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Sumário—Os sistemas de detecção de arco voltaico (“arc-flash O sistema de 60 Hz é solidamente aterrado e inclui um
detection” – AFD) fornecem um meio para redução da energia do cubículo “metal-clad” trifásico especificado para 4.160 V
arco voltaico baseado no custo benefício ao possibilitar a (fase-fase) com espaçamento entre os condutores de 70 mm. A
abertura rápida após o início de um evento com arco voltaico.
Para demonstrar que um sistema AFD vai operar corretamente
distância de trabalho típica é 910 mm. A corrente de falta
sob condições reais de arco voltaico, é necessária uma sólida é fornecida como 36,000 A.
metodologia de testes de qualificação. Os testes com sinais de
nível baixo (bancada) propiciam um ponto de partida econômico
e seguro para testar a operação correta de um sistema AFD.
Contudo, os testes com sinais de nível baixo não comprovam se o
sistema vai operar durante condições reais de faltas com arco
voltaico. Os testes de qualificação completos exigem que
Barra de
condições reais de faltas com arco sejam criadas usando uma 4.16 kV
corrente de falta, tensões do sistema e espaçamentos entre
condutores que sejam comparáveis ao ambiente de operação
esperado de um sistema AFD. Ibf = 36 kA
Testes de qualificação de um novo sistema AFD foram
executados em um laboratório de testes de alta corrente. Este
programa de testes demonstrou a confiabilidade e a velocidade
Cubículo
de abertura do sistema AFD para várias combinações da Metal-Clad
corrente de falta, tensão do sistema, espaçamento entre
condutores e localização dos sensores do AFD. Os resultados dos
testes mostram o desempenho do sistema quando os sensores do
Carga
AFD são totalmente envolvidos pela explosão do arco, bem como
o desempenho do sistema quando uma autodiagnose é efetuada
Fig. 1. Sistema usado como exemplo.
durante um evento com arco voltaico. Este artigo fornece os
métodos de teste e os resultados dos testes de qualificação de alta A. Determine as Correntes da Falta com Arco
corrente do sistema AFD, demonstrando assim que o sistema
De acordo com [1], a impedância do arco reduz a corrente
fornece AFD e abertura dentro das condições de operação
especificadas. da falta com arco para um valor menor do que o da corrente da
falta sólida. Para sistemas de média tensão, a corrente da falta
I. INTRODUÇÃO com arco é calculada como uma função da corrente da falta
sólida.
Este artigo demonstra a redução dos riscos do arco voltaico
obtida pela utilização da função de detecção de arco voltaico log Ia = 0.00402 + 0.983 log Ibf
(“arc-flash detection” – AFD) de um relé de proteção. O nível log Ia = 0.00402 + 0.983 log(36) = 1.534 (1)
de risco de um arco voltaico é calculado usando um modelo
Ia = 101.534
= 34.2 kA
matemático da IEEE 1584-2002 [1]. Conforme descrito por
Mark Zeller e Gary Scheer em [2], a energia de alto risco onde:
produzida por um evento com arco voltaico é proporcional à Ibf é a corrente da falta sólida (kA).
tensão, corrente e duração do evento (V • I • t). Um relé de Ia é a corrente do arco (kA).
proteção pode afetar diretamente a duração do evento, B. Determine a Duração do Arco
resultando numa redução proporcional da energia do arco
voltaico. A referência [2] mostra que esta redução na energia A duração do arco é determinada como o tempo necessário
do arco voltaico é significativa. para detectar o arco e interromper a corrente do arco. Para
disjuntores operados por relés de proteção, esta duração é a
II. EFEITOS DOS TEMPOS DE OPERAÇÃO DO RELÉ DE soma dos dois tempos de operação seguintes:
PROTEÇÃO NA ENERGIA INCIDENTE • O tempo gasto para que o relé de proteção detecte a
condição de arco voltaico e, em seguida, para operar o
Um sistema usado como exemplo ilustra o efeito dos
circuito de saída de trip. Para os propósitos deste
tempos de operação do relé de proteção na energia incidente.
artigo, o tempo de trip do relé de proteção é definido
Este sistema está mostrado na Fig. 1.
desde o início da corrente da falta com arco até o
2
descoberta) e o sensor pontual de fibra óptica, que está é acoplada ao cabo de fibra óptica adjacente e retorna para o
mostrado na Fig. 2. Os sensores do loop de fibra óptica são sensor óptico do relé. Para qualquer tipo de sensor, a luz
otimizados para proteção de recursos de grande porte e detectada durante a autodiagnose é comparada com valores
distribuídos, tais como barramentos de baixa e média tensão, limites superior e inferior, verificando assim a integridade dos
que podem envolver múltiplos compartimentos do cubículo. O componentes eletrônicos dos sensores de luz e medindo a
comprimento do loop (tipicamente de 1 a 50 m) pode ser atenuação do caminho da fibra óptica. Um resultado da
customizado para atender à aplicação. Os sensores pontuais autodiagnose que esteja fora dos limites do teste resulta em
são otimizados para proteção de compartimentos individuais, um alarme de alerta, indicando que o sensor pode estar com
oferecendo localização precisa do evento de arco voltaico. Os defeito, desconectado ou danificado.
sensores podem estar localizados remotamente (longe do relé), A função da autodiagnose é extremamente importante,
com o comprimento máximo da fibra atingindo 35 m. considerando a natureza crítica da função da proteção contra
arco voltaico. Ela habilita a instalação fácil e amigável,
garantindo, ao mesmo tempo, que todos os componentes do
sistema estejam intactos e prontos para funcionar a qualquer
momento. Cortes, dobras e raspaduras na fibra óptica são
facilmente detectados e reportados para o operador. O sistema
também inclui uma função de medição da intensidade da luz
ambiente, a qual é usada para ajudar a definir o limite de
intensidade da luz, e uma função de oscilografia da luz, usada
para ajudar na análise de qualquer evento de trip.
Na operação diária, é bem possível que um evento com
arco voltaico possa ocorrer durante uma autodiagnose
Fig. 2. Sensor pontual de fibra óptica usado no teste. periódica do sensor de arco voltaico. Esta possibilidade requer
que um dispositivo de proteção seja capaz de distinguir entre a
A medição real da intensidade de luz é efetuada pelos luz produzida por um arco voltaico e a luz produzida pela
fotossensores localizados dentro do invólucro do relé. Os autodiagnose. Um dos objetivos dos testes foi provar que a
materiais do sensor pontual, do loop e do cabo de fibra óptica autodiagnose não vai interferir no AFD.
são especificados para suportar a mesma temperatura
ambiente de –40° a +85°C do relé de proteção. Contudo, IV. MÉTODO DE TESTE
durante um evento com arco voltaico, as temperaturas no
plasma, ou perto do plasma, do arco voltaico são estimadas em Para os equipamentos do sistema elétrico de potência, é
aproximadamente 16,000°C, bem fora da faixa de operação normal haver testes de desempenho baseados em normas
normal. industriais para uma operação correta do dispositivo. Por
Baseando-se numa investigação inicial, era esperado que exemplo, os medidores de eletricidade de alta precisão são
essas temperaturas extremas fossem danificar ou destruir os testados de acordo com as normas ANSI C12.20 e IEC 62053-
sensores ópticos. Entretanto, a simplicidade e a robustez do 22. Os relés de proteção são testados de acordo com as séries
projeto dos sensores nos levaram a acreditar que eles de normas IEEE C37.90 e IEC 60255. Infelizmente, não há
conduziriam um sinal de luz para o relé (executando sua atualmente normas industriais para testes do desempenho de
função) antes de serem danificados pelas temperaturas um relé AFD. Como resultado, tivemos que desenvolver nosso
extremas. Isso se baseia no raciocínio de que a luz trafega próprio método de teste.
mais rápido quando comparada ao tempo necessário para que A. Testes de Bancada e Limitações
altas temperaturas sejam atingidas. Esta abordagem é ajudada Os testes iniciais foram executados na bancada de
pela operação extremamente rápida do relé, com a decisão de engenharia usando sinais luminosos de nível baixo.
trip do relé sendo tomada dentro de 2 ms a partir do evento do Desenvolvemos uma fonte de luz de nível baixo para testar a
flash inicial. Uma vez que a decisão de trip tenha sido tomada, capacidade de detecção de luz do relé. Além disso, projetamos
uma operação adicional dos sensores se torna irrelevante. Um um dispositivo para calibração da intensidade da luz, com
dos objetivos dos testes foi validar essas suposições. capacidade de medir padrões de sensibilidade tridimensional.
D. Autodiagnose dos Sensores de Luz Um dispositivo “testador de arco voltaico” especializado
A integridade óptica e mecânica dos sensores de arco (“arc-flash tester” – AFT) foi desenvolvido para fornecer um
voltaico é automática e periodicamente testada através do teste flash de luz LED branca de alta intensidade, o qual pode ser
de “loopback”. Um LED acopla a luz de teste em uma das coordenado no tempo com um evento de sobrecorrente,
duas fibras ópticas do sensor de arco voltaico. Para um sensor conforme mostrado na Fig. 3. O AFT é usado em combinação
tipo loop, esta luz trafega através do cabo de fibra óptica de com uma fonte de corrente externa para fornecer
volta para o sensor óptico do relé. Para um sensor pontual, a simultaneamente um flash de luz e sobrecorrente para o relé
luz trafega através do cabo de fibra óptica para a cúpula de proteção.
translúcida do sensor pontual. A luz é espalhada pelas
propriedades ópticas da cúpula. Uma porção da luz espalhada
5
e o número de eletrodos podem ser ajustados para atender às 2002. A tensão não tem efeito na En. Para E, a tensão apenas
diversas configurações de baixa e média tensão. afeta o fator de cálculo Cf. Como resultado, nossos testes da
classe de tensão 15 kV foram executados com um
B. Cenários dos Testes
espaçamento dos eletrodos de 203 mm (8 in), correspondendo
O laboratório de testes de alta corrente forneceu vários ao espaçamento grande encontrado no cubículo de 15 kV. A
níveis de tensões e correntes de falta com arco para simular os tensão inicial aplicada foi somente 3,000 V porque o
cenários de teste, conforme resumido na Tabela II. laboratório de alta corrente não pôde fornecer correntes de
TABELA II faltas elevadas para 15 kV.
SUMÁRIO DOS CENÁRIOS DE TESTE *
D. Relés Sob Teste
Classe de
Tensão
600 V 2,400 V 15 kV Três relés de proteção de alimentadores foram usados
como os equipamentos a serem testados. Os relés foram
Configuração Trifásica Fase-fase Fase-fase colocados junto à caixa de teste, protegendo-os da explosão
Espaçamento direta do arco voltaico. Cada relé foi equipado com quatro
25.4/1 70/2.75 203/8
(mm/in) sensores de arco voltaico. Isso forneceu 12 resultados do
600 2,400 3,000
desempenho dos sensores para cada teste de arco voltaico. O
Tensão inicial
tipo de sensor, pontual ou loop, e os comprimentos dos cabos
Corrente de de fibra óptica foram variados para os testes.
2, 5, 15, 22 1, 4, 17, 35 0.8, 1.4, 5
falta (kA)
* E. Instalação dos Sensores Ópticos
Todos os testes foram executados a 60 Hz.
Os sensores pontuais e de fibra óptica descoberta foram
Devido às limitações da estação de testes, as faltas instalados dentro da caixa de teste. Esses sensores estavam a
trifásicas foram efetuadas apenas no nível de baixa tensão. 0.5 m de distância dos eletrodos. Precisamos também testar o
Para os testes de média tensão, somente foram efetuados testes desempenho dos sensores em diferentes distâncias dos
fase-fase. Isso é razoável, uma vez que as faltas com arco têm eletrodos, especificamente para 1, 2 e 3 m. Essas distâncias
probabilidade de iniciar como uma falta fase-fase ou fase-terra exigiram a utilização de stands de teste externos para instalar
e, em seguida, evoluir para uma falta trifásica. Nos testes de os sensores pontuais e os sensores de fibra óptica descoberta.
um sistema AFD, estamos mais interessados em determinar a
rapidez com que a falta com arco fase-fase inicial pode ser F. Instrumentação do Laboratório
detectada. Três transformadores de corrente (TCs) de 2000:5 foram
instalados na barra de alimentação e conectados em série com
C. Tensão da Falta com Arco
os três relés. TCs separados foram conectados ao registrador
Outra limitação da estação de testes consiste na capacidade de formas de onda do laboratório (“laboratory waveform
de fornecer 15 kV para correntes de faltas elevadas. Isto não recorder” – LWR). Esses TCs mediram a corrente da falta
teve impacto em nosso teste porque em uma falta com arco com arco de cada eletrodo.
real, uma vez que o arco tenha iniciado, a tensão nos eletrodos O contato de saída de trip do relé de alta velocidade de
é apenas uma fração da tensão de circuito aberto. cada relé foi fornecido com uma tensão de 48 Vdc (“wetting
Como exemplo, para um espaçamento entre condutores de voltage”) e conectado a uma entrada do LWR. O LWR
152 mm (6 in), a tensão de arco é uma forma de onda não registrou as correntes de falta e todas as saídas de trip dos três
senoidal com uma magnitude de apenas 250 V rms, conforme relés. Isso permitiu ao LWR determinar com precisão o tempo
mostrado na Fig. 5 (registrada durante um dos testes). de operação do arco voltaico de cada relé, conforme medido
desde a aplicação da corrente de falta até a condução de
corrente pelo contato de saída de trip do relé.
O laboratório de teste estava também equipado com uma
câmera de alta velocidade capaz de registrar 2,000 quadros por
segundo (“frames-per-second” – fps). Esta câmera incluía
canais para aquisição de dados de entrada analógicos
instantâneos que registram o valor analógico de cada quadro
do vídeo. Essas entradas analógicas foram usadas para
registrar a corrente de falta e um dos contatos de saída de trip
Fig. 5. Corrente e tensão da falta com arco.
do relé mostrados na parte superior da Fig. 6. A câmara de
A Fig. 5 demonstra a característica de carga não linear de vídeo de alta velocidade forneceu um método independente
uma falta com arco. Uma vez estabelecido, o arco vai conduzir para registrar a luz do arco voltaico, permitindo a comparação
tanta corrente de falta quanto estiver disponível na pequena com a corrente de falta e desempenho da saída de trip do relé.
tensão de arco. A tensão aplicada inicialmente tem muito
pouca relação com a energia incidente e tensão da falta com
arco resultante. Isso pode ser visto matematicamente nas
fórmulas (4) e (5) da energia incidente da norma IEEE 1584-
7
Loop e Pontual
1 3.1 1.6
2 3.7 2.2
3 3.6 2.1
B. Testes Subsequentes
Um total de 20 testes baseados no procedimento “arcos em
uma caixa” foi executado. Esses testes abrangeram todos os
cenários de teste da Tabela II. Para os 20 testes, o tempo
médio de trip (conforme medido desde a aplicação da corrente
de falta até a condução de corrente pelo contato de saída de
trip do relé) foi de 3.7 ms. O tempo médio de trip desde o Fig. 10. Os sensores de arco voltaico reportam o evento completo.
início da luz visível é estimado em 2.2 ms. Isso é calculado
A inspeção subsequente do sensor pontual indicou danos à
subtraindo o atraso de 1.5 ms entre a aplicação da corrente de superfície externa do material do sensor. Isso pode ser
falta e o início da luz visível do valor medido de 3.7 ms.
observado através do escurecimento do material branco do
C. Durabilidade dos Sensores sensor mostrado na fotografia da Fig. 9. Um resultado
Esperávamos que os sensores ópticos fossem danificados inesperado foi que este sensor continuou a operar dentro das
por um evento com arco voltaico. A expectativa para o uso do especificações. Reutilizamos o sensor no próximo teste,
sistema é que os sensores de arco voltaico precisem ser colocando-a a 1 m de distância do arco. O sensor danificado
substituídos após serem expostos a um evento com arco ainda forneceu um sinal de fundo de escala para o relé.
voltaico. O calor, a fumaça e os depósitos de vapores Embora interessante sob o ponto de vista da engenharia, esta
metálicos podem causar danos permanentes aos sensores, reutilização nunca deve ser tentada na vida real. Todos os
afetando ou impedindo que esses sensores detectem um evento sensores envolvidos em um evento com arco voltaico devem
subsequente com arco voltaico. ser substituídos, independentemente da aparente falta de
Os testes mostraram que os sensores realmente são muito danos.
mais resistentes a danos causados por um arco voltaico do que A inspeção subsequente do sensor tipo loop mostrou que
era previsto. Como parte dos testes de 17 kA e 35 kA, 2,400 ele foi completamente derretido. Isto era esperado. A análise
V, instalamos um sensor pontual e um sensor do loop de fibra do vídeo de alta velocidade mostrou que a fibra óptica
óptica descoberta bem no meio dos eletrodos, conforme derreteu em aproximadamente 1.5 ciclo AC no evento. Isso
mostrado na Fig. 9. equivale a 1.25 ciclo após o relé ter executado o trip por arco
voltaico.
Esses testes demonstram que os sensores fornecem um
sinal luminoso para o relé antes de serem danificados pelo
evento com arco voltaico, mesmo se estiverem instalados
diretamente no caminho do arco.
óptica atenuaram a luz proporcionalmente ao seu Os resultados dos testes mostram que os sensores
comprimento. instalados na parede traseira da célula do disjuntor fornecem
Para os sensores tipo loop, o comprimento da fibra óptica os maiores níveis de sinal. Para cada um dos três ensaios,
descoberta exposta foi ajustado de 0.25 m até 2 m. Este ajuste todos os cinco sensores fixados na parede traseira forneceram
foi feito para determinar o efeito do comprimento da fibra sinais com uma magnitude suficiente para iniciar um trip por
óptica exposta sobre a quantidade do sinal de luz recebido. arco voltaico. Este resultado é o esperado. A parte traseira do
Estes testes mostraram o resultado esperado: o sinal luminoso carrinho do disjuntor é o local onde a falta com arco foi
recebido por um sensor tipo loop é proporcional ao iniciada. Os sensores instalados na parede traseira tinham as
comprimento da fibra óptica descoberta exposta ao arco menores obstruções da linha de visão.
voltaico. De forma contrária, os sensores instalados nas paredes
Baseando-se em uma análise abrangente desses dados, laterais e no teto forneceram os menores níveis de sinal em
foram feitas as seguintes recomendações para a instalação. Os pelo menos um dos três testes. Em alguns exemplos, os níveis
sensores pontuais devem ser instalados dentro de uma de sinal desses sensores foram insuficientes para iniciar um
distância de 2 m da fonte de luz do arco voltaico previsto, com trip por arco voltaico.
o comprimento máximo do cabo de fibra óptica de 35 m. Os Os testes do cubículo demonstram que os sensores de arco
sensores tipo loop devem ser instalados dentro de uma voltaico operam de forma confiável no ambiente operacional
distância de 2 m da fonte de luz do arco voltaico previsto, com previsto.
um mínimo de 0.5 m de fibra óptica descoberta exposta,
permitindo um comprimento máximo do loop de 70 m, IX. AUTODIAGNOSES DOS SENSORES
incluindo as seções de fibra óptica descoberta e revestida. Durante um dos testes de arco voltaico, um dos relés estava
efetuando um teste de loopback do sensor simultaneamente ao
VIII. TESTES DO CUBÍCULO teste de arco voltaico. A captura da forma de onda do relé da
Nos testes baseados no procedimento "arcos em uma Fig. 11 mostra a autodiagnose do sensor como pulsos
caixa", não existem obstruções entre o arco voltaico e os periódicos de luz no sensor determinado. O relé detectou o
sensores. Uma linha clara de visão está sempre presente. De arco voltaico neste sensor em particular sem qualquer
forma contrária, o cubículo contém vários componentes, tais interferência ou degradação no desempenho. Este teste
como placas separadoras para isolação, as quais podem demonstra que o relé é capaz de distinguir entre a luz de um
bloquear a linha de visão direta entre o local do arco inicial e teste de loopback e aquela de um arco voltaico.
os sensores.
LSENS4(%)
Um teste do cubículo foi realizado para determinar o
100
desempenho dos sensores em seu ambiente operacional 90
esperado. O cubículo usado no ensaio foi um disjuntor da 80
Westinghouse Modelo 150-DHP-750C, especificado para 15 70
40 Teste de Loopback
da célula do disjuntor. Cinco dos sensores foram instalados na
30
parede traseira da célula do disjuntor. Outros quatro sensores 20
foram colocados nas paredes laterais. A linha de visão destes 10
A luz produzida por um arco voltaico fornece um sinal de System Relaying Committee (PSRC) e é presidente do PSRC Relay
Communications Subcommittee (H).
magnitude extremamente elevada que é usado pelo relé de
proteção para detectar um evento com arco voltaico. No Dhruba Das tem um B.S. e um M.S. da IT Banaras Hindu University, Índia.
entanto, algumas outras fontes de luz brilhante, tais como o Ele obteve um M.S. em engenharia da computação e elétrica da University of
flash de uma câmera, podem imitar um evento com arco Wisconsin, Madison. Dhruba tem mais de 30 anos de experiência combinada
em indústrias de relés de proteção e cubículos, a maioria dos quais foi gasta
voltaico. Um elemento de sobrecorrente instantâneo de alta
no projeto e desenvolvimento de relés de proteção. Ele é coautor de diversos
velocidade é usado para supervisionar o elemento de luz. Isso artigos técnicos relacionados e detém uma patente. Dhruba ingressou na
fornece alta segurança para evitar operações incorretas. Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. em 1999 e atualmente é um
Os sensores de luz e os elementos de sobrecorrente foram engenheiro sênior de desenvolvimento de firmware para pesquisas e
desenvolvimento.
demonstrados para trabalhar em conjunto em condições reais
de arco voltaico para fornecer um tempo médio de trip de 3.6 Joshua Carver recebeu seu B.S. em engenharia elétrica da Washington State
ms desde a aplicação da corrente e 2.2 ms desde o University. Ele ingressou na Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. em
aparecimento do arco voltaico. Os sensores operam de forma 1998 e é atualmente um engenheiro de hardware para pesquisa e
desenvolvimento.
confiável em condições reais de arco voltaico, mesmo quando
totalmente envolvidos pela nuvem de plasma do arco voltaico.
O teste de loopback dos sensores de arco voltaico aumenta
a confiabilidade do sistema através da realização de um teste
de integridade do sensor sem qualquer intervenção das equipes
de trabalho. A autodiagnose do sensor não interfere na
capacidade de detecção de um evento com arco voltaico
simultaneamente à autodiagnose.
A utilidade dos relatórios de evento foi demonstrada em
regime de teste. Estes relatórios de evento registram os níveis
dos sinais medidos pelos sensores ópticos, as entradas de
corrente e a operação de trip do relé por arco voltaico. Este
recurso será utilizado pelos técnicos de relés para documentar
os eventos de trip por arco voltaico.
XI. RECONHECIMENTO
Os autores reconhecem e agradecem as contribuições de
Claude Maurice no laboratório High Current Lab at Kinectrics
Inc., destacando sua experiência com arco voltaico e ajuda na
condução segura dos testes de laboratório de alta potência.
XII. REFERÊNCIAS
[1] IEEE Standard 1584-2002, IEEE Guide for Performing Arc-Flash
Hazard Calculations.
[2] M. Zeller and G. Scheer, “Add Trip Security to Arc-Flash Detection for
Safety and Reliability,” proceedings of the 35th Annual Western
Protective Relay Conference, Spokane, WA, October 2008.
[3] NFPA 70E®-2009: Standard for Electrical Safety in the Workplace®,
2009 Edition.
XIII. BIOGRAFIAS
Bob Hughes recebeu seu B.S. em engenharia elétrica da Montana State
University em 1985. Ele é engenheiro sênior de marketing no departamento
de sistemas de proteção da Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. Bob
tem mais de 20 anos de experiência em automação de sistemas elétricos de
potência, incluindo SCADA/EMS, automação da distribuição, controles de
usinas de energia, e leitura automática de medidores. Ele é um engenheiro
profissional registrado e membro do IEEE.