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Potencial Espontâneo PDF
Potencial Espontâneo PDF
GGN-2004-SP-1
v u . R.T . Ln a1
a
v + u n.F
2
Ej =
(4.1)
sendo: R= 8,314 Joules (constante dos gases); T = temperatura absoluta; n= valncia dos
ons envolvidos no processo; F = Faraday (no de Avogadro vezes a carga do eltron =
96.540 Coulomb); v = mobilidade do Cl-; u = mobilidade do Na+; Ln = logaritmo natural e,
a1 e a2 = atividades das solues antes e aps a diluio, respectivamente.
Denomina-se de atividade a capacidade de movimentao de cargas inicas de uma
dada soluo. Ela depende da relao entre a concentrao do soluto e do solvente. Uma
soluo concentrada mais ativa do que uma diluda.
Em uma soluo de NaCl pura, o Cl- tem uma mobilidade de v = 7,91x104 cm/s/volt
e transporta cerca de 60% das cargas existentes na soluo. O Na+, por sua vez, tem u =
5,19x10-4 cm/s/volt e transporta os 40% das cargas disponveis. Em outras palavras, o Cl
mais veloz, ou mais ativo, que o Na+.
4.3 Potencial de Membrana
O potencial de juno lquida (Ej) no muito significativo quantitativamente. Muito
embora possa haver uma grande diferena entre as concentraes das solues envolvidas
no processo, seu valor da ordem de milsimos de volt (mV) .
Entretanto, caso ocorram interlaminaes ou disseminaes de folhelho ou argila,
separando ambas solues, de tal modo que os ons tenham que se movimentar atravs
deles, fenmenos eltricos adicionais ocorrero capazes de gerar potenciais bem mais altos
que o Ej, denominados de potencial de membrana (Em).
Para se compreender esses fenmenos adicionais devemos, em primeiro lugar,
entender que o folhelho uma rocha volumtrica e estatisticamente composta por cerca de
60% de argilominerais (esmectita, ilita, caolinita, clorita, camadas mistas e afins). Os 40%
restantes so de gros de quartzo, carbonatos, matria orgnica, minerais etc., ou seja, de
tudo aquilo que foi sedimentado juntamente com os argilominerais, desde que tenham
tamanho mximo da ordem de 4 mm. Em segundo lugar, temos que entender a razo pela
qual os argilominerais se comportam como uma membrana seletiva para as cargas
eltricas.
As clulas cristalinas unitrias dos argilominerais apresentam, estruturalmente, uma
carga perifrica negativa devido quebra mecnica ou substituio isomrfica que ocorre
durante sua cristalizao. Quando seco, os ons permanecem adsorvidos s partculas dos
argilominerais. Quando imersos em gua, os argilominerais no se dissolvem ficando porm
em suspenso coloidal, quando ento a gua, devido a sua alta constante dieltrica, inicia a
quebrar as foras adsortivas que prendem os ctions aos slidos. Parte dos ctions
estruturais permanece ionizada e solubilizada, passeando livremente na gua porosa,
enquanto que outra parte fica presa eletrostaticamente s superfcies dos argilominerais,
capeando-a, adsortivamente, dando origem a uma dupla camada de conduo eltrica.
Separando-se duas solues de distintas concentraes de sais por uma camada de
folhelho, verifica-se que a livre movimentao dos ctions de uma soluo para a outra fica
comprometida devido repulso proporcionada pelas cargas positivas adsorvidas,
enquanto que os nions podem atravessar o folhelho, do lado da mais concentrada para a
menos concentrada.
Cada tipo de folhelho tem um potencial de membrana diferente, a depender da sua
composio, do tipo e percentual dos argilominerais e de suas respectivas capacidades de
troca catinica (CEC - Cation Exchange Capacity) com o meio. Folhelhos constitudos de
ilita e esmectita tm um Em superior aos folhelhos caolinticos ou clorticos.
GGN-2004-SP-2
a1
R.T
. Ln
n.F
a2
Em =
(4.2)
Esse potencial extra, provocado pela passagem dos ctions atravs dos folhelhos,
aumenta a capacidade de transferncia de cargas dos mesmos, em cerca de 5 vezes
quela que seria observada caso se tivesse somente o potencial de juno de lquidos (Ej)
Sendo o folhelho uma membrana seletiva perfeita, nenhuma carga negativa o atravessar.
4.4 Potencial Espontneo Esttico (SSP)
O mximo potencial que se desenvolve no circuito lama/rocha/folhelho/lama
denominado de Potencial Espontneo Esttico, ou SSP, e corresponde a soma dos
potenciais Ek, Ej e Em. Como o Ek normalmente tende a zero o SSP resume-se a :
SSP = Em + Ej
(4.3)
O SSP formado pela queda hmica (produto da corrente pela resistncia do meio)
que ocorre nas interfaces fluidas, quando o fluxo inico circula da lama em direo ao
folhelho (provocado pela invaso e a capilaridade), do folhelho para a camada permoporosa
e desta para a lama novamente, ou vice versa, conforme ilustra a figura abaixo.
Em
rm
rxo
rsh
Ej
ro
rsh
Eletrodo
Em
(4.4)
sendo rm, rxo, rt e rsh, respectivamente, resistncia eltrica da coluna de lama, das zonas
lavada/invadida e virgem e da camada do folhelho adjacente e i a corrente que se
desenvolve devido ao fluxo inico provocado pela diferena de concentrao entre as
solues filtrado e gua da formao.
Observa-se que operacionalmente impossvel se realizar o registro do total da
queda hmica (SSP) em um poo, conforme mostrado na figura 4.1 e equao 4.4, devido
ao fato de que um dos eletrodos tem que estar localizado dentro do poo, deslocando-se a
uma velocidade constante e um outro eletrodo (de referncia) mantido sob um potencial
GGN-2004-SP-3
(4.5)
Para que haja conduo da corrente em uma soluo eletroltica, todos os sais
dissolvidos/ionizados, sem exceo, participam da conduo. Da, dizer-se que a medio
laboratorial da resistividade (ou da condutividade) um dado bastante mais realista,
completo e significativo, do que qualquer anlise hidroqumica (considerando-se que elas
jamais analisam todos os tipos de ons presentes, mas somente os essenciais e alguns
oligoelementos). Por outro lado, o resistivmetro contabiliza a conduo efetuada por todo e
qualquer tipo de on, por menor que seja a sua quantidade na soluo.
4.5 A Medida do SP em um Poo
A dificuldade operacional de se medir eletricamente o SSP (corrente total no poo),
muito embora seja fcil medir-se o SP (frao do SSP que se desenvolve na lama), levou a
tcnica de perfilagem a optar pelo estudo baseado nas equaes da termodinmica. Para
solues predominantemente de NaCl, as equaes 4.1, 4.2 e 4.3 podem ser resumidas
simplificadamente em:
a
w
a
mf
SSP = Em + Ej = K . Log
(4.6)
sendo K uma constante que depende da temperatura da camada e engloba todos demais
elementos das equaes citadas, inclusive transformao de logaritmo natural para decimal
(K = 65 + 0,24 x temperatura da camada em 0C ou K = 61 + 0,133 x temperatura em 0F).
Gondouin et al.(op.cit.) mostraram que nas baixas concentraes de NaCI (solues
diludas, i., com alta resistividade ou baixa condutividade), a atividade qumica guarda uma
relao inversamente proporcional resistividade, de modo que a equao (4.6) pode ser
aproximada para:
Rmf@FT
SSP = K Log
(4.7)
Rw
sendo Rmf@FT a resistividade do filtrado temperatura da profundidade que se escolheu
para o clculo de Rw.
Estes mesmos estudos indicam que a linearidade entre as atividades e as
resistividades somente ocorre em solues com resistividades superiores a 0,1 ohm.m.
Abaixo deste valor, as solues so muito salinizadas, igualmente quelas encontradas na
maioria das guas das rochas sedimentares profundas, habitat do petrleo. Da a frmula
(4.7) receber modificaes de cunho emprico, em funo do relacionamento inverso entre
atividades e resistividades.
Nas solues onde o NaCI no seja o sal predominante (Ca+2, Mg+2 e SO+2
freqentes nas guas superficiais), a relao inversa entre atividades e resistividades,
mostrada nas equaes (4.6 e 4.7), torna-se complexa e dependente das propriedades
individuais dos solutos. Nestas situaes, de acordo com estudos tericos e experimentais
de Gondouin et al. (op.cit.), a equao (4.6) deve ser modificada para:
a
+
Na+
SSP = K Log
aNa+ +
a + a
Ca
Mg
w
a + a
Ca
Mg
mf
(4.8)
GGN-2004-SP-4
onde, aCa, aMg e aNa representam as atividades correspondentes aos referidos ctions
nas solues gua de formao (w) e filtrado (mf). O grande problema da equao (4.8)
reside no fato de que inexiste, at o momento, bibliografia que relacione as atividades de
todos os ctions bivalentes com as suas respectivas resistividades, a exemplo do NaCI.
A presena dos divalentes Clcio e Magnsio nas solues, mesmo em pequena
concentrao, faz o termo sob a raiz quadrada apresentar um grande efeito sobre o SP.
Ocorrendo tal situao, e na dificuldade de se obter as atividades exigidas na equao
(4.8), aconselha-se desenvolver equao emprica apropriada para cada situao
hidroqumica em particular (Lima e Giro Nery, 1999). Cabe aos hidrogelogos a responsabilidade da pesquisa em cada bacia ou ambiente.
Encontram-se, todavia, na bibliografia grficos e figuras (GEN-8, Schlumberger) que
estabelecem fatores multiplicadores para alguns ons principais, cujas concentraes
medidas podem ser transformadas em concentraes equivalentes a solues de Nacl.
SSP
rxo + rt + rsh
1+
rm
(4.9)
sendo rxo a resistncia eltrica da zona lavada, rt da zona virgem, rsh do folhelho adjacente
e rm da lama.
Esta equao foi desenvolvida a partir da teoria eltrica do SP e engloba trajetrias
e reas transversais das camadas, elementos difceis de se estabelecer em perfis. Por este
motivo, a curva do SP muito mais analisada e compreendida sob o ponto de vista da
teoria termodinmica e no da eltrica. Todavia, a teoria eltrica do SP serve para estudo
dos fatores que afetam a curva, o que vem a influenciar nos resultados da quantificao.
Pelo que se observa na equao (4.9), o SP somente ser igual ao SSP quando o
termo entre parnteses for igual zero ou desprezvel.
Fatores, incontrolveis pelo intrprete de perfis, influenciam a forma e a amplitude
da curva do SP. Incontrolveis porquanto dependem das condies do poo, tais como :
dimetro do poo, dimetro de invaso, tipo da lama e espessuras das camadas.
Entretanto, deve-se entender perfeitamente bem quais so eles, para que se possa tirar o
mximo proveito das melhores condies de uso da curva do SP.
A resistncia da lama (rm) no pode ser operacional e/ou economicamente trocada
no poo antes de uma operao de perfilagem. Porque, caso fosse possvel bastaria dar
a lama propriedades isolantes para que rm tendesse ao infinito. Entretanto, em se fazendo
isso no haveria fluxo inico entre a lama e a gua da formao. Deve-se raciocinar
portanto com os trs outros elementos envolvidos na frmula: rxo, rt e rs, que so
resistncias eltricas e conseqentemente iguais a:
L
(4.10)
r =R i
i
i A
i
sendo ri = resistncia da zona i; Ri = resistividade da zona i; Li = comprimento da zona i e Ai
= rea transversal da zona i.
Como as correntes eletroqumicas movimentam-se entrando ou saindo das camadas,
a rea "Ai" ser igual superfcie interna da parede do poo, relativa a uma determinada
espessura de camada, enquanto que "Li" ser a profundidade de invaso referida a esta
mesma camada.
GGN-2004-SP-5
rm
rea
FLUXO INICO
Eletrodo
rxo
Invaso
Espessura
rt
GGN-2004-SP-6
(mV), ele poder ser perturbado ou influenciado por quaisquer correntes esprias (rudos),
que ocorram na vizinhana do poo, induzidas por fontes naturais e/ou artificiais. Um
desses rudos proporcionado pela armadura de ao que reveste o prprio cabo de perfilagem. Sendo o ao eletroquimicamente ativo, quando ele se encontra imerso num
eletrlito (lama) desenvolve um efeito de bateria ao longo de toda a sua superfcie molhada.
Estando o cabo estacionrio, a bateria polariza-se e seu potencial constante sobrepe-se,
para a direita ou para a esquerda da curva, deslocando-a em um mesmo sentido. Caso o
cabo esteja em movimento, o filme de polarizao rompido intermitentemente pelo atrito
contra as paredes do poo. Nesse caso, o potencial torna-se bastante varivel sobrepondose aleatoriamente sobre o SP, o que torna invivel qualquer quantificao. Demais fontes
de rudos podem ser provocada pela possibilidade de magnetizao do cabo, pelos
revestimentos ou peas metlicas (prximos ou dentro do poo), pelas redes de alta tenso,
pelas tempestades magnticas, pela movimentao de fluidos dentro do poo (poo em
produo), pelo uso de rdio etc.
GGN-2004-SP-7
25
-60
-40
50
75
240
250
260
PROFUNDIDADE (m)
270
280
290
300
310
320
330
340
SP (mV)
-20
0
20
40
60
(4.11)
aw =
Rw
com = 0,05121, = 0,346 e um coeficiente de correlao igual a r2 = 0,8486.
Usando o conceito de resistividade equivalente de uma soluo eletroltica como um
parmetro inversamente proporcional a sua atividade (Gondouin et al., 1957), pode-se
escrever para as guas da Formao So Sebastio:
Rwss =
aw
Rw
(4.12)
GGN-2004-SP-8
(4.14)
Tais resultados mostram que, se no for feita uma distino clara entre Rwss e Rw,
as estimativas baseadas em perfis de SP podem levar a resistividades fictcias bem
menores que as resistividades verdadeiras das guas das formaes, que se expressam
eletricamente como mais salinas do que realmente so.
bastante vlido, acrescentar-se que, para se ter clculos realsticos tem-se que
partir para anlises da gua usada para a confeco da lama, bem como de seus filtrados
de modo a se poder estabelecer equaes compatveis para cada rea, regio, formao
ou mesmo ambiente deposicional.
A
R
G
I
L
O
S
I
D
A
D
E
(%)
SSP
SSP SP
VSHSP
VSHSP = 1
0
SP
1
VSHSP
SP
SSP
(4.15)
mV
SSP
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GGN-2004-SP-10