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Princpios Da Microscopia Eletrnica - BOM
Princpios Da Microscopia Eletrnica - BOM
Formando um feixe de elétrons.
A figura representa um esquema do sistema óptico. A sua utilização é para produzir um feixe
de elétrons extremamente focalizado, o qual fará uma varredura em toda a superfície da
amostra analisada.
TUBO LINHAR: Fornece um caminho limpo para o feixe de elétrons, e apóia alguns outros dos
elementos ópticos
- Também conhecido como Foco Final, esta lente tem a tarefa de levar o feixe
extremadamente focalizado sobre a amostra
Resposta e Sinais:
As três respostas mais comumente utilizadas são os sinais:
SE - Sensível à topografia.
Informação Topográfica.
Quando o feixe de elétrons atinge a amostra, os elétrons individuais que compõem o feixe de
elétrons interagem de forma complexa com os átomos da amostra.
Interação inelástica significa que o elétron sacrificado perde energia a qual é cedida para o
alvo material. Mas a energia deve ser dissipada. Isto acontece com os elétrons da amostra
ligados mais fracamente (mas vinculados os núcleo) que recebem alguma de essa energia.
Alguns dos elétrons próximo da superfície (são de baixa energia) recebem energia suficiente
para "ferver" e ser ejetados para o espaço, isto aqui são os elétrons secundários.
Em outras palavras:
O elétron incidente colide com um elétron de valência a amostra. Parte da energia é
transferida do elétrons incidente para os elétrons da amostra.
A seguinte figura indica uma imagem obtida através do modo de Elétrons Secundários.
Nestas imagens é mostrado a diferencia de "produndidade de Foco" entre uma imagem obtida
pelo microscópio óptico e uma imagem obtida pelo microscópio eletrônico através do sinal de
elétrons secundários.
Elétrons Retroespalhados
Os Elétrons Retroespalhados (BSE) são elétrons espalhados de maneira elástica.
Energias > 50 eV
Elétrons Retroespalhados são geralmente elétrons incidente ejetados dos átomos da amostra,
com mínima perda de energia cinética
Os BSE são elétrons muitos energéticos e estes são fracamente influenciados pela detecção
dos SE.
Eles não são atraídos para o detector, a detecção depende da energia cinética
intrínseca dos BSE para ativar o detector.
Colisões entre elétrons e núcleos da amostra resulta em grande mudanças de direção (p.ex.,
imaginar bolas de bilhar). Aqui nasce o conceito do chamado "número atômico contraste".
Uma vez que os elétrons atingem o núcleo, e esse salta para trás, o sinal está relacionado
com o número atômico, mas, não pode-se dizer que o elemento é!!!! Para isso é mister usar
EDS.
Imagem de Elétrons Retroespalhados. Imagem BSE de uma amostra preparada por "cross
section". Partes da amostra com maior número atômico médio aparece mais brilhante.Pb é
mais pesado do que Sb, Ba.
Raios-X Característicos.
Raios-X característicos são gerados em um processo de múltiplos passos.
Quando um elétron energético passa perto de um átomo, o seu campo elétrico pode causar
sobre um dos elétrons do nível de caroço ser ejetado de sua órbita. Quando isto acontece, há
uma vaga nessa órbita e um elétron do exterior (mas ainda pertencente ao átomo) irá cair
para essa vaga (transição atômica). Para isso, o elétron exterior deve dar um pouco da
energia sob a forma de um fóton. Quando a vaga acontece nos níveis (ou órbitas) internos tal
que a energia liberada está na ordem dos raios-X, o fóton emitido é chamada de raios-X.
Eles são importantes ferramentas analíticas, devido ao fato que os elétrons estão em órbitas
não-circulais e de forma aleatória em torno do núcleo, mas, mesmo assim, suas órbitas são
fixadas por regras precisas da mecânica quântica, que dá a cada elétron uma energia muito
específica. Assim, quando um elétron de uma camada exterior decai para uma vaga em uma
camada mais interna, desde aqui, a transição atômica emite um fóton também de energia
muito específica, que é única para essa espécie atômica.
Tempo Morto: a percentagem de tempo de detecção não está disponível para processar os
raios-X que se recebem.
Tempo Vivo: o tempo em que os raios-X foram gerados pela amostra e medidos pelo detector
O eixo-x em keV
Algumas transições eletrônicas.
Quanto mais elétrons um átomo tem a mais transições que pode ter lugar!!!
Detectores:
Os três detectores implementados nos PSEM da Aspex são:
Detector de EDS.
Detector de Elétrons Secundários (SED):
É o principal tipo usado para imageamento de rotina em MEV.
-É sempre operado com um detector polarizado positivo de modo a que a baixa energia dos
elétrons secundários são atraídos para ele.
-A influência da topografia local pode inibir ou reforçar o processo de detecção.
Detectores de raios-X
- Esse é basicamente um Diodo.
- O diodo está polarizado inversamente por uma tensão, tipicamente, de várias centenas de
volts (sem corrente)
- Quando atingido por um raio-X, as cargas transportadas são liberadas e uma fraca corrente
flui.
- A amplitude da corrente é diretamente proporcional à energia dos raios-X absorvida.
- O atual pulso "fraco" detectado é amplificado: sua intensidade.
- Cada vez que um raio-X atinge o detector, o circuito dos registros da energia de raios-X, e
conta sua ocorrência em um histograma. Exibição conhecida como "o espectro".
Saturação do Filamento
A temperatura do Filamento é controlada pelo "Filament Drive".
Alinhamento do Canhão.
O modo "source image" deve ser ligado enquanto imagem esteja em um material
condutor.
Se necessário, deve-se mover a abertura do canhão para obter uma mancha brilhante
circular (no ponto de saturação mais eficaz do filamento).