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I. INTRODUO
No presente trabalho falar-se-a de transstores de efeito de campo ( FETS) semelhana dos
transstores bipolares, a tenso entre dois terminais do FET controla a corrente no terceiro
terminal. Analogamente, o FET pode ser usado, quer como amplificador, quer como interruptor e
tambm abordar-se-a sobre os rectificadores controlado de silicio fotoactivo (LASCR).
Ambos usados em electrnica para diferentes fins.
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1.0. TRANSSTORES DE EFEITO DE CAMPO (FET)
1.1. Introduo
Os FETs foram inventados por Julius Edgar Lilienfeld em 1926 e por Oskar Heil em 1934.
Em 1960 John Atalla desenvolveu o mosfet baseado nas teorias de William Shockley sobre
efeito de campo. Apesar de o conceito bsico dos FETs ser conhecido desde os anos trinta, o
dispositivo s se tornou uma realidade prtica nos anos sessenta. Entretanto, a partir dos anos
setenta, um tipo particular de FET, o transstor de efeito de campo metal-xido-semicondutor
(MOSFET), tornou-se extremamente popular.
FET acronimo em ingles de field effect transistor ,transistor de efeito de campo, como o nome
diz, funciona atraves do efeito de um campo elctrico na juno. Este tipo de transistor tem
muitas aplicaes na area de amplificadores(operando fora da area linear), em chaves (operando
fora da area linear) ou em controle de corrente sobre uma carga. Os fets tem como principal
elevada impiedncia podendo substituir transformdores em determinads situaes, alem disso
so usados para amplificar frequncias altas com ganho superior ao dos transistores bipolares.
Comparados com os BJT, os transstores MOS podem ser fbricados muito mais pequenos (i.e.,
ocupando uma rea de silcio muito mais pequena na pastilha de circuito integrado), alm de o
seu processo de fabrico ser mais simples. Alm disso as funes lgicas digitais e de memria
podem ser implementadas com circuitos que usam exclusivamente MOSFETs (i.e., no so
necessrios nem resistncias nem dodos). Por estas razes, a maior parte dos circuitos
integrados-em-grande escala (VLSI) so actualmente realizados com tecnologia MOS. Apesar de
a famlia de dispositivos FET incluir muitos tipos diferentes, e vamos estudar vrios, a maior
parte do captulo dedicada ao JFET .
1.2. Composio
Os FETs podem ser compostos por germnio ou silicio combinados as pequenas quatidades de
fosfro e boro, que so substncias dopantes (isto , que alteram as carecteristicas elctricas).
Os transistores de silicio so mais utilizados atualmente, sendo que transistores de germnio so
usados somente para o controle de grandes potncias.
Um fet para o uso geral apresenta trs terminais: porta (gate),fonte(source) e dreno (drain), que
permitem seis formas de polarizao, sendo trs as mais usadas:
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1.3. Categorias
O FET pode ser devidido em duas categorias:
Os JFETS e MOSFETS, que por sua vez a os MOSFETS se devidem em duas categorias:
Os termos depleo e intensificao definem o seu modo basico de operao, enquanto o nome
MOSFET designa o transistor metal Oxido Semicondutor.
1.4. JFET
JFET (em ingls: junction gate field-effect transstor) ou FET de juno, um transstor de efeito
de campo que usa materiais portadores de carga colocados perpendicularmente e em contacto
directo com seu canal para que se possa controlar a passagem de corrente elctrica. Esses
materiais podem ser do tipo P (dopado positivamente) ou do tipo N (dopado negativamente)
dependendo da dopagem de seu canal, pois eles sempre sero o oposto. Com esses materiais
colocados em contacto directo com o canal, cria-se uma zona de depleo que influenciada
pelas tenses injectadas no Gate, fazendo com que elas se "abram" ou "fechem" mais,
influenciando assim na resistncia do canal do JFET.
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Fig.1 a) Canal n
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Fig.1 b) canal
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1.4.2. Curvas Caracteristicas
Se a tenso de porta for fixada, digamos em
V GS=0 V
I D V DS
, tendo
V GS
como parmetro. A Figura 2 mostra o circuito para obter as curvas caractersticas de dreno.
O grfico da figura 3 mostra a curva de dreno do JFET quando
V GS=0 V
e a tenso de dreno
V DS =0 V
V DS
aumentando e
V GS .
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V GS =0 V
Se agora for aplicada uma tenso, de porta de digamos VGS=-1V, e o procedimento repetido,
isto , a tenso de dreno variada a partir de zero, ser obtida uma curva semelhante da
Figura 3 porem com um valor de corrente na saturao menor que IDSS. O valor de VDS que
provocar o pinamento ser menor, neste caso aproximadamente 1,8V. De uma forma geral o
valor de VDS que provoca o pinamento dado por:
O conjunto de curvas para os diferentes valores de VGS chamado de curvas caractersticas de
dreno, Figura 4.
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, Figura 5 O grfico de
I D V DS
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V
I D =I DSS 1 GS
VP
d I DS
d V GS
, Onde V DS =constante
ID
Derivando
I D =I DSS 1
V GS
em relao a
V GS
VP
na expresso:
d I DS 2 I DSS
V
2 I DSS
ID
=
1 GS =
d V GS
VP
VP
|V P| I DSS
d V DS V DS
=
d I DS I DS
, Com V GS=constante
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e dv /dt
exemplo, a transmisso de dc- alta tenso ( HVDC ) e compensao de energia reactiva esttica
ou volt-amperes reativa ( VAR )].
A LASCR fornece isolamento eltrico completo entre a fonte de luz e tiro dispositivode
comutao conversor de energia , que flutua em um potencial to alto como algumas centenas de
kilovolts. A especificao da tenso de um LASCR pode chegar to alto kv
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como 4 a 1500 A,
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com uma potncia de tiro leve ,menos de 100 mW
e dv /dt
. O di/dt
2.1. LARSC
Este dispositivo ativado pela radiao direta de luz sobre a pastilha de silcio. Os pares eltronburaco que so criados devido a radiao produzida corrente de disparo sob a influncia de um
campo eltrico. A estrutura do porto projetado para fornecer sensibilidade suficiente para
fotografar, a partir de fontes de luz prticos (ou seja, LED e capacidade de atender a alta
di/dt
e dv /dt ). Num circuito pode ser reconhecido pelos smbolos mostrados na Figura 7.
Como tem trs terminais de porta (G ), nodo ( A), catodo ( K ) e uma janela transparente atravs
da qual a luz entra observada .
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Controle de Motores; e,
E uma variedade de aplicaes informticas.
2.2.3. Caractersticas
A especificao da tenso de um LASCR pode atingir at 4 kV
potncia de tiro leve menos de 100mw. O di/dt
1500
tipicamente de 250
A , com uma
A /ms
e dv /dt
III. CONCLUSO
Aps elaborao do trabalho pode-se concluir que os FETs tem maior campo de
aplicabilidade comparado devido a seu controle de corrente que eh feito com tenso de porta
que consequentemente eh o requisito de accionamento do mesmo. E por ocupar menor
espao no circuito integrado.
Os LASCR so dispositivos usados em grande escala nos circuitos de potencia para sistemas
de HVDC.
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IV. BIBIOGRAFIA
[1] RASHID, M.H,Electrnica De Potncia Circuitos, Dispositivos E Aplicaes, Makron
Books, 1999, Brasil, SoPaulo.
[2] AHMED, A,Electrnica De Potncia, Prentice Hall, 2000, Brasil, So Paulo.
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ndice
I. INTRODUO............................................................................................................ 1
II. OBJECTIVOS GERAL................................................................................................. 1
OBJECTIVOS ESPECFICOS......................................................................................... 1
1.0. TRANSSTORES DE EFEITO DE CAMPO (FET).............................................................2
1.1. Introduo............................................................................................................. 2
1.2. Composio........................................................................................................... 2
1.3. Categorias............................................................................................................. 3
1.4. JFET.................................................................................................................... 3
1.4.1. Funcionamento................................................................................................. 4
1.4.2. Curvas Caracteristicas......................................................................................... 5
1.4.3. Curva Caracterstica de Transferncia......................................................................6
1.4.4. Parmetros do JFET........................................................................................... 8
1.4.5. Vantagens dos JFETS.......................................................................................... 8
2.0. RECTIFICADOR CONTROLADO DE SILICIO (LASCR)..................................................9
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2.1. LARSC................................................................................................................... 9
2.2.1. Aplicaes........................................................................................................ 10
2.2.2. Equipamento utilizado em:.................................................................................... 10
2.2.3. Caractersticas.................................................................................................... 10
III. CONCLUSO......................................................................................................... 11
IV. BIBIOGRAFIA........................................................................................................ 12
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