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Resumo
O objetivo deste trabalho foi avaliar a influncia da variao dos parmetros de
soldagem sobre as caractersticas de cordes de solda de ao inoxidvel
depositados em chapas do ao A36 pelos processos SAW e FCAW. Para isto,
utilizou-se a tcnica do planejamento experimental fatorial em dois nveis, tendo
como fatores de controle a tenso de referncia, a velocidade de alimentao do
arame e a velocidade de soldagem. Determinando-se a influncia deste sobre os
valores de diluio, microdureza e microestrutura em diferentes regies dos cordes
de solda. A diluio a variou de 11,61% a 27,01% no processo SAW e de 9,23% a
14,28% no processo FCAW, enquanto que a microestrutura resultante apresentou
uma matriz austentica com ferrita rendilhada e ferrita AF para ambos os processos.
Os valores mdios de microdureza Vickers foram de 211,2 HV para o processo SAW
e 191,6 HV para o FCAW.
Palavras-chave: Revestimentos; Ao inoxidvel; Microestrutura; Processos SAW e
FCAW.
1
Contribuio tcnica ao 67 Congresso ABM - Internacional, 31 de julho a 3 de agosto de 2012,
Rio de Janeiro, RJ, Brasil.
2
Depto. de Eng. Mecnica, Universidade Federal de Campina Grande (UFCG), Paraba, Brasil;
raphael.engmec@gmail.com.
3
Programa de Ps-Graduao em Cincia e Engenharia dos Materiais, UFCG, Paraba, Brasil.
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1 INTRODUO
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2 MATERIAIS E MTODOS
2.1 Consumveis
Neste trabalho foram utilizados como substrato chapas de ao ASTM A36 e como
metal de adio o arame de ao inoxidvel AWS E308-L com dimetro de 1,2 mm. A
Tabela 1 apresenta a composio qumica dos materiais empregados. Como
elemento de proteo foi utilizado um fluxo neutro, bsico e aglomerado, especial
para soldagem de topo e soldagem de revestimento com arames e fitas de ligas de
nquel e ao inoxidvel.
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Tabela 2. Nveis reais e codificados dos fatores em estudo para os processos FCAW e SAW
Nveis
-1 0 +1
Va(m/min) 6,0 6,5 7,0
SAW
Vs(cm/min) 20,0 23,0 26,0
U (volts) 30,0 35,0 40,0
Va(m/min) 8,0 8,5 9,0
FCAW Vs(cm/min) 15,0 20,0 25,0
U (volts) 25,0 27,5 30,0
Figura 2. Representao esquemtica das dimenses geomtricas das sees transversais dos
cordes/revestimentos soldados.(4)
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3 RESULTADOS E DISCUSSO
Para o processo FCAW a diluio (D) variou de 9,23% a 14,28 %, enquanto que
para o processo SAW a diluio variou de 11,07% a 27,01 %. Valores na faixa de
10% a 15% so considerados ideais para revestimentos metlicos aplicados por
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(a) (b)
Figura 4. Relao entre r/L e D(%) para os processos FCAW (a) e SAW (b).
Uma combinao ideal entre estas duas variveis resposta bastante difcil de
obter, uma vez que menores valores de diluio so conseguidos com menores
valores de corrente que conduzem a maiores valores de r/L, quando da manipulao
errnea dos parmetros de soldagem, podendo ser otimizado atravs de tcnicas
como planejamento experimental fatorial e o mtodo Taguchi.
Com os resultados da Tabela 3, foi realizada uma anlise estatstica de varincia e
com isso foi calculado o nvel de significncia dos fatores de controle sobre a
diluio (D). Nveis de significncia menores que 0,05 indicam efeitos
estatisticamente significativos, ou seja, h uma probabilidade de acerto de 95% em
se admitir que este fator de controle esteja influenciando nas variveis de resposta
analisadas. Entretanto optou-se por no ignorar alguns dos efeitos no
estatisticamente significativos, pelo fato de estarem prximos aos estatisticamente
significativos ou manterem influncia fsica sobre o fenmeno que tambm podem
ser considerados importantes. O que bastante aceitvel. Na seleo de variveis
, provavelmente, melhor aceitar o valor de > 0,1 do que deixar algum fator
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Tabela 4. Nvel de significncia dos fatores de controle sobre diluio de ambos os processos
D (%) D (%)
Mdia 0,000023 Mdia 0,000014
U (V) 0,010469 U (V) 0,005946
Va (m/min) 0,277499 Va (m/min) 0,322386
Vs (cm/min) 0,708844 Vs (cm/min) 0,035543
U*Va 0,397979 U*Va 0,992597
FCAW
SAW
U*Vs 0,676474 U*Vs 0,746798
Va*Vs 0,457538 Va*Vs 0,650816
U*Va*Vs 0,781780 U*Va*Vs 0,689162
R 0,924870 R 0,909110
Adj 0,749570 Adj 0,772770
MS Residual 0,726210 MS Residual 5,915530
U*Va; U*Vs; Va*Vs; U*Va*Vs = representam interaes entre os parmetros.
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A Tabela 4 informa que a diluio foi significativamente influenciada pela tenso (U)
e velocidade de alimentao (Va) quando do processo FCAW e tambm foi
significativamente influenciada por estas variveis acrescido da influncia da
velocidade de soldagem quando da soldagem pelo processo SAW. As Figuras 5 e 6
apresentam a influncia dos fatores de controle sobre a diluio.
Figura 5. Influncia da tenso (U) e velocidade de alimentao (Va) na diluio do processo FCAW.
Como pode ser visto nas Figuras 5 e 6, com o aumento da tenso h um aumento
significativo da diluio. Como o aumento da tenso resulta em cordes de solda
mais largos e com pequeno reforo, no sendo, portanto capaz de atuar como
barreira para o arco eltrico, ento, no evitando que a fora deste aja diretamente
sobre a poa de fuso, ocasionando assim um aumento significativo da rea fundida
do metal de base, enquanto que a rea depositada do cordo no afetada
significativamente, resultando em maiores valores de diluio.
Para o processo FCAW Maiores valores da velocidade de alimentao por outro
lado proporcionaram maiores valores de diluio. Tal fato esta alinhado com a
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Figura 7. (a) Perfil de microdureza em HV revestimento SAW9; (b) variao da microdureza no MS.
O revestimento SAW 9 foi aplicado com energia de soldagem 13,13 kJ/cm. A partir
da Figura 7a nota-se que a dureza no metal de solda foi superior quela observada
na ZTA e metal de base. Ainda pode-se notar que a extenso mdia da ZTA foi de
aproximadamente 1,8 mm; a extenso da ZTA est ligada ao tamanho dos gros
grosseiros, logo ZTAs mais extensas apresentam menor tenacidade ao impacto na
interface MS/MB.
Aumentos de 0,5 mm na extenso da ZTA resultam em uma reduo mdia de
390 kJ/m na energia especfica Charpy, quando do entalhe localizado na interface
metal de solda/ZTA de revestimentos de aos inoxidveis temperatura
ambiente.(14)
Na Figura 7b observa-se que para a primeira linha de microdureza h dois pontos
que diferenciaram bastante do comportamento geral do metal de solda. Unindo as
informaes da Figura 7, podemos afirmar que esta discrepncia se deve ao fato
das zonas parcialmente diludas, que ocorrem junto linha de fuso. A Figura 8
apresenta uma micrografia do revestimento SAW 9.
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Figura 8. Micrografia apresentando o metal de solda, zona parcialmente diluda (ZPD) e a ZTA do
revestimento SAW 9. Ampliao: 100x.
Figura 9. Interface MS/ZTA e regio rica em ferrita delta, apresentando ZPD na morfologia de ilhas
(a); Matriz autentica com ferrita euttica e em espinha (b); Mudana na morfologia da ferrita euttica
para ferrita (c). Ampliao: 100x (a) e (b). Ampliao: 200x.
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apresentam valores de dureza maiores que a morfologia do tipo FA, que formada
por austenita + ferrita em espinha ou vermicular, sendo esta ultima a morfologia mais
comumente observada em soldas de aos inoxidveis austenticos.(15)
A partir da Figura 12a notamos que a ZTA se estendeu por aproximadamente 2 mm,
sendo a maior extenso mdia entre os revestimentos do processo SAW. Neste
trabalho, nos revestimentos aplicados ao arco submerso, a ZTA tende a ser mais
extensa quanto menor for a energia de soldagem.
Os valores mais discrepantes de microdureza foram observados na terceira linha de
endentaes. O calor imposto aos dois cordes anteriores pode ter revenido a
microestrutura do metal de solda de tal sorte que os valores de dureza foram
menores que o observado no terceiro cordo (ltimo cordo do revestimento).
Tambm foram observados elevados valores de dureza junto linha de fuso, de
forma semelhante aos demais revestimentos. A Figura 13 indica a ocorrncia de
ZPD junto linha de fuso na morfologia de praias.
Figura 13. Micrografias do revestimento SAW 1. Interface metal de solda/substrato (a); Zona
parcialmente diluda com dureza de 421,7 HV (b). Ampliao: 100x (a); Ampliao: 200x (b).
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Figura 16. Perfil de microdureza em HV para o revestimento FCAW 10 (a); variao da microdureza
no MS (b).
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Figura 17. Metal de solda rico em ferrita (a); Presena de defeito de soldagem junto linha de
fuso do revestimento (b); Presena de zonas parcialmente diludas (c) e praia com estrutura
martensitica (d). Ampliao: 50x (a) e (c); 100 x (b) e (d).
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Figura 18. Micrografia do MS apresentando baixa tendncia formao de ferrita (a); Presena de
ZPDs na morfologia de ilhas e pennsula (b); Presena de ferrita AF no MS (c); Morfologia da
ferrita FA (d). Ampliao: 50x (a) e (b); 100x (c) e 500x (d).
4 CONCLUSES
Para o processo FCAW a diluio foi de cerca de 10%, enquanto que para o
processo SAW esta ficou entorno de 20% indicando a adequao dos
parmetros de soldagem utilizados e que estes foram estatisticamente
significativos, como foi mostrado pelo planejamento experimental;
Para os revestimentos aplicados pelo processo FCAW a condio tima de
aplicao de revestimentos, ou seja, baixa diluio e baixo valor da razo r/L,
foi para a condio CP 3 com tenso de 25 V, velocidade de alimentao de 9
m/min e velocidade de soldagem de 15 cm/min. Para os revestimentos
aplicados pelo processo SAW estas condies foram atendidas pelo
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Agradecimentos
REFERNCIAS
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