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Konrad Rntgen em novembro de 1895, o que lhe conferiu o primeiro prmio Nobel de Fsica em 1901.
Max von Laue teve a idia que cristais, os quais
determinao do arranjo de tomos dentro de um cristal, no qual um feixe de raios X ao atingir um cristal difratado em muitas direes especficas.
A partir dos ngulos e intensidades destes feixes
difratados, um cristalgrafo pode produzir uma imagem tridimensional da densidade de eltrons dentro do cristal . A partir desta densidade eletrnica, a posio mdia dos tomos do cristal pode ser determinada, bem como a sua ligaes qumicas, a sua desordem e diversas outras informaes .
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montado em um gonimetro e, gradualmente, rodado ao ser bombardeado com raios X, produzindo um padro de difrao de pontos regularmente espaados conhecido como reflexes.
As imagens bidimensionais tomadas em diferentes
rotaes so convertidas em um modelo tridimensional da densidade de eltrons no interior do cristal pelo mtodo matemtico de transformada de Fourier e a partir de dados qumicos conhecidos para a amostra.
Resoluo de baixa qualidade ou mesmo erros podem
Gerao de raios X
A fonte geradora de raios X parte de um dispositivo chamado tubo de raios X.
Fonte de corrente (filamento de W) Diferena de potencial Alvo (tomo de Cu, Co, etc.) Janelas (Be)
partir da aplicao de uma diferena de potencial, os quais aps atingirem um alvo slido, so trazidos ao repouso.
Toda ou quase a totalidade da energia cintica dos
fton, a frequencia do fton (o raio X) dada pela equao do efeito fotoeltrico: eV = h (A energia de ionizao do metal, Ei, pode ser desconsiderada por causa de sua baixa magnitude em comparao com a outra.
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Fonte de Radiao X
Be
Fonte de Radiao X
(nvel atmico)
Elemento
Cu Mo Cr Co W Ni Fe
K1 ()
1.54056 0.70930 2.28970 1.78896 0.20901 1.65791 1.93604
K1()
1.39221 0.63228 2.08487 1.62079 0.18437 1.50013 1.75661
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by atoms in a periodic lattice. The scattered monochromatic Xrays that are in phase give constructive interference.
Figure 4.4 illustrates how diffraction of X-rays by crystal planes
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identify the crystallographic phases that are present in the catalyst. Figure 4.5 gives an example where XRD readily reveals the Pd reflections in two Pd/SiO2 catalysts.
X-Ray diffraction has an important limitation: Clear diffraction peaks
are only observed when the sample possesses sufficient long-range order. The advantage of this limitation is that the width (or rather the shape) of diffraction peaks carries information on the dimensions of the reflecting planes.
Diffraction lines from perfect crystals are very narrow, see for
example the (111) and (200) reflections of large palladium particles in Fig. 4.5. For crystallite sizes below 100 nm, however, line broadening occurs due to incomplete destructive interference in scattering directions where the X-rays are out of phase. The two XRD patterns of supported Pd catalysts in Fig. 4.5 show that the reflections of palladium are much broader than those of the reference.
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direction perpendicular to the reflecting plane, is the X-ray wavelength, is the peak width, is the angle between the beam and the normal to the reflecting plane, and K is a constant dependent on the form of the particle (often taken as 1).
of 4.2 and 2.5 nm are found for the catalysts with 2.4 and 1.1 wt% Pd, respectively. X-ray line broadening provides a quick but not always reliable estimate of the particle size.
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that it gives clear and unequivocal structure information on particles that are sufficiently large, along with an estimate of their size, and it can reveal this information under reaction conditions.
that are either too small or amorphous. Hence, one can never be sure that there are no other phases present than the ones detected with XRD. In particular, the surface, where catalytic activity resides, is invisible in standard XRD.
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uma radiao monocromtica de comprimento de onda . A amostra (p) constituda de uma grande nmero de cristalitos cuja orientao estatisticamente aleatria, existindo um certo nmero de cristalitos que esto em posio de Bragg para uma dada famlia de planos hkl, isto , para uma incidncia tal que: n = 2d(hkl) sen (Lei de Bragg)
n no inteiro de comprimentos de onda ngulo de Bragg d distncia entre os planos inter-reticulares hkl ndice de Miller, da famlia de planos hkl
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intensidade I dos raios difratados que depende do contedo atmico (natureza, nmero e posio relativa dos tomos) da malha elementar e tambm das dimenses dos cristais.
As intensidades das riscas so dadas numa escala
diffraction file)
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DIFRATOGRAMA NaCl
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DIFRATOGRAMA TILENOL
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PICOS RESTANTES ?
no RESUTADO FINAL
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2 QUANTIFICAO DE FASES Os mtodos de anlise quantitativas das fases por difrao de raios X leva em considerao os principais mtodos a seguir. Mtodo do padro interno Mtodo da adio Mtodo do padro externo, com sobreposio de picos Mtodo da adio-difrao Mtodo da diluio, clculo direto, analise quantitativa sem padro Obs. A maioria desses mtodos utilizam comparaes com amostras de referncia . Fatores como orientao preferencial, microabsoro, granulao da amostra, dentre outros so limitantes para se obter resultados quantitativos dentro de intervalos de preciso aceitveis, o que faz com que as tcnicas de anlises quantitativas sejam pouco utilizadas.
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