AVALIAO DE MATERIAIS POR TCNICAS DE CARACTERIZAO

Mrcio J. B. Cardoso, Mestrando UFCG/CCT/DEMa. Av. Aprgio Veloso, N 882, Bodocong,Campina Grande - PB, CEP 58109-970 marcioufcg@yahoo.com.br

RESUMO

Palavras Chaves:

ABSTRACT

Keywords:

1. INTRODUO

1.1 Difrao de Raios X - DRX

A tcnica de difrao de raios X tem sido amplamente utilizada para a determinao de fases cristalinas em materiais cermicos. [1]. Os raios X so radiaes eletromagnticas que corresponde a uma faixa do espectro que vai desde 10nm a 0,1nm (ou 1,0 a 100). Nos raios-X, as informaes so geradas pelo

fenmeno fsico da difrao e tambm da interferncia, ou seja, quando os raios incidem sobre um cristal, ocorre a penetrao do raio na rede cristalina, a partir disso, teremos vrias difraes e tambm interferncias construtivas e destrutivas. Os raios X interagiro com os eltrons da rede cristalina e sero difratados. Para se analisar a difrao, basta colocar um dispositivo capaz de captar os raios difratados e traar o espalhamento, ou seja, o desenho da forma da rede cristalina ou estrutura que refletiu e difratou os raios X. Esta uma maneira muito valiosa para determinar e estudar a forma de organizao de um composto, sendo muito ampla e rica [2]. A produo dos raios X formada por dois fenmenos distintos: Espalhamento de Eltrons e Salto Quntico, isso quando um feixe de eltrons acelerados por uma diferena de potencial- ddp (KiloVolt - KV) incidem sobre um certo elemento material que serve de alvo, conforme mostra a Error! Reference source not found. 1.

Figura 1 - Produo de raios-X

Espalhamento dos Eltrons Este fenmeno consiste no encurvamento da trajetria de um eltron incidente sobre um ncleo atmico (normalmente o alvo) provocando a emisso de raios-X. Este encurvamento promove uma desacelerao dos eltrons e, estes convertem

parte de sua energia cintica em radiao fluorescente (raios-X) e calor. Como nem todos os eltrons so desacelerados de forma idntica, a emisso de radiao aparece como um espectro contnuo chamado de radiao branca.

Figura - 1. 1. Espectro de radiao branco dos raios-X

Salto Quntico Quando a diferena de potencial V atinge um valor crtico Vc chamado de potencial de excitao (que depende do elemento ou material do alvo) os eltrons incidentes possuem energia cintica suficientes para, ao colidir com eltrons das camadas mais internas do elemento do alvo, expelirem estes eltrons deixando suas posies vacantes. Eltrons das camadas mais externas do elemento podem preencher estas posies vacantes liberando raios-X. Por exemplo, se um eltron da camada K for retirado, eltrons da camada L, M, N, etc podem preenche-la, emitindo raios X de diferentes comprimentos de ondas bem especficos, conforme mostra a Figura - 1. 2. Uma radiao muito importante para o estudo de raios-X a radiao K , que acontece quando um eletron da camada L preenche uma vacncia na camada K.

Figura - 1. 2. Obteno de radiao K e K

O espectro de raios X produzido desta forma depende do elemento do alvo (material) e chamado de espectro caracterstico. Assim o espectro de raios-X produzido por um difratmetro comercial constitudo por dois espectros superpostos: o espectro contnuo e o caracterstico. Como o comprimento de onda dos Raios-X muito pequeno, a difrao s notvel e importante quando eles so difratados pelos tomos de uma rede cristalina. Na verdade este fenmeno uma superposio complicada de efeitos de espalhamento e de interferncia [4]. No meio cientfico os raios-X so utilizados em diversas reas com vrias finalidades, entre elas na cristalografia, onde se estuda a estrutura interna dos materiais atravs da difrao dos Raios-X [5]. Esquematizando a estrutura peridica dos cristais por planos cristalogrficos, (vide figura 1) tem-se condio de difrao, ou reflexo de Bragg, quando: B r i = = (1.1) e B sin d 2 n = , com n =1,2, (1.2) A equao (1.2) conhecida como a relao de Bragg, onde o comprimento de onda dos ftons; d a distncia interplanar dos planos cristalogrficos; n define a ordem de reflexo (1 ordem, 2 ordem, ). O mximo de difrao de 1 ordem normalmente o mais intenso [5].

Figura 1 - Esquema mostrando os raios incidentes e espalhados por planos cristalogrficos de espaamento d.

Para a classificao dos argilominerais nos principais grupos necessrio o conhecimento da distncia interplanar basal; para isso, as argilas so bem dispersas em gua (com hidrxido de amnio), de modo a formar uma suspenso bem concentrada a esta suspenso espalhada em uma lmina de vidro secada ao ar para orientao preferencial das partculas e conseqente intensificao das reflexes basais ( o mtodo da disperso) [6].

O valor da reflexo 060 utilizado para diferenciar os argilominerais dioctadricos dos trioctadricos, bem como algumas reflexes especiais hkl; essas reflexes, que so pouco intensas quando h orientao preferencial, so mais bem detectadas em espcimes no-orientados, colocados em lminas de vidro com cavidade ou ento em suporte radioativo [7]. O tratamento trmico feito em uma mufla durante duas horas e a lmina resfriada em dessecador para evitar a reidratao e examinada por difrao; at 600C, so usadas lminas de vidro; at 800C, lminas de vicor (slica vtrea) podem ser usadas: acima de 800C, utiliza-se a lmina porosa amorfa de material cermico. A difrao de raios-X feita entre 2 = 2 e 2 = 15 ou at 30 ou 65, se h interesse em pesquisar a presena de certos minerais, como quartzo, feldspatos ou hidrxidos de alumnio e ferro. aconselhvel obter sempre preliminarmente um difratograma entre 2 = 2 e 2 = 65 da argila bruta ou beneficiada para fins comparativos, em lmina de vidro com cavidade. A classificao e identificao so feitas com base nas reflexes basais e os argilominerais so divididos nos grupos seguintes: a) grupo de 7 A; b) minerais de 9,3 A; c) grupo de 10-11 A; d) grupo de 12-15 A; e) minerais de distncia interplanares longas; e f) mistura de grupos[7]. O padro de difrao de Raio-X foi obtido utilizando-se um difratmetro de Raio-X com Radiao Cu-K ( = 1,5418), 40 kV e 30 mA, sendo a velocidade de varredura de 2.0 (deg/min), sob ngulo 2 variando de 2-30 (deg).

1.2 Anlise Trmica

A definio usualmente aceita para anlise trmica foi originalmente proposta pelo Comit de Nomenclatura da Confederao Internacional de Anlises Trmicas (ICTA) sendo, subseqentemente, adotada tanto pela Unio Internacional de Qumica Pura e Aplicada (IUPAC) quanto pela Sociedade Americana de Testes de Materiais (ASTM). Anlise Trmica um termo que abrange um grupo de tcnicas nas quais uma propriedade fsica ou qumica de uma substncia, ou de seus produtos de reao, monitorada em funo do tempo ou temperatura, enquanto a temperatura da amostra, sob uma atmosfera especfica, submetida a uma programao controlada [8].

A Anlise Trmica Diferencial (ATD) foi primeira das tcnicas de anlise trmica utilizadas para caracterizao de materiais e produtos cermicos, por permitir identificar rpida, porm qualitativamente as transformaes trmicas caractersticas de matrias primas e produtos cermicos, atravs dos respectivos picos observados nas curvas ATD, mesmo quando os equipamentos no eram microprocessados. a tcnica na qual a diferena de temperatura entre uma substncia e um material de referncia medida em funo da temperatura enquanto a substncia e o material de referncia so submetidos a uma programao controlada de temperatura. Esta tcnica pode ser descrita tomando como base anlise de um programa de aquecimento. A figura 2 mostra o diagrama do compartimento de DTA no qual so colocados dois cadinhos (da amostra a ser analisada (A) e do material referncia (R)), e dois sensores de temperatura (um sensor em cada cadinho), em um sistema aquecido por apenas uma fonte de calor.

Figura 2 - Diagrama esquemtico do compartimento da amostra na anlise DTA

A amostra e o material de referncia so submetidos mesma programao de aquecimento monitorada pelos sensores de temperatura, geralmente termopares. A referncia pode ser alumina em p, ou simplesmente a cpsula vazia. Ao longo do programa de aquecimento a temperatura da amostra e da referncia se mantm iguais at que ocorra alguma alterao fsica ou qumica na amostra. Se a reao for exotrmica, a amostra ir liberar calor, ficando por um curto perodo de tempo, com uma temperatura maior que a referncia. Do mesmo modo, se a reao for endotrmica a temperatura da amostra ser temporariamente menor que a referncia. Mudanas na amostra tais como fuso, solidificao e cristalizao so ento registradas sob a forma

de picos, sendo a variao na capacidade calorfica da amostra registrada como um deslocamento da linha base. A curva ATD ento registrada tendo a temperatura ou o tempo na abscissa, e V na ordenada. A diferena de temperatura dada em V devido ao uso de termopares em sua medio. A figura 4 ilustra um esquema representativo de um analisador trmico moderno.
Figura 4 Esquema representativo de um analisador trmico moderno

O uso principal da ATD detectar a temperatura inicial dos processos trmicos e qualitativamente caracteriz-los como endotrmico e exotrmico, reversvel ou irreversvel, transio de primeira ordem ou de segunda ordem, etc. Este tipo de informao, bem como sua dependncia em relao a uma atmosfera especifica, faz este mtodo particularmente valioso na determinao de diagramas de fase. a) Variao da capacidade calorfica b) Reao exotrmica c) Reao endotrmica. Aplicaes da ATD: Alvio de tenses; Anlises de copolmeros e blendas; Catlises; Capacidade calorfica; Condutividade trmica; Controle de qualidade; Determinao de pureza; Diagramas de fase; Entalpia das transies;

 Estabilidade trmica e oxidativa; Grau de cristalinidade; Intervalo de fuso; Nucleao; Transio vtrea; Transies mesofase; Taxas de cristalizao e reaes.

1.3

Anlise Qumica: Fluorescncia de Raios x A fluorescncia de raios X uma poderosa tcnica no destrutiva que permite

no s uma anlise qualitativa (identificao dos elementos presentes numa amostra), mas tambm quantitativa, permitindo estabelecer a proporo em que cada elemento se encontra presente. Na fluorescncia de raios X usa-se uma fonte de radiao gama (ou radiao X de elevada energia) para provocar a excitao dos tomos da substncia que pretendemos analisar. Os fotes gama emitidos pela fonte so absorvidos pelos tomos da substncia atravs de efeito fotoelctrico, deixando esses tomos em estados excitados. Com elevada probabilidade, os electres arrancados ao tomo por efeito fotoelctrico situam-se nos nveis mais K ou L. Quando o tomo se desexcita, podemos observar fotes X correspondentes s transies electrnicas L K, MK ou ML. O espectro de energia correspondente a estas transies nico para cada tipo de elemento, permitindo fazer a sua identificao. Foi utilizado para a fluorescncia de raios X modelo EDX-720 da shimadzu figura 3, que possui um sistema de deteco composto por um detector de alta sensibilidade e o sistema de contagem via DSP a deteco de elementos em baixas concentraes se torna mais fcil e precisa. Esta combinao incrementa a sensibilidade do EDX-720 em ate duas vezes comparado ao sistema anterior. Com a sua nova configurao de filtros primrios e software inteligente o EDX-720 capaz de realizar anlises de Na a U em alguns segundos com uma sensibilidade incomparvel.

Caractersticas:

A sensibilidade de Pb e Cd para metais pesados melhora em 2x os novos tipos de filtros e o sistema de alta contagem; A funo de "Reduo do Tempo de Medida" pode ser ajustada automaticamente de acordo com a preciso da anlise desejada pelo usurio; A funo de "Alternando as Curvas de Calibrao" pode ser selecionada automaticamente conforme a curva de calibrao apropriada; Larga cmara de anlise de amostras (300x150mm); O software possui uma variedade de mtodos de parmetros fundamentais (FP) que fornece quantificao no-padro de qualquer tipo de amostra;

Aplicaes

Materiais eletrnicos e veiculares

o

anlise de substncias txicas em componentes eletrnicos em RoHS e ELV

Indstria qumica
o

anlise de catalisadores, pigmentos e tinta

Indstria petroqumica
o

anlise de nquel, vandio e enxofre em leos

Indstria cermica
o

anlise de cermica, cimento e vidro

Medicina, agricultura, alimentos

o

anlise de resduos e impurezas

Materiais magnticos
o

anlise de espessura e composio de filmes

Ferro e ao
o

anlise de metais, ligas e soldas

Anlise do meio-ambiente
o

anlise de solo, gua, cinzas

Acadmico

Alm do mais, a fluorescncia de raios-X tem uma justificvel reputao no que concerne preciso analtica das determinaes, seguida apenas pelas tcnicas de espectrometria de massa. Conseqentemente sempre a tcnica analtica preferida para se analisar elementos principais em rochas, i.e., Na, Mg, Al, Si, P, K, Ca, Ti, Mn e Fe, onde so toleradas incertezas na faixa entre 0,2 a 4% (2) no fechamento. Complementando, a fluorescncia capaz de determinar uma larga faixa de elementos traos at limites de deteco da ordem de ppm., o que, em alguns casos, no pode ser feito por outras tcnicas analticas com a mesma rapidez. Finalmente, embora as anlises por fluorescncia de raios-X estejam sujeitas ao efeito matriz (absoro e reforo), os modelos matemticos para correo destes efeitos esto muito evoludos e calculam os coeficientes com alto grau de preciso. Por estas e outras razes, a maioria dos laboratrios de anlise qumica escolhe a espectrometria de fluorescncia de raios-X para suas anlises de rotina. No entanto, apesar das vantagens citadas anteriormente e das evolues tecnolgicas que incrementaram bastante a tcnica ao longo dos anos (tubos mais poderosos, novos cristais, detetores mais sensveis e softwares de instrumentao altamente desenvolvidos), a tcnica de fluorescncia de raios-X, como toda tcnica analtica, sofre algumas limitaes que no podem deixar de ser pontuadas. A primeira delas diz respeito ao nmero atmico dos elementos analisados e a segunda se refere ao procedimento normalmente usado para calibrao, isto , a comparao com padres semelhantes s amostras e com teores conhecidos. Assim sendo, a tcnica no apresenta performance satisfatria para analisar elementos de baixo nmero atmico (z < Na 11). Em amostras minerais complexas, a limitao ocorre em parte, devido ao nmero limitado de materiais de referncia prprios para anlises das amostras e tambm devido s limitaes de preciso dos modelos para clculo dos coeficientes de matriz. Estas limitaes, no entanto, tm sido superadas, desde a dcada de 1980, com o desenvolvimento de softwares que se utilizam de um velho conceito que trouxe um grande avano tcnica: as anlises chamadas standardless ou anlises semiquantitativas. Apoiada na facilidade que a fluorescncia de raios-X dispe de tratamento de dados e o conhecimento das interferncias espectrais entre os elementos, a anlise semiquantitativa de amostras desconhecidas feita por fluorescncia de raiosX sem o auxlio das curvas de calibrao tradicionais. As anlises qumicas chamadas standardless puderam ser realizadas graas aos novos softwares, baseados nos mtodos matemticos para correo de matriz e criao

de novos conceitos tais como a sensitividade instrumental. A sensitividade instrumental obtida medindo-se algumas amostras-padro onde os teores so conhecidos e expressa pela relao contagem/massa para cada elemento. Uma vez definidas, as amostras-padro podem ser abandonadas, pois a sensitividade instrumental depende exclusivamente do equipamento utilizado e no mais destas amostras. Esta desvinculao com padres semelhantes s amostras a serem analisadas gerou o termo anlise sem padro ou standardless analysis e possibilitou a calibrao dos equipamentos pela sensitividade e no por padres usados na anlise quantitativa tradicional. Este tipo de calibrao instrumental permite determinar inicialmente uma composio aproximada em qualquer tipo de material e o mtodo dos parmetros fundamentais refina estes dados, atravs de um procedimento de clculo iterativo, fornecendo resultados semiquantitativos bastante precisos. Evidentemente, para muitas aplicaes puramente quantitativas, o mtodo clssico e emprico das curvas de calibrao continua sendo muito utilizado, porm, agora, com um nmero relativamente grande de anlises realizadas tambm pelo mtodo sem padro.

1.4 ANLISE GRANULOMTRICA

A definio das condies de operao de um determinado processo de tratamento pode exigir o conhecimento prvio da distribuio de tamanho das partculas a serem processadas. Pode-se dizer que para a maioria dos processos a definio prvia do que se entende por tamanho das partculas importante no s na especificao da finura desejada do produto como tambm no clculo da energia necessria para produzilo. Desta forma, compreende-se que tamanho um parmetro importante, dentro do tratamento de minrios, e sua definio est normalmente relacionada a um critrio. A definio de maior e menor para objetos regulares e de mesma forma, para duas esferas por exemplo, pode ser obtida intuitivamente atravs do critrio volume. Outros critrios que podem ser utilizados so: massa, superfcie, uma determinada dimenso, rea de projeo, entre outros. Quando a definio, contudo, recai em objetos irregulares, como as partculas minerais originadas quase sempre pela fragmentao (quebra), torna-se necessrio a utilizao de um critrio que seja mais adequado. Dois so os critrios mais utilizados para a definio de tamanho em tratamento de minrios:

Passagem /reteno em abertura geomtrica - a definio de maior ou menor passa a ser condio de passar ou no por uma abertura geomtrica; Comportamento em meio fluido (gua ou ar): a definio de maior ou menor passa a ser dada pelo comportamento distinto que diversas partculas possam ter num meio fluido, em funo de seu tamanho e em presena de uma combinao de foras naturais e/ou introduzidas no sistema. O conhecimento da distribuio de um conjunto heterogneo de partculas conhecido como anlise granulomtrica. Dentro do contexto geral do tratamento de minrios a anlise granulomtrica decorre da necessidade de avaliar a distribuio de tamanhos existentes em amostras representativas de materiais in-natura ou produtos de processamento mineral. Ela uma ferramenta importante tanto nos estudos de caracterizao tecnolgica de minrios quanto no controle de qualidade de um produto para comercializao, na seleo de equipamentos ou processos de beneficiamento de minrios. Vrios mtodos foram desenvolvidos com essa finalidade baseados, quase sempre, na similaridade geomtrica ou hidrodinmica das partculas minerais. A tabela 4.3, mostrada a seguir, apresenta os principais mtodos utilizados para anlise granulomtrica e as faixas de tamanho aplicveis a cada um deles. Observe-se neste caso que mtodos aplicveis uma mesma faixa granulomtrica podem no fornecer resultados muito prximos.

Tabela 4.3 - Principais mtodos utilizados para anlise granulomtrica.

MTODO Peneiramento Sub-Peneiramento Microscopia tica Centrifugao Sedimentao (gravitacional) Microscopia Eletrnica

FAIXA DE APLICAO (M) 100.000 37 75 10 50 - 0,25 40 5 40 1 1 0,005

A sedimentao o critrio utilizado em vrios mtodos existentes. Baseia-se na constatao que a velocidade de sedimentao funo do tamanho da partcula. Aplica-se a faixas de tamanho inferiores a 40m e em condies hidrodinmicas determinadas (regime laminar). Alguns mtodos so bastante utilizados como: pipeta de Andreasen, fotosedimentao e sedimentao de raios X, sedimentao em bquer e balana de sedimentao. O dimetro de partculas determinado normalmente pela equao de Stokes, mostrada abaixo: A anlise granulomtrica por peneiramento o mtodo de mais antigo e bastante utilizado na prtica laboratorial, conforme visto na tabela 4.3, para uma ampla faixa de tamanhos. As peneiras utilizadas apresentam uma superfcie de peneiramento (malha) constituda, quase sempre, por fios tranados perpendicularmente de tal maneira a formar aberturas que podem ser quadradas ou retangulares (figura 4.16) sendo as primeiras mais utilizadas na prtica. O nmero de aberturas existentes por polegada linear denominado "mesh". Assim, uma peneira de 35 mesh ter 35 aberturas em 1. usual e conveniente, no entanto, sempre referir-se ao valor da abertura da peneira ao invs de se especificar em termos do conceito de mesh.

2. OBJETIVO

Este trabalho tem por objetivo analisar, identificar e determinar as composies mineralgicas de amostras de argilas, a partir dos termogramas fornecidos pelo professor Heber.

3. RESULTADOS E DISCUSSO

DRX AMOSTRA 1 DRX

Amostra 1
2500

2000

Intensidade (I)

1500

1000

500

10

15

20

25

30

AMOSTRA 1 TABELA DRX

Pico 2 d (A) %

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

8.5600 8.9595 17.8899 19.9701 23.0120 23.9208 25.5986 26.8941 27.9685 29.8400

10.32150 9.86214 4.95416 4.44256 3.86172 3.71703 3.47708 3.31245 3.18760 2.99180

6 68 36 6 4 6 8 100 14 8

EDX AMOSTRA 1 EDX SEM PERDA AO FOGO Analise Resultado SiO2 Al2O3 K2O Fe2O3 MgO 46.460% 38.796% 10.663% 17.60% 13.42% C.line SiKa AlKa K Ka FeKa MgKa Int.(cps/uA) 206.479 105.993 130.330 380.290 0.1558

SO3 TiO2 Rb2O MnO NbO Ga2O3 Cr2O3 ZnO C

0.520% 0.270% 0.092% 0.030% 0.026% 0.014% 0.014% 0.013% 0.000 %

S Ka TiKa RbKa MnKa NbKa GaKa CrKa ZnKa --------

0.5194 15.010 161.949 0.5412 57.389 10.605 0.1639 0.8684 --------

AMOSTRA 1 GRANULOMETRIA

AMOSTRA 1 TABELA GRANULOMETRIA

AMOSTRA 2 DRX

Amostra 2
4500 4000 3500 3000

Intensidade (I)

2500 2000 1500 1000 500 0 -500 0 5 10 15 20 25 30

AMOSTRA 2 TABELA DRX Pico 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 2 8.9340 d (A) 9.89024 % 4 6 100 6 9 4 8 4 3 75 3 5

12.0000 7.36928 12.4439 7.10739 19.9600 4.44478 20.4333 4.34288 20.9400 4.23892 21.3916 4.15044 21.6000 4.11087 23.1924 3.83209 24.9749 3.56248 26.5000 3.36081 26.7514 3.32980

AMOSTRA 2 EDX SEM PERDA AO FOGO Analise SiO2 Al2O3 Resultado 53.062% 45.816% c. Line SiKa AlKa Int.(cps/uA) 223.568 129.721

K2O Fe2O3 Cl RuO2 BaO CaO MnO Ir2O3 PbO SrO Rb2O C

0.589 % 0.298 % 0.067 % 0.053 % 0.047 % 0.021 % 0.017 % 0.012 % 0.010 % 0.004 % 0.003 % 0.000 %

K Ka FeKa ClKa RuKa BaLa CaKa MnKa IrLa PbLb1 SrKa RbKa --------

0.7100 80.626 0.2079 78.385 0.1548 0.0805 0.3795 0.5189 0.6340 10.461 0.7406 --------

AMOSTRA 2 GRANULOMETRIA

AMOSTRA 2 TABELA GRANULOMETRIA

AMOSTRA 3 DRX
Amostra 3
4500 4000 3500 3000

Intensidade (I)

2500 2000 1500 1000 500 0 -500 0 5 10 15 20 25 30

AMOSTRA 3 TABELA DE DRX Pico 1 2 3 2 d (A) % 4 22 100

20.6800 4.29163 20.8640 4.25419 26.6508 3.34214

AMOSTRA 3 TABELA EDX SEM PERDA AO FOGO Analise Resultado SiO2 Al2O3 SO3 Fe2O3 CaO K2O Sm2O3 GeO2 C 96.782% 2.425% 0.353 % 0.148 % 0.147 % 0.091 % 0.048 % 0.005 % 0.000 % c. line SiKa AlKa S Ka FeKa CaKa K Ka SmLa GeKa -------Int.(cps/uA) 634.205 0.7141 0.3211 39.774 0.5611 0.1090 0.4227 0.5570 --------

AMOSTRA 3 GRANULOMETRIA

AMOSTRA 3 TABELA GRANULOMETRIA AMOSTRA 4 DRX AMOSTRA 4 TABELA DRX AMOSTRA 4 EDX SEM PERDA AO FOGO Analise Resultado CaO MgO SiO2 Al2O3 K2O Fe2O3 SO3 SrO Co2O3 ZrO2 C 95252% 2227% 0.895 % 0.837 % 0.378 % 0.243 % 0.112 % 0.043 % 0.011 % 0.002 % 0.000 % c. line CaKa MgKa SiKa AlKa K Ka FeKa S Ka SrKa CoKa ZrKa -------Int.(cps/uA) 1.358.985 0.1808 0.5133 0.1775 18.242 18.816 0.2048 26.821 0.1010 0.1197 --------

AMOSTRA 4 GRANULOMETRIA

AMOSTRA 4 TABELA GRANULOMETRIA

Aps anlise dos difratogramas das amostras obtiveram-se os resultados expostos nas tabelas I e II. Na tabela I foram inseridos os dados para amostra 13,1 e na tabela II os dados para amostra Caulim.PKR. Tabela I Dados obtidos atravs do difratograma da amostra 13,1.

Tabela II - Dados obtidos atravs do difratograma da amostra Caulim.PKR.

2 12,4561 20,9543 24,9756 26,4800 26,7416

N 1 2 3 4 5

d (A) 7,100 4,236 3,562 3,363 3,331

Grupo Caulinita Quartzo Caulinita Caulinita Quartzo

Intensidade 9% 15% 6% 3% 100%

Os dados foram obtidos analisando-se os picos dos difratogramas e utilizando-se a lei de Bragg n = 2.d.sin

para encontrar-se as respectivas distncias interplanares d, a partir da, utilizou-se as tabelas dos difratogramas que encontram-se em P. Souza Santos, Cincia e Tecnologia de Argilas. Atravs da comparao com as tabelas pde-se determinar quais minerais estavam presentes nas amostras. Verificou-se que na amostra de caulim 13,1 estavam presentes caulinita, mica, e quartzo; j na amostra Caulim.PKR estavam presentes apenas caulinita, quartzo.

De acordo, com os termogramas, em anexo, possvel observar as transformaes trmicas que uma determinada argila sofreu com o aquecimento at 1000C. No termograma 1, observou-se, um pequeno pico endotrmico entre 100C e 150C caracterstico da perda de gua lquida e adsorvida. A aproximadamente 500C inicia-se a reao de desidroxilao, que completada a 700C, temperatura essa que revelada pela posio do pico endotrmico bastante intenso correspondente perda de hidroxilas da camada octadrica. A 950C h a presena de um pico exotrmico que antecede de forma mais pronunciado a 980C referente nucleao de cristais da mulita. A presena de um pico exotrmico evidenciando a nucleao de cristais da mulita a 980C devido s transformaes das unidades octadricas distorcidas nas faces para unidades octadricas distorcidas nas arestas. Com

estas informaes, pode-se identificar o termograma como sendo de uma caulinita mal cristalizada. No termograma 2, observou-se um intenso e nico pico endotrmico de perda de gua lquida adsorvida a 150C, que caracterstico de potssio, sdio e csio. Entre 200C e 500C h grande presena de matria orgnica. Entre 500C e 700C h um pico duplo endo-exotrmico, o pico endotrmico caracterstico da perda de hidroxilas estruturais rica em ferro e o pico exotrmico caracterstico da perda de estrutura. At 800C aps a perda de hidroxilas, para uma esmectita dioctadrica a estrutura da mesma preservada e para uma esmectita trioctadrica a estrutura destruda. Acima desse valor houve um segundo pico endo-exotrmico, no qual o primeiro pico endotrmico o da destruio do reticulado cristalino, a mais ou menos 850C e o segundo pico exotrmico o da formao do quartzo-alfa, a mais ou menos 900C. Com todas essas informes o termograma caractertico de uma amostra de montmorilonita. No termograma 3, no houve pico endotrmico entre 100C e 200C, caracterstico da perda de gua adsorvida. Houve uma intensa perda de

hidroxilas a 500C, perda essa que no destri a estrutura das ilitas dioctadricas. E entre 900 e 950C houve um pico duplo endo-

exotrmico,onde o pico endotrmico referente a perda da estrutura cristalina e o pico exotrmico referente a formao da mulita. Este termograma apresentou caractersticas de uma ilita.

Concluso

Os termogramas apresentados foram caractersticos de uma caulinita mal cristalizada, uma montmorilonita e por ltimo de uma ilita. A caulinita mal cristalizada apresenta-se de forma similar a caulinita bem cristalizada, diferencia-se pela presena do pequeno pico endotrmico de perda de gua. A montmorilonita apresenta pico endotrmico intenso, de grandes perdas de gua e grande quantidade de matria orgnica. Enquanto que a ilita, apresenta um pico relativamente pequeno de gua podendo ser confundido com uma caulinita bem cristalizada, mas que difere pela presena do pico duplo endo-exotrmico.

4. Concluso
Atravs dos resultados obtidos pela anlise dos difratogramas das amostras dos caulins 13,1 e Caulim.PKR, chegou-se a concluso que no caso da amostra de

Caulim.PKR tem-se uma caulinita bem cristalizada devido a presena de trs picos pequenos prximos ao pico da caulinita, nos caso da amostra 13,1 temos um caulim com presena alm da caulinita de mica, quartzo.

Referncia Bibliogrfica:
[1] R.B.Leighton, Principles of Modern Physics, McGraw-Hill Book Co., New York (1959). [2] Medeiros M. A. 09 de junho de 2004. [3] Dos Santos, C.A. Raios X: Descoberta casual ou criterioso experimento? Cincia Hoje, 19 (114) 26-35 (1995). [4] W.H.Zachariasen, Theory of X-Ray Diffraction in Crystals, Dover publications, New York (1967). [5] A.F.Craievich, A.R.Rodrigues, Braz. J. Phys. 27, 417 (1997). [6] Bardley,W.F. X-ray diffraction criteria of chloritic material, Clays and Clay Minerals, Nas Publ.327, p.324, 1954. [7] P. Souza Santos, Cincia e Tecnologia de Argilas, S. Paulo, Editora Edgard Blcher Ltda. [8] [10] M. Ionashiro (**) e I. Giolito NOMENCLATURA, PADRES E APRESENTAODOS RESULTADOS EM ANLISE TRMICA.Departamento de Qumica Fundamental Instituto de Qumica da Universidade de So PauloSP. [1] Fonte: http://www.shimadzu.com.br/analitica/produtos/espectrometros/raiosx/eds/edx-720.aspx, acessado em 15 de julho de 2011.