UNIVERSIDADE FEDERAL DE UBERLNDIA FACULDADE DE ENGENHARIA CIVIL PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM ENGENHARIA CIVIL

George Wilton Albuquerque Rangel

Difrao de Raios-X para anlise do concreto

Orientador: Prof. Doutor Turbio J. Da Silva

Uberlndia - MG 2011

George Wilton Albuquerque Rangel

Difrao de Raios-X para anlise do concreto

Apresentao de seminrio como requisito da disciplina de Microestrutura e Dosagem de Concreto a ser entregue ao Programa de PsGraduao em Engenharia Civil da Universidade Federal de Uberlndia.

Uberlndia - MG 2011

Sumrio
1 Introduo ................................................................................................................................ 4 2 Raios-X .................................................................................................................................... 5 3 Feixe de eltrons entre catodo e nodo .................................................................................... 9 4 O padro de difrao.............................................................................................................. 11 5 A difrao dos Raios-X ......................................................................................................... 14 6 Equipamentos de difrao de Raios-X .................................................................................. 17 6.1 Fontes de Raio-X e nodos ................................................................................................. 17 6.2 Cmara Debye Scherrer ...................................................................................................... 18 6.3 Difratmetro de Raios-X .................................................................................................... 19 7 Aplicaes relevantes da difrao de Raios-X na Engenharia Civil ..................................... 21 7.1 Identificao de fases cristalinas ........................................................................................ 21 7.2 Dispositivos com controle de temperatura ......................................................................... 28 7.3 Orientaes de cristalinos - Textura ................................................................................... 28 7.4 Tamanho de cristalitos ........................................................................................................ 29 7.5 Tenso Residual .................................................................................................................. 30 8 Concluses ............................................................................................................................. 31 9 Referncias ............................................................................................................................ 32

1 Introduo
Desde os primrdios, a Engenharia Civil sempre foi uma rea da engenharia arcaica e manual. Porm, nos ltimos anos a Engenharia Civil vem experimentando um crescimento exponencial, com uma demanda de mo de obra cada vez mais especializada. Pode-se dizer que a 50 anos atrs no havia tanta preocupao por parte dos construtores e projetistas quando durabilidade e qualidade das estruturas correntes. Tal falta de preocupao gerou em tempos atuais uma grande quantidade de construes com patologias e a necessidade de estudos cada vez mais profundos para uma anlise adequada da problemtica, assim como o aproveitamento de resduos das construes desativadas. Com os conhecimentos adquiridos pelos pesquisados modernos, estes, por sua vez, buscam de uma forma sistemtica melhorar cada vez mais a qualidade e durabilidade dos materiais utilizados na construo civil. Para tanto diversas tcnicas e materiais vm sendo desenvolvidos e estudos como soluo para alcanar estes objetivos. Quando falamos do concreto, material este o mais usado na construo civil atualmente, podese citar diversas tcnicas de anlise desse material, como, por exemplo, Fluorescncia de Raios-X, Difrao de Raios-X, Microscopia Eletrnica de Varredura etc. Este trabalho ir apresentar uma reviso sobre o Raio-X e a tcnica de Difrao de Raios-X, seu funcionamento, equipamentos e utilidades na Engenharia Civil.

2 Raios-X
Os Raios-X so emisses eletromagnticas e foram descobertos em 8 de Novembro de 1895, por um fsico alemo chamado Wilhelm Conrad Rntgen (1845-1923), que foram assim chamados devido ao desconhecimento, por parte da comunidade cientfica da poca, a respeito da natureza dessa radiao. A descoberta ocorreu quando Rentgen estudava o fenmeno da luminescncia produzida por raios catdicos num tubo de Crookes. Todo o aparato foi envolvido por uma caixa com um filme negro em seu interior e guardado em uma cmara escura. Prximo caixa, havia um pedao de papel recoberto de platinocianeto de brio. Rentgen percebeu que quando fornecia energia cintica aos eltrons do tubo, estes emitiam uma radiao que marcava a chapa fotogrfica. Intrigado, resolveu colocar entre o tubo de raios catdicos e o papel fotogrfico alguns corpos opacos luz visvel. Desta forma, observou que vrios materiais opacos luz diminuam, mas no eliminavam a chegada desta estranha radiao at a placa de platinocianeto de brio. Isto indicava que a radiao possui alto poder de penetrao. Aps exaustivas experincias com objetos inanimados, Rntgen pediu sua esposa que posicionasse sua mo entre o dispositivo e o papel fotogrfico. O resultado foi uma foto que revelou a estrutura ssea interna da mo humana. Essa foi a primeira radiografia, nome dado pelo cientista sua descoberta em 8 de Novembro de 1895.

Figura 1 Primeira radiografia humana Fonte: Wilhelm Rntgen (1895) apud. Wikipdia (2011)

Posteriormente descoberta do novo tipo de radiao, cientistas perceberam que esta causava vermelhido da pele, ulceraes e empolamento para quem se expusesse sem nenhum tipo de proteo. Em casos mais graves, poderia causar srias leses cancergenas, necrose e leucemia, e ento morte. O comprimento de onda do Raio-X apresentado na Figura 2.

Figura 2 - Espectro eletromagntico com o espectro de luz visvel indicado Fonte: <http://pt.wikipedia.org/wiki/Radia%C3%A7%C3%A3o_eletromagn%C3%A9tica>. Acesso em 30 Mai. 2011 s 10:36 h

A energia dos ftons (que a partcula elementar mediadora da fora eletromagntica) do Raio-X, varia de alguns keV (kilo eltron-volt) a algumas centenas de keV. A gerao desta energia eletromagntica se deve transio de eltrons nos tomos, ou da desacelerao de partculas carregadas. Como toda energia eletromagntica de natureza ondulatria, os Raios-X sofrem interferncia, polarizao, refrao, difrao, reflexo, entre outros efeitos. Embora de comprimento de onda muito menor, sua natureza eletromagntica idntica da luz. O dispositivo que gera Raios-X chamado de tubo de Coolidge. Da mesma forma que uma vlvula terminica, este componente um tubo oco e evacuado. Possui um catodo incandescente que gera um fluxo de eltrons de alta energia. Estes so acelerados por uma grande diferena de potencial e atingem ao nodo ou placa. O nodo confeccionado em tungstnio. A razo deste tipo de construo a gerao de calor pelo processo de criao dos Raios-X. O tungstnio suporta temperaturas que vo at 3340 C. Alm disso, possui um

razovel valor de nmero atmico (74) o que til para o fornecimento de tomos para coliso com os eltrons vindos do catodo (filamento). Para no fundir, o dispositivo necessita de resfriamento atravs da insero do tungstnio em um bloco de cobre que se estende at o exterior do tubo de Raios-X que est imerso em leo. Esta descrio refere-se ao tubo de nodo fixo.

Figura 3 - Tubo de Coolidge Fonte: < http://pt.wikipedia.org/wiki/Ficheiro:Coolidge_xray_tube.jpg >. Acesso em 30 Mai. 2011 s 11:09 h

Ao serem acelerados, os eltrons ganham energia e so direcionados contra um alvo. Ao atingi-lo, so bruscamente freados, perdendo uma parte da energia adquirida durante a acelerao. O resultado das colises e da frenagem a energia transferida dos eltrons para os tomos do elemento alvo. Este se aquece bruscamente, pois em torno de 99 % da energia do feixe eletrnico dissipada nele. A brusca desacelerao de uma carga eletrnica gera a emisso de um pulso de radiao eletromagntica. A este efeito d-se o nome de Bremsstrahlung, que significa radiao de freio. As formas de coliso do feixe eletrnico no alvo do-se em diferentes nveis energticos devido s variaes das colises ocorridas. Como existem vrias formas possveis de coliso devido angulao de trajetria, o eltron no chega a perder a totalidade da energia adquirida num nico choque, ocorrendo ento a gerao de um amplo espectro de radiao cuja gama de frequncias bastante larga, ou com diversos comprimentos de onda. Estes dependem da energia inicial do feixe eletrnico incidente, e por isso que existe a necessidade de milhares de volts de potencial de acelerao para a produo dos Raios-X. A deteco dos Raios-X pode ser feita de diversas maneiras, a principal a impresso de chapas fotogrficas que permite o uso medicinal e industrial atravs das radiografias. Outras formas de deteco so pelo aquecimento de elementos a base de chumbo, que geram imagens termogrficas, o aquecimento de lminas de chumbo para medir sua intensidade, alm de

elementos que possuem gases em seu interior, a exemplo da vlvula Geiger-Mller utilizada para a deteco de radiao ionizante e radiao no ionizante.

3 Feixe de eltrons entre catodo e nodo

O choque do feixe de eltrons (que saem do catodo com energia de dezenas de KeV) com o nodo (alvo) produz dois tipos de Raios-X. Um deles constitui o espectro contnuo, e resulta da desacelerao do eltron durante a penetrao no nodo. O outro tipo o Raio-X caracterstico do material do nodo. Assim, cada espectro de Raios-X a superposio de um espectro contnuo e de uma srie de linhas espectrais caractersticas do nodo. A Figura 4 apresenta alguns espectros contnuos obtidos com um nodo de tungstnio. Os potenciais usados para acelerar o feixe de eltrons so indicados ao lado da curva correspondente. O espectro contnuo simplesmente uma curva de contagens por segundo, versus comprimento de onda do Raio-X (Intensidade vs comprimento). Todas as curvas tm em comum o fato de que h um comprimento mnimo de onda, abaixo do qual no se observa qualquer Raio-X. Este valor no depende do material do nodo.

Figura 4 Espectros contnuos obtidos com nodo de tungstnio Fonte: Stephen, 2010

Substituindo-se o alvo de tungstnio (Z=74) por um de molibdnio (Z=42), e mantendo-se as outras condies experimentais constantes, obtm-se o resultado ilustrado na Figura 5. A principal diferena so os picos existentes em substituio do alvo, em torno de 0.6 e 0.7 . razovel admitir que os picos so devidos ao nodo de molibdnio. Estes picos constituem o espectro de Raios-X caracterstico do molibdnio.

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Figura 5 - Espectro de Raios-X caracterstico do molibdnio. Fonte: Tipler, 1981

Quando o eltron proveniente do catodo incide no nodo, ele pode expulsar um eltron orbital. A rbita de onde o eltron ser expulso, depende da energia do eltron incidente e dos nveis de energia do tomo do nodo. A lacuna deixada por este eltron ser preenchida por um eltron mais externo. Neste processo, a radiao X ser emitida.

Figura 6 Expulso do eltron orbital Fonte: Stephen, 2010

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4 O padro de difrao
Considerando a luz visvel, se uma bola de tnis for coloca como obstculo de um feixe de luz, a imagem ser um crculo, cujo dimetro depende da distncia entre a bola e o anteparo. Se forem colocadas bolas cada vez menores, vo surgir sombras cada vez menores. Essa reduo no tamanho da sombra no ilimitado, chegando um momento, quando a bola tiver um determinado dimetro, que ao invs de aparecer um crculo escuro na parede, iro aparecer crculos claros alternados por crculos escuros, denominado padro de difrao.

Figura 7 Padro de difrao esfrico Fonte: < http://www.if.ufrgs.br/tex/fis142/fismod/mod05/>. Acesso em 30 Mai. 2011 s 14:47 h

Este padro de difrao ir ocorre sempre que o obstculo tiver dimenses da ordem de comprimento de onda da luz incidente. No caso da luz visvel, cujo comprimento de onda da ordem de 500 nm, basta que o obstculo tenha menos de um milmetro. O fenmeno exatamente o mesmo, se ao invs de uma bola, for usado um furo em uma folha de papel, ou uma fenda. Quando a luz passa por essa fenda, ela se difrata.

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Figura 8 Exemplo de difrao com uma fenda Fonte: < http://www.if.ufrgs.br/tex/fis142/fismod/mod05/>. Acesso em 30 Mai. 2011 s 14:52 h

Se a luz passar por duas fendas, minsculas e prximas uma da outra, a luz se difrata ao passar por cada uma. A imagem que se observa muito semelhante quela observada no caso da difrao simples, mas nesse caso, chamado de interferncia. Nos pontos claros, onde h luz, diz-se que ocorreu uma interferncia construtiva. Nos ponto escuros, ocorreu uma interferncia destrutiva. Isso foi descoberto no incio do Sculo XVIII, e faz parte do estudo da tica. Este experimento conhecido como experimento de interferncia com dupla fenda, ou simplesmente experimento de Young, seu autor.

Figura 9 - Exemplo de difrao com duas fendas Fonte: < http://www.if.ufrgs.br/tex/fis142/fismod/mod05/>. Acesso em 30 Mai. 2011 s 14:59 h

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Foi demonstrado que ocorre interferncia construtiva sempre que a diferena de caminho tico entre os raios que saem das fendas um nmero inteiro do comprimento de onda da luz incidente. A condio de interferncia construtiva ocorre conforme Equao 1.
Equao 1

Onde: = nmero inteiro (ordem de difrao); = comprimento da onda radiante; = distncia interplanar para o conjunto de planos; = ngulo de incidncia.

Se ao invs de uma fenda dupla, forem usadas vrias fendas igualmente espaadas, este arranjo ser conhecido como rede de difrao. Assim, a observao das franjas de difrao (ou franjas de interferncia) permite calcular a separao entre as fendas. A situao exatamente a mesma, se ao invs de fendas forem usados obstculos. Isto , se for arranjado uma fileira de minsculas esferas, igualmente espaadas, este arranjo vai produzir um padro de difrao quando iluminado com uma luz, de preferncia monocromtica.

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5 A difrao dos Raios-X

Por volta de 1912, Max Von Laue concebeu a possibilidade de realizar difrao de Raios-X, utilizando uma estrutura cristalina como rede de difrao tridimensional. As primeiras experincias foram realizadas por dois alunos de Laue, Walter Friedrich e Paul Knipping. Logo depois William Henry Bragg e seu filho William Lawrence Bragg demonstraram a relao que passou a ser conhecida como lei de Bragg, fundamental para o estudo de estruturas cristalinas com o uso da difrao de Raios-X. Ento, o Raio-X pode ser difratado atravs de um cristal e dividido em diversos espectros de onda. Sensores (foto transistores ou foto diodos) captam uma ou algumas faixas de espectro, e so amplificados e digitalizados, formando imagens. Esse processo (difrao de Raios-X, por cristais) comumente utilizado em equipamentos de inspeo de bagagens e cargas. Como j visto na Seo 4, a difrao ocorre quando o espaamento entre as fendas (ou obstculos) for da ordem do comprimento da onda incidente. No caso dos Raios-X, 0,1

nm. No incio do Sculo XX, era absolutamente impossvel a fabricao de uma rede de difrao nanomtrica. Assim, a genialidade de Max Von Laue (1879-1960), conduziu difrao de Raios-X, usando material cristalino como rede de difrao tridimensional. Os raios X ao atingirem um material podem ser espalhados elasticamente, sem perda de energia pelos eltrons de um tomo (disperso ou espalhamento coerente). O fton de raios X aps a coliso com o eltron muda sua trajetria, mantendo, porm, a mesma fase e energia do fton incidente. Sob o ponto de vista da fsica ondulatria, pode-se dizer que a onda eletromagntica instantaneamente absorvida pelo eltron e reemitida. Cada eltron atua, portanto, como centro de emisso de raios X. Se os tomos que geram este espalhamento estiverem arranjados de maneira sistemtica, como em uma estrutura cristalina, apresentando entre eles distncias prximas ao do comprimento de onda da radiao incidente, pode-se verificar que as relaes de fase entre os espalhamentos tornam-se peridicas e que efeitos de difrao dos raios X podem ser observados em vrios ngulos.

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Figura 10 Estrutura cristalina do NaCl Fonte: < http://pt.wikipedia.org/wiki/Estrutura_cristalina>. Acesso em 30 Mai. 2011 s 16:01 h

Nessa estrutura, os tomos funcionam como obstculos, ou centros de espalhamento dos raios X. Os cristais so formados quando bilhes e bilhes de estruturas idnticas so colocadas lado a lado. Desse modo, formam-se famlias de planos atmicos, separadas por distncias inferiores a 1 nm. As condies para que ocorra a difrao de raios X (interferncia construtiva) vo depender da diferena de caminho percorrida pelos raios X e o comprimento de onda da radiao incidente conforme Lei de Bragg (Equao 2).
Equao 2

Figura 11 Difrao de Raiox-X Fonte: Kahn, 20--

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Um feixe de Raios-X incide sobre um conjunto de planos cristalinos, cuja distncia interplanar d. O ngulo de incidncia . Os feixes refletidos por dois planos subseqentes apresentaro o fenmeno da difrao. Isto se a diferena entre seus caminhos ticos for um nmero inteiro de comprimentos de onda, (haver interferncia construtiva, um feixe de Raios-X ser observado), caso contrrio, haver superposio destrutiva e no se observar qualquer sinal de Raios-X.

Figura 12 - Difrao no presente: interferncia destrutiva Fonte: < http://www.if.ufrgs.br/tex/fis142/fismod/mod05/>. Acesso em 30 Mai. 2011 s 16:24 h

Figura 13 Difrao presente: interferncia construtiva Fonte: < http://www.if.ufrgs.br/tex/fis142/fismod/mod05/>. Acesso em 30 Mai. 2011 s 16:25 h

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6 Equipamentos de difrao de Raios-X

6.1 Fontes de Raio-X e nodos O esquema geral de um tudo de Raios-X apresentado na Figura 14. Vrios materiais distintos podem ser empregados como nodo, sendo Cu, Cr, Fe e Mo os mais usuais. Da mesma forma, distintas geometrias construtivas do tudo de Raios-X podem ser empregadas, acarretando em feixes de Raios-X com diferentes formas e intensidades por unidade de rea.

Figura 14 Tubo de Raios-X Fonte: Kahn, 20--

Tabela 1 - Caractersticas dos nodos mais comuns nodo Nmero atmico K (angstrm) Energia crtica de excitao (keV) Cr 24 2,291 5,99 Fe 26 1,937 7,11 Cu 29 1,542 8,98 Mo 42 0,710 20,00 Fonte: Kahn, 20

Voltagem tima (kV) 40 40 45 80

A seleo do tipo de nodo est relacionada principalmente com a natureza do material a ser analisado, buscando-se sempre a conjugao nodo/amostra que apresente o menor coeficiente de absoro de massa, alm da relao resoluo vs intensidade dos picos do difratograma. Visto a necessidade de se empregar uma radiao monocromtica, h que se remover a radiao referente a linha K e tambm parte do espectro contnuo emitido pelo tubo. Duas alternativas podem ser consideradas. A primeira considera a utilizao de filtros, cujas bandas

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de absoro de radiao permitam a passagem da radiao referente a linha K e a remoo (absoro) da linha K, como o exemplo de filtro de Ni sobre a emisso de nodo de Cu.

Figura 15 Filtro de Ni Fonte: Kahn, 20

Uma segunda alternativa, a mais frequentemente usada, consiste na utilizao de um filtro monocromador, situado na passagem dos Raios-X entre a amostra e o detector ou entre o tubo e amostra, o qual, atravs do principio da difrao de Bragg, permite exclusivamente a passagem da radiao com o comprimento de onda de interesse (K). A utilizao de filtro monocromador aps a amostra apresenta ainda a vantagem adicional de remover radiaes oriundas de espalhamentos no coerentes, resultantes da interao dos Raios-X com a amostra, fora do interesse da pesquisa. 6.2 Cmara Debye Scherrer A cmara de Debye Scherrer, compreende um dispositivo cilndrico no qual amostra em p acondicionada em um capilar posicionado bem no centro da cmara sobre o qual focalizado um fino feixe de Raios-X. Cones de difrao de Raios-X so ento gerados a partir da amostra, sendo que parcela destes sensibiliza um filme fotogrfico posicionado na parede interna da cmara, possibilitando a coleta de Raios-X desde praticamente 0 at 180 em termos de 2.

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Esta tcnica, introduzida na segunda metade da dcada de 1910, foi bastante empregada at os anos 80. Sua utilizao hoje bastante restrita, estando limitada a situaes em que critica a disponibilidade de amostra (<100 mg) e estudos de amostras monocristalinas.

Figura 16 - Cmara de p ou de Debye Scherrer Fonte: Kahn, 20

6.3 Difratmetro de Raios-X Os difratmetros de Raios-X disponveis no mercado so dominados pela geometria parafocal Bragg-Brentano. Seu arranjo geomtrico bsico pode constituir-se de um gonimetro horizontal (-2) ou vertical (-2 ou -). Outras configuraes, mais sofisticadas e especficas para estudos na rea de cincias de materiais e de monocristais, podem ser tambm encontradas. Para a geometria -2, o gonimetro, acoplado aos acessrios de recepo do feixe difratado, move-se (H) com velocidade angular (2/passo) sobre o eixo P e rotaciona a amostra (P) com metade desta velocidade angular (/passo). O raio do crculo do gonimetro fixo, apresentando iguais distncias do tubo gerador de Raios-X amostra e da amostra fenda de recepo D (LP = PD). O plano do crculo focal contm os raios incidente e difratado, isto , a fonte, a amostra e a fenda de recepo.

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Figura 17 - Geometria Bragg-Brentano de um difratmetro de raios X Fonte: Kahn, 20

A partir da fonte, os Raios-X atravessam a fenda Soller ou colimadores paralelos (G), a fenda de divergncia (B) e irradiam a superfcie da amostra (C). Os raios difratados em determinado ngulo 2 convergem para a fenda de recepo (D). Antes ou depois da fenda de recepo pode ser colocado um segundo conjunto de colimadores (E) e uma fenda de espalhamento (F). Um monocromador do feixe difratado pode ser colocado aps a fenda de recepo, na posio da fenda de espalhamento.

Figura 18 - Difratmetro de p, Philips, modelo PW1880 (instalado no LCT-EPUSP) Fonte: Kahn, 20

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7 Aplicaes relevantes da difrao de Raios-X na Engenharia Civil

7.1 Identificao de fases cristalinas A principal aplicao da difrao de Raios-X refere-se identificao de compostos cristalinos, sejam eles inorgnicos ou orgnicos. Os planos de difrao e suas respectivas distncias interplanares, bem como as densidades de tomos (eltrons) ao longo de cada plano cristalino, so caractersticas especficas e nicas de cada substncia cristalina, da mesma forma que o padro difratomtrico por ela gerado (equivalente a uma impresso digital). Um banco de dados contendo informaes cristalogrficas bsicas e algumas propriedades fsicas de compostos cristalinos mantido e continuamente atualizada pelo International Center for Diffraction Data (ICDD), com sede nos EUA, com disponibilidade de informaes referentes a mais de 70.000 compostos cristalinos, sendo que as mais importantes, para fins de identificao de um composto cristalino, so as distncias interplanares e as intensidades difratadas normalizadas (relativas a 100%) para os vrios planos que difratam construtivamente os Raios-X. A partir da dcada de 90, com auxlio de microcomputadores, sistemas automticos de busca por mtodos booleanos e lgica Fuzzy passaram a ser largamente empregados no auxlio identificao de fases cristalinas por difrao de Raios-X. Nestes procedimentos, os trs a dez picos mais intensos de cada fase presente no banco de dados so comparados com o difratograma da amostra, atribuindo-se crditos e penalidades para cada pico difratado no que se refere a sua presena/ausncia, intensidade difratada e deslocamento da distncia interplanar. Ao final do processo de busca e comparao, os valores dos resultados so expressos em ordem decrescente de pontuao, seguindo-se a avaliao final por parte do usurio. Mansur (2006) caracterizou em seu trabalho a composio qumica dos componentes de fases cristalinas das matrias-primas de concretos celulares. Tais elementos foram identificados atravs de difrao de Raios-X (XRD), utilizando o difratmetro PW 1710 da PHILIPS. Os resultados so descritos a seguir.

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O difratograma obtido para o cimento apresentou os componentes esperados: alita (C3S), belita (C2S), aluminato (C3A), ferrita (C4AF), gesso (CaSO4.2H2O) e calcita (CaCO3), conforme Figura 19.

Figura 19 - Difratograma obtido para o cimento Fonte: Mansur, 2006

A amostra de cal essencialmente cristalina e constituda basicamente por cal livre (CaO). Segundo Mansur (2006), foram observados traos de hidrxido de clcio ou cal extinta (Ca(OH)2, forma da cal geralmente utilizada, obtida a partir da extino da cal livre) e carbonato de clcio (CaCO3), que pode ser produto da carbonatao do hidrxido de clcio ou resduo do processo de calcinao para a obteno da cal livre.

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Figura 20 Difratograma obtido para a cal Fonte: Mansur, 2006

A amostra de filler calcrio mostrou-se essencialmente cristalina e constituda de carbonato de clcio (CaCO3 - calcita), com traos de quartzo (SiO2 - slica) e hematita (Fe2O3).

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Figura 21 - Difratograma obtido para o filler calcrio Fonte: Mansur, 2006

A areia utilizada por Mansur (2006) foi um material cristalino constitudo basicamente por quartzo (SiO2 slica). Foram, ainda, observados traos de calcita e hematita, bem como de alguns argilo-minerais (caolinita Al2Si2O5(OH)4 e muscovita

(K,Na)(Al,Mg,Fe)2(Si3,1Al0,9)O10(OH)2).

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Figura 22 - Difratograma obtido para a areia Fonte: Mansur, 2006

Corra (2005) afirma em sua dissertao que minerais de carbonatos no podem ser identificados pelo mtodo de Difratometria de Raios X em estados amorfos e quantidades menores que a sensibilidade do mtodo (mais ou menos 5%) no permitindo a identificao dos picos destes minerais. Porm visvel a existncia de 3 minerais de carbonatos nos difratogramas de 3, 28 e 90 dias: a Calcita Ca(CO)3; Dolomita CaMg(CO3)2 e Ancerita Ca(Mg,Fe)(CO3)2.

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Figura 23 - Difratograma de Raio X do Resduo de Concreto Seco Fonte: Corra, 2005

Figura 24 Fases identificadas dos elementos do Resduo de Concreto Seco Fonte: Corra, 2005

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Tabela 2 Lista de elementos identificados do Resduo de Concreto Seco conforme Difratometria de Raio-X realizada

Fonte: Corra, 2005

J Siqueira (2006), utilizou a tcnica de difrao de Raio-X para verificar a existncia de alumnio em um cimento Portland CP-V ARI RS.

Figura 25 - Difratograma de raios-x do cimento Portland CP-V ARI RS. Fonte: Siqueira, 2006

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7.2 Dispositivos com controle de temperatura Inmeros processos de manufatura empregam temperaturas elevadas (e baixas tambm), nas quais os constituintes primrios da amostra sofrem mudanas de fase em razo do aquecimento. Dentre estes destacam-se os processos metalrgicos, cermicos e alguns de natureza qumica. Um acessrio de alta temperatura para difratometria de Raios-X permite o aquecimento controlado da amostra e, eventualmente, o controle simultneo da atmosfera a que ela esta submetida, paralelamente coleta do difratograma. Vrios difratogramas podem ser coletados a diferentes temperaturas e/ou condies de presso parciais de gases, visando estudar o equilbrio do sistema e as mudanas de fases envolvidas.

Figura 26 - Acessrio para a difrao de raios X em alta temperatura (ambiente a 1400C) Fonte: Kahn, 20

7.3 Orientaes de cristalinos - Textura A orientao preferencial de cristalitos em materiais slidos policristalinos de vital importncia para vrios materiais industriais. Materiais extrudados e ps-prensados, dentre outros, so materiais que tipicamente apresentam orientao preferencial. Alguns materiais cermicos e semicondutores tem suas propriedades relacionadas a uma dada direo cristalogrfica, sendo de extrema importncia o controle da orientao preferencial nos processos de fabricao e controle de qualidade. Uma das formas mais comuns para se avaliar a orientao preferencial consiste na determinao da figura de polo referente a uma dada direo cristalogrfica, ou seja, as

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medidas de intensidade de uma linha particular de difrao plotadas em funo da orientao tridimensional da amostra. Para esta determinao utiliza-se um acessrio especfico, que permite a rotao da amostra em todas as direes, paralelamente s medidas de intensidade difratada para uma condio fixa de e 2. Os resultados so apresentados atravs de uma projeo estereogrfica (2D), denominada figura de polo.

Figura 27 - Polo obtida para plano 311 (hkl) do cobre Fonte: Kahn, 20

7.4 Tamanho de cristalitos Partculas de dimenses inferiores a 1 m podem apresentar intensidades difratadas em valores de 2 pouco superiores e inferiores ao valor do ngulo de Bragg devido ao efeito de alargamento de picos face ao tamanho de partculas. Tal fato deve-se ao menor nmero de planos que difratam os Raios-X, em funo das pequenas dimenses dos cristalitos, permitindo a difrao para valores de comprimento de onda um pouco superiores e inferiores ao valor de . O tamanho mdio de cristalito () dado pela Equao 3, onde K o fator de forma (constante usualmente com valor de 0,9), o comprimento de onda, B a largura observada da linha difratada a meia altura do pico e b a largura do pico a meia altura para uma amostra padro, sendo que B e b devem ser expressos em radianos.
Equao 3

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7.5 Tenso Residual A tenso em um material pode causar dois efeitos distintos sobre o difratograma. Se a tenso corresponder a um esforo uniforme, compressivo ou distensivo, tambm chamado de macrotenso, as distncias da cela unitria dos cristais vo, respectivamente, diminuir ou aumentar, ocasionando um deslocamento na posio dos picos difratados, conforme exposto na Figura 28. O desacoplamento da geometria -2 passando para -, seguido da varredura para duas ou mais linhas de difrao possibilita a determinao da macrotenso presente em uma amostra slida. Esforos no uniformes esto relacionados a foras de distenso e compresso simultneas, as quais resultam em alargamento dos picos difratados em sua posio original. Este fenmeno, chamado de microtenso em cristalitos, pode estar relacionado a diferentes causas, como deslocamentos, vacncias, defeitos, planos de cisalhamento, expanses, contraes trmicas etc.

Figura 28 - Efeitos de esforos uniformes (compressivo e distensivo) e no uniformes sobre a estrutura cristalina Fonte: Kahn, 20

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8 Concluses
A difrao de Raio-X uma tcnica muito mais abrangente do que sua utilizao apresentada neste trabalho. Em outras cincias ela pode tambm ser utilizada como quantificao de fases de uma mistura, determinao de parmetros especficos de materiais cristalinos etc. Na engenharia civil, a tcnica mais utilizada para a caracterizao de elementos constituintes de um material de construo e uma excelente tcnica de varredura para a determinao da presena de materiais cristalinos em uma mistura, porm deve ser utilizada em conjunto com outras tcnicas para uma melhor caracterizao da amostra. Materiais amorfos e com dimenses fora da faixa espectral do Raio-X no podero ser identificados pela tcnica de difrao de Raio-X, ficando a cargo do pesquisador conhecer e definir quais sero as tecnologias e tcnicas disponveis a ele para que este consiga atingir seu objetivo.

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9 Referncias
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