Desenho Fabricacao Otica - Paraxial

DESENHO E FABRICAO PTICA
Srgio Carlos Zilio

Instituto de Fsica de So Carlos Universidade de So Paulo 2007
Prefcio
Este um texto destinado introduo dos conceitos ligados ao clculo e construo de sistemas pticos de preciso, elaborado para estudantes de fsica ou engenharia. Seu enfoque principal est voltado ptica geomtrica, onde o carter ondulatrio da luz ignorado. Na exposio do material admite-se que o aluno tenha bons conhecimentos de geometria e que possua noes sobre o uso de computadores pessoais, uma vez que eles sero utilizados para clculos de sistemas pticos com um programa comercial. O texto comea fazendo uma apresentao dos conceitos ligados ao traado de raios em sistemas pticos na aproximao paraxial, isto , quando o ngulo que o raio faz com o eixo ptico muito pequeno. Neste caso, aproximaremos o seno do ngulo pelo seu argumento e obteremos a formao de imagens perfeitas, sem aberraes. No captulo seguinte tratamos da propagao dos raios no caso em que o ngulo com o eixo ptico ainda pequeno, mas onde o seno no pode mais ser aproximado pelo seu argumento. Tomando apenas os dois primeiros termos da expanso desta funo (o primeiro fornece a aproximao paraxial), introduziremos as aberraes monocromticas de terceira ordem, tambm conhecidas como aberraes de Seidel. Depois, consideraremos tambm a disperso do ndice de refrao com o comprimento de onda, o que d origem aberrao cromtica, e posteriormente consideraremos a presena simultnea das aberraes geomtricas e cromticas. Finalmente, no que concerne a esta abordagem terica, apresentaremos o caso da propagao dos raios meridionais, onde no se faz nenhuma aproximao da funo seno. Com relao parte prtica do curso, no Cap. 4 introduziremos o uso de um programa comercial para o clculo de sistemas pticos, como fazer para analisar seu desempenho e minimizar suas aberraes. Finalmente, no Cap. 5, apresentamos os detalhes prticos de como se confeccionar um componente ptico de preciso.
ndice
1. ptica geomtrica paraxial

1.1 A aproximao paraxial...........................................................................................1 1.2 Pontos cardeais.........................................................................................................2 1.3 Conveno de sinais.................................................................................................8 1.4 Traado de raios paraxiais......................................................................................10 1.5 O mtodo y-nu........................................................................................................12 1.6 O mtodo y-u-i.......................................................................................................14 1.7 Formalismo matricial.............................................................................................15 1.8 Lentes finas............................................................................................................18 1.9 Combinao de lentes finas....................................................................................21 1.10 Focalizao de um feixe gaussiano......................................................................23 1.11 Ao focalizadora de uma lente fina....................................................................23 1.12 Lentes espessas.....................................................................................................25 1.13 Teorema de Lagrange...........................................................................................27 1.14 Equaes da imagem............................................................................................29 1.15 Conceitos de radiometria......................................................................................30 1.16 Aberturas e pupilas...............................................................................................37 1.17 Alguns exemplos de sistemas pticos..................................................................41 Bibliografia............................................................................................................49 Problemas..............................................................................................................50
2. Aberraes
2.1 Aberraes monocromticas..................................................................................53 2.2 Aberrao de um ponto objeto axial......................................................................57 2.3 Aberrao de um ponto objeto fora do eixo............................................................59 2.4 Aberrao esfrica...................................................................................................62 2.5 Coma......................................................................................................................65 2.6 Astigmatismo..........................................................................................................66 2.7 Curvatura de campo.................................................................................................69 2.8 Distoro................................................................................................................70
ii 2.9 Aberrao cromtica..............................................................................................72 2.10 Vidros pticos.......................................................................................................75 Bibliografia............................................................................................................79 Problemas..............................................................................................................79
3. Traado de raios meridionais

3.1 O mtodo Q-U........................................................................................................81 3.2 Esferocromatismo de um dubleto cimentado.........................................................84 3.3 Aberrao cromtica de um dioptro esfrico.........................................................87 3.4 Aberrao cromtica de uma lente delgada...........................................................89 3.5 Espectro secundrio paraxial.................................................................................91 3.6 Acromatas com lentes delgadas separadas............................................................92 Bibliografia...........................................................................................................94 Problemas..............................................................................................................94
4. Programa OSLO para clculo de desenho ptico

4.1 Introduo..............................................................................................................97 4.2 Entrada de dados..................................................................................................100 4.3 Janela de texto......................................................................................................107 4.4 Janela grfica........................................................................................................111 4.5 Otimizao de uma lente......................................................................................120 4.6 Informaes adicionais.........................................................................................131 Bibliografia.........................................................................................................133 Problemas............................................................................................................133
5. Tcnicas de fabricao ptica

5.1 Introduo............................................................................................................141 5.2 Corte.....................................................................................................................141 5.3 Gerao de superfcie esfrica.............................................................................145 5.4 Lapidao.............................................................................................................148 5.5 Polimento.............................................................................................................154 5.6 Controle de qualidade..........................................................................................162 5.7 Filmes finos..........................................................................................................174 Bibliografia.........................................................................................................182 Problemas............................................................................................................182
ptica geomtrica paraxial
1.1 A aproximao paraxial

A ptica paraxial trata da propagao de luz por um sistema ptico centrado, que consiste de superfcies refratoras ou refletoras com simetria de rotao em torno de um eixo comum, chamado de eixo ptico. Uma lente simples um exemplo de sistema centrado tendo como eixo ptico a linha que intercepta os centros de curvatura das duas superfcies. Uma sucesso de lentes simples tambm um sistema centrado se seus eixos pticos forem coincidentes. Em geral, sistemas que contm superfcies inclinadas no possuem um eixo comum de simetria e no formam um sistema centrado. Sistemas pticos centrados tm a propriedade que um raio passando suficientemente prximo do eixo ptico sempre faz um ngulo de incidncia pequeno com a normal a qualquer superfcie. Tal raio chamado de raio paraxial e sua refrao descrita como veremos adiante, por uma equao mais simples do que a dada pela lei de Snell, escrita como: n sen I = n sen I (1.1) onde n e n so os ndices de refrao para cada lado da superfcie refratora, e I e I so respectivamente os ngulos que os raios incidente e refratado fazem com a normal superfcie refratora. Neste captulo, geralmente especificaremos os ngulos pelas letras I ou U, como tradicionalmente feito em clculos de traado de raios. Neste caso, I o ngulo que o raio faz com a normal superfcie refratora, enquanto que U o ngulo que o raio faz com o eixo ptico. Os raios incidente e refratado definem um plano que chamado de plano de incidncia. De acordo com a lei de refrao, este plano
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tambm contm a normal superfcie no ponto de incidncia. Se o sistema for centrado e se o eixo ptico tambm estiver contido no plano de incidncia, diz-se que o raio um raio meridional; caso contrrio temos um raio sagital (skew ray) que no cruza o eixo ptico, conforme mostra a Fig. 1.1. A lei da reflexo estabelece que o ngulo entre o raio refletido e a normal igual em mdulo e oposto em sinal ao ngulo de incidncia.
objeto
lente
imagem
objeto
lente
imagem
(a) (b) Fig. 1.1 Exemplos de raio meridional (a) e raios sagitais (b). Quando um raio caminha suficientemente prximo do eixo ptico em todos os pontos, o ngulo de incidncia em qualquer superfcie do sistema ser necessariamente pequeno e assim, os senos dos ngulos podem ser satisfatoriamente aproximados pelos prprios ngulos, em radianos. Neste caso, a lei de Snell se torna: n i = n i (1.2) onde o i minsculo usado para denotar o valor paraxial do ngulo real de incidncia I. A simplificao da lei da refrao que obtida substituindose os senos pelos seus argumentos possibilita o desenvolvimento da teoria paraxial de formao de imagem.
1.2 Pontos cardeais

Muitas aproximaes so usadas para predizer as propriedades de formao de imagens de sistemas pticos. Embora sistemas pticos reais formem imagens cuja qualidade depende no s do prprio sistema, mas
tambm das condies de operao, teorias de formao de imagem so normalmente desenvolvidas no contexto da aproximao paraxial por duas razes. Primeiro, os raios paraxiais se propagam de acordo com leis relativamente simples que conduzem a tcnicas diretas para descrever a formao da imagem. Segundo, para a otimizao de um sistema real, a formao da imagem determinada equilibrando ou eliminando as aberraes de forma que os raios reais convergem para o mesmo ponto da imagem que os raios paraxiais. Nesta seo consideraremos a teoria de formao da imagem paraxial desenvolvida por Gauss, que caracteriza sistemas pticos de acordo com vrios pontos especiais, conhecidos como pontos cardeais ou pontos Gaussianos. importante entender inicialmente as definies de espao-objeto e espao-imagem. Espao-objeto refere-se ao espao no qual um raio, ou sua extenso, se propaga antes de chegar ao sistema ptico. Espaoimagem refere-se ao espao no qual um raio, ou sua extenso, se propaga depois de atravessar o sistema. Por conveno, a luz caminha inicialmente da esquerda para a direita. Como mostra a Fig. 1.2(a), se a luz que deixa um objeto atravessa uma lente e converge para a imagem, a imagem dita real. Se luz diverge depois de atravessar a lente, a imagem virtual, como ilustrado na Fig. 1.2(b). Como o objeto e a imagem podem ser reais ou virtuais, o espao-objeto e o espao-imagem podem se estender a ambos os lados da lente.
objeto real imagem virtual
imagem real
objeto real
(a) Fig. 1.2 Formao de imagens real (a) e virtual (b).
(b)
possvel encontrar as propriedades de uma imagem atravs do traado direto do raio paraxial. Por exemplo, se uma lente forma uma imagem de um objeto extenso, podemos selecionar alguns pontos do objeto e traar vrios raios partindo de cada um destes pontos para ver onde eles convergem depois de passar pela lente. Este tipo de abordagem que utiliza vrios raios para se obter a formao da imagem muito
trabalhoso. Porm, como todos os raios paraxiais que deixam um dado ponto do objeto convergem para o mesmo ponto da imagem, basta traar apenas dois raios partindo daquele ponto para determinar a localizao do ponto da imagem onde todos os raios daquele dado ponto do objeto convergem. Considere um conjunto de lentes centradas em algum tipo de suporte que no nos permite observar os elementos reais que esto contidos no sistema, como mostra a Fig. 1.3. Um raio R1 que entra paralelo o eixo ptico, da esquerda para a direita, emergir do sistema e cruzar o eixo ptico em algum ponto F. Este ponto chamado de ponto focal (especificamente, de segundo ponto focal) da lente.
planos principais R1 R2 F f P P f ' (EFL) O O R2 R1 F
Fig. 1.3 Traado de raios num sistema ptico paraxial: pontos principais. Considere agora um segundo raio R2 oriundo de um ponto da esquerda que atravessa a lente e emerge paralelo ao eixo ptico, na mesma altura que R1 entrou no sistema. Isto define o primeiro ponto focal F. Assim, temos dois raios que se interceptam no ponto O do espao-objeto e no ponto O do espao-imagem. Isto implica que O a imagem de O. Como a altura dos raios que entram no sistema arbitrria, temos que o plano que contm O, normal ao eixo ptico, tem sua imagem formada no plano que contm O, tambm normal ao eixo ptico. As intersees destes planos com o eixo ptico so chamadas de pontos principais P e P. O primeiro ponto principal P est no espao-objeto enquanto que o segundo ponto principal P est no espao-imagem, ou seja, P a imagem de P. Alm disso, como O e O so eqidistantes do eixo, a magnificao (ampliao) lateral da imagem unitria. Os planos OP e OP so chamados de planos principais de um sistema ptico e cada um se comporta como se fosse uma superfcie de refrao aparente (onde o raio muda a trajetria).
A distncia entre o primeiro ponto focal e o primeiro ponto principal chamada de primeiro comprimento focal, f, e a distncia entre o segundo ponto principal e o segundo ponto focal chamada de segundo comprimento focal, ou comprimento focal efetivo (effective focal length EFL), ou simplesmente de comprimento focal f. Se os ndices de refrao dos espaos objeto e imagem forem diferentes, o primeiro e o segundo comprimentos focais esto relacionados por:
n n = = f f
(1.5)
onde denominado de poder da lente, como veremos na seo 1.14. Esta grandeza, que possui unidade de dioptria, muito utilizada na rea de oftalmologia (optometria) para caracterizar as lentes usadas nos culos. Por exemplo, uma lente de grau 4 (4 dioptrias), possui uma distncia focal de 0,25 m, no ar (n = 1). O conceito de planos principais muito til para o traado dos raios paraxiais num sistema ptico, mas para sistemas reais, as superfcies de refrao aparente no so planas. Uma condio necessria que uma lente perfeita deve satisfazer que todos os raios de um ponto-objeto atravessem um nico ponto no plano da imagem, independente da altura que os raios incidem sobre a lente. Este tipo de lente livre de coma e chamada de aplantica. Uma lente aplantica obedece condio seno de Abbe:
u sen U = u sen U y sen U
(1.6)
que para raios vindo do infinito (sen U = u = 0) pode ser escrita como:
f =
(1.7)
conforme se pode deduzir fazendo uso da Fig. 1.4. Note que na aproximao paraxial temos f= -y/tgU, como pode ser visto na Fig. 1.3. Para uma lente aplantica, a superfcie efetiva de refrao aparente para raios provenientes do infinito uma esfera centrada no segundo foco, como esquematizado na Fig. 1.4. A maioria das lentes reais se assemelha mais a sistemas aplanticos do que a sistemas paraxiais.
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superfcies principais R1 R2 F f P P y -U R2 R1 F
f ' (EFL)
Fig. 1.4 Traado de raios num sistema ptico aplantico. H outro par de pontos conjugados que de grande importncia na determinao das propriedades de primeira ordem da formao de imagens de um sistema ptico. So os chamados pontos nodais N e N, definidos como pontos conjugados com magnificao angular positiva unitria. Isto significa que os ngulos dos raios incidente e refratado so iguais em mdulo e sinal. Se os ndices de refrao forem os mesmos em ambos os lados do sistema ptico, os pontos nodais so coincidentes com os pontos principais. Porm, se os ndices de refrao forem diferentes nos espao do objeto e da imagem, os pontos nodais estaro deslocados dos pontos principais. Na Fig. 1.5, o raio R2 atravessa o ponto nodal N no espao-objeto e emerge em N no espao-imagem. A distncia entre os pontos nodais igual distancia entre os pontos principais, e pode ainda ser mostrado que FP = NF. Um outro termo, o foco traseiro (back focus), a distncia da ltima superfcie ao plano da imagem. Se o objeto est no infinito, o foco traseiro igual distncia focal traseira (back focal length), mas para conjugados finitos chamado de distncia de trabalho.
ndice de refrao n ndice de refrao n
R2 P F
f
P N N f ' (EFL)
R1 F
Fig. 1.5 Definio dos pontos nodais.
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Os pontos focais, os pontos principais e pontos nodais so chamados de pontos cardeais, ou pontos Gaussianos, de um sistema ptico. O conhecimento das suas posies permite a determinao das propriedades de formao da imagem. Note que os pontos cardeais so definidos em termos da ao do sistema sobre a luz que propaga por ele. No existe nenhuma relao direta entre as posies dos elementos do sistema e a localizao dos pontos cardeais. Assim, importante encontrar alguma quantidade que mea a distncia de um ponto cardeal at alguma superfcie do sistema. A quantidade mais comumente usada para tal uma especificao a distncia focal traseira (back focal length), que definida como a distncia da ltima superfcie ptica ao segundo foco. importante notar que a distncia focal efetiva de um sistema bastante diferente da distncia focal traseira do sistema; s para lentes muito finas elas so aproximadamente iguais. Uma vez conhecidas as posies dos pontos cardeais de um sistema, simples encontrar como ele transforma os raios do espaoobjeto para o espao-imagem. De acordo com a Fig. 1.6, um raio desconhecido entra no primeiro plano principal a uma certa altura e emerge do segundo plano principal mesma altura (porque os planos principais so planos conjugados de ampliao transversal unitria). Para determinar a trajetria do raio que emerge do sistema, podemos usar quaisquer das trs construes de raios descritas a seguir. Primeiro, podemos usar o raio R1, que cruza o raio desconhecido no primeiro plano focal e entra no sistema paralelo ao eixo ptico. Este raio tem que passar pelo segundo foco depois que emergir do sistema, mas como cruza o raio desconhecido no primeiro plano focal, tem que emergir paralelo a ele.
raio desconhecido
F R1 R2 R3
Fig. 1.6 Traado de um raio desconhecido usando os pontos cardeais.
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Segundo, podemos escolher o raio R2, que entra no sistema paralelo ao raio desconhecido, mas passando pelo primeiro foco. Tal raio tem que emergir do sistema paralelo ao eixo ptico. Novamente, como os dois raios entram no sistema paralelos um ao outro, eles tem que se cruzar no segundo plano focal, como mostrado. Terceiro, podemos construir um raio R3 paralelo ao raio desconhecido, atravessando o primeiro ponto nodal do sistema. Tal raio tem que emergir do segundo ponto nodal do sistema com a mesma inclinao. Como o raio entrou no sistema paralelo ao raio desconhecido, os dois raios tm que se cruzar sobre o segundo plano focal.
1.3 Conveno de sinais

Para calcularmos matematicamente a propagao de raios por sistemas pticos necessria a adoo de uma conveno relativa nomenclatura e sinais das variveis. Consideraremos que um sistema ptico pode ser descrito com uma srie de sistemas de coordenadas locais nos quais a direo z coincide com o eixo ptico e aponta para a direita, a direo y aponta para cima, e a direo x aponta para dentro do papel. Desta forma, temos um triedro positivo ( = k ). Cada superfcie do i j sistema descrita num sistema de coordenadas locais para aquela superfcie. Os clculos paraxiais so bastante simplificados pelo fato de no existirem superfcies inclinadas ou descentralizadas, uma vez que estamos trabalhando com sistemas centrados. Assim, a origem de cada sistema de coordenada local est no eixo z do sistema de coordenadas locais prvio. Quando necessrio distinguir uma quantidade em ambos os lados da superfcie refratora, a quantidade no lado do objeto escrita com um smbolo sem linha, enquanto que a quantidade no lado da imagem escrita com um smbolo com linha. Por exemplo, n o ndice de refrao no lado do objeto, e n o ndice de refrao no lado da imagem. Por conveno, a luz entra num sistema ptico pela esquerda, de forma que quantidades no lado esquerdo de uma superfcie esto sem linha e aquelas direita com linha. A notao com linha tambm usada para denotar grandezas conjugadas. Assim, o ponto da imagem que corresponde ao ponto O do objeto O.
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Como vimos, se um raio cruza o eixo ptico de um sistema, ele coplanar ao eixo ptico e o plano definido por eles chamado de plano meridional. Por conveno, o plano yz escolhido como o plano meridional e assim, temos x = 0 para raios meridionais. O raio numa determinada superfcie , portanto, descrito completamente por sua altura, y, e sua inclinao, u. Os raios que tm valores no nulos de x em alguma superfcie so chamados de raios sagitais (skew rays). O sinal de u positivo se o raio estiver subindo (y aumentando) e negativo se estiver descendo (y diminuindo). Note que a definio mais geral de um sistema centrado no implica necessariamente em simetria rotacional em torno do eixo ptico. Por exemplo, superfcies cilndricas podem estar centradas. Porm, na presente discusso, consideraremos apenas sistemas rotacionalmente simtricos (simetria azimutal) e suporemos que todos os pontos do objeto encontram-se sobre o eixo y. Devido simetria rotacional, isto no traz nenhuma perda de generalidade. Uma superfcie esfrica pode ser especificada por seu raio de curvatura, r, ou por sua curvatura c, que definida como o recproco do rdio de curvatura. O raio de curvatura ser positivo se o centro de curvatura estiver direita da superfcie e negativo se estiver esquerda. A distncia entre duas superfcies chamada de espessura t do espao separando as duas superfcies. Num sistema contendo vrias superfcies, os parmetros que especificam o sistema possuem subscritos para identific-los com uma superfcie particular. Assim, parmetros da superfcie, como curvaturas, possuem subscritos com o nmero de superfcie qual eles pertencem. J os parmetros ligados ao espao entre superfcies, como espessuras e ndices de refrao, possuem tanto subscritos e linhas para indicar a superfcie com que eles so associados. Isto resulta numa tautologia na qual a mesma quantidade fsica pode ser descrita por dois smbolos. Por exemplo, a espessura que separa a superfcie atual da prxima pode ser designada ou como t na superfcie atual ou t na prxima superfcie. Em programas de clculo de desenho ptico, a espessura associada com uma determinada superfcie chamada TH, que corresponde a t. A Fig. 1.7 ilustra os parmetros que descrevem um sistema ptico para o traado de raios paraxiais. Note que todas as superfcies foram substitudas por planos tangentes aos seus vrtices. Embora tenham sido dados os subscritos j e j-1 a todos os parmetros da figura para identificS. C. Zilio Desenho e Fabricao ptica
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los claramente com a superfcie a que se referem, normalmente eliminamos o subscrito j em casos onde est claro que ele deveria estar presente. Por exemplo, y=yj y-1 = y j-1 yj-1, uj-1 yj-1, uj-1 t'j-1 = tj nj-1
superfcie j-1
(1.8)
yj, uj
yj, uj
n'j-1 = nj
superfcie j
n'j
Fig. 1.7 Parmetros que descrevem uma sucesso de superfcies pticas.
1.4 Traado de raios paraxiais

O traado de raios paraxiais um assunto que tem sido muito estudado durante as ltimas dcadas. Vrias tcnicas eficientes foram desenvolvidas para executar os clculos necessrios. Nas sees seguintes consideraremos trs mtodos que so de uso comum: os mtodos y-nu, yu-i e o mtodo matricial. O mtodo y-nu o mais eficiente dos trs e extensivamente usado para clculos manuais. O mtodo y-u-i requer alguns passos a mais, mas gera os ngulos paraxiais de incidncia durante o traado e provavelmente o mtodo mais comumente usado em programas de computao. Considere a propagao de um raio paraxial por um sistema ptico. Para tal raio, a inclinao infinitesimal, de forma que o ngulo (em radianos) que o raio faz com o eixo e a tangente daquele ngulo (i.e., a inclinao) a mesma. Assim, com base na Fig. 1.7 podemos escrever:
u= y y 1 t
(1.9)
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onde o subscrito j foi omitido, como descrito anteriormente. Esta equao pode ser re-escrita para dar a equao de translao dos raios paraxiais de uma superfcie at a prxima:
y = y 1 + tu
(1.10)
A equao de refrao pode ser derivada com referncia Fig. 1.8, de onde vemos que:
I= U+ I' = U '+
(1.11)
U y
U r =1/c
Fig. 1.8 Refrao por uma superfcie esfrica. onde o ngulo que a normal superfcie faz com o eixo tico, enquanto que U e Uso os o ngulos que os raios incidente e refratado fazem com o eixo tico. No limite paraxial, estes ngulos so aproximadamente iguais aos seus senos ou tangentes, e assim podemos escrever:
y + u = yc + u r y i' = + u ' = yc + u ' r i=
(1.12)
Ainda no limite paraxial, vimos que a lei de refrao pode ser escrita como: n i = ni de forma que,
(1.13)
12
u' =
nu y n'
(1.14)
onde = c(n-n) chamado de poder da superfcie. Esta a equao da refrao paraxial, que d a inclinao de um raio que emerge de uma superfcie com poder em termos da altura e inclinao do raio incidente. A aplicao seqencial das equaes de translao e refrao paraxiais permite o traado de qualquer raio paraxial por um sistema ptico. Todos os mtodos de traado de raios discutidos nas prximas sees esto baseados nestas equaes ou em algumas variaes simples. Antes de concluirmos esta seo, importante salientarmos o fato que durante a translao o ngulo u constante, enquanto que na refrao, a altura y do raio no muda.
1.5 O mtodo y-nu

O modo mais eficiente para traar raios paraxiais mo o mtodo denominado de y-nu. Este mtodo utiliza uma planilha formatada para efetuar clculos repetitivos de alturas e inclinaes de raios paraxiais usando uma forma derivada das equaes de traado de raio vistas na seo anterior. Para traar um raio pelo mtodo y-nu, a equao de refrao escrita na forma:
n ' u ' = nu y
(1.15)
e a equao de translao escrita como:

t y = y 1 + ( nu ) n
(1.16)
Como nu igual a nu da superfcie anterior, as quantidades y e nu calculadas em dada etapa do traado so usadas como entrada para a prxima fase. Por exemplo, determinado y e nu na primeira superfcie do sistema, usa-se a equao de refrao para calcular nu nesta superfcie. Esta quantidade usada, junto com y, para calcular a altura do raio na segunda superfcie, usando a equao de translao. O processo se repete com o uso das equaes de refrao e translao na segunda superfcie. Como exemplo, calcularemos o traado de um raio que entra numa lente paralelo ao eixo ptico (u=0) a uma altura Y. Suporemos que os raios de curvatura das superfcies e a espessura da lente sejam dados
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respectivamente por r1, r2 e t. Usando as equaes (1.15) e (1.16) podemos montar a planilha abaixo, onde 1 e 2 so respectivamente os poderes das superfcies 1 e 2. Note que na refrao a altura y no muda enquanto que na translao nu constante. Tabela 1 Planilha de clculo para um raio paralelo ao eixo ptico entrando
numa lente a uma altura Y.
condies iniciais
refrao na superfcie 1
translao t n Y(1-1t/n) -Y1
refrao na superfcie 2
y nu Y 0
t n
1 = c1(n-1)
Y -Y1
2 = c2(1-n)
Y(1-1t/n) -Y(1+2-12t/n)
Este exemplo foi feito de uma forma algbrica porque queremos encontrar a expresso da distncia focal traseira da lente. No caso de clculos numricos, a determinao dos parmetros do raio bastante simples, bastando para isto manipularmos os elementos da planilha de maneira a seguir as equaes (1.15) e (1.16). Um clculo deste tipo ser deixado como exerccio no final do captulo. Como pode ser visto na ltima coluna da planilha de clculo, o raio deixa a lente a uma altura Y(1-1t/n), fazendo um ngulo -Y(1+212t/n) com o eixo ptico. Podemos calcular a distncia focal traseira da lente aplicando a equao da translao para uma distncia fBFL na qual o raio cruza o eixo ptico. O uso da eq. (1.16) leva a:
1 1 (n 1) t + n r1 r2 1 = (n 1) r1 r2 f BFL (n 1) t 1 n r1
(1.17)
No caso de uma lente delgada, a espessura pode ser desprezada (t 0) e o foco dado pela tradicional equao do fabricante de lentes:
1 = (n 1) 1 1 f r1 r2
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(1.18)
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O mtodo y-nu pode ser usado para outros propsitos alm do clculo direto do traado de raios para um determinado sistema. Um dos mais importantes sintetizar um sistema tendo certas propriedades desejadas. Neste caso, fornecemos os dados do raio (altura e inclinao), ao invs dos parmetros da lente, sendo estes determinados a partir dos dados do raio. Este modo de especificar os parmetros de uma lente, pelo conhecimento do caminho dos raios paraxiais, muito comum em programas de computao para desenho ptico. Dois mtodos para a especificao dos parmetros de uma lente so mais comumente usados. O primeiro chamado de soluo pelo ngulo (angle solve), que determina a curvatura de uma superfcie a partir do ngulo de um raio depois da refrao. Por exemplo, suponha que traamos um raio at a j-sima superfcie e nela conhecemos y e nu. Se queremos que o raio saia da superfcie com uma inclinao u, ento, de acordo com a eq. (1.15) da refrao paraxial, a curvatura da superfcie tem que ser:
c= n ' u ' nu y(n n ' )
(1.19)
O segundo tipo de especificao que de uso comum a soluo pela altura (heigth solve), na qual a espessura no lado da imagem de uma superfcie especificada pela altura de um raio na prxima superfcie. De acordo com a eq. (1.16) da translao paraxial, a espessura a ser determinada :
t= y y 1 u
(1.20)
onde y dado, e y-1 da superfcie prvia e u so conhecidos.
1.6 O mtodo y-u-i

Um mtodo alternativo para traar o raio paraxial, chamado de mtodo y-u-i, usa as seguintes equaes que podem ser derivadas diretamente das equaes da refrao paraxial e da translao:
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y = y 1 + tu i = u + yc n u ' = u + 1 i n'
(1.21)
Embora sejam usadas trs equaes (ao invs de duas) para o traado de um raio atravs de uma superfcie, a quantidade i necessria para calcular as contribuies de aberrao da superfcie e assim o trabalho adicional produz dados teis. Na realidade, se as aberraes do sistema precisam ser calculadas, o mtodo y-u-i de fato mais eficiente que o mtodo y-nu. Como veremos posteriormente, necessrio traar dois raios paraxiais (os raios axial e principal) para caracterizar completamente um sistema. Neste texto, a altura e a inclinao do raio axial (aquele que parte do centro do objeto e passa pela borda da lente) so indicados por ya, ua, enquanto que a altura e a inclinao do raio principal (aquele que parte da borda do objeto e passa pelo centro da lente) so yb, ub. A maioria dos programas de desenho ptico usa PY, PU e PI para indicar a altura, inclinao (relativa ao eixo ptico) e ngulo de incidncia (relativo normal) do raio axial (raio a), e PYC, PUC e PIC para indicar dados correspondentes para o raio principal (raio b). Neste caso, a letra C corresponde a chief (principal).
1.7 Formalismo matricial

possvel escrever as equaes para o traado do raio paraxial na forma matricial, que uma abordagem adequada para descrever sistemas que incluem muitos elementos pticos, j que o efeito do conjunto pode ser encontrado atravs de multiplicao de matrizes. tambm de muita importncia na descrio da propagao de feixes gaussianos e clculos de cavidades ressonantes para lasers, como veremos posteriormente. Como vimos nas sees precedentes, existem relaes lineares entre as caractersticas geomtricas dos raios (altura e inclinao) quando eles refratam numa superfcie ou transladam de uma superfcie at a prxima. Estas relaes podem ser escritas na forma matricial como veremos a seguir. De acordo com a Fig. 1.7, quando um raio translada da superfcie j-1 at a superfcie j, a altura muda, mas a inclinao permanece constante.
16
Usando este fato, juntamente com a eq. (1.16) do mtodo y-nu, podemos escrever: t j1 .(n j1 u j1 ) (1.22a) y j = 1 .y j1 + n j1
n j u j = 0 .y j1 + 1 . (n j1 u j1 )
(1.22b)
Estas equaes podem ser expressas atravs de produto de matrizes como:
t j-1 y j1 y j 1 n j-1 = n u j j 0 1 n j1 u j1
ou esquematicamente como Rj = Tj-1 Rj-1, onde:
(1.23)
t j-1 1 1 n j-1 = Tj = T j1 = 1 0 0
tj nj 1
(1.24)
a matriz que translada o raio entre as superfcies j e j-1, separadas por uma espessura tj-1 = tj, num meio com ndice de refrao nj-1= nj, conforme esboado na Fig. 1.7. Analogamente translao, podemos encontrar uma matriz que descreve a refrao de um raio por uma superfcie de poder j. Neste caso, usamos as equaes para a refrao que sabemos ser:
y j = 1 .y j + 0 .(n j u j ) n j u j = j .y j + 1 . (n j u j )
(1.25a) (1.25b)
Estas equaes podem ser colocadas na forma matricial como:
0 yj y j 1 = n u - 1 n u j j j j j
(1.26)
ou esquematicamente como Rj = Rj Rj, onde a matriz de refrao dada por:

17
1 Rj = - j
1 0 = n -1 1 rj
0 1
(1.27)
A aplicao sucessiva das matrizes de refrao e translao permite o traado de raios atravs de um sistema ptico. Se conhecermos os parmetros do raio na superfcie 1, aps a refrao na superfcie k temos Rk = Mk1 R1, onde a matriz de transferncia dada por:
A k1 M k1 = C k1
B k1 = R k Tk ......R 2 T2 R 1 D k1
(1.28)
Vemos que a ordem do produto das matrizes tal que os ndices mais baixos esto direita, pois atuam primeiro no raio. As quantidades A, B, C e D so chamadas de constantes Gaussianas do sistema e a matriz de transferncia conhecida como matriz ABCD. A razo principal de se usar o formalismo matricial na ptica paraxial a de fornecer uma formulao compacta para a descrio das propriedades de transformao de um sistema ptico. Uma propriedade interessante das matrizes de refrao e translao que elas so unitrias, isto , |R| = |T| = 1. Desta forma, como o produto de matrizes unitrias resulta numa matriz de transferncia unitria, temos AD-BC=1. Como exemplo da aplicao do formalismo matricial, vamos refazer o caso de um raio que entra numa lente paralelo ao eixo ptico (u=0) a uma altura Y. Novamente, os raios de curvatura das superfcies e a espessura da lente so dados respectivamente por r1, r2 e t. A matriz de transferncia da lente dada por:
1 0 1 M= - 1 2 0
t t 1 0 1 1 n = n 1 1 - (1 + 2 - 1 2 t ) 1 n (1.29) t 1 2 n t n
A transformao do raio incidente ao passar pela lente obtida a partir de:
S. C. Zilio
18
y A = nu C
B Y AY = D 0 CY
(1.30)
que resulta em y = Y(1-1t/n) e nu = u= -Y(1+2-12t/n), de acordo com o resultado encontrado com o mtodo y-nu. Para encontrarmos a distncia focal traseira aplicamos a matriz de translao sobre o raio que deixa a lente, obrigando que ele cruze o eixo ptico a uma distncia fBFL da superfcie 2. Assim temos:
0 1 = u 0 f BFL 1 AY AY + f BFL CY CY = CY
(1.31)
Igualando a primeira linha das matrizes encontramos fBFL dado pela eq. (1.17). Um caso particular importante da matriz de transferncia dada pela eq. (1.28) o da lente delgada, onde t 0. Neste caso, M se torna:
0 1 1 M= = - ( + ) 1 - 1 f 1 2
onde
0 1
(1.32)
1 1 1 = 1 + 2 = (n 1) a equao do fabricante de lentes. r r f 1 2
1.8 Lentes finas

Nesta seo vamos apresentar algumas propriedades das lentes, dando nfase especial s lentes finas ou delgadas. Uma lente classificada como fina quando sua espessura for muito menor que a distncia focal. Existem vrios tipos de lentes cuja denominao depende de sua forma geomtrica, como mostra a Fig. 1.9. Vamos nos ater apenas s lentes de superfcies esfricas, embora outras simetrias (cilndrica, parablica, elptica, etc.) sejam hoje em dia de uso comum. De acordo com o que veremos na seo 1.14, a formao de imagens por uma lente fina obedece a uma equao simples:
S. C. Zilio
19
1 1 1 = + f s s
(1.33)
onde f a distncia focal, s e s so respectivamente as distncias lenteobjeto e lente-imagem. importante para o fabricante de lentes saber como os raios de curvatura das superfcies esfricas e o ndice de refrao do vidro determinam a distncia focal da lente. Esta informao, como vimos, dada pela eq. (1.18) no caso das lentes finas. Uma outra forma de apresentar a equao do fabricante de lentes com o sinal positivo na frente de 1/r2, porm neste caso a definio do sinal r outra: r positivo se a superfcie for convexa e negativo se for cncava.
biconvexa
bicncava
planoconvexa
planocncava
menisco convexo
menisco cncavo
Fig. 1.9 - Sees transversais de algumas lentes finas de simetria esfrica. Uma propriedade importante da formao de imagens por uma lente ou espelho o parmetro denominado de aumento, ou magnificao, que caracteriza o tamanho da imagem em relao ao objeto. De acordo com a Fig. 1.10, podemos definir a magnificao transversal como:
S. C. Zilio
20
h dxo F s xo f f F s xo
dxo h
Fig. 1.10 - Formao de imagens por uma lente convergente.
mT
x h' s f = = 0 = h s f x0
(1.34)
onde as trs ltimas igualdades so facilmente determinadas usando-se geometria elementar. Se mT > 1, teremos um aumento da imagem em relao ao objeto; se mT < 1, teremos diminuio da imagem. Os sinais negativos tm origem na definio dos sinais de s, s, x0 e x0, e no caso em que mT < 0, significa que a imagem est invertida. Podemos definir tambm a magnificao longitudinal da imagem como: dx (1.35) mL = 0 dx 0 Para relacionarmos mL com mT tomamos a equao de formao de imagens (1.33), com s = f + x0 e s = f + x0, de onde obtemos a forma Newtoniana da equao da lente:
x 0 x = f 2 0 Desta expresso encontramos:
(1.36)
mL =
f2 2 = m T 2 x0
(1.37)
Evidentemente, mL < 0, o que implica que se dx0 > 0 teremos dx0< 0, ou seja, se o objeto for um dedo apontado para a lente, a imagem ser a de um dedo se afastando da lente.
21
1.9 Combinao de lentes finas

Quando vrias lentes finas so colocadas bem prximas (em contato), a distncia focal combinada do conjunto pode ser expressa como: 1 1 1 1 = + + + ... (1.38) f f1 f 2 f 3 onde fi a distncia focal da i-sima lente. Esta equao facilmente obtida multiplicando-se as matrizes das lentes delgadas, que deduzimos na seo 1.7. Por outro lado, no caso em que duas lentes finas, de distncias focais f1 e f2, esto separadas de uma distncia d, como mostrado na Fig. 1.11, a matriz que descreve o conjunto :
f1 H f2
F f
P d
(a)
d1 f1 H f2
P d f
(b)
d2
Fig. 1.11 - Associao de duas lentes separadas por uma distncia d. O traado
dos raios est descrito no texto.
S. C. Zilio
22
Mc =
onde o foco efetivo dado por:
11 f
d f1
d d 1- f2
(1.39)
1 1 1 d = + f f 1 f 2 f 1f 2
(1.40)
Para entendermos um pouco melhor como funciona este sistema, vamos considerar um raio de luz que sai do foco efetivo, F, atravessa o conjunto e se torna paralelo ao eixo ptico como mostra a Fig. 1.11(a). Se traarmos os prolongamentos dos raios que sai de F e aquele paralelo ao eixo, eles se interceptaro sobre o plano H, que como vimos, chamado de primeiro plano principal. Qualquer outro raio saindo do foco com um ngulo diferente daquele mostrado, produzir uma interseco com o correspondente raio paralelo ao eixo ptico em algum ponto do plano principal. Para efeitos prticos, como se houvesse uma lente de distncia focal f localizada neste plano. O raio que chega lente f1 caracterizado por uma altura y1 e por um ngulo u1 = y1 /(f-d1), onde d1 a distncia do plano principal lente f1. O raio que sai da lente f2 caracterizado pelos parmetros y2 = y1 + d1 u1 e u2 = 0. Usando o formalismo matricial, onde a matriz Mc dada em (1.39) aplicada ao raio incidente, temos:
y2 = 0
11 f
d f1
d y1 d 1u f2 1
(1.41)
de onde obtemos a distncia do primeiro plano principal lente f1:

f d1 = d f 2 (1.42a)
S. C. Zilio
23
Procedendo da mesma forma para o raio mostrado na Fig. 1.11(b), encontramos que a distncia do segundo plano principal H lente f2 dada por: f d2 = d (1.421b) f 1 A eq. (1.33) de formao de imagens continua vlida, mas s a distncia entre o objeto e o plano primrio e s entre a imagem e o plano secundrio.
1.10 Focalizao de um feixe gaussiano

Ao incidirmos um feixe de luz colimada (s = ) sobre uma lente de distncia focal f, sabemos que o feixe ser focalizado no plano focal (s= f). Uma pergunta que podemos fazer sobre o dimetro da mancha focal. De acordo com o que vimos com respeito magnificao transversal, o tamanho desta mancha deveria ser nulo, pois s = . Entretanto, um formalismo mais completo, que leva em conta a natureza ondulatria da luz e o perfil gaussiano do feixe, prediz que a mancha focal tem um raio da ordem de: 2f (1.43) w ~ D
onde D o dimetro do feixe na lente, w o raio da mancha focal, chamado de disco de Airy, e o comprimento de onda da luz. Este efeito est associado ao fenmeno de difrao e aparece naturalmente da soluo da equao de ondas eletromagnticas em meios com simetria cilndrica. Assim, quanto menor , mais focalizada ser a luz. Este detalhe muito importante para a fotolitografia, onde para se conseguir altssima integrao, deve-se utilizar luz ultra-violeta, geralmente conseguida atravs de um laser do tipo excimer.
1.11 Ao focalizadora de uma lente fina

Levando em conta a natureza ondulatria da luz, podemos explicar como se processa o efeito de focalizao produzido por uma lente fina de ndice de refrao n. Consideremos uma onda colimada que se propaga
24
para a direita e incide sobre uma lente compreendida entre dois planos muito prximos como apresentado na Fig. 1.12. Esta onda plana, que se encontra discutida nos livros de ptica ondulatria, caracterizada por uma fase espacial dada por = kz, onde z direo de propagao e k = 2/. Ao atravessar a lente, haver uma mudana de fase da onda, que depende da distncia r, relativa ao centro da lente. Tal mudana dada por = k0(r), onde k0 o vetor de propagao no vcuo e (r) o caminho ptico, definido como o produto do ndice de refrao pela distncia percorrida pela luz. Com base na Fig. 1.12, e denominando de t a espessura da lente, encontramos que o caminho ptico entre os planos 1 e 2 dado por: (r) = n0 (t1+t2) + n (t- t1-t2) = nt (n-n0) (t1+t2) (1.44)
onde n0 o ndice de refrao do ar, que doravante tomaremos como unitrio (n0 =1). As distncias t1 e t2 entre a lente e os planos 1 e 2 podem ser calculadas atravs de argumentos geomtricos, levando em conta que cada superfcie da lente tem formato esfrico. Assim, para a primeira superfcie, (1.45) r12 = x2 + y2 + z2 = r2 + (r1- t1)2 onde r = x 2 + y 2 a coordenada transversal a z. Desenvolvendo o quadrado e supondo que t1 muito menor que r1 e r, obtemos:
t1 t2 superfcie equifase
t C2 r2 C1 r1 F
Fig. 1.12 Geometria utilizada para o clculo da mudana de fase de uma onda
plana aps a passagem por uma lente fina.
S. C. Zilio

r2 2r1
25
t1
(1.46a)
Esta aproximao corresponde aproximao paraxial que discutimos no incio do captulo. Procedendo de forma anloga para a superfcie de raio r2, que tem sinal negativo por definio, temos:
t2 r2 2r2
(1.46b)
de forma que o caminho ptico dado por:
(r ) = nt
(n 1) 1 1 2 r2 r = nt 2 r1 r2 2f
(1.47)
onde a equao do fabricante de lentes, eq. (1.18), foi utilizada nesta ltima passagem. Como conseqncia, a fase da onda sobre o plano 2 :
r2 ( r, z ) = k 0S(r , z ) = k 0 ( z t ) + k 0 nt 2f
(1.48)
onde no primeiro termo da direita subtramos a quantidade k0t, que a fase que a onda ganharia se no houvesse lente. S(r,z) chamada de funo eikonal. Tomando seu gradiente em coordenadas cilndricas r podemos encontrar o versor , paralelo a k , que define a direo de propagao da onda. Assim, temos: r r S(r, z) = n 0 = = k r (1.49) f mostrando que a luz convergir para o ponto focal F, pois tg = r/f. Em outras palavras, a ao da lente a de produzir uma curvatura na frente de onda. A fase diminui radialmente sobre o plano 2 e para termos uma superfcie equifase teremos que caminhar para a direita conforme r aumenta. Assim, o termo k0z compensa o decrscimo radial da fase.
1.12 Lentes espessas

Nesta seo vamos abordar alguns outros detalhes da lente espessa, da qual j conhecemos a distncia focal traseira (BFL), dada pela
26
eq. (1.17). Queremos agora encontrar sua distncia focal efetiva, f (EFL), utilizando para isso o formalismo empregado na seo 1.9. O traado de raios neste caso bastante similar ao que vimos na associao de duas lentes finas e est apresentado na Fig. 1.13, juntamente com os planos principais, que chamaremos de H e H.
H H
d1
d2
Fig. 1.13 - Formao de imagem por uma lente espessa e definio dos planos
principais primrio (H) e secundrio (H).
De acordo com a Fig. 1.13, vemos que um raio partindo de F chega superfcie esquerda a uma altura y1, fazendo um ngulo u1 = y1/(fd1) com o eixo ptico, onde d1 a distncia do plano principal H superfcie esquerda da lente. O raio que sai da lente caracterizado pelos parmetros y2 = f u1 e u2 = 0. Usando o formalismo matricial, onde a matriz da lente dada em (1.29) aplicada ao raio incidente, chegamos a:
t 1 1 y2 n = 0 - (1 + 2 - 1 2 t ) n y 1 t u1 1 2 n t n
(1.50)
Igualando as linhas das matrizes obtemos:

f t y1 t y2 = f d y1 = 1 1 n y1 + n f d 1 1 t y t 0 = -(1 + 2 - 1 2 ) y1 + 1 2 1 n f d1 n
S. C. Zilio
(1.51a)
(1.51b)
27
Com um pouco de lgebra conseguimos encontrar os valores de f e d1, que so dados por:
1 1 (n 1) t 1 = (n 1) + r r f nr1r2 2 1 que a equao do fabricante de lentes, e (1.52)
d1 = f t (1 n ) / nr2
(1.53a)
O clculo das distncias d2 feito de maneira anloga, porm tomando o raio que sai de F e resulta em:
d 2 = f t (n 1) / nr1
(1. 53b)
A eq. (1.33) continua vlida desde que as distncias do objeto (s) e da imagem (s) sejam medidas em relao aos planos principais.
1.13 Teorema de Lagrange

Normalmente, alm de sabermos a localizao do plano de imagem que corresponde a um determinado plano de objeto, tambm queremos saber o tamanho da imagem, ou seja, a magnificao transversal do sistema. Se a altura de objeto h, e altura de imagem h, a magnificao transversal, mT, dada pela eq. (1.34). Uma maneira direta de se determinar a magnificao transversal inicialmente localizando o plano da imagem paraxial pelo traado de um raio axial (aquele que parte do centro do objeto e passa pela borda da lente). Posteriormente traamos o raio principal (aquele que parte da borda do objeto de altura h e passa pelo centro da lente), determinamos sua interseo com o plano da imagem paraxial, pela qual podemos achar h e determinar a magnificao transversal. Uma maneira mais simples de calcular a ampliao transversal de uma imagem usando o teorema de Lagrange, que necessita apenas dos dados de um raio axial. Para ver como isto funciona, vamos inicialmente considerar a superfcie refratora simples mostrada na Fig. 1.14. Tomemos um par de pontos conjugados axiais, B e B, cujas distncias superfcie so l e l, respectivamente. Coloquemos em B um objeto de altura h, do qual se desenha o raio principal partindo da borda e indo para o vrtice da
28
superfcie. Usando a lei de Snell na aproximao paraxial (n = n) e as relaes = h/l e = h/l obtemos:
nh/l = nh/l
n n' y
(1.54)
h u B
l
u'
l'
B h'
Fig. 1.14 Figura usada para a demonstrao do teorema de Lagrange.
A seguir, tomamos o raio axial partindo do centro do objeto, para o qual y = lu = lu, ou seja, l = u/y e l = u/y. Substituindo l e l na eq. (1.54) e cancelando y, ficamos com:
nhu = nhu
(1.55)
Esta igualdade leva o nome de teorema de Lagrange e o produto nhu conhecido como invariante de Lagrange, ou invariante ptico. O teorema de Lagrange um dos princpios de invarincia mais poderosos da ptica geomtrica. Como este teorema se aplica ao objeto original e imagem final, claro que a magnificao da imagem dada por: mT = h/h = nu/nu (1.56) A magnificao transversal portanto igual razo da inclinao ptica do raio axial no espao do objeto pela inclinao ptica no espao da imagem. Assim, a posio e a magnificao transversal de uma imagem determinada apenas pelo raio axial. Alm disso, como a magnificao s depende da inclinao do raio, no necessrio saber o local preciso da posio da imagem para saber seu tamanho.
S. C. Zilio
29
1.14 Equaes da imagem

O formalismo matricial pode ser aplicado para a anlise da transformao de um objeto de altura h numa imagem de altura h. Considere o caso onde as distncias do objeto e da imagem so medidas com relao aos pontos principais, ao invs das superfcies inicial e final do sistema. A matriz de transferncia unindo dois planos conjugados pode ser escrita como:
h' m T n ' u' = - 0 h 1 / m T nu
(1.57)
onde mT a magnificao transversal e o poder do sistema. A deduo desta matriz ser deixada como exerccio no final do captulo. Os pontos principais, como discutido anteriormente, so pontos conjugados de magnificao transversal unitria. Assim, um raio que entra no primeiro plano principal ser transferido para o segundo plano principal por uma matriz onde mT = +1. Isto resulta numa matriz de transferncia entre os planos principais que dada por:
1 M PP ' = - 0 1
(1.58)
Chamando de s a distncia do objeto ao primeiro plano principal e de s a distncia do segundo plano principal at a imagem, a matriz global dada por:
h ' 1 s' /n' n ' u' = 0 1
h' n ' u' =
1 -
0 1
1 0
s/n 1
h nu

(1.59)
Realizando a multiplicao indicada, obtemos:

1 (s' /n') ss' s/n + s' /n' nn ' 1 (s/n ) h nu
(1.60)
A equao que determina a distncia da imagem em termos da distncia do objeto achada zerando o elemento da matriz do canto superior direito, em concordncia com a matriz dada na eq. (1.57):
30
ss' s/n + s' /n' = 0 nn ' que ao ser dividido por (ss)/(nn) se torna:
(1.61)
n / s + n' /s' = = n / f = n' /f'
(1.62)
que corresponde eq. (1.5). A magnificao transversal do sistema determinada pelos elementos diagonais da matriz global:
mT = 1
s' ns' = n' n' s
(1.63)
1 s n' s = 1 = mT n ns'
(1.64)
onde a eq. (1.62) foi utilizada. As frmulas que relacionam o objeto e a imagem assumem uma forma simples (freqentemente chamada de forma Gaussiana) quando as distncias do objeto e da imagem so medidas em relao aos planos principais. Se o objeto e imagem esto ambos em ar, a equao da imagem Gaussiana reduz-se eq. (1.33).
1.15 Conceitos de radiometria

Uma mquina fotogrfica do tipo cmara escura, que possui um pequeno orifcio circular de entrada (pinhole) um sistema ptico perfeito. Se o orifcio for suficientemente pequeno, a resoluo ser limitada apenas pela difrao. Infelizmente, a imagem ser bastante fraca. De acordo com a teoria da difrao, a resoluo angular dada por:
d orifcio
(1.65)
onde dorifcio o dimetro do orifcio. Curiosamente, esta relao indica que quanto maior for o orifcio, melhor a resoluo. Mas isto s verdade do ponto de vista da ptica ondulatria porque na ptica geomtrica, conforme se aumenta o dimetro do orifcio, a resoluo piora. Porm, podemos colocar uma lente logo atrs do orifcio de entrada para mover o plano da imagem mais prximo deste. Desta forma, podemos fazer o
31
buraco to grande quanto quisermos para aumentar a irradincia da imagem e ao mesmo tempo aumentar a resoluo. Obviamente, a abertura de um sistema ptico um de seus atributos mais importantes. O limite para o tamanho da abertura est ligado ao fato de que a qualidade de imagem se deteriorar se a abertura se tornar muito grande. A tarefa do desenhista ptico equilibrar a complexidade do desenho com as exigncias de uma abertura especificada. A determinao da quantidade de luz que atravessa um sistema ptico, como por exemplo, a cmara escura, um assunto tratado pela radiometria. Embora este seja um campo extenso, ns s nos preocuparemos aqui com as leis fundamentais e relaes geomtricas que so importantes para o desenho ptico. As condies fundamentais e conceitos usados na radiometria so geomtricos por natureza. Quando necessrio aplicar estes conceitos geomtricos a um sistema particular, o assunto chamado fotometria se o sistema visual, ou radiometria no caso geral. No que segue, vamos empregar um sistema de coordenadas esfricas, como mostrado na Fig. 1.15. Nele se v um elemento diferencial de rea dado por: dA = r2 sen d d
z
(1.66)
rsin d rd y
dA x d
Fig. 1.15 Definio de um elemento diferencial de rea.
O ngulo slido d subtendido por uma rea A, vista da origem, definido como a razo da rea de uma superfcie esfrica, tangente
32
extremidade da rea A, pelo quadrado do raio da esfera. Assim, de acordo com a eq. (1.66), o elemento diferencial de ngulo slido :
d = dA r2 = sen d d
(1.67)
Muitos problemas tm simetria azimutal e nestes casos, conveniente considerar o elemento diferencial de ngulo slido como um cone anular, como mostrado na Fig. 1.16. Se a superfcie for circular e subtender um ngulo 0 visto de P, ento:
= 2 sen d = 2(1 cos 0 ) = 4sen 2

0
0 2
(1.68)
dA = 2r2 sen d d = 2 sen d

r
y P x z
Fig. 1.16 Elemento diferencial de ngulo slido para problemas com simetria
azimutal.
A radiometria usual est preocupada com a propagao e medida de radiao de fontes luminosas incoerentes. Para discutir luz de fontes incoerentes, apresentaremos a seguinte terminologia: 1. A taxa com que a energia muda com o tempo chamada de fluxo, denotado por . Em unidades de MKS, a unidade de fluxo o watt. 2. A energia por unidade de rea que incide numa superfcie chamada de fluncia, ou dose, e denotada por F. Em unidades de MKS, a unidade de fluncia joule/m2. 3. O fluxo por unidade de rea que incide numa superfcie chamado de irradincia e denotado por E. Em unidades de MKS, a unidade de irradincia watts/m2.
33
4. O fluxo total por unidade de ngulo slido que vem de uma fonte pequena chamado de intensidade, denotada por I. Supe-se na definio de intensidade que o tamanho da fonte pequeno comparado distncia ao ponto onde a intensidade medida. Em unidades de MKS, a intensidade medida em watts/sr. Uma fonte pontual uniforme aquela que radia uniformemente em todas as direes. Para fonte deste tipo, a intensidade :
I= d = d 4
(1.69)
5. Para discutirmos uma fonte extensa, precisamos de um termo para descrever a intensidade emitida por unidade de rea da fonte. Esta quantidade chamada de brilho da fonte (radincia), definido como o fluxo emitido por unidade de ngulo slido, por unidade de rea projetada na direo de observao, e denotada por L.
L= d 2 dA cos d
(1.70)
Uma fonte que tem uma radincia independente da direo chamada de fonte Lambertiana. Os corpos negros e a maioria das superfcies difusas se comportam aproximadamente como fontes Lambertianas. Pode se mostrar que a radincia se conserva ao longo de qualquer tubo de raios que se propagam por um sistema ptico. Considere uma interface separando dois meios de ndice de refrao n e n, como mostrado na Fig. 1.17. d n d n' d '
Fig. 1.17 Superfcie de separao entre dois meios.
S. C. Zilio
34
Chamemos de dA uma rea infinitesimal na interface. O fluxo em dA do tubo de raios contido dentro do ngulo slido d :
d 2 = L cos d dA
(1.71)
Este fluxo ser transmitido para o segundo meio onde a radincia ser:
L' = d 2 dA cos ' d'
(1.72)
A radincia ao longo do tubo de raios no segundo meio est relacionada com a do primeiro meio por:
L' = L
cos d cos sen d d =L cos ' d' cos ' sen ' d' d'
(1.73)
onde a eq. (1.67) foi empregada. Como os raios incidente e refratado so co-planares, temos: d = d. Tomando a diferencial da lei de Snell, nsen = nsen, temos: n cos d = ncos d, que substitudo na eq. (1.73) resulta em:
n' L' = L n
L' L = n '2 n 2
(1.74)
de forma que a radincia, dividida pelo quadrado do ndice de refrao, se conserva ao longo de um tubo de raios. Este resultado chamado de Teorema da Conservao da Radincia. Ele implica que impossvel aumentar o brilho de uma fonte incoerente usando um sistema ptico passivo tal como uma lente. Ao formar uma imagem, uma lente pode apenas aumentar o ngulo slido aparente de uma fonte, no a sua radincia. Consideremos agora a irradincia sobre um pequeno objeto plano produzida por uma fonte circular plana tendo uma radincia uniforme L e subtendendo um ngulo 0, como mostra a Fig. 1.18. Da definio de radincia, que a irradincia dada por:
d 2 = L cos d , dada pela eq. (1.71), temos dA
S. C. Zilio

0
35
d E= = 2L sen cos d = L sen 2 0 dA
(1.75)
A quantidade sen20 s vezes chamada de ngulo slido projetado p subtendido pela fonte. Assim, E = L p. Este resultado a equao bsica para o clculo da irradincia em uma superfcie. Estabelece que a irradincia igual radincia da fonte multiplicada pelo ngulo slido projetado subtendido pela fonte, visto da superfcie. Assim, para calcular a irradincia, imaginamos que estamos sobre a superfcie e olhamos para a fonte para determinar o ngulo slido subtendido por ela. dp = 2 sen cos d p = sen20 0 y d x z
Fig. 1.18 Irradincia sobre um pequeno objeto plano produzida por uma fonte
circular plana.
As quantidades que so usadas para descrever a convergncia de raios de luz so a abertura numrica, abreviada como NA, e o fnumber, ou abertura relativa, abreviado como FNB. A abertura numrica definida como: NA = n sen 0 onde n o ndice de refrao. O fnumber definido por:
FNB = 1 2 NA
(1.76)
(1.77)
Usando estas definies na eq. (1.75), encontramos:
S. C. Zilio
36
L(NA )2 n2 L
E=
4n (FNB)2
2
(1.78)
Para um sistema no uniforme ou fora de eixo, a integrao da eq. (1.75) deve ser feita numericamente. Entretanto, h um caso fora do eixo simples de se considerar, que corresponde situao em que a fonte pequena, como indica a Fig. 1.19.
p = As cos/r2 r fonte de rea As z alvo
Fig. 1.19 Sistema fora de eixo usado para mostrar a lei cos4.
Nesta situao, o ngulo slido projetado p da fonte varia com cos3, porque a rea projetada da fonte, vista do alvo, diminui como cos, e a distncia r da fonte para a imagem inversamente proporcional a cos2. Alm disso, a rea projetada do alvo diminui com cos, de forma que a irradincia global sobre o alvo se torna: E = E0 cos4
4
(1.79)
Esta a lei chamada de cos . Entretanto, muitos sistemas pticos usados fora de eixo, no obedecem lei do cos4 por sofrerem de restrio angular (vignetting), que um termo referente reduo da abertura total de um sistema causada pela separao axial de duas aberturas. Um exemplo simples de restrio angular o de um tubo curto visto de um ngulo oblquo, como mostrado na Fig. 1.20. A abertura do tipo olho tpica da restrio angular de uma lente. claro que numa lente, a abertura de cada elemento modificada pelas lentes existentes entre ela e o observador, freqentemente com aumento diferente. Embora a restrio angular possa ser indesejvel do ponto de vista radiomtrico, ele freqentemente til para o projetista controlar raios aberrantes que passam perto das extremidades das lentes. Algumas lentes,
37
como o tripleto de Cooke, dependem de restrio angular para produzir desempenho satisfatrio. Uma estimativa geral da restrio angular pode ser obtida dos dados de um raio paraxial. Se um raio principal traado atravs de um sistema, partindo de um ponto fora do eixo, ento se o sistema no tem nenhuma restrio angular, o raio de abertura de cada lente deve ser pelo menos to grande quanto as somas dos valores absolutos das alturas dos raios axial e principal na lente. Os programas computacionais usam este fato para computar os raios de abertura iniciais das lentes, no caso em que nenhum valor especificado.
Fig. 1.20 Tubo curto visto de um ngulo oblquo.
1.16 Aberturas e pupilas

O tamanho finito de uma lente faz com que ela colete apenas uma frao da energia emitida por uma fonte pontual. A limitao fsica imposta pela borda da lente determina quais raios entram no sistema para formar uma imagem. Desta forma, o dimetro desobstrudo de uma lente funciona como uma abertura pela qual a energia flui. Qualquer elemento fsico que limita a quantidade de luz atingindo o plano da imagem, seja ele a borda da lente ou uma ris como a mostrada na Fig. 1.21, chamado de bloqueio com abertura (aperture stop) ou simplesmente abertura. Nos programas de desenho ptico a abertura representada pelo anagrama AS (ou AST). Um outro conceito bastante til para se determinar quais raios conseguiro percorrer um sistema ptico completo, o da pupila. A pupila de entrada de um sistema a imagem da abertura vista de um ponto axial do objeto atravs dos elementos que procedem a abertura. Se no houver
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nenhuma lente entre o objeto e a abertura, esta ser a prpria pupila de entrada. Para ilustrar a idia de pupila de entrada, vamos considerar uma abertura colocada depois da lente, como mostra a Fig. 1.21(a). Como a abertura est colocada depois da lente, sua imagem ser virtual e aumentada. Ela pode ser encontrada da forma usual, analisando-se os raios provenientes da borda da abertura (raios tracejados).
pupila de saida raio axial objeto objeto raio principal abertura pupila de entrada abertura raio axial raio principal
(a)
(b)
Fig. 1.21 Definies de pupila de entrada (a) e pupila de sada (b).
A pupila de sada, por sua vez, a imagem da abertura vista do ponto axial contido no plano da imagem atravs de lentes (posicionadas entre a abertura e o plano da imagem). Na Fig. 1.21(a) no existe nenhuma lente entre a abertura e o plano da imagem de forma que a abertura a prpria pupila de sada. J na Fig. 1.21(b) vemos a situao em que a ris est colocada antes da lente e assim, a pupila de sada no coincide com a abertura. conveniente notar que as posies das pupilas de entrada e sada dependem da posio do objeto. Nos dois esquemas da Fig. 1.21 foi includo um raio chamado de raio principal. Ele definido como um raio qualquer vindo do objeto de um ponto fora do eixo e passando pelo centro da abertura. O raio principal entra no sistema ptico ao longo de uma linha passando pelo ponto central da pupila de entrada e deixa o sistema ao longo de uma linha passando pelo centro da pupila de sada. Se o objeto estiver apenas um pouco fora do eixo, o raio principal se comporta como o raio central do cone de raios
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vindo de um ponto do objeto. Se o objeto estiver muito fora do eixo, a extremidade da lente limitar um lado do feixe e a abertura limitar o outro lado. Teremos ento uma pupila com restrio angular, e neste caso, o raio principal geralmente no o raio central de um feixe de raios fora de eixo. Os raios principais so de grande importncia quando se deseja corrigir as aberraes no desenho de um sistema ptico. Nos textos mais antigos de desenho ptico, o termo bloqueio de campo usado para descrever uma superfcie que limita o campo de viso de um sistema e as janelas de entrada e de sada so definidas como a imagem do bloqueio nos espaos objeto e imagem. Bloqueios de campo so comumente encontrados em sistemas de acomodamento visual que incluem retculos e em sistemas para o infravermelho, onde so usados anteparos internos para diminuir a luz espalhada. Porm, o conceito no til em muitos sistemas onde no h nenhuma superfcie dentro do sistema que serve como bloqueio de campo. Ento, o campo de viso limitado pela extremidade do objeto, pela extremidade da imagem, ou alguma condio de restrio angular que acontece dentro da lente. As pupilas de entrada e sada servem para definir a abertura efetiva de um sistema simples cujo comportamento adequadamente caracterizado pela ptica paraxial. Note que sistemas contendo elementos inclinados ou descentralizados no podem ser tratados pela ptica paraxial. At mesmo na aproximao paraxial, complicaes ocorrem em sistemas nos quais uma nica superfcie no serve como abertura. Por exemplo, num sistema contendo lentes cilndricas, a superfcie que limita a raio yz pode ser diferente da que limita o raio xz. A pupila efetiva fora de eixo freqentemente determinada por uma abertura para a parte inferior do raio e uma diferente para a parte superior do raio. Em sistemas reais, freqentemente necessrio considerar as aberraes da pupila. Por exemplo, em sistemas de grande abertura angular, as aberraes muitas vezes distorcem e movem demasiadamente a pupila real e aqueles raios direcionados para a pupila paraxial podem nem mesmo passar pelo sistema. A pupila real pode parecer rodar na direo do observador e crescer em tamanho conforme o ngulo de campo aumenta. A quantidade de luz que atravessa um sistema real depende das aberturas fsicas realmente presentes e no da especificao arbitrria da abertura paraxial e do campo visual. Ao mesmo tempo, as aberturas preditas pelo traado dos raios paraxiais podem prover uma indicao
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aproximada das aberturas necessrias para muitos sistemas que no tm nenhuma restrio angular. O termo abertura usado, num sentido geral, para descrever as caractersticas que limitam a extenso uma superfcie ptica. Consideraremos na presente discusso que as aberturas so circulares e definidas pelas extremidades das superfcies pticas. O raio exigido para a abertura na qual passa um feixe que se propaga ao longo do eixo ptico igual altura do raio axial na lente. Se o feixe vier de um ponto fora do eixo, o raio da abertura deve ser a soma das alturas dos raios axial e principal. As aberturas paraxiais podem diferir em cada superfcie de uma lente. Numa lente real, as extremidades so em geral, paralelas ao eixo ptico. Nos desenhos, o raio de uma lente tomado como sendo igual maior das duas aberturas. Uma linha perpendicular ao eixo desenhada entre a abertura menor e a maior. Isto leva aos elementos como os que aparecem na Fig. 1.22. Nela, a segunda lente impossvel de se fabricar usando tcnicas tradicionais de lapidao e polimento, mas pode ser feita por moldagem ou por outros mtodos modernos, como o torneamento com ferramenta de diamante. A terceira lente tem uma regio plana que usada comumente para reduzir o peso de elementos negativos espessos.
Fig. 1.22 Aberturas em diferentes tipos de lentes.
A Fig. 1.23 mostra o modo que os programas de desenho ptico atribuem aberturas ao tripleto de Cooke. Cada superfcie paraxial mostrada como uma linha reta, com comprimento igual a duas vezes o raio da abertura paraxial, e as superfcies reais so mostradas como linhas curvas. As trajetrias mostradas so para raios reais. Os locais das pupilas, mas no seus tamanhos, so mostrados atravs de pontos. Olhando para a figura, podemos ver quais raios so responsveis pelas aberturas, como tambm as diferenas entre as aberturas paraxiais e as aberturas reais necessrias para passar os feixes. O raio mais baixo define a abertura antes do bloqueio e o raio superior, a abertura depois do
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bloqueio, uma condio comum, mas no necessria. O raio principal real perde o centro da pupila de entrada paraxial por pouco, indicando alguma aberrao da pupila. O raio da borda superior perde as aberturas paraxiais das duas ltimas superfcies por uma quantia significante, mostrando que esta lente deve ser feita maior que o valor esperado para passar completamente o feixe real da extremidade do campo.
pupila de saida pupila de entrada
1
raio axial
2 3 4
raio principal abertura
Fig. 1.23 Aberturas do tripleto de Cooke.
1.17 Alguns exemplos de sistemas pticos

O projeto de sistemas pticos um assunto muito extenso para ser tratado em detalhes aqui. Porm, importante entender alguns princpios fundamentais, particularmente aqueles relacionados s trajetrias dos raios axial e principal, e por isso vamos discutir alguns sistemas que so de uso comum.
a) Lente fina
Uma lente fina aquela que possui espessura nula. Obviamente, este tipo de lente no existe de fato, mas os efeitos das espessuras de uma lente so em geral desprezveis e sua eliminao simplifica bastante as equaes pticas. Lentes finas so freqentemente desenhadas como setas duplas apontando para fora se a lente for positiva, ou apontando para dentro se a lente for negativa, como esquematizado na Fig. 1.24. Para uma nica lente fina, a abertura a prpria lente, de forma que o raio axial aquele que vem do vrtice do objeto e atravessa a extremidade da lente, enquanto que o raio principal vem da extremidade
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do campo de viso e atravessa o centro da lente. Sistemas complexos de lentes finas podem conter vrias lentes, de forma que a imagem da abertura produzida pelo conjunto de lentes deve ser achada para se determinar os locais das pupilas, antes de se determinar as trajetrias dos raios axial e principal.
raio axial raio principal raio axial raio principal
(a)
(b)
Fig. 1.24 Lentes finas (a) positiva e (b) negativa. b) Objetiva fotogrfica
A objetiva fotogrfica um sistema que inclui um nmero enorme de exemplos, indo desde lentes relativamente simples como o tripleto de Cooke, at sistemas de foto-litografia muito complexos, contendo dezenas de elementos. Uma caracterstica importante de uma objetiva fotogrfica que ela realiza um mapeamento do tipo tg. Isto significa que a altura de imagem proporcional tangente do ngulo do raio principal, de forma que a imagem ter a mesma forma que o objeto. A diferena entre o mapeamento real e o produzido pela tg chamada de distoro. Um exemplo de uma lente fotogrfica tpica a objetiva dupla de Gauss, mostrada na Fig. 1.25, que o tipo mais comum de lente de alta velocidade usada em mquinas fotogrficas com comprimento focal de 35 mm, operando tipicamente a uma velocidade de cerca de f/2.
raio axial
raio principal
Fig. 1.25 Objetiva dupla de Gauss.

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Como outras lentes, ela funciona compensando as aberraes introduzidas pelas superfcies positivas e negativas. A objetiva dupla de Gauss aproximadamente simtrica, com a abertura colocada entre os dois elementos negativos centrais. As trajetrias dos raios axial e principal so importantes para a compensao das aberraes. Numa primeira aproximao, o raio axial passa pela extremidade do sistema completo e o raio principal pelo seu centro. A razo entre as alturas do raio principal e do raio axial numa dada superfcie um indicador da eficcia desta superfcie em controlar as aberraes fora de eixo. Se o poder positivo de uma lente estiver mais concentrado na parte dianteira do que a parte traseira da lente, os pontos principais estaro deslocados para frente e a lente se torna uma lente de telefoto, para a qual o comprimento focal efetivo maior que a distncia do centro da lente ao seu foco, como mostrado na Fig. 1.26.
raio axial segundo ponto principal
raio principal
Fig. 1.26 Objetiva de telefoto.
Por outro lado, se o poder positivo estiver concentrado na parte traseira da lente, o comprimento focal ser menor que a distncia do centro ao foco da lente e esta ser chamada de lente retrofocal. Um exemplo deste tipo de objetiva est mostrado na Fig. 1.27.
raio axial
raio principal
segundo ponto principal
Fig. 1.27 Objetiva retrofocal.

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Muitas objetivas fotogrficas so lentes com zoom, onde o comprimento focal variado pelo movimento de um ou mais grupos de elementos dentro da lente, como mostrado na Fig. 1.28. Em (a), o grupo zoom central de quatro elementos movido para a parte de trs da lente, concentrando o poder na parte traseira e fazendo a lente se comportar como um desenho retrofocal. Em (b), o grupo zoom movido para frente, mudando o poder da lente para frente, fazendo com que ela se comporte como uma objetiva telefoto. Note que tanto a posio interna do grupo zoom e o comprimento focal traseiro so mudados conforme a lente ajustada. Como desenhado, a altura de imagem varivel, mas em uso seria mais comum a fixar a altura da imagem e variar o campo de viso.
grupo zoom raio axial
(a)
raio principal segundo ponto principal
grupo zoom raio axial
raio principal
(b)
segundo ponto principal
Fig. 1.28 Objetivas com zoom.

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c) Olho humano
O olho humano uma parte importante de qualquer sistema visual global. Nele, a refrao de luz acontece principalmente na superfcie exterior, chamada de crnea. A imagem formada no fundo do olho, num conjunto de detectores de luz do tipo cones e bastonetes que compem a retina. A poro da retina que tem a acuidade mais alta est localizada na regio central chamada de fvea, enquanto que a regio mais afastada do centro responsvel pela viso perifrica. O olho pode girar de forma a trazer a imagem do ponto de interesse visual para a regio foveal e devido a isto, os raios axial e principal no so precisamente definidos. Como mostra a Fig. 1.29, raio axial o raio que parte do vrtice do objeto e passa pela borda da pupila de entrada do olho, que a imagem da ris formada pela crnea.
raio axial crnea retina fvea raio principal
Fig. 1.29 O olho humano.
O raio principal s vezes tomado como um raio do campo de viso que passa pelo centro de rotao do olho, pois o olho girar automaticamente para ver uma imagem fora de eixo. Ao se desenhar qualquer instrumento visual deve-se tomar cuidado para assegurar que a pupila suficientemente grande para acomodar o movimento da ris que ocorre quando o olho gira.
d) Lupa
Uma lupa simples uma lente que usada para estender o intervalo de acomodao do olho e permitir a viso de objetos pequenos. A distncia mais prxima que olho humano consegue formar uma imagem varia desde aproximadamente 10 cm para crianas at vrios metros para pessoas com idade superior a 60 anos; um valor de 25 cm usado como referncia para computar o poder de uma lupa. Assim, uma lupa com
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comprimento focal de 25 mm produz um aumento de 10x. A Fig. 1.30 mostra o uso tpico de uma lupa. Como mostrado, o raio axial emerge paralelo ao eixo, indicando que o ponto focal est no infinito. Tal sistema s vezes denominado de afocal no lado da imagem. Em uso real, o usurio ajusta a distncia para ter o mximo conforto visual, mantendo o objeto normalmente em foco.
raio axial objeto
raio principal
Fig. 1.30 O olho humano com lupa. e) Telescpio
O telescpio inversor, ou Kleperiano, faz parte de uma famlia de sistemas pticos conhecidos como lupas compostas. Tais sistemas incluem uma objetiva que forma uma imagem area e uma ocular que serve como uma lupa para ver a imagem, como esquematizado na Fig. 1.31. A objetiva serve como a abertura de entrada. A pupila de entrada fica assim situada no plano da objetiva e a pupila de sada fica situada no plano onde a objetiva tem sua imagem formada pela ocular. O olho do observador deve ser colocado na pupila de sada do instrumento, de forma que o campo inteiro pode ser visto sem restrio angular. A distncia entre a superfcie traseira da ocular e o plano da pupila de sada chamada de alvio de olho (eye relief). O raio axial entra na objetiva, paralelo ao eixo, e emerge da ocular paralelo ao eixo, de forma que a imagem pode ser vista com o olho relaxado. O raio principal atravessa o centro da objetiva e a borda da ocular. Da figura se v que o campo de viso do telescpio est limitado pelo dimetro da ocular. A trajetria do raio principal mostra que o que o telescpio forma uma imagem invertida. Da lei de Lagrange, segue que a ampliao angular do telescpio proporcional razo dos dimetros das pupilas de entrada e de sada.
S. C. Zilio
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Uma forma alternativa de telescpio o Galileano, mostrado na Fig. 1.32. O telescpio Galileano difere do telescpio inversor por formar uma imagem direta. Os caminhos dos raios axial e principal so mostrados na figura. O raio axial entra no sistema paralelo ao eixo e deixa o sistema tambm paralelo ao eixo, de forma que o sistema afocal.
raio axial pupila de saida
pupila de entrada
raio principal
plano do retculo
Fig. 1.31 Telecpio inversor.
A objetiva serve como abertura, mas como a ocular tem um comprimento focal negativo, o raio principal diverge depois de atravessar a ocular, colocando a pupila de sada dentro do telescpio. Como no possvel por o olho do observador na pupila de sada do instrumento, o campo de viso ser limitado pelo dimetro da pupila. Telescpios Galileanos so ocasionalmente usados como instrumentos visuais de baixo poder, mas o alvio de olho negativo uma falha grave que restringe sua utilidade em sistemas de altos poderes. O sistema Galileano tem comprimento global consideravelmente mais curto que o sistema inversor e freqentemente usado como expansor de feixes de laser, onde o campo de viso limitado no importante.
raio axial pupila de saida
raio principal pupila de entrada
Fig. 1.32 Telecpio Galileano.
S. C. Zilio
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f) Sistema de guiamento
Os telescpios so freqentemente acoplados a sistemas de guiamento para transmitir imagens a um local diferente. O esquema paraxial de um sistema de guiamento tpico est mostrado na Fig. 1.33. As trajetrias dos raios axial e principal so as mesmas tanto no espao da imagem como no espao de objeto, mas esto deslocadas direita pelo comprimento do guia. Sistemas de guiamento consistem em sucesses alternadas de objetivas e lentes de campo que dobram o raio principal mas no o raio axial. Num sistema de guiamento real, a curvatura de campo um problema freqente.
raio axial lente de campo lente de campo
raio principal
Fig. 1.33 Sistema de guiamento.
A Fig. 1.34 mostra um telescpio com zoom que contm um sistema de guiamento e reversor, que transforma a imagem invertida em imagem direta. Neste sistema, uma lente de campo defronte o sistema reversor restringe a altura de raio principal e os dois dubletos pequenos retransmitem a imagem primria perto da lente de campo para o plano do retculo. A posio e espaamento das lentes reversoras podem ser variados para mudar o aumento do guiamento.
raio axial lente de campo ocular
raio principal objetiva lentes reversoras retculo
Fig. 1.34 Sistema de guiamento e reverso.

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g) Lente telecntrica
Um nmero crescente de lentes telecntrica no objeto, imagem, ou em ambos os lados. Telecntrica significa que o raio principal paralelo ao eixo, ou equivalentemente, que a pupila est no infinito. Tais lentes so teis em vrias aplicaes de metrologia, porque elas tm a propriedade que a altura da imagem no muda conforme a lente focalizada. A lente da Fig. 1.35 de um exemplo tpico que telecntrica em ambos os lados. Outros exemplos de lentes telecntricas incluem lentes de varredura, que devem ser telecntricas para preservar as relaes geomtricas e lentes de transformada Fourier, na qual o raio axial numa direo igual ao raio principal na outra direo.
objeto raio axial pupila de saida
imagem
pupila de entrada
raio principal
Fig. 1.35 Lente telecntrica.
Bibliografia
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Problemas
1.1. Explique o que so: a) planos principais, b) pontos nodais, c) distncia focal efetiva, d) distncias focais frontal e traseira, e) poder da superfcie. Faa desenhos sempre que necessrio. 1.2. Use o mtodo y-nu para achar a distncia focal traseira do dubleto cimentado mostrado na Fig. 1.36. Considere n1 = 1.52, n2 = 1.65 , r1 = 7 cm , r2 = -5 cm, r3 = -16 cm, t1 = 1 cm e t2 = 0.4 cm.
Fig. 1.36 Dubleto cimentado.
1.3. Refaa o problema 1.2 pelo mtodo matricial. 1.4. Suponha que um raio incida sobre o dubleto da Fig. 1.36 paralelo ao eixo ptico a uma altura de 5 mm. Encontre o ngulo que o raio faz com cada normal s superfcies durante sua propagao. 1.5. Usando a metodologia da seo 1.12, encontre as posies dos planos principais do dubleto da Fig. 1.36.
1.6. Suponha que a lente espessa da Fig. 1.13 se encontre no ar e possua n
= 1.52, r1 = 7 cm , r2 = -5 cm e t1 = 0.5 cm. Encontre os valores numricos da distncias focal efetiva e da posio dos planos principais. Se a lente fosse delgada (t 0), qual seria sua distncia focal? 1.7. Um objeto com altura h = 3 mm colocado a uma distncia de 5 cm da primeira superfcie da lente do problema 1.6. Onde se formar a imagem e qual a sua altura? 1.8. Use o mtodo y-nu para encontrar a distncia focal traseira da combinao de lentes finas tratada na seo 1.9.
51
1.9. Mostre que a formao de imagem por uma interface esfrica de raio r separando dois meios dieltricos de ndices de refrao n e n
r ns' e a magnificao longitudinal por transversal dada por m T = n's m L = n' m T 2 . n
satisfaz a equao: n + n ' = n ' n , enquanto que a magnificao

s s
1.10. Derive a expresso r = 2f para um espelho esfrico. 1.11. Deduza a matriz dada na eq. (1.39). 1.12. Considere a associao de duas lentes finas de distncias focais f1 e f2 = f1/2, separadas por d = f1/2. Encontre a distncia focal do conjunto e as posies dos planos principais primrio e secundrio. 1.13. Justifique a matriz de transferncia usada na eq. (1.57). 1.14. Deduza a equao do esfermetro, que relaciona o raio de curvatura com a corda e a flecha de uma superfcie esfrica. 1.15. Um objeto de 3 mm de altura colocado diante de duas lentes finas de distncias focais 10 cm e 20 cm respectivamente. A separao entre as lentes de 5 cm e o objeto dista 50 cm da primeira lente (a de 10 cm). Encontre a altura da imagem formada. 1.16. Use o mtodo y-nu para achar a distncia focal traseira de um dubleto simtrico espaado onde n1 = n2 = 1.5, r1 = 5 cm, r2 = r3 = , r4 = -5 cm, t1 = t3 = 1.5 cm e t2 = 3 cm. 1.17. Usando o mtodo matricial encontre a distncia focal efetiva e as posies dos planos principais da lente do problema anterior. Sugesto: Utilize a mesma metodologia da seo 1.12 (lentes espessas). 1.18. Um objeto de 5 mm de altura colocado a uma distncia de 5 cm da primeira lente do problema 1.17. Supondo que os dimetros das lentes sejam de 3 cm, encontre a posio da imagem formada, a altura da imagem formada, o invariante de Lagrange e ngulo do raio axial no plano da imagem.
S. C. Zilio
52
1.19. Mtodo l - l: De acordo com o problema 1.9, a refrao pelo dioptro mostrado na Fig. 1.37 dada por: n + n ' = n 'n , de onde se
l l' r
tira: l' =
podemos aplicar novamente esta igualdade desde que se use a translao lj = t - lj-1. Usando este mtodo, refaa o problema 1.2.
n ' , onde = n ' n . Se houver outro dioptro direita r n l
y u
l l'
-u'
r n n'
Fig. 1.37 Dioptro esfrico de raio r.
. 1.20. Um sistema ptico (lente) complexo, que se encontra no ar, caracterizado por uma matriz conhecida
A B M= , que C D
relaciona o raio que entra na primeira superfcie com o raio que sai na ltima. Encontre as distncias focais frontal (fF) e traseira (fB), a posio dos pontos principais (P e P) e a distncia focal efetiva (f) como funo dos elementos da matriz.
S. C. Zilio
Aberraes
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Aberraes
2.1 Aberraes monocromticas

As aberraes de uma lente no so causadas por construo defeituosa tais como irregularidades de superfcie. Eles so conseqncias inevitveis das leis de refrao de uma superfcie esfrica que fazem a lente falhar ao formar uma imagem precisa. At mesmo uma lente feita de material de altssima qualidade e livre de qualquer defeito de manufatura tem aberraes. Sabendo como as aberraes no so geradas, agora essencial saber qual a sua origem e por que estes efeitos no so previstos pela ptica geomtrica paraxial. Neste captulo queremos explorar os diferentes tipos de aberraes e discutir mtodos para reduzi-los. No tratamento que empregamos no captulo anterior para analisar a formao de imagem por uma lente, supusemos a aproximao paraxial, na qual sen e tg so aproximados pelo argumento . Esta uma teoria chamada de primeira ordem. Entretanto, quando um raio passa prximo da borda da lente (raio marginal), ele focalizado com um ngulo relativamente grande, de forma que a aproximao paraxial no boa. Neste caso, mesmo que a luz seja monocromtica, de forma que a aberrao cromtica que trataremos posteriormente pode ser ignorada, haver aberraes de outro tipo. Para entendermos estas aberraes devemos tomar o termo cbico na expanso do sen e assim passaremos a ter uma teoria de terceira ordem. As diferenas entre esta teoria e a linear so conhecidas como aberraes primrias e so em nmero de cinco (aberrao esfrica, coma, astigmatismo, curvatura de campo e distoro). Elas foram estudadas em detalhe por Ludwig von Seidel (1821-1896) por volta de 1850 e por isso levam o nome de aberraes de Seidel.
S. C. Zilio
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Quando raios paralelos incidem numa lente positiva, os raios perifricos focalizam mais prximos da lente que os raios paraxiais, como mostra a Fig. 2.1. Portanto, a aproximao paraxial, freqentemente empregada na ptica geomtrica para obter as equaes de reflexo e refrao, levam a uma formao de imagem exata que enganosa. A aberrao uma medida da diferena entre as imagens real e paraxial. Nesta seo faremos inicialmente uma discusso qualitativa da causa fsica das aberraes, e depois passaremos a uma abordagem mais quantitativa explorando a teoria de terceira ordem, que uma melhoria da aproximao paraxial envolvida na formao de imagens, e obteremos uma expresso para a aberrao. O primeiro ponto a ser discutido a razo fsica da existncia das aberraes.
Aberrao esfrica longitudinal
Aberrao esfrica transversal foco paraxial
R1
R2
foco marginal
Fig 2.1 - Dependncia da distncia focal com a abertura da lente; os raios

marginais so focalizados mais prximos que os raios paraxiais.
Consideremos as frentes de onda I e R da Fig. 2.2 emergindo de um sistema ptico arbitrrio. A frente de onda esfrica I ideal, correspondendo aproximao paraxial, enquanto que R a frente de onda no esfrica real. Os raios que partem de P e Q so normais as suas respectivas frentes de ondas e no cruzam o plano da imagem paraxial no mesmo ponto. A frente de onda I produz uma imagem em S enquanto que a frente de onda R passa pelo eixo ptico em L e forma uma imagem no plano de imagem paraxial, em T. A distncia LS sobre o eixo ptico pode ser interpretada como a aberrao longitudinal e a distncia TS ao longo do plano da imagem paraxial pode ser interpretada como a aberrao transversal. A aberrao tambm pode ser descrita em termos da diferena entre as frentes de onda real e ideal, como a distncia PQ da Fig. 2.3. As frentes de onda coincidem no eixo ptico e a aberrao correspondente
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Aberraes
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zero. Neste caso, as duas frentes de onda formam uma imagem em S. Um raio proveniente da frente de onda real entre O e P ter sua imagem localizada entre S e T. Assim, a imagem formada por todos os raios da frente de onda real borrada, resultando em aberrao.
I Q Sistema ptico O P L R Plano da imagem paraxial S T
Fig 2.2 - Frentes de onda correspondentes aproximao paraxial e ao caso

real.
Com base na Fig. 2.3, evidente que depois de se determinar a altura y e a diferena PQ, as aberraes longitudinal e transversal podem ser calculadas. Ao invs de PQ, vamos trabalhar com a diferena de caminhos pticos, chamada de aberrao da frente de onda, a(Q) = nPQ. y n' Q a P y s' by bz
Fig 2.3 - Geometria usada para encontrar a relao entre QP e as aberraes

longitudinal e transversal.
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importante notar que o ngulo entre os raios real e paraxial passando pelo ponto P so iguais ao ngulo entre as tangentes das frentes de onda. Alm disto, os ngulos da Fig. 2.3 esto bastante exagerados porque a << s' e bz << s'. Portanto, tan = y/s', expresso esta que ser empregada na derivao que segue. O primeiro passo relacionar as aberraes longitudinal e transversal, bz e by respectivamente, com a aberrao da frente de onda, a(Q). Considerando uma aberrao de onda infinitesimal da = n'(sendy), mostrada na Fig. 2.4, segue que sen = (1/n')da/dy (2.1) onde da/dy o desvio com relao curvatura da frente de onda ideal no ponto P. De acordo com a Fig. 2.3, a aberrao transversal do raio dada aproximadamente por: by = s' (2.2) onde s' a distncia da imagem da frente de onda paraxial. Assim, substituindo a expresso obtida para , by aproximadamente igual a (s'/n')(da/dy). Similarmente, a aberrao transversal bx aproximadamente igual a (s'/n')(da/dx). A aberrao longitudinal pode ser determinada trigonometricamente como bz = by/tan = bys'/y. Resumindo, temos: Aberrao transversal: Aberrao transversal: Aberrao longitudinal: bx = (s'/n') (da/dx) by = (s'/n') (da/dy) bz = by/tan = s'by/y I dy a P da R (2.3) (2.4) (2.5)
Fig 2.4 - Configurao usada para encontrar a relao entre a variao de

caminho ptico, da, com o acrscimo do tamanho da abertura, dy.
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ptica Moderna Fundamentos e Aplicaes
Aberraes
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Para se obter uma expresso realstica para a(Q), a partir da qual as aberraes longitudinal e transversal podem ser determinadas, a teoria de terceira ordem deve ser empregada considerando termos adicionais na expanso em srie de potncia envolvendo seno e co-seno. Procedendo desta forma, uma abordagem mais realstica da ptica geomtrica obtida em comparao com a aproximao paraxial. Porm, importante salientar que termos de ordens mais altas tambm podem ser considerados mas isto envolve manipulaes matemticas muito mais complicadas.
2.2 Aberrao de um ponto objeto axial

Uma descrio matemtica das aberraes oriundas da aproximao de terceira ordem ser feita considerando inicialmente a refrao de um ponto objeto axial numa interface esfrica. Uma referncia til nesta discusso a Fig. 2.5 que mostra a formao da imagem de um ponto objeto axial. Para um ponto particular Q da superfcie refratora esfrica, a aberrao a(Q) dada como a diferena de caminhos pticos entre os raios ideal e real: a(Q) = (PQI - POI) (2.6) Q z h P s O A s' R n n' R C z' ' I
Fig 2.5 Refrao de um raio de luz de um ponto objeto axial por uma
superfcie refratora esfrica.
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A aproximao paraxial e o princpio de Fermat do menor tempo estabelecem que PQI e POI da Fig. 2.5 devem ser idnticos, resultando em aberrao nula. Entretanto, para aproximaes de ordens mais altas, o caminho PQI diferente de POI, dando origem a quantidades variveis de aberrao para diferentes pontos Q sobre a superfcie refratora esfrica. Sabendo que os caminhos pticos so dados por PQI = nz+n'z' e POI = ns+n's', a aberrao de onda se reduz : a(Q) = (nz + n'z') - (ns + n's') Usando a lei de co-senos e a relao cos(-) = - cos temos: z2 = R2 + (s+R) 2 - 2R(s+R) cos z'2 = R2 + (s'-R) 2 + 2R(s'-R) cos (2.8) (2.9) (2.7)
Para simplificao, apenas os primeiros termos da expanso em srie do cos sero substitudos nas equaes (2.8) e (2.9). Embora as equaes possuam o sinal de igual, elas so de fato aproximadas porque cos ser tomado como 1 - 2/2! + 4/4!. Alm disso, sen = h/R ser aproximado pelo primeiro termo de sua srie de potncia, tal que = h/R. Desta forma, cos = 1 - (h/R)2/2! + (h/R)4/4! (2.10) Substituindo a eq. (2.10) nas equaes (2.8) e (2.9) podemos obter expresses para z e z' em termos das variveis R, s, s' e h: z = s{1 + [h2(R+s)/(Rs2) - h4(R+s)/(12R3s2)]}1/2 e z' = s'{1 + [h2 (R-s') / (Rs'2) - h4(R-s') / (12R3s'2)]}1/2 (2.11) (2.12)
A deduo destas expresses ser deixada como exerccio. Representando o termo entre colchetes da eq. (2.11) pela varivel x, x = h2(R+s)/(Rs2) - h4(R+s)/(12R3s2) temos: z = s (1 + x )1/2 Expandindo a raiz em srie de Taylor obtemos: z = s (1 + 1/2 x - 1/8 x2) (2.15) (2.13) (2.14)
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Fizemos aqui uma outra aproximao porque apenas trs termos foram includos na expanso do binmio. Substituindo a expresso para x dada na eq. (2.13), na eq. (2.15), a expresso para z pode ser encontrada como: z = s{1+h2(R+s)/(2Rs2)-h4(R+s)/(24R3s2)-h4(R+s)2/(8R2s4)} (2.16) Analogamente, podemos representar o termo entre colchetes da eq. (2.12) pela varivel x'. Usando o mesmo procedimento acima obtemos: z' = s'{1+h2(R-s')/(2Rs'2)-h4(R-s')/(24R3s'2)-h4(R-s')2/(8R2s'4)} (2.17) Substituindo estas expresses para z e z' na eq. (2.7) resulta na expresso para a aberrao de um ponto objeto axial: a(Q) = 1/2 h2(1- h2/12R2)[(n/s+n'/s') - (n'-n)/R] 1/8 h4[(n/s){1/s+1/R}2+(n'/s') {1/s'-1/R}2]
2 2
(2.18)
No parnteses do primeiro termo temos a razo h /12R que muito menor que 1 e que de agora em diante ser desprezada. O que sobra do primeiro termo corresponde aproximao de primeira ordem da aberrao, a qual, de acordo com a eq. (1.62) da formao da imagem paraxial, nula. A expresso da aberrao de terceira ordem para um ponto objeto axial : a(Q) = - 1/8 h4[(n/s){1/s + 1/R}2 + (n'/s') {1/s' - 1/R}2]
4
(2.19)
Para h muito pequeno, h pode ser desprezado. Neste caso, os raios so aproximadamente paraxiais e a(Q) = 0, como esperado. Caso contrrio, quando os raios no so paraxiais, a(Q) proporcional a h4. Assim, para um ponto objeto axial, a teoria de terceira ordem prediz que a aberrao entre as frentes de onda esfrica ideal e a real a(Q) = ch4, onde c constante e h a altura de ponto Q sobre o eixo ptico. Esta aberrao denominada de aberrao esfrica.
2.3 Aberrao de um ponto objeto fora do eixo

A discusso prvia s vlida para pontos objeto axiais. A seguir, discutiremos a equao da aberrao para um ponto objeto fora do eixo, como aquele mostrado na Fig. 2.6. Para transformar a configurao fora de eixo numa configurao semelhante ao caso axial, podemos traar uma
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linha equivalente ao eixo ptico do caso anterior. Este eixo de simetria PCI'. O deslocamento y' a partir do eixo oblquo de simetria maior que para o caso prvio de um objeto axial, para o qual a altura foi representada como h = y. Assim, pontos objeto fora do eixo possuem aberrao maior que os pontos objeto axiais correspondentes. Q y O C B P n n' y' I I
Fig 2.6 Refrao de um raio de luz de um ponto objeto fora do eixo por uma
superfcie refratora esfrica.
A funo de aberrao a'(Q) pode ser determinada a partir das Fig. 2.7 e 2.8, de maneira anloga ao o mtodo anterior, tomando como sendo a distncia ao eixo oblquo. a'(Q) = (PQI' - PBI') = c4 (2.20)
Q I O B P n n' C S h'
Fig 2.7 Traado da imagem de um ponto objeto fora do eixo.
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Aberraes
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Entretanto, este procedimento no fornece a descrio correta pois a'(Q) foi calculada com relao ao eixo oblquo e no entanto deveria ter sido calculada com relao ao eixo ptico. Para fazer isto, vamos tomar a'(O) como: (2.21) a'(O) = (POI' - PBI') = cb4 de forma que a funo de aberrao relativa ao eixo ptico fica: a(Q) = (PQI' - POI') = a'(Q) - a'(O) = c (4-b4) Usando a Fig. 2.8 e a lei de co-senos obtemos: 2 = r2 + b2 + 2rbcos Substituindo na eq. (2.22) e agrupando os termos, chegamos a: a(Q) = c (r4 + 4r2b2cos2 + 2r2b2 + 4r3bcos + 4rb3cos) (2.24) Como O, B, C e I esto no mesmo plano vertical, os tringulos OBC e SI'C da Fig. 2.7 so tringulos semelhantes. Tomando os segmentos OB = b e SI' = h', segue que b proporcional a h' devido semelhana entre os tringulos. Fazendo esta substituio, o resultado final para a aberrao de um ponto objeto fora do eixo dado por:
a (Q) = C 0 r 4 + C1 h ' r 3 cos + C 2 h ' 2 r 2 cos 2 40 31 22
3 + C 2 h ' 2 r 2 + C11 h '3 r cos 20
(2.22) (2.23)
(2.25)
O b B r
Fig 2.8 Vista frontal da configurao da Fig. 2.7. Lembre que h' o desvio da imagem axial, r a abertura da superfcie refratora (anlogo a h na discusso do ponto objeto axial) e indica a simetria axial da aberrao, como mostrado na Fig. 2.8. Os
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ndices nas constantes referem-se s potncia de h', r e cos, respectivamente. Assim, as constantes so representadas como: C r cos Cada um dos cinco termos de a(Q) descreve uma aberrao de terceira ordem, ou de Seidel: r4 - aberrao esfrica, h'r3cos - coma, h'2r2cos2 - astigmatismo, h'2r2 - curvatura de campo, e h'3rcos distoro. Estas aberraes so independentes do comprimento de onda e por isso ocorrem mesmo com luz monocromtica como as de lasers. Elas esto relacionadas inexatido da aproximao paraxial em descrever o processo de formao de imagem.
h'
2.4 Aberrao esfrica

O primeiro termo, C 0 r 4 , que corresponde aberrao esfrica, 40 o nico termo independente de h', e assim, a nica aberrao que existe para objetos axiais (para os quais h' = 0). Alm disso, simtrico em relao ao eixo ptico (pois cos no aparece) e aumenta rapidamente com a abertura r. A aberrao esfrica representa um empecilho para que os raios de um ponto objeto convirjam para um ponto imagem depois de atravessar um sistema ptico. A Fig. 2.9 mostra que raios incidentes numa lente positiva com diferentes raios de abertura, r, tem sua imagem formada em pontos diferentes. Raios mais distantes do eixo ptico so refratados mais fortemente e focalizam mais prximos da lente que os raios paraxiais. A distncia P''P' ao longo do eixo ptico entre as imagens a aberrao esfrica longitudinal. Note que para uma lente positiva, P'' est esquerda de P' e a aberrao esfrica positiva. Para uma lente negativa, P'' est direita de P' e a aberrao esfrica negativa. Na prtica, o melhor foco acontece num ponto intermedirio entre P'' e P', o crculo de menor confuso. A curva que limita os raios mais externos de um pincel de raios chamada custica. Para uma interface esfrica, as aberraes lateral e longitudinal podem ser determinadas das equaes (2.3), (2.4) e (2.5), fazendo a = C 0 r 4 e tomando r na direo y. Como no existe nenhuma dependncia 40 na direo x, a aberrao bx da eq. (2.3) nula e assim: bx = (s'/n') (da/dx) = 0
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(2.26)
Aberraes crculo de menor confuso
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P P''
custica
P'
Fig 2.9 Aberrao esfrica em uma lente positiva. Da eq. (2.4), by = (s'/n')(da/dy) = (s'/n')(da/dr) pode ser encontrado facilmente como: by = 4 C 0 s'r3/n' 40 Como bz = s'by/y = s'by/r, conforme estabelece a eq. (2.5), temos: bz = 4 C 0 s'2r2/n' 40 (2.28) (2.27)
Para encontrarmos uma frmula mais explcita da aberrao esfrica longitudinal de um raio axial que refrata numa interface esfrica, vamos utilizar a eq. (2.18) com h = r. Como o ponto Q est vinculado a uma esfera de raio R constante, e as distncias s e s' so fixas, a nica varivel do problema a altura r. O princpio de Fermat estabelece que para o raio ir de P a I ele deve seguir a trajetria com caminho ptico mnimo, que pode ser encontrado fazendo da(Q)/dr = 0, o que nos leva a:
2 2 n + n ' = n ' n + r 2 n 1 + 1 + n ' 1 1 2s R s s s' R 2s' R s'
(2.29)
Note que nesta expresso desprezamos o termo h2/12R2 da eq. (2.18). O termo adicional, que varia com r2, uma medida do desvio da teoria paraxial. Este resultado corresponde a apenas uma interface esfrica e se quisermos obter o resultado para uma lente devemos considerar a segunda superfcie esfrica da mesma. Esta situao foi tratada por A. E. Conrady (ver referncia 2.3) no caso em que a luz incidente colimada. Ele mostrou que os focos marginal (ou perifrico) e paraxial esto separados por:
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= kr2 com k sendo dado por:

k =f2
(2.30)
2
(n 1)
n
2
1 1 1 + + 3 R1 f R 2
n + 1 1 f + R 2
(2.31)
A aberrao esfrica ser mnima quando a razo entre os raios de curvatura da lente satisfizer:
R 1 n + 4 2n 2 = R2 n + 2n 2
(2.32)
Lembre que esta frmula s vlida quando o objeto estiver muito afastado da lente (s). Uma maneira que se usa atualmente para minimizar a aberrao esfrica pela construo de lentes cujas superfcies no sejam esfricas (lentes asfricas). As lentes asfricas no so encontradas com facilidade (e so caras). Na prtica, o que se pode fazer para minimizar este tipo de aberrao, fazer com que os ngulos de entrada e sada dos raios na lente sejam os mais prximos possveis. A Fig. 2.10 mostra a maneira de se minimizar a aberrao esfrica numa lente plano-convexa para um feixe incidente colimado.
Fig 2.10 Aberrao esfrica de uma lente plano-convexa em duas situaes

diferentes.
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Aberraes
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Em concluso, quando um objeto est no infinito, a imagem se forma no foco. Entretanto, devido aberrao esfrica, a distncia focal diferente para raios que atravessam a lente em diferentes distncias do eixo ptico, como j mostrado na Fig. 2.1. A distncia focal especificada de uma lente para os raios paraxiais, onde r, e conseqentemente a aberrao esfrica, nula.
2.5 Coma
O termo C1 h ' r 3 cos representa a aberrao denominada coma, 31 que s existe no caso fora do eixo por ser proporcional a h'. Alm disso, esta aberrao no simtrica com relao ao eixo ptico devido dependncia com e aumenta rapidamente com a abertura r, embora no to rapidamente quanto a aberrao esfrica. A coma representa um impedimento para que os raios de um ponto objeto fora do eixo convirjam para um ponto imagem. Ao invs de um ponto, os raios formam uma espcie de cometa, como se v na Fig. 2.11. Semelhantemente aberrao esfrica, a coma pode ser positiva ou negativa. P
h' by
Fig 2.11 Imagem comtica formada por uma srie de crculos. A distncia focal efetiva e, portanto, a magnificao transversal, ser diferente para raios atravessando diferentes regies fora do eixo da lente, como mostra a Fig. 2.11 para uma fonte pontual. Quando mT aumenta para os raios mais externos (como na figura) temos coma positiva e se mT diminui, temos coma negativa. Esta aberrao apresenta certa analogia com a aberrao esfrica, pois ambas resultam da
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impossibilidade de raios paraxiais e marginais convergirem em um mesmo ponto depois de atravessarem a lente. Entretanto, elas se diferenciam na forma da imagem produzida, j que um ponto com aberrao esfrica resultar numa forma circular e com coma, numa forma de cometa, como mostrado no canto inferior direito da Fig. 2.11. Podemos proceder de maneira anloga da seo anterior para encontrarmos a aberrao transversal. De acordo com a Fig. 2.8, temos x = r sen e y = r cos, que quando substitudos na expresso para a aberrao comtica resulta em a(x,y) = C1 h(x2+y2)y. Assim, a aberrao 31 sagital dada por: bx = (s'/n') (da/dx) = (s'/n') C1 h2xy = (s'/n') C1 h r2 sen 2 31 31 enquanto que a aberrao meridional fica: by = (s'/n') (da/dy) = (s'/n') C1 h(x2+3y2) = 31 (s'/n') C1 h r2 ( 2 + cos 2) 31 (2.34) (2.33)
A anlise deste resultado mostra que a aberrao comtica produz um crculo se raio B = (s'/n') C1 h r2 afastado verticalmente por uma 31 distncia 2B do ponto imagem paraxial, como mostrado no canto inferior da Fig. 2.11. A aberrao comtica depende bastante da posio do objeto e da geometria da lente; entretanto, podemos constatar da Fig. 2.11, que a colocao de uma ris que permita apenas a passagem dos raios pelo centro da lente, diminui bastante este tipo de aberrao. Como no caso da aberrao esfrica, a coma pode ser minimizada ao se escolher adequadamente os raios de curvaturas da lente. Infelizmente, a combinao de raios de curvaturas para minimizar a coma no a mesma combinao que minimiza a aberrao esfrica.
2.6 Astigmatismo
As duas prximas aberraes, astigmatismo e curvatura de campo, esto intimamente relacionadas. Isto pode ser visto combinando-se o terceiro e quarto termos da funo aberrao dada pela eq. (2.25). Assim temos: h ' 2 r 2 C 2 cos 2 + C 2 , onde o primeiro termo corresponde ao 22 20
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Aberraes
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astigmatismo e o segundo curvatura de campo. bvio que estas aberraes so ambas fora de eixo por serem proporcionais a h'2. Ambas aumentam quadraticamente com a abertura r da superfcie refratora, mas a curvatura de campo simtrica enquanto que o astigmatismo assimtrico com relao ao eixo ptico devido ao fator cos2. Como conseqncia do astigmatismo, a imagem de um ponto fora de eixo consiste de duas linhas perpendiculares em diferentes planos de imagem, como mostrado na Fig. 2.12. Os raios de um ponto objeto convergem para uma linha primria de imagem, T, a uma dada distncia da lente. Esta imagem perpendicular ao plano contendo o eixo ptico e o ponto objeto fora de eixo. A uma distncia posterior, estes raios convergem a uma linha secundria de imagem, S, que perpendicular imagem primria, T, e paralela ao j mencionado plano que contm o eixo ptico e o ponto objeto fora de eixo.
imagem primria T ponto objeto fora do eixo lente S imagem secundria
Fig 2.12 Astigmatismo de um ponto objeto fora de eixo. As imagens intermedirias entre as imagens primria e secundria possuem formas elpticas variveis. A imagem primria se expande numa elipse e depois num crculo que novamente se contrai, primeiro numa elipse e depois numa linha (a linha de imagem secundria) que perpendicular primeira. A localizao do crculo de menor confuso depende da distncia lateral do ponto objeto ao eixo ptico e da distncia longitudinal lente, e sempre aparece entre as imagens primria e secundria. At agora discutimos as imagens de um ponto objeto, mas poderamos querer saber quais tipos de imagens seriam formadas por outros objetos. Alguns exemplos so mostrados na Fig. 2.13. Se o objeto
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for uma linha radial, sua imagem ser borrada no foco tangencial, T, e bem definida no foco radial, S. Se o objeto for uma linha tangencial, sua imagem ser bem definida em T e borrada em S. Se o objeto for uma combinao de linhas radiais e tangenciais como uma roda raiada, a beira da roda (que a soma de linhas tangenciais curtas) estar focalizada em T e os raios (que so linhas radiais) em S.
Objeto Imagem primria Imagem secundria
Objeto pontual Linha radial Linha tangencial Roda raiada Fig 2.13 Imagens astigmticas de vrios tipos de objetos. No caso de um feixe de luz colimada incidindo com um ngulo sobre uma lente, como mostra a Fig. 2.14, a simetria dos raios incidente diferente nos planos meridional e sagital, e assim, de se esperar que as distncias focais tambm o sejam. Realmente, encontra-se que no plano
plano meridional
plano sagital
Fig. 2.14 Focalizao nos planos meridional e sagital.
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Aberraes
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meridional o foco dado por fm = f cos enquanto que no plano sagital fs = f/cos. Para evitarmos este tipo de aberrao, devemos posicionar as lentes de uma montagem experimental sempre perpendiculares aos feixes de luz. Para vrios pontos objeto P, mostrados na Fig. 2.15, as imagens de linha correspondentes, S e T, determinam superfcies parablicas. A discordncia entre as duas superfcies uma medida da magnitude do astigmatismo. Quando a superfcie T da imagem primria cai esquerda da superfcie S de imagem secundria, a diferena de astigmatismos positiva. A superfcie de Petzval formada quando as superfcies S e T coincidem, implicando em astigmatismo nulo. Ela nica e s depende das propriedades bsicas da lente tais como a distncia focal e o ndice de refrao. Nesta situao, a imagem de um ponto no mais alargada, mas devido aberrao restante de curvatura de campo, o plano de imagem curvo e coincidente com a superfcie de Petzval. P S T F
Fig 2.15 Superfcies de imagens astigmticas, T e S, formadas por pontos

objeto fora de eixo.
2.7 Curvatura de campo

Com a curvatura de campo, os pontos fora do eixo comportam-se como se fossem afetados por uma lente de poder maior e assim tem um comprimento focal mais curto e ao atravessar uma lente positiva eles so deslocados para a lente, como mostra a Fig. 2.16. O resultado que os pontos objetos localizados sobre um plano tm suas imagens formadas numa superfcie curva, no num plano. Nesta situao, imagens bem
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definidas so observadas contanto que o plano da imagem coincida com a superfcie de Petzval.
Fig 2.16 Curvatura de campo.
2.8 Distoro
A ltima aberrao de Seidel a distoro, que determinada 3 pelo termo C11 h '3 r cos . Ela tambm s aparece para pontos objeto localizados fora do eixo e dependente do tamanho da abertura e do ngulo com respeito ao eixo. o equivalente transversal da curvatura de campo e tambm envolve raios fora de eixo que esto deslocados ou longe do eixo ptico. Isto resulta numa mudana da magnificao transversal com a distncia ao eixo. Ela no est relacionada com a falta de nitidez da imagem. Pontos objeto formam imagens de pontos mas devido variao na magnificao, a imagem de uma linha reta, por exemplo, est curvada no plano da imagem devido s propriedades de magnificao variveis. Um exemplo visto na Fig. 2.17.
Fig 2.17 Imagem de uma grade quadrada, resultando em distoro em

almofada..
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Aberraes
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H dois tipos de distoro: distoro em almofada e distoro em barril. Para a distoro em almofada, a ampliao lateral aumenta com a distncia ao ptico eixo. Para a distoro de barril, a ampliao diminui com a distncia do eixo. Como ilustra as Figuras 2.17 e 2.18, as imagens so bem definidas em ambos os casos.
(a)
(b)
(c)
Fig 2.18 Imagem de uma grade quadrada (a), resultando em distoro em

almofada (b) e distoro em barril (c).
De maneira geral, podem ser usadas aberturas para reduzir os efeitos das aberraes monocromticas. O dimetro da abertura pode ser diminudo, cortando assim os raios com grandes ngulos, o que faz a aproximao paraxial mais precisa. Uma conseqncia negativa que o brilho de imagem diminui e a difrao se torna mais significativa. Reduzir as aberraes um problema complexo. Num sistema de lentes, as aberraes de uma podem cancelar parcialmente as aberraes de outra, porm eliminar todas as aberraes de uma nica lente impossvel. Como as aberraes no podem ser eliminadas na sua totalidade, cada aplicao tem que ser analisada separadamente, isto , dependendo da aplicao, mais importante a reduo de uma ou outra aberrao. Por exemplo, uma lente de mquina fotogrfica de alta velocidade deve ser bem corrigida para a aberrao esfrica e a distoro no to crtica. Para uma lente usada em reproduo de mapas topogrficos justamente o oposto. Em todo caso, no h nenhuma maneira de eliminar todas as aberraes simultaneamente. Na realidade, a eliminao de algumas delas normalmente far as outras piores. Entendendo que as aberraes monocromticas so conseqncias inevitveis das leis de refrao de uma superfcie esfrica, a meta tentar reduzir as aberraes mais prejudiciais para uma dada aplicao particular.
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2.9 Aberrao cromtica

Uma aberrao adicional s cinco aberraes de Siedel a aberrao cromtica. Observada at mesmo na ptica paraxial, ela o resultado da disperso do ndice de refrao com o comprimento de onda, que produz uma variao da distncia focal quando a luz no monocromtica. Como o ndice de refrao maior no azul que no vermelho, a refrao desvia mais a luz azul, como mostrado na Fig. 2.19 para uma lente convexa positiva. Ento, diferentes comprimentos de onda iluminando um objeto tero sua imagem formada em pontos diferentes, resultando num efeito dispersivo prismtico.
foco azul foco vermelho
Aberrao cromtica longitudinal
Fig 2.19 Aberrao cromtica longitudinal. Se raios incidentes paralelos contiverem um espectro de comprimentos de onda, eles sero focalizados em pontos diferentes, como mostra a Fig. 2.19. A distncia focal da lente uma funo do ndice de refrao e portanto, uma funo do comprimento de onda. O ndice de refrao maior para comprimentos de onda mais curtos faz o foco da luz azul ficar mais prximo de uma lente positiva que o foco da luz vermelha. As cores intermedirias tero focos em posies intermedirias. Semelhantemente aberrao esfrica, a aberrao cromtica tambm possui as variaes longitudinal e transversal, como visto na Fig. 2.20. A aberrao cromtica lateral pode ser interpretada como uma variao da magnificao para comprimentos de onda diferentes. Como a disperso resultado da refrao, espelhos, que so afetados pela aberrao esfrica, so livres de aberraes cromticas e por isso so freqentemente usados em telescpios astronmicos.
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Aberraes
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raio azul raio vermelho
Aberrao cromtica transversal Aberrao cromtica longitudinal
Fig 2.20 Aberraes cromticas longitudinal e transversal. Sabendo o que so aberraes, como so formadas e a relao entre elas, podemos agora discutir como reduzi-las. Primeiramente, dar a uma lente a forma correta para reduzir aberraes um processo chamado de encurvar a lente. A melhor forma para uma lente aquela que produz a menor quantidade de aberrao esfrica. Superfcies parablicas eliminam completamente a aberrao esfrica, porm elas so extremamente difceis de serem fabricadas com a preciso necessria. Para simplificar o processo de fabricao das lentes, usa-se com maior freqncia aquelas com superfcies esfricas. Considerando que individualmente elas tm aberraes, poderamos pensar na combinao de lentes para tentar cancelar tais aberraes. O espelho primrio do telescpio Hubble teve aberrao esfrica devido a erros nas medidas feitas durante o processo de moldagem. Estes foram minimizados com um sistema de lentes que opticamente corrigiu a aberrao esfrica do espelho primrio. A correo da curvatura de campo chamada de achatamento de campo e feita com um sistema de lentes que satisfaz a condio de Petzval, eliminando assim a aberrao astigmtica. Para reduzir substancialmente a aberrao cromtica, podemos combinar duas lentes feitas de vidros diferentes de tal maneira que a aberrao de uma compensa a da outra. Este par de lentes chamado de dubleto acromtico e foi desenvolvido por John Dollond em 1758. Ele est mostrado na Fig. 2.21. Para entendermos seu princpio de funcionamento, devemos tomar a equao do fabricante de lentes, eq. (1.18), e expandir o ndice de refrao em torno de um dado comprimento de onda 0. Assim,
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1 1 (dn/d ) = 1 + f ( ) f n 1
(2.35)
onde = 0 e f o valor da distncia focal no ponto 0. Note que f() depende de apenas no termo e as demais grandezas que aparecem na equao so calculadas no ponto 0.
raio azul raio vermelho
crown
flint
Fig 2.21 Dubleto bicromtico usado para corrigir a aberrao cromtica. No caso de um dubleto, temos duas lentes com ndices de refrao na e nb, e distncias focais fa e fb muito prximas, de forma que a eq. (1.38) pode ser aplicada. Definindo:
a = b = 1 dn a n a 1 d
(2.36a)
1 dn b (2.36b) n b 1 d como grandezas calculadas no ponto 0, podemos escrever a distncia focal da lente equivalente como:
1 1 1 = (1 + a ) + (1 + b ) fb f ( ) f a
(2.37)
onde, novamente, a dependncia de f em est contida no termo . A eq. (2.37) pode ser re-escrita como:
1 1 = + a + b f ( ) f f a f b
(2.38)
S. C. Zilio
Aberraes
1 f 1 fa 1 fb
75
onde
. Como queremos que f() no dependa de , o termo
entre parnteses deve ser nulo. Assim, temos duas equaes:
a b + =0 fa f b 1 1 1 + = fa f b f
que podem fornecer os valores desejados de fa e fb:
(2.39a)
(2.39b)
f a = f 1 a b f b = f 1 b a
(2.40a)
(2.40b)
Em suma, conhecendo-se as disperses dos vidros utilizados, computa- se a e b para um dado 0, a partir dos quais se determina fa e fb para o valor de f desejado e constri-se o dubleto. Entretanto, como dn/d tambm varia com o comprimento de onda, o dubleto funciona bem apenas num certo intervalo em torno de 0. Voltaremos a discutir as equaes do dubleto acromtico depois que introduzirmos o nmero de Abbe na seo seguinte.
2.10 Vidros pticos

Na seo anterior introduzimos o conceito de aberrao cromtica de uma lente e como proceder para minimiz-la atravs da construo de um dubleto acromtico, que envolve o uso de diferentes tipos de vidros. Assim, conveniente neste ponto discutirmos um pouco sobre os tipos de vidros pticos existentes e suas propriedades fsicas mais relevantes. De maneira geral, o desenho de qualquer sistema ptico envolve a seleo de materiais adequados e depende da regio espectral, do ambiente e da aplicao. O material ptico mais utilizado em sistemas refratores sem dvida o vidro e assim, este termo genericamente empregado do mesmo
76
modo que o termo lente usado para denotar um sistema ptico. Na prtica, o termo vidro pode se referir a uma grande variedade de materiais, indo desde materiais cristalinos transparentes para o infravermelho at os utilizados para a construo de refletores. O desempenho de um sistema ptico depende do comprimento de onda no qual ele usado, em virtude tanto do fenmeno da difrao como das variaes das propriedades pticas dos materiais com o comprimento de onda. A mudana do ndice de refrao de materiais pticos com o comprimento de onda chamada de disperso e os defeitos da imagem causados pela disperso so chamados de aberraes cromticas. Elas so consideradas separadamente das aberraes monocromticas porque podem existir por si s, mesmo na aproximao paraxial, alm de causarem variaes cromticas nas aberraes de Seidel. H vrios fatores que devem ser considerados ao se selecionar um material para um sistema ptico. Como destacado acima, o mais importante freqentemente a disperso, mas muitos outros atributos tambm devem ser considerados, como as caractersticas trmicas, peso, propriedades mecnicas e qumicas, disponibilidade e custo. Muitos destes atributos no afetam diretamente o processo de otimizao via computador, mas esto disponveis para o desenhista projetar um sistema ptico com a melhor razo custo/benefcio possvel. O ndice de refrao da maioria dos materiais pticos pode ser descrito pela frmula de Sellmeier,
n 2 ( ) = A +
B12 B 2 B 2 + 22 + 23 2 C1 C 2 C3
(2.41)
onde o comprimento de onda em m. Esta frmula adotada pela Schott e por outros fabricantes por descrever o ndice de refrao de vidros pticos na regio visvel do espectro. Nela, Ci representam as ressonncias (absores) do meio nas regies do ultravioleta e infravermelho e Bi as intensidades das absores (fora de oscilador). Vrios outros parmetros so usados para descrever a disperso do vidro ptico. O mais usado na regio visvel do espectro o nmero de Abbe, V (ou ), definido por:
V= nd 1 n F nC
(2.42)
S. C. Zilio
Aberraes
77
onde nd o ndice de refrao do vidro no comprimento de onda da linha espectral d do hlio (0.5876 m), nF o ndice de refrao para a linha espectral F do hidrognio (0.4861 m) e nC o ndice de refrao para a linha espectral C do hidrognio (0.6563 m). Dependendo da regio espectral particular em estudo, comprimentos de onda diferentes de F, d e C podem ser usados para especificar o nmero de Abbe e a disperso parcial definida abaixo. Aps a introduo do nmero de Abbe, convm re-escrevermos as equaes para o dubleto acromtico em termos dos dados dos vidros encontrados na literatura, n e V. Como o ndice de refrao uma funo que varia suavemente com o comprimento de onda, podemos re-escrever a e b como:
a =
1 n aF n aC 1 1 = n ad 1 F C Va F C
(2.43a) (2.43b)
b =
1 n bd
n bF n bC 1 1 = 1 F C Vb F C
faVa + fb Vb = 0
Substituindo na eq. (2.39a) obtemos: (2.44) Como o nmero de Abbe positivo, conclumos que uma das lentes positiva e a outra deve ser negativa. As distncias focais das lentes so dadas por:
V f a = f 1 b Va V f b = f 1 a Vb
(2.45a)
(2.45b)
No visvel, o ndice de refrao dos vidros pticos tipicamente alguns por cento maior na parte azul do espectro do que no vermelho. A diferena entre os ndices de refrao de um vidro em dois comprimentos de onda diferentes conhecido como disperso para as duas linhas em questo. No caso onde os comprimentos de onda so os das linhas F e C, a disperso chamada de principal e a disperso para outras linhas
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conhecida como disperso parcial. A disperso parcial freqentemente expressa como uma razo. Por exemplo, a disperso parcial relativa para as linhas F e d dada por:
PFd =
nF nd n F nC
(2.46)
As caractersticas pticas dos vidros so freqentemente exibidas num grfico, chamado de diagrama dos vidros, onde o ndice de refrao exibido como funo do nmero V. Qualquer vidro particular corresponde a um ponto neste mapa. Por conveno, o nmero V graficado ao longo do eixo x, com valores decrescentes de V (i.e., poderes de disperso crescentes) para a direita. Um diagrama dos vidros tpico est mostrado na Fig. 2.22.
2,0 ndice de refrao 1,9 1,8 1,7 1,6 1,5 70 60 50 40 30 nmero de Abbe 20 limite inferior crown flint
Fig 2.22 Diagrama dos vidros. O valor de V varia de 25 para os vidros mais densos (flint) at 75 para vidros leves (crown). A maneira que os fabricantes usam para se obter esta variao pela adio de dopantes (lantnio, brio, etc.) composio bsica do vidro (slica SiO2). A linha vertical quebrada vista na Fig. 2.22 limita a regio entre os vidros crown e flint. A maioria dos vidros encontra-se prxima a uma linha que forma o limite mais baixo do diagrama dos vidros pticos. A disponibilidade de vidros pticos que ficam situados bem acima desta linha d ao desenhista uma flexibilidade considervel para corrigir as aberraes cromticas de
Aberraes
79
sistemas pticos. Porm, quando uma escolha arbitrria feita, o vidro escolhido deve se aproximar ao mximo da linha inferior, pois tais vidros so mais baratos e de maior disponibilidade.
Bibliografia
2.1. G. R. Fowles, Introduction to Modern Optics, Holt, Rinehart and Winston, NY (1968) 2.2. E. Hecht and A. Zajac, Optics, Addison-Wesley Publishing Co., Reading, MA (1979) 2.3. A. E. Conrady, Applied Optics and Optical Design, Dover Publications, NY (1929) 2.4. R. Kingslake, Lens design fundamentals, Academic Press, NY (1978). 2.5. F. W. Sears, Fsica: ptica, G. Carneiro, RJ (1953).
Problemas
2.1. Completar os passos que levam das equaes (2.8) e (2.9) at as equaes (2.11) e (2.12). 2.2. Obtenha as equaes (2.16) e (2.17). 2.3. Completar os passos que levam das equaes (2.16) e (2.17) eq. (2.18). 2.4. Discorra sobre as aberraes monocromticas de terceira ordem (aberraes de Seidel): quais so e quais seus efeitos sobre as imagens. Faa desenhos se necessrio.
2.5. Supondo que o objeto abaixo tenha sua imagem formada por uma
lente que possua apenas aberrao esfrica, como ser a imagem formada?
Objeto
Imagem
S. C. Zilio
80
2.6. Supondo que o objeto do problema 2.5 tenha sua imagem formada por
uma lente que possua apenas astigmatismo, como sero as imagens primria e secundria formadas?
Objeto
Imagem em T
Imagem em S
2.7. Deseja-se construir um dubleto acromtico com 100 mm de distncia focal efetiva na regio da linha d do hlio (0.5876 m). Neste comprimento de onda, os vidros a serem utilizados possuem os seguintes parmetros: n1 = 1.5 ,V1 = 60, n2 = 1.7 e V2 = 30. a) Considerando a aproximao de lente fina, quais devem ser as distncias focais f1 e f2? b) Supondo que a interface entre as duas lentes plana (r2 = ), quais devem ser os raios de curvatura r1 e r3? Faa um esboo da lente. 2.8. Considere uma lente plano-convexa fina, com raio de curvaturas r1 = e r2 = 25 cm. Sabendo que as distncias focais para as linhas d, F e C so dadas respectivamente por fd = 50 cm, fF = 49 cm e fC = 51 cm, encontre os ndices de refrao nestes comprimentos de onda e o nmero de Abbe do material.
S. C. Zilio
Traado de raios meridioniais
81
Traado de raios meridionais
3.1 O mtodo Q-U

Nos Captulos 1 e 2 vimos os fundamentos envolvidos no traado de raios por um sistema ptico. Foram estabelecidos os conceitos bsicos e mtodos para o clculo dos raios paraxiais, e introduzidas as idias sobre a origem e tipos de aberraes de terceira ordem, ou de Seidel. Neste captulo queremos aprofundar um pouco mais este assunto, introduzindo o clculo de raios meridionais, sem aproximaes na lei de Snell e discutindo com mais detalhes alguns tipos de aberraes. Esta parte do texto est baseada na Ref. 3.1, porm modificaremos a conveno de sinais ali utilizada para ficar coerente com a que apresentamos no Cap. 1. A tcnica principal que usaremos para o traado dos raios meridionais o mtodo Q-U, que embora bastante parecido com o mtodo y-nu, no lana mo da aproximao do seno de um ngulo pelo seu argumento. Como vemos na Fig. 3.1(a), Q definido como sendo a menor distncia entre o raio incidente e o vrtice da superfcie esfrica, sendo PA perpendicular ao raio incidente e U o ngulo que o raio faz com o eixo ptico, como visto no Cap. 1. Para derivarmos a equao para o clculo do traado de raios, desenhamos uma linha paralela ao raio incidente, passando pelo centro da curvatura da superfcie esfrica e dividindo Q em dois segmentos tal que: Q = r senI - r senU. O sinal negativo no segundo termo do lado direito vem do fato que U < 0 pois o raio est descendo (dy/dz < 0). J para o ngulo I (que entra na lei de Snell), a normal que faz o papel do eixo ptico; se o raio estiver subindo com relao a ele, I positivo, e no caso contrrio, negativo. Lembrando que a curvatura, c, o inverso do raio da superfcie esfrica, temos:
82
P Q A
I -U C
-U B
(a)
n'
Q1 Q2 t -U1 (b)
Fig. 3.1 - (a) Raio incidindo numa interface esfrica separando dois meios e (b)
translao entre duas superfcies esfricas.
sen I = Qc + sen U
(3.1)
No caso paraxial, Qy e os senos so aproximados pelos argumentos (sen I = i, sen U = u ) de forma que a eq. (1.12) recuperada. Usando a lei de Snell e a eq. (1.11) obtemos as equaes:
n sen I = sen I n' U= U I + I
(3.2) (3.3)
Esta ltima equao fornece o ngulo que o raio refratado faz com o eixo ptico. Procedendo de maneira similar para o raio refratado na interface esfrica, fcil mostrar que:
Q' = (sen I' sen U' ) /c
S. C. Zilio
(3.4)
83
Em seguida, da mesma forma que procedemos no traado dos raios paraxiais, devemos encontrar uma equao que nos fornea a translao do raio. Com base na Fig. 3.1(b) conclumos que :
Q 2 = Q '1 + t sen U '1
(3.5)
' onde U1 = U 2 negativo. Este conjunto de equaes nos permite traar um raio meridional atravs de um sistema ptico complexo, porm devemos alertar para o fato que a eq. (3.4) pode gerar um erro enorme quando o raio de curvatura da superfcie esfrica for grande, pois neste caso c ser muito pequeno. Para contornarmos este problema podemos usar a equao:
Q ' = Q (cos I '+ cos U ' )/(cos I + cos U )
(3.6)
que est deduzida na Ref. 3.1 e que vale para qualquer raio de curvatura. Para termos uma idia mais precisa de como o mtodo Q-U funciona na prtica, vamos calcular o traado de raios para um dubleto cimentado similar ao do Prob. 1.2, onde tomaremos n1 = 1,517, n2 = 1,649, r1 = 7,3895 cm, r2 = -5,1784 cm, r3 = -16,2225 cm, t1 = 1,05 cm e t2 = 0,4 cm. Como fizemos no mtodo y nu, vamos trabalhar com uma planilha com a qual possvel fazer as contas mecanicamente. Nestes clculos, como queremos posteriormente estimar as aberraes, que constituem em pequenas variaes relativas imagem paraxial, precisamos tomar pelo menos 4 casas depois da vrgula. Supondo que o raio incidente est paralelo ao eixo e incide na lente a uma altura de 2 cm podemos escrever a planilha de clculo da Tabela 3.1, onde os ngulos esto dados em radianos. Para encontrarmos a distncia focal traseira do dubleto, aplicamos novamente a equao da translao fazendo com que Q final seja nulo. Assim temos: 1,8814 fBFL 0,1666 = 0, o que nos leva a fBFL = 11,2939 cm. Este resultado pode ser comparado com aquele que obtido pelo mtodo y-nu, ou refazendo-se a planilha de clculos com Y 0 (fBFL = 11,2858 cm), verificando-se uma diferena de apenas 0,081 mm entre o mtodo QU (exato) e a aproximao paraxial. Este valor pequeno pelo fato de estarmos considerando um dubleto que j foi parcialmente otimizado. Se os mesmos clculos fossem feitos para um singleto, obteramos um desvio bem maior.
S. C. Zilio
84
Tabela 3.1 - Planilha de clculo para o dubleto cimentado.

DUBLETO CIMENTADO condies refrao translao refrao translao refrao iniciais sup. 1 sup. 2 sup. 3 t 1,05 0,4 n 1 1,517 1,517 1,649 1,649 1 r 7,3895 7,3895 -5,1784 -5,1784 -16,2225 -16,2225 c=1/r 0,1353272 0,1353272 -0,19311 -0,19311 -0,061643 -0,061643 Q 2 2,0171178 1,9178333 1,9398944 1,918662 1,8814033 I 0,2741 0,1794 -0,4835 -0,4419 -0,1722 -0,2865 U 0 -0,0947 -0,0947 -0,0531 -0,0531 -0,1674 sinI 0,2706543 0,1784142 -0,464909 -0,427694 -0,171353 -0,282561 sinU 0 -0,094557 -0,053081 -0,166586
3.2 Esferocromatismo de um dubleto cimentado

Vamos inicialmente definir raio marginal como sendo aquele que passa pela borda da lente, raio zonal aquele que passa a uma altura de 70% da do raio marginal e o j conhecido raio paraxial, que passa prximo do centro da lente. importante tomarmos raios incidindo sobre a lente em diferentes alturas porque, como vimos no Cap. 2, eles produzem diferentes aberraes esfricas. Em seguida, vamos usar o mtodo Q-U para calcularmos a distncia focal traseira do dubleto cimentado da seo anterior. Vamos tomar raios que entram paralelos ao eixo ptico, porm em diferentes alturas e considerar os comprimentos de ondas relativos s raias espectrais: A (0,7665 m), C (0,6563 m), D (0,5893 m), F (0,4861 m) e g (0,4358 m). Inicialmente calculamos o foco paraxial para a raia D e este ser usado como referncia (plano da imagem paraxial). Usando o mesmo tipo de clculo da Tabela 3.1, porm subtraindo do resultado final o foco paraxial da raia D, obtemos a Tabela 3.2, que fornece os desvios relativos ao plano da imagem paraxial. Valores positivos indicam um ponto posterior ao foco paraxial da raia D, enquanto que valores negativos indicam pontos anteriores. Existem duas maneiras de se analisar os dados da Tabela 3.2. Primeiro, podemos fazer um grfico da aberrao esfrica longitudinal
85
como funo da altura (abertura) para cada comprimento de onda. Segundo, podemos graficar a aberrao como funo do comprimento de onda para cada abertura. Estes dois grficos esto mostrados na Fig. 3.1.
Tabela 3.2 - Desvios relativos ao foco paraxial da raia D.
comprimento de onda ndice crown ndice flint Y = 2 (marginal) Y = 1.4 (zonal) Y 0 (paraxial) A 1,51179 1,63754 0,0198 0,0058 0,0320 C 1,51461 1,64355 0,0092 -0,0105 0,0113 D 1,517 1,649 0,0080 -0,0175 0 F 1,52262 1,66275 0,0256 -0,0159 -0,0104 g 1,5269 1,67408 0,0577 0,0017 -0,0036
O primeiro representa a variao cromtica da aberrao esfrica enquanto que o segundo nos fornece curvas de aberrao cromtica para diferentes aberturas. Destas curvas podemos definir vrias aberraes especficas. Chamando de lparaxial o foco paraxial, Lmarginal e Lzonal, os focos marginais e zonal, temos: 1. Aberrao esfrica (LA) dada por Lmarginal - lparaxial para a raia D. Na Tabela 3.2 ela possui o valor 0,008, estando portanto levemente super corrigida. 2. Aberrao zonal (LZA) dada por Lzonal - lparaxial para a raia D. Na Tabela 3.2 temos 0,0175 (sub-corrigida). O melhor compromisso entre as aberraes marginal e zonal em objetivas fotogrficas quando LA+LZA= 0 . Entretanto, para sistemas visuais melhor que a condio LA= 0 seja satisfeita.
0.8
Zon al
M Z
0.7
(m)
A' C -0.04 0.00 0.04
(a)
0.6 0.5 0.4
Pa rax ial
(b)
Ma rgin al
-0.04 0.00 0.04 0.08
Aberrao esfrica
Aberrao cromtica
Fig. 3.1 - Aberrao esfrica longitudinal do dubleto cimentado com funo da

abertura (a) e do comprimento de onda (b). S. C. Zilio Desenho e Fabricao ptica
86
3. Aberrao cromtica (Lcrom) dada por LF - LC e sua magnitude varia com o tamanho da abertura, conforme mostram a Tabela 3.3 e a Fig. 3.2.
Tabela 3.3 - Aberrao cromtica.
Raio Marginal 0.7 Zonal Paraxial
M Z
Lcrom = LF LC 0,256 - 0,0092 = 0,0164 -0,0159 (- 0,0105) = - 0,0054 - 0,0104 0,0113 = - 0,0217
-0.04
-0.02
0.00
0.02
Aberrao cromtica
Fig. 3.2 - Variao da aberrao cromtica com a abertura.
4. Esferocromatismo - a variao cromtica da aberrao esfrica e expressa como a diferena entre as aberraes esfricas marginais das linhas F e C: Esferocromatismo = (L - l)F - (L - l)C = (LF - LC) (lF - lC) = aberrao cromtica marginal - aberrao cromtica paraxial = 0,0164 - (-0,0217) = 0,0381. 5. Espectro secundrio geralmente expresso como sendo a distncia entre os focos das diferentes linhas espectrais em relao interseco dos focos das linhas F e C, que ocorre a uma dada altura Y. Da Fig. 3.1(a), vemos que as curvas F e C interceptam para Y = 1.5 e que nessa altura as outras linhas espectrais desviam do foco combinado FC por : 0,016 (A), - 0,007 (D) e 0,02 (g).
S. C. Zilio
87
3.3 Aberrao cromtica de um dioptro esfrico

Para determinarmos a contribuio de um dioptro esfrico para a aberrao cromtica de uma lente, comearemos com a equao de formao de imagem por uma interface esfrica de raio r separando dois meios dieltricos de ndices de refrao n e n, como vimos no Prob. 1.9. Considerando as linhas F e C temos: n n C n n C C + = C lC l C r n F n n n F + F = F F l lF r Subtraindo estas equaes obtemos:
n n' F n C n F (n - n F ) (n C - n F ) C + = C C l' F l C l F r l
(3.7a) (3.7b)
(3.8)
Em seguida definimos n = nF - nC e n = nF - nC, tal que nF = nC + n e nF = nC + n. Inserindo estas grandezas na eq. (3.8) e eliminando os subscritos uma vez que n e n so pequenos, obtemos : n' n 1 1 (l' F l'C ) + 2 (l F l C ) = n + n ' 2 l' l r l 1 1 r l' (3.9)
Da Fig. 1.37 vemos que u = y/l e u = -y/l, e da eq. (1.12) temos i = y/r + u. Substituindo estas igualdades na eq. (3.9) chegamos a:
n ' u '2 (l' l' ) + nu 2 (l l ) = n i n ' i' F C F C y y y2 y2
(3.10)
Em seguida, multiplicamos os dois lados por y2 e usamos a lei de Snell (ni = ni). Devemos tambm levar em conta que as eqs. (3.7) implicam em magnificao longitudinal negativa, isto , quando l aumenta, l diminui. Este fato nos leva a tomar Lcrom = lF - lC e Lcrom = - (lF - lC ), de forma que obtemos: n n ' nu2 Lcrom n2 u2 Lcrom = y n i n' n
S. C. Zilio
(3.11)
88
No caso de termos um sistema ptico com k superfcies, escrevemos uma destas equaes para cada superfcie e somamos. Vrios termos se cancelam devido s identidades: nj nj+1 ; uj uj+1 e (Lcrom)j (Lcrom)j+1. Com isso temos: (nu2 Lcrom)k (n u2 Lcrom)1 = que dividido por nk uk2 resulta em:
yni
n n ' n n
(3.12)
( L'crom )k - ( Lcrom )1
n 1u 1 2 y n i n n ' = = (L'crom ) 2 2 n' n 'k u 'k n n 'k u 'k
(3.13)
O termo que est sendo somado corresponde contribuio de cada superfcie aberrao cromtica longitudinal no caso paraxial. Note que os termos com ndice k so constantes e referem-se ltima superfcie apenas. Na Tabela 3.4 estas frmulas so usadas para o clculo das contribuies de cada superfcie do dubleto cimentado da seo 3.1 aberrao cromtica paraxial. A soma de todas as contribuies resulta em 0,02165. Para comparao, notamos da Tabela 3.3 que LF - LC = 0,0217. A concordncia entre a eq. (3.13) e o traado real do raio paraxial bastante boa, apesar das vrias pequenas aproximaes que fizemos ao derivar esta frmula.
Tabela 3.4 - Contribuio das superfcies para a aberrao cromtica primria.
DUBLETO CIMENTADO
Cond. Refr. Sup. Transl. Iniciais 1 nd 1 1,517 1,517 nC 1 1,51461 1,51461 nF 1 1,52262 1,52262 r 7,3895 7,3895 -5,1784 y 2 2 1,90315 u 0 -0,09224 -0,09224 i 0,27065 0,17841 -0,45976 (1/u'3)2 36 36 36 nF-nC 0 0,00801 0,00801 0 0,00528 0,00528 n/n 0 -0,00636 n/n-n'/n' -0,005280 L'crom -0,102895 0 0,30406645 Refr. Sup. Transl. 2 1,649 1,649 1,64355 1,64355 1,66275 1,66275 -5,1784 -16,2225 1,90315 1,88097 -0,05544 -0,05544 -0,42295 -0,17139 36 36 0,01920 0,01920 0,01164 0,01164 0 0,01164 0 -0,2228234 Refr. Sup. 3 1 1 1 -16,2225 1,88097 -0,16667 -0,28262 36 0 0 0 0
S. C. Zilio
89
3.4 Aberrao cromtica de uma lente delgada

A equao que descreve a formao de imagens na aproximao paraxial :
1 1 1 1 + = (n 1) r r l l' 2 1
(3.14)
Considerando as linhas F e C teremos duas equaes de formao de imagem, uma para cada cor, que quando subtradas resulta em:
1 1 1 1 1 1 + = (n F n C ) r r l' F l'C l F l C 1 2
(3.15)
Usando a definio de nmero de Abbe : V = (nd-1)/(nF-nC) e a equao do fabricante de lentes delgadas obtemos : l' C l' F l C l F 1 + = 2 2 fV l' l (3.16)
Multiplicamos os dois lados por (-y2), e usando as definies Lcrom = lF lC, Lcrom = - (lF - lC), u = y/l e u = - y/l chegamos a: u2 Lcrom u2 Lcrom = -
y2 fV
(3.17)
No caso em que temos um objeto no infinito (u = 0 e u = -y/f), a aberrao cromtica paraxial ser simplesmente Lcrom = - f/V. Por outro lado, se tivermos um sistema ptico com k lentes delgadas em contato, escrevemos uma equao para cada lente e somamos. Como na seo anterior, vrios termos se cancelam devido s identidades uj uj+1 e (Lcrom) j (Lcrom)j+1, de forma que: uk2 (Lcrom)k u12 (Lcrom)1 = Ou, alternativamente:
y2 fV
(3.18)
( L'crom )k =
u1 1 ( Lcrom )1 2 u 'k u 'k
y2 fV
(3.19)
S. C. Zilio
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No lado direito desta igualdade, o primeiro termo est ligado aberrao cromtica do objeto, que nula para objetos reais, e o segundo termo corresponde contribuio das vrias lentes presentes no sistema ptico. Uma maneira alternativa de se escrever a eq. (3.18) dividindo a eq. (3.17) por y2 e somando para as vrias lentes do sistema. Novamente, vrios termos se cancelam e o resultado a que chegamos :
L'crom Lcrom = 1 2 2 fV = V l' k l 1
(3.20)
onde = 1/f o poder da lente. O termo no lado esquerdo desta igualdade conhecido como resduo cromtico, R, que nulo para uma lente acromata com um objetivo real. Se o poder total de um sistema de lentes finas em contato , ento = e R = - /V. Como exemplo, vamos considerar um dubleto de distncia focal f composto por duas lentes finas com distncias focais fa e fb. Temos ento: 1 1 1 = + f fa fb 1 1 R= f a Va f b Vb
=
(3. 21a)
(3.21b)
Deste sistema de duas equaes duas incgnitas, podemos encontrar as distncias focais fa e fb como: Va 1 1 = + RVb f a Va Vb f Vb 1 = f b Vb Va 1 + RVa f (3.22a) (3. 22b)
Estas equaes so generalizaes das eqs. (2.45), que foram obtidas partindo da hiptese que a aberrao cromtica era nula. Realmente, fazendo R = 0 nas eqs. (3.22) recuperamos os resultados das eqs. (2.45).
S. C. Zilio
91
3.5 Espectro secundrio paraxial

At agora tratamos uma lente acromata como sendo aquela em que os focos para as linhas C e F coincidem. Entretanto, para outros comprimentos de onda os focos podem estar antes ou depois destes e esta discrepncia tem o nome de espectro secundrio paraxial. Para calcul-lo, vamos tomar um comprimento de onda genrico, , e re-escrever a eq. (3.15) como: 1 1 l' l' F l l F + = (n n F ) 2 2 r r (3.23) l' l 1 2 Definindo (Lcrom)F = lF - l, (Lcrom)F = -(lF - l) e multiplicando os dois lados por (-y2) obtemos:
1 1 (Lcrom)F u2 (Lcrom) F u2 = - (nF-n)y2 r r 1 2
(3.24)
Da equao do fabricante de lentes e da definio do nmero de Abbe temos que:
1 1 nF nC 1 1 = = r1 r2 f ( n d 1) n F n C fV(n F n C )
que quando substituido na eq. (3.24) resulta em:
(3.25)
y2 n n y2 (Lcrom) Fu2- (Lcrom) Fu2 = - F = PF fV n F n C fV
(3.26)
onde PF a disperso parcial relativa para as linhas F e . Comparando com a eq. (3.17) vemos que a aberrao cromtica paraxial para um comprimento de onda calculada como para a linha C desde que se multiplique por um fator de peso dado pela razo se disperso parcial. Desta forma, desprezando a aberrao cromtica do objeto e somando para as vrias lentes que compem o sistema, temos:
l'F l' =
1 u '2 k
y2 fV PF
(3.27)
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Como exemplo, vamos calcular o espectro secundrio do dubleto tratado no final da seo 3.4. Para isso, vamos considerar o resduo cromtico nulo e assim a eq. (3.22) se reduz a: faVa = -fbVb = f (Va Vb) (3.28) Em seguida, lanamos mo da eq. (3.27) supondo que as lentes so suficientemente finas, tal que a altura do raio no se modifica ao percorrer o dubleto. Com isso obtemos:
l ' F l ' =
y2 u '2 b
2 Pa + Pb = y f V f V u '2 f a a b b b
Pa Pb V V a b
(3.29)
onde na ltima passagem utilizamos a eq. (3.28). Note que fa e fb referemse s distncias focais para a linha d, enquanto que Pa e Pb so as razes de disperso parciais para os vidros crown e flint no comprimento de onda . Se o objeto estiver no infinito, -y/ub = l = f e ento:
P Pb l ' F l ' = f a Va Vb
(3.30)
3.6 Acromatas com lentes delgadas separadas

Como vimos, uma maneira prtica de se reduzir significativamente a aberrao cromtica pela construo de um dubleto cimentado feito com vidros crown e flint. Entretanto, esta no a nica maneira e outros artifcios podem ser usados, como por exemplo, tomando duas lentes de focos fa e fb, separadas por uma distncia d, como mostra a Fig. 3.3. A condio de acromatizao impe que: 1 u '2 b
y2 =0 fV
2 ya y2 + b =0 f a Va f b Vb
(3.31)
Para que a eq. (3.31) seja satisfeita necessrio que uma das lentes seja negativa. Observando a Fig. 3.3, notamos que pela semelhana de tringulos: f d ya f (3.32) = a yb = ya a f yb fa d a
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ya d fa
yb
Fig. 3.3 - Combinao de duas lentes delgadas.
Substituindo este valor na eq. (3.31) e usando a definio k = d/fa obtemos: fbVb = - faVa (1-k)2 (3.33) Por outro lado, sabemos que a associao de duas lentes finas produz um foco efetivo 1 1 1 d 1 1 = + = + (1 k ) f fa fb fafb fa fb (3.34)
Resolvendo o sistema de eqs. (3.33) e (3.34), determinamos as distncias focais das lentes como: Vb f a = f 1 Va (1 k ) V f b = f (1 k ) 1 a (1 k ) Vb (3.35a)
(3.35b)
Se as lentes possurem vidros do mesmo tipo (Va=Vb) estas equaes se simplificam da forma:
fa = k f 1 k (3.36a) (3.36b)
f b = k (1 k ) f
Uma vez determinadas as distncias focais das lentes que acromatizam o dubleto no cimentado, dadas pela eq. (3.35), queremos agora calcular o espectro secundrio. De acordo com a eq. (3.27) temos:
S. C. Zilio
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2 2 1 Pa y a + Pb y b l ' F l ' = 2 f b Vb u 'b f a Va
(3.37)
Novamente usando a semelhana dos tringulos da Fig. 3.3, temos que yb = ya (1-k), que quando substitudo na eq. (3.37) resulta em:
l ' F l ' =
2 y a Pa P + b (1 k ) 2 2 f a Va f b Vb u 'b
(3.38)
Usando os focos fa e fb dados pela eq. (3.35) e o fato que ub = ya/f, que pode ser visto traando-se o plano principal da Fig. 3.3, chegamos ao nosso resultado final:
l ' F l ' =
f (1 k )(Pa Pb ) [Va (1 k ) Vb ]
(3.39)
Se os vidros utilizados para a confeco das lentes forem do mesmo tipo (Va =Vb e Pa = Pb) teremos l'F l' = 0.
Bibliografia
3.1. R. Kingslake, Lens Design Fundamentals, Academic Press, NY (1978).
Problemas
3.1. Deduza a eq. (3.6). Sugesto: Consulte a Ref. 3.1. 3.2. Demonstre a relao
Q = y (cos I + cos U )/[1 + cos( I U )] . Mostre que para y << r, Q y cos U y senU 2r
3.3. Usando o mtodo Q-U, calcule a distncia focal traseira de uma lente plano-convexa com r1 = 27 mm, r2 = , n = 1.517 e d = 3 mm. Considere um raio que incide paralelo ao eixo ptico com Y = 5 mm. 3.4. a) Encontre as distncias focais das lentes que formam um dubleto acromtico cimentado com f = 100 mm, utilizando BAK2 (na = 1.54,
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Va = 59.71) como vidro crown e SF2 (nb = 1.648, Vb = 33.85) como vidro flint. Considere o resduo cromtico nulo. b) Supondo que a interface entre as lentes seja plana (r2 = ), encontre r1 e r3. 3.5. Explique o que so: a) curvas de interseco de raios (ray intercept curves - RIC), b) funo transferncia de modulao (MTF), c) funo transferncia de modulao atravs do foco, d) nmero de Abbe, e) espectro secundrio. Faa desenhos sempre que necessrio. 3.6. Considere um raio que incide sobre um singleto paralelamente ao eixo ptico. Sabendo que r1 = 10, r2 = , n = 1.5 e t = 2, use o mtodo QU para encontrar a distncia focal traseira. 3.7. Deseja-se construir um dubleto acromtico com lentes finas separadas, com distncia focal efetiva de 100 cm e separao k = d/ fa = 1/3. Para isso usa-se vidros crown (vidro a) e flint (vidro b) cujos ndices de refrao so dados na Tabela 3.2. a) Encontre o nmero de Abbe de cada vidro. b) Encontre as distncias focais fa e fb das lentes do dubleto. c) Encontre o espectro secundrio para a linha g. 3.8. Considere um raio que incide sobre um dioptro esfrico de raio de curvatura r = 10 cm separando dois meios com ndices n1 = 1.5 e n2 = 2. Sabendo que o raio entra a uma altura Y = 2 cm e deixa o dioptro paralelo ao eixo ptico, use o mtodo Q-U para encontrar a posio do ponto objeto axial. 3.9. Constri-se um dubleto acromtico cimentado com lentes de foco fa = 50 mm e fb = -100 mm utilizando-se BAK2 (na = 1.54, Va = 60) como vidro crown e SF2 (nb = 1.65, Vb = 34) como vidro flint. Encontre: a) o resduo cromtico e b) o espectro secundrio paraxial para um dado comprimento de onda , no caso em que as disperses parciais relativas entre as linhas F e so: Pa = 0.54 e Pb = 0.59. Considere o objeto no infinito.
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S. C. Zilio
Programa OSLO para clculos de desenho ptico
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4.1 Introduo
O programa OSLO foi escolhido para clculos de desenho ptico neste livro por ser de uso relativamente fcil e por possuir uma verso educacional (OSLO.EDU) que pode ser baixada pela internet a partir do endereo: www.lambdares.com. Partiremos da hiptese que o leitor assim procedeu e j dispe do programa no seu micro computador. Ao ser aberto, aparecer uma janela com informao sobre o programa OSLO e sua verso educacional. Clique sobre esta janela e ver aparecer uma outra com a dica do dia (Tip of the Day). Clique em Close para entrar no programa de clculo, que apresentar 3 janelas, como mostra a Fig. 4.1. A janela superior esquerda diz COMAND:. Possui trs cones no lado esquerdo: um em verde, um X em vermelho, e uma interrogao ? em amarelo. Ao se colocar o cursor sobre qualquer destes smbolos aparecer a explicao sobre sua funo. O mesmo se d para vrios outros smbolos que aparecem no programa. A janela COMAND: no ser utilizada nos clculos que apresentaremos neste captulo, uma vez que ela ser substituda pela janela Surface Data no momento que entrarmos com os dados de uma lente. A segunda janela est esquerda, abaixo da janela de comando. Esta janela, identificada como TW1(Text Window), o lugar onde a informao de texto ser indicada. A terceira janela, que est no lado superior direito, identificada como GW1 (Graphic Window), ou UW1. Esta janela grfica onde o programa OSLO indica a anlise de um projeto ptico. Alm destas, muitas janelas adicionais podem ser abertas e tero nomes do tipo TW2 ou GW2. Para a
S. C. Zilio
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abertura de novas janelas, v para Window, na barra de menu superior, escolha o tipo de janela e clique em New. Vamos abrir um arquivo de lente e examin-lo. No canto superior esquerdo da barra do menu superior voc ver a palavra FILE (arquivo). Colocando o cursor sobre ela, aperte o boto da esquerda que uma caixa de dilogo se abrir. Clique sobre Open Lens e uma pequena janela com o ttulo Open Lens File aparecer. Precisaremos navegar at o arquivo que tem a lente que nos interessa. Para isso, clique sobre a caixa no canto inferior direito com o nome Public, clique duas vezes sobre o arquivo demo e duas vezes sobre o arquivo edu. Com isso aparecer uma lista de arquivos de lentes, do qual escolheremos DEMOTRIP, que um tripleto com distncia focal efetiva de 50 mm. Em seguida clique em Abrir e a tela mostrada na Fig. 4.2 aparecer.
Fig. 4.1 Aparncia do programa OSLO ao ser aberto. A nova janela no canto superior esquerdo mostra os dados das superfcies (Surface Data). o lugar onde se entra com a informao para
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um projeto ptico. A janela Autodraw s estar aberta se o boto Draw On/Off da planilha Surface Data estiver clicado. Voc pode salvar este arquivo com um nome novo. Clique sobre a palavra FILE (arquivo), ento em Save Lens As e entre um nome novo. aconselhvel coloc-lo no arquivo Private, onde possvel se criar vrios arquivos secundrios nos quais se coloca os dados de interesse. Tambm possvel se criar uma nova pasta com seu prprio nome ou com o nome de um determinado projeto. Sempre que voc modificar um arquivo, uma boa idia salvar esse arquivo com nome novo. Desta forma o arquivo original no modificado e sempre possvel voltar atrs para ver os dados originais. Quando se sai do programa, ele perguntar se queremos conservar as mudanas feitas nos parmetros da lente. Tome cuidado para no gravar sobre um arquivo j existente para no cometer o erro de perd-lo.
Fig. 4.2 Aparncia da tela com o arquivo DEMOTRIP.

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4.2 Entrada de dados

Nesta seo vamos explicar como se entra com os dados de um dubleto no programa Oslo. Vamos comear criando um novo arquivo clicando em File e depois em New Lens. Uma janela de dilogo perguntar se queremos salvar a lente anterior e neste caso apertaremos a palavra No. Ser possvel ver uma nova janela chamada File new aberta, como mostra a Fig. 4.3. Vamos inicialmente abrir um dubleto existente no catlogo de alguma companhia. Clique em Catalog lens e depois em OK. Uma janela chamada Catalog Lens Database se abrir, como indicado na Fig. 4.4. Clique na ltima linha da planilha, onde est escrito Catalog:, e depois em Combined. Esta opo dar uma maior margem de escolha uma vez que os catlogos de todas as companhias estaro disponveis.
Fig. 4.3 Janela para a abertura de uma nova lente. Clique em doublets, EFL (Effetive Focal Length) e ento escolha a distncia focal de interesse (por exemplo, 50 mm). Confirme no smbolo verde. Uma planilha Surface Data como a mostrada na Fig. 4.5 aparecer. Se a tela do computador estiver desorganizada, v para Window, na barra de menu superior, e aperte em Tile Window. Esta ao organizar as janelas que j esto abertas. Vamos agora examinar com ateno esta planilha. Inicialmente, vamos dar o nome de dubleto lente. Para isso, encontre a palavra No name, clique sobre ela e digite a palavra dubleto. Na mesma linha voc poder ver a distncia focal real da lente que foi aberta. Este valor constantemente atualizado conforme mudamos os parmetros da lente.
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Fig. 4.4 Base de dados do catlogo de lentes.
Fig. 4.5 Dados de um dubleto comercial. Na parte inferior da planilha existem seis colunas. SRF especifica o nmero da superfcie. Algumas palavras que aparecem nesta coluna tem o seguinte significado: OBJ o plano do objeto, AST (Aperture Stop) a
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abertura fsica do sistema, que por default colocada na superfcie 1, mas pode ser mudada, e IMS (Image Surface) um plano virtual ajustvel sobre o qual se pode observar a formao da imagem como se fosse um anteparo. Continuando com a descrio das outras colunas, RADIUS onde se entra com o raio de curvatura da superfcie em questo, THICKNESS a espessura do vidro ou o espaamento de ar entre esta superfcie e a prxima, APERTURE RADIUS o semi-dimetro da superfcie, GLASS o tipo de vidro ou outro material utilizado na fabricao da lente, e SPECIAL onde se entra com algum dado especial quando se fizer necessrio. Para enxergar melhor estes dados devemos desagrupar o dubleto, uma vez que ele aberto como um elemento nico. Para isso, coloque o cursor no retngulo cinza logo aps o nome da lente (MGLAL013) e clique sobre ele. Aparecer uma caixa de dilogo perguntando se deseja desagrupar a lente. Clique em OK, e os dados especficos de cada superfcie aparecero, como visto na Fig. 4.6.
Fig. 4.6 Dubleto comercial desagrupado. Agora se torna possvel modificar os dados existentes na planilha, se desejado. Uma outra maneira de desagrupar o dubleto clicando em AST, aps o que duas linhas sero destacadas. Em seguida, clique em Group, da barra de menu da planilha Surface Data e ver que aparece a palavra Surfs no seu lugar, com o dubleto j desagrupado. Clicando agora em Surfs os dados so re-agrupados, fornecendo o elemento original. Existe uma terceira maneira para desagrupar o elemento e neste caso seleciona-se AST e clica-se com o boto da direita. Desta forma, aparece
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um conjunto de comandos como mostra a Fig. 4.7. Escolhendo o comando Ungroup, e clicando com o boto da esquerda, o conjunto ser desagrupado. Para re-agrupar este conjunto seleciona-se os elementos que o compe, clica-se com o boto da direita e na tabela da Fig. 4.7 escolhese o comando Element Group. Desta tabela, vemos ainda que possvel uma srie de operaes com as linhas da planilha. Podemos cortar, copiar, colar, inserir antes, inserir depois, apagar, reverter ou inverter um elemento, agrupar ou desagrupar, inserir uma lente de catlogo ou inserir uma lente de arquivo. Recomenda-se neste ponto que o leitor se familiarize com estes comandos.
Fig. 4.7 Tabela para manipulao dos elementos de uma lente. Ao invs de abrirmos um dubleto comercial poderamos querer criar uma lente de nosso prprio desenho. Neste caso, novamente clicamos em File e depois em New Lens. A janela de dilogo perguntar se queremos salvar a lente anterior e como antes apertaremos a palavra No. Veremos novamente a janela File new aberta, como j mostramos na Fig. 4.3. Clique em Custom lens, coloque o nmero de superfcies (3 no caso do dubleto) e depois clique em OK. Na janela que se abrir possvel digitar diretamente os dados do dubleto. Para fazermos um caso concreto, vamos considerar o dubleto tratado no problema 1.2, onde n1 = 1.52, n2 = 1.65 , r1 = 7 cm , r2 = -5 cm,
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r3 = -16 cm, t1 = 1 cm e t2 = 0.4 cm. Podemos comear digitando os raios de curvatura e depois os espaamentos. Em APERTURE RADIUS e Ent. beam radius coloque 2.0. Estas unidades so arbitrrias, mas podemos pensar, por exemplo que elas correspondem a centmetros. Clicando em Draw On, voc no ver nenhuma figura porque os vidros ainda no foram especificados e o programa considera como se tudo fosse ar. Na coluna GLASS, escreva BK7 e F2, como mostra a Fig. 4.8. Agora voc poder ver o desenho do dubleto.
Fig. 4.8 Dubleto do problema 1.2. No caso de no sabermos o nome do vidro desejado, podemos escolher da tabela de algum fabricante. Para isso, clique no quadro cinza da coluna GLASS, na linha que contm a superfcie de interesse. Aparecer uma janela onde escolheremos Catalog (C). Aparecer outra janela onde selecionaremos Schott. Com isso abre-se o catlogo de vidros pticos deste fornecedor, que pode estar apresentado pelo nome, ndice de refrao ou nmero de Abbe. Se estiver pelo nome, uma vez que se clicar sobre algum tipo de vidro, aparecer na parte superior da planilha os parmetros relacionados quele vidro. Por outro lado se escolhemos a apresentao da tabela pelo ndice de refrao, aparecer uma coluna com o ndice e ao lado os vidros que satisfazem aquele valor. Ao escolher o vidro que interessa, clique no boto verde de confirmar. Com isso o vidro ser adicionado planilha de dados da superfcie. A planilha de dados de superfcie deve ser salva periodicamente e para isso clica-se no boto verde de confirmar. Esses dados ficaro guardados num buffer e para serem recuperados devemos clicar num cone
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parecido com uma lente azul na barra de menu. Este cone s aparece quando a planilha de dados est fechada. Toda vez que se quiser descartar alguma planilha basta aplicar no X vermelho, aps o que aparecer uma janela pedindo confirmao para desfazer todas as mudanas. Confirme sim e v novamente para a lente azul para obter os dados anteriores. Os ndices de refrao exatos do dubleto que estamos calculando no so encontrados nos catlogos dos fornecedores. Para contornar esse problema, podemos criar um modelo de vidro clicando na caixa cinza da coluna GLASS e escolhendo Model (M). Aparecer uma caixa solicitando o nome do vidro, cujo preenchimento opcional. Clicando em OK aparecer uma janela onde se entra com o ndice de refrao deste vidro imaginrio. Entre com o valor 1.52 para a superfcie 1 ou 1.65 para a superfcie 2. Clicando em OK aparecer uma outra janela onde se que entra com um nmero de Abbe, mas seu preenchimento opcional. Confirme no smbolo em verde e a planilha da Fig. 4.9 aparecer. Note que chamamos um vidro de CROWN1 e o outro de FLINT2. Confirme no smbolo em verde para salvar a planilha e depois na lente azul para reabri-la.
Fig. 4.9 Dubleto do problema 1.2 com os ndices corrigidos. possvel inserir novas linhas na planilha e para isso devemos inicialmente escolher uma superfcie particular clicando sobre seu nmero e depois usar o cone na parte superior da planilha (inserir antes) ou a tabela da Fig. 4.7 (inserir antes ou inserir depois da linha selecionada). Como exemplo, vamos separar as duas lentes de que formam o dubleto por uma distncia de 2 cm. Selecionaremos a linha 2 e com o cone do
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canto superior direito da planilha inserimos uma nova linha na qual podemos digitar os dados que interessam. Alternativamente, podemos usar os comandos Copy e Paste da tabela da Fig. 4.7 para repetir uma linha e depois modificar os dados. Na parte superior da Fig. 4.10 podemos ver como ficou a nova planilha com o dubleto separado. Clicando o boto Draw On/Off vemos que agora as duas lentes esto separadas, como visto na parte inferior da Fig. 4.10.
Fig. 4.10 Dubleto separado.
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4.3 Janela de texto

A janela de texto o local onde os dados de entrada e os valores calculados pelo programa so mostrados. Ela possui o aspecto da Fig. 4.11, onde ferramentas padro so exibidas, mas outros comandos podem ser adicionados barra de menu se forem selecionados no cone com formato de janela azul localizado no canto superior esquerdo da janela. Clicando neste cone veremos aparecer uma tabela com as vrias possibilidades de ferramentas disponveis, como mostra a Fig. 4.12.
Fig. 4.11 Janela de texto com as ferramentas padro.
Fig. 4.12 Ferramentas disponveis na janela de texto. Recomenda-se que o leitor clique sobre algumas destas ferramentas para ver as mudanas que ocorrem na barra de menu. Ao andar com o cursor sobre os diversos comandos existentes veremos que seu nome fica visvel, o que facilita bastante seu uso. Como exemplo, quando acionamos o boto Len, vemos surgir uma tabela com os dados que foram colocados na planilha de entrada, como mostrado na Fig. 4.13. Por outro lado, o comando Rin apresentar uma tabela com os ndices de
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refrao e nmeros de Abbe utilizados na confeco da lente, em trs comprimentos de onda diferentes, como mostra a Fig. 4.14. Veremos no futuro como escolher estes comprimentos de onda.
Fig. 4.13 Dados da lente.
Fig. 4.14 ndices de refrao utilizados na confeco da lente. Ainda com relao s ferramentas padro mostradas no menu da janela de texto destacamos os comandos Pxc (Paraxial constants), que fornece as constantes paraxiais do sistema, Abr, que indica as aberraes totais e Auf que possibilita se fazer a auto-focalizao do sistema. A autofocalizao tambm pode ser feita diretamente na planilha de dados das superfcies, como veremos na prxima seo. As janelas correspondentes a estes comandos esto mostradas nas figuras de 4.15 a 4.17. interessante neste ponto que o leitor clique sobre todos os comandos existentes na barra ferramentas para ver os tipos de informaes que podem ser obtidas.
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Fig. 4.15 Comando Pxc: dados paraxiais da lente.
Fig. 4.16 Comando Abr: aberraes totais do sistema.
Fig. 4.17 Comando Auf: realizao da auto-focalizao do sistema. Na ferramenta Aberrations, vista na tabela da Fig. 4.12, destacamos os comandos Pxs (Paraxial setup) e Pxt (Paraxial trace), que fornecem outros dados do clculo do desenho ptico e tambm o comando Sei, que d as aberraes de Seidel de terceira ordem para cada superfcie do sistema, bem como sua soma. As janelas correspondentes a estes comandos esto mostradas nas figuras de 4.18 a 4.20.
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Fig. 4.18 Comando Pxs: fornece dados do traado paraxial.
Fig. 4.19 Comando Pxt: fornece alturas e ngulos do traado paraxial.
Fig. 4.20 Comando Sei: fornece as aberraes de cada superfcie e sua soma.
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4.4 Janela grfica

A janela grfica, mostrada na Fig. 4.21, o local onde se apresentam as informaes grficas sobre o sistema ptico, incluindo desenhos e aberraes. Esta janela apresenta uma barra de menu com 9 cones que podem ser utilizados para mostrar diferentes dados de avaliao. Podemos avaliar muitos aspectos de um desenho incluindo, por exemplo, imagens de pontos e erros da frente de onda. Da mesma maneira que feito para a janela de texto, podemos mudar o menu da barra de ferramentas clicando no primeiro cone do canto superior esquerdo com formato de janela azul, aps o que aparecer uma lista de opes, como mostra a Fig. 4.22. Recomenda-se que o leitor clique sobre algumas destas ferramentas para ver os novos comandos surgindo na barra de menu. Os cones das ferramentas padro vistas na Fig. 4.21 correspondem ao default da janela. Descrevemos brevemente a seguir alguns destes cones.
Fig. 4.21 Janela grfica ao ser aberta.
Fig. 4.22 Ferramentas disponveis para a janela grfica.

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Nesta janela, como em vrias as outras, ao se colocar o cursor sobre qualquer dos smbolos aparecer a explicao sobre sua funo. O segundo cone da barra de ferramentas mostra o desenho da lente numa vista bidimensional, similar ao que est na parte inferior da Fig. 4.10. Nesta etapa importante prestar ateno na espessura da borda de uma lente positiva quando voc est trabalhando com um dado desenho. Posteriormente explicaremos como variar o intervalo do desenho. O terceiro cone mostra outro tipo de desenho, porm em forma tridimensional. Ele no muito usado. Os prximos itens referem-se anlise de desempenho da lente e so calculados no plano da imagem (IMS). Existem diversas maneiras para se encontrar a posio em que a imagem formada. Uma maneira para encontrar automaticamente a superfcie IMS clicando no quadrado cinza defronte coluna THICKNESS da ltima superfcie desenhada, que no presente exemplo 4. Como mostra a Fig. 4.23, aparece uma janela na qual se escolhe a palavra Solves (S) e outra onde qual se escolhe Axial ray height (altura do raio axial). Uma janela pergunta qual altura desejada, onde entramos com o valor 0.
Fig. 4.23 Encontrando o foco paraxial automaticamente. Se nesta janela tivssemos deixado Direct specification e colocado o valor 0 como espessura, poderamos encontrar o plano da imagem usando a linha IMS abaixo. Para isto basta clicar no quadrado
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cinza em frente palavra THICKNESS e, como mostra a Fig. 4.24, podemos escolher trs opes para auto-focalizao. Finalmente, esta mesma tabela pode ser obtida, como j vimos na Fig. 4.17, escolhendo a palavra Auf na janela de texto.
Fig. 4.24 Encontrando o plano da imagem. O quarto cone bastante importante uma vez que ele fornece a anlise grfica do desempenho da lente, vista na Fig. 4.25, tal como: astigmatismo, aberrao longitudinal e deslocamento focal cromtico. Chamamos a ateno que ao comparar desenhos diferentes deve-se prestar bastante ateno na escala usada em cada aberrao. Um grfico pode parecer melhor, mas ele na verdade pode ser pior se escala maior. Algumas informaes importantes com relao s vrias janelas que aparecem so as seguintes. O astigmatismo est relacionado com a curvatura de campo da superfcie da imagem (IMS). Colocando-se uma curvatura na superfcie da imagem pode-se contrabalanar o astigmatismo sagital e tangencial. Um raio curto para a IMS significa que ser muito difcil focalizar o centro do campo e ao mesmo tempo sua borda. A aberrao esfrica longitudinal mostra grficos de trs cores (comprimentos de onda) diferentes. Lentes objetivas para uso visual devem ter a luz verde (por volta de 0.55 m)
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bem corrigida. As outras duas cores normalmente tero maior aberrao esfrica longitudinal do que a cor verde. Se ns examinarmos este mesmo desenho usando outros comprimentos de onda, os erros sero diferentes. Cada cor ter uma quantidade diferente de aberrao esfrica. Em geral, a luz violeta ter o maior desvio neste desenho assim como na maior parte de outros desenhos. Objetivas que so otimizadas para fotografias corrigem a luz violeta e azul melhor do que aquelas para otimizao visual. A luz violeta mais importante em fotografias do que para uso visual.
Fig. 4.25 Janelas correspondentes ao quarto cone (anlise de raios). O deslocamento focal cromtico mostra onde as diferentes cores so focalizadas. A escala vertical representa o comprimento de onda (0.4 na parte inferior violeta e 0.7 na parte superior vermelho) enquanto que a escala horizontal indica a posio do foco para os diferentes comprimentos de onda. A luz violeta (0.4 m) focaliza aproximadamente 0.2 mm mais perto da lente do que a luz amarela de 0.588 m. A luz vermelha (0.7 m) focaliza cerca de 0.05 mm depois do foco da luz amarela.
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Esta janela mostra ainda o desenho bidimensional da lente. Existem duas maneiras para modificar o intervalo do desenho: ou clicando no segundo cone e depois em Operating Conditions ou indo para a barra de ferramentas superior, escolhendo Lens e em seguida Lens Drawing Conditions. Com isto se abrir a janela da Fig. 4.26, onde poderemos mudar os parmetros do desenho. Em particular, escolhemos que a lente fosse desenhada at a superfcie da imagem e ficamos com o desenho da Fig. 4.27.
Fig. 4.26 Janela para modificar as condies do desenho.
Fig. 4.27 Desenho onde a superfcie da imagem mostrada.

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O quinto cone mostra uma janela como a da Fig. 4.28 contendo a anlise da frente de onda. P-V significa o erro do pico ao vale, enquanto que RMS o erro quadrtico mdio. O resultado da avaliao fora do eixo est no lado esquerdo, enquanto que o resultado sobre o eixo est no lado direito. Esta anlise est no comprimento de onda primrio 0.587 m. Ns mudamos o ngulo de incidncia (field angle) para 100 para podermos ver as variaes da frente de onda. Tambm colocamos o plano da imagem (IMS) em -0.8 e assim vemos diferentes resultados para os trs ngulos de incidncia. Estes so erros da frente de onda e no erros da superfcie de vidro, que so consideradas perfeitamente esfricas. Se a superfcie da lente no fosse perfeitamente esfrica, os erros da frente de onda seriam diferentes, na maioria dos casos, piores.
Fig. 4.28 Janelas correspondentes ao quinto cone (erros na frente de onda). Uma outra ferramenta importante ligada com a distoro da frente de onda o Strehl Ratio, que obtido clicando em Evaluate na barra de ferramentas superior, depois em Other Aberrations e finalmente em
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Zernike Wavefront. Aparecer uma janela com vrios parmetros onde se deve clicar em OK. A janela de textos exibir o Strehl Ratio, que ter um valor entre 0 e 1. Quanto mais prximo de 1 este valor estiver, menor ser a distoro da frente de onda e melhor ser a lente. Uma maneira alternativa de se acessar o Strehl Ratio atravs da janela de texto, usando a ferramenta Image analysis (tabela da Fig. 4.12) e Wvf, seguido de OK. O sexto cone mostra uma anlise do diagrama de pontos. Ele a avaliao mais adequada para uma checagem rpida da qualidade da imagem, mas pode no ser suficiente por si prprio. Por exemplo, possvel ter um bom diagrama de pontos mesmo que haja um erro da frente de um da maior do que o desejado. s vezes possvel fazer o diagrama de pontos ter uma aparncia melhor sem realmente melhorar a imagem. Portanto, sempre til checar outras janelas de anlise para maior confiabilidade. A imagem da Fig. 4.29 tem 15 diagramas. Ns continuamos com o field angle em 100 para vermos melhor a variao no diagrama de pontos.
Fig. 4.29 Janelas correspondentes ao sexto cone (diagramas de pontos).

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A primeira linha mostra o diagrama para uma imagem fora do eixo em 100, enquanto que a ltima linha mostra o diagrama para a imagem sobre o eixo. As colunas mostram o deslocamento focal. Isto significa que a coluna da esquerda est 0.05 mm para dentro do foco e a coluna da direita est 0.05 mm fora do foco. A coluna central est na posio focal correta. Podemos examinar o diagrama de pontos em qualquer posio focal que se queira. Para o uso visual, uma lente normalmente focalizada para o comprimento de onda primrio porque nossos olhos so muito sensveis luz verde e menos sensveis s cores azul e vermelho. Mas, poderamos querer examinar uma lente que est focalizada para a luz policromtica, que daria um balano para os trs comprimentos de onda. O stimo cone mostra a anlise da funo alargamento de pontos. Como pode ser visto na Fig. 4.30, a coluna da esquerda apresenta uma vista tridimensional, enquanto que a coluna do centro mostra os mesmos dados num diagrama bidimensional. Os grficos da parte de baixo destas duas colunas apresentam a anlise no eixo ao passo que os grficos da parte superior destas colunas mostram a anlise fora do eixo. Os resultados da imagem no eixo so muito melhores do que os resultados da imagem fora do eixo. Um pico abrupto corresponde a um resultado muito bom um enquanto que um borro largo no to bom. Este grfico mostra quanta luz est focalizada prximo ao centro da imagem e quanta luz est espalhada. O oitavo cone apresenta uma anlise da funo transferncia de modulao (MTF). Ela d uma idia de quanto contraste uma lente capaz de transferir, como ser discutido na seo 5.6. Na parte de cima da janela da Fig. 4.31 h uma linha preta com pequenos crculos que o valor ideal. Uma lente muito boa apresentar resultados prximos a esta linha. Uma lente de foco curto ter um desempenho pior do que uma lente de foco longo se ambas foram feito com o mesmo tipo de vidro. Tipos de vidros caros podem dar imagens melhores do que vidros normais. A linha com cruzes mostra os valores sobre o eixo. O objetivo conseguir que essa linha fique o mais prxima possvel do valor ideal. A linha com quadrados e losangos mostra os valores fora do eixo. Idealmente ambas estas linhas deveriam ser to boas quanto linha do eixo e elas deveriam estar prximas. No bom se uma linha estiver alta enquanto que a outra est baixa.
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Fig. 4.30 Janelas correspondentes ao stimo cone (alargamento de pontos).
Fig. 4.31 Janela correspondente ao oitavo cone (transferncia de modulao).

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O nono cone mostra uma anlise da funo transferncia de modulao conforme se muda o plano da imagem. Novamente, na parte de cima est uma linha que mostra o valor ideal para esta lente. As linhas abaixo mostram os valores reais para esta lei entra tanto na situao fora de eixo como sobre o eixo.
Fig. 4.32 Janelas correspondentes ao nono cone (MTF ao longo do eixo).
4.5 Otimizao de uma lente

O dubleto que utilizamos at agora como exemplo teve seus parmetros escolhidos ao acaso no sendo, portanto, otimizado. Nesta seo vamos ver como se pode melhorar o desempenho de um sistema tico pelo processo de otimizao. Veremos dois mtodos. O primeiro utiliza parmetros de otimizao j existentes na funo de erro GENII, enquanto que no segundo mtodo escolhemos nossos prprios parmetros. interessante salvar-se o arquivo que est sendo utilizado toda vez que uma melhora significativa ocorrer no seu desempenho.
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Os parmetros que podem ser modificados num desenho tico so basicamente os raios de curvatura, os espaamentos de ar e as espessuras das lentes, mas estas ltimas no produzem uma variao significativa no desempenho do sistema. Para escolher quais parmetros podero variar durante o processo de otimizao, escolhemos a superfcie desejada, clicamos no quadrado defronte o parmetro que nos interessa e escolhemos Variable (V). interessante que no comeo do processo se escolha poucas variveis, tipicamente uma ou duas. possvel tambm vincular parmetros do mesmo tipo. Como exemplo, vamos supor que se deseja que as curvatura das superfcies 2 e 3 de sejam as mesmas. Para isto, clicamos no quadrado defronte coluna RADIUS da superfcie 3 e escolhemos Curvature pickup, aps o que aparecer uma caixa onde se solicita o nmero da superfcie qual se quer vincular a curvatura (ser a superfcie 2 no nosso caso). Outra janela perguntar Enter pickup constant, onde ser digitado 0. Aparecer no quadrado a letra P, enquanto que para os parmetros que forem variveis aparecer a letra V. Vamos deixar as superfcies 1 e 4 como variveis. No exemplo de otimizao que faremos a seguir, vamos utilizar o dubleto das sees anteriores. Entretanto, para obtermos um resultado satisfatrio da forma mais rpida possvel, vamos tomar o field angle como sendo 00. Em geral, muito mais fcil se otimizar um sistema ptico quando o ngulo de incidncia pequeno, uma vez que no temos que nos preocupar com aberraes do tipo astigmatismo, coma, curvatura de campo e distoro. Alm disso, pretendemos otimizar um dubleto cuja distncia focal de 20 cm e no os 8.37 cm do exemplo utilizado at agora. Para corrigirmos a distncia focal do dubleto, podemos clicar em EFL com o boto da direita, em seguida em Scale lens e Scale To New Focal Length, como mostra a tela da Fig. 4.33. Entre com o valor 20 para a nova distncia focal e clique em OK. Na planilha dos dados da superfcie vemos que todos os parmetros foram modificados. Isto inclui os raios de curvatura, separaes e dimetros das lentes. Para corrigirmos a tabela de maneira a mantermos o dimetro original devemos substituir os nmeros constantes em Ent. beam radius e APERTURE RADIUS pelo valor 2.0. Aps isso, veremos no desenho do AutoDraw (Draw On/Off) que as lentes ficaram muito espessas e para contornar este problema reduzimos suas espessuras para 1.0 e 0.4, como no desenho original. Com isso, obtemos a planilha de dados mostrada na Fig. 4.34.
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Fig. 4.33 Mudana da distncia focal da lente.
Fig. 4.34 Nova planilha de dados. Para iniciarmos o processo de otimizao, clicamos em Optimize na barra superior de ferramentas, em seguida escolhemos Generate Error Function e GENII Ray Aberration. Surgir a tela mostrada na Fig. 4.35, que apresenta vrios nmeros correspondentes aos valores de default da funo de erro GENII. Aperte em OK para que esses valores sejam aceitos.
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Fig. 4.35 Janela de default correspondentes funo de erro GENII. As condies de otimizao so vistas escolhendo Optimization Conditions no item Optimize da barra superior de ferramentas. A janela da Fig. 4.36 aparecer. Vamos mudar o valor de default de 0.001 para um nmero muito menor, por exemplo, 0.000001. O valor aqui no to crtico, mas um nmero pequeno permitir que o programa atinja suavemente uma boa soluo logo na primeira tentativa. Aperte a confirmao verde no canto superior esquerdo para aceitar esse novo valor.
Fig. 4.36 Condies de otimizao.

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Agora estamos prontos para otimizar o desenho, mas antes devemos verificar o Strehl ratio (EvaluateOther AberrationsZernike WavefrontOK), que depende de como a focalizao do sistema feita. No que segue, usaremos Minimun on-axis spot size (monochromatic) para focalizar a lente. Obtemos no desenho original um Strehl ratio de 0.154, que um valor muito baixo e indica uma lente de qualidade ruim. Clique em Optimize e depois em Iterate. Tambm poderia ter sido usado Ite da janela de texto, mas neste caso o nmero de iteraes fixo em 10, enquanto que usando OptimizeIterate ele pode ser mudado. Voc ver a janela da Fig. 4.37 que d algumas opes para fazer a interao. Simplesmente aperte em OK para aceitar os valores de default. Podemos ver na Fig. 4.38 que os valores dos parmetros variveis foram modificados e que os passos da otimizao esto sumarizados na janela de texto. Repetimos o procedimento de interao quantas vezes forem necessrias at que os parmetros da lentes no variem mais. Note que a funo de erro GENII praticamente no altera a distncia focal efetiva por isso que ns a ajustamos antes de fazer a otimizao.
Fig. 4.37 Janela com parmetros da iterao. Para analisarmos a otimizao com a janela grfica devemos refocalizar o novo desenho escolhendo Evaluate na barra de ferramentas superior, clicando em Autofocus e em seguida em Minimun on-axis spot
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size (monochromatic). Alternativamente podemos usar Auf da janela de texto. Entretanto, vemos nas janelas grficas, principalmente na MTF, e no valor do Strehl ratio (0.138) que este desenho est um pouco pior do que o original. Podemos ento colocar tambm a separao entre as duas lentes como varivel, mas isto melhora o desempenho do sistema apenas um pouco. O valor do Strehl ratio vai para 0.24, que cerca de 50% melhor que o do desenho original. Finalmente, colocaremos o raio de curvatura da superfcie 2 para variar, o que implica tambm na variao da superfcie 3, pois elas so iguais (lembre-se do Pickup). O valor do Strehl ratio vai para 0.668, que j cerca de 4 vezes melhor que o do desenho original. Para obtermos um valor melhor que este podemos ainda variar as espessuras das lentes. Com isto, possvel se obter um Strehl ratio de 0.97, como mostra a Fig. 4.39, que um valor muito bom.
Fig. 4.38 Resultado parcial do processo de otimizao. Uma pergunta relevante a ser feita : at que ponto devemos otimizar a lente? Para respond-la, precisamos lanar mo de outros parmetros de qualificao de imagem, sendo os mais importantes a
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funo transferncia de modulao (MTF) e a anlise do diagrama de pontos. A funo transferncia de modulao do dubleto otimizado est mostrada na Fig. 4.40. Nela vemos duas linhas quase coincidentes, sendo a superior correspondente a um caso de ideal e a inferior a que obtivemos com o processo de otimizao. Para efeitos prticos, num sistema visual devemos ter um contraste de 50% para 50 linhas por milmetro (lpm). No nosso caso, vemos que o contraste de 80% em 50 lpm, que pode ser considerado um valor muito bom. J o diagrama de pontos permite analisar se no estamos tendo um resultado melhor do que os limites fsicos fundamentais permitem. Veremos na ptica ondulatria a existncia do processo de difrao, que impede a focalizao da luz num dimetro menor do que aquele limitado pelo chamado disco de Airy. Na mecnica quntica, este efeito o anlogo do princpio da incerteza de Heisenberg. Desta forma, perda de tempo tentar se otimizar a lente para ela produzir um ponto focal menor do que o dimetro deste disco, uma vez que isto nunca ocorrer na prtica. Veremos a seguir como se introduzir o disco de Airy no diagrama de pontos.
Fig. 4.39 Resultado final do processo de otimizao.

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Fig. 4.40 Funo transferncia de modulao para o dubleto otimizado. Para que o disco de Airy aparea escolhemos Evaluate na barra de ferramentas superior e em seguida clicamos em Spot Diagram e Single Spot Diagram, como mostra a Fig. 4.41. Nela selecionamos Yes na caixa de dilogo Show Airy disc in plot vista na Fig. 4. 42 e apertamos OK. Com isso aparece automaticamente a janela da Fig. 4. 43 com o digrama de pontos exibindo o disco de Airy. Nesta janela vemos que o limite de difrao 0.0035 e que o tamanho do ponto geomtrico 0.0011, o que no possvel do ponto de vista fsico. Isto significa que o clculo geomtrico da lente est melhor do que ela vai realmente funcionar na prtica. Este um dado importante para que encerremos o procedimento de otimizao. Para completar a anlise com o diagrama de pontos, podemos escolher o sexto cone da janela grfica, que nos permitir a visualizao de vrios diagramas ao redor do ponto focal, como mostrado na Fig. 4. 44. Antes de passar para o outro procedimento de otimizao descrito a seguir, recomenda-se que o leitor navegue sobre todos os cones de anlise de imagens da janela grfica, especialmente o quarto. Neste, tente mudar as escalas dos grficos clicando com o boto da direita e selecionando Re-calculate using new parameters. Mude alguns dos nmeros da janela que aparece e veja o resultado.
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Fig. 4.41 Janela inicial para se visualizar o disco de Airy.
Fig. 4.42 Janela para impresso do diagrama de pontos com o disco de Airy.
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Fig. 4.43 Janela com o diagrama de pontos exibindo o disco de Airy.
Fig. 4.44 Janela com o diagrama de pontos exibindo o disco de Airy.

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A outra maneira de se otimizar o sistema permite a escolha das aberraes que queremos eliminar, alm de possibilitar a variao da distncia focal da lente. Para iniciarmos este novo processo de otimizao, clicamos em Optimize na barra superior de ferramentas, e em Aberrations Operands. Surgir a tela mostrada na Fig. 4.45, que apresenta 21 parmetros que podem ser otimizados. Inicialmente especificaremos a distncia focal efetiva clicando sobre OCM21 na ltima linha, aps o que esta palavra aparecer na janela superior. Digite -20 na frente de OCM21.
Fig. 4.45 Janela com os parmetros que podem ser otimizados. No dubleto que estamos otimizando o ngulo de incidncia nulo e, portanto, no temos que nos preocupar com aberraes do tipo astigmatismo (AST), coma (CMA), curvatura de campo (PTZ) e distoro (DIS). Desta forma podemos apagar vrias linhas desta planilha e isto feito selecionando uma ou mais linhas e clicando no cone que representa uma tesoura no canto superior direito da planilha. Deixaremos apenas os
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operands mostrados na Fig. 4.46. Feito isso se aperta o smbolo de confirmar e realiza-se todo o processo de otimizao e anlise como descrito no mtodo anterior.
Fig. 4.46 Janela com os parmetros que sero otimizados.
4.6 Informaes adicionais

Vimos neste captulo os procedimentos gerais utilizados para entrar com os dados, otimizar e analisar o desempenho de uma lente. Procuramos passar para o leitor a filosofia de uso do programa. Vrios outros comandos e operaes sero aprendidos conforme o usurio realizar os clculos dos sistemas propostos no final do captulo. O que faremos para finalizar o captulo introduzir a partir deste ponto algumas outras operaes que so teis no desenho e clculo de um projeto tico. Mudana de comprimentos de onda - Para mudar ou adicionar outros comprimentos de onda, clique em Wavelengths na planilha de dados que uma janela contendo a lista dos comprimentos de onda em uso se abrir. Nbr 1 o comprimento de onda nmero 1, que o comprimento de onda primrio mostrado no canto superior direito da planilha. Normalmente ele 0.587 (d) ou 0.546 m (e) para um desenho visual. A Fig. 4.47 mostra os
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valores de default. O programa OSLO usa o comprimento de onda Nbr 2 como sendo mais curto e Nbr 3 sendo mais longo que o comprimento de onda Nbr 1. possvel tambm incluir comprimentos de onda adicionais clicando numa dada linha e ento na seta azul no canto superior direito da planilha. Isto inserir outra linha de comprimento de onda, cujo valor pode ser escolhido clicando-se duas vezes sobre o valor do comprimento de onda mostrado. Aparecer uma janela com uma lista de comprimentos de onda, dos quais qualquer um pode ser selecionado.
Fig. 4.47 Janela de default dos comprimentos de onda. Definindo o comprimento do sistema Muitas vezes queremos que o sistema ptico tenha um comprimento total fixo. Vamos tomar como exemplo o dubleto da Fig. 4.10, da seo 4.2, e fazer com que seu comprimento total seja de 4 cm. Para isso, clicamos na caixa cinza defronte a espessura da ltima superfcie do conjunto. Escolhemos Pickups (P) e Minus length. A primeira caixa de dilogo solicitar a primeira superfcie a partir da qual se quer fixar o comprimento. Entre com 1. A segunda caixa de dilogo solicitar a superfcie final e no nosso exemplo entraremos com 4. A terceira caixa de dilogo solicitar o comprimento do sistema (entre com 4). Aps este procedimento possvel se ver que a soma das espessuras dos elementos do conjunto totaliza 4. Inserindo um espelho Clicamos na caixa cinza defronte a coluna GLASS da superfcie que nos interessa e escolhemos Reflect ou Reflect (hatch). As duas opes so iguais, exceto que na segunda o espelho ser desenhado de forma achurada. Para se inclinar o espelho, se necessrio, clicamos na caixa cinza defronte a coluna SPECIAL, depois em Coordinates, aps o que se abrir uma janela onde possvel modificar o ngulo e descentralizar o espelho.
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Bibliografia
4.1. R. Kingslake, Lens Design Fundamentals, Academic Press, NY (1978).
Problemas
4.1. Usando o programa OSLO, calcule a distncia focal traseira de uma lente plano-convexa com r1 = 27 mm, r2 = , n = 1.517 e d = 3 mm. Considere um raio que incide paralelo ao eixo ptico com Y = 5 mm. 4.2. Considere um raio que incide sobre um singleto paralelamente ao eixo ptico. Sabendo que r1 = 10, r2 = , n = 1.5 e t = 2, use o programa OSLO para encontrar a distncia focal traseira. 4.3. Considere um dubleto acromtico cimentado com f = 100 mm, utilizando BAK2 (na = 1.54, Va = 59.71) como vidro crown e SF2 (nb = 1.648, Vb = 33.85) como vidro flint. Supondo que a interface entre as lentes seja plana (r2 = ), encontre r1 e r3. 4.4. O sistema ptico descrito abaixo uma ocular que precisa ser confeccionada, sendo conhecidos apenas os raios de curvatura externos. Sabe-se que a distncia focal da ocular 100,05 mm; a abertura numrica da imagem NA = 0,1515; altura da imagem gaussiana = 47,03; meio campo visual (HFOV) = 25,17o; objeto infinito. Obs: As superfcies 5, 6 e 7 pertencem a um dubleto, cuja espessura total 63,9 mm.
Superfcie 1 2 3 4 5 6 7 Raio de curvatura -352,36 -105,27 -440,72 -107,04 102,49 Desconhecido 794,28 Espessura 21,90 7,28 22,50 1,36 63,9 (espessura 5-7) 47,481 Material Vidro Ar Vidro Ar Vidro Vidro Ar Dimetro 124 124 124 124 124 124 124
a) Determinar os materiais e o raio de curvatura interna do dubleto. Os possveis materiais so BK7, BAK1, K5, SF2, SF61, F4, F2. b) O dimetro das lentes deve ser ajustado conforme o HFOV e F/#.
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c) Otimizar o sistema. d) Avaliar o sistema analisando: d1) aberraes transversais quanto s regies axial, zonal e marginal, d2) astigmatismo sagital e tangencial, d3) cor lateral, d4) distoro, d5) aberrao esfrica longitudinal, d6) deslocamento cromtico do foco, d7) anlise do raio rms do spot da imagem, d8) anlise de Strehl Ratio, d9) anlise de Point Spread Function, d10) anlise de Modulation Transfer Function (MTF) e d11) anlise das aberraes cromticas, aberraes de Seidel ou de terceiraordem e aberraes de quinta ordem. e) Comentar em relao performance do sistema ptico obtido. 4.5. O sistema ptico descrito abaixo uma ocular ortoscpica que precisa ser confeccionada, sendo conhecidos apenas os raios de curvatura externos. Sabe-se que a distncia focal da ocular 100,1 mm; a abertura numrica da imagem NA = 0,1; F/# = 5,0; altura da imagem gaussiana = 8,75; meio campo visual (HFOV) = 5o; objeto infinito. Obs: As superfcies 4, 5, 6 e 7 pertencem a um tripleto, cuja espessura total 83,41 mm.
Superfcie 1 (stop) 2 3 4 5 6 7 Raio de curvatura Infinito Infinito -90,95 129,49 Desconhecido Desconhecido -129,49 Espessura 82,56 23,28 1,10 83,41 (espessura 4-7) 87,23 Material Ar Vidro Ar Vidro Vidro Vidro Ar Dimetro 20 80 92 92 86 86 86
a) Determinar os materiais e os raios de curvatura interna do tripleto. Os possveis materiais so BK7, BAK1, KF3, SF2, SF61, F3, F2. b) O dimetro da pupila de entrada deve ser ajustado conforme o F/#. c) Otimizar o sistema. d) Avaliar o sistema analisando: d1) aberraes transversais quanto s regies axial, zonal e marginal, d2) astigmatismo sagital e tangencial, d3) cor lateral, d4) distoro, d5) aberrao esfrica longitudinal, d6) deslocamento cromtico do foco, d7) anlise do raio rms do spot da imagem, d8) anlise de Strehl Ratio, d9) anlise de Point Spread Function, d10) anlise de Modulation Transfer Function (MTF) e d11) anlise das aberraes cromticas, aberraes de Seidel ou de terceiraordem e aberraes de quinta ordem.
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e) Comentar em relao performance do sistema ptico obtido. 4.6. O sistema ptico descrito abaixo um Tripleto Heliar que precisa ser confeccionada, sendo que apenas os raios de curvatura externos so conhecidos. Sabe-se que a distncia focal 99,8 mm; F/# = 3,56; altura da imagem gaussiana = 17,6; meio campo visual (HFOV) = 10o; objeto infinito. Obs: As superfcies 1, 2 e 3, e 7, 8 e 9 pertencem a dubletos, cuja espessura total 9,55 e 9,12 mm respectivamente.
Superfcie 1 2 3 4 5 6 (Stop) 7 8 9 Raio de curvatura 30,810 Desconhecido 580,38 -80,63 28,34 Plano Desconhecido -52,99 Espessura 9,55 (espessura 1-3) 3,52 1,85 4,18 3,00 9,12 (espessura 7-9) 81,08 Material Vidro Vidro Ar Vidro Ar Ar Vidro Vidro Ar Dimetro 28 28 28 28 28 28 28 28
a) Determinar os materiais e o raio de curvatura interna do dubleto. Os possveis materiais so BK7, BAK1, K5, SF2, SF61, F4, F2. b) O dimetro da pupila de entrada deve ser ajustado conforme o F/#. c) Otimizar o sistema. d) Avaliar o sistema analisando: d1) aberraes transversais quanto s regies axial, zonal e marginal, d2) astigmatismo sagital e tangencial, d3) cor lateral, d4) distoro, d5) aberrao esfrica longitudinal, d6) deslocamento cromtico do foco, d7) anlise do raio rms do spot da imagem, d8) anlise de Strehl Ratio, d9) anlise de Point Spread Function, d10) anlise de Modulation Transfer Function (MTF) e d11) anlise das aberraes cromticas, aberraes de Seidel ou de terceiraordem e aberraes de quinta ordem. e) Comentar em relao performance do sistema ptico obtido. 4.7. O sistema ptico descrito abaixo um tripleto Tessar que precisa ser confeccionado, sendo conhecidos apenas os raios de curvatura externos. Sabe-se que a distncia focal 98,96 mm; F/# = 4,5; altura da imagem gaussiana = 8,66; meio campo visual (HFOV) = 5o; objeto infinito. Obs: As superfcies 6, 7, 8 e 9 pertencem a um tripleto, cuja espessura total 7,4 mm.
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Superfcie 1 2 3 4 5 (stop) 6 7 8 9

Raio de curvatura 23,60 Plano -64,20 22,70 -232,00 Desconhecido Desconhecido -39,50 Espessura 3,7 3,9 1,2 3,7 1,2 7,4 (espessura 6-9) 49,2 Material Vidro Ar Vidro Ar Ar Vidro Vidro Vidro Ar Dimetro 22 22 22 22 22 22 22 22
a) Determinar os materiais e os raios de curvatura interna do tripleto. Os possveis materiais so K4, BAK1, BAK2, SK4, KF3, SF2, SF61, LF4, F2. b) O dimetro da pupila de entrada deve ser ajustado pelo F/#. c) Otimizar o sistema. d) Avaliar o sistema analisando: d1) aberraes transversais quanto s regies axial, zonal e marginal, d2) astigmatismo sagital e tangencial, d3) cor lateral, d4) distoro, d5) aberrao esfrica longitudinal, d6) deslocamento cromtico do foco, d7) anlise do raio rms do spot da imagem, d8) anlise de Strehl Ratio, d9) anlise de Point Spread Function, d10) anlise de Modulation Transfer Function (MTF) e d11) anlise das aberraes cromticas, aberraes de Seidel ou de terceiraordem e aberraes de quinta ordem. e) Comentar em relao performance do sistema ptico obtido. 4.8. O sistema ptico descrito abaixo uma ocular simtrica que precisa ser confeccionada, sendo que apenas os raios de curvatura externos so conhecidos. Sabe-se que a distncia focal da ocular 100 mm; NA = 0,034; F/# = 14,7; altura da imagem gaussiana = 31; meio campo visual (HFOV) = 17,22o; objeto infinito. Obs: As superfcies 1, 2 e 3 e 4, 5 e 6 pertencem a dubletos, cuja espessura total 42,97 mm.
S. C. Zilio

Superfcie 1 2 3 4 5 6 Raio de curvatura 649,24 Desconhecido -96,63 96,63 Desconhecido -649,24 Espessura 42,97 (espessura 1-3) 2,43 42,97 (espessura 4-6) 69,35 Material Vidro Vidro Ar Vidro Vidro Ar
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Dimetro 92 92 92 92 92 92
a) Determinar os materiais e o raio de curvatura interna do dubleto. Os possveis materiais so BK7, BAK1, K5, SF2, SF61, F4, F2. b) O dimetro da pupila de entrada deve ser ajustado conforme o F/#. c) Otimizar o sistema. d) Avaliar o sistema analisando: d1) aberraes transversais quanto s regies axial, zonal e marginal, d2) astigmatismo sagital e tangencial, d3) cor lateral, d4) distoro, d5) aberrao esfrica longitudinal, d6) deslocamento cromtico do foco, d7) anlise do raio rms do spot da imagem, d8) anlise de Strehl Ratio, d9) anlise de Point Spread Function, d10) anlise de Modulation Transfer Function (MTF) e d11) anlise das aberraes cromticas, aberraes de Seidel ou de terceiraordem e aberraes de quinta ordem. e) Comentar em relao performance do sistema ptico obtido. 4.9. O sistema ptico descrito abaixo uma objetiva telescpica que precisa ser confeccionada, sendo conhecidos apenas os raios de curvatura externos. Sabe-se que a distncia focal da objetiva 100 mm; NA = 0,0715; F/# = 7,0; altura da imagem gaussiana = 1,75; objeto infinito. Obs: As superfcies 1,2 e 3 pertencem a um dubleto, cuja espessura total 4,8 mm.
Superfcie 1 2 3 4 5 Raio de curvatura 88,87 Desconhecido -54,18 -20,41 -19,367 Espessura 4,8 (espessura 1-3) 1,04 1,5 100,85 Material Vidro Vidro Ar Vidro Ar Dimetro 16 16 16 16 16
a) Determinar os materiais e o raio de curvatura interna do dubleto. Os possveis materiais so BK7, BAK1, K5, SF2, SF61, F4, F2. b) O dimetro da pupila de entrada deve ser ajustado conforme o F/#. c) Otimizar o sistema. d) Avaliar o sistema analisando: d1) aberraes transversais quanto s regies axial, zonal e marginal, d2) astigmatismo sagital e tangencial,
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d3) cor lateral, d4) distoro, d5) aberrao esfrica longitudinal, d6) deslocamento cromtico do foco, d7) anlise do raio rms do spot da imagem, d8) anlise de Strehl Ratio, d9) anlise de Point Spread Function, d10) anlise de Modulation Transfer Function (MTF) e d11) anlise das aberraes cromticas, aberraes de Seidel ou de terceiraordem e aberraes de quinta ordem. e) Comentar em relao performance do sistema ptico obtido. 4.10. O sistema ptico descrito abaixo uma objetiva microscpica de 10x que precisa ser confeccionada, sendo conhecidos apenas os raios de curvatura externos. Sabe-se que a distncia focal da objetiva 15,34 mm; NA = 0,25; F/# = 2,0; altura da imagem gaussiana = 1,34 ; meio campo visual (HFOV) = 5o objeto infinito. Obs: As superfcies 2, 3 e 4 e 5, 6 e 7 pertencem a dubletos, cuja espessura total 4,70 e 4,32 mm.
Superfcie 1(stop) 2 3 4 5 6 7 Raio de curvatura 13,09 Desconhecido -112,24 11,48 Desconhecido -21,25 Espessura 0,31 4,70 (espessura 2-4) 8,64 4,32 (espessura 5-7) 6,97 Material Vidro Vidro Ar Vidro Vidro Ar Dimetro 10 10 10 8 8 8
a) Determinar os materiais e o raio de curvatura interna do dubleto. Os possveis materiais so BK7, BAK1, K5, SF2, SF61, F4, F2. b) O dimetro da pupila de entrada deve ser ajustado conforme o F/#. c) Otimizar o sistema. d) Avaliar o sistema analisando: d1) aberraes transversais quanto s regies axial, zonal e marginal, d2) astigmatismo sagital e tangencial, d3) cor lateral, d4) distoro, d5) aberrao esfrica longitudinal, d6) deslocamento cromtico do foco, d7) anlise do raio rms do spot da imagem, d8) anlise de Strehl Ratio, d9) anlise de Point Spread Function, d10) anlise de Modulation Transfer Function (MTF) e d11) anlise das aberraes cromticas, aberraes de Seidel ou de terceiraordem e aberraes de quinta ordem. e) Comentar em relao performance do sistema ptico obtido. 4.11. O sistema ptico descrito abaixo um tripleto que precisa ser confeccionado, sendo conhecidos apenas os raios de curvatura
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externos. Sabe-se que a distncia focal 101,62 mm; NA = 0,111; F/# = 4,5; altura da imagem gaussiana = 17,92; ; meio campo visual (HFOV) = 10o , objeto infinito. Obs: As superfcies 6,7 e 8 pertencem a um dubleto, cuja espessura total 9,14 mm.
Superfcie 1 2 3 4 5(stop) 6 7 8 Raio de curvatura 33,39 -533,88 -61,80 29,76 -808,78 Desconhecido -43,16 Espessura 8,36 5,66 2,06 4,93 3,17 9,14 (espessura 6-8) 84,29 Material Vidro Ar Vidro Ar Vidro Vidro Ar Dimetro 36 36 23 23 30 30 30
a) Determinar os materiais e o raio de curvatura interna do dubleto. Os possveis materiais so BK7, SK15, K10, SF2, SF61, F4, F2. b) O dimetro da pupila de entrada deve ser ajustado conforme o F/#. c) Otimizar o sistema. d) Avaliar o sistema analisando: d1) aberraes transversais quanto s regies axial, zonal e marginal, d2) astigmatismo sagital e tangencial, d3) cor lateral, d4) distoro, d5) aberrao esfrica longitudinal, d6) deslocamento cromtico do foco, d7) anlise do raio rms do spot da imagem, d8) anlise de Strehl Ratio, d9) anlise de Point Spread Function, d10) anlise de Modulation transfer function (MTF) e d11)) anlise das aberraes cromticas, aberraes de Seidel ou de terceiraordem e aberraes de quinta ordem. e) Comentar em relao performance do sistema ptico obtido.
S. C. Zilio
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S. C. Zilio
Tcnicas de fabricao ptica
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5.1 Introduo
O polimento de superfcies pticas tem como objetivo reduzir as rugosidades e irregularidades das faces das lentes e espelhos para se obter superfcies homogneas que garantam a boa qualidade da imagem formada. Ao nvel microscpico, a superfcie continua com imperfeies, mas as irregularidades tm tamanho inferior ao comprimento de onda da luz, no sendo, portanto, visveis. O processo completo para a confeco de uma lente ou de uma superfcie plana de boa qualidade envolve vrios passos: corte do vidro, gerao da curva esfrica, montagem de um blocado no caso em que se deseja fazer vrias lentes, lapidao, polimento, verificao da presena de riscos, teste de topologia da superfcie, centralizao da lente, controle de qualidade do componente manufaturado e evaporao de filmes finos dieltricos ou metlicos. Nas sees que seguem passaremos a descrever estes passos com detalhes. Como diretriz bsica, devemos levar em conta que s possvel modificar a superfcie do vidro utilizando-se ferramentas feitas com materiais mais duros que o prprio vidro. Desta forma, no processo de corte ou gerao da superfcie esfrica necessrio o uso de ferramentas diamantadas, enquanto que para a lapidao e polimento usam-se abrasivos cujos gros possuem dureza maior do que a do vidro.
5.2 Corte
Para a familiarizao com a manipulao dos instrumentos e materiais de uma oficina de ptica podemos comear cortando uma placa de vidro com uma caneta de ponta diamantada, como mostra a Fig. 5.1. As recomendaes principais neste procedimento so: apoiar a placa
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numa superfcie plana e aderente, segurar o vidro com firmeza, apoiar a caneta num ngulo de 900 com o plano da mesa e fazer um trao contnuo, sem pausa no meio do caminho.
Fig. 5.1 - Corte com uma caneta diamantada. Em seguida, passaremos a descrever o uso das mquinas de corte. Aqui se recomenda o uso de um jaleco sobre a roupa, luvas de couro para procedimentos mais grosseiros e protetores para os olhos Os vidros pticos podem vir da fbrica em diferentes formas geomtricas: blocos cilndricos, paraleleppedos ou placas, como mostrados esquematicamente na Fig. 5.2. Vamos inicialmente proceder ao corte de uma pilha de 4 lminas quadradas, com cerca de 20 cm de lado. Elas sero coladas umas s outras por uma mistura de cera de abelha e breu, que inicialmente aquecida para ficar viscosa. A cola deve proporcionar uma boa aderncia, o suficiente para que o bloco suporte o torque da broca que o perfurar.
(a)
empilhadas. S. C. Zilio
(b)
(c)
Fig. 5.2 - Blocos de forma (a) cilndrica, (b) de paraleleppedo e (c) lminas
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Aps a colagem, o conjunto posto em descanso por vinte minutos ou o tempo necessrio para o resfriamento da cola. Em seguida, ele levado furadeira para cortes cilndricos, como mostra a Fig. 5.3. Nesta etapa devemos usar o bom senso para evitar o desperdcio de material. Antes da perfurao, deve se tomar o cuidado de regular a profundidade que a broca atingir, de tal maneira que ela penetre as trs primeiras lminas e apenas uma frao da ltima. A ltima lmina no deve ser perfurada totalmente, pois ela serve como base, sustentando as demais.
Fig. 5.3 - Furadeira com broca diamantada. Como medida de segurana, devemos usar bases magnticas para evitar o movimento lateral da pea sendo cortada. Uma base magntica um im em forma de cubo que contm um boto capaz de ativar e desativar o poder de aderncia do im. O uso destas bases obrigatrio, evitando sempre que possvel, o contato entre as mos do operador e o bloco de vidro que est sendo cortado. Conforme o atrito entre a broca e o vidro aumenta, o bloco pode, acidentalmente, vir a rodar junto com a broca. As bases magnticas servem de suporte seguro para que isto no ocorra, e mesmo que venha a ocorrer, a broca trava e a mo do operador no ser ferida pelo vidro.
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Aps o corte, o conjunto de 4 lminas ficar com o aspecto mostrado na Fig. 5.4. Como temos 9 perfuraes e a ltima lmina serve apenas como base protetora, geramos 27 discos que sero utilizados para a confeco de lentes ou espelhos.
(a)
(b)
e (c) vista em perspectiva.
(c)
Fig. 5.4 - Bloco de lminas aps a perfurao: (a) vista superior, (b) vista lateral Em vrias ocasies queremos realizar o corte linear de um bloco de vidro na forma de paraleleppedo ou de basto. Para isso fazemos o uso da serra circular mostrada na Fig. 5.5. A serra vista de construo caseira, possuindo disco diamantado com espessura de 2 mm e permite apenas a realizao de cortes simples.
Fig. 5.5 - Serra diamantada circular.

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Durante o uso deste tipo de serra necessrio segurar a pea diretamente com a mo, de forma que para se evitar acidentes necessrio o uso de uma luva de couro. Se quisermos fazer cortes de maior preciso e variar o ngulo entre dois cortes sucessivos, como no caso do corte de um prisma, devemos usar uma mquina comercial com controle automtico e gonimetro.
5.3 Gerao de superfcie esfrica

Se quisermos confeccionar uma lente, necessrio se produzir uma superfcie esfrica sobre o disco de vidro que foi cortado da forma descrita na seo anterior. Isto s possvel com ferramentas diamantadas que removam facilmente quantidades significativas do material. Neste processo se usa um copo diamantado de bordas arredondadas, de dimetro D e espessura da parede de 4 mm, como aquele mostrado na Fig. 5.6.
4 mm
D
Fig. 5.6 - Copo metlico diamantado. A gerao da superfcie esfrica ocorre pela interseco da ferramenta diamantada com o disco de vidro, da maneira esquematizada na Fig. 5.7. O dispositivo de gerao consiste num sistema com dois eixos concorrentes girantes, cujo ngulo deve ser ajustado para cada curvatura desejada. O bloco de vidro fixo por meio de uma pina circular, enquanto que a ferramenta suportada pelo segundo eixo faz o desbaste. Para se gerar uma superfcie cncava usa-se a parte externa da ferramenta e para uma superfcie convexa usa-se a parte interna. A Fig. 5.8 mostra a situao real de uma superfcie convexa na geradora de curva.
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(a)
(b)
Fig. 5.7 - Mtodo para gerar a superfcie esfrica (a) convexa e (b) cncava. Para gerarmos um dado raio de curvatura faz-se necessrio escolhermos o dimetro do copo diamantado bem como o ngulo entre os eixos concorrentes. Estes parmetros se relacionam de acordo com as expresses: sen = D/2(R+2) para lentes cncavas e sen = D/2(R-2) para lentes convexas, onde o ngulo entre os eixos, D o dimetro da ferramenta diamantada e R o raio de curvatura desejado. Esta frmula, cuja deduo ser deixada como exerccio, encontra-se numa etiqueta colada no corpo da mquina, ao lado da escala de ngulos. O fator de correo 2 mm, devido espessura da ferramenta diamantada, conforme vimos na Fig. 5.6.
Fig. 5.8 - Gerao de uma superfcie esfrica convexa.

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Ao se gerar uma superfcie esfrica, e mesmo durante o processo de lapidao que veremos adiante, importante conferirmos o raio de curvatura da superfcie atravs de um esfermetro. Este dispositivo, mostrado na Fig. 5.9, mede a flecha a partir da qual podemos encontrar o raio de curvatura da superfcie.
Fig. 5.9 - Esfermetro para controle do raio de curvatura. A Fig. 5.10 ilustra o uso do esfermetro para a medida de uma lente convexa e de uma cncava. Nestas figuras vemos o tringulo retngulo de catetos d/2 e (R-H), e hipotenusa R, onde d o dimetro da base do esfermetro, R o raio de curvatura e H a flecha.
(a)
(b) cncava. S. C. Zilio
(b)
Fig. 5.10 - Uso do esfermetro para a medida de uma lente (a) convexa e de uma
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Vale frisar que o esfermetro tem diversas bases de tamanhos variados. Devemos escolher a base que tenha dimetro mais prximo possvel do dimetro da lente para minimizar o erro. Aplicando o teorema de Pitgoras temos: (d/2)2 + (R-H)2 = R2, de forma que R = d2/8H + H/2. Analisando os dois casos, verifica-se que no caso das lentes cncavas, d o dimetro externo e para as convexas, d o interno. Para concluir, devemos mencionar que a escala do esfermetro zerada colocando-o sobre uma superfcie de boa planicidade.
5.4 Lapidao
Quando a lente sai do processo de gerao de curva ela possui uma superfcie bastante irregular, com riscos de dimenses suficientemente grandes para provocar o espalhamento da luz e conseqente opacidade. Os processos de lapidao e polimento so essenciais para a reduo do tamanho destes riscos a uma dimenso inferior ao comprimento de onda da luz, de forma a no haver espalhamento significativo e tornar o material transparente. Em particular, a lapidao possibilita um ajuste mais preciso do raio de curvatura, de modo a ficar o mais prximo possvel do raio ideal. um processo essencial para que se consiga obter o raio de curvatura desejado, j que o processo de gerao descrito na seo anterior proporciona apenas uma curvatura aproximada. A lapidao tambm reduz as irregularidades da superfcie, reduzindo os poros da lente, deixando-a preparada para o polimento posterior. Por sua vez, o polimento no altera muito a superfcie da lente, e assim este processo no consegue variar significativamente o raio de curvatura. Durante o polimento, a superfcie adquire o brilho e a transparncia que necessita, e os riscos e defeitos presentes aps a lapidao so corrigidos, resultando numa lente pronta para a utilizao. Lapidao e polimento so processos onde a superfcie ptica lixada contra uma matriz, e diferem essencialmente quanto ao tamanho dos gros dos abrasivos e o tipo da matriz que usada no processo. Na lapidao, so usados abrasivos com partculas de tamanhos maiores e matrizes de maior dureza, como o ferro e o lato. O polimento feito com abrasivos de gros menores e matrizes mais macias, como o piche. Nos dois processos, para que a superfcie fique homognea e mantenha o raio
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de curvatura prximo ao desejado, a superfcie a ser trabalhada deve ser atritada contra uma outra que possua o mesmo raio de curvatura. As matrizes so pares de peas que possuem raios de curvatura iguais e complementares (cncavo e convexo) e que so usadas para a lapidao e polimento de vrias lentes ao mesmo tempo. As matrizes utilizadas so geralmente feitas de material metlico resistente, porm, durante o uso ocorre um desgaste que causa mudanas indesejadas na curvatura da lente e, portanto, necessrio um monitoramento contnuo do seu raio durante a lapidao. Por usar um material mais resistente que o vidro, e abrasivos com gros maiores e mais agressivos, a lapidao pode alterar muito a curvatura da lente dependendo do modo que est ocorrendo o atrito (inclinao da matriz, velocidade, direo, etc). A escolha da matriz feita de acordo com o raio de curvatura da lente que deve ser polida. Existem diversos tipos de abrasivos que so empregados na lapidao e polimento de lentes, tais como alumina em p, pasta diamantada, rouge, xido de crio, xido de zircnio, entre outros. Estes so classificados de acordo com o material (dureza) e com o tamanho dos gros. Alguns dos abrasivos mais usados esto listados na Tabela 5.1. A escala de dureza utilizada est em Mohs. Esta escala, que varia de 1 a 10, no muito precisa, mas suficiente para a escolha do material. Neste tipo de classificao, os materiais que recebem uma posio superior na escala de classificao conseguem agredir os que esto abaixo de sua classificao. Como exemplo, o diamante o material de maior dureza. Tabela 5.1 - Dureza de materiais na escala de Mohs.
Material Diamond Cubic Boron Nitride Norbide, boron carbide Crystolon, silicon carbide Alundum, aluminum oxide 38 White aluminum oxide Linde "A" alpha alumina Linde "C" alpha alumina Linde "B" gamma alumina Corundum Dureza (Mohs) 10,0 9,9 9,7 9,5 9,0 9,0 9,0 9,0 8,0 9 Material alumina E-67,.calcinated alumina E-111,.calcinated alumina E-330,.calcinated alumina Rouge, chromium oxide Cerium Oxide (estimated) Garnet Quartz Red Rouge, ferric oxide Aluminas (hydrates) Dureza (Mohs) 8,5 a 9,0 8,5 a 9,0 8,5 a 9,0 8,5 a 9,0 8,5 8,0 8,0 a 9,0 7,0 6,5 5,0 a 7,0
S. C. Zilio
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A Tabela 5.2 mostra a classificao dos abrasivos de acordo com o tamanho dos gros. Apenas alguns tamanhos esto listados na tabela. A Fig. 5.11 tambm mostra a relao entre grana e tamanho dos gros. Tabela 5.2 - Tamanho dos gros de abrasivo.
Grana 100 120 150 180 220 240 280 Tamanho mdio (m) 173 142 122 86 66 63 44 Grana 320 400 500 600 900 1000 1200 Tamanho mdio (m) 32 23 16 8 6 5 3
A grana uma outra escala de classificao dos abrasivos. Neste caso, os materiais so separados de acordo com o tamanho dos seus gros. Quanto maior a grana, menor o tamanho das partculas do abrasivo.
180 160 140
Tamanho (m)
120 100 80 60 40 20 0 -20 0
200
400
600
800
1000
1200
Grana
Fig. 5.11 - Tamanho dos gros de abrasivos. Estes abrasivos so misturados com gua de maneira a formar uma pasta para os processos de lapidao e polimento. A gua, alm de servir como veculo para o abrasivo, evita o aquecimento que poderia danificar o vidro e causar a perda do material. Na lapidao, em geral se
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usa uma matriz de ferro ou lato, e carborundun (carbeto de silcio) para o processo de lapidao, mas no existe uma seqncia fixa para a aplicao das diferentes granas. O que geralmente se faz, usar primeiro um abrasivo mais agressivo, de gros maiores (menor grana) para a remoo rpida de material. Isto permite desgastar a lente para se obter a espessura e o raio de curvatura prximos aos desejados ou remover grandes imperfeies. Em seguida so utilizados abrasivos mais finos de maneira sucessiva para se obter uma superfcie mais homognea para o polimento posterior. Geralmente inicia-se a lapidao fina com abrasivos de grana da ordem de 320, em seguida 400, 600, 800, 1000 e 2000. Com relao ao tamanho dos gros uma seqncia possvel comearia em 32 micrometros em seguida 20, 12 e 5 ou ento, 32, 25, 15, 9 e 5. Pode-se notar que nestas seqncias, geralmente a ordem dos abrasivos montada de maneira que o abrasivo seguinte tenha tamanho um pouco maior que metade do tamanho do abrasivo anterior. Se ocorrerem grandes variaes no tamanho dos abrasivos, um tempo de lapidao maior recomendado para se obter bons resultados. Os abrasivos com grana menor que 320 no so normalmente empregados, pois desgastaria excessivamente a superfcie do vidro. Estes tm aplicao quando se deseja, como dito anteriormente, desgastar rapidamente a superfcie a fim de reduzir a espessura da lente (lapidao grosseira). Neste caso empregam-se abrasivos de grana 120 em seguida 220 e inicia-se o processo de lapidao usual. O processo mecnico que utiliza uma matriz de ferro com o raio de curvatura desejado o mais empregado em oficinas de ptica para a lapidao de vrias lentes ao mesmo tempo. Isso feito atravs da montagem de blocados. Para lentes individuais, o processo semelhante, porm, ao invs de matrizes de ferro, gera-se um par de matrizes de vidro complementares (par de lentes cncava e convexa de mesmo raio de curvatura). A lente que se deseja lapidar, desta forma, atritada com a lente complementar na presena de pasta abrasiva. A escolha da matriz feita de acordo com o raio de curvatura da face da lente que se deseja polir. As lentes sero colocadas em uma das faces de acordo com o perfil da superfcie a ser polida: para uma superfcie cncava, as lentes so colocadas na matriz convexa; para a superfcie convexa, as lentes so colocadas na superfcie cncava da matriz. Na Fig. 5.12, as lentes esto sendo colocadas na parte cncava da matriz. Antes de se colocar as lentes na matriz, esta recebe uma camada de
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vaselina para facilitar a remoo posterior. As lentes so posicionadas de maneira que suas bordas fiquem levemente afastadas umas das outras para evitar quebras. Depois de colocadas na matriz, pode-se pintar de preto a superfcie exposta com um spray para depois ver melhor o polimento.
Fig. 5.12 - Esquema de montagem de blocado para lapidao e polimento de

uma superfcie convexa.
O material utilizado para a fixao das lentes chamado de cimento ptico. Este material preparado derretendo no fogo breu e gesso em partes iguais e um pouco de cera de abelha. Para que no ocorra nenhum choque trmico, a matriz com as lentes tambm aquecida como mostra a Fig. 5.13. Uma fita adesiva usada para que no ocorra o vazamento do cimento ptico. O cimento derretido vertido sobre as lentes na matriz e a matriz complementar colocada sobre o cimento, tomando-se o cuidado de no deixar que este se encoste nas lentes. A montagem colocada para esfriar.
Fig. 5.13 - Seqncia de montagem do blocado. Quando a montagem estiver completamente fria, a parte inferior aquecida e, devido ao derretimento da vaselina, as duas partes da matriz so separadas. Um leve desgaste do cimento ptico conveniente para formar um pequeno desnvel entre este e as lentes. Isso importante para
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proporcionar uma lapidao uniforme das superfcies. O blocado pronto est esquematizado na Fig. 5.14. Ele levado mquina mostrada na Fig. 5.15, onde realizada a lapidao das lentes. Ela consiste em dois eixos que suportam o blocado e a parte complementar da matriz. O eixo que suporta o blocado mantido em movimento de rotao enquanto o eixo que suporta a outra face da matriz realiza movimento de vai-vem. Este movimento importante para que a lapidao seja uniforme e atinja toda superfcie das lentes. O processo interrompido periodicamente para que haja o fornecimento da pasta abrasiva. essencial que haja a presena deste material para que ocorra o atrito deste com a lente e no o atrito do metal com a lente, alm de ser uma forma de refrigerao da superfcie que esquenta com o atrito e pode sofrer danos. Para este estgio so utilizados os abrasivos de gros de tamanho maior.
Fig. 5.14 - Blocado pronto para o processo de lapidao.
Fig. 5.15 - Mquina utilizada para lapidao.

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A lapidao tambm pode ser feita manualmente. Tal processo necessrio quando no se tem a matriz metlica com o raio de curvatura da superfcie ou quando fabricada uma nica lente com aquele raio. Neste caso, no processo de gerao de curva feita uma superfcie complementar superfcie da lente (par cncavo e convexo) com vidro comum e esta usada para a lapidao da superfcie da lente. O processo manual feito em uma bancada onde existe um sistema com rolamentos onde, com um motor ou por meio de pedais, uma das duas superfcies complementares (coladas em suportes metlicos com cera de abelha) colocada em movimento de rotao pelo sistema presente na bancada e a outra mantida em atrito com a primeira com auxilio das mos. O abrasivo usado o mesmo que o empregado na lapidao com blocado. O controle do raio de curvatura neste processo possvel de acordo com o movimento executado pela pessoa que segura a lente. Movimento no sentido de rotao da pea presa ao sistema fixo na bancada leva a uma melhor lapidao do centro e movimento contrrio rotao leva a uma melhor lapidao das bordas. Isso tambm vale tanto para o processo de polimento manual como para o realizado na mquina politriz.
5.5 Polimento
O polimento utiliza abrasivos com gros de tamanhos menores e geralmente usado um nico abrasivo durante todo o processo. O xido de crio (fcil de ser utilizado e de limpar) e o xido de zircnio so os mais usados no polimento por possurem gros com tamanho mdio de 3m. Outros abrasivos usados neste processo so: alumina em p (at 0,01m), pasta diamantada (at 0,1m), ruge, entre outros. Neste estgio a lente adquire brilho e transparncia, resultando em um produto pronto para o uso. No processo mecnico de polimento de lentes utiliza-se um polidor de piche ao invs do polidor de ferro ou vidro, pois o piche agride menos a superfcie da lente. Isso ocorre porque ele possui dureza inferior do ferro e vidro. O piche um material com alta viscosidade e em temperatura ambiente assemelha-se a um slido, mas pode fluir com o tempo (mais rapidamente quando sob presso ou alta temperatura). Estas caractersticas fazem deste material um timo polidor. Existem diversos tipos de piches disponveis comercialmente. A escolha do melhor piche
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para polimento deve ser feita de maneira que este no seja to viscoso a ponto de no fluir o suficiente para que ocorra bom contato entre as superfcies e nem to mole a ponto de fluir tanto que no mantenha o formato da superfcie e prejudique o polimento. Para a preparao do polidor, o piche aquecido num recipiente levado ao fogo, como mostra a Fig. 5.16. Quando este estiver lquido, despeja-se sobre um suporte de metal plano ou uma matriz metlica. A superfcie deve estar limpa para que haja boa aderncia e uma moldura de fita adesiva deve ser colocada para que no ocorra transbordamento do material.
(a)
(b)
(c)
Fig. 5.16 (a) piche em pedaos, (b) derretimento e (c) preparo do polidor. Aps ser espalhado com cuidado para que no surjam bolhas, pincela-se a superfcie da lente com uma mistura de abrasivo e gua (para que o piche no grude nas lentes) ou detergente, e se coloca as duas superfcies em contato. Isto feito quando o piche est um pouco mais firme e depois que a moldura de fita adesiva retirada. A outra metade da matriz (com as lentes), ou a lente individual, encostada no polidor (geralmente em rotao) para que o piche fique distribudo uniformemente e adquira o raio de curvatura da face a ser polida, como visto na Fig. 5.17. No caso de polidor para superfcies planas, o processo o mesmo (Fig. 5.18). Algum tempo depois, quando o raio de curvatura da superfcie est estabelecido de maneira uniforme, as duas partes da matriz so separadas e so feitos riscos, ou marcas no piche que serviro para o escoamento do abrasivo e acomodao do piche durante o polimento (Fig. 5.19). Em seguida, coloca-se as duas peas novamente em contato para
S. C. Zilio
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garantir que toda a superfcie do piche esteja em contato com a matriz de lentes ou com a superfcie plana (no caso de espelhos).
Fig. 5.17 - Montagem de polidor de piche.
Fig. 5.18 - Remoo da moldura de fita, espalhamento de abrasivo e contato

entre o polidor e vidro plano.
Fig. 5.19 - Riscos feitos no polidor de piche e contato com o vidro para
uniformidade da superfcie.
conveniente se fazer alguns riscos mais estreitos com uma faca em cada um dos quadrados do polidor de piche para que ocorra melhor
S. C. Zilio
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acomodao do piche durante o polimento. O polidor de piche est pronto para ser usado. Quando o piche estiver desgastado ou o raio de curvatura for alterado, necessria sua troca. Para a remoo do piche que est no polidor, este colocado num congelador por aproximadamente um dia. Em seguida, remove-se o piche com uma faca ou outro objeto resistente. Resduos de piche que ficarem no suporte podem facilitar a aderncia de uma nova camada. A mquina utilizada para o polimento, mostrada na Fig. 5.20, possui um sistema prprio de abastecimento de abrasivo, no sendo necessrio interromper o processo a no ser para o monitoramento das superfcies das lentes. Ela igual mquina de lapidao, onde um dos eixos realiza movimento de rotao enquanto que o outro realiza movimentos de vai-vem.
Fig. 5.20 - Mquina utilizada para polimento de lentes. A limpeza do local onde realizado o polimento muito importante, pois a contaminao com qualquer gro de tamanho maior que o do abrasivo pode causar riscos na superfcie. Para a remoo de riscos profundos comum ter que se retornar ao estgio de lapidao. Durante o processo de lapidao e polimento, alguns cuidados devem ser tomados para garantir a boa qualidade das lentes. Tais cuidados, descritos
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a seguir, devem ser adotados desde o processo de corte e gerao de curva. Inspeo visual - Antes de se iniciar o processo de lapidao conveniente uma inspeo cuidadosa do material. Peas que contenham rachaduras, bordas quebradas ou trincadas devido ao processo de corte ou durante a gerao de curvas podem prejudicar o polimento de outras lentes que estejam sendo polidas num mesmo blocado (caso liberem pedaos de vidro), alm de resultarem em lentes de pior qualidade. A observao de rachaduras internas do vidro ptico (provocadas eventualmente por quedas ou coliso) tambm pode ser feita j que lentes com tais defeitos no possuem boa qualidade visual. Para uma melhor visualizao recomenda-se colocar o vidro dentro de um recipiente que contenha gua, pois ela possui um ndice de refrao mais prximo ao do vidro. Durante a lapidao e o polimento - Durante os processos de lapidao e polimento cuidados com a qualidade da superfcie, curvatura e forma devem ser tomados. Durante a lapidao importante observar se toda a superfcie esta sendo gasta. Riscos feitos com uma caneta de ponta porosa so teis para a verificao da uniformidade da lapidao. Neste caso, deve-se observar se os riscos desaparecem por igual de toda a superfcie, o que demonstra que toda a regio est sendo lapidada. Este tipo de teste tambm conhecido como teste de Sharpi. Na mudana do abrasivo que estiver sendo utilizado, a lente (se a lapidao for individual) ou o blocado deve ser lavado com pincel e detergente e secado, tomando-se o cuidado de no deixar resduos de gros do abrasivo anterior, em geral de tamanho maior. Isso feito para evitar riscos provocados por algum gro que eventualmente se mistura com os gros do prximo abrasivo, e atritado com a lente. Secamos com ar comprimido, ao fim de cada etapa. Outro cuidado necessrio refere-se ao controle do raio de curvatura que se quer gerar. Durante o desgaste da superfcie da lente na lapidao, o raio de curvatura geralmente varia. Os abrasivos de gros maiores mudam o raio da lente rapidamente, possibilitando o desvio do raio desejado ou o ajuste para este raio. Abrasivos com partculas de tamanho menor tambm provocam mudana no raio de curvatura, porm esta mudana mais lenta. A manipulao deste raio de curvatura feita variando-se a compresso e direo da matriz durante o processo. O controle desta curvatura feito com o esfermetro, como descrito na
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seo 5.3. importante medir a altura em vrios pontos sobre a superfcie da lente para que, alm da curvatura, seja possvel verificar se a superfcie est esfrica ou se possui raios distintos em diferentes posies. Obteno das Lentes Polidas - Aps o processo de polimento, o resultado uma superfcie completamente polida, como visto na Fig. 5.21. Neste momento necessrio o destacamento das lentes do cimento ptico. Para isso, o blocado enrolado numa folha de alumnio e colocado num refrigerador onde mantido por aproximadamente 2 horas (Fig. 5. 22).
Fig. 5.21 - Blocado com lentes polidas.
Fig. 22 - Processo para destacamento das lentes por refrigerao do blocado. Este processo importante, pois o coeficiente de dilatao do cimento ptico maior que o dos vidros das lentes. Assim, o cimento ptico
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contrai mais que as lentes, desprendendo-as sem danificar. Em seguida, s bater levemente no cimento ptico com um martelinho, que este descola com facilidade. O resto do cimento guardado para ser reutilizado. Para uma maior limpeza deixamos as amostras em um banho de acetona, se a lente estiver razoavelmente limpa; caso contrrio, usamos um banho de querosene. Esperamos por 3 horas e passamos lcool para terminar a limpeza. Controle de qualidade visual - A observao das superfcies das lentes com boa iluminao e utilizando uma lupa permite visualizar pequenos riscos, alm de ser possvel observar poros na face da lente, o que indica que o tempo de polimento no foi suficiente. Este tipo de acompanhamento importante, pois permite a correo durante o processo de polimento. Outro tipo de controle de qualidade o monitoramento do raio de curvatura j descrito acima, utilizando-se o esfermetro. Este controle permite a obteno do raio ideal com maior preciso. A espessura da lente geralmente controlada durante a lapidao atravs de um paqumetro. Este controle de qualidade fundamental para garantir que a lente final tenha a distncia focal correta e possua boa transparncia e qualidade ptica. Centralizao de lentes - Durante os processos de lapidao e polimento podem ocorrer pequenos lascamentos das bordas da lente devido a pequenas quedas ou choques. Estes defeitos podem ocasionar riscos na superfcie a ser polida devido a possveis pedaos de vidro que podem se desprender e se misturar com a pasta abrasiva durante o polimento. Outro inconveniente que o defeito na borda, quando grande, pode causar a perda da pea. Entretanto, se pequeno pode ser corrigido, caso o dimetro real da lente seja maior que o dimetro especificado. Este cuidado geralmente tomado e parte da borda pode ser removida como veremos a seguir. Outro problema que geralmente ocorre durante o processo de fabricao o desvio entre o eixo ptico do raio gerado na lente e o centro geomtrico da lente. Este tipo de defeito prejudica o desempenho ptico do sistema do qual a lente faz parte, e deve ser corrigido. O processo de centralizao de lentes feito para corrigir estes pequenos defeitos nas bordas e possveis desvios do seu eixo central.
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A centralizao da lente realizada pela mquina mostrada na Fig. 5.23, que consiste em um rebolo e dois eixos bem alinhados, onde so fixadas pinas de lato selecionadas de acordo com o tamanho da lente a ser centrada. A lente posicionada entre as duas pinas que a comprimem, sem danificar a superfcie, e se ajustam curvatura desta, centralizando o eixo ptico com o eixo das pinas. Este conjunto (pinas e lente) executa movimento giratrio, com baixa velocidade. Um rebolo diamantado, localizado perpendicularmente ao eixo das pinas, responsvel pela retificao das bordas. Desta forma, o excesso de borda retirado e o centro fsico passa a coincidir com o eixo ptico da lente. Este tratamento pode ser feito em lentes com qualquer curvatura e dimetro.
Fig. 5.23 - Mquina usada na centralizao de lentes. Com isso, encerramos as etapas de corte, lapidao e polimento da lente. Nota-se que nestas etapas iniciais no h muito contedo terico de ptica geomtrica, uma vez que os clculos so relativamente simples. Basta verificarmos alguns tringulos retngulos e aprendermos a relacionar os parmetros em questo. Nestes processos, a ateno maior deve estar voltada para o cuidado no manuseio dos instrumentos e das mquinas para se atingir o melhor resultado. Por exemplo, ao se posicionar a lente na pina da mquina geradora, deve-se ter o cuidado de verificar se ela encostou-se parede de fundo da presilha; caso contrrio, o eixo de curvatura pode ficar muito descentralizado.
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5.6 Controle de qualidade

Mesmo depois de tanto rigor na fabricao dos componentes pticos, necessria uma avaliao da qualidade e eficincia de tais componentes com o propsito de garantir a confiabilidade do produto final. Alguns controles de qualidade usualmente realizados para a confeco de componentes pticos so descritos a seguir. Anlise topolgica da superfcie - O primeiro teste a se fazer a anlise topolgica da superfcie com um interfermetro de Fizeau, como aquele mostrado na Fig. 5.24. Um interfermetro ptico um instrumento de medida que utiliza o fenmeno da interferncia baseado nas propriedades ondulatrias da luz, criando as chamadas franjas de interferncia. As propriedades geomtricas do padro de franjas de interferncia so determinadas pela diferena de caminho percorrido pelas ondas.
Fig. 5.24 Interfermetro de Fizeau usado para a anlise topolgica de

superfcies pticas. S. C. Zilio Desenho e Fabricao ptica
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Os interfermetros medem a diferena no caminho ptico em unidades de comprimento de onda, , da luz utilizada. Como o caminho ptico o produto entre o caminho geomtrico e o ndice de refrao, um interfermetro mede a diferena de caminhos geomtricos quando os raios atravessam o mesmo meio, ou a diferena dos ndices de refrao quando o caminho geomtrico igual. Uma caracterstica importante de um padro de interferncia que a separao entre duas franjas consecutivas corresponde a uma diferena de caminhos pticos de /2. As irregularidades na superfcie de componentes esfricos convexos so analisadas atravs do esquema mostrado na Fig. 5.25(a), onde o raio de curvatura da superfcie convexa sendo testada deve ser menor do que a distncia focal traseira do padro de transmisso esfrico. (a) (b) (c)
Padro esfrico Teste
Padro plano Teste
Fig. 5.25 Montagens para testes de superfcies (a) convexas, (b) cncavas e (c)
planas.
Irregularidades numa superfcie esfrica cncava so examinadas colocando o centro de curvatura do objeto sob teste coincidente com o foco do padro esfrico, como visto na Fig. 5.25(b). J para a anlise de superfcies planas, tais como as de espelhos e prismas, utilizamos um padro plano, como mostra a Fig. 5.25(c). Feito isso, podemos observar as franjas de interferncia obtidas no monitor, imprimi-las ou gravar num micro-computador. Uma vez realizado o teste no interfermetro, devemos medir as franjas de interferncia obtidas para avaliar a qualidade da superfcie ptica. Uma tcnica comum para analisar as franjas manualmente
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baseada no uso de um acessrio composto de um paralelogramo mecnico articulado, com um nmero de linhas paralelas, igualmente espaadas, mas de espaamento varivel, conforme mostra a Fig. 5.26.
Fig. 5.26 Paralelogramo articulado, com linhas igualmente espaadas. O equipamento ajustado de modo que as linhas da grade estejam bem alinhadas com o padro de franjas, como visto na Fig. 5.27.
Fig. 5.27 Alinhamento das linhas com as franjas de interferncia. Devemos medir o mximo desvio de uma franja com relao linha da rede que corresponde franja. Isso feito da seguinte maneira: 1) Sem rodar ou mudar o espaamento da rede, mova-a para o lado com o auxlio de uma rgua de modo que pelos uma linha passe pelo centro de uma franja (Fig. 5.28). Marque a posio na figura de interferncia.
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Mova a rede (sem rodar ou mudar o espaamento entre as linhas) at que a linha que passava pelo centro da franja passe pela posio de maior desvio, como mostra a parte central da Fig. 5.29. Marque esta posio na figura.
Fig. 5.28 Superposio da linha com uma franja de interferncia.
Fig. 5.29 Medida do mximo desvio de uma franja. 2) Mea a distncia, s, entre as duas marcas feitas nos passos anteriores.
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3) Mea a distncia entre as duas linhas nos extremos da figura de interferncia e divida essa distncia pelo nmero de espaos de franjas para obter o espaamento mdio entre duas linhas consecutivas, s. 4) Divida a medida do item 2 pela mdia obtida no item 3 para obter a frao de distoro da franja, de pico a vale, como visto na Fig. 5.30. 5) Multiplique o resultado obtido no item anterior por para converter a distoro da franja em unidades de comprimento de onda. Multiplicando este valor por 0.633 m, que o comprimento de onda do laser de He-Ne utilizado no interfermetro de Fizeau, obtemos as variaes de altura da superfcie ptica em m.
Fig. 5.30 Medida da distoro da franja. Determinao de ngulos de prismas - Os ngulos entre as superfcies de um prisma geralmente so medidos utilizando-se um aparelho chamado gonimetro. Esses aparelhos so constitudos por uma mesa rotatria na qual colocado o prisma ou polgono que ter os ngulos entre as superfcies determinado por uma fonte luminosa e um colimador. O colimador gera um feixe de raios paralelos que projetado em uma das superfcies e a mesa rotatria girada at o momento que o feixe esteja refletido sobre ele mesmo, ou seja, esteja incidindo perpendicularmente na superfcie. Nesta condio, a posio da mesa anotada e repete-se o mesmo procedimento para a outra superfcie em relao qual se quer saber o ngulo. A diferena entre os dois valores anotados fornece o ngulo que se quer medir. O tipo de gonimetro mais empregado o comparador, mostrado na Fig. 5.31, onde um prisma padro utilizado como referncia. Depois
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de regularmos o gonimetro com o prisma padro, colocamos no lugar do mesmo o prisma que queremos analisar. Assim, obtemos o ngulo do prisma por comparao.
Fig. 5.31 Gonimetro comparador para a medida de ngulos de prismas. Determinao dos raios de curvatura de lentes O raio de curvatura pode ser medido atravs de um esfermetro ou no banco ptico mostrado na Fig. 5.32. Uma fonte de luz est colocada em 1 e quando acesa, seus raios colimados chegam a um divisor de feixe em 2. Como mostrado na figura, temos uma objetiva em 3 para focalizar o raio. Assim ajustamos a lente no trilho em 4 at que aparea uma cruz no visor. Este primeiro ponto indica onde devemos zerar a escala graduada digital e a partir da comear a observar em que ponto ir novamente aparecer outra cruz. Assim, o valor que aparecer na escala graduada o valor do raio de curvatura de um dos lados da lente. Quando conhecemos os ndices de refrao, podemos obter o foco das lentes atravs da equao do fabricante: 1 1 1 (5.1) = (n v n a ) f R1 R 2
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onde f a distncia focal, nv e na so respectivamente o ndice de refrao do vidro e do ar (na 1) meio e R1 e R2 os respectivos raios de curvatura da lente.
1 4 3
Fig. 5.32 Banco ptico para a medida de raios de curvatura. MTF (modulation transfer function) - A resoluo e performance de um sistema ptico podem ser caracterizadas por uma quantidade conhecida como modulation transfer function (MTF), que a medida da capacidade do sistema ptico de transferir contraste do objeto para a sua imagem. A quantificao da MTF constitui um mecanismo freqentemente utilizado pelos desenhistas pticos para reunir informaes sobre resoluo e contraste do sistema numa simples especificao. A MTF til no somente para caracterizar sistemas pticos tradicionais, mas tambm sistemas fotnicos tais como cmeras de vdeo analgicas ou digitais, scanners, etc. Este conceito derivado de convenes de padronizao utilizadas na engenharia eltrica que especificam o grau de modulao de um sinal de sada como funo da freqncia do sinal de entrada. Uma lente ideal seria uma lente capaz de produzir uma imagem que representa um objeto fielmente, transferindo todos os detalhes do objeto para a imagem; no entanto, lentes reais produzem pequenas variaes entre a imagem e o objeto. Com intuito de quantificar este fator
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intrnseco das lentes reais, representa-se a habilidade da lente de transferir informao do objeto para a imagem atravs da MTF. Uma maneira simples de interpretar os resultados da MTF atravs da formao da imagem de um objeto de referncia composto por uma rede de pares de linhas pretas e brancas igualmente espaadas (100% de contraste). Nenhuma lente (mesmo teoricamente perfeita) sob qualquer resoluo pode transferir completamente este contraste para a imagem devido limitao provocada pela difrao. Sendo assim, til graficar a maneira pela qual o contraste transferido varia com a freqncia espacial, que geralmente expressa quantitativamente pelo nmero de espaamentos (linhas) por unidade de comprimento existente na rede observada. De fato, quando o espaamento entre as linhas da rede diminudo (maior freqncia), se torna mais difcil para a lente transferir o contraste. Sendo assim, quando a freqncia espacial aumenta, o contraste da imagem diminui. Uma unidade de referncia comum para a freqncia espacial o nmero de linhas por milmetro (lpm). Como exemplo, uma srie contnua de pares de linhas pretas e brancas com intervalo espacial de 1 micrmetro por par vai repetir 1000 vezes a cada milmetro o que corresponde a uma freqncia espacial de 1000 lpm. Na situao em que uma rede de linhas pretas e brancas igualmente espaadas (ondas quadradas) constitui o objeto cuja imagem vai ser analisada com intuito de caracterizar o sistema, o grfico relacionando a porcentagem de contraste transferido do objeto para a imagem conhecido como funo de transferncia de contraste (CTF). A Fig. 5.33 apresenta o efeito do aumento da freqncia espacial no contraste da imagem numa objetiva limitada por difrao. Um grfico de MTF mostra a porcentagem de contraste transferido para a imagem pela freqncia de linhas. Alguns fatores devem ser observados: 1) A funo de transferncia de modulao o contraste da imagem em termos do contraste do objeto, em porcentagem (100% = completa distino entre linhas pretas e brancas, 0% = imagem uniformemente cinza). 2) A freqncia em um grfico de MTF medida no plano da imagem. Sendo assim, para definir a resoluo do objeto (freqncia de linhas), deve-se calcular a magnificao primria da lente sendo testada. Uma curva tpica de MTF de uma lente mostrada na Fig. 5.34.
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Grade peridica
Objetiva
Imagem
branco
branco
preto Grade peridica Objetiva
preto Imagem
branco
branco
preto
aumento da freqncia espacial.
preto
Fig. 5.33 Efeitos da difrao sobre a quantidade de contraste transferido com o
fc
Fig. 5.34 Grfico da MTF em funo da freqncia espacial.

171
No grfico da Fig. 5.34 pode se ver indicada a freqncia de corte que corresponde freqncia para qual a porcentagem de contraste transferida nula no caso de uma lente sem aberraes. A freqncia de corte, limitada por difrao, dada pela seguinte expresso:
fc =
2 NA
(5.2)
onde NA a abertura numrica do sistema e o comprimento de onda em mm. Deve ser notado que uma curva de MTF pode ser gerada teoricamente, fornecendo uma prescrio sobre o desempenho ptico da lente. Apesar de ser til, ela no indicar o comportamento real da lente aps sua confeco, uma vez que o processo de fabricao sempre introduz perdas no seu desempenho. Por esta razo existem sistemas de medida que quantificam a MTF da lente fabricada fornecendo uma caracterizao de seu real desempenho. A Fig. 5.35 mostra um equipamento utilizado para teste de qualidade de uma lente atravs da medida se sua MTF.
Fig. 5.35 Equipamento para medidas de MTF. Erros de centralizao - O procedimento mais comum para identificar erros de centralizao em lentes consiste em analisar a luz por elas transmitida ou refletida medida que vo sofrendo uma rotao. Um melhor entendimento deste mtodo pode ser obtido com a ajuda da Fig. 5.36, onde mostrado um aparelho utilizado para este tipo de medida.
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Fig. 5.36 Aparelho para medidas de erro na centralizao.

Para a medida da centralizao por transmisso um feixe focalizado no plano focal da lente a ser testada. O feixe de luz transmitido pela lente captado por uma cmera CCD. Para quantificar erros de centralizao presentes na lente, o feixe de luz transmitido analisado enquanto a lente rodada de 360o. Na medida por reflexo (modo refletido), um feixe focalizado no centro de curvatura da lente e posteriormente refletido pela mesma. O feixe refletido captado por uma cmera CCD e analisado enquanto a lente rodada de 360o, como na anlise por transmisso. medida que a lente sob teste rodada, a imagem formada na CCD se mover se houver a presena de erros de centralizao. O deslocamento na imagem ser proporcional quantidade de erro na centralizao.
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O aparelho visto na Fig. 5.36, alm de avaliar possveis erros de centralizao, permite o alinhamento de duas lentes j centralizadas quando elas so coladas para a confeco de um dubleto.
Effective Focal Length (EFL) - Medies das distncias focais efetiva (EFL) e traseira (BFL) tambm so realizadas pelo sistema mostrado na Fig. 5.35. De acordo com o esquema ilustrativo da Fig. 5.37, um sistema colimador projeta no infinito a imagem de um objeto reticulado com espaamento y. Os raios paralelos atravessam a lente a ser testada e emergem como um feixe de raios convergentes que se interceptam no plano focal da mesma. A imagem do objeto de referncia formada no plano focal coletada por um microscpio e focalizada numa cmera CCD colocada precisamente no plano focal do microscpio. O microscpio e a CCD so montados em um estgio de translao linear controlado por um motor de passo. Um sistema de autofocalizao controlado por computador permite a localizao precisa e automatizada do plano focal da lente sob teste. Simultaneamente, o comprimento de ajuste do colimador, fk, determinado e conseqentemente o comprimento focal efetivo, f, dado por:
y' f = fk y
'
(5.3)
Retculo com espaamento y
Microscpio e cmera CCD
Lente sob teste
Estgio controlado pelo motor de passo
Sistema colimador
Fig. 5.37 Diagrama ptico para a medida da distncia focal efetiva.

Atravs desta relao pode se determinar diretamente o valor do EFL (f) atravs de fk, y (altura da imagem) e y. Estes trs parmetros so indicados na Fig. 5.37. Seus valores so automaticamente fornecidos pelo aparelho de medida aps um processo de auto-calibrao feito pelo sistema. Todos os aspectos da aquisio de dados comeando pelo sistema
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de auto-focalizao, posicionamento da CCD, auto-calibrao e exposio dos dados medidos, so controlados pelo software e totalmente automatizados.
Back Focal Length (BFL) - O BFL a distncia do vrtice da lente at o segundo ponto focal. A cabea ptica para medio do BFL projetada como um dispositivo autocolimador que incorpora um objeto de referncia, um divisor de feixe e um sistema de imagem. Um sistema de iluminao por fibra ptica seguida por um condensador ilumina o objeto. A imagem projetada do objeto automaticamente focalizada no vrtice e posteriormente no plano focal da lente sob teste. Cada posio dos dois planos de focalizao (vrtice da lente e plano focal) precisamente medida. A distncia entre estas duas posies constitui o BFL. A Fig. 5.38 fornece um esquema ilustrativo da focalizao da imagem no vrtice e no plano focal da lente.
Fig. 5.38 Aparato para medio do BFL.
5.7 Filmes finos

Para a construo de filtros, espelhos e filmes anti-refletores em lentes temos que ter primeiramente o substrato pronto, ou seja, uma superfcie ptica que j tenha passado pelos processos anteriores de corte, lapidao, polimento e controle de qualidade. Para muitos espelhos no necessrio um vidro com boa transmisso ptica, pois no haver a passagem de luz por ele.
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O processo utilizado para a deposio de filmes finos a vaporizao em cmara de alto vcuo. Este processo consiste na evaporao de substncias (quartzo, xido de titnio, alumnio, prata, etc) aquecidas a altas temperaturas, suficiente para fundi-las e formar uma nuvem do material dentro da cmara vcuo. Essa nuvem entra em contato com o substrato formando camadas muito finas desse material sobre o vidro. Pela superposio de camadas de diferentes tipos de materiais iremos definir as propriedades do componente. As mquinas usadas para a fabricao desses componentes (Fig. 5.39) so chamadas evaporadoras, pois como mencionamos, os filmes finos so produzidos a partir da evaporao, em alto vcuo, de metais e materiais dieltricos. Essas evaporadoras so equipamentos extremamente sofisticados, caros e que exigem um investimento muito alto na sua instalao, manuteno e utilizao.
3 2 1
Fig. 5.39 Vista geral da evaporadora constituda por (1) cmara de vcuo, (2)
sistema de controle de potncia para o canho de eltrons e (3) micro-computador e controle de vcuo. S. C. Zilio Desenho e Fabricao ptica
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Dentro da evaporadora existe uma calota esfrica, vista na Fig. 5.40, onde so fixados os substratos. Essa calota ir realizar um movimento giratrio para que haja uma distribuio uniforme do material depositado. Depois de escolhido o material para evaporao, devemos saber qual o seu ponto de fuso. Se esta temperatura for inferior a 800 C (em geral os metais) ele ser evaporado em um cadinho que ser aquecido por efeito Joule. Porm se necessitarmos de temperaturas mais elevadas para evaporao utilizaremos um canho de eltrons, que consiste num feixe de eltrons acelerados incidindo diretamente no material, podendo chegar a temperaturas altssimas, suficientes, por exemplo, para evaporar at grafite.
Fig. 5.40 Calota para fixao dos substratos.

Depois de colocados dentro da mquina os substratos e os materiais a serem evaporados (Fig. 5.41), fechamos a mesma e ligamos uma bomba mecnica que inicia o processo de despressurizao, at atingir uma presso da ordem de 10-2 bar. A seguir liga-se a bomba difusora, mais eficiente para baixas presses, que fornecer o vcuo necessrio, que da ordem de 10-5 bar. O prximo passo consiste em ativar um ionizador para limpeza dos substratos (glow discharge) na presena de um pequeno fluxo de ar.
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Isto far aumentar a presso novamente. Finda esta etapa, a bomba difusora far a cmara de vcuo voltar presso exigida e o material pode comear a ser evaporado. A evaporadora programada para realizar o processo sozinha, de forma que devemos saber de antemo o nmero de camadas, a espessura e a ordem dos materiais a serem depositados. Lembramos que ao final da evaporao os substratos estaro quentes, e que a mquina tambm recebe a deposio do material, exigindo que depois de algumas evaporadas ela seja limpa.
Fig. 5.41 Interior da evaporadora, com destaque no local onde colocamos os

materiais que sero evaporados.
Algumas limitaes do equipamento - A espessura de cada camada pode ser controlada atravs da quantidade de material depositado sobre um
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cristal de quartzo que oscila com uma freqncia de ressonncia da ordem de 5 MHz. Conforme o material vai se depositando sobre o cristal, a freqncia de ressonncia muda e esta variao pode ser correlacionada com a espessura depositada. A resoluo de cada camada de cerca de 10, e se necessitarmos uma espessura menor que essa no teremos a resoluo necessria para consegui-la. Assim, temos uma limitao do equipamento que provoca incertezas desta ordem nos comprimentos de onda desejados. Materiais - O primeiro passo antes da evaporao a escolha do material a ser evaporado. Essa escolha ir depender das propriedades da interao do material com a luz. A luz incidente no material sofre trs tipos de efeito: reflexo, absoro e transmisso e, portanto, a escolha depender destes trs fatores. Os materiais utilizados para a deposio podem ser metais ou dieltricos dependendo do uso que se dar ao componente ptico. O uso de materiais dieltricos mais freqente, pois eles praticamente no absorvem luz. Porm, a atuao deles ocorre numa pequena faixa do espectro, enquanto que o alumnio, por exemplo, reflete em todo o espectro visvel, mas com a inconvenincia de absorver cerca de 5% da radiao. A deposio de materiais dieltricos feita por camadas, que podem ser variadas tanto em nmero quanto em espessura, resultando em componentes com diferentes espectros de transmisso. Quando utilizamos elementos dieltricos necessria a deposio de pelo menos dois tipos de materiais com ndices de refrao diferentes. Geralmente, quanto maior a diferena entre os ndices maior ser a eficincia do dispositivo. Os dieltricos mais utilizados so: o dixido de titnio (TiO2, n = 2.2) e o quartzo (SiO2, n = 1.45), justamente pela grande diferena entre seus ndices. Alternamos ento camadas com ndice alto e camadas com ndice baixo (high-low). A utilizao de metais na confeco de espelhos se d quando a absoro do componente no representa um problema para a aplicao na qual este ser empregado. Os metais mais utilizados so: alumnio e ouro. Como j dito, apesar dos metais absorverem parte da luz, a maioria deles funciona em todo o espectro visvel, mas o ouro mais utilizado para a faixa do infravermelho.
Nmero de camadas - O nmero de camadas um fator importantssimo na construo de filtros e espelhos. Aumentando o nmero de camadas
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aumentamos a porcentagem de reflexo e assim obtemos desde divisores de feixe (semi-espelhos) at espelhos de reflexo total. Lembramos tambm que com uma pequena quantidade de camadas convenientemente escolhidas podemos produzir uma interferncia que diminui a reflexo, que so os filmes anti-refletores. Para os filmes dieltricos, a espessura das camadas outro fator muito importante. Variando a espessura variamos a faixa do espectro em que o dispositivo ir atuar. Para o vermelho as camadas sero mais espessas e para o azul mais finas. A determinao do nmero de camadas, espessura e a alternncia entre os materiais para cada componente fabricado exigem clculos que seriam muito trabalhosos e pouco prticos na confeco de cada componente. Para isso utilizamos um programa de computador que calcula diretamente o nmero de camadas, a espessura de cada uma e a alternncia de deposio dos materiais. Um dos programas comerciais mais comuns o ESSENTIAL MACLEOD e sua utilizao simples: depois de escolher os materiais e especificar as propriedades do componente, como por exemplo, a faixa do espectro e a transmisso requerida em cada comprimento de onda (TARGETS). A Tabela 5.3 e a Fig. 5.42 mostram um exemplo do clculo realizado pelo programa para um espelho em 530 nm com TiO2 e SiO2, com o limite de 25 camadas. Esse espelho foi calculado para um ngulo de incidncia de 450.
Tabela 5.3 Clculo de um espelho de alta refletividade em 530 nm.

Layer Medium 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 Material Air TiO2 SiO2 TiO2 SiO2 TiO2 SiO2 TiO2 SiO2 TiO2 SiO2 TiO2 SiO2 Refractive Index 1.0000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 Extinction Coefficient 0.00000 0.00037 0.00000 0.00037 0.00000 0.00037 0.00000 0.00037 0.00000 0.00037 0.00000 0.00037 0.00000 Thickness
54.38 117.29 56.96 110.74 58.41 106.59 59.33 105.27 59.56 104.73 59.58 104.28
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13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 Substrate TiO2 SiO2 TiO2 SiO2 TiO2 SiO2 TiO2 SiO2 TiO2 SiO2 Glass 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 1.00000 0.00000

0.00037 0.00000 0.00037 0.00000 0.00037 0.00000 0.00037 0.00000 0.00037 0.00000 0.00000 59.93 104.17 59.72 104.27 59.72 104.30 59.63 77.19 56.99 82.29
Fig. 5.42 Transmisso de um espelho dieltrico para 530 nm. Exemplos de componentes que podem ser evaporados Anti-reflexo: As lentes com revestimentos anti-refletores so componentes que, atravs da deposio de poucas camadas tm a propriedade de refletir menor quantidade de luz. Uma aplicao so as lentes de culos onde observamos uma reflexo meio azulada. Outra aplicao dessa tcnica feita em lentes de telescpios refratores com o objetivo de se perder a menor quantidade de luz possvel.
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Filtros de interferncia: Existem os filtros passa-banda que so componentes que permitem a passagem de apenas uma faixa escolhida do espectro. Os filtros passa-alto deixam passar os comprimentos de onda mais altos, e os filtros passa-baixo que deixam passar os comprimentos de onda mais baixos. Pode-se construir um filtro passa-banda fazendo a composio de um passa-alto com passa-baixo. Espelhos: Os espelhos podem refletir totalmente a luz, ou refletir apenas uma faixa escolhida do espectro. Uma aplicao para esses espelhos so as lmpadas de dentistas que refletem apenas a luz no espectro visvel para iluminar a boca do paciente, enquanto o infravermelho, que a parte quente da luz, passa atravs do espelho para no esquentar a boca do paciente. Divisor de feixe (beam spliter): So semi-espelhos, que refletem uma porcentagem da luz e transmitem o resto, podendo atuar na mesma faixa do espectro ou em faixas distintas.
Controle de qualidade do componente - Para conferir a propriedade do componente fabricado, utilizamos um espectrofotmetro, que consiste num dispositivo para medir a transmisso, ou seja, a quantidade de luz que passa pelo componente em funo do comprimento de onda. Pode-se tambm com o mesmo aparelho medir a refletividade caso seja este um espelho. A seguir mostramos na Fig. 5.43 o exemplo de um espectro de transmisso que corresponde a medida da transmitncia de um espelho para o comprimento de onda = 632 nm.
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Fig. 5.43 Espectro de um espelho para =632 nm.
Bibliografia
5.1. D. F. Horne, Optical Production Technology (Crane, Russak & Company, Inc., New York, 1972).
Problemas
5.1. Deduzir as expresses sen = D/(R+2) e sen = D/(R-2) para a gerao de superfcies cncavas e convexas, respectivamente. 5.2. Para que o polimento de um disco de vidro fique com planicidade boa (/10) a) O polimento deve ser feito com baixa rotao (menor que 10 rpm)
183
b) c) d) e)
O polimento deve ser feito com alta rotao (maior que 200 rpm) O dimetro e a espessura do disco dever ser iguais necessrio que se faa o polimento em matriz de madeira A espessura deve ser no mnimo 1/5 do dimetro
5.3 Um dubleto acromtico feito colando-se duas lentes de vidros diferentes. Estes vidros devem ser do tipo: a) Ambos crown b) Um crown e um flint c) Ambos flint d) Um crown e um light e) Um flint e um light 5.4. Qual o par de palavras que completa corretamente a seguinte sentena: O polimento de uma superfcie de vidro feito utilizandose uma matriz de __________ e __________ como abrasivo: a) Ferro, carborundum b) Cobre, carbeto de silcio c) Pixe, carborundum d) Cera, alumina e) Pixe, xido de crio 5.5. A melhor maneira de se cortar um bloco de vidro com: a) Ponta de diamante b) Serra de vdia c) Serra diamantada d) Serra de ao inox e) Fio diamantado 5.6. Para verificar se a superfcie polida est bem plana deve-se: a) Usar um planmetro b) Usar um gonimetro c) Comparar com uma superfcie de mesma planicidade d) Comparar com uma superfcie de planicidade melhor e) Nenhuma das anteriores 5.7. O cimento ptico, usado para a montagem de blocados de lentes composto de: a) Piche e breu b) Breu e gesso
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c) Cera de abelha, gesso e pixe d) Gesso, breu e cera de abelha e) Pixe, gesso e breu 5.8. Para remover as lentes presas num blocado por cimento ptico devese: a) Esquentar o blocado lentamente at 150C b) Dissolver o cimento ptico com acetona c) Remover as lentes mecanicamente d) Resfriar o blocado num freezer e) Remover as lentes com ultra-som 5.9. Ao se medir a superfcie esfrica de uma lente com raio de curvatura de 5 cm com um esfermetro de dimetro de 6 cm, obtm-se uma flecha de: a) 3 mm b) 15 mm c) 10 mm d) 5 mm e) Nenhuma das anteriores 5.10. Deseja se construir uma lente plano-convexa com vidro cujo ndice de refrao n = 1.5. Para que a lente tenha uma distncia focal de 30 cm, o raio de curvatura da superfcie esfrica deve ser: a) 15 cm b) 30 cm c) 10 cm d) 45 cm e) 60 cm 5.11. Para se limpar uma lente usa-se a) lcool ou acetona b) Sabo e gua c) Detergente neutro d) Bifluoreto de amnia e) Dimetil sulfxido 5.12. O processo de lapidao deve ser iniciar com que material? a) Lixa 600 b) Carborundum 600
185
c) Alumina d) Carborundum 1200 e) xido de crio 5.13. Em que situao se deve substituir o vidro por slica (quartzo amorfo) ao se fazer uma lente? a) Quando se deseja fazer uma lente de maior dureza b) Quando se deseja transmitir luz infravermelha c) Quando se deseja uma lente barata d) Quando se deseja uma lente de cristal e) Quando se deseja transmitir luz ultravioleta 5.14. Para se controlar a dureza de uma matriz de pixe para polimento deve-se adicionar a) Breu b) Gesso c) Limalhas de ferro d) Cera de abelha e) No necessrio controlar a dureza para o processo de polimento 5.15. Qual o par de palavras que completa corretamente a seguinte sentena: A lapidao de uma superfcie de vidro feita utilizandose uma matriz de __________ e __________ como abrasivo: a) Ferro, carborundum b) Cobre, carbeto de silcio c) Pixe, carborundum d) Cera, alumina e) Pixe, xido de crio 5.16. O interfermetro um aparelho usado para: a) Corte e desbaste de vidros b) Verificao da quantidade de bolhas e estrias de um bloco de vidro c) Controle de planicidade e esfericidade de superfcies polidas d) Verificao da qualidade de polimento de uma superfcie e) Medida do raio de curvatura de uma superfcie polida 5.17. xido de crio e zircnia so abrasivos utilizados para: a) Lapidao de cristais moles b) Polimento de vidros em geral c) Polimento de metais
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d) Lapidao e polimento de cristais higroscpicos e) Lapidao de cristais duros 5.18. O gonimetro utilizado para medir: a) O raio de curvatura de uma lente b) A centragem do eixo ptico de uma lente c) O foco de uma lente d) O ngulo de um prisma e) A espessura final de uma lente 5.19. Uma superfcie esfrica cncava de raio de curvatura 100 mm, na qual foi depositada uma camada refletiva de alumnio, possui foco de: a) 30 mm b) 40 mm c) 50 mm d) 100 mm e) 200 mm 5.20. Para a montagem de um blocado de prismas deve-se usar: a) Cimento ptico e parafina b) Gesso e parafina c) Parafina e breu d) Cera de abelha e glicerina e) Breu e cera de abelha 5.21. O tempo mdio de polimento de um blocado plano de 30 cm de dimetro contendo cerca de 50 janelas de vidro de 38 mm de dimetro de: a) 1 hora a 20 rpm b) 3 horas a 50 rpm c) 5 horas a 70 rpm d) 16 horas a 80 rpm e) 48 horas a 150 rpm
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DESENHO E FABRICAO PTICA

Srgio Carlos Zilio

1. ptica geomtrica paraxial

3. Traado de raios meridionais

4. Programa OSLO para clculo de desenho ptico

5. Tcnicas de fabricao ptica

ptica geomtrica paraxial

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1.1 A aproximao paraxial

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1.2 Pontos cardeais

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(a) Fig. 1.2 Formao de imagens real (a) e virtual (b).

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Desenho e Fabricao ptica

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Fig. 1.5 Definio dos pontos nodais.

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Fig. 1.6 Traado de um raio desconhecido usando os pontos cardeais.

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1.3 Conveno de sinais

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Fig. 1.7 Parmetros que descrevem uma sucesso de superfcies pticas.

1.4 Traado de raios paraxiais

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ptica geomtrica paraxial

ptica geomtrica paraxial

1.5 O mtodo y-nu

e a equao de translao escrita como:

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translao t n Y(1-1t/n) -Y1

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onde y dado, e y-1 da superfcie prvia e u so conhecidos.

1.6 O mtodo y-u-i

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1.7 Formalismo matricial

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Estas equaes podem ser expressas atravs de produto de matrizes como:

Estas equaes podem ser colocadas na forma matricial como:

ou esquematicamente como Rj = Rj Rj, onde a matriz de refrao dada por:

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A transformao do raio incidente ao passar pela lente obtida a partir de:

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1 1 1 = 1 + 2 = (n 1) a equao do fabricante de lentes. r r f 1 2

1.8 Lentes finas

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Fig. 1.10 - Formao de imagens por uma lente convergente.

x 0 x = f 2 0 Desta expresso encontramos:

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1.9 Combinao de lentes finas

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