Aula 01 - Introduo

Caracterizao de Materiais
Coordenadoria de Metalurgia e Materiais
Caracterizao de Materiais
Vitria, 02/2009
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Informaes
Professor: Adonias Ribeiro Franco Jnior
Sala dos professores - Metalurgia
Fone: 9234 4410

e-mail: adonias@cefetes.br,
adonias_franco@yahoo.com.br
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Referncias
Bibliogrficas
1) Metallography : principles and practice/ George F.
Vander Voort, McGraw-Hill, New York, 1984.
2) Elements of x-ray diffraction/ B. D. Cullity.2nd ed.
3) Subbarao, E.C. e outros, Experincias de cincia dos
materiais, Edgar Blucher, 1993.
4) Van Vlack, L., Princpio de cincia dos materiais, Edgard
Blucher, 1990.
5) Goodhew, P.J., Specimen preparation in materials
science: practical methods in electron microscopy,
NorthHolland, American Elsevier, New York (1993).
6) Metallography, structures and phase diagrams- Metals
Handbook, V.8, 8a ed., 1.973, Metals, Ohio, 1987.
7) Colpaert H. Metalografia dos Produtos Siderrgicos
Comuns, Editora Edgard Blcher Ltda, So Paulo, 3a ed.,
1974.
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Contedo Programtico:

Introduo Caracterizao de Materiais
Princpios dos Instrumentos Utilizados em Caracterizao
de Materiais
Conceitos Importantes
Microscopia tica (MO)
Microscopia Eletrnica de Varredura (MEV)
Microscopia Eletrnica de Transmisso (MET)
Microscopia de Fora Atmica (AFM)
Difratometria de Raios-X (DRX)
Anlise Trmica (DSC, DTA)
Estudos de caso:
Caracterizao de Metais e Ligas
Caracterizao de Materiais Polimricos
Caracterizao de Materiais Cermicos
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Atividades de Laboratrio

-MO: preparao de amostras e
operao do instrumento

-MEV: preparao de amostras e
demonstrao de operao do
instrumento (UFES)

- Raios-X: demonstrao de
operao do instrumento (UFES)

-DSC: demonstrao
- DTA: demonstrao

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Atividades de Laboratrio

Os Experimentos
comearo sempre 1
semana aps as aulas em
sala de aula e sero
realizados em grupo

Cada trabalho de grupo
inclui: Leitura da tarefa
antes do experimento,
Experimento, Relatrio
(entregue duas semanas
aps a atividade de
laboratrio)
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Forma de avaliao

Discusso, Resoluo de listas de exerccios: 20%
Participao, atividades de laboratrio e relatrios: 20%
Avaliao e Exame Final: 60%


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Perguntas:

O que significa caracterizao?

Por que a caracterizao de materiais
importante?
Quais os equipamentos disponveis?

Qual o princpio de funcionamento
dos equipamentos? Como fazer para
conhec-los?
Poderia dar alguns exemplos prticos
de caracterizao de materiais?
Qual a tendncia futura nesta rea?


I ntroduo Caracterizao de Materiais
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O que quer dizer Caracterizao?
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Caracterizao - Caracterizar - Carter
Carter: qualidade inerente a um material; o que o distingue
de outro

Caracterizar: pesquisar e mostrar o carter do material

Caracterizao: atividades para caracterizar
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Por que a Caracterizao dos Materiais
importante?
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Quais os equipamentos disponveis?
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Objetivos da Engenharia de Materiais (ou
Metalurgia Fsica)
Propriedades dos materiais:
- Nvel sub-atmico Fsica
- Nvel atmico Fsica & Qumica
- Nvel molecular Qumica
- Nvel microscpico _ Qumica & Cincia e
Engenharia de Materiais
- Nvel macroscpico Engenharia Mecnica &
Engenharia de Materiais


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Objetivos da Engenharia de Materiais (ou
Metalurgia Fsica)
Propriedades eltricas
Propriedades trmicas
Propriedades magnticas
Propriedades pticas
Propriedades mecnicas
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Equipamentos de Anlise (nveis
atmico e microscpico)
Caracterstica Ferramenta de caracterizao
Composio qumica - Espectroscopia de emisso por plasma indutivamente
acoplado (ICP)
- Anlise qumica a mido
- Absoro atmica (AA)
- Fluorescncia de raios-X (XRF)
- Difrao de raios-X (XRD)
- Anlise por ativao com nutrons (AAN)
Composio/concentrao de
impurezas
- Espectroscopia de emisso por plasma indutivamente
acoplado (ICP)
- Espectroscopia por absoro atmica (AAS)
Fases/composio qumica local - Microscopia tica (MO)
- Microscopia eletrnica de varredura (MEV) com
espectroscopia de energia dispersiva (EDS) ou
espectroscopia de disperso de comprimento de onda
(WDS)
- Microscopia eletrnica de transmisso (MET) micro-anlise
por feixe de eltrons (EPMA)
- microscopia eletrnica analtica (AEM)
- espectroscopia por perda de energia de eltrons (EELS)
- Espectroscopia de absoro de raios-X (XAS)
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Equipamentos de Anlise (nveis atmico e
microscpico)
Caracterstica Ferramenta de caracterizao
Composio qumica
superficial/interface
Espectroscopia de fotoeltrons excitados por raios-x (XPS ou
ESCA), Espectroscopia de eltrons Auger (AES), Espectrometria
de massa de ons secundrios (SIMS), Espectroscopia de
espalhamento de ons (ISS), Espectroscopia de fotoeltrons de
ultravioleta (UPS), Espectroscopia infravermelho (IR),
Espectroscopia Raman
Reaes termoqumicas
(decomposio)/secagem
Anlise termomecnica (TMA), Dilatometria, Anlise
termogravimtrica (DGA), Anlise termo-diferencial (DTA),
Calorimetria de varredura diferencial (DSC), Espectrometria de
massas acoplada cromatografia a gs (GC-MS)
Homogeneidade /
densidade
MO, MEV, Radiografia, Ultra-som, Imagem por ressonncia
magntica (MRI)
Tamanho de
partculas/gro,
distribuio, morfologia e
textura
MO, Estereologia quantitativa, MET, XRD
Identificao de fases /
estrutura molecular
XRD, Difrao de eltrons (ED), Espectroscopia infravermelho por
transformada de Fourier, Espectroscopia raman, Difrao de
Nutrons
Transformaes de fase
(eventos trmicos)
DTA, DSC, TMA
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Mtodos Disponveis em Modernos
Laboratrios de Caracterizao de Materiais
desejvel que os laboratrios de engenharia possuam :

- equipamentos de anlise qumica
- espectmetro de massa e cromatografia lquida
-equipamentos de anlise trmica
- microscopia tica e metalografia
- espectroscopia ultravioleta, visvel e infravermelho
- microscopia eletrnica de varredura e de transmisso
- espectroscopia de ressonncia nuclear magntica
- espectroscopia de absoro e emisso tica
- espectroscopia de fluorescncia e de raios-X
- espectroscopia de fotoeltrons de raios-x e Auger
- microscpio de fora atmica
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Mtodos Disponveis em Modernos
Laboratrios de Caracterizao de Materiais
Outras tcnicas que no so muito comuns em laboratrios,
mas s vezes muito importantes incluem :

- Difrao de eltrons de baixa energia
-Espectrometria de massa de ons secundrios (SIMS),
-Espectroscopia Raman
- Espectroscopia de espalhamento de ons de baixa energia
- microscopia de campo inico
- Espectroscopia Mssbauer
- Microscopia acstica
- Anlise de imagens quantitativa
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Qual o princpio de funcionamento dos
equipamentos? Como fazer para conhec-
los?
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Princpio dos instrumentos que discutiremos
neste curso

Microscopia tica (MO)

Microscopia Eletrnica de Varredura (MEV)

Microscopia Eletrnica de Transmisso (MET)

Microscpio d efora atmica (AFM)

Difratometria de Raios-X (DRX)

Anlise Trmica (DSC, DTA)
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Exemplos de Caracterizao de Materiais

Imagem obtida
por microscopia
eletrnica de
varredura em que
se verifica a
delaminao de
um micro-chip.

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O que fazer com o conhecimento adquirido
nesta disciplina?
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(1) Setor de controle de qualidade em
indstrias de transformao de metais

(2) Consultoria

(3) Setor de P&D em indstrias de
transformao

(4) Pesquisa na rea de materiais em
instituies, universidades ou centros de
pesquisa