Tcnicas de Caracterizao de Estruturas (2009)

Microscopia de Fora Atmica

Bruno Falco, Licinio Ferreira e Pedro Pinto
Departamento de Fsica, Universidade de Aveiro, Portugal
(Aveiro, Dezembro de 2009)
No presente trabalho estudou-se o microscpio de fora atmica e explorou-se as suas diversas
potencialidades com exemplos prticos. Nesse sentido, foram obtidas e caracterizadas imagens no
modo de contacto e no-contacto, tendo-se verificado que no modo de contacto a resoluo muito
superior. Adicionalmente, efectuou-se ainda o registo, em paralelo, da morfologia, amplitude e fase
da superfcie de uma amostra com o AFM no modo de no-contacto.
Keywords: AFM, modo de contacto, modo de no-contacto, modo intermitente, Lei de Hooke

I.

INTRODUO

O AFM, ou Microscpio de Fora Atmica,

consiste num brao de suporte com uma ponta
muito fina, cantilever, (Fig.1), que varre a superfcie da amostra, permitindo assim uma anlise
escala atmica. A forma e o tamanho da
ponta so parmetros essenciais para a anlise
da amostra. De acordo com o tipo de inter-

tilever est relacionada com a sua deflexo, z,

e com a constante elstica, k, atravs da Lei de
Hooke (Eq.1):
F = k.z

(1)

Para obter elevada sensibilidade a mola deve ser

o mais macia possvel e operar na frequncia de
ressonncia de modo a minimizar os efeitos das
vibraes mecnicas provenientes do exterior.
Para detectar as deflexes utilizado um sistema com um laser, tal como ilustrado na Fig. 2:
o feixe incidide, primeiramente, na extremidade
do cantilever, reflectido e finalmente detectado
por um fotodetector.1,2

Fig. 1: Exemplos de braos de suporte (cantilever ) com uma

ponta muita fina usados em AFM.1

ao entre a ponta e a superfcie da amostra, que

depende da separao entre ambas, caracterizase o modo de operao do AFM em: contacto,
no-contacto e intermitente (tapping). A componente mais crtica num AFM corresponde ao
cantilever, que pode ser visto como um sistema
massa/mola. A fora que actua sobre o can-

Fig. 2: Esquema de funcionamento do AFM.1

Estas deflexes so causadas pelas interaces

das foras de Van der Waals que agem entre a
ponta e a superfcie da amostra (Fig.3).

existe ainda uma interaco Coulombiana, tal

como ilustrado na Fig.3.1

C.

Fig. 3: Interaco atmica entre a ponta e os atmos superfcie da amostra.2

A.

Modo de contacto

Este modo de varrimento permite obter uma

imagem da superfcie com elevada resoluo, embora em contrapartida ocorra a deformao da
amostra quando a constante de mola do cantilever superior da superfcie da amostra. A
distncia entre a ponta e a amostra de apenas
alguns ngstrm e a fora que actua essencialmente repulsiva.1,2
B.

Modo intermitente

Nesta situao, o cantilever oscila verticalmente (Fig.4) com uma amplitude que depende
da distncia entre a ponta e a superfcie. Neste
modo de operao a ponta toca levemente a
superfcie da amostra e, portanto, tende a ser
menos destrutivo pois eliminada a fora de
atrito entre a ponta e a amostra. Este modo
indicado para amostra com grandes reas o que
permite fazer um amplo varrimento da superfcie.

Fig. 4: Ilustrao do modo intermitente do AFM.1

Modo de no-contacto

Neste modo a fora sobre a superfcie do tipo

atractiva e muito pequena (aproximadamente
1012 N) e a distncia ponta-amostra de 10-100
. Este o modo mais indicado para superfcies
macias ou elsticas pois a menos destrutiva (o
que conduz a um maior tempo de vida da ponta).
O cantilever oscila prximo da amostra mas sem
entrar em contacto com a mesma, com frequncias da ordem de 100-1000 Hz. Electronicamente
consegue-se ajustar essa frequncia para o valor
da frequncia de ressonncia, w, permitindo assim uma maior sensibilidade (Eq.2).
r
kef f
w=
,
(2)
m
onde kef f a constante elstica efectiva do
cantilever.1 Na presena da amostra a frequncia de ressonncia altera-se da frequncia de
ressonncia original. Note-se que, apesar de no
haver contacto fsico entre a ponta e a amostra,

II.

ANLISE DE RESULTADOS

Foram efectuadas medidas por AFM, no Departamento de Engenharia Cermica e Vidro na

Universidade de Aveiro, de um cristal piezoelctrico com uma camada superficial desconhecida.
Efectuaram-se trs tipos de medidas morfologia,
amplitude e fase, com o microscpio no modo de
contacto e de no-contacto.
Na Fig.5 apresenta-se uma imagem obtida por
AFM no modo de contacto onde se reala a elevada resoluo obtida neste modo.
O AFM tem uma enorme potencialidade ao
ser capaz de obter informao sobre o relevo
da amostra em estudo e criar uma imagem da
mesma, tal como se pode visualizar na Fig.6.
No modo de no-contacto o AFM no apresenta muita resoluo (Fig.7), ao contrrio do
que acontece no modo de contacto. Outro factor que pode estar associado fraca resoluo

Fig. 7: Imagem de AFM no modo de no-contacto.

Fig. 5: Imagem obtida atravs do microscpio no modo de
contacto.

Fig. 6: Imagem de AFM no modo de contacto onde se visualiza o relevo da amostra.

da imagem a ponta do cantilever apresentarse em mau estado, i.e., desgastada, o que ocorre
depois de efectuados inmeros varrimentos com
a mesma ponta.
Na imagem de amplitude (Fig.8), verificase uma no uniformidade da amostra em estudo, o que nos leva a dizer que a superfcie
da mesma irregular. A imagem de fase
obtida atravs da monitorizao da diferena
de fase entre o sinal aplicado ao cantilever e a
sua real oscilao. Esta diferena de fase resulta do amortecimento da vibrao por interaco da ponta com a superfcie da amostra e depende das propriedades da superfcie da mesma,
tais como as propriedades mecnicas frico e

Fig. 8: Imagem de AFM onde registada a morfologia, amplitude e fase.

adeso. Na imagem da fase (Fig.8), possvel

verificar que a amostra possui diferentes propriedades mecnicas pois apresenta vrias fases
diferentes de ponto para ponto na superfcie da
mesma.
III.

CONCLUSES

Com esta actividade experimental verificouse que o AFM permite identificar vrias propriedades da amostra, das quais se salienta o
relevo, a existncia de diferentes substncias na
sua constituio e as respectivas propriedades
fsicas e mecnicas desses constituintes.
O mais curioso desta microscopia que est

assente num princpio fsico bsico, ou seja, a Lei

de Hooke, que desta forma permite a construo
de um bloco de informao sobre a amostra em
estudo.
Uma das grandes vantagens de trabalhar com
AFM a no necessidade da preparao das
amostras ao contrrio do que requerem outras
tcnicas, nomeadamente TEM e SEM as quais
requerem previamente uma preparao cuidada

Teresa Monteiro, Apontamentos de Nanocincias e Nanotecnologias, (2009).

Nikolai Sobolev, Apontamentos de Tcnicas de Caracteri-

das mesmas. Adicionalmente, tambm se verifica que com esta microscopia pode-se trabalhar com qualquer tipo de amostras, desde condutoras, isolantes, etc. Por sua vez, o SEM requer que a superfcie da amostra seja condutora,
ao passo que o TEM requer que a amostra seja
muito fina para que possa ocorrer interaco com
o feixe incidente de elevada energia.

zao de Estruturas, (2009).