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MIT 2.71/2.710
Palestra de Revisão p - 1
O que é luz?
• Luz é uma forma de energia eletromagnética – detectada através de seus efeitos, ex.
aquecimento de objetos iluminados, conversão de luz para corrente, pressão mecânica
(“Força de Maxwell”), etc.
• A energia da luz é conduzida através de partículas “fótons”
- comportamento balístico, ex. sombras.
• A energia da luz é conduzida através de ondas.
- comportamento de onda, ex. interferência, difração
• Mecanismos de quantificação reconciliam os dois pontos de vista, através da declaração
de “dualidade onda/partícula”.
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Palestra de Revisão p - 2
Propriedades da partícula de luz
Massa = 0
Velocidade c= 3 x 108 m/s
Energia E=hv =======Î Relacionado à natureza dual em partícula & onda da luz.
h= constante de Planck
= 6,6262 x 10-34 J seg.
v é a frequência de oscilação temporal das ondas de luz.
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Palestra de Revisão p - 3
Propriedades da onda de luz
k = 2π/λ
número de onda
ν: frequência temporal
ω = 2πν
frequência angular
E: campo elétrico
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Palestra de Revisão p - 4
Dualidade onda/partícula para luz
Massa = 0
Velocidade c = 3x108 m/s
h = constante de Planck
= 6,6262x1034 J seg.
v = frequência (sec-1 )
λ = extensão de onda (m)
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Palestra de Revisão p - 5
Luz na matéria
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Palestra de Revisão p - 6
Classificação de Materiais
• Dielétrico
- tipicamente isoladores elétricos (ex. vidro, plástico)
- coeficiente de baixa absorção
- índice refrativo arbitrário
• Metais
- condutividade Î grande coeficiente de absorção
• Varias exceções e casos especiais (ex. “dielétrico artificial”)
• Índice de absorção e refração são relacionados através da Relação de Kramers-Kronig
(imposta pela casualidade)
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Palestra de Revisão p - 7
Visão geral das fontes de luz
Mono/policromático = uni/multicolor
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Palestra de Revisão p - 8
Luz monocromática espacialmente coerente
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Palestra de Revisão p - 9
O conceito de um “raio” monocromático
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Palestra de Revisão p - 10
O conceito de um “raio” monocromático
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Palestra de Revisão p - 11
O conceito de um “raio” policromático
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Palestra de Revisão p - 12
O Princípio de Fermat
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Palestra de Revisão p - 13
A lei da reflexão
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Palestra de Revisão p - 14
A lei da refração
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Palestra de Revisão p - 15
Reflexão Interna Total (TIR)
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Palestra de Revisão p - 16
Prismas
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Palestra de Revisão p - 17
Dispersão
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Palestra de Revisão p - 18
Reflexão Interna Total Frustrada (FTIR)
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Palestra de Revisão p - 19
Sensor de Impressão Digital
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Palestra de Revisão p - 20
Guia de onda óptica
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Palestra de Revisão p - 21
Refração em uma superfície esférica
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Palestra de Revisão p - 22
Formação de imagem de um ponto de origem
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Palestra de Revisão p - 23
Modelo para uma lente fina
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Palestra de Revisão p - 24
Modelo para uma lente fina
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Palestra de Revisão p - 25
Tipos de lentes
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Palestra de Revisão p - 26
Princípio de Huygens
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Palestra de Revisão p - 27
Por quê sistemas de formação de imagem são
necessários
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Palestra de Revisão p - 28
Condição de formação da imagem: traçado por raio
• O ponto da imagem está localizado na interseção comum de todos os raios que emanam
a partir do ponto do objeto correspondente.
• Os dois raios passam através dos dois pontos focais e o raio chefe pode ser diretamente
traçado por raio.
• A imagem real é invertida e pode ser ampliada ou reduzida.
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Palestra de Revisão p - 29
Condição de formação da imagem: traçado por raio
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Palestra de Revisão p - 30
Condição de formação da imagem: traçado por raio
• O feixe de raio que emana do sistema é divergente; a imagem virtual está localizada na
interseção dos raios anteriores estendidos.
• A imagem virtual é ereta e está ampliada
• Ao usar uma lente negativa, a imagem é sempre virtual, ereta e reduzida.
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Palestra de Revisão p - 31
Objeto inclinado: a condição de Scheimpflug
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Palestra de Revisão p - 32
Formação de imagem baseada em lente
• Olho humano
• Câmera fotográfica
• Lente de aumento
• Microscópio
• Telescópio
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Palestra de Revisão p - 33
O olho humano
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Palestra de Revisão p - 34
Defeitos dos olhos e suas correções
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Palestra de Revisão p - 35
A câmera fotográfica
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Palestra de Revisão p - 36
A lente de aumento
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Palestra de Revisão p - 37
O microscópio composto
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Palestra de Revisão p - 38
O telescópio
(instrumento afocal = lente de aumento angular)
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Palestra de Revisão p - 39
A câmera Pinhole
• A câmera pinhole permite somente que um raio por ponto de objeto alcance o espaço da
imagem Î uma imagem é formada (isto é, cada ponto no espaço da imagem
corresponde a um ponto simples do espaço do objeto).
• Infelizmente, a maior parte da luz é desperdiçada neste instrumento
• Além disto, a luz difrata caso ela tenha que passar através de pequenos orifícios
(pinhole) conforme veremos posteriormente; a difração introduz artefatos que ainda não
temos ferramentas para quantificar.
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Palestra de Revisão p - 40
Campo de Visão (FoV)
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Palestra de Revisão p - 41
Abertura numérica
Abertura numérica
(NA) = n senθ
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Palestra de Revisão p - 42
Resolução
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Palestra de Revisão p - 43
Fatores de limitação de resolução em um sistema de
formação de imagem
• Difração
• Aberrações
• Ruído
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Palestra de Revisão p - 44
Função de Ponto Difuso
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Palestra de Revisão p - 45
Resolução limitada de difração
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Palestra de Revisão p - 46
Natureza de onda da luz
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Palestra de Revisão p - 47
Grade de difração
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Palestra de Revisão p - 48
Dispersão de grade
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Palestra de Revisão p - 49
Fórmula da Difração de Fresnel
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Palestra de Revisão p - 50
Difração de Fresnel
como um sistema de deslocamento constante, linear
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Palestra de Revisão p - 51
O sistema 4F
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Palestra de Revisão p - 52
O sistema 4F
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Palestra de Revisão p - 53
O sistema 4F com diafragma FP
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Palestra de Revisão p - 54
O sistema 4F com diafragma FP
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Palestra de Revisão p - 55
Formação de imagem coerente x incoerente
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Palestra de Revisão p - 56
Formação de imagem coerente x incoerente
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Palestra de Revisão p - 57
Formação de imagem coerente x incoerente
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Palestra de Revisão p - 58
Aberrações: geométricas
• Origem das aberrações: não linearidade da lei de Snell (n senθ = constante, enquanto
que a relação linear deveria ter sido nθ = constante)
• Aberrações fazem com que os sistemas práticos se saiam pior do que a difração
limitada.
• Aberrações são melhor tratadas com o uso de programa de design óptico (Code V, Oslo,
Zemax), sistemas aprimorados geralmente resolvem –3-5λ (~1,5-2,5 µm visível).
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Palestra de Revisão p - 59
Aberrações: onda
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Palestra de Revisão p - 60