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CENTRO FEDERAL DE EDUCAO TECNOLGICA DE SO PAULO CEFET-SP

REA INDUSTRIAL
Pgina:
1 de 3
Data:
06/6/04
Disciplina: Controle Dimensional
Informaes da disciplina
Professor:
Caruso/Zepter
C:\Meus documentos\CEFET\Tecnologa\Ementa\2004\Informativo 2o Sem 2004 Metrologia.doc
Programa de Ensino
Curso: Superior de Tecnologia em Processos de Produo e Usinagem
Disciplina: Metrologia Dimensional 1
o
Semestre MTD
Carga semanal: 3 aulas (2 professores)
Carga horria total: 42,75 horas
Carga horria semanal: 3 horas-aula
1 Competncias da Disciplina
Fornecer aos alunos as noes bsicas sobre medio e controle dimensional de peas,
mquinas e equipamentos, utilizando-se de instrumentos de medida tradicionais.
Familiarizar o aluno com o vocabulrio tcnico de metrologia e mecnica no que diz respeito
a medies e instrumentos de medida, ajustes e tolerncias padronizadas.
1.1 Objetivos especficos
Conhecer os principais conceitos relacionados metrologia;
Especificar os requisitos para a instalao de um laboratrio de Metrologia Dimensional;
Identificar e controlar os elementos que compem um processo de medio;
Interpretar as tolerncias dimensionais e geomtricas de uma pea;
Calcular o resultado de uma medio e sua indeterminao;
Selecionar sistemas de medio com base em sua capacidade e confiabilidade
2 Ementa
1. Parte terica
1.1. INTRODUO
1.1.1. Apresentao
1.1.2. Programa da disciplina
1.1.3. Bibliografia
1.1.4. Objetivos da disciplina
1.1.5. Avaliao
1.1.6. O Laboratrio de Metrologia do CEFET-SP
1.1.7. Importncia da Metrologia
1.2. TOLERNCIAS E AJUSTES
1.2.1. Sistemas furo-base e eixo-base
1.2.2. Controle de uma dimenso
1.2.3. Causas de erros de medies de uma dimenso
1.2.4. Atividades prticas escolha do melhor par de ajuste para cada situao funcional
1.2.5. Clculo de ajustes prensados devido a aquecimento e/ou resfriamento
1.2.6. Escolha do sistema de medio adequado em funo da tolerncia especificada;
1.2.7. Verificao da deformao do sistema de medio devido fora de medio e varia-
o de temperatura
1.3. CONCEITOS FUNDAMENTAIS
1.3.1. Unidades e Padres
1.3.2. O procedimento de medir
1.3.3. Sistema generalizado de medio
1.3.4. Comportamento dos sistemas de medio
1.3.5. Caractersticas dos sistemas de medio
1.3.6. Determinao do resultado da medio
1.4. CONTROLE LINEAR
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REA ELETRO-MECNICA
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Disciplina: Controle Dimensional
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Caruso/Zepter
1.4.1. Tolerncia de fabricao
1.4.2. Medio de um comprimento
1.4.3. Controle de uma dimenso
1.4.4. Parmetros de seleo de um sistema da medio
2. Parte prtica
2.1. PAQUMETROS
2.1.1. Nnio
2.1.2. Tipos de paqumetros
2.1.3. Aspectos operacionais
2.1.4. Cuidados com o paqumetro
2.1.5. Leitura de paqumetros
2.2. MICRMETROS
2.2.1. Introduo
2.2.2. Tipos de micrmetros
2.2.3. Fontes de erro na medio
2.2.4. Qualificao de micrmetros
2.2.5. Recomendaes para uso de micrmetros
2.2.6. Princpio de funcionamento e leitura
2.3. MEDIDORES DE DESLOCAMENTO
2.3.1. Introduo
2.3.2. Medio diferencial
2.3.3. Classificao dos medidores de deslocamento
2.3.4. Relgio comparador
2.3.5. Relgio apalpador
2.4. BLOCOS PADRO
2.4.1. Generalidades
2.4.2. Aspectos operacionais
2.4.3. Definio e erros
2.4.4. Erro de uma composio de blocos
2.4.5. Aplicaes
2.5. SISTEMAS DE MEDIES ESPECIAIS
2.5.1. Rugosmetro
2.5.2. Projetor de Perfil
2.5.3. Mquinas de Medir por Coordenadas
2.5.4. Rgua e mesa de seno
2.5.5. Rgua de tangentes
2.6. CONCEITOS RELATIVOS E FORMA DA SUPERFICIE
2.6.1. Simbologia
2.6.2. Classificao das superfcies tcnicas
2.6.3. Processo de medio
2.7. DESENVOLVIMENTO DE EXERCCIOS PRTICOS
2.7.1. Experimentos com paqumetros
2.7.2. Experimentos com micrmetros
2.7.3. Experimentos com relgios comparadores
2.7.4. Experimentos com projetores de perfis
2.7.5. Experimentos com blocos padro
3 Metodologia
As aulas da disciplina sero ministradas em Sala de Aula, com aulas expositivas para a
parte terica e de exerccios e no Laboratrio de Metrologia na parte prtica, atravs da
apresentao dos diversos instrumentos de medida
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4 Bibliografia
4.1 Bsica
1) SANTOS JR, M. J. e IRIGOYEN, E. R. Metrologia Dimensional, UFRGS, Porto Ale-
gre, 1985
2) Fundao Roberto Marinho, Mecnica Metrologia, Curso Profissionalizante Tele-
curso 2000. Editora Globo 1985
3) MATEOS, GARCIA A Ajustes e tolerncias Editora Polgono 1978
4) INMETRO Vocabulrio internacional de termos gerais e fundamentais de Metrolo-
gia (VIM), 1995
4.2 Complementar
1) NORONHA, J.L., BARCA, L.F. Notas de Aula: Metrologia:
WEB: http://www.barca.unifei.edu.br/
2) RAY, M. Engineering experimentation. Londres: McGraw-Hill.
3) BARRASS, R. Os cientistas precisam escrever. So Paulo: EDUSP.
4.3 Outros
1) Internet
a) Pgina do prof. J. Caruso: http://www.cefetsp.br/edu/jcaruso
b) Instituto Nacional de Metrologia: http://www.inmetro.gov.br
4.4 Recursos didticos
1) Microcomputador
2) Projetor multimdia
3) Retroprojetor
4) Equipamento laboratorial (trenas, paqumetros, micrmetros, relgios comparadores e
apalpadores, rguas de seno e de tangente, mesa de seno, mquinas de medio)
5 Critrios de avaliao
1) A avaliao dos alunos ser realizada pela anlise dos relatrios dos ensaios realizados,
e de avaliao escrita:
NF = 0,4 x MAR + 0,6 x VPS
NF nota final;
MAR mdia aritmtica dos valores de relatrios;
VPS valor da prova semestral;
Os valores variam entre 0 e 10, em fraes de 0,5 ponto. O critrio de arredondamento
feito conforme ABNT NBR5891
2) Ser atribuda nota zero avaliao do aluno que deixar de ser avaliado em um dos ins-
trumentos de avaliao (artigo 17 das Normas Acadmicas).
3) Os relatrios dos experimentos realizados somente podero ser entregues por aque-
les alunos que efetivamente participaram dos experimentos. No h avaliao subs-
titutiva da parte de laboratrio.
4) Atraso na entrega de relatrios e exerccios somente sero aceitos se apresentada justi-
ficativa vlida e aceita pelo CEFET-SP, conforme as Normas Acadmicas.