Estatistica: CEP

7- Controle Estatstico
de Processos
CEP - Controle
Estatstico de
Processos
Pedro Paulo Balestrassi www.iem.efei.br/pedro 35-3629-1161
de Processos
Tipo de Grfico
Dados do tipo variveis

ou atributo?
Varivel
Atributo
Alto ou Baixo
Volume
Baixo
No
Tamanho do
lote constante?
Sim
Alto
Defeitos ou %
de defeituosos
Valores individuais
e amplitude mvel
Defeitos ou
Defeituosos
X-Bar&R
ou X-Bar&S
np
2
de Processos
Dois tipos de grficos de controle
Valores contnuos
Grficos para variveis
Utiliza valores medidos
Distribuio Normal
Tempo de um ciclo, comprimento, Dimetro,

temperatura, etc.
Geralmente uma caracterstica por grfico
Grficos para atributos
O Grfico para Variveis

contm mais informao
que o grfico de Atributos
Valores discretos
Distribuio Poisson ou Binomial
Passa/No-Passa, Bom/Ruim
Podem existir muitas caractersticas por grfico

de Processos
Propsito do CEP
O propsito do controle estatstico de processos indicar:

quando um processo est funcionando de forma ideal
(apenas causas comuns de variao esto presentes)
Nenhuma ao corretiva necessria.
Aes desnecessrias podem na verdade aumentar
a variabilidade.
Quando um processo est desordenado e necessita
algum tipo de ao corretiva (causas especiais de
variao esto presentes)
de Processos
Exemplos de causas especiais da

variao
Lote isolado de matria-prima com
problema
Desregulagem ocasional do
equipamento
Quebra de equipamento de medio
Falhas humanas ou de
comportamento
Causas de Variao
18
16
<- CAUSA ESPECIAL
14
12
<- NVEL HISTRICO
10
8
6
ELIMINAO DE ->
CAUSAS COMUNS
NOVO NVEL ->
4
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30 32 34 36 38 40 42 44 46 48 50
Exemplos de causas comuns de

variao
Compra sistemtica de materiais com
baixa qualidade
Inexistncia de treinamento
Falta de padronizao das operaes
de Processos
Grficos de Controle
para Variveis
X Bar: uma representao grfica da mdia de amostras

ao longo do tempo (Between)
R: representao da amplitude de uma amostra ao longo
do tempo. (Within)
S: representao do desvio padro de uma amostra ao
longo do tempo. (Within)
Valores individuais: uma representao dos valores
individuais ao longo do tempo.
Amplitude mvel: uma representao da amplitude mvel
(para duas observaes |Xi - Xi-1|) ao longo do tempo.
de Processos
Grficos de Controle para Variveis
Exemplo: Os dados da
planilha ao lado foram obtidos
em um sistema de controle de
qualidade de bombas para o
exrcito americano. As
medidas, em polegadas,
referem-se s alturas de uma
parte da base das bombas.
Cep.mtw
de Processos
Xbar&R
X = 0,83115
R = 0,01435
8
de Processos
Variao Within e Between
Test Results
for Xbar
Chart
TEST 4. 14
points in a
row
alternating
up and down.
Test Failed
at points: 20
de Processos
Runs tests
LSC
LSC
LM
LM
LIC
LIC
00
55
10
10
15
15
20
20
25
25
10
de Processos
Regras do Minitab
1. Um ponto alm da zona A.

2. Nove pontos em seqncia na zona C ou alm. (Todos do mesmo lado da
linha mdia)
3. Seqncia crescente ou decrescente de seis ou mais pontos.
4. Quatorze pontos em seqncia alternados para cima e para baixo.
5. Dois de trs pontos em seqncia na zona A ou alm.
6. Quatro de cinco pontos em seqncia na zona B ou alm.
7. Quinze pontos em seqncia na zone C, acima ou abaixo da linha mdia.
8. Oito pontos em seqncia alm da zona C, acima ou abaixo da linha mdia.
+3
+2
+1
-1
-2
-3
A
B
C
C
B
A
11
de Processos
Processo sob controle
Exibindo variao aleatria em torno da linha

mdia
Limite superior de controle (LSC)

Linha mdia (LM)
Limite inferior de controle (LIC)
12
de Processos
Processo Fora de controle
Uma seqncia de nove ou mais pontos do mesmo

lado da linha mdia
Limite superior de controle (LSC)
Linha mdia (LM)

Limite inferior de controle (LIC)
LSC
LM
LIC
13
de Processos
Um ou mais pontos alm dos limites de controle

LSC
LM
LIC
LSC
LM
LIC
14
de Processos
Seis ou mais pontos em seqncia crescente ou

decrescente
LSC
LM
LIC
LSC
LM
LIC
15
de Processos
Xbar&R - Exemplo
O arquivo Xbar_r.mtw (coluna= Torno) contm dados medidos do

dimetro de um eixo. Os dados esto em subgrupos de tamanho 3.
A especificao .060 +/- .003 polegadas
1. Verifique a estabilidade com um grfico sequencial (run chart). Verifique
tambm a normalidade.
2. Com o Minitab, crie um grfico Xbar&R. Quais suas concluses?
3. As especificaes dadas tm alguma relao com os limites de controle do
grfico? Se sim, como essa relao?
4. Utilize os dados e as especificicaes para estimar a capabilidade desse
processo de usinagem.
5. Como o controle do processo est relacionado com a capabilidade do
processo?
16
de Processos
Xbar&R - Torno
17
de Processos
Xbar&R - Capabilidade
Capabilidade
um tema central
em 6 Sigma
O processo est sob controle mas sua capabilidade no muito

boa de quem a responsabilidade por essa situao? Do
operador ou da gerncia? Por qu?
18
de Processos
Xbar&R - Capabilidade
19
de Processos
Controle x Especificao
No confunda limites de controle com limites de

especificao.
Os limites de especificao so externos ao processo.
Eles podem representar requisitos de engenharia para
satisfazer um CTQ.
Limites de controle so internos ao processo, eles refletem
a faixa esperada de variao do processo.
20
de Processos
Controle x Especificao
Por exemplo, no grfico Xbar:

Limites de controle so para mdias dos subgrupos. A
maioria das especificaes so para valores individuais.
USL
Limite superior de especificao
Subgrupo
Mdia de um subgrupo
UCL
Limite superior de controle
LCL
LSL
21
de Processos
Xbar&S - Exerccio
O Arquivo Xbar_r.mtw (coluna= pH) contm dados de pH,

tirados no tempo, de um banho para um revestimento protetivo.
Cinco leituras so feitas a cada hora. O valor mnimo permitido
para o valor do pH 4.15.
Crie um grfico Xbar & S.
Quais suas concluses?
Qual a capabilidade do processo?
22
de Processos
I/MR
Exemplo:
O tempo de espera na fila de
um supermercado um CTQ
muito importante para os
clientes deste servio. A cada
4 horas, um cliente ao acaso
selecionado e o seu tempo de
espera cronometrado (em
minutos).
Que concluses podem ser
tiradas deste estudo?
Cep.mtw
23
de Processos
I/MR
24
de Processos
Exemplo: I/MR
Os dados no arquivo IMR.mtw (coluna comprimento)

so referentes ao comprimento de um eixo torneado
para 25 peas consecutivas.
Crie o grfico I/MR.
Analise seus resultados. Eles indicam uma condio
fora do controle? Liste as indicaes, se houverem.
O que est acontecendo com esse processo?
25
de Processos
I/MR
I and MR Chart for Comprimento

Individual Value
25,25
25,15
2 2
Mean=25,09
25,05
5
24,95
Subgroup
Moving Range
UCL=25,22
LCL=24,96
1
0
10
15
20
UCL=0,1566
0,15
2
0,10
0,05
25
0,00
R=0,04792
LCL=0
26
de Processos
Exerccio: I/MR
Os dados para 24 medidas consecutivas do batimento de

um dimetro usinado esto no arquivo IMR.mtw
(coluna=batimento). Os valores esto em micrmetros.
Usando o minitab, crie um grfico I & MR.
Quais so suas concluses?
Que ao, se existe alguma, que deve ser tomada?
27
de Processos
Exerccio: I/MR
Individual Value
I and MR Chart for Batimento

UCL=21,30
20
Mean=11,58
10
LCL=1,870
0
Moving Range
Subgroup
10
15
20
25
UCL=11,93
10
5
R=3,652
0
LCL=0
28
de Processos
Grfico para
Atributos
teis quando a caracterstica medida no uma varivel.

Baseados em contagem ou classificao (Passa/No-Passa,
Bom/Ruim).
Baseados nas distribuies de Poisson ou Binomial
Os limites de controle so calculados de forma diferente dos
grficos para variveis mas seu significado e interpretao so
similares.
Um grfico (c, u ) pode cobrir qualquer nmero de caractersticas,
mas nesse caso pode ser mais difcil analisar os sinais.
Um grfico ao invs de dois (No existe variao Within).
So necessrias definies operacionais inequvocas para os defeitos. Essas
definies operacionais devem ser aplicadas por todos os inspetores.
29
de Processos
Classificao: Um item defeituoso
Uma unidade que contm um ou mais defeitos
SIM
NO
SIM
SIM
NO
Grfico P e NP
30
de Processos
Contagem: Um item com defeitos
Uma nica caracterstica que no atende os requisitos
Grfico C e U
31
de Processos
P e NP
Exemplo: Em uma fbrica de

meias, 200 pares so analisados
diariamente. Nos 25 dias teis de
um ms obtiveram-se os nmeros
de pares defeituosos como na
planilha ao lado. Analise tal
processo usando o grfico de
proporo de defeituosos.
Cep.mtw
32
de Processos
Grfico P e NP
p (1 p )
p3
ni
p = ( d i )
( n )
i
250
= 0,05
5.000
p=
x(200)
0,05 3
(0,05)( 0,95)
200
LIC = 0,004 LSC = 0,096
33
de Processos
Exemplo Grfico P
Grfico para frao/percentual de defeituosos
No arquivo P_chart.mtw, a coluna falhas contm dados

dirios para o nmero de peas contendo falhas no
revestimento, encontradas na inspeo do processo de
revestimento. A coluna subgrupo contm o nmero de peas
inspecionadas.
Crie um grfico P.
Quais suas observaes?
34
de Processos
Grfico P - Falha
35
de Processos
Exerccio Grfico P
Faturas so checadas em busca de erro de preenchimento

como entrada errada dos preos dos servios, erros no
preenchimento da identificao do cliente, etc. O nmero de
faturas preenchidas erroneamente por ms registrado. O
arquivo P_chart.mtw contm dados referentes aos ltimos
13 meses.
Crie um grfico P.
36
de Processos
Exerccio Grfico P
37
de Processos
Grfico NP
No arquivo Np_chart.mtw, a coluna chaves contm

dados da inspeo de 25 lotes consecutivos de chaves
eltricas.
O tamanho de cada lote de 100 chaves.
Crie um grfico NP dos dados.
38
de Processos
Exerccio Grfico NP
Uma clnica atende 60 pacientes por dia. Eles pedem

aos pacientes que classifiquem, em uma escala de 1 a
5, a qualidade do atendimento recebido. Cinco timo e
um pssimo.
O nmero de pacientes que classifica o atendimento
como sendo 3 ou inferior considerado de insatisfeitos
e registrado todos os dias. Os dados esto no arquivo
Np_chart.mtw, coluna insatisfeitos.
Faa um grfico np dos dados.
Avalie a capabilidade do processo.
39
de Processos
Grfico C e U
Exemplo: O trabalho de uma

datilgrafa, em fase de
treinamento, verificado
atravs da contagem dos
erros em unidades de 10
pginas datilografadas. Para
os seguintes dados, construir
o grfico de controle
correspondente.
40
de Processos
Grfico C e U
c1 + c2 + K + ck
c=
k
c 3 c
1393
.
= 55,72
c=
25
c = 7,46
LSC : c + 3 c = 78,10
LIC : c 3 c = 33,34
41
de Processos
Exemplo Grfico C
Dados de fabricao de uma pea indicam perdas devido a defeitos de

soldagem. Os registros dos defeitos encontrados para cada pea
ensaiada so mantidos pelos responsveis pelo controle do processo.
Os dados observados no tempo para subgrupos de 2 peas esto na
coluna Solda_I da planilha C chart.mtw.
1. Crie um grfico C.
2. As no conformidades que so observadas so devido a causas
comuns ou causas especiais de variao.
3. Que tipo de ao pode ser tomada para tentar reduzir as no
conformidades desse processo?
42
de Processos
Exemplo Grfico C
43
de Processos
Exemplo Grfico C - Parte II
Uma ao que foi implementada para tentar diminuir o nmero de

defeitos em solda foi melhorar o treinamento dos operadores. Dados de
defeitos em peas fabricadas aps essa ao (tambm em subgrupos
de duas peas) esto na coluna Solda_II da planilha C_chart.mtw. Essa
ao foi efetiva na reduo das no-conformidades?
1. Crie um grfico C.
2. O novo processo est sob controle estatstico?
3. O treinamento melhorou o processo?
4. Como isso pode ser avaliado estatisticamente?
44
de Processos
Exemplo Grfico C - Parte II
Caiu significativamente?
...estatisticamente (2 sample t) e em termos de meta de projeto?
45
de Processos
Exerccio Grfico C
O arquivo C_chart.mtw (coluna=contratos), contm

dados referentes a contratos com plantas de gerao de
energia eltrica.
Crie um grfico C dos dados.
46
de Processos
Exerccio Grfico C
47
de Processos
Grfico U
No arquivo U_chart.mtw, a coluna erros contm dados ordenados

no tempo referentes a erros no preenchimento dos pedidos para os
clientes. Um defeito definido como informaes inexatas
encontradas na requisio. Diariamente, o nmero de defeitos e o
nmero de requisies preenchidas so registrados.
Construa um grfico U dos dados.
48
de Processos
Grfico U
O Grfico U o mesmo que o grfico C, exceto

pelo tamanho da unidade que varivel.
49
de Processos
Exerccio Grfico U
Duas partes de um readiador de autmvel so montadas

juntas. O nmero de vazamentos detectados no tempo
assim como o nmero de radiadores montados esto no
arquivo U_chart.mtw.
Construa um grfico U para esse processo.
Quais so suas concluses?
50
de Processos
Tamanhos dos subgrupos

Selecione um tamanho de subgrupo que fornea uma
mdia de defeitos/defeituosos:
C, U, NP > 5.0
Para que os limites de controle sejam simtricos em torno da mdia. (evitar LIC = 0)
Para os grficos P, selecionar os subgrupos de forma que

pelo menos 95% dos subgrupos contenham pelo menos um
defeituoso.
Use a relao aproximada
:
N~5/P
51
de Processos
Estratgia 6 Sigma
para uso de Grficos
de Controle
Y=f(X)
Durante as primeiras investigaes coloque os grficos
nas variveis de Sada (Y) que no esto sob
controle.
Aps as investigaes, coloque as grficos nas variveis
crticas de Entrada (X).
Se um grfico implantado no estiver proporcionando
informao de valor e gerando aes, remova-o.
Objetivo: Monitorar e controlar Entradas (X) e, com
tempo, eliminar os grficos de controle na Sada (Y).
52
de Processos
Principais finalidades dos

grficos de controle
Reduzir refugo e retrabalho e melhorar produtividade.

Prevenir defeitos. Processo sob controle significa menor chance de produzir
unidades no-conformes.
Prevenir de ajustes desnecessrios no processo atravs da distino entre
causas comuns e causas especiais de variao.
Fornecer informao para diagnstico de forma que um operador experiente
possa determinar o estado de seu processo analisando padres de
variabilidade. O operador pode ento fazer as alteraes necessrias para
melhorar a performance do processo.
Fornecer informaes importantes sobre os parmetros do processo ao
longo do tempo.
Significando:
n
Custos mais baixos de fabricao
n
Padres de trabalho corretos
n
Processos previsveis quanto ao desempenho
n
Especificaes realistas
n
Menos inspees
n
Melhor relacionamento com clientes
n
Menor tempo de ciclo
n
Melhor qualidade de produto
53
de Processos
Finalizando...
Livro Texto: Montgomery/Runger

Captulo 15:
Exemplo 15.1
Seo 15.5
Seo 15.6
Seo 15.8
Fazer
Exerccios
usando o
Minitab
54

Estatistica: CEP

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Dados do tipo variveis

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Dois tipos de grficos de controle

Grficos para variveis

Utiliza valores medidos

Tempo de um ciclo, comprimento, Dimetro,

Geralmente uma caracterstica por grfico

Grficos para atributos

O Grfico para Variveis

Podem existir muitas caractersticas por grfico

O propsito do controle estatstico de processos indicar:

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Exemplos de causas especiais da

<- CAUSA ESPECIAL

Exemplos de causas comuns de

X Bar: uma representao grfica da mdia de amostras

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Grficos de Controle para Variveis

Variao Within e Between

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1. Um ponto alm da zona A.

Processo sob controle

Exibindo variao aleatria em torno da linha

Limite superior de controle (LSC)

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Processo Fora de controle

Uma seqncia de nove ou mais pontos do mesmo

Linha mdia (LM)

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Processo Fora de controle

Um ou mais pontos alm dos limites de controle

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Processo Fora de controle

Seis ou mais pontos em seqncia crescente ou

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O arquivo Xbar_r.mtw (coluna= Torno) contm dados medidos do

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O processo est sob controle mas sua capabilidade no muito

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No confunda limites de controle com limites de

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Por exemplo, no grfico Xbar:

Limite superior de controle

O Arquivo Xbar_r.mtw (coluna= pH) contm dados de pH,

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Os dados no arquivo IMR.mtw (coluna comprimento)

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I and MR Chart for Comprimento

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Os dados para 24 medidas consecutivas do batimento de

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I and MR Chart for Batimento

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teis quando a caracterstica medida no uma varivel.

Classificao: Um item defeituoso

Uma unidade que contm um ou mais defeitos

Contagem: Um item com defeitos

Uma nica caracterstica que no atende os requisitos

Exemplo: Em uma fbrica de