O JEOL JEM-1230 um alto desempenho, alto contraste, 40-120kV microsc pio eletr!

!nico de transmiss"o com recursos de ima#ens e$celentes ade%uados para &iol #ica, pol'meros e aplica()es de ci*ncia dos materiais+ Modos de ima#em incluem campo claro e escuro e di,ra("o de eltrons+ O canh"o de eltrons um ,ilamento de tun#st*nio padr"o+ O instrumento capa- de amplia()es de .0$ a /00+000 $ e resolu("o de 120 kV de 0,2 nm+ 0astes de suporte da amostra autori-a("o 1nica 2 30 3 de inclina("o ou 2 110 3 de rota("o com 2 1. 3 de

inclina("o+ 4s ima#ens di#itais s"o colhidas com 1/ me#api$el 54k $ 4k pi$els6 7atan 8ltra9can 4000 c:mera usando so,t;are de 7atan <i#italMicro#raph 5<M6+ 4 c:mara de =eltier arre,ecido e apresenta 1/ &its #ama din:mica na ima#em+ O so,t;are e$ecutado em <M um alto desempenho da esta("o de tra&alho <ell em inter,ace com o computador JEM 1230 e controla as opera()es do ME>, incluindo ,oca#em ptimas, correc("o de asti#matismo e de outros aspectos de um alinhamento da lente+ 4s ima#ens s"o, inicialmente,

sal?o no ,ormato propriet@rio da <M %ue re#istra in,orma()es selecionado pelo usu@rio so&re a amostra e as condi()es de ,uncionamento do microsc pio, alm da ima#em+ O #rande 5/. MA6 ar%ui?o mantido permanentemente pela Bore+ 51/ MA6 4r%ui?os Cesolu("o completa 52000 pi$els D pol6 apenas ima#em J=E7 5. MA6 ou >EFF s"o ,ornecidos para o Bore users+>he Bore n"o ,ornecer ou utili-ar a ,olha de ,ilme no JEM1230+