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CONCEITOS E APLICAES
COMPILADO POR:
1. PERFILAGEM.............................................................................................................................................. 1
1.1. HISTRICO ............................................................................................................................................... 1
1.2. DEFINIES E CONCEITOS........................................................................................................................ 2
1.3. PROPRIEDADES FSICAS DAS ROCHAS ...................................................................................................... 3
1.4. AMBIENTE DE PERFILAGEM ..................................................................................................................... 6
1.5. EQUIPAMENTO DE PERFILAGEM ............................................................................................................... 7
2. PERFIS BSICOS........................................................................................................................................ 9
2.1. POTENCIAL ESPONTNEO - SP................................................................................................................. 9
2.2. RAIOS GAMA - GR................................................................................................................................. 11
3. PERFIS DE RESISTIVIDADE ................................................................................................................. 13
3.1. ELTRICO - CONVENCIONAL - ES .......................................................................................................... 13
3.2. INDUO................................................................................................................................................ 13
3.2.1. Induo - Eltrico - IES ................................................................................................................ 14
3.2.2. Induo Esfrico Focalizado - ISF ............................................................................................... 14
3.2.3. Duplo Induo - DIT ..................................................................................................................... 15
3.2.4. Array Induction Imager Tool - AIT ............................................................................................... 15
3.3. PERFIS COM ELETRODOS FOCALIZADOS - LATERO-PERFIS .................................................................... 17
3.3.1. Dual Latero Log - DLL ................................................................................................................. 18
3.3.2. High-Resolution Azimuthal Laterolog Sonde - HALS ................................................................... 20
3.4. PERFIS DE MICRORESISTIVIDADE - MSFL ............................................................................................. 22
4. PERFIS DE POROSIDADE ...................................................................................................................... 25
4.1. PERFIS ACSTICOS ................................................................................................................................. 25
4.1.1. Snico - BCS/BHC ........................................................................................................................ 25
4.1.2. Snico Dipolar - DSI..................................................................................................................... 27
4.2. PERFIS RADIOATIVOS ............................................................................................................................. 30
4.2.1. Lithodensity Tool - LDT ................................................................................................................ 30
4.2.2. Compensated Neutron Logging - CNL .......................................................................................... 32
5. INTERPRETAO QUANTITATIVA DE PERFIS.............................................................................. 35
5.1. FRMULA DE ARCHIE ............................................................................................................................ 35
5.2. CLCULO RESISTIVIDADE DA GUA DA FORMAO (RW) ..................................................................... 38
5.2.1. Salinidade da gua da Formao................................................................................................. 38
5.2.2. Mtodo do Rwa Mnimo ................................................................................................................ 39
6. PERFIS SSMICOS .................................................................................................................................... 40
6.1. PERFIL SSMICO VERTICAL - VSP ........................................................................................................... 41
6.2. PERFIL DE REFERNCIA SSMICA - CHECK SHOT ...................................................................................... 45
7. PERFIS ESPECIAIS .................................................................................................................................. 47
7.1. ESPECTROMETRIA DE RAIOS GAMA ......................................................................................................... 47
7.2. PERFIL DE RESSONNCIA MAGNTICA NUCLEAR - RMN...................................................................... 48
7.3. PERFIS DE MERGULHO E DE IMAGENS .................................................................................................... 50
7.3.1. Perfis de Mergulho - Dipmeter ..................................................................................................... 50
7.3.2. Perfis de Imagens.......................................................................................................................... 53
7.3.2.1. Perfis de Imagens Resistivas ................................................................................................................. 53
7.3.2.2. Perfis de Imagens Acsticas.................................................................................................................. 56
7.4. FERRAMENTAS DE AMOSTRAGEM LATERAL ........................................................................................... 59
7.5. FERRAMENTAS DE TESTE DE FORMAO A CABO ................................................................................... 60
7.5.1. Ferramentas Convencionais - RFT/SFT ....................................................................................... 60
7.5.2. Modular Formation Dynamics Tester - MDT ............................................................................... 62
7.6. PERFIS DE AVALIAO A POO REVESTIDO ........................................................................................... 65
7.6.1. Perfis de Decaimento de Nutrons Termais - TDT/TMD.............................................................. 65
7.6.2. Perfis de Espectrografia de Raios Gama - RST/PSGT.................................................................. 66
7.7. PLATFORM EXPRESS ............................................................................................................................... 67
8. BIBLIOGRAFIA......................................................................................................................................... 68
1. PERFILAGEM
1.1. HISTRICO
Tabela 1 - Marcos histricos da evoluo dos perfis e tcnicas de perfilagem. (modificado de E.J.B.Silva &
O.R.Souza).
HISTRICO
PERODO ANOS PERFIS / EVOLUO
INICIAL 1930 / 1940 Resistividade (uma curva)
Potencial Espontneo (SP)
Medidor de mergulho (Anisotrpico - SP)
INTERMEDIRIO 1940 / 1960 Frmula de Archie (1941)
Primeiros perfis snicos (1950)
Medidor de mergulho (Resistividade)
Perfis Radioativos
Resistividade focalizada
Perfis Eletromagnticos (incipientes)
Frmula de Willie
Plote de leo mvel
DIGITAL 1960 / 1980 Digitalizao (armazenamento, processamento e
teletransmisso)
Maior preciso dos parmetros medidos
Maior confiabilidade nas leituras
Interpretao mais confivel (Plotes cruzados)
RECENTE 1980 / 1998 Snico Amplitude (compressional e cisalhante)
Espectrometria com identificao de elementos
Teletransmisso com e sem cabo
Ressonncia Magntica
Perfis de Imagem Acstica e Resistiva
2
Matriz - Para um intrprete de perfis todo material slido da rocha, incluindo
arcabouo (gros), cimento e matriz propriamente dita (argila).
Poro - Todo espao existente na rocha preenchido por fluido (gua, leo ou gs).
RESISTIVIDADE
RESISTIVIDADE X SALINIDADE
A quase totalidade dos ions presentes na gua das formaes so de Na+ e Cl-,
condutores de corrente eltrica. Quanto maior a salinidade, maior a condutividade eltrica e
menor a resistividade da rocha (Figura 1).
RESISTIVIDADE X TEMPERATURA
o
F = 1,8 x oC + 32
4
Figura 2 Grfico mostrando a relao entre resistividade e temperatura para vrias
concentraes de NaCl.
RESISTIVIDADE X POROSIDADE
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1.4. AMBIENTE DE PERFILAGEM
Poo rea limitada ao dimetro perfurado, onde atua a presso hidrosttica (PH) e
onde se forma o reboco que se desenvolve nas paredes das rochas porosas.
Zona Lavada zona invadida pelo filtrado da lama. O dimetro da zona lavada
diretamente proporcional permeabilidade e inversamente proporcional porosidade.
necessrio considerar o tempo de exposio do reservatrio ao fluido e a diferena entre as
presses hidrosttica e esttica da rocha.
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Figura 4 Ambiente de perfilagem, sendo Rm = resistividade da lama, Rmf = resistividade do filtrado
da lama, Rmc = resistividade do reboco, Rxo = resistividade da zona lavada, Sxo = saturao de gua
da zona lavada, Sw = saturao de gua, So = saturao de leo, Rt = resistividade da zona virgem e
Rw = resistividade da gua da formao.
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Figura 5 Equipamentos de perfilagem utilizados atualmente nas operaes terrestres.
8
2. PERFIS BSICOS
CARACTERSTICAS DO PERFIL
9
Esta curva apresenta, frente a folhelhos e a litologias impermeveis, um
comportamento retilneo, denominado de linha-base dos folhelhos. Frente a litologias
permeveis, o SP apresenta deflexes a partir desta linha-base. Ocorre deflexo para direita
(positiva), quando o filtrado da lama possui salinidade maior que a da formao e para
esquerda (negativa), quando a salinidade do filtrado for menor que a da gua de formao.
APLICAES
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2.2. RAIOS GAMA - GR
A ferramenta de raios gama mede a radioatividade natural das formaes, com base no
decaimento dos tomos entre istopos, acompanhada por emisso de partculas , e e
gerao de calor.
O perfil GR bsico e indispensvel em qualquer programa de perfilagem de poo
exploratrio e explotatrio. Em rochas sedimentares, a curva de raios gama reflete o contedo
argiloso da rocha, pois os elementos radioativos tendem a se concentrar em minerais argilosos
e por conseguinte, em folhelhos. As formaes limpas, arenitos quartzosos por exemplo,
tm um nvel radioativo baixo. Arenitos feldspticos, no entanto, apresentam alto ndice
radioativo.
Os raios gama podem ser entendidos como ondas eletromagnticas de alta energia
(0,1 e 10 MeV) emitidas por elementos radioativos tais como 40K, 232U e 238Th, responsveis
por quase toda radiao gama da Terra.
O equipamento consiste em um cintilmetro com um cristal capaz de emitir um fton
ao ser atravessado pelo raio gama (Figura 7). O fton detectado por um fotomultiplicador,
produzindo um impulso eltrico que registrado e transformado em uma curva. A escala
utilizada para dimensionar tal energia linear e expressa em unidade API. Uma unidade API
definida como 1/200 da diferena nas medies do perfil entre duas zonas de diferentes
intensidades de raios gama de um poo-teste na Universidade de Houston.
A curva de GR sempre registrada no primeiro track, com escala linear que pode
variar desde 0-150 a 0-300 unidades API, conforme a rea pesquisada.
Figura 7 Princpio da ferramenta raios gama, onde a radioatividade natural passa por um cintilmetro
capaz de emitir fton, que detectado por um fotomultiplicador produzindo um impulso eltrico e
transformado em uma curva.
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APLICAES
Identificao litolgica;
Correlao geolgica;
Correlao para interveno e completao de um poo;
Estimativa de argilosidade tanto qualitativamente quanto quantitativamente;
Anlise sedimentolgica, inferncias sobre ambientes deposicionais;
Identificao de discordncias geolgicas.
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3. PERFIS DE RESISTIVIDADE
PRINCPIO
3.2. INDUO
Os perfis de induo apresentam uma grande vantagem em relao aos eltricos, pois
podem ser corridos em lamas no condutivas (base leo). So mais indicados para formaes
com baixas resistividades e no apresentam boa resoluo em lamas muito condutivas (acima
de 100.000 ppm de NaCl).
PRINCPIO
A ferramenta fornece duas curvas, ambas representadas no track 4 (2+3), com escala
logartmica de 0,2 a 2000 ohm.m que apresentam as seguintes caractersticas:
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ILD (induo profunda) - obtida atravs de uma variao na disposio de
eletrodos e bobinas resultando numa leitura de resistividade com menor influncia
da zona invadida.
Observaes:
As curvas ILD e SFL, quando comparadas, podem fornecer informaes quanto
permeabilidade ou quanto extenso da zona invadida. Por exemplo, uma separao entre as
duas curvas frente a um intervalo pode caracterizar uma zona com boa permeabilidade,
enquanto que a coincidncia entre estas curvas pode indicar baixa permeabilidade.
Esta ferramenta mais moderna e substituiu a ferramenta ISF. Apresenta duas curvas
de induo, uma mdia (ILM) e outra profunda (ILD), alm da curva SFL do Induo
Esfrico Focalizado (ISF).
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Figuras 9 Configurao da ferramenta AIT e comparao das dimenses da ferramenta AIT
convencional com a AIT do Platform Express.
16
A grande inovao desta ferramenta provm do processamento que gera imagens do
reservatrio em dimenses resistivas radiais e volumtricas. Estas imagens profundas de
resistividade so apresentadas em duas dimenses, mostrando o reboco e efeitos da invaso e,
quando submetidas a tcnicas de interpretao, podem ser convertidas em imagens de
saturaes.
PRINCPIO
A ferramenta emite uma corrente eltrica constante atravs de um eletrodo central Ao.
Simetricamente a este, existem eletrodos compensadores (A1 e A2) que enviam correntes
ajustveis com o objetivo de focaliz-la perpendicularmente ao poo para dentro da formao.
A ferramenta registra a diferena de potencial entre um eletrodo monitor localizado na
ferramenta e outro na superfcie. Esta diferena de potencial proporcional resistividade da
formao (Figura 10).
Foram desenvolvidos vrios tipos de equipamentos com mesmo princpio, sempre com
objetivo de melhor focalizar as correntes na formao, buscando atingir a zona virgem. Entre
as ferramentas historicamente mais utilizadas esto o LL-3 e o LL-7.
17
Figura 10 Esquema da ferramenta evidenciando a focalizao da corrente emitida.
18
APLICABILIDADE DAS FERRAMENTAS DE INDUO E DLL
19
3.3.2. HIGH-RESOLUTION AZIMUTHAL LATEROLOG SONDE - HALS
20
Figura 13 Caractersticas da ferramenta HALS da Schlumberger desenvolvida para o sistema
Platform Express.
21
3.4. PERFIS DE MICRORRESISTIVIDADE - MSFL
22
Figura 15 Exemplo esquemtico de um reservatrio com gua doce e leo. Utilizando-se as duas
curvas de resistividade possvel diferenciar reservatrios com gua doce e salgada.
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Tabela 2 Resumo prtico para ferramentas de resistividade.
FERRAMENTA PRINCPIO APRESENTAO APLICAES OBSERVAES
IES * Emite corrente de alta * Perfil apresentado no track 2,
(INDUAO ELTRICO) freqncia e intensidade em escala linear (0 a 20 ohm.m). * Ferramenta fora de uso.
constante, gerando campo Fornece duas curvas: Induo
magntico. (40) / Normal Curta (16).
ISF * Princpio idntico ao IES, mas * Perfil apresentado no track 4,
(INDUO ESFRICO trabalha com correntes em escala logartmica (0,2 a
FOCALIZADO) focalizadas, gerando superfcies 2000 ohm.m). Fornece duas * Determinao de Rt.
eqipotenciais. curvas: Induo Profunda (40) e * Identificao de hidrocarbonetos
Esfrica Focalizada (SFL 16). e contatos entre fluidos.
* Clculo de saturao.
DIT * Princpio semelhante ao ISF. * Perfil apresentado no track 4, * Salinidade mxima de 100.000
(DUPLO INDUO) em escala logartmica (0,2 a ppm de NaCl para fluido de
2000 ohm.m). Fornece trs perfurao.
curvas: Induo Mdia (ILM), * Mais indicado para baixos
Induo Profunda (ILD) e valores de Rt.
Esfrica Focalizada (SFL).
AIT * Princpio semelhante ao ISF, * Perfil apresentado no track 4,
(ARRAY INDUTION porm com maior nmero em escala logartmica (0,2 a
IMAGER TOOL eletrodos e arranjo diferente. 2000 ohm.m). Fornece cinco
curvas de induo com raios de
investigao de 10, 20, 30, 60 e
90.
DLL * Funciona com dois eletrodos * Perfil apresentado no track 4, * Aplicaes idnticas a dos * Indicada para zonas com alta
(DUAL LATEROLOG) compensadores, simtricos, em escala logartmica (0,2 a perfis de induo acima, sendo resistividade.
emitindo correntes focalizadas 2000 ohm.m). Fornece duas que o DLL tem melhor resoluo *No funciona em lama de base
que penetram na formao curvas de investigao: profunda vertical. leo.
perpendicularmente. (LLD) e rasa (LLS).
MSFL Ferramenta com dispositivo * Perfil apresentado no track 4, * Permite medir resistividade da * Fundamental na avaliao de
MICRORESISTIVIDADE esfrico focalizado (SFL) em em escala logartmica (0,2 a zona invadida (Rxo). zonas portadoras de
menor escala, com eletrodos 2000 ohm.m). *Delimita camadas permeveis. hidrocarboneto associado gua
sobre um patim de borracha. doce.
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4. PERFIS DE POROSIDADE
PRINCPIO
A ferramenta emite uma onda sonora que viaja pela formao e detectada pelos
receptores. O que se mede o tempo decorrido entre a emisso da onda e a deteco do
primeiro sinal, que denominado de tempo de trnsito ou t.
As ferramentas BHC (BoreHole Compensated) / BCS (Borehole Compensated Sonic)
funcionam com dois transmissores e quatro receptores arranjados em pares, sendo dois
receptores para cada transmissor. Os transmissores so ativados alternadamente e as leituras
de t so feitas em pares de receptores tambm alternados, sendo computada uma mdia das
leituras ponto a ponto, automaticamente, visando eliminar problemas como irregularidades do
poo e inclinao da ferramenta. O prprio software utilizado fornece o que se denomina de
tempo de trnsito integrado (TTI), ficando registrado no lado esquerdo do track 2 em
milisegundos, permitindo calcular a velocidade de propagao da onda na rocha, diretamente
do perfil, em qualquer profundidade.
O tempo de trnsito (t) funo da litologia e da porosidade, podendo-se obter
indiretamente a porosidade total da rocha por meio da frmula de Willie (experimental).
s = t lido - t ma
t f - t ma
Onde:
s = porosidade snica;
t lido = tempo de trnsito lido no perfil;
t ma = tempo de trnsito da rocha matriz;
t f = tempo de trnsito no fluido, geralmente 189 sec/ft
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O perfil snico muito afetado pela argilosidade, pois a presena de argila nos poros
da rocha aumenta o valor do t, fazendo com que a porosidade calculada seja maior do que a
real.
Com a evoluo eletrnica na dcada de 90, novas ferramenta acsticas foram
disponibilizadas, tais como as ferramentas LSS - snico de espaamento longo e SDT - snico
digital .
A ferramenta snico de espaamento longo (LSS) possui 2 transmissores e 2
receptores, porm com maior espaamento entre os mesmos. Enquanto que na BHC/BCS o
espaamento transmissor/receptor de 3 e 5 ps, na LSS o espaamento de 10 e 12 ps
(Figura 16). A grande vantagem desta ferramenta fornecer t a uma profundidade de
investigao maior, minimizando o problema de leitura de lama em poos com grandes
dimetros ou cliper excessivo.
J a ferramenta snico digital (SDT) mais moderna, representando um
aperfeioamento da LSS atravs da utilizao de um arranjo de 8 receptores, possibilitando a
leitura de t com vrios espaamentos (3/5, 5/7, 8/10 e 10/12 ps). Este arranjo, somado
possibilidade de operao em duas freqncias (alta e baixa), permite o registro da forma da
onda completa, ou seja, ondas compressionais, cisalhantes e stoneley, porm apenas em
formaes com alta velocidades (t menor do que 100 sec/ft).
Figura 16 Comparao esquemtica entre as ferramentas BHC e LSS mostrando as diferenas entre
arranjos de transmissores e receptores.
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EFEITOS QUE AFETAM AS LEITURAS DO TEMPO DE TRNSITO
OBSERVAES IMPORTANTES
A ferramenta do snico dipolar, assim como a monopolar (SDT), foi concebida para
registrar o trem de ondas, sendo possvel individualizar as ondas compressionais (P),
cisalhantes (S) e stoneley. A diferena em relao ao snico monopolar o registro da onda
cisalhante em formaes com baixas velocidades (pouco consolidadas), mesmo quando estas
apresentam t maior que o do fluido de perfurao.
PRINCPIO
A ferramenta DSI utiliza uma fonte de emisso de onda dipolar (Figura 17) que
funciona como um pisto, gerando um aumento de presso em um lado da parede do poo e
um decrscimo do outro. Com este processo gera-se uma onda direcional/flexural, diferindo
do snico monopolar que gera uma onda multidirecional. Essa onda flexural produz na
formao ondas compressionais, cisalhantes e stoneley que so registradas nos receptores
(Figura 18).
A emisso do sinal da ferramenta feita por dois transmissores dipolares e um
monopolar, enquanto que a recepo se d atravs de 8 estaes compostas de 4 hidrofones
cada, espaadas de 6 polegadas.
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Figura 17 Esquema de transmissores e receptores da ferramenta Dipolar.
APLICAES
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Figura 18 Esquema de uma fonte dipolar que emite ondas direcionais, gerando uma onda flexural
que caminha nas paredes do poo.
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4.2. PERFIS RADIOATIVOS
PRINCPIOS
A ferramenta emite raios gama atravs de uma fonte radiativa (60Co ou 137Cs) colocada
em um patim que pressionado contra a parede do poo (Figura 19). A coliso destes raios
gama com os tomos da formao produz dois tipos de interao:
Efeito Compton - ocorre quando um fton incidente colide com um eltron, sendo
sua energia dividida entre a energia cintica do eltron e um fton (raio gama)
dissipado. O Efeito Compton proporcional densidade eletrnica da formao,
gerando assim a curva de densidade (b) no perfil LDT;
Efeito Fotoeltrico - ocorre quando o raio gama incidente apresenta baixo nvel de
energia (devido ao Efeito Compton), sendo totalmente absorvido pelo tomo
durante a coliso, transmitindo sua energia para o tomo em forma de energia
cintica. Esta interao constitui a base do perfil litolgico ou fator fotoeltrico
(Pe), pois este fenmeno depende do elemento que interage. O fator fotoeltrico
(Pe) muito pouco afetado pelas variaes da porosidade, porm muito sensvel
a qualquer mudana litolgica.
D = ma - b
ma - f
onde: D = porosidade obtida a partir do perfil de densidade;
ma = densidade de matriz,
b= densidade lida no perfil;
f = densidade do fluido que satura a rocha
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Figura 19 - Esquema da ferramenta LDT, ressaltando a proximidade com parede do poo.
FERRAMENTA E PERFIL
A ferramenta LDT constituda por um patim que passa rente parede do poo, onde
se localiza uma fonte radioativa e um conjunto de 2 detectores de raios gama (Figura 19). O
perfil normalmente apresentado no track 4 com as curvas de b, Pe e Neutro, no track 3
com a curva de correo do densidade () e no track 1 com as curvas de Raios Gama e
Cliper.
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APLICAES
PRINCPIOS
A ferramenta CNL consiste numa fonte radioativa que emite continuamente neutrons
de alta energia (4 Mev) que se chocam com ncleos de tomos da formao e vo perdendo
parte de sua energia a cada coliso. A quantidade de energia perdida ser proporcional
massa do ncleo com o qual se choca e ser maior quando o choque ocorrer com tomo de
hidrognio pois este possui massa atmica idntica a do nutron. A energia mdia perdida
nesta coliso da ordem de 50% (Figura 20).
Figura 20 Esquema mostra como a energia emitida pela fonte dissipada na formao.
32
Desta forma, a velocidade da perda de energia proporcional quantidade de
hidrognio da formao. medida que perdem energia, os neutrons mudam de estgio,
passando por epitermal (100 a 0,025eV) e termal (abaixo de 0,025eV), quando ento se
dispersam sem ordem, sem perder energia, at que sejam capturados por ncleos de tomos
tais como Cl, H, Si ou detectados pela ferramenta (Figura 21).
FERRAMENTA E PERFIL
33
Quanto apresentao em perfil, a curva de Neutro apresentada junto curva do
LDT no track 4, direita das curvas Raios Gama e Cliper. A ferramenta CNL calibrada
para rochas carbonticas, fornecendo leituras de porosidades diretas, enquanto que, para
arenitos, deve-se adicionar 4% de porosidade leitura do perfil.
APLICAES
Avaliao de porosidade;
Indicao de argilosidade;
Deteco de gs;
Identificao de litologias;
Correlao;
Aquisio tambm a poo revestido.
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5. INTERPRETAO QUANTITATIVA DE PERFIS
FATOR DE FORMAO
Ro Rw
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Este fator de proporcionalidade denominado de Fator de Formao (F), que
expresso por:
F = Ro / Rw
onde:
Ro = Resistividade da rocha 100% saturada de gua
Rw = Resistividade da gua de formao
Ro 1/
F = a / m = 1 / 2
Onde:
= porosidade;
a = coeficiente litolgico que varia de 0,6 a 2 dependendo da rocha;
m = fator de cimentao ou tortuosidade. Varia de 1 a 3, de acordo com o tipo de
sedimento, geometria do poro, tipo de porosidade, sua distribuio e grau de compactao.
Calcrios (a = 1 e m = 2): F = 1 / 2
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RELAO SATURAO VERSUS RESISTIVIDADE
Considerando as equaes:
F = Ro / Rw
F = a / m
E igualando-as, temos:
Ro = a. Rw/ m
Ou seja, para uma rocha 100% saturada de gua, a resistividade da rocha (Ro) depende
de Rw, da porosidade e dos coeficientes litolgico (a) e de cimentao (m).
Caso certa quantidade de gua de uma rocha 100% saturada seja substituda por
hidrocarboneto, a resistividade da rocha aumentar e ser chamada, ento, Rt, que a
resistividade total da rocha independente do fluido. Archie realizou esta experincia em
laboratrio medindo Rt para vrios valores de saturao de gua e de leo e chegou a seguinte
relao:
Rt = Ro/Swn
sendo n aproximadamente igual a 2.
T = T x Profundidade + T superfcie
38
Figura 23 Resistividade de solues de NaCl versus
temperatura (Grfico Gen-9, Schlumberger, 1997).
Ro = a . Rw/m onde Rw = Ro . m / a
Rwa = Rt . m / a
Como o ponto escolhido para o clculo refere-se a uma zona saturada de gua, Rt =
Ro, ento Rwa = Rw.
Na prtica calculam-se vrios valores de Rwa e o menor deles, chamado Rwa mnimo,
definido como Rw.
39
6. PERFIS SSMICOS
Figura 24 Esquema de aquisio do check shot. Observar que a fonte est prxima ao poo com um
geofone de referncia ao lado, que responsvel por medir o tempo e registrar o prprio sinal.
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6.1. PERFIL SSMICO VERTICAL - VSP
O VSP uma tcnica que permite estudar a resposta ssmica da coluna geolgica
acima e abaixo da posio do geofone no poo, o qual varia de profundidade em
espaamentos regulares, pr-determinados, independente da seo litoestratigrfica
atravessada. Fornece traos ssmicos de alta qualidade nas proximidades do poo, com melhor
resoluo e penetrao que a ssmica de superfcie, ajudando no seu reprocessamento,
calibrao e interpretao.
Com a utilizao do VSP, a propagao da onda ssmica pode ser estudada em cada
estao pesquisada, em funo do tempo e da profundidade, propiciando acesso a informaes
importantes sobre a origem de eventos primrios e mltiplos e sobre a possvel existncia de
horizontes refletores abaixo do fundo do poo, alm de possibilitar medidas da atenuao do
sinal ssmico.
PRINCPIO
FERRAMENTA
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Figura 25 Esquema simplificado de aquisio do VSP, onde se ressalta a presena de trs tipos de
ondas registrados em tempos distintos.
FUNCIONAMENTO E AQUISIO
So empregados vrios tipos de fontes ssmicas para aquisio dos perfis ssmicos,
sendo trs as principais caractersticas necessrias:
potncia - o poder de penetrao das ondas ssmicas depende da quantidade de
energia liberada pela fonte. Quanto maior a potncia, maior ser a profundidade de
investigao;
assinatura - a fonte dever proporcionar uma assinatura de curta durao,
semelhante a um impulso (spike) e livre de distores e rudos;
repetitividade - a forma do pulso ssmico no deve variar ao longo da perfilagem,
para no afetar a qualidade dos dados obtidos.
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Figura 26 Formas mais comuns de arranjos para operaes em terra e no mar com e sem offset.
Fonte: Ssmica de Poo WEC Brasil, 1985.
A fonte ssmica mais verstil o canho de ar (air gun) que pode ser usado tanto no
mar quanto em terra, sendo que, neste caso, o canho fica posicionado dentro de um poo
escavado previamente e completado com lama (Figura 27). Este canho, alimentado por um
compressor de ar, acionado de forma a gerar um pulso ssmico, na superfcie, que ser
registrado pelo geofone posicionado, em profundidade, dentro do poo. O sinal tambm ser
captado por um geofone/hidrofone na superfcie, posicionado prximo a fonte, registrando o
que se denomina de tempo de referncia (tempo zero). Mede-se a partir da o tempo entre o
sinal de referncia e o geofone dentro do poo. Ambos os sinais so registrados em fita
magntica na unidade de perfilagem.
A fim de controlar a consistncia dos tempos registrados e de eliminar possveis rudos
so efetuados diversos disparos de canho com o geofone em uma mesma posio, em geral 5
ou 7.
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Figura 27 Utilizao do air gun em terra e especificaes para o poo de disparo.
Fonte: Ssmica de Poo WEC Brasil, 1985.
PROCEDIMENTOS DE CAMPO
No campo, antes de iniciar uma operao de VSP, o gelogo far a escolha dos nveis
para posicionar os geofones que devem ficar firmemente ancorados na parede do poo.
Durante a execuo da operao, deve haver um monitoramento do desempenho da fonte a
fim de assegurar que os pulsos de sada sejam uniformes e que haja manuteno da qualidade
dos dados na relao sinal/rudo.
Os dados do perfil VSP podem ser processados na unidade da companhia
(Halliburton/Schlumberger) logo aps a concluso da perfilagem, permitindo decidir, de
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forma rpida, a prxima programao a ser executada no poo. O VSP processado na locao
fornece dois dados fundamentais para se decidir a continuidade ou no da perfurao que so:
relao entre profundidade do poo e escala de tempo na seo ssmica e previso de
horizontes refletores ainda no atingidos.
APLICAES
O Perfil de Referncia Ssmica tem como objetivo medir o tempo que um pulso de
onda sonora, gerada na superfcie, leva para chegar a um geofone colocado a uma
profundidade determinada, no poo. So amostrados pontos onde se tem interesses
sismoestratigrficos, tais como: topos das formaes, marcos eltricos e ssmicos,
reservatrios-objetivos, mudanas litolgicas, mudanas de caractersticas identificadas em
outros perfis.
O Perfil de Referncia Ssmica geralmente corrido em perfilagens finais de poos
exploratrios. Pode ser registrado em poos j revestidos.
A ferramenta e os procedimentos so os mesmos utilizados no Perfil Ssmico Vertical
(VSP), diferindo, essencialmente, no espaamento dos pontos amostrados e registrando
apenas a primeira chegada de energia (first break).
APLICAES:
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O Perfil de Referncia Ssmica muito til para correo de velocidades intervalares
em sees ssmicas. As aplicaes desta ferramenta limitam-se basicamente a:
obteno do tempo snico dos horizontes litolgicos, a fim de checar os tempos
utilizados na interpretao das sees ssmicas;
calibrao do perfil snico e confeco do sismograma sinttico.
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7. PERFIS ESPECIAIS
PRINCPIOS
FERRAMENTA
APLICAES
47
7.2. PERFIL DE RESSONNCIA MAGNTICA NUCLEAR - RMN
HISTRICO
PRINCPIOS
Magnetos localizados na ferramenta geram uma fora magntica (170 Gauss) que
alinham os protons de hidrognio presentes na formao (Figura 28). Entre estes magnetos
existe uma antena que emite pulsos de radiofreqncia que deslocam os protons 90o em
relao direo imposta pelos magnetos. O movimento de precesso, retorno ao alinhamento
inicialmente produzido pelos magnetos, gera um sinal que detectado pela antena ao longo de
pulsos de medio.
A constante de tempo da razo de decaimento de energia destes sinais denominada
de tempo de relaxao transversal (T2) e funo da distribuio de poros na formao e no
da litologia. O processamento destes dados produz a sada primria desta ferramenta que a
curva de distribuio do tempo de relaxao (T2), atravs da qual possvel chegar a vrios
parmetros de reservatrio.
FERRAMENTAS
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Figura 28 Seo do patim da ferramenta (CMR) mostrando a antena e os dois magnetos permanentes
que foram o alinhamento dos protons de hidrognio na formao. Os plotes mostram que o tempo de
relaxao transversal (T2) funo do tamanho do poro.
APLICAES
Porosidade efetiva;
Porosidade e volume de fluido livre;
Estimativas de permeabilidade atravs de frmulas empricas;
Volume de hidrocarbonetos na zona invadida, a partir do cut-off de T2;
Porosidade total independente da litologia (ferramentas CMR-200 e MRIL).
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7.3. PERFIS DE MERGULHO E DE IMAGENS
CURVAS DE MICRORESISTIVIDADE
REGISTRADAS POR 4 ELETRODOS
POO PATIM 1 PATIM 2 PATIM 3 PATIM 4
TRAJETRIA
DOS
PATINS AO LONGO
DO POO
PONTOS DE
CORRELAO
QUE DEFINEM
O PLANO
PLANO
INCLINAD0
ATRAVESSANDO
O POO
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Durante a perfilagem so geradas, de acordo com a ferramenta, 4, 6 ou 8 curvas de
microrresistividade, correspondentes a cada eletrodo, uma curva de azimute e uma de
mergulho do poo, duas ou trs curvas de cliper e uma da rotao da ferramenta registrada
em um patim de referncia. A posio deste patim referenciada em relao ao norte
magntico, o que permite posicionar espacialmente a ferramenta. Feies semelhantes
presentes nas curvas de microrresistividade so correlacionadas atravs de processamento
matemtico, definindo planos atravessados pelo poo, via de regra correspondentes a
estruturas geolgicas (Figura 29). O processamento tambm permite, utilizando as demais
curvas obtidas, posicionar no espao os planos identificados, levando em considerao a
declinao magntica. Diferentes tipos de processamento, obtidos com a utilizao de
parmetros matemticos especficos, so utilizados, dependendo do tipo da anlise objetivada,
seja estrutural ou estratigrfica.
Na apresentao final do perfil, os planos so representados, em profundidade, com
um smbolo composto de um crculo, do qual parte uma pequena reta. A posio do crculo
indica o ngulo de mergulho em uma escala horizontal e o sentido da reta indica o azimute do
mergulho, estando o norte no sentido do topo do perfil. O direcionamento do poo tambm
pode ser representado desta forma (Figura 30).
INCLINAO
NGULO DE MERGULHO () DO POO ()
APLICAES
52
7.3.2. PERFIS DE IMAGENS
54
CAL 3
10 20
CAL 2
10 20
CAL 1
10 20 TRUE DIP HOLE
GR RESISTIVE IMAGE ANGLE & DIRECTION DRIFT
10 100 0 360 0 10 20 30 40 50 60708090 0 10
9000
9100
9200
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Orientation North
Figura 34 Interpretao do perfil em
0 120 240 360
Resistive DINAMIC IMAGE Condutive workstation
Condutive Fracture Condutive Fracture
(Sinusoid) True Dip
Orientation North
0 Deg 90
Bed Boundary Bed Boundary
(Sinusoid) True Dip
Orientation North
0 Deg 90
Uncorformable Bed Boundary Uncorformable Bed Boundary
(Sinusoid) True Dip
Orientation North
0 Deg 90
Inter Cross Bed Inter Cross Bed
(Sinusoid) True Dip
Orientation North
0 Deg 90
APLICAES
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Os perfis de imagens acsticas so uma alternativa s ferramentas de imagens
microrresistivas, especialmente em ambientes de lama base leo, onde estas ferramentas no
podem ser corridas. Fornecem imagens de toda a circunferncia do poo, com um espectro de
cores-padro de 256 tonalidades. O princpio da ferramenta consiste na emisso e recepo,
atravs de um transdutor giratrio centralizado (Figura 35), de um pulso ultra-snico refletido
na parede do poo. So registrados a amplitude e o tempo de trnsito deste pulso, que geram
dois distintos perfis de imagens (Figura 36).
Prof.
(M)
2290
2295
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As ferramentas de perfis de imagens acsticas no possuem um sistema prprio de
navegao e devem ser corridas com uma ferramenta direcional para permitir a correta
orientao das imagens, do desvio e mergulho do poo. Elas fornecem, diferentemente das
ferramentas de Dipmeter convencionais e de imagens resistivas, uma imagem do calibre do
poo, ao invs de curvas de cliper.
Os perfis de imagens acsticas, assim como os resistivos, tambm so passveis de
processamentos automticos para obteno dos mergulhos estruturais. No entanto, os
resultados so menos confiveis, em funo da menor sensibilidade das leituras.
As imagens acsticas tambm pode ser interpretadas em estaes de trabalho,
possibilitando a identificao e anlise de fraturas, do acamamento sedimentar e da geometria
do poo.
Ferramentas de imagens acsticas tambm podem se corridas em poos revestidos
com os objetivos de investigao da qualidade da cimentao e estado do revestimento.
APLICAES
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7.4. FERRAMENTAS DE AMOSTRAGEM LATERAL
59
7.5. FERRAMENTAS DE TESTE DE FORMAO A CABO
SEQNCIA OPERACIONAL
Assentamento
61
K = 3300 x q x em md e Ip = 15.5 x q em BPD/psi.ft
p p
onde:
Ferramenta de teste a cabo planejada em mdulos, pode ser montada com diferentes
configuraes conforme os objetivos da operao. Os mdulos disponveis so os seguintes:
Mdulo do sistema eltrico: fornece eletricidade ferramenta.
Mdulo do sistema hidrulico: fornece fora hidrulica a toda ferramenta.
Mdulo single-probe: semelhante ao sistema disponvel nas ferramentas
convencionais, equipado com packer e filter-probe, dispondo ainda de sensores de
temperatura e resistividade. Estes novos equipamentos permitem a anlise e
reconhecimento do fluido durante o fluxo de amostragem. Opcionalmente este
mdulo pode dispor de um sensor de presso a quartzo.
Mdulo multi-probe: dispem, alm do probe padro de amostragem, de mais dois
de observao, para registrar o comportamento das presses durante o fluxo. Estes
so posicionados adequadamente para obteno dos valores de permeabilidade
horizontal e vertical (Figura 40).
62
Mdulo de anlise tica de fluido (OFA): deve ser utilizado em casos onde o
sensor de resistividade no capaz de discriminar o tipo de fluido, como no caso
da presena de gs, em poos de lama base leo e formaes com gua doce.
Utiliza tcnicas de medida do ndice de reflexo e de absoro tica para
caracterizar o fluido amostrado (Figura 41).
MEDIDOR DE
NDICE DE REFLEXO
(DETECO DE GS)
LINHA DE FLUXO
MEDIDOR DE
ABSORO TICA
(IDENTIFICADOR DE LQUIDO)
GUA GS LEO
63
Figura 43 Composio do MDT para teste a cabo
com dual-packer.
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7.6. PERFIS DE AVALIAO A POO REVESTIDO
APLICAES
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7.7. PLATFORM EXPRESS
Figura 46- O sistema Platform Express oferece duas opes de ferramentas de resistividade.
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8. BIBLIOGRAFIA
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