CURSO: ENGENHARIA METALRGICA

UNIDADE CURRICULAR: CARACTERIZAO DOS MATERIAIS

PROFESSOR (ES): Estfano Aparecido Vieira
PERODO LETIVO: 5
Carga Horria: 30H TERICAS / 30H PRTICAS
OBJETIVOS
Geral: Apresentar os diversos mtodos e tcnicas de uso corrente na identificao e caracterizao de
materiais; Permitir uma deciso adequada sobre as tcnicas a serem utilizadas para fins especficos.
Especficos: Identificar as caractersticas microestruturais dos materiais e caractersticas constitutivas de
equipamentos de caracterizao; Escolher, manusear e aplicar corretamente as tcnicas e equipamentos de
caracterizao de materiais; Realizar e interpretar ensaios tecnolgicos de caracterizao dos materiais;
EMENTA
1- Classificao das tcnicas de caracterizao. 2- Microscopia ptica. 3- Microscpio eletrnico de
varredura (SEM). 4- Difrao de raios-x. 5- Microscopia de campo inico. 6- Anlise trmica. 7- Anlise
qumica por espectrometria. 8- Metalografia quantitativa.
PR-REQUISITO (SE HOUVER)
Cincia dos Materiais
CARGA
CONTEDOS
HORRIA
PARTE TERICA
1. Classificao das tcnicas de caracterizao. Apresentao da disciplina. Formas e
critrios de avaliao. Definio de temas e grupos para apresentao de seminrios.
4
Introduo s tcnicas de caracterizao.
2. Microscopia ptica: fundamentos bsicos do microscpio ptico, anlise em campo claro,
4
anlise em campo escuro, contraste de interferncia, aplicaes do microscpio ptico.
3. Microscpio eletrnico de varredura (SEM) e Microscopia de Transmisso: fundamentos
bsicos de SEM, contraste de voltagem, imagem de eltrons secundrios, imagem de
4
eltrons retroespalhados, aplicaes da tcnica de SEM, EDS, WDS e EBSD.
4. Difrao de raios-X: principio de funcionamento, aplicaes, metodologias para
4
identificao de fases, anlise de textura - figura plo e ODF.
5. Microscopia de campo inico: principio de funcionamento, aplicaes.
2
6. Anlise trmica: anlises trmicas diferencias, calorimetria diferencial, termogravitetria,
4
dilatometria, outros processos de anlise trmica.
7. Anlise qumica por spectrometria: spetrometria por: fluorescncia de raios-X, emisso
4
tica,
8. Metalografia quantitativa: Tamanho de gro, tamanho de precipitados, tamanho de
incluses, fator de forma, contigidade, quantificao de fases, determinao de frao
4
volumtrica.
PARTE PRTICA
1. Preparao de amostras para (microscopia tica/microscopia eletrnica de varredura)
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2. Uso de microscpios ticos.
2
3. Analise microestrtutural quantitativa.
4
4. Anlise trmica (TG, DTA, DSC).
6
5. Spectrometria por emisso tica.
3
6. Difrao de Raios X.
4
7. Microscopia Eletrnica de Varredura.
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ESTRATGIA DE APRENDIZAGEM
Aulas Expositivas Interativas.
Aplicao de lista de exerccios.
Atendimento individualizado.
Aulas em laboratrios.
RECURSOS METODOLGICOS
Quadro branco, pincel, projetor de multimdia, aulas prticas.

AVALIAO DA APRENDIZAGEM
INSTRUMENTOS

CRITRIOS

Observao
do
desempenho
individual, Provas, listas de exerccios e trabalhos envolvendo
verificando se o aluno executou com estudos de caso.
competncia as atividades solicitadas, de
acordo com as habilidades previstas.

Bibliografia Bsica (ttulos, peridicos, etc.)

Ttulo/Peridico

Autor

Ed.
1a

Tcnicas de Anlise Microestrutural

Padilha, A. F.; Abrozio

Filho, F.

Apostila - Microscopia Eletrnica de

Varredura e sua utilizao na
Resoluo de Problemas Industriais

Jorge Junior, A. M.; Botta Filho, W. J.

Local

Editora

Ano

So
Paulo

Hemus

2004

So
Carlos

UFSCar

2004

Apostila Microscopia Eletrnica de Padilha, A. F.;

Transmisso
Bleicher, L.; Sasaki, J. M. Apostila - Introduo Difrao de
Raios-X em Cristais
Wendhausen, P. A. P
Anlises Trmicas
-

So
Paulo

EPUSP

2004

Fortale
za

UFCE

2000

UFSC

2000

Metalografia
dos
Siderrgicos Comuns

So
Paulo

Produtos

Colpaert, H.

3a

LT

Edgard
2009
Blucher Ltda

Bibliografia Complementar (ttulos, peridicos, etc.)

Ttulo/Peridico

Autor

Ed.

Local

Editora

Ano

Elements of X-Ray Diffraction

Cullity, B. D.

New
York

Addison
Wesley

1987

Scanning Electron Microscopy and

X-Ray Microanalysis

Goldstein, J. et al.

1a

New
York

Ed. Plenum
Press

2001

Optical Microscopy of Carbon

Steels.

Samuels, L.

1a

Cincina ASM
tti,

1980

Microstructural Characterization of
Materials

Brandon, D.; Kaplan, W.

D.

2a

Israel

2008

Wiley

LT