Mdulo 3

Cartas de controle por atributos

Tipos de cartas de controle Atributos

Existem duas situaes em que se utilizam atributos:
1) Quando as medidas no so possveis, como caractersticas inspecionadas
visualmente (cor, brilho, arranhes e danos).
2) Quando as medidas so possveis mas no so tomadas por questes
econmicas, de tempo, ou de necessidades. Em outras palavras: quando o dimetro
de um furo pode ser medido com um micrmetro interno mas utiliza-se um calibre
passa/no-passa para determinar a sua conformidade com as especificaes.
Carta p

Proporo de no-conforme

Carta np

Nmero de no-conforme

Atributos
Carta c

Nmero de no- conformidades

Carta u

Mdia de no- conformidades

Dados discretos

Tipos de cartas de controle Atributos

Classificao X Contagem
Pergunta: a amostra tem alguma defeito?

SIM

NO

SIM

SIM

NO

Atributos do tipo SIM/NO so analisados atravs de grficos do tipo p ou np.

Pergunta: quantos defeitos tem a amostra?

Atributos que consistem na contagem de defeitos so analisados atravs de

grficos do tipo c ou u.

Convenes

n = tamanho da amostra
k = nmero (quantidade) de amostras
d = nmero de defeituosos
p = frao defeituosa
_
p = frao defeituosa mdia
c = nmero de defeitos
_
c = nmero mdio de defeitos
u = nmero de defeitos por unidade
_
u = nmero mdio de defeitos por unidade

Carta p Proporo de no-conforme

A carta p utilizada quando se deseja monitorar a proporo de peas noconformes.

As amostras coletadas devero ser classificadas em conforme e no-conforme.

Assim, antes de iniciar o processo de coleta inicial certifique-se que as pessoas
envolvidas esto capacitadas no critrio estabelecido e que o critrio est claro.
O tamanho das amostras pode ser varivel. Quanto maior o tamanho da amostra,
melhor pois a probabilidade de peas no-conformes aparecer ser maior.
A frao defeituosa da amostra a razo entre o nmero de defeituosos encontrado
na amostra (d) e o tamanho da amostra (n) [p=d/n].
A distribuio da frao defeituosa binomial, porm quando os tamanhos das
amostras forem grandes o suficiente a distribuio pode ser aproximada para a
curva normal.
= > Jarra conforme
Critrios:

= > Jarra no-conforme, tem 2 no-conformidades

Carta p Proporo de no-conforme

Construo da carta p :
1 passo: estabelecer o processo a ser monitorado, definir o tamanho das amostras,
definir qual ser a freqncia para coleta das amostras (1x por turno , 1x por dia,
1x por hora, etc.) e qual ser o nmero de amostras coletadas para o clculo dos
limites de controle.
2 passo: calcular a proporo no-conforme de cada amostra coletada, sendo:
n = Nmero de itens inspecionados (tamanho da amostra)
np = Nmero de Itens no-conformes encontrados na amostra coletada.
Calcula-se a proporo com a frmula:

p=

np
n

3 passo: estabelecer a escala de trabalho para plotar os valores na carta. Esta

escala deve ser definida com base em um histrico do processo ou com base
nos primeiros valores coletados, mas sempre deve ter como linha inicial 0
(zero) pois no h proporo negativa.
4 passo: plotar na carta os valores encontrados. No eixo y coloque a proporo
no-conforme e no eixo x a data, hora ou outra medida da coleta da amostra.

Carta p Proporo de no-conforme

Construo da carta p exemplo:
Valores para o exemplo de injeo de jarras plsticas:
Amostra

Amostra 1

Amostra 2

Amostra 3

Amostra 4

Amostra 5

Tamanho da
amostra
(n)

30

30

28

27

29

Qtde. No-conforme
( np)

Proporo noconforme ( p )

0.07

0.10

0.07

0.00

0.03

5 passo: com base nos valores coletados, calcular a frao defeituosa do processo
atravs da frmula :

n1 p1 + n2 p2 + n3 p3 + ...nkpk
p=
n1 + n2 + n3 + ...nk

= (2+3+2+0+1)/(30+30+28+27+29)= 0,0556

Carta p Proporo de no-conforme

6 passo: calcular os limites de controle:

n = n1 +n2 + n3 ... +nk = 144

LSCp = p + 3 p(1 p) / n

= 0,0556+ 3 0,0556 (1- 0,0556)/144

= 0,1129

= 0,0556 3 0,0556 (1- 0,0556)/144 = -0,0017

LICp = p 3 p(1 p) / n
LMp = p = 0,0556
7 passo: traar os limites de controle na carta e seguir com a coleta.
8 passo: analisar as tendncias do processo e estabelecer planos de ao para ajustes
necessrios e/ou melhorias.

PROPORO NO-CONFORME

Carta p Proporo de no-conforme

0,13

LSC = 0,1129

0,10
0,07

LC = 0,0556
0,03
0,00
1

3
4
AMOSTRAS
(Poderiam ser dias, horas, etc.)

LIC =-0,0017
Que igual
a zero porque
no existe o
negativo

Carta np Nmero de itens no-conformes

Este grfico similar ao anterior, com a diferena de que se deseja marcar o
nmero de defeituosos na amostra. Construo da carta np :
1 passo: estabelecer o processo a ser monitorado, definir o tamanho das
amostras, qual ser a freqncia para coleta das amostras (1x por turno, 1x por
dia, 1x por hora, etc.) e qual ser o nmero de amostras coletadas para clculo
dos limites de controle. Geralmente estabelecemos 25 amostras.
2 passo: calcular a mdia de itens no-conformes e limites de controle do
processo.
np = Nmero de itens nop-conformes encontrados na amostra coletada
k = nmero de amostras coletadas
Calcula-se a mdia de itens no-conformes com a frmula:

np1 + np2 + ...npk

np =
k

Carta np Nmero de itens no-conformes

Calcula-se os limites de controle atravs das frmulas:

LSCnp= np + 3 np(1 p)
LICnp = np 3 np(1 p)
LMnp = np
3 passo: traar os limites de controle na carta e seguir com a coleta.
4 passo: analisar as tendncias do processo e estabelecer planos de ao para
ajustes necessrios e/ou melhorias.

Carta c Nmero de noconformidades/Defeitos na amostra

Caractersticas:
Utiliza-se a carta c para monitorar a quantidade mdia de defeitos por amostra
coletada.
As amostras devem ter tamanho constante e geralmente abaixo de dez.
Aplicamos geralmente onde, em funo do histrico do processo, h a
possibilidade de ocorrer vrios tipos de defeitos de vrias origens em um
processo contnuo, ou ento quando em uma nica amostra podem haver vrias
ocorrncias.
Exemplo carta c
Amostras = 10
N de defeituosos na amostra = 4

2
1
4
3

Carta c Nmero de no-conformidades/Defeitos na

amostra
Construo da carta c:
1 passo: estabelecer o processo a ser monitorado, definir o tamanho das amostras, qual
ser a freqncia para coleta das amostras (1x por turno, 1x por dia, 1x por hora, etc) e
qual ser o nmero de amostras coletadas. Para clculo dos limites de controle,
geralmente estabelecemos 25 amostras.
2 passo: calcular a mdia de defeitos por amostra e tambm os limites de controle do
processo. A mdia de no-conformidades ou defeitos por amostra dado por:

c1 + c 2 + c 3 + c 4 + ...ck
c=
k

Calcula-se os limites de controle atravs das frmulas:

LSCc = c + 3 c
LICc = c 3 c

3 passo: traar os limites de controle na carta e seguir com a coleta.

4 passo: analisar as tendncias do processo e estabelecer planos de ao para ajustes
necessrios e/ou melhorias.

Carta c Nmero de no-conformidades/Defeitos na

amostra
Exemplo: na fabricao de celulose micro cristalina em p, de cada lote
produzido extrada uma amostra de 20 gramas e contado o nmero de
pontos pretos. Abaixo temos o resultado obtido em 15 lotes:

Lote
Pontos
Lote
Pontos

1
8
16
16

2
12
17
17

3
56
18
18

4
14
19
19

5
10
20
20

6
12
21
21

7
8
22
22

8
10
23
23

9
28
24
24

10
20
25
25

11
10
26
26

c1 + c 2 + c 3 + c 4 + ...ck
c=
= 263/15=17,5 = LMc
k
LSCc = c + 3 c

= 17,5 + 3 17,5 = 30,05

LICc = c 3 c

= 17,5 - 3 17,5 = 4,95

12
8
27
27

13
12
28
28

14
35
29
29

15
20
30
30

Carta c Nmero de no-conformidades/Defeitos na

amostra

Pontos pretos

56

LSC = 30,05

LC = 17,5
14
12
8

LIC = 4,95
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16

Lotes

Carta u Nmero de no-conformidades/Defeitos na

unidade de inspeo
Caractersticas:
Utiliza-se a carta u para monitorar a quantidade de defeitos por unidade de
inspeo.
As amostras podem ter tamanho variado e geralmente ficam em no mnimo
dez.
Carta u
N total de defeitos encontrados = 4
Unidade de inspeo = 10
N de defeitos/Unidade de inspeo = 4 / 10 = 0,4

2
1
4
3

Carta u Nmero de no-conformidades/Defeitos na

unidade de inspeo
Construo da carta u :
1 passo: estabelecer o processo a ser monitorado, definir o tamanho das amostras, qual
ser a freqncia para coleta das amostras (1x por turno, 1x por dia, 1x por hora, etc.) e
qual ser o nmero de amostras coletadas para clculo dos limites de controle.
Geralmente estabelecemos 25 amostras.
2 passo: coletar as amostras iniciais e plotar nas carta de controle atravs da frmula
abaixo:

c
u=
n
Sendo :
u = nmero mdio de defeitos por unidade de inspeo
c = Somatria do nmero de defeitos por unidade
n = unidade de inspeo (quantidade de itens, comprimento, volume, tempo, etc.)
tomada como adequada para a finalidade de inspeo

Carta u Nmero de no-conformidades/Defeitos na

unidade de inspeo

Calcular a mdia de no-conformidades por unidade por amostra e tambm os

limites de controle do processo.
- Mdia de no-conformidades por unidade:
Calcula-se os limites de controle atravs das frmulas:

c1 + c 2 + c 3 + c 4 + ...ck
u=
n1 + n 2 + n3 + n 4 + ...nk

(
LICu = u (3

)
u / n)

LSCu = u + 3 u / n

LMu = u

3 passo: traar os limites de controle na carta e seguir com a coleta.

4 passo: analisar as tendncias do processo e estabelecer planos de ao
para ajustes necessrios e/ou melhorias.

Carta u Nmero de no-conformidades/Defeitos na

unidade de inspeo

Do exemplo anterior, o tamanho da amostra era constante e igual a 20g. Ento uma
amostra de 20g igual a 1UI, portanto n = 1 (tamanho da unidade de inspeo):

u = c / n = 17,5 / 1 = 17,5 (do exerccio anterior)

(
LICu = u (3

)
u / n)

LSCu = u + 3 u / n

LMu = u

= 17,5

= 17,5 + 3 17,5/1 = 30,05

= 17,5 - 3 17,5/1 = 4,95

Exerccios
Indique se verdadeiro ou falso
1 - ( ) H somente duas categorias de cartas de controle: variveis e atributos.
2 - ( ) Cartas de controle por atributos so aplicadas para dados contnuos.
3 - ( ) A carta de controle do tipo p aplicada para monitorar a proporo de itens
no-conformes em uma amostra de tamanho varivel.
4 - ( ) A carta de controle do tipo np aplicada a processos com tamanho de
amostra varivel.
5 - ( ) A carta de controle do tipo c monitora o nmero mdio de no- conformidades
por amostra coletada.
6 - ( ) A carta de controle tipo u monitora o nmero mdio de defeitos ou noconfomidades por unidade da amostra.

Resposta dos exerccios

Indique se verdadeiro ou falso
1 - ( V ) H somente duas categorias de cartas de controle: variveis e atributos.
2 - ( F ) Cartas de controle por atributos so aplicadas para dados contnuos.
3 - ( V ) A carta de controle do tipo p aplicada para monitorar a proporo de itens
no-conformes em uma amostra de tamanho varivel.
4 - ( F ) A carta de controle do tipo np aplicada a processos com tamanho de
amostra varivel.
5 - ( V ) A carta de controle do tipo c monitora o nmero mdio de noconformidades por amostra coletada.
6 - ( V ) A carta de controle tipo u monitora o nmero mdio de defeitos ou noconfomidades por unidade da amostra.

Fim do Mdulo 3