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Programa
Conceitos de Probabilidade e
Estatstica
Populao:
a totalidade dos elementos de um universo sobre o qual
desejamos conhecer e estabelecer concluses para a
tomada de ao
Amostra:
um subconjunto de elementos extrados de uma
populao
Tomada de
deciso
Anlise
Caracterizao da amostra
Medidas de Tendncia Central
Mdia
Moda
Mediana
Medidas de Variao
Amplitude
Desvio Padro
Varincia
Medidas de Variao
Amplitude ( R ): R = Xmax - Xmin
Xmax : Valor mximo dentre os itens da amostra
Xmin : Valor mnimo dentre os itens da amostra
Desvio Padro da amostra ( S ) :
S= [ ( Xi - X )2 / ( n-1 ) ]1/2
Varincia da amostra ( S2 ):
S2 = ( Xi - X )2 / ( n-1 )
Medidas de Variao
Desvio Padro da populao ( ) :
= [ ( Xi - )2 / ( N ) ]1/2
Varincia da populao ( 2 ):
2 = ( Xi - )2 / ( N )
Grfico seqencial
Grfico seqencial
P re sso
800,0
600,0
400,0
200,0
0,0
0
10
20
30
40
Tempo/ periodo
50
60
Fontes de Variao
As variaes esto sempre presentes nos
processos
As variaes so provenientes de diversas fontes
como por exemplo os 6 M
mquinas , mtodo, materiais,meio ambiente,
medies, mo de obra
Eliminao X Reduo
Os gerentes tem a responsabilidade de entender,
quantificar e reduzir as variaes devidas s
causas comuns
Melhorias
Construo do Histograma
Determine o tamanho da amostra (n)
Estabelea o maior e o menor valor Xmax e Xmin.
Estabelea o nmero de classes(k)
K = n k = 1+3.3 log n, tabela
Calcule o tamanho de classe (t) : t = ( Xmax - Xmin ) / k
Faa ajustes
Estabelea os intervalos de classes
Estabelea a freqncia de cada classe
Construa barras proporcionais s freqncias encontradas
Histograma
Freqncias
Valores
Histograma
Freqncias
LIE
LSE
Valores
Limite inferior de especificao
Distribuio Normal
A curva no tem incio nem fim
governada por dois parmetros (mdia e desvio padro)
simtrica em relao mdia
A rea sob a curva a probabilidade
: mdia
:desvio padro
x-
x: valor
z= -------z: varivel padro
freqncia
Distribuio Normal
0,045
0,04
0,035
0,03
0,025
0,02
0,015
0,01
0,005
0
0
20
40
60
Valores x
80
100
Grficos de Controle
uma ferramenta estatstica que utilizada para
monitorar e controlar o processo.
Consiste em um grfico de linha ou seqencial que contem
uma linha central( LC ) , um limite superior de controle ( LSC)
e um limite inferior de controle ( LIC ).
Grfico de Controle
LSC
LC
LIC
O Trabalho
Nvel operacional
- Conhecer o processo
- Atuar nas causas especiais
- Manter o processo estvel
Nvel gerencial
- Entender as variaes
- Reduzir as variaes (melhoramento)
- Buscar o valor alvo(centro,mximo,mnimo)
- Mudana de patamar
Processo Estvel
Processo estvel ou sob controle um processo
livre de causas especiais de variao
Num processo estvel s as causas comuns
esto presentes
Deteco da Instabilidade
necessrio averiguar a presena de causas especiais de variao
quando:
Pontos fora dos limites de controle
Seqncias de pontos consecutivos acima ou abaixo do valor
central
Seqncia de pontos consecutivos crescentes ou decrescentes
Ausncia de pontos no tero mdio
Pontos consecutivos prximos a linha central
Tendncias ou no aleatoriedade
Maior produtividade
Reduzir desperdcio
Reduzir custos
Atender as especificaes
Maior competitividade
Grficos de atributos
np - nmero de itens no conformes
p - frao defeituosa
c - nmero de no conformidades
u - no conformidades / unidade
No conformidade uma caracterstica de um item que
no atende aos requisitos especificados .
No conforme aquele item que tem uma ou mais no
conformidades
Grfico np
UTILIZAO:quando desejado acompanhar o nmero de itens
no conformes . necessrio tamanho da amostra constante.
Limites de Controle:
LSC= np + 3 np (1- p)
LC= np
LIC= np - 3 np ( 1 - p )
A capacidade do processo avaliada pelo valor mdio de np
Grfico p
UTILIZAO: quando necessrio acompanhar a
frao de itens no conformes.No exigido
tamanho da amostra constante.
Os grficos p e np se aplicam s mesmas
situaes s que o np necessita de tamanho de
amostra constante . O grfico p pode ser
construdo com tamanho de amostra constante
ou no.
Grfico p
Limites de Controle:
LSC = p + 3 p ( 1 -p )
/n
LC = p
LIC = p - 3 P( 1 -p ) /
n
np = n . p
p = np / n
n = np / p
Grfico c
Utilizao:quando necessrio
acompanhar o nmero de no
conformidades.
Limites
exigido
de tamanho
controle: da amostra
constante
LSC = c + 3 c
LC = c
LIC = c - 3 c
Grfico u
UTILIZAO: quando o tamanho da amostra
no constante e deseja-se controlar o
numero de no conformidades por unidade
Limites de controle:
LSC = u + 3 u / n
LC = u
LIC = u - 3 u / n
u=c/n
c=u.n
n=c/u
Grfico de variveis
OS PRINCIPAIS GRFICOS DE VARAVEIS SO:
Mdia e amplitude ( X - R )
Mdia e desvio padro ( X - S )
Mediana e amplitude ( X - R )
Valor individual e amplitude mvel ( X - R )
Os grficos de variveis so construdos
sempre aos pares, um com medida de
tendncia central e outro com medida de
disperso.
Grfico X- R
Limites de controle:
Grfico de mdias:
LSC = X + A2 R
LC = X
LIC = X - A2 R
Grfico de amplitude
LSC = D4 R
LC = R
LIC = D3 R
grficos
d2
1,128
1,693
2,059
2,326
2,534
2,704
2,847
Estimativas de
= X
= R / d2
LC = X
LSC = X - 3 R / d2
Grfico de amplitudes
LSC = D4 R
LC = R
LIC = D3 R
Estimativas de e
= X
= R / d2
Grfico
Limites de controle:
Grfico de mdias:
LSC = X + A6 R
LC = X
LIC = X - A6 R
Grfico de amplitude
LSC = D4 R
LC = R
LIC = D3 R
X- R
Estimativas de e
= X
= R / d2
Capacidade e Capabilidade
Capacidade medida pelo ndice de
capacidade
CPk = mnimo { [( LSE - )/ ( 3 ) ] e [ ( - LIE) / (3
) ] }
Cpk
% ou ppm
0,33
+/- 1
31,74 %
0,67
+/- 2
4,56 %
1,00
+/- 3
0,27 %
1,33
+/- 4
60,00 ppm
1,67
+/- 5
0,57 ppm
2,00
+/- 6
0,002 ppm