Um mtodo simples de caracterizao de argilominerais por difrao de raios X

(A simple method for the characterization of clay minerals by X-ray diffraction)

A. P. F. Albers1, F. G. Melchiades2, R. Machado2, J. B. Baldo2, A. O. Boschi2

1
Universidade do Vale do Paraba, UNIVAP
Praa Candido Dias Castejn, 116, 12245-720, Centro, S. Jos dos Campos, SP
2
Universidade Federal de S. Carlos, DEMa
Rod. Washington Luiz, km 235, C.P. 676, 13565-905, S. Carlos, SP
daob@power.ufscar.br
Resumo

A tcnica de difrao de raios X tem sido amplamente utilizada para a determinao de fases cristalinas em materiais cermicos.
Em argilas, a grande quantidade de quartzo e seu elevado grau de orientao dificultam a identificao e caracterizao das
demais fases presentes. Baseando-se no princpio da sedimentao, apresentado neste trabalho um mtodo simples e confivel
para a determinao de argilominerais em materiais argilosos.
Palavras-chave: difrao de raios X, argilominerais.

Abstract

The X-ray diffraction technique has been widely used for the determination of crystalline phases in ceramic materials. The large
content and high degree of orientation of quartz in clays pose a problem to the identification and characterization of the remaining
phases. A simple and reliable method for the determination of clay minerals in clay materials, based on the sedimentation
principle, is presented.
Keywords: X-ray diffraction, clay minerals.

INTRODUO
Dentre as vrias tcnicas de caracterizao de materiais, a tcnica
de difrao de raios X a mais indicada na determinao das fases
cristalinas presentes em materiais cermicos. Isto possvel porque
na maior parte dos slidos (cristais), os tomos se ordenam em
planos cristalinos separados entre si por distncias da mesma ordem
de grandeza dos comprimentos de onda dos raios X.
Ao incidir um feixe de raios X em um cristal, o mesmo interage
com os tomos presentes, originando o fenmeno de difrao. A
difrao de raios X ocorre segundo a Lei de Bragg (Equao A), a qual
estabelece a relao entre o ngulo de difrao e a distncia entre os
planos que a originaram (caractersticos para cada fase cristalina):
n = 2d sen (A)
n: nmero inteiro
: comprimento de onda dos raios X incidentes
d: distncia interplanar
: ngulo de difrao
Dentre as vantagens da tcnica de difrao de raios X para a
caracterizao de fases, destacam-se a simplicidade e rapidez do
mtodo, a confiabilidade dos resultados obtidos (pois o perfil de
difrao obtido caracterstico para cada fase cristalina), a
possibilidade de anlise de materiais compostos por uma mistura
de fases e uma anlise quantitativa destas fases.
Ao se caracterizar argilominerais, a utilizao da tcnica de
difrao de raios X torna-se ainda mais indicada, pois uma anlise
qumica reportaria os elementos qumicos presentes no material,
mas no a forma como eles esto ligados. A anlise qumica poderia
ento ser associada anlise racional, porm os resultados obtidos
no apresentam elevada confiabilidade, alm deste procedimento
no ser indicado para identificar fases polimrficas. A semelhana
do comportamento trmico dos argilominerais tambm descarta a
utilizao isolada das tcnicas termo-diferenciais, que tambm so
mais dispendiosas e demoradas.
Porm na caracterizao de argilas, o elevado teor de quartzo
da amostra e sua facilidade de orientar-se resultam em picos bem
definidos e de grande intensidade desta fase cristalina, prejudicando
muitas vezes a identificao e caracterizao das demais fases.
Neste trabalho descrito um procedimento rpido e eficiente
para identificar os argilominerais mais comumente encontrados nas
argilas nacionais. Tal procedimento minimiza a presena do quartzo
e facilita a identificao das demais fases.
MATERIAIS E MTODOS
Os materiais utilizados no presente trabalho so argilas
nacionais encontradas facilmente no mercado, as quais sero
denominadas A, B, C e D. Tais argilas foram submetidas ao
procedimento descrito seguir para identificao de argilominerais
por difrao de raios X.
Os ensaios de difrao de raios X foram realizados em um
difratmetro Siemens modelo D 5000, com velocidade do
gonimetro de 1/min, tubo de cobre (=1,542 ).

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 Procedimento para identificao de argilominerais por confrontadas com as distncias interplanares caractersticas de cada fase.
difrao de raios X Considerando somente os minerais simples (geralmente
presentes nas argilas nacionais), o pico de maior intensidade de
A. Procedimento geral cada fase (referentes a direo (00l)), bem como os picos
1. Pesar 20,0 g de argila seca e desagregar em almofariz at secundrios, encontram-se na Tabela I.
granulometria inferior a peneira # ABNT 200 (abertura de 74 mm). De acordo com a Tabela I, utilizando-se apenas a reflexo
2. Suspender a argila desagregada em 200 mL de gua destilada. principal, muitas vezes no possvel determinar com segurana o
3. Adicionar 5,0 mL de hidrxido de amnio (NH4OH). argilomineral presente. Nestes casos, recomenda-se a utilizao dos
4. Agitar a suspenso e transferir para uma proveta de 250 mL. procedimento B e C, descritos seguir.
5. Deixar a suspenso em repouso durante 24 h.
6. Com o auxlio de uma pipeta retirar a frao fina da suspenso, B. Solvatao com etilenoglicol (ou glicerol) - Glicolagem
evitando perturbao da mesma e coleta do material grosseiro 1. Preparar uma lmina seguindo o procedimento geral (pode-se
depositado. empregar a mesma lmina utilizada anteriormente).
7. Secar a frao fina da suspenso em estufa a 100 C, 2. Posicionar a lmina sobre um suporte dentro de um recipiente
posteriormente desaglomer-la. com tampa (o suporte servir para que a lmina no fique apoiada
8. Preparar uma suspenso argila-gua com concentrao de 60,0 no fundo do recipiente).
mg de argila por 1 cm3 de gua destilada. 3. Adicionar 100 mL de etilenoglicol (ou glicerol) no fundo do
9. Retirar com a pipeta 3,0 mL da suspenso preparada e depositar recipiente, impedindo o contato direto do reagente com a lmina.
cuidadosamente sobre uma lmina de vidro (as dimenses da lmina 4. Tampar o recipiente e coloc-lo na estufa a 90C durante 5 h.
devem ser compatveis com o porta-amostra utilizado no difratmetro). 5. Retirada a lmina da estufa, proceder o ensaio de difrao de
10. Secar a lmina em estufa 100 C. raios X (o ensaio dever ser realizado em no mximo 1 h aps a
11. Realizar o ensaio de difrao de raios X, varrendo-se de 2 a 30 retirada da lmina da estufa), varrendo-se de 2 a 15 (escala 2)
(escala 2) com velocidade de 1/min. com velocidade de 1/min.
Aps o ensaio de difrao de raios X, as distncias interplanares (d) 6. Verificar o deslocamento dos picos em relao ao ensaio anterior
referentes aos picos apresentados no difratograma devero ser e consultar a Tabela II.
Este procedimento baseia-se na capacidade de alguns
Tabela I - Distncias interplanares caractersticas [1]. argilominerais admitirem em sua estrutura ligaes com lcoois, e
[Table I: Interplanar distance [1].] estes por sua vez, com a gua. Desta forma, aumenta-se a distncia
Distncia Distncia Argilomineral interplanar referentes direo (00l). Como exemplo prtico, tem-
se o pico principal da montmorilonita, que passa de 12 ou 14
Interplanar () Interplanar ()
para aproximadamente 17 , sendo possvel distingu-la da
(pico principal) (picos
vermiculita, que mantm o pico em 14 .
secundrios)
7 3,58 Caulinita C. Aquecimento da amostra
1. Preparar uma lmina seguindo o procedimento geral (pode-se
10 5,0 e 3,33 Ilita empregar a mesma lmina utilizada anteriormente).
14 7,0; 4,7 e 3,5 Clorita 2. Colocar a lmina em uma mufla, aquecendo-a a 500 C mantendo-
a por 2 h.
14 7,0; 4,7 e 3,5 Clorita expansvel
3. Retirada a lmina da mufla, proceder o ensaio de difrao de raios
12 ou 14 5,1 e 3,5 Montmorilonita-12 ou 14 X, varrendo-se de 2 a 15 (escala 2) com velocidade de 1/min.
14 Vermiculita 4. Verificar o deslocamento dos picos em relao ao ensaio anterior

Tabela II - Posies referentes aos picos principais (direo (00l)) dos argilominerais em condies normais (N), aps glicolagem (G) e aquecimento (A) [1].
[Table II: Main diffraction peaks (001) of clay minerals upon normal conditions (N), after treatment with ethylene glycol (G) and after thermal treatment (A) [1].]

Distncia Interplanar () Distncia Interplanar () Distncia Interplanar () Argilomineral

(condies normais) (aps glicolagem) (aps aquecimento)
7 7 - Caulinita
10 10 10 Ilita
14 14 14 Clorita
14 17 14 Clorita expansvel
12 17 10 Montmorilonita-12
14 17 10 Montmorilonita-14
14 14 10 Vermiculita

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e consultar a Tabela II.
Neste caso, buscou-se eliminar as molculas de gua adsorvidas
nos argilominerais, resultando na reduo da distncia interplanar
referentes direo (00l). Como exemplo prtico, novamente tem-
se o pico principal da montmorilonita, que se desloca para 10 . O
mesmo ocorre com o pico da vermiculita.

RESULTADOS E DISCUSSO

A Fig. 1 apresenta o difratograma da argila A, obtido de acordo

com o procedimento geral (A).
Comparando-se o difratograma apresentado na Fig. 1 (argila
A) e a Tabela I, conclui-se que os dois picos presentes so do
argilomineral caulinita. Neste caso, apenas o procedimento geral
(A) foi suficiente para determinar o argilomineral presente.
A Fig. 2 apresenta o difratograma da argila B, obtido de acordo Figura 3: Difratograma da argila C, seguindo o procedimento geral (A). I:
ilita, Q: quartzo.
[Figure 3: X-ray diffraction pattern of clay C, following procedure (A). I:
illite, Q: quartz.]

Figura 1: Difratograma da argila A, seguindo o procedimento geral (A).

C: caulinita.
[Figure 1: X-ray diffraction pattern of clay A, following procedure (A). C:
Figura 4: Difratograma da argila C, aps solvatao com etilenoglicol -
kaolinite.] glicolagem (B). I: ilita, Q: quartzo.
[Figure 4: X-ray diffraction pattern of clay C, following procedure (B). I:
illite, Q: quartz.]

Figura 2: Difratograma da argila B, seguindo o procedimento geral (A). I:

ilita, C: caulinita e Q: quartzo. Figura 5: Difratograma da argila C, aps aquecimento da amostra (C). I: ilita, Q: quartzo.
[Figure 2: X-ray diffraction pattern of clay B, following procedure (A). I: [Figure 5: X-ray diffraction pattern of clay C, following procedure (C). I: illite, Q:
illite, C: kaolinite, Q: quartz.] quartz.]

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Figura 6: Difratograma da argila D, seguindo o procedimento geral (A).
M: montmorilonita.
[Figure 6: X-ray diffraction pattern of clay D, following procedure (A).
M: montmorillonite.]
com o procedimento geral (A).
Comparando-se os dados do difratograma com a Tabela I,
constatou-se que tais picos so referentes ilita, caulinita e quartzo.
As Figs. 3, 4 e 5 apresentam os difratogramas da argila C, obtidos
de acordo com o procedimento geral (A), aps solvatao com
etilenoglicol - gliconagem (B) e aps aquecimento da amostra (C).
Nas Figs. 3, 4 e 5 observa-se que no houve deslocamento dos picos,
mesmo variando-se o procedimento de obteno das lminas
(procedimento geral (A), glicolagem (B) e aquecimento da amostra
(C)). Consultando as Tabelas I e II, identificou-se o argilomineral ilita.
As Figs. 6 e 7 apresentam os difratogramas da argila D, obtidos
de acordo com os procedimentos geral (A) e aps solvatao com
etilenoglicol - glicolagem (B).
De acordo com a Fig. 6 e Tabela I possvel identificar o
argilomineral montmorilonita. Porm fez-se tambm o ensaio de
difrao de raios X aps glicolagem (Fig. 7) para confirmar o
resultado obtido atravs do deslocamento do pico.
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Figura 7: Difratograma da argila D, aps solvatao com etilenoglicol -
glicolagem (B). M: montmorilonita.
[Figure 7: X-ray diffraction pattern of clay D, following procedure (B).
M: montmorillonite.]
CONCLUSES
O procedimento para identificao de argilominerais por
difrao de raios X proposto neste trabalho permite a identificao
rpida e confivel dos argilominerais comumente presentes em
materiais argilosos no pas.
REFERNCIAS
[1] L. E. Neves, Estudo prtico de argilas por difratometria de
raios X Boletim Tcnico da Petrobrs 11,1 (1968) 123-135.
[2] P. S. Santos, Cincia e tecnologia de argilas v. 1. ed. Edgard
Blcher Ltd. (1989).
[3] P. S. Santos, Cincia e tecnologia de argilas v. 2. ed. Edgard
Blcher Ltd. (1989).
(Rec. 20/02/02, Ac. 28/ 02/02)
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