1.

ANÁLISES TÉRMICAS
1.1. TGA
1.2. DSC
2. PERFILOMETRIA ÓTICA, E ENSAIOS DE RUGOSIDADE
3. ANÁLISES TRIBOLÓGICAS E DESGASTE
A tribologia estuda superfícies que interagem entre si mediante
movimento relativo, abrangendo as áreas de atrito, desgaste e
lubrificação. É considerado como parte de um sistema tribológico, todos
os elementos que podem impactar no comportamento tribológico,
envolvendo materiais, geometria de contato, carregamento, movimento e
ambiente. Os ensaios tribológicos podem ser classificados como ensaios
de desgaste por deslizamento e por rolamento, ensaios de desgaste
abrasivo e ensaios de desgaste por deslizamento.

3.1. Pino ou esfera sobre disco: Essa técnica é aplicada para

determinar o desgaste provocado pelo deslizamento de contatos com
áreas reduzidas. O ensaio consiste em um pino de ponta (plana ou
com raios) que é pressionado contra um disco giratório. A aplicação
de carga é feita por meio de um sistema hidráulico ou de mola. Com
os dados obtidos a partir dessa análise é possível se determinar a
perda de volume, a distância percorrida e o coeficiente de desgaste.
Se o pino utilizado for de extremidade plana é importante que o
alinhamento seja garantido, ou acontecerá um carregamento não
uniforme, resultando em sobrecarga ainda, as suas bordas não
devem ser afiadas, evitando o lascamento.
3.2. Pino ou esfera sobre placa:
Um pino de ponta arredondada é atritado contra uma placa que
desenvolve movimento linear alternativo. Apresenta dois tipos, o
Bowden-Lebenque, que usa grande amplitude e baixa frequência de
movimento alternativo e o Cameron-Mills, que aplica baixa amplitude
e alta frequência.
3.3. Bloco sobre anel rotativo:

Bloco sobre anel rotativo:

Nesteensaio,umcorpodeprovaretangularépressionadocontraumdiscorotativo.Co
nstrutivamenteoequipamentoésimilaraoensaioTimkenpreviamenterelatado.
Ensaio Falex:
Nesteensaio,umanelgiranapresençadeumlubrificantepressionadoentreduasplac
asentalhadasemV.Oensaioéavaliadopelocoeficientedeatritodeterminadopelotor
quedegirodoanel,etaxadedesgastedadapelovolumedematerialremovidoduranteo
tempodeensaio.
Ensaio das quatro esferas:
Nesteensaio,aesferasuperiorgiranapresençadeumlubrificanteenquantoqueas
trêsinferiorespermanecemestáticas.Cargascrescentessãoaplicadasdeformai
ntermitentesobreaesferasuperioratéqueocorraasoldagemdestaàsesferasinfe
riores.Oensaioséavaliadopelaperdademassa/volumeemfunçãodascargasapli
cadas.
4. ANÁLISES DAS PROPRIEDADES MAGNÉTICAS
5. ANÁLISES QUÍMICAS
5.1. Espectroscopia no infravermelho por transformada de
Fourier (FTIR): A absorção de radiação no infravermelho interfere
nas vibrações moleculares e, portanto, o ensaio baseia-se nisso.
Assim, a análise FTIR tem como objetivo determinar o grupo
funcional de um determinado material partindo do principio de que
cada grupo absorve em uma frequência características de radiação
no infravermelho.
Algumas vantagens do uso dessa técnica são a facilidade para
preparar a amostra, baixo custo e a capacidade de uso para amostra
em filmes sólidos, líquidos e gasosos. O equipamento utilizado no
ensaio é o espectrofotômetro com transformada de Fourier, onde um
interferograma de uma amostra é transformado em espectro. Picos
de espectros podem ser caracterizados comparando com grupos que
tem mesmo comprimento de onda.

5.2. Fluorescência de Raios-X (XRF): Nessa técnica é possível se

analisar uma amostra de maneira qualitativa (identificação dos
átomos de cada elemento presentes na amostra) e quantitativa
(determinação da quantidade de cada átomo presente na amostra).
Essa técnica é não destrutiva, rápida e versátil, sendo capaz de
identificar todos os elementos químicos relevantes de sódio a urânio.
O ensaio necessita adoção de alguns cuidados e exige o treinamento
do operador, uma vez que a exposição aos raios-x são prejudiciais à
saúde. A fluorescência de raios x está fundamentada nos raios-X
característicos. Para analisar uma amostra por meio dessa técnica se
deve provocar transições eletrônicas na mesma, para que ocorra a
emissão de raios-X característicos, separar os raio-X característicos
gerados e medi-los. Além de estabelecer a proporção de elementos
químicos essa técnica também pode ser utilizada para medição da
espessura de revestimentos.

5.3. Espectroscopia de fotoelétrons de raio X (XPS): Essa técnica é

utilizada para análise química, sendo capaz de identificar todos
elementos presentes na amostra, com exceção do hidrogênio e hélio e
ainda, a concentração elementar da parte externa da amostra (até
10nm). Algumas aplicações para esse ensaio são a identificação de
contaminantes na superfície, avaliação dos procedimentos de limpeza
de uma superfície, avaliação de processos de oxidação e corrosão,
análise de filmes finos, entre outras. Um espectrômetro de XPS é
composto por uma câmara de ultra-vácuo, uma fonte de raios X, um
canhão de ions e um de elétrons, um manipulador de amostras, um
analisador de elétrons e um computador. Essa é uma das técnicas mais
amplamente utilizadas na caracterização de superfícies, e portanto, é
aplicada em vários tipos de amostras, como metais, polímeros,
cerâmicas, compósitos, semicondutores e amostras biológicas e fomas
variadas como lâminas, fibras, partículas, filmes ou pós.