Escolar Documentos
Profissional Documentos
Cultura Documentos
Instituto de Física
Disciplina – Técnicas Experimentais
Professor – Denis David
Mestrandos – Jaciara da Cruz Cerqueira
Victor Mancir da S. Santana
Alguns materiais que podem ser aplicados a energia solar são: sulfeto de cádmio
(CdS) e seleneto de cádmio (CdSe), utilizados como semicondutores em células
fotovoltaicas; óxido de silício (SiO), utilizados em células solares de camada inversora e
fluoreto de magnésio (MgF2), utilizados como janelas seletivas para células
fotovoltaicas. Nos próximos parágrafos serão discutidas algumas propriedades desses
materiais.
O conjunto de estados que está dentro da faixa de energia em que os elétrons estão
ligados aos átomos da rede cristalina é chamada de banda de valência, e ao conjunto de
estados que pertencem à faixa de energia em que os elétrons se tornaram livres é a
chamada banda de condução. A faixa de energia que separa a faixa de condução da
faixa de valência é denominada faixa proibida.
Fornecendo energia aos elétrons do material podemos fazer com que os elétrons
migrem da banda de valência para a banda de condução. Nos metais (condutores) não
existem faixas proibidas: as faixas de condução e a faixa de valência se sobrepõem
parcialmente. Isso é o que os torna condutores de corrente elétrica. Já os isolantes, a
faixa proibida é larga de tal ordem que é necessário uma energia elevada para fazer um
elétron “saltar” para a banda de condução.
Nos semicondutores, a faixa proibida é muito mais estreita que no caso dos
isolantes. Em baixas temperaturas – em relação à temperatura ambiente – os
semicondutores se comportam como isolantes, pois os elétrons não têm energia
suficiente para passarem para a banda de condução. Mas, quando aumentamos a
temperatura, alguns elétrons adquirem energia suficiente para transporem a faixa
proibida e chegarem a para a banda de condução, deixando lacunas (buracos) na banda
de valência.
Metodologia
Foram realizados espectros de absorção da radiação entre 0,2 e 2 µm dos
seguintes materiais: monóxido de silício, sulfeto de cádmio, seleneto de cádmio e
fluoreto de magnésio. Para isso, utilizou-se um espectrômetro fotoacústico construído
no Laboratório de Propriedades Óticas da UFBA.
Resultados e Discussões
Duas medidas de absorção foram realizadas sob as mesmas condições para todas
as amostras, o valor médio entre as medidas é utilizado na análise dos resultados, com
isso o erro estimado na medida é reduzido de um valor igual a um sobre raiz de dois. A
Figura 3 mostra o espectro fotoacústico obtido para o carvão vegetal. Nota-se que os
perfis das duas curvas medidas são semelhantes, isto está ligado a boa reprodutibilidade
do equipamento de medida. As discrepâncias entre os valores medidos são devidos a
efeitos de interferência acústica externa (ar condicionado, movimentação de pessoas na
sala, vibração do motor de passo que movimenta a rede de difração).
0,8
0,7
0,6
Intensidade (u.a.)
0,5
0,4
0,3
0,2
0,1
0,0
0,2 0,4 0,6 0,8 1,0 1,2
Comprimento de onda (µm)
Admitindo que o carvão absorva toda a energia luminosa emitida pela lâmpada,
tem-se que a Figura 3 mostra o espectro de emissão da fonte de radiação. Essa lâmpada
é formada por um filamento de tungstênio encapsulado em tubo de quartzo preenchido
com um gás halógeno. Durante o funcionamento da lâmpada, o filamento de tungstênio
aquece e emite radiação luminosa, nesse processo o filamento evapora gradativamente
e, se não existisse o gás, iria se acumular nas paredes da cápsula onde esta contido até se
partir, inativando a fonte de radiação. O gás halógeno é utilizado para aumentar o tempo
de vida útil da lâmpada, pois reage quimicamente com o vapor de tungstênio e acaba
por depositá-lo novamente sob o filamento num processo de reciclagem. Dessa forma, o
perfil de irradiação da lâmpada está ligado à emissão luminosa do filamento de
tungstênio aquecido que é semelhante ao perfil de irradiação de um corpo negro.
0,6
0,4
0,2
0,0
0,4 0,6 0,8 1,0 1,2
Comprimento de onda (µ
m)
Figura 4: Curva teórica do espectro da radiação emitida pela lâmpada; curva do espectro do
carvão; e a curva de eficiência da rede.
0,6
0,4
0,2
0,0
0,6 0,8 1,0 1,2
Comprimento de onda (µm)
Figura 5:
Espectro fotoacústico de absorção do CdS e CdSe.
CdS
Sinal material/Sinal de referência
0,8
Eg = 2,3 eV
0,6
0,4
0,2
0,0
1,0 1,5 2,0 2,5 3,0
Energia (eV)
Figura 6: Razão do sinal do material pelo sinal de referência. Em destaque, as
energias de gap do CdS e do CdSe
Carvão
1,0 MgF
AbsMgF
0,8
Sinal fotoacústico(u.a.)
0,6
0,4
0,2
0,0
0,4 0,6 0,8 1,0 1,2
Comprimento de onda ( µ
m)
Carvão
SiO
0,60
0,55
Sinal fotoacústico(u.a.)
0,50
0,45
0,40
0,35
0,30
0,25
0,20
0,15
0,2 0,4 0,6 0,8 1,0 1,2
Comprimento de onda(µm)
1,0
Razão sinal SiO - Carvão
0,8
0,6
Razão
0,4
0,2
0,0
0,4 0,6 0,8 1,0 1,2
Comprimento de onda (µm)
Figura 9: Espectro de fotoluminescência obtido por Rinnert et al. para o monóxido de silício a-
Si0,75
Como foi mostrado no trabalho feito por Chu et al. [Chu, 2001], existem várias
formas de aglomerados de monóxido de silício. Embora não seja conhecida a formula
molecular que compõe a amostra em estudo.
Em uma pesquisa realizada por Perez [Perez, 2005] foi feita a caracterização
ótica de filmes finos de SiO e, com esses resultados, foram obtidos valores para o índice
de refração e coeficiente de extinção desse material numa faixa de comprimento de
onda entre 1,25 e 5 µm. Os resultados obtidos mostram que a absorção ótica nessa
região sofre decaimento contínuo até se extinguir para comprimentos de onda mais
longos conforme mostra a Figura 10.
Figura 10: Resultados obtidos por Perez para a SiO. Em destaque, o decaimento da absorção do
material na faixa do infravermelho.
Agradecimentos:
- Ao doutorando Marcus Vinícius S. da Silva por nos conceder o espectrômetro para
que as medidas fossem realizadas.
- Ao Prof. Christian Godet pelo auxílio com os artigos referentes ao monóxido de silício
Referências:
CHU T.S., Zhang R.Q., Cheung H.F.. Geometric and Eletronic Structures of Silicon
Oxide Clusters. J. Phys. Chem. B (2001), 105,1705 – 1709.
SILVA, M.V.S., David, D.G.F., Estudo de Filmes Finos de SnO2 por Espectroscopia
Infravermelha. Dissertação de Mestrado, 2007.
PALMER, C. Diffraction Gratting Handbook, Fifth Edition. Thermo RGL. New York,
USA.
PÉREZ, G., Sanz J.M..Infrared Characterisation of evaporated SiO films. Thin Solid
Films 416 (2002) 24 – 30.
RINNERT, H., M. Vergnat, G. Marchal. Structure and Optical Properties of amorphous
SiOx thin films prepared by co-evaporation of Si and SiO. Material Science and
Engineering B69-70 (2000) 484 – 488.