Mestrado Adriane2

SOCIEDADE EDUCACIONAL DE SANTA CATARINA INSTITUTO SUPERIOR TUPY MESTRADO EM ENGENHARIA MECNICA
AVALIAO DA RUGOSIDADE EM SUPERFCIES COMPLEXAS
ADRIANE MACHADO
JOINVILLE 2009
ADRIANE MACHADO
Dissertao apresentada ao Programa de Ps-Graduaos em Engenharia Mecnica do Instituto Superior Tupy, como requisito para a obteno do ttulo de Mestre em Engenharia Mecnica.
Orientadora: Prof Dr. Sueli Fischer Beckert
JOINVILLE 2009
III
Adriane Machado
Dissertao defendida e aprovada em 19 de maio de 2009, pela banca examinadora constituda pelos prodessores:
___________________________________________________________________________ Prof Dr. Sueli Fischer Beckert IST (Orientadora) Instituto Superior Tupy
___________________________________________________________________________ Prof Dr. Adilson Jos de Oliveira Instituto Superior Tupy
___________________________________________________________________________ Prof Dr. Luiz Veriano Oliveira Dalla Valentina CCT-UDESC
DEDICATRIA
Dedico este trabalho a todos os que colaboraram com a minha formao acadmica. Desde o meu primeiro professor, meu pai.
AGRADECIMENTOS
Primeiramente a Deus, por ter me possibilitado a realizao desse trabalho com sade e muitas felicidades e ter me trilhado esse caminho maravilhoso de VIDA. A doutora, mestre e orientadora Sueli Fischer Beckert, pela dedicao, apoio e orientao. A Sociedade Educacional de Santa Catarina (SOCIESC) pelo apoio para a realizao do trabalho de mestrado utilizando o Laboratrio de Metrologia. Ao Instituto Fbrica do Milnio (IFM) pela possibilidade de trabalhar com o projeto PROMOLDE e ao prof Doutor, Adriano Fagali de Souza pela disponibilizao das informaes. Aos meus pais, Accio Machado e Dolores Zils Machado, pela constante fora, carinho e amor durante toda a vida. Ao meu noivo Fernando, que mostrou o real significado do amor pelo companheirismo, compreenso, ajuda, fora, carinho e paz de todas as horas.
RESUMO
O acabamento superficial uma caracterstica que vem sendo cada vez mais solicitada por fornecedores de moldes e tambm por ferramentarias que necessitam monitorar o acabamento da superfcie usinada. Este trabalho faz um estudo sobre as condies de medio de rugosidade em superfcies complexas, utilizando rugosmetros de contato. So abordados os principais parmetros de rugosidade e os cuidados na preparao da mquina de medio, de forma a minimizar as distores na filtragem das ondulaes. A parte experimental do trabalho fez uso de cavidades em formato oval, obtidas por diferentes estratgias de usinagem. Foram realizadas medies com rugosmetro de bancada, e uma comparao com um padro de verificao visual foi conduzida com a finalidade de observar se os valores quantitativos obtidos em ambos as medies estavam correlacionados. Posteriormente, foram realizadas medies de rugosidade em peas injetadas nos materiais Poliestireno e ABS antes do processo de polimento, tambm objetivando verificar a transferncia da topografia deixada pela ferramenta para o produto. Buscando avaliar o efeito do material do molde, foi executado um processo de polimento manual e mecnico nos aos P20 e H13. A avaliao da rugosidade no molde polido tambm foi realizada, e uma comparao com os tempos de polimento de cada cavidade usinada foi analisada. Como resultado da pesquisa realizada, pode-se chegar a parmetros de avaliao de rugosidade como Ra, Rz e se possvel o nvel c com o percentual especificado para caracterizar superfcies complexas de moldes; e procedimentos adequados de avaliao, de forma que pudessem monitorar a qualidade superficial e assim, apoiar na caracterizao da superfcie. Incluiu-se como parte do procedimento, a definio dos parmetros de preparao de mquina de medio necessrios para realizar uma medio com confiabilidade, incluindo a seleo da ponta de contato, o tipo de filtro, a remoo de forma e a medio sem a utilizao da sapata. Palavras-chave: Molde, usinagem, superfcie complexa, rugosidade.
ABSTRACT
The surface finish is a feature that is being increasingly requested by suppliers of molds and by tooling industry which need to observe the finish of machined surface. This work represents a study of the roughness measurement conditions in complex surfaces using contact roughness machine. In this work were elaborated the main parameters of roughness and the cautions needed for the preparation of measuring machine in order to minimize the distortions in the filtering of ripples. During the experimental phase of the work, oval shape cavities were used, obtained by different machining strategies. Measurements were performed with the roughness meter bench, and a comparison with a use of visual pattern was conducted in order to see if the quantitative values obtained in both measurements were correlated. After were performed roughness measurements on the pieces injected in the polystyrene and ABS materials before the polishing process, also aiming to verify the transfer of the topography left by the tool on the product. Looking for evaluation of the effect of the material, a process of manual and mechanical polishing of the P20 and H13 steel was performed. The evaluation of the roughness on the polished mold was also performed, and a comparison of the polishing time of each machined cavity was analyzed as well. As a result of the research, it is possible to come to roughness valuation parameters such as Ra, Rz and if possible to the level c with the specified percentage to characterize complex surfaces of molds; and appropriate procedures for evaluation, so they could monitor the surface quality and so support the characterization of the surface. It was included as part of the procedure, the definition of parameters for the preparation of measuring machine required to perform a reliable measurement, including the selection of the contact point, the filter type of, form removal and a measurement without use of skid. Key-words: Mold, machining, complex surface, roughness.
SUMRIO
INTRODUO .....................................................................................................................15 1. CONCEITOS DE SUPERFCIE .....................................................................................18 1.1. DEFINIES RELACIONADAS AO PERFIL..............................................................22 2. SISTEMAS DE MEDIO DE RUGOSIDADE E DE ONDULAO .....................24 2.1. APALPADOR ..................................................................................................................27 2.2. SELETOR DE FILTRO ...................................................................................................31 2.2.1. Tipos de filtro ................................................................................................................31 2.2.2. Comprimento de amostragem (cut-off)..........................................................................32 2.3. REMOO DE FORMA.................................................................................................37 3. PARMETROS DE TEXTURA SUPERFICIAL .........................................................42 3.1. DETERMINAO DA LINHA MDIA........................................................................43 3.2. COMPRIMENTO DE AVALIAO .............................................................................45 3.3. CLASSIFICAO DOS PARMETROS PARA A MEDIO DA TEXTURA SUPERFICIAL........................................................................................................................46 3.3.1. Parmetros de amplitude ...............................................................................................46 3.3.1.1.Rp e Rv - Amplitude mxima de picos e vales ...........................................................46 3.3.1.2.Rz Amplitude mxima de perfil por comprimento de medio................................47 3.3.1.3.Rt Amplitude total de perfil ......................................................................................48 3.3.1.4.Ra Amplitude mdia de perfil ..................................................................................49 3.3.1.5.Rq Desvio mdio quadrtico do perfil......................................................................50 3.3.1.6.Rsk Assimetria do perfil ..........................................................................................51 3.3.1.7.Rku Achatamento do perfil ......................................................................................53 3.3.2. Parmetros de espaamento...........................................................................................54 3.3.2.1. RSm Largura mdia dos elementos do perfil ...........................................................54 3.3.3. Parmetros hbridos .......................................................................................................55 3.3.3.1.Pc e HSC Contagem de elementos de um perfil.......................................................55 3.3.3.2.Rmr(c) Material Ratio ..............................................................................................57 4. O COMPORTAMENTO DOS PARMETROS DE RUGOSIDADE EM FUNO DA ESTRATGIA DE ACABAMENTO NO FRESAMENTO DE MOLDES ..............58
4.1. POLIMENTO ...................................................................................................................63 5. PROCEDIMENTO EXPERIMENTAL E RESULTADOS ..........................................69 5.1. MEDIO NAS PEAS INJETADAS...........................................................................80 5.2. MEDIO COM PADRO VISUAL E TTIL DE RUGOSIDADE ...........................91 5.3. AMOSTRAS POLIMENTO MECNICO ......................................................................93 5.4. TEMPO DE POLIMENTO COMPARADO COM OS PARMETROS DE RUGOSIDADE .......................................................................................................................95 5.5. MEDIO DA RUGOSIDADE DO MOLDE APS O POLIMENTO ........................96 CONSIDERAES FINAIS E SUGESTES PARA TRABALHOS FUTUROS .........99 REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS ..............................................................................103
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LISTA DE FIGURAS
Figura 1 Geometria tridimensional das marcas da crista-1 e crista-2.................................... 18 Figura 2 Influncia do caminho da ferramenta rugosidade, (a) trajetria de segmentos de retas, (b) trajetria de tangenciamento contnuo ...................................................................... 19 Figura 3 - Desvios que compe o acabamento superficial ....................................................... 20 Figura 4 - Classificao de textura superficial ......................................................................... 21 Figura 5 Diagrama esquemtico das caractersticas de uma superfcie................................. 22 Figura 6 - Representao das amplitudes de picos e vales no perfil de rugosidade. ................ 23 Figura 7 - Princpio bsico dos instrumentos de medio de textura superficial. .................... 24 Figura 8 - Componentes de instrumentos de medio de rugosidade e de ondulao atravs de contato. ..................................................................................................................................... 25 Figura 9 Direo de medio: a) sulcos ordenados; b) sulcos no-ordenados ...................... 26 Figura 10 - Representao do efeito do raio do apalpador (tipo 2,5 e 12,5m) na reduo de amplitude das irregularidades de uma determinada superfcie................................................. 27 Figura 11 - Padro dimensional e de forma dos apalpadores ................................................... 28 Figura 12 - Erro de medio de rugosidade mdia introduzido pela utilizao de diferentes dimenses de apalpadores em superfcies planas ..................................................................... 29 Figura 13 - Fora esttica mxima recomendada para a medio de textura superficial com instrumentos de contato ............................................................................................................ 30 Figura 14 - Efeito da utilizao de filtros 2CR, 2CR PC e Gauss............................................ 32 Figura 15 - Conceito de cut-off para filtragem de rugosidade e ondulao.............................. 33 Figura 16 - Caracterstica de transmisso de perfis de rugosidade e ondulao ...................... 34 Figura 17 - Combinao de filtros para obteno de perfis modificados na avaliao de textura superficial. ................................................................................................................................ 34 Figura 18 Perfis Aperidico (a) e Peridico (b). ................................................................... 36 Figura 19 Demonstrao grfica da remoo LS Line realizada pelo rugosmetro ............... 37 Figura 20 - Demonstrao grfica da remoo MZ Line realizada pelo rugosmetro .............. 38 Figura 21 - Demonstrao grfica da remoo Datum realizada pelo rugosmetro ................. 38 Figura 22 - Demonstrao grfica da remoo LS Arc realizada pelo rugosmetro ................. 38 Figura 23 - Desenho esquemtico da referncia interna (referncia da unidade de leitura) .... 39
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Figura 24 - Localizao esquemtica de uma referncia externa (sapata) em instrumentos de textura superficial com contato................................................................................................. 39 Figura 25 - Distoro causada pela presena de ocasionais e destacados picos no trajeto de medio de textura superficial com contato e sapata ............................................................... 40 Figura 26 - Relao entre as dimenses e seu efeito na distoro do perfil superficial ........... 41 Figura 27 - Representao esquemtica de perfis e parmetros de rugosidade........................ 42 Figura 28 - Representao esquemtica da forma da linha mdia em perfis nominais............ 44 Figura 29 - Linha mdia do sistema M. ................................................................................ 44 Figura 30 - Representao esquemtica dos comprimentos de avaliao envolvidos na determinao de um perfil de rugosidade................................................................................. 45 Figura 31 - Amplitudes mximas de picos a) Rp e vales b) Rv a partir de um perfil de medio de rugosidade............................................................................................................................ 47 Figura 32 - Amplitude mxima de perfil a partir de um perfil de rugosidade.......................... 48 Figura 33 - Para determinao de Rt, considerar mais alto Rp e mais profundo Rv, para um comprimento de avaliao. ....................................................................................................... 49 Figura 34 - Representao grfica da rugosidade mdia em um perfil de rugosidade. ............ 50 Figura 35 - Representao esquemtica da assimetria de perfis de rugosidade. ...................... 51 Figura 36 - Representao esquemtica de perfis com semelhante assimetria e diferente rugosidade mdia...................................................................................................................... 52 Figura 37 Fator de achatamento do perfil (Rku).................................................................... 53 Figura 38 - Representao esquemtica da distncia ou largura entre os elementos de perfil para determinao do RSm. ...................................................................................................... 55 Figura 39 - Identificao das linhas de corte superior (C1) e inferior (C2) para a contagem de picos de um perfil de rugosidade e definio do parmetro Pc................................................ 56 Figura 40 - Identificao das linhas de contagem de picos baseado no perfil de rugosidade para determinao do HSC. ...................................................................................................... 56 Figura 41 - Parmetro Rmr ....................................................................................................... 57 Figura 42 Tempo de processo na produo de moldes e matrizes ........................................58 Figura 43 Passos na direo longitudinal e transversal da ferramenta de corte considerados para a medio de rugosidade................................................................................................... 61 Figura 44 Direo de corte .................................................................................................... 64 Figura 45 Comparao de superfcies polidas....................................................................... 65
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Figura 46 - Polimento manual .................................................................................................. 65 Figura 47 Polimento mecnico .............................................................................................. 66 Figura 48 Trajetria da ferramenta para as estratgias 1- 3D offset, 2- Z constante otimizado, 3- radial para cima, 4- radial para baixo e 5- raster................................................ 70 Figura 49 Corpo de prova (cavidade superior)...................................................................... 70 Figura 50 Equipamento de medio com contato. ................................................................ 71 Figura 51 Padres utilizados para regulagem e verificao do rugosmetro (na seqncia de cima para baixo: Semi-esfera padro e padro de rugosidade e ranhuras)............................... 71 Figura 52 Apalpador cnico com ponta esfrica ................................................................... 72 Figura 53 Comparao entre distores de filtros ................................................................. 73 Figura 54 Alturas medidas..................................................................................................... 74 Figura 55 - Visualizao do topo das cavidades e o grfico de rugosidade ............................. 77 Figura 56 - Visualizao da lateral das cavidades e o grfico de rugosidade .......................... 79 Figura 57 Comparao do Ra entre o topo das peas (face interna) com o molde (face externa) ..................................................................................................................................... 81 Figura 58 - Comparao do Rz entre o topo das peas (face interna) com o molde (face externa) ..................................................................................................................................... 82 Figura 59 Comparao do c (50%) entre o topo das peas (face interna) com o molde (face externa) ..................................................................................................................................... 82 Figura 60 Comparao do Ra entre a lateral das peas (face interna) com o molde (face externa) ..................................................................................................................................... 84 Figura 61 Comparao do Rz entre a lateral das peas (face interna) com o molde (face externa) ..................................................................................................................................... 85 Figura 62 Comparao do c (50%) entre a lateral das peas (face interna) com o molde (face externa) ..................................................................................................................................... 85 Figura 63 - Comparao do Ra entre o topo das peas (face interna e externa) com o molde (face externa) ............................................................................................................................ 87 Figura 64 - Comparao do Rz entre o topo das peas (face interna e externa) com o molde (face externa) ............................................................................................................................ 87 Figura 65 - Comparao do c (50%) entre o topo das peas (face interna e externa) com o molde (face externa) ................................................................................................................. 88
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Figura 66 - Comparao do Ra entre a lateral das peas (face interna e externa) com o molde (face externa) ............................................................................................................................ 89 Figura 67 - Comparao do Rz entre a lateral das peas (face interna e externa) com o molde (face externa) ............................................................................................................................ 90 Figura 68 - Comparao do c (50%) entre a lateral das peas (face interna e externa) com o molde (face externa) ................................................................................................................. 90 Figura 69 Comparao visual no topo das cavidades considerando o parmetro de rugosidade Ra ........................................................................................................................... 92 Figura 70 - Comparao visual na lateral das cavidades considerando o parmetro de rugosidade Ra ........................................................................................................................... 92 Figura 71 Comparativo das amostras de polimento em metal H13 e P20 utilizados para construo de moldes em diferentes etapas do lixamento ao polimento.................................. 94 Figura 72 - Comparao do Ra, Rt, Rp e Rz no topo das cavidades......................................... 97 Figura 73 - Comparao do Ra, Rt, Rp e Rz na lateral das cavidades ...................................... 98
LISTA DE TABELAS
Tabela 1 - Cut-offs padro para filtros Gauss e associados relao de cut-off e ao raio da ponta de apalpadores, recomendados para medio de rugosidade.......................................... 35 Tabela 2 - Comprimento de amostragem (cut-off) conforme normas tcnicas ........................ 36 Tabela 3 Parmetros de rugosidade medidos (m) ................................................................ 62 Tabela 4 Nveis de acabamento obtidos por direo de corte ............................................... 64 Tabela 5 Classificao dos acabamentos superficiais encontrados na indstria mecnica ... 68 Tabela 6 - Medidas obtidas no topo das cavidades do molde .................................................. 75 Tabela 7 Medidas obtidas na lateral das cavidades do molde ............................................... 77 Tabela 8 Medidas obtidas no topo interno da pea em ABS................................................. 80 Tabela 9 - Medidas obtidas no topo interno da pea em Poliestireno ...................................... 80 Tabela 10 - Medidas obtidas na lateral interna da pea em ABS ............................................. 83 Tabela 11 - Medidas obtidas na lateral interna da pea em Poliestireno.................................. 83 Tabela 12 - Medidas obtidas no topo externa da pea em ABS ............................................... 86 Tabela 13 - Medidas obtidas no topo externa da pea em Poliestireno.................................... 86 Tabela 14 - Medidas obtidas na lateral externa da pea em ABS ............................................ 88 Tabela 15 - Medidas obtidas na lateral externa da pea em Poliestireno ................................. 89 Tabela 16 Medies com o padro visual e ttil de rugosidade atravs do parmetro Ra (m) .......................................................................................................................................... 91 Tabela 17 Demonstrativo dos valores de rugosidade encontrados nos etapas do lixamento at o polimento (dureza obtida: P20 = 18HRC, H13 = 14HRC).............................................. 95 Tabela 18 - Medidas obtidas no topo externo do molde........................................................... 96 Tabela 19 - Medidas obtidas na lateral externa do molde ........................................................ 97
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INTRODUO
O controle da textura superficial em peas usinadas tem uma importncia significativa por afetar diretamente a qualidade do produto. Considerando um produto manufaturado, conforme Dagnall (1998), primeiro existe o processo produtivo. Se o processo produtivo se mantiver estvel e as partes do produto forem produzidas corretamente, estas sero utilizadas juntamente com outras partes numa mesma funo. Contudo, deve-se estar ciente que um processo no se mantm constante e que este deve ser monitorado para detectar mudanas que afetam o desempenho do produto. Assim, uma atividade tem de ser adicionada ao processo de fabricao a medio. Esta etapa detecta os desvios em relao aos critrios estabelecidos nos desenhos, que podero afetar o desempenho, tamanho, forma, dureza e acabamento. Em muitas aplicaes a textura superficial est ligada funcionalidade do produto, por exemplo, quando duas superfcies esto em contato direto ou em movimento. Tendo em vista a questo da funcionalidade, um dos aspectos destacados pelas ferramentarias a avaliao da superfcie para reduo no tempo de fabricao dos moldes, pois um melhor acabamento superficial na usinagem diminuiria o tempo de polimento e reduziria o custo total de produo. Assim, tornam-se necessrias faixas cada vez mais estreitas para avaliao da superfcie. Normalmente, no que diz respeito produo de moldes e matrizes, as exigncias por produtos injetados de melhor qualidade superficial (Ra normalmente menor que 0,1m na superfcie do molde) tem provocado um aumento na dificuldade do monitoramento do acabamento superficial (RAMOS e MACHADO, 2002), destacando-se os produtos fornecidos para a indstria automotiva e outras reas que trabalham com peas de aparncia, por exemplo, eletrodomsticos. Conforme Souza e Gorayeb (2008), no Brasil o setor de moldes e transformao de plsticos vem atraindo interesses nacionais e internacionais. A partir dessas consideraes prope-se que para desenvolver novos tipos de produtos plsticos e aumentar a qualidade, ser necessrio dar mais ateno ao desenvolvimento e produo de mquinas, moldes e ferramentas. Tamanho interesse deve-se ao aumento na demanda e consumo de produtos plsticos, os quais devem apresentar acabamento superficial adequado. Nesse sentido, existe a necessidade de aprimorar a avaliao da superfcie de acabamento de moldes e matrizes, permitindo quantificar sua rugosidade superficial. Muitas vezes essa avaliao efetuada a olho nu e eventualmente feita a comparao com imagens padro (RIBEIRO, 2007). Tais mtodos podem no garantir valores absolutos para a superfcie porque no traduzem em nmeros os desvios obtidos.
16 Nesse trabalho so estudadas sistemticas para a medio da rugosidade em superfcies complexas. levada em considerao a condio das superfcies usinadas, como tambm caractersticas que podem influenciar nos resultados de medio, tais como: parmetros de rugosidade, remoo de forma executada pelo instrumento de medio, filtro aplicado ao perfil medido, comprimentos de medio em condies normalizadas e posies de medio. Este trabalho tem como objetivo estabelecer uma sistemtica apropriada para avaliao de superfcies complexas das cavidades encontradas em moldes. Tm-se como objetivos especficos: a) Estudar os parmetros de medio de rugosidade que tenham maior relao com a usinagem de moldes; b) Diferenciar as possibilidades de preparao da mquina de medio de rugosidade para a realizao da medio atravs do estudo de parmetros de avaliao, ponta de medio utilizada, filtros e remoes de forma; c) Relacionar os critrios a serem observados na medio de rugosidade em superfcies complexas. Para o desenvolvimento deste trabalho, inicialmente foi realizada uma reviso bibliogrfica com nfase na busca de maior entendimento dos principais elementos da textura superficial quanto rugosidade. Alm disso, foram considerados os aspectos referentes aos equipamentos de medio de rugosidade, particularmente as caractersticas dos equipamentos de contato, que podem afetar a medio de tais elementos como ponta de contato, ngulo da ponta, filtros utilizados, remoes de forma, comprimento de amostragem e comprimento de medio. Adicionalmente, devido dificuldade em realizar a medio em superfcies complexas, pela dificuldade de posicionamento e referncia sobre a superfcie tambm foi considerado o mtodo de comparao com um padro de verificao visual em funo da obteno de valores quantitativos. Este trabalho est estruturado de forma a proporcionar uma leitura objetiva e concisa. Iniciando com a introduo que aborda uma breve apresentao deste trabalho e sua abrangncia, na seqncia apresentada a reviso bibliogrfica abordando conceitos sobre textura superficial, equipamento de medio de superfcie, caractersticas do apalpador, erros produzidos pelas suas diferentes dimenses, filtros utilizados na medio e comprimento de amostragem. No captulo 4 so apresentadas as necessidades de medio de acabamento superficial em moldes e matrizes e tambm explicado sobre o polimento superficial em superfcies de forma livre. Na
17 continuidade deste trabalho so apresentados os resultados dos experimentos. Por ltimo, so realizadas as consideraes relevantes deste trabalho, como a discusso das atividades desenvolvidas.
18 1. CONCEITOS DE SUPERFCIE
Na usinagem de peas com superfcies complexas em fresadoras, a utilizao de ferramentas de ponta esfrica muito utilizada pela forma com que a superfcie fica aps a retirada de material. As ferramentas de ponta esfrica resultam em superfcies com acabamento de cristas reduzidas e mais amenas que as ferramentas de topo plano. Tal fato se d em funo da maior facilidade da usinagem de regies de difcil acesso. Os degrais tambm so minimizados em tamanho e na quantidade de material deixado para a prxima operao, a de acabamento. A operao de acabamento tem que retirar esse material remanescente e fazer com que a superfcie se aproxime ao mximo da geometria real do projeto. Sendo assim, o valor do passe da ferramenta minimizado e a ferramenta de topo esfrica vai servir com a funo de realizar um acabamento suave, proporcionando assim tambm um polimento mais rpido. No fresamento de topo esfrico a ferramenta deixa marcas na superfcie que podem ser de duas formas que conforme Chen et al. (2005) so caracterizadas como crista-1 e crista-2. A Figura 1 apresenta a diferena na caracterizao da crista-1 e da crista-2.
Figura 1 Geometria tridimensional das marcas da crista-1 e crista-2

Fonte: Batista, 2006
A crista-1 por Batista (2006) o perfil da fresa de ponta esfrica sobreposto a uma distncia igual a profundidade de corte radial. A crista-2 formada a partir de um material residual deixado num espao de sucessivos giros da aresta de corte durante o movimento de avano.
19 Para os softwares CAM h a necessidade de seleo do valor de avano fz, porm, este freqentemente selecionado em funo da reduo no tempo de corte. Assim, a rugosidade da superfcie usinada afetada para pior, pois o tamanho das cristas aumenta e diminui a qualidade superficial. Chen et al. (2005) relata em sua pesquisa que a tecnologia HSC (High Speed Cutting Usinagem em Alta Velocidade) possibilitou a reduo da profundidade de corte radial (ae) sem o aumento do tempo de corte. Este fato possibilitou a reduo da rugosidade em funo da diminuio da altura das cristas decorrentes do processo de usinagem. Segundo Boujelbene (2004), as superfcies curvas do origem a um programa CNC com uma trajetria de ferramenta dividida em um grande nmero de segmentos de retas que geram uma superfcie facetada e com rugosidade maior. Um modelo proposto por Boujelbene de trajetria contnua resulta numa trajetria suavizada que no formar uma superfcie facetada, melhorando assim a rugosidade. Com o modelo de trajetria de tangenciamento contnuo (Figura 2a) proposta por Boujelbene (2004) possvel perceber a diferena com o modelo de segmentos de retas (Figura 2b), comumente utilizada.
Figura 2 Influncia do caminho da ferramenta rugosidade, (a) trajetria de segmentos de retas, (b) trajetria de tangenciamento contnuo
Fonte: Boujelbene et al. (2004)
Existe ainda o modelo de trajetria spline apresentado por Souza (2004), onde ele conseguiu um menor valor de rugosidade, mas concluiu que tambm a oscilao no avano influenciou fortemente a rugosidade em virtude das redues de velocidade provocadas pelo
20 tempo de resposta da mquina ser inferior ao tempo de processamento da mquina em HSC, provocando oscilaes nos movimentos da mquina. As marcas provocadas na superfcie devido as trajetrias seguidas pela ferramenta de corte so denominadas rugosidade e as diferenas entre uma superfcie spera e outra lisa pode ser distinguida por contato ou pela aparncia. O problema que a determinao dessa diferena subjetiva, podendo levar diferentes opinies dos observadores. Na engenharia, o grau de aspereza ou polimento da superfcie de uma pea tem uma importncia considervel, podendo vir a afetar as funes de um produto ou seu custo de fabricao. O processo de fabricao de qualquer produto deve ser monitorado para detectar mudanas que possam afetar o seu desempenho. As condies de processo podem afetar a qualidade superficial atravs do surgimento de marcas ou defeitos. Assim, o conjunto de caractersticas superficiais de um material denominado de textura superficial, podendo tambm ser entendida como uma impresso digital do efeito do processo de fabricao na superfcie do produto. Essa informao pode ser utilizada para prever o desempenho ou assessorar o controle do processo de fabricao de um determinado produto. Pode-se afirmar que a textura superficial um conjunto de irregularidades, isto , pequenas salincias e reentrncias que caracterizam uma superfcie (DAGNALL, 1998). Conforme Whitehouse (2002), a identificao dessas irregularidades superficiais pode ir de uma natureza macroscpica at microscpica, sendo decomposta em erros de forma, ondulao e rugosidade (Figura 3). A diferena entre rugosidade, ondulao e erro de forma baseada no comprimento de onda da superfcie analisada ou no espaamento entre picos (DE MAR et al., 1997).
Figura 3 - Desvios que compe o acabamento superficial

Fonte: Sander, 1989
21 Devido complexidade associada caracterizao e avaliao da textura superficial, torna-se necessrio compreender os desvios superficiais gerados pelos processos de fabricao e os sistemas de medio existentes para quantific-los. Por sua vez, este ltimo aspecto requer o conhecimento do mecanismo de aquisio de perfis e as condies de operao em funo do objetivo da caracterizao da superfcie. Atualmente, esses aspectos so definidos por referncias especficas de fornecedores e por normas internacionais. A norma alem DIN 4760: 1982 classifica a superfcie em seis classes e as irregularidades de erros de forma, ondulao e rugosidade so designadas como de primeira at sexta ordem de desvio de perfil (Figura 4).
Variao de forma
Tipo de variao de forma Exemplos de ocorrncia Falha na guia do conjunto da Classe 1: erro de forma Desvios de linearidade, ferramenta de corte, planicidade, etc. deslocamento na mquina ou da pea, desgaste. Fixao excntrica da pea, Classe 2: Ondulao Ondulaes variaes na geometria ou no curso de corte, vibraes da ferramenta. Classe 3: rugosidade Ranhuras Caractersticas dimensionais da ferramenta de corte. Classe 4: rugosidade Processo de formao de cavaco, Marcas do tipo pontual, deformao do material durante lascamento ou salincias jateamento ou texturizao, formao de embrio durante processo eletroltico. No visual Constituio da estrutura. No visual Constituio da matria.
Classe 5: rugosidade Classe 6: rugosidade
Sobreposio das classes Figura 4 - Classificao de textura superficial

Fonte: Sander, 1989
Pode-se perceber atravs da Figura 4 a separao dos elementos superficiais que constituem o perfil medido. A sobreposio das classes da variao de forma demonstra esquematicamente como a superfcie pode ser constituda de fatores que separadamente caracterizam a medio como rugosidade e ondulao. Ainda na figura possvel relacionar os processos que se diferenciam pela marcas deixadas na pea com cada classe de variao de forma.
22 1.1. DEFINIES RELACIONADAS AO PERFIL
Uma superfcie pode ser definida como o contorno que separa um objeto de outro objeto, substncia ou espao. A medio de uma superfcie conhecida como perfil total ou superfcie efetiva (NBR ISO 4287:2002). Este perfil geralmente apresentado no sistema de coordenadas x-z. No entanto, medies topogrficas podem ser realizadas, a partir de sucessivas medies bidimensionais ou uma diretamente tridimensional (ASME B 46.1:2002). No desenvolvimento deste trabalho, a nfase dada s medies bidimensionais. A partir dos perfis medidos podem ser realizadas caracterizaes de elementos superficiais especficos. Para tanto, os mesmos so submetidos a uma metodologia de filtragem que permite minimizar ou enfatizar especficas caractersticas da superfcie analisada. Neste caso, um novo perfil formado e denominado de perfil modificado ou filtrado (ISO 3274:1996). A Figura 5 apresenta de forma esquemtica os componentes bsicos de um perfil. Alm da rugosidade e da ondulao, outros elementos de uma superfcie so ilustrados na referida figura tais como o erro de forma, os defeitos e a direo predominante da superfcie.
defeito Seo normal Seo nominal
Direo da superfcie
Perfil total de forma) (inclui erro (inclui erro de forma)
Perfil total
Perfil de ondulao Perfil waviness (rugosidade atenuada) (rugosidade atenuada)

Perfil de rugosidade Perfil de rugosidade (waviness atenuado) (ondulao atenuada)
Figura 5 Diagrama esquemtico das caractersticas de uma superfcie.

Fonte: ASME B46.1: 2002
Para Scheers et al. (1998), um perfil de superfcie composto de uma faixa de irregularidades com variadas oscilaes ou freqncias. Aquelas oscilaes de alta freqncia ou de ondas curtas so denominadas de rugosidade. As oscilaes de baixa freqncia e ondas longas so denominadas de ondulao.
23 O problema significativo da determinao dessas irregularidades est na identificao inicial. A fronteira entre rugosidade e ondulao questionvel, dependendo do processo de fabricao ou da aplicao da pea. Uma soluo para esse impasse a determinao da amplitude do comprimento de amostragem (cut-off). Utiliza-se o cut-off para especificar numericamente o comprimento da freqncia de onda acima ou abaixo do qual uma das componentes da superfcie (rugosidade ou ondulao) eliminada. De acordo com a NBR 8404: 1984 o perfil de rugosidade ou de ondulao constitudo de dois elementos bsicos, denominados de picos (poro superior) e vales (poro inferior). Na Figura 6 tm-se, esquematicamente, os elementos de um perfil de rugosidade. Nesta figura as cotas de altura Zp e Zv referem-se aos picos e aos vales em funo de uma linha mdia, respectivamente.
Comprimento de amostragem - le
Figura 6 - Representao das amplitudes de picos e vales no perfil de rugosidade.

Fonte: NBR ISO 4287: 2002
A determinao de Zp e Zv depende necessariamente da definio da regio de interface entre picos e vales e dos comprimentos de amostragem, a ser tratado posteriormente.
24 2. SISTEMAS DE MEDIO DE RUGOSIDADE E DE ONDULAO
A escolha do instrumento adequado para uma medio de textura superficial pode ser baseada nas informaes contidas em normas tcnicas. Conforme a norma ASME B46.1:2002, basicamente existem trs grupos de instrumentos de medio de textura superficial, que so: instrumentos com perfil completo, instrumentos com capacidade limitada de parmetros e de perfil e instrumentos somente com parmetros. Neste trabalho so considerados os instrumentos com perfil completo que medem o perfil com contato e sem sapata (skid). Os instrumentos que geram perfis completos diferenciam-se entre si pelo tipo de sensores de medio, que podem ser apalpadores, feixe de luz ou de eltrons. Os instrumentos que apresentam sensores de contato com a superfcie analisada e no possuem sapata (filtro mecnico, tambm denominado skid) so capazes de medir amplas faixas de textura superficial, desde superfcies consideradas lisas at as speras e, ainda, so capazes de gerar perfis filtrados (ou modificados) ou no filtrados (perfil efetivo), bem como realizar anlises topogrficas. Os instrumentos de medio por contato so aqueles que exploram uma superfcie com contato direto por meio de apalpador e obtm os desvios na forma de perfil. Ainda, esses equipamentos tm a capacidade de calcular parmetros e podem emitir registros do perfil graficamente. A maioria dos instrumentos de medio de textura superficial baseia-se no princpio da identificao dessas irregularidades por um apalpador deslocando sobre a superfcie em uma determinada velocidade e distncia de anlise. Um sinal eltrico obtido e amplificado para produzir uma caracterizao da textura superficial. A Figura 7 mostra esquematicamente o princpio bsico dos instrumentos de medio de textura superficial.
Figura 7 - Princpio bsico dos instrumentos de medio de textura superficial.

Fonte: Dagnall, 1998
25 A Figura 7 relaciona os componentes bsicos na medio com instrumento de contato e entre eles esto: a amostra a ser medida, o apalpador que est em contato com a superfcie da amostra e o registro emitido pelo instrumento aps a medio com o perfil da amostra. Os componentes tpicos de um instrumento de medio de rugosidade e de ondulao so ilustrados na Figura 8.
Figura 8 - Componentes de instrumentos de medio de rugosidade e de ondulao atravs de contato.

Conforme a Figura 8, o sistema de medio compreende os componentes envolvidos na medio de textura superficial, tais como o apalpador, sensor de medio (pick-up), unidade de leitura, amplificador, unidade de registro e seletor de filtro. Para Dagnal (1998), no caso especfico de medio por contato com apalpador (stylus), esse componente de medio de textura se desloca, dentro de um intervalo de medio, para cima e para baixo na direo Z, em funo da caracterstica da superfcie. Um transdutor converte o deslocamento vertical do apalpador em sinal eltrico. Esse sinal exportado para um processador que o converte em sinal digital, permitindo posteriores anlises matemticas e apresentao grfica do perfil medido. Devido ao fato da maioria das superfcies serem produzidas por processos com a mesma textura, ao longo de uma grande rea, possvel fazer com que os instrumentos de medio possam ser usados com um simples traado linear, facilitando e agilizando o processo de avaliao no que se refere a superfcies planas. Embora a experincia mostre que esse simples traado usualmente adequado para a obteno de informaes da superfcie, em alguns casos necessrio checar a textura sobre uma determinada rea. As superfcies resultantes dos processos de usinagem como o fresamento, se caracterizam por apresentar uma topografia direcional, com sulcos ordenados, sendo que a rugosidade
26 longitudinal e tranversal aos sulcos podem ser bem diferentes (NICOLA, 2008). Este fato se deve a condio de que quando se mede a rugosidade na direo longitudinal, no so captados os desvios de 3 ordem. A Figura 9 apresenta a direo de corte no processo de fresamento em comparao com o de polimento. possvel observar que para o fresamento os sulcos so distribudos uniformemente e assim a rugosidade transversal diferente da rugosidade longitudinal. J para o processo de lapidao a condio de uniforme no observada em funo dos sulcos noordenados e a rugosidade em ambos os sentidos so semelhantes.
Figura 9 Direo de medio: a) sulcos ordenados; b) sulcos no-ordenados

Fonte: Nicola, 2008
A uniformidade ou no dos sulcos decorrentes do processo de usinagem, em conjunto com os valores de rugosidade, facilitam o entendimento e anlise da qualidade superficial (ZEILMANN, 2006). Muitos perfis de textura superficial analisados em operaes de engenharia so obtidos por contato direto, com apalpador. As caractersticas desses apalpadores podem modificar o perfil analisado e, at mesmo, danificar a superfcie analisada. Com isso, esse tipo de aparelho pode fornecer uma informao que no represente a realidade. Alm disso, as medies podem se alterar em funo de outras condies, tais como as caractersticas da filtragem do perfil de medio (tipos de filtros e comprimento de amostragem) e a utilizao de suportes do sensor de medio, sendo necessria uma adequao das mesmas ao objetivo da medio. Sendo assim,
27 vale destacar as principais caractersticas dos componentes de instrumentos de medio de textura superficial com contato.
2.1. APALPADOR No sistema de medio com instrumentos de medio de textura superficial com contato, o apalpador o componente que entra em contato com as irregularidades da superfcie a ser avaliada. As dimenses e a forma desses apalpadores tm forte influncia nas informaes obtidas pelo respectivo aparelho de medio, como ilustrado na Figura 10. Nesta figura mostrado como a ponta de maior dimenso, aparentemente, reduz a amplitude das irregularidades de uma hipottica superfcie.
Apalpador tipo 2,5 m Apalpador tipo 12,5 m

Figura 10 - Representao do efeito do raio do apalpador (tipo 2,5 e 12,5m) na reduo de amplitude das irregularidades de uma determinada superfcie
Os apalpadores so caracterizados em funo das dimenses e da forma da ponta de contato com a superfcie em anlise. A Figura 11 mostra os tipos de apalpadores e suas caractersticas dimensionais especificadas pela norma tcnica ISO 3274: 1996.
28 Parmetro a ou b (m) r (m) ()
Tipo
Forma
Cnico com ponta esfrica
2, 5 ou 10
60 ou 90
Pirmide truncada com ponta retangular
2a4
60 ou 90
Figura 11 - Padro dimensional e de forma dos apalpadores

Fonte: ISO 3274:1996
Conforme Figura 11, os tipos de apalpadores podem ser variados sendo que a norma ISO 3274 recomenda que um instrumento ideal deva ao menos realizar as medies com um apalpador cnico de ngulo 60. Por menor que seja o raio do apalpador, o mesmo no pode reconhecer as irregularidades da superfcie que forem menores do que o seu raio. Sendo assim, sempre ocorre uma distoro entre os perfis reais e medidos. Dependendo do nvel de detalhamento exigido em relao superfcie analisada, deve-se optar por apalpadores de raios menores. Essa escolha pode ser relacionada com o erro introduzido nesta operao. Dagnall (1998) testou superfcies de quatro diferentes rugosidades que mostraram uma reduo na medida Ra usando um valor entre 1,25 m e 10 m no raio do apalpador. Esta reduo foi apenas de 4,5 m a 3,25 m na primeira superfcie, 8 m a 7,5 m na segunda, 11 m a 10 m na terceira e 26 m a 25 m na quarta superfcie. Estes foram os resultados apesar de o raio de um apalpador ser oito vezes maior do que o outro. Na Figura 12 apresentado esse valor de erro em funo da medio de rugosidade mdia (Ra). No eixo horizontal desta figura indicada a relao entre o raio da ponta do apalpador e o valor Ra da superfcie avaliada em m. Na ordenada indicado o erro percentual devido s condies de medio mencionadas no outro eixo.
29
Figura 12 - Erro de medio de rugosidade mdia introduzido pela utilizao de diferentes dimenses de apalpadores em superfcies planas
Conforme a Figura 12, quando o Ra for igual a 0,5m e o raio da ponta do apalpador igual a 5m, a relao de 10 resulta num erro de medio de aproximadamente 2%. Para um apalpador com o dobro do raio (10m) esse erro aumenta para 8%. Nestas duas condies de anlise, os valores de erros de medio podem ser considerados aceitveis. Pode-se afirmar que o erro de medio ser significativo somente quando o raio do apalpador for 20 vezes maior que a rugosidade mdia da superfcie (Dagnall, 1998). Variados trabalhos que inspecionam rugosidade no consideram este aspecto de erro devido a seleo do apalpador, apesar de impactar diretamente na avaliao dos resultados do
30 perfil medido e de caracterizao do perfil. Uma escolha inadequada pode, de acordo com a Figura 12, apresentar valores distorcidos de rugosidade. Com base nestas consideraes e nas informaes constantes na Figura 11, a norma ISO 3274: 1996 indica o apalpador cnico com ponta esfrica, com ngulo de 60 e raio de 2m a 10m como geometrias ideais. Ainda, conforme a norma internacional ISO 3274: 1996 e ASME B46.1: 2002, outras caractersticas de medio que envolve o componente de contato em anlise referem-se fora e velocidade de medio. A fora exercida pelo conjunto mecnico durante a medio de textura superficial resultante da combinao de foras estticas e dinmicas. A fora dinmica no especificada em normas tcnicas pelo fato de ser de difcil quantificao e, ainda, por variar em funo da localizao do apalpador e da velocidade de medio. A fora mxima esttica de medio recomendada tem relao com as dimenses da ponta de contato do apalpador. A Figura 13 apresenta, de forma grfica, a relao entre o raio e a fora de medio com uma equao da curva criada pelos valores recomendados na norma americana ASME B46.1: 2002.
2,0 Fora Esttica de medio (gf)
1,5
1,0 y = 0,0162x2 - 0,0037x + 0,0125 R2 = 1
0,5
0,0 0 5 10 15
raio do apalpador (m)
Figura 13 - Fora esttica mxima recomendada para a medio de textura superficial com instrumentos de contato
Atravs da Figura 13 nota-se que com o aumento do raio do apalpador, o crescimento da fora esttica exponencial, sendo observada atravs da frmula expressa pela curva. O impacto desta variao de fora na medio de rugosidade est relacionado ao contato do apalpador do rugosmetro com a superfcie medida, o que pode gerar riscos numa superfcie lisa
31 acabada ou em superfcies utilizadas como padro. Este fato acarreta em transtornos para o caso de liberao de peas onde a aparncia importante.
2.2. SELETOR DE FILTRO A filtragem um procedimento matemtico, eletrnico ou por algoritmos da medio de textura superficial, permitindo a separao de pelo menos dois componentes de superfcie: rugosidade e ondulao. Dois aspectos podem provocar alteraes no perfil durante essa filtragem e devem ser destacados: o tipo de filtro e o comprimento de amostragem denominado de cut-off.
2.2.1. Tipos de filtro
Quanto aos tipos de filtros, os primeiros instrumentos de medio de textura superficial usaram filtros eletrnicos, conhecidos como 2CR, o que significa dois capacitores e dois resistores. Esses filtros removiam os longos comprimentos de onda relacionados ondulao e ao erro de forma, deixando somente as caractersticas de amplitude relacionadas com a rugosidade (STOUT e BLUNT, 2000). Em termos de aplicaes normais, o uso de filtros 2CR no afeta significativamente os valores de rugosidade, mas no so adequados para medio de ondulao porque bloqueiam os comprimentos de ondas longas permitindo apenas a presena de ondas pequenas de rugosidade (WHITEHOUSE,2002). Alm disso, as distores causadas por estes filtros influenciam as anlises de distribuio de amplitude e da rea de contato. Apesar de reconhecidos e citados em normas internacionais (ASME B46.1: 2002), os filtros 2CR introduzem distores nos perfis filtrados. Para atenuar esse efeito de distoro e tambm para melhorar as caractersticas de transmisso das amplitudes, foi desenvolvido o filtro 2CR PC (PC- phase correct). Este filtro, ainda, introduz distores devido sua natureza eletrnica, contudo com menor intensidade de distores do que o filtro 2CR. Por sua vez, os mais recentes instrumentos de medio de textura superficial utilizam outro tipo de filtro, denominado filtro de Gauss. O filtro gaussiano foi projetado para separar rugosidade e ondulao com maior exatido do que os outros filtros, alm de permitir uma drstica reduo nas distores de filtragem. Uma restrio na utilizao deste filtro que ele
32 pode ser implementado apenas onde a filtragem realizada por algoritmos e o processamento realizado em computadores (DAGNALL, 1998). O efeito desses filtros, no que diz respeito distoro do perfil e a caracterstica de transmisso podem ser melhor compreendidas ao se comparar com o perfil obtido sem filtro (Figura 14). Percebe-se que os filtros 2CR causaram uma distoro das extremidades do perfil filtrado, alm de destacado desvio da transmisso de amplitude. Por outro lado, os perfis com filtros 2CR PC e Gauss exibem uma melhor similaridade com o perfil sem filtro, apesar ainda de suas extremidades apresentarem uma distoro de amplitudes.
Figura 14 - Efeito da utilizao de filtros 2CR, 2CR PC e Gauss.

Devido a esse fato, normalmente um comprimento de amostragem de cada extremidade do perfil descartado durante o tratamento dos dados, mesmo para os perfis com filtros 2CR-PC e Gauss (DAGNALL, 1998).
2.2.2. Comprimento de amostragem (cut-off)
O outro aspecto que pode provocar alteraes no perfil filtrado refere-se ao comprimento de amostragem, normalmente conhecido como cut-off. Utiliza-se o termo cut-off para especificar numericamente o comprimento da freqncia de onda acima ou abaixo do qual uma das componentes da superfcie (rugosidade ou ondulao) eliminada. Alm disso, o cut-off pode ser
33 utilizado para caracterizar os filtros de perfil e determinar os componentes de superfcie (WHITEHOUSE, 2002). Considerando o fato do cut-off filtrar os componentes de um perfil medido, a sua escolha tem uma forte importncia na obteno adequada do perfil modificado, como pode ser observado na Figura 15.
Figura 15 - Conceito de cut-off para filtragem de rugosidade e ondulao

Fonte: Camargo, 2002
Na Figura 15, os valores le1 e le2 referem-se aos comprimentos de amostragem, ou cutoffs, da anlise de perfil de superfcie em questo. Nota-se que para o comprimento le1 a amplitude da rugosidade tem um valor H1, o que corresponde realmente a profundidade da rugosidade. No entanto, para o comprimento le2 o maior valor da amplitude H2 revela a incorporao da ondulao. Desta forma, o valor do cut-off maior que o necessrio inclui valores do perfil de ondulao, que por sua vez tendem a aumentar a rugosidade e diminuir a ondulao. Trs filtros de perfil (s, c, e f) so usados em instrumentos para medio de perfil de rugosidade, ondulao e perfis primrios para separar o perfil em ondas longas e ondas curtas (Figura 16). O filtro s define a separao entre os componentes da rugosidade e os comprimentos de onda mais curtos presente nas superfcies (NBR ISO 4287:2002). A nomenclatura s utilizada nas anlises de rugosidade como filtro de banda ou Bandwidth. O filtro c define a separao entre a rugosidade e a ondulao ou, ainda, o maior comprimento de amostragem para perfis de rugosidade (ASME B46.1:2002; NBR ISO 4287:2002). A nomenclatura c tambm utilizada nas anlises de textura superficial como o comprimento de amostragem ou cut-off.
34 O filtro f, designao estabelecida pela norma ISO ou cw pela norma ASME, define a separao entre a ondulao e a maior componente de onda presente na superfcie. Os comprimentos de onda que so separados da ondulao se caracterizam como perfil primrio. Estas definies so vlidas quando se consideram as mesmas caractersticas de transmisso para todos os referidos filtros. Neste caso, apenas o tipo de filtro Gauss recomendado, pois o mesmo permite uma transmisso de 50% da amplitude da ondulao (Figura 16).
Perfil de ondulao
Figura 16 - Caracterstica de transmisso de perfis de rugosidade e ondulao

Fonte: NBR ISO 4287:2002
A Figura 17 mostra a combinao de cut-offs para obteno dos respectivos perfis modificados. A partir do perfil medido, o perfil primrio obtido pela aplicao de um filtro s, enquanto para o perfil de rugosidade aplicam-se os filtros s e c e para o perfil de ondulao aplicam-se os filtros c e f.
Figura 17 - Combinao de filtros para obteno de perfis modificados na avaliao de textura superficial.
Fonte: Precision Devices Inc-PDI, 2007
Tendo em vista as anlises de perfil superficial por diferentes tcnicas de medio, a comparabilidade dos resultados somente possvel para comprimentos de amostragens
35 equivalentes. Sendo assim, a norma ISO introduziu um conceito de faixa de transmisso (transmission band) e sua relao com o cut-off (bandwidth) visando o controle e a garantia de confiabilidade na comparao de resultados de textura superficial (ISO 3274:1996). A faixa de transmisso pode ser definida como a faixa de comprimento de amostragem que so transmitidas entre os filtros s e c para a rugosidade, e c e f para ondulao. A relao de cut-off para a rugosidade dada pelo quociente entre o maior e o menor comprimento de ondas, identificado como c/s (ISO 3274:1996). A Tabela 1 relaciona o cut-off (c) com a transmisso e o raio do apalpador a ser utilizado na medio de rugosidade. importante destacar que na escolha do apalpador, conforme mostra os valores de s comparados ao rapalpador da Tabela 1, o raio da ponta deve ser menor do que o menor comprimento de amostragem do perfil de rugosidade (s). Este tipo de padronizao refora a necessidade de se obter um perfil medido o mais prximo do perfil superficial da pea em anlise. Tabela 1 - Cut-offs padro para filtros Gauss e associados relao de cut-off e ao raio da ponta de apalpadores, recomendados para medio de rugosidade c (mm) 0,08 0,25 0,8 2,5 s (m) 2,5 2,5 2,5 8 rapalpador c/s aproximadamente (m) 30 2 100 2 300 2 300 5
10
8 25 300 Fonte: ASME B46.1:2002; ISO 3274:1996
Cabe uma considerao sobre o procedimento de medio do perfil de rugosidade e ondulao de uma superfcie: quando a direo e o local da medio no so especificados, normalmente, escolhe-se a regio e a direo que corresponder aos valores mximos de altura de rugosidade. Essa definio, inicialmente, pode ser com uma avaliao visual ou por uma medio de rugosidade preliminar (ISO 4288:1996). Para a seleo do comprimento de amostragem deve ser levado em considerao o tipo de perfil e um parmetro de rugosidade (Tabela 2).
36 Tabela 2 - Comprimento de amostragem (cut-off) conforme normas tcnicas Perfis Perfis Comprimento Comprimento de Peridicos Aperidicos de amostragem Medio Unitrio / total le/lm Distncia entre Rz Ra c (mm) picosSm(mm) (mm) (m) (m) > 0,01 at 0,04 At 0,01 At 0,02 0,08 0,08/0,4 > 0,04 at 0,13 > 0,1 at 0,5 > 0,02 at 0,1 0,25 0,25/1,25 > 0,13 at 0,4 > 0,5 at 10 > 0,1 at 2 0,8 0,8/4 > 0,4 at 1,3 > 10 at 50 > 2 at 10 2,5 2,5/12,5 > 1,3 at 4 > 50 > 10 8 8/40
Fonte: ISO 4288:1996
A norma ISO 4288: 1996 apresenta um procedimento para medio de rugosidade, no qual deve-se inicialmente avaliar se a superfcie peridica ou aperidica. O perfil peridico caracterizado pela uniformidade do perfil apresentado no grfico e o perfil aperidico pela disformidade do perfil no grfico (Figura 18).
a) Perfil Aperidico
b) Perfil Peridico Figura 18 Perfis Aperidico (a) e Peridico (b).

Fonte: O autor
37 A estimativa adequada do valor do comprimento de amostragem realizada comparando os valores obtidos na medio de rugosidade preliminar com as faixas de valores especificadas na Tabela 2.
2.3. REMOO DE FORMA
Para a determinao da linha mdia, rugosmetros com mais recursos permitem a remoo da forma geomtrica da pea. Podem ser utilizados vrios mtodos para estabelecer uma linha de referncia da qual a altura de perfil pode ser medida. Com o objetivo de considerar a forma geomtrica adequada ao perfil em avaliao, alguns equipamentos possuem uma funo para auxiliar na remoo das formas do perfil geomtrico. As formas de remoo mais conhecidas so denominadas LS Line(Least Square Straight Line Linha dos Mnimos Quadrados), MZ Line (Minimum Zone Line Linha da Zona mnima), LS Arc (Least Square Arc Arco dos Mnimos Quadrados) e Datum (Linha mdia dos dados coletados). A opo LS Line utiliza o mtodo dos mnimos quadrados para obter uma linha mdia tal que a soma dos quadrados dos desvios residuais sejam minimizados. A linha mdia passa a ser a linha de referncia (Figura 19).
Figura 19 Demonstrao grfica da remoo LS Line realizada pelo rugosmetro

Fonte: O autor
Na opo MZ Line as linhas retas da zona mnima so calculadas no perfil referenciado linha central da zona (Figura 20). Estas linhas so um ajuste geomtrico de duas linhas paralelas juntando o perfil tal que a sua separao mnima. A linha de referncia a linha que separa em iguais partes o perfil medido entre as linhas paralelas de zona.
38
Figura 20 - Demonstrao grfica da remoo MZ Line realizada pelo rugosmetro

Fonte: O autor
A opo Datum estabelece uma linha mdia a partir dos dados coletados e calcula os parmetros de rugosidade com base nesta linha (Figura 21). A opo Datum permite que a origem de referncia se ajuste aos nveis dos mnimos quadrados. Isto feito exclusivamente para ajustar o nvel de inclinao e no os dados.
Figura 21 - Demonstrao grfica da remoo Datum realizada pelo rugosmetro

Fonte: O autor
A opo LS Arc remove um raio definido, sendo aplicvel a superfcies circulares. Sendo o arco definido pelo mtodo dos mnimos quadrados (Figura 22).
Figura 22 - Demonstrao grfica da remoo LS Arc realizada pelo rugosmetro

Fonte: O autor
A opo Datum, conforme Machado e Beckert (2007) se aproxima da realidade do perfil
39 da rugosidade, principalmente se a pea for previamente alinhada de forma que a altura do incio da medio seja a mesma do final da medio. As demais opes devem ser utilizadas com cautela, aplicadas quando as formas geomtricas estiverem claramente definidas (como plano e circunferncia) e quando a falta de alinhamento possa comprometer os resultados de medio. A medio de textura superficial no pode ser realizada sem uma referncia, garantindo um nivelamento entre o instrumento de medio e a superfcie em anlise. Essa operao de nivelamento pode ser realizada atravs de uma referncia externa ou interna. O tipo de referncia interna mais comum aquela construda dentro da pick-up (unidade de deslocamento) (Figura 23). O uso desse tipo de nivelador permite que qualquer componente de superfcie, tanto rugosidade quanto ondulao ou forma, seja medida. Por outro lado, a sua desvantagem est relacionada ao fato de que qualquer desajuste no mecanismo de deslocamento da pick-up possa ser transferido para o apalpador, sobretudo no que diz respeito distncia entre a ponta do apalpador e o ponto de referncia dentro da pick-up.
Referncia da unidade de leitura
Apalpador
Figura 23 - Desenho esquemtico da referncia interna (referncia da unidade de leitura)

A referncia externa refere-se a um suporte localizado na extremidade da pick-up de medio da textura superficial, prximo e com dimenses muito superiores ao apalpador, denominado sapata (skid) (Figura 24).
Figura 24 - Localizao esquemtica de uma referncia externa (sapata) em instrumentos de textura superficial com contato
40 A referncia externa tem a funo de prevenir a movimentao do apalpador fora das caractersticas da superfcie. Apesar de uma relao com o apalpador, a sapata tem um deslocamento no sentido vertical, praticamente, independente desse componente mecnico. No entanto, cabe ressaltar que ambos componentes movem-se conjuntamente na direo de medio. Sendo assim, pode-se dizer que a sapata atua como um nivelador e a mesma desloca-se sobre os picos da superfcie. Devido caracterstica de nivelamento durante a medio, este componente tambm reconhecido como um filtro mecnico de ondulao. Desta forma, instrumentos de medio de textura superficial que utilizam a sapata no so apropriados para a medio de ondulao. No que diz respeito interferncia da sapata na medio de perfil, podem ser citados dois tipos de distoro causados por este componente de medio de textura superficial. O primeiro est relacionado distoro do perfil medido devido presena de picos ocasionais. Na Figura 25, o deslocamento vertical anormal causado pelo pico em destaque provoca uma subtrao do deslocamento do apalpador (regio do grfico em crculo). Este tipo de distoro pode alterar alguns parmetros de textura superficial, principalmente aqueles relacionados amplitude de vales e picos.
Superfcie
Grfico
Figura 25 - Distoro causada pela presena de ocasionais e destacados picos no trajeto de medio de textura superficial com contato e sapata
O segundo tipo de distoro causado pelo uso de sapata diz respeito relao entre as suas dimenses e os parmetros de espaamento de longos comprimentos de onda (Figura 26).
41
Figura 26 - Relao entre as dimenses e seu efeito na distoro do perfil superficial

Na Figura 26, a amplitude de deslocamento vertical de um determinado ponto da sapata pode variar em funo do seu deslocamento ao longo da extenso do comprimento de onda. Quando a dimenso da sapata menor do que o maior espaamento entre picos, erros significativos de distoro no perfil de textura superficial podero ser causados, evidenciado por uma maior altura h. Tendo em vista a influncia da dimenso da sapata na medio de textura superficial, o raio da ponta de contato desse componente deve ser maior que 50 vezes o cut-off nominal (c). De uma forma geral, o raio de 50 mm da sapata considerado adequado (DAGNALL, 1998). Quanto fora exercida pela sapata sobre a superfcie em anlise, a mesma no deve exceder a 50 gf (ISO 3274:1996). Considerando as foras mximas exercidas pelos componentes sapata e apalpador de raio igual a 5m (Figura 13), a relao de aumento da fora de contato entre estes componentes pode alcanar valores de aproximadamente 100 vezes maior para a sapata. Neste caso, a ocorrncia de marcas durante a medio pode ser atribuda ao uso de sapata, em destaque para materiais mais macios. Em funo desta possibilidade das marcas da sapata coincidir com a regio de deslocamento do apalpador, geralmente, o ponto de contato desses componentes so ligeiramente descentralizados do ponto de contato dos apalpadores (DAGNALL, 1998).
42 3. PARMETROS DE TEXTURA SUPERFICIAL
Na histria da metrologia de superfcie, inicialmente, os parmetros de amplitude ou de altura foram desenvolvidos devido sua facilidade de obteno. Em seguida, os parmetros de amplitude em funo dos valores mdios foram introduzidos a partir do processamento eletrnico. No entanto, a utilizao dos computadores provocou uma forte ampliao de parmetros. Atualmente, podem ser citados vrios parmetros para os respectivos componentes da textura superficial, basicamente caracterizando os aspectos de amplitude, espaamento e inclinao das irregularidades (TAYLOR HOBSON, 1990?). A necessidade de desenvolvimento de novos parmetros foi motivada pelo fato de ser impossvel caracterizar uma superfcie adequadamente apenas com um tipo de parmetro. Um exemplo apresentado na Figura 27. Nela so mostrados diferentes perfis de rugosidade com valores semelhantes de rugosidade mdia (Ra) e outros parmetros (Rsk e Rku), que sero abordados posteriormente neste trabalho.
6 4 2 0 2 -2 10 8 6 R R R = 1 ,0 3 = 0 ,0 2 = 3 ,3 3 R 4 2 0 2 -2 6 4 R R R
a Sk Ku a
R R R
a Sk Ku
= 1 ,0 3 = -0 ,0 7 = 1 ,1 3 R
a
(a )
10
12
14
16
a Sk Ku
(b )
10
12
14
16
1 ,0 4
= - 0 ,6 8 = 1 ,5 0 R
a
(c )
2 0 2 -2 4 6 8 10 12 14
16
Figura 27 - Representao esquemtica de perfis e parmetros de rugosidade

Fonte: Chapman Instruments, 2003
43 Os parmetros de textura superficial so valores resultantes de integraes ou de operaes matemticas a partir de perfis amostrais. Apesar de gerar um nmero que caracteriza, de certa forma, o aspecto da superfcie, esses parmetros so representaes da superfcie real e esto sujeitas a diversos erros de medio e interpretaes. Foram abordados, anteriormente, os aspectos que mais afetam o levantamento dos perfis de textura superficial, destacando as caractersticas dos apalpadores e dos filtros. Cabe apresentar outros aspectos que interferem diretamente nas definies matemticas e estatsticas dos parmetros de textura superficial antes da discusso sobre esse assunto. Vrios trabalhos j foram feitos em funo da avaliao da superfcie de superfcies usinadas com o processo de fresamento. Os autores Polli et al. (2005) e Nicola (2008) utilizam como parmetros de avaliao de superfcies fresadas o Ra, Rz e Rz1max para caracterizar as diferenas entre os valores de rugosidade obtidos. Concluram que os 3 parmetros tm relao entre eles e que seus comportamentos se assemelham graficamente se estes forem sobrepostos. Para o trabalho de Nunes et al. (2008) foram utilizados os parmetros Ra e Rz para quantificar a rugosidade nas superfcies estudadas de moldes e matrizes. Como resultado, foi visto que a seleo dos parmetros se deu em funo da disponibilidade do rugosmetro utilizado e tambm pela referncia norma NBR 6405 (1988).
3.1. DETERMINAO DA LINHA MDIA
De uma forma geral, a definio dos parmetros de rugosidade e ondulao depende de uma referncia, denominada linha mdia. Essa linha pode ser determinada de duas maneiras: linha mdia dos mnimos quadrados, referente ao perfil primrio; e linha mdia filtrada, referente aos perfis de rugosidade e de ondulao. Vale reportar que para os perfis filtrados foi utilizado nesta pesquisa o sistema de determinao de linha mdia determinado como sistema M da linha mdia. A linha mdia pelo mnimo dos quadrados pode ser definida como uma linha que acompanha o perfil nominal, de forma que a soma dos quadrados dos desvios do perfil na direo vertical seja minimizado. A forma do perfil nominal pode ser uma linha reta ou curva, conforme demonstra a Figura 28.
44
Linha mdia dos mnimos quadrados
Perfil nominal em linha reta
Perfil nominal em curva
Figura 28 - Representao esquemtica da forma da linha mdia em perfis nominais.

A linha mdia filtrada estabelecida dentro de um percurso de medio, de modo que a soma das reas superiores seja exatamente igual soma das reas inferiores. Neste caso, necessariamente a linha mdia ser retilnea e corresponder superfcie deixada se os picos fossem nivelados para preencher os vales, conforme Figura 29.
Z Linha Mdia
Zs
Zi
Figura 29 - Linha mdia do sistema M.

Fonte: Camargo, 2002
Analiticamente, essa definio pode ser expressa da seguinte forma:
Zi = Zs
i =1 s =1
onde: Z: amplitude acima ou abaixo da linha mdia.
45 As letras i e s que acompanham a amplitude Z do grfico da linha mdia correspondem a definio de inferior e superior respectivamente.
3.2. COMPRIMENTO DE AVALIAO
Na abordagem sobre comprimento de amostragem, o objetivo foi de descrever o significado de cut-off. De uma forma sucinta, neste item pretende-se apresentar uma ltima definio que antecede a determinao dos parmetros, a qual diz respeito ao campo ou comprimento de avaliao do perfil da superfcie. Na Figura 30 mostrado os comprimentos de ajustes (lv e ln), de amostragem (le) e de avaliao (lm). O somatrio destes comprimentos resultar no comprimento total de medio (lt).
le lv lm lt
determinao de um perfil de rugosidade.
ln
Figura 30 - Representao esquemtica dos comprimentos de avaliao envolvidos na
Os comprimentos lv e ln so trechos iniciais e finais do perfil que no participam da avaliao propriamente dita, mas que tem a finalidade de permitir o amortecimento das oscilaes mecnicas e eltricas do sistema e a centralizao do perfil. Os comprimentos le e lm so trechos importantes para a determinao dos parmetros de textura superficial. O comprimento le corresponde ao cut-off nominal e, normalmente, equivale a quinta parte do lm. No que diz respeito ao perfil primrio, o comprimento de amostragem igual ao comprimento de avaliao (NBR ISO 4287:2002).
46 3.3. CLASSIFICAO DOS PARMETROS PARA A MEDIO DA TEXTURA SUPERFICIAL Os parmetros originados da medio da textura superficial, normalmente, so determinados a partir de perfis filtrados de rugosidade e de ondulao. O principal padro internacional diferencia esses tipos de perfis pela primeira letra do smbolo dos respectivos parmetros, de forma que as letras maisculas R e W referem-se aos perfis de rugosidade e de ondulao, respectivamente (WHITEHOUSE, 2002). Para este trabalho foi considerado a letra R como referncia, pois os resultados apresentados posteriormente so referentes a rugosidade. Uma anlise de classificao de parmetros em diversas normas tcnicas e catlogos de fabricantes de instrumentos de medio de rugosidade permitem agrupar os parmetros, segundo suas caractersticas de amplitude, de espaamento ou hbridos.
3.3.1. Parmetros de amplitude Os parmetros de amplitude caracterizam o perfil de medio quanto a grandeza de altura ou amplitude Z do sistema de coordenadas, a qual expressa em unidade de comprimento, geralmente m (micrometro). Este grupo de parmetros pode ser dividido em dois subgrupos: parmetros de altura de picos e vales e parmetros mdios, sendo os principais parmetros apresentados a seguir.
3.3.1.1. Rp e Rv - Amplitude mxima de picos e vales Os parmetros de amplitude mxima de picos e vales correspondem ao valor de maior altura de pico (Zpi) e de maior profundidade de vale (Zvi) de um perfil filtrado, respectivamente, dentro de um comprimento de amostragem, conforme Figura 31.
47
Zv4
Zv1
Zv3
Zv5
Zv2
Zv6
Rv
(a) Rp altura mxima de picos
Zp3
Zp6
Zp1
Zp4
Zp2
Zp5
Rp
(b) Rv Profundidade mxima de vales
Figura 31 - Amplitudes mximas de picos a) Rp e vales b) Rv a partir de um perfil de medio de rugosidade.

Conforme o fabricante de equipamentos Taylor Hobson Precision (2003), a avaliao dos picos importante quando se consideram as propriedades de frico e desgaste e a interao entre concentrao de superfcies. No entanto, este parmetro influenciado pelas falhas mecnicas devido ao material, sendo que a superfcie deve ser bem limpa para eliminar toda a sujeira antes da medio. Devido sua avaliao pontual, pode apresentar divergncias significativas em uma seqncia de medies realizadas.
3.3.1.2. Rz Amplitude mxima de perfil por comprimento de medio Segundo a norma NBR ISO 4287:2002, o parmetro Rz corresponde ao somatrio dos maiores picos e dos vales mais profundos, no necessariamente adjacentes, dentro de um comprimento de amostragem de um perfil filtrado, conforme a Figura 32.
48
Zp1
Zp1
Rz
Zp1
Zv4
Zp1 Zp1
Zv5 Zv6
Zv1
Figura 32 - Amplitude mxima de perfil a partir de um perfil de rugosidade

Apesar da definio de Rz considerar apenas um comprimento de amostragem, usualmente so adotados cinco comprimentos de amostragem, o que fornece uma melhor estimativa estatstica do parmetro avaliado. A norma NBR ISO 4287 (2002) faz referncia a avaliao de Rz apenas em um comprimento de amostragem e quando este medido em cinco comprimentos o resultado apresentado corresponde a mdia do Rz obtido nos cinco comprimentos avaliados. A medio em apenas um comprimento representada por R1z. O emprego do parmetro Rz pode ser citado para casos em que pontos isolados influenciam a aplicabilidade do produto, como por exemplo, superfcies em contato e com deslizamento (por exemplo: a estampagem). As vantagens deste parmetro referem-se facilidade de obteno atravs de grficos e informao sobre a distribuio dos pontos acentuados. Por outro lado, essa considerao parcial pode fornecer uma pequena parte da superfcie total de anlise, alm de no possibilitar informaes sobre a forma e a distncia entre as ranhuras (TAYLOR HOBSON PRECISION, 2003).
3.3.1.3. Rt Amplitude total de perfil O parmetro de amplitude total corresponde ao somatrio do mais alto pico com o mais profundo vale, dentro de um comprimento de avaliao (Figura 33).
Zv2
Zv3
Zp1
49
Rt
Comprimento de avaliao Figura 33 - Para determinao de Rt, considerar mais alto Rp e mais profundo Rv, para um comprimento de avaliao.
Fonte: NBR ISO 4287: 2002
O parmetro Rt particularmente til onde os componentes esto sujeitos altas tenses mecnicas. Qualquer pico e vale grande pode ser uma regio sujeita propagao de trincas, todavia como o Rt um parmetro de amplitude, ele est sujeito a grandes variaes e pode ser instvel (TAYLOR HOBSON PRECISION, 2003).
3.3.1.4. Ra Amplitude mdia de perfil O parmetro de amplitude mdia de perfil, tambm conhecido como mdia aritmtica (AA), mdia da linha central (CLA) ou desvio mdio aritmtico do perfil. Este parmetro corresponde rea entre o perfil de rugosidade e a linha mdia, ou ainda, a integral dos valores absolutos das amplitudes do perfil de rugosidade dentro de um comprimento de amostragem. Analiticamente, o Ra pode ser expresso da seguinte maneira:
Ra =
1 lm
lm
Z ( x) dx
0
Essa grandeza pode ser representada como sendo a altura de um retngulo, cuja rea igual soma absoluta das reas delimitadas entre o perfil e a linha mdia, dentro de um comprimento de amostragem, conforme a Figura 34.
50
Z
Ra
Z i
Z i
Comprimento m amostragem C prim de de - lm om ento edio Figura 34 - Representao grfica da rugosidade mdia em um perfil de rugosidade.
Fonte: Mahr, 1999
Cabe destacar como aspectos crticos deste parmetro a dependncia do cut-off ou comprimentos de amostragem, de forma que sero obtidos maiores valores de Ra, quanto maiores forem os valores dos cut-offs. Alm disso, este parmetro no fornece distino entre picos e vales, ou seja, nenhuma informao de forma da superfcie fornecida.
3.3.1.5.Rq Desvio mdio quadrtico do perfil O parmetro de desvio mdio quadrtico definido como a raiz quadrada da mdia dos quadrados das amplitudes do perfil em relao linha mdia, oferecendo uma medida do desvio padro dos dados analisados. Analiticamente, esses parmetros podem ser descritos como:
Rq =
1 Z 2 ( x)dx l 0
Este parmetro tem o efeito de dar peso extra para altos valores de picos e vales que aparecem ao acaso, pois eleva ao quadrado essas irregularidades, caracterizando uma destacada vantagem na sua determinao. Neste caso, pode-se citar uma aplicao na anlise da qualidade tica de superfcies. Por outro lado, este parmetro de difcil obteno em equipamentos analgicos. Outro aspecto desfavorvel na utilizao destes parmetros que o mesmo no define a forma das irregularidades e, normalmente, devem ser interpretados conjuntamente como outros parmetros de amplitude, tal como o Rp (WHITEHOUSE, 2002).
51 3.3.1.6. Rsk Assimetria do perfil O parmetro de assimetria avalia a posio relativa do perfil em relao linha mdia. Conhecido tambm como um parmetro de forma do perfil de medio, a sua nomenclatura originada da palavra Skewness. Analiticamente, esse parmetro pode ser expresso como a seguir:
1 Rsk = 3 Rq 1 lr 3 Z ( x)dx lr 0
Nota-se que o Rsk um parmetro adimensional e diretamente dependente dos valores do desvio mdio quadrtico (Rq) e das amplitudes parciais (Zi). Conforme pode ser observado na Figura 35, os valores de Rsk, aproximadamente iguais a zero, indicam uma superfcie com picos e vales distribudos semelhantemente ao longo do comprimento de amostragem.
10 8 6
Ra = 1,03 Rq = 1,70 Rsk = 0,02
(a)
4 2 0 -2 10 8 6
10
12
14
16
Ra = 0,99 Rq = 1,60 Rsk = 1,56
(b)
4 2 0 -2 10 8 6
10
12
14
16
Ra = 0,99 Rq = 1,60 Rsk = -1,56
(c)
4 2 0 2 -2 4 6 8 10 12 14 16
Figura 35 - Representao esquemtica da assimetria de perfis de rugosidade.

Quando o Rsk for positivo, ele indica que o perfil em anlise representa uma superfcie com picos altos associados regio de baixos vales ou aplainados. Em termos de amplitudes, isso quer dizer que os valores de amplitude de picos so maiores do que os valores de amplitude de vales. Por outro lado, valores negativos indicam a presena de maiores amplitudes de vales em relao amplitude de picos.
52 Os valores absolutos de Rsk maiores do que 1,5 (positivo ou negativo) indicam que a superfcie apresenta uma forma com altos picos ou profundos vales (PRECISION DEVICES INC-PDI, 2007). Com isso, os parmetros de amplitude de picos e vales, tais Ra e Rt, no so adequados para a caracterizao deste tipo de superfcie. Como exemplo, a Figura 35 apresenta perfis com semelhantes valores de Ra e Rt, mas com forma e valores de Rsk diferentes. Cabe ressaltar que esse tipo de parmetro extremamente influenciado por picos ou vales isolados. Esse fato pode ser percebido diretamente nos valores deste parmetro, ou graficamente. Quando a superfcie apresentar altos picos e forem utilizados instrumentos com sapata, existe grande probabilidade de erros de medio, principalmente, se o espaamento entre os picos for maior que o comprimento de contato do sistema de sapata e a superfcie em anlise. Apesar da sua caracterstica de parmetro de forma, o Rsk necessita ser associado a outros parmetros para uma adequada caracterizao do perfil medido. A Figura 36 mostra exemplos de perfis com caractersticas de assimetria semelhantes, mas que tero forte influncia no resultado final de aplicao dos respectivos produtos. Neste caso, apesar dos perfis serem graficamente diferentes, o parmetro Rku pode ser considerado semelhante, cabendo aos parmetros de amplitude, propriamente dito (Ra e Rq), a diferenciao numrica entre eles.
10 8 6
Ra = 1,03 Rq = 1,70 Rsk = 0,02 Rku = 3,33
(a)
4 2 0 -2
Ra
10
12
14
16
10 8 6
(b)
4 2 0 -2
Ra = 0,16 Rq = 0,30 Rsk = 0,02 Rku = 3,33

2 4 6 8 10 12 14 16
Figura 36 - Representao esquemtica de perfis com semelhante assimetria e diferente rugosidade mdia.
Nos processos de estampagem e de abraso, provavelmente, apenas os picos sero afetados (CHAPMAN INSTRUMENTS, 2003). Sendo assim, as caractersticas de forma do perfil sero importantes no entendimento do seu efeito nos fenmenos de oleamento e de frico.
53 3.3.1.7. Rku Achatamento do perfil O parmetro de achatamento de perfil mede a convexidade do perfil da superfcie em anlise. Analiticamente, este parmetro expresso por: 1 Rku = Rq 4 1 lr 4 Z ( x)dx lr 0
Com base na equao acima, verifica-se a mesma dependncia deste parmetro aos valores de desvio mdio quadrtico (Rq) e das amplitudes parciais (Zi), alm de semelhante carter adimensional em relao ao parmetro Rsk. A nica diferena entre estes dois tipos de parmetros de forma, at ento, refere-se ao grau de potncia dos respectivos constituintes (Zi e Rq). Segundo a equao, o valor de Rku (Figura 37) necessariamente ser positivo e destacar ainda mais a influncia da amplitude dos picos e vales, quando comparado ao Rsk.
Figura 37 Fator de achatamento do perfil (Rku)

Fonte: ASME B46.1 (2002)
Normalmente, pode-se dizer que uma superfcie com picos e vales igualmente distribudos apresentar uma grandeza de Rku da ordem de trs. Para valores acima de trs o perfil deve apresentar picos e vales mais agudos e mais profundos, respectivamente, sendo o inverso para valores abaixo de trs.
54 Leach (2001) reporta que a aplicao do parmetro Rku similar ao de assimetria, em anlise de caracterizao de forma, principalmente para anlise de atrito e de reteno de lubrificao.
3.3.2. Parmetros de espaamento Os parmetros de espaamento caracterizam a distncia entre os elementos de um perfil medido. Por exemplo, dois perfis podem apresentar mesma amplitude, e, com isso, semelhantes parmetros de amplitude (Ra e Rq) e de forma (Rsk e Rku), mas apresentarem diferentes parmetros de espaamentos e de quantidade de elementos de perfil. Ainda, esses parmetros apresentam uma relao direta com o parmetro de contagem de picos.
3.3.2.1. RSm Largura mdia dos elementos do perfil
Os parmetros de espaamento mdio so definidos como a distncia mdia ou a largura mdia entre elementos de perfil (Xs) que interceptam a linha mdia. Quanto ao comprimento de avaliao, existe uma controvrsia na sua definio. Prevalece em normas tcnicas o comprimento de amostragem (NBR ISO 4287:2002) e em catlogos de equipamentos o comprimento de medio (PRECISION DEVICES INC-PDI, 2007; CHAPMAN INSTRUMENTS, 2003). A princpio, os parmetros que medem a distncia entre elementos de um perfil so independentes dos valores de amplitude. No entanto, segundo a norma NBR ISO 4287:2002, os parmetros RSm requerem uma discriminao de espaamento e de amplitude, de forma que sero contados como variveis de anlise aquelas distncias que tiverem valores acima de 10% da amplitude mxima (Rz) e acima de 1% do comprimento de amostragem. Analiticamente, os parmetros de distncia mdia entre picos e vales podem ser definidos conforme a equao abaixo. A Figura 38 ilustra os elementos de medio desse parmetro, mostrando que o espaamento Xsi consistir de um pico e um vale adjacente. RSm =
1 m Xsi m i =1
55
XS1 XS2 XS3 XS4 XS5 XS6
Comprimento de avaliao
Figura 38 - Representao esquemtica da distncia ou largura entre os elementos de perfil para determinao do RSm.
Fonte: Sheers et al, 1998
Segundo Scheers et al (1998), o parmetro RSm apresenta melhor correlao com a aparncia visual aps pintura do que o parmetro de contagem de picos (Pc), e por isso, em alguns casos tem sido utilizado.
3.3.3. Parmetros hbridos
Por definio, os parmetros hbridos so aqueles que combinam as caractersticas de espaamento e amplitude dos elementos de um perfil. Apesar da norma ASME B46.1: 2002 citar os parmetros de contagem de elementos de um perfil (Pc e HSC) como pertencentes ao grupo de parmetros de espaamento, entende-se que, pela definio acima, estes parmetros so tipicamente hbridos.
3.3.3.1. Pc e HSC Contagem de elementos de um perfil Existem dois mtodos ou parmetros de contagem de picos, necessariamente de perfis de rugosidade, conhecidos como Pc (peak count) e HSC (high spot count). Esses parmetros so medidos sobre um comprimento de medio (lm) e expressos em picos/unidade de comprimento. O Pc considera a quantidade de picos por uma unidade de comprimento que ultrapassa um limite superior pr-selecionado e em seguida ultrapassa o limite inferior, igualmente pr-
56 selecionado (ASME B46.1:2002). Estes limites de contagem de picos e vales so denominados de linha de corte. A Figura 39 mostra uma tpica contagem de picos identificando a linha mdia e de corte, sendo estas ltimas identificadas como C1 e C2.
Linha de corte superior (C1)
Faixa de medio
Linha de corte inferior (C2)
Figura 39 - Identificao das linhas de corte superior (C1) e inferior (C2) para a contagem de picos de um perfil de rugosidade e definio do parmetro Pc.
Fonte: Pecision Device Inc-PDI, 2007
O parmetro HSC definido como a quantidade de picos por unidade de comprimento que ultrapassa um limite pr-selecionado (TAYLOR HOBSON PRECISION, 2003; PRECISION
DEVICE INC-PDI, 2007), podendo ser acima ou abaixo da linha mdia (Figura 40).
Figura 40 - Identificao das linhas de contagem de picos baseado no perfil de rugosidade para determinao do HSC.
Fonte: Precision Device Inc-PDI, 2007
As linhas de corte de alguns instrumentos de medio pode ser diferentemente prselecionada. Essa condio anormal conveniente em anlise de superfcies do tipo plat, de forma que o par de linhas de corte conta os baixos picos e os profundos vales dessa especfica superfcie (PRECISION DEVICE INC-PDI, 2007).
57 Na superfcie com baixo valor de rugosidade mdia, o parmetro Pc apresenta uma maior variao com o aumento dos limites de contagem e no apresenta uma estabilizao desses valores, tornando a seleo dos limites de contagem ainda mais crtica. Apesar da limitao de definio da linha de corte, a contagem de picos pode ser um til parmetro em situaes onde o nmero de picos sobre uma determinada linha de corte venha ser interessante, tais como em discos de armazenamento de dados computacionais, superfcies de contato, dentre outros.
3.3.3.2. Rmr(c) Material Ratio Conforme Leach (2001), a razo material do perfil Rmr (c) a razo do comprimento til do perfil de rugosidade a um dado nvel de corte (c) com o comprimento avaliado, sendo o resultado representado em percentagem. O comprimento til a soma dos comprimentos das sees obtidas pelo corte do perfil com a linha paralela a linha mdia a um nvel (c). A razo assumida em 0% se uma fatia do nvel for no pico mais alto, e 100% se for no vale mais profundo (Figura 41).
Figura 41 - Parmetro Rmr

A curva de razo material representa a percentagem de material encontrado no corte em um nvel (c) distanciado do ponto mais alto do perfil. Tambm conhecido como a curva de Abbott Firestone ela a funo da distribuio cumulativa de profundidade do perfil e ela cumulativa ao topo do perfil.
58
4. O COMPORTAMENTO DOS PARMETROS DE RUGOSIDADE EM FUNO DA ESTRATGIA DE ACABAMENTO NO FRESAMENTO DE MOLDES

Para Volpato (1993) os moldes usados no processo de conformao e injeo de plsticos podem ser definidos como ferramentas usadas para reproduzir formas geomtricas de um produto. Essa ferramenta constituda de vrias partes mecnicas formando um conjunto de basicamente duas partes denominadas macho e fmea, que quando unidas formam uma cavidade onde ser produzida a pea. No passado [-1980], os processos para a fabricao de moldes eram limitados, pois os processos de usinagem tradicionais de fresamento com mquinas 3 eixos no eram capazes de reproduzir os contornos das cavidades (VOLPATO, 1993), afetando tambm o acabamento superficial da superfcie usinada. Hoje, os processos de usinagem permanecem os mesmos, porm com a possibilidade de aplicao de usinagem HSM, estratgias diferenciadas e mquinas com 5 eixos, afetando diretamente o acabamento da superfcie. O impacto da rugosidade no controle das cavidades de moldes fonte de preocupao em empresas de fabricao de moldes. Conforme pesquisa realizada por Fallbhmer (2000), na fabricao de moldes uma significativa poro do tempo de processo despendido nas operaes de usinagem e polimento (Figura 42). Estas operaes de fabricao e polimento acabam consumindo aproximadamente dois teros do custo total da fabricao e as operaes de acabamento e polimento representam de 20% a 30% do tempo total gasto para a fabricao do molde. Vale ressaltar que 20 a 30% do tempo no representa o mesmo valor em custo, pois as operaes
50 Alemanha 40 Japo USA 30 20
de
polimento
tm
custo
menor
do
que
operaes
de
fresamento.
% das empresas
10 0 Planejamento do processo Desenho Gerao da trajetria da ferramenta Usinagem Acabamento manual Inspeo
Figura 42 Tempo de processo na produo de moldes e matrizes

Fonte: Fallbhmer, 2000
59 Ramos e Machado (2002) descreveram que se pode alcanar um melhor acabamento quando h um aumento no nmero de passes no corte de acabamento. Com base nessa informao definiram que a distncia entre os cortes (ae) em combinao com o dimetro mximo de corte (D) determina a rugosidade superficial terica Rth, equivalente ao parmetro de rugosidade Rz:
Rth = Onde: Rth, D e ae em mm.
D + 2
D 2 + a e2 4
Desde que o dimetro mximo de corte muitas vezes limitado pela geometria da pea, a rugosidade superficial terica pode ser minimizada somente pela reduo de ae de uma superfcie perpendicular ao eixo da ferramenta e fresa de topo esfrico, ou seja, superfcies planas. Se a distncia entre cortes reduzida em 50%, a trajetria aumenta automaticamente em 100%. Uma forma de reduzir o tempo de corte aumentar o avano por dente, que requer uma alta velocidade de rotao, que resulta automaticamente em uma alta velocidade de avano. Assim, um dos motivos para o uso de mquinas com elevadas velocidades de corte (HSM) permitir altas velocidades de avano possibilitando eliminar o polimento manual que, conforme Fallbhmer (1996), ainda muito utilizado para dar acabamento final a moldes e matrizes. Em uma publicao da Sandvik Coromant, tem-se a informao de que vantajoso selecionar o avano por dente (fz) igual a profundidade de corte radial ou distncia entre os cortes (ae). Essa seleo proporciona vantagens como: acabamento superficial similar em todas as direes, tempo de usinagem mais curto e competitivo, textura superficial simtrica (muito favorvel ao polimento se este for necessrio) e aumento da preciso e resistncia mecnica da superfcie (gerando uma vida til mais longa do molde). De acordo com Fallbhmer (2000), as vantagens para a usinagem em alta velocidade so: alta taxa de remoo de material, reduo no tempo de parada de mquina, baixa fora de corte, dissipao do calor com a remoo do cavaco resultando em uma reduo nas distores e aumento na preciso da pea e no acabamento superficial. O acabamento superficial bastante rigoroso em moldes e matrizes, com Ra normalmente menor que 0,1m, sendo crtico principalmente nos moldes para injeo. O acabamento superficial resultante da utilizao de HSM pode ser aceitvel, geralmente na ordem de Ra de 0,2m, se houver a combinao de sobremetal constante para cada operao da ferramenta com baixas foras de corte que resultam numa deflexo pequena e consistente da ferramenta (SANDIVIK COROMANT, 2006?). Segundo Batista (2006), a qualidade do molde est diretamente relacionada a um
60 adequado planejamento. Um investimento maior no planejamento do molde pode ser compensado com os resultados alcanados e na repetitividade das operaes seguintes em outros moldes. Como expe Beard (2001), os programadores CAM deixavam os prprios softwares selecionarem as estratgias de trajetria da ferramenta. Atualmente os profissionais que desenvolvem os softwares comeam a se preocupar em conhecer profundamente a usinagem em altas velocidades (HSM), com base em informaes prticas encaminhadas por clientes que tambm exigem melhoria no software utilizado. O tempo de usinagem e a qualidade superficial resultante de todo o processo, conforme Monreal e Rodriguez (2003) esto em funo da estratgia de trajetria da ferramenta e esta tambm tem aspectos a serem considerados como: tipo de movimento, orientao do caminho da ferramenta e movimentos de entrada e sada da ferramenta da pea. Ainda importante destacar que os autores salientam que determinadas estratgias com muitas alteraes de sentido aumentam o tempo de usinagem em virtude da acelerao e desacelerao da mquinaferramenta com as entradas e sadas da ferramenta da pea. Conforme Ramos, Relvas e Simes (2003), o estudo das estratgias de usinagem um aspecto importante quando existe a necessidade de identificar a estratgia de usinagem adequada para a superfcie que tem caractersticas inerentes a geometria. Este tpico muito importante quando os objetivos so estreitos valores de rugosidade superficial e menores custos de fabricao. Uma estratgia adequada de usinagem pode diminuir significativamente o trabalho, bem como os prazos e custos. Freqentemente, as operaes de polimento so necessrias devido ao uso de estratgias de usinagem inadequadas. Um experimento realizado por Ramos, Relvas e Simes (2003) teve como objetivo a aplicao das diferentes estratgias, sendo que a Figura 43 mostra esquematicamente o caminho da ferramenta nas estratgias testadas. A operao de acabamento utilizada no experimento de Ramos et al (2003) foi feita com trs estratgias diferentes: radial, raster (passes paralelos) e 3D offset (contorno da geometria). Os autores utilizaram para o experimento um centro de usinagem 3 eixos, com material em alumnio srie 1000 e ferramenta de topo esfrico de dimetros entre 12 e 6 mm. A mxima velocidade da mquina foi utilizada em 6000 rpm. Os autores afirmam que a tcnica de acabamento radial adequada para usinagem plana e com componentes circulares quase planos; a tcnica raster a mais adequada para a operao de desbaste e consiste em criar um padro dentro do limite de varredura e projetando-o na superfcie do modelo; e a tcnica de acabamento 3D offset mantm uma constante no passo da superfcie a ser
61 usinada. A estratgia 3D offset a mais adequada de ser aplicada em peas de superfcies complexas. A rugosidade das superfcies usinadas foi medida com um rugosmetro com sapata com uma preciso especificada de 5% pelo fabricante. A Figura 43 mostra as direes em que foram medidas as rugosidades superficiais e a Tabela 3 apresenta os resultados de rugosidade obtidos nas trs estratgias estudadas.
Figura 43 Passos na direo longitudinal e transversal da ferramenta de corte considerados para a medio de rugosidade
Fonte: Ramos, Relvas e Simes (2003)
Os dados de rugosidade obtidos na direo longitudinal so considerados idnticos para todas as estratgias por Ramos et al (2003) quando comparados a direo transversal. Os autores no apresentam o nmero de medies realizadas, sendo assim, considera-se que os valores
62 apresentados na tabela so valores mdios.
Tabela 3 Parmetros de rugosidade medidos (m)

Parmetros Ra Rt Rp Rq Ra Rt Rp Rq Radial Raster 3D offset Direo Longitudinal 0,79 0,75 0,78 6,1 5,01 5,47 2,32 2,21 2,51 0,98 0,92 0,97 Direo Transversal 1,04 0,92 0,83 8,71 5,13 4,75 4,1 2,02 1,51 1,49 1,19 1,06
Fonte: Ramos, Relvas e Simes, 2003
No entanto, para o corte da ferramenta no sentido transversal, a estratgia 3D offset provocou menor rugosidade. O valor mais elevado de rugosidade foi obtido para a estratgia de corte radial. Relativamente estratgia 3D offset, o parmetro de rugosidade Ra medido estava 11 e 25% mais elevado para as estratgias raster e radial, respectivamente. Isto demonstra que a escolha da estratgia para o caminho da ferramenta na usinagem pode levar a resultados diferentes e dependendo da exigncia de tolerncia de acabamento superficial do molde, estes resultados podem ou no atender a especificao. Conforme Toh (2004), pesquisas sobre tcnicas de gerao do caminho de corte tm sido abundante ao longo da ltima dcada. No entanto, a implementao das tcnicas do caminho de corte foi limitada a usinagem das chamadas geometrias simples. A correta seleo da estratgia de corte crucial para se conseguir as superfcies usinadas desejadas. A falta de considerao do impacto da seleo do caminho de corte com os demais parmetros de usinagem como as foras de corte, anlises de vibrao, vida da ferramenta, temperatura de corte e integridade da superfcie da pea, pode gerar um corte inadequado e, portanto, levar perda de tempo desnecessria, custo elevado e baixa qualidade superficial. A estratgia offset tem clculos de trajetria de corte mais difceis que a usinagem raster. Esta estratgia comumente usada para usinagem de bolses. Quando se utiliza a estratgia raster com uma nica direo, acontece uma varredura com corte em linhas paralelas em toda a rea a ser usinada. Embora a usinagem raster seja geralmente encontrada para produzir um caminho de corte menor, as marcas que so deixadas nas paredes dos bolses usinados no podem ser completamente removidas. Com a estratgia offset, as marcas so removidas criando uma superfcie lisa (TOH, 2004 e SOARES, 2007).
63 Na usinagem de acabamento, em que a qualidade da superfcie crucial, a baixa profundidade de corte radial prefervel em que baixas foras de corte podem ser mantidas para evitar vibraes indesejveis. Desta forma, peas com estreitas faixas de rugosidades superficiais e superfcies precisas podem ser alcanadas. Por outro lado, o comprimento de corte maior e pode ter um efeito prejudicial formando desgaste no corte da ferramenta (TOH, 2004 e SOARES, 2007). Para usinagem de acabamento de forma livre em moldes e matrizes, a trajetria de corte varia ao longo da curvatura da superfcie. Quando a usinagem de acabamento usa 3 ou 5 eixos na mquina-ferramenta, o eixo da ferramenta em relao superfcie da pea fundamental para melhorar a rugosidade superficial e preciso da pea. Soares (2007) recomenda a inclinao na ferramenta de 16 a 20 para melhorar o acabamento resultante do processo de usinagem HSM. O corte da ferramenta de topo esfrica geralmente usado para terminar a usinagem devido ao fato de que o corte se adapta facilmente a usinagem de superfcies de forma livre. A reduo dos erros na usinagem pode fornecer alta qualidade na usinagem de moldes e alta produtividade quando aplicado nas indstrias automotivas e aeroespaciais. De acordo com o acabamento superficial obtido na usinagem, pode ser necessria uma etapa adicional caracterizada como polimento.
4.1. POLIMENTO Conforme Baptista e Antune (2000), o polimento manual para superfcies usinadas necessrio para obter a rugosidade superficial desejada. Este tipo de operao conseqncia da incapacidade da operao de acabamento no fresamento em executar de forma econmica a qualidade superficial requerida. A usinagem de 5 eixos , atualmente, uma das tcnicas que tem vantagens nas operaes de usinagem e na capacidade para reduzir significativamente o acabamento manual. Para demonstrar a diferena existente nos processos de fabricao atravs da rugosidade, Baptista e Antune (2000) testaram trs direes de corte numa mesma geometria (Figura 44).
64
Figura 44 Direo de corte

Fonte: Baptista e Antune, 2000
Na Tabela 4 so apresentados os valores de rugosidade aproximados obtidos para cada direo de corte testada por Baptista e Antune (2000).
Tabela 4 Nveis de acabamento obtidos por direo de corte

Direo de corte Rugosidade Ra (m) a 0,5 b 1,0 c 1,8
Fonte: Baptista e Antune, 2000
Conforme Haidar et al (2005), o polimento manual de amostras utiliza pasta diamantada, sob baixa presso com um movimento numa mesa rotativa. O polimento feito sob um pano impregnado com um lubrificante adequado, e com uma pasta diamantada com granulometria de 9m a 1m. Cada pasta com diferentes granulometrias tem a sua prpria mesa de apoio onde ser pressionada a pea sob polimento, a fim de ser livre de qualquer contaminao pelos gros da etapa anterior de polimento. A limpeza feita com gua destilada e depois com lcool a cada mudana de pasta diamantada. Este mtodo de polimento manual muito delicado, pois necessrio supervisionar a qualidade em toda a superfcie, de modo a parar o processo de polimento antes de obter uma superfcie com aparncia chamada de casca de laranja. A Figura 45 mostra uma aparncia observada numa superfcie polida com gros de dimetro de 0,25m (a esquerda). Esta etapa final de polimento na superfcie com gros de 0,25m pode destruir a qualidade da superfcie e causar defeitos superficiais com furos microscpicos e incluses na superfcie; conseqentemente, a ltima etapa do processo de polimento normalmente feita com gros de 1m de dimetro na figura a direita (HAIDAR, 2005).
65
(a)
(b)
Gro 0,25m
Gro 1m
Figura 45 Comparao de superfcies polidas

Fonte: Haidar et al (2005)
Haidar et al (2005) testou o polimento manual e o mecnico e constatou diferenas significativas nas duas superfcies. A topografia da superfcie com polimento manual (Figura 46), com tamanhos de gros menores que 1m revela poeiras, buracos e arranhes em todas as direes. Os arranhes so interseces do acaso por causa do movimento das partculas durante o polimento. Os orifcios laterais de tamanho micromtrico so distribudos aleatoriamente sobre a superfcie. Esses buracos so criados quando a superfcie polida com gros abrasivos menores que 1m, e a estrutura da superfcie consideravelmente mais degradada apesar de dos gros abrasivos serem utilizados. O material utilizado para amostra neste estudo de Haidar (2005) foi um disco de metal (platina-irdio) com polimento manual realizado em um dos lados do disco e com polimento mecnico realizado no outro lado do disco. A dureza do material no foi especificada para preservar a integridade do prottipo estudado.
Figura 46 - Polimento manual

66 Conforme Derry et al (2008), o polimento manual tem sido amplamente utilizado em laboratrio para criar superfcies lisas. Os autores observaram, a partir de suas medies, que as superfcies polidas manualmente com pasta diamantada apresentam menos imperfeies do que aquelas que foram polidas mecanicamente. As linhas de perfis obtidas para as superfcies polidas manualmente foram mais suaves que depois do polimento mecnico, ocorrendo pequenas variaes de alturas. O polimento manual tambm corroe qualquer sujeira deixada para trs pelo polimento mecnico, uma vez que no havia qualquer razo para supor que todas as sujeiras fossem tiradas quando o polimento mecnico foi realizado em suaves direes, e, por isso, o polimento manual deixa a superfcie no s plana e limpa, mas tambm muito lisa. A maior parte das ranhuras tornou-se mais suave aps o polimento manual do que eram aps o polimento mecnico, sugerindo que a eroso das asperosidades no interior das ranhuras deslocaram-se para os seus lugares. Em contrapartida, a imagem topogrfica de Haidar et al (2005) correspondente a um polimento mecnico com ferramenta de diamante (Figura 47) revela arranhes de diferentes larguras que so principalmente num determinado sentido. A forma destes riscos nica, pois eles parecem ser distribudos em vrios nveis.
Figura 47 Polimento mecnico

Quando a comparao feita entre as imagens topogrficas, pode-se observar claramente a diferena entre as duas superfcies. No entanto, ao comparar a rugosidade das duas superfcies, descobriu-se que estas parecem ter a mesma superfcie, apesar de ser um polimento diferente: todos os resultados obtidos deram valores de rugosidade dentro da incerteza. Isto significa que a rugosidade avaliada com apenas um parmetro (Rq), como fez Haidar et al (2005), no
67 suficiente para caracterizar a superfcies e demonstrar as diferenas que podem existir. Diferentes parmetros de rugosidade deveriam ter sido utilizados para caracterizar a qualidade superficial decorrente do polimento. Um exame da rugosidade atravs do parmetro Rq feita por Derry et al (2008), tendo em conta as diferentes reas de varredura, mostrou algumas diferenas entre as superfcies polidas manualmente e mecanicamente, e essas diferenas tm colaborado com as observaes feitas anteriormente sobre as linhas dos perfis, em casos especficos. Porm, mesmo o parmetro Rq demonstrando bons resultados decorrentes das superfcies avaliadas, faz-se necessria a avaliao de outros parmetros para caracterizar melhor o perfil medido em funo da sensibilidade do parmetro Rq. As ambigidades observadas na rugosidade superficial para determinadas superfcies podem ser atribudas a algumas das dificuldades associadas ao processo de polimento manual em si, tais como manter uma direo estritamente constante para todo o tempo de polimento. De acordo com os autores Haidar (2005) e Derry (2008), necessrio que seja verificado no apenas um parmetro, ou melhor, se for apenas um parmetro que este represente adequadamente a superfcie. Vrios estudos referenciados citam o parmetro Ra ou Rq para determinao da rugosidade, mas estes devem ser selecionados com prudncia para que sua relevncia seja percebida na avaliao da superfcie e que tambm demonstre a realidade do perfil medido. Assim como a seleo dos parmetros, tornam-se necessrios tambm alguns cuidados durante a medio como direo de medio, limpeza da superfcie e utilizao da superfcie para auxiliar na determinao dos parmetros de medio. Ainda de outro ponto de vista, Menning (1998) descreve que para satisfazer as exigncias de preciso de moldes, as superfcies so definidas pelo parmetro Rt e no faz meno a nenhum outro parmetro para avaliar as superfcies, sendo que foi percebido por outros autores, a utilizao de apenas um parmetro pode comprometer a avaliao e at mesmo os resultados. Para Whitehouse (2003) a superfcie usinada pode ser avaliada de uma forma bastante significante com os parmetros Ra, Rt e Rz. A Tabela 5 classifica os acabamentos superficiais em 12 grupos, e as organiza de acordo com o grau de rugosidade e o processo de usinagem que pode ser utilizado para sua obteno. Atravs da tabela possvel observar os valores tpicos para a rugosidade que para o parmetro Ra no processo de polimento encontram-se na faixa de valores abaixo de 0,4m at 0,025m para realizao em usinagem comum e abaixo de 0,025m para os processos de acabamento com cuidados especiais.
68
Tabela 5 Classificao dos acabamentos superficiais encontrados na indstria mecnica
Fonte: Adaptado de Whitehouse, 2002
No prximo captulo so relatados os parmetros de relevncia na avaliao de uma superfcie de forma complexa relacionados com os cuidados relativos a cada superfcie.
69
5. PROCEDIMENTO EXPERIMENTAL E RESULTADOS
Para a realizao do procedimento experimental, foi definido que a pea de trabalho apresentaria a superfcie decorrente da operao de acabamento por fresamento e posteriormente seria avaliada a superfcie polida. O objetivo foi quantificar o acabamento superficial, identificando os desvios microgeomtricos de 3 e 4 ordem decorrentes de cinco diferentes estratgias de usinagem (3D offset, Z constante otimizado, radial para cima, radial para baixo e raster) utilizadas no processo de fabricao desta pea (cavidade de molde). A estratgia de usinagem 3D offset faz o incremento no eixo Z, e usina em forma de crculos todo o permetro da pea naquela altura, fazendo a forma da superfcie a cada incremento at a chegada da medida do eixo Z final. O sentido de corte utilizado para a ferramenta concordante. A estratgia de usinagem Z constante otimizado compe a trajetria da ferramenta de corte em forma de espiral com incremento realizado a cada permetro da pea, mas sem parar para incrementar, por isso chamado de otimizado, at a chegada da medida Z final. O sentido de corte utilizado para a ferramenta tambm concordante. Para a estratgia de usinagem radial para cima, o incremento feito radialmente, no sentido de contornar a figura a ser usinada, a ferramenta de corte usina no sentido de baixo para cima percorrendo a superfcie da figura. O sentido de corte utilizado para a ferramenta concordante. Para a estratgia de usinagem radial para baixo, o incremento feito radialmente, no sentido de contornar a figura a ser usinada, a ferramenta de corte usina no sentido de cima para baixo percorrendo a superfcie da figura. O sentido de corte utilizado para a ferramenta concordante. Na estratgia de usinagem raster os passes so paralelos, o incremento em X ou Y at a chegada do fim da pea, a ferramenta de corte desce e sobe por toda a superfcie da figura a ser usinada, o sentido de corte da ferramenta concordante de um lado e discordante do outro. A Figura 48 apresenta a trajetria da ferramenta para cada uma das estratgias citadas.
70
Figura 48 Trajetria da ferramenta para as estratgias 1- 3D offset, 2- Z constante otimizado, 3- radial para cima, 4- radial para baixo e 5- raster
Cada estratgia foi utilizada para cada cavidade (conforme Figura 49 cavidade superior), representando a dificuldade encontrada na avaliao do acabamento superficial em moldes. Sendo assim, a pea deveria apresentar formas complexas em sua caracterizao geomtrica, com a finalidade de representar uma situao real. Tomou-se o cuidado de selecionar uma superfcie que pudesse representar variadas situaes de forma livre.
Figura 49 Corpo de prova (cavidade superior)

A cavidade de molde foi fabricada em ao P20 e a ferramenta utilizada foi de topo esfrico com dimetro 6mm, 2 arestas de corte, faca reta, metal duro submicrogro, cobertura PVD Tin Al Sandvick. O passe da ferramenta utilizado para a estratgia 1- 3D offset foi de 0,15mm, para a estratgia 2- Z constante otimizado foi de 0,14mm, para a estratgia 3- radial para cima e 4- radial para baixo foi de 0,81 graus, e 5- raster foi de 0,135mm. A fixao da pea foi feita utilizando-se de uma morsa. Neste trabalho foram utilizados os instrumentos com perfil completo que medem o perfil com contato da ponta de medio na superfcie e sem sapata (skid). Para realizao da avaliao superficial da cavidade de molde em estudo foi utilizado um rugosmetro da marca Taylor Hobson, modelo Talysurf Plus (Figura 50) calibrado com padres rastreveis (Figura 51) a CGCRE/Inmetro e verificado antes da medio com um padro de rugosidade tambm calibrado.
71
Figura 50 Equipamento de medio com contato.

Fonte: Laboratrio de Metrologia da SOCIESC
A regulagem do rugosmetro realizada atravs de uma semi-esfera, cujo valor do parmetro Pt, altura mxima do perfil bruto, apresentado pelo equipamento dever ser inferior a 0,25m. Na seqncia, a qualidade da regulagem confirmada atravs de um padro de ranhuras e de rugosidade, no qual avaliada a altura do perfil e o parmetro Ra, verificando assim se o equipamento est interpretando corretamente a altura do perfil medido. Depois de verificado com o padro de ranhuras, ento medido o padro de rugosidade no rugosmetro para comparar os resultados da rugosidade obtidos pelo equipamento com o certificado de calibrao do padro. Se a diferena nos resultados obtidos na medio com o padro de rugosidade comparados com o valor de calibrao do padro forem maiores que o valor da incerteza de medio expressa no certificado do padro, o rugosmetro deve ser regulado novamente com a semi-esfera padro.
Semi-esfera padro
Padro de rugosidade e ranhuras
Figura 51 Padres utilizados para regulagem e verificao do rugosmetro (na seqncia de cima para baixo: Semi-esfera padro e padro de rugosidade e ranhuras)
O apalpador utilizado para a medio deve ter caractersticas apropriadas para a
72 superfcie que est sendo medida de forma a no gerar erros devido ao tipo de apalpador empregado. As caractersticas desses apalpadores podem modificar o perfil analisado ou at mesmo danificar a superfcie. Com isso, o rugosmetro utilizado pode apresentar uma informao que no representa a realidade da superfcie medida. Assim, leva-se em considerao que apenas o apalpador deve entrar em contato com as irregularidades da superfcie e no as outras partes do instrumento. Tambm, devem ser observadas as caractersticas dimensionais do apalpador. importante destacar que o raio do apalpador deve ser selecionado conforme recomendao das normas ASME B46.1:2002 e ISO 3274:1996. Neste trabalho foi utilizado um apalpador cnico com ponta esfrica de raio 2 m, ngulo de 60, altura da ponta de 10 mm e comprimento de 80 mm (Figura 52). Isto se deve ao fato de a superfcie apresentar uma forma curva, tomando assim o cuidado para que a estrutura do apalpador no entrasse em contato com a superfcie, somente a extremidade da ponta. A especificao do apalpador selecionado encontrase de acordo com a norma ASME B46.1:2002.
Figura 52 Apalpador cnico com ponta esfrica
A norma americana ASME B46.1:2002 faz tambm uma observao quanto a fora esttica mxima para medio de textura superficial com instrumentos de contato. Esta fora apresentada na Figura 13. Observa-se que quanto maior o raio, maior a fora. Uma fora esttica mal dimensionada pode provocar uma deformao do perfil medido, riscando a superfcie e, conseqentemente, alterando os resultados obtidos na medio. Para a realizao das medies nesta parte experimental, a fora utilizada na medio foi de 0,07gf, conforme especificado no manual do rugosmetro para medio sem sapata. A filtragem do perfil de textura superficial realizado neste trabalho foi o gaussiano, pois a inteno era separar a rugosidade da ondulao com maior exatido que os filtros utilizados em equipamentos de medio de rugosidade mais simplificados (portteis). Para verificao do efeito proveniente da filtragem, utilizando diferentes tipos de filtros, foi realizada uma comparao entre eles (Figura 53), utilizando o mesmo padro de rugosidade utilizado na
73 verificao do rugosmetro. Verificou-se que as distores tericas se repetem com o rugosmetro utilizado no estudo. Filtragem terica Filtro Sem filtro Perfil obtido com rugosmetro nas medies o
2 CR
2 CR PC
Gauss
Figura 53 Comparao entre distores de filtros
O comprimento de amostragem (cut-off) tambm tem influncia sobre o perfil, pois tem a finalidade de separar a rugosidade da ondulao. Ele deve ser selecionado com prudncia para no misturar estas duas caractersticas, provocando uma filtragem inadequada que pode, de alguma forma, distorcer os resultados obtidos na medio. Para isso tomou-se como referncia o procedimento estabelecido pela norma ISO 4288:1996, a qual descreve a realizao de uma medio preliminar na superfcie selecionando os parmetros Ra, Rz e RSm. Este procedimento tem como objetivo determinar se o perfil peridico ou aperidico e tambm determinar as condies de medio do perfil. Depois de realizada esta avaliao obedecendo a direo de medio na superfcie, compara-se os valores obtidos na medida preliminar com a Tabela 2. Caso o perfil apresente-se como peridico, obtm-se o valor de cut-off comparando os valores da primeira coluna RSm da tabela com o obtido na medio inicial. Caso apresente-se como aperidico, compara-se os valores de Ra e Rz medidos com a segunda coluna da tabela para a determinao do cut-off correspondente.
74 Devido curvatura existente no perfil da pea medida, as medies foram realizadas em um rugosmetro que no utiliza a sapata (skid), pois a utilizao da sapata poderia distorcer os resultados e a medio no representaria a realidade da superfcie. Como a pea medida no possui nenhum tipo de forma geomtrica convencional (como reta ou circunferncia), a opo de forma selecionada foi a do tipo Datum, sendo a linha mdia estabelecida a partir dos pontos coletados. Buscando caracterizar melhor o acabamento superficial das cavidades, foi necessrio utilizar parmetros que pudessem prover melhores informaes. Para Judge (2002), os parmetros so valores numricos atribudos a uma superfcie, sendo que o parmetro Ra o mais comumente usado, mas que no prov nenhuma informao sobre a altura dos picos e vales, uma vez que duas superfcies com perfis diferentes podem ter Ra semelhantes. Para o presente estudo foram selecionados parmetros que abrangessem duas caractersticas de superfcie: amplitude e hbrido. Estes parmetros foram: Rp, Rz, Rt, Ra, Rsk de amplitude e Rmr(c) de hbrido. O parmetro Rt foi selecionado por apresentar a altura mxima entre o pico e vale do perfil medido. E o parmetro Rp tambm foi determinado como forma de verificar a ocorrncia de um pico mais elevado, ou se os picos e vales so simtricos. O parmetro Rz foi obtido para ser comparado com o Rt, uma vez que o Rz representa uma mdia das alturas obtidas entre picos e vales em cada comprimento de amostragem. Comparando estes dois parmetros possvel avaliar se a rugosidade apresenta uma altura uniforme em todo o perfil medido. O Ra foi selecionado como parmetro de comparao entre as superfcies medidas, uma vez que representa somente a mdia do perfil medido. O Rsk foi selecionado para mostrar a assimetria do perfil com valores que representam uma concentrao maior de picos ou de vales e assim tambm servir de orientao em processos de controle de superfcies. O Rmr(c) foi selecionado para orientar sobre a quantidade de material presente no perfil, partindo do pico mais alto. A cavidade utilizada no estudo apresenta uma visvel diferena de acabamento no topo e na lateral da geometria aps o fresamento em operao de acabamento, anterior ao polimento. Sendo assim, as medies foram realizadas nas duas alturas definidas conforme a Figura 54. Topo
Lateral
Figura 54 Alturas medidas
75 Os resultados apresentados neste trabalho correspondem aos valores mnimo e mximo de uma quantidade de 3 medies obtidas em posies distintas em cada altura. O cut-off foi selecionado conforme recomendado na norma ISO 4288: 1996. No entanto, teve-se o cuidado para selecionar apropriadamente a quantidade de cut-offs a serem medidos. Devido curvatura existente, somente foi possvel selecionar 2 comprimentos de amostragem para cada medio do topo. Para a medio da lateral da cavidade foram selecionados 5 comprimentos de amostragem para cada medio. Para a etapa de avaliao dos resultados foi considerada uma incerteza de medio de 10% para os parmetros selecionados com um nvel de confiana de 95%. Esta incerteza foi estimada com base no ISO GUM (Guia para Expresso da Incerteza de Medio BPPM, 2003) e considera como componente de incerteza o maior valor de desvio-padro encontrado na avaliao de repetitividade das medies de rugosidade em cada superfcie e a incerteza do padro de rugosidade. A Tabela 6 apresenta os resultados mnimos e mximos de medio obtidos antes do processo de polimento das cavidades.
Tabela 6 - Medidas obtidas no topo das cavidades do molde

Estratgia de usinagem Rsk Ra ( m) Rt ( m) Rp ( m) Rz ( m) Rmr 2 m c 50% ( m) c 75% ( m)
1
Passes em 3D Offset
2
Passes em espiral Z Constante Otimizado
3
Passe Radial para cima
4
Passe Radial para baixo
5
Passes Paralelos Raster
-0,42-0,10 0,63-0,79 3,73-5,40 1,96-2,71 3,57-4,97 23-51% 1,98-2,65 2,53-3,22
-0,41-0,59 0,59-0,76 4,79-5,84 2,24-2,77 3,96-5,84 12-42% 2,26-2,86 2,81-3,20
-0,79-0,05 0,33-037 1,59-2,33 0,80-1,18 1,59-2,33 98-100% 0,79-1,15 1,22-1,51
-0,07-0,34 6,4-8,08 30,57-41,97 13,43-19,66 26,65-41,97 2-5% 13,51-20,42 19,66-26,44
0,62-1,29 1,46-2,49 10,80-15,90 7,09-10,65 9,71-15,09 2-5% 7,32-10,86 8,45-11,97
De acordo com o parmetro Rsk, verificou-se, em geral, que em todas as estratgias, o valor de Rsk se aproximava de 0, indicando uma simetria nos dados coletados. O valor de Ra apresentou-se significativamente igual para as estratgias 1 e 2, sendo que a estratgia 3 apresentou um valor menor para Ra. O maior valor de Ra foi obtido para a estratgia 4 em virtude da deformao causada possivelmente pela ferramenta quando a mesma entrava em contato com a pea. O processo de usinagem radial para baixo faz com que exista maior fora da ferramenta no contato inicial com a pea.
76 Tambm se observou que no existem diferenas significativas entre Rt e Rz, uma vez que as diferenas ficaram dentro dos 10% de incerteza de medio estipulados para esta medio, demonstrando que o perfil manteve-se na extenso medida. O pior acabamento das estratgias 4 e 5 facilmente verificado pela razo do material do perfil, quando o Rmr(c) de 75% obtido na faixa de 19,66 26,44 m e na faixa de 8,45 11,97 m no topo do perfil, respectivamente. Para as estratgias 1, 2 e 3 a razo do material do perfil foram obtidos os valores inferiores a 3,22 m, o que deveria implicar em menor tempo de polimento. A Figura 55 ilustra os topos das cavidades medidas e os respectivos grficos de rugosidade.
Passes em 3D Offset
Escala Horizontal: 100 m/diviso
Escala Horizontal: 100 m/diviso Passe Radial para cima
77
Escala Horizontal: 100 m/diviso Passes Paralelos Raster
Escala Horizontal: 100 m/diviso Figura 55 - Visualizao do topo das cavidades e o grfico de rugosidade Pode-se observar a partir dos grficos associados a Figura 55 que o perfil aperidico e assim tambm esse parmetro foi levado em considerao na medio da rugosidade e avaliao dos resultados. A Tabela 7 apresenta os resultados mnimos e mximos de medio obtidos na lateral das cavidades resultante do processo de usinagem.
Tabela 7 Medidas obtidas na lateral das cavidades do molde

Estratgia de usinagem Rsk Ra ( m) Rt ( m) Rp ( m) Rz ( m) Rmr 2 m c -50% ( m) c -75% ( m)
1
Passes em 3D Offset
2
Passe espiral Z Constante Otimizado
3
4
5
A/B
0,39-0,46 2,33-2,69 16,69-17,41 8,83-10,12 14,62-17,41 1-3% 9,12-10,30 11,41-12,08
C/D
0,16-0,36 0,58-0,84 3,74-5,50 2,38-3,50 3,74-5,31 6-29% 2,38-3,39 2,99-4,37
0,05-0,11 0,89-0,92 6,16-6,47 3,37-3,64 5,98-6,47 7-12% 3,39-3,62 4,12-4,45
0,55-0,74 0,83-0,94 6,53-7,54 3,95-4,77 6,31-7,54 2-5% 4,04-4,90 4,67-5,53
0,04-0,28 0,91-1,05 5,66-6,60 3,08-3,80 5,48-5,96 8-21% 3,07-3,86 4,01-4,88
0,15-0,50 0,89-1,74 5,04-10,52 3,13-5,87 5,04-10,05 5-18% 3,31-5,86 3,94-7,47
Quanto a amplitude da rugosidade, pode-se verificar que as 3 primeiras estratgias mantiveram-se similares apresentando valores de Ra inferiores a 1 m, um valor aceitvel para
78 acabamento proveniente de um processo de fresamento (0,15 12,5m - Tabela 5) e chegando perto da faixa considerada como polimento (menores que 0,025m at 0,4m). A estratgia 4 apresentou valor maior para o parmetro Ra, possivelmente em virtude da deformao ocorrida durante o processo de usinagem que por causa da estratgia radial para baixo fez com que exigisse um maior esforo de corte da mquina ferramenta. Devido a estratgia aplicada no experimento 5, houve uma diferena significativa entre as posies A/B e C/D, sendo que nas posies A/B, onde se encontram as marcas dos degrais devidos a prpria estratgia utilizada, os valores apresentaram-se maiores para o Ra. A Figura 56 ilustra as laterais das cavidades medidas e os respectivos grficos de rugosidade.
Passes em 3D Offset
Escala Horizontal: 200 m/diviso Passes em espiral Z Constante Otimizado
Escala Horizontal: 200 m/diviso Passe Radial para cima
79 Passe Radial para baixo
Escala Horizontal: 200 m/diviso Passes Paralelos Raster Posio A/B
Escala Horizontal: 500 m/diviso Passes Paralelos Raster Posio C/D
Escala Horizontal: 500 m/diviso Figura 56 - Visualizao da lateral das cavidades e o grfico de rugosidade
Pode-se observar a partir dos grficos associados a Figura 56 que o perfil peridico em virtude dos passes se tornarem constantes na lateral das cavidades e assim tambm esse parmetro foi levado em considerao na medio da rugosidade e avaliao dos resultados. importante ressaltas que para os valores encontrados e registrados nas tabelas foram utilizados os critrios tambm definidos nas literaturas, onde os parmetros Ra e Rt foram medidos e comparados. Observa-se ainda que os valores encontrados esto dentro das faixas especificadas na Tabela 5, mesmo nas piores situaes como na estratgia 5 na medio no topo da cavidade.
80 5.1. MEDIO NAS PEAS INJETADAS Depois de o molde ser avaliado e de todos os dados serem coletados e processados, foram selecionados dois materiais de diferentes viscosidades para que tambm a pea fosse avaliada depois de injetada. A avaliao depois da injeo foi uma alternativa no caso da impossibilidade de medio de rugosidade para moldes de grande porte ou de difcil acesso para o rugosmetro realizar a medio. Foram elaboradas tabelas com os resultados obtidos em uma pea de material opaco identificado como ABS com caracterstica de ser tenaz, duro e rgido, e de outra pea com material em Poliestireno (PS) com caracterstica de ser duro e quebradio. A Tabela 8 mostra os valores mnimos e mximos encontrados na medio para o topo da pea em ABS, considerando a face interna da cavidade para poder representar o quanto a rugosidade do molde pode ser espelhada para a pea, uma vez que o molde foi medido a face externa.
Tabela 8 Medidas obtidas no topo interno da pea em ABS 1 2 3 Estratgia de

usinagem Rsk Ra ( m) Rt ( m) Rp ( m) Rz ( m) c 50% ( m) c 75% ( m)
Passes em 3D Offset Passes em espiral Z Constante Otimizado
4
5
-1,76- -1,41 0,86-1,05 4,14-7,03 0,96-1,87 3,63-5,24 2,77-4,38 2,03-3,73
-1,47- -1,22 1,03-2,19 5,40-10,37 1,66-3,56 3,26-9,12 3,06-6,56 2,25-4,12
-1,75- -1,62 0,81-1,07 3,24-5,10 0,10-1,65 3,16-4,93 2,49-2,91 1,78-2,06
-1,68- -1,34 8,47-9,51 27,19-42-54 3,67-9,52 27,19-42,54 15,56-25,53 13,14-19,70
-1,76- -1,28 0,98-1,65 4,87-8,42 1,05-2,86 4,87-7,79 3,50-4,88 2,84-3,48
A Tabela 9 mostra os valores mnimos e mximos encontrados na medio para o topo da pea em Poliestireno (PS), considerando a face interna da cavidade para poder representar o quanto a rugosidade do molde pode ser espelhada para a pea da mesma forma como na pea em ABS, observando a diferena nos resultados para diferentes materiais.
Tabela 9 - Medidas obtidas no topo interno da pea em Poliestireno 1 2 3 4 Estratgia de

usinagem Rsk Ra ( m) Rt ( m) Rp ( m) Rz ( m) c 50% ( m) c 75% ( m)
Passes em 3D Offset Passes em espiral Z Constante Otimizado Passe Radial para cima
5
-0,46-0,02 0,54-0,69 3,65-4,39 1,69-2,07 3,39-4,32 2,06-2,35 1,41-1,75
-0,24- -0,12 0,62-0,63 3,85-4,13 1,89-2,07 2,99-3,84 1,97-2,03 1,35-1,74
-0,88- -0,12 0,55-0,65 3,44-5,02 1,53-2,21 3,36-4,73 1,96-2,56 1,47-2,01
-0,40- -0,09 4,14-5,65 19,11-26,76 8,45-10,63 18,60-26,44 11,60-12,86 6,95-10,97
-0,92- -0,47 0,96-1,58 8,74-11,93 3,37-4,35 7,93-11,93 5,41-6,40 4,69-5,09
81 A partir dos valores acima, foram selecionados 3 parmetros que mesmo em situao espelhada deveriam apresentar os resultados similares ao obtido na cavidade do molde. So estes parmetros: Ra, Rz e c (50%). Estes 3 parmetros foram selecionados em virtude da diferenciao de resultados nas medies para assim serem comparados em diferentes situaes, como na medio das peas na superfcie interna e externa e na medio do prprio molde. Para uma representao mais clara da comparao foi construdo um grfico para cada parmetro selecionado (Figura 57, Figura 58 e Figura 59), comparando o topo interno das peas em material ABS e Poliestireno (PS) com o topo externo do molde. A amplitude do grfico representa na linha vertical em verde a variao entre os valores mnimos e mximos medidos, e a linha azul horizontal o valor mdio entre as medies realizadas.
Ra
10 9 8
Amplitude (m)
7 6 5 4 3 2 1 0 1 Molde 1 P ABS int. 1 2 2 P ABS int. 2 3 3 P ABS int. 3 4 4 P ABS int. 4 5 5 P ABS int. 5 P PS Int.
P PS Molde Int.
P PS Molde Int.
P PS Molde Int.
P PS Molde Int.
Figura 57 Comparao do Ra entre o topo das peas (face interna) com o molde (face externa)
Pode-se observar n a Figura 57 que as diferenas no so significativas para as cavidades com Ra menor que 3 m. As diferenas encontradas para as cavidades 1, 2 e 3 esto dentro do valor da incerteza de medio estimada de 10%. Porm, para a cavidade 4 as diferenas foram maiores em cada ponto de medio no topo em virtude das diferenas significativas no acabamento obtido pelas estratgias utilizadas de cada cavidade. Na cavidade 5 os valores ficaram prximos aos das cavidades 1, 2 e 3, mas as amplitudes das observaes so maiores. Tais diferenas podem ser observadas na Figura 55 que apresenta as fotos do topo de cada uma das cavidades no topo. A profundidade das marcas na superfcie ficam bastante evidentes para as cavidades 4 e 5, por esse motivo existe a diferena entre os valores de Ra.
82
Rz
45 40
Amplitude (m)
35 30 25 20 15 10 5 0 1 Molde 1 P ABS int. 1 2 2 P ABS int. 2 3 3 P ABS int. 3 4 4 P ABS int. 4 5 5 P ABS int. 5 P PS Int.
P PS Molde Int.
P PS Molde Int.
P PS Molde Int.
P PS Molde Int.
Figura 58 - Comparao do Rz entre o topo das peas (face interna) com o molde (face externa)
A mesma situao do parmetro Ra observada para o parmetro Rz da Figura 58. As amplitudes so menores para as 3 primeiras cavidades e maiores para as duas ltimas.
c (50%)
27,5 25 22,5
Amplitude (m)
20 17,5 15 12,5 10 7,5 5 2,5 0 1 Molde 1 P ABS int. 1 2 2 P ABS int. 2 3 3 P ABS int. 3 4 4 P ABS int. 4 5 5 P ABS int. 5 P PS Int.
P PS Molde Int.
P PS Molde Int.
P PS Molde Int.
P PS Molde Int.
Figura 59 Comparao do c (50%) entre o topo das peas (face interna) com o molde (face externa)
83 Assim como nas figuras anteriores, para a profundidade a 50% do pico mais alto do perfil medido o mesmo se repete. Considerou-se que para c (50%) no molde, o mesmo deveria ocorrer para as peas. Porm, precisou-se que a razo fosse invertida pelo espelhamento do perfil da pea com o molde. Para isso foi selecionado o valor obtido de c (50%) da pea e este valor foi diminudo do valor de Rt para que a razo pudesse ser comparada a uma mesma altura do perfil medido. A mesma comparao foi realizada para as medidas obtidas na lateral das peas com o molde. A Tabela 10 mostra os valores mnimos e mximos encontrados na medio para a lateral da pea em material ABS, considerando a face interna da cavidade para poder representar o quanto a rugosidade do molde pode ser espelhada para a pea, uma vez que o molde foi medido na face externa.
Tabela 10 - Medidas obtidas na lateral interna da pea em ABS

Estratgia de usinagem Rsk Ra ( m) Rt ( m) Rp ( m) Rz ( m) c -50% ( m) c -75% ( m)
1
Passes em 3D Offset
2
3
4
5
A/B
-1,68- -0,36 1,58-2,97 11,99-17,11 3,69-8,24 11,52-16,98 8,44-8,48 5,50-7,00
C/D
-1,50- -1,10 0,82-1,25 4,72-8,13 1,51-4,23 4,11-8,13 3,16-3,75 2,31-3,01
-0,97- -0,85 0,85-0,95 4,91-5,89 1,99-2,53 4,91-5,89 2,85-2,87 2,04-2,22
-1,15- -1,04 1,01-1,17 6,44-7,70 2,23-2,72 6,44-7,10 4,43-4,83 3,72-3,95
-1,29- -1,08 1,21-1,43 6,11-8,03 2,31-3,16 6,05-7,64 3,34-4,33 2,09-3,00
-1,77- -1,20 0,73-1,82 3,74-8,79 0,87-2,60 3,62-8,73 2,61-5,49 2,56-3,26
A Tabela 11 mostra os valores mnimos e mximos encontrados na medio para a lateral da pea em Poliestireno, considerando a face interna da cavidade para poder representar o quanto a rugosidade do molde pode ser espelhada para a pea, uma vez que o molde foi medido da face externa.
Tabela 11 - Medidas obtidas na lateral interna da pea em Poliestireno

Estratgia de usinagem Rsk Ra ( m) Rt ( m) Rp ( m) Rz ( m) c -50% ( m) c -75% ( m)
1
Passes em 3D Offset
2
3
4
5
A/B
-0,43- -0,36 2,08-2,25 13,93-16,82 6,18-8,29 12,62-16,82 8,00-8,85 6,04-6,97
C/D
-0,72- 0,60 0,49-0,63 3,73-5,84 1,37-3,18 3,54-5,83 2,20-4,54 1,87-3,97
-0,33-0,05 0,62-0,69 4,06-4,62 1,81-2,10 3,85-4,62 2,34-2,41 1,73-1,92
-0,47- -0,38 0,67-0,82 4,37-6,39 1,57-2,51 4,33-6,39 2,92-3,96 2,22-3,26
-0,56-0,07 0,79-1,46 4,79-8,50 1,96-3,78 4,68-8,50 2,93-4,74 2,17-3,26
-0,45- -0,61 1,06-2,12 6,20-9,41 2,27-3,79 6,2-8,94 4,15-6,21 3,03-3,55
84 Assim, com os valores obtidos acima foram selecionados os mesmos 3 parmetros da medio no topo que em situao espelhada deveriam apresentar os mesmos valores. Para uma representao mais clara da comparao na lateral foi construdo um grfico para cada parmetro selecionado e assim seguem comparaes nas Figura 60, Figura 61 e Figura 62 da lateral interna das peas em material ABS e Poliestireno com a lateral externa do molde.
Ra
3,50
Amplitude (m)
3,00 2,50 2,00 1,50 1,00 0,50 0,00 1 Molde 1 P ABS int. 1 P PS int. 2 Molde 2 P ABS int. 2 P PS int. 3 Molde 3 P ABS int. 3 P PS int. 4 Molde 4 P ABS int. 4 P PS int. 5AB Molde 5AB P ABS int. 5AB P PS int. 5CD Molde 5CD P ABS int. 5CD P PS int.
Figura 60 Comparao do Ra entre a lateral das peas (face interna) com o molde (face externa)
Pode-se observar que para a Figura 60 as diferenas no so significativas para as cavidades. As diferenas so encontradas apenas para uma disperso de valores pelos diferentes pontos medidos e estas diferenas podem ser vistas acima e comparadas na Tabela 11. Porm, para a cavidade 4 as amplitudes foram maiores em cada ponto de medio na lateral em virtude das diferenas significativas no acabamento obtido pela estratgia utilizada que em cada altura da cavidade determina um nvel diferente de rugosidade. Para a cavidade 5 foram separados os pontos de medio na lateral em conseqncia da presena de dois tipos bastante distintos de rugosidade na superfcie. Tais diferenas podem ser observadas na Figura 56 que apresenta as fotos da lateral de cada uma das cavidades.
85
Rz
20 18 16 14 12 10 8 6 4 2 0 1 Molde 1 P ABS int. 1 P PS int. 2 Molde 2 P ABS int. 2 P PS int. 3 Molde 3 P ABS int. 3 P PS int. 4 Molde 4 P ABS int. 4 P PS int. 5AB Molde 5AB P ABS int. 5AB P PS int. 5CD Molde 5CD P ABS int. 5CD P PS int.
Figura 61 Comparao do Rz entre a lateral das peas (face interna) com o molde (face externa)
A mesma situao do parmetro Ra observada para o parmetro Rz da Figura 61. As amplitudes de 5 A/B so significativamente diferentes nas laterais da cavidade em relao as outras cavidades.
Amplitude (m)
c (50%)
12
Amplitude (m)
10 8 6 4 2 0 1 Molde 1 P ABS int. 1 P PS int. 2 Molde 2 P ABS int. 2 P PS int. 3 Molde 3 P ABS int. 3 P PS int. 4 Molde 4 P ABS int. 4 P PS int. 5AB Molde 5AB P ABS int. 5AB P PS int. 5CD Molde 5CD P ABS int. 5CD P PS int.
Figura 62 Comparao do c (50%) entre a lateral das peas (face interna) com o molde (face externa)
Assim como nas figuras acima, para a profundidade a 50% do pico mais alto do perfil medido o mesmo se repete. A mesma comparao foi realizada para as medidas obtidas no topo e lateral externos das peas com o molde. A Tabela 10 mostra os valores mnimos e mximos encontrados na medio para a lateral da pea em ABS, considerando a face interna da cavidade para poder representar o
86 quanto a rugosidade do molde pode ser espelhada para a pea, uma vez que o molde foi medido da face externa. Com base nas tabelas acima pode-se considerar que as rugosidades obtidas diretamente no molde (face externa) se repete na medio da pea (face interna). Uma comparao com a face externa da pea tambm foi realizada para observar a rugosidade da cavidade interna do molde que inicialmente no foi medida. Foram determinados como parmetros comparativos os mesmos parmetros utilizados para a construo dos grficos da primeira avaliao entre face externa do molde e interna da pea. So estes parmetros: Ra, Rz e c (50%). A Tabela 12 apresenta os resultados obtidos na medio realizada na face externa da pea em ABS sobre o topo das cavidades.
Tabela 12 - Medidas obtidas no topo externa da pea em ABS

Estratgia de usinagem
1
Passes em 3D Offset
2
3
4
5
Ra ( m) 1,00-1,87 Rz ( m) 7,52-10,53 c 50% ( m) 3,00-3,29
0,81-0,88 2,64-4,69 1,29-2,04
0,73-0,93 1,78-3,13 0,47-1,29
6,87-7,09 3,06-5,02 1,44-1,87
0,78-1,25 2,71-4,87 1,03-1,54
A Tabela 13 apresenta os resultados obtidos na medio realizada na face externa da pea em Poliestireno sobre o topo das cavidades.
Tabela 13 - Medidas obtidas no topo externa da pea em Poliestireno

Estratgia de usinagem Ra ( m) Rz ( m) c 50% ( m)
1
Passes em 3D Offset
2
3
4
5
0,74-1,10 3,72-6,14 1,85-3,90
0,61-0,69 2,91-3,86 1,97-2,82
0,31-0,52 1,70-3,37 0,57-2,15
0,37-0,67 1,92-3,06 1,19-3,10
0,62-0,76 2,82-4,89 1,54-3,31
Pode-se observar, na Figura 63, que as diferenas no so significativas para as cavidades com Ra menor que 2 m.
87
Ra
10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0
1 1 1 1 1 2 2 2 2 2 3 3 3 3 3 4 4 4 4 4 5 5 5 5 5 P P Molde P P P P Molde P P P P Molde P P P P Molde P P P P Molde P P ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS int. Int. ext. ext. int. Int. ext. ext. int. Int. ext. ext. int. Int. ext. ext. int. Int. ext. ext.
Figura 63 - Comparao do Ra entre o topo das peas (face interna e externa) com o molde (face externa)
As diferenas encontradas para as cavidades 1, 2, 3 e 5 esto dentro do valor da incerteza de medio estimada de 10%. Porm, para a cavidade 4 a diferena foi maior em cada ponto de medio no topo em virtude das diferenas significativas no acabamento obtido pelas estratgias utilizadas de cada cavidade. Tais diferenas podem ser observadas na Figura 55 que apresenta as fotos do topo de cada uma das cavidades. Percebe-se ainda que para as cavidades com um pior acabamento (cavidades 4 e 5) de usinagem para a face interna do molde, a representao da rugosidade na pea injetada menor quando comparado com a face externa do molde. O que faz com que se possa interferir que as estratgias de usinagem utilizadas nas diferentes cavidades no apresentam o mesmo comportamento sobre curvaturas inversas.
Rz
45 40 35 30 25 20 15 10 5 0
1 1 1 P PS Int. 1 1 2 2 2 P PS Int. 2 2 3 3 3 P PS Int. 3 3 4 4 4 P PS Int. 4 4 5 5 5 P PS Int. 5 5 Molde P ABS int. P P Molde P ABS PS ABS ext. ext. int. P P Molde P ABS PS ABS ext. ext. int. P P Molde P ABS PS ABS ext. ext. int. P P Molde P ABS PS ABS ext. ext. int. P P ABS PS ext. ext.
Figura 64 - Comparao do Rz entre o topo das peas (face interna e externa) com o molde (face externa)
Amplitude (m)
Amplitude (m)
88 A mesma situao do parmetro Ra observada para o parmetro Rz da Figura 64. As amplitudes so menores para as 3 primeiras cavidades e maiores para as duas ltimas.
c (50%)
27,5 25 22,5 20 17,5 15 12,5 10 7,5 5 2,5 0
1 1 1 P PS Int. 1 1 2 2 2 P PS Int. 2 2 3 3 3 P PS Int. 3 3 4 4 4 P PS Int. 4 4 5 5 5 P PS Int. 5 5 Molde P ABS int. P Molde P P ABS ABS PS int. ext. ext. P Molde P P ABS ABS PS int. ext. ext. P Molde P P ABS ABS PS int. ext. ext. P Molde P P ABS ABS PS int. ext. ext. P P ABS PS ext. ext.
Figura 65 - Comparao do c (50%) entre o topo das peas (face interna e externa) com o molde (face externa)
Assim como nas figuras anteriores, para a profundidade a 50% do pico mais alto do perfil medido o mesmo se repete. Para esta comparao a razo no precisou ser invertida pelo espelhamento do perfil da pea com o molde, pois a face que foi comparada foi tambm a externa. A mesma comparao foi realizada para as medidas obtidas na lateral das peas com o molde. A Tabela 14 mostra os valores mnimos e mximos encontrados na medio para a lateral da pea em material ABS, considerando a face externa da cavidade para poder representar o quanto a rugosidade do molde se repete comparando a face externa medida no molde com as faces internas e externas medidas nas peas.
Tabela 14 - Medidas obtidas na lateral externa da pea em ABS 2 1 3 4 Passes em Estratgia de Passes em Passe Radial Passe Radial espiral Z usinagem 3D Offset para cima para baixo
Constante Otimizado
Amplitude (m)
5
A/B
1,60-1,69 6,89-7,84 2,53-2,96
C/D
0,81-0,88 3,37-4,20 1,94-5,95
Ra ( m) Rz ( m) c 50% ( m)
0,69-0,77 3,58-4,29 1,71-2,27
0,75-0,91 3,60-4,32 1,78-2,10
1,77-2,29 6,90-9,25 2,46-3,39
0,86-1,03 3,07-4,28 1,42-2,70
A Tabela 15 mostra os valores mnimos e mximos encontrados na medio para a lateral da pea em Poliestireno, considerando a face externa da cavidade para poder representar o
89 quanto a rugosidade do molde pode ser espelhada para a pea, uma vez que o molde foi medido da face externa.
Tabela 15 - Medidas obtidas na lateral externa da pea em Poliestireno 2 5 1 3 4 Passes em Passes Paralelos Raster Estratgia de Passes em Passe Radial Passe Radial espiral Z usinagem 3D Offset para cima para baixo Constante A/B C/D
Otimizado
Ra ( m) Rz ( m) c 50% ( m)
0,51-0,82 3,34-4,52 1,78-2,55
0,49-0,71 2,36-4,37 1,49-4,40
1,21-1,81 4,64-7,42 2,05-2,63
0,59-0,89 2,28-3,52 1,27-1,92
1,19-1,55 5,57-7,03 2,53-3,11
0,54-0,69 2,41-3,27 1,31-2,37
Assim, com os valores obtidos acima foram selecionados os mesmos 3 parmetros da medio no topo. Para uma representao mais clara da comparao na lateral foi construdo um grfico para cada parmetro selecionado e assim seguem comparaes conforme Figura 66, Figura 67 e Figura 68 da lateral interna e externa das peas em material ABS e Poliestireno com a lateral externa do molde.
Ra
3,50
Amplitude (m)
3,00 2,50 2,00 1,50 1,00 0,50 0,00

1 1 1 1 1 2 2 2 2 2 3 3 3 3 3 4 4 4 4 4 5AB 5AB 5AB 5AB 5AB 5CD 5CD 5CD 5CD 5CD Molde P P P P Molde P P P P Molde P P P P Molde P P P P Molde P P P P Molde P P P P ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS ABS PS int. Int. ext. ext. int. Int. ext. ext. int. Int. ext. ext. int. Int. ext. ext. int. Int. ext. ext. int. Int. ext. ext.
Figura 66 - Comparao do Ra entre a lateral das peas (face interna e externa) com o molde (face externa)
Pode-se observar que para a Figura 66 as diferenas no so significativas para as cavidades. As diferenas so encontradas apenas para uma disperso de valores pelos diferentes pontos medidos e estas diferenas podem ser vistas acima e comparadas as Tabela 14 e Tabela 15. Porm, para as cavidades 4 e 5 as diferenas foram maiores em cada ponto de medio na lateral em virtude das diferenas significativas no acabamento obtido pelas estratgias utilizadas de cada cavidade. Para a cavidade 5 foram separados os pontos de medio na lateral devido a presena de dois tipos bastante distintos de acabamento na superfcie. Tais diferenas podem ser
90 observadas na Figura 56 que apresenta as fotos da lateral de cada uma das cavidades.
Rz
20 18 16 14 12 10 8 6 4 2 0
Amplitude (m)
Figura 67 - Comparao do Rz entre a lateral das peas (face interna e externa) com o molde (face externa)
A mesma situao do parmetro Ra observada para o parmetro Rz da Figura 67. As amplitudes so significativamente diferentes nas laterais da cavidade 5, observando-se ainda que nos valores obtidos novamente para a face externa da pea 5AB o efeito de uma alta rugosidade no espelhado do molde para a pea em virtude de o acabamento na superfcie cncava ser diferentemente menor que na superfcie convexa no molde.
c (50%)
12,5
Amplitude (m)
10 7,5 5 2,5 0
Figura 68 - Comparao do c (50%) entre a lateral das peas (face interna e externa) com o molde (face externa)
Assim como nas figuras acima, para a profundidade a 50% do pico mais alto do perfil medido o mesmo se repete. Pode-se observar que tanto para o topo como para as laterais na medio da pea externa a rugosidade ficou menor, o que demonstra que a rugosidade maior na superfcie externa do molde e interna da pea. Sendo assim, quando for selecionar a superfcie a medir, esta deve ser externa do molde e interna da pea. A superfcie interna do molde e externa da pea no representa a maior rugosidade do molde. E se o objetivo da medio da rugosidade prever o
91 tempo de polimento pela quantidade de material a ser removido, ento fica claro que a maior rugosidade deve ser considerada.
5.2. MEDIO COM PADRO VISUAL E TTIL DE RUGOSIDADE Procurando estabelecer uma forma de facilitar a avaliao de superfcie procurou-se avaliar as mesmas cavidades do molde porta-ovos com um padro visual e ttil de rugosidade. Porm notou-se que como a escala de padro leva os nveis de rugosidade como referncia, a utilizao do padro ficou invivel pelo fato de no estabelecer com preciso a rugosidade da superfcie, mas em nvel de comparao este padro pode ser utilizado. A avaliao com um padro de comparao visual e ttil foi utilizada para saber se os valores encontrados no padro de comparao visual e ttil se assemelham com os encontrados no rugosmetro. A seleo dos operadores foi feita pela ferramentaria da SOCIESC, onde foram realizadas as comparaes. Um operador de mquina CNC que realiza a operao de acabamento de molde, outro operador de bancada que realiza a inspeo final do molde, outro de superviso e ainda a prpria autora do trabalho como quem trabalha com medio de rugosidade. Para a verificao visual foi utilizado um padro especfico para essa finalidade com 12 nveis de rugosidade em Ra. Foram realizadas trs medies em cada ponto de avaliao: topo e lateral conforme avaliao inicial com o rugosmetro. Cada avaliador realizou a medio das cavidades com o padro de verificao visual e ttil de rugosidade com as instrues dos pontos a serem verificados. Na Tabela 16 os valores so expressos em m e os valores apresentados so a mdia entre os obtidos dos avaliadores. Segue Tabela 16 com os resultados obtidos na verificao visual.
Tabela 16 Medies com o padro visual e ttil de rugosidade atravs do parmetro Ra (m)
TopoExt1 0,8 0,96 TopoExt3 Topo- Lateral Lateral Lateral Lateral Lateral Lateral Ext5 Ext1 Ext5 Ext4 Int1 Int2 Int3 Mdia da avaliao com padro visual 0,6 6,3 3,2 1,2 2,4 2,4 1,2 0,8 2,4 Media da avaliao com o Rugosmetro na pea em material ABS 0,94 8,99 1,32 0,90 2,28 1,28 0,73 0,81 2,05 TopoExt4
Para que os resultados acima pudessem ser comparados, foi construdo um grfico para representar as medidas no topo atravs da verificao com o padro visual e o rugosmetro. A
92 Figura 69 tem a comparao das cavidades de 1 a 5 com exceo da 2 que apresenta os valores de rugosidade bastante similares as cavidades 1 e 3.
Topo - Comparao Visual x Rugosmetro

10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0
1 Ext Visual 1 Ext Rugosmetro 3 Ext Visual 3 Ext Rugosmetro 4 Ext Visual 4 Ext Rugosmetro 5 Ext Visual 5 Ext Rugosmetro
Ra (m)
Figura 69 Comparao visual no topo das cavidades considerando o parmetro de rugosidade Ra

Pode-se verificar na Figura 69 que os valores se assemelham, considerando a resoluo do padro visual. A Figura 70 tem a comparao das cavidades de 1 a 5 alternando entre verificaes internas e externas nas faces das peas para tambm avaliar a similaridade entre faces internas e externas.
Lateral - Comparao Visual x Rugosimetro
3 2,5
Ra (m)
2 1,5 1 0,5 0
1 Ext Visual 1 Ext Rugosmetro 1 Int Visual 1 Int Rugosmetro 2 Int Visual 2 Int Rugosmetro 3 Int Visual 3 Int Rugosmetro 4 Ext Visual 4 Ext Rugosmetro 5 Ext Visual 5 Ext Rugosmetro
Figura 70 - Comparao visual na lateral das cavidades considerando o parmetro de rugosidade Ra

Pode-se verificar na Figura 70 que os valores se assemelham e que a variao de valores nas cavidades 3, 4 e 5 so elevadas com o padro visual e ttil, devido a diviso das classes no
93 padro de verificao visual e ttil e tambm pelas marcas deixadas nas cavidades que do a impresso de um acabamento diferenciado em determinadas posies. Se comparado os valores obtidos pelo processo de verificao e pela medio do rugosmetro, pode-se concluir que estes se assemelham e somente diferem pela questo de que o padro de verificao apresenta uma escala discreta de valores (12,5; 6,3; 3,2; 1,6; 0,8 e 0,4m).
5.3. AMOSTRAS POLIMENTO MECNICO Passando a avaliar ento os mtodos de polimento manual e mecnico, foram selecionadas duas amostras planas, uma de material H13 e outra de material P20, que representassem os materiais utilizados para fabricao de moldes para realizar o polimento mecnico e assim comparar com os resultados alcanados por pessoal especializado no molde j polido. Depois de selecionar as amostras, estas passaram simultaneamente pelo processo de lixamento com as lixas 80, 120, 320, 600 e 1200 e pelo processo de polimento com as pastas diamantadas de granulometria de 3m e 1m. Na Figura 71 esto ilustradas as superfcies das amostras de cada material em cada fase do processo inicialmente de lixamento seguido do polimento. Ferramenta Lixa 80 Material H13 P20
Lixa 120
94 Lixa 320
Lixa 600
Lixa 1200
Pasta 3m
Pasta 1m
Figura 71 Comparativo das amostras de polimento em metal H13 e P20 utilizados para construo de moldes em diferentes etapas do lixamento ao polimento
95 Pode-se observar pela aparncia das etapas acima e pelos valores encontrados conforme Tabela 17 que ambos os materiais so semelhantes (mximo 28% de diferena na primeira lixa no parmetro Ra).
Tabela 17 Demonstrativo dos valores de rugosidade encontrados nos etapas do lixamento at o polimento (dureza obtida: P20 = 18HRC, H13 = 14HRC)
lixa 80 Ra Rsk Rt Rp Rz Rmr (2m) c (50%) c (75%) P20 1,552 -0,86 13,95 5,09 13,37 4% 4,86 6,09 H13 1,282 -1,05 14,31 4,76 13,54 5% 4,57 5,65 lixa 120 P20 0,653 -0,63 6,43 2,62 6,33 23% 2,56 3,10 H13 0,744 0,09 11,11 5,86 10,60 7% 5,80 6,41 lixa 320 P20 0,289 -0,37 3,60 1,73 3,36 66% 1,70 1,94 H13 0,206 -0,47 2,66 1,27 2,42 91% 1,24 1,42 lixa 600 P20 0,080 -0,28 0,80 0,39 0,77 100% 0,38 0,45 H13 0,079 -0,07 1,01 0,53 0,89 100% 0,53 0,60 lixa 1200 P20 0,034 -0,33 0,41 0,18 0,41 100% 0,18 0,21 H13 0,025 -0,53 0,27 0,10 0,25 100% 0,10 0,13 pasta 3m P20 0,009 0,11 0,10 0,06 0,09 100% 0,06 0,07 H13 0,009 -0,00 0,08 0,04 0,08 100% 0,04 0,05 pasta 1m P20 0,007 0,05 0,07 0,03 0,07 100% 0,03 0,04 H13 0,006 -0,02 0,07 0,04 0,06 100% 0,04 0,04
Pode-se perceber que no foram encontradas diferenas significativas entre os dois materiais acima do valor da incerteza de medio, que para as lixas ficam em torno de 10% e entre as pastas 0,010m para Ra e 0,04m nos outros parmetros, e que entre as duas pastas diamantadas os valores no diminuem muito, o que significa que o processo de polimento no caso das amostras poderia finalizar na pasta de 3m.
5.4. TEMPO DE POLIMENTO COMPARADO COM OS PARMETROS DE RUGOSIDADE Aps a usinagem de todas as cavidades o molde passou pelo processo de avaliao e depois de avaliado foi ento encaminhado o molde para o polimento. Para as cavidades 4 e 5 o tempo de polimento foi maior. Houve acrscimo no tempo de polimento devido a problemas de usinagem, referente ao ponto de entrada da ferramenta na cavidade externa. O tempo necessrio para realizar o polimento das cavidades externas foi de aproximadamente 12h. Se uma estratgia pode interferir no tempo de polimento, isto significa que necessrio realizar um estudo para saber qual estratgia que atende os requisitos de qualidade superficial e que busque menores tempos de polimento. As limas abrasivas utilizadas no incio do processo de polimento tm a funo de retirar toda e qualquer marca de entrada e sada de material e outras marcas provenientes de estratgias inadequadas. As lixas tm a funo de diminuir uniformemente a rugosidade quanto mais for diminudo a granulometria da lixa.
96 O tempo de polimento para as cavidades internas foi menor, o que reflete os resultados obtidos na rugosidade. O tempo de polimento mostra que h uma influncia do efeito da estratgia se a superfcie for cncava ou convexa. O tempo necessrio para realizar o polimento nas cavidades internas foi de aproximadamente 10h. Comparando-se os resultados de rugosidade encontrados no molde polido com as amostras com polimento mecnico percebe-se que no polimento mecnico com a lixa de granulometria 1200 os resultados j conferem com os resultados do molde polido com lixa de granulometria 1500, demonstrando que a utilizao das pastas diamantadas nem sempre so necessrias para o atendimento da qualidade superficial requerida nos moldes.
5.5. MEDIO DA RUGOSIDADE DO MOLDE APS O POLIMENTO O molde foi medido aps o polimento para verificar as diferenas no acabamento superficial. Porm o procedimento para medio teve alterao nos sentidos da medio porque o polimento no tem sentido definido. Assim a medio foi realizada em dois sentidos definidos como x e y para eliminar a possibilidade de no cobrir uma eventual deformao no visvel. Na Tabela 18 so apresentados os valores mdios obtidos na medio do topo das cavidades do moldes aps o polimento. Foram considerados pontos aleatrios no topo e o resultado apresentado corresponde a mdia de 3 medies realizadas com uma incerteza de medio na ordem de 0,010m para o parmetro Ra e 0,04m para os demais parmetros.
Tabela 18 - Medidas obtidas no topo externo do molde

Estratgias 1 2 3 4 5 Ra 0,035 0,024 0,024 0,020 0,019 Rt 0,56 0,37 0,47 0,19 0,26 Rp 0,12 0,12 0,16 0,12 0,14 Rz 0,34 0,20 0,28 0,14 0,15
Pode-se perceber que os valores apresentados na tabela acima so bastante similares no parmetro Ra, diferenciando numa ordem maior apenas no parmetro Rt. Isto significa que o processo de polimento realmente elimina a rugosidade deixada pelas marcas da ferramenta de usinagem no molde. Para que as possveis diferenas pudessem ser visualizadas, foi construdo um grfico para o topo das cavidades e outro para as laterais. Segue Figura 72 com a representao das diferenas de rugosidades nas diferentes cavidades.
97
Mdia Topo
0,6 0,5 0,4 m 0,3 0,2 0,1 0 Ra Rt Rp Rz Parmetros Estratgia 1 Estratgia 2 Estratgia 3 Estratgia 4 Estratgia 5
Figura 72 - Comparao do Ra, Rt, Rp e Rz no topo das cavidades

Na Tabela 19 so apresentados os valores mdios obtidos na medio na lateral das cavidades do moldes aps o polimento.
Tabela 19 - Medidas obtidas na lateral externa do molde Estratgias Ra Rt Rp Rz 1 0,021 0,40 0,07 0,14 2 0,019 0,24 0,07 0,16 3 0,027 0,33 0,11 0,23 4 0,019 0,24 0,10 0,16 5 0,038 0,35 0,13 0,24
Pode-se perceber que os valores apresentados na tabela acima so bastante similares em todos os parmetros apresentados, diferenciando apenas numa ordem menor dos valores. Diferenas estas cobertas pela incerteza de medio de 0,01m para Ra e 0,04m para os demais parmetros. Isto significa que o processo de polimento novamente eliminou a rugosidade deixada pelas marcas da ferramenta de usinagem no molde. Segue Figura 73 com a representao das diferenas de rugosidades nas diferentes cavidades.
98
Mdia Lateral
0,6 0,5 0,4 m 0,3 0,2 0,1 0 Ra Rt Rp Rz Parmetros Estratgia 1 Estratgia 2 Estratgia 3 Estratgia 4 Estratgia 5
Figura 73 - Comparao do Ra, Rt, Rp e Rz na lateral das cavidades

Na comparao entre medies no topo e lateral da cavidade pode-se perceber que os valores esto apresentados dentro de uma mesma ordem de variao para cada um dos parmetros avaliados, o que quer dizer que o polimento uniformiza a rugosidade indiferentemente do acabamento de usinagem proveniente do processo utilizado.
99
CONSIDERAES FINAIS E SUGESTES PARA TRABALHOS FUTUROS
De acordo com os objetivos propostos no incio deste trabalho, pode-se considerar que alm dos fatores dispostos inicialmente existiam outros fatores que contriburam para a concluso deste trabalho. O objetivo principal foi estabelecer um mtodo apropriado para avaliao de superfcies complexas das cavidades encontradas em moldes. Seguindo a linha proposta, foram definidos os parmetros de rugosidade que melhor representam a superfcie estudada, os parmetros de preparao de mquina necessrios para realizar uma medio com confiabilidade e por ltimo, relacionado os principais critrios referentes aos cuidados na medio de superfcies de forma complexa. importante que seja observada inicialmente a superfcie que ser submetida medio e assim preparar a mquina para a medio. Como a superfcie medida durante a experimentao foi de forma livre, a dificuldade ficou em posicionar a pea sobre a mquina para realizar a medio. A pea, por se tratar de um molde muito pesada e tambm de difcil acesso para a medio. Existem limitaes quanto ao apalpador se adaptar a superfcie de medio, devido ele ser limitado a pequenas alturas. Assim a pea teve que ser posicionada de tal forma que ficasse nivelada durante o percurso de medio. Pode-se ento considerar que, para uma medio com maior preciso deve-se levar em conta o posicionamento da pea sob o apalpador e seu nivelamento e alinhamento com o eixo da mquina de medio. A escolha dos parmetros para medio da rugosidade apresentou dificuldades em funo do conhecimento limitado sobre a utilizao, vantagens e desvantagens de cada um. Uma vez estudados estes aspectos, foram selecionados os parmetros que pudessem se complementar e assim caracterizar o perfil medido. A seleo dos parmetros foi baseada tambm na limitao do equipamento utilizado para as medies, pois no apresentava todos os parmetros com influncia sobre a avaliao em questo, uma vez que com os parmetros selecionados a proposta seria de identificar diminuio de tempo do processo de polimento, seleo de estratgia de usinagem para um melhor acabamento, entre outros. As primeiras medies foram realizadas avaliando-se todos os parmetros que constavam no rugosmetro, e assim observados quais os parmetros que apresentavam variao pela alterao de superfcie e condies submetidas. Nessas condies pode-se observar que um bom conhecimento dos parmetros de rugosidade disponveis para caracterizao de superfcies faz com que se tenha mais segurana nos resultados obtidos e nas melhorias propostas.
100 Estudando os parmetros de rugosidade, pode-se observar que para caracterizar uma superfcie de forma complexa necessrio relacionar uma srie de parmetros, que de acordo com o equipamento utilizado para a medio, pode ter diferentes classificaes como: de amplitude, de espaamento e hbridos. No trabalho em questo foi utilizado, parmetro de amplitude e hbrido em funo da avaliao dos resultados do equipamento no contemplar todas as possibilidades de parmetros citados no trabalho. Foram selecionados os parmetros mais conhecidos como Ra, Rt, Rp, Rz e parmetros como Rsk e Rmr com nvel c. O parmetro Ra se mostrou eficiente na avaliao da superfcie, porm, isolado dos outros parmetros utilizados na avaliao, no consegue contribuir para determinar a distribuio dos picos nas superfcies, que podem impactar nos tempo de polimento. O parmetro Rt teve comportamento grfico similar ao Ra, porm sensvel a ocorrncia de picos e vales ocasionais. O parmetro Rp se mostrou bastante importante pela questo da simetria do perfil se associado ao parmetro Rt. O Rz, menos sensvel que o Rt, teve sua importncia considerada pela segurana e estabilidade dos dados coletados. O parmetro Rsk foi medido em funo da quantificao da simetria do perfil medido. O parmetro Rmr com o nvel c demonstra atravs de valores a quantidade de material existente a uma determinada altura do pico mais elevado, ou seja, a quantidade de material que pode estar sendo retirada no polimento para se chegar rugosidade desejada. Sugere-se a utilizao dos parmetros Ra, Rz e se possvel o nvel c com o percentual especificado para caracterizar superfcies complexas de moldes conforme resultados apresentados durante a experimentao que mostram que tais parmetros evidenciam juntos a diferena entre as variadas superfcies estudadas. O parmetro Rq no foi medido em funo da sensibilidade excessiva. Como as superfcies foram estudadas antes e aps o polimento, este parmetro no demonstrou desde as primeiras anlises sua eficincia de avaliao. Assim como os parmetros de medio tm sua importncia na caracterizao da rugosidade, a preparao adequada da mquina de medio indispensvel para a obteno de parmetros confiveis. A preparao da mquina considera os seguintes aspectos: a seleo da ponta de medio, filtros, remoo de forma no equipamento e determinao da linha mdia. O apalpador foi considerado em funo da norma ISO 3274:1996 que relaciona os tipos de apalpadores e assim tambm conforme j relatado no trabalho, quanto maior o detalhamento exigido, menor o raio do apalpador a ser utilizado. Sendo assim, o apalpador utilizado foi o menor existente na relao apresentada com raio de 2m, podendo chegar a um erro de medio de aproximadamente 0,35% do valor de Ra medido, o menor possvel considerando que um apalpador com estas caractersticas o que menos influncia na distoro do perfil medido.
101 Para a remoo de forma do perfil alguns rugosmetros fazem uso de recursos que removem automaticamente a forma geomtrica da pea com o perfil de rugosidade. Quando o rugosmetro adotar esta sistemtica, alguns cuidados devem ser tomados em funo da interpretao dos resultados pelo prprio rugosmetro. Na situao do no conhecimento do perfil medido sugerido a utilizao da opo Datum no equipamento, como foi o caso no trabalho desenvolvido. No existindo esta possibilidade no equipamento, os parmetros so calculados com base numa linha mdia definida a partir nos mnimos quadrados. Para que seja realizada uma medio necessrio que o rugosmetro apresente uma referncia, seja ela interna ou externa. No caso do trabalho que foi desenvolvido foi utilizada a referncia interna, uma vez que a externa, denominada de sapata, no recomendada para medio em superfcies curvas e com o objetivo de caracterizao do perfil medido. A componente rugosidade foi selecionada na mquina de medio, onde foi selecionado tambm o filtro Gauss para uma melhor exatido na separao da rugosidade com a ondulao diminuindo tambm as distores na filtragem. O comprimento de amostragem foi selecionado conforme especificao de norma de acordo com cada regio de amostragem da pea utilizada no estudo. importante destacar que, quando no houver disponibilidade para um percurso de medio de 5 comprimentos de amostragem (cut-offs), deve-se diminuir o nmero de cut-offs, e no o valor do cut-off. A mesma preparao de mquina utilizada no desenvolvimento deste trabalho serve de sugesto para a medio de rugosidade em outras superfcies complexas. Como o acesso a determinadas partes da superfcie pode ser de difcil acesso e tambm pela questo do deslocamento do molde at um rugosmetro que possa realizar a medio, foi injetado no molde peas com dois materiais distintos e verificado que estas peas podem ser usadas para representar a superfcie do molde. Esta opo est descrita na experimentao com os valores encontrados na medio. importante destacar que com a pea injetada possvel cortar a pea e medir nas regies que necessitam de avaliao ou que a criticidade maior na especificao de rugosidade. Outra opo que pode ser utilizada o espelhamento do perfil atravs de materiais disponveis no mercado (ex. do fabricante Taylor Hobson) para fazer o negativo da superfcie. Este mtodo similar pea injetada e com a vantagem de no precisar inicialmente injetar o produto. Sendo assim, conclui-se que existe alternativas para poder avaliar as superfcies de molde, mas que no deve ser esquecido, que conforme descrito na experimentao, o perfil espelhado e deve ser avaliado de forma a representar o perfil original. Baseando-se nas concluses apresentadas, sugerem-se as seguintes propostas para trabalhos futuros:
102 - Estudo da influncia do erro de forma comparando com os parmetros de rugosidade para mostrar se esse erro de forma provocado pela estratgia de usinagem utilizada causa impacto significativo sobre o acabamento da superfcie usinada; - Estudo da influncia da retirada de material da superfcie em maior ou menor escala e sua influncia no erro de forma da superfcie polida; - Estudo de como a estratgia de corte pode interferir no erro de forma da superfcie usinada; - Mtodos de anlise da rugosidade de forma sem contato. Assim, a metodologia utilizada mostrou-se importante na avaliao de rugosidade de superfcies complexas podendo ser aplicada a outras superfcies e estudos de casos como forma de referncia cientfica e de resultados comparativos.
103
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SOCIEDADE EDUCACIONAL DE SANTA CATARINA INSTITUTO SUPERIOR TUPY MESTRADO EM ENGENHARIA MECNICA

AVALIAO DA RUGOSIDADE EM SUPERFCIES COMPLEXAS

AVALIAO DA RUGOSIDADE EM SUPERFCIES COMPLEXAS

Orientadora: Prof Dr. Sueli Fischer Beckert

AVALIAO DA RUGOSIDADE EM SUPERFCIES COMPLEXAS

___________________________________________________________________________ Prof Dr. Adilson Jos de Oliveira Instituto Superior Tupy

___________________________________________________________________________ Prof Dr. Luiz Veriano Oliveira Dalla Valentina CCT-UDESC

Figura 1 Geometria tridimensional das marcas da crista-1 e crista-2

Figura 3 - Desvios que compe o acabamento superficial

Classe 5: rugosidade Classe 6: rugosidade

Sobreposio das classes Figura 4 - Classificao de textura superficial

22 1.1. DEFINIES RELACIONADAS AO PERFIL

Perfil total de forma) (inclui erro (inclui erro de forma)

Perfil de ondulao Perfil waviness (rugosidade atenuada) (rugosidade atenuada)

Figura 5 Diagrama esquemtico das caractersticas de uma superfcie.

Figura 6 - Representao das amplitudes de picos e vales no perfil de rugosidade.

24 2. SISTEMAS DE MEDIO DE RUGOSIDADE E DE ONDULAO

Figura 7 - Princpio bsico dos instrumentos de medio de textura superficial.

Figura 8 - Componentes de instrumentos de medio de rugosidade e de ondulao atravs de contato.

Figura 9 Direo de medio: a) sulcos ordenados; b) sulcos no-ordenados

Apalpador tipo 2,5 m Apalpador tipo 12,5 m

28 Parmetro a ou b (m) r (m) ()

Cnico com ponta esfrica

Pirmide truncada com ponta retangular

Figura 11 - Padro dimensional e de forma dos apalpadores

1,0 y = 0,0162x2 - 0,0037x + 0,0125 R2 = 1

raio do apalpador (m)

2.2.1. Tipos de filtro

Figura 14 - Efeito da utilizao de filtros 2CR, 2CR PC e Gauss.

2.2.2. Comprimento de amostragem (cut-off)

Figura 15 - Conceito de cut-off para filtragem de rugosidade e ondulao

Figura 16 - Caracterstica de transmisso de perfis de rugosidade e ondulao

8 25 300 Fonte: ASME B46.1:2002; ISO 3274:1996

b) Perfil Peridico Figura 18 Perfis Aperidico (a) e Peridico (b).

2.3. REMOO DE FORMA

Figura 19 Demonstrao grfica da remoo LS Line realizada pelo rugosmetro

Figura 20 - Demonstrao grfica da remoo MZ Line realizada pelo rugosmetro

Figura 21 - Demonstrao grfica da remoo Datum realizada pelo rugosmetro

Figura 22 - Demonstrao grfica da remoo LS Arc realizada pelo rugosmetro

A opo Datum, conforme Machado e Beckert (2007) se aproxima da realidade do perfil

Figura 23 - Desenho esquemtico da referncia interna (referncia da unidade de leitura)

Figura 26 - Relao entre as dimenses e seu efeito na distoro do perfil superficial

42 3. PARMETROS DE TEXTURA SUPERFICIAL

Figura 27 - Representao esquemtica de perfis e parmetros de rugosidade

3.1. DETERMINAO DA LINHA MDIA

Perfil nominal em linha reta

Perfil nominal em curva

Figura 28 - Representao esquemtica da forma da linha mdia em perfis nominais.

Figura 29 - Linha mdia do sistema M.

Analiticamente, essa definio pode ser expressa da seguinte forma:

onde: Z: amplitude acima ou abaixo da linha mdia.

3.2. COMPRIMENTO DE AVALIAO

Figura 30 - Representao esquemtica dos comprimentos de avaliao envolvidos na

(a) Rp altura mxima de picos

(b) Rv Profundidade mxima de vales

Figura 31 - Amplitudes mximas de picos a) Rp e vales b) Rv a partir de um perfil de medio de rugosidade.

Figura 32 - Amplitude mxima de perfil a partir de um perfil de rugosidade

Ra = 1,03 Rq = 1,70 Rsk = 0,02

Ra = 0,99 Rq = 1,60 Rsk = 1,56

Ra = 0,99 Rq = 1,60 Rsk = -1,56

Figura 35 - Representao esquemtica da assimetria de perfis de rugosidade.

Ra = 1,03 Rq = 1,70 Rsk = 0,02 Rku = 3,33

Ra = 0,16 Rq = 0,30 Rsk = 0,02 Rku = 3,33