UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO NORTE

ESCOLA DE CINCIAS E TECNOLOGIA

Tcnicas de caracterizao dos materiais

(DRX, MO, MEV e MET)
Disciplina: Cincias dos Materiais ECT2411
Professora: Amanda Melissa Damio Leite

Auxiliam na identificao qumica e microestrutural;

Materiais desconhecidos e conhecidos;
Ensaios destrutivos (maioria) e no destrutivos;
Conjunto de ensaios que se complementam;
Exemplos:
DRX (difrao de raios-X), FRX (fluorescncia de raios-X), FTIR
(infravermelho com transformada de Fourier), DSC (calorimentria
diferencial exploratria), ATD (anlise trmica diferencial), ATG
(anlise termogravimtrica), MO (microscopia tica), MEV (microscopia
eletrnica de varredura), MET (microscopia eletrnica de transmisso),
dentre outras...

Caracterizaes dos
Materiais

DRX anlise qumica e estrutural

Composio e
Cristalografia

MO anlise qumica e morfolgica

MEV anlise qumica e morfolgica

MET anlise morfolgica

Composio e
Defeitos

A espectroscopia de Infravermelho trata da interao

da luz infravermelha (IR) com a matria.
O espectro de ondas eletromagnticas mostrado a
seguir traz a localizao da faixa de IR.

 A luz violeta a que mais deslocada pelo prisma;

A luz vermelha a que menos desviada;
Regio do espectro aps a parte do vermelho no espectro visvel
Absoro varia conforme o comprimento de onda ( l) da luz
infravermelha;
Comprimento de onda o inverso do nmero de ondas;
Corresponde a frequncia vibracional das molculas;
A radiao da regio do infravermelho mdio abrange ~4000 a
400 cm-1;

H 2 modos fundamentais de vibrao das molculas:

estiramento e deformao
O estiramento um
movimento rtmico ao longo
da linha entre os tomos, de
forma que a distncia
interatmica aumenta ou
diminui.

A deformao resulta da
mudana do ngulo da
ligao.

As ligaes podem vibrar de seis modos:

estiramento
simtrico

estiramento
assimtrico

tesoura

balano

toro

sacudida

CONDIES NECESSRIAS PARA

QUE OCORRA ABSORO NA
ESPECTROSCOPIA DE IR
A frequncia de vibrao deve ser igual
frequncia de radiao incidente
Deve causar uma oscilao no momento
dipolar da molcula.

as chamadas vibraes ativas no IR absorvem por

ressonncia toda ou parte da radiao IR incidente, cuja
frequncia coincide com aquelas da vibrao
as vibraes normais que no produzem variao de
momento dipolar, chamadas de vibraes inativas ou
vibraes proibidas no IR, no podem absorver esta
radiao.

INTERPRETAO DO ESPECTRO
Apesar de que um espectro de IR seja caracterstico de uma molcula
inteira, h certos grupos de tomos em uma molcula que geram bandas
de absoro no mesmo n de onda ou perto dele, independente do resto
da estrutura da molcula.
H bandas caractersticas que permitem que voc identifique as
principais caractersticas estruturais da molcula, aps uma rpida
inspeo do espectro e o uso de uma tabela de correlao.
A tabela de correlao uma lista de grupos funcionais e de suas
frequncias de absoro caractersticas.
O espectro de IR de uma molcula uma imagem grfica. Ele mostra as
frequncias de radiao de IR absorvidas e o % da luz incidente que
passa pelo molcula sem ser absorvida (transmitncia)
O espectro tem 2 regies. A regio de assinatura (fingerprint) nica
para a molcula e a regio do grupo funcional, que similar para
molculas com os mesmos grupos funcionais

 O eixo horizontal tem unidade de n de onda. Cada n de onda

corresponde a uma frequncia particular de luz infravermelha.
O eixo vertical mostra o percentual de luz transmitida. Em cada
frequncia, o % de luz transmitida 100 % para luz que passa atravs
da molcula, sem interao; ela tem um baixo valor quando a radiao
de IR interage e excita as vibraes na molcula
Uma poro do espectro onde o % de transmitncia cai para um baixo
valor e ento volta a quase 100 % chamada de banda.
Uma banda est associada com uma vibrao particular dentro da
molcula
A largura de uma banda descrita com larga ou estreita baseado na
extenso da faixa de frequncia que ela cobre.
As eficincias para diferentes vibraes determinam a intensidade ou
fora das bandas de absoro. Uma banda descrita como forte, mdia
ou fraca, conforme sua profundidade

 3294 cm-1, 1634 cm-1, 1540 cm-1, referente a vibraes do grupo NH, C=O e
CN, respectivamente. conformaes trans e planar do grupo amida
2925 e 2857 cm-1, correspondentes ao estiramento do grupo molecular CH2,

Absorbncia (u.a.)

3294
3070
2925
2857

1634
1540

3070 cm-1, atribudo ressonncia de Fermi do estiramento de NH

C=O

C-N

PA6/ACT

CH2

PA6/AST
N-H

PA6
4000

3500

3000

2500

2000

1500

1000

-1

Numero de onda (cm )

Espectros de FTIR da PA6 pura extrusada e

seus nanocompsitos (PA6/AST e PA6/ACT).

O espectro eletromagntico

luz visvel
microondas

raios-x

raios gama

UV

infravermelho

Comprimento de onda (nm)

ondas de rdio

Fenmeno de espalhamento da radiao eletromagntica, provocada

pela interao entre o feixe de raios-X incidente e os eltrons dos
tomos componentes de um material .

Raios X

Feixe difratado

Feixe atravessa o cristal

Lei de Bragg (1913)

d
d

nl = 2 d sen(q)
d sen

d sen

Diferena dos caminhos e/ raios

Parmetro experimental:
l - Comprimento de onda da radiao ( 1.54 A)
Parmetros da amostra:
d - distncia entre planos atmicos
q - orientao desses planos em relao ao feixe, ngulo de Bragg
n - ordem de difrao (numero inteiro 1,2,3)

 Medir o espaamento basal;.

Determinar a orientao do cristal
Determinar a estrutura de cristal um material
desconhecido
Medir regies cristalinas
Anlise qualitativa e quantitativa de fases
orgnicas e inorgnicas
Determinao da relao entre a frao amorfa
e cristalina, em uma amostra

Identificao/caracterizao
de
fases cristalinas atravs de seus
padres difratomtricos
O padro difratomtrico nico!

DIFRAO

a combinao de dois fenmenos: espalhamento coerente e

interferncia. Quando ftons de raios X de mesmo l, espalhados
coerentemente, interferem de modo construtivo, entre si, picos de
difrao (diffraction maxima) resultaro.

Intensidade (cps)

E o que acontecem com os Raios-X ao atravessarem uma

substncia no-cristalina (amorfa) ?

10

20

30

40

50 (2 Theta) 60

Informaes contidas em um Padro de Difrao

Posio dos Picos
- Sistema Cristalino
- Simetria do grupo Espacial
- Simetria de Translao
- Dimenses da Cela Unitria
- Identificao qualitativa de fases

Intensidade dos Picos

- Unit Cell Contents
- Point Symmetry
- Determinao quantitativa de fases

Forma e Largura dos Picos (FWHM)

- Tamanho de Cristalito (2-200 nm)
- Non-uniform Microstrain
- Extended Defects (stacking faults, antiphase boundaries, etc.)

O que importante observar no difratograma?

Intensidade relativa
Parmetro de rede (h,k,l)
Tamanho do cristalito
Distancia interplanar

Aplicao dos raios-X

- Os raios-X podem afetar um filme fotogrfico assim como a luz visvel.
- Raio-X uma radiao eletromagntica exatamente com a mesma natureza da luz
visvel mas de comprimento de onda muito pequeno.
- Os raios-X so mais penetrantes que a luz visvel e podem facilmente atravessar o

Intens
idade
(u.a)

corpo humano, madeira, metal e outros objetos opacos.

l = 0.1542
nm (CuKa)

ngul
o (2q)
Resoluo da
tcnica: 10-3 mm

Resoluo da
tcnica: 10-7 mm

Espectro de raios-X

Preparao de Amostras
Etapa fundamental em qualquer tcnica instrumental
Fator crtico influenciando na qualidade do resultado analtico
A preparao da amostra est diretamente relacionada ao resultado da
anlise

q Deslocamento dos picos

q Variao nas intensidades

O que uma preparao de amostra correta ou ideal ?

Depende do objetivo da Anlise:
Anlises de Rotina Identificao de Fases
Anlises Quantitativas
Clculo de Parmetros de Rede
Pequenas quantidades de amostras
Aerossis/poeiras
Depende do tipo de Material:
Cermicas, Metais e Ligas, Minerais, Minrios de Alumnio,
Argilas, Zeolitas, Amostras sensveis ao ar, Filmes Finos, Papel e
Plstico, Gemas, Materiais Energticos, Radioativos

Uso Geral

Parmetros
Cristalinos

MicroAmostras

Ultramicro
Amostras

DETALHE DO PORTA-AMOSTRA

A Microscopia o processo de visualizao de

pequenas estruturas impossveis de serem visualizadas a olho
nu, porem que tornam-se visveis quando utilizamos uma srie
de lentes de amplificadoras.
Os microscpios pertencem basicamente, a duas categorias:
Luminosos (ML) e Eletrnicos (ME).
As diferenas esto na radiao utilizada e na maneira como ela
refratada

A microscopia de luz utiliza-se da radiao de ondas

luminosas, sendo estas refratadas por lentes de vidro. O campo
microscpico aparece brilhante iluminado e os objetos
estudados se apresentam mais escuros. Geralmente produzem
um aumento aproximadamente de 1000X.

At 1600 Olho nu e Lupa.

1600 Surgimento do Mic. ptico

Anos 20 Microscopia ptica UV

Anos 40 Microscopia Eletrnica

Anos 50 Microscopia Eletrnica de Fora Atmica

RESOLUO MDIA DOS PRINCIPAIS

EQUIPAMENTOS UTILIZADOS EM MICROSCOPIA

 Morfolgica (espessura, rugosidade)

TIPOS DE
ANLISES

Composio qumica/elementos
Estrutura cristalogrfica e Defeitos

PTICA Microestrutura de sees,

anlise de fases, >0,2 m
MEV

Microestrutura de superfcies,
>10 nm

MET

Microscopia de sees finas

(20-200 nm), >1 nm

Observao e anlise microestrutural de objetos slidos

OBJETIVO

baixa resoluo ~ 0,5 m (aumento mximo de

2.000X)
imagem plana - sem profundidade de foco
preparao especial da amostra (lixamento,
polimento, ataque)

Ferramenta mais usada para a caracterizao morfolgica

Primeira tcnica a ser usada para examinar a microestrutura

Microscpios ticos usados para observao

Luz Refletida

Metais,
Polmeros e
Minerais

Luz
Transmitida

Polmeros e
Minerais

Microscpio
metalrgico de
amostra invertida

Microscpio
metalrgico de
amostra normal

PARTES DO MICROSCOPIO TICO

Principais mtodos de microscopia tica

Luz Transmitida A amostra deve ser fina para que a frao de luz
seja transmitida e a estrutura interna possa ser observada.
Luz Refletida utilizado para amostras opacas ou excessivamente
espessas. As variaes na estrutura superficial so observadas. O
contraste obtido promove variaes na refletividade da superfcie.
Luz polarizada utilizada para Polmeros cristalinos e orientados.
Quando um feixe de luz incide sobre um material opticamente
anisotrpico, o feixe ser transmitido atravs do cristal como dois
feixes alinhados e paralelos ao eixo tico principal do cristal,
ocasionando contraste ou diferenciao de cor.
Contraste por interferncia Um feixe refletido ou transmitido
atravs da amostra e recombinado com o feixe de referncia, tendo
como resultado o contraste por interferncia, onde as imagens so
tridimensionais.
Contraste de fase Amostras com duas fases transparentes e com
ndices de refrao diferentes produzem deslocamentos pequenos de
fase na luz transmitida de cada uma das fases.

MICROESTRUTURAS

MICROESTRUTURAS DOS AOS

MICROSCOPIAS DOS POLMEROS

(a)

(b)

Filme de PEAD. (a) Polarizador

transversal (monocromtico); (b) Foi usado
um filtro de cor vermelha. Os esferulitos
so simtricos e regulares. As cores azul e
amarelo so obtidas a partir de filtros.

(a)

Filme fino de policaprolactona. (a)

Obtido por polarizadores transversos;
(b) Foi usado um filtro de cor
vermelha. Os esferulitos so bem
menos regulares.

(b)

O objetivo a observao e anlise microestrutural de

objetos slidos.

alta resoluo 0,2 a 5 nm

grande profundidade de foco - topografia
imagem de composio
fcil preparao da amostra

O EQUIPAMENTO

Reservatrio de N2 Lquido p/ detector EDS

Porta de Amostra

Tipo de Detectores
Os detectores de eltrons secundrios (ES), fornecem imagem de
topografia da superfcie das partculas e so os responsveis pela
obteno das imagens de alta resoluo.
Os detectores de eltrons retroespalhados (BSE/ER) permitem a
anlise de variao de composio ou contraste.
O detector EDS permite a identificao da composio dos elementos
qumicos da amostra.

Metalizador de amostras
Amostras isolantes ou biolgicas para serem analisadas no modo
convencional do MEV (alto vcuo), tem que passar por um
processo de metalizao, haja vista que amostras para MEV tem
que ser condutoras de corrente eltrica. O processo de
metalizao consiste na aplicao de uma camada de carbono ou
ouro, atravs de processo de eletro deposio.

Preparao de amostras

Preparao de amostras

Filmes planos - superfcie

Filmes metalizado

Filmes - transversal

Imagens do MEV

Aranha

Materiais observados no MEV

Materiais Metlicos

Ao carbono
lamelas da perlita

Materiais observados no MEV

Materiais Metlicos - Fratura

Fratura em materiais
metlicos porosos

Materiais observados no MEV

Materiais Cermicos

Concreto

Cermica de queimador
Vidro recristalizado

Imagens do MEV

Superfcie e seo transversal de

membrana polimrica de
PA6/argila

Empregado largamente na analise microestrutural dos

materiais. A analise pode fornecer informaes em nvel superficial
ou atmico.
possui sistemas de iluminao e vcuo que
produz feixes de eltrons de alta energia
fornece
imagens
planas,
imensamente
ampliadas, possuindo a capacidade de
aumento til de at um milho de vezes
a imagem tambm uma resultante da
absoro diferenciada de eltrons por diversas
regies da amostra, seja por variao de
espessura, seja por interao com tomos de
maior ou menor nmero atmico.

 Permite a observao da organizao interna

da amostra, formando imagens bidimensionais;
So utilizados cortes extremamente finos das
amostras;
O feixe de eltrons atravessa a amostra
Limite de resoluo: 0,0002mm
Utilizado no estudo de defeitos cristalinos

Diagrama Esquemtico do MET

Feixe de eltrons gerado e

dirigido para atravessar a
amostra. A imagem ampliada
para ser observada.

Vcuo: canho e amostra

Sistema

de gerao
alta tenso (100Kv a 1Mv)

de

Fonte de eltrons (canho):

tungstnio, LaB6 (hexaborato
de lantnio) ou canho de
emisso de campo (FEG)

Diagrama Esquemtico do Funcionamento do MET

Preparao de amostras polimricas por Ultramicrotomia

Corpos de prova do tipo Izod so submetidos ao

trimer (corte na forma de trapzio, a partir de barras
Izod que podem ser cortadas perpendiculares
direo do fluxo de injeo regio de entalhe.

Sees ultrafinas de material polimrico

so
cortadas, corte esse mecanico de preciso, que
feito em baixas temperaturas.
A faca pode ser com navalha de diamante ou arestas
de lmina de vidro fraturada.

Sistema mecnico de preciso tem-se o controle

da faca, da velocidade e da espessura de corte

Preparao de amostras polimricas por Ultramicrotomia

Preparao de amostras polimricas por Ultramicrotomia

Preparao de amostras polimricas por Ultramicrotomia

Preparao de amostras polimricas por Ultramicrotomia

Preparao de amostras polimricas por Ultramicrotomia

Imagens do MET

MET do perfil hexagonal

da caulinita

Fotomicrografias de MET dos

nanocompsitos de PA6 com 3%
de argila organoflica

Fotomicrografias de MET para

os filmes de nanocompsitos
de PA 6/MMT.