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POLARIZAO INDUZIDA FUNDAMENTOS TERICOS

A polarizao induzida um fenmeno fsico eltrico, estimulado pela

transmisso de uma corrente eltrica pulsante e peridica no subsolo, observada como uma
resposta defasada de voltagem nos materiais terrestres (SUMNER, 1976). Quando se injeta
uma corrente primria I P , com uma variao temporal predeterminada, o potencial primrio
V P no se estabelece e nem se anula instantaneamente, quando a corrente emitida e cortada

em pulsos sucessivos, mas atenuada gradualmente com uma constante de tempo da ordem
de segundos, na forma de uma curva V IP t , conhecida na literatura geofsica como curva de
descarga ou transiente ou relaxao. Essa curva liga a assntota V P em regime estacionrio
com a assntota zero, aps o corte da corrente (Figura 3.1).

Ip

Vp
V i p( 0 )

V i p(t)
0

te m p o
Figura 3.1 Formas de ondas usadas no mtodo IP - domnio do tempo, mostrando a corrente
primria IP aplicada, o potencial primrio V P mximo e a curva do
potencial
transiente V IP t , medidas em ensaios de IP (Modificado de SUMNER, 1976).

A deteco e medida deste transiente indicaro a presena de material

polarizvel no subsolo, constituindo-se, portanto, a base do mtodo IP. O mtodo tem sido
usado largamente na prospeco de mineralizaes metlicas disseminadas, especificamente,
sulfetos metlicos como o cobre, nos levantamentos para obras de engenharia civil,
prospeco de gua subterrnea e no mapeamento da cunha salina em zonas costeiras. Nota-

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se, tambm, a diminuio da resistncia eltrica e do decrscimo do potencial, atravs da zona

polarizada, com o aumento da freqncia da corrente aplicada, o qual permite medidas IP em
vrias freqncias. Essas diferentes respostas para cada freqncia, intrnsecas para cada
material, fazem parte das medidas do mtodo IP no domnio da freqncia.
Os mecanismos que do origem ao fenmeno IP so extremamente complexos
e ainda no foram totalmente entendidos, mas so associados a fenmenos fsico-qumicos,
como o de difuso, que ocorre de modo mais notvel quando se trata da interface
metal/eletrlito (DIAS, 1972). Na prospeco mineral, sabe-se que a condio necessria para
a produo desse fenmeno, que as rochas, alm de conter soluo eletroltica em seus
poros, estejam mineralizadas por partculas disseminadas ou que contenham argilo-minerais
disseminados.
Segundo TELFORD et al. (1990), estudo de laboratrio de polarizao
induzida tem estabelecido que a energia qumica armazenada nas rochas, durante o tempo de
fluxo original da corrente, resultado de: (i) variaes entre condutividade inica e eletrnica,
onde minerais metlicos esto presentes; (ii) variaes na mobilidade de ons fluindo atravs
da estrutura da rocha. O primeiro destes efeitos conhecido como polarizao de eletrodo, e
o segundo, como polarizao de membrana.

27

3.1

POLARIZAO DE ELETRODO
Este tipo de polarizao existe quando materiais metlicos (minerais com alta

condutividade eletrnica) esto presentes na rocha, e o fluxo de corrente parcialmente

eletrnico e parcialmente eletroltico.
Nas superfcies limites opostas dos gros minerais, como exemplos, pirita
(FeS2), calcopirita (CuFeS2), pirrotita (FeS), galena (PbS) e os xidos como magnetita
(Fe3O4), ilmenita (FeTiO3), pirolusita (MnO2), cassiterita (SnO2), e tambm a grfita (C), que
bloqueiam os poros das rochas preenchidos por eletrlitos, quando submetidos a uma corrente
eltrica, tem-se a passagem da conduo inica para a eletrnica, e vice-versa, isto , ocorre
uma troca de eltrons nas interfaces mineral-eletrlito. Enquanto uma superfcie recebe
eltrons do eletrlito, a outra cede num efeito conhecido na fsico-qumica como
sobrevoltagem. Isso provoca nas superfcies opostas dos gros minerais concentraes de ons
ctions e ons nions (polarizao eltrica induzida), conforme mostra a Figura 3.2.
S e n ti d o d a c o r r e n te

G r o M in e ra l
C o n d u to r
E l e t r l it o

E l e t r l it o
R ocha

Figura 3.2 Efeito da polarizao de eletrodo no poro da rocha (Modificado de

TELFORD et al, 1990).
Tendo em vista que a velocidade do fluxo de corrente na soluo eletroltica
muito menor do que no mineral metlico, a manuteno dos ons acumulados mantida pela
voltagem externa aplicada na superfcie do solo. Quando a corrente interrompida, os ons
imobilizados difunde-se durante um certo tempo para atingirem o estado de equilbrio que
havia antes da corrente ser transmitida, manifestando assim o efeito IP.
Segundo TELFORD et al.(op. cit.), a magnitude da polarizao de eletrodo
depende da tenso aplicada no solo e da caracterstica do meio. A magnitude varia com a
concentrao mineral, mas visto que um fenmeno de superfcie, deve ser maior quando um
mineral ocorre de forma disseminada do que quando macio. Entretanto, a situao no
to simples assim. O tamanho timo da partcula depende da porosidade da rocha hospedeira

28

e de sua resistividade. O fato das mineralizaes disseminadas darem boa resposta IP uma
importante caracterstica, j que outros mtodos geofsicos no trabalham muito bem nessas
condies.
3.2

POLARIZAO DE MEMBRANA
Este fenmeno ocorre quando partculas de argila, cujas superfcies esto

carregadas negativamente, parcialmente bloqueiam os poros das rochas ou do solo, atraindo

uma nuvem difusa catinica (ons positivos), dispersos na soluo eletroltica presente nos
espaos porosos. formada assim uma dupla camada (Figura 3.3(a)) que exerce um efeito
membrana que permite a passagem de ons ctions, mas no dos ons nions. Esta nuvem
pode estender-se dentro da zona de fluido a uma distncia de cerca de 10 -6 cm. Assim, so
produzidos gradientes de concentrao ou distribuio de polarizao, ocasionando o
impedimento do fluxo de corrente (Figura 3.3(b)). Posteriormente, depois de suprimida a
tenso exterior, esses gradientes de concentrao tardam a desaparecer em um certo tempo, o
que origina, portanto, o efeito IP. Os ons mais comuns adsorvidos em ordem decrescente de
abundncia so Ca++ , Mg++ , H+ , K+ , Na+ e NH3+ (KELLER & FRISCHKNECHT, 1977).
Assim, ao contrrio da polarizao de eletrodo, cujo mecanismo de conduo
da corrente d-se ora eletrnica ora eletroltica, na polarizao de membrana a conduo
eletroltica predominante, sendo a nica forma de conduo onde minerais metlicos no
esto presentes.

29

n u v e m c a ti n ic a s

p o r ta d o r e s d e c a rg a

( a )

e spa o
in te r- p o ro s
zo na de
c o n c e n tra o
d e o n s

p a r tic u la d e a rg ila
c o m c a rg a n e g a tiv a
zona de
d e fic i n c ia
d e o n s

n io n s
b lo q u e a d o s

c tio n s
a tra v e s sa m

( b )

Figura 3.3 Esquema ilustrativo do desenvolvimento de polarizao de membrana no

microporo da rocha contendo mineral de argila. (a) antes da aplicao do campo
eltrico, (b) aps a aplicao do campo eltrico (Modificado de WARD, 1990).
O efeito de polarizao de membrana mais pronunciado na presena de
minerais de argila, nos quais os poros so parcialmente pequenos. A magnitude da
polarizao, contudo, no cresce de forma uniforme com a concentrao de minerais de
argila, mas atinge um mximo e, ento, comea a decrescer. Isto ocorre devido existncia de
uma passagem alternativa no material, onde no ocorre acmulo de cargas. Concentraes
timas

variam para diferentes tipos de argila que fornecem respostas diferentes de

polarizao de membrana, sendo alta para montmorilonita e baixa para caolinita

(VACQUIER, 1957).
KELLER & FRISCHKNET (1966) apud DRASKOVITS et al.(1990) relatam
que detectaram a presena de um pico de IP para diferentes tipos de argilas, em funo de
suas concentraes. Observa-se na Figura 3.4(a) o comportamento da montmorilonita e da
illita. Estas curvas foram computadas com base nos valores conhecidos da capacidade de
troca catinica, em rochas com 20 % de porosidade, e gua intersticial, com 100 ppm de
slidos totais dissolvidos. Na teoria, o bloqueio dos nions pode ser diretamente relacionado
variao da polarizao como uma funo da concentrao de argila. Na Figura 3.4(b),
observam-se os efeitos IP, das diferentes concentraes de argila nos sedimentos arenosos (I),
areno-argilosos (II), argilo-arenosos (III) e argilosos (IV), sendo as respostas IP maiores, em

30

sedimentos arenosos contendo argila, e menores valores IP, em sedimentos constitudos

basicamente de argila.
Pa %
0 .2 5

4 .0

E fe ito IP

0 .2 0

3 .2

2
1

0 .1 5

2 .4
1 .6

0 .1 0

A
C
B

0 .8

0 .0 5

10

15

c l ay (% )

(a )

II

I II

IV

(b )

Figura 3.4 Resultados de vrios estudos de medidas IP (domnio do tempo) em misturas

areia e argila. (a) Resposta IP em funo da percentagem de argila (1) montmorilonita e (2)
illita; (b) Resposta IP para diferentes concentraes de argila nos sedimentos, (I)areia, (II)
areno-argiloso, (III) argilo-arenosos e (IV) argilosos. Curvas A, B e C delimitam,
respectivamente, altos, baixos e mdios valores de polarizabilidades (DRASKOVITS, et al.
1990).
DRASKOVITS et al. (op. cit.) tomando dados de sondagens eltricas verticais
e de perfilagens eltricas IP e eletrorresistividade, ensaiadas na Hungria para prospeco de
guas subterrneas, elaborou um grfico (Figura 3.5) que mostra a correlao entre as
resistividades aparentes e as polarizabilidades aparentes, onde se observam os campos de
concentraes dos sedimentos. Concluram os autores que:
(i)

argilas puras so caracterizadas por baixas resistividades e muito baixa

polarizabilidade;

(ii)

camadas arenosas tm altas resistividades e polarizabilidades intermedirias;

(iii)

camadas siltosas tm alta polarizabilidade e intermedirias resistividades;

(iv)

resposta IP, em camadas com misturas de areia e argila, bem maior que a resposta
em camadas argilosas

31

P o la r iz a b ilid a d e A p a r e n te (% )

10

s i lt e

a r e i a fi n a

a r e ia g r o s s a e
c a s c a lh o
2

a r gila s

20

40

60

80

100

R e s i s t i v id a d e A p a r e n t e ( o h m . m )

Figura 3.5 Associao da resistividade e polarizabilidade aparentes

com a litologia (DRASKOVITS et. al., 1990).
Na prtica, a polarizao de membrana pode fornecer dados suplementares
para distinguir certas rochas, identificar feies estruturais e auxiliar no mapeamento
geolgico. Por outro lado, constitui um "rudo de fundo" na prospeco de minerais metlicos.
3.3

MEDIDA DO EFEITO IP
Para a adequada aplicao do mtodo, tm sido propostos diferentes

parmetros de medidas quantitativas, independentemente da tcnica de leitura, como medidas

IP-domnio do tempo (utilizado e abordado neste trabalho) e IP-domnio da freqncia. No
primeiro modo, as medidas so realizadas aps a interrupo do pulso de corrente, e no
segundo modo, as medidas so feitas enquanto a corrente est ligada.
No mtodo IP-domnio do tempo, transmite-se no terreno, durante um
determinado perodo, uma corrente eltrica contnua, e uma vez interrompida, mede-se o
potencial transiente V IP t em um determinado intervalo de tempo (Figura 3.6).
Os parmetros de medidas IP neste domnio so determinados pela
caracterstica da forma da curva do potencial transiente, podendo ser: percentagem IP, integral
tempo-transiente e cargabilidade (TELFORD et al., 1990). Essa ltima a quantidade mais
comumente usada em medidas IP no domnio do tempo.

32

V (m V )
P o te n c i a l P r im r i o

Vp

Vi p(t)

C o r r e n te L ig a d a

t (se g )

C o r r e n te D e s l ig a d a

Figura 3.6 Curva do potencial transiente V IP t observada aps a interrupo da corrente.

O conceito de cargabilidade como medida IP foi introduzido por SEIGEL
(1959) que postulou: a ao de um campo eltrico primrio
uma densidade de corrente de polarizao
primria

, isto ,

J p m J

Jp

a um meio polarizvel cria

, de sentido oposto densidade de corrente

. O fator de proporcionalidade (m) foi chamado por este autor

de cargabilidade, e uma propriedade do meio que inclui todos os efeitos de polarizao que
depende do intervalo de durao do campo eltrico aplicado ou da voltagem aplicada.
A cargabilidade aparente obtida nos levantamentos IP interpretada
geometricamente (Figura 3.7) como a rea A sob a curva do potencial transiente entre dois
instantes t1 e t2, normalizada pelo potencial primrio, definida como (PARASNIS, 1986):
ma

1
VP

t2

t1

V IP (t ) dt

(Equao 3.1)

Visto que V IP (t ) geralmente muito menor do que V P , tem-se a unidade de medida da

cargabilidade ma, dada em milisegundos (ms).
A normalizao da Equao 3.1 por V P deve-se ao fato de o fenmeno de
decaimento IP ser linear, isto , V IP (t ) e V P so proporcionais intensidade da corrente
transmitida, assim a medida da cargabilidade no depender da corrente. Pela definio
observa-se que a amplitude da cargabilidade depende do intervalo de tempo de integrao,
conhecido como janela.

33

Vp

V ( t 1)
ip

rea
A
0

V ( t 2)
ip

t1

t2

Figura 3.7 Curva do potencial transiente V IP t .

ROY & ELLIOTT (1980) mostram na Figura 3.8, como a magnitude do efeito
IP, medida pela cargabilidade, aumenta com a durao do pulso de corrente, apesar de a curva
no sofrer alterao na sua forma.

2000

R e s is ti v id a d e

a ( o h m . m )

10 00

20
10

C a r g a b ilid a d e

M a (m se g )

1 00

D u ra o
d o P u ls o
d e C o r r e n te
8 segu nd os
4 se gu nd os
2 se gu nd os
1

10

100

10 00

A B /2 (m )

Figura 3.8 Curvas de resistividade e polarizabilidade, onde esto representadas 3 curvas de

IP no saturadas, para diferentes tempos de pulsos de corrente (ROY & ELLIOTT, 1980).
Em suma, a cargabilidade definida anteriormente depende do intervalo de
tempo decorrido entre o corte da corrente e a execuo da medida, e tambm, do intervalo de
integrao (janela de tempo). Portanto, as medidas IP no tm sentido se no forem
especificados esses valores de tempo.

34

A medida do efeito IP pode tambm se definida como (SCINTREX, 1995):

Ma

1
t 2 t1 .V p

t2

t1

VIP t .dt

(Equao 3.2)
onde:
Ma = polarizabilidade aparente em mV/V (PARASNIS, 1986);
t1 = tempo inicial da janela em ms;
t2 = tempo final da janela em ms;
Vp = voltagem primria durante a corrente no estado ligado;
Vip (t) = voltagem transiente medida durante o perodo de integrao (t2 t1) no estado de
corrente desligado.
Uma vantagem durante os ensaios com o mtodo IP-domnio do tempo que,
atravs de modernos equipamentos, podem-se fazer leituras automticas dos parmetros IP e
de resistividade aparente, tendo-se, assim, um ganho de tempo e de custo nos ensaios de
campo.
Ressalta-se que na utilizao de eletrodos metlicos para medidas do potencial (M e
N), o fenmeno da polarizao que ocorre entre estes e o solo (ORELLANA, 1972),
normalmente induz a erros nas leituras do potencial analisado, principalmente, na polarizao
induzida (cargabilidade), na qual os valores so muitos baixos. Visando minimizar estes
efeitos de polarizao do solo, recomenda-se a utilizao de eletrodos impolarizveis do tipo
pote de cermica (figura 3.9), parcialmente saturados, com soluo aquosa de sulfato de
cobre, conectado linha de medio atravs de placas de cobre eletroltico.

Figura 3.9 Eletrodo para ensaios de IP.

35

A soluo de CuSO4, entra em contato com o solo, atravs de uma parte inferior
porosa
do eletrodo. Deste modo, se consegue que essas polarizaes sejam iguais em ambos
eletrodos e se anulem.
Situaes naturais, tais como: depresses acentuadas no terreno, variaes litolgicas,
etc., tambm podem resultar em imprecises nas leituras de campo. Portanto, o centro de uma
SEV deve atender uma melhor aproximao das condies de homogeneidade lateral,
atendendo a teoria dos meios estratificados.