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Espectroscopia de plasmas
Daniela Fernandes 37241
Sofia Alves 37558
Departamento de Fsica, 27 Outubro de 2015
Tcnicas de Espectroscopia
ndice
Objectivos .............................................................................................................................................. 3
Introduo ............................................................................................................................................... 4
Descrio dos mtodos ........................................................................................................................... 5
1.
Modeling praseodymium K X-ray lines in an electron beam ion trap [2] .................................. 9
3 Theoretical determination of K X-ray transition energy and probability values for highly
charged ions of lanthanum and cerium[3] ......................................................................................... 10
Concluses............................................................................................................................................. 11
Referncias ............................................................................................................................................ 12
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Tcnicas de Espectroscopia
Objectivos
Este trabalho tem como objectivo um resumo da descrio dos mtodos utilizados na
espectroscopia de plasmas referidos nos seguintes artigos: X-ray-spectroscopy analysis of
electron-cyclotron-resonance ion-source plasmas [1], Modeling praseodymium K ray lines
in an electron beam ion trap [2] e Theoretical determination of K X-ray transition energy
and probability values for highly charged ions of lanthanum and cerium [3].
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Tcnicas de Espectroscopia
Introduo
Vrias tcnicas de espectroscopia foram utilizadas para a anlise de ies emitidos por
plasmas como objectivo principais de estimar as suas distribuies nos estados carregados e
determinar teoricamente as suas energias e probabilidades de transio de forma a,
posteriormente modelar um espectro terico de emisso.
De forma a estimar as distribuies nos estados carregados foram analisados os espectros de
ies altamente carregados emitidos por um plasma de enxofre.
Para obter um espectro terico de ies de praseodmio, analisando a energia da emisso de
riscas de K raios-X foi necessrio ter em conta todos os valores dos processos que podem
ocorrer no plasma.
Atravs do mtodo de multi configurao de Dirac-Fock, incluindo tambm as correces da
distribuio quntico-eletrodinmica (QED), foi possvel obter valores tericos para as
probabilidades e energias de transio e para os processos de desexcitao sendo possvel
ento estimar um espectro terico da criao de estados excitados que emitem as riscas de
K raios-X de praseodmio. Desta mesma forma foi possvel determinar os valores tericos das
energias de transio K de raios-X de lantnio e de crio.
Existem aparelhos desenhados para o estudo de ies altamente carregados utilizados na
obteno de espectros. Nos trabalhos a seguir tratados temos exemplos disso como o
elctron beam ion trap (EBIT), o elctron-cyclotron-resonance ion source (ECRIS) e o elctroncyclotron-resonance ion trap (ECRIT).
O EBIT faz com que seja possvel o estudo dos ies atravs das emisses de raios-X uma vez
que mantm ies numa armadilha electroesttica. Esta armadilha formada por um campo
de espao carregado radial e um potencial criado por voltagens aplicadas a trs cilindros de
metal por onde passa o feixe de electres. Os ies altamente carregados so criados pelos
impactos sucessivos dos ies.
O ECRIS utilizado como fonte de ies desde baixo a mdio alto estado carregado. A anlise
do espectro do plasma de ECRIS permite estimar a distribuio dos seus estados carregados
atravs do estudo do espectro de raios-X emitido pelo plasma formado pelos tomos ou
molculas injectadas no ECRIS.
O ECRIT, semelhana do EBIT, permite tambm encurralar ies altamente carregados. A
sua montagem experimental inclui um ECRIS para excitar os ies e a armadilha consiste em
dois espelhos electroestticos com eixos coligados e cada um composto por oito
elctrodos cilndricos em que cinco deles tm potencial aplicado e os outros trs esto
terra. O campo gerado por estes potenciais faz com que os ies fiquem a oscilar entre os
dois espelhos facilitando depois a anlise do seu espectro.
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Tcnicas de Espectroscopia
Tcnicas de Espectroscopia
402 4
1
2
1
1
[
{
(
) 2 ln(2 )] (1 2 ) + 1
2
2
2
2
( + + )2 2
1
ln 1 + 2
2
1
+
}(1)
2
2
+1
2
(1 + 2 )
(1 + 2 )
Em que:
=
;2 = 1
; = ; =
;
2
(1 + )
;2 = 1
;
=
;
(1 + )2
;2 = 1
; =
;
2
(1 + )
)
+
1
+
)
[(1
](2)
2
2
2
2
2
+1
2
(1 + )
(1 + )
2
2
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Tcnicas de Espectroscopia
Foram includas as ionizaes duplas KL e triplas KLL a partir das configuraes base dos ies
para que seja possvel explicar as principais caractersticas dos espectros de plasma. Para
calcular as seces eficazes de mltiplas ionizaes foi utilizada a expresso (3) desenvolvida
por Shevelko and Tawara[15].
=
()()
2
( )
ln( + 1) 18
(
)
10 (3)
+1
+1
< >=
()()()
() =
2
1/2
( )3/2
(5)
= 1/2
(+2 2 )2
(+ 2 )
(6)
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Tcnicas de Espectroscopia
()()()
( + + 2 2 )2
2
=
)
(
[(
( + + 2 )
( )2 0
+ min)] (7)
=
(
( )2
( )
( )2
1+3
+3
)
2
2
(1 +
)
(1
+
)
(8)
2 2
2
()()() = ((
3/2
[( ) + + 2 2 ]
( )
(
+3
2
2
1+3
3/2
)
)2
( )
0 {[( ) +
2( 2 )2
[( ) + ]}
(9)
= 0 <
> +0
> +0
,(1,)
<
,(3,)
<
> +0
,(2,)
<
> (10)
,(2,)
dupla ionizao e
,(3,)
a seco eficaz de
(11)
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Tcnicas de Espectroscopia
A espectroscopia entra agora na forma de estudo dos ies analisando a radiao transmitida
por estes utilizando como meio de anlise o EBIT.
Para analisar a radiao emitida pelas riscas K de raio-X dos ies do plasma de praseodmio
necessrio ter em conta processos atmicos que ocorrem como a ionizao e excitao
electrnica do interior da casca, a recombinao electrnica, as trocas de carga, a
recombinao radioactiva e os decaimentos radiactivos e no radiactivos.
O clculo das intensidades das riscas num nvel i de um io com carga q de uma casca vazia
para um nvel j do mesmo io com a casca K preenchida dada pela equao :
= (12)
= (0
1 ,(1,)
)(13)
+ 0
impacto do electro,
0
Tcnicas de Espectroscopia
Neste artigo foram estudadas as mesmas energias e probabilidades de transio que foram
faladas no artigo anterior mas aplicadas s emisses de riscas K de raio-X dos ies de
lantnio e crio.
Para isso foi usado o mtodo de multiconfigurao de Dirac-Fock (MCDF) acrescentando
tambm as correces dos efeitos quntico-electrodinmicos (QED).
Os electres foram tratados com o modelo de partculas independentes e as suas funes de
onda calculadas atravs do campo de Coulomb do ncleo. Para uma maior preciso foi
necessrio incluir os clculos para a interaco de Breit e considerar a contribuio da
correlao electrnica.
A energia de correlao do electro ento definida como a diferena entre a energia de
ligao obtida tendo em conta as interaces mtuas dos electres, descritas por Coulomb e
Breit e o mtodo de multiconfigurao de Dirac-Fock (MCDF).
O cdigo de multiconfigurao de Dirac-Fock desenvolvido por Desclaux e Indelicato et al. foi
usado de forma a obter a funo de onda e energias do estado ligado.
Para a avaliao do electro de energia prpria so usados os valores de Mohr et
al.[21,22,23,24,25] .
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Tcnicas de Espectroscopia
Concluses
Neste trabalho foi feita uma descrio dos mtodos apresentados em trs artigos de
espectroscopia de plasmas. Os mtodos consistiam de uma forma geral, no clculo de
energias de transio tanto radiativas como no radiativas e as suas respectivas
probabilidades para posteriormente chegar aos espectros correspondentes. Para isso foi
utilizado o mtodo de multiconfigurao Dirac-Fock conjuntamente com correces da
distribuio quntico-electrodinmicas. O mtodo utilizado no primeiro artigo foi aplicado
anlise espectros de raios-X emitidos por plasmas de enxofre de um ECRIS. O segundo artigo
utiliza o mtodo descrito para a anlise da radiao emitida pelas riscas K de raios-X dos ies
do plasma de praseodmio num EBIT. Finalmente no terceiro artigo o mtodo utilizado
aplicado s emisses de riscas K de raios-X dos ies de lantnio e crio de um ECRIS ou EBIT.
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Tcnicas de Espectroscopia
Referncias
[1] J.P Santos, A.M. Costa, J.P. Marques, M.C. Martins, P. Indelicato, F. Parente, Phys. Rev. A
82, 062516 (2010].
[2] J.P. Santos, A.M. Costa, M.C. Martins, F. Parente, P. Indelicato, Eur. Phys. J. D 66, 202
(2012).
[3] J.P. Santos, M.C. Martins, A.M. Costa, J.P. Marques, P. Indelicato, F. Parente, Eur. Phys. J.
D 68, 244 (2014).
[4] J. P. Desclaux, Comput. Phys. Commun. 9, 31 (1975).
[5] P. Indelicato and J. P. Desclaux, Phys. Rev. A 42, 5139 (1990).
[6] P. Indelicato and J. Desclaux, computer program MCDFGME,a multiconfiguration DiracFock and general matrix elementsprogram (release 2005).
[7] P. G. Burke and K. A. Berrington, Atomic and Molecular Processes: An R-Matrix Approach
(Institute of Physics, New York, (1993).
[8] I. Bray and A. T. Stelbovics, Comput. Phys. Commun. 85, 1 (1995).
[9] F. Robicheaux, M. S. Pindzola, and D. R. Plante, Phys. Rev. A 55, 3573 (1997).
[10] M. Baertschy, T. N. Rescigno, and C. W. McCurdy, Phys. Rev. A 64, 022709 (2001).
[11] P. L. Bartlett and A. T. Stelbovics, Phys. Rev. A 66, 012707 (2002).
[12] K. N. Joshipura, S. Gangopadhyay, and B. G. Vaishnav, J. Phys. B: At. Molec. Opt. Phys.
40, 199 (2007).
[13] J. Berakdar, A. Lahmam-Bennani, and C. D. Cappello, Phys. Rep. 374, 91 (2003).
[14] Y.-K. Kim, J. P. Santos, and F. Parente, Phys. Rev. A 62, 052710 (2000).
[15] V. P. Shevelko and H. Tawara, J. Phys. B 28, L589 (1995).
[16] C. Belenger, P. Defrance, E. Salzborn,V. P. Shevelko,H. Tawara, and D. B. Uskov, J. Phys.
B 30, 2667 (1997).
[17] J.P.Desclaux, Comput. Phys.Commun. 9,31 (1975).
[18] P. Indelicato, Phys.Rev. Lett. 77, 3323 (1996).
[19] P. Indelicato, J. Desclaux, MCDFGME, A MultiConfiguration Dirac Fock and General
Matrix Elements program(release 2005) (2007).
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Tcnicas de Espectroscopia
[20] J.P. Santos, F. Parente, Y.K. Kim, J. Phys. B 32, 4211 (2003).
[21] P. Indelicato, O. Gorceix, J.P. Desclaux, J. Phys. B 20, 651 (1987).
[22] P.J. Mohr, Y.K. Kim, Phys. Rev. A 45 2727 (1992).
[23] P.J. Mohr, G. Soff, Phys. Rev. A 46, 4421(1992).
[24] E.O. Le Bigot, P. Indelicato, P.J. Mohr, Phys.Rev. A 64, 052508.
[25] P. Indelicato, P. Mohr, Phys. Rev. A 46, 172 (1992).
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