FACULDADE ANHANGUERA DE CAMPINAS - UNIDADE 3 CURSO DE ENGENHARIA DE PRODUO

IMPLANTAO DO CONTROLE ESTATSTICO DO PROCESSO EM INDSTRIA AUTOMOBILSTICA

Willian Oliveira Cabral

RA: 0850218

Campinas 2012

FACULDADE ANHANGUERA DE CAMPINAS - UNIDADE 3 CURSO DE ENGENHARIA DE PRODUO

IMPLANTAO DO CONTROLE ESTATSTICO DO PROCESSO EM INDSTRIA AUTOMOTIVA

Relatrio de Estgio apresentado Faculdade Anhanguera de Campinas como exigncia da disciplina Estgio Supervisionado Curricular. Orientador: Prof. Oswaldo Hugo Bertoni

Willian Oliveira Cabral

RA: 0850218

Campinas 2012

SUMRIO
Resumo...................................................................................................................... 5 Lista de Figuras.......................................................................................................... 6 Lista de Tabelas ........................................................................................................ 7 1. A INSTITUIO.................................................................................................. 8 1.2 Descrio do Setor............................................................................................... 8 2. CONCEITOS BSICOS DE GESTO................................................................ 9 2.1 Estrutura do Relatrio de Estgio........................................................................ 10 3. FUNDAMENAO TERICA............................................................................12 3.1 Definio do Controle Estatstico do Processo.................................................... 12 3.2 Aplicao do CEP conforme a ISO TS 16949:2009............................................ 12 3.3 Conceitos Bsicos do CEP...................................................................................12 3.3.1 Variveis Aleatrias......................................................................................... 13 3.3.2 Causas Comuns x Causas Especiais..................................................................13 3.3.3 Histograma........................................................................................................14 3.3.4 Distribuio Normal..........................................................................................14 3.3.5 Clculos referentes ao histograma....................................................................16 3.4 Cartas de Controle............................................................................................... 17 3.4.1 Cartas de Controle por variveis....................................................................... 18 3.4.1.1 Interpretao da carta (Variveis).................................................................. 22 3.4.1.2 Capabilidade do Processo (variveis)............................................................ 23 3.4.2 Cartas de Controle por atributos....................................................................... 25 3.4.2.1 Interpretao da carta (Atributos).................................................................. 27 3.4.2.2 Capabilidade do Processo (atributos).............................................................27 3.5 Atualizao do CEP para 2Edio..................................................................... 28 3.5.1 Grficos de Farol.............................................................................................. 28 3.5.2 Pequenos Lotes................................................................................................. 29 3.5.3 CUSUM............................................................................................................ 30 3.5.4 EWMA............................................................................................................. 31 3.5.5 Zonas................................................................................................................ 32 4. RELATO DO ESTGIO....................................................................................... 33 4.1 Aspectos Gerais do Fornecedor.......................................................................... 33

4.2 Aplicao do Controle Estatstico do Processo................................................... 33 4.2.1 Coleta de Dados................................................................................................ 34 4.2.2 Analise dos Dados............................................................................................ 36 4.2.3 Clculo dos Limites de Controle...................................................................... 39 4.2.4 Treinamento (CEP Bsico)............................................................................... 41 4.2.5 Barreiras x Benefcios do CEP......................................................................... 42 4.2.6 Monitoramento do CEP.................................................................................... 43 5. CONCLUSO....................................................................................................... 45 REFERNCIAS........................................................................................................ 47 ANEXO A ................................................................................................................ 48

RESUMO

Com o mercado mundial competitivo algumas empresas desenvolveram ferramentas ao longo do tempo com o objetivo de reduzirem rejeies controlando e aperfeioando o processo produtivo. Com base nesta nova filosofia foi possvel produzir produtos bons e baratos. Procurou descrever no relatrio de estgio noes tericas e prticas referentes a uma ferramenta amplamente utilizada no ramo automobilstico, o controle estatstico do processo CEP, assim como a sua atualizao em 2006 para a 2Edio. Contemplando etapas de sua implantao e seu monitoramento no fornecedor Inpacom Diemolding.

Palavras Chaves - ISO TS 16949:2009. Carta de Controle. Capabilidade do Processo.

LISTA DE FIGURAS
3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6 3.7 3.8 3.9 3.10 3.11 3.12 3.13 3.14 3.15 3.16 4.1 4.2 4.3 4.4 4.5 4.6 4.7 4.8 4.9 4.10 4.11 4.12 4.13 Exemplo de Histograma ................................................................................... 14 Distribuio Normal ........................................................................................ 15 Distribuio Normal 2 ...................................................................................... 15 Valores obtidos da Tabela Normal .................................................................. 16 Descrio das frmulas .................................................................................... 17 Pontos fora do limite de controle [Fonte:Brando, 2006] ............................... 22 Sete pontos consecutivos crescentes [Fonte: Brando, 2006] ......................... 22 Sete pontos consecutivos decrescentes [Fonte: Brando, 2006] ..................... 22 Sete pontos acima da linha central [Fonte: Brando, 2006] ............................ 22 Sete pontos abaixo da linha central [Fonte: Brando, 2006] ........................... 23 Pontos prximos ao limite de controle [Fonte: Brando, 2006] ...................... 23 Pontos prximos a mdia [Fonte: Brando, 2006] .......................................... 23 Histograma Cp / Cpk ....................................................................................... 24 Grfico de Farol [Fonte: Takao, 2007] ............................................................ 29 Carta de controle CEP 1Edio x Carta CUSUM [Fonte: Takao, 2007] ....... 31 Valores atribudos para cada regio [Fonte: Takao, 2007] .............................. 32 Histograma referente altura total antes da reforma ....................................... 37 Histograma referente altura total aps a reforma .......................................... 37 Histograma referente ao dimetro retificado ................................................... 38 Histograma referente rugosidade................................................................... 38 Histograma referente ao dimetro externo do canal ........................................ 38 Histograma referente ao dimetro interno do canal ......................................... 38 Histograma referente localizao externa do canal ...................................... 38 Histograma referente localizao interna do canal ....................................... 38 Resultado dos Limites de controle .................................................................. 39 Grfico de Controle ......................................................................................... 41 Indicadores da Qualidade (% de Rejeies) .................................................... 42 Indicadores da Qualidade (Produtividade Mensal) ......................................... 43 Monitoramento do CEP .................................................................................. 44

LISTA DE TABELAS
3.1 Peas Produzidas por dia ................................................................................... 14 3.2 Fatores para Cartas de Controle [Fonte:Takao 2005] ........................................ 19 3.3 Exemplo soma CUSUM [Fonte: Takao, 2007] ................................................. 30 4.1 Resultado Dimensional da Altura Total ............................................................ 34 4.2 Resultado Dimensional do Dimetro Retificado .............................................. 35 4.3 Resultado Dimensional da Rugosidade ............................................................ 35 4.4 Resultado Dimensional Dimetro Externo ....................................................... 35 4.5 Resultado Dimensional Localizao Externo ................................................... 35 4.6 Resultado Dimensional Dimetro Interno ........................................................ 36 4.7 Resultado Dimensional Localizao Interna .................................................... 36

1. A INSTITUIO
1.1 Descrio da Instituio A GIGAPLAST, fundada no ano de 2001, se destaca no mercado de termoplstico a partir do ano de 2008, aps a alterao do seu quadro acionrio, na qual passa a ser totalmente controlado pela FAMILIA ZAMBONE. Visando a melhoria da qualidade de vida dos colaboradores, ambiente de trabalho e da sociedade em geral, fixado definitivamente suas razes na Estncia Climtica de Morungaba/SP. Atualmente participa efetivamente dos processos de transformao de termoplsticos, oferecendo peas e servios de alta tecnologia e preciso, respeitando aos mais exigentes mercados e requisitos tcnicos de qualidade. Nossa viso de melhoria contnua, conquistando assim processos robustos de gesto, focando objetivamente a qualidade dos produtos e servios, retorno dos investimentos e satisfao total de nossos clientes, fornecedores e parceiros. Localizada no bairro de So Benedito na Estncia Climtica de Morungaba/SP est instalada em uma rea de 9.894 m2 e construo de 2000 m2. Possui um parque fabril de 22 mquinas injetoras e processos de ultima gerao, equipadas com o que existe de mais avanado em perifricos e sistemas. Tem como principais clientes as empresas: Magneti Marelli, Tyco Electronics, Aschroft e Caloi. 1.2 Descrio do Setor O estgio ser realizado no setor de desenvolvimento de novos produtos, tendo como desafio exercer as tarefas que demandam o processo de desenvolvimento de novos fornecedores [Anlise dos requisitos especficos do cliente] e atendimento a possveis distrbios de linha de um componente pertencente ao produto manufaturado internamente. Portanto as atividades principais consistem anlises de aes preventivas e corretivas visando desenvolver fornecedores capacitados conforme requisitos do sistema da qualidade.

2. CONCEITOS BSICOS DE GESTO

O homem sempre procurou buscar desenvolvimento de tcnicas, ferramentas e mtodos, a 1Revoluo Industrial um exemplo do salto para a modernizao em que era substituda a mo de obra por mquinas a vapor com o objetivo de melhorar continuamente o seu processo aumentando a produtividade visando a qualidade do produto. Para obter o sucesso da melhoria continua deve se ter o conhecimento das variveis que ocorrem que afetam o processo, este conhecimento alcanado atravs de ferramentas estatsticas na qual sero avaliados os seus resultados. O Conceito de Qualidade no Japo eram completamente diferentes com relao a Europa e aos Estados Unidos, uma vez que o Japo compreendia que os o lucro era o seu principal objetivo e a qualidade um meio de expandir os lucros. Esta viso no era compreendida pelos Estados Unidos e a Europa. Com este conceito os produtos japoneses entraram no mercado durante a 2 Guerra Mundial como produtos bons e baratos fazendo com que as organizaes do mundo Ocidental buscassem se adaptar as tcnicas japonesas para sobreviver no mercado, sendo que parte dessas tcnicas eram j eram de conhecimento do Ocidente, mas que foram esquecidos. Porm a tcnica principal que fez com que o Japo ressurgisse no mercado foi desenvolvida nos Estados Unidos por Deming sendo introduzida em 1950 no Japo. Um dos fatos do Controle Estatstico do Processo no ter sido implantado com sucesso nos Estados Unidos foi a de as organizaes no compreenderem que esta metodologia deve estar relacionada com todas as fases do processo, assim como a sua utilizao ser a base para decises de todos os nveis da organizao, estando todos comprometidos com a sua utilizao. O sucesso da reestruturao do Japo entrando no mercado com produtos bons e com baixo custo foi em rever antigas metodologias de gesto praticada no ocidente que foram identificados como a causa raiz dos problemas apresentados na poca, por seus mtodos se mostrar insuficientes para a nova viso competitiva do mercado. As organizaes que se denominam envolvidas com o processo de fabricao de produtos de alta tecnologia, devem adotar um novo principio gerencial apresentado pelo Dr. Deming. O novo conceito gerencial composto basicamente por 14 princpios gerenciais do Dr. Deming, informados a seguir:

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1. Crie uma viso consistente visando a melhoria de um produto ou servio com o objetivo de se manter competitivo diante do mercado. 2. Implante uma nova filosofia assumindo a liderana na empresa. 3. Elimine a necessidade de inspeo em massa com o objetivo de garantir a qualidade do produto e/ou servio, deve-se adotar ferramentas estatsticas provendo a qualidade do produto final. 4. Reduzir os custos de seleo originados de um fornecedor preferencial, seno necessrio realizar estudos referente a relao custo/beneficio. 5. Melhorar continuamente cada processo da organizao. 6. Realizar treinamentos visando a aprendizagem no posto de trabalho training on the job. 7. Liderar com o compromisso de sensibilizar as demais pessoas a produzirem com qualidade. 8. No liderar com base do medo, evitando empregar o mtodo autoritrio de gesto. 9. Eliminar as barreiras entre vrios setores da organizao. 10. No utilize campanhas e slogans se baseando em imposies de metas. 11. No utilize gesto por objetivos com baseando em indicadores quantitativos, sem demonstrar mtodos ou sugestes para alcan-las. 12. Remova a barreira ao orgulho da execuo, pois os empregados sabem o que est faltando na empresa, na qual preciso ouvir sugestes oferecendo subsdios e promovendo de fato um envolvimento de toda organizao. 13. Instituir um programa consistente de formao e auto-desenvolvimento. 14. Imponha mudanas na organizao, sendo uma atividade de todos os colaboradores.

2.1 Estrutura do Relatrio de Estgio O relatrio de estgio visa demonstrar a necessidade em aplicar esta ferramenta em organizaes que esto comprometidas com a qualidade do produto ou servio. No capitulo 1 foram descritos a historia do sucesso do mtodo da filosofia de gesto aplicado no Japo com o auxilio do Dr. Deming atravs dos 14 princpios gerenciais assim como a aplicao do controle estatstico do processo. O 2Capitulo tem como objetivo demonstrar todos os principio do CEP assim como a importncia do CEP tendo como ferramenta obrigatria descrito na Norma ISO TS

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16949:2002, conceitos bsicos de avaliao do histograma com base nos clculos de capacidade e capabilidade e dos limites de controle, os modelos de cartas de controle por atributos e variveis e a atualizao do CEP 2Edio sendo inseridos novos modelos de cartas de controle para aplicao em organizaes que no aplicavam o CEP em setores especficos. J no 3 Capitulo com base o capitulo 2, refere-se a aplicao da ferramenta CEP em uma industria automobilstica, na qual so discutidos em reunio os itens crticos a serem controlados atravs de requisitos especficos declarados pela Gigaplast, coletando as amostras, avaliando atravs dos histogramas a capacidade e capabilidade de cada mquina, elaborando as cartas de controle atravs dos limites de controle e realizando o treinamento de todos os colaboradores da organizao. O 4 Capitulo refere-se ao fechamento do trabalho sendo apontados os potenciais de melhoria, as dificuldades e os benefcios em implantar esta nova ferramenta na organizao.

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3. FUNDAMENTAO TERICA
3.1 Definio do Controle Estatstico do Processo O CEP (Controle Estatstico de Processo) ou SPC (Statistical Process Control) surgiu com uma necessidade de se obter um processo controlado, para isso foram utilizados os conceitos de estatstica com o propsito de auxiliar o controle da qualidade de modo preventivo. Geralmente so aplicados em processo de produo repetitivo. Durante a 2Guerra Mundial o mtodo de controle nos EUA era somente por deteco, enquanto no oriente em especial o Japo possuam um conceito de controle diferenciado maximizando os seus lucros. Sendo assim o Dr. Deming introduziu os 14 princpios gerenciais e os conceitos estatsticos de CEP na dcada de 50. Isso fez com que o Japo se reerguesse aps a guerra, pois tinham produtos de baixo custo e de alta qualidade competindo com o mercado americano. Os EUA foram introduzir esse conceito somente na dcada de 80. A ISO 9001:2008 cita a importncia do CEP para controlar o produto, e a ISO TS 16949:2009 exige a utilizao desta ferramenta. 3.2 Aplicao do CEP conforme a ISO TS 16949:2009 A ISO TS 16949:2009 aplicados na maioria das montadoras e fornecedores de autopeas determina quanto utilizao das ferramentas estatsticas o seguinte: - Item 8.1.1 Identificao de ferramentas estatsticas Refere-se ao dever de a organizao implantar e determinar conforme o APQP (Planejamento avanado do Produto) de acordo com o processo e serem includas no Plano de Controle. - Item 8.1.2 Conhecimento de conceitos estatsticos bsicos os conceitos bsicos de estatsticos como estabilidade, capabilidade, super controle e variao devem ser difundidos atravs de toda a organizao. - Item 8.2.3 Medio e monitoramento dos processos de fabricao deve-se realizar estudos de capabilidade para novos processos de fabricao e manter o seu desempenho conforme os requisitos especficos do cliente para a aprovao do produto e os seus resultados sendo documentados. Caso a capabilidade seja afetada devemos aplicar um plano de reao em que est includa a inspeo de 100% do lote e os responsveis para que o processo deixe se ser incapaz e instvel. 3.3 Conceitos Bsicos do CEP O conceito do CEP se baseia reunir as ferramentas estatsticas, com a finalidade de se obter dados confiveis para que se possam promover melhorias em seu processo.

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3.3.1 Variveis Aleatrias Controle estatstico do processo toma como base os seguintes conceitos de variveis descritos abaixo: - Varivel Discreta (Atributo): Os valores so notados em pontos isolados ao longo de uma escala de valores. Os valores so identificados como nmeros inteiros podendo ser contados um a um. A Varivel Discreta tambm conhecida como Atributo. Um exemplo seria: Quantidade de embalagens defeituosas encontrados em um lote; Quantidade de peas retrabalhadas em uma semana; Quantidade de defeitos encontrados em uma inspeo por amostragem; - Varivel Continua: So valores que geralmente so fragmentados podendo assumir qualquer ponto ao longo de um intervalo especifico de valores. Esses dados so encontrados atravs de medies. Assim sendo a Varivel Continua pode ser chamada apenas como Varivel. Abaixo alguns exemplos desta varivel: Raio de uma chaveta Woodruff; Presso do ar na linha de ar comprimido; Temperatura de um forno; 3.3.2 Causas Comuns x Causas Especiais O controle da estabilidade do processo nos permite prever ocorrncias que afetar diretamente a sua produtividade. Com base nessas possveis ocorrncias podemos promover uma melhoria continua quando a reduo da variabilidade do processo. Quanto a no conformidades apresentadas durante o controle, eles se dividem em duas classes de Causas: - Causas Comuns: so causas que ocorrem ao acaso no processo, geralmente so mais difceis identificao e a sua eliminao, respondendo por 85% dos problemas no processo. Podem ocorrer devido iluminao insuficiente, equipamentos obsoletos, treinamento operacional ineficaz. Para a reduo dos problemas gerados pelas causas comuns no devemos utilizar somente o controle estatstico e sim todas as Ferramentas da Qualidade tendo como base o ciclo PDCA (Plan Do Check Act) e os 14 Princpios Gerenciais do Dr. Deming. - Causas Especiais: so variaes de fcil identificao no processo, originadas em um determinado equipamento, mo-de-obra ou condies locais de trabalho inadequados, responsveis por apenas 15% dos problemas no processo e tendo a sua ao realizada no local de trabalho pelo prprio funcionrio.

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3.3.3 Histograma O Histograma uma das ferramentas que auxiliam o CEP, sendo elaborada atravs de barras verticais em que se possvel: Identificar as possveis causas especiais de variao; Analisar como as causas comuns podem influenciar no processo; Comparar a variao dos valores encontrados com as especificaes; Abaixo temos um exemplo em que demonstrada a quantidade de produo por dia:
52 55 55 53 54 55 Tabela 3.1 Peas Produzidas por dia 53 58 59 56 56 55 54 57 54 56 52 58 55 56 56 57 54 57 58 54 57 59 53 55

Representado deste modo fica difcil poder identificar qual a quantidade de peas produzidas por dia com maior freqncia. No entanto inserindo esses valores em um grfico a interpretao ficar mais clara.

Histograma
6 5 4 3 2 1 0 52 1 53 54 55 56 57 58 2 3 4 5 6 7 Figura 3.1 Exemplo de Histograma 59 8

Na figura citado acima visualizado com facilidade o valor que est sendo repetido com maior freqncia, neste caso o 55 com uma freqncia de 6 vezes. 3.3.4 Distribuio Normal uma das distribuies de variveis continuas que merecem destaque. Se medirmos a altura de 32 peas e distribumos de acordo com o valor encontrado em comum em um histograma veremos:

A1

A2

A3

A4

A5

A6

A7

Figura 3.2 Distribuio Normal

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Aps obter os valores da altura das peas traada a curva demonstrando a distribuio desta mquina sendo chamado de distribuio normal:

LI E

LS E

Figura 3.3 Distribuio Normal 2

LIE: Limite Inferior Especificado LSE: Limite Superior Especificado

99,73% Esta representao grfica muito til uma vez que se possvel com base em uma curva fazer comparaes ajudando no controle estatstico do processo. 95,44%

68,26%

X -3

X -2

Figura 3.4 Valores obtidos da Tabela Normal

X -1

X +1

X +2

X +3

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3.3.5 Clculos referentes ao histograma Para compreender melhor os histogramas h formulas que facilitam a interpretao dos valores obtidos. - Mdia ( X ): sendo muito utilizado a soma de todos os valores encontrados divididos pela quantidade da amostra, sendo representado: n =1 X X i n i =1

- Mediana ( X ): menos utilizado devido a sua menor preciso, porm mais rpido de ser encontrada, consiste em organizar os valores em ordem crescente e a mediana ser o valor que est posicionado no centro. Ex:
35 39 41 42 45 49 52

Mediana = 42. - Amplitude ( R ): a amplitude a diferena entre o menor e o maior valor de uma amostragem. Este mtodo impreciso uma vez que utiliza-se apenas dois valores, podendo aumentar ainda mais a sua impreciso quando se aumenta o quantidade da amostragem. R= (Maior Valor) (Menor Valor) LSE LIE - Desvio Padro ( S ): uma anlise que somente assumir valores positivos e quanto maior for este valor, mais disperso os dados se encontraro. Portanto definido pelo afastamento com relao a mdia mais prxima da aritmtica:

Zi

Zs

XI

Figura 3.5 Descrio das frmulas

XS

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Segue abaixo as frmulas para o calculo de: Zi = _______ X - Xi Xi = X - Zi = _______ X - Xi Zi 3.4 Cartas de Controle As cartas de controle so aplicadas para facilitar o acompanhamento do processo, sendo demonstrados de forma grfica em que se possvel analisar os valores encontrados com base nos limites de controle e caso necessrio sendo tomada aes para o controle do processo, com isso so minimizados os ndices de perdas. So divididas em trs etapas: 1. Coleta de dados: - Consiste em reunir todos os necessrios para a elaborao da carta de controle. 2. Controle: - Com base nos dados calculado os limites de controle. - So identificadas as causas especiais e corrigida as aes no local. 3. Capacidade: - So verificadas as causas comuns referentes variao e sendo corrigidas no sistema. Os benefcios da utilizao da carta de controle so: Podem ser usadas pelos operadores para o controle do processo Zs = _______ Xs - X Xs = X + Zs = _______ Xs - X Zs

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So facilmente separadas as causas especiais das causas comuns podendo ser solucionadas no local ou por aes da gerencia. Faz com que o processo alcance uma maior qualidade com a maior capacidade de produo gerando assim um menor custo unitrio do produto. H dois tipos de cartas, uma por variveis e outra por atributos. 3.4.1 Cartas de Controle por variveis As cartas de controle por variveis so caracterizadas na qual visa a sua centralizao e a disperso. Suas medidas como vistas anteriormente so dados obtidos atravs de medies. Os modelos de cartas utilizados so: Mdias e Amplitudes (X, R). Mediana e Amplitudes Mdias e Desvio Padro Individuais e Amplitudes

(X, R). (X, S). (X, R).

A quantidade mais utilizada para um teste de estabilidade de 25 amostras, podendo conter mais amostras permitindo assim um melhor estudo. Na preparao das cartas de controle devem ser tomadas as seguintes precaues: Verificar na coleta de dados se no h a possibilidade de misturas peas diferentes no processo. O tamanho da amostragem deve ser escolhido de forma que a variao entre as amostras seja pequena e que ao mesmo tempo seja facilmente perceptvel uma variao no comum sendo feitas as modificaes no processo. A freqncia deve permitir visualizar as modificaes no processo. Podendo no caso de o processo ficar capaz e estvel estar aumentando o intervalo entre amostras. Dirio de Bordo: uma ferramenta onde so registradas todas as ocorrncias no processo que podem afetar direta ou indiretamente a qualidade do item controlado. a) Carta de Mdias e Amplitudes (X, R): uma carta composta por clculos referentes mdia que seria a soma dos valores das amostras divididas pelo numero de amostras e a amplitude que a diferena entre o maior e o menor valor encontrado. Mdia das Mdias: + ... + X X = X1 + X 2 n n Amplitude Mdia: R = R + R + ... + R
1 2

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Calculo dos limites de controle (Mdias): LSCX = X + A2R Calculo dos limites de controle (Amplitude): LSCR = D4R LICR = D3R LIC = X - A2R X

Os limites de controle so calculados atravs de formulas que dependem do tamanho da amostra indicados na tabela abaixo (A2, D3 e D4):
n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 Tabela 3.2 Fatores para Cartas de Controle A2 d2 D3 D4 A3 C4
1.88 1.023 0.729 0.577 0.483 0.419 0.373 0.337 0.308 0,285 0,266 0,249 0,235 0,223 0,212 0,203 0,194 0,187 0,180 0,173 0,167 0,162 0,157 0,135 1,128 1,693 2,059 2,326 2,534 2,704 2,847 2,970 3,078 3,173 3,258 3,336 3,407 3,472 3,532 3,588 3,640 3,689 3,735 3,778 3,819 3,858 3,895 3,931 0,076 0,136 0,184 0,223 0,256 0,283 0,307 0,328 0,347 0,363 0,378 0,391 0,403 0,415 0,425 0,434 0,443 0,451 0,459 3,267 2,574 2,282 2,114 2,004 1,924 1,864 1,816 1,777 1,744 1,717 1,693 1,672 1,653 1,637 1,622 1,608 1,597 1,585 1,575 1,566 1,557 1,548 1,541 2,659 1,954 1,628 1,427 1,287 1,182 1,099 1,032 0,975 0,927 0,886 0,850 0,817 0,789 0,763 0,739 0,718 0,698 0,680 0,663 0,647 0,633 0,619 0,606 0,7979 0,8862 0,9213 0,9400 0,9515 0,9594 0,9650 0,9693 0,9727 0,9754 0,9776 0,9794 0,9810 0,9823 0,9835 0,9845 0,9854 0,9862 0,9869 0,9876 0,9882 0,9887 0,9892 0,9896

[Fonte:Takao 2005] B3 B4 2 E2
0,030 0,118 0,185 0,239 0,284 0,321 0,354 0,382 0,406 0,428 0,448 0,466 0,482 0,497 0,510 0,523 0,534 0,545 0,555 0,565 3,267 2,568 2,266 2,089 1,970 1,882 1,815 1,761 1,716 1,679 1,646 1,618 1,594 1,572 1,552 1,534 1,518 1,503 1,490 1,477 1,466 1,455 1,445 1,435 1,880 1,187 0,796 0,691 0,548 0,508 0,433 0,412 0,362 2,660 1,772 1,457 1,290 1,184 1,109 1,054 1,010 0,975 -

Quanto escolha das escalas para mdia eles devem ser no mnimo 2 vezes a diferena entre o maior e a menor mdia das amostras encontradas e para amplitudes so determinadas para todos os tipos de cartas de controle de variveis em deve ser no mnimo em torno de 1,5 a 2 vezes a maior amplitude encontrada.

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b) Carta de Mdias e Desvio Padro (X, S): Basicamente uma carta semelhante ao modelo X e R sendo que o nico diferencial a substituio da amplitude(R) pelo calculo do desvio padro(S) de cada amostra. Desvio Padro(S):

Analisando esta formula vemos que este modelo o melhor mtodo de controle por variveis, porm devido complexidade desta frmula so utilizadas quando a disponibilidade de recursos computacionais e a sua substituio do X e R devero ser aplicadas quando as amostras n for acima de 9. Mdia das Mdias: + ... + X X = X1 + X 2 n n Desvio Padro Mdio: S = S1 + S2 + ... + Sn

n
Calculo dos limites de controle (Mdias): LSCX = X + A3S

LIC = X - A3S X

Calculo dos limites de controle (Desvios Padres): LSCS = B4S LICS = B3S

Os fatores A3, B3 e B4 esto relacionados na Tabela 3.2 e dependem do tamanho da amostra(n). ~ c) Carta de Medianas e Amplitudes (X, R) : A utilizao de cartas _ de Medianas e ~ Amplitudes (X, R) mais uma das alternativas quanto utilizao do modelo X e R, pois h uma vantagem de no haver a necessidade de clculos, porm com relao a media os valores referentes a mediana no so muito precisos. Mdia das Medianas: ~ ~ ~ ~ X = X + X2 + ... + X n 1

Amplitude Mdia: R = R1 + R2 + ... + Rn

21

Calculo dos limites de controle (Medianas): ~ ~ ~=X LSCX + A2R ~ ~ ~ =X LICX R A2

Calculo dos limites de controle (Amplitudes): LSCR = D4R LICR = D3R

2, D3 e D4 esto indicados na tabela 2.2 e dependem do tamanho da amostra. d) Carta de Individuais e Amplitudes (X, R): H casos em que o controle baseado em leituras individuais quando so executados testes destrutivos em uma pea ou quando no apresenta nenhuma disperso no momento da medio. Apesar de ser muito utilizadas, no so sensveis a mudanas no processo com relao a X e R. Por ser composta de um nico valor poder ter uma grande variao mesmo estando estvel at 100 ou mais amostras. O Clculo de amplitude feita a partir da diferena entre os dois ltimos valores encontrados, este mtodo faz com que se tenha uma amplitude a menos com relao as leituras individuais. Mdia das leituras individuais: X = X1 + X2 + ... + Xn

Amplitude Mdia: R = R1 + R2 + ... + Rn

Calculo dos limites de controle (Mdias): LSCX = X + E2 R Calculo dos limites de controle (Amplitude): LSCR = D4R LICR = D3R -E LICX = X R 2

Os itens E2, D3 e D4 como dito anteriormente esto relacionados tabela 2.2.

22

3.4.1.1 Interpretao da carta (Variveis) As cartas de controle iro demonstrar se h ou no causas especiais no processo, a sua analise se resume em verificar a sua posio e variao.
190 140 90 LIC 40 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 LSC M ed.

Figura 3.6 Pontos fora do limite de controle [Fonte:Brando, 2006]

Quando ocorrem pontos fora do limite de controle sugere que seja verificada se foi trocado o instrumento de medio, rever se est correto o calculo dos limites de controle.
200 180 160 140 120 100 80 60 40 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 L SC

M e d.

L IC

Figura 3.7 Sete pontos consecutivos crescentes [Fonte: Brando, 2006]

190 140

LSC

M e d. 90 LIC 40 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19

Figura 3.8 Sete pontos consecutivos decrescentes [Fonte: Brando, 2006]

23

190 140 90

LSC Med. LIC

40 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19

Figura 3.9 Sete pontos acima da linha central [Fonte: Brando, 2006]
200 180 160 140 120 100 80 60 40 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 L SC

M ed.

L IC

Figura 3.10 Sete pontos abaixo da linha central [Fonte: Brando, 2006]

As figuras 3.7 a 3.10 mostra uma tendncia de 7 pontos consecutivos em que mesmo estando dentro dos limites de controle considerado como causa especial de variao devendo serem corrigidos.

Figura 3.11Pontos prximos ao limite de controle [Fonte: Brando, 2006]

Figura 3.12Pontos prximos a mdia [Fonte: Brando, 2006]

Pontos muito prximos mdia ou aos limites de controle devem-se verificar novamente os limites de controle, se os dados encontrados esto sendo corrigidos, ou seja,

24

valores com uma variao alta esto sendo eliminados ou alterados e se cada subgrupo no contm amostras de cada fluxo de processo. 3.4.1.2 Capabilidade do Processo (variveis) A capacidade ou capabilidade uma tcnica que visa atender as especificaes com folga garantindo assim a total satisfao do cliente. Para realizar um estudo estatstico dever atravs de cartas de controle apresentar um processo sem as causas especiais de variao, as leituras devem estar de acordo com a distribuio normal. A disperso natural composta por 3 desvios padro em cada direo, totalizando em 6 desvios.
Nominal Cpk LIE CP LSE

X -3
^

^ X -2

^ X -1

^ X +1

^ X +2

^ X +3

Figura 3.13 Histograma Cp / Cpk

CP: a capacidade potencial para o curto prazo, ou seja, quanto o processo capaz de produzir entre os limites especificados. dado pela frmula: Cp= LSE LIE ^ 6 CPK: o ndice de capacidade do processo em curto prazo, sendo descrita pelo afastamento da mdia dos valores encontrados (X) com relao ao Nominal. Cpki = X LIE Cpk = LSE X s ^ ^ 3 3 Na indstria automotiva o valor mnimo adotado de CP e CPk de 1,67 para novos processos e caractersticas que afetam segurana originadas por provveis falhas funcionais, 1,33 aplicado para processo corrente, visando sempre a melhoria continua deste ndice. O

25

valor de CPk sempre ser menor ou igual ao CP, quanto mais estes ndices forem maiores e iguais mais estvel estar o processo. PP: o ndice de performance potencial do processo em longo prazo de um processo instvel, segue os mesmos padres do CP, porm verificado entre os subgrupos. dado pela frmula: Pp = LSE LIE ^ 6 s PPK: Sendo o ndice de performance do processo tambm semelhante ao CPk, no entanto utilizado para verificaes a longo prazo quando se deseja verificar um processo at ento desconhecido. Ppki = X - LIE ^ 3 s Ppks = LSE - X ^ 3 s

Para obter o valor do desvio padro do processo (s) utilizar a seguinte formula:

Os valores mnimos de PP e PPk de 1,67 sendo valor de PPk ser sempre menor ou igual ao PP, quanto mais estes ndices forem maiores e iguais mais estvel estar o processo. Sugere-se que para efeitos de melhoria continua os ndices de PP/PPk e CP/CPk recomenda-se serem iguais e com ndices de no mnimo 1,67. 3.4.2 Cartas de Controle por atributos As cartas de controle por atributos geralmente so aplicados quando se utiliza calibradores onde o controle mais rpido e no requer grande habilidade para a coleta de dados, quando utilizadas para controlar os principais indicadores da qualidade informando os pontos crticos, na qual para um controle mais rigoroso dever ser utilizadas cartas de controle por variveis. Os modelos de cartas utilizados so: Carta p. Carta np. Carta u. Carta c.

26

Quanto a determinao das escalas dever ser de 1,5 a 2 vezes a maior porcentagem encontrada. a) Carta p: A carta p verifica a porcentagem de peas no conforme em uma amostra de uma inspeo. Para cada amostra utilizamos formula descrita abaixo, em que p a frao defeituosa o np so as peas no conformes e n o numero total de peas em cada amostra.

p = np
n Para a construo da Carta p constitui conforme o seguinte esquema: Linha Mdia:
N de unidades defeituosas em cada amostra

p= np1 + np2 + ... + npk n1 + n2 + ... + nk

Tamanho de cada amostra

Calculo dos Limites de Controle: LSCp = p + 3* p (1 p) n Sendo que: n = n k b) Carta Np: A carta np semelhante a carta p diferenciando apenas por suas amostras serem constantes e so marcadas valores reais de peas no conformes, fazendo com que se possa ter uma viso mais clara e a facilidade de marcao do pontos. Linha Mdia: N de unidades defeituosas em cada amostra

(1 LICp = p - 3* p p) n

np= np + np + ... + np

1 2

k
N de Subgrupos (geralmente utiliza-se 25 subgrupos)

Calculo dos Limites de Controle:

+ 3* LSCnp = np

(1 np) np n

- 3* LICnp = np

(1 np) np n

27

c) Carta u: A carta u mede o nmero de no conformidades em uma amostra analisada, com isso possvel identificar uma variedade de no conformidade em um nico item. Exemplo: 1 Bolha 3 Porosidade 2 Rebarba calculado atravs do nmero de no conformidades por unidade de cada subgrupo verificado. c =
u

n Linha Mdia:
N de no conformidades

u= c + c2 + ... + ck 1 n1 + n2 + ... + nk
Tamanho de Cada Amostra

Calculo dos Limites de Controle: LSCu = u + 3* u n

[ ]

LICu = u - 3* u n

[ ]

d) Carta c: A carta do modelo c assim como o modelo u utilizada para o controle das no conformidades, no entanto, as suas amostras so constantes. Linha Mdia:
N de no conformidades

c= c1 + c2 + ... + ck

k
Calculo dos Limites de Controle: LSCc = c + 3* c
N de Amostras LICc = c - 3* c

Para as cartas de controle p e u preciso saber que os limites calculados servem para tamanhos de amostras de n 25%, no sendo possvel manter dentro destes 25% necessrio ser recalculado a cada um dos pontos que possuir tamanho da amostra fora do que previsto. 3.4.2.1 Interpretao da carta (Atributos)

28

A analise de cartas por atributos a mesma das variveis, que so: Pontos fora dos limites de controle Tendncias de 7 pontos consecutivos crescentes, decrescentes, acima e abaixo da mdia. 3.4.2.2 Capabilidade do Processo (atributos) Para calcular a capabilidade de uma carta de controle por atributos simples. Quando o processo apresentar estvel calculado a capabilidade do processo. Carta p Carta np Carta u Carta c p np u c

Se a capabilidade do processo calculada atravs da mdia, portanto sua capabilidade como exemplo ser:

p = 0,14 1- p = 0,86

14 % de peas no conformes 86% de peas conformes

Com esses valores teremos melhorar a processo at que se atinja o nvel aceitvel que o processo obter 99,73% de peas conformes. 3.5 Atualizao do CEP para 2Edio Havendo a necessidade de algumas organizaes estarem aplicando o CEP e que em alguns casos no se encontrava nenhum modelo ideal para controlar o seu processo na qual foi necessrio em Junho de 2006 a atualizao do CEP para 2Edio, sendo adicionadas algumas tcnicas adicionais, como o: Grficos de Farol Pequenos Lotes Cusum EWMA Carta de Zonas 3.5.1 Grficos de Farol

29

O grfico de farol uma tcnica antiga de monitoramento do processo, porm ela diferenciava dos demais tipos de controle por se referenciar apenas por especificaes e no por conceitos estatsticos. Antes da atualizao do CEP quem utilizava este mtodo de controle estava em desacordo com a ISO TS 16949:2002, na 2Edio este mtodo foi liberado. Devem ser implantadas em organizaes que nunca tiveram o CEP implantado em seu processo nunca devendo ser substitudas as cartas de controle (1Edio) por grficos de farol.

Vermelho
LSE

Amarelo
TOL

Verde Verde

TOL

Amarelo
LIE

Vermelho Figura 3.14 Grfico de Farol [Fonte: TAKAO, 2007]

A sua analise composta pela seguinte regra: 2 Pontos na Zona Verde OK 1 ponto na Zona Verde e 1 na Amarela OK 2 pontos na zona Amarela do mesmo lado Ajuste 2 pontos na zona Amarela de lados opostos Pare 1 Ponto na zona Vermelha Pare 3.5.2 Pequenos Lotes Quando ocorre a necessidade de utilizar o CEP, mas h uma falta de dados para elaborar uma carta de controle devido ao tempo curto de produo e seus produtos produzidos serem de uma mesma mquina e serem semelhantes, utiliza-se a carta de pequenos lotes. Este mtodo utilizado quando: Suas especificaes devem ser analisadas e no se quer uma grande quantidade de cartas de controle. Por haver uma pequena quantidade de peas produzidas h uma dificuldade na sua interpretao e de avaliar a capacidade e capabilidade do processo (para produtos com tolerncias diferentes fazer a analise de Cp e Cpk separado).

30

Controle de produtos semelhantes com especificaes diferentes numa mesma carta de controle atravs da subtrao com relao ao nominal da pea produzida no momento. Para calculo dos limites de controle utilizado as seguintes formulas: Cartas de Mdias (D): _ _ LSCD= D + A2*R LMD= D _ _ _ LICD= D - A2*R
_

Cartas Individuais (D): _ _ LSCD= D + E2*R LMD= D _ _ LICD= D - E2*R

D=X-N D=X-N Calculo das Amplitudes (R) em cartas de Mdias e individuais: LSCR = D4R LICR = D3R LMR = R 3.5.3 CUSUM As cartas de controle de soma cumulativa uma opo quando pequenas alteraes no processo devem ser analisadas e o processo j se apresentar centralizado. No grfico de soma cumulativa registrada a soma acumulada das diferenas entre as amostras ou mdias, ao serem inseridos na carta CUSUM perceptvel a diferena no grfico.
Tabela 3.3 Exemplo soma CUSUM [Fonte: Takao, 2007]
Amostra 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 X 7,32 6,06 7,23 8,18 6,43 5,34 7,35 5,84 7,01 6,32 8,36 5,91 6,66 X-7 0,32 -0,94 0,23 1,18 -0,57 -1,66 0,35 -1,16 0,01 -0,68 1,36 -1,09 -0,34 Soma Acumulada 0,32 -0,62 -0,39 0,79 0,22 -1,44 -1,09 -2,25 -2,24 -2,92 -1,56 -2,65 -2,99

31

14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30

7,65 8,23 7,43 6,01 7,32 6,58 7,08 8,43 7,08 8,79 9,24 6,88 8,23 8,43 7,66 8,46 7,04

0,65 1,23 0,43 -0,99 0,32 -0,42 0,08 1,43 0,08 1,79 2,24 -0,12 1,23 1,43 0,66 1,46 0,04

-2,34 -1,11 -0,68 -1,67 -1,35 -1,77 -1,69 -0,26 -0,18 1,61 3,85 3,73 4,96 6,39 7,05 8,51 8,55

Com os valores da soma acumulada podemos comparar o grfico utilizado na 1Edio com a carta CUSUM.

Figura 3.15 Carta de controle CEP 1Edio x Carta CUSUM [Fonte: Takao, 2007]

32

Conforme a figura 3.15 os pontos da carta de controle utilizada no CEP 1Edio esto sob controle, no entanto na carta CUSUM foi possvel identificar uma tendncia, pois com esse mtodo possvel identificar pequenas mudanas. 3.5.4 EWMA Uma alternativa para a deteco de pequenas alteraes no processo a utilizao de cartas EWMA, porm os dados anteriores so atribudos com pesos diferentes sendo menos influenciados com o passar do tempo, este mtodo no aplicado nas cartas CUSUM. O algoritmo que determina o grfico de EWMA o seguinte: Zi = xi+(1)zi-1 Com: Z0= 0

Calculo dos limites de controle: LSC = 0 + L

0 = Valor nominal = Desvio Padro L = o n de Sigmas que define os limites de controle (geralmente utiliza-se 3 sigmas, contudo pode
ser adotado at 2.6)

[1-(1- )2i] (2-)

LIC = 0 - L

[1-(1- )2i] (2-)

= Valor definido entre a faixa de 0 a 1, sendo que quanto menor for a variao a ser detectada menor o lambda. 3.5.5 Zonas O grfico de zonas uma fuso do grfico de farol com o CUSUM, em que possui a facilidade da carta de farol com o conceito acumulativo do Cusum. So divididas em regies com 1, 2 e 3 sigmas, sendo adotada cada valor em cada regio.

Zona
Zona > 3 Zona 3 Zona 2 Zona 1 Zona 1 Zona 2 Zona 3 Zona > 3

Valor
8 4 2 0 0 2 4 8

Figura 3.16 Valores atribudos para cada regio

33

Os valores de cada ponto atribudo so somados e zerados quando o ponto atravessa a linha mdia, iniciando uma nova contagem, deve ser tomada uma ao toda vez alcanar 8 pontos seja com a soma de pontos ou diretamente, sendo que nesse caso no h necessidade em atravessar a linha mdia para zerar esse valor alcanado.

4. RELATO DO ESTGIO
4.1 Aspectos Gerais do Fornecedor A Inpacom Diemolding uma Joint Venture entre as empresas Inpacom Termoplsticos e a Diemolding Corporation, na qual revolucionou a indstria automotiva desenvolvendo e produzindo buchas especiais em ao inoxidvel prensados. Fundada em 2003 a Inpacom Diemolding com uma estrutura enxuta e moderna, tem como seus maiores trunfos, o seu trip, atendimento eficaz e qualidade assegurada, com a implementao da ISO TS 16949:2009 em que visa a melhoria contnua de seu processo produtivo e de seus colaboradores 4.2 Aplicao do Controle Estatstico do Processo Visando a necessidade de haver controle eficaz por se tratar de um item de segurana, objetivando a melhoria continua do processo tendo como base a norma ISO TS 16949:2009, foi necessrio estar aplicando o CEP no fornecedor Inpacom Diemolding. Neste caso ser citada a implantao do CEP para o produto WKR, sendo que o processo de fabricao para os demais itens fornecidos de um modo geral semelhante. Para implantar o CEP na WKR foram relatados na reunio de APQP os possveis no conformidades que podero afetar o produto final sendo citados posteriormente no plano de controle (Control Plan) o mtodo de controle do processo e a sua freqncia de inspeo. Os itens crticos de controle aplicados ao CEP descritos nos requisitos especficos Gigaplast e referenciados no plano de controle so: Altura Total. Dimetro Retificado. Rugosidade.

34

Dimetro Externo do Canal. Dimetro Interno do Canal. Localizao Externa do Canal. Localizao Interna do Canal.

O modelo ideal de carta de controle adotada para o controle do produto WKR por variveis de mdias e amplitudes (X e R), pois so dados obtidos por meios de medies possuindo um timo controle associado com a facilidade de seus clculos. 4.2.1 Coleta de Dados A coleta de dados consiste em se obter valores das amostras de cada mquina para sua posterior avaliao do histograma verificando a sua capacidade e capabilidade (CP e CPK). Para o produto WKR foi realizado o estudo nas seguintes mquinas: Prensa 6 Retifica 1 Torno 4 (Marca: ENGC mod. PH300). (Marca: ONELI Center Less). (Marca: ENGC mod. LH400).

Na prensa 6 realizada a prensagem da bucha sendo que nesta mquina foi realizado a medio da altura total (52,37 0,30mm) de 30 prensadas e o molde composto por 16 cavidades resultando em 16 peas nas quais foram obtidas os seguintes valores (Tabela 4.1):
Tabela 4.1 Resultado Dimensional da Altura Total

35

Os itens crticos como o Dimetro retificado (47,975 0,025mm) e a rugosidade (0,4 1,0 RA) so controlados na retifica 1 em que so separadas 125 peas continuas sendo divididas em 25 subgrupos de 5 amostras cada, com os seguintes valores:

Tabela 4.2 Resultado Dimensional do Dimetro Retificado

Tabela 4.3 Resultado Dimensional da Rugosidade

No Torno 4 so executadas as operaes referentes ao canal da pea, resultando nas seguintes medies: - Dimetro Externo do Canal: 44,450 0,20mm - Localizao Externa do Canal: 42,370 0,40mm - Dimetro Interno do Canal: 33,300 0,25mm - Localizao Interna do Canal: 13,250 0,25mm

36

Tabela 4.4 Resultado Dimensional Dimetro Externo

Tabela 4.5 Resultado Dimensional Localizao Externo

Tabela 4.6 Resultado Dimensional Dimetro Interno

Tabela 4.7 Resultado Dimensional Localizao Interna

Durante a coleta de dados foram encontradas peas abaixo do especificado pelo desenho na altura total, sendo que nos demais itens no foram observados previamente nenhuma anomalia no processo. 4.2.2 Analise dos Dados

37

Com base nas coletas de dados foi possvel analisar os ndices de CP e CPK de cada mquina visando o atendimento do requisito especfico Gigaplast. Os clculos dos limites de controle e a elaborao do histograma foram auxiliados pelo aplicativo SQCpack utilizado pela Inpacom Diemolding. O ndice mnimo adotado de CP e CPK na Gigaplast de 1,67. Foram citados os ndices encontrados em cada mquina. a) Prensa 6: Aps serem digitados no SQCpack os valores encontrados nas amostras, obtendo os seguintes ndices. CP: 2,943 CPK: 0,713 Avaliando o histograma percebe-se que a capacidade da mquina est capaz, porm a sua capabilidade est muito baixo o que perceptvel no deslocamento do histograma.

Figura 4.1 Histograma referente altura total antes da reforma

Com base nestes dados foi possvel discutir em reunio a necessidade em reformar o molde na ferramentaria Usifer, na qual foi aprovada a reforma do mesmo. Aps a reforma do molde obteve-se o seguinte histograma com os seguintes ndices. CP: 2,649 CPK: 2,481

Figura 4.2 Histograma referente altura total aps a reforma

38

Apresentados estes ndices para a direo, sendo possvel prosseguir com os estudos estatsticos nas demais mquinas. b) Retifica 1: So verificados na retifica o dimetro externo e a rugosidade, obtendo os seguintes ndices. Dimetro Retificado: Rugosidade: CP: 6,134 CP: 1,870 CPK: 5,987 CPK: 1,768

Figura 4.3 Histograma referente ao dimetro retificado

Figura 4.4 Histograma referente rugosidade

c) Torno 4: Os dados da localizao e dimetro interno e externo foram retirados do torno 4. Dimetro Externo do Canal: Dimetro Interno do Canal: CP: 9,915 CP: 7,841 CPK: 9,624 CPK: 7,773

Figura 4.5 Histograma referente ao dimetro externo do canal

39

Figura 4.6 Histograma referente ao dimetro interno do canal

Localizao Externa do Canal: CP: 5,141 CPK: 4,004

Localizao Interna do Canal: CP: 2,590 CPK: 2,249

Figura 4.7 Histograma referente localizao externa do canal

A partir destes dados foi evidenciada a necessidade de se reformar o molde da prensa

6 com sucesso e que nas demais maquinas so capazes de produzir o produto WKR com um CP/CPK acima de 1,67. 4.2.3 Clculo dos Limites de Controle

Figura 4.8 Histograma referente localizao interna do canal

Como citado anteriormente o calculo dos limites de controle foram calculados pelo aplicativo SQCpack tendo como base as formulas relacionadas no item 3.4.1 (a) e tabela 3.2, com isso obteve-se uma maior rapidez dos resultados dos limites de controle. Obs: As siglas esto diferentes ao utilizado no Brasil por se tratar de um programa americano. UCL = LSC (Limite Superior de Controle) LCL = LIC (Limite Inferior de Controle) Mean = Mdia Como as etapas do calculo dos limites de controle so semelhantes ser demonstrado os resultados do aplicativo e a elaborao do grfico somente da prensa 6.

Figura 4.9 Resultado dos Limites de controle

40

Com o auxilio do aplicativo foram obtidos os seguintes limites: a) Prensa 6 - Altura Total Mdia LSC: 52,38 Amplitude LSC: 0,21 b) Retifica 1: - Dimetro Retificado Mdia LSC: 47,977 Amplitude LSC: 0,007 - Rugosidade Mdia LSC: 0,79 Amplitude LSC: 0,007 c) Torno 4: - Dimetro Externo do Canal Mdia LSC: 44,465 Amplitude LSC: 0,033 - Dimetro Interno do Canal Mdia LSC: 33,312 Amplitude LSC: 0,052 R: 0,025 LIC: 0 R: 0,015 LIC: 0 R: 0,003 LIC: 0 R: 0,003 LIC: 0 R: 0,13 LIC: 0,05

_
X: 52,35 LIC: 52,32

_
X: 47,975 LIC: 47,973

_
X: 0,72 LIC: 0,65

_
X: 44,456 LIC: 44,447

_
X: 33,298 LIC: 33,284

- Localizao Externa do Canal

41

Mdia LSC: 42,315 Amplitude LSC: 0,127

_
X: 42,281 R: 0,060 LIC: 42,247 LIC: 0

- Localizao Interna do Canal Mdia LSC: 13,260 Amplitude LSC: 0,158 R: 0,075 LIC: 0

_
X: 13,217 LIC: 13,174

Com esses valores citados acima foram elaborados grficos de controle para o acompanhamento durante o processo.

Figura 4.10 Grfico de Controle

42

4.2.4 Treinamento (CEP Bsico) Com a elaborao dos grficos de controle foi necessrio estar capacitando os colaboradores a se habituarem a nova ferramenta, estando de acordo com o item 8.1.2 da ISO TS 16949:2009. Foram aplicados ao treinamento os seguintes assuntos: Implantao do CEP Conceitos Bsicos Coleta de Dados Controle de Processo Tipos de Grficos de Controle Finalidade dos Grficos Vantagem dos Grficos Estabilidade Pr controle ou Grfico de Farol Simbologia Tabelas Os Auditores da Qualidade da Inpacom Diemolding envolvidos com o processo produtivo foram treinados conforme lista de treinamento (ANEXO A), sendo responsveis por preencher os grficos de controle. 4.2.5 Barreiras x Benefcios do CEP Uma das dificuldades encontradas em estar aplicando o CEP mesmo aps o treinamento foram os problemas gerados pela resistncia a mudanas, como abandonar o controle de peas pelas especificaes do desenho e passar aos limites de controle, analise das tendncias e assim tomando as aes preventivas.

43

No entanto foi perceptvel a reduo do nvel de rejeio de peas por dimensional uma vez que era controlado de forma corretiva apenas na inspeo final separando as peas conformes das no conformes.

2010 Dez/10 Jan/11 Fev/11 Mar/11 Abr/11 Mai/11

2011 Jun/11 Jul/11 Ago/11 Set/11 Out/11 Nov/11

Nota-se que atravs da figura 4.11 os ndices de rejeies no ms reduziram drasticamente uma vez com o auxilio dos grficos de controle foi possvel detectar com antecedncia possvel ocorrncias de no conformidades, sendo assim evitando o tempo desperdiado com paradas desnecessrias de mquinas associados com medies de todo o lote para garantir a qualidade do produto final.

Figura 4.11 Indicadores da Qualidade (% de Rejeies)

2010 Dez/10 Jan/11 Fev/11 Mar/11 Abr/11 Mai/11

2011 Jun/11 Jul/11 Ago/11 Set/11 Out/11 Nov/11

Figura 4.12 Indicadores da Qualidade (Produtividade Mensal)

44

Sobrando mo de obra que antes inspecionavam apenas o produto final foi possvel deslocar os colaboradores para outras sees aumentando assim a sua produtividade (figura 4.12). Nota: Os dados referentes as figuras 4.11 e 4.12 so fictcios com devido a sua confidencialidade. 4.2.6 Monitoramento do CEP Com o preenchimento dos grficos de controle os mesmos so armazenados em sua respectiva pasta em que ao completarem 25 subgrupos realizado um estudo analisando os ndices de CP e CPK, cujos valores apresentados em cada estudo so inseridos em um grfico na qual possvel analisar o comportamento da mquina por um maior tempo. Os estudos so armazenados digitalmente e os grficos guardados no arquivo morto conforme o controle de registros durante trs anos de modo a serem prontamente recuperveis.

2011

Figura 4.13 Monitoramento do CEP

Foi citado acima o monitoramento do CEP referente ao dimetro interno do canal, cujo possvel analisar durante o ano inteiro atravs dos ndices de CP e CPK o

45

comportamento da mquina, podendo assim promover futuras melhorias no processo produtivo de cada mquina.

5. CONCLUSO
Foi conduzido o estudo do Controle Estatstico do Processo, na qual foram descritos os principais conceitos tericos assim como a sua atualizao para a 2Edio, em que foram aplicados no caso analisado grande parte dos conceitos tericos. Alguns dos princpios gerenciais adotados por Deming no Japo foram adotados na organizao, facilitando a aplicao do CEP. Atravs das reunies peridicas realizados na organizao, foi possvel adotar esta ferramenta conforme descreve a norma automobilstica e os requisitos especficos Gigaplast demonstrando analises das amostras recolhidas de cada maquina. Aps a analise foram apontadas necessidade em realizar a manuteno do molde da prensa 6 de forma preventiva. A implantao apesar de algumas interrupes momentneas devido a reforma do molde foi concluda dentro do prazo estipulado pela direo, obtendo sucesso nos seguintes objetivos: Como introduzir o CEP na organizao. Recolher amostras das mquinas que compe o processo produtivo do item WKR.

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Avaliar os ndices de Capacidade e Capabilidade de cada mquina, tendo como base os dados estatsticos para a realizao da manuteno preventiva. Escolher o modelo ideal para a elaborao da carta de controle e com o auxilio do programa SQCpack, determinar os limites de controle. Difundir em toda a organizao por meio de treinamento o conceito bsico do controle estatstico do processo e a importncia de sua utilizao. Monitorar os ndices de CP e CPK para que seja perceptvel o comportamento de cada mquina em longo prazo e atuando de modo preventivo em caso de reduo no seu rendimento. No entanto foram perceptveis as dificuldades apresentadas no durante e aps a implantao no que se refere a resistncia a mudanas de alguns colaboradores, pois o novo nem sempre vista como algo benfico, com isso foram aplicadas reciclagens de forma com que os mesmos eliminassem as possveis duvidas, compreendendo realmente a responsabilidade e o comprometimento de sua utilizao para que a ferramenta CEP tenha sucesso. Aps implantao foi possvel analisar de fato a importncia em se estar aplicando esta ferramenta, pois em comparao com as rejeies provenientes do processo antes no controlado e aps o controle na organizao foram reduzidos com nveis considerveis. Reduzindo os nveis de rejeies provenientes do controle do processo foi possveis deslocar alguns colaboradores que antes realizavam a seleo dos produtos produzidos para estarem operando as maquinas j controlada estatisticamente, sendo assim a produtividade obtiveram-se ndices satisfatrios. As paradas desnecessrias das mquinas foram reduzidas com o auxilio das cartas de controle. Com base em dados numricos apresentados no capitulo 4, conclui-se que a implantao do Controle Estatstico do Processo na Inpacom Diemolding obteve-se sucesso no final de sua aplicao. O sucesso da implantao do CEP somente possvel em organizaes que esto comprometidas com a qualidade do produto fornecido aos clientes, aliado com baixos custos de fabricao.

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REFERNCIAS
TAKAO, Ricardo. CEP Atualizao em Controle Estatstico do Processo - 2Edio. So Paulo. VTB Consultoria, 2007. TAKAO, Ricardo. CEP I Controle Estatstico do Processo Bsico. So Paulo. VTB Consultoria, 2005. ISO/TS 16949:2009. Sistemas de Gerenciamento da Qualidade - Requisitos particulares para a aplicao da ISO 9001:2000 para Organizaes de produo automotiva e peas de reposio pertinentes, 2002. CONTROLE ESTATISTICO DO PROCESSO (CEP) - Manual de Referncia 2Edio. So Paulo. IQA Instituto da Qualidade automotiva, 2005. BRANDO, Jairo. Controle de Qualidade. Modelo de documento digital do programa Power Point disponvel em <http://www.ime.usp.br/~mostra/mostra5/controle.ppt>. Acesso em: 25 set. 2011.

ANEXO A Lista de presena (Controle Estatstico do Processo Noes Bsicas)

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