uma mdia de todas as direes).
Nesta dissertao, utiliza-se o quadro de Epstein como dispositivo de teste com as
caractersticas apresentadas na Fig.1a. Trata-se de um transformador constitudo por dois
enrolamentos: primrio e secundrio. As amostras de teste formam o ncleo magntico do
tranformador. O quadro de Epstein apresenta ainda um indutor mtuo [24] para
compensar o fluxo disperso no interior das bobinas, localizado no centro do espao
formado pelos enrolamentos. Os enrolamentos apresentam um total de 700 espiras e so
recomendados para teste num intervalo de freqncia de 25 a 400 Hz. Excita-se o
enrolamento primrio e mede-se a tenso secundria. Detalhes construtivos podem ser
encontrados nas referncias [5, 6, 7, 8 e 24].
As amostras so inseridas no quadro de teste conforme a Fig.1b. Quando metade
das lminas for cortada na direo da laminao e o restante perpendicularmente a esta
direo, inserem-se as lminas paralelas direo de laminao em dois braos paralelos
do teste de Epstein e as lminas perpendiculares nos demais braos.

280mm
220mm

lm

190mm

a)

b)

Fig. 1: a) Quadro de Epstein; b) Disposio das lminas.


Para este trabalho de pesquisa foram propostos os seguintes objetivos:

a) comparar vrias metodologias para medio da perda magntica atravs do teste de


Epstein, normalizadas ou no, e para magnetizao em uma s direo (no
considerando uma magnetizao na forma espacial rotacional), esperando apontar
vantagens, dificuldades, imprecises e outros fatores relevantes caractersticos;
b) obter procedimentos de caracterizao com base nas metodologias estudadas.

Para atender os objetivos foi realizada uma sinopse comparativa entre as normas
NBR 5161, ASTM A 343, JIS C 2550 e IEC 404-2. O cerne do trabalho a sinopse
comparativa entre as normas tcnicas. Como resultado deste estudo elaborou-se um roteiro
como sugesto de procedimento para a caracterizao de materiais magnticos utilizando o
quadro de Epstein padro. A fim de ilustrar o estudo das normas, foram realizados ensaios
com caracterizao de um material respectivamente a cada norma.
Desenvolveu-se tambm programas numricos de obteno dos parmetros de um
modelo para as perdas magnticas. Estas so ferramentas de interesse acadmico e
industrial, pois existe uma dificuldade experimental e analtica para a determinao dos
parmetros que caracterizam o material sob o ponto de vista das perdas magnticas.

1. RESUMO DAS NORMAS SOBRE O TESTE DE


EPSTEIN E SINOPSE COMPARATIVA
Neste captulo, apresenta-se uma sinopse e analisam-se os mtodos normalizados
de medio da perda magntica e da obteno das caractersticas de magnetizao do
material pelo teste de Epstein. Comparam-se os procedimentos de ensaio e medio
apresentados pelas normas brasileira NBR 5161 [5]; americana ASTM A343 [6]; japonesa
JIS C2550 [7] e pela norma da comisso eletrotcnica internacional IEC 404-2 [8].
Delimita-se esta pesquisa considerando os objetivos deste trabalho. Assim, nas
fontes de pesquisa acima citadas, foram selecionados os temas apresentados e comentados
neste captulo. Analisam-se somente os procedimentos de ensaio e medio da perda
magntica e da permeabilidade magntica em regime de corrente alternada utilizando-se o
quadro de Epstein de 25 cm como instrumento de teste.
A nomenclatura utilizada nas normas foi adaptada a uma mesma simbologia,
procurando atender o sistema internacional de unidades. Procurou-se tambm utilizar uma
terminologia prpria das normas na medida do possvel, inclusive os nomes atribudos aos
equipamentos convencionais, tais como indutor mtuo, voltmetro de valor mdio,
assim por diante.
A comparao feita por tpicos, e aps a exposio do texto sintico, faz-se
alguns comentrios que so julgados essenciais, mesmo que forem repetitivos.

1.1 Quadro de Epstein


As normas a serem apresentadas possuem basicamente a mesma finalidade. Entretanto, diferem em alguns detalhes que comentaremos
neste trecho do trabalho.

1.1.1 Objetivo das Normas Tcnicas


NBR 5161

Tabela 1: Objetivo das normas tcnicas.

ASTM A 343

JIS C 2550

IEC 404-2

Definir procedimentos para obteno das Apresentar um mtodo de teste (para Apresentar mtodos de teste para chapas Apresentar mtodos de medio de
propriedades de lminas planas de ao corrente alternada)
para fins eltricos.

para avaliar

as e lminas de ao magntico.

propriedades magnticas de chapas e

propriedades magnticas de materiais

lminas de ao eltrico atravs do

utilizando o mtodo do wattmetro e o

quadro de Epstein.

quadro de Epstein de 25cm.

A norma japonesa apresenta objetivo mais genrico que as demais normas. No esclarece no objetivo o tipo de teste e o equipamento a
ser utilizado. A norma brasileira mais especfica definindo o tipo de teste. Mas a norma americana e a norma da comisso eletrotcnica
internacional, alm de esclarecerem o tipo de teste, definem o equipamento de teste a ser utilizado.

1.1.2 Procedimento para Corte das Lminas e Isolao Adicional entre as Lminas

Tabela 2: Procedimento para corte das lminas e isolao adicional entre as lminas.

NBR 5161

ASTM A 343

JISC 2550

IEC 404-2

- So utilizadas lminas sem - So utilizadas lminas de seo transversal uniforme - Inserir isolao entre as camadas das - As medidas devem ser realizadas
isolao adicional.

e propriedades uniformes em uma dada direo.

peas de teste no permissvel.

em

lminas

sem

isolao

- So utilizadas lminas de - As lminas devem possuir 30 mm de largura e um - A mquina de corte no deve produzir adicional.
superfcie plana e espessura comprimento no inferior a 280 mm, com tolerncia rebarbas.

de 0,8mm. Para facilitar a montagem e desmontagem - As peas de teste devem ser de forma ser utilizadas.

igual ou inferior a 1,0 mm.


-

Cortam-se

rebarbas,

lminas
de

b=30mm0,2mm

- Somente lminas planas devem

sem do quadro recomendado um comprimento de 305 retangular, com largura de 30mm e - As lminas devem ser cortadas
comprimento de 280mm a 320mm. A por um mtodo que no produza

largura mm.

e - Em nenhum caso, a amostra deve consistir de um tolerncia na largura deve ser 0,2mm e no rebarbas.

comprimento 280 l < 308 nmero inferior a 12 lminas. Amostras que pesam comprimento 0,5mm.

- So utilizadas lminas com as

mm, com exatido de 0,5 menos que 15g por 1cm de comprimento devem - O nmero total de peas de teste deve ser seguintes dimenses:
selecionado de acordo com a mxima massa Largura: b = 30mm 0,2mm.
mm. Para facilitar a montagem consistir de pelo menos 20 lminas.
e desmontagem do quadro, - O nmero total de lminas deve ser mltiplo de admissvel pelo modelo do quadro. A Comprimento: 280mm l
320mm. So utilizadas lminas de
quantidade mnima de peas 12.
utilizam-se lminas de 305 quatro.
mm de comprimento.

- So sugeridas vrias disposies de lminas para - So sugeridas vrias disposies de comprimentos

- O nmero de lminas deve corte, entre as quais tem-se:

lminas para corte, entre as quais tem-se:

iguais,

com

tolerncia de 0,5mm.

ser mltiplo de 4 e no deve

- O nmero de lminas da amostra

ser inferior a 12.

deve ser mltiplo de 4.


Fig. ASTM 1: Distribuio de lminas

Fig. JIS 1: Mtodo de corte.

10

No que se refere largura e ao comprimento da amostra, as normas brasileira, japonesa e da comisso eletrotcnica internacional,
estabelecem uma largura e um comprimento mnimo e mximo da amostra com respectivas tolerncias. A norma brasileira estabelece o
comprimento mximo num valor inferior a 308 mm (prximo do comprimento timo de montagem e desmontagem do quadro). A norma
japonesa e a norma da comisso eletrotcnica internacional estabelecem comprimento mximo de 320mm (distante do comprimento timo). A
norma americana deixa lacunas, no apresentando a tolerncia para a medida da largura da amostra (30mm de largura) nem o limite mximo
para seu comprimento (comprimento superior ou igual 280mm 0,8mm).
O comprimento timo da amostra (305mm) apenas tratado nas normas brasileira e americana, estabelecendo um comprimento para
facilitar a montagem e desmontagem do quadro.
Sobre a isolao adicional entre lminas, somente as normas brasileira, japonesa e norma da comisso eletrotcnica internacional
informam que no permissvel sua insero na amostra. Isolao adicional aquela que no a natural lmina.
Quanto superfcie da amostra, com exceo das normas americana e japonesa, as demais normas esclarecem que as lminas devem
possuir superfcie plana. Lminas com curvatura podem exigir esforo ao serem inseridas no quadro, provocando tenses no material. Estas
tenses aumentam o valor da perda magntica [2]. A referncia [2] diz ainda que a curva de histerese do material pode apresentar reentrncias
devido variao do acoplamento das lminas nos cantos e vibrao das mesmas durante o ensaio.
Quanto a rebarbas, com exceo da norma americana, as demais normas recomendam utilizar amostras sem rebarba excessiva. A altura
da rebarba pode interferir no acoplamento das lminas [2].
No que se refere quantidade de lminas, com exceo da norma japonesa, as demais normas esclarecem que o nmero total de
lminas seja mltiplo de quatro. Com exceo da norma da comisso eletrotcnica internacional, as demais normas estabelecem a quantidade
mnima de 12 lminas. Entretanto, a norma americana restringe ainda o nmero de lminas em funo do peso da amostra por unidade de

11

comprimento (20 lminas no mnimo, para amostra pesando menos que 15g/cm). J a norma japonesa apenas restringe o nmero mximo de
lminas de acordo com a mxima massa admissvel pelo modelo do quadro utilizado.
Quanto seo e propriedades da amostra, somente a norma americana esclarece que a amostra deve apresentar seo transversal
uniforme e propriedades uniformes em uma dada direo. Nestas condies, o processo de magnetizao do material tende a ser homogneo.
Sobre a distribuio de lminas para corte, somente as normas americana e japonesa apresentam sugestes de reas para corte da
amostra, de forma a que esta seja mais representativa. Pelo processo de laminao, as regies centrais da tira da bobina tende a ser mais
espessa que as regies laterais.
Quanto espessura da lmina, somente a norma brasileira limita seu valor, sendo no mximo 1mm.

1.1.3 Procedimento de Medida da Espessura


NBR 5161

Tabela 3: Procedimento de medida da espessura.


ASTM A 343

medio feita com exatido de 0,01mm.

IEC 404-2

- Deve-se medir a espessura, para cada lmina, em 8 pontos, 15mm

- A espessura medida em quatro pontos diferentes da


lmina, localizados no mnimo a 40 mm das bordas. A

JISC 2550

----------

distantes das extremidades. Utilizar o micrometro externo como


instrumento de medida.

- O resultado final dado pela mdia aritmtica das


15mm

medidas feitas.

15mm
15mm

15mm

Fig. JIS 2: Medio da espessura

----------

12

Apenas as normas brasileira e japonesa apresentam o procedimento de medida da espessura da lmina. A norma brasileira sugere uma
distncia maior das extremidades da lmina (40 mm), para evitar os efeitos de borda. A espessura dada, assim, pela mdia aritmtica das
medidas em quatro pontos diferentes da lmina. Por sua vez, a norma japonesa sugere oito pontos de medio da espessura (15mm distantes
da extremidade), para cada lmina, com localizao ilustrada pela Fig. JIS 2. Esta norma especifica ainda o instrumento a ser utilizado
(micrometro externo), mas no fornece a tolerncia da medida como o faz a norma brasileira (0,01mm de exatido).

1.1.4 Medida da Densidade de Massa

Tabela 4: Medida da densidade de massa.

NBR 5161

ASTM A 343 JISC 2550 IEC 404-2

Esta norma apresenta trs mtodos de obteno da densidade do material: mtodo do empuxo; da resistividade e
----------

mtodo que considera as percentagens de alumnio e silcio presentes no material.


Para o mtodo do empuxo ou para o mtodo da resistividade, so utilizadas cinco amostras cortadas sem rebarba, na
direo de laminao (por apresentarem espessura mais uniforme).
O mtodo do empuxo til para amostras sem revestimento e adequado para casos de percia. Para aplicar este mtodo
necessrio balana hidrosttica. No apndice 1 apresenta-se o sistema de montagem necessrio e as dedues de
equaes utilizadas neste mtodo. A densidade de massa da amostra dada por:

m. w
m mi

NBR (1.1)

O mtodo da resistividade empregado em amostras siliciosas para fins eltricos cuja composio qumica satisfaa os
seguintes requisitos: teor total de silcio e alumnio entre 1% e 5%; teor de alumnio no superior a 0,4% e teor dos
demais componentes de liga no superior a 0,4%. Para este mtodo necessrio um instrumento para medio da
resistncia. A densidade de massa do material calculada atravs do resultado do produto dado por:

----------

----------

13

. =

m.R
l.le

NBR (1.2)

Neste ensaio a massa da amostra deve ser medida com preciso de 0,25%; a resistncia da amostra deve ser medida
com preciso de 0,5%; o comprimento total da amostra deve ser medido com preciso de 0,25% e a distncia entre os
eletrodos de potencial deve ser medida com preciso de 0,25%.
O produto obtido inserido no grfico x , fornecido pela norma, para determinar o correspondente valor da
densidade do material. O valor desta ltima grandeza dado pela mdia aritmtica de valores de cinco amostras.
Para o mtodo que considera as percentagens de Al e Si presentes no material, tem-se que:

= [7,865 0,065(%Si + 1,7% Al)]

NBR (1.3)

Somente a norma brasileira apresenta mtodos para obteno da densidade de massa do material. Este valor afeta a rea da amostra
utilizada para obteno da amplitude da induo magntica. O mtodo que considera as percentagens de silcio e alumnio utiliza valores das
percentagens de alumnio e silcio presentes no material. Estes dados so fornecidos pelo fabricante. Entretanto, estas caractersticas no so
uniformes na extenso do material. O mtodo da resistividade requer medio da resistncia. Esta medida pode ser influenciada pelo contacto
entre os eletrodos e a amostra. O mtodo do empuxo torna-se mais adequado para medio da densidade do material. Como o valor obtido
pode ser influenciado pela temperatura necessrio medir a densidade do lquido no momento do ensaio (vide apndice 1).

14

1.1.5 Condies Necessrias para o Ensaio

Tabela 5: Condies necessrias para o ensaio.

NBR 5161

ASTM A 343

JISC 2550

IEC 404-2

- As lminas devem ser inicialmente - Antes da medio desmagnetiza-se a - A amostra deve ser inicialmente - As

realizadas

em

desmagnetizada. Durante o ensaio a temperatura ambiente de 18 a 28 C. A

- A fonte deve incluir circuito que temperatura ambiente deve ser de 18 a amostra

temperatura de 18 a 28 C.

so

desmagnetizadas e devem apresentar amostra.


0

medidas

- Este ensaio vlido mantendo-se a mantenha a forma de onda do fluxo 28 C.

de

teste

deve

ser

desmagnetizada.

forma de onda da induo magntica magntico senoidal. O fator de forma - A perda magntica obtida em amostra - As caractersticas magnticas so
senoidal. Esta condio satisfeita
quando a tenso secundria induzida for deve ser inferior a 1% de
senoidal. Assim, o fator de forma da

magnetizada por fluxo senoidal. O fator determinadas considerando-se tenso


2
(este de forma da tenso secundria deve estar induzida senoidal. Os resultados so
4

limite pode ser transposto no ensaio da

na faixa 1,111%. Este limite pode ser obtidos para valores especficos de

amplitude de induo magntica e


permeabilidade magntica). A fonte de transposto no ensaio da permeabilidade
freqncia. Para determinao da perda
mais que 1% de 1,11 (este limite pode
tenso alternada e ajustvel deve magntica. A tenso e a freqncia
tenso secundria no deve deslocar-se

ser

transposto

no

ensaio

da

apresentar baixa impedncia interna.

durante o teste devem ser estveis com magntica total, o fator de forma da

tenso secundria deve estar entre 1,111


Estabilidade de tenso de 0,1% e tolerncia de 0,2%. A fonte deve
forma deve ser mantido na faixa de 1,11
A fonte de alimentao deve
exatido de freqncia de 0,1% devem apresentar impedncia baixa e deve ser 1%.
permeabilidade magntica). O fator de
1% atravs de sistemas eletrnicos com

ser mantidas. A fonte deve incluir o

capaz de manter o fator de forma da

realimentao. Caso no seja possvel, circuito necessrio para manter a forma tenso secundria na faixa de 1,111%.
corrige-se a perda magntica para de onda do fluxo senoidal (utilizando Esta fonte deve possuir realimentao
desvios do fator de forma entre 1 e 10%. realimentao negativa da tenso
negativa da forma de onda da tenso
- A freqncia deve ser constante com secundria induzida).
induzida.

apresentar baixa impedncia e alta


estabilidade de tenso e freqncia.
Durante as medies as variaes da
tenso e da freqncia no devem
exceder 0,2% do valor desejado.

tolerncia de 0,2%.

- Recomenda-se utilizar uma faixa de

- O ensaio deve ser realizado em Quando se utiliza realimentao negativa

- Para produtos de gro no orientado, o

freqncia de 25 a 400 Hz.

freqncia no superior a 400 Hz.

possvel manter o fator de forma da

15

ensaio realizado para amplitude de - Para testes da perda magntica em 50 - Para materiais de gro no orientado, tenso secundria no limite estabelecido.
induo

magntica

at

1,5T

e ou 60 Hz so recomendados os seguintes utiliza-se

uma

faixa

de

induo - Utiliza-se uma faixa de freqncia at

preferivelmente para freqncia entre pontos de induo magntica: 1; 1,5 ou magntica at 1,5 T.

400 Hz.

15Hz e 100Hz. Freqncia de 400 Hz 1,7 Teslas.

- Para materiais de gro no orientado,

pode

utiliza-se

ser

alcanada

com

uma

instrumentao adequada.

uma

faixa

de

induo

magntica at 1,5T.

Quanto desmagnetizao da amostra, todas as normas estabelecem que a amostra deve ser inicialmente desmagnetizada. Em alguns
casos, no final do processo de produo do material, este apresenta magnetismo residual mesmo sem que houvesse aplicao de um campo
magntico externo [2]. O magnetismo residual ocorre quando existem condies para magnetizar o material e caractersticas da microestrutura
que aumentam o campo coercitivo. Este ltimo uma resistncia do material desmagnetizao.
Sobre a temperatura ambiente durante o ensaio (18 a 28C), somente a norma americana no estabelece uma temperatura. Elevando-se
a temperatura eleva-se a resistividade do material, diminuindo-se a perda por correntes de Foucault [2]. Geralmente as mquinas eltricas
operam com os ncleos magnticos sob temperatura superior a 40C.
No que se refere ao regime de induo magntica, todas as normas citam que o ensaio da perda total vlido mantendo-se a forma de
onda da induo magntica na forma senoidal. Esta condio satisfeita quando a tenso induzida no enrolamento secundrio for senoidal. As
normas fornecem ainda o limite do deslocamento do fator de forma da tenso secundria (1,11 1%). O fator de forma dado pela razo entre
o valor eficaz da tenso secundria e seu valor mdio retificado (o termo valor mdio utilizado nas normas, e que ser doravante adotado
neste trabalho, se refere ao valor mdio retificado. Vide apndice 2). O fator de forma uma relao adequada para averiguar a distoro de
uma forma de onda senoidal. Como as perdas dependem da amplitude da induo magntica esta deve ser determinada com preciso.

16

Observando-se o comportamento da perda por unidade de massa em funo da amplitude da induo magntica, verifica-se que a perda
magntica aumenta com o aumento da amplitude da induo magntica.
As normas brasileira, americana e japonesa estabelecem que a faixa de variao do fator de forma (1,11 1%) pode ser transposta no
ensaio da permeabilidade magntica. Sugere-se que este ensaio seja realizado em regime de fluxo senoidal porque as relaes utilizadas para
obteno da amplitude do campo magntico (no mtodo do indutor mtuo) e amplitude de induo magntica so vlidas somente para regime
senoidal (item 1.1.16).
A faixa da amplitude da induo magntica apresentada por todas as normas. Para materiais de gro no orientado, a amplitude de
induo magntica mxima de 1,5T. A norma americana cita ainda os valores 1T e 1,7T.
Todas as normas estabelecem uma faixa de freqncia de teste. A norma brasileira recomenda uma faixa de 15 a 100 Hz, ou at 400
Hz com instrumentao adequada. A norma americana recomenda uma faixa de 25 a 400 Hz. A norma japonesa e a norma da comisso
eletrotcnica internacional, recomendam uma faixa de freqncia at 400 Hz.
Quanto fonte de alimentao, todas as normas citam que esta pode incluir circuito que mantenha a forma de onda do fluxo senoidal.
A norma brasileira no estabelece a tolerncia na variao da tenso e da freqncia. As demais normas indicam as caractersticas da fonte
quanto estabilidade da tenso e a exatido da freqncia. A norma japonesa e a norma da comisso eletrotcnica internacional, recomendam
que a estabilidade da tenso e da freqncia no deve exceder 0,2% dos valores desejados. J a norma americana estabelece uma tolerncia
de 0,1%. Sobre o limite de variao da freqncia, somente a norma brasileira apresenta a tolerncia para sua variao (0,2%). Observando o
comportamento da perda magntica por unidade de massa em funo da freqncia, verifica-se que a perda magntica aumenta com o
aumento da freqncia.

17

1.1.6 Modelo de Separao da Perda Magntica

Tabela 6: Modelo de separao da perda magntica.

NBR 5161
A

perda

magntica,

ASTM A 343

em

JISC 2550

IEC 404-2

----------

----------

amostra Separa-se a perda magntica em duas componentes: uma varivel com a segunda potncia

submetida a um campo alternado, dada do fator de forma e outra no afetada pela variao do fator de forma.
por:

Desconsideram-se as dificuldades associadas na caracterizao destas componentes como

Ptot = Ph +Pclass

NBR (1.4) perda por histerese e perda por correntes de Foucault.

Somente as normas brasileira e americana indicam um modelo da perda magntica. Perda por histerese e perda por correntes de
Foucault constituem a perda magntica total. Estas normas no consideram a existncia da perda dita anmala (excedente) [15 ].

1.1.7 Instrumentos para Obteno da Perda Magntica Total e da Permeabilidade Magntica


1.1.7.1 Instrumentos para Obteno da Perda Magntica Total
NBR 5161

Tabela 7: Instrumentos para obteno da perda magntica total.


ASTM A 343

JISC 2550

- Valor mdio da tenso secundria: deve ser - Valor mdio da tenso secundria: deve ser -

Valor

medido utilizando-se um voltmetro, de bobina medido atravs de um voltmetro de valor mdio secundria:
mvel

com retificador,

de classe 0,5.

IEC 404-2

mdio

da

tenso - Valor mdio da tenso

deve

ser

medido secundria: deve ser medido

A verdadeiro. Os erros de fundo de escala no utilizando-se voltmetro de valor utilizando-se um voltmetro

resistncia interna deste aparelho deve ser elevada devem

exceder

0,25%.

Instrumentos

com mdio com exatido de 0,5%. Sua de valor mdio retificado

(superior ou igual 1000/V). O instrumento exatido de 0,5% podem ser utilizados em casos resistncia interna no deve ser com exatido de 0,2% ou
geralmente calibrado em valor eficaz.

de exatido reduzida. A resistncia de entrada de inferior 1000 /V. Geralmente melhor.

Para regime senoidal puro tem-se a seguinte

um voltmetro analgico no deve ser inferior

graduado para indicar o produto

- Valor eficaz da tenso

18

relao:

entre 1,111 e o valor mdio.

1000/V da indicao de fundo de escala.

valoreficaz = 1,11valormdio NBR (1.5) - Valor eficaz da tenso secundria: para - Valor eficaz da tenso secundria: deve ser
medido utilizando-se um voltmetro de valor
eficaz verdadeiro com resistncia interna superior
ou igual 500/V e de classe 0,5.
- Corrente primria: deve ser medida utilizando-se
um ampermetro de valor eficaz de classe 1 ou
melhor, cuja resistncia interna seja baixa.
- Freqncia: para a medida permissvel utilizar
um frequencmetro de classe 0,5, ou de classe 0,2
se for necessrio maior exatido.
- Potncia: medida utilizando-se um wattmetro
de classe 0,5 prprio para sistemas de fator de
potncia baixo (0,1 ou 0,2). A resistncia do
circuito de tenso deve ser inferior ou igual
100/V.
- Monitoramento da imagem da tenso medida:
utilizar osciloscpio.

Valor

medio utilizar um voltmetro de valor eficaz secundria:

secundria: deve ser medido

eficaz

da

tenso utilizando-se voltmetro de

deve

ser

medido valor eficaz com exatido de

verdadeiro. A exatido do voltmetro eficaz deve utilizando-se voltmetro de valor 0,2% ou melhor.
ser a mesma que a especificada para o voltmetro eficaz com exatido de 0,5%.

Freqncia:

de valor mdio. A resistncia de entrada de um - Corrente primria eficaz: deve medida


voltmetro de valor eficaz analgico no deve ser ser

medida

utilizando-se

deve

ser

utilizando-se

um

um frequencmetro com exatido

inferior 5000 /V da indicao de fundo de ampermetro de valor eficaz com de 0,1% ou melhor.
impedncia interna baixa e com - Potncia: deve ser medida

escala.

- Corrente primria eficaz: deve ser medida por exatido de 1%.

por

um wattmetro

um ampermetro de valor eficaz verdadeiro. - Freqncia: deve ser medida exatido

de

0,5%

com
ou

Exatido nominal de 1,0% de fundo de escala, ou utilizando-se um instrumento com melhor.


melhor, necessria. O instrumento deve ter exatido de 0,1%.
baixa

impedncia

interna

para

evitar -

Potncia:

deve

- A forma de onda da tenso


ser

medida secundria induzida deve ser

contribuies na distoro da forma de onda do utilizando-se um wattmetro de checada


fluxo.

baixo fator

com

um

de potncia com osciloscpio para assegurar

- Potncia: deve ser medida utilizando-se um exatido de 0,5%.

que somente a componente

wattmetro. A exatido de fundo de escala no

fundamental esteja presente.

deve ser inferior 0,25%.

A preciso da medida depende da classe de exatido do instrumento. Com maior incidncia, a comisso eletrotcnica internacional
exige instrumentos com menor classe de exatido (0,1%, 0,2%) em relao aos instrumentos exigidos pelas demais normas (0,5%). Assim, os
custos de aquisio de instrumentao segundo a comisso eletrotcnica internacional so mais elevados que para as demais normas.

19

interessante observar que as normas NBR 5161 e IEC 404-2 sugerem a utilizao de um osciloscpio para checar a forma de onda da tenso
induzida, sem exigir que seja realizada uma anlise harmnica do sinal. Entretanto, o fator de forma pode ser um indicador da distoro, desde
que os instrumentos utilizados estejam adequados tambm aos valores a serem medidos.

1.1.7.2 Instrumentos para Obteno da Permeabilidade Magntica


NBR 5161

Tabela 8: Instrumentos para obteno da permeabilidade magntica.


ASTM A 343

JISC 2550

IEC 404-2

necessrio um ampermetro de valor - Mtodo do voltmetro de valor de pico e - Mtodo do voltmetro de pico: o - Mtodo do voltmetro de pico: o
eficaz de baixa impedncia e de classe resistor padro: a medio da amplitude da voltmetro de pico deve apresentar voltmetro de pico deve apresentar
0,5 ou melhor.

corrente de excitao pode ser feita com um exatido de 2,5%. A resistncia do exatido de 0,5% ou melhor. Resistor

- Quando o mtodo do resistor calibrado voltmetro de pico. Este voltmetro mede a resistor no deve ser superior a 1 e com exatido de 0,1% deve ser utilizado.
for utilizado para medio do campo tenso do resistor padro conectado em sua tolerncia deve ser de 0,1%.
- Mtodo do indutor mtuo: o indutor
magntico necessrio um osciloscpio srie com o enrolamento primrio do quadro - Mtodo do indutor mtuo: o mtuo deve apresentar exatido de 0,5%.
ou um voltmetro eletrnico de valor de de Epstein. O voltmetro deve apresentar indutor mtuo deve apresentar O enrolamento primrio do indutor
pico. A exatido da medida deve ser exatido de 1% ou melhor. O resistor deve exatido de 0,5%. Um indutor mtuo mtuo conectado em srie com o
3% ou melhor. A exatido do resistor apresentar exatido de 0,1% ou melhor. de 1 A ou 10 A deve ser utilizado de enrolamento primrio do quadro de
calibrado deve ser 0,5% ou melhor. A Para evitar nveis de distores intolerveis, acordo com o campo magntico a ser Epstein. O voltmetro de valor mdio
resistncia do resistor calibrado no deve um resistor fixo entre 0,1 e 1 medido. utilizado tambm um pode ser o mesmo utilizado para medir a
ser superior 1 para minimizar a geralmente apropriado.
distoro da forma de onda do fluxo.

- Mtodo do indutor mtuo de ncleo de ar

- Quando for utilizado o mtodo do e voltmetro de valor mdio: o indutor


indutor mtuo para calcular o campo mtuo deve apresentar impedncia primria
magntico, este deve apresentar exatido baixa tal que a sua insero no altera as

voltmetro de valor mdio.

tenso secundria do quadro de Epstein.

20

de 0,5% ou melhor e impedncia condies


primria

mnima.

do

circuito

primrio.

impedncia impedncia secundria do indutor mtuo

secundria do indutor deve ser baixa deve ser baixa. A adio do voltmetro no
comparando-se com o instrumento de deve alterar a tenso secundria do indutor
medida

ele

conectado

(para mtuo mais que 0,25%.

minimizao do erro).

O termo indutor mtuo utilizado para denominar o dispositivo utilizado para obter a amplitude do campo magntico.
Para obteno da permeabilidade magntica as normas apresentam dois mtodos para medir a corrente: do resistor calibrado e do
indutor mtuo. Quanto ao mtodo do resistor calibrado, a norma americana a nica que especifica a resistncia mnima permissvel do
resistor (0,1). As normas NBR 5161, ASTM A 343 e JISC 2550 especificam que o resistor no deve ter o valor superior a 1. A norma da
comisso eletrotcnica internacional no especifica o valor da resistncia. Sobre o mtodo do indutor mtuo, a norma americana no
especifica a exatido do indutor mtuo.

1.1.8 Valor Convencional do Caminho Magntico, Massa Magneticamente Efetiva e Seo Transversal

Tabela 9: Valor convencional do caminho magntico, massa magneticamente efetiva e seo transversal.
NBR 5161

ASTM A 343

JISC 2550

- O valor convencional para o caminho

- Assume-se o valor 0,94m como

- o caminho magntico efetivo de :

magntico : lm = 0,94 [m].

caminho magntico efetivo.

0,94m.

- A massa magneticamente efetiva da

IEC 404-2

- O caminho magntico efetivo de :


0,94m.

- Para clculo da perda magntica, a - A massa efetiva da amostra dada por: - A massa ativa dada por:
massa ativa da amostra (menor que a

21

massa total) dada por:

amostra dada por:

ma =

ma =

lm .m
4l

NBR (1.6) ma =

lm m
m
= 0,235
4l
l

ASTM (1.1)

m
4l

S=

NBR (1.7)

m
4l

m
S=
4l

lm .m
4l

IEC (1.1)

- A rea da seo transversal da amostra


dada por:

por:

cada brao dada por:

S=

ma =

JIS (1.1)

- A seo transversal da amostra dada

- A seo transversal da amostra dada - A rea da seo transversal efetiva em


por:

lm .m
4l

S=
JIS (1.2)

m
4l

IEC (1.2)

ASTM (1.2)

Todas as normas adotam o valor 0,94m, para representar o comprimento efetivo do caminho magntico do fluxo. Assim, a massa ativa
da amostra menor que a massa total. O comprimento efetivo do caminho magntico do fluxo depende do tipo de material, da induo
magntica e afetado pela sobreposio das lminas nos cantos do quadro [3].
Na equao ma =
m 4.l
ma lm

lm .m
verifica-se que a massa total m corrigida pelo fator lm/4l. Esta relao obtida por proporcionalidade:
4l

assim, ma =

lm .m
4l

A seo transversal obtida atravs da densidade de massa do material porque a espessura da lmina apresenta variao tpica de at
8%, dificultando a medio da seo geometricamente. Para deduzir a equao S =

m
m
=
volume S .l

m
4.l.S

assim, S =

m
tem-se que:
4l

como no quadro de Epstein a massa m est distribuda ao longo dos quatro braos tem-se:
m
4.l.

22

A equao da massa ativa e a equao da seo transversal, acima deduzidas, consideram que os braos do quadro de Epstein tenham a
mesma massa e o mesmo comprimento. Logo, estas condies devem ser verificadas.

1.1.9 Esquema de Ligao para o Ensaio da Perda Magntica e da Permeabilidade Magntica


1.1.9.1 Esquema de Ligao para o Ensaio da Perda Magntica

Tabela 10: Esquema de ligao para o ensaio da perda magntica.

NBR 5161

ASTM A 343
P

A
G

Hz

U1

U2

V1

V2

Mc
W

S
Mc
S

V1

IEC 404-2

S1

Rn

JISC 2550

A
Mc
G

S3
V2

Hz

Primrio

V1

Secundrio

S2
W

Hz

V2

V1

Mc
W

V3

Fig. NBR 1: Mtodo do wattmetro.


G: fonte de tenso alternada.
A: ampermetro de valor eficaz.

Fig. ASTM 2: Ensaio da perda


magntica e das caractersticas de
magnetizao

Fig JIS 3: Ensaio da perda magntica


G: fonte de tenso alternada.

Fig. IEC 3: Mtodo do wattmetro


G: fonte de tenso alternada.

A: ampermetro de valor eficaz.

A: ampermetro de valor eficaz.

Hz: frequencmetro.

G: fonte de tenso alternada.

Hz: frequencmetro.

Hz: frequencmetro.

W: wattmetro.

W: wattmetro.

W: wattmetro.

W: wattmetro.

V1: voltmetro de valor eficaz.

V1: voltmetro de valor eficaz.

V1: voltmetro de valor eficaz.

V1: voltmetro de valor eficaz.

V2: voltmetro de valor mdio.

V2: voltmetro de valor mdio.

V2: voltmetro de valor mdio.

V2: voltmetro de valor mdio.

Mc: indutncia mtua de compensao

Mc: indutncia mtua de compensao

Mc: indutncia mtua de compensao Mc: indutncia mtua de compensao

do fluxo disperso.

do fluxo disperso.

do fluxo disperso.

do fluxo disperso.

23

Todas as normas apresentam basicamente o mesmo circuito para medio da perda magntica. Apenas a norma americana apresenta
um circuito sem o ampermetro de controle da bobina de corrente do wattmetro. A potncia obtida pelas leituras da corrente primria e
tenso secundria para no incluir a perda no cobre.

1.1.9.2 Esquema de Ligao para o Ensaio da Permeabilidade Magntica

Tabela 11: Esquema de ligao para o ensaio da permeabilidade magntica.

NBR 5161

ASTM A 343

JISC 2550

IEC 404-2

A amplitude da induo magntica obtida para cada valor

A freqncia deve ser mantida constante.

de amplitude do campo magntico, medindo-se a tenso

- Mtodo I: a amplitude da corrente primria primria deve ser obtida medindo-se a

secundria mdia retificada.

deve ser obtida medindo-se a amplitude da amplitude

O valor eficaz do campo magntico calculado a partir do

tenso do resistor conforme o seguinte circuito: conforme o seguinte circuito:

valor eficaz da corrente primria, medida atravs do

- Mtodo I: a amplitude da corrente


da

tenso

do

resistor

Bobina de compensao

seguinte esquema de ligao:


A
V

V2

Hz

Primrio

Secundrio

Fig. JIS 4: Mtodo do resistor calibrado.


G: fonte de tenso alternada.

Fig. IEC 4: Mtodo do resistor


calibrado.
G: fonte de tenso alternada.

Hz: frequencmetro.

V3: voltmetro de valor de pico.

A: ampermetro de valor eficaz.

V2: voltmetro de valor mdio.

Rn: resistor calibrado.

V2: voltmetro de valor mdio.

A: ampermetro de valor eficaz.

V2: voltmetro de valor mdio.

A amplitude do campo magntico obtida a partir da

V3: voltmetro de valor de pico.

Mc: indutncia mtua de compensao

Fig. NBR 2: Corrente primria eficaz.


G: fonte de tenso alternada.

24

amplitude da corrente primria, por um dos seguintes

- Mtodo II: a amplitude da corrente primria do fluxo disperso.

mtodos de medio:

obtida atravs da tenso secundria do indutor - Mtodo II: A amplitude da corrente

- Mtodo I: a amplitude da corrente primria obtida

mtuo conforme o seguinte circuito:

medindo-se a amplitude da tenso do resistor calibrado

secundria do indutor mtuo conforme

conforme o seguinte circuito:

primria obtida atravs da tenso

o seguinte circuito:

Hz

Primrio

Fig. NBR 3: Mtodo do resistor calibrado


G: fonte de tenso alternada.

V2: voltmetro de valor mdio.


- Mtodo II: a amplitude da corrente primria obtida
atravs da tenso secundria do indutor mtuo conforme o
seguinte circuito:

Mc

Rn: resistor calibrado.

V3: voltmetro de valor de pico.

Secundrio

Fig. JIS 5: Mtodo do indutor mtuo.


G: fonte de tenso alternada.
Mc: indutncia mtua de compensao de
fluxo disperso.
M: indutncia mtua.
V2: voltmetro de valor mdio.
A: ampermetro de valor eficaz.
Hz: frequencmetro.

Fig. IEC 5: Mtodo do indutor mtuo.


G: fonte de tenso alternada.
Mc: indutncia mtua de compensao
do fluxo disperso.
M: indutncia mtua.
V2: voltmetro de valor mdio.

25

Fig. NBR 4: Mtodo do indutor mtuo.


G: fonte de tenso alternada.
Mc: indutncia mtua de compensao de fluxo disperso.
M: indutncia mtua.
V2: voltmetro de valor mdio.
Neste circuito o voltmetro para medio da tenso
secundria do quadro de Epstein tambm utilizado para
medio da tenso do indutor mtuo.

A permeabilidade magntica pode ser obtida pelo mtodo do resistor calibrado ou pelo mtodo do indutor mtuo. Quanto ao mtodo
do indutor mtuo, os valores das indutncias e resistncias podem ser afetadas pela freqncia. Assim, estas grandezas devem ser medidas
antes do ensaio.

1.1.10 Compensao da Queda de Tenso Devido ao Fluxo Disperso

Tabela 12: Compensao da queda de tenso devido ao fluxo disperso.

NBR 5161

ASTM A 343

A seo transversal do enrolamento secundrio do quadro de Epstein maior O


que a seo transversal da amostra. O fluxo disperso neste enrolamento,

ajuste

do

indutor

JISC 2550

IEC 404-2

de Para um material com alta O ajuste do valor da

compensao do fluxo disperso

permeabilidade,

indutncia mtua do

26

deve ser checado. Passa-se uma polarizao magntica e compensador deve ser tal

aumenta a tenso induzida no prprio enrolamento. Assim,

B ' m = Bm + 0 H m

St S
S

NBR (1.8)

corrente alternada de 2 5A induo magntica so que

ao

passar

corrente

atravs do enrolamento primrio iguais.

A induo magntica obtida a partir da tenso secundria diferente da do quadro sem amostras, mas Ajusta-se
induo magntica na amostra devido ao segundo termo de NBR(1.8). Para com o compensador de fluxo mtua

da

alternada

indutncia enrolamento

bobina

de sem

Observa-se

tenso que

indicao

magntica obtida a partir da tenso secundria:

Bm =

2mV,

U2
4 fN 2 S

NBR (1.9)

Realiza-se um ajuste permanente da indutncia mtua de compensao. O

significa

que

o compensador)

fluxo

disperso,

induo Epstein.

sem amostra no quadro de Epstein, a tenso nos enrolamentos secundrios no indicada pelo voltmetro de valor
deve ser superior a 0,1% da tenso deste enrolamento sem o indutor de mdio a induo intrnseca. Em
compensao. Neste caso a induo magntica calculada em NBR(1.9) a muitos casos os valores da
induo intrnseca so iguais aos
valores da induo normal.

comuns

no

dos
do

secundrio secundrio, no deve ser


e

no superior a 0,1% da tenso

seja nula secundria

apenas

existir quadro de Epstein.

est adequado. Compensando o amostra no quadro de

ajuste tal que ao excitar o enrolamento primrio com uma corrente alternada magntica calculada pela tenso

induo intrnseca (polarizao magntica) que no diferente de Bm .

Epstein

compensador de fluxo disperso quando

tenso

no enrolamentos

variao do fluxo disperso. Desta forma o segundo termo de NBR(1.8) voltmetro. Quando esta tenso enrolamento
desaparecer. A induo magntica da amostra torna-se igual induo for inferior ou igual 1mV ou de

no

do medida entre os terminais

acoplado para compensar o fluxo disperso. A tenso secundria do indutor alternada de circuito aberto nos voltmetro de valor mdio no
acoplado compensa a tenso secundria do quadro de Epstein causada pela terminais secundrios com um (conectado

no

primrio,

amostra

minimizar este erro necessrio preencher os braos do quadro com o maior disperso conectado na polaridade compensao de forma dispositivo,
nmero possvel de amostras. Alternativamente, pode ser utilizado um indutor certa.

uma

do

27

Como o fluxo disperso na seo transversal do quadro aumenta a tenso induzida, necessrio compens-lo. Para compensar a tenso
devido ao fluxo disperso, utiliza-se um indutor de compensao de fluxo disperso. Assim, a induo magntica da amostra igual induo
magntica obtida pela tenso secundria.
A equao NBR(1.9) deduzida da seguinte forma:
U2 = N2

Para fluxo magntico senoidal, = msen(wt), tem-se:


Como U pico = N 2 m w

m = Bm S

Como U pico =

U2 =

Assim, Bm =

2U 2

2
U2
4

U 2 = N 2m w cos( wt )

tem-se: U pico = N 2 Bm Sw
e

w = 2f,

tem-se:

2
U 2 = N 2 Bm S 2f
4

U2
4 fN 2 S

Sempre que se utilizar um compensador de fluxo disperso a medida da polarizao magntica considerada como o valor da induo
magntica [3].

28

1.1.11 Reduo da Relutncia

Tabela 13: Reduo da relutncia.

NBR 5161
A

fora

ASTM A 343

JISC 2550

IEC 404-2

permitida, Se a lmina for razoavelmente plana e se existir rea de contacto nos cantos, uma Uma fora de 1N deve ser Para

aplicada nos cantos do relutncia suficientemente pequena obtida sem recorrer presso nas juntas. Caso aplicada

nas

minimizar

juntas entreferro

permitido

quadro de Epstein, de contrrio, pressiona-se as juntas utilizando-se pesos no magnticos de 200 g. sobrepostas, para minimizar aplicar uma fora de 1N
1N.

a relutncia magntica.

permitido recorrer presso nas juntas embora introduza-se tenso no material.

em cada canto do quadro.

Com exceo da norma americana, as demais normas recomendam aplicar uma fora de 1N nos cantos do quadro de Epstein. Neste
caso, seria necessrio instrumentao adequada para controlar esta fora. A norma americana elimina este problema, estabelecendo a massa
(200g) dos pesos de material no magntico aplicados nos cantos do quadro.

1.1.12 Procedimentos para o Ensaio

Tabela 14: Procedimentos para o ensaio.

NBR 5161

ASTM A 343

JISC 2550

IEC 404-2

- Mede-se a massa da amostra - Checam-se os comprimentos das lminas verificando - Controla-se o manuseio da - A amostra de teste deve ser
com exatido de 0,1% .

conformidade

com 0,8mm de tolerncia. Checam-se as amostra para evitar tenses no pesada e sua massa determinada

com exatido de 0,1%.


- Inserem-se as lminas no amostras verificando existncia de rebarbas; toro e distores material.
quadro de Epstein formando evidenciando que abusos mecnicos foram cometidos. Checa-se - A massa das peas de teste - A massa ativa da amostra de
juntas duplamente sobrepostas ainda se a lmina apresenta largura uniforme. Lmina com deve ser medida com exatido teste deve ser no mnimo 240g
de 0,1%.
para lminas de 280mm de
nos cantos. Se metade das
notvel desvio de corte inadequada para teste.
- Dividem-se as peas de teste

comprimento.

29

lminas

forem

cortadas

na - Pesa-se a amostra numa balana capaz de determinar a massa cortadas na mesma direo em -

As

lminas

devem

ser

direo da laminao e as com 0,1% de exatido. A massa nominal da amostra deve ser dois grupos (quatro grupos no empilhadas nas bobinas do quadro
restantes perpendiculares esta aproximadamente 2 kg, 1 kg ou 0,5 kg para lminas de 28 cm total).

com

juntas

duplamente

direo, inserem-se as primeiras conforme o quadro de teste. Imprecises na pesagem e na - Inserem-se as lminas no sobrepostas nos cantos. Os braos
em dois braos paralelos do medida do comprimento da amostra causam erros na medida da quadro de Epstein. Cada grupo devem ser de igual comprimento,
quadro de Epstein e as ltimas induo magntica, resultando elevados erros nas perdas obtidas. formando

um

brao

do de igual rea de seo transversal

nos braos restantes. Os braos - Divide-se a amostra em quatro grupos, contendo igual nmero caminho magntico. Utilizam- e

com

igual

quantidade

de

devem possuir o mesmo nmero de lminas e mesma massa. Inserem-se as lminas (sempre se lminas cortadas na mesma lminas. Se metade das lminas
mltiplas de quatro) nos solenides do quadro uma por vez, direo em braos opostos. forem cortadas na direo da

de lminas.

- Nos cantos o entreferro entre comeando com uma lmina em cada dois solenides opostos. Se Formam-se juntas duplamente laminao
as lminas deve ser o mnimo metade das lminas forem cortadas na direo da laminao e as sobrepostas nos cantos.

- Desmagnetiza-se a amostra em dois braos paralelos do quadro e as ltimas nos braos fecha-se
aplicando um campo alternado e restantes. Dispem-se as lminas com superposio nos cantos.

restantes

perpendiculares esta direo,

chave

desmagnetiza-se

S2

e braos paralelos do quadro e as

amostra. ltimas nos braos restantes.

- Desmagnetiza-se a amostra da seguinte forma: com os Fecham-se ambas as chaves S1 -

decrescente.
Ajusta-se

as

restantes perpendiculares esta direo, inserem-se as primeiras - Considerando a Fig. JIS 3, inserem-se as primeiras em dois

possvel.

fonte

amostra

deve

ser

de instrumentos conectados conforme Fig.ASTM 2 e as chaves S1 e e S3 e abre-se a chave S2. desmagnetizada por um campo

alimentao tal que se obtenha a S4


induo desejada por:

fechadas,

chaves

S3

S5

abertas,

efetua-se

esta Ajusta-se a fonte de tenso at magntico

Fig. NBR 1, deve ser controlado


para que a bobina de corrente do

desmagnetizao aplicando inicialmente uma tenso de fonte no que a leitura do voltmetro de decrescente.

U 2 = 4 fSBm N 2 NBR (1.10) circuito primrio suficiente para magnetizar a amostra para uma valor
- O ampermetro do circuito da

alternado

mdio

for

a -A sada da fonte deve ser

induo acima do joelho da curva de magnetizao. Calcula-se o correspondente da amplitude da vagarosamente aumentada at que
valor da tenso, para a desejada induo magntica de teste na induo magntica previamente o
amostra, de acordo com a equao:

determinada.

Mantm-se

freqncia no valor

valor

mdio

da

tenso

a secundria do quadro seja igual ao


valor desejado. Observa-se o

30

U 2 = 2Bm SN 2 f
wattmetro

no

seja

sobrecarregada.
- Anota-se a tenso mdia

ASTM (1.3)

Regulao da induo magntica: com as chaves S3 e S4 fechadas


e as chaves S1 e S5 abertas, aumenta-se a tenso da fonte at o
voltmetro de valor mdio indicar o valor da tenso calculada

(retificada) e a tenso eficaz.

especificado.

Calcula-se

U2
U2

NBR (1.11) mltiplos pontos forem necessrios, desenvolve-se o teste

aumentando os valores de induo magntica.


O fator de forma da tenso - L-se o wattmetro. Alguns usurios preferem abrir a chave S
4
secundria deve ser medido com para eliminar a carga do voltmetro de valor mdio da indicao
exatido de 0,5%.
-

Anota-se

wattmetro.

do wattmetro. Outros podem preferir manter as chaves S4 e S5


leitura

do fechadas, ao medirem a perda magntica, para que todos os


instrumentos sejam lidos simultaneamente. No ltimo caso, a
resistncia combinada do voltmetro de valor mdio, voltmetro
eficaz, e circuito de tenso do wattmetro constituem a carga
total dos instrumentos no wattmetro. A potncia devido a
qualquer corrente fluindo no circuito secundrio deve ser
conhecida para que seja subtrada das indicaes do wattmetro.
- Mede-se o valor eficaz da tenso secundria tendo ambas as
chaves S4 e S5 fechadas, e a tenso ajustada para o valor correto.

para que o circuito de corrente do

tenso pela frmula:

U 2 = 4,44 fSBm N 2 JIS(1.3) wattmetro

para obter a desejada induo magntica de teste. Faz-se - Obtm-se a leitura


- Calcula-se o fator de forma da
decrescer a tenso vagarosamente para uma induo magntica wattmetro.
tenso secundria atravs da
- Anota-se a leitura
muito baixa.
seguinte relao:
- Testa-se imediatamente os pontos de teste desejados. Quando voltmetro eficaz.

F=

a ampermetro do circuito primrio

do

no

seja

sobrecarregado. A tenso mdia


obtida segundo o valor desejado

do

de

induo

magntica

como

segue:

U 2 = 4 fN 2

Ri
SBm IEC (1.3)
Ri + Rt

- Mede-se a potncia com o


ampermetro do circuito primrio
curto

circuitado

secundria

reajustada

tenso
se

necessrio.
- O fator de forma da tenso
secundria deve ser determinado
da razo de seu valor eficaz para
seu valor mdio retificado.
- A leitura do wattmetro deve ser
anotada.

31

Quanto ao manuseio da amostra, apenas a norma japonesa recomenda lidar com as amostras com cuidado. Este procedimento evita
incluso de tenses no material. A tenso de trao pode aumentar a permeabilidade magntica e a tenso de compresso pode diminuir este
valor [2]. Qualquer dobramento da amostra altera o valor da perda magntica.
Quanto inspeo da amostra, a norma americana recomenda checar a amostra para possveis descartes. Deve-se analisar o
comprimento, as rebarbas, a incluso de abusos mecnicos, a uniformidade da largura e existncia de desvios de corte.
Sobre o arranjo da amostra, as normas americana e japonesa recomendam dividir a amostra em quatro grupos. Tem-se dois grupos na
direo da laminao e dois grupos na direo transversal. Este procedimento facilita a insero das lminas no quadro e evita possveis
enganos. A norma americana estabelece que cada grupo tenha o mesmo nmero de lminas e a mesma massa. Quanto insero da amostra
no quadro, todas as normas estabelecem a mesma metodologia de insero da amostra, realando a sobreposio das lminas nos cantos. Este
procedimento reduz a relutncia do circuito e o fluxo disperso nestes pontos [3]. Quando a amostra for cortada metade na direo da
laminao e a outra parte perpendicular a esta direo, obtm-se melhor previso do comportamento do material no dispositivo
eletromagntico. A perda magntica na direo transversal maior que a perda magntica na direo longitudinal [2]. As propriedades
magnticas so anisotrpicas porque variam com a direo da induo magntica e do campo magntico devido existncia da textura do
material e a distribuio no aleatria dos gros.
Quanto desmagnetizao da amostra, j abordada no item 1.1.5, a norma americana apresenta um procedimento de desmagnetizao
mais detalhado. Somente esta norma recomenda realizar o teste imediatamente aps este procedimento.
Referente ao ajuste da fonte, a norma da comisso eletrotcnica internacional realiza um ajuste da fonte de tenso (em funo da
induo de teste desejada) diferente das demais normas. Este ajuste funo das resistncias dos instrumentos conectados ao circuito
secundrio e da resistncia srie do enrolamento secundrio e do indutor de compensao, conforme a equao IEC(1.3). O valor eficaz da
tenso secundria utilizado para o clculo da induo magntica (equaes ASTM 1.3 e JIS 1.3) obtido atravs da leitura do voltmetro de

32

valor mdio (a tenso eficaz obtida multiplicando-se a leitura do voltmetro de valor mdio por 1,11 quando este no o fizer
automaticamente).
Quanto proteo do wattmetro, somente a norma brasileira e a norma da comisso eletrotcnica internacional recomendam conectar
um ampermetro ao primrio para controlar a bobina de corrente do wattmetro.
Sobre a leitura do wattmetro, a norma americana apresenta opes de leitura considerando a excluso de cargas dos instrumentos
secundrios e a possibilidade de se realizar todas as leituras simultaneamente. A norma da comisso eletrotcnica internacional, recomenda
curto circuitar o ampermetro e se necessrio reajustar a tenso secundria.

1.1.13 Obteno da Perda Especfica Total


Tabela 15: Clculo da perda especfica total.

NBR 5161

ASTM A 343

A perda total da amostra dada por:

N
(1,11U 2 )
Pc = 1 Pm
N2
Ri + Rt

JISC 2550

Para obter a perda especfica da amostra Calcula-se a perda magntica pela A perda total da amostra de teste deve ser
necessrio subtrair toda potncia do frmula:

NBR (1.12) circuito secundrio includa na indicao

A perda especfica total da amostra


dada por:

do Wattmetro. Para induo magntica


e

freqncia

especficas,

perda

especfica dada por:

Pc
ma

NBR (1.13)

Pc 4l
m.l m

NBR (1.14)

Ps =

Ps =

IEC 404-2

P U 2 Ri
Ps = m
ma

Pc = Pm

calculada como segue:

U2
Ri

JIS (1.4) Pc =

IEC (1.4)

A perda magntica por unidade de A perda especfica total medida dada por:
massa dada por:

Ps =

ASTM (1.4)

(1,11U 2 )
N1
Pm
N2
Ri

P
Ps = c
ma

JIS (1.5)

Pc
ma

Ps =

Pc 4l
m.l m

IEC (1.5)

IEC (1.6)

33

Para obter a perda magntica, todas as normas subtraem a potncia do circuito secundrio (dada pelo segundo termo das equaes
NBR(1.12), JIS(1.4) e IEC(1.4)) da leitura do wattmetro (Pm ). Para a norma brasileira, a potncia do circuito secundrio obtida
considerando-se a resistncia equivalente dos instrumentos secundrios Ri e a resistncia srie do enrolamento secundrio do quadro e do
indutor de compensao Rt. Para as normas americana, japonesa e a norma da comisso eletrotcnica internacional a potncia do circuito
secundrio obtida considerando-se somente a resistncia equivalente da associao paralela entre a bobina de tenso do wattmetro e as
outras cargas secundrias Ri.

1.1.14 Correo da Perda Magntica


NBR 5161

Tabela 16: Correo da perda magntica.

ASTM A 343

Recomenda-se manter o fator de forma da tenso secundria na faixa de O erro percentual no fator de forma dado por:

JISC 2550
A correo da

perda magntica
100(U 2 U 2 )
ASTM (1.5)
U2
no realizada
de realimentao. Se no for possvel, realizam-se correes nos valores
Na determinao do erro do fator de forma, assume-se
desde que o fator
medidos de perda magntica para considerar um desvio do fator de forma at
que a componente por histerese da perda magntica de forma da
10%.
independente do fator de forma se a amplitude da
tenso secundria
Admite-se que a perda por histerese no depende do fator de forma se a
induo magntica for correta. A induo magntica
seja mantido na
amplitude da induo magntica for correta. A perda por correntes de Foucault
correta quando o voltmetro de valor mdio for
faixa de 1,11
depende do valor eficaz da tenso, logo, depende do fator de forma. Assim,
utilizado para estabelecer este valor. Como a perda
1%.
corrige-se a perda magntica total atravs do fator de forma pela equao
por correntes de Foucault funo do valor eficaz da
NBR (1.16).
tenso, ser incorreta para tenses no senoidais. A

1,11 1% . Este controle pode ser realizado atravs de sistemas eletrnicos

F =

(1,11U 2 ) NBR(1.15) perda corrigida, calculada quando o erro do fator de


N1 '
Pm
N2
Ri + Rt
2

Pt =

forma for maior que 1% e menor que 10%, dada

por:

IEC 404-2

----------

34

PC =

kh =

Pt

Ph
Pc

kp =

NBR (1.16)

F 2
kh + k p (
)
1,11

Ps corrigida =

Ps observada: perda especfica calculada em ASTM(1.4).

k
NBR (1.18)

Pc

kh + k p = 1 ,

ASTM (1.6)

onde,

NBR (1.17)

Pp

Ps observada
100
h + (k.e)

NBR (1.19)

U
= 2
U 2

ASTM (1.7)

Obviamente h=100-e se perdas residuais forem


consideradas desprezveis. Os valores de h e e na
equao acima, no so crticos quando as distores

Para corrigir a perda magntica pode ser utilizada a frmula aproximada:

F = 1,11 F
F
Pt
1,11

da forma de onda forem pequenas. Estes valores


NBR (1.20) devem ser obtidos atravs do mtodo de separao de
perdas.

P = 2 k p

NBR (1.21)

Pc = P + Pt ,

NBR (1.22)

onde,
kp: obtido atravs do mtodo da separao das perdas.
F: fator de forma medido.

Sobre a correo da perda magntica, a norma da comisso eletrotcnica internacional nada estabelece. A norma japonesa afirma
somente que no so necessrias correes quando o fator de forma pertencer a faixa 1,11 1%. A norma brasileira solicita que o fator de
forma seja mantido na faixa 1,11 1%, atravs de sistemas eletrnicos com realimentao. Caso no seja possvel, corrige-se a perda
magntica para desvios do fator de forma entre 1% a 10%. A norma americana sugere correo da perda magntica quando o erro percentual

35

do fator de forma for maior que 1% e menor ou igual a 10%. Nesta norma as constantes h e e, referentes perda por histerese e perda por
correntes de Foucault, so obtidas pelo mtodo de separao de perdas, para fluxo senoidal na faixa de 1,11 1%.
Sobre a correo da perda magntica total atravs do fator de forma, a norma brasileira e a norma americana admitem que a perda por
histerese no depende do fator de forma (se a amplitude da induo magntica for correta) e a perda por correntes de Foucault depende do
fator de forma (porque depende do valor eficaz da tenso, ou seja, das distores da forma de onda).
A perda por histerese funo da amplitude da induo magntica (veja equao NBR(1.26)). A equao NBR(1.10) apresenta a
relao entre a tenso secundria mdia e a amplitude da induo magntica. Como comenta-se no item 1.1.10, utilizando-se compensador de
fluxo disperso, a induo magntica na amostra igual induo magntica obtida pela tenso secundria mdia. Por este motivo admitido
que a perda por histerese no depende do fator de forma.
A perda por correntes de Foucault obtida atravs da integral volumtrica do produto entre a condutividade eltrica do material e o
quadrado do campo eltrico. O campo eltrico obtido dividindo- se a tenso eficaz pelo comprimento. O valor eficaz da tenso secundria
dado pelo produto entre o valor secundrio mdio e o fator de forma. Assim a perda por correntes de Foucault depende do fator de forma.

1.1.15 Separao da Perda Total: Perda por Histerese e Perda por Correntes de Foucault
Tabela 17: Separao das Perdas.

NBR 5161

ASTM A 343 JISC 2550 IEC 404-2

A perda total separada em duas parcelas, devido a correntes de Foucault e devido histerese do material, admitindose variao com a segunda e a primeira potncia da freqncia. Para mesmo valor de induo magntica tem-se:

Pc = Ap B 2 m f 2 + Ah Bm f
x

Ap: Depende do volume da amostra. proporcional ao quadrado da espessura de uma nica lmina.

---------NBR (1.23)

----------

----------

36

Ah: Depende do volume da amostra.


Realiza-se o ensaio de Epstein para vrias freqncias, situadas entre a metade e o dobro da freqncia na qual desejase obter a perda corrigida e a curva Pc/f em funo da freqncia.

Pc
x
= Ap B 2 m f + Ah Bm
f

NBR (1.24)

Pc/f
arctg(ApBm2)

AhBmx

f
Fig. NBR 5: Mtodo de separao das perdas.
Para levantar o grfico da Fig. NBR 5 atravs da reta NBR(1.24), mantm-se constante a amplitude da induo
magntica e o fator de forma. Para este caso, o desvio do fator de forma no deve ser superior a 1% de 1,11. Obtidos os
termos ApBm2 e AhBmx multiplica-se por f2 e f obtendo-se:

Pp = Ap Bm f 2

NBR (1.25)

Ph = Ah Bm f

NBR (1.26)

kp =

Pp
Pc

kh =

Ph
Pc

NBR (1.27)

NBR (1.28)

37

Somente a norma brasileira detalha o mtodo de separao de perdas. Tem-se duas componentes: perda por histerese e perda por
correntes de Foucault. A perda por histerese obtida atravs do mtodo do prolongamento da curva da perda magntica em funo da
freqncia at se atingir freqncia nula.

1.1.16 Obteno da Permeabilidade Magntica

Tabela 18: Obteno da permeabilidade magntica.

NBR 5161

ASTM A 343

A permeabilidade magntica pode ser obtida de Determina-se

amplitude

JISC 2550

IEC 404-2

da - Mtodo I: desmagnetiza-se a amostra. A amplitude da induo magntica

duas maneiras: atravs de valores da amplitude da corrente de excitao utilizando-se Fecha-se o interruptor S (Fig. JIS 4) e deve ser determinada pela equao:
induo magntica e de valores eficazes do campo um voltmetro de valor de pico e ajusta-se a fonte de tenso at que a
magntico ou da amplitude da induo magntica um resistor padro. A chave S1 leitura do voltmetro de pico seja a
e da amplitude do campo magntico.

(Fig. ASTM 2) deve ser fechada correspondente

magntico - Mtodo I: a amplitude do campo


Quando o campo magntico for especificado, a para proteger o wattmetro de determinado previamente. Calcula-se a magntico obtida da seguinte
corrente primria deve ser ajustada at que se correntes excessivas. As chaves S3 amplitude do campo magntico pela forma (Fig. IEC 4):
obtenha

campo

magntico

desejado.

ao

Ri
SBm IEC (1.7)
Ri + Rt

U 2 = 4 fN 2

campo

A e S5 devem ser abertas para seguinte frmula:

amplitude da induo magntica deve ser minimizar

carregamento

do

NI
NU
Hm = 1 m = 1 m
lm
Rnlm

Hm =

N1I m
lm

JIS (1.6)

calculada pela equao NBR(1.9). U 2 obtido circuito secundrio. Com a chave


S aberta e S5 fechada ajusta-se a
Obtm-se a leitura do voltmetro de valor
corrigindo-se o valor da leitura do voltmetro pelo 2
tenso para o valor correto
mdio e calcula-se o valor da amplitude
R + R2
fator: v
.
segundo a desejada induo
da induo magntica pela equao
Rv
magntica ou ajusta-se a amplitude
JIS(1.3).
Quando a induo magntica for especificada,
da corrente para o valor correto
- Mtodo II: desmagnetiza-se a amostra.
ajusta-se a tenso secundria para o valor
segundo o desejado campo
Fecha-se a chave S2 (Fig. JIS 5), volta-se
correspondente induo magntica especificada.
magnetizante.
a comutao da chave S1 para o lado 1 e

Im =
-

Um

Mtodo

Rn

II:

IEC (1.8)

IEC (1.9)
observa-se

no

osciloscpio que na forma de onda


da

tenso

do

enrolamento

secundrio do indutor mtuo no


existe mais que dois zeros por ciclo

38

Determina-se o campo magntico. O valor eficaz Se o indutor mtuo e o voltmetro ajusta-se a fonte de tenso at que a (Fig. IEC 5).
de valor mdio forem utilizados leitura do voltmetro de valor mdio for a A amplitude do campo magntico

do campo magntico dado por:

H =

N1 I1
lm

NBR (1.29)

para determinar a amplitude da correspondente


corrente,

segue-se

tambm

Aps determinar-se vrios valores de amplitude procedimento anterior.


de induo magntica e campo magntico eficaz , A amplitude da corrente

magntico dada por:

o determinado previamente. Calcula-se a


amplitude do campo magntico pela

de seguinte frmula:

A amplitude do campo magntico pode ser obtida

indutor mtuo de ncleo de ar e do

por um dos dois mtodos:

voltmetro de valor mdio dada Volta-se a comutao da chave S para o


1
por:
lado 2 e anota-se a leitura do voltmetro
I m = U 2 ( 2fL)

do

Hm =

N1 I m
NU
= 1 2
lm
4,17 fL

ASTM (1.8) de valor mdio. Calcula-se o valor da

- Mtodo II: leitura do voltmetro de valor mdio


conectado no indutor mtuo M (Fig. NBR 4):

de pico dada por:

Hm =
Aps

obter

N 1U m
Rn l m

N1 R v + Rm
.
.U m
4 fLlm
Rv
vrias

amplitudes

NBR (1.30)

NBR (1.31)

amplitude

I m = U m (2 Rn )

da

corrente

obtida tomando-se uma srie de medidas


ASTM (1.9)

A amplitude do campo magntico

de induo deve ser calculada como segue:

magntica e de campo magntico, uma curva de


magnetizao pode ser traada.

Hm =

N1I m
lm

N1 R v + Rm
.
.U m
Rv
4 fLl m

JIS (1.7)

de amplitude da induo magntica pela


excitao calculada atravs de um equao JIS(1.3).
resistor padro e de um voltmetro A curva de magnetizao alternada

Hm =

Hm =

IEC (1.10)

uma curva de magnetizao pode ser traada.

(Fig. NBR 3).

atravs

campo

excitao,

- Mtodo I: leitura do voltmetro de valor de pico

medida

ao

ASTM (1.10)

da amplitude da induo magntica e


amplitude

do

campo

magntico

correspondente.
A amplitude da permeabilidade magntica
dada por: Bm / (0Hm).

Somente a norma brasileira apresenta dois mtodos de levantamento da curva de magnetizao do material: pela amplitude da induo
magntica e valor eficaz do campo magntico ou pela amplitude da induo magntica e amplitude do campo magntico. As demais normas

39

utilizam este ltimo mtodo. As normas brasileira e americana esclarecem que para obter-se a permeabilidade magntica, pode ser
especificado o campo magntico e calculada a induo magntica correspondente e vice-versa. A norma japonesa apresenta apenas a primeira
possibilidade, enquanto que a norma da comisso eletrotcnica internacional nada afirma.
A amplitude do campo magntico obtida atravs dos seguintes mtodos:
-

Mtodo do resistor calibrado: as normas brasileira, japonesa e norma da comisso eletrotcnica internacional
apresentam mesma formulao para este mtodo. A norma americana multiplica por dois o valor da resistncia
utilizada.

Mtodo do indutor mtuo: as normas americana e japonesa apresentam mesma formulao para este mtodo. A norma
brasileira e a norma da comisso eletrotcnica internacional apresentam mesma formulao para este mtodo,
corrigindo o valor da tenso secundria mdia pela resistncia interna do voltmetro de valor mdio e resistncia
secundria do indutor mtuo.

1.1.17 Reprodutibilidade
Tabela 19: Reprodutibilidade.

NBR 5161

ASTM A 343

IEC 404-2

- Perda magntica: para testes em freqncias - Perda magntica: caracterizada por um desvio

- Perda magntica: para reproduzir este


mtodo o desvio padro deve ser de 1% a

JISC 2550

----------

comerciais o desvio padro pode ser at 1,5% padro relativo de at 1,5%, para medio em

1,5%.

para lminas de ao de gro no orientado, para material de gro no orientado at 1,5 T. Para

- Permeabilidade magntica: utilizando-se

induo at 1,5 T.

instrumentos da classe 0,5 o desvio padro

dos resultados pode ser at 2%.

instrumentos da classe 0,5 o desvio padro dos

Permeabilidade

medio em altas indues esperado que este


magntica:

utilizando-se desvio cresa.


- Permeabilidade magntica: utilizando-se

40

instrumentos com exatido de 0,5% ou melhor, o

resultados pode ser at 2%.

desvio padro pode atingir 2%.

Perda magntica: com exceo da norma americana, as demais normas esclarecem que para reproduzir o mtodo o desvio padro
admissvel de 1,5%. A norma da comisso eletrotcnica internacional lembra que para altas indues espera-se que este desvio cresa.
Permeabilidade magntica: com exceo da norma americana, as demais normas esclarecem que para reproduzir o mtodo utilizandose instrumentos de classe 0,5 o desvio padro admissvel de 2%.

1.1.18 Relatrio de Teste


Tabela 20: Relatrio de teste.

NBR 5161

ASTM A 343

JISC 2550

IEC 404-2
Deve conter:

----------

----------

----------

- Tipo e identificao da amostra de teste.


- Densidade do material (convencional ou medida).
- Comprimento das lminas.
- Nmero de lminas.
- Temperatura ambiente durante o ensaio.
- Freqncia.
- Valores de induo magntica.
- Resultado das medidas.

Somente a norma da comisso eletrotcnica internacional, estabelece os itens que devem constar no relatrio de teste.

41

1.2 Roteiro de Ensaio Baseado nas Normas Tcnicas


Da sinopse realizada das normas, enumera-se uma seqncia de procedimentos a serem
realizados desde a obteno das amostras at ao relatrio de teste. Alguns itens so sugestes.
Quando houver contradio entre as normas, apontam-se os diversos caminhos a serem
seguidos.
Para obter a perda magntica e a permeabilidade magntica, em regime de corrente
alternada e em lminas de ao ao silcio de gro no orientado, atravs do teste de Epstein de
25cm, deve-se procurar seguir os seguintes procedimentos:
1) Procedimento para corte das lminas:
a) O instrumento de corte no deve produzir rebarba excessiva (a rebarba no
deve influenciar o acoplamento das lminas).
b) Retiram-se as lminas, conforme a Fig.JIS 1, para que estas sejam mais
representativas.
c) A quantidade de lminas deve ser mltipla de quatro. A quantidade mnima
de lminas deve ser doze e a mxima deve estar de acordo com a mxima
massa admissvel pelo modelo do quadro utilizado.


ASTM A 343: amostras pesando menos que 15g por centmetro de


comprimento devem consistir de pelo menos 20 lminas.

d) As lminas devem apresentar as seguintes dimenses:




Largura:
NBR5161, JIS C 2550 e IEC 404-2: 30mm 0,2mm.
ASTM A 343: 30mm.

Comprimento:
NBR5161: 280 l < 308mm 0,5 mm. Preferencial: l = 305mm
ASTM A 343: l 280mm 0,8mm. Preferencial: l = 305mm.
JIS C 2550, IEC 404-2: 280mm l 320mm 0,5mm.

Espessura:
NBR5161: inferior ou igual 1,0mm.

42

e) Utilizar lminas de superfcie plana, seo transversal uniforme e


propriedades uniformes em uma dada direo.
2) Armazenamento e manuseio das lminas:
a) As lminas devem ser armazenadas em local seco. Devem conter as
seguintes informaes para identificao: procedncia (fabricante, data de
estampagem), designao, tipo e direo de estampagem. As lminas
utilizadas para determinar a densidade do material, atravs do mtodo do
empuxo, devem ser secas aps o ensaio e armazenadas separadamente,
sendo inadequadas para determinar as propriedades magnticas.
b) O operador deve estar provido de luvas e deve manusear as lminas
cuidadosamente, evitando frices e dobramentos. Deve procurar mant-las
sempre em estado de repouso (sem estarem sofrendo tenses mecnicas).
3) Coleta preliminar de dados:
a) Inspeo da amostra para possveis descartes: analisar o comprimento (as
lminas devem apresentar o mesmo comprimento), as rebarbas, incluso de
abusos mecnicos, uniformidade da largura e existncia de desvios de corte.
b) Medio da espessura:


NBR5161: a espessura medida em quatro pontos diferentes da


lmina, localizados no mnimo 40 mm das bordas. A medio feita
com exatido de 0,01mm. O resultado final dado pela mdia
aritmtica das medidas anteriores.

JIS C 2550: deve-se medir a espessura, para cada lmina, em oito


pontos 15mm distantes das extremidades (Fig.JIS 2). Utilizar o
micrometro externo como instrumento de medida.

c) Medida da densidade de massa ():




NBR5161: utilizar o mtodo do empuxo (apndice 1) para medio


da densidade de massa do material.

d) Medida da massa: dividem-se as lminas cortadas na mesma direo em


dois grupos (quatro grupos totais). Os quatro grupos devem conter o mesmo
nmero de lminas. Pesa-se cada grupo numa balana capaz de determinar a

43

massa com exatido de 0,1%. Os quatro grupos devem conter


aproximadamente a mesma massa. Anota-se a massa total (m).
e) Clculo da seo transversal: S =

m
4l

f) Clculo da massa magneticamente efetiva: ma =




lm .m
sendo lm = 0,94 [m].
4l

IEC 404-2: a massa efetiva da amostra deve ser no mnimo 240g


para lminas de 280mm de comprimento.

4) Esquema de ligao para obteno da perda magntica total:


a) Equipamento padro: deve ser montado o circuito apresentado na Fig.
NBR1.
b) Sistemas digitais: utilizar o osciloscpio e um sistema de medio de
corrente por efeito hall ou utilizar um sistema, por exemplo, da Brockhaus
Messtechnik MPG100 (instrumento de medida da Brockhaus utilizado para
definir as qualidades magnticas de aos eltricos).
5) Esquema de ligao para obteno da permeabilidade magntica:
a) Mtodo do resistor calibrado: montar o circuito da Fig. JIS 4.
b) Mtodo do indutor mtuo: montar o circuito da Fig. JIS 5.
c) Sistemas digitais: utilizar o osciloscpio e um sistema de medio de
corrente por efeito hall ou um sistema destinado a este fim, tal como o da
Brockhaus Messtechnik MPG100.
6) Procedimento para o ensaio da perda total:
a) Anota-se a temperatura ambiente durante o ensaio (18C 28C).
b) Realiza-se o ensaio em regime de induo magntica senoidal (F = 1,11
1%).
c) Realiza-se o ensaio at os seguintes limites de induo e freqncia:


NBR5161: 1,5 T e freqncia de 15 400 Hz.

ASTM A 343: para testes da perda magntica em 50 ou 60 Hz


recomendam-se os pontos 1; 1,5 ou 1,7 T. Recomenda-se uma faixa
de freqncia de 25 400 Hz.

JIS C 2550, IEC 404-2: 1,5 T e freqncia no superior 400 Hz.

44

d) Utiliza-se compensador de fluxo disperso para que a induo magntica na


amostra seja dada pelas seguintes relaes:


NBR5161: U 2 = 4 fSBm N 2

ASTM A 343: U 2 = 2Bm SN 2 f

JIS C 2550: U 2 = 4,44 fSBm N 2

IEC 404-2: U 2 = 4 fN 2

Ri
SBm
Ri + Rt

Verificao da adequao do compensador de fluxo disperso:




NBR5161, IEC 404-2: ao excitar o enrolamento primrio com uma


corrente alternada sem amostra no quadro de Epstein, a tenso nos
enrolamentos secundrios no deve ser superior a 0,1% da tenso
deste enrolamento sem o indutor de compensao.

ASTM A 343: passa-se uma corrente alternada de 2 5 A atravs do


enrolamento primrio do quadro sem amostras, mas com o
compensador de fluxo disperso conectado na polaridade certa.
Observa-se a tenso alternada de circuito aberto nos terminais
secundrios com um voltmetro. Quando esta tenso for inferior ou
igual 1mV ou 2mV, significa que o compensador de fluxo disperso
est adequado.

JIS C 2550: a indicao do voltmetro de valor mdio (conectado no


enrolamento secundrio de Epstein e no compensador) deve ser
nula quando no existir amostra no quadro de Epstein.

e) Reduo da relutncia nos cantos do quadro:




NBR5161, JIS C 2550 e IEC 404-2: recomendam aplicar uma fora


de 1N nos cantos do quadro.

ASTM A 343: recomenda utilizar pesos de material no magntico


(de 200g) nos cantos do quadro. Quando as lminas forem planas e
existir rea de contacto nos cantos, no necessrio exercer presso
nas juntas.

45

f) Quando metade das lminas for cortada na direo da laminao e o restante


perpendicularmente a esta direo, inserem-se as lminas paralelas direo
de laminao em dois braos paralelos do teste de Epstein e as lminas
perpendiculares nos demais braos. As lminas devem ser sobrepostas nos
cantos. Cada brao do quadro de Epstein deve apresentar comprimentos
iguais, mesmo nmero de lminas, mesma massa e mesma seo
magneticamente efetiva.
g) Isolao adicional entre lminas:


NBR5161, JIS C 2550 e IEC 404-2: no se deve inserir isolao


adicional entre as lminas.

h) Desmagnetizao da amostra: aplica-se uma tenso de fonte suficiente para


magnetizar a amostra para uma induo acima do joelho da curva de
magnetizao. Aumenta-se a tenso da fonte at o voltmetro de valor
mdio indicar o valor da tenso calculada para obter a desejada induo
magntica de teste. Faz-se decrescer a tenso vagarosamente para uma
induo magntica muito baixa. Este valor deve ser o mnimo possvel.
i) Testam-se imediatamente os pontos de teste desejados. Quando mltiplos
pontos forem necessrios, desenvolve-se o teste aumentando os valores de
induo magntica.
j) Medio da perda total e clculo da perda especfica:


(1,11U 2 )
N
NBR5161: Pc = 1 Pm
N2
Ri + Rt

P U 2 Ri
ASTM A 343: Ps = m
ma

JIS C 2550: Pc = Pm

(1,11U 2 )
N
IEC 404-2: Pc = 1 Pm
N2
Ri

Ps =

Pc
ma

U2
Ri

Ps =

Pc
ma

k) Anota-se o fator de forma: F =

U2
U2

Ps =

Pc
ma

46

l) Correo da perda magntica:




NBR5161: o fator de forma deve ser mantido na faixa 1,11 1%,


atravs de sistemas eletrnicos com realimentao. Caso no seja
possvel, corrige-se a perda magntica para desvios do fator de
forma entre 1 e 10%. A perda corrigida dada por:
PC =

(1,11U 2 )
N
onde Pt = 1 P ' m
N2
Ri + Rt

Pt
F 2
)
kh + k p (
1,11

kh e kp so obtidos pelo mtodo de separao das perdas.


F o fator de forma medido.


ASTM A 343: sugere correo da perda magntica quando o erro


percentual do fator de forma for maior que 1% e menor ou igual a
10%. A perda corrigida dada por: Ps corrigida =

U
= 2
U2

Ps observada
100
h + (k.e)

onde

h e e devem ser obtidos atravs de um mtodo de separao de


perdas.


JIS C 2550: A correo da perda magntica no realizada desde


que o fator de forma da tenso secundria seja mantido na faixa de
1,11 1%.

Sugesto: realizar o ensaio em regime de fluxo magntico senoidal


evitando a correo da perda magntica.

m) Separao das Perdas:




NBR5161: A perda total separada em duas parcelas, devido a


correntes de Foucault e devido

histerese do

material.

Pc = Ap B 2 m f 2 + Ah Bm f
x

Realiza-se o ensaio de Epstein para vrias freqncias, situadas entre


a metade e o dobro da freqncia na qual deseja-se obter a perda
corrigida e a curva Pc/f em funo da freqncia (Fig. NBR 5).

47

Pc
x
= Ap B 2 m f + Ah Bm
f
Para levantar esta curva mantm-se constante a amplitude da
induo magntica e o fator de forma. Para este caso, o desvio do
fator de forma no deve ser superior a 1% de 1,11. Obtidos os
termos ApBm2 e AhBmx multiplica-se por f2 e f obtendo-se:

Pp = A p Bm f
2

kp =


Pp
Pc

Ph = Ah Bm f
x

e kh =

Ph
Pc

Sugesto: utilizar a estratgia de eliminao do ensaio da perda por


histerese, desenvolvida neste trabalho, para separar as perdas.

7) Procedimento para o ensaio da permeabilidade magntica:




NBR5161, ASTM A 343 e JIS C 2550: o limite 1,111% para o


fator de forma pode ser transposto.

Sugesto: manter o fator de forma na faixa 1,111% (garantindo


fluxo senoidal) porque as equaes utilizadas para obter a amplitude
da induo magntica e amplitude do campo magntico (no mtodo
do indutor mtuo) so vlidas somente para sinal senoidal.

a) NBR5161: A permeabilidade magntica pode ser obtida de duas maneiras:




atravs de valores da amplitude da induo magntica e de valores


eficazes do campo magntico: quando o campo magntico for
especificado a corrente primria deve ser ajustada at que se obtenha
o campo magntico especificado. A amplitude da induo magntica

Bm =

U2
obtida. U 2 obtido corrigindo-se o valor da leitura
4 fN 2 S

do voltmetro pelo fator:

Rv + R2
. Quando a induo magntica for
Rv

especificada,

ajusta-se

tenso

secundria

para

valor

correspondente induo magntica especificada e o campo

48

magntico H =

N1I1
determinado.
lm

Aps determinar-se vrios

valores de amplitude de induo magntica e campo magntico


eficaz , uma curva de magnetizao pode ser traada.


atravs da amplitude da induo magntica e da amplitude do campo


magntico: a amplitude do campo magntico pode ser obtida pelo
mtodo do resistor calibrado ou pelo mtodo do indutor mtuo. Para
o mtodo do resistor calibrado tem-se que H m =
mtodo do indutor mtuo tem-se que H m =

N 1U m
. Para o
Rn l m

N1 R v + Rm
.
.U m
4 fLlm
Rv

Aps obter vrias amplitudes de induo magntica e de campo


magntico, uma curva de magnetizao pode ser traada.
b) ASTM A 343: a amplitude da induo magntica obtida da relao
U 2 = 2Bm SN 2 f . A amplitude do campo magntico H m =

N1I m
deve ser
lm

calculada.


Mtodo do resistor calibrado: ajusta-se a tenso para o valor correto


segundo a desejada induo magntica ou ajusta-se a amplitude da
corrente para o valor correto segundo o desejado campo
magnetizante. A amplitude da corrente I m = U m (2 Rn ) obtida.

Mtodo do indutor mtuo: segue-se tambm o procedimento do


mtodo do resistor calibrado. A amplitude da corrente de excitao
I m = U 2 ( 2fL) calculada.

c) JIS C 2550: A curva de magnetizao alternada obtida tomando-se uma


srie de medidas da amplitude da induo magntica e amplitude do campo
magntico correspondente. A amplitude da permeabilidade magntica
Bm/(0Hm).


Mtodo do resistor calibrado: desmagnetiza-se a amostra. Ajusta-se


a fonte de tenso at que a leitura do voltmetro de pico for a

49

correspondente ao campo magntico H m =

N1I m N1U m
=
.
lm
Rnlm

Obtm-se a leitura do voltmetro de valor mdio e calcula-se o valor


da amplitude da induo magntica U 2 = 4,44 fSBm N 2 .


Mtodo do indutor mtuo: desmagnetiza-se a amostra. Ajusta-se a


fonte de tenso at que a leitura do voltmetro de valor mdio for a
correspondente ao campo magntico H m =

N1I m
NU
= 1 2 .
lm
4,17 fL

Anota-se a leitura do voltmetro de valor mdio. Calcula-se o valor


da amplitude da induo magntica U 2 = 4,44 fSBm N 2 .
d) IEC 404-2: a amplitude da induo magntica deve ser determinada
utilizando-se a equao U 2 = 4 fN 2


Mtodo do resistor calibrado: a amplitude do campo magntico


Hm =

Ri
SBm .
Ri + Rt

N1I m
lm

onde I m =

Um
Rn

Mtodo do indutor mtuo: observa-se no osciloscpio que na forma


de onda da tenso do enrolamento secundrio do indutor mtuo no
existe mais que dois zeros por ciclo. A amplitude do campo
magntico H m =

N1 R v + Rm
.
.U m
4 fLlm
Rv

8) Relatrio de teste: deve conter tipo e identificao da amostra de teste, densidade


do material, comprimento das lminas, nmero de lminas, espessura da amostra,
direo de estampagem, massa, temperatura ambiente durante o ensaio, freqncia,
valores de induo magntica, resultado das medidas, mtodo de separao das
perdas utilizado (se pertinente) e a norma tcnica utilizada (se pertinente).

50

1.3 Concluso
Como pode-se observar, as normas apresentam basicamente a mesma finalidade.
Entretanto, diferem em alguns itens. Cada norma tcnica aprofundou mais um item em relao
outra. Algumas apresentam lacunas dificultando a compreenso e prejudicando a clareza
caracterstica de normas tcnicas.
Quanto abrangncia de assunto, a norma brasileira apresenta-se mais completa,
fornecendo em uma mesma documentao informaes relacionadas ao ensaio em questo. As
demais normas tcnicas no incluram em documentao nica todas as informaes
necessrias para o ensaio.
Classificando as normas tcnicas, segundo maior abrangncia de informaes
relacionadas ao ensaio, tem-se o seguinte perfil: a norma brasileira apresenta apenas uma
lacuna, correspondente ao relatrio de teste. Na seqncia, esto as normas americana e
japonesa, ambas com quatro lacunas. A norma americana apresenta lacunas relacionadas ao
procedimento de medida da espessura; procedimento de medida da densidade do material;
procedimento de separao da perda magntica e relatrio de teste. A norma japonesa
apresenta as seguintes lacunas: procedimento de medida da densidade do material; modelo da
perda magntica; procedimento de separao da perda magntica e relatrio de teste. A norma
da comisso eletrotcnica internacional apresenta maior nmero de lacunas (5),
correspondentes ao procedimento de medida da espessura; procedimento de medida da
densidade do material; modelo da perda magntica; procedimento de separao da perda
magntica e correo da perda magntica.
No prximo captulo, apresentar-se- uma caracterizao de um material utilizando os
procedimentos

normativos,

com

medies

atravs

da

instrumentao

padro.

Simultaneamente, utiliza-se um osciloscpio e seu sistema de medio de corrente


assessorados por um programa numrico, baseado no ambiente Labview da National
Instruments [4], efetuando as mesmas medidas.

51

2. MEDIO E ANLISE DE RESULTADOS


CONFORME AS NORMAS DO TESTE DE EPSTEIN
Nesta parte do trabalho apresentam-se e analisam-se os resultados obtidos atravs de
ensaios realizados. Foram desenvolvidos os testes segundo as normas brasileira, americana,
japonesa e a norma da comisso electrotcnica internacional, utilizando-se instrumentao
padro em conformidade com a norma brasileira. Utilizou-se uma bancada de ensaios, para a
determinao das perdas, que mantm a tenso no secundrio na forma senoidal conforme
solicitao da norma. Esta bancada [4, 14] tem como caracterstica a imposio da tenso no
secundrio atravs de uma malha de realimentao. A alimentao do quadro de Epstein
realizada por um inversor de onda senoidal varivel em amplitude e freqncia, possvel
tambm de operar com um contedo harmnico ou com formas de onda pulsadas. Para medir
as grandezas eltricas e gerar os sinais de referncia, utiliza-se o software LabView da
National Instruments residente em um microcomputador comunicvel com um osciloscpio
2430A da Tektronix. Mede-se simultaneamente tenso e corrente nos dois canais do
osciloscpio. O sinal de referncia gerado por uma placa PCI-6110E da National
Instruments. A determinao das perdas nas lminas e das demais grandezas realizada por
clculo numrico no ambiente do software LabView em funo da corrente e tenso medidas,
vlida para formas de ondas com contedo harmnico. Este sistema ser chamado Sistema
Digital de Caracterizao Magntica de Materiais (SDCMM). Os resultados obtidos atravs
deste sistema baseiam-se nos procedimentos de clculo conforme a norma NBR5161.
Foi testado no quadro de Epstein um material (de gro no orientado) de identificao
CPGXH14, de espessura 0,5mm fornecido pela Acesita (Companhia Aos Especiais Itabira).
Foram utilizadas 13 lminas por brao. O material foi inserido no quadro com 50% das
lminas na direo longitudinal e 50% das lminas na direo transversal. A massa total
compreende 1,650 kg. Este material no possui uma classificao pois serviu anteriormente
para testes com outros objetivos. No momento do ensaio, esta amostra era a mais adequada
que havia para realizar os testes.

52

2.1 Ensaio da Perda Total


A temperatura ambiente durante o ensaio foi de 26C. Foram utilizadas lminas de
0,28m de comprimento. A densidade de massa do material de 7694,83 kg/m3. Este valor foi
obtido utilizando-se o mtodo do empuxo (apndice 1).

2.1.1 Normas Tcnicas


Segundo a norma brasileira NBR5161 os seguintes resultados foram obtidos:

Tabela 21: Dados do ensaio segundo a norma brasileira NBR5161

Ensaio NBR 5161


2
f (Hz) Bm (T) S (m )
U2 (V) U2m (V) F
Pm (W) Pc (W)
50 1,599 0,00019
45,7 42,973 1,06
6,25
6,25
50 1,492
42,7 40,0901 1,07
5,00
5,00
50 1,391
39,7 37,3874 1,06
4,05
4,05
50 1,290
37,0 34,6847 1,07
3,43
3,42
50 1,207
34,7
32,4 1,07
2,95
2,95
50 1,123
32,2 30,1802 1,07
2,53
2,52
50 1,032
29,8 27,7477 1,07
2,20
2,20
50 0,955
27,5 25,6757 1,07
1,88
1,87
50 0,721
21,5 19,3694 1,11
1,13
1,12
50 0,603
17,1
16,2 1,05
0,88
0,87
50 0,486
14,0 13,0631 1,07
0,50
0,50
50 0,379
10,8 10,1802 1,06
0,38
0,37
50 0,268
7,4
7,2 1,03
0,13
0,12

Ps (W/kg) ma (kg) W (J/kg)


Ri ()
Rt ()
36290323
5,38
4,50
1,39 0,0900
36290323
3,60
0,0720
36290323
2,92
0,0583
36290323
2,47
0,0493
36290323
2,12
0,0425
36290323
1,82
0,0364
36290323
1,58
0,0317
36290323
1,35
0,0270
36290323
0,81
0,0162
16071429
0,63
0,0126
16071429
0,36
0,0072
16071429
0,27
0,0054
8333333
0,09
0,0018

Na tabela 21 pode-se observar que a resistncia Rt apresenta valor desprezvel


comparando-se com a ordem de grandeza da resistncia Ri. Desta forma a resistncia Rt pode
ser desconsiderada no clculo da perda (item 1.1.13), como o fazem as normas americana,
japonesa e a norma da comisso eletrotcnica internacional. Convm chamar a ateno que o
fator de forma F menor que 1,11, fato que demonstra a existncia de erro, pois a tenso
eficaz superior a tenso mdia retificada. Uma hiptese poderia ser a regulagem dos
voltmetros utilizados, mas provavelmente esta se deve s leituras que foram realizadas no
incio da escala. Nos ensaios teve-se a dificuldade de se adequar as escalas da instrumentao
padro com a capacidade da fonte de tenso senoidal utilizada (tenso de pico mxima em
torno de 60V).

53

Os clculos conforme as normas americana, japonesa e a norma da comisso


eletrotcnica internacional tiveram os resultados apresentados na tabela 22. Os valores
medidos so os mesmos da tabela 21.

Tabela 22: Dados do ensaio segundo as normas americana, japonesa e norma


da comisso eletrotcnica internacional.
ASTM ASTM e JIS ASTM e JIS JIS
IEC
IEC
IEC
IEC
Bm (T) Ps (W/kg) W (J/kg)
Bm (T) Bm (T) Pc (W) Ps (W/kg) W (J/kg)
1,599
4,501
0,090 1,599 1,599 6,250
4,501
0,090
1,492
3,601
0,072 1,492 1,492 5,000
3,601
0,072
1,391
2,916
0,058 1,391 1,391 4,050
2,916
0,058
1,290
2,466
0,049 1,290 1,290 3,425
2,466
0,049
1,207
2,124
0,042 1,207 1,207 2,950
2,124
0,042
1,123
1,818
0,036 1,123 1,123 2,525
1,818
0,036
1,032
1,584
0,032 1,032 1,032 2,200
1,584
0,032
0,955
1,350
0,027 0,955 0,955 1,875
1,350
0,027
0,721
0,810
0,016 0,721 0,721 1,125
0,810
0,016
0,603
0,630
0,013 0,603 0,603 0,875
0,630
0,013
0,486
0,360
0,007 0,486 0,486 0,500
0,360
0,007
0,379
0,270
0,005 0,379 0,379 0,375
0,270
0,005
0,268
0,090
0,002 0,268 0,268 0,125
0,090
0,002

A Fig.2 ilustra a diferena do valor da induo magntica das diferentes normas


tcnicas tendo como referncia os valores de induo magntica obtidos segundo a norma
brasileira. Assim, Bm =

BmNBR Bmnorma
.
BmNBR
0,020

Bm

0,015

BmASTM
BmJIS
BmIEC

0,010

0,005

0,000
0,00

0,50

1,00

1,50

2,00

BmNBR (T)

Fig.2: Induo magntica.


Na Fig.2 observa-se que as normas americana, japonesa e norma da comisso
eletrotcnica internacional apresentam valores de induo magntica prximos dos

54

valores de induo magntica obtidos segundo a norma brasileira (diferena


praticamente nula).

2.1.2 Medidas Realizadas atravs do SDCMM


Utilizando-se o SDCMM [4, 14] os seguintes resultados foram obtidos:
Tabela 23: Dados do ensaio utilizando-se o SDCMM

f (Hz) Bm (T) S (m2) F


50
50
50
50
50
50
50
50
50
50
50
50
50
50
50

Osciloscpio
U2 (V) U2m (V) Hm (A/m) Ptot (W) W (J/kg) ma (kg)

1,632 0,00019 1,1117 48,21


1,502
1,1103 44,90
1,399
1,1100 41,80
1,305
1,1107 38,97
1,219
1,1100 36,36
1,131
1,1113 33,89
1,041
1,1110 31,17
0,954
1,1111 28,48
0,840
1,1101 25,08
0,726
1,1100 21,77
0,612
1,1108 18,27
0,498
1,1108 14,88
0,394
1,1106 11,25
0,281
1,1124 7,93
0,110
1,1079 3,36

43,36
40,44
37,66
35,09
32,76
30,49
28,06
25,63
22,60
19,52
16,45
13,39
10,13
7,13
3,03

3276,6
968,1
268,1
147,4
107,2
90,9
84,9
78,2
68,5
63,4
56,9
54,2
44,4
38,7
28,7

7,50
5,60
4,35
3,65
3,13
2,74
2,35
2,01
1,58
1,23
0,94
0,66
0,41
0,23
0,05

0,1080
0,0807
0,0627
0,0526
0,0451
0,0395
0,0338
0,0289
0,0228
0,0177
0,0136
0,0096
0,0059
0,0033
0,0007

1,39

Na tabela 23, os valores obtidos do fator de forma confirmam que a forma de onda da
induo magntica foi mantida senoidal no ensaio. Entretanto, os valores do fator de forma
apresentados na tabela 21 indicam que a forma de onda da induo magntica no seria
senoidal (com exceo da medida cujo fator de forma foi igual a 1,11). O controle da forma de
onda da induo magntica pelo fator de forma pode ser comprometido pela instrumentao
utilizada, como mostra a tabela 21. A norma brasileira exige que este controle seja realizado
tambm atravs do monitoramento da imagem da tenso secundria em um osciloscpio, mas
no solicita uma anlise harmnica da forma de onda. Neste caso do ensaio no houve a
necessidade de realizar a correo da perda magntica porque pela tabela 23 e visualmente
pela Fig.3, a tenso secundria foi mantida na forma de onda senoidal.
As medies com a instrumentao padro geralmente foram realizadas no incio das
escalas por fora das condies da fonte de alimentao do quadro de Epstein.

55

Tenso secundria

Corrente primria

60

Tenso (V)

40

2
1
0
-1

20
0
200

-20

400

600

800

5
4
3

1000

Corrente (A)

80

-2

-40

-3
-4
-5

-60
-80
Tempo (s)

Fig.3: Corrente primria e tenso secundria 50 Hz e 1,632 T.


A Fig.4 mostra a diferena da induo magntica das diferentes normas tcnicas tendo
como referncia os valores de induo magntica obtidos atravs do SDCMM (pois estas
medidas com o osciloscpio forneceram um fator de forma praticamente de 1,11).
0,34

BmNBR
BmASTM
BmJIS
BmIEC

0,29

Bm

0,24
0,19
0,14
0,09
0,04
-0,01
0,00

0,50

1,00
BmSDCMM (T)

1,50

2,00

Fig.4: Induo magntica.


Na Fig.4 observa-se que a induo magntica obtida atravs da norma da comisso
eletrotcnica internacional e das normas brasileira, americana e japonesa maior que a
induo magntica obtida atravs do SDCMM somente em 1T.
Em termos de perdas obtidas conforme as normas, a Fig.5 apresenta as vrias curvas
em funo da induo mxima no material. Apresenta-se tambm uma medio obtida atravs
do SDCMM e baseada na norma NBR5161.

W (J/kg)

56

0,12
0,10
0,08
0,06
0,04
0,02
0,00
0,00

NBR
ASTM
IEC
SDCMM
JIS

0,50

1,00
Bm (T)

1,50

2,00

Fig.5: Ensaio 50Hz. Perda total por unidade de massa em funo da amplitude da
induo magntica.
Na Fig.5 verifica-se que as normas brasileira, americana, japonesa e a norma
da comisso eletrotcnica internacional apresentam praticamente o mesmo resultado.
Este comportamento esperado porque estas normas possuem formulaes idnticas
para o clculo das grandezas envolvidas. A norma brasileira e a norma da comisso
eletrotcnica internacional apresentam resultados semelhantes aos resultados das
demais normas porque a soma da resistncia equivalente dos equipamentos do
enrolamento secundrio do quadro de Epstein e resistncia em srie do enrolamento
secundrio do quadro de Epstein e do indutor de compensao aproximadamente
igual a resistncia equivalente dos equipamentos do enrolamento secundrio do
quadro de Epstein. A curva obtida pela leitura do SDCMM difere da curva obtida
segundo as normas tcnicas utilizando a sua instrumentao padro.
Observando ainda a Fig.5, verifica-se que duas curvas diferentes modelam o
comportamento do mesmo material. As medidas obtidas atravs da instrumentao
padro apresentaram-se menos confiveis que as medidas obtidas atravs do
SDCMM. O fator de forma lido na instrumentao padro no apresentou coerncia
com os valores obtidos com o SDCMM. Estes valores do fator de forma afetam
diretamente a deciso da necessidade da correo das perdas. No item 1.1.7.1 a norma
brasileira apresenta dois limites admissveis de variao do fator de forma (limite de
leitura da perda e limite no qual a correo da perda possvel). Existe um conflito
no estabelecimento dos limites acima quando se dispe de um valor de fator de forma

57

obtido com instrumentao inadequada. O valor do fator de forma afeta tambm a


separao das perdas (no item 1.1.5 a norma brasileira estabelece o limite de variao
do fator de forma que possibilita a separao das perdas). A imagem no osciloscpio
da forma de onda da tenso induzida sempre esteve coerente com o fator de forma
lido atravs do SDCMM. Ento, pode-se afirmar que a instrumentao padro
utilizada no apresentou-se adequada para o clculo do fator de forma e demais
medidas neste ensaio.

2.2 Separao das Perdas no Ncleo


Neste ensaio houve a necessidade de alterar o nmero de lminas, de treze
lminas por brao (correspondente s freqncias de 50, 60 e 80 Hz nas tabelas 24 e
26, com exceo das duas ltimas colunas e trs ltimas colunas respectivamente)
para, quatro lminas por brao. Este fato foi necessrio para adequar o ensaio
capacidade da fonte de alimentao. No segundo caso, a massa total foi de 0,51 kg e a
seo magntica foi de 5,91x10-5 m2. A temperatura ambiente durante o ensaio foi de
24C. A amplitude da induo magntica, obtida pela equao NBR(1.9),

foi

mantida em aproximadamente 1T.


A alterao da quantidade de lminas pode influenciar as medidas visto que o
circuito magntico pode apresentar variaes de suas caractersticas originais. Para
diminuir esta influncia o equilbrio da massa nos braos do quadro de Epstein
deveria ser novamente realizado.

2.2.1 Norma Brasileira NBR 5161


Segundo a norma brasileira os seguintes resultados foram obtidos:

58

Tabela 24: Dados do ensaio segundo a norma NBR 5161.

Bm (T) f (Hz) U2m (V) U2 (V) Pm (W) F


Pc (W) Ri ()
Ps (W/kg)
R t ( )
1,0213
40 6,75676
7,1
0,375 1,0508 0,3750 8333333
5,38
0,8776
0,9888
50 26,5766 28,5
1,8 1,0724 1,8000 36290323
1,2962
0,9916
60 31,982 34,5
2,3 1,0787 2,3000 36290323
1,6563
0,9726
70 11,2613 11,5
0,875 1,0212 0,8750 8333333
2,0478
0,9951
80 42,7928 45,5
3,5 1,0633 3,4999 36290323
2,5204
1,0288
90 15,3153 16,2
1,3 1,0578 1,3000 16071429
3,0425
1,0077 100 16,6667 17,2
1,5 1,0320 1,5000 16071429
3,5106
1,0022 125 20,7207 21,2
2,125 1,0231 2,1250 16071429
4,9733
0,9986 150 24,7748 25,2
2,875 1,0172 2,8750 16071429
6,7286

ma (kg)
0,4273
1,3886
1,3886
0,4273
1,3886
0,4273
0,4273
0,4273
0,4273

Pc/f
0,0094
0,0360
0,0383
0,0125
0,0437
0,0144
0,0150
0,0170
0,0192

Pc (W)
0,3750
0,5538
0,7077
0,8750
1,0769
1,3000
1,5000
2,1250
2,8750

Pc/f
0,0094
0,0111
0,0118
0,0125
0,0135
0,0144
0,0150
0,0170
0,0192

A perda total por ciclo em funo da freqncia apresenta o seguinte


comportamento:
0,025
0,020

Pc/f = 8E-05f + 0,0066

Pc/f (J)

0,015
0,010
0,005
0,000
0

50

100

150

200

f (Hz)

Fig.6: Ensaio 1 T. Perda total por ciclo em funo da freqncia.


A Fig.6 foi construda considerando-se Pc/f correspondente a ltima coluna da tabela
24. Nesta figura verifica-se que o comportamento da perda total por ciclo em funo da
freqncia, no linear. A extrapolao desta curva para freqncia nula foi realizada atravs
da equao linear da tendncia como sugere a norma brasileira. Com estes resultados obtevese os dados da seguinte tabela:

Tabela 25: Separao das perdas segundo a norma NBR5161.


Bm (T) f (Hz) AhBxm ApBm2
1,0213
40 0,0066 0,00008
0,9888
50
0,9916
60
0,9726
70
0,9951
80
1,0288
90
1,0077 100
1,0022 125
0,9986 150

Pp
0,128
0,200
0,288
0,392
0,512
0,648
0,800
1,250
1,800

Ph
0,264
0,330
0,396
0,462
0,528
0,594
0,660
0,825
0,990

Kh
0,7040
0,5958
0,5596
0,5280
0,4903
0,4569
0,4400
0,3882
0,3444

Kp
soma Kh e Kp
0,3413
1,0454
0,3611
0,9570
0,4070
0,9665
0,4480
0,9760
0,4754
0,9657
0,4985
0,9554
0,5333
0,9733
0,5882
0,9765
0,6261
0,9705

59

O coeficiente da perda por histerese 0,0066 [J] obtido pela extrapolao da


reta para freqncia nula (Fig.6). O coeficiente da perda por correntes de Foucault

Perda (W)

0,00008 [J] obtido atravs da tangente do ngulo da reta apresentada na Fig.6.


3,5
3,0
2,5
2,0
1,5
1,0
0,5
0,0

Pc
Pp
Ph

50

100

Frequncia (Hz)

150

Fig.7: Ensaio 1 T. Separao das perdas.


A Fig.7 apresenta a separao das perdas segundo a norma brasileira. At
aproximadamente 80Hz a perda por histerese maior que a perda por correntes de
Foucault. Acima deste valor este comportamento invertido.

2.2.2 Medio Utilizando o SDCMM


Utilizando-se o SDCMM foram obtidos os seguintes dados:

Tabela 26: Dados obtidos atravs da leitura do SDCMM.


Bm (T) f (Hz) Hm
1,015
40
1,006
50
1,010
60
0,961
70
1,014
80
1,050
90
1,008 100
0,998 125
0,981 150

(A/m)
71,5
84,9
85,6
80,4
104,3
96,8
99,0
108,7
120,6

P (W) U2m (V)


0,469
6,84
2,010
26,99
2,510
32,59
0,940
11,14
4,000
33,60
1,450
15,62
1,700
16,68
2,330
20,64
3,040
24,33

U2 (V)
7,59
29,99
36,17
12,37
48,38
17,34
18,51
22,99
27,03

F
Ps
1,1100
1,1110
1,1097
1,1102
1,1095
1,1102
1,1099
1,1102
1,1112

(W/kg) m a (kg)
1,0977 0,4273
1,4475 1,3886
1,8075 1,3886
2,2000 0,4273
2,8805 1,3886
3,3936 0,4273
3,9787 0,4273
5,4532 0,4273
7,1149 0,4273

P (W) W (J/kg) P/f


0,4690 0,0274 0,0117
0,6185 0,0289 0,0124
0,7723 0,0301 0,0129
0,9400 0,0314 0,0134
1,2308 0,0360 0,0154
1,4500 0,0377 0,0161
1,7000 0,0398 0,0170
2,3300 0,0436 0,0186
3,0400 0,0474 0,0203

A perda total e a perda total por ciclo, em funo da freqncia, apresentam o


comportamento mostrado na Fig. 8.

3,50

NBR

3,00

erro%

SDCMM

25%
20%
Erro%

Perda (W)

2,50
2,00

15%

1,50

10%

1,00
5%

0,50

Perda por ciclo (W/Hz)

60

0,025

P/f = 8E-05f + 0,0083

0,020
0,015
0,010
0,005
0,000

0,00
0

50
100
150
Frequncia (Hz)

0%
200

50
100
150
Freqncia (Hz)

200

Fig.8: Ensaio 1 T: a) Perda total; b) Perda total por ciclo em funo da freqncia.
A Fig.8a ilustra o erro entre a perda magntica obtida segundo a norma brasileira
utilizando a instrumentao padro (item 2.2.1) e segundo as medies atravs do osciloscpio
e seu sistema. As medidas segundo o SDCMM so mais confiveis que as medies realizadas
atravs da instrumentao padro pelo motivo apresentado no item 2.1.2.
Com os resultados apresentados na Fig.8b construiu-se a seguinte tabela:

Tabela 27: Separao das perdas atravs da leitura do

Bm (T) f (Hz) AhBxm ApBm2


1,015
40 0,0083 0,00008
1,006
50
1,010
60
0,961
70
1,014
80
1,050
90
1,008 100
0,998 125
0,981 150

Pp
0,128
0,200
0,288
0,392
0,512
0,648
0,800
1,250
1,800

SDCMM.

Ph
kh
kp
soma kh e kp
0,332 0,7079 0,2729
0,9808
0,415 0,6710 0,3234
0,9944
0,498 0,6448 0,3729
1,0177
0,581 0,6181 0,4170
1,0351
0,664 0,5395 0,4160
0,9555
0,747 0,5152 0,4469
0,9621
0,830 0,4882 0,4706
0,9588
1,038 0,4453 0,5365
0,9818
1,245 0,4095 0,5921
1,0016

O coeficiente da perda por histerese 0,0083 [J] obtido pela extrapolao da reta para
freqncia nula (Fig.8). O coeficiente da perda por correntes de Foucault 0,00008 [J] obtido
atravs da tangente do ngulo da reta apresentada na Fig.8.

Perda (W)

61

3,5
3,0
2,5
2,0
1,5
1,0
0,5
0,0

P
Pp
Ph

50

100

Frequncia (Hz)

150

Fig.9: Ensaio 1T, variando a freqncia.


A Fig.9 apresenta a separao das perdas segundo os dados obtidos atravs do
SDCMM. At 100Hz a perda por histerese maior que a perda por correntes de
Foucault. Acima deste valor este comportamento invertido.
Este ensaio deve ser realizado mantendo-se a forma de onda da induo magntica
senoidal. Visualmente, como sugere a norma brasileira, estima-se pela Fig.10 que a forma de
onda da tenso secundria senoidal.
Entretanto, o fator de forma nas medies foi de 1,11 com aproximadamente 0,04% de

50
40
30
20
10
0
-10
-20
-30
-40
-50

Tenso sec.

Corrente prim.

0,2
0,15
0,1
0,05
0

200

400

600

800

1000

-0,05

Corrente (A)

Tenso (V)

variao mxima. Este fato comprova que a forma de onda da induo foi mantida senoidal.

-0,1
-0,15
-0,2
Tempo (s)

Fig.10: Tenso secundria e corrente primria 1T e 150 Hz, e fator de forma de 1,1112.

62

2.3 Alimentao do Quadro de Epstein sem Imposio da Forma


Senoidal no Secundrio
Neste ensaio alimentou-se o enrolamento primrio do quadro de Epstein com
sinal de tenso senoidal. A tenso secundria no foi controlada de maneira a ser
mantida na forma de onda senoidal para que fosse possvel estudar a correo da
perda quando o fluxo no senoidal. A temperatura durante este ensaio da perda
magntica foi de 24,6C.

2.3.1 Norma Brasileira NBR5161


Segundo a norma brasileira e utilizando a instrumentao padro os seguintes
resultados foram obtidos:

Tabela 28: Correo das perdas segundo a norma brasileira NBR5161.

Medida f (Hz)
7
50
8
50
9
50
10
50
11
50
12
50
13
50
14
50
15
50
16
50
17
50
18
50

Bm (T)
U2m (V) U2 (V) Pm (W)
5,87E-01
15,8
16,8
0,750
7,07E-01
19,0
19,6
1,125
7,88E-01
21,2
21,9
1,275
9,12E-01
24,5
24,9
1,750
1,04E+00
27,9
28,1
2,250
1,11E+00
29,7
31,5
2,500
1,24E+00
33,3
35,0
3,000
1,29E+00
34,7
37,0
3,375
1,39E+00
37,4
40,0
4,125
1,42E+00
38,3
40,7
4,375
1,56E+00
41,9
44,9
5,875
1,61E+00
43,2
46,0
6,300

F
1,0656
1,0311
1,0344
1,0161
1,0062
1,0595
1,0500
1,0668
1,0699
1,0630
1,0718
1,0638

Pc (W)
Ri ()
Rt ()
16071428,57
5,38
0,75
16071428,57
1,12
16071428,57
1,27
16071428,57
1,75
16071428,57
2,25
36290322,58
2,50
36290322,58
3,00
36290322,58
3,37
36290322,58
4,12
36290322,58
4,37
36290322,58
5,87
36290322,58
6,30

Observando a tabela 28, a primeira coluna no contm todas as medidas correspondentes


tabela 29 porque nem todas as leituras foram possveis de serem realizadas (leituras no incio
da escala). Estas medies foram realizadas utilizando a instrumentao padro da norma
NBR5161.

2.3.2 Leitura Realizada com o SDCMM


Utilizando-se leituras do SDCMM, os seguintes resultados foram obtidos:

63

Tabela 29: Correo das perdas utilizando leituras do SDCMM.


Medida f (Hz) Bm (T) Fp
U2 (V) U2m (V) Hm (A/m) P (W)
1
50 0,049 1,1115
1,39
1,25
25,3 0,0114
2
50 0,099 1,1105
2,95
2,66
31,9 0,0463
3
50 0,201 1,1104
5,99
5,39
38,7 0,1577
4
50 0,301 1,1094
8,98
8,09
45,6 0,3048
5
50 0,399 1,1094 11,93
10,73
49,4 0,4817
6
50 0,498 1,1098 14,86
13,38
56,6 0,7208
7
50 0,605 1,1103 18,07
16,28
61,7 0,9938
8
50 0,712 1,1099 21,26
19,15
64,9 1,2400
9
50 0,790 1,1097 23,58
21,24
70,0 1,5000
10
50 0,904 1,1096 27,01
24,32
78,9 1,9100
11
50 1,027 1,1093 30,66
27,61
87,1 2,4100
12
50 1,116 1,1109 33,29
29,98
97,6 2,7800
13
50 1,228 1,1098 36,66
33,00
111,7 3,2100
14
50 1,310 1,1098 39,15
35,23
150,4 3,6800
15
50 1,407 1,1090 42,06
37,81
277,0 4,4100
16
50 1,440 1,1104 43,10
38,71
440,9 4,7900
17
50 1,570 1,1099 47,44
42,21
2159,6 6,9100
18
50 1,614 1,1108 49,02
43,39
3321,3 7,7400

F
1,1142
1,1101
1,1104
1,1101
1,1118
1,1107
1,1103
1,1104
1,1101
1,1105
1,1105
1,1103
1,1106
1,1112
1,1124
1,1134
1,1239
1,1298

Os valores do fator de forma apresentados na tabela 29 indicam que as duas ltimas


leituras da perda devem ser corrigidas. A correo da perda magntica no foi realizada
porque apenas duas leituras necessitam de correo. A Fig.11 apresenta o comportamento da
perda total medida sem correo para considerar o desvio do fator de forma.
10
NBR: Pc

Perda (W)

SDCMM: P

6
4
2
0
0,0

0,5

1,0
Induo (T)

1,5

2,0

Fig.11: Perda total 50 Hz.

A Fig.12 apresenta os sinais de tenso e corrente 50 Hz e 1,614 T. Visualmente


percebe-se que o sinal da tenso primria senoidal que confirmado pelo seu fator de forma
de 1,11, enquanto que o sinal da tenso secundria apresenta distores, com fator de forma de
aproximadamente 1,13.

Tenso (V)

100 Tenso secundria


80
Corrente primria
60
40
20
0
200
400
600
800
-20
-40
Tenso primria
-60
-80

1000

-100

5
4
3
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-5

Corrente (A)

64

Tempo (s)

Fig.12: Sinais de tenso e corrente 50 Hz, 1,614 T e F=1,13.

2.4 Ensaio da Permeabilidade Magntica


Este ensaio serve para determinar a permeabilidade magntica do material. O
mtodo utilizando o indutor mtuo foi aplicado para obter o valor desta grandeza. A
amplitude da induo magntica foi imposta e o correspondente campo magntico foi
lido por meio da tenso secundria no indutor mtuo. O valor da indutncia mtua do
indutor mtuo de 178,4 mH e sua resistncia secundria de 662,5 . A
temperatura durante o ensaio foi de 27,2.
Os seguintes resultados foram obtidos obedecendo os procedimentos das
normas tcnicas e utilizando a instrumentao padro convencional para a medio.

2.4.1 Determinao da Permeabilidade Conforme as Normas Tcnicas

Tabela 30: Ensaio da permeabilidade magntica segundo as normas tcnicas.


f
(Hz)
50
50
50
50

NBR e IEC
ASTM e JIS
Bm
Epstein
Indutor
Hm
Bm
(T)
U2m (V)
U2m (V)
(A/m)
(T)
1,441
38,7
21,6 455,25322
1,4404
1,324
35,6
8,6 180,2044
1,3231
1,207
32,4
5,4 113,81331
1,2059
1,089
29,3
4,5
94,8444
1,0887

Hm
(A/m)
450,9742
178,5106
112,7436
93,95296

65

Como os instrumentos convencionais permitiram apenas a leitura de quatro pontos


experimentais, no foi possvel traar a curva B-H do material. Isto tambm se deve
adequao do ensaio com a capacidade da fonte de tenso disponvel [4].

2.4.2 Medio Utilizando o SDCMM


Utilizando-se leituras do SDCMM, os seguintes resultados foram obtidos:

Tabela 31: Ensaio da permeabilidade magntica atravs da leitura do SDCMM.


f
(Hz)
50
50
50
50
50
50
50
50
50
50
50
50

Osciloscpio
NBR e IEC
ASTM e JIS
Bm
Epstein Indutor
Hm
Bm
Hm
Bm
Hm

(T) U2m (V) U2m (V) (A/m) (T)


(A/m)
relativo
(T)
(A/m)
relativo
1,445
39,28
21,43 379,8 1,462 451,219 2577,637 1,461 446,977 2600,220
1,326
35,68
7,78 168,3 1,328 163,811 6449,377 1,327 162,272 6505,880
1,214
32,66
5,12 131,1 1,215 107,804 8970,543 1,214 106,791 9049,133
1,084
29,40
4,07 127,3 1,094 85,696 10158,403 1,093 84,890 10247,400
0,972
26,00
3,49 107,2 0,967 73,484 10476,601 0,967 72,793 10568,387
0,713
19,18
2,69 73,7 0,714 56,639 10026,949 0,713 56,107 10114,795
0,654
17,60
2,56 66,3 0,655 53,902 9668,191 0,654 53,395 9752,893
0,537
14,46
2,32 77,4 0,538 48,849 8765,018 0,538 48,390 8841,808
0,414
11,13
2,08 62,6 0,414 43,795 7524,962 0,414 43,384 7590,888
0,295
8,01
1,82 58,7 0,298 38,321 6189,187 0,298 37,961 6243,411
0,180
4,88
1,48 57,2 0,182 31,162 4636,931 0,181 30,869 4677,555
0,058
1,57
0,86 23,2 0,058 18,108 2567,283 0,058 17,937 2589,775

2.4.3 Comparao com os Resultados Obtidos Conforme as Normas


Tcnicas e a Medio Atravs do SDCMM
O material apresenta as curvas B-H mostradas na Fig.13, obtidas conforme as
normas NBR, ASTM, JIS, IEC e leitura do SDCMM. Na Fig.13 pode-se observar que
as curvas traadas segundo as normas brasileira, americana, japonesa e norma da
comisso eletrotcnica internacional comeam a ter uma permeabilidade que inicia a
regio de saturao acima de 1,2 T. Observa-se nas curvas obtidas com os valores
mximos de campo e induo atravs da medio pelo osciloscpio que h diferena
entre as trs curvas. Mantendo a tenso secundria senoidal 50 Hz, a curva neste
caso diferente daquela obtida 50 Hz mantendo a tenso senoidal no primrio do
quadro. Ademais, as curvas obtidas 50 Hz so diferentes da curva obtida 1 Hz. A
curva de magnetizao do material afetada pela freqncia. Para tenso secundria

66

senoidal, observa-se que a curva 1Hz praticamente coincidente com a curva 50


Hz apenas acima do joelho.

1,6
1,4
1,2

NBR e IEC 50 Hz

Bm (T)

1,0

ASTM e JIS 50 Hz

0,8

SDCMM 50Hz. Tenso


secundria senoidal
SDCMM 50Hz. Tenso
primria senoidal
SDCMM 1Hz. Tenso
secundria senoidal.

0,6
0,4
0,2
0,0
100

200

300

400

500

H m (A/m)

Fig.13: Curva B-H do material.


A Fig.14 apresenta os sinais de tenso e corrente 50 Hz e 0,295 T. Pode-se
observar que o sinal da tenso secundria apresenta rudos, os quais podem estar
sendo captados pelas sondas de tenso e corrente.
Tenso secundria

Corrente primria

0,6

20,0

0,5

15,0

0,4

10,0

0,3
0,2

5,0

0,1

0,0
-5,0

200

400

600

800

1000

0
-0,1

-10,0

-0,2

-15,0

-0,3

-20,0

Corrente (A)

Tenso (V)

25,0

-0,4
Tempo (s)

Fig.14: Sinais de tenso e corrente 50 Hz e 0,295 T.

67

2.5 Concluso
Este captulo apresentou um exemplo da aplicao das normas tcnicas sobre a
caracterizao de ao ao silcio de gro no orientado. Foi mostrada, atravs dos ensaios, a
dificuldade de se utilizar a instrumentao padro convencional quando no se tem condies
e disponibilidade de uma fonte de tenso adequada impondo a forma de onda senoidal no
secundrio do quadro. Poder-se-ia utilizar a tenso comercial com regulagem da amplitude
atravs de um auto transformador. Dois problemas ento haveriam: a inexistncia do controle
da tenso no secundrio e a forma de onda da tenso comercial est contaminada atualmente
por um contedo harmnico.
No ensaio da perda total segundo as normas tcnicas, o controle da forma de onda da
induo magntica atravs do fator de forma da tenso secundria obtido atravs da
instrumentao padro no foi eficiente devido s leituras terem sido realizadas no incio das
escalas dos instrumentos de medida. Os resultados do fator de forma obtidos atravs da
instrumentao padro divergiam dos resultados obtidos com o SDCMM. Houve dificuldades
em manter sempre as leituras dos instrumentos no final da escala. Assim, os dados obtidos
atravs do SDCMM apresentaram-se mais confiveis, visto que o fator de forma assim obtido
esteve sempre coerente com a imagem da tenso secundria observada.
Quanto ao modelo de separao das perdas apresentado pela norma brasileira, existe
uma dificuldade para caracterizar suas componentes como perda por histerese e perda por
correntes de Foucault. Apenas a norma brasileira separa a perda magntica em duas
componentes, uma varivel com a primeira potncia da freqncia (perda por histerese) e a
outra varivel com a segunda potncia da freqncia (perda por correntes de Foucault).
Estas componentes so obtidas da curva da perda por ciclo em funo da freqncia, supondo
que esta curva tenha comportamento linear. Na realidade, a curva da perda por ciclo em
funo da freqncia no apresenta comportamento linear.
No ensaio da permeabilidade magntica, segundo o mtodo utilizando o indutor mtuo,
foram obtidos poucos pontos medidos com a instrumentao padro, dificultando o traado da

68

curva B-H. J o SDCMM permitiu o traado desta curva, com mais nmero de pontos
apresentando-se novamente mais eficaz que a instrumentao padro convencional.
Para um mesmo material testado, as normas tcnicas forneceram resultados
semelhantes, tanto os resultado da perda magntica bem como os resultados das caractersticas
de magnetizao.
No prximo captulo apresentar-se- mtodos numricos de separao das perdas
magnticas, baseados na modelagem do atual estado-da-arte [4,10].

69

3. ESTRATGIAS DE SEPARAO DAS PERDAS


Um dos mtodos experimentais utilizados para a separao das perdas magnticas em
lminas de ao ao silcio realiza uma medio da perda por histerese em uma freqncia
relativamente baixa, adequada para que se possa desprezar as perdas magnticas dinmicas.
Por motivos de dificuldade e custos envolvidos nos ensaios experimentais, por exigirem
instrumentos e aparelhos que operem em baixas freqncias, estratgias que possam eliminar
o ensaio nestas freqncias so interessantes.
Atualmente, um dos modelos mais utilizados para a perda magntica a composio
de trs tipos de perdas: por histerese, por correntes de Foucault e as excedentes [19]. A
referncia [9] utiliza um wattmetro analgico de alta preciso para medio das perdas no
quadro de Epstein. O intervalo de freqncia 1Hz f 300Hz utilizado no ensaio para
pontos distintos de induo magntica. A perda por histerese avaliada em cada ponto de
induo magntica extrapolando-se a curva da perda para freqncia nula. A perda por
correntes de Foucault calculada atravs de (3.0), onde a condutividade eltrica do
material [m]-1, d o valor da espessura [m] e Bm a amplitude da induo magntica [T]. A
perda excedente obtida da diferena entre a curva da perda total medida, curva da perda por
histerese e da curva da perda por correntes de Foucault.

P ( class ) =

2d 2
6

( Bm f ) 2 , [W]

(3.0)

Nesta dissertao, apresenta-se uma estratgia de separao sem necessidade do ensaio


da perda por histerese propriamente dito. Esta estratgia para separar as perdas magnticas no
necessita de dados de medio em baixas freqncias, como tambm no utiliza o mtodo de
extrapolao da tendncia da perda para uma freqncia nula. Adicionalmente, o processo
de separao tambm no requer o conhecimento da condutividade eltrica do material. Para
validar a estratgia proposta de eliminao do ensaio da perda por histerese apresenta-se a
estratgia generalizada que separa as perdas magnticas atravs de trs ensaios: da perda total
com variao da induo magntica mantendo a freqncia constante (por exemplo 50 Hz),
ensaio da perda por histerese com variao da induo magntica mantendo a freqncia
constante ( por exemplo 1 Hz) e ensaio da perda total com variao da freqncia mantendo a

70

induo magntica constante ( por exemplo 1T) utilizada para confirmao dos coeficientes
encontrados relativos aos trs tipos de perda magntica, conforme o modelo apresentado por
[19].
Procura-se neste captulo contextualizar estratgias no padronizadas de obteno da
perda magntica, utilizando o modelo da separao das perdas magnticas em trs
componentes.

3.1 Estratgia de Separao das Perdas Considerada como


Referncia
Neste trabalho, toma-se como base a estratgia de separao das perdas apresentada
pelas referncias [4 e 10], onde so necessrios um conjunto de medidas em uma freqncia
baixa, suficiente para desprezar as perdas dinmicas, em funo da induo mxima, e um
outro conjunto em uma freqncia onde as perdas dinmicas so significativas, em funo
tambm da induo mxima. Para avaliar o processo de separao, necessrio um conjunto
de medidas em funo da freqncia mantendo a induo magntica constante.
Denomina-se este procedimento como referncia pois a perda por histerese
conhecida atravs da medio da mesma.

3.2 Generalizao da Estratgia de Referncia


O modelo da perda total Wtot(Bm,fo) dado pela equao (3.1) [19], onde Bm a
amplitude da induo magntica [T], d a espessura da lamina [m], a condutividade
eltrica [m]-1, a massa especfica do material [kg/ m3 ], G o coeficiente de atrito [22],
V0 um parmetro equivalente ao campo coercitivo [22], fo a freqncia [Hz] e S a

seo transversal [m2]. O primeiro termo a perda por histerese Wh e o segundo termo a
perda por correntes de Foucault Wf. O terceiro termo representa a perda excedente We. Para
uma induo magntica com forma de onda senoidal, a perda total Wstot dada pela equao
(3.2), onde a perda por histerese dada pelo modelo de Steinmetz com os parmetros kh e .
Para esta especfica forma de onda da induo magntica, a perda magntica funo da
amplitude da induo magntica e dos coeficientes constantes, dados pela equao (3.3).

71

Para resolver a equao (3.2) necessrio conhecer parmetros microestruturais e a


condutividade eltrica. Mas a equao (3.3) resolvida atravs dos coeficientes das perdas
obtidos experimentalmente.

GVo S 1 T dB(t )
d 2 1 T dB(t )
= W (t ) h +
dt
+
dt , [J/kg]

12 f T 0 dt
f T 0 dt
2

W (t )tot

W ( Bm ) = k h Bm
s
tot

1,5

8.76 SGVo
(d )2
f o Bm2 +
+
6

f o Bm1.5 , [J/kg]

Wtots ( Bm ) = k h Bm + k f Bm2 + ke Bm1.5 , [J/kg]

(3.1)

(3.2)

(3.3)

Obtm-se a perda por histerese numa freqncia relativamente baixa, por exemplo 1
Hz, onde as perdas dinmicas (perda por correntes de Foucault e perda excedente) podem ser
desprezadas. Pelo modelo de Steinmetz a perda por histerese dada pela equao (3.4). A
faixa de induo magntica (regio de baixa induo magntica) selecionada baseando-se
nos resultados estatsticos. Esta seleo feita de forma a obter-se o maior coeficiente de
determinao (vide equao (3.11)) e o maior nmero de pontos experimentais possvel.
Wh = k h ( Bm )

(3.4)

onde,
1,4<<1,8 para aos ao silcio de gro no orientado.
kh : dependente do material e do sistema de unidades empregado.
: dependente apenas do material.

A equao (3.4) uma funo potncia. Esta funo corresponde a um modelo de


regresso linear nos logaritmos das duas variveis Wh e Bm [11]. Utilizando a equao (3.4) e
artifcios matemticos chega-se a seguinte equao da reta:
ln(Wh ) = ln( kh ) + ln ( Bm )

y = a + bx

(3.5)
(3.5.a)

Para conhecer as constantes kh e necessrio calcular a interseo da reta com o eixo


das ordenadas a e seu coeficiente angular b. Estes ltimos so obtidos pelo mtodo de
regresso linear.
Para uma reta genrica de predio dada por (3.6), o resduo E o erro, discrepncia,
entre o valor verdadeiro de y e o valor aproximado a+bx predito pela equao linear.

72

y = a + bx + E

(3.6)

Para assentar uma reta de predio um conjunto de pontos, minimiza-se a soma dos
quadrados dos resduos. Esta soma dada pela equao (3.7), onde n o nmero de pontos
experimentais.
Sr =

( y a bx )
n

i =1

(3.7)

Deriva-se esta equao em relao a a e a b. Os coeficientes a e b so obtidos


aps dedues e simplificaes:

b=

x y x y
n x ( x )
i

(3.8)

a = y bx

(3.9)

O erro devido a aplicao da regresso linear dado por: S t S r .


A soma total dos quadrados dada por:
St =

( y y)

(3.10)

Com os valores da soma dos quadrados dos resduos e da soma total dos
quadrados, o coeficiente de determinao obtido:
r2 =

St S r
St

(3.11)

Para se obter assentamento perfeito da reta, a soma dos quadrados dos resduos Sr
deve ser nula. Assim,

r2 =1
De (3.5) e (3.5.a) define-se:
kh = e a

(3.12)

=b

(3.13)

A perda total obtida pelo ensaio do material a uma freqncia alta, por exemplo 50
Hz, onde as perdas dinmicas (perda por correntes de Foucault e perda excedente) so
detectadas. O procedimento para obteno das constantes kt e da perda total, anlogo ao
procedimento de obteno de kh e relativos perda por histerese.

73

As constantes kf e ke da perda por correntes de Foucault e da perda excedente so


obtidas atravs da equao (3.3). Esta equao reescrita como:
kt ( Bm ) = kh (Bm ) + k f (Bm ) + ke (Bm )

1, 5

[J/kg]

(3.14)

A faixa da amplitude da induo magntica Bm utilizada para o processo de separao


das perdas corresponde interseo das faixas de mximo coeficiente de determinao da
perda por histerese e da perda total.
Conhecendo as constantes da perda total e da perda por histerese, tem-se:
ke =

kt ( Bm ) k h (Bm )
0 ,5
k f ( Bm )
1,5
(Bm )

(3.15)

A equao (3.15) representa a reta de solues. Esta equao pode ser reescrita como:
k e = a fe + b fe k f

(3.16)

A Fig.15 ilustra a reta de solues na regio de interesse:


ke

P 1(0, afe)
P min (Pmin1, Pmin2)

P max (P max1, P max2)


P2 (-afe/bfe,0)

kf

Fig.15: Reta de solues.

Como valores kf = 0 e ke=0 no ocorrem, calcula-se um valor , dado por (3.18), de


dimenso pequena em relao ao comprimento do segmento p1 p 2 :

74

d ( p1 , p 2 ) = (

a fe
b fe

) 2 + a fe

d ( p1, p2 )
1000

(3.17)

(3.18)

Para selecionar o par ordenado (kf, ke) necessrio conhecer as coordenadas dos pontos
pmin e pmax. Esta formulao obtida atravs das seguintes imposies:

d ( p 2 , p max ) = d ( p1 , p min ) =

p max , p min k e = a fe + b fe k f

(3.19)

Para o ponto pmax tem-se:


a fe
a fe

2
2
+ 2a fe b fe ) p max 1 + (( ) 2 2 + a fe ) = 0
(1 + b fe ) p max 1 + (2
b fe
b fe

p
max 2 = a fe + b fe p max 1

(3.20)

A primeira equao do sistema (3.20) uma equao quadrtica. Para obter-se o ponto
desejado (situado no primeiro quadrante), toma-se a raiz que resulta um valor positivo de
pmax2. Desta forma se obtm as coordenadas do ponto Pmax.
Para o ponto pmin tem-se:

2
p min 1 =
2
1 + b fe

p min 2 = a fe + b fe p min 1

(3.21)

Para obter-se o ponto desejado (situado no primeiro quadrante), toma-se o valor


positivo de pmin1. Desta forma se obtm as coordenadas do ponto Pmin.
Variando-se kf do ponto pmin1 ao ponto pmax1, seleciona-se o par ordenado (kf, ke) que
minimiza o erro em relao a perda ensaiada com variao da freqncia segundo a equao
(3.22) [19].
Wtots ( f ) = kh (Bm ) + k f ( Bm )

f
f
1.5
(3.22)
+ ke (Bm )
, [J/kg]
f0
f0
O par ordenado (kf, ke) avaliado comparando as perdas estimadas utilizando-se a equao

(3.22) com os valores da perda medida em outra freqncia f diferente de f0.


Assim, obtm-se:

75

w f = k f ( Bm )

(3.23)

1,5

(3.24)

we = k e ( Bm )

O fluxograma desta estratgia est representado nas Fig.16 e Fig.16.a.

Incio
Entrada de dados do ensaio
da perda por histerese
variando a induo e
mantendo freq. constante
(1Hz): f, Bm e Wh

Linearizao de
Wh= khBm
Regresso
linear
r2, kh e
r2 1

Entrada de dados do
ensaio da perda total
variando a induo e
mantendo freq. constante
(50 Hz): f0, Bm e Wtot

Excluso de pontos:
(Wh, Bm)

S
Linearizao de
Wtot = ktotBm

Regresso
linear

r2, ktot e
N Excluso de pontos:
r2 1
(Wtot, Bm)
S
Reta de solues:
ke=afe+bfekf

Fig.16: Fluxograma da estratgia de generalizao.

76

kf = pmin1:pmax1

i=1:nf

Wtotc(i)=khBm+f(i)/f0kfBm2+(f(i)/f0)keBm1,5
erro(i)=((Wtotf(i)-Wtotc(i))/Wtotf(i))
Soluo = separao de menor erro.

Entrada de dados do
ensaio da perda total
variando a frequncia e
mantendo induo
constante (1T): f, Bm e
Wtotf

Visualizao grfica.

Fim

Fig.16.a: Fluxograma da estratgia de generalizao.


3.3 Estratgia de Eliminao do Ensaio da Perda por Histerese
Nas estratgias anteriores, mede-se a perda por histerese considerando-se que para
freqncia baixa, por exemplo1 Hz, as demais parcelas da perda magntica total no ocorram.
Assim, apresenta-se uma alternativa de separao das perdas magnticas eliminando o ensaio
de determinao da perda por histerese.
Nesta estratgia, realizam-se dois ensaios. Ensaio da perda total (por exemplo em 50
Hz), de forma semelhante aos mtodos anteriores, e ensaio com variao da freqncia
mantendo-se a amplitude da induo magntica constante (por exemplo 1T).
As constantes kt e da perda total, so obtidas de forma semelhante apresentada na
estratgia anterior. Assim, tem-se a equao:

77

kt ( Bm ) = kh (Bm ) + k f (Bm ) + ke (Bm )

1, 5

(3.25)

Como kt e so conhecidos, tem-se quatro incgnitas: kh, , kf e ke. Pode-se escrever a


equao (3.25) em funo de vrios valores de induo magntica, resultando o sistema de
equaes (3.26).
kt ( Bm1 )

kt ( Bm 2 )

kt ( Bm 3 )

kt ( Bm 4 )

= kh ( Bm1 ) + k f ( Bm1 ) 2 + ke ( Bm1 )1, 5


= kh ( Bm 2 ) + k f ( Bm 2 ) 2 + ke ( Bm 2 )1, 5
= kh ( Bm3 ) + k f ( Bm 3 ) 2 + ke ( Bm3 )1,5

(3.26)

= kh ( Bm 4 ) + k f ( Bm 4 ) 2 + ke ( Bm 4 )1, 5

Se Bm1 e Bm4 forem os extremos de um segmento Bm1 Bm 4 , ento, a coordenada (x) de


um ponto que divide o segmento numa razo dada [12] :
x=

x1 + rx2
1+ r

(3.27)

onde,
x1, x2: so as coordenadas dos pontos extremos.
r: razo dada.
A Fig.17 ilustra o procedimento de diviso do segmento de reta utilizado nesta
estratgia.

Bm4
Bm3
Bm2
Bm1

Fig.17: Diviso do segmento de reta.


Para o segmento Bm1 Bm 2 : r = a/2a = 1/2.
Para Bm1 Bm3 : r = 2a/a = 2.
Utilizando-se a equao (3.27), com Bm1 = 0,4 e Bm4 = 1,4 tem-se:

78

Bm 2

1
0,4 + 1,4
2
=
= 0,73
1
1+
2

Bm 3 =

0,4 + 2(1,4)
= 1,067
1+ 2

Assim, o sistema (3.26) reescrito como:

k t (0,4) = k h (0,4) + k f (0,4) 2 + k e (0,4 )1,5

2
1,5

k t (0,73) = k h (0,73) + k f (0,73) + k e (0,73)

2
1,5
k t (1,067) = k h (1,067) + k f (1,067) + k e (1,067)

2
1,5

k t (1,4) = k h (1,4) + k f (1,4) + k e (1,4)

(3.28)

Resolve-se este sistema de equaes no lineares, pelo mtodo de Newton. O mtodo


de Newton o mtodo mais conhecido e estudado para resolver sistemas de equaes no
lineares [13]. Uma iterao de Newton requer avaliao da matriz jacobiana em xk e resoluo
do sistema linear Js = -F. Dada uma funo no linear F(x), deseja-se encontrar as solues
para F(x) = 0.
Para aplicar o mtodo de Newton so necessrios valores iniciais de kh, , kf e ke.
Assim, para um dado valor de obtm-se as constantes kh; kf e ke pelas trs primeiras
equaes do sistema (3.28).
Para o sistema dado pela equao (3.29), F a matriz obtida do sistema de equaes
(3.28) e s a soluo buscada.
J*s = -F

F=

(3.29)

k h (0,4) + k f ( 0,4) 2 + k e (0,4 )1,5 k t (0,4)

2
1, 5
k h (0,73) + k f (0,73) + k e (0,73) k t (0,73)

2
1,5
k h (1,067) + k f (1,067) + k e (1,067) k t (1,067)

2
1,5
k h (1,4) + k f (1,4) + k e (1, 4) k t (1,4)

f1

f
2
f3

f4

(3.30)

O vetor das derivadas parciais de fi (x1, x2, ..., xn) denominado vetor gradiente de
fi(x), dado por:

f i ( x ) =

f i ( x ) f i ( x)
f ( x)

,
,..., i
x
x 2
x n
1

A matriz das derivadas parciais de F(x) a matriz jacobiana, dada por:

(3.31)

79

f 1 ( x)

T
f 2 ( x)

f n ( x)
T

J ( x) =

, fx( x)
, fx( x)

f1 ( x) f1 ( x)
,
,

x1
x 2

f 2 ( x ) f 2 ( x)
,
,

x
1
2

f n ( x) , f n ( x) ,
x
x 2
1

f n ( x)
,
x n
1

(3.32)

O mtodo de Newton um mtodo iterativo, ou seja, a partir de um ponto inicial x0


gera-se uma seqncia xk de vetores e na convergncia tem-se:

lim x
k

= x*

onde, x*: uma das solues do sistema no linear.


Neste mtodo existem critrios de parada para aceitar um ponto xk como aproximao
da soluo exata x* e para detectar divergncia.
Como F(x*) = 0, sendo x* a soluo exata, como critrio de parada necessrio
verificar se todas as componentes de F(xk) possuem mdulo de dimenso pequena:
F ( xk ) <

Esta verificao realizada utilizando-se a norma infinito, sendo v o vetor dos valores
absolutos de F:
v

= max vi para 1 i n

Outro critrio de parada verificar se a norma infinito x ( k +1) x k est prxima de


zero: quando x ( k +1) x k

<

xk+1 escolhido como aproximao para x*.

Para detectar divergncia e interromper os clculos, utiliza-se teste com um nmero


mximo de iteraes.
Para resolver o sistema linear (3.29) utiliza-se fatorao LU [13]. Este mtodo consiste
em decompor a matriz J em dois fatores. Assim, J = LU, ou seja, LUs = -F. Tomando y = Us,
resolver o sistema Js = -F equivalente a resolver o sistema linear Ly=-F e em seguida o
sistema linear Us = y. A matriz L triangular inferior com diagonal unitria e a matriz U
triangular superior.

80

O sistema (3.30) apresenta vrias solues, entretanto, existe apenas uma soluo
fisicamente verdadeira, ou que atenda o modelo da equao (3.2) pois os parmetros d, , ,

G, V0 e S so considerados constantes. Esta estratgia permite o encontro da soluo


fisicamente verdadeira atravs da seleo da separao das perdas que coincide com a curva
de pontos experimentais obtidos no ensaio com variao da freqncia mantendo-se induo
constante. O fluxograma desta estratgia est representado nas Fig.18 e Fig.19:
Incio
Entrada de dados do ensaio variando a induo e
mantendo freq. Constante (50 Hz): f, Bm e Wtot
Linearizao de
Wtot=ktotBm

Regresso linear
r2, ktot e
r2 1
Mtodo de
Newton

Excluso de pontos:
(Wtot,Bm)

S
Entrada dos valores iniciais: ;
erros E1 e E2; nmero de iteraes

Clculo dos valores iniciais:


kh , kf e ke

x1 = valores iniciais.
Contador = 0.

k = 1:iterao

F(xk ) = sistema de eq.


J(xk) = jacobiana

Fig.18: Fluxograma da estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese.

81

condies
verdadeiras

S
sol = x1
contador = contador + 1

i=1:4

armaz(i, contador) = sol(i)

solucao = armaz

Fim

Resolver: J(xk)s = -F(xk)


(fatorao LU)

xk+1 = xk + sk

condies2
verdadeiras

k = k+1

S
sol = x k +1
contador = contador + 1

i=1:4
Condies = NI de F(xk) < E1 e
kf > ke (ou kf < ke ) e kh>0 e ke > 0,0002

armaz(i, contador) = sol(i)

Condies2 = NI de (xk+1 xk) < E2 e


kf > ke (ou kf < ke ) e kh>0 e ke > 0,0002

solucao = armaz

Fim
Fig.19.a: Fluxograma da estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese.

82

Incio
Entrada dos valores iniciais
e das condies das solues.

Clculo da soluo.
Entrada de dados do
ensaio variando a
frequncia e mantendo
induo constante (1T):
f, Bm e Wtotf

j=1:contador

i=1:nf
Wtotc(i)=soluo(1,j)Bmsolucao(2,j) +
(f(i)/f0) soluo(3,j)Bm2 + (f(i)/f0)soluo(4,j)Bm1,5
erro(i)=((Wtotf(i)-Wtotc(i))/Wtotf(i))
Seleo da separao de
menor erro
Visualizao grfica

erro
mnimo

S
Fim

Fig.19: Fluxograma geral da estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese.

3.4 Resultados
Nesta parte do trabalho, apresenta-se os resultados obtidos aplicando as
estratgias de separao das perdas abordadas. O material ensaiado foi inserido no
quadro de Epstein com todas as lminas cortadas na direo longitudinal. No ensaio

83

da perda por histerese foram utilizadas doze lminas por brao. Nos ensaios restantes
foram utilizadas trs lminas por brao. Os seguintes dados de ensaio foram obtidos
para a amostra:
Tabela 32: Dados do ensaio da perda por histerese, perda total 50 Hz e perda
total 1T.

f (Hz)

W tot (J/kg) Bm (T)


f (Hz) W tot (J/kg)
0,02 1,628E-05
1,001
10 0,013652
0,049 9,903E-05
1,011
25 0,016731
0,1 0,0003959
1,014
50 0,021078
0,148 0,0008149
1,015
60 0,022795
0,198 0,0013757
1,006
80 0,025415
0,301 0,0026727
1,01
100 0,028607
0,397 0,0043068
1,007
150 0,03573
0,505 0,0064859
1,019
200 0,04214
0,601 0,0087385
1,017
300 0,055525
0,702 0,0113019
0,803 0,0141185
0,905 0,0173488
1,014 0,021078
1,11 0,0249164
1,209 0,0299645
1,3 0,0349712
1,4 0,0424908
1,502 0,0561628
1,58 0,0673188
1,699 0,0879542
1,79 0,0999103
1,828 0,0906776
A faixa de 0,128 T 1,091 T da perda por histerese (1 Hz) e a faixa de 0,1 T 1,11 T da perda total (50
1

Bm (T)
W h (J/kg)
0,053 7,09E-05
0,128 0,000394
0,252 0,001326
0,369 0,002455
0,498 0,003938
0,676 0,00638
0,748 0,007496
0,848 0,009176
0,928 0,010659
1,015 0,012274
1,091 0,013967
1,266 0,019126
1,392 0,02502
1,43 0,027449
1,465 0,030888
1,49 0,033382
1,513 0,035955
1,533 0,038594
1,592 0,046089
1,616 0,050067
1,664 0,050579

f (Hz)

Bm (T)

50

Hz) representam as faixas que fornecem maior coeficiente de determinao.

3.4.1 Estratgia de Referncia


Aplicando a estratgia dita de referncia [4], o resultado da separao das perdas est
mostrado na Fig. 20.

84

0,06

Perda Total
Perda Hist.

Perda (J/kg)

Perda Fouc.

0,05
0,04

Perda Exc.

0,03

Perda Tot.
Medida

0,02

Perda Hist.
Medida

Wtot = 0,0207Bm1,7012
Wh =

0,0122Bm1,6425

We =

0,0035Bm1,5

0,01
0,3

0,07

PerdaTotal (J/kg)

0,06

Perda Hist.
Corrigida

0,05

Perda Fouc.
Corrigida

Wf = 0,0049Bm2
Perda corrigida (J/kg)

0,07

0,03

Perda Exc.
Corrigida.
Perda Total
Medida (J/kg)

0,02

Perda Hist.
Medida (J/kg)

0,04

Wtot = 0,0207Bm1,7012
Wh = 0,0116Bm1,6448

Wf = 0,0053Bm2
We = 0,0038Bm1,5

0,01

0,6

0,9
1,2
Induo (T)

1,5

1,8

0,3

0,6

0,9

1,2

Induo (T)

1,5

1,8

Fig.20: Caracterizao 50Hz: a) Separao das perdas. b) Separao das perdas


corrigida.
A Fig.20a apresenta as curvas das perdas medidas 1 e 50 Hz. Pode-se notar que at
1,2 T a aproximao entre o modelo e os pontos experimentais satisfatria. interessante
ressaltar que o modelo vlido para a faixa de induo magntica de previso correspondente
interseo das faixas de mximo coeficiente de determinao da perda por histerese e da
perda total, de 0,1 1,1 T. Para altos valores de induo magntica o erro aumenta. Na
Fig.20b as perdas so obtidas corrigindo-se a perda por histerese. O coeficiente da perda por
histerese diminuiu 0,06%; o expoente da perda por histerese aumentou 0,23%; o coeficiente da
perda por correntes de Foucault aumentou 0,04% e o coeficiente da perda excedente aumentou
0,03%.
A Fig.21 apresenta as curvas de perda obtidas para diferentes freqncias mantendo-se
a induo magntica em 1T. Pode-se observar que a aproximao da perda calculada em
relao curva medida, est caracterizada por um erro mximo de 10%. A aproximao da
perda corrigida em relao curva medida est caracterizada por um erro mximo de 5%.

85

0,06

0,05

10%
8%

0,04
6%

Erro

Perda Total (J/kg)

12%

Perda total medida


Perda total calculada
Perda total corrigida
Erro
Erro ap s correo

0,03
4%
0,02

2%

0,01
0

100

0%
300

200
Frenquncia (Hz)

Fig.21: Perda Total em 1T em funo da freqncia.


3.4.2 Estratgia de Generalizao
Utilizando-se a estratgia de generalizao foram obtidos os resultados apresentados na
Fig.22.

0,07

0,1

0,08

Perda (J/kg)

0,07
0,06
0,05

Perda Total Medida


Perda Total calculada
Erro relativo

a
0,06

0,05
Perda [J/kg], erro

0,09

Perda por Histerese exp.


PerdaTotal exp.
Perda Total
Perda por Histerese
Perda por Corr. Fouc.
Perda Excedente

Wtot = 0,0207Bm1,7011
1,6423
Wh = 0,0122Bm
2
Wf = 0,0063Bm
1,5
We = 0,0025Bm

0,04
0,03

b
0,04

0,03

0,02

0,02
0,01

0,01
0
0

0,2

0,4

0,6

0,8

1
1,2
Induo (T)

1,4

1,6

1,8

50

100

150
200
Freqncia em [Hz]

250

300

Fig.22: Separao das Perdas: a) Caracterizao 50 Hz; b) Perda total em 1T em


funo da freqncia.
Na Fig.22.a pode-se observar que at 1,2T existe uma boa aproximao entre o modelo
e os pontos medidos.

86

Como nesta estratgia a perda por histerese no foi corrigida, os resultados sero
comparados com os resultados da estratgia de referncia sem correo da perda por histerese.
A Fig.22.b mostra que a aproximao da perda calculada em relao curva medida, est
caracterizada por um erro mximo de aproximadamente 6,5%. Este erro 3,5% menor que o
erro apresentado pela estratgia de referncia. Observando as Figuras 21 e 22.b verifica-se que
esta ltima modela melhor o comportamento do material (em todos os pontos medidos).

3.4.3 Estratgia de Eliminao do Ensaio da Perda por Histerese


No algoritmo desta estratgia, pode-se estabelecer valores de e solicitar que o
programa fornea kf > ke ou kf < ke. A soluo satisfatria quando obedece a uma faixa da
perda total e apresenta erro de dimenso pequena em relao ao ensaio com variao da
freqncia.
A soluo abaixo, foi obtida aps 04 iteraes, para = 1,10 1,20 com passo de 0,01
e para kf > ke.

0,09
0,08

Perda em [J/kg]

0,07
0,06
0,05

0,06

PerdaTotal exp.
Perda Total
Perda por Histerese
Perda por Corr. Fouc.
Perda Excedente

Perda Total Medida


Perda Total calculada
Erro relativo

0,05

Perda [J/kg], erro

0,1

Wtot = 0,0207Bm1,7011
Wh = 0,0122Bm1,6742
Wf = 0,0066Bm2
We = 0,0020Bm1,5

0,04

0,03

0,04
0,02

0,03
0,02

0,01

0,01
0
0

0,2

0,4

0,6

0,8
1
1,2
Induo em [T]

1,4

1,6

1,8

0
0

50

100

150
200
Freqncia em [Hz]

250

300

Fig.23: Separao das perdas: a) Caracterizao 50Hz; b) Perda total em 1T em funo


da freqncia.
Na Fig.23.a pode-se observar que at 1,2T existe uma boa aproximao entre o modelo
e os pontos medidos. Na Fig.23.b pode-se observar que a perda calculada apresenta uma

87

excelente aproximao em relao curva medida. A Fig.23.b apresenta um erro mximo de


aproximadamente 5% e a Fig.22.b apresenta um erro mximo de aproximadamente 6,5%. Isto
demonstra que a estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese atinge um conjunto
de parmetros do modelo melhor, comparando-se com as estratgias anteriores.
Como exemplo de aplicao da estratgia de eliminao do ensaio da perda por
histerese no Grucad (Grupo de Concepo e Anlise de Dispositivos Eletromagnticos da
Universidade Federal de Santa Catarina), apresentam-se os resultados da separao das perdas
para trs materiais diferentes ensaiados no sistema MPG100 fabricado pela empresa
Brockhaus Messtechnik [28]. Este sistema no permite o ensaio da perda por histerese por no
atingir freqncias baixas (por exemplo 1 Hz).
A Fig.24 apresenta os resultados de separao das perdas do material E230-C0 de
espessura 479,29m fornecido pela Embraco (Empresa Brasileira de Compressores S.A.) [29].
Os resultados foram obtidos para de 0,1 1,10 com passo de 0,01 e para kf > ke.

0,12

0,08

0,06

0,1

Wtot = 0,0261Bm 1,6789


Wh = 0,0171Bm 1,6353
2
Wf = 0,0059Bm
We = 0,0031Bm 1,5

0,08

0,06

0,04

0,04

0,02

0,02

0
0

0,2

0,4

0,6
0,8
1
Induo em [T]

Perda Total Medida


Perda Total calculada
Erro relativo

Perda [J/kg], erro

Perda em [J/kg]

0,1

0,12

Perda Total exp.


Perda Total
Perda por Histerese
Perda por Corr. Fouc.
Perda Excedente

1,2

1,4

1,6

1,8

0
20

40

60

80
100
120
Freqncia em [Hz]

140

160

180

Fig.24: Separao das perdas: a) Caracterizao 50Hz; b) Perda total em 1T em funo


da freqncia.
A Fig.25 apresenta os resultados de separao das perdas do material CPGXH-4 de
espessura 492 m fornecido pela Acesita (Companhia Aos Especiais Itabira) [30]. Metade
das lminas foram estampadas na direo da laminao e as restantes foram estampadas na

88

direo transversal. Os resultados foram obtidos para de 0,1 1,10 com passo de 0,01 e para
kf > ke.

0,08

0,1

0,08

Perda em [J/kg]

0,07
0,06
0,05

Perda Total Medida

Perda Total calculada


Erro relativo

0,07

Perda [J/kg], erro

0,09

Perda Total exp.


Perda Total
Perda por Histerese
Perda por Corr. Fouc.
Perda Excedente
1,7576

Wtot = 0,0260Bm
1,6767
Wh = 0,0177Bm
2
Wf = 0,0073Bm
1,5
We = 0,0009Bm

0,04

0,06

0,05
0,04
0,03

0,03

0,02
0,02

0,01

0,01
0
0

0,2

0,4

0,6
0,8
Induo em [T]

1,2

1,4

1,6

0
20

1,8

40

60

80

100 120 140


Freqncia em [Hz]

160

180

200

Fig.25: Separao das perdas: a) Caracterizao 50Hz; b) Perda total em 1T em funo


da freqncia.
A Fig.26 apresenta os resultados de separao das perdas do material BGJPX83-F de
espessura 520 m. Os resultados foram obtidos para de 2,1 3 com passo de 0,01 e para
kf>ke.

0,12

Perda em [J/kg]

0,08

0,06

Perda Total Medida


Perda Total calculada
Erro relativo

Wtot = 0,0290Bm1,7001
Wh = 0,0192Bm1,6162
Wf = 0,0073Bm2
We = 0,0026Bm1,5

0,04

0,03

0,04

0,02

0,02

0,01

0
0

0,2

0,4

0,6
0,8
Induo em [T]

0,05

Perda [J/kg], erro

0,1

0,06

Perda Total exp.


Perda Total
Perda por Histerese
Perda por Corr. Fouc.
Perda Excedente

1,2

1,4

1,6

1,8

0
20

40

60

80

100
120
140
Freqncia em [Hz]

160

180

200

Fig.26: Separao das perdas: a) Caracterizao 50Hz; b) Perda total em 1T em funo


da freqncia.

89

As figuras 24.b, 25.b e 26.b mostram que a curva da perda total calculada segue
praticamente o mesmo comportamento da curva experimental, havendo erros de dimenses
desprezveis.

3.5 Concluso
A estratgia de referncia foi utilizada como base para o desenvolvimento da estratgia
de generalizao. A estratgia de referncia apresenta a vantagem de utilizar dados de dois
ensaios (da perda total e da perda por histerese). Entretanto, sua desvantagem reside no fato de
poder fornecer como soluo uma separao das perdas que apresenta um erro maior que o
obtido pelas demais estratgias, mas, o erro tolervel.
A estratgia de generalizao apresenta a desvantagem de utilizar trs ensaios (da
perda total com variao da induo, ensaio da perda por histerese com variao da induo e
ensaio da perda total com variao da freqncia). Entretanto, atinge um conjunto de
parmetros do modelo melhor, comparando-se com a estratgia de referncia.
A estratgia de eliminao da perda por histerese apresenta vantagem de no exigir
equipamentos que permitam realizar o ensaio em freqncias muito baixas onde se possam
desprezar as perdas dinmicas. Por outro lado, esta estratgia mostrou-se ser mais eficiente
que as estratgias de referncia e de generalizao por fornecer um erro menor. Na estratgia
de eliminao da perda por histerese so necessrios apenas dois ensaios (da perda total com
variao da induo e da perda total com variao da freqncia).
Pode-se concluir que a estratgia de eliminao da perda por histerese alm de reunir
as vantagens das estratgias anteriores (dois ensaios e atingir um conjunto de parmetros do
modelo melhor), elimina o ensaio crtico em baixas freqncias. O conjunto de busca da
estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese maior que o conjunto de busca das
estratgias de referncia e de generalizao, porque kh e tambm so incgnitas. Isto
apresenta uma vantagem de se poder encontrar um conjunto mais prximo dos valores reais.

90

4. CONCLUSO GERAL
Este trabalho abordou as normas de caracterizao de lminas de ao ao silcio de gro
no orientado. Fez-se uma sinopse comparando as normas brasileira NBR5161, americana
ASTM A343, japonesa JISC 2550 e norma da comisso eletrotcnica internacional IEC 404-2.
Restringiu-se o estudo sobre a determinao das perdas magnticas e permeabilidade
magntica do material. Como resultado, organizou-se um roteiro com diretrizes e sugestes
para ser utilizado desde a obteno das amostras, ensaios, procedimentos de clculos, at o
relatrio final sobre a caracterizao. Sabe-se que trabalhos desta natureza at o presente
momento foram raros no Brasil, e at mesmo no exterior. Assim, julga-se que este trabalho
seja relevante para o meio industrial, pois auxilia a avaliao dos valores apresentados nos
catlogos dos materiais dos fabricantes, realizados sob as diversas normas, bem como auxilia
aquelas empresas que forem realizar a caracterizao do material para efeitos de controle de
qualidade ou na elaborao de uma caracterizao conforme tal norma. Por vezes, h textos
repetitivos. A inteno que o leitor tenha um resumo da sinopse, podendo averiguar o que
cada norma trata em especfico sobre determinado assunto.
Realizou-se a caracterizao de uma amostra de um material conforme as quatro
normas estudadas. Comentou-se os resultados obtidos e as dificuldades de se utilizar a
instrumentao padro convencional. No geral, como de se esperar, a aplicao das vrias
normas conduzem a praticamente uma mesma caracterizao do material.
Uma contribuio relevante deste trabalho o desenvolvimento da estratgia de
eliminao do ensaio da perda por histerese. Esta estratgia no necessita equipamentos que
atingem freqncias baixas (por exemplo 1Hz) onde se possam desprezar as perdas dinmicas.
Com as vantagens da estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese apresentadas e
com os resultados obtidos, recomenda-se a utilizao desta estratgia no processo de
separao das perdas no material.
A estratgia de generalizao apresenta a desvantagem de utilizar trs ensaios (da
perda total com variao da induo, ensaio da perda por histerese com variao da induo e
ensaio da perda total com variao da freqncia). A estratgia de eliminao do ensaio da
perda por histerese apresenta a vantagem de no exigir equipamentos que permitam realizar o

91

ensaio em freqncias muito baixas onde se podem desprezar as perdas dinmicas. Por outro
lado, esta estratgia mostrou-se ser mais eficiente que a estratgia de generalizao por
fornecer um erro menor. Na estratgia de eliminao do ensaio da perda por histerese so
necessrios apenas dois ensaios (da perda total com variao da induo e da perda total com
variao da freqncia). Podemos concluir que o conjunto de busca da estratgia de
eliminao do ensaio da perda por histerese maior que o conjunto de busca da estratgia de
generalizao, porque kh e tambm so incgnitas. Isto apresenta uma vantagem de se poder
encontrar um conjunto mais prximo dos valores reais.
Para continuidade desta pesquisa, os seguintes temas so propostos: anlise de erro
referente s medies utilizando os procedimentos normativos; preparar e adquirir
conhecimentos para implementao de laboratrio padronizado de caracterizao magntica
de lminas de ao ao silcio; desenvolvimento de um novo modelo para a perda por histerese
que contemple a regio de altas indues; adequar a estratgia de eliminao do ensaio da
perda por histerese para modelar outros tipos de materiais; desenvolver uma estratgia de
separao das perdas magnticas baseada em um ensaio em nica freqncia; realizar um
estudo da perda magntica considerando-se o efeito pelicular das correntes induzidas.
Como existe dificuldade de identificao das componentes da separao das perdas
apresentada pela norma brasileira, como perda por histerese e perda por correntes de Foucault,
recomenda-se utilizar a metodologia de separao das perdas em trs componentes: perda por
histerese; perda por correntes de Foucault e perda excedente. Este modelo para as perdas
magnticas em trs tipos apresenta resultados mais prximos realidade [4].
Como a condutividade eltrica do material varia na extenso do lote de ao e como a
espessura do material de dimenso muito pequena e varivel no recomenda-se obter a perda
por correntes de Foucault atravs de clculo utilizando estas duas grandezas. Como o
comportamento da perda em funo da freqncia no linear, no recomenda-se a obteno
da perda por histerese extrapolando-se esta curva para freqncia nula.

92

APNDICE 1 MTODO DO EMPUXO

93

O mtodo do empuxo um mtodo normalizado [1] de determinao da densidade do


material. O empuxo E a fora resultante que um fludo em repouso exerce num corpo nele
submerso. Esta fora age sempre verticalmente de baixo para cima e igual ao peso do fludo
que deslocado pelo slido [16].
Para este ensaio (conforme a norma NBR5161) so necessrios: suporte; fio de massa
desprezvel (nylon); recipiente transparente (para permitir a verificao e a remoo de bolhas
originadas no material); lquido de densidade conhecida (gua); balana e cinco amostras do
material. As amostras devem verificar as condies apresentadas na tabela 4 deste trabalho.
A Fig.A1 mostra como deve ser montado o sistema. Deve-se proceder da seguinte
forma: abre-se orifcio de dimenso pequena na parte superior da amostra suficiente para
atravessar o fio de massa desprezvel. Pesa-se a amostra (obtendo-se a massa me). Dispe-se o
fludo (gua) num recipiente transparente. Coloca-se o recipiente sobre uma balana. Zera-se a
balana. Insere-se a amostra, suspensa pelo fio, dentro do recipiente. Fixa-se o fio no suporte.
Removem-se todas as bolhas de ar originadas no material. Mede-se a massa m.

Fio de nylon

y
E
x
gua

Suporte

Balana

Fig.A1: Mtodo do Empuxo.


Aplicando a lei de Newton:

F = ma
i

(A1.1)

no sistema da Fig.A1 obtm-se:

E p=0

(A1.2)

94

v d g mg = 0

(A1.3)

vd = m

(A1.4)

assim, E = m

(A1.5)

A massa aparente do corpo imerso em gua mi dada por:


mi = me E

(A1.6)

Como a densidade de massa varia com a temperatura, este valor deve ser lido durante o
ensaio. O seguinte procedimento pode ser seguido: mede-se a massa de 5ml de gua obtendose a relao g/ml. Sabendo-se que 1m3 = 1000 l e aplicando converses pertinentes, obtm-se
o valor da densidade do lquido utilizado w em kg/m3.
Com estes dados, o valor da densidade do material pode ser determinado utilizando-se
a equao NBR (1.1) reescrita como: =

me . w
.
me mi

95

APNDICE 2 INFORMAES ADICIONAIS

96

A2.1 Relao entre Tenso Eficaz e Tenso Mdia


Para o valor mdio da tenso tem-se que:
1 T
U 2 = U 2 (t )dt . Para U 2 (t ) = U pico sen( wt ) obtm-se
T 0
2 T2
U 2 = U pico sen( wt )dt
T 0
2U pico
U2 =
Assim,

(A2.1)

Para o valor eficaz da tenso tem-se que:


T

U2 =

1
2
(U 2 (t )) dt . Para U 2 (t ) = U pico sen( wt ) obtm-se
T 0
T

1
2
U2 =
(U pico sen( wt )) dt
T 0
Assim,

U2 =

U pico

2
De (A2.1) e (A2.2) define-se que U 2 = 1,11U 2

(A2.2)

A2.2 Valores Medidos


Nos ensaios realizados foram lidos o valor eficaz da tenso secundria atravs do
voltmetro de valor eficaz, o valor eficaz da tenso secundria atravs do voltmetro de valor
mdio calibrado em valor eficaz e a potncia atravs do wattmetro. A referncia [24]
apresenta a descrio dos instrumentos utilizados no ensaio. As leituras do valor eficaz obtidas
atravs do voltmetro de valor mdio so apresentadas na tabela A2.1.

97

Tabela A2.1: leituras do voltmetro de valor mdio calibrado em valor eficaz.


Tabela 21 Tabela 24 Tabela 28
Tabela 30
U2 (V)
U2 (V)
U2 (V)
Epstein U2 (V) Indutor U2(V)
47,7
7,50
17,5
43
24
44,5
29,50
21,10
39,5
9,5
41,5
35,50
23,5
36,0
6,0
38,5
12,50
27,2
32,5
5,0
36,0
47,50
31
33,5
17,00
33
30,8
18,50
37
28,5
23,00
38,5
21,5
27,50
41,5
18,0
42,5
14,5
46,5
11,3
48
8,0

A2.3 Instrumentos Convencionais Utilizados


A descrio dos equipamentos de medida convencionais e padronizados, conforme a
norma NBR5161, esto na referncia [24]. A figura A2 mostra estes equipamentos.

Fig. A2: Equipamentos convencionais e padronizados conforme a NBR5161, utilizados nos


ensaios.

98

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
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Florianpolis: Editora da UFSC, 1992.

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Engenharia) Escola Politcnica, Universidade de So Paulo.

[4]

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aspectos tericos e computacionais. 2a edio. So Paulo: Makron Books, 1996.
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Caracterizao Magntica de Lminas de Ao ao Silcio e Avaliao das Perdas no Ferro
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