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UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO NORTE


CENTRO DE CINCIAS EXATAS E DA TERRA
DEPARTAMENTO DE GEOLOGIA
LABORATRIO DE GEOQUMICA











Identificao de
minerais














Leandro Pereira da Costa




Natal, Agosto de 2009

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SUMRIO Pag.
1. Introduo......................................................................................................... 3
2. Referencial terico: Os raios X e as tcnicas de DRX e EFRX.................... 4
2.1 Propriedades dos Raios X............................................................................ 4
2.2 A difrao de Raios X................................................................................... 4
2.3 Mtodos de difrao de Raios X................................................................... 5
2.4 - A Espectrometria de Fluorescncia de Raios X............................................ 6
3. Metodologia...................................................................................................... 7
3.1 - Descrio das propriedades macroscpicas dos minerais............................ 7
3.2 Anlises por difrao de raios X (DRX) - preparao da amostra e
equipamento...........................................................................................................


7
3.3 Anlises por espectrometria de fluorescncia de raios X (EFRX)................... 8
3.3.1 Procedimento de Preparao de Pastilhas Prensadas no Laboratrio
de Geoqumica UFRN.........................................................................................

8
3.3.2 Atividades Preliminares....................................................................... 8
3.3.3 Pesagem.............................................................................................. 9
3.3.4 Prensagem........................................................................................... 9
4. Resultados........................................................................................................ 12
4.1 Propriedades macroscpicas das amostras.................................................... 12
4.1.1 Propriedades macroscpicas da amostra 1......................................... 12
4.1.2 Propriedades macroscpicas da amostra 2......................................... 13
4.2 Anlises por EFRX............................................................................................ 14
4.2.1 Anlise por EFRX na amostra n 1....................................................... 14
4.2.2 Anlise por EFRX na amostra n 2....................................................... 15
4.3 Anlises por Difrao de raios X...................................................................... 16
4.3.1 Anlise por DRX na amostra n 1........................................................ 16
4.3.2 Anlise por DRX na amostra n 2........................................................ 20
5. Discusses....................................................................................................... 24
6. Concluses ...................................................................................................... 25
7. Aplicabilidade................................................................................................... 26
8. Referncias Bibliogrficas.............................................................................. 26


3

1. Resumo


Este trabalho tem como objetivo a descrio e identificao de
minerais. Alm da descrio das propriedades macroscpicas do mineral,
foram realizadas anlises por difrao de raios X (DRX), espectrometria de
fluorescncia de raios X (EFRX) e seminrios. De acordo com a integrao
dos dados que foram coletados nestas anlises, foram identificados e
descritos dois minerais: Fluorapatita Ca
5
(F) (PO
4
)
3
, de cor azul, dureza 5 e
uma clivagem basal m; e Lepidolita - K(Li,Al)
3
(Si,Al)
4
O
10
(OH)
2
, de cor
violeta ou rosa, dureza 2 e a 3 e uma clivagem muito boa.


1.1 INTRODUO

As atividades realizadas desenvolveram-se no Laboratrio de
Geoqumica do Departamento de Geologia da Universidade Federal do Rio
Grande do Norte, com o acompanhamento da Coordenadora e tambm minha
orientadora, a Prof Dr Raquel Franco de Souza Lima, no perodo de maro de
2009 a junho de 2009.
Como bolsista ATP-B do CNPq, as tarefas realizadas foram focadas em
treinamento nas tcnicas de anlise qumica e mineralgica por espectrometria
de fluorescncia de raios X e difrao de raios X, e desenvolvimento de
seminrios, sendo as atividades descritas ao longo deste relatrio. A
caracterizao e estudo de matrias primas minerais constituem atividades a
serem desenvolvidas rotineiramente em laboratrios de anlises qumicas e
mineralgicas.
Ambas as tcnicas que foram objeto de treinamento no mbito do
presente trabalho (difrao e espectrometria de fluorescncia de raios X)
utilizam os raios X. Por esta razo, inicialmente feita uma explanao sobre
propriedade dos raios X e os princpios de difrao de raios X.
Em seguida so apresentadas metodologias empregadas, resultados,
discusso e concluso.






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2. REFERENCIAL TERICO: OS RAIOS X E AS TCNICAS DE DRX E
EFRX

2.1 - Propriedades dos Raios X

As principais propriedades dos raios X relacionadas sua utilizao nos
mtodos instrumentais de anlises so:
a) Ionizam gases
b) Excitam fluorescncia em alguns compostos
c) So absorvidos preferencialmente pelos diversos elementos
d) Sofrem reflexo, refrao, difrao e polarizao, sob condies
especiais
e) So difratados pelos cristais, cuja rede espacial age como retculo de
difrao
f) Excitam a matria que passa a emitir Raios X
g) No so defletidos por campos magnticos ou eltricos.

2.2 - A Difrao de Raios X

O espalhamento e a conseqente difrao de raios X um processo que
pode ser analisado em diferentes nveis. No mais bsico deles, h o
espalhamento de raios X por um eltron. Esse espalhamento pode ser
coerente ou incoerente. No espalhamento coerente, a onda espalhada tem
direo definida, mesma fase e mesma energia em relao onda incidente.
Trata-se de uma coliso elstica. No espalhamento incoerente, a onda
espalhada no tem direo definida. Ela no mantm a fase nem a energia ( o
chamado Efeito Compton). A coliso inelstica, e a energia referente
diferena entre a onda incidente e a onda espalhada traduzem-se em ganho de
temperatura (vibrao do tomo). (Bleicher, L.; Formoso, M.L.L. 1985)
Quando uma onda eletromagntica interage com os eltrons do tomo
de um cristal, estes entram em ressonncia com a radiao gerando ondas
com a mesma energia da onda incidente e se espalhando isotropicamente.
A onda espalhada por um eltron interage com a espalhada pelos outros
eltrons. Esta interao pode ser construtiva ou destrutiva dependendo de
5
parmetros como o comprimento de onda da radiao incidente o ngulo de
incidncia desta radiao e da distncia d entre planos atmicos do cristal.
Para que a interao seja construtiva estes parmetros devem cumprir duas
condies:

A primeira determina que as ondas espalhadas por tomos de
um mesmo plano devem estar em fase o que obtido quando
o ngulo do raio incidente for igual ao ngulo do difratado e
estiver no mesmo plano normal superfcie refletora.
A segunda estabelece que a diferena entre o percurso dos
raios em dois planos sucessivos seja igual a um nmero inteiro
de comprimentos de onda.

Estas duas condies so expressas atravs da Lei de Bragg, representada
pela figura 1:

n d sen = 2 .

= comprimento de onda da radiao
incidente no cristal;
= ngulo entre o feixe incidente e o
cristal;
d = distncia entre dois planos da rede
cristalina (distncia interplanar);
n = nmero de comprimentos de onda X.
Deve ser um nmero inteiro.
Figura 1 Equao de Bragg. Condies para difrao de raios X por um
cristal.

2.3 - Mtodos de difrao de Raios X

Os mtodos de difrao de Raios X mais conhecidos e utilizados so:
a) Mtodo de Laue;
b) Mtodo da rotao;
c) Mtodo do p ou Debye Sherrer.
Dentre estes, o mais utilizado rotineiramente o mtodo do p.


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2.4 - A Espectrometria de Fluorescncia de Raios X

A Espectrometria de Fluorescncia de Raios X uma tcnica analtica
no destrutiva usada para identificar e determinar as concentraes dos
elementos presentes nos slidos, em ps e em lquidos. A EFRX capaz de
medir qualitativamente, quantitativamente e semiquantitativamente todos os
elementos desde o Berlio (nmero atmico 4) ao urnio (nmero atmico 92),
alm de elementos traos (elementos cuja concentrao na amostra encontra-
se entre 1 e 1000 ppm).
Ao serem irradiadas por radiao X eltrons de camadas internas dos
tomos contidos em uma determinada amostra tornam-se altamente excitados
a ponto de serem ejetados. Para garantir uma menor instabilidade ao tomo,
eltrons mais externos e energticos na eletrosfera passam a ocupar os
orbitais vazios e menos energticos. Dessa transio quntica so liberados
ftons que associam a si um comprimento de onda caracterstico na faixa de
Raios X. A radiao X gerada a partir da excitao de uma amostra por raios X
denominada de secundria, ou fluorescente. Por esta razo, a metodologia
conhecida como Espectrometria de Fluorescncia de Raios X. (Gomes, C.B,
1985). A representao esquemtica de algumas transies eletrnicas que
podem ocorrer em um tomo excitado pela radiao X mostrada na figura 2.

Figura 2 - Diagrama esquemtico de possveis transies eletrnicas que um
tomo pode sofrer ao ser irradiado com radiao X. As setas indicam os
processos de excitao e emisso.
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3. METODOLOGIA

3.1 Descries das propriedades macroscpicas dos minerais:

possvel identificar por observao macroscpica algumas
caractersticas como cor, brilho, hbito e diafaneidade. Outras propriedades
dos minerais so determinadas por ensaios simples, interagindo diretamente
na amostra como clivagem, trao e dureza. A anlise macroscpica de
amostras de mo o primeiro passo na identificao mineralgica. Em muitos
casos, esta anlise preliminar e o uso de um manual de mineralogia so
suficientes para identificar os minerais mais comuns. Quando isto no
possvel, utilizam-se tcnicas complementares como a difrao de raios X (para
anlise da estrutura do slido e determinao dos parmetros de rede) e a
espectrometria por fluorescncia de raios X (para obteno de informaes
sobre a composio qumica do mineral).

3.2 Anlises por difrao de raios X (DRX)

3.2.1 Difrao de Raios X preparao da amostra e equipamento
O procedimento utilizado no presente trabalho foi anlise pelo mtodo
do p, cominuda a amostra na granulometria 200 #, em moinho ou almofariz
de gata. O p colocado na cavidade do porta amostras especfico para a
anlise e levemente comprimido para que as partculas no se soltem durante
a anlise (Figura 3). A compresso exagerada pode levar orientao
preferencial de gros, indesejvel neste caso.
O difratmetro de raios X do Laboratrio Institucional de Difratometria de
Raios X (LIDRAX) faz parte de um conjunto de grandes equipamentos que
constituem o Ncleo de Estudos em Petrleo e Gs Natural (NEPGN) na
UFRN, do modelo XRD-6000, da marca Shimadzu (Figura 3 b e c). A leitura
foi feita com tubo de Cu, radiao Cu K, = 1,5418 .
A busca comparativa foi realizada com auxlio do software PCPDFWIN
verso 1.2 (1996), do Joint Committee for Powder Diffraction Standards
(JCPDS) do International Centre for Diffraction Data (ICDD).

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Figura 3 - P da amostra colocado na porta-amostra (A) e o difratmetro de raiosX
Shimadzu, modelo XRD-6000 (B e C)

3.3 Anlises por espectrometria de fluorescncia de raios X (EFRX)


3.3.1 Procedimento de Preparao de Pastilhas Prensadas no Laboratrio
de Geoqumica do Departamento de Geologia UFRN.

3.3.2 Atividades Preliminares

Lavar com gua e sabo os beckers e cadinhos de porcelana a serem
utilizados no experimento; posteriormente, enxaguar com gua
destilada. Para secar esses instrumentos colocar na estufa (110 C) por
aproximadamente 15 minutos.

Para o manuseio dos beckers e cadinhos, aguardar o resfriamento dos
mesmos. Colocar nos beckers as amostras (j na frao de 200 #),
deixando na estufa por 12h para a retirada da umidade adsorvida nas
partculas minerais. Aps as 12h colocar as amostras no dessecador
para resfriar, evitando absorverem umidade.

Ligar a balana (Figura 04) no mnimo uma hora antes do incio da
pesagem para a estabilizao, o que garante maior preciso nos
resultados.
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Figura 4 - Balana de preciso marca A&D, modelo HR-200.

3.3.3 Pesagem
Colocar o dessecador contendo a amostra prximo balana.
Colocar um becker contendo slica-gel no interior da balana para
impedir que a amostra durante a pesagem adsorva umidade do ar.
Zerar a balana.
Etiquetar um becker limpo e seco com a identificao da amostra.
Colocar o becker identificado na balana, zerando novamente.
Retirar o becker com a amostra a ser pesada do dessecador, tampando-
o em seguida para que no haja tempo de adsoro da umidade do ar
nas amostras.
Utilizando uma esptula j limpa, para no contaminar a amostra, retirar
certa quantidade da amostra do becker e colocar no becker dentro da
balana at que se obtenha massa de 10 g. Retirar o becker com a
amostra pesada da balana, colocando-o num local seguro e tampando-
o com parafilme.
Realizar o mesmo procedimento para a pesagem de 2 g de cera (a cera
pode ser pesada em outro becker ou em recipiente de plstico).
Transferir a cera pesada para o becker contendo a amostra pesada;
homogeneizar essa mistura com uma esptula, at que no sejam
notados resqucios da cera.
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3.3.4 Prensagem
Providenciar toalhas de papel e lcool.
Retirar o conjunto de molde do dessecador.
Limpar com lcool as peas metlicas da forma de prensagem, inclusive
a camisa cilndrica de bronze, por dentro e por fora.
Montar o conjunto do molde na prensa (Figura 5).
Colocar a amostra dentro do conjunto de molde.
Ajustar o encaixe superior do molde no conjunto de prensagem com a
face espelhada voltada para a amostra. A superfcie final da pastilha
para a anlise a que fica em contato com esta face espelhada.
Fechar a prensa hidrulica, voltando um quarto da rosca no sentido anti-
horrio.
Observar se a prensa est ligada ON, na lateral.
Confirmar se o tempo e a carga de prensagem esto no padro (20
toneladas/ 60 segundos).
Apertar o boto verde; a luz acende em seguida.
Quando a luz verde apagar a pastilha est pronta.
Abrir a prensa e para a retirada da pastilha, pressionar o boto verde,
aguardando o movimento ascendente do conjunto e retirar a pastilha do
molde.
Etiquetar a pastilha com o nmero da amostra e a data da atividade, na
superfcie menos espelhada, armazenando-a no dessecador at o
momento da anlise no espectrmetro.
No trmino do procedimento efetuar a limpeza do local e dos
equipamentos utilizados, colocando-os de volta no dessecador.


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Figura 5 - Prensa hidrulica para preparao de pastilhas prensadas. Marca
Herzog, modelo HTP-40



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Figura 6 - Espectrmetro de Fluorescncia de Raios X, marca Philips, modelo
PW2400.

4. Resultados

4.1 Propriedades macroscpicas das amostras

4.1.1 Propriedades macroscpicas da amostra 1

As informaes foram obtidas utilizando placa de porcelana, minerais e
objetos de dureza conhecida. A amostra observada na figura 7.

Cor azul
Brilho no metlico
Hbito granular
Diafaneidade transparente

Clivagem Uma anlise visual realizada em alguns fragmentos obtidos a partir
da reduo de tamanho de uma amostra maior indica dois planos de clivagem,
assim como algumas fraturas.

Trao Com o auxlio de um pedao de porcelana branca pode-se determinar
como azul a cor do trao, que foi obtido atravs do atrito entre a amostra e a
porcelana branca.

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Dureza O teste de dureza foi realizado com o auxlio de alguns objetos com
sua dureza definida de acordo com a escala de dureza que varia de 1 a 10. O
teste aponta que a dureza da amostra se encontra num intervalo entre 3 e 4.

Dureza > 3 ; < 4

J que a amostra risca uma moeda de cobre, mas no pode riscar, isto foi
riscado por um canivete e pela fluorita.

Com o auxlio da tabela para a determinao de minerais, encontrada no
volume 2 do manual de mineralogia Dana, verifica-se que o mineral estudado
pode ser Crisocola ou Azurita.


Figura 7 - Amostra n 1 no seu estado bruto


4.1.2 Propriedade macroscpica da amostra 2

As informaes foram obtidas utilizando placa de porcelana, minerais e
objetos de dureza conhecida. A amostra observada na figura 8.

Cor lils a rosa
Brilho no-metlico
Hbito micceo
Diafaneidade transparente

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Figura 8 Amostra n 2 no seu estado bruto



Outras informaes foram obtidas segundo procedimentos manuais,
interagindo diretamente na amostra.

Clivagem Uma anlise visual que foi feita em alguns fragmentos obtidos da
quebra do mineral indicavam bons planos de clivagem, assim como algumas
fraturas.

Trao Com o auxlio de um pedao de porcelana branca pode-se determinar
como branco a cor do trao, que foi obtido atravs do atrito entre a amostra e a
porcelana branca.

Dureza O teste de dureza foi realizado com o auxlio de alguns objetos com
sua dureza definida de acordo com a escala de dureza que varia de 1 a 10. O
teste aponta que a dureza da amostra se encontra num intervalo entre 2 e a
3.

Com o auxlio da tabela para a determinao de minerais, encontrada no
volume 2 do manual de mineralogia Dana, verifica-se que o mineral estudado
pode ser Lepidolita ou Petalita.


4.2 Anlises EFRX

4.2.1 Anlise por EFRX na amostra n 1

Foram utilizadas 10g da amostra pulverizada (Figura 9) para a produo da
pastilha prensada (Figura 10), objetivando a anlise no Espectrmetro de
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Fluorescncia de Raios X (EFRX). Os resultados da anlise so encontrados
na Tabela 1. Os elementos qumicos presentes em maior quantidade so O, Ca
e P. Secundariamente ocorrem S, Al, Cl, Si, Fe e F.




Figura 9 amostra n 1 em p
Escala (clips) = 25 mm.
Figura 10 amostra n 1 prensada
para anlise EFRX. Dimetro da
pastilha = 30 mm.


Tabela 1. Dados obtidos pela anlise por EFRX na amostra n1.

COMPOSIO CONCENTRAO (%)
O 39,13
F 0,05
Al 0,55
Si 0,40
P 13,52
S 2,42
Cl 0,50
Ca 43,71
Fe 0,22
Total 100, 49



4.2.2 Anlise por EFRX na amostra n 2

A partir de 10g da amostra pulverizada (Figura 11) foi confeccionada a pastilha
prensada (Figura 12) para anlise no Espectrmetro de Fluorescncia de Raios
X (EFRX). Os resultados da anlise so encontrados na Tabela 2. Os
elementos qumicos presentes em maior quantidade so Al, Si e K.
Secundariamente ocorrem Rb, Fe, Mn, Zn e Ti.

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Figura 11 amostra n 2 em p
Escala (clips) = 25 mm.
Figura 12 amostra n 2 prensada
para anlise EFRX. Dimetro da
pastilha = 30 mm.

Tabela 2. Dados obtidos pela anlise por EFRX na amostra n2.

COMPOSIO CONCENTRAO (%)
Al 20,01
Si 23,15
Fe 0,58
Zn 0,16
Rb 1,16
K 9,62
Ti 0,14
Mn 0,40
Total 55,22


4.3 Anlises por difrao de raios X


4.3.1 Anlise por DRX na amostra n 1


A partir do difratograma da amostra (Figura 13), foram obtidas as
informaes de intensidade e ngulo 2 para cada um dos picos. Estas
informaes so observadas nas primeiras trs colunas da Tabela 3. A partir
de 2, se obtm o valor de para clculo da distncia interplanar d, utilizando
a equao de Bragg (Figura 1).
Os dados de distncia interplanar dos trs picos de maior intensidade
obtidos a partir da anlise no difratograma permitem a primeira busca no banco
de dados do software PCPDFWIN

. Estes resultados preliminares, aliados s


informaes da anlise macroscpica do mineral, e dos resultados analticos
por EFRX foram utilizados para busca do nome do mineral. O PCPDFWIN


um dos programas de busca que contm o banco de dados do JCPDS (Joint
Committee on Powder Diffraction Standards) do ICDD (International Centre for
Diffraction Data) com todos os padres difratomtricos conhecidos
mundialmente at o ano 2005, organizados em fichas individuais por
substncia.
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Os dados que foram coletados na anlise da amostra n1, apresentaram
melhor ajuste quando comparados com os dados do carto 03 0736 da ficha
do banco de dados (JCPDS). O carto 03 0736, de fluorapatita mostrado
nas figuras 14 e 15. possvel optar por comparar os ndices de Miller com os
ngulos 2 ou com suas distncias interplanares d (), como mostrado nas
Figuras 14 e 15, respectivamente.
Esta comparao mostrada nas trs ltimas colunas da Tabela 3.
Finalmente, os ndices de Miller constantes no carto so transferidos para o
difratograma, conforme mostrado na Figura 13.




Figura 13 difratograma da amostra n1 com os principais ndices de Miller




















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Tabela 3 Dados do mineral analisado (colunas 1-5), comparados aos dados
do carto n03-0736 do JCPDS-ICDD (colunas 6-8).















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Figura 14 Dados do carto 03-0736 como apresentados pelo software
PCPDFWIN, relacionando os ngulos 2 (graus) com os ndices de Miller da
fluorapatita.

Figura 15 Dados do carto 03-0736 como apresentados pelo software
PCPDFWIN, relacionando as distncias interplanares () com os ndices de
Miller da fluorapatita.





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4.3.2 Anlise por DRX na amostra n 2

A anlise por Difrao de Raios X na amostra n2 produziu o
difratograma apresentado na Figura 16. A intensidade das contagens (eixo y)
est acima de 10.000 Kcps. A anlise macroscpica prvia da amostra indicava
tratar-se de um provvel filossilicato, razo pela qual inferiu-se que deveria
haver picos ocultos que poderiam ser de relevncia para a anlise. Sendo
assim, optou-se por magnificar o eixo das intensidades para estes picos
aparecessem. O resultado encontra-se na Figura 17, que mostra as
intensidades entre 50 a 800 Kcps, o que permite identificar/localizar picos de
menor expresso, porm importantes na identificao do mineral.
Na figura 18 o difratograma encontra-se numerado, pois existe um
nmero considervel de picos a ser analisado.


Figura 16 - Difratograma da amostra n2 com intensidades de 0 a 10000 (Kcps)

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Figura 17 Difratograma da amostra n2 com intensidade entre 50 a 800
(Kcps)


Figura 18 Difratograma da amostra n2, com os picos numerados.

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A partir do difratograma da amostra (Figura 18), foram obtidas as
informaes de intensidade e ngulo 2 para cada um dos picos. Estas
informaes so observadas nas primeiras quatro colunas da Tabela 4.
Utilizando a equao de Bragg (Figura 1), foram calculadas as distncias
interplanares, o que permitiu a busca no banco de dados do software
PCPDFWIN

, a partir dos trs picos de maior intensidade. Foram tambm


utilizadas as informaes da anlise macroscpica do mineral, e dos resultados
analticos por EFRX para identificao do mineral.

Tabela 4 Dados do mineral analisado (colunas 1-4), comparados aos dados
do carto n10-0483 do JCPDS-ICDD (colunas 5-7).



Os dados que foram coletados na anlise da amostra n 2,
apresentaram melhor ajuste quando comparados com os dados do carto 10-
0483 da ficha do banco de dados (JCPDS). O carto 10-0483 mostrado nas
figuras 19 e 20, que apresentam a comparao dos ndices de Miller com os
ngulos 2 ou as distncias interplanares d (), respectivamente.
As trs ltimas colunas da Tabela 4 mostram a comparao realizada, a
qual permitiu atribuir os ndices de Miller aos picos (indexar a substncia).
Finalmente, os ndices de Miller constantes no carto so transferidos para o
difratograma, conforme mostrado na Figura 21.

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Figura 19 Dados do carto 10-0483 como apresentados pelo software
PCPDFWIN, relacionando os ngulos 2 (graus) com os ndices de Miller da
fluorapatita.

Figura 20 Dados do carto 10-0483 como apresentados pelo software
PCPDFWIN, relacionando as distncias interplanares () com os ndices de
Miller da lepidolita.

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5.Discusses



Figura 21 difratograma da amostra n2 (lepidolita) com os principais ndices
de Miller


Amostra n1


As primeiras informaes sobre os minerais em anlise foram obtidas a
partir da descrio de suas propriedades macroscpicas. Os dados obtidos
foram comparados com uma tabela de minerais, que contm o registro das
propriedades fsicas e permite uma busca preliminar.
A amostra 1 foi preliminarmente identificada como Crisocola -
(Cu,Al)
2
H
2
Si
2
O
5
(OH)
4
- ou Azurita - Cu
3
(CO
3
)
2
(OH)
2
. No entanto, isto no
suficiente para confirmar a identificao mineralgica. Sendo assim, mais
informaes foram buscadas, atravs de tcnicas instrumentais. De acordo
com a Tabela 1, a anlise qumica indica como elementos maiores Ca, O e P, o
que indica tratar-se provavelmente de um fosfato de clcio. A provvel
identificao como crisocola ou azurita descartada, pois estes minerais
contm Cu, o qual no foi detectado.
Os dados das distncias interplanares, propriedades macroscpicas e
anlise qumica foram utilizados para realizar a busca no PCPDFWIN,
concluindo-se que o mineral em anlise apatita. A partir desta informao,
dentre os cartes disponveis, a melhor combinao do mineral n 1 deu-se
com o carto 03 0736, fluorapatita Ca
5
(PO4)
3
F.
A no identificao do elemento qumico flor na anlise por EFRX
deve-se ao fato deste ser um elemento de nmero atmico baixo, o que limita a
capacidade do equipamento para sua deteco.
25


Amostra n2


As primeiras informaes sobre o mineral em anlise foram obtidas a
partir da descrio de suas propriedades macroscpicas. Os dados obtidos
foram comparados com uma tabela de minerais, que contm o registro das
propriedades fsicas e permite uma busca preliminar.
A amostra 2 foi preliminarmente identificada como sendo Lepidolita -
K(Li,Al)
3
(Si,Al)
4
O
10
(OH)
2
ou Petalita. LiAlSi
4
O
10
. No entanto, isto no
suficiente para confirmar a identificao mineralgica. Sendo assim, mais
informaes foram buscadas, atravs de tcnicas instrumentais. De acordo
com a Tabela 2, a anlise qumica indica como elementos maiores Si, Al e K, o
que indica tratar-se provavelmente de um Silicato de Alumnio e Potssio. A
provvel identificao como lepidolita ou Petalita no descartada, pois, pelo
menos um destes minerais contm Si, Al e K, os quais foram detectados.
Os dados das distncias interplanares, propriedades macroscpicas e
anlise qumica foram utilizados para realizar a busca no PCPDFWIN,
concluindo-se que o mineral em anlise Lepidolita. A partir desta informao,
dentre os cartes disponveis, a melhor combinao do mineral n2 deu-se com
o carto 10 0483, Lepidolita - .K(Li,Al)
3
(Si,Al)
4
O
10
(OH)
2

A no identificao do elemento qumico Ltio na anlise por EFRX deve-
se ao fato deste ser um elemento de nmero atmico baixo, o que limita a
capacidade do equipamento para sua deteco.


6. Concluses

Preparao da amostra
A preparao da amostra para anlises deve ser feita cuidadosamente, a
fim de evitar danifica-la ou contamin-la com impurezas que podem
confundir a discusso dos resultados.

Anlise por difrao de raios X
Cada composto cristalino tem seu conjunto de espaamentos interplanares
e, assim, apresenta um conjunto de ngulos de difrao de raios X
caracterstico, que, como uma impresso digital, pode ser usado para
identificar uma substncia.

Anlise por espectrometria de fluorescncia de raios X
Esta tcnica capaz de fornecer uma anlise qualitativa (indica a presena
dos elementos qumicos no material) semi-quantitativa ou quantitativa
(indica a quantidade aproximada ou exata de cada elemento qumico no
material)

A equao de Bragg
Na difrao de raios X, enquanto utiliza-se a equao de Bragg para
determinar as distncias interplanares das substncias para identific-las,
na espectrometria por fluorescncia de raios X a mesma equao serve
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para identificar o comprimento de onda da radiao emitida pelos elementos
qumicos da amostra.

Identificao das amostras n 1 e n 2
De acordo com a integrao dos dados que foram coletados nestas
anlises, concluiu-se que a amostra n 1 Fluorapatita Ca
5
(F) (PO
4
)
3
. O
mineral apresenta cor azul, dureza 5 e uma clivagem basal m. A amostra
n 2 a Lepidolita - K(Li,Al)
3
(Si,Al)
4
O
10
(OH)
2
. Esta apresenta cor violeta
ou rosa, dureza 2 e a 3 e uma clivagem muito boa.

7. Aplicabilidade

Os conhecimentos adquiridos atravs deste trabalhos, no que se refere
descrio e identificao mineralgica tem aplicabilidade em projetos de
pesquisa, estudos na rea da minerao e geologia, explorao em minas,
anlises de terrenos para futura explorao geolgica, caracterizao
tecnolgica de matrias primas minerais, dentre outras.



8. Referncias.

Bleicher, L.; Sasaki, J.M. Introduo Difrao de Raios X em Cristais.
Universidade Federal do Cear, 2000.
Formoso, M.L.L. Tcnicas Analticas Instrumentais Aplicadas Geologia:
Difratometria de Raios X. Ed. Edgard Blcher, 1985. Formoso, M.L.L.
Tcnicas Analticas Instrumentais Aplicadas Geologia: Difratometria de
Raios X. Ed. Edgard Blcher, 1985.
Dana, J.D.Manual de Mineralogia.Livros tcnicos e Cientficos,Rio de
Janeiro,1978.
www.webmineral.com