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Tcnicas de Espectroscopia 2015-2016

Espectroscopia de plasmas
Daniela Fernandes 37241
Sofia Alves 37558
Departamento de Fsica, 27 Outubro de 2015

Tcnicas de Espectroscopia

ndice

Objectivos .............................................................................................................................................. 3
Introduo ............................................................................................................................................... 4
Descrio dos mtodos ........................................................................................................................... 5
1.

X-ray-spectroscopy analysis of electron-cyclotron-resonance ion-source plasmas [1] ............ 5

Modeling praseodymium K X-ray lines in an electron beam ion trap [2] .................................. 9

3 Theoretical determination of K X-ray transition energy and probability values for highly
charged ions of lanthanum and cerium[3] ......................................................................................... 10
Concluses............................................................................................................................................. 11
Referncias ............................................................................................................................................ 12

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Tcnicas de Espectroscopia

Objectivos
Este trabalho tem como objectivo um resumo da descrio dos mtodos utilizados na
espectroscopia de plasmas referidos nos seguintes artigos: X-ray-spectroscopy analysis of
electron-cyclotron-resonance ion-source plasmas [1], Modeling praseodymium K ray lines
in an electron beam ion trap [2] e Theoretical determination of K X-ray transition energy
and probability values for highly charged ions of lanthanum and cerium [3].

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Tcnicas de Espectroscopia

Introduo
Vrias tcnicas de espectroscopia foram utilizadas para a anlise de ies emitidos por
plasmas como objectivo principais de estimar as suas distribuies nos estados carregados e
determinar teoricamente as suas energias e probabilidades de transio de forma a,
posteriormente modelar um espectro terico de emisso.
De forma a estimar as distribuies nos estados carregados foram analisados os espectros de
ies altamente carregados emitidos por um plasma de enxofre.
Para obter um espectro terico de ies de praseodmio, analisando a energia da emisso de
riscas de K raios-X foi necessrio ter em conta todos os valores dos processos que podem
ocorrer no plasma.
Atravs do mtodo de multi configurao de Dirac-Fock, incluindo tambm as correces da
distribuio quntico-eletrodinmica (QED), foi possvel obter valores tericos para as
probabilidades e energias de transio e para os processos de desexcitao sendo possvel
ento estimar um espectro terico da criao de estados excitados que emitem as riscas de
K raios-X de praseodmio. Desta mesma forma foi possvel determinar os valores tericos das
energias de transio K de raios-X de lantnio e de crio.
Existem aparelhos desenhados para o estudo de ies altamente carregados utilizados na
obteno de espectros. Nos trabalhos a seguir tratados temos exemplos disso como o
elctron beam ion trap (EBIT), o elctron-cyclotron-resonance ion source (ECRIS) e o elctroncyclotron-resonance ion trap (ECRIT).
O EBIT faz com que seja possvel o estudo dos ies atravs das emisses de raios-X uma vez
que mantm ies numa armadilha electroesttica. Esta armadilha formada por um campo
de espao carregado radial e um potencial criado por voltagens aplicadas a trs cilindros de
metal por onde passa o feixe de electres. Os ies altamente carregados so criados pelos
impactos sucessivos dos ies.
O ECRIS utilizado como fonte de ies desde baixo a mdio alto estado carregado. A anlise
do espectro do plasma de ECRIS permite estimar a distribuio dos seus estados carregados
atravs do estudo do espectro de raios-X emitido pelo plasma formado pelos tomos ou
molculas injectadas no ECRIS.
O ECRIT, semelhana do EBIT, permite tambm encurralar ies altamente carregados. A
sua montagem experimental inclui um ECRIS para excitar os ies e a armadilha consiste em
dois espelhos electroestticos com eixos coligados e cada um composto por oito
elctrodos cilndricos em que cinco deles tm potencial aplicado e os outros trs esto
terra. O campo gerado por estes potenciais faz com que os ies fiquem a oscilar entre os
dois espelhos facilitando depois a anlise do seu espectro.
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Tcnicas de Espectroscopia

Descrio dos mtodos


Aqui ser apresentado um resumo dos mtodos utilizados na espectroscopia de plasmas em
trs artigos cientficos distintos contendo a metodologia utilizada e breve descrio dos
respectivos resultados.
Os artigos sero abordados na seguinte ordem:
1. X-ray-spectroscopy analysis of electron-cyclotron-resonance ion-source
plasmas [1];
2. Modeling praseodymium K ray lines in an electron beam ion trap [2];
3. Theoretical determination of K X-ray transition energy and probability values
for highly charged ions of lanthanum and cerium [3].

1. X-ray-spectroscopy analysis of electron-cyclotron-resonance ionsource plasmas [1]


Neste artigo foi apresentado um mtodo para estimar a distribuio de estados
carregados de ies, atravs da anlise de espectros de raios-X emitidos por plasmas de
enxofre de um ECRIS.
Inicialmente necessrio medir os espectros de raio-X no plasma e identificar quais os
estados excitados que os produzem. Assumindo que os ies no plasma esto na sua
configurao base, so encontrados os processos que levam a estes estados excitados e
calculadas as seces eficazes, as energias de transio radiativas e no radiativas e as
probabilidades para os mesmos.
Na excitao de impacto por electres necessrio conhecer as seces eficazes de
tomos e ies para melhor compreender os espectros emitidos por plasmas. Assim, para
calcular as seces eficazes de excitao foi utilizada a multiconfigurao de Dirac-Fock
(MCDF) e um cdigo computacional de matriz de elementos desenvolvido por Desclaux e
Indelicato [4,5,6]. Usando a primeira aproximao de Born para o tomo e a funo de onda de
Dirac para o electro livre, este cdigo permite no s calcular as seces eficazes de
excitao como tambm outros parmetros que nos interessa calcular como as energias de
transio radiactivas e no radiactivas e as probabilidades dessas transies.
Na ionizao de impacto por electres apesar de j existirem mtodos tericos para o
clculo das seces eficazes de ionizao [7,8,9,10,11,12,13], mtodos estes longos e que no se
aplicam a tomos pesados, existe uma necessidade de que esses clculos sejam mais simples
para plasmas de ECRIS. Para isso temos de ter em conta a mono ionizao, dupla e tripla por
impacto dos electres e realizar os clculos para cada caso.
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Tcnicas de Espectroscopia

Demonstrando resultados precisos, para calcular as seces eficazes de mono ionizao


por impacto foi utilizada uma expresso obtida por Kim et al.[14] denominada por RBEB
(Relativistic-Binary-Encounter-Bethe model) que tem em conta a interao relativistica entre
os electres incidentes e electres alvo precisando apenas da energia cintica incidente, E,
da energia cintica do electro ejectado, U, da energia de ligao da orbital, B, e do nvel de
energia da orbital do electro, N. A expresso dada em seguida por (1):

402 4
1
2
1
1
[
{
(
) 2 ln(2 )] (1 2 ) + 1
2
2
2
2
( + + )2 2

1
ln 1 + 2
2
1

+
}(1)
2
2
+1
2

(1 + 2 )
(1 + 2 )

Em que:
=

;2 = 1
; = ; =
;

2
(1 + )

;2 = 1
;

=
;
(1 + )2

;2 = 1
; =
;

2
(1 + )

Onde a velocidade do electro com energia cintica E, a velocidade do electro


com energia cintica B, a velocidade do electro com energia cintica U, a
constante de estrutura fina, 0 o raio de Bohr, a massa do eletro e a velocidade da
luz.
Para mono ionizaes de nveis internos fortemente ligados e sujeitos a atraco nuclear
forte e para ies com carga maior ou igual a +3, Kim et al [14] props uma expresso mdia
do RBEB:
1
2 + 2 + 2
1
1
ln 1 + 2
2
1
= (1 +

)
+
1

+
)
[(1
](2)
2
2
2
2
2

+1
2

(1 + )
(1 + )
2
2

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Tcnicas de Espectroscopia

Foram includas as ionizaes duplas KL e triplas KLL a partir das configuraes base dos ies
para que seja possvel explicar as principais caractersticas dos espectros de plasma. Para
calcular as seces eficazes de mltiplas ionizaes foi utilizada a expresso (3) desenvolvida
por Shevelko and Tawara[15].
=

()()
2
( )

ln( + 1) 18
(
)
10 (3)
+1
+1

Com = 1 e onde a energia incidente do electro em eV, a energia de

ionizao em eV necessrias para remover um electro KL ou KLL do alvo, o nmero


total de electres alvo, 1 = 13.6, = 1 para tomos neutros e = 0.75 para ies. Os
parmetros de ajuste e so os de Blenger et al. [16]
Nos nveis mais internos os electres em ies altamente carregados so relativistas. Tendo
em conta isso necessrio o clculo das energias inicial e final das transies radiativas e
no radiativas assim como as probabilidades para cada uma dessas transies calculadas.
Como os electres no plasma no esto em equilbrio termodinmico, a funo distribuio
dos electres, (), ser a combinao linear de duas populaes: a dos electres frios
com energias at 10 keV que pode ser considerada Maxilliana, (), e a dos electres
quentes com energias muito altas de vrios keV que considerada no-Maxilliana,
(). A taxa mdia de eventos relacionados com os processos de excitao/ionizao
sobre a distribuio energia dos electres, < >, dada por (4).

< >=

()()()

()() [(1 ) () + ()](4)

Onde () a densidade de electres numa especfica energia , () a seco eficaz para


um processo e () a velocidade do electro.
Para calcular o integral da expresso (4) necessrio utilizar o mtodo da integrao de
Gauss-Laguerre. Sabendo que a funo distribuio de Maxwell dada por (5) e que a
velocidade do electro dada por (6), depois de algumas transformaes chegamos a (7).

() =

2
1/2

( )3/2

(5)

= 1/2

(+2 2 )2
(+ 2 )

(6)

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Tcnicas de Espectroscopia

()()()

( + + 2 2 )2
2
=

)
(
[(

( + + 2 )
( )2 0

+ min)] (7)

Para a funo de distribuio no Maxilliana temos que:


1

=
(

( )2

( )
( )2
1+3
+3
)
2
2

(1 +

)
(1
+
)

(8)
2 2
2

Chegando, depois de algumas transformaes, analogamente ao integral dado por (9).

()()() = ((

3/2

[( ) + + 2 2 ]

( )
(
+3
2
2

1+3

3/2

)
)2

( )

0 {[( ) +
2( 2 )2

[( ) + ]}

(9)

Para um io inicialmente na sua configurao base, a equao de balano para os processos


que levam um io no estado excitado i com uma lacuna K dada pela seguinte expresso:
,

= 0 <

> +0

> +0

,(1,)

<

,(3,)

<

> +0

,(2,)

<

> (10)

Onde , a densidade de ies no estado de carga q com uma lacuna K no nvel i, a

probabilidade de decaimento no nvel i, 0 a densidade no estado de carga q na


configurao base, , a seco eficaz de excitao obtida pela soma dos processos
individuais de excitao da configurao base at ao nvel excitado i com lacuna K,
,(1,)

,(2,)

a seco eficaz de mono ionizao,

dupla ionizao e

,(3,)

a seco eficaz de

a seco eficaz de tripla ionizao.

Com a quantidade , calculada em (10) podemos finalmente chegar intensidade da risca


correspondente para cada transio do nvel i para o nvel j, , e assim concluir o mtodo.

(11)

Em que a energia de transio e a probabilidade da transio radiativa de i para j.

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Tcnicas de Espectroscopia

2 Modeling praseodymium K X-ray lines in an electron beam ion trap


[2]

A espectroscopia entra agora na forma de estudo dos ies analisando a radiao transmitida
por estes utilizando como meio de anlise o EBIT.
Para analisar a radiao emitida pelas riscas K de raio-X dos ies do plasma de praseodmio
necessrio ter em conta processos atmicos que ocorrem como a ionizao e excitao
electrnica do interior da casca, a recombinao electrnica, as trocas de carga, a
recombinao radioactiva e os decaimentos radiactivos e no radiactivos.
O clculo das intensidades das riscas num nvel i de um io com carga q de uma casca vazia
para um nvel j do mesmo io com a casca K preenchida dada pela equao :

= (12)

Sendo dado por:

= (0

1 ,(1,)

)(13)

+ 0

Em que o termo est associado ao rendimento da transio, , excitao do


,(1,)

impacto do electro,
0

refere-se ionizao individual do impacto do electro e

a densidade do io no nvel q da sua configurao base.

Para alm do clculo destas intensidades necessrio entender e contabilizar todos os


processos j falados.
ento crucial saber os valores dos estados excitados dos ies depois do impacto dos
electres. Muitos destes valores j eram conhecidos mas so necessrios mais devido
gama de energias envolvida neste processo. Para isso utilizou-se um cdigo de computador
desenhado para esse propsito, MDFGME de Desclaux e Indelicato[17,18,19] que calcula os
valores das energias de transio e as probabilidades de transies radiactiva e no
radiactiva e a excitao das seces eficazes.
tambm necessrio considerar as energias de ionizao do impacto do electro e para isso
utilizada a expresso RBEB [14,20].
Finalmente, as energias e probabilidades de transio so necessrias para identificar ao que
pertencem os picos no espectro de raios-X. Para isso foram calculadas estas energias atravs
do mtodo MCDF que foi desenvolvido por Desclaux e Indelicato[17,18] e por Indelicato et
al.[21] .
Ao considerar todas estas contribuies foi ento obtido um espectro terico de ies de
praseodmio num EBIT.
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Tcnicas de Espectroscopia

3 Theoretical determination of K X-ray transition energy and


probability values for highly charged ions of lanthanum and cerium
[3]

Neste artigo foram estudadas as mesmas energias e probabilidades de transio que foram
faladas no artigo anterior mas aplicadas s emisses de riscas K de raio-X dos ies de
lantnio e crio.
Para isso foi usado o mtodo de multiconfigurao de Dirac-Fock (MCDF) acrescentando
tambm as correces dos efeitos quntico-electrodinmicos (QED).
Os electres foram tratados com o modelo de partculas independentes e as suas funes de
onda calculadas atravs do campo de Coulomb do ncleo. Para uma maior preciso foi
necessrio incluir os clculos para a interaco de Breit e considerar a contribuio da
correlao electrnica.
A energia de correlao do electro ento definida como a diferena entre a energia de
ligao obtida tendo em conta as interaces mtuas dos electres, descritas por Coulomb e
Breit e o mtodo de multiconfigurao de Dirac-Fock (MCDF).
O cdigo de multiconfigurao de Dirac-Fock desenvolvido por Desclaux e Indelicato et al. foi
usado de forma a obter a funo de onda e energias do estado ligado.
Para a avaliao do electro de energia prpria so usados os valores de Mohr et
al.[21,22,23,24,25] .

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Tcnicas de Espectroscopia

Concluses
Neste trabalho foi feita uma descrio dos mtodos apresentados em trs artigos de
espectroscopia de plasmas. Os mtodos consistiam de uma forma geral, no clculo de
energias de transio tanto radiativas como no radiativas e as suas respectivas
probabilidades para posteriormente chegar aos espectros correspondentes. Para isso foi
utilizado o mtodo de multiconfigurao Dirac-Fock conjuntamente com correces da
distribuio quntico-electrodinmicas. O mtodo utilizado no primeiro artigo foi aplicado
anlise espectros de raios-X emitidos por plasmas de enxofre de um ECRIS. O segundo artigo
utiliza o mtodo descrito para a anlise da radiao emitida pelas riscas K de raios-X dos ies
do plasma de praseodmio num EBIT. Finalmente no terceiro artigo o mtodo utilizado
aplicado s emisses de riscas K de raios-X dos ies de lantnio e crio de um ECRIS ou EBIT.

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Tcnicas de Espectroscopia

Referncias
[1] J.P Santos, A.M. Costa, J.P. Marques, M.C. Martins, P. Indelicato, F. Parente, Phys. Rev. A
82, 062516 (2010].
[2] J.P. Santos, A.M. Costa, M.C. Martins, F. Parente, P. Indelicato, Eur. Phys. J. D 66, 202
(2012).
[3] J.P. Santos, M.C. Martins, A.M. Costa, J.P. Marques, P. Indelicato, F. Parente, Eur. Phys. J.
D 68, 244 (2014).
[4] J. P. Desclaux, Comput. Phys. Commun. 9, 31 (1975).
[5] P. Indelicato and J. P. Desclaux, Phys. Rev. A 42, 5139 (1990).
[6] P. Indelicato and J. Desclaux, computer program MCDFGME,a multiconfiguration DiracFock and general matrix elementsprogram (release 2005).
[7] P. G. Burke and K. A. Berrington, Atomic and Molecular Processes: An R-Matrix Approach
(Institute of Physics, New York, (1993).
[8] I. Bray and A. T. Stelbovics, Comput. Phys. Commun. 85, 1 (1995).
[9] F. Robicheaux, M. S. Pindzola, and D. R. Plante, Phys. Rev. A 55, 3573 (1997).
[10] M. Baertschy, T. N. Rescigno, and C. W. McCurdy, Phys. Rev. A 64, 022709 (2001).
[11] P. L. Bartlett and A. T. Stelbovics, Phys. Rev. A 66, 012707 (2002).
[12] K. N. Joshipura, S. Gangopadhyay, and B. G. Vaishnav, J. Phys. B: At. Molec. Opt. Phys.
40, 199 (2007).
[13] J. Berakdar, A. Lahmam-Bennani, and C. D. Cappello, Phys. Rep. 374, 91 (2003).
[14] Y.-K. Kim, J. P. Santos, and F. Parente, Phys. Rev. A 62, 052710 (2000).
[15] V. P. Shevelko and H. Tawara, J. Phys. B 28, L589 (1995).
[16] C. Belenger, P. Defrance, E. Salzborn,V. P. Shevelko,H. Tawara, and D. B. Uskov, J. Phys.
B 30, 2667 (1997).
[17] J.P.Desclaux, Comput. Phys.Commun. 9,31 (1975).
[18] P. Indelicato, Phys.Rev. Lett. 77, 3323 (1996).
[19] P. Indelicato, J. Desclaux, MCDFGME, A MultiConfiguration Dirac Fock and General
Matrix Elements program(release 2005) (2007).
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Tcnicas de Espectroscopia

[20] J.P. Santos, F. Parente, Y.K. Kim, J. Phys. B 32, 4211 (2003).
[21] P. Indelicato, O. Gorceix, J.P. Desclaux, J. Phys. B 20, 651 (1987).
[22] P.J. Mohr, Y.K. Kim, Phys. Rev. A 45 2727 (1992).
[23] P.J. Mohr, G. Soff, Phys. Rev. A 46, 4421(1992).
[24] E.O. Le Bigot, P. Indelicato, P.J. Mohr, Phys.Rev. A 64, 052508.
[25] P. Indelicato, P. Mohr, Phys. Rev. A 46, 172 (1992).

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