INSTITUTO DE PESQUISAS ENERGTICAS E NUCLEARES

AUTARQUIA ASSOCIADA UNIVERSIDADE DE SO PAULO

OBTENO E CARACTERIZAO DE
REVESTIMENTOS COMPOSTOS DE
MULTICAMADAS TiO2/TiN

ANDR GONALVES

Dissertao apresentada como parte

dos requisitos para obteno do Grau
de Mestre em Cincias na rea de
Tecnologia Nuclear Materiais.

Orientadora:
Profa. Dra. Marina Fuser Pillis

So Paulo
2010

ii

AGRADECIMENTOS

Agradeo a Dra. Marina Fuser Pillis, minha orientadora, pela orientao

segura e confiana.
Agradeo ao professor Marcelo Carreo, do laboratrio de microeletrnica
da EPUSP, pela contribuio neste trabalho.
Agradeo ao professor Zoroastro de Miranda Boari, pelo incentivo e apoio
ao desenvolvimento cientfico.
minha famlia e amigos pelo incentivo permanente e torcida pelo
sucesso na concluso dessa dissertao.
A todos os professores do programa que no mediram esforos para
transmitir e ensinar os seus conhecimentos ao longo desses anos de jornada. Aos
assistentes do programa que sempre se mostraram presentes e prestativos, na
divulgao de informaes, meu reconhecimento e agradecimento.
Aos meus colegas do IPEN que, de alguma forma, contriburam para a
realizao deste trabalho.
Ao Instituto de Pesquisas Energticas e Nucleares (IPEN) que introduziu
este programa de ps-graduao, inovando no ensino acadmico.

iii

OBTENO E CARACTERIZAO DE
REVESTIMENTOS COMPOSTOS DE
MULTICAMADAS TiO2/TiN
ANDR GONALVES

RESUMO

A nanocincia emergiu nos ltimos anos como uma das reas mais
importantes para os futuros desenvolvimentos tecnolgicos, especialmente na
rea

de

dispositivos

eletrnicos.

nanotecnologia

tem

um

carter

primordialmente interdisciplinar, que engloba conhecimentos de fsica, qumica,

engenharias e biologia. Essa tecnologia est sendo usada da fabricao de
microprocessadores, bombas dosadoras de frmacos e revestimentos em
materiais, entre outras aplicaes.
Revestimentos nanocristalinos vm sendo obtidos por meio da tcnica
MOCVD (deposio qumica de organometlicos em fase vapor), e tem
proporcionado a obteno de filmes de melhor qualidade que os obtidos por CVD
convencional ou por mtodos fsicos. Alm disso, a tcnica MOCVD apresenta-se
como uma alternativa competitiva porque relativamente barata e mais fcil de
ser implantada, em relao aos mtodos de deposio fsica.
Neste trabalho foram obtidos revestimentos compostos por multicamadas
de TiO2/TiN. Durante o experimento, a abertura e o fechamento das vlvulas de
admisso dos gases exige do operador habilidade manual para acionar a vlvula
e controlar o tempo de deposio, o que gera possibilidade de erros, implicando
diretamente na espessura de cada camada. Assim, a necessidade de diminuir a
influncia do operador e poder utilizar intervalos de tempo menores que um
minuto para os crescimentos, gerou a oportunidade de criar um programa de
computador para gerenciar todo o sistema. Tal programa foi desenvolvido
utilizando-se o conceito de Mquina de Estados para o controle de processo e
simulao Hardware in the loop.

iv

OBTENTION AND CHARACTERIZATION OF

TiO2/TiN MULTILAYERS COATINGS
ANDR GONALVES

ABSTRACT

Nanoscience has emerged in recent years as one of the most important

areas for future technological developments, especially in the area of electronic
devices. Nanotechnology has an interdisciplinary character wich includes
knowledge from physics, chemistry, engineering, and biology. This technology is
being used in the manufacture of microprocessors, pumps for dose of medicine,
and coating materials, among others.
The MOCVD technique has been used recently to obtain nanocristalline
coatings, and provide films of better quality than those obtained by conventional
CVD or physical methods. Furthermore, the MOCVD technique presents itself as a
competitive alternative because it is relatively inexpensive and easy to deploy
compared to physical deposition methods.
In this work multilayer coatings of TiO2/TiN were produced. During the
experiment, the opening and closing of the valves of gases admission, requires
from the operator manual ability to trigger the valve and controlling the deposition
time, which creates the possibility of errors, leading directly into the thickness of
each layer. Thus, the need of reducing the influence of the operator, and the
possibility of using time intervals of less than a minute in the growths, created the
opportunity to develop a computer program to manage the whole system. The
software was developed using the State machine concept for the process control
and Hardware in the loop simulation.

SUMRIO
AGRADECIMENTOS .............................................................................................. ii
RESUMO ............................................................................................................... iii
ABSTRACT ............................................................................................................ iv
1. Introduo ........................................................................................................... 1
2. Objetivos ............................................................................................................. 3
3. REVISO DA LITERATURA ............................................................................... 4
3.1. Tcnicas CVD e MOCVD ........................................................................... 4
3.1.1. Estado da Arte ...................................................................................... 4
3.1.2. Deposio qumica em fase vapor O processo CVD ......................... 5
3.1.3. Deposio qumica de organometlicos em fase vapor (MOCVD) ....... 5
3.2. Organometlicos ........................................................................................... 6
3.3. Dixido de titnio TiO2................................................................................... 7
3.4. Nitreto de titnio TiN...................................................................................... 7
3.5. Multicamadas ................................................................................................ 8
3.6. Sistemas computacionais.............................................................................. 8
3.6.1. Simulao ................................................................................................. 9
3.6.2. Hardware in the loop (HIL) ................................................................... 10
3.6.3. Simulao com Hardware in the Loop .............................................. 12
3.7. Aquisio de dados ..................................................................................... 12
3.8. Transdutores e Condicionadores de Sinal .................................................. 14
3.9. Mquina de Estados ................................................................................... 14
3.10. Programa de controle ................................................................................ 15
4. Materiais e Mtodos .......................................................................................... 16
4.1. Equipamento MOCVD ................................................................................. 16
4.1.1 Parmetros de Deposio ...................................................................... 19
4.2. Obteno de filmes multicamadas TiO2/TiN ................................................ 20
4.3. Substrato ..................................................................................................... 21
4.4. Precursores ................................................................................................. 21
4.5. Parmetros de processo ............................................................................. 22
4.6. Caracterizao das amostras ...................................................................... 23

vi

4.6.1. Caracterizao por Microscopia eletrnica de varredura com emisso de

campo (MEV-FEG) ............................................................................................. 23
4.6.2. Difrao de raios-X ................................................................................. 24
4.7. Controle de abertura e fechamento das vlvulas ........................................ 24
4.7.1. Estrutura de montagem .......................................................................... 25
4.7.2. Descrio do Circuito .............................................................................. 26
5. Resultados e Discusso .................................................................................... 28
5.1. Caracterizao dos filmes obtidos .............................................................. 28
5.2. Montagem do circuito e simulao do sistema............................................ 32
5.1.1 Simulao do sistema de controle .......................................................... 33
5.1.2 Arquivo de parmetros de teste .............................................................. 34
5.3. Programa, Rotina Principal ......................................................................... 34
5.4. Descrio da Interface de usurio ............................................................... 35
5.5. Fluxograma geral do programa ................................................................... 40
5.5.1. Fluxograma das chamada de funes do programa ............................... 42
6. Concluses ....................................................................................................... 50
7. REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS .................................................................. 51
8. Anexos .............................................................................................................. 56

vii

Lista de figuras
Figura 1: Organometlico isopropxido de titnio. .................................................. 6
Figura 2: Diagrama de blocos de um sistema tpico, com um simulador com
"hardware in the loop". .......................................................................................... 12
Figura 3: Sistema DAQ baseado em PC37 ............................................................ 13
, neste trabalho aplicaram-se as seguintes condies: ......................................... 17
Figura 4: Equipamento MOCVD existente no laboratrio do CCTM, mostrado
esquematicamente. ............................................................................................... 18
Figura 5: Equipamento MOCVD. (a) painel frontal; (b) parte traseira do painel
frontal. ................................................................................................................... 19
Figura 6: Forno. (a) forno aberto; (b) reator de quartzo posicionado dentro do
forno. ..................................................................................................................... 19
Figura 7: Revestimento multicamada mostrado esquematicamente. .................... 20
Figura 8: Presso de vapor do isopropxido de titnio em funo da temperatura
da fonte14. ............................................................................................................. 22
Figura 9: Diagrama de blocos da estrutura de montagem. ................................... 25
Figura 10: Placa multifuncional de aquisio de dados39 conectada ao LM3540 e
ao amplificador de reles, para a leitura de um termmetro e o acionamento de um
rele. ....................................................................................................................... 26
Figura 11: Circuito amplificador utilizado para acionamento das vlvulas
solenoides ............................................................................................................. 26
Figura 12: Sensor de temperatura, LM3530. .......................................................... 27
Figura 13: Filme de TiO2 crescido por 1h a 700C. (a) superfcie; (b) seco
transversal............................................................................................................. 28
Figura 14: Difratograma do filme de TiO2. ............................................................ 29
Figura 15: Filme de TiN crescido por 1h a 700C. (a) superfcie; (b) seco
transversal............................................................................................................. 29
Figura 16: Difratograma do filme de TiN obtido aps 1h a 700C. ........................ 30

viii

Figura 17: Filme composto por multicamadas (4 perodos) TiO2/TiN a 700C. (a)
superfcie; (b) seco transversal em imagem de eltrons secundrios; (c) seco
transversal em imagem de eltrons retro-espalhados. ......................................... 31
Figura 18: Filme composto por multicamadas (8 perodos) TiO2/TiN a 700C. (a)
superfcie; (b) seco transversal em imagem de eltrons secundrios; (c) seco
transversal em imagem de eltrons retro-espalhados. ......................................... 32
Figura 19: Montagem experimental do circuito. .................................................... 33
Figura 20: Vista frontal, leds indicadores visuais de acionamento. ...................... 33
Figura 21: Arquivo com os parmetros de teste.................................................... 34
Figura 22: Tela principal, interface do usurio. ..................................................... 35
Figura 23: Status de teste. .................................................................................... 36
Figura 24: Status do sistema................................................................................. 36
Figura 25: Indicao da temperatura da linha dos gases. ..................................... 37
Figura 26: Grfico de acompanhamento da variao das temperaturas. Opo
selecionada pelo boto Grfico .......................................................................... 37
Figura 27: Botes de Inicio, pausa, parada do teste. ............................................ 38
Figura 28: Botes de acionamento manual das vlvulas. ..................................... 38
Figura 29: Seleo do teste .................................................................................. 39
Figura 30: Ajuste de temperatura individual. ......................................................... 39
Figura 31: Boto de ajuste de temperatura. .......................................................... 39
Figura 32: Arquivo Templimites.txt com setup das temperaturas. ...................... 40
Figura 33: Fluxograma geral do programa ............................................................ 41
Figura 34: Rotina principal (main_ipen.c). ............................................................. 43
Figura 35: Inicializao: L tabela de parmetros, inicializa placas, desliga reles e
habilita leitura de temperatura. .............................................................................. 44
Figura 36: Funo IPEN_Teste: Aps pressionar o boto "Inicio", ocorre o controle
do ciclo trmico. .................................................................................................... 45
Figura 37: Funo: Leitura da tabela de parmetros e alocao na memria. ..... 46
Figura 38: Subrotina RL_n: Boto/funo que liga/desliga reles........................... 47
Figura 39: Subrotina EscDigital6008: Acesso a sadas. ........................................ 48
Figura 40: Subrotina ThreadFuno: Faz a leitura/controle das temperaturas e
fluxo de massa. ..................................................................................................... 49

ix

Lista de tabelas
Tabela I: Condies de Teste ............................................................................... 22

1. Introduo
A maioria dos materiais metlicos usados na tecnologia moderna requer
determinadas propriedades da liga como um todo, e um diferente conjunto de
propriedades de superfcie. Os requisitos para a liga so tenacidade, resistncia
trao, entre outros, enquanto que os de propriedades de superfcie so
resistncia oxidao, ao desgaste, eroso, etc.1,2. raro que essa
combinao possa ser apresentada por um nico material, da a necessidade do
uso de revestimentos, que tm ainda como vantagem no alterar as propriedades
mecnicas e microestruturais das ligas.
As tcnicas clssicas de revestimento como pintura, spray e imerso
promovem camadas relativamente espessas (0,1 1 mm), que freqentemente
apresentam baixa aderncia ao substrato. No caso de proteo contra corroso,
uma variedade de tcnicas est disponvel para aplicao de filmes finos
aderentes (10 nm a alguns micrmetros), como implantao inica3,4 sputtering5,
deposio qumica de vapores (CVD)6, sol gel7 deposio qumica de
organometlicos em fase vapor (MOCVD)7,8 entre outras. A tcnica MOCVD tem
sido usada recentemente para esse propsito, e tem promovido a obteno de
filmes de melhor qualidade que os obtidos por CVD convencional ou por mtodos
fsicos. Alm disso, a tcnica MOCVD apresenta-se como uma alternativa
competitiva porque relativamente barata e mais fcil de ser implantada, em
relao aos mtodos de deposio fsica.
Revestimentos nanocristalinos so reconhecidos por exibirem dureza e
resistncia elevadas. Nas ltimas dcadas, aplicaes especficas foram
encontradas para revestimentos cermicos de alta dureza e alta resistncia ao
desgaste no setor industrial. Dentre estes se destacam os revestimentos de
nitretos de metais de transio, que despertaram interesse especial devido a sua
alta dureza, estabilidade trmica, aparncia atrativa e por serem quimicamente
inertes9. Estruturas multicamadas, com perodos de super-rede da ordem de
nanmetros, apresentam valores de resistncia superiores a 40 GPa9. O uso de
revestimentos como TiN, TiCN e TiAlN aplicados sobre componentes estruturais
amplamente reconhecido por aumentar o desempenho de ferramentas de corte e
mandris10. Makino et. al (1998)11 mostram que uma pequena quantidade de

oxignio aumentava a dureza do TiN, tornando, o TiNO um candidato ideal para

recobrir aos ou ferramentas de corte. Alm disso, filmes finos de TiO 2 e TiN so
importantes para aplicaes nas reas de microeletrnica, ptica e mdica 12,13. O
interesse por filmes de TiNO aumentou nos ltimos anos, porque a presena e o
controle de oxignio no nitreto de titnio conduz formao de revestimentos com
gradiente de funo variando entre o isolante TiO2 e o condutor TiN, e onde a
resistividade varia em funo da razo N/O14.
Os sistemas computacionais desempenham um importante papel no
controle de sistemas mecnicos tpicos. A simulao de um sistema antes dos
testes principais nem sempre ajuda, devido ausncia de condies reais
relacionadas ao meio e ao tempo mapeado em termos de sinais analgicos e/ou
digitais. Os testes tradicionais, muitas vezes referenciados como testes estticos,
consistem da avaliao de funcionalidades de um processo onde a ele so
fornecidas entradas conhecidas e sadas mensurveis. Devido ao lanamento de
produtos

mais

sofisticados

no

mercado

reduo

dos

ciclos

de

desenvolvimento associados ao projeto, ocorre um aumento da necessidade de

testes dinmicos, onde o comportamento do processo avaliado medida em
que os parmetros de processo so alterados, de forma real ou simulada. Estas
simulaes minimizam riscos relacionados segurana e custos, alm de
abranger maiores condies de testes quando comparados aos testes estticos.
A aplicao desta estratgia para testes dinmicos conhecida como simulao
com hardware in the loop (HIL)15.
Nos captulos a seguir esto apresentados reviso bibliogrfica, objetivos,
materiais e mtodos, resultados e concluses relativos obteno de filmes
compostos por multicamadas TiO2/TiN, bem como o desenvolvimento do
processo de automao do equipamento MOCVD existente no Laboratrio de
Filmes Finos do Centro de Cincia e Tecnologia do Ipen.

2. Objetivos
Esta dissertao teve por objetivos:

Obteno e caracterizao de filmes com estrutura de multicamadas de

TiO2/TiN depositados sobre Si monocristalino por meio da tcnica MOCVD.

- Projeto da automao do equipamento MOCVD existente no Laboratrio de
Filmes Finos do Centro de Cincia e Tecnologia de Materiais do Ipen.

3. REVISO DA LITERATURA

3.1. Tcnicas CVD e MOCVD

3.1.1. Estado da Arte

A tcnica CVD (deposio qumica em fase vapor) no nova. Seu
primeiro uso prtico foi na dcada de 1880 para aumentar a resistncia dos
filamentos de lmpadas incandescentes, por meio de revestimentos com carbono
ou metal. Na mesma dcada, o processo foi utilizado para obteno de nquel
puro. A tcnica CVD se desenvolveu muito lentamente nos 50 anos seguintes,
quando seu uso limitou-se praticamente metalurgia extrativa, na produo de
metais refratrios como tntalo, titnio e zircnio de alta pureza. Somente no final
da 2a. Guerra Mundial o avano passou a ser mais rpido, com pesquisadores
descobrindo suas vantagens no revestimento de peas de formas complexas 16.
Nos anos 1960 foi introduzida a distino entre os termos CVD e PVD
(deposio fsica de vapores) para diferenciar os processos qumicos dos
processos fsicos. A tcnica CVD passou ento a ser utilizada na fabricao de
semicondutores e os revestimentos de TiC aplicados sobre ferramentas. Na
dcada de 1980, o processo CVD passou a ser utilizado na deposio de carbono
diamante. Nos anos 1990 houve a expanso do processo com o desenvolvimento
de MOCVD (deposio qumica de vapores organometlicos) para deposio de
metais e cermicas, e aprimorou-se o uso de CVD em componentes pticos e
eletrnicos 16.
Atualmente, esta tecnologia vem se desenvolvendo rapidamente.
Entretanto, foi necessrio mais de um sculo de esforos cientficos contnuos
para que fosse atingido esse estado da arte. Apesar de todos os progressos
obtidos, muitos desenvolvimentos precisam ser feitos, como a obteno de maior
controle da composio qumica no processo e a determinao da estrutura e das
propriedades dos materiais depositados. Apesar de grandes avanos no
entendimento dos mecanismos envolvidos, o processo necessita ainda de muitos
desenvolvimentos experimentais.

3.1.2. Deposio qumica em fase vapor O processo CVD

CVD ou deposio qumica em fase vapor consiste em fazer com que o
vapor de um composto voltil entre em contato com a superfcie a ser recoberta.
A temperatura do substrato fornece a energia de ativao necessria para induzir
a reao qumica, que resulta num produto slido e, em geral, facilita a difuso
atravs da superfcie os tomos depositados (quando a temperatura for
suficientemente alta, da ordem de 1073-1273K) aumentando a aderncia da
camada depositada sobre o substrato8.

3.1.3. Deposio qumica de organometlicos em fase vapor

(MOCVD)

MOCVD uma rea especfica de CVD, que relativamente nova. Sua

primeira utilizao foi relatada na dcada de 1960 para a deposio de fosfeto de
ndio e antimonieto de ndio16. Estes primeiros experimentos demonstraram que a
deposio de materiais semicondutores crticos poderia ser obtida a temperaturas
inferiores s utilizadas no processo CVD (>900C) convencional, e o crescimento
epitaxial poderia ser alcanado com sucesso. A qualidade e a complexidade dos
equipamentos, bem como a diversidade e a pureza dos produtos qumicos
precursores tm melhorado constantemente. Desde ento, a tcnica MOCVD
usada em grande escala, particularmente em sistemas opto - eletrnicos e
semicondutores16.
A deposio qumica em fase vapor que utiliza como fonte um composto
organometlico um processo atrativo para deposio de filmes finos dieltricos
e outros revestimentos, porque necessita de temperaturas de crescimento
relativamente baixas, apresenta altas velocidades de crescimento, e permite o
recobrimento de substratos de formas complexas. No processo qumico para
deposio de filmes finos, a composio e a estrutura so determinadas pelos
precursores qumicos utilizados e pelas condies de deposio, como
temperatura e presso.

As propriedades de um filme obtido por CVD (eltricas, pticas,

magnticas e mecnicas) so determinadas por uma variedade de processos
fsico-qumicos envolvidos no crescimento do filme17. A maioria das reaes
MOCVD ocorre em temperaturas entre 300 e 800C e sob presso variando entre
menos de 1 torr at a atmosfrica16 .

3.2. Organometlicos

Os precursores so compostos organometlicos onde o tomo de um

metal est ligado a um ou mais tomos de carbono de um grupo de
hidrocarbonetos. So as matrias-primas para cada elemento (Al, Ga, In, N, Si,
Mg e assim por diante). Eles podem se apresentar na forma slida, lquida ou
gasosa. Estes compostos devem ter boa volatilidade (a presses acima de 0,1
torr e em torno de 300K), ter boa estabilidade trmica durante a sua evaporao e
transporte na fase gasosa, e devem se decompor sem contaminar o filme em
crescimento. Alm disso, devem possuir alta pureza, no ser txico e no
pirofricos, quando possvel. Para fornecer uma presso de vapor estvel,
precursores lquidos so melhores do que slidos e gasosos18.
Na figura 1 est apresentado, como exemplo, o composto organometlico
isopropxido de titnio Ti(OCH(CH3)2)4.

CH3

CH3

CH3

CH

CH

CH3

CH

CH

CH3

CH3

CH3

O
Ti

O
CH3

Figura 1: Organometlico isopropxido de titnio.

3.3. Dixido de titnio TiO2

Filmes de dixido de titnio so quimicamente estveis, possuem alta
constante dieltrica, alto ndice de refrao, excelente transmitncia visual e,
prximo s freqncias de infravermelho, possuem grande variedade de
aplicaes, incluindo revestimentos anti-reflexivo, sensores e fotocatalisadores.
Um grande nmero de tcnicas tem sido desenvolvidas para depositar filmes finos
de TiO2. Dentre estas, deposio qumica em fase vapor (CVD) uma das mais
utilizadas, permitindo um controle rigoroso dos parmetros de crescimento e,
portanto, da estequiometria e da microestrutura.
O TiO2 conhecido por ter trs fases alotrpicas: broquita, rutilo e
anatase. A fase rutilo, formada em altas temperaturas, possui um ndice de
refrao em torno de 2,7 enquanto a anatase possui um ndice refrao em torno
de 2,5. A estrutura do filme depende da temperatura de deposio e das
propriedades da superfcie do substrato19.
Wicaksana e Kobayashi20 investigaram a deposio de TiO2 em
substratos de vidro e Si por sputtering reativo, entre a temperatura ambiente e
400C. Eles constataram que a fase anatase formada em temperaturas abaixo de
400C consistia de uma mistura anatase-rutilo e os filmes depositados a 400C
consistiam de rutilo19.

3.4. Nitreto de titnio TiN

Revestimentos de nitreto de titnio possuem excelente resistncia
corroso e eroso, alta temperatura de sublimao, dureza elevada e boas
propriedades

pticas

eletrnicas.

So

utilizados

em

dispositivos

microeletrnicos, e para melhorar o desempenho e prolongar a vida til de

ferramentas de corte. Filmes finos de TiN so comumente utilizados como
revestimento protetor resistente corroso.
Muitas tcnicas, como magnetron sputtering, deposies por feixe de
ions, plasma e CVD tm sido usadas para crescer filmes finos de TiN21.

3.5. Multicamadas
O desenvolvimento de superfcies resistentes ao desgaste tem sido um
item crtico, e ainda permanece como um ponto chave para a indstria de
manufatura22. Nas ltimas dcadas, revestimentos cermicos de nitretos como
TiN e CrN, depositados por deposio fsica de vapores (PVD) ou deposio
qumica de vapores (CVD) encontraram muitas aplicaes como revestimento de
ferramentas de corte e equipamentos de usinagem23,24. Entretanto, devido ao
desenvolvimento de novos processos, como os que envolvem altas velocidades
ou usinagem a seco, h ainda interesse industrial em revestimentos protetores
que melhorem as propriedades de resistncia ao desgaste, dureza e tenacidade
fratura25,26.

Nesse

contexto,

revestimentos

compostos

por

multicamadas

nanomtricas tm recebido ateno, porque tm flexibilidade para combinar dois

materiais com estruturas diferentes e propriedades, que podem trazer aos novos
sistemas, no apenas as vantagens de cada constituinte, mas tambm algumas
caractersticas superiores a qualquer outro componente27. As estruturas
multicamadas nanomtricas so geralmente obtidas pela deposio sequencial de
dois materiais diferentes, de dimenses nanomtricas, sobre a superfcie de um
substrato. A espessura de cada par de camadas desempenha um papel
importante nas propriedades dos revestimentos multicamadas28. Vrios sistemas
multicamadas, incluindo TiN/CrN, TiAlN/CrN, CrN/AlN e TiN/ZrN, j foram
desenvolvidos e apresentaram melhores propriedades quando comparados a
constituintes binrios25,29,30,31.

3.6.Sistemas computacionais

Os sistemas computacionais esto presentes no nosso cotidiano j faz

algum tempo. A indstria, de um modo geral, o maior usurio, seja para gerar
tecnologia, testar seus produtos, gerenciar a logstica, etc.
Antigamente, testar um produto requeria muita mo-de-obra e poucos
equipamentos, e no havia confiabilidade nos resultados. A evoluo tecnolgica
fora novos conceitos de projetos, o que impulsiona o desenvolvimento de novas
ferramentas para auxiliar os cientistas e engenheiros.

Na obteno de revestimentos compostos por multicamadas, obtidos pelo

processo MOCVD, no diferente. Durante o experimento, o processo manual
exige habilidade do operador para controlar a seleo dos gases a intervalos
regulares de tempo, para que se formem as camadas alternadas que compem o
filme. Tal procedimento influencia, e pode gerar um equvoco do operador no
gerenciamento do intervalo de abertura e fechamento das vlvulas.
A ferramenta Labwindos/CVI da National Instruments surge como
opo para gerenciar todo o sistema, minimizando a influncia do operador, e
tornando possvel a utilizao de intervalos de tempo de abertura e fechamento
de vlvulas menores que um minuto.

3.6.1. Simulao

Simulao muitas vezes utilizada para entender o comportamento de

um sistema ou para predizer uma sada sob diferentes influncias internas e/ou
externas. Porm, se a simulao est sendo usada para provar a viabilidade de
controle, o risco de investimento pode ser reduzido utilizando-se uma abordagem
baseada em simulao com hardware in the loop. Para a maioria dos sistemas
reais, existem caractersticas que so desconhecidas ou muito complexas para
serem modeladas somente atravs de simulao. Se, por exemplo, deseja-se
estabelecer controle sobre o sistema de posicionamento, seria bastante arriscado
ter que construir todo o hardware no incio sem considerar o sistema como um
todo. Neste caso, uma boa prtica de engenharia seria iniciar com uma simulao
pura e, medida que os componentes forem estabelecidos, eles podem ser
fabricados e recolocados no lao de controle. Uma vez que os componentes
fsicos so adicionados ao lao de controle, caractersticas no modeladas podem
ser investigadas e o controle pode ser refinado.
O uso de simulao com hardware in the loop diminui gastos e a
quantidade de interaes para a fabricao de maquinrio e suas partes, alm de
tornar o desenvolvimento mais eficiente. Mquinas baseadas em processadores
Pentium, por exemplo, com clock na ordem de Ghz, apresentam o poder de
processamento necessrio a um baixo custo, alm das interfaces analgicas ou
digitais de entrada/sada, cujos preos vm diminuindo gradativamente. Desse

10

modo, possvel adquirir um sistema completo envolvendo computador, software

e dispositivos de entrada/sada por custos muito atrativos.
Hardware in the loop utilizado em softwares grficos que auxiliam os
engenheiros de controle a desenvolver sistemas rapidamente, utilizando apenas o
modelo conceitual. Neste ambiente de desenvolvimento o engenheiro de controle
no necessariamente o responsvel por implementar a programao. Sua
funo ser de modelar as interaes e fluxos atravs de diagramas de blocos. O
engenheiro de controle poder dedicar-se a outras caractersticas do projeto,
evitando levar horas de escrita e/ou depurao de cdigos ou mesmo ter que lidar
com as complexidades dos sistemas de tempo real. Desse modo, o trmino de
um projeto de sistema de controle pode ser completado em um prazo menor.
Eventualmente, o projeto precisar ser transferido para o sistema final
(target). Quando o algoritmo de controle conhecido, passa a ser conhecida
tambm sua carga computacional. Portanto, selecionar um processador
adequado para a execuo das tarefas torna-se mais fcil. Tcnicas de validao
de componentes, seja de forma unitria ou em nvel de sistema, so facilmente
aplicadas ao cdigo, utilizando o controlador do simulador como uma referncia.
Neste estgio, o risco de desenvolvimento pode ser apenas afetado pelos prazos,
no pela tecnologia.
A tcnica de simulao com hardware in the loop aplica-se a todos os
sistemas, sejam eles grandes ou pequenos, processos industriais e mesmo
durante o desenvolvimento de novos produtos. Onde quer que exista interao
entre simulao e o mundo real, existe uma oportunidade para a abordagem de
simulao com hardware in the loop15.

3.6.2. Hardware in the loop (HIL)

HIL refere-se a uma simulao onde alguns dos componentes so reais e

no simulados. considerada a tcnica mais segura e de mais baixo custo para
teste de controle de processos reais em ambientes virtuais. A maioria dos
componentes reais substituda por modelos matemticos e os componentes a
testar so inseridos na malha fechada. Uma das razes para inserir componentes

11

numa simulao surge, muitas vezes, pela inexistncia de um conhecimento

cabal das suas caractersticas, ou estas so muito complexas, ou ento quando
existe a necessidade de teste dos prprios componentes reais, como o caso do
teste de controladores. Pode-se, por exemplo, partir de uma simulao pura em
tempo real, com os modelos de todos os componentes do sistema, de modo a
cumprir determinadas especificaes. medida que vo se ajustando os
parmetros de processo, possvel, por exemplo, reduzir o nmero de ensaios na
obteno do resultado esperado15.
A indstria aeroespacial est entre as primeiras que desenvolveram este
tipo de simulao, com o objetivo de desenvolver formas viveis de realizar testes
em sistemas de controle de vo, muito embora, desde ento, as aplicaes
passaram a ser bastante diversificadas, como indicado por Maclay32,33,34.
A tecnologia de simulao HIL pode ser encontrada onde so necessrios
testes mais realsticos com componentes de um sistema antes de sua construo
final, como, por exemplo, na modelagem do processo de fabricao de motores
diesel, da fundio ao armazenamento do bloco aps a usinagem.
A arquitetura de simulao HIL deve manter um estado simulado do
mundo, que deve ser calibrado com o mundo real, favorecendo a anlise de
dados. Quando aplicada a revestimentos nanoestruturados, consiste de um
projeto colaborativo entre diferentes cincias e reas de conhecimento, incluindo
conceitos encontrados na engenharia mecatrnica, software e materiais 15.
A HIL , tambm, uma ferramenta bastante til para avaliao e
desenvolvimento

de

controladores,

proporcionando

um

risco

nulo

na

experimentao de diferentes tcnicas e metodologias de controle sem

necessidade da plataforma real para teste35. Desta forma, possvel poupar
investimentos e evitar potenciais acidentes resultantes de erros no projeto inicial
dos controladores, permitindo, assim, a identificao e eliminao desses erros.
A figura 2 mostra algumas possibilidades de interao de componentes
reais com verses simuladas de outros componentes num sistema de controle
tpico. Como se pode observar, alguns caminhos na malha no so possveis. Por
exemplo, no possvel um processo real ser monitorado atravs de sensores
simulados ou atuadores simulados atuarem em processos reais. A tcnica
denominada de load simulation consiste na utilizao de um processo simulado
para avaliao de desempenho de atuadores reais36.

12

O monitoramento de processos simulados atravs de sensores reais pode

ser utilizado quando se quer avaliar o desempenho de um determinado sensor.
Neste caso, necessria uma interface adequada, que pode envolver um atuador
real para converter os resultados da simulao em quantidades mensurveis pelo
sensor.

Figura 2: Diagrama de blocos de um sistema tpico, com um simulador com

"hardware in the loop".

3.6.3. Simulao com Hardware in the Loop

No processo de simulao com hardware in the loop (HIL), o controlador
executado pelo computador de forma a garantir o escalonamento de entrada e
sada (I/O - Input ou Output). Requisitos de hardware como o poder de
processamento e interfaceamento com circuitos que disponibilizam sinais
analgicos ou digitais devem ser levados em considerao.

3.7. Aquisio de dados

Atualmente, a maioria dos cientistas e engenheiros usam computadores

pessoais (PCs) com PCI, PXI/CompactPCI, PCMCIA, USB, IEEE 1394, ISA ou
portas paralelas ou seriais para aquisio de dados no laboratrio de pesquisa,
teste e medio, e automao industrial. Muitos aplicativos usam dispositivo
Plug-in para obter dados e transferi-los diretamente ao computador, outros usam

13

hardware de aquisio de dados (DAQ) no PC, que est ligado atravs da porta
serial ou paralela37.
Aquisio de dados a captura de sinais provenientes de fontes de
medio do mundo real e a digitalizao desses sinais para armazenamento,
anlise e apresentao em um computador pessoal (PC). Luz, temperatura,
presso e torque so alguns dos muitos diferentes tipos de sinais que podem ser
conectados a um sistema de aquisio de dados. Alm de aquisio de dados, tal
sistema tambm usado para gerar os sinais eltricos.
O projeto e a produo de automveis, por exemplo, dependem da
aquisio de dados. Os engenheiros utilizam a aquisio de dados para testar os
componentes do automvel. O sistema pode ser usado para teste de fadiga
mecnica, rudo de vento, durabilidade, vibrao e temperatura do motor. Os
analistas e engenheiros, em seguida, podem usar esses dados para otimizar o
design do primeiro prottipo do veculo. O prottipo, em seguida, pode ser
monitorado em muitas condies diferentes em uma faixa de teste, enquanto que
informaes so coletadas por meio de aquisio de dados. Depois das
interaes necessrias e mudana de design, o carro est pronto para produo.
Os dispositivos de aquisio de dados podem monitorar as mquinas que
montam o carro, e eles podem garantir que o carro montado atenda s
especificaes necessrias38.
A obteno de resultados adequados de um sistema de aquisio de
dados depende de cada um dos seguintes elementos sistema: PC, transdutores,
condicionadores de sinais, placas de aquisio e software37, conforme mostra a
figura 3.

Figura 3: Sistema DAQ baseado em PC37

14

3.8. Transdutores e Condicionadores de Sinal

Transdutores captam fenmenos fsicos e produzem sinais eltricos que o
sistema DAQ (data acquisition) mede. Por exemplo, termopares, sensores de
temperatura por resistncia (RTDs), termistores e sensores CI (circuito integrado)
convertem temperatura em um sinal analgico que podem ser medidos em um
conversor analgico-digital (A/D).
Condicionadores

de

sinais

consistem

de

filtros,

amplificadores

atenuadores ou diferentes formas de sinais, localizados entre a planta e o

computador que comporta o software de execuo. So compostos, basicamente,
de componentes discretos (resistores, capacitores, amplificadores operacionais,
etc).
Os sinais eltricos gerados pelos transdutores devem ser otimizados para
o limite, range, de entrada do dispositivo DAQ. A placa de aquisio
responsvel por condicionar, amplificar sinais de baixo nvel e, em seguida, isollos e filtr-los para medies mais precisas.
O condicionamento de sinais exige que algumas etapas sejam seguidas:
Amplificao: a mais comum. Sinais de termopares so muito baixos e
necessitam ser amplificados para aumentar a resoluo e diminuir o rudo.
Isolao: necessrio isolar os sinais dos transdutores do computador para
evitar um eventual curto-circuito.
Filtragem: a remoo de sinais indesejveis, como por ex. rudo.
Linearizao: Muitos transdutores, como termopares, possuem uma
resposta no-linear. Para corrigir essas medidas os aplicativos incluem
rotinas37.

3.9. Mquina de Estados

Mquina de estados uma modelagem de um comportamento, composto
por estados, eventos e aes, como descrito a seguir.

15

Estado" um termo abstrato. Estados descrevem o status de uma parte

da programao e esto sujeitos a alteraes ao longo do tempo. Um estado
armazena informaes sobre o passado, isto , ele reflete as mudanas desde a
entrada num estado, no incio do sistema, at o momento presente.
Eventos so ocorrncias no tempo que influenciam o cdigo controlado
pela mquina de Estado. Um evento importante o evento "Resposta recebida".
Esta ocorrncia externa informar a mquina de Estado que ocorreu o
evento correto e uma transio dos estados agora apropriada. Os eventos
podem ser gerados internamente pelo cdigo controlado pela mquina de estado.
Aes so respostas dos eventos, que podem ou no afetar o cdigo
externo para a mquina de Estado. A mquina de estado determina quais aes
devem ser tomadas quando um determinado evento ocorre. A deciso de que
medidas devem ser tomadas derivada de duas partes da informao: o estado
atual e o evento que ocorreu.
A prpria mquina de estados sempre faz alteraes de estado. O
estado atual nem sempre vem do cdigo externo para a mquina de estado. As
nicas informaes que o cdigo externo deve fornecer ao estado de mquina
um evento que ocorreu15.

3.10. Programa de controle

Sistemas operacionais orientados a eventos como, por exemplo, Microsoft
Windows 95/98/NT/2000/XP, Linux35 e BSD36 so direcionados a responder
apenas a entradas externas como aquelas iniciadas por um usurio (toque do
teclado, clique do mouse, etc). De fato, estes sistemas operacionais so
tipicamente grficos em natureza e freqentemente multitarefa, implicando que
mltiplas aplicaes ou tarefas grficas possam demandar tempo do processador
durante pontos crticos na operao da planta.
O desenvolver do software do sistema de controle freqentemente
corresponde fase mais complexa e demorada do projeto, devido seleo da
estrutura do programa, escrita e depurao do cdigo e s modificaes do
circuito durante o desenvolvimento.

16

4.Materiais e Mtodos

4.1. Equipamento MOCVD

Na figura 4 est mostrado esquematicamente o equipamento para

obteno de filmes por meio da tcnica MOCVD, existente no Laboratrio de
Filmes Finos do CCTM. O equipamento tem como principais componentes uma
cmara de reao, que consiste em um reator de quartzo aquecido por um forno
infravermelho, e uma bomba de vcuo que mantm a cmara de reao sob
presso inferior atmosfrica. Permite o uso de trs precursores organometlicos
diferentes, alm de amnia. Os precursores organometlicos, bem como as linhas
de conduo de gs, so mantidos aquecidos. O gs vetor utilizado N 2. Uma
bomba de palhetas utilizada para manter o sistema em vcuo dinmico. A
bomba utilizada possui uma vazo de 40 m3/h. Uma vlvula de agulha est
instalada na entrada do reator e sua funo manter as linhas presso
atmosfrica, enquanto trabalha-se a uma presso menor dentro do reator.
As fontes so mantidas a uma temperatura suficiente para que seja
atingida a presso de vapor adequada a cada precursor (aproximadamente 40C
para isopropxido de titnio (TiP). Todas as linhas de gs so aquecidas por meio
de cordes de aquecimento, colocados ao redor das tubulaes de gs. Este
sistema de aquecimento evitar que vapores organometlicos se condensem
antes que atinjam o porta-amostra.
O controle da temperatura das linhas feito por controladores digitais
com sada do tipo PWM (modulao por largura de pulso), ajustados para 75C e
o aquecimento do banho termosttico do TiP controlado externamente.
O equipamento possui vlvulas de esfera manual na entrada de gases,
vlvulas do tipo agulha para ajuste do fluxo dos gases, fluxmetros de massa e
vlvulas eletropneumticas em cada linha. Na condio inicial todos os gases
esto direcionados para a linha BY PASS.
Os nmeros entre colchetes so referentes aos nmeros dos crculos na
figura 4.

17

A regulagem do fluxo dos gases e da presso das linhas feita sempre

com a vlvula direcionada linha do BY PASS [4].
Para efetuar o recobrimento de TiO2 utiliza-se a linha [2], gs de arraste, e
a linha [3]. A vlvula [2] se fecha, as duas vlvulas [1] e a vlvula [3], by pass, se
abrem simultaneamente. O nitrognio passa pelo borbulhador e sai carregando o
precursor, que ento enviado para o reator [5].
Para efetuar o recobrimento de TiN utilizam-se as linhas [1], [2]
juntamente com a linha [3] e abre-se a vlvula [3], by pass. Amnia enviada
para o reator [5], juntamente com o nitrognio que transporta o precursor.
As linhas sem numerao, trimetil trio e zircnio, no esto sendo
utilizadas neste trabalho.
Para elaborar o revestimento multicamadas alterna-se a passagem da
amnia para o reator atravs da vlvula [3], by pass da linha [1]. Ou seja, durante
a obteno da camada de TiO2, a vlvula de admisso de amnia permanece na
posio fechada. Para a obteno da camada de TiN, a vlvula aberta.

Em referncia figura 2, neste trabalho foram aplicadas as seguintes

condies:
Atuadores:
- Reais: Reles de acionamento das vlvulas
- Simulado: Boto de inicio do processo na tela do principal
Processo:
- Simulado: seqncia de deposio
Sensores:
- Reais: Sensor de temperatura, LM35, nas linhas dos gases
- Simulado: Nmeros aleatrios para simular a variao de temperaturas

Nas figuras 5 e 6 esto mostrados os painis do equipamento MOCVD e

o forno.

18

Figura 4: Equipamento MOCVD existente no laboratrio do CCTM, mostrado

esquematicamente.

19

(b)
(a)

Figura 5: Equipamento MOCVD. (a) painel frontal; (b) parte traseira do painel
frontal.

Figura 6: Forno. (a) forno aberto; (b) reator de quartzo posicionado dentro do
forno.

4.1.1

Parmetros de Deposio

Dentre os vrios parmetros que regem o crescimento por deposio

qumica em fase vapor, os mais importantes neste sistema so:

Temperatura de crescimento: A eficincia da pirlise do precursor diminui

quando a temperatura diminui. A utilizao de substratos metlicos limita a
temperatura de deposio

20

Presso total dentro do reator: a reduo da presso total aumenta a

velocidade de acesso da fase gasosa superfcie do substrato, e por
conseqncia evita a pirlise prematura dos reagentes. A presso varia de acordo
com as possibilidades oferecidas pela bomba existente no sistema.

Fluxo dos reagentes: diminuindo o fluxo total, as presses parciais dos

reagentes aumentam, e por conseqncia aumenta a velocidade de deposio.

Temperatura do banho termosttico: a temperatura determina a presso de

vapor do precursor organometlico dentro da fonte, e por conseqncia, a
quantidade de precursor capaz de ser conduzido pelo gs vetor at a cmara de
reao. A temperatura necessria varia de acordo com o organometlico utilizado.

4.2. Obteno de filmes multicamadas TiO2/TiN

O crescimento de filmes compostos por multicamadas TiO2/TiN foi feito

em uma nica etapa. Tal procedimento foi possvel atravs da admisso ou no
de amnia no sistema, a intervalos regulares. Foram utilizados substratos
monocristalinos de Si (100). A figura 7 mostra esquematicamente a estrutura do
revestimento.
TiN
TiO2
TiN
TiO2
TiN
TiO2
TiN
TiO2
Substrato

Figura 7: Revestimento multicamada mostrado esquematicamente.

Para a obteno de TiO2 utiliza-se apenas o isopropxido de titnio como
fontes tanto de titnio quanto de oxignio. Em seguida, adiciona-se ao sistema

21

NH3 para a obteno de TiN. Trata-se, portanto, de crescimentos utilizando

isopropxido

de

titnio

amnia,

que

so

introduzidos

no

sistema

simultaneamente, e so misturados antes de atingirem a cmara de reao. Para

a obteno dos sistemas multicamadas TiO2/TiN necessrio a abertura e o
fechamento da vlvula de admisso de amnia. Os tempos de permanncia nas
posies aberta ou fechada devem ser rigorosamente controlados e monitorados,
para que as camadas tenham interfaces abruptas e para que a espessura de
cada uma das camadas se repita.

4.3. Substrato

Foi utilizado substrato de Si (100), dimetro de 2, Tipo N (dopado com

fsforo), resistncia de 1 a 4 ohms e espessura de 275 +/- 25 m em todos os
testes.
Os substratos foram clivados em peas menores com auxlio de pina e
bisturi. A seguir, as peas foram lavadas por 3 minutos em uma soluo de 5%
H2SO4 em gua deionizada. Foram enxaguados em gua deionizada em
abundncia e secas com nitrognio analtico. Estes substratos foram levados
imediatamente ao reator.

4.4. Precursores

O organometlico isopropxido de titnio Ti(OCH(CH3)2)4 foi utilizado

como precursor tanto de Ti como de oxignio. O nitrognio analtico foi utilizado
tanto como gs de arraste quanto como gs vetor. A amnia utilizada como
precursor de nitrognio.
A temperatura do banho termosttico de isopropxido de titnio
controlada para determinar a presso de vapor do organometlico. O grfico da
presso de vapor de isopropxido de titnio, em funo a temperatura do banho,
mostrado na figura 8, e segue a lei:

22

Log10P(Torr) = 8,325-(2750/T(K))

3,5

presso de vapor (torr)

3,0
2,5
2,0
1,5
1,0
0,5
0,0
20

30

40

50

60

70

80

temperatura (C)

Figura 8: Presso de vapor do isopropxido de titnio em funo da temperatura

da fonte14.

4.5. Parmetros de processo

Os testes para obteno de camadas de TiO2 e TiN foram realizados, nas
condies mostradas na Tabela I:

Tabela I: Condies de Teste

TiO2

TiN

1 hora

1 hora

Temp. fonte (C)

38

38

Temp. Substrato (C)

700

700

Presso do reator (mbar)

100

100

Fluxo do N2 (l/min)

0,5

0,5

Fluxo do TiP (l/min)

0,5

0,5

Fluxo do NH3 (l/min)

0,5

Tempo de deposio

23

Para a obteno de multicamadas, adotou-se a espessura de TiN igual a 3

vezes a espessura de TiO2. Dessa forma:

Multicamadas com 4 perodos: A vlvula de admisso de amnia permanece

aberta por 9 minutos e fechada por 3 minutos. Esse procedimento
repetido por 4 vezes.
Multicamadas com 8 perodos: A vlvula de admisso de amnia permanece
aberta por 4 minutos e fechada por 1,5 minutos. Esse procedimento
repetido por 8 vezes.

Enquanto a vlvula de admisso de amnia est fechada o filme de TiO2

cresce sobre o substrato, quando a vlvula est aberta cresce o filme de TiN

4.6. Caracterizao das amostras

4.6.1. Caracterizao por Microscopia eletrnica de
varredura com emisso de campo (MEV-FEG)

As

amostras

destinadas

observao

da

superfcie,

para

caracterizao da morfologia, foram recobertas com platina e levadas diretamente

ao MEV-FEG. Foi utilizado um equipamento FEI Quanta 600F.
Para determinao da velocidade de crescimento dos filmes foram
analisadas as seces transversais das amostras que, aps clivagem, foram
recobertas com platina e levadas ao MEV-FEG. Neste caso, foram utilizadas
imagens de eltrons secundrios e eltrons retro-espalhados.
A velocidade de crescimento dos filmes foi estimada com base na medida
da espessura, dividido pelo tempo de crescimento.

24

4.6.2. Difrao de raios-X

Para a identificao das fases formadas foi utilizado um difratmetro de
raios-X de marca Rigaku. Foi utilizado um tubo de CuK

com passo de 0,05 e

tempo de aquisio de 10s.

4.7. Controle de abertura e fechamento das vlvulas

O equipamento MOCVD foi concebido de forma a comportar sua
automao. dotado de controladores eletrnicos de temperatura e eletrovlvulas para controle da admisso dos precursores. Com base nas dificuldades
experimentais em se controlar a abertura e fechamento das vlvulas, a
automao deste processo surgiu como uma adaptao necessria.
Para viabilizar a obteno de revestimentos multicamadas com perodos
de alguns nanmetros, faz-se necessrio o desenvolvimento de hardware e
programa, que permita abrir e fechar as vlvulas a intervalos regulares, j que
manualmente tal procedimento impreciso. Para tanto, foi feito um estudo do
equipamento MOCVD existente no IPEN, definio das adaptaes necessrias
no circuito eletrnico e elaborao do programa de controle.
Na automao do processo, foi utilizado o conceito de mquina de
estados para gerenciar o sistema. Mquina de estados uma ferramenta de
desenvolvimento usada em vrias plataformas de software porque de fcil
manuteno, fcil documentao e o cdigo pode ser reutilizvel.
Foi utilizada simulao com hardware in the loop para desenvolver e
testar o sistema.

25

4.7.1. Estrutura de montagem

A figura 9 mostra a estrutura de montagem da automao do
equipamento MOCVD.

Referncia
Atuadores

+
Micro PC

Placa de
aquisio

Interface
de sada

Sensores

Figura 9: Diagrama de blocos da estrutura de montagem.

Onde:

1. Micro PC: Computador controlador do processo

2. Placa de aquisio: Placa de aquisio contendo E/S (entrada/sada) e A/D
(analgico/digital)
3. Interface de sada: Bastidor com o circuito de chaveamento das vlvulas
4. Atuadores: Vlvulas pneumticas
5. Sensores: Sensores de temperatura da linha principal, banho termosttico e
linha da amnia.

plataforma

de

desenvolvimento

consiste,

especificamente,

na

montagem e utilizao de hardware com caractersticas semelhantes s

existentes no equipamento MOCVD que se encontra no laboratrio de filmes finos
no IPEN, permitindo o aproveitamento dos componentes utilizados atualmente.
Para a montagem do sistema, utilizou-se uma placa multifuncional de
aquisio de dados USB-600839 apresentada na figura 10, com as seguintes
especificaes: 8 entradas analgicas , 2 sadas analgicas , 12 Entradas/Sadas
digitais e 1 contador de 32-bits, ligado ao sensor de temperatura (LM35)40 e ao
amplificador de reles.

26

Figura 10: Placa multifuncional de aquisio de dados39 conectada ao LM3540 e

ao amplificador de reles, para a leitura de um termmetro e o acionamento de um
rele.

4.7.2. Descrio do Circuito

A sada digital da placa USB-600839 do tipo 5V (TTL/CMOS) e, para
acionar a vlvula pneumtica (24V) desejada, necessrio um circuito
amplificador, mostrado na figura 11.
Foi utilizado um acoplador ptico para a proteo do mdulo USB-600829
de um eventual curto-circuito que possa ocorrer na linha de 24V.

Figura 11: Circuito amplificador utilizado para acionamento das vlvulas

solenoides

27

Para a leitura da temperatura utilizou-se o sensor LM3540 mostrado na

figura 12. Trata-se de um circuito integrado de medio de temperatura de
preciso, cuja tenso de sada linearmente proporcional temperatura Celsius
(centgrado). Este circuito integrado no necessita de calibrao e possui uma
faixa de trabalho de -55 a 150C e uma tenso de sada de 10mV/C.

C.I. LM35
Faixa de trabalho -55 a 150C
No necessita de calibrao

Figura 12: Sensor de temperatura, LM3530.

28

5. Resultados e Discusso

A seguir esto apresentados os resultados obtidos aps a caracterizao

dos filmes.

5.1. Caracterizao dos filmes obtidos

Inicialmente, foram obtidas e caracterizadas amostras de filmes de TiO 2 e

de TiN separadamente, a 700 C. Com base na anlise dessas amostras foram
estipulados os tempos de abertura e fechamento da vlvula de admisso de
amnia no sistema.
Na figura 13a est apresentada a superfcie do filme de TiO 2 obtido aps
1h a 700C. Na figura 13b est apresentada a seco transversal do mesmo filme.
Observam-se estruturas que crescem perpendicularmente superfcie. A
velocidade de crescimento estimada de 14 nm/min. Anlises por difrao de
raios-X sugerem a existncia das fases anatase e rutilo.

(a)

(b)

Figura 13: Filme de TiO2 crescido por 1h a 700C. (a) superfcie; (b) seco
transversal.

29

Na figura 14 est apresentado o difratograma do filme de TiO2 obtido aps

1h a 700C, que sugere a presena das fases rutilo e anatase.

Figura 14: Difratograma do filme de TiO2.

Na figura 15a est apresentada a superfcie do filme de TiN obtido aps

1h a 700C. Na figura 15b est apresentada a seco transversal do mesmo filme.
Observam-se estruturas que cresceram perpendicularmente superfcie do
substrato. A velocidade de crescimento estimada de 13 nm/min. Anlises por
difrao de raios-X sugerem a fase TiN.

(a)

(b)

Figura 15: Filme de TiN crescido por 1h a 700C. (a) superfcie; (b) seco
transversal.

30

Na figura 16 est apresentado o difratograma do filme de TiN obtido aps

1h a 700C.

*
* TiN
Intensidade (u.a.)

200

100

40

50

60

2 (graus)

Figura 16: Difratograma do filme de TiN obtido aps 1h a 700C.

Na figura 17a est apresentada a superfcie do filme composto por

multicamadas (4 perodos) TiO2/TiN crescido a 700C. A figura 17b a seco
transversal do mesmo filme em imagem formada por eltrons secundrios.
Observa-se crescimento colunar. Na figura 17c est apresentada a seco
transversal do mesmo filme em imagem formada por eltrons retro-espalhados.
Observam-se camadas alternadas de TiO2 e TiN. A espessura do perodo de
aproximadamente 174 nm.
Na figura 18a est apresentada a superfcie do filme composto por
multicamadas (8 perodos) TiO2/TiN crescido a 700C. A figura 18b a seco
transversal do mesmo filme em imagem de eltrons secundrios. Observa-se
crescimento colunar. Na figura 18c est apresentada seco transversal do
mesmo filme em imagem de eltrons retro-espalhados. Observam-se camadas
alternadas de TiO2 e TiN. A espessura das camadas de TiO2 de
aproximadamente 64 nm e as de TiN so de aproximadamente 20 nm. A
espessura total do perodo de aproximadamente 84 nm.

31

(a)

(b)

(c)

Figura 17: Filme composto por multicamadas (4 perodos) TiO2/TiN a 700C. (a)
superfcie; (b) seco transversal em imagem de eltrons secundrios; (c) seco
transversal em imagem de eltrons retro-espalhados.

32

(a)

(b)

(c)

Figura 18: Filme composto por multicamadas (8 perodos) TiO2/TiN a 700C. (a)
superfcie; (b) seco transversal em imagem de eltrons secundrios; (c) seco
transversal em imagem de eltrons retro-espalhados.

5.2. Montagem do circuito e simulao do sistema

O programa do equipamento MOCVD foi desenvolvido para a plataforma

Microsoft Windows 95/98/NT/2000/XP/VISTA. O compilador depurador de
cdigo usado a ferramenta ANSI C Labwindows/CVI da National Instruments,
com um ambiente de desenvolvimento que possui um abrangente conjunto de
ferramentas de programao para a criao de testes e aplicaes em controle.
O programa est dividido em duas partes, onde uma um arquivo em
formato texto com os parmetros do ciclo de teste e a outra com a rotina principal.

33

O circuito experimental de acionamento das vlvulas foi montado em uma

placa de circuito impressa tipo universal e condicionado em uma caixa plstica,
conforme mostrado nas figuras 19 e 20.

Figura 19: Montagem experimental do circuito.

Figura 20: Vista frontal, leds indicadores visuais de acionamento.

5.1.1 Simulao do sistema de controle

Foram realizados testes de simulao em bancada no circuito de
acionamento das vlvulas, leitura do fluxo de massa, leitura e controle das
temperaturas.
O programa ficou rodando em vazio com ciclos de recobrimento
diferentes. Os resultados foram satisfatrios e a implementao da automao do
processo eliminar a varivel operador na resposta do experimento, bem como
permitir a abertura e fechamento das vlvulas em tempos menores. Dessa

34

forma, ser possvel crescer filmes multicamadas com espessuras da ordem de

alguns nanmetros.

5.1.2 Arquivo de parmetros de teste

Como mostra a figura 21, o arquivo com os parmetros de teste contm
as variveis dos parmetros de processo, tais como, tempo do ciclo de
recobrimento, tempo de acionamento das vlvulas e eventos ligado/desligado das
vlvulas, que so definidos em um arquivo no formato texto.

Figura 21: Arquivo com os parmetros de teste.

Descrio das linhas:

Na primeira linha: nome das respectivas vlvulas.
Na segunda: quantidade de passos a serem executados.
Na terceira linha: tempo total do ciclo em minutos.
Na quarta linha: tempo e status das vlvulas.
A partir da quinta linha: tempo (em frao de minutos) e estado das
vlvulas ligado/desligado

5.3. Programa, Rotina Principal

O programa denominado MOCVD.Exe contm a rotina principal
(Main_IPEN.c) que faz a leitura do arquivo com os parmetros de teste e inicia o
processo de controle do equipamento. Aps carregar o programa e, ao pressionar
o boto Inicio, entra em execuo a funo IPEN_Teste.

35

A funo IPEN_Teste executa os acionamentos das vlvulas conforme

estabelecido no arquivo parmetros de teste.
Ao final do ciclo todas as vlvulas so desligadas.

5.4. Descrio da Interface de usurio

Na figura 22, est disposta a tela principal com caixas de texto, botes e
indicadores visuais demonstrando o status do ciclo de recobrimento. As figuras 23
a 31 descrevem os itens da tela principal.

Figura 22: Tela principal, interface do usurio.

A figura 23 mostra a caixa de texto com o status do teste. Esta tela indica
o tempo de teste, ou seja, quanto tempo faz que o ciclo comeou, quanto tempo
falta para terminar o ciclo de teste, e passo em execuo, ou seja, qual item a
partir da linha cinco est sendo executado.

36

Figura 23: Status de teste.

A figura 24 mostra a caixa de texto com o status do sistema. Esta tela
indica quais vlvulas esto acionadas no decorrer da execuo do programa.

Figura 24: Status do sistema.

Na figura 25 est apresentada a tela que indica a temperatura das linhas

dos gases. A leitura das temperaturas feita mesmo sem iniciar o ciclo de
recobrimento. A figura 26 mostra um grfico de acompanhamento da variao das
temperaturas.

37

Figura 25: Indicao da temperatura da linha dos gases.

Figura 26: Grfico de acompanhamento da variao das temperaturas. Opo

selecionada pelo boto Grfico
A figura 27 mostra a tela com os botes de incio do ciclo, pausa e
finalizao do ciclo. Quando o boto pausa for pressionado a indicao visual
acima do boto ficar piscando, a contagem do ciclo ser interrompida e o
sistema manter a atual condio de acionamento das vlvulas. Quando o boto
pausa for pressionado novamente, a indicao visual acima do boto ir se
apagar e a contagem do ciclo continuar.

38

Figura 27: Botes de Inicio, pausa, parada do teste.

A figura 28 mostra a tela com os botes de acionamento manual. Estes

botes so utilizados para acionar as vlvulas individualmente numa eventual
manuteno do sistema, bem como para o ajuste de fluxo dos gases em um
setup inicial do processo.
Durante a execuo do ciclo de revestimento, o operador poder colocar
em modo manual e ligar/desligar qualquer vlvula do sistema. Entretanto, quando
outro passo entrar em vigor, o estado da vlvula ir agir conforme determinado no
novo passo.

Figura 28: Botes de acionamento manual das vlvulas.

A figura 29 mostra a caixa de texto com o nome do teste, neste caso
Recobrimento. O operador poder ter vrios testes com setups diferentes e
nome-los diferentemente.

39

Figura 29: Seleo do teste

A figura 30 mostra a tela principal com o boto de temperatura. Este

boto d acesso outra tela, conforme descrito na figura 31, com os valores
mnimo e mximo da temperatura de cada linha. A temperatura das linhas poder
ser ajustada individualmente antes ou durante o processo de recobrimento. A
figura 32 mostra o arquivo Templimites.txt com a configurao inicial das
temperaturas.

Figura 30: Ajuste de temperatura individual.

(20)

Figura 31: Boto de ajuste de temperatura.

40

Figura 32: Arquivo Templimites.txt com setup das temperaturas.

5.5. Fluxograma geral do programa

Na figura 33 mostrado o fluxograma geral do programa. Nota-se que
aps cada evento a temperatura atualizada na tela.

41

Inicio

inicializao

Carrega tabela
de parametros
de deposio

Atualiza tela
principal

no
Boto Inicio

sim
Chama funo
IPEN_Teste

Contagem
do ciclo

Atualiza
tela
L temperatura

Atualiza tela
principal

Fim do
ciclo

FIM

Figura 33: Fluxograma geral do programa

no
Boto
Parada
sim

42

5.5.1. Fluxograma das chamada de funes do programa

Na figura 34 mostrada a rotina principal do programa. A rotina Main
gerencia toda a execuo do programa. Os retngulos representam as funes
criadas para o controle do processo. As demais so as palavras reservadas
(funes internas) do compilador Labwindows/CVI.
Descrio das funes nos retngulos:

Inicializao: Faz a leitura dos arquivos Templimites.txt e o

arquivo com os parmetros de teste, configura a placa de
aquisio USB-6008 de forma que todas as vlvulas fiquem em
seu estado inicial e configura a leitura das temperaturas.
RelogioTempoTeste: Inicializa o tempo de teste em execuo.
RelogioTempoTesteRestante: Inicializa quanto tempo falta para
terminar o teste.
DisplayCiclo: Contador de passos
DisplayTesteSelecionado: Mostra na tela o nome do teste em
execuo

43

Figura 34: Rotina principal (main_ipen.c).

Na figura 35 mostrada com maiores detalhes a funo Inicializao.

Outro objetivo desta funo a de configurar a Thread (uma forma de executar
duas ou mais tarefas ao mesmo tempo) que gerencia a leitura das temperaturas.

44

Figura 35: Inicializao: L tabela de parmetros, inicializa placas, desliga reles e

habilita leitura de temperatura.

45

Figura 36: Funo IPEN_Teste: Aps pressionar o boto "Inicio", ocorre o controle
do ciclo trmico.

46

Na figura 36 mostrada a funo IPEN_Teste, que contm um conjunto

de instrues que controla a seqncia de processos que o programa faz durante
o ciclo de revestimento.
Na figura 37 mostrada a seqncia de processos que o programa faz
para ler a tabela de parmetros do ciclo de teste.

Figura 37: Funo: Leitura da tabela de parmetros e alocao na memria.

Na figura 38 mostrada a funo RL_n, A funo RL_n, que est atrelada a

um boto do painel manual que liga/desliga uma vlvula.

47

Figura 38: Subrotina RL_n: Boto/funo que liga/desliga reles

A figura 39 mostra como est disponibilizada a funo EscDigital6008,

detentora do controle da placa de aquisio USB-6008.

48

Figura 39: Subrotina EscDigital6008: Acesso a sadas.

49

A figura 40 mostra como est disponibilizada a funo ThreadFuno,

detentora da leitura das temperaturas.

Figura 40: Subrotina ThreadFuno: Faz a leitura/controle das temperaturas e

fluxo de massa.

50

6. Concluses

1) possvel crescer filmes com estrutura de multicamadas TiO2/TiN no

equipamento MOCVD disponvel no IPEN, em uma nica etapa.

2) Os filmes apresentaram crescimento colunar, perpendicular ao substrato. A

velocidade de crescimento dos filmes de xido e de nitreto so similares nas
condies estudadas, da ordem de 13-14 nm/min.

3) Durante o experimento, observou-se que a habilidade do operador em abrir e

fechar a vlvula de amnia nos intervalos utilizados influenciava a espessura
de bi-camada dos filmes. Para eliminar a influncia do operador nesse
procedimento

de

abertura

fechamento,

foi

proposto

um

sistema

computadorizado para controlar e monitorar todo o ciclo de deposio dos

filmes finos.

4) O modelo proposto foi montado em bancada. Obteve-se bom desempenho

nos testes de acionamento das vlvulas solenides, monitoramento da
temperatura das linhas dos gases, e seleo de outras opes de tempos de
crescimento.

51

7.REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS

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temperature applications. E.Lang (Eds.) Elsevier Applied Science
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37 Application Note 007, Data Acquisition Fundamentals, National Instruments,

2002.

38 BISCHOP, R. H., Mechatronic System Control, Logic, and Data

Acquisition, 2ed, CRC Press, 2007.

39 National Instruments, NI-USB6008, 12-Bit, 10 kS/s Low-Cost Multifunction

DAQ http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/en/nid/14604.

40 National Semiconductor, LM35, Precision Centigrade Temperature Sensors,

datasheet

56

8. Anexo
O cdigo a seguir, em linguagem de programao C, corresponde
biblioteca de funes essenciais para o funcionamento do algoritmo de controle.
A biblioteca compilada para Windows, necessitando do Labwindows/CVI
instalado.
/*
*

Projeto IPEN

Controle do processo de recobrimento de filmes finos

Autor: Andr Gonalves - 10-01-2010

Orientador: Dra. Marina Fuser Pillis

Verso 1.0

*/

#include "windows.h"
#include <analysis.h>
#include <rs232.h>
#include <utility.h>
#include <formatio.h>
#include <ansi_c.h>
#include <cvirte.h> /* Needed if linking in external compiler; harmless otherwise */
#include <userint.h>
#include "exerciser.h"
#include "AuxExer.h"
#include "auxiliar.h"
#include "NIDAQmx.h"

/*-------- Variveis para o NI_DAQ, aquisio de dados-----------------------------------------*/

#define MIN_TENSAO_DA 0
#define MAX_TENSAO_DA 5
static TaskHandle entradas_analogicas_handler,
saidas_analogicas_handler,
portas_digitais_handler;

57

// Variveis do USB-600x
int

status = 0,
sampsPerChan = 256,
tamanho = 5000,
tamanho_real,
acao_digital;

char canal_ad_string[256] = "Dev2/ai0",

canal_da_string[256] = "Dev2/ao0:1",
canal_dig_string[256];
double

rate = 10000,

time_out = 2,
leituras[5000],
leituras_2[1500];
int EscDigital6009(char *canal_string, uInt32 valor_escrever, int tipo_escrita);

/*---------------------- Variveis globais -----------------------------------------*/

long int max;
int status;
int TempNew, FinishTest, PauseTest, Ligado;
char strtemp[5] = "00", buffer [80];
static DWORD dwThreadId;
static HANDLE hThread;
extern double

lim_sup, lim_inf,

Sup_Ytmhd, Sup_Serp, Sup_Princ, Sup_Prec, Sup_BpN2, Sup_BpNH3,

Inf_Ytmhd, Inf_Serp, Inf_Princ, Inf_Prec, Inf_BpN2, Inf_BpNH3;

DWORD WINAPI IPEN_Teste (LPVOID data);

/*------------------------------------------------------------------------------------------------------*/

/****************************************************************************
Mtodo: main
Finalidade: Responsvel por iniciar a execuo do programa
Parmetros: argumentos do sistema
Retornar: 0
****************************************************************************/
int main (int argc, char *argv[])
{
int i = 0, action;

58

/* Chamada da tela principal*/

if (InitCVIRTE (0, argv, 0) == 0) /* Needed if linking in external compiler; harmless otherwise */
return -1;

/* out of memory */

if ((painel_1 = LoadPanel (0, "exerciser.uir", PANEL)) < 0)

return -1;
DisplayPanel (painel_1);
if ((painel_4 = LoadPanel (0, "exerciser.uir", PANEL_L)) < 0)
return -1;

/* Inicializao da mquina - carga de tabelas de teste - setup da fonte */

status = Inicializacao();
manual ( painel_1, PANEL_MANUAL, EVENT_COMMIT, &action, OFF, OFF);

//Tread de leitura dos termmetros

modo_thread = LEITURA;

/*Controle de tempo

*/

/* Calcula tempo de teste em segundos */

MaxHiTemp=tmTempo_ciclo;
MaxLowTemp= 72 * 3600;

/* Funes de chamada do relgio */

RelogioTempoTeste (MaxHiTemp,cont_princ);
RelogioTempoTesteRestante (MaxHiTemp,cont_princ);

/* Funo para mostrar o teste selecionado */

DisplayTesteSelecionado();
/* Funo responsvel por atualizar a interface do usurio */
RunUserInterface ();

/*-------Funes para limpar o buffer do mdulo USB-600X------------*/

DAQmxClearTask(entradas_analogicas_handler);
DAQmxClearTask(saidas_analogicas_handler);
CmtDiscardThreadPool (PoolHandle);

return 0;
}

59

/****************************************************************************
Mtodo: Inicializacao
Finalidade: Carregar os arquivos de parmetros de tempo, inicializar variveis e configurar a
Placa USB-600x.
Parmetros: nenhum
Retornar: nada
****************************************************************************/
int Inicializacao(void)
{

int i=0;
char *source, aux[20], caminho[MAX_PATHNAME_LEN]="";

/*-------- inicializa variveis -------*/

ini=0;

/* flag inicializar teste */

ResetContadores();

/* carrega tabela de passos

*/

//TabNome=".\\tabelas\\HighTempCycle2.txt";
strcpy (TabNome, ".\\tabelas\\HighTempCycle2.txt");
FileSelectPopup (".\\TABELAS", "*.txt", "", "Selecione a tabela de parmetros",
VAL_LOAD_BUTTON, 0, 0, 1, 0, TabNome);

/*Carrega os arquivos com os parmetros do ciclo */

CarregaTabela();
CarregaLimites();

/* Variveis que determinam os nomes dos testes */

NomeTeste[0]="Recobrimento";
NomeTeste[1]="Low Temperature Operation ";
/* Limpa os tens da caixa Seleo do tipo de teste*/
for(i=0;i<1;i++)
{
status = InsertListItem (painel_1, PANEL_SeletorTeste, -1, NomeTeste[i],0);
}

60

/* Limpa a caixa de status do teste */

for(i=0;i<5;i++)
{
status = InsertTextBoxLine (painel_1, PANEL_Mensagem,i,"-");
}
for(i=0;i<30;i++)
{
status = InsertTextBoxLine (painel_1, PANEL_DisplayClusterStatus,i,"-");
}

/* cria pool de threads */

CmtNewThreadPool (2, &PoolHandle);

CmtSetThreadPoolAttribute (PoolHandle,
ATTR_TP_THREAD_PRIORITY,THREAD_PRIORITY_ABOVE_NORMAL);
//CmtSetThreadPoolAttribute (PoolHandle,
ATTR_TP_THREAD_PRIORITY,THREAD_PRIORITY_HIGHEST);

/* Inicia funcao em thread */

CmtScheduleThreadPoolFunction (PoolHandle, ThreadFuncao, (void*)0, &threadID);

/*Varivel para leitura dos termmetros */

modo_thread = PARAR_LEITURA;

/* Aquisio de dados */

//Inicializa placa NI-600x

ResetDev ();

//Configura A/D
status = DAQmxCreateTask("",&entradas_analogicas_handler);
status = DAQmxCreateTask("",&saidas_analogicas_handler);
status = DAQmxCreateAIVoltageChan (entradas_analogicas_handler,
canal_ad_string, "", DAQmx_Val_RSE,
-10, 10, DAQmx_Val_Volts, NULL);
status = DAQmxCreateAOVoltageChan(saidas_analogicas_handler,canal_da_string,"",
MIN_TENSAO_DA, MAX_TENSAO_DA, DAQmx_Val_Volts,NULL);

61

//Desliga todas as sadas port0

for (i=0;i<=7;i++){
strcpy(canal_dig_string, "Dev2/port0/line");
strcpy (aux, "");
Fmt (aux, "%s<%i", i);
strcat(canal_dig_string, aux);
EscDigital6009(canal_dig_string, OFF, 0);
}
//Desliga todas as sadas port1
for (i=0;i<=3;i++){
strcpy(canal_dig_string, "Dev2/port1/line");
strcpy (aux, "");
Fmt (aux, "%s<%i", i);
strcat(canal_dig_string, aux);
EscDigital6009(canal_dig_string, OFF, 0);
}

return 0;
}
/****************************************************************************
Mtodo: Inicializacao
Finalidade: Rotina de Teste (threads), responsvel pela execuo da atuao das vlvulas e
controle do tempo do sistema -.
Parmetros: nenhum
Retornar: nada
****************************************************************************/
DWORD WINAPI IPEN_Teste (LPVOID data)
//int IPEN (void)
{
long tpasso;
int i,rot, press=0, temp=0;
double vel,Tempo_Ligado = MaxHiTemp;// * 3600; /* em segundos */
double Tempo_Desligado = 0;

/* em segundos (no utilizado neste teste) */

unsigned int Numero_Ciclos = 1;

double TempoInicial, TempoAtual, TempoCiclo;
double TempoOff, TempoPausa = 0,TempoPausaAnterior = 0, t;
int ResetOffTimer = 1,status;
float Tempo_Total_Teste;
double tempo,Cycle_Number = 0;

62

SetCtrlVal (painel_1, PANEL_CiclosUsuario, Numero_Ciclos);

no painel

/* atualiza nmero de ciclos

*/

SetCtrlVal (painel_1, PANEL_TempoLigado, (Tempo_Ligado / 60)); /* atualiza tempo ligado no

painel

*/

SetCtrlAttribute (painel_1, PANEL_CiclosUsuario, ATTR_DIMMED, 1);

SetCtrlAttribute (painel_1, PANEL_TempoLigado, ATTR_DIMMED, 1);

Tempo_Total_Teste = (Tempo_Ligado + Tempo_Desligado) * Numero_Ciclos;

TempoInicial = Timer ();
do
{
if (PauseTest == 1)
{
TempoPausaAnterior = TempoPausa;
t = Timer ();
do
{
TempoPausa = Timer () - t;
ProcessSystemEvents();
}
while ( (PauseTest == 1) && (!FinishTest) );

TempoPausa = TempoPausaAnterior + TempoPausa;

}
TempoAtual = Precision ( (Timer () - TempoInicial) - TempoPausa, 0);
if (ResetOffTimer == 1)
{
TempoOff = Timer ();
ResetOffTimer = 0;
}
RelogioTempoTeste (Tempo_Total_Teste, TempoAtual);
RelogioTempoTesteRestante (Tempo_Total_Teste, TempoAtual);
Scan(sTime[PassoIndex],"%s>%i",&tpasso);
if (PassoIndex != PassoIndexAntigo)
{
modo_thread = PARAR_LEITURA;

TempoCiclo = Timer();
DisplayPasso(PassoIndex);

63

RL_1(TipIn[PassoIndex]);
//Delay_thread(0.05);
RL_2(TipOut[PassoIndex]);
//Delay_thread(0.05);
RL_3(Reator[PassoIndex]);
//Delay_thread(0.05);
RL_4(T_tmhdy_In[PassoIndex]);
//Delay_thread(0.05);
RL_5(T_tmhdy_Out[PassoIndex]);
//Delay_thread(0.05);
RL_6(Reator_2[PassoIndex]);
//Delay_thread(0.05);

modo_thread = LEITURA;

PassoIndexAntigo = PassoIndex;
}

if ( (Timer() - TempoCiclo) >= tpasso )

PassoIndex=PassoIndex+1;
if (Tempo_Desligado !=0 )
{
if ( (Timer () - TempoOff) >= (Tempo_Ligado) )
{
ResetOffTimer = 1;
tempo = Timer ();
do
{
///Delay_thread(1);
if (PauseTest == 1)
{
TempoPausaAnterior = TempoPausa;
t = Timer ();
do
{
TempoPausa = Timer () - t;
ProcessSystemEvents();
}
while ( (PauseTest == 1) && (!FinishTest) );
TempoPausa = TempoPausaAnterior + TempoPausa;

64

}
TempoAtual = Precision ( (Timer () - TempoInicial) - TempoPausa, 0);
RelogioTempoTeste (Tempo_Total_Teste, TempoAtual);
RelogioTempoTesteRestante (Tempo_Total_Teste, TempoAtual);

}
while ( ((Timer() - tempo) < Tempo_Desligado) && ((Timer () - TempoInicial) <
Tempo_Total_Teste) && (!FinishTest) );
Delay_thread (Tempo_Desligado);

if (! ( (( Timer () - TempoInicial - TempoPausa) < Tempo_Total_Teste) && (!FinishTest)

))
DisplayPanel (painel_3);
}
}
/*verifica se e o ultimo passo */
if (PassoIndex == MP)
{
tempo_ciclo=-1;
PassoIndex = 0;
PassoIndexAntigo = -1;
cont_ciclo=cont_ciclo+1; /* contador ciclo */
}
}
while ( (( Timer () - TempoInicial - TempoPausa) < Tempo_Total_Teste) && (!FinishTest) );/* fim
do teste */

ini=0;
PassoIndex = 0;
PassoIndexAntigo = -1;
ResetContadores();

//Desliga sistema
DesligaSistema ();

cont_ciclo = 0;
tempo_ciclo=-1;
MessagePopup (NomeTeste[TesteExec], "Fim do teste !!!");
SetCtrlVal (painel_1, PANEL_LED_Start, 0);
HabilitaControlesDisplay ();

65

SetCtrlAttribute (painel_1, PANEL_CiclosUsuario, ATTR_DIMMED, 0);

SetCtrlAttribute (painel_1, PANEL_TempoLigado, ATTR_DIMMED, 0);

return 0;

/****************************************************************************
Mtodo: RL_1
Finalidade: Rotina interna de acionamento dos reles
Parmetros: nome do boto
Retornar: nada
****************************************************************************/

void RL_1(char *st)

{
int result;

strcpy (canal_dig_string, nDev);

strcat(canal_dig_string, "/port0/line0");
result = CompareStrings (st, 0, "on", 0, 0);
if (result==0){
SetCtrlAttribute (painel_1, PANEL_RL_1, ATTR_CTRL_VAL, ON);
SetCtrlVal (painel_1,PANEL_LED_2 ,ON);
EscDigital6009(canal_dig_string, ON, 0);
}
result = CompareStrings (st, 0, "off", 0, 0);
if (result==0){
SetCtrlAttribute (painel_1, PANEL_RL_1, ATTR_CTRL_VAL, OFF);
SetCtrlVal (painel_1,PANEL_LED_2 ,OFF);
EscDigital6009(canal_dig_string, OFF, 0);
}
}