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Controle estatstico, manuteno e confiabilidade de processos

Profa. Rejane Tubino

Cartas de controle- CEP


Aplicao: quando se necessitar verificar quanto de variabilidade do processo devido variao aleatria e quanto devido a causas comuns/aes individuais, a fim de se determinar se o processo est sob controle estatstico.

Cartas de controle- CEP


A CARTA DE CONTROLE simplesmente um grfico de acompanhamento com uma linha superior (LSC) e uma linha inferior (LIC) em cada lado da linha mdia do processo, todos estatisticamente determinados.

Exemplo:processo sob controle estatstico


Carta para Indivduos (%O2)
4 3,5 3 2,5 2 1,5 1 0,5 0 1-Se t 3-Se t 4-Se t 6-Se t 7-Se t 22-Ago 23-Ago 25-Ago 26-Ago 27-Ago 29-Ago 29-Ago 30-Ago 9-Se t %O2 m dia LSC LIC

Exemplo: um processo pode ser consistentemente ruim


Carta para Indivduos (%O2)
4 3,5 3 2,5 2 1,5 1 0,5 0 %O2 m dia LSC LIC

_________________________________________ LSE _________________________________________ LIE


1-Se t 3-Se t 4-Se t 6-Se t 7-Se t 22-Ago 23-Ago 25-Ago 26-Ago 27-Ago 29-Ago 29-Ago 30-Ago 9-Se t

Existem dois tipos de carta de controle:


1. Por variveis - grandezas quantificveis: m, massa, resistncia compresso, mm, etc. 2. De atributo pea aprovada ou reprovada.

Cartas de controle por variveis:


Passos: Cartas eR Determinao da mdia ( amplitude (R)

) e da
Onde: n= nmero de amostras (observaes) em cada subgrupo

R = X mx X mn

Cartas de controle por variveis:


Determinao da mdia do processo ( e a mdia da amplitude ( ) )

Onde: K= nmero de subgrupos

Cartas de controle por variveis:


Calcula-se os limites de controle

Fatores de correo para cartas


n
2 3 4 5 6 10 15 20 25

eR
D4
3.267 2.575 2.282 2.115 2.004 1.777 1.653 1.585 1.541

c4
0.798 0.886 0.921 0.940 0.952 0.973 0.982 0.987 0.990

d2
1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 3.078 3.472 3.735 3.931

d3
0.853 0.888 0.88 0.864 0.848 0.797 0.756 0.729 0.708

A2
1.880 1.023 0.729 0.577 0.483 0.308 0.223 0.180 0.153

A3
2.659 1.954 1.628 1.427 1.287 0.975 0.789 0.680 0.606

B3
0 0 0 0 0.030 0.248 0.428 0.510 0.565

B4
3.267 2.568 2.266 2.089 1.970 1.716 1.572 1.490 1.435

D3
0 0 0 0 0 0.223 0.347 0.415 0.459

Interpretando as Cartas de Controle

1.)

Monitorar

Porque se faz Carta de Controle?

- Observar a variabilidade de uma determinada caracterstica do processo; 2.)

Identificar (caracterizar) - Detectar causas que geram instabilidade (causas especiais);

3.)

Tomar aes - Prevenir as causas de instabilidade.

Variabilidade

o conjunto de diferenas nas medidas (cor, espessura, peso, densidade, etc) presentes nos produtos ou servios resultantes de qualquer atividade.

Causas de Variao no Processo


1.) Causas Comuns de Variao: - Muitas causas que individualmente tm pouca influncia; - Pequena variao produzida; - Processo suficientemente estvel (previsvel). 2.) Causas Especiais de Variao: - Poucas causas que individualmente podem produzir grandes variaes - Processo instvel (imprevisvel).

Processo sob Controle


1.) Um processo est sob CONTROLE estatstico quando as CAUSAS ASSINALVEIS DE VARIAO no existem ou foram eliminadas e sua variabilidade devida exclusivamente s CAUSAS COMUNS; 2.) Estar sob CONTROLE ser ESTVEL (ou PREVISVEL).

Processo fora de Controle


O processo dito fora de controle se: 1- Um ou mais pontos caem fora dos limites de controle; 2- Quando se dividir a carta de controle em zonas e:

Houver 2 pontos, em 3 sucessivos, de um mesmo lado da linha central, na zona A ou acima desta; 4 pontos, em 5 sucessivos, de um mesmo lado da linha central, na zona B ou acima desta; 9 pontos sucessivos de um mesmo lado da linha central; 6 pontos consecutivos, ascendentes ou descendentes; 14 pontos em uma srie, alternando para cima e para baixo; 15 pontos em uma srie, dentro da zona C (acima ou abaixo da linha central).

Outras condies que podem indicar presena de causas especiais

6 pontos consistentemente crescendo ou decrescendo

14 pontos em seqncia, alternando altos e baixos

2 pontos (de 3) muito prximos ao limite superior ou ao limite inferior

4 pontos (de 5) acima (ou abaixo) da metade da faixa superior (ou inferior) de controle

8 pontos em seqncia, alternados acima e abaixo da linha central e nenhum deles prximo ao centro

Em qualquer um desses casos, deve-se observar e investigar o que mudou e, possivelmente, fazer ajustes no processo.

Exemplo de Cartas de Controle ( sob controle )

Carta para Indivduos (%O2)


4 3,5 3 2,5 2 1,5 1 0,5 0 1-Se t 3-Se t 4-Se t 6-Se t 7-Se t 22-Ag o 23-Ag o 25-Ag o 26-Ag o 27-Ag o 29-Ag o 29-Ag o 30-Ag o 9-Se t %O2 m dia LSC LIC

Cartas sob controle:


1. A maioria dos pontos flutuam prximo da linha central; 2. Poucos pontos perto do limite de controle; Nenhum ponto fora dos limites de controle;
R R-m dio LSCR LICR

Carta de Amplitude Mvel (%O2)


1,40 1,20 1,00 0,80 0,60 0,40 0,20 0,00 1-Se t 3-Se t 4-Se t 6-Se t 7-Se t 22-Ago 23-Ago 25-Ago 26-Ago 27-Ago 29-Ago 29-Ago 30-Ago 9-Se t

3. 4.

No h seqncia de sete pontos em um dos lados da linha mdia; No h seqncia de sete (ou mais) consecutivos crescente ou decrescente.

5. pontos

Exemplo de Cartas de Controle ( fora de controle )

C.

A.

0,5 20-Ago 21-Ago 22-Ago 23-Ago 25-Ago 26-Ago 27-Ago 28-Ago 29-Ago 30-Ago 31-Ago 2-Se t 3-Se t 4-Se t 20-Ago 21-Ago 22-Ago 23-Ago 25-Ago 26-Ago 27-Ago 28-Ago 29-Ago 30-Ago 31-Ago 2-Se t 3-Se t 4-Se t

1,5 1

2,5 2

4 3,5 LIC LSC

5 4,5

5,5

0,50

1,00

1,50

2,00

2,50

3,00

3,50

4,00

20-Ago 21-Ago 22-Ago

Carta para Indivduos (%O2 )

Carta para Indivduos (%O2 )

23-Ago 25-Ago 26-Ago 27-Ago 28-Ago 29-Ago 30-Ago 31-Ago 2-Se t 3-Se t 4-Se t

Mdia

%O2

LIC

LSC

Mdia

%O2

D.

B.

0,00

0,50

1,00

1,50

2,00 LSCR LICR

2,50
20-Ago 21-Ago 22-Ago

0,5

1,5

2,5

3,5

4,5

Carta de Amplitude M vel (%O2)


R R-mdio

Carta para Indivduos (%O2 )

23-Ago 25-Ago 26-Ago 27-Ago 28-Ago 29-Ago 30-Ago 31-Ago 2-Se t 3-Se t 4-Se t

LIC

LSC

Mdia

%O2

Exerccio: construir as cartas x e R para os dados: variaes na dimenso de uma pea, em mm.
Hora
Amostras

8:00 -2 -2 0 0 -2

8:30 +1 0 -1 -1 +1

9:00 +3 +1 -3 +1 0

9:30 +2 +3 +5 +2 +2

10:00 -4 -3 0 +1 +3

10:30 0 0 -1 +1 -4

11:00 -1 +1 +2 -1 +3

11:30 -3 +2 -2 +1 +1

12:00 -6 +2 0 +4 +4

12:30 +2 -1 0 +1 +1

1 2 3 4 5
R

Fatores de correo para cartas


n
2 3 4 5 6 10 15 20 25

eR
D4
3.267 2.575 2.282 2.115 2.004 1.777 1.653 1.585 1.541

c4
0.798 0.886 0.921 0.940 0.952 0.973 0.982 0.987 0.990

d2
1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 3.078 3.472 3.735 3.931

d3
0.853 0.888 0.88 0.864 0.848 0.797 0.756 0.729 0.708

A2
1.880 1.023 0.729 0.577 0.483 0.308 0.223 0.180 0.153

A3
2.659 1.954 1.628 1.427 1.287 0.975 0.789 0.680 0.606

B3
0 0 0 0 0.030 0.248 0.428 0.510 0.565

B4
3.267 2.568 2.266 2.089 1.970 1.716 1.572 1.490 1.435

D3
0 0 0 0 0 0.223 0.347 0.415 0.459

Exerccio: construir as cartas x e R para os dados: variaes na dimenso de uma pea, em mm. SOLUO
Hora
Amostras

8:00 -2 -2 0 0 -2 -1,2

8:30 +1 0 -1 -1 +1 0,0 2

9:00 +3 +1 -3 +1 0

9:30 +2 +3 +5 +2 +2

10:00 -4 -3 0 +1 +3

10:30 0 0 -1 +1 -4 -0,8 5

11:00 -1 +1 +2 -1 +3 +0,8 4

11:30 -3 +2 -2 +1 +1 -0,2 5

12:00 -6 +2 0 +4 +4 +0,8 10

12:30 +2 -1 0 +1 +1 +0,6 3

1 2 3 4 5
R

+0,4 +2,8 -0,6 6 3 7

Soluo: carta de controle por varivel- mdias


= 2,972 = - 2,452

mm -3 0 1 2 3 4 hora LIC Mdia -2 -1

Carta x

08 :0 0 08 :3 0 09 :0 0 09 :3 0 10 :0 0 10 :3 0 11 :0 0 11 :3 0 12 :0 0 12 :3 0

LCS

Mdias

Soluo
= 9,936 =0

mm 10 12 0 2 4 6 8

hora Mdia R

carta R

08 :0 0 08 :3 0 09 :0 0 09 :3 0 10 :0 0 10 :3 0 11 :0 0 11 :3 0 12 :0 0 12 :3 0

LIC

LSC

Amplitudes

Existem dois tipos de carta de controle:


1. Por variveis 2. De atributo pea aprovada ou reprovada.

Cartas de controle por atributo


Aplicado quando as amostras refletem caractersticas qualitativas (ex.: aprovado/reprovado; defeituoso/no defeituoso)

Cartas de controle por atributo


Carta p: frao defeituosa

Cartas de controle por atributo

Exemplo
Uma indstria fabricante de produtos cermicos decidiu construir um grfico de controle p para a linha de produo de um dos tipos de peas que ela fabrica. Com este objetivo, foram coletadas 20 amostras de tamanho n=100. O nmero de peas defeituosas em cada amostra apresentada na tabela. As amostras foram numeradas de acordo com a seqncia de produo.

Tabela: nmero de peas defeituosas em amostras de 100 peas cermicas


nmero da amostra 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 nmero de defeituosos 21 25 16 30 15 17 23 28 26 25 22 30 10 20 16 15 25 18 11 12

Fatores de correo para cartas


n
2 3 4 5 6 10 15 20 25

eR
D4
3.267 2.575 2.282 2.115 2.004 1.777 1.653 1.585 1.541

c4
0.798 0.886 0.921 0.940 0.952 0.973 0.982 0.987 0.990

d2
1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 3.078 3.472 3.735 3.931

d3
0.853 0.888 0.88 0.864 0.848 0.797 0.756 0.729 0.708

A2
1.880 1.023 0.729 0.577 0.483 0.308 0.223 0.180 0.153

A3
2.659 1.954 1.628 1.427 1.287 0.975 0.789 0.680 0.606

B3
0 0 0 0 0.030 0.248 0.428 0.510 0.565

B4
3.267 2.568 2.266 2.089 1.970 1.716 1.572 1.490 1.435

D3
0 0 0 0 0 0.223 0.347 0.415 0.459

Soluo
= 405/(20x100)= 0,2025=20,25% = 0,3230

= 0,0819

Soluo
Carta de controle por atributo
0,35 Defeituosos (%) 0,3 0,25 0,2 0,15 0,1 0,05 0 11 13 15 17 Lotes 19 1 3 5 7 9 mdia p LSC LIC Mdia

Capacidade (capabilidade) do processo

Capacidade (capabilidade) do processo


Aplicao: quando se necessitar determinar se o processo, com suas variaes naturais, capaz de atender s especificaes estabelecidas. Um processo sob controle estatstico pode produzir peas rejeitveis.

Capacidade (capabilidade) do processo


A verdadeira melhoria de um processo obtida atravs do equilbrio entre a repetibilidade, consistncia e capacidade de atender s especificaes do projeto, mais conhecida como capabilidade do processo.

1.)

Um processo CAPAZ quando ele atende s ESPECIFICAES; Medir a capacidade do processo compar-lo aos LIMITES DE ESPECIFICAO; Um processo pode estar sob CONTROLE e no ser CAPAZ? Resposta: SIM !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!

2.)

3.)

Possveis situaes relacionando controle e capacidade do processo

1.
4,5 4 3,5 3 2,5 2 1,5 1 0,5 0

Sob Controle / Capaz:


Carta para Indivduos (%O2)
%O2 mdia LSC LIC LIE LSE

Fora de Controle / Capaz: 2.


4,5 4 3,5 3 2,5 2 1,5 1 0,5 0 1-Se t 3-Se t 4-Se t 6-Se t 7-Se t 22-Ago 23-Ago 25-Ago 26-Ago 27-Ago 29-Ago 29-Ago 30-Ago 9-Se t

Carta para Indivduos (%O2)


%O2 mdia LSC LIC LIE LSE

1-Se t

3-Se t

4-Se t

6-Se t

7-Se t

22-Ago

23-Ago

25-Ago

26-Ago

27-Ago

29-Ago

29-Ago

Indicadores CP = 1,58809
CPs= CPi= 1,526555 1,649625

CPK =

1,52656

Situao tima. Os grficos mostram estabilidade e as especificaes so atendidas.

30-Ago

9-Se t

Indicadores CP = 1,51573
CPs= CPi= 1,438347 1,593119

CPK =

1,43835

Situao de alerta. O processo est bom agora, mas no est estvel. Deve-se fazer grficos para estabelecer o controle.

Sob Controle / No Capaz: 3.


5 4,5 4 3,5 3 2,5 2 1,5 1 0,5 0 1- Se t 3- Se t 4- Se t 6- Se t 7- Se t 22-A g o 23-A g o 25-A g o 26-A g o 27-A g o 29-A g o 29-A g o 30-A g o 9- Se t

Carta para Indivduos (%O2)


%O2 m dia LSC LIC LIE LSE

4 .
6 5 4 3 2 1 0

Fora de Controle / No Capaz:


Carta para Indivduos (%O2)
%O2 mdia LSC LIC LIE LSE

1-Se t

3-Se t

4-Se t

6-Se t

7-Se t

22-A g o

23-A g o

25-A g o

26-A g o

27-A g o

29-A g o

29-A g o

Indicadores CP = 0,93694
CPs= CPi= 0,697462 1,176421

Mudanas significativas so necessrias no processo.

Indicadores CP = 0,81888
CPs= CPi= 0,675005 0,962747

CPK =

0,69746

CPK =

0,67501

Situao pssima. Mudanas drsticas so necessrias, alm da eliminao das causas especiais.

30-A g o

9-Se t

Avaliando a capacidade potencial do processo (Cp)

Cp: Capacidade potencial do processo, ou seja mede o potencial do processo atender s especificaes. Cp = Faixa de Tolerncia da Especificaes Faixa de Tolerncia Natural do Processo

Processo confivel tem Cp maior ou igual a 1,33 Exemplos: Se Cp = 2,0 A faixa de especificao duas vezes mais ampla que a faixa de disperso do processo Se Cp = 1,0 A faixa de especificao a mesma que a faixa de disperso do processo

Frmulas para calcular os ndices de capabilidade do processo


Cp= ndice que relaciona a amplitude permitida dos limites de especificao para analisar a real variabilidade do processo representado por , onde o desvio padro do processo

Onde:

= mdia das amplitudes nos subgrupos = valor tabelado e baseado no tamanho da amostra do subgrupo

Situaes possveis do processo


Processo capaz e centrado: Mais de 99.74% do produzido conforme.

Processo no capaz e centrado: Produz desconformidades acima e abaixo das tolerncias.

Processo capaz e no centrado: Produz desconformidades acima da tolerncia superior.

Processo no capaz e no centrado: Produz desconformidades acima e abaixo das tolerncias.

Porm, o parmetro Cp no indica se a mdia do processo est centrada. Logo, Cp indica somente o potencial do processo. Os ndices de capabilidade do processo Cpi e Cps (para limites unilaterais de especificao) e Cpk (para limites bilaterais da especificao) no s medem a variao do processo como tambm consideram a posio mdia do processo.

Ento, o Cpk considerado como uma medida da capabilidade do processo e utiliza o menor dos ndices Cpi e Cps.

Classificao do processo em funo do Cpk

Fonte: Jos Luiz Ribeiro e Carla Ten Caten

Atacando as falhas
Priorizar: atacar de primeiro as falhas com maiores potenciais de impacto na Operao. Buscar as causas-razes das falhas: utilizar para isso as ferramentas da qualidade. Identificar aes de melhoramento. Planejar, programar e executar as aes de melhoramento: centrar as aes na preveno. Estabelecer indicadores e formalizar procedimentos. Registrar e acompanhar os resultados. Corrigir aes e procedimentos, se necessrio.

Exerccio

Exerccio: Considere os dados apresentados abaixo como os valores de resistncia flexo relativa de barras metlicas. A especificao de 15 +/- 8. aCalcule os limites de controle (n=4), construa as cartas x e R e verifique se o processo est sob controle estatstico. bConclua sobre a capabilidade do processo. cConstrua o histograma considerando os intervalos de classe (5-8, 9-12, 13-16, 17-20, 21-24). dIndique a % de peas fora da especificao.

Lo te

x1

x2

x3

x4

1 2 3 4 5

13 21 15 17 19

18 10 16 17 20

20 12 21 13 15

21 21 09 20 20

6 7 8 9 10

22 22 16 18 20

21 19 19 14 16

20 16 20 14 21

21 19 12 21 15

11 12 13 14 15

17 13 20 17 13

21 12 18 16 14

18 18 16 18 21

18 21 14 20 15

16 17 18 19 20

11 19 19 17 21

20 16 14 12 20

12 14 20 18 20

21 19 12 13 21

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