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Introduo.
Fundamentos Semicondutores. Tecnologias de Fabrico de Circuitos Integrados. Fsicos dos Dispositivos
pp = N A
Para este semicondutor a concentrao de portadores do tipo n muito menor verificando-se a relao:
np =
ni2 NA
nn = N D
pn =
ni2 ND
sendo nn a concentrao de electres, pn a concentrao de lacunas e ND a densidade de dopantes num semicondutor extrnseco do tipo n. O produto pp np = constante = ni2, sendo ni = n = p, no semicondutor intrnseco.
0 = VT ln
NA ND ni2
pp
Concentrao de Portadores
VT =
kT 26 mV a 25 C, q
np p
nn Regio de Depleo
pn n
Previu que o nmero de transstores por integrado iria crescer exponencialmente (duplicando a cada 18 meses). A evoluo exponencial da tecnologia um processo natural: e.g. Steam Engines - Dynamo Automobile.
ULSI (Ultra Large-Scale Integration): mais de 1 000 000 de componentes electrnicos. ASICs Application-Specific Integrated Circuits.
(a) Um encapsulamento (package) duplo linear de 8 pinos. (b) Um encapsulamento para montagem superficial de 16 pinos.
Legenda:
O Silcio um semicondutor (4 electres de valncia). p- Silcio levemente dopado com P ou AS (impureza penta-valente). p+ Silcio fortemente dopado com P ou AS (impureza penta-valente). n- Silcio levemente dopado com B (impureza tri-valente). n+ Silcio fortemente dopado com B (impureza tri-valente). Poli-Silcio um condutor fraco (maior resistividade que o alumnio).
(e) (4 mscara)
Dodos em CMOS
Quando o layout est terminado as ferramentas de CAD permitem, recorrendo a uma ferramenta auxiliar, validar o circuito (DRC Design-Rule Checker). Finalmente, a ferramenta gera as mscaras para o processo de fabrico do IC.