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Relat orio T ecnico Cient co

Greg orio Goudel Azevedo Florian opolis, Fevereiro de 2012

Conte udo
1 Teoria b asica 1.1 Piezeletricidade . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 Atividades Realizadas 2.1 Introdu c ao . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2.2 Dispositivo estudado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3 Determina c ao do coeciente d33 3.1 Introdu c ao . . . . . . . . . . . . 3.2 Instrumenta c ao . . . . . . . . . 3.3 Montagem do experimento . . . 3.4 Procedimento experimental . . 3.5 Resultados . . . . . . . . . . . . 2 2 3 3 3 5 5 6 6 7 7 10 10 10 11 11

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4 Ensaios de repetibilidade com dispositivo 4.1 Introdu c ao . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4.2 Instrumenta c ao . . . . . . . . . . . . . . . 4.3 Montagem do experimento . . . . . . . . . 4.4 Resultados . . . . . . . . . . . . . . . . . .

de . . . . . . . .

xa c ao . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Cap tulo 1

Teoria b asica
1.1 Piezeletricidade

fen omeno da piezeletricidade foi descoberto em 1880 pelos irm aos Curie, eles descobriram que certos cristais apresentam cargas positivas e negativas na superf cie, quando comprimidos em certas dire c oes[1]. O pr oprio radical da palavra piezeletricidade j a pode fornecer uma interpreta c ao desta propriedade em particular, o prexo piezo vem do grego e quer dizer pressionar. Pode-se interpretar ent ao que a piezeletricidade seria a gera c ao de energia ao se pressionar o material, o que de maneira geral, descreve o fen omeno da piezeletricidade. Esse fen omeno e percebido apenas em uma minoria de materiais, a particularidade destes materiais est a no fato de suas estruturas cristalinas n ao apresentarem centro de simetria com rela c ao ` as cargas das bases da rede cristalina. Isso quer dizer que esses materiais, devido a essa assimetria de cargas, apresentam o que seria um dipolo el etrico em suas c elulas cristalinas. Esses dipolos, se alinhados em toda a dimens ao do material permitem que, com a imposi c ao de uma deforma c ao ocorra um rearranjo da rede cristalina, e com isso um rearranjo das cargas, e induzida uma polariza c ao el etrica no material. Basicamente o fen omeno da piezeletricidade pode ser dividido em dois, o efeito direto e o reverso. O efeito direto consiste da mudan ca da polariza c ao el etrica devido ` a imposi c ao de uma deforma c ao, enquanto o efeito reverso e o rec proco, quando e aplicado um campo el etrico externo percebe-se a deforma c ao do material, efeitos ilustrados na Figura 1.1.

Figura 1.1: Efeitos piezel etricos diretos e inversos [2]. Estes comportamentos piezel etricos podem ser descritos termodinamicamente pelas equa c oes constitutivas [3] Tp = cE pq Sq ekp Ek Di = eiq Sq +
S ik Ek

(1.1) (1.2)

Cap tulo 2

Atividades Realizadas
2.1 Introdu c ao

O projeto no qual o bolsista est a envolvido consiste em desenvolver e produzir um prot otipo de aparelho auditivo utilizando preferencialmente materiais piezel etricos nos transdutores. De modo a atingir este objetivo com o menor custo e disperd cio envolvidos, utilizar-se- ao modelos matem aticos capazes de prever o comportamento do prot otipo sem antes mesmo t e-lo produzido. Por em, para a constru c ao deste modelo necessita-se de conhecimento sobre o que ser a simulado, deste modo os primeiros trabalhos realizados para o projeto t em como objetivo obter informa c oes sobre materiais e dispositivos piezel etricos, possibilitando por m ` a valida c ao de um modelo num erico. Para tal foram propostas algumas atividades: Determina c ao do coeciente piezel etrico d33 do dispositivo buzzer. An alize modal do dispositivo buzzer. Ensaios de repetibilidade dos resultados com o dispositivo de xa c ao.

2.2

Dispositivo estudado

O despositivo que ser a objeto de todos os estudos iniciais consiste de um transdutor piezel etrico modelo 7BB-20-6L0 da Murata MFG. CO., com as dimens oes esquematizadas na Figura 2.1.

Figura 2.1: Foto e esquema do dispositivo a ser estudado, com suas dimens oes.

Como pode ser visto, este transdutor em espec co pode ser dividido em tr es partes, um disco com o di ametro maior feito de bronze, um de menor di ametro colado ao anterior, feito de cer amica piezel etrica e um eletrodo, depositado na parte superior e inferior da cer amica. Uma pergunta a ser respondida seria qual a vantagem em utilizar o cer amico juntamente com o 3

metal. Para responder essa pergunta deve-se entender o conceito de frequ encias naturais para todo tipo de estrutura. Tem-se que o dispositivo piezel etrico sozinho possui suas primeiras frequ encias naturais em faixas mais altas, o diafragma met alico tem como fun c ao ent ao introduzir novas formas de vibrar ao sistema, permitindo a escolha das frequ encias naturais desejadas, com a altera c ao da sua geometria. O funcionamento do dispositivo consiste em passar uma corrente alternada pelo material piezel etrico de modo a usufruir do efeito piezel etrico direto, tendo como conseq u encia o movimento din amico do dispositivo. Por em, o movimento realizado pelo transdutor n ao e na dire c ao da espessura ou na dire c ao radial. Como exposto na Figura 2.2, ao se deformar na dire c ao radial o piezo e impedido pelo material met alico o que acaba gerando a ex ao do conjunto.

Figura 2.2: Flex ao do conjunto diafragma-piezel etrico.

O dispositivo em estudo e normalmente utilizado em buzinas, alarmes, jogos, campainhas de telefone, rel ogios entre outras aplica c oes. Essas aplica c oes prezam principalmente pela gera c ao de som em uma faixa de frequ encia estreita, onde e observada a frequ encia natural, pois assim e poss vel obter-se n veis sonoros satisfat orios ao mesmo tempo em que se gasta menos energia para tal. O transdutor descrito acima n ao seria ideal para a gera c ao de som em bandas de frequ encia mais largas, como se esperaria de um alto-falante. Entretanto, como o grupo ainda n ao est a familiarizado com materiais piezel etricos, o estudo desse dispositivo simples trar a resultados importantes. Sendo as principais d uvidas, saber se a resposta na faixa de interesse (20Hz a 6,4kHz) e linear ou n ao e saber qual a capacidade do software COMSOL em prever o comportamento piezel etrico atrav es de uma compara c ao experimental-num erico.

Cap tulo 3

Determina c ao do coeciente d33


3.1 Introdu c ao

Para determina c ao do coeciente piezel etrico existem basicamente dois m etodos,um se utilizando do efeito direto e outro utilizando-se do efeito inverso. Atualmente existem equipamentos capazes de aplicar uma for ca din amica na amostra e medir a carga e induzida nas faces da mesma, calculando assim o coeciente piezel etrico d33 a partir da aplica c ao direta na equa c ao constitutiva. Por em, por n ao dispor deste equipamento, a equipe optou por utilizar uma excita c ao el etrica, por j a possuir experi encia e equipamentos para a medi c ao de respostas mec anicas. Para o c alculo pelo efeito inverso deve-se garantir uma situa c ao em que nenhum tipo de tens ao mec anica esteja atuando sobre a amostra, pois dessa forma pode-se utilizar diretamente a rela c ao [3] d33 = S3 E3 =
T

deslocamento d.d.p.

(3.1)

Por em, com os dispositivos analisados n ao e poss vel utilizar esta rela c ao diretamente, pois se faz necess aria a considera c ao das tens oes induzidas devido a cer amica piezel etrica estar presa ao diafragma met alico. Para tal o grupo encontrou uma rela c ao usualmente utilizada para lmes piezel etricos que fazem considera c oes quanto ao material piezel etrico estar engastado em um substrato [4] , tendo seu movimento restrito na dire c ao radial representada na equa c ao 3.2 d33 = d33 2 d31 sE 13 sE + sE 11 12 (3.2)

sendo d33 o coeciente medido, d33 o coeciente para o sistema n ao engastado, s a compli ancia em tr es diferentes dire c oes, sendo que o coeciente d31 ser a assumido como d33 /2. Por em n ao seria poss vel utilizar essa rela c ao com medi c oes do dispositivo livre. Decidiu-se ent ao por engastar o dispositivo a uma base maci ca com o aux lio de cola, conforme o esquema na Figura 3.1.

Figura 3.1: Colagem da amostra ` a base.

Tabela 3.1: Equipamentos utilizados nos ensaios de determina c ao do coeciente d33 . No Equipamento Modelo Fabricante 1 Vibr ometro a laser OMETRON VH-1000-D Ometron 2 Analisador de sinais PULSE Br uel e Kjr 3 Notebook Toshiba 4 Calibrador de vibra c oes 394C06 PCB

3.2

Instrumenta c ao

Para a realiza c ao do estudo ser a necess ario a montagem de uma bancada com os instrumentos de medida. A Tabela 3.1 mostra os equipamentos utilizados durante o ensaio. Para a realiza c ao do experimento foi utilizado um vibr ometro a laser como instrumento de medi c ao de vibra c oes. Esse equipamento consiste de um emissor de laser e um receptor, que juntos atrav es da t ecnica de interferometria, conseguem medir a velocidade exprimida pelo objeto em an alise. A escolha deste instrumento deve-se principalmente ` a delicadeza do dispositivo a ser analisado, pois ele possui uma massa muito pequena, de modo que com a adi c ao de qualquer outra massa ao sistema, um aceler ometro, por exemplo, ocorreriam altera c oes das formas modais. Entretanto o vibr ometro laser permite que medi c oes sejam realizadas sem que haja contato entre instrumento de medida e o dispositivo de interesse. O segundo equipamento descrito na Tabela 4, o analisador de sinais, tem a fun c ao de captar e processar os sinais el etricos gerados tanto pelo instrumento de medida quanto da fonte de excita c ao durante a realiza c ao do ensaio. Al em disso, o analisador de sinais trabalha em conjunto com o software PULSE LabShop, que permite a realiza c ao de c alculos durante a coleta de dados, sendo uma das principais fun c oes deste conjunto receber o sinal no tempo e atrav es de uma Transformada R apida de Fourier (FFT) , fazer a mudan ca para o dom nio da frequ encia. O NoteBook e respons avel por realizar os c alculos simult aneos com a aux lio do software PULSE LabShop, al em de permitir a visualiza c ao dos resultados durante a realiza c ao das medi c oes, facilitando a possibilidade de aceitar ou rejeitar uma medi c ao. O calibrador de vibra c oes e um equipamento que vibra em uma frequ encia espec ca com uma intensidade espec ca. Permitindo a calibra c ao do equipamento de medida.

3.3

Montagem do experimento

O dispositivo agora e colado a uma estrutura r gida e a medida com o vibr ometro e feita diretamente em cima da cer amica piezel etrica, conforme mostra a Figura 3.2

Figura 3.2: Montagem do experimento de determina c ao de coeciente piezel etrico.

3.4

Procedimento experimental

As medi c oes consistiram em medir FRF entre o sinal do vibr ometro e do sinal enviado, em cinco pontos da amostra, pontos esquematizados na Figura 3.3. Sendo realizadas duas medi c oes em cada ponto para constatar a repetibilidade dos resultados.

Figura 3.3: Esquema de pontos medidos no experimento de determina c ao do coeciente d33.

3.5

Resultados

As Figura 3.4 e Figura 3.6 mostram as curvas de FRF obtidas com o ensaio dos cinco pontos ap os a transforma c ao (m/s)/V olt, para mV olt. O valor direto do coeciente piezel etrico d33 efetivo na frequ encia, na primeira e segunda medi c ao.

Figura 3.4: Resultados da medi c ao 1.

Figura 3.5: Coer encia dos resultados, medida 1.

Figura 3.6: Resultados da medi c ao 2.

Figura 3.7: Coer encia dos resultados, medida 2. Como esperado, os resultados entre pontos n ao apresentaram grandes diferen cas, n ao passando de 30pm/V olt, e a coer encia obtida dos resultados, como mostrado na Figura 3.5 e Figura 3.7, foi considerada boa, n ao sendo menor que 0,95 para a maior parte da faixa de frequ encia analisada, dando cr edito ` as medi c oes. Com os valores obtidos foi feito, para cada ponto analisado, uma m edia da resposta em todas as frequ encias, que podem ser vistas na Tabela 3.2. A m edia das m edias de todos os pontos medidos ser a utilizada para o c alculo do coeciente. Tabela 3.2: Dados obtidos durante experimento. Medida 1- M edias [m/V ] Medida 2- M edias [m/V ] M edia [m/V ] 1.2106e-010 1.2115e-010 1.3509e-010 1.2933e-010 1.2855e-010 1.3109e-010 1.1481e-010 1.1485e-010 1.0667e-010 1.0667e-010 1.2124e-010 1.2062e-010 1.2093e-010

Pontos N E S W C Total

Com o valor efetivo de d33 e poss vel, aplicando ` a Equa c ao 3.3, e levando em considera c ao a simplica c ao proposta, encontrar o valor real da constante piezel etrica. Ser ao utilizados os valoE E 2 2 2 res de compliance [5], sE 13 , s12 , s11 iguais a 16, 4 (pm )/N , 5, 74 (pm )/N e 7, 22 (pm )/N , respectivamente. Como resultado obt em-se:

d33 = 146.08pm/V = d33 2

(d33 )(7.22) 2(16.4 5.74))

= d33 0.677d33

(3.3)

120.93pm/V = 0.323d33 d33 = 374.39pm/V O valor encontrado e condizente com a literatura e inclusive bate com o que vinha sendo usado no valor num erico, por em nos dados num ericos os valores utilizados para o coeciente d31 s ao de 171pC/N , valor n ao condizem com a simplica c ao utilizada para o c alculo acima. Como trabalho posterior cita-se a inclus ao do coeciente d31 no modelo num erico como metade do d33 obtido, ou seja , d31 = 187.2pC/N , e nova valida c ao deste mesmo modelo.

Cap tulo 4

Ensaios de repetibilidade com dispositivo de xa c ao


4.1 Introdu c ao

Para ter conan ca no modelo num erico desenvolvido faz-se necess ario o conhecimento exato das condi c oes de contorno envolvidas. Inicialmente foi considerado que o buzzer estaria completamente livre, por em j a havia a suspeita de que essa condi c ao era fortemente inuenciadas pelos os respons aveis pelo contato el etrico. No sentido de ter conhecimento das exatas condi c oes de contorno foi desenvolvido um dispositivo de xa c ao respons avel por conferir uma condi c ao de engaste ao buzzer. Na Figura 4.1 e poss vel vericar as geometrias deste dispositivo.

Figura 4.1: Geometria do dispositivo constru do. Por em antes de iniciar o modelamento matem atico e preciso antes ter um experimento com repetibilidade, que permita a correta valida c ao do modelo matem atico. Para tal ser a proposto um ensaio simples de repetibilidade com o objetivo de analisar qualitativamente a varia c ao entre medi c oes.

4.2

Instrumenta c ao
A Tabela 4.1 mostra os equipamentos utilizados nas medi c oes para an alise de repetibilidade. Tabela 4.1: Equipamentos utilizados No Equipamento 1 Microfone de Press ao 2 Analisador de sinais 3 Notebook 4 Calibrador Pistonphone nos ensaios de repetibilidade. Modelo Fabricante 40AD G.R.A.S. PULSE Br uel e Kjr Toshiba 42AA G.R.A.S.

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4.3

Montagem do experimento

Para a montagem do experimento utilizou-se um dispositivo no microfone que possibilitou sua conex ao direta ` a um tubo pl astico conectado ` a cavidade do dispositivo de xa c ao, conforme pode ser visto na Figura 4.2.

Figura 4.2: Montagem do dispositivo de xa c ao ao microfone. Ser ao realizadas medi c oes com dois componentes cavidade diferentes, mas com mesma geometria e com duas amostras de buzzers. Utilizou-se uma diferen ca de potencial com intensidade de 1V rms em uma faixa de frequ encia de 0 a 12800Hz, sendo que foram utilizadas para ` a aquisi c ao 6400 linhas e janelas exponenciais para ambos os sinais. Os dados coletados ser ao o medido pelo microfone e o pr oprio sinal gerado pelo PULSE, usado como refer encia. O procedimento do ensaio consistir a em posicionar o buzzer o mais centralizado poss vel no dispositivo de xa c ao, para ent ao xar os oito parafusos, sendo que foi preestabelecida a posi c ao tanto da tampa quanto dos parafusos, de modo a proporcionar a menor varia c ao de engaste.

4.4

Resultados

As Figuras 4.3 e 4.4 abaixo mostram os resultados obtidos com a cavidade 1 e abaixo, nas Figuras 4.5 e 4.6, os dados obtidos com a cavidade 2.

Figura 4.3: Resultados com a cavidade 1 e amostra A.

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Figura 4.4: Resultados com a cavidade 1 e amostra B.

Figura 4.5: Resultados com a cavidade 2 e amostra A.

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Figura 4.6: Resultados com a cavidade 2 e amostra B. Decidiu-se por considerar apenas os primeiros dois picos na quest ao da repetibilidade, pois as altas frequ encias,a menor altera c ao de press ao nos oito parafusos pode representar uma grande altera c ao da resposta, sendo que estes picos representam respectivamente a frequ encia natural da cavidade e a primeira frequ encia natural do buzzer. Como pode ser visto,os resultados obtidos com a cavidade 2 apresentaram menor varia c ao da segunda frequ encia natural do sistema em compara c ao com os obtidos com a cavidade 1, mesmo assim ainda houve uma varia c ao de 100Hz entre a menor e a maior frequ encia medidas. Como trabalhos futuros sugere-se a reconstru c ao do dispositivo de xa c ao, de modo a minimizar ao m aximo as poss veis varia c oes de posicionamento do buzzer sobre a cavidade.

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Bibliograa
[1] Tichy, Jan et al. Fundamentals of Piezoelectric Sensoric. London: Springer, 2010. [2] APC International Ltd. Piezoelectric Ceramics: Principles and Applications. Mackeyville PA, USA : APC International Ltd., 2002. [3] IEEE Satandard on Piezoectricity [4] C. M. Lueng, H. L. W. Chan, C. Surya, and C. L. Choy, Piezoelectric coecient of aluminum nitride and gallium nitride, Journal of Applied Physics 88, 5360 (2000) [5] efunda, http://www.efunda.com/materials/piezo/material data/ matdata output.cfm?Material ID=PZT-5A Acesso: 10 de dezembro de 2011.

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