Tese PPJ Final PDF

PAULO PEREIRA JUNIOR
Avaliao do Efeito da Microestrutura na

Velocidade de Propagao de Ondas
Longitudinais Criticamente Refratadas
Utilizando Arrays Ultrassnicos
71/2015
CAMPINAS
2015
i
ii
UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS

FACULDADE DE ENGENHARIA MECNICA
PAULO PEREIRA JUNIOR

Tese de Doutorado apresentada Faculdade de
Engenharia Mecnica da Universidade Estadual de
Campinas como parte dos requisitos exigidos para
obteno do ttulo de Doutor em Engenharia
Mecnica, na rea de Mecnica dos Slidos e
Projeto Mecnico.
Orientador: Prof. Dr. Auteliano Antunes dos Santos Junior
ESTE EXEMPLAR CORRESPONDE VERSO

FINAL DA TESE DEFENDIDA PELO ALUNO
PAULO PEREIRA JUNIOR, E ORIENTADA PELO
PROF. DR AUTELIANO ANTUNES DOS SANTOS
JUNIOR
............................................................................
ASSINATURA DO ORIENTADOR
CAMPINAS
2015
iii
iv
UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS

FACULDADE DE ENGENHARIA MECNICA
COMISSO DE PS-GRADUAO EM ENGENHARIA MECNICA
DEPARTAMENTO DE SISTEMAS INTEGRADOS
TESE DE DOUTORADO

Autor: Paulo Pereira Junior
Orientador: Prof. Dr. Auteliano Antunes dos Santos Junior
A Banca Examinadora composta pelos membros abaixo aprovou esta Tese:

____________________________________________________
Prof. Dr. Auteliano Antunes dos Santos Junior, Presidente
FEM/UNICAMP
____________________________________________________
Prof. Dr. Sergio Tonini Button
FEM/UNICAMP
____________________________________________________
Prof. Dr. Hlio Fiori de Castro
FEM/UNICAMP
____________________________________________________
Prof. Dr. Ricardo Tokio Higuti
FEIS/UNESP
___________________________________________________
Prof. Dr. Antonio Carlos Ancelotti Junior
IEM/UNIFEI
Campinas, 31 de julho de 2015.

v
vi
Agradecimentos
Gostaria de prestar sinceros agradecimentos minha me Maria Lcia e minha irm

Luciana por sempre terem me apoiado nos meus estudos.
Ao meu orientador Professor Auteliano por todo o aprendizado adquirido e incentivo dado
durante a realizao no s deste trabalho, mas durante todo o meu mestrado e minha graduao.
Ao Professor Bruce Drinkwater da Universidade de Bristol pelo o acolhimento em seu
laboratrio durante estgio de doutorado sanduche e auxlio na realizao deste trabalho.
Aos colegas do grupo de pesquisa Alexandre, Rodrigo, Cleudiane, Tain, Vanessa, Camila
e Shirley por todo o auxlio dado para o desenvolvimento do trabalho e tambm pelos momentos
de descontrao.
Aos tcnicos Oswaldo e Rosngela do LAFER e Rubens do LABVIA pelo valioso apoio
prestado em diversos momentos.
A Coordenao de Aperfeioamento de Pessoal de Nvel Superior (CAPES) pela bolsa de
pesquisa concedida no Brasil e no exterior pelo programa PDSE/CSF (processo
99999.012340/2013-08).
A Fundao de Amparo Pesquisa do estado de So Paulo (FAPESP) pelo financiamento
atravs dos projetos de pesquisa de nmeros 2012/25174-9 e 2013/21616-0.
Ao Conselho Nacional de Desenvolvimento Cientfico e Tecnolgico (CNPQ) pelo
financiamento atravs do projeto de pesquisa de nmero P479939/2012-8.
vii
viii
Resumo
As tcnicas no destrutivas que utilizam ondas ultrassnicas para avaliao de tenses

mecnicas se destacam pela sua simplicidade e baixo custo. A medio de tenso por ultrassom
utiliza o princpio da acustoelasticidade que relaciona a variao da velocidade de ondas elsticas
com a variao da tenso no material. Entretanto, no apenas a tenso influencia a velocidade de
onda, mas tambm a microestrutura do material inspecionado. A influncia da microestrutura
pode levar a erros de medio de tenso. O objetivo deste trabalho verificar a viabilidade da
utilizao de imagens ultrassnicas para avaliar o efeito de variaes microestruturais na
velocidade da onda ultrassnica longitudinal criticamente refratada (Lcr) utilizada na medio de
tenses. As imagens so geradas a partir de sinais obtidos por uma sonda de transdutores
estratificados (array) ultrassnicos e aplicando a tcnica Total Focusing Method (TFM). Os
sinais obtidos com o array contm reflexes causadas pela microestrutura granular do material
que resultam em um rudo no sinal conhecido como rudo de gro. Por esta razo, os sinais e,
consequentemente, a imagem formada contm informao acerca da microestrutura do material.
Neste trabalho foram verificadas as relaes entre tamanho e forma de gro, velocidade de onda e
intensidade de rudo em imagens de TFM para amostras de ao ASTM A36. A influncia da
tenso e temperatura nas imagens ultrassnicas tambm foi analisada. Os resultados mostraram
que assim como a velocidade de onda, a intensidade do rudo de gro nas imagens de TFM
tambm sofre influncia do tamanho e forma do gro do material. Entretanto, no foram
verificadas variaes significativas no rudo de gro em funo da tenso aplicada e temperatura.
Sendo a intensidade do rudo de gro nas imagens sensvel somente s variaes microestruturais
do material, a tcnica pode ser empregada para corrigir valores de velocidade de onda para
medies de tenso. No trabalho tambm proposto um modelo matemtico para obteno de
imagens de TFM para uma dada distribuio de gros. Os resultados obtidos com o modelo
mostraram boa concordncia qualitativa com os dados experimentais para a frequncia de 2,5
MHz.
Palavras Chave: Testes no-destrutivos; Ultrassom; Metais Microestrutura;
ix
Abstract
Non-destructive techniques using ultrasonic waves to evaluate stresses excel for exhibiting
simplicity and low cost. Stress evaluation by ultrasound applies the acoustoelastic theory that
relates the variation in velocity of elastic waves with the variation in stress in the material.
However, not only stress has influence in wave velocity, but also the microstructure of the
specimen being evaluated. The microstructure influence can lead to errors in the stress
measurement. The aim of this work is to verify the feasibility of using ultrasonic images to
evaluate the effect of microstructural variations in the velocity of longitudinal critically refracted
waves (Lcr) used in stress measurements. The images are generated from signals obtained with a
probe of ultrasonic array applying the Total Focusing Method (TFM). The signals recorded using
the array contain reflections caused by the granular structure of the material that creates a noise in
the signal known as grain noise. For this reason, the signals and, consequently, the images formed
carry information about the materials microstructure. In this work, it was verified the relations
between size and shape of grains, wave velocity and noise intensity in TFM images for samples
of ASTM A36 steel. The influence of stress and temperature in the ultrasonic images was also
verified. The results showed that as for the wave velocity, the grain noise intensity in TFM
images are also influenced by size and shape of grains that constitute the material under
inspection. Nevertheless, no significant variations were seen in the noise intensity due to the
applied stress or temperature changes. Being the noise intensity of the images sensitive only to
microstructural variations, the technique presented can be used to correct values of ultrasonic
wave speed in the stress evaluations. In this work, it is also proposed a mathematical model to
obtain TFM images for a given distribution of grains. The results showed qualitative good
agreement between simulated and experimental data for the frequency of 2.5 MHz.
Key Words: Nondestructive testing; Ultrasound; Metals Microstructure.
xi
xii
Lista de Ilustraes
2.1
Representao grfica dos tipos mais comuns de ondas usadas em ensaios no destrutivos:
(a) longitudinais, (b) de cisalhamento, (c) Rayleigh, (d) Lamb simtrica (acima) e
assimtrica (abaixo). Seta azul representa a direo de propagao da onda e linhas pretas
o movimento das partculas ............................................................................................. 9
2.2
Desenho esquemtico da gerao da onda Lcr (PEREIRA JUNIOR, 2011) ..................... 10
2.3
Representao do campo prximo e distante para um transdutor circular (OLYMPUS,

2010) ............................................................................................................................. 11
2.4
Formas de arranjos para sondas de array (DRINKWATER & WILCOX, 2006). (a) Array
linear, (b) array matricial e (c) array anular.................................................................... 19
2.5
Esquema de gerao de um feixe de incidncia (a) normal e (b) angular (OLYMPUS,

2007a) ........................................................................................................................... 20
2.6
Principais parmetros dimensionais da sonda de array linear .......................................... 21
2.7
Sistema de coordenadas com distncia com foco no ponto F (NAKAHATA & KONO,
2012) ............................................................................................................................. 21
2.8
Exemplo de varredura linear (OLYMPUS, 2007b) ........................................................ 23
2.9
Exemplos de imagens geradas por array ultrassnico. (a) B-scan, (b) C-scan, (c) S-scan
(OLYMPUS, 2010) ........................................................................................................ 23
2.10
Sequncia de disparo dos elementos no FMC. a) 1 elemento emitindo; b) 2 elemento

emitindo; c) penltimo elemento emitindo; d) ltimo elemento emitindo ........................ 24
2.11
Desenho esquemtico representando a formao de imagem pelo os mtodos FMC e TFM

....................................................................................................................................... 26
3.1
Fluxograma do modelo para obteno do SNR de imagens de TFM ............................... 40
3.2
Representaes de gros para kg igual (a) 0,5, (b) 0,75 e (c) 1. Parmetros de simulao
utilizados: dimetro de gro mdio igual 209 m, desvio padro igual 59 m, RDI: x = 1:1 mm e z =24:26 mm ................................................................................................... 42
3.3
Representao de gros (a) antes e (b) depois da aleatorizao de posies. Dimetro
xiii
mdio de gros = 209 m e desvio padro = 59 m ........................................................ 43

3.4
Exemplo de distribuio de gros (dimetro mdio de gros = 209 m e desvio padro =

59 m) ........................................................................................................................... 44
3.5
Exemplos de espalhamento simples e mltiplo para dois gros ....................................... 45
3.6
Esquema geomtrico para o modelo de gros como espalhadores ................................... 45
3.7
Representao do ngulo entre elemento do array e um ponto em (x,z) para clculo da

diretividade .................................................................................................................... 47
3.8
Exemplo de sinal simulado representando o rudo de gro (frequncia de 2,5 MHz) ....... 50
3.9
Esquema geomtrico para modelamento do sinal de fundo ............................................. 51
3.10
Exemplo de sinal simulado representando o eco de fundo (frequncia de 2,5 MHz) ........ 51
3.11
Exemplo de imagem de TFM simulado para sinais de (a) rudo de gro e de (b) fundo da
pea (frequncia de 5 MHz e tamanho de gro mdio de 209 m) .................................. 52
3.12
RDI e rea das imagens de TFM considerada para a simulao ....................................... 53
4.1
Desenho esquemtico representado a amostra sem tratamento trmico (dimenses em

mm)................................................................................................................................ 59
4.2
Desenho esquemtico representado a amostra com tratamento trmico (dimenses em

mm) ............................................................................................................................... 60
4.3
Desenho esquemtico representado a amostra de ao API 5L X70 (dimenses em mm) . 61
4.4
Modelo do transdutor utilizado para gerao e recepo da onda Lcr ............................... 62
4.5
(a) Desenho esquemtico da sonda de gerao e recepo de ondas L cr (dimenses em

mm) e (b) foto da sonda real ........................................................................................... 63
4.6
Pulsador/receptor de sinais ultrassnicos Panametrics..................................................... 64
4.7
Controlador embarcado NI PXI 8108.............................................................................. 64
4.8
Termopar, mdulo condicionador NI 9211 e mdulo transmissor NI WLS/ENET-9163 . 65
4.9
Tela principal da aplicao L Scope GU 2015 ............................................................. 65
4.10
Indicao do segundo cruzamento com o zero na onda L cr .............................................. 67
4.11
Telas de filtros ( esquerda) e controles avanados ( direita) da aplicao L Scope

GU 2015 ....................................................................................................................... 68
4.12
Desenho esquemtico do sistema de medio com ondas Lcr .......................................... 68
xiv
4.13
Unidade de controle MultiX++ ....................................................................................... 69
4.14
(a) Foto da sonda de 5 MHz e 64 elementos e (b) as principais dimenses dos seus
elementos ....................................................................................................................... 70
4.15
Tela principal do programa Multi2000 ........................................................................ 71
4.16
Tela do programa de medio de temperatura para sistema com array ultrassnico de 64

canais ............................................................................................................................. 72
4.17
Desenho esquemtico do sistema de medio com array de 64 canais ............................ 72
4.18
Unidade de controle Micropulse FMC ......................................................................... 73
4.19
Tela do programa da unidade de controle Micropulse FMC......................................... 73
4.20
Posies de medio nas amostras de (a) ao A36 e (b) API 5L X70 nos ensaios para
verificao da influncia da temperatura no TOF da onda L cr. Todas as dimenses esto
milmetros ...................................................................................................................... 75
4.21
Sonda de ondas Lcr com peso morto................................................................................ 76
4.22
Posio de medio com a sonda de ondas Lcr nas amostras tratadas termicamente. Todas
as dimenses esto milmetros ........................................................................................ 76
4.23
Posies de medio com a onda Lcr propagando (a) perpendicular (posies 1 e 2) e

(b) paralela direo de laminao (posies 3 e 4). Dimenses em milmetros....... 77
4.24
As 6 posies de medio com a onda Lcr em cada amostra. Dimenses em milmetros. . 77
4.25
Dispositivo de aplicao de tenso na barra de ao API 5L X70 (PEREIRA JUNIOR,

2011) ............................................................................................................................. 79
4.26
Posio de medio com a sonda de array para verificao da influncia da temperatura

....................................................................................................................................... 80
4.27
Pesos de fixao da sonda na amostra ............................................................................. 80
4.28
Posies de medio com o array nas amostras tratadas termicamente (sistema de 64

canais). Dimenses em milmetros.................................................................................. 81
4.29
(a) Posio de corte das amostras tratadas termicamente, (b) foto de uma amostra cortada
e (c) dimenses das amostras cortadas. Dimenses em milmetros .................................. 82
4.30
Posies de medio com array para estudo da influncia da direo de laminao nas
imagens ultrassnicas. Dimenses em milmetros ........................................................... 84
xv
4.31
Posies de medio com array para estudo da influncia da posio de medio nas
imagens ultrassnicas. Dimenses em milmetros ........................................................... 85
4.32
Posies de medio com array para estudo da influncia da tenso nas imagens
ultrassnicas. Dimenses em milmetros......................................................................... 85
4.33
(a) Espectro da funo gaussiana utilizada como filtro e (b) sinal no domnio do tempo.
Frequncia de centro de 5 MHz ...................................................................................... 87
4.34
(a) reas delimitadas para obteno do valor RMS do rudo de gro e intensidade do sinal
de fundo em uma imagem de TFM e (b) na amostra de ao ASTM A36 (espessura de 15,9
mm) ............................................................................................................................... 88
4.35
reas delimitadas na pea para obteno do valor RMS do rudo de gro e intensidade do
sinal de fundo para amostras cortadas e tratadas termicamente........................................ 89
4.36
reas delimitadas na pea para obteno do valor RMS do rudo de gro e intensidade do
sinal de fundo para amostra de ao API 5L X70 ............................................................. 89
5.1
Influncia da temperatura no TOF da onda Lcr na amostra n 21 de ao ASTM A36 ....... 90
5.2
Influncia da temperatura no TOF da onda Lcr na amostra de ao API 5L X70 ............... 91
5.3
Variao do SNR da imagem de TFM em funo da temperatura na amostra de ao

ASTM A36 para profundidade entre 6 e 10 mm (amostra n 25) .................................... 92
5.4

ASTM A36 para profundidade entre 10 e 14 mm (amostra n 25) .................................. 93
5.5
Exemplo de forma de onda adquirida no modo pulso eco com dois ecos de fundo da pea
para obteno do tempo de percurso ............................................................................... 94
5.6
Variao da velocidade de onda em funo da temperatura para medies com elementos

do array no modo pulso eco ........................................................................................... 95
5.7
Variao do SNR da imagem de TFM calculada com a velocidade corrigida em funo da

temperatura para a profundidade entre 6 e 10 mm ........................................................... 95
5.8
Variao do SNR da imagem de TFM calculada com a velocidade corrigida em funo da

temperatura para a profundidade entre 10 e 14 mm ........................................................ 96
5.9

ASTM A36 para profundidade entre 6 e 10 mm (amostra n 17) ................................... 98
xvi
5.10

ASTM A36 para profundidade entre 10 e 14 mm (amostra n 17) ................................. 98
5.11
Variao do SNR em funo da medio para uma mesma posio e temperatura (amostra
n 25 e z = 6:10 mm) .................................................................................................... 99
5.12
Variao do SNR em funo da medio para uma mesma posio e temperatura (amostra
n 25 e z = 10:14 mm) ................................................................................................ 100
5.13
Variao do SNR da imagem de TFM em funo da temperatura na amostra de ao API

5L X70 ........................................................................................................................ 101
5.14
Grfico para a variao do TOF da onda Lcr em funo do tamanho mdio de gro ...... 102
5.15
Relao entre o SNR mdio e o tamanho mdio de gro para o sistema de medio de 64
canais e z = 6:10 mm .................................................................................................... 103
5.16
Relao entre o SNR mdio e o tamanho mdio de gro para o sistema de medio de 64
canais e z = 10:14 mm .................................................................................................. 103
5.17
Relao do TOF e SNR mdio para amostras de ao ASTM A36 tratadas termicamente (z
= 6:10 mm) .................................................................................................................. 104
5.18
Relao do TOF e SNR mdio para amostras de ao ASTM A36 tratadas termicamente (z
= 10:14 mm) ................................................................................................................ 105
5.19
Exemplos de imagens de TFM (2,5 MHz). Tamanhos mdios de gro de (a) 98 m, (b)
131 m, (c) 166 m, (d) 209 m, (e) 98 m, (f) 131 m, (g) 166 m, (h) 209 m. As
imagens de (a) at (d) foram obtidas pela simulao e de (e) at (h) foram obtidas
experimentalmente ....................................................................................................... 107
5.20
Variao do SNR em funo do tamanho de gro para dados experimentais (sistema de

128 canais) e simulados para as frequncias de (a) 2,5, (b) 5 e (c) 10 MHz ................... 108
5.21
Variao do SNR em funo do tamanho mdio de gro para os sistemas de 64 e 128

canais utilizando sondas com frequncia 5 MHz ........................................................... 110
5.22
Relao do TOF e SNR mdio para amostras de ao ASTM A36 tratadas termicamente e
medidas com sondas de array de (a) 2,5, (b) 5 e (c) 10 MHz ........................................ 111
5.23
Variao do TOF da onda Lcr em funo do SNR mdio para medies na direo paralela
e transversal laminao das amostras (z = 6:10 mm) ................................................. 112
xvii
5.24
Variao do TOF da onda Lcr em funo do SNR mdio para medies na direo paralela
e transversal laminao das amostras (z = 10:14 mm) ............................................... 113
5.25
Relao entre TOF e SNR mdio para diferentes amostras e posies de medio nas
amostras de ao A36 (z = 6:10 mm) ............................................................................. 114
5.26
Relao entre TOF e SNR mdio para diferentes amostras e posies de medio nas
amostras de ao A36 (z = 10:14 mm) ........................................................................... 114
5.27
Variao do TOF da onda Lcr em funo da presso aplicada no dispositivo de tenso no

ensaio com a amostra de ao API 5L X70..................................................................... 116
5.28
Variao do SNR mdio das imagens de TFM em funo da presso aplicada no

dispositivo de tenso no ensaio com a amostra de ao API 5L X70 ............................... 116
5.29
Relao entre TOF e SNR mdio para as amostras de ao A36 (z = 6:10 mm) ............. 119
5.30
Relao entre TOF e SNR mdio para as amostras de ao A36 (z = 10:14 mm) ........... 119
C.1
SNR em funo da frao de rea para distribuies de gros de tamanho mdio de 209 e
166 m ......................................................................................................................... 143
xviii
Lista de Tabelas
2.1
Valor da constante ke em funo da razo entre a menor e a maior dimenso do elemento

retangular (OLYMPUS, 2010) ..................................................................................... 12
3.1
Propriedades elsticas para clculo das amplitudes de espalhamento usando a

aproximao de Born ................................................................................................... 49
4.1
Experimentos realizados no trabalho ............................................................................ 56
4.2
Composio qumica do ao ASTM A36 (ASTM, 2014) ............................................. 57
4.3
Propriedades mecnicas principais do ao ASTM A36 (ASTM, 2014) ......................... 57
4.4
Composio qumica do ao API 5L X70 (SANTOS, 2007) ........................................ 58
4.5
Propriedades mecnicas principais do ao API 5L X70 (SANTOS, 2007). .................... 58
4.6
Tamanhos de gro mdios de cada amostra e os desvios padro das medies (BUENOS
et al., 2014) .................................................................................................................. 60
4.7
Detalhes das sondas utilizadas com a unidade de controle Micropulse FMC ............. 74
4.8
Especificaes da aquisio para avaliao da influncia da temperatura nas imagens

ultrassnicas ................................................................................................................ 81
4.9
Especificaes da aquisio para avaliao da influncia do tamanho de gro nas imagens

ultrassnicas para o sistema de 128 canais ................................................................... 83
4.10
Especificaes da aquisio para avaliao da influncia do tamanho de gro nas imagens

ultrassnicas para o sistema de 64 canais (amostra cortada) ......................................... 83
4.11
Especificaes da aquisio para avaliao da influncia da tenso nas imagens

ultrassnicas ................................................................................................................ 86
5.1
Mdia e desvios padro dos SNRs, em dB, para o ensaio de temperatura (amostra n 25)
..................................................................................................................................... 97
5.2
Nmero de gros de cada modelo e tempo de simulao ............................................. 106
5.3
ANOVA para o TOF da onda Lcr ................................................................................. 117
5.4
ANOVA para o SNR .................................................................................................. 117
xix
B.1
SNR por posio nas amostras tratadas termicamente para crescimento de gro
(profundidade entre 6 e 10 mm) .................................................................................. 140
B.2
SNR por posio nas amostras tratadas termicamente para crescimento de gro
(profundidade entre 10 e 14 mm) ................................................................................ 141
C.1
SNRs obtido da simulao para diferentes distribuies de gros. Tamanho de gro mdio
igual a 209 m ............................................................................................................ 142
D.1
SNRs medidos, em dB, para a onda Lcr se propagando na direo transversal direo de
laminao. Profundidade da imagem definida entre 6 e 10 mm ................................... 145
D.2
SNRs medidos, em dB, para a onda Lcr se propagando na direo paralela direo de
laminao. Profundidade da imagem definida entre 6 e 10 mm ................................... 146
D.3
SNRs medidos, em dB, para a onda Lcr se propagando na direo transversal direo de
laminao. Profundidade da imagem definida entre 10 e 14 mm ................................. 147
D.4
SNRs medidos, em dB, para a onda L cr se propagando na direo paralela direo de

laminao. Profundidade da imagem definida entre 10 e 14 mm ................................. 148
E.1
SNR em dB obtido de cada posio de medio da imagem de TFM na profundidade

entre 6 e 10 mm (amostra n 25) ................................................................................. 149
E.2

E.3

E.4

E.5

entre 6 e 10 mm (amostra n 9) ................................................................................... 151
E.6

E.7

xx
E.8

E.9

E.10

entre 6 e 10 mm (amostra n 8) ................................................................................... 152
E.11

entre 10 e 14 mm (amostra n 25) ............................................................................... 153
E.12

E.13

E.14

E.15

E.16

E.17

E.18

E.19

E.20

F.1
SNR em dB por posio de medio do array nos ensaios para verificao da influncia
da tenso na intensidade do rudo nas imagens de TFM .............................................. 157
xxi
xxii
Lista de Abreviaturas e Siglas
Letras Latinas
a:
raio do gro
[m]
am:
raio mdio dos gros para uma determinada distribuio
[m]
ax, ay, az: dimenses do gro elipsoidal nas direes x,y e z

A :
amplitude de onda
Ag:
matriz de dimetros de gros
x ,z
AeTg,eRg :
[m]
amplitude do sinal refletido pelo gro localizado em (xg, zg) para o par de elementos do
array eT - eR
c:
velocidade de onda longitudinal ou cisalhante no material
[m/s]
cL:
velocidade da onda longitudinal no material
[m/s]
cS:
velocidade da onda cisalhante no material
[m/s]
csap:
velocidade da onda longitudinal no material da sapata
[m/s]
cT:
coeficiente de variao do TOF em funo da temperatura
Cij:
constantes elsticas de segunda ordem
Cijkl:
tensor de rigidez de quarta ordem
Cijk:
constantes elsticas de terceira ordem
Cijklmn:
tensor de rigidez de sexta ordem
dt:
variao no TOF
x ,zg
d eRg
x ,zg
d eTg
distncia entre o elemento receptor eR do array e o gro localizado em (xg, zg)
distncia entre o elemento transmissor eT do array e o gro localizado em (xg,

zg)
x ,z
[GPa]
[GPa]
[ns]
DeTg g :
[ns/C]
[mm]
[mm]
diretividade em funo da frequncia e do ngulo formado entre o gro em (xg, zg) e o

elemento transmissor eT do array
x ,z
DeRg g :
diretividade em funo da frequncia e do ngulo formado entre o gro em (xg, zg) e o

elemento receptor eR do array
D(,):
diretividade em funo do ngulo e frequncia

xxiii
e:
espao entre elementos do array
[mm]
ei, es:
vetores das direes da onda incidente e espalhada, respectivamente
eij:
componentes do tensor de deformao infinitesimal
eT:
elemento do array operando como transmissor
eR:
elemento do array operando como receptor
Eij:
componentes do tensor de deformao finita
E:
mdulo de elasticidade
f:
Frequncia
F:
estatstica usada para o teste que corresponde razo entre a varincia entre grupos e a
[GPa]
[Hz]
varincia dentro de cada grupo

F(x,z):
ponto focal no material inspecionado
G:
mdulo de cisalhamento
gl:
nmero de graus de liberdade para anlise estatstica
h:
altura ou elevao dos elementos de array
heR ,eT :
amplitude da onda em funo do tempo obtida para o elemento eT emissor e eR receptor
[GPa]
[mm]
do array
x ,z
H eTg,eRg :
espectro do sinal refletido pelo gro localizado em (xg, zg) para o par de elementos do
array eT - eR
H etotal
:
T , eR
espectro do sinal refletido por todos os gros para o par de elementos do array eT - eR
I(r):
intensidade de imagem de TFM para o pixel na posio r
ISF :
valor de intensidade mximo na imagem de TFM do sinal de fundo da amostra
I RMS :
valor RMS da intensidade do rudo de gro da imagem do interior da pea
k:
nmero de onda
ke:
constante definida pela razo entre o comprimento e largura do elemento
kg:
constante relativa relao entre sobreposio de gros e espaos vazios na RDI
l, m e n: constantes de Murnaghan
[GPa]
le:
largura do elemento piezeltrico
[mm]
lT :
largura total dos elementos de um array
[mm]
xxiv
L11:
constante acustoelstica da onda longitudinal se propagando na mesma

direo da tenso para materiais isotrpicos
11:
[GPa]
constante acustoelstica da onda longitudinal se propagando na mesma

direo da tenso para materiais ortotrpicos
MQ:
mdia quadrtica
n:
cosseno diretor da direo de propagao da onda
Ncp:
comprimento do campo prximo do feixe snico
Nr:
nmero de pixels definido para uma imagem de TFM
Nx, Nz:
nmero de gros nas direes x e z da RDI
Ny:
nmero de gros estimados na direo y da amostra
p:
passo (pitch) ou distncia centro-a-centro de cada elemento sucessivo do

array
[GPa]
[mm]
vetor posio de um pixel qualquer na imagem
vetor que representam a posio do elemento eT do array atuando como transmissor
vetor que representa a posio do elemento eR do array atuando como receptor
R:
distncia entre o elemento central da sonda e ponto onde se deseja focalizar

F(x,z)
RexTb,,ezRb :
[mm]
coeficiente de reflexo para o par de elementos do array eT - eR e posio fundo da

amostra (xb, zb)
t0 :
tempo de percurso da onda no material sem tenso
[ns]
T:
temperatura medida nas amostras
[C]
TOFcorr: TOF corrigido em funo da temperatura
[ns]
TOFmed: TOF medido na amostra
[ns]
ui:
deslocamento nas direo i
vij:
velocidade da onda se propagando na direo i e polarizada na direo j
xi:
coordenadas na direo i
xn:
posio do n-simo elemento do array na direo x
xb, zb:
coordenadas de fundo da amostra
xg, zg:
coordenadas do gro na amostra
xxv
[m/s]
Xp, Zp:
matrizes de coordenadas de posio dos gros nas direes x e z
W:
largura da amostra na direo y
W(Eij):
energia de deformao
[mm]
.......................................................................................................................................
Letras Gregas
l:
ngulo entre elemento do array e fundo da amostra
ik:
delta de Kronecker
deformao no corpo na direo da tenso
ngulo entre a linha central normal ao array e o ponto F
[]
c:
ngulo crtico
[]
d:
ngulo entre centro de um elemento do array e um ponto na amostra
[]
, :
constantes de Lam
Densidade
tenso normal
[GPa]
tenso cisalhante
[GPa]
coeficiente de Poisson do material isotrpico ou cbico
ij:
coeficiente de Poisson do material ortotrpico
g , g :
ngulos de orientao para gro simetria cbica
frequncia angular
n:
diferena de tempo de excitao entre o elemento na posio central da sonda
[]
[GPa]
[kg/m]
[]
[rad/s]
com o elemento posicionado em xn
[s]
.......................................................................................................................................
Siglas
API:
American Petroleum Institute
ASTM:
American Society for Testing and Materials
DWT:
Digital Wavelet Transform
FIR:
Finite Impulse Response
xxvi
FMC:
Full Matrix Capture
IIR:
Infinite Impulse Response
Lcr:
Ondas Longitudinais Criticamente Refratadas
PCI:
Phase-coherent Imaging
PMMA: Polimetil-Metacrilato
RDI:
Regio de interesse
RMS:
Root Mean Square
SCI:
Spatial Compouding Imaging
SNR:
Signal-to-noise Ratio
TFM:
Total Focusing Method
TOF:
Time-of-Flight
xxvii
xxviii
SUMRIO
INTRODUO .............................................................................................................. 1
1.1
Objetivos do trabalho ...................................................................................................... 5
REVISO DA LITERATURA E ASPECTOS TERICOS............................................ 8
2.1
Ondas ultrassnicas ........................................................................................................ 8
2.2
Elasticidade ................................................................................................................. 12
2.3
Acustoelasticidade ....................................................................................................... 15
2.4
Arrays ultrassnicos ..................................................................................................... 19
2.5
Reviso Bibliogrfica .................................................................................................. 27
2.5.1
Medio de tenso com ultrassom ................................................................................ 27
2.5.2
Caracterizao de microestruturas com ultrassom ........................................................ 32
2.5.3
Uso de arrays e imagens de ultrassom para ensaios no destrutivos ............................. 34
2.5.4
Concluso da Reviso Bibliogrfica .............................................................................. 37
MODELAGEM TERICA ......................................................................................... 39
3.1
Distribuio de gros ................................................................................................... 40
3.2
Gerao de sinais ......................................................................................................... 44
3.3
Gerao de imagens ..................................................................................................... 52
MATERIAIS E MTODOS ........................................................................................ 55
4.1
Corpos de prova ........................................................................................................... 56
4.2
Sistemas de medio .................................................................................................... 61
4.2.1
Sistema de medio com ondas Lcr ............................................................................... 62
4.2.2
Sistema para gerao de imagens ultrassnicas (64 canais) .......................................... 69
4.2.3
Sistema para gerao de imagens ultrassnicas (128 canais) ........................................ 73
4.3
Procedimentos experimentais ....................................................................................... 74
4.3.1
Avaliao da influncia da temperatura no tempo de percurso da onda Lcr ................... 74
4.3.2
Avaliao da influncia do tamanho de gro no tempo de percurso da onda Lcr ............ 76
4.3.3
Avaliao da influncia da direo de laminao no tempo de percurso da onda L cr ..... 77
xxix
4.3.4
Avaliao da influncia da posio de medio no tempo de percurso da onda L cr ....... 78
4.3.5
Avaliao da influncia da tenso no tempo de percurso da onda Lcr ............................ 78
4.3.6
Avaliao da influncia da temperatura na intensidade do rudo nas imagens ultrassnicas

..................................................................................................................................... 79
4.3.7
Avaliao da influncia do tamanho de gro na intensidade do rudo nas imagens

ultrassnicas ................................................................................................................ 81
4.3.8
Avaliao da influncia da direo de laminao na intensidade do rudo nas imagens

ultrassnicas ................................................................................................................ 83
4.3.9
Avaliao da influncia da posio de medio na intensidade do rudo nas imagens

ultrassnicas ................................................................................................................ 84
4.3.10 Avaliao da influncia da tenso na intensidade do rudo nas imagens ultrassnicas .. 85

4.4
Processamento de imagens ultrassnicas ...................................................................... 86
RESULTADOS E DISCUSSES ................................................................................ 90
5.1
Influncia da temperatura no tempo de percurso da onda L cr ........................................ 90
5.2
Influncia da temperatura na intensidade do rudo nas imagens ultrassnicas ................ 92
5.3
Influncia do tamanho de gro no tempo de percurso da onda Lcr e intensidade do rudo

nas imagens ultrassnicas ........................................................................................... 101
5.4
Influncia da direo de laminao no tempo de percurso da onda L cr e intensidade do

rudo nas imagens ultrassnicas .................................................................................. 112
5.5
Influncia da posio de medio no tempo de percurso da onda L cr e intensidade do

rudo nas imagens ultrassnicas .................................................................................. 113
5.6
Influncia da tenso no tempo de percurso da onda Lcr e intensidade do rudo nas imagens
ultrassnicas ............................................................................................................... 115
5.7
Resumo dos resultados obtidos ................................................................................... 120
CONCLUSES E SUGESTES PARA PRXIMOS TRABALHOS ........................ 122
REFERNCIAS ..................................................................................................................... 127

APNDICE A Cdigo para gerao de coordenadas e tamanhos de gro ............................. 136
APNDICE B Relaes sinal-rudo obtidas nas peas tratadas termicamente ....................... 140
APNDICE C - Avaliao da variao da relao sinal-rudo em funo de diferentes
xxx
distribuies de gros .............................................................................................................. 142

APNDICE D Relaes sinal-rudo obtidas para ensaio de verificao da influncia da direo
de laminao no rudo de imagens ultrassnicas ...................................................................... 144
APNDICE E Relaes sinal-rudo obtidas para ensaio de verificao da influncia da posio
de medio no rudo de imagens ultrassnicas ......................................................................... 149
APNDICE F Relaes sinal-rudo obtidas para ensaio de verificao da influncia da tenso
no rudo de imagens ultrassnicas ........................................................................................... 157
xxxi
xxxii
1 INTRODUO
A manuteno corretiva de componentes mecnicos compe parte significativa dos custos

de operao nos mais diversos setores de engenharia. Nesse sentido, a demanda e exigncia por
robustez dos nveis de segurana em processos e servios cada vez mais alta. Mesmo quando a
possibilidade de acidentes por falhas estruturais no est relacionada a riscos humanos e
ambientais, todos os custos relacionados com manutenes corretivas fazem com que a
preveno seja quase sempre mais vantajosa. Partindo dessa premissa, o desenvolvimento de
tcnicas de inspeo capazes de avaliar a integridade estrutural de componentes mecnicos
contribui para a garantia de maior nvel de confiana com custos de operao reduzidos.
Inspees mais baratas significam principalmente versatilidade, rapidez e simplicidade de
operao. Apesar de desejvel, o desenvolvimento de tcnicas de inspees que aliem confiana e
baixo custo , na grande maioria dos casos, desafiadora.
Falhas estruturais em componentes mecnicos podem ter as mais diversas causas. Dentre as
principais esto as tenses mecnicas s quais pode estar sujeito um componente. Tenses acima
do limite de escoamento ou at mesmo de ruptura do material do qual feito o componente
levam a falhas estruturais. Mesmo tenses abaixo dos limites citados podem comprometer a
integridade estrutural do componente, pelo fenmeno de fadiga. Nesse caso, carregamentos
cclicos mesmo com valores de tenso muito abaixo do limite de escoamento do material
resultam em falhas aps certo nmero de ciclos. Alm da fadiga, em um material sujeito a
tenses em determinadas direes, pode ocorrer a propagao de micro trincas pr-existentes no
material e seu consequente crescimento a nveis comprometedores. Para evitar esse tipo de
fenmeno, muitos componentes necessitam de tratamentos especiais que geram tenses residuais
de compresso. Diante dessas situaes, torna-se importante o monitoramento regular do estado
de tenses em componentes crticos sujeitos a carregamentos.
A forma mais utilizada para estimar o estado de tenso de um material por meio do uso de
extensmetros (strain gages). Pela extensiometria, a variao de deformao do material
medida e, por meio dela, calculada a variao de tenso no material pelas equaes
constitutivas da elasticidade. Contudo, a tcnica apresenta duas desvantagens: a primeira deve-se
1
ao fato de que s possvel medir variaes de tenso e no valores absolutos e a segunda que
os extensmetros devem ser permanentemente fixados na estrutura na posio em que se deseja
ser feito o monitoramento. Tenses residuais, por exemplo, no podem ser obtidas de forma no
destrutiva somente com o uso de extensmetros. Quando no se conhece um estado de
deformao, ou tenso, de um material em um estado livre de carregamentos, como muitas
vezes o caso para componentes sob tenso residual, no possvel fazer esse tipo de avaliao.
Como alternativa, utiliza-se geralmente a tcnica de hole drilling que consiste basicamente em
realizar um pequeno furo no componente inspecionado e medir com extensmetros deformaes
ocasionadas pela a presena do furo. Como pode ser notado, o mtodo implica, para uma grande
parte de aplicaes, na inutilizao do componente devido ao processo de furao. A tcnica de
hole drilling, portanto, considerada como um mtodo destrutivo de medio de tenso.
Tcnicas consideradas no destrutivas de medio de tenso vm sendo propostas ao longo
do tempo e desenvolvidas em substituio s tcnicas destrutivas. Por meio da utilizao de tais
tcnicas, o material inspecionado no danificado e, em certos casos, no necessria nem
mesmo a remoo do componente em operao do local onde est instalado. Em termos de custo,
essa possibilidade de inspeo de forma no invasiva torna-se bastante interessante. Principais
exemplos de tcnicas de medio de tenso no destrutivas so: difrao de raios-x, difrao de
nutrons e ultrassom. Dentre as trs tcnicas, a baseada em ondas ultrassnicas talvez hoje a
mais promissora e vantajosa do ponto vista econmico. As tcnicas baseadas na difrao de raios
x e nutrons oferecem certo grau de risco operao por lidar com radiao. Outro empecilho
a utilizao em campo, em especial para a difrao de nutrons onde um reator de grande porte
faz-se necessrio. A profundidade superficial de penetrao dos raios-x e nutrons tambm pode
ser um problema em casos onde se deseja medir o estado de tenses abaixo da superfcie do
material.
As tcnicas baseadas em ondas ultrassnicas tm caractersticas interessantes. Os
equipamentos empregados no necessitam na maioria dos casos serem usados apenas em
laboratrios. Existem equipamentos portteis disponveis no mercado para a gerao e recepo
de ondas ultrassnicas que podem ser controlados por computadores portteis como laptops,
tablets e at mesmo smartphones. Alguns equipamentos permitem acesso remoto. Os nveis de
energia utilizados para gerar as ondas ultrassnicas para esse tipo de aplicao so relativamente
2
baixos e no oferecem grandes riscos ao operador da inspeo ou ao meio ambiente. Alm disso,
os custos envolvidos relacionados utilizao de ondas ultrassnicas para inspees tendem a ser
consideravelmente inferiores se comparados s outras tcnicas no destrutivas.
A avaliao da tenso por ondas ultrassnicas baseia-se principalmente na medio da
velocidade das ondas geradas no material inspecionado. O efeito que relaciona o estado de tenso
em um corpo com a velocidade de ondas elsticas emitidas nesse corpo conhecido como
acustoelstico. A teoria desenvolvida que descreve esse efeito fornece equaes que relacionam
tenso, velocidade de onda e propriedades elsticas do corpo como sua densidade e constantes
elsticas. Diferentes tipos de onda podem ser utilizados para avaliar tenses. Podem-se destacar
trs tcnicas principais baseadas no tipo de onda utilizada: birrefringncia acstica, ondas
Rayleigh e ondas longitudinais criticamente refratadas, ou ondas L cr. Na birrefringncia acstica,
ondas transversais so utilizadas e a tenso mdia na direo de profundidade do material pode
ser estimada. Com ondas Rayleigh, tenses na superfcie do material podem ser avaliadas, pois
esse tipo de onda se propaga na superfcie do corpo. Ondas Lcr, como seu prprio nome sugere,
so ondas longitudinais e se propagam prximas da superfcie, mas em uma profundidade que faz
com que elas no sejam afetadas por possveis irregularidades na superfcie do material. Outra
caracterstica interessante das ondas L cr, observada tanto por meio da teoria acustoelstica quanto
por experimentos (EGLE; BRAY, 1976), reside no fato de que a velocidade da onda longitudinal
mais sensvel variao de tenso quando comparada com a onda de cisalhamento. Por esse
motivo, a tcnica com ondas Lcr tende a apresentar maior sensibilidade a variaes de tenso que
a tcnica de birrefringncia acstica, por exemplo.
A variao da velocidade da onda ultrassnica viajando em um corpo elstico pode ter
outras causas alm da influncia do estado de tenso atuando no material. A temperatura tem
efeito substancial na velocidade de onda, por exemplo. Contudo, a relao entre temperatura e
velocidade de onda relativamente bem conhecida e estudada. A relao entre os dois parmetros
pode ser considerada linear para materiais como aos e ligas de alumnio e essa caracterstica
facilita possveis correes de valores de velocidade medidos, quando necessrio. A grande
dificuldade para a aplicao efetiva de tcnicas baseadas na acustoelasticidade para medio de
tenso est na influncia que variaes de ordem microestrutural podem exercer na velocidade de
ondas elsticas. Variaes no tamanho e forma de gros em metais, na textura e a presena de
3
outras no-uniformidades no material podem ter influncia significativa na velocidade da onda

ultrassnica utilizada para avaliar tenses (BUENOS, 2014). Tais desvios podem levar a erros de
avaliao do estado de tenso do material. Vale salientar que o efeito acustoelstico bastante
sutil. Como exemplo, uma variao de 7 m/s na velocidade de onda no ao corresponde
aproximadamente 100 MPa em variao de tenso (ANDRINO, 2007). Avaliar o efeito de
variaes na microestrutura do material na velocidade da onda ultrassnica mais complexo do
que avaliar o efeito da temperatura. Enquanto a medio de temperatura pode ser feita com um
simples termmetro, por exemplo, medies de tamanho de gro e textura geralmente requerem
avaliaes bem mais complexas, muitas vezes destrutivas e realizadas em laboratrio.
Ondas ultrassnicas, tambm podem ser utilizadas para caracterizar materiais de forma no
destrutiva. Neste caso, no s a variao da velocidade de onda ultrassnica pode ser utilizada
para a obteno de propriedades relativas estrutura do material, mas outros parmetros da onda
tambm, como a atenuao e o nvel do rudo retro espalhado (backscattered) de gro, ou
estrutural. O uso de tcnicas de avaliao da microestrutura do material atravs de ondas
ultrassnicas, combinadas com tcnicas de avaliao de tenso pode ser uma alternativa
interessante para compensar o efeito da microestrutura na velocidade de onda. A caracterizao
pelo nvel de rudo de gro apresenta algumas vantagens sobre as outras tcnicas citadas, sendo a
principal delas a possibilidade de avaliar variaes estruturais localizadas ao passo que a
velocidade de onda e o coeficiente de atenuao representam uma mdia sobre o caminho da
onda (WILLEMS; GOEBBELS, 1981). Contudo, pelas tcnicas no destrutivas atuais de
avaliao de tamanho e forma de gros pela medio do rudo estrutural, um grande nmero de
medies faz-se necessrio para supresso de rudos de natureza eltrica. Na maior parte dos
casos, as medies tambm so feitas em ambiente laboratorial utilizando tanques de imerso
para evitar variaes no acoplamento entre pea e transdutor durante as medies.
Transdutores multielementos, ou arrays, ultrassnicos so uma alternativa ao mtodo
ultrassnico tradicional utilizando transdutores monoelementos. As sondas de arrays
ultrassnicos so formadas por vrios elementos piezeltricos que podem funcionar de forma
independente de acordo com o nmero de canais da unidade de controle empregada, responsvel
pela emisso e recepo de sinais da sonda. Com o uso de arrays, mltiplas medies podem ser
realizadas em um curto intervalo de tempo para os padres de ensaios no destrutivos e sem a
4
necessidade de movimentao da sonda, ao contrrio do que acontece com a utilizao de

transdutores de elementos piezeltricos simples.
O uso de arrays permite ainda a formao de imagens do interior do material inspecionado
com a sonda esttica. Dentre a grande variedade de tcnicas de formao de imagens
ultrassnicas a partir de ensaios com arrays vale destacar a tcnica Total Focusing Method
(TFM). Para criar imagens pelo TFM, necessrio adquirir sinais referentes a todas as
combinaes para os elementos da sonda funcionando como emissores e receptores. Esse
processo de aquisio de sinais conhecido com Full Matrix Capture (FMC). No TFM cada
pixel da imagem gerada resultado da soma das amplitudes de todos os sinais adquiridos por
meio do FMC. A vantagem do emprego TFM/FMC reside no fato de que o somatrio de sinais
faz com que os rudos de natureza eltrica sejam substancialmente reduzidos (HOLMES et al.,
2005), enquanto o rudo de gro utilizado para caracterizao microestrutural do material
mantido no sinal.
1.1 Objetivos do trabalho
O objetivo deste trabalho verificar a viabilidade da utilizao de imagens ultrassnicas

para identificar as caractersticas microestruturais de tamanho e forma de gro que influenciam a
velocidade de propagao da onda longitudinal criticamente refratada (Lcr) usada para medio
de tenso. As imagens ultrassnicas foram obtidas pelo mtodo TFM/FMC em amostras de ao
ASTM A36 laminadas e em diferentes posies de medio com o array na amostra para avaliar
o efeito da laminao, ligada forma dos gros. Foram medidas tambm amostras de ao A36
tratadas termicamente para crescimento de gro austentico de diferentes tamanhos mdios.
Medidas tambm foram feitas do tempo de percurso da onda Lcr nessas amostras para verificar a
possibilidade de estabelecer uma relao entre rudo de gro em imagens ultrassnicas e
velocidade da onda Lcr. O rudo de gro nas imagens de TFM apresentado na forma de uma
relao calculada entre a intensidade mxima do eco de fundo na pea e a raiz do valor
quadrtico mdio do rudo para uma determinada regio no interior do material. Essa relao,
5
chamada de sinal-rudo no trabalho (SNR, de signal-to-noise ratio), tambm foi utilizada como
parmetro para comparar resultados obtidos experimentalmente e por meio de simulao de um
modelo sugerido para o estudo da influncia do tamanho de gro nas imagens de TFM. O modelo
proposto tem a finalidade de possibilitar estimar o SNR em funo da distribuio de gros no
material, se esta for previamente conhecida. Por fim, foi avaliada a influncia da tenso e da
temperatura no SNR das imagens de TFM. Verificando o grau de influncia dos fatores
microestruturais e da tenso no rudo de gro das imagens ultrassnicas, foi possvel avaliar a
viabilidade de utilizar esse parmetro para caracterizar a microestrutura em um nvel que
possibilite serem feitas correes na velocidade da onda ultrassnica para medio de tenso. Se
por exemplo, o SNR for apenas influenciado pelo tamanho ou a forma dos gros e no pela
tenso, as imagens podem ser utilizadas para fornecer informaes sobre microestrutura do
material. Se a relao entre microestrutura e velocidade da onda Lcr for conhecida, isso possibilita
possveis correes nos valores de velocidade medidos pelo de tempo de percurso da onda Lcr.
Este trabalho inovador por no ser conhecido at o momento nenhum estudo sobre a
relao da intensidade do rudo de gro em imagens ultrassnicas com a velocidade da onda Lcr
usada para medies de tenso em funo de variaes microestruturais. De fato, os estudos de
Dupond et al. (2011) e Shahjahan et al. (2014), por exemplo, esto relacionadas gerao de
imagens ultrassnicas de amostras de tamanho de gro conhecido, mas apenas para efeito de
comparao com resultados obtidos por um cdigo para simulao por elementos finitos
desenvolvido pelos autores. Panetta et al. (2014) estudaram o rudo de gro ultrassnico, mas
para propor especificamente uma tcnica para medio do tamanho de gro das amostras
inspecionadas. Entretanto, a tcnica proposta pelos autores aplica-se a medies laboratoriais
com amostra e transdutor posicionadas em um tanque de imerso, dificultando a aplicao da
tcnica em campo. Buenos (2014), por outro lado, estudou a influncia do tamanho de gro e
textura na velocidade da onda Lcr, com intuito de estabelecer uma relao entre os parmetros.
Conhecida essa relao, a velocidade de onda pode ser corrigida para medio de tenso desde
que detalhes da microestrutura do material sejam previamente conhecidos, o que em muitos
casos, no ocorre na prtica. Dessa forma, este trabalho est em consonncia com os estudos
atuais e apresenta uma contribuio para o estado atual do conhecimento.
O trabalho inicia-se com esta introduo, que apresenta o ordenamento lgico que permitiu
a proposio desta tese. No Captulo 2 apresentada a teoria relacionada principalmente
acustoelasticidade e uma reviso da literatura abordando trabalhos relevantes e atuais,
relacionados ao tema proposto na tese. No captulo seguinte, prope-se o modelo desenvolvido
para simular o efeito do tamanho de gro na intensidade do rudo nas imagens TFM. No Captulo
4 so descritos todos os procedimentos experimentais para avaliar a influncia da direo de
laminao, tamanho de gro, posio de medio, temperatura e tenso aplicada tanto no tempo
de percurso da onda Lcr quanto no SNR das imagens de TFM. Todos os resultados so
apresentados com as respectivas discusses no Captulo 5. No Captulo 6 feita a concluso do
trabalho com sugestes de trabalhos futuros relacionados ao tema proposto na Tese.
2 REVISO DA LITERATURA E ASPECTOS TERICOS
Os principais conceitos tericos sobre a teoria acustoelstica so apresentados neste

captulo, assim como os trabalhos mais relevantes e atuais sobre os temas abordados no presente
trabalho. Para apresentao da teoria acustoelstica, faz-se necessrio abordar primeiramente
alguns conceitos de propagao de ondas ultrassnicas e da teoria da elasticidade. Em
consonncia com os objetivos da tese, o prximo tpico abordado neste captulo versa sobre
arrays ultrassnicos, com a apresentao de conceitos sobre seu funcionamento e aplicaes.
Uma seo de reviso bibliogrfica foi includa ao final do captulo. A pesquisa feita foi
focada em artigos relevantes e atuais sobre os trs temas principais do trabalho: tcnicas de
medio de tenso com ondas ultrassnicas, caracterizao de materiais utilizando ultrassom e
tcnicas de gerao de imagens com ultrassom, aplicadas em ensaios no destrutivos. Nas
tcnicas de medies de tenso, os trabalhos com a utilizao da onda Lcr receberam maior
destaque tendo em vista que o tipo de onda escolhida para esse estudo. No estudo sobre a
utilizao de tcnicas ultrassnicas para caracterizar microestruturas abordada a relao entre a
intensidade do rudo em inspees ultrassnicas e caractersticas microestruturais dos materiais
avaliados. Concluindo, ser mostrado o desenvolvimento de tcnicas de imagens aplicadas na
avaliao no destrutiva de materiais, com nfase nos materiais metlicos, foco do trabalho.
2.1 Ondas ultrassnicas
O limite mximo de frequncia com que o ouvido humano consegue detectar ondas
acsticas de aproximadamente 20 kHz. Ondas acsticas com frequncia superior a partir dessa
frequncia so consideradas ondas ultrassnicas. Para aplicaes em ensaios no destrutivos,
entretanto, as frequncias raramente excedem 20 MHz (KUNDU, 2007), por razes prticas,
como as caractersticas dos materiais e a capacidade dos sistemas de transduo e aquisio de
sinais ultrassnicos.
8
Alm da frequncia, as ondas ultrassnicas tambm so caracterizadas pela forma como

elas se propagam no meio. Para meios slidos, os principais tipos de ondas usados em ensaios
no destrutivos so:
Longitudinais,
De cisalhamento,
Rayleigh,
Lamb,
Longitudinais Criticamente Refratadas (Lcr).
Ondas longitudinais ocorrem quando o movimento do meio ocorre na mesma direo de

propagao da onda. J para as ondas de cisalhamento, ou transversais, o meio se movimenta
perpendicularmente direo de propagao. Ondas de Rayleigh so ondas superficiais, ou seja,
se propagam na superfcie do slido, e apresentam movimento elptico combinando o movimento
longitudinal e o transversal. Ondas de Lamb so ondas guiadas que se propagam em chapas finas
e podem apresentar dois tipos de propagao principais, simtrico e antissimtrico. Na Figura 2.1
so apresentados desenhos esquemticos para esses quatro tipos de onda.
(a)
(b)
(c)
(d)
Figura 2.1. Representao grfica dos tipos mais comuns de ondas usadas em ensaios no
destrutivos: (a) longitudinais, (b) de cisalhamento, (c) Rayleigh, (d) Lamb simtrica (acima) e
assimtrica (abaixo). Seta azul representa a direo de propagao da onda e linhas pretas o
movimento das partculas.
Ondas Lcr so ondas longitudinais que se propagam at dois comprimentos de onda em

profundidade, aproximadamente, da superfcie (FRAGA, 2007). Por esse motivo e por se
propagarem paralelas superfcie, mas abaixo desta, so chamadas de sub-superficiais. Essa
caracterstica faz com que elas sejam menos susceptveis a possveis imperfeies superficiais do
material onde se propagam.
Por serem ondas refratadas em um ngulo crtico (1o), uma cunha utilizada para a gerao
das ondas Lcr. Essa cunha (ou sapata) geralmente fabricada de acrlico (PMMA) ou Rexolite e
acoplada a um transdutor de ondas ultrassnicas longitudinais. A geometria dessa sapata deve
permitir que a onda emitida pelo transdutor incida no ngulo crtico adequado em relao a
vertical. Esse ngulo definido pela lei de Snell (Equao 2.1), que est relacionada s
velocidades da onda longitudinal na sapata (csap) e no material inspecionado (cL), de forma que o
ngulo da onda refratada no material seja igual a 90 em relao ao eixo vertical. Na Figura 2.2
apresentado um esquema demonstrando a gerao de ondas L cr com representaes geomtricas
da sapata e transdutor. O mesmo tipo de arranjo utilizado para a recepo da onda Lcr.
c sap
cL
c sen -1
(2.1)
Trandutor
Sapata
Onda Lcr
Amostra
90
Figura 2.2. Desenho esquemtico da gerao da onda Lcr (PEREIRA JUNIOR, 2011).
10
O campo ultrassnico produzido por um transdutor pode ser dividido em duas regies: o
campo prximo e o campo distante, conforme pode ser visto na Figura 2.3 para um transdutor de
elemento piezeltrico circular. No campo prximo o feixe apresenta variaes de amplitude que
dificultam, por exemplo, a medio e a caracterizao de artefatos presentes nessa regio no
material inspecionado. No campo distante, a presso do feixe snico decresce gradativamente at
chegar a zero. O clculo do comprimento do campo prximo (Ncp) para um elemento piezeltrico
retangular dado pela seguinte equao (GINZEL, 2014):
kl f
N cp e e
4c
(2.2)
onde le o comprimento do elemento, f a frequncia, c a velocidade de onda no material e ke

uma constante definida pela razo entre o comprimento e largura do elemento (Tabela 2.1). Para
elementos circulares, ke igual a 1 e le substitudo pelo o dimetro do elemento.
Variaes de
amplitude
campo distante
Ncp
campo prximo
Figura 2.3. Representao do campo prximo e distante para um transdutor circular (OLYMPUS,
2010).
11
Tabela 2.1. Valor da constante ke em funo da razo entre a menor e a maior dimenso do
elemento retangular (OLYMPUS, 2010).
Razo menor/maior dimenso
Valor de ke
1,0
1,37
0,9
1,25
0,8
1,15
0,7
1,09
0,6
1,04
0,5
1,01
0,4
1,00
0,3 e menor
0,99
2.2 Elasticidade
Um corpo sujeito a um estado de tenses sofre deformaes em decorrncia de variaes

em sua dimenso e forma. Considerada a teoria da elasticidade clssica (tambm conhecida como
infinitesimal) e definindo ui com sendo o deslocamento que sofre o corpo na direo xi, pode-se
definir o tensor de deformao eij como (SADD, 2005):
1 u u j
eij i
2 x j xi
i, j 1, 2, 3.
(2.3)
O tensor de deformao definido na Equao 2.3 uma aproximao considerando

deslocamentos muito pequenos. No considerando essa aproximao, pode-se utilizar a teoria das
deformaes finitas elaborada por Murnaghan (1952). Nesse caso, o novo tensor de deformao
pode ser escrito como:
12
1 u u j u k u k
Eij i
2 x j xi xi x j
(2.4)
Vale notar na Equao 2.4 que para pequenos deslocamentos o termo uk xi u k x j

pode ser aproximado a zero e a equao se iguala a Equao 2.3 da elasticidade infinitesimal.
Aqui usada a conveno do somatrio de Einstein para o subscrito repetido k.
A lei de Hooke generalizada relaciona linearmente os tensores de tenso de deformao
para um meio considerado elstico e pode ser escrita como:
ij Cijkl ekl
i,j,k e l =1,2 e 3
(2.5)
onde Cijkl a matriz de rigidez do material, um tensor de quarta ordem que contm 81
componentes chamados de constantes elsticas do material. Considerando as simetrias dos
tensores de tenso e deformao, possvel realizar simplificaes que reduzem o nmero de
constantes para 36, permitindo que a notao possa ser reduzida para dois ndices, como pode ser
vista na lei de Hooke escrita na forma matricial como:
x C11
C
y 21
z C31

xy C 41
yz C51

zx C61
C12
C13
C14
C15
C 22
C 23 C 24
C 25
C32
C33
C34
C35
C 42
C 43 C 44
C 45
C52
C53
C54
C55
C62
C63 C64
C65
C16 e x
C 26 e y
C36 e z
C 46 2e xy
C56 2e yz
C66 2e zx
(2.6)
Um corpo elstico sob influncia de tenses mecnicas, alm de se deformar, armazena

energia. Essa energia chamada de energia de deformao. Assim, possvel tambm relacionar
os tensores de tenso e deformao por meio de uma funo de energia armazenada W(Eij), ou
energia de deformao, de acordo com a seguinte relao:
13
W
Eij
1
1
W E Cijkl Eij Ekl Cijklmn Eij Ekl Emn ...
2
6
ij
(2.7a)
(2.7b)
Na Equao 2.7a o nmero de componentes de matriz de rigidez do material pode ser

reduzido de 36 para 21, fazendo Cij = Cji (LAI et al., 1999). Vale notar que para obter a relao
linear entre tenso e deformao da Equao 2.5, s o primeiro termo da equao para energia de
deformao considerado na Equao 2.7b.
Para percepo do efeito acustoelstico, a relao linear entre tenso e deformao
apresentada na Equao 2.5 no suficiente. necessrio considerar pelo menos termos de
terceira ordem na funo de energia de deformao. Fazendo isso, a nova relao entre tenso e
deformao pode ser escrita como:
ij Cijkl Ekl Cijklmn Ekl Emn
(2.8)
As constantes elsticas do tensor de quarta ordem presentes nas Equaes 2.5 e 2.8 so
chamadas constantes elsticas de segunda ordem do material enquanto as do tensor de sexta
ordem Cijklmn constituem as constantes de terceira ordem do material. Apesar de conter 729
constantes de terceira ordem nesse tensor, so consideradas apenas 56 por simetria de
deformao (PAO; GAMER, 1985). Entretanto, se for considerado um material ortotrpico,
formado por cristais com simetria ortorrmbica, o nmero de constantes de terceira ordem reduzse para 20 e o de constantes de segunda ordem passa para 9. Esse o caso, por exemplo, de
metais laminados que apresentam propriedades elsticas distintas nas trs direes principais. No
caso dos materiais isotrpicos, so apenas trs constantes elsticas de terceira ordem
independentes e duas de segunda ordem.
14
2.3 Acustoelasticidade
De acordo com Pao et al. (1984), a equao de movimento para um meio pr-deformado
homogeneamente dado por:
Bijkl
2u x
uI
x j xl
Bijkl jl ik Cijkl Cmjkl
(2.9a)
u j
ui
u
u
Cimkl
Cijml k Cijkm l Cijklmn emn
xm
xm
xm
xm
(2.9b)
onde jl na expresso de Bijkl corresponde tenso esttica inicial qual o corpo est submetido,
ik o delta de Kronecker e a densidade do material no estado livre de tenso.
Seja uma onda plana descrita pela equao:
u A exp ik n x ct
(2.10)
onde A a amplitude da onda, k o nmero de onda, n o cosseno diretor da direo de

propagao e c a velocidade da onda.
Inserindo a equao de onda (Equao 2.10) na equao de movimento (Equao 2.9),
possvel obter as velocidades de onda em funo das constantes elsticas do material e das
deformaes pela resoluo da seguinte equao caracterstica:
Bijkl n j nl c 2 ik 0
(2.11)
Para um meio isotrpico, com eixos definidos pelos nmeros 1, 2 e 3, tm-se duas
constantes elsticas de segunda ordem independentes no tensor de rigidez, C11 e C12 e trs de
terceira ordem, C112, C661 e C663 (MUIR, 2009). Substituindo essas constantes no termo Bijkl e
considerando que as direes principais de propagao de onda e deformao sejam coincidentes,
obtm-se as seguintes equaes de velocidade de onda:
15
v11 2 C11 5C11 C112 4C661e11 C12 C112 e22 C12 C112 e33
(2.12a)
v12 2 1 2 C11 C12 2C11 C12 C661e11 C11 C663 e22 C12 C663 e33
(2.12b)
v13 2 1 2 C11 C12 2C11 C12 C661e11 C12 C663 e22 C11 C663 e33
(2.12c)
Nas Equaes 2.12, as ondas esto se propagando na direo 1 conforme indicado no

primeiro ndice do sobrescrito de v. O segundo ndice refere-se direo de polarizao da onda
(direo de movimento das partculas). Portanto, v11 a velocidade da onda longitudinal se
propagando na direo 1 e v12 e v13 so velocidades de ondas de cisalhamento que se propagam
na direo 1, mas esto polarizadas nas direes 2 e 3, respectivamente. e11 , e22 e e33 so as
deformaes nas direes principais.
Para materiais isotrpicos mais comum utilizar as constantes de Lam, e , para
representar as constantes elsticas de segunda ordem e as chamadas constantes de Murnaghan, l,
m e n, para as constantes elsticas de terceira ordem. A relao entre elas mostrada na Equao
2.12 enquanto as equaes de velocidade com as constantes de Lam e Murnaghan so mostradas
na Equao 2.13 (HUGHES; KELLY, 1953).
C11 2
(2.13a)
C12
(2.13b)
C112 2l
(2.13c)
C661 m
(2.13d)
C663 m n
(2.13e)
16
v11 2 2 2l 4 10 4me11
(2.14a)
v12 2 m 4e11 2e22 ne33
(2.14b)
1
2
1
v13 2 m 4e11 2e33 ne22
2
e11 e22 e33
(2.14c)
(2.14d)
Considerando uma tenso uniaxial sendo aplicada na direo principal 1, pode-se substituir
nas Equaes 2.14 e11 por e e22 e e33 por , onde a deformao no corpo na direo da
tenso e o coeficiente de Poisson do material. As novas equaes podem ser escritas como:
n
4 m1 2
2
v11 2 2 4 2 2 2m 2 1
v12 2 v13 2
2l
(2.15a)
(2.15b)
Percebe-se pelas Equaes 2.15 a relao linear entre deformao e o quadrado das
velocidades de onda. Calculando a variao relativa da velocidade em funo da deformao e
considerando pequena a variao da deformao, obtm-se a constante acustoelstica L, que para
o caso da onda longitudinal se propagando na mesma direo da tenso pode ser escrita como
(BRAY; STANLEY, 1997):
2m 1
dv11 v11
2
d
2
2l
L
11
(2.16)
Nota-se que a constante acustoelstica apenas funo das constantes elsticas de segunda
e terceira ordem. Para matrias ortotrpicos, a constante acustoelstica pode ser escrita como
(PEREIRA JUNIOR, 2011):
17
L111
5C11 C111 C12 C112 12 C13 C113 13

2C11
(2.17)
onde L111 a constante acustoelstica para a onda longitudinal se propagando na direo 1 e a

tenso uniaxial tambm atuando na direo 1; C11, C12 e C13 so as constantes elsticas de
segunda ordem; C111, C112 e C113 so as constantes de terceira ordem e 12 e 13 so os
coeficientes de Poisson.
Ao invs de relacionar a velocidade com a variao da deformao d, possvel relacionla diretamente variao de tenso aplicada d usando a mesma constante acustoelstica. Assim,
pode-se reescrever a Equao 2.16 como:
dv11 v11 dv11 v11

E dv11 v11
L11 d
d
d
L11
E
(2.18)
onde E o mdulo de elasticidade de material.

A variao de tenso pode ser ainda relacionada com a variao do tempo de percurso dt da
onda, se a distncia percorrida pela onda ultrassnica no se alterar. Nesse caso, a Equao 2.18
reescrita como sendo:
E dt t 0
L11
(2.19)
onde t0 tempo de percurso da onda no material sem tenso.

A Equao 2.19 mais comumente empregada para medio de tenso por ondas Lcr, pois a
obteno do tempo de percurso mais direta do que da velocidade e menos passvel de
imprecises de medio, j que a distncia percorrida fixa.
importante tambm ressaltar que outras constantes acustoelsticas podem ser obtidas para
outras direes de tenso em relao direo de propagao de onda e tambm ao tipo de onda.
Na tcnica da birrefringncia acstica, por exemplo, a tenso do material obtida pela diferena
entre as velocidades de ondas de cisalhamento se propagando na mesma direo, mas polarizadas
18
em direes ortogonais. Entretanto, valores experimentais para variaes relativas da velocidade

com a deformao mostram que a variao da velocidade da onda longitudinal paralela
aplicao da tenso mais significativa do que de outras ondas (EGLE; BRAY, 1976).
2.4 Arrays ultrassnicos
A sonda ultrassnica de elementos piezeltricos multielementos (array) composta por um

conjunto de elementos piezeltricos conectada a uma unidade de controle de mltiplos canais
responsvel pela emisso e recepo das ondas ultrassnicas. As formas mais comuns com que os
elementos piezeltricos podem ser arranjados na sonda de array so na forma linear (1-D),
matricial (2-D) e circular ou anular (Figura 2.4). Tradicionalmente, os elementos das sondas so
fabricados a partir de cermica piezeltrica, como por exemplo, o titanato zirconato de chumbo
(DRINKWATER; WILCOX, 2006). O nmero de elementos em uma sonda comercial pode
variar de 16 at 256 elementos.
(a)
(b)
(c)
Plano da imagem
...
...
Elementos
do array
Sonda de array
...
Elementos
do array
Elementos
do array
Sonda de array
Figura 2.4. Formas de arranjos para sondas de array (DRINKWATER; WILCOX, 2006). (a)
Array linear, (b) array matricial e (c) array anular.
Os elementos da sonda de array so ativados de forma sincronizada com intuito de gerar

imagens ou feixes ultrassnicos de caractersticas desejveis. Quando usados para essa ltima
19
finalidade, so geralmente chamados de phased arrays, pois pela sincronizao da excitao dos
elementos da sonda, as ondas ultrassnicas geradas podem apresentar diferenas em suas fases. A
superimposio das ondas geradas com diferenas de fase por cada elemento piezoelctrico
possibilita a gerao de feixes ultrassnicos com diferentes direes e profundidade de foco. Esse
efeito possvel graas s interferncias construtivas ou destrutivas entre as ondas emitidas com
fases distintas. Na Figura 2.5 pode-se visualizar o esquema de dois exemplos de feixes gerados
com diferenas de tempo de excitao dos elementos para uma sonda linear.
(a)
Atraso de
excitao (ns)
Elementos da sonda
=> Sonda de array
Frente da onda resultante
(b)
Atraso de
excitao (ns)
Elementos da sonda
=> Sonda de array
ngulo da onda resultante
Frente da onda resultante
Figura 2.5. Esquema de gerao de um feixe de incidncia (a) normal e (b) angular (OLYMPUS,
2007a).
20
Os principais parmetros dimensionais de um array linear so apresentados na Figura 2.6 e

so: largura total (lT); altura ou elevao do elemento (h); passo (pitch) ou distncia centro-acentro de cada elemento sucessivo (p); largura de um elemento individual (le); e espao entre os
elementos (e).
le
h
...
lT
Figura 2.6. Principais parmetros dimensionais da sonda de array linear.
O ajuste da direo do feixe snico pela diferena de tempo de excitao dos elementos
regido por leis de atraso (delay laws). Na Figura 2.7 est representado o sistema de coordenadas
para um array linear com foco no ponto F(x,z).
Sonda
x
z
F(x,z)
Amostra
Figura 2.7: Sistema de coordenadas com distncia com foco no ponto F (NAKAHATA; KONO,
2012).
21
A diferena de tempo de excitao n entre o elemento na posio central da sonda com o

elemento posicionado em xn dada pela equao:
n R 1
sen - x n R 2 cos 2
(2.20)
onde R a distncia entre o elemento central da sonda e ponto onde se deseja focalizar F, o
ngulo entre a linha central normal ao array e o ponto F(x,z) e c a velocidade da onda
ultrassnica no material inspecionado se esse for homogneo e isotrpico.
Devido limitao da distncia de foco R, a Equao 2.20 pode ser simplificada por:
n x n sen c
(2.21)
Na recepo, as diferenas nos tempos de excitao calculadas utilizando a Equao 2.20

podem ser utilizadas no processamento dos sinais referentes s ondas refletidas. Os atrasos
calculados respectivos a cada elemento, quando aplicados s formas de onda gravadas, podem ser
somados e obtm-se um sinal de sada nico e de maior amplitude (SCHMERR, 2015).
Com o array tambm possvel fazer, por exemplo, uma varredura da pea inspecionada
sem a necessidade de movimentar a sonda, ativando apenas um grupo de elementos de cada vez
(Figura 2.8). Essa caracterstica possibilita a criao de uma imagem de perfil (B-scan) do
material inspecionado a partir das formas de onda gravadas em funo do tempo (A-scan). Nessas
imagens, a amplitude da onda geralmente representada em escala de cor, o eixo vertical
representa o caminho percorrido pela onda na pea e o vertical a direo da varredura. Outros
tipos de imagens podem ser gerados com uma sonda de array como, por exemplo, o C-scan onde
feita uma imagem do topo da pea. Nesse caso existe uma varredura fsica em uma direo e
uma varredura eletrnica do array na outra direo do plano. Outro tipo de imagem o S-scan,
uma imagem setorial que pode ser gerada com arrays criada a partir de feixes direcionados em
sucessivos ngulos na pea usando um mesmo conjunto de elementos e distncia focal. Exemplos
de imagens de B-scan, C-scan e S-scan de peas com furos simulando defeitos so mostrados na
Figura 2.9.
22
Grupo de elementos ativos

Sonda de array =>
Direo de inspeo
Figura 2.8: Exemplo de varredura linear (OLYMPUS, 2007b).
(a)
(b)
(c)
Direo de varredura do
array
Direo de
penetrao
da onda
Direo de
varredura do array
Furos na pea
Furos
na pea
Direo de
varredura
manual ou
mecnica
Direo de varredura
Furos na pea
Figura 2.9. Exemplos de imagens geradas por array ultrassnico. (a) B-scan, (b) C-scan, (c) Sscan (OLYMPUS, 2010).
Outro mtodo para gerao de imagens ultrassnicas que comea a ser utilizado em
aplicaes de ensaios no destrutivos o Total Focusing Method (TFM) (DRINKWATER;
WILCOX, 2006). Para a gerao de imagens pelo TFM necessria a gravao das formas de
onda de todas as combinaes de pares de elementos transmissores e receptores de onda do
23
array. Para isso, o controlador do array deve ser configurado para emitir com um elemento da
sonda e gravar os sinais recebidos por todos os seus elementos. Aps a gravao dos sinais, deve
ser disparado o prximo elemento do array e novamente deve-se armazenar os sinais de todos os
elementos. Esse processo, que conhecido como Full Matrix Captue (FMC), exemplificado na
Figura 2.10.
b)
a)
Sonda
Sonda
...
...
Amostra
Amostra
c)
d)
Sonda
Sonda
...
...
Amostra
Amostra
Elemento transmissor e receptor
Elemento receptor
Onda emitida
Onda recebida
Figura 2.10. Sequncia de disparo dos elementos no FMC. a) 1 elemento emitindo; b) 2

elemento emitindo; c) penltimo elemento emitindo; d) ltimo elemento emitindo.
Pelo TFM, sendo o vetor posio de um pixel qualquer na imagem que se queira
gerar, e vetores que representam as posies de um elemento atuando como transmissor e
elemento receptor, respectivamente, a intensidade da imagem do pixel localizado em dada por
(WILCOX et al., 2007):
24
I r
r re re r
T
R
eT ,eR
c
eT 1 eR 1
(2.22)
onde heR ,eT t a amplitude da onda em funo do tempo captada pelo elemento (receptor)
quanto o elemento transmite a onda no instante t.
Nota-se pela Equao 2.22 que a intensidade de cada pixel na imagem gerada resultado
do somatrio das amplitudes de todas as formas de onda gravadas para as posies
correspondentes localizao do pixel na amostra. Nesse processo de sucessivas somas, reside a
principal vantagem do TFM que o de reduzir rudos eltricos de natureza randmica na imagem
gerada (HOLMES et al., 2005). Com isso, a sensitividade para deteco de defeitos menores
aumenta, e, para a aplicao deste trabalho, as imagens se mostram mais sensveis ao rudo de
gro com a reduo do rudo eltrico. Em um primeiro momento, como desvantagem, pode-se
apontar para o custo computacional de se gravar e processar N formas de onda, entretanto, esse
inconveniente vem sendo reduzido com o aumento constante das velocidades de processamento e
reduo de custos computacionais. Equipamentos portteis de inspeo capazes de realizar o
TFM em tempo real, por exemplo, j esto disponveis no mercado (M2M, 2015).
Na Figura 2.11 apresentado um desenho esquemtico representando a formao de
imagem pela combinao de mtodos FMC/TFM. No exemplo de imagem formada pelo TFM, na
Figura 2.11, a intensidade do pixel em uma posio r mostrada em uma escala colorida.
25
Formas de
onda
gravadas
Sonda
...
reT reR reR reR reR reR reR reR reR

rea do
TFM
rea do
TFM
Pixel em r
Imagem de TFM
Pixel em r
...
Amostra
Sonda
reR reR reR reR reR reR reR reR reT
rea do
TFM
Amostra
Pixel em r
Pixel em r
Figura 2.11. Desenho esquemtico representando a formao de imagem pelo os mtodos FMC e
TFM.
Em resumo, as principais vantagens da utilizao de arrays em relao a outros mtodos

convencionais de ultrassom so: rapidez na inspeo com o uso da varredura eletrnica ao invs
da tradicional varredura mecnica; o ajuste do foco eletronicamente permite o uso de apenas uma
sonda de array para inspees em diferentes profundidades; e a deflexo eletrnica permite que
os ngulos de incidncia do feixe snico possam ser variados com uso de apenas uma sonda
(POGUET et al., 2002).
26
2.5 Reviso bibliogrfica
Nesta seo so apresentados resultados de trabalhos considerados mais relevantes para o

tema desta tese. Aqui os trabalhos foram divididos em trs grupos: o primeiro voltado aos
trabalhos relacionados medio de tenso por tcnicas ultrassnicas, com especial ateno dada
aos trabalhos que utilizam ondas Lcr. No segundo grupo so apresentados resultados para
trabalhos que utilizam tcnicas ultrassnicas para obter caractersticas das microestruturas dos
materiais inspecionados ou que relacionem tais caractersticas com parmetros medidos. Por fim,
o enfoque dado a trabalhos relacionados utilizao de arrays ultrassnicos em ensaios no
destrutivos e tambm formao de imagens por ultrassom.
2.5.1 Medio de tenso com ultrassom
Uma parte substancial dos trabalhos que aplicam o efeito acustoelstico voltada a
medio de tenso residual em chapas soldadas. Andrino (2003), por exemplo, realizou medies
com ondas Lcr em chapas soldadas de ao API 5L X65 e API 5L X70 com o intuito de verificar a
distribuio de tenso residual em funo da distncia com o arco de solda. Os perfis de tenso
obtidos aplicando a tcnica de ondas Lcr foram comparados com os obtidos teoricamente. Os
resultados apresentarem boa concordncia, mostrando um aumento substancial na tenso de
trao na regio da solda e anulao da tenso com afastamento da regio da solda. Entretanto,
foram verificadas discrepncias de valores medidos e calculados nas vizinhanas do cordo de
solda.
Javadi e Najafabadi (2013) avaliaram a tenso residual em juntas soldadas dissimilares de
ao inoxidvel 304 em ao carbono A106, usando ondas Lcr geradas tanto com transdutores de
contato direto quanto com transdutores de imerso (ambos de frequncia de 2 MHz). Os
resultados so comparados com simulaes de elementos finitos e validados pelo mtodo
destrutivo de hole drilling. Os autores notaram que as maiores diferenas entre os mtodos
27
empregados ocorreram na zona afetada pelo calor da solda, aproximadamente 59 MPa. No foi
notada diferena nos resultados obtidos empregando os dois mtodos de imerso e contato para
gerao da onda Lcr propostos no trabalho.
Javadi et al. (2013) compararam resultados de medio de tenso residual em chapas de ao
austentico no inoxidvel, usando ondas Lcr com resultados de simulao por elementos finitos.
Com os resultados obtidos pelas medies de tempo de percurso da onda L cr, os autores
conseguiram formar um mapa de tenses em trs dimenses das chapas avaliadas. Quatro
frequncias de transdutores foram utilizadas: 1, 2, 4 e 5 MHz. O desvio mximo nos resultados
entre medio com ondas Lcr e mtodo dos elementos finitos foi de 44,72 MPa.
Joseph et al. (2014) avaliaram a influncia da variao do parmetro de energia de
soldagem na tenso residual em juntas de baixo carbono. Tambm foi utilizada pelos autores a
tcnica de ondas ultrassnicas Lcr para avaliar a tenso residual em peas com soldas feitas a arco
manual e eletrodo metlico. O estudo indicou menores valores de tenso residual para a utilizao
do parmetro de energia de soldagem marginalmente abaixo do valor timo previamente
calculado se comparado com as amostras onde foram utilizados os parmetros timos e acima do
valor timo de energia. As tenses mximas estimadas para os parmetros timos, marginalmente
abaixo e acima do valor timo de energia de soldagem, foram 237, 214 e 283 MPa,
respectivamente.
Javadi et al. (2014) usaram o mtodo combinado de ondas Lcr e elementos finitos j citado
para a avaliar o estado de tenses residuais resultantes do processo de soldagem em um vaso de
presso. Usando transdutores de diferentes frequncias (1, 2, 4 e 5 MHz), foi possvel avaliar
tanto a tenso residual na direo axial quanto radial do vaso. Os resultados so comparados com
o mtodo de hole drilling e mostraram a diferena esperada existente entre as tenses nas
direes radial e axial. Os autores tambm consideraram como satisfatria a concordncia entre
as medies com ondas Lcr e elementos finitos (< 40 MPa). Entretanto, foi notado que a
concordncia piora para maiores frequncias de transdutores. Como limitaes, os autores
apontaram para o fato de que a tenso medida pela onda Lcr uma tenso mdia para a
profundidade de penetrao da onda, que definida pela frequncia do transdutor. Com isso, a
determinao da tenso em uma profundidade especifica no possvel pelo mtodo proposto.
28
Javadi et al. (2015) tambm investigaram o efeito da utilizao de braadeiras durante o

processo de soldagem na tenso residual. A tenso residual sub superficial em chapas de ao
304L inoxidvel resultado do processo de soldagem foi medida com a tcnica com ondas Lcr e o
resultado comparado com simulaes utilizando elementos finitos. Os autores usaram
transdutores de quatro frequncias diferentes (1, 2, 4 e 5 MHz) para mapear a tenso residual em
diferentes profundidades. Nos resultados, os autores notaram aumento na tenso residual nas
peas presas tanto para medies com ondas Lcr, simulao por elementos finitos e pelo mtodo
hole drilling usado para validao dos resultados. A diferena entre os resultados da medio e os
simulados no excedeu 20 MPa.
Uzum e Bilge (2015) estudaram o efeito da quantidade de carbono na tenso residual de
solda em amostras de ultra baixo, baixo e mdio ao carbono pela medio da velocidade da
onda ultrassnica. No trabalho, os autores utilizam a tcnica de imerso com um transdutor de 10
MHz de ondas longitudinais. Os resultados mostraram que o teor de carbono tem baixa influncia
nos perfis de tenso obtidos pela medio da velocidade da onda ultrassnica em diversos pontos
nas amostras. Entretanto, os autores notaram variao nos valores de constante acustoelstica
obtidos para os trs tipos de amostras utilizadas.
Existem tambm trabalhos de pesquisas relacionados medio de tenso por ultrassom em
dutos para transporte de leo e gs. Andrino (2007) realizou medies de tenses nas direes
axiais e radiais com ondas Lcr em um duto feito com ao API 5L X65. Para validar os resultados
medidos foram fixados extensmetros no duto para medir a deformao e permitir o clculo de
tenso medida que uma bomba hidrulica era usada para pressurizar o interior do duto. Apesar
da concordncia entre as medies com ondas L cr e extensmetros, o desvio padro encontrado
nas medies com ondas Lcr no estado livre de tenso foi de aproximadamente 25 MPa.
Utilizando o mesmo duto como corpo de prova, Santos (2013) desenvolveu um dispositivo
automtico de medio de tenso por ondas Lcr para movimentao ao redor do duto com
melhora significativa dos resultados (desvio padro de 13 MPa no estado livre de tenso).
Rodas ferrovirias tambm podem ser inspecionadas por ultrassom para avaliao do
estado de tenso. Minicucci (2003) avaliou as tenses residuais de compresso em aros de rodas
ferrovirias com ondas Lcr. Essa tenso ocasionada pelo tratamento trmico ao qual so
submetidas s rodas. Os valores estimados de tenso para o aro interno das rodas foi de -276 MPa
29
pela tcnica por ondas Lcr, enquanto que por simulao por elementos finitos obteve-se o valor de
-300 MPa. Szelazek (2015) avaliou a tenso residual radial em aro de rodas ferrovirias
utilizando a tcnica de birrefringncia acstica e a tcnica com ondas Lcr (referidas pelo autor
como ondas sub superficiais) para rodas fundidas e para rodas forjadas. Os resultados mostraram
que para as rodas forjadas os valores de tenso estimados pela birrefringncia foram coerentes
com que era esperado, entretanto o mesmo no ocorreu com as rodas fundidas onde a anisotropia
devido textura do material mais acentuada. Para esse caso a medio com ondas Lcr
apresentou resultados com menores variaes, sendo + 20 MPa para ondas Lcr e + 60 MPa pela
tcnica da birrefringncia.
A aplicao da acustoelasticidade no se restringe somente a metais. Hasegawa et al.
(2012), por exemplo, estudaram os efeitos da acustoelasticidade em amostras retiradas de
diferentes profundidades do tronco de cedro japons. Aplicando tenso nas amostras, os autores
mediram as constantes acustoelsticas do material para ondas de cisalhamento e longitudinais se
propagando perpendicularmente direo de aplicao de tenso. Transdutores de frequncia
central de 500 kHz foram utilizados tanto para os ensaios com ondas cisalhantes como para ondas
longitudinais. Os autores notaram diferenas nos valores medidos para os resultados das
constantes acustoelsticas para as amostras retiradas da parte mais interna (cerne) e da parte mais
externa (alburno) dos troncos. A razo entre as constantes acustoelsticas do cerne para o alburno
encontrada variou de 1,4 a 1,7.
Pesquisas com concreto tambm so conduzidas para avaliao do estado de tenses. Como
exemplo, Lillamand et al. (2010) verificaram o efeito acustoelstico em amostras de concreto sob
aplicao de tenso de compresso. Os autores mediram a variao da velocidade para ondas
longitudinais e de cisalhamento geradas usando transdutores com frequncia central de 500 kHz.
Foram medidas as velocidades de onda se propagando tanto na direo de aplicao de tenso no
material quanto na direo perpendicular. Como j observado para metais, a maior variao de
velocidade de onda em funo da tenso ocorreu para a onda longitudinal se propagando na
direo de aplicao de tenso. O valor da constante acustoelstica para onda longitudinal se
propagando na direo da tenso foi mais de 6 vezes maior do que o valor de constante para a
onda se propagando na direo perpendicular.
30
Santos et al. (2014) estudaram o efeito acustoelstico em amostras de material compsito

com fibras de carbono unidirecionais em matriz epxi. Os autores utilizaram a tcnica de ondas
Lcr para avaliar o efeito acustoelstico com a onda se propagando na direo de aplicao de
tenso para fibras nas direes de 0, 45 e 90. Verificou-se que o tempo de percurso da onda Lcr
para amostras com fibras a 45 em relao direo de propagao de onda no apresentou
variao significativa quando da aplicao de tenso. Para 90 graus, foi verificada uma ligeira
variao de aumento do tempo de percurso enquanto que para 0 uma variao muito mais
significativa foi verificada (10.000 vezes maior) e com reduo do tempo de percurso com
aumento da tenso. Obviamente, a resistncia do material em direes no alinhadas com as
fibras muito menor, limitando a tenso aplicada nessas direes.
Estudos sobre a influncia dos efeitos da microestrutura do material na velocidade da onda
ultrassnica so importantes para tentar isolar esses efeitos do efeito acustoelstico. Nesse
sentido, Buenos (2014) estudou os efeitos do tamanho mdio de gro e textura na velocidade da
onda Lcr no ao ASTM A36. Para o tamanho de gro, o autor realizou tratamentos trmicos com
diferentes temperaturas com intuito de criar amostras com gros austenticos de diferentes
dimetros mdios. Observou-se uma reduo na diferena entre as velocidades de onda medidas
antes e depois do tratamento para amostras com gros maiores. O autor percebeu tambm a
relao entre a velocidade de propagao com a direo de laminao, com a velocidade sendo
menor na direo de laminao e maior na direo transversal laminao. Essa diferena
encontrada, em torno de 120 ns para o tempo de percurso, equivaleria a 600 MPa em termos de
medio de tenso. Essa diferena exemplifica a necessidade de se conhecer aspectos da
microestrutura e processo de fabricao do material sendo inspecionado para medies de tenso
pelo efeito acustoelstico. Quanto textura, no foi possvel estabelecer relao entre a
velocidade de onda e os tipos de texturas encontradas por ensaio de raios-X.
Ao invs de utilizar a variao da velocidade de onda para realizar medies de tenso,
Kube et al. (2012) props um novo mtodo que relaciona tenso com o espalhamento
(scattering) ultrassnico. Os autores apresentam o conceito do coeficiente de espalhamento
difuso, um parmetro dependente do tempo e relacionado tanto s propriedades elsticas como
ao estado de tenso do material. Os autores verificaram que, com o corpo sob tenso, o pico da
funo do coeficiente de espalhamento difuso em funo do tempo decai. Aplicando sucessivos
31
valores de tenso em uma amostra de ao, os autores mediram os sinais retro espalhados pela
estrutura de gros da amostra com um transdutor de 10 MHz, em um tanque de imerso. Cada
sinal resulta de 1000 medies em diferentes posies em uma rea de 10x10 mm na amostra.
Calculando o coeficiente de espalhamento difuso, os autores verificaram uma tendncia de queda
em funo da tenso aplicada, confirmando o modelo terico apresentado. Entretanto, o desvio
entre o modelo e o terico foi relativamente alto, com os autores admitindo a necessidade de
melhorias na tcnica para a sua efetiva aplicao.
2.5.2 Caracterizao de microestruturas com ultrassom
Algumas pesquisas de maior relevncia sobre a avaliao por ondas ultrassnicas da

microestrutura de componentes mecnicos so apresentadas nesta seo. Em especial, so
abordadas tcnicas que visam caracterizar tamanho e forma de gros de materiais metlicos. O
tamanho mdio de gro em componentes metlicos pode ser relacionado com a velocidade,
atenuao e retro espalhamento (backscattering) de ondas ultrassnicas. De acordo com Willems
e Goebbels (1981), a ltima tcnica, que relaciona a intensidade do rudo de gro retro espalhado
com o tamanho de gro da estrutura, apresenta algumas vantagens se comparada com as outras
tcnicas citadas. Como exemplo, ela pode ser utilizada na inspeo de componentes com
geometria complexa ou onde o acoplamento entre transdutor e material no perfeito.
A relao entre rudo de gro ultrassnico e tamanho de gro tambm importante para a
predio de rudo em sinais representando ondas ultrassnicas. O rudo de gro em muitos casos
influencia fortemente a relao sinal rudo e limita a deteco de defeitos. Margetan et al. (1994)
e Yalda et al. (1996) usaram um modelo para prever o rudo de gro retro espalhado em
inspees utilizando a tcnica de imerso. Eles tambm obtiveram o parmetro chamado de
figura de mrito (Figure-of-Merit), que caracteriza a contribuio da microestrutura para o
rudo de gro de materiais com espalhamento fraco (weak scattering). Para testar o modelo, os
autores usaram um mtodo de Monte Carlo para criar um conjunto de gros com posio,
orientao cristalogrfica e tamanho de cada gro definidos aleatoriamente em um volume e
32
densidade de gros pr-estabelecida. A amplitude de espalhamento de cada gro calculada

baseada na aproximao de Born (GUBERNATIS et al., 1977). Para um dado sinal de referncia,
o componente espectral das ondas espalhadas para cada gro foi obtido. Os ecos para todos os
gros so somados e convertidos para o domnio do tempo, resultando em um sinal de rudo
sinttico. Repetindo o processo para vrios conjuntos de gros, os autores obtiveram a figura de
mrito sinttica para ser comparada com dados experimentais utilizando a tcnica de pulso eco
em imerso. Vale ressaltar que esses modelos so aplicveis para microestruturas policristalinas
onde efeitos de espalhamento mltiplos so negligenciveis.
Usando o mtodo de medio de sinais de rudo retro espalhado em interfaces lquidoslido desenvolvido por Thompson e Gray (1983), Panetta et al. (2014) desenvolveram uma
ferramenta automtica para medir tamanho de gro em amostras imersas. O sistema foi testado
em ligas baseadas em nquel e em alguns casos foi possvel fazer a distino de microestruturas
com uma diferena de 2 m em dimetro de gro para tamanhos de gro variando entre 10 e 40
m. Pelo sistema desenvolvido pelos os autores, foi possvel tambm criar um mapa de tamanho
de gro de um disco fabricado com dois tipos de microestruturas, cada uma com tamanhos de
gros diferentes. Na imagem gerada apresentada no trabalho, claramente notada a diferena
entre as microestruturas.
O fenmeno de espalhamento mltiplo tambm foi considerado em alguns estudos como,
por exemplo, o de Kruger et al. (2004), que usaram o espectro de sinais retro espalhados para
medir o tamanho de partculas no regime de transio entre o espalhamento simples e mltiplo
em ferro fundido. No trabalho, os autores mediram partculas de grafite precipitadas em uma
matriz formada por ferrita e perlita, por ultrassom e metalografia. O modelo proposto pelos
autores relaciona a frequncia de mxima amplitude do sinal retro espalhado com o dimetro das
partculas espalhadoras. Os resultados mostraram boa correlao quando a concentrao das
partculas era conhecida com preciso.
Mais recentemente, Li et al. (2014) apresentaram um modelo mais complexo para
relacionar a intensidade do retro espalhamento ultrassnico no apenas com o tamanho de gro,
mas tambm com a forma dos gros e textura macroscpica para um meio policristalino. Uma
simulao numrica foi feita do modelo para obter a razo da amplitude de retro espelhamento
33
entre direes ortogonais. Os resultados foram comparados com resultados experimentais obtidos
da literatura para alumnio laminado e foi alcanada razovel concordncia.
Modelos baseados em mtodos de elementos finitos foram usados por Dupond et al. (2011)
para relacionar o rudo de espalhamento e a microestrutura de ligas de nquel em amostras com
diferentes tamanhos de gro. O mesmo modelo foi aperfeioado e usado por Shahjahan et al.
(2014) para reproduzir o rudo de gro devido a espalhamentos mltiplos em imagens geradas por
arrays ultrassnicos. Os autores notaram evidncias de espalhamento mltiplo em amostras da
liga Incomel600 pela observao do aumento da intensidade do sinal retro espalhado na direo
de emisso da onda ultrassnica devido ao efeito chamado de retro espalhamento coerente. Em
resumo, esse fenmeno demonstrado por um aumento em dobro na intensidade mdia de retro
espalhamento do sinal na direo de emisso. Para o caminho da onda comeando em um
elemento do array e alcanando no mnimo dois espalhadores em sequncia antes de ser recebido
pelo mesmo elemento no array, existe um caminho reverso onde os espalhadores so alcanados
pela onda na ordem reversa e com isso, as ondas refletidas permanecem em fase e sua intensidade
duplicada.
2.5.3 Uso de arrays e imagens de ultrassom para ensaios no destrutivos
Arrays tiveram suas primeiras pesquisas e aplicaes na rea mdica entre o final da dcada
de 60 e incio da dcada de 80 (SOMER, 1968; VON RAMM; THURSTONE, 1976; VON
RAMM; SMITH, 1983). Durante a dcada de 80, foram iniciados estudos para a utilizao de
phased arrays para ensaios no destrutivos voltados principalmente para a indstria nuclear, com
a finalidade de detectar e dimensionar defeitos (UCHIDA et al., 1984; ERHARD et al., 1986). O
desenvolvimento de novas tecnologias de micro usinagem de elementos piezocompstios e a
reduo dos custos de componentes eletrnicos necessrios para aquisio de dados e controle
desse tipo de array possibilitou o aumento do nmero de aplicaes da tecnologia em ensaios no
destrutivos (MCNAB; CAMPBELL, 1987; SMITH, 1989). Atualmente, encontram-se no
34
mercado diversos sistemas de phased array portteis e normas foram criadas para a utilizao
desses novos sistemas (ASME, 2008; ASME, 2009).
Pesquisas sobre phased array referem-se principalmente inspeo em materiais
compsitos (LI et al., 2013) e concreto (KRAUSE et al., 2001); ao desenvolvimento de novos
materiais e sondas, como por exemplo, arrays flexveis (POWELL; HAYWARD, 1996);
gerao e deteco de ondas guiadas/Lamb (YANEZ et al., 2008; WILCOX, 2003); ao
modelamento e simulao de elementos do array visando obter melhoria de desempenho de
inspeo (DUXBURY et al., 2012; NAKAHATA; KONO, 2012); e medio de deformaes
internas (BOWLER et al., 2011). Para esta ltima aplicao, vale destacar que os autores
utilizaram um array ultrassnico para coletar formas de onda a partir de reflexes de rudo de
gro em uma estrutura metlica. A partir das formas de onda coletadas, uma imagem gerada
utilizando o TFM. Aplicando tenso nas amostras e obtendo imagens de TFM para estados de
tenso diferentes, os autores conseguiram estimar a deformao no interior do material
comparando as imagens. Nelas, os autores identificaram manchas (speckles) que mudavam de
posio com a aplicao da tenso. Pelo deslocamento das manchas foi possvel estimar a
deformao dentro do material. Entretanto, como para a obteno de imagens de TFM
necessrio conhecer a velocidade da onda ultrassnica no material (Equao 2.22), os autores
precisaram compensar o efeito acustoelstico que afeta a velocidade da onda emitida pelos
elementos do array. Essa compensao consistiu em variar a velocidade de onda usada para obter
as imagens de TFM em funo da tenso aplicada. Se fosse usada uma velocidade constante, a
posio das manchas nas imagens no seria correta, resultando em erros na estimativa da
deformao interna. Deve-se salientar que, por esse mtodo, necessita-se a obteno de duas
imagens de TFM em dois estados diferentes de tenso para ser possvel a medio dos
deslocamentos e o clculo da deformao causada por essa diferena de tenso.
O desenvolvimento e a aplicao em ensaios no destrutivos de imagens formadas pelo
TFM tm sido bastante significativos nos ltimos anos. Trabalhos do grupo de pesquisa da
Universidade de Bristol, no Reino Unido, tm se destacado e alguns de seus trabalhos mais
relevantes sero apresentados a seguir, devido relao entre o grupo de pesquisa da Unicamp e
dessa Universidade. Holmes et al. (2005) compararam a relao sinal rudo de imagens de
amostras com defeitos pontuais gerados por B-scan e TFM. Foram utilizadas tanto formas de
35
onda obtidas por meio de simulao como por experimento com sinais provenientes de ensaio
usando um bloco de alumnio com um entalhe representando um defeito. A relao sinal rudo
para a imagem de TFM foi maior se comparada tcnica de B-scan (42,8 contra 36,2 dB).
Wilcox et al. (2007) desenvolveram algoritmos acoplados ao TFM para a caracterizao de
defeitos com dimenses menores que o comprimento de onda. Em um bloco de alumnio, foram
produzidas ranhuras simulando defeitos com dimenso de aproximadamente 1 mm e com
diferentes ngulos de inclinao em relao ao feixe snico gerado pelo array. Os algoritmos
foram baseados em funes vetoriais de posio que descrevem a orientao e amplitude da onda
refletida. O erro mximo encontrado para definio da orientao dos defeitos foi de
aproximadamente 5 e as ranhuras puderam ser distinguidas de furos de dimenses prximas nas
imagens de TFM.
Zhang et al. (2010) propuseram um novo algoritmo de gerao de imagens, o multi-mode
total focusing method, que consiste em utilizar a combinao de ondas geradas pela converso
de modos devido a reflexes que ocorrem dentro do material. Os pesquisadores utilizaram o
conceito de matriz de coeficientes de espalhamento para a caracterizao de defeitos. Este
conceito descreve o sinal espalhado por um defeito em funo dos ngulos da onda incidente e da
onda espalhada. Alm de ser possvel obter essa matriz analiticamente, ela tambm pode ser
obtida por meio de simulao numrica com elementos finitos. O algoritmo de psprocessamento proposto combina matrizes de coeficientes de espalhamento que modelam
interaes entre onda e defeito para um meio de mltiplas camadas. Nesse meio, tanto ondas
longitudinais quanto de cisalhamento esto presentes, assim como reflexes de onda pelas
camadas. Como experimento, utilizando o algoritmo proposto foram geradas imagens de ranhuras
criadas em um bloco de alumnio. As imagens geradas experimentalmente foram comparadas
com imagens geradas por meio de simulao com elementos finitos e em ambos os casos foi
possvel visualizar as ranhuras. As diferenas nas relaes de amplitude entre o sinal relativo aos
defeitos e o sinal de fundo da pea variou entre 1 e 10 dB para as imagens experimentais e
simuladas.
Wilcox (2011) analisou o rudo em imagens ultrassnicas obtidas pelo TFM utilizando
dados experimentais para um bloco de cobre, material caracterizado pelo alto nvel de rudo
estrutural. O autor desenvolveu no artigo um modelo que relaciona a razo sinal rudo (signal36
to-noise ratio ou SNR) e a funo que descreve a imagem de um defeito pontual (point spread
function). No modelo foi considerado o espalhamento simples (single scattering). Usando um
corpo de prova feito de cobre com um furo vazado, o autor mediu o SNR entre o sinal
caracterstico do refletor e o rudo na imagem e verificou como esse SNR medido e obtido pelo
modelo proposto se comporta em funo da frequncia, na faixa de 1 a 2,5 MHz. Verificou ainda
que o SNR experimental e do modelo se comportaram de forma similar, com ambos aumentando
em funo da frequncia at aproximadamente 1,7 MHz. A partir dessa frequncia, entretanto, o
SNR experimental comeou a cair enquanto o SNR do modelo continuou a crescer. O autor
sugeriu que a partir da frequncia citada o fenmeno de espalhamento mltiplo seja dominante e
o modelo baseado no espalhamento simples no seja mais apropriado.
Zhang et al. (2013) compararam a tcnica de TFM com outras duas tcnicas de formao
de imagens ultrassnicas: phase-coherent imaging (PCI) e spatial compouding imaging (SCI).
No PCI, a imagem formada a partir das formas de onda adquiridas pelo mtodo FMC e a
intensidade da imagem em cada pixel multiplicada por uma funo de ponderao. Essa funo
obtida a partir de informaes do refletor e tem a finalidade de atenuar os valores de intensidade
da imagem associados ao rudo de gro. Pelo SCI, a imagem final formada pela superposio
de vrias outras imagens obtidas com uso de diferentes grupos de elementos do array. O
desempenho dos trs mtodos foi avaliado com o uso de amostras de materiais com diferentes
nveis de rudo de gro (bronze, ao, alumnio e cobre) e tipos de defeito (trinca vertical, trinca
inclinada e furo circular). Em geral, o TFM se mostrou o mtodo mais robusto em termos de
resoluo de imagem, relao sinal-rudo e reduo da distoro das representaes dos defeitos
nas imagens.
2.5.4 Concluso da Reviso Bibliogrfica
Concluindo a reviso bibliogrfica, nota-se pelos trabalhos apresentados que apesar do

avano recente das pesquisas relacionadas ao desenvolvimento da tcnica de medio de tenso
com ondas Lcr, verificam-se variaes e desvios significativos nos resultados obtidos com a
37
tcnica. Tais desvios so muitas vezes relacionados s variaes na microestrutura do material

inspecionado. Por outro lado, as tcnicas atuais de caracterizao de materiais por meio de ondas
ultrassnicas, que poderiam ser utilizadas em conjunto com a tcnica de ondas L cr, muitas vezes
no apresentam flexibilidade para serem utilizadas em campo, onde a inspeo do estado de
tenses se mostra mais necessria. Nesse sentindo, arrays ultrassnicos podem ser utilizados
como forma de contornar o principal empecilho para a utilizao das tcnicas ultrassnicas de
caracterizao que a necessidade da realizao de sucessivas medies na amostra
inspecionada. O desenvolvimento de tcnicas de obteno de imagens ultrassnicas utilizando
arrays, em especial a tcnica de TFM, permite a reduo de rudos de outra natureza que no o
estrutural, ou de gro, relacionado microestrutura do material. Deste modo, este trabalho est
inserido no mbito da pesquisa atual em ensaios no destrutivos e tem o intuito de apresentar uma
proposta inovadora para solucionar um problema real.
38
3 MODELAGEM TERICA
Neste captulo apresentado um modelo matemtico para obter sinais representando o

rudo de gro a partir de uma distribuio de gros do material estudado, de propriedades da
amostra inspecionada e de caractersticas da sonda de array utilizada. Tendo todos os sinais
previstos pelo Full Matrix Capture (FMC), possvel gerar imagens pelo Total Focusing Method
(TFM) utilizando a Equao 2.22 e, a partir das imagens, calcular a relao sinal-rudo (SNR).
Conforme apontado na literatura, o tamanho de gro de um material tem influncia
considervel na velocidade da onda ultrassnica. Como se espera que a intensidade do rudo de
gro tenha relao direta com o tamanho de gro, tal relao seria refletida no SNR obtido das
amostras.
O modelo apresentado derivado de modelos previamente desenvolvidos para localizao
e caracterizao de defeitos em imagens de TFM. Para esse trabalho, cada gro considerado um
espalhador (scatterer) da onda ultrassnica incidente a partir dos elementos piezeltricos do
array (sonda). No desenvolvimento do modelo, primeiramente apresentado o detalhamento
sobre a distribuio dos espalhadores considerada; em seguida explicada a gerao dos sinais
retro espelhados (backscattered) pelos gros e, por fim, a forma de gerao das imagens
ultrassnicas. Todo o modelo foi desenvolvido no software MATLAB.
Vale notar que a utilidade do modelo para prever a intensidade de rudo em imagens
ultrassnicas em funo do tamanho de gro da microestrutura do material pode ir alm do
escopo deste trabalho. O modelo pode ser utilizado, por exemplo, para prpria medio de
tamanho de gro ou servir de base para o desenvolvimento de tcnicas de filtragem de sinais para
remoo do rudo de gro. Em aplicaes de deteco de defeitos, a intensidade do rudo de gro
no sinal pode muitas vezes encobrir o eco do defeito. Na Figura 3.1 apresentado um
fluxograma representando o modelo que apresentado neste Captulo.
39
INCIO
TAMANHO DE
GRO (MDIA E
DESVIO PADRO)
DISTRIBUIO
DOS GROS
COORDENADAS
DA REGIO DOS
GRO
PROPRIEDADES
DO MATERIAL
GERAO DOS
SINAIS
PROPRIEDADES
DO ARRAY
GERAO DAS
IMAGENS DE TFM
CLCULO DO SNR
FIM
Figura 3.1. Fluxograma do modelo para obteno do SNR de imagens de TFM.
3.1 Distribuio de gros
O nmero de gros usados no modelo para a simulao foi baseado (a) no prvio
estabelecimento de uma regio de interesse (RDI), bidimensional, no interior da amostra, e (b) no
dimetro dos gros, considerando-os como crculos no modelo. O dimetro dos gros definido
com base em dados das amostras reais que sero utilizadas na parte experimental do trabalho. Os
detalhes sobre as amostras sero apresentados no Captulo 4. Mais especificamente, os dados das
amostras fsicas utilizados so, alm de suas dimenses principais, o dimetro mdio dos gros e
o desvio padro obtido durante sua medida. Como a alocao dos crculos representando os gros
de diferentes dimetros de forma a ocupar toda uma rea pr-definida no um problema trivial,
foi escrito um algoritmo especialmente para essa finalidade. O algoritmo escrito usando o
software MATLAB apresentado no Apndice A. Considerando z e x os eixos que definem o
plano onde se localizam os gros, os passos do algoritmo desenvolvido so:
40
O nmero de gros nas direes x e z, Nx e Nz, so calculados pela diviso do tamanho

da RDI na respectiva direo pelo dimetro mdio dos gros.
Os dimetros dos gros so distribudos aleatoriamente de acordo com uma distribuio

uniforme usando o dimetro mdio e desvio padro obtidos das medidas reais. Uma
matriz, denominada Ag, com nmero de linhas igual a Nx e colunas a Nz usada para
guardar os dimetros, com os valores tambm sendo alocados aleatoriamente na matriz.
Duas outras matrizes, Xp e Zp, com as mesmas dimenses de Ag so geradas para

alocar as coordenadas dos gros no plano. Xp usada para alocar as posies na direo
x e Zp as posies na direo z.
Os elementos da matriz Xp so definidos para permitir que os gros sejam alocados lado
a lado na direo x. Por exemplo, a posio do gro na direo x situado na primeira
linha e segunda coluna da matriz Ag (ou seja, Ag(1,2)) igual a posio do gro em
Ag(1,1) mais a soma do seu raio e do raio do gro em Ag(1,2). Esse resultado
guardado em Xp(1,2). Os primeiros elementos de cada linha da matriz so definidos
considerando os limites da RDI em x.
As posies dos gros na direo z so inicialmente as mesmas para todos os gros em

uma mesma linha da matriz Ag. Dada uma linha em Ag, a posio em z para os gros da
prxima linha dada pela posio dos gros da linha anterior mais a soma dos raios dos
maiores gros das duas linhas multiplicados por uma constante kg. Essa constante define
um compromisso entre sobreposio de gros e espaos vazios na RDI. Por exemplo, se
kg maior que 1, o nmero de ocorrncias de sobreposies de gros pequeno,
entretanto, haver mais espaos vazios na RDI. Neste trabalho, definiu-se kg igual a
0,75. Na Figura 3.2 so apresentadas as representaes de gros considerando kg igual a
0,5, 0,75 e 1. A posio dos gros da primeira linha definida pelo incio da RDI.
41
(a)
(b)
(c)
Figura 3.2. Representaes de gros para kg igual (a) 0,5, (b) 0,75 e (c) 1. Parmetros de
simulao utilizados: dimetro de gro mdio igual 209 m, desvio padro igual 59 m, RDI: x =
-1:1 mm e z =24:26 mm.
O prximo passo variar levemente e aleatoriamente as coordenadas dos gros com o

intuito de remover a distribuio regular criada pelo algoritmo de posicionamento at
agora. Essa regularidade, conforme pode ser visto na Figura 3.3a, no reflete a
distribuio natural dos gros em uma amostra real. Uma matriz do mesmo tamanho de
Xp e Zp criada com nmeros aleatrios escolhidos de uma distribuio normal de
mdia zero e desvio padro equivalente a 20% do dimetro mdio do gro considerado
na simulao. Essa matriz adicionada Xp e Zp. Na Figura 3.3 est um exemplo de
uma representao antes e depois da aleatorizao de posio dos gros. importante
salientar que se optou em enfatizar no modelo o posicionamento mais aleatorizado dos
gros mesmo que isso aumente o nmero de sobreposies e espaos vazios conforme
pode ser visto na Figura 3.3b. Como ser visto adiante, neste trabalho levado em
42
considerao apenas o rudo mdio na imagem gerada pela contribuio de cada gro
dentro da RDI, e por esse motivo, espera-se que a condio irreal de sobreposio de
alguns gros no crie diferenas significativas no rudo mdio se comparada a uma
situao mais realista.
(a)
(b)
Figura 3.3. Representao de gros (a) antes e (b) depois da aleatorizao de posies. Dimetro
mdio de gros = 209 m e desvio padro = 59 m.
As coordenadas dos gros so verificadas para ver se todas elas esto dentro da RDI.
Caso contrrio, uma nova posio dentro da RDI aleatoriamente escolhida para gros
fora da RDI.
As reas de todos os gros so somadas e a rea total comparada com a rea da RDI.
A razo entre a rea dos gros e a rea da RDI fornece uma frao de rea que se for
menor que 100%, novos gros so adicionados na RDI em uma posio aleatria e
seguindo as mesmas regras dos demais gros para obteno de seu dimetro. Esse
processo repetido at que a frao de rea atinja 100%.
Um exemplo de distribuio final de gros aps a aplicao dos passos do algoritmo

descrito mostrado na Figura 3.4, onde a RDI delimitada por um retngulo de cor azul.
43
20 -
z (mm)
22 24 26 28 30 -6
-4
-2
x (mm)
Figura 3.4. Exemplo de distribuio de gros (dimetro mdio de gros = 209 m e desvio padro
= 59 m).
3.2 Gerao de sinais
Neste trabalho, considerado o caso onde os gros so pequenos se comparados ao

comprimento de onda e, portanto, o espalhamento pode ser considerado com sendo fraco. Assim
o fenmeno considerado de espalhamento simples (single scattering) (SIMONETTI, 2006).
Neste caso, admite-se que a onda recebida pelo elemento receptor do array resultado apenas da
reflexo direta da onda emitida por um nico gro e reflexes de onda entre outros gros so
desprezadas. Na Figura 3.5 apresentando um exemplo grfico mostrando a diferena dos dois
tipos de espalhamento considerando dois gros e na Figura 3.6 mostrada a geometria 2D usada
para o modelo, no qual cada gro considerado como um espalhador (scatterer).
44
Elementos do
array
Elementos do
array
Sonda
Sonda
eT
eT
eR
eR
Onda emitida
Onda refletida
(espalhamento simples)
Gros
Amostra
Espalhamento simples
Onda refletida
(espalhamento mltiplo)
Gros
Amostra
Espalhamento mltiplo
Figura 3.5. Exemplos de espalhamento simples e mltiplo para dois gros.
Elementos do
array
Sonda
eT
eR
x
x ,zg
x ,zg
d eRg
d eTg
Gro
, zg
Gros
Amostra
Figura 3.6. Esquema geomtrico para o modelo de gros como espalhadores.

No campo distante, o espectro de um sinal recebido H eTg,eRg no elemento receptor eR,
x ,z
aps o sinal transmitido pelo elemento eT, refletido pelo gro posicionado em (xg, zg). Esse
espectro pode ser escrito como (ZHANG et al., 2010):
S AeTg,eRg DeTg
x ,z
H eTg,eRg
x ,z
x , zg
Dex ,z exp i d ex , z
g
xg , z g
eR
xg , z g
eT
45
cL
d eRg
x , zg
(3.1)
onde a frequncia angular; S() o espectro do sinal transmitido; AeTg,eRg a amplitude do

x ,z
x ,zg
sinal refletido pelo gro; c L a velocidade da onda longitudinal; e d e Rg

x ,zg
entre o elemento do array e o gro. DeTg
x ,zg
e DeRg
x ,zg
e d eTg
so as distncias
so funes de diretividade
(directivity) que descrevem a distribuio angular do feixe snico emitido ou recebido para cada
x ,zg
elemento do array. Os termos 1 d eRg
e 1
x , zg
d eTg
na Equao 3.1 referem-se s funes de
espalhamento do feixe snico para sistemas 3-D e 2-D, respectivamente (WILCOX et al., 2007).
Neste caso, est sendo considerado a fonte do feixe emitido pelo elemento do array eT como uma
linha e por isso utilizada a equao para sistemas 2-D. J a fonte do feixe recebido pelo
elemento receptor eR considerado um ponto pois corresponde ao feixe refletido pelo gro,
sendo assim mais apropriado o uso do termo da funo de espalhamento do feixe para sistemas 3D. A atenuao devido ao processo de converso de energia cintica causada pela propagao da
onda no interior do material em calor no foi considerada no modelo.
Considerando o caso bidimensional, onde cada elemento do array considerado uma longa
tira na direo y, a diretividade D(,d) em funo da frequncia angular e ngulo definido na
Figura 3.7 dada por (DRINKWATER; WILCOX, 2006):
l sen d
D , d sinc e
2c L
c L / c S 2 2sen 2 d cos d
F0 sen d
(3.2)
onde le a largura do elemento do array, cS a velocidade da onda cisalhante no material

estudado e
F0 2 2 cL / cS
4 1
2 2
cL / cS
46
(3.3)
Sonda
le
x
z
, zp
Amostra
Figura 3.7. Representao do ngulo entre elemento do array e um ponto em (xp, zp) para clculo
da diretividade.
A amplitude da onda espalhada AeTg,eRg , considerando apenas a propagao de ondas
x ,z
longitudinais, definida usando a aproximao de Born. Essa aproximao, inspirada no mtodo

usado por Max Born em problemas de mecnica quntica, fornece expresses para amplitude de
espalhamento para o caso em que as propriedades elsticas do espalhador no diferem
substancialmente de seu meio ao redor. Nesse caso, a onda apenas levemente afetada pelo
espalhador. A expresso para a aproximao de Born pode ser escrita como (GUBERNATIS et
al., 1977; SCHMERR, 1998):
AeTg,eRg
x ,z
a x a y a z Be i ; e s sin k e i e s re k e i e s re cosk e i e s re
k e i e s re
ei e s re 2
(3.4)
onde
2

ei .e s 22ei .e s
Bei ; e s
cL

(3.5a)
e e s
e e s
e e s
re a i
.u x a y2 i
.u y a z2 i
.u z
e
e
e
e
e
e
i
s
i
s
i
s
k
cL
2
2
x
47
(3.5b)
(3.5c)
Nas Equaes 3.4 e 3.5, ax-z so as dimenses de um espalhador (gro) elipsoidal, e ux-z,
so os vetores unitrios nas direes x, y e z, respectivamente. Para esse clculo especfico, os
gros foram considerados como esferas de raio a (a = ax = ay = az). ei e es so os vetores das
direes da onda incidente e espalhada, respectivamente; a densidade do material; e so as
constantes de Lam (considerando o material como isotrpico); e representa a diferena nas
propriedades elsticas entre o espalhador e o meio ao redor. Os componentes dos vetores ei e es
na direo y so igualados a zero, pois apenas as direes x e z so consideradas no modelo.
Entretanto, o volume do gro foi considerado (ay = a) para obter o valor de amplitude da onda
espalhada. De acordo com a Equao 3.4, a amplitude da onda espalhada diretamente
proporcional ao volume do espalhador.
Para gros exibindo simetria cbica, ao invs de isotrpica, as Equaes 3.5 so alteradas
para (YALDA et al., 1996):
2

ei .e s C33 ei2.e s
Bei ; e s
cL

(3.6a)
'
C33 C33
C33 meio
(3.6b)
2sen sen cos sen
'
C33
sen 4g cos 4g sen 4 g cos 4 g C11
2
33 meio
cos 2 g C12 2C44
3C11 4C12 4C44

5
(3.6c)
(3.6d)
Nas Equaes 3.6, dois ngulos so definidos para cada gro: g que uniformemente e
aleatoriamente distribudo para todos os gros entre [0, 2] e g para o qual o cosseno deve estar
entre [-1, 1]. C11, C12 , C33 e C 44 so as constantes elsticas do material e as direes x, y e z
correspondem 1, 2 e 3 para essas constantes, respectivamente. Novamente, os componentes dos
vetores e i e e s na direo y so igualados a zero.
Para a simulao, foram consideradas as propriedades do ao ASTM A36. Amostras do
mesmo material sero utilizadas na parte experimental do trabalho e sero descritas no Captulo 4
48
de Materiais e Mtodos. Outras definies comuns da parte experimental e da simulao como,

por exemplo, especificaes das sondas de array utilizadas e tamanhos de gro das amostras
sero tambm apresentadas no Captulo 4. As propriedades elsticas necessrias para a simulao
so apresentadas na Tabela 3.1 onde se considerou a simetria cbica para os gros do material
estudado (DUBOIS et al., 1998).
Tabela 3.1. Propriedades elsticas para clculo das amplitudes de espalhamento usando a
aproximao de Born.
Propriedades elsticas do ao ASTM A36 (MATWEB, 2015)
Densidade
7850
(kg/m):
Mdulo de
elasticidade E
200
(GPa):
Mdulo de
cisalhamento G
79,3
(GPa):
Coeficiente de
0,26
Poisson :
Relaes entre constantes elsticas (BOWER, 2009)
E 1
E
Constantes
C11
C12
C44 G
elsticas:
1 1 2
1 1 2
Velocidades de
onda:
cL
C11
cS
C44
As respostas no domnio da frequncia para cada gro, obtidas usando a Equao 3.1, so
somadas para obter o sinal contendo a contribuio de todos os gros:
total
eT ,eR
W N y xg , z g
H eT ,eR
2am g 1
(3.7)
onde Ny o nmero total de gros na RDI, W a largura da amostra na direo y e am o raio

mdio dos gros. No intuito de comparar os resultados obtidos do modelo bidimensional com
resultados experimentais e levar em conta a largura da amostra, um fator dado por (W/am) foi
introduzido na Equao 3.7 para multiplicar a amplitude de cada sinal simulado. Nesse modelo,
49
os gros esto no plano x-z e isso pode ser visto como uma fatia em y = 0. O volume ento
pode ser considerado como um conjunto de fatias com a mesma distribuio de gros cada. Essas
fatias esto distanciadas entre si a um dimetro mdio de gro na direo y. Na Figura 3.8
apresentado um exemplo de sinal representando o rudo de gro simulado pelo modelo, j
transformado para o domnio do tempo pela aplicao da transformada inversa de Fourier.
6,0E-04
4,0E-04
Amplitude
2,0E-04
0,0E+00
10
12
14
16
-2,0E-04
-4,0E-04
-6,0E-04
RDI
-8,0E-04
Tempo (s)
Figura 3.8. Exemplo de sinal simulado representando o rudo de gro (frequncia de 2,5 MHz).
Para permitir a comparao entre dados experimentais e simulados, fez-se necessrio

tambm modelar o sinal de fundo da amostra conforme o esquema mostrado na Figura 3.9. A
partir desse modelo geomtrico, a resposta no domnio da frequncia do sinal de fundo pode ser
escrita como (ZHANG et al., 2011):
xb , zb
S RexTb,,ezRb DexTb , zb DexRb , zb exp i
d eT d exRb , zb
cL
H exTb,,ezRb
d exTb , zb d exRb , zb
(3.8)
x ,z
onde ReTb,eRb o coeficiente de reflexo definido por:
RexTb ,,ezRb
cs
cs
cl sin 2 l sin 2 s cos 2 2 s

2
(3.9a)
cl sin 2 l sin 2 s cos 2 2 s

2
50
s sin 1cs cl sin l
(3.9b)
Sonda
eT
eR
x
d exTb , zb
Amostra
d exRb , zb
xb , zb
Figura 3.9. Esquema geomtrico para modelamento do sinal de fundo.
Os sinais para todas as combinaes entre elementos transmissores e receptores so simulados,

levando em considerao que sinal para a combinao de um transmissor i e receptor j igual ao
sinal para a combinao do transmissor j e receptor i. Esse processo de aquisio de sinais para
posterior formao de imagens ultrassnicas chamado de Full Matrix Capture (FMC). Na
Figura 3.10 apresentado um exemplo de sinal no domnio do tempo representando o eco de
fundo simulado.
6,0E-03
4,0E-03
Amplitude
2,0E-03
0,0E+00
10
15
20
-2,0E-03
-4,0E-03
-6,0E-03
-8,0E-03
Tempo (s)
Figura 3.10. Exemplo de sinal simulado representando o eco de fundo (frequncia de 2,5 MHz).
51
3.3 Gerao de imagens
As imagens de ultrassom so geradas com os sinais simulados usando a tcnica Total

Focusing Method (TFM). Exemplos de imagens de TFM para o rudo de gro e para o sinal de
fundo da pea so mostrados na Figura 3.11. Na escala em dB da intensidade das imagens, a
intensidade mxima da imagem de sinal de fundo definida como sendo igual a 0 dB.
(a)
(b)
Figura 3.11. Exemplo de imagem de TFM simulado para sinais de (a) rudo de gro e de (b)
fundo da pea (frequncia de 5 MHz e tamanho de gro mdio de 209 m).
Para quantificar a intensidade do rudo de gro nas imagens e permitir a comparao entre
dados experimentais e da simulao optou-se pela razo sinal-rudo (signal to noise ratio ou
SNR) entre o sinal de fundo e rudo de gro. O SNR calculado em decibis usando a relao
entre o valor mximo de intensidade na imagem do sinal de fundo e a raiz do valor quadrtico
mdio (root mean square, ou RMS) da intensidade do rudo de gro em uma regio determinada
na pea. Sua equao pode ser escrita como:
I
SNR 20 log10 SF
I RMS
(3.10)
52
onde ISF o valor mximo de intensidade da imagem de TFM do sinal de fundo e I RMS o valor
RMS do rudo de gro da imagem do interior da pea, dado pela Equao 3.11, onde Nr o
nmero de pixels definido para a imagem de TFM e r o vetor que indica a posio de cada pixel
na imagem. As imagens de TFM so calculadas, usando a Equao 2.22, a partir das formas de
onda obtidas pelas Equaes 3.7 e 3.8, aps a aplicao da transformada inversa de Fourier
discreta para obteno dos sinais no domnio do tempo.
2
I RMS 1 I r
Nr r
(3.11)
As dimenses da RDI para gerao das coordenadas dos gros e das reas correspondentes
s imagens de TFM para rudo de gro e sinal de fundo da pea so mostradas na Figura 3.12.
19 mm
20 mm
rea do TFM
(rudo)
12 mm
10 mm
12 mm
35 mm
10 mm
40 mm
Sonda
8 mm
rea do TFM
(sinal do fundo)
2 mm
rea da imagem de TFM

Regio de interesse (RDI)
Figura 3.12. RDI e rea das imagens de TFM considerada para a simulao.
Nota-se na Figura 3.12 que a rea da imagem de TFM menor que a da RDI para
minimizar o efeito dos gros da borda. O centro de coordenadas estabelecido no centro do array
e regio de contato entre sonda e amostra. As posies e dimenses da RDI e da rea da imagem
53
de TFM foram escolhidas de modo que os resultados pudessem ser comparados com as medies
nas amostras reais. As regies foram definidas para que os gros estivessem localizados no
campo distante (onde o modelo vlido) em relao aos elementos do array. Definiu-se tambm
que o nmero de gros na RDI fosse suficiente para que a imagem gerada pudesse levar em conta
gros com tamanhos diversos, conforme a distribuio pr-estabelecida. Porm, o nmero de
gros precisou ser limitado para que o tempo de simulao no fosse impraticvel, tendo em vista
que a Equao 3.1 precisa ser calculada para cada gro na RDI. Atravs de testes preliminares
com diversos tamanhos de RDI e da rea da imagem de TFM, verificou-se que as dimenses
apresentadas na Figura 3.12 eram satisfatrias quanto ao tempo de simulao.
54
4 MATERIAIS E MTODOS
Neste captulo so descritos os materiais estudados e os procedimentos experimentais

utilizados no trabalho. Primeiramente, detalhes acerca dos corpos de prova so apresentados, tais
como composio qumica, processo de fabricao e dimenses geomtricas das amostras. Em
seguida, os procedimentos experimentais so detalhados com descries dos mtodos e dos
dispositivos empregados durante os experimentos, bem como dos sistemas e softwares utilizados
para efetuar as medies.
O objetivo principal dos experimentos verificar de que forma variaes na microestrutura
do material influenciam no rudo de gro em imagens geradas com arrays ultrassnicos. As
variaes na microestrutura consideradas foram: (a) o tamanho de gro mdio e (b) a direo
preferencial de alinhamento dos gros causada pelo processo de laminao das amostras.
Possveis no uniformidades presentes nas amostras estudadas tambm foram avaliadas atravs
de medies em diferentes pontos de vrias amostras. Os efeitos das mesmas variaes j citadas
na microestrutura foram verificados na velocidade da onda Lcr, que apesar de conhecidos e
documentados na literatura, precisam ser confirmados para os sistemas de medio utilizados
neste trabalho. Com os dados das medies, espera-se estabelecer uma relao entre rudo de
gro e velocidade de onda. Tambm verificado se o rudo de gro nas imagens ultrassnicas
influenciado por variaes de temperatura e tenso aplicada no material.
Neste trabalho, utilizado um sistema nico de medio de ondas Lcr em que a onda
percorre necessariamente a mesma distncia no material sendo inspecionado. Por isso utilizado
o tempo de percurso (TOF, de Time-Of-Flight) e no a velocidade de onda como parmetro de
estudo. A mtrica utilizada para avaliar a intensidade do rudo de gro nas imagens ultrassnicas
a relao sinal-rudo (SNR), definida Captulo 3. Na Tabela 4.1 so apresentados os
experimentos realizados e os objetivos que se deseja alcanar com cada um deles.
55
Tabela 4.1. Experimentos realizados no trabalho.

Parmetro
Fator de influncia
Objetivo do experimento
Tamanho de gro
Determinar a influncia do tamanho de gro
analisado
TOF
no TOF da onda Lcr.

Direo de laminao
Determinar a influncia da direo de

laminao no TOF da onda Lcr.
Posio de medio
Determinar a influncia da posio de

medio no TOF da onda Lcr.
Temperatura
Determinar a influncia da temperatura no

TOF da onda Lcr.
Tenso
Verificar a influncia da tenso no TOF da

onda Lcr.
SNR
Tamanho de gro
Verificar se o SNR influenciado pelo

tamanho de gro.
Direo de laminao
Verificar se o SNR influenciado pela

direo de laminao.
Posio de medio

posio de medio nas amostras.
Temperatura

temperatura.
Tenso
Verificar se o SNR influenciado pela tenso

aplicada.
4.1Corpos de prova
O material utilizado para avaliar a influncia da microestrutura no rudo de gro nas

imagens ultrassnicas e na velocidade da onda L cr o ao estrutural ASTM A36. Contudo, para
56
verificar se existe influncia do efeito acustoelstico nas imagens ultrassnicas, o material

escolhido foi o ao API 5L X70. Este ltimo foi escolhido para esta etapa do trabalho porque a
influncia do efeito acustoelstico para ondas Lcr neste material bem conhecida e estudada
(SANTOS, 2007; ANDRINO, 2007; FRAGA, 2007; SANTOS, 2013). Vale salientar tambm
que a variao entre valores de constantes acustoelsticas para diferentes tipos de aos no
significativa (BRAY, 2015).
A composio qumica do ao ASTM A36 dada na Tabela 4.2 enquanto suas
propriedades mecnicas esto na Tabela 4.3. Este ao tem ampla utilizao para fins estruturais
na construo civil. A composio e propriedades mecnicas do ao API 5L X70 so
apresentadas na Tabela 4.4 e Tabela 4.5, respectivamente. O ao API 5L X70 especialmente
empregado na fabricao de dutos utilizados pela indstria petrolfera.
Tabela 4.2. Composio qumica do ao ASTM A36 (ASTM, 2014).

Elemento
Si
Cu
Quantidade
0,26
0,04
0,05
0,40
0,20
mxima (%)
(mnimo)
Tabela 4.3. Propriedades mecnicas principais do ao ASTM A36 (ASTM, 2014).

Propriedade
Limite de resistncia (MPa)
Limite de escoamento (MPa)
Valor
400 - 550
250
57
Tabela 4.4. Composio qumica do ao API 5L X70 (SANTOS, 2007).

Elemento
Quantidade (%)
Elemento
Quantidade (%)
0,069
Mn
1,529
Si
0,339
0,0004
0,01
Cu
0,017
Al
0,031
0,059
Nb
0,043
Cr
0,02
Ti
0,001
Mo
0,001
Ni
0,02
0,0054
0,0001
Ca
0,0013
Tabela 4.5. Propriedades mecnicas principais do ao API 5L X70 (SANTOS, 2007).

Propriedade
Limite de resistncia (MPa)
Limite de escoamento (MPa)
Valor
650
600
Dois tipos de amostras do ao ASTM A36 foram utilizadas: o primeiro tipo sem tratamento
trmico e o segundo com tratamento trmico para crescimento do gro austentico. As dimenses
das dez amostras utilizadas neste trabalho sem tratamento trmico podem ser vistas na Figura 4.1.
A direo de laminao conhecida para todas as amostras. Essa informao particularmente
importante, tendo em vista que em estudos anteriores (CAETANO, 2003; BUENOS, 2014)
verificou-se que a velocidade da onda Lcr tanto para o ao ASTM A36 quanto para o API 5L X70
sensvel direo de laminao. As amostras so identificadas pelos nmeros: 8, 9, 10, 15, 16,
17, 19, 21, 24 e 25.
58
Figura 4.1. Desenho esquemtico representando a amostra sem tratamento trmico (dimenses
em mm).
As amostras de ao A36 tratadas termicamente foram as mesmas utilizadas por Buenos et

al. (2014) para avaliar a influncia do tamanho de gro mdio na velocidade da onda L cr. A
geometria de uma das amostras est representada na Figura 4.2. As amostras apresentam
dimenses menores se comparadas com as amostras sem tratamento trmico para poderem ser
acomodadas no forno para o tratamento. Foram utilizadas cinco amostras, cada uma com um
tamanho de gro mdio diferente. Para obter esse resultado, cada uma delas foi tratada
termicamente em uma determinada temperatura: 900, 1000, 1050, 1100 e 1200 C. As amostras
permaneceram no forno por 30 minutos sob a temperatura de tratamento estabelecida e depois
foram resfriadas para a temperatura ambiente. Para a realizao da medio dos tamanhos dos
gros austenticos, um tratamento de tmpera parcial foi realizado em outras amostras e os gros
medidos por micrografia tica utilizando a tcnica de interceptos lineares (ASTM, 2010). As
informaes sobre as temperaturas de tratamento trmico e tamanhos de gro mdio medidos e
seus respectivos desvios padro esto resumidas na Tabela 4.6. Maiores detalhes sobre as
amostras e tratamentos so apresentados em (BUENOS et al., 2014; BUENOS, 2014).
59
Figura 4.2. Desenho esquemtico representando a amostra com tratamento trmico (dimenses
em mm).
Tabela 4.6. Tamanhos de gro mdios de cada amostra e os desvios padro das medies
(BUENOS et al., 2014).
Dimetro de gro (m)
Amostras
Temperatura de tratamento (C)
Mdia
Desvio padro
900
22
1000
98
26
1050
131
28
1100
166
25
1200
209
59
Uma barra do ao API 5L X70 foi utilizada como amostra para verificao do efeito
acustoelstico e seu desenho esquemtico com dimenses est na Figura 4.3. Os furos nas
extremidades da barra servem para fixao do corpo de prova no dispositivo especial de
aplicao de trao que ser explicado com detalhes mais adiante no texto, ainda neste Captulo.
60
Figura 4.3. Desenho esquemtico representando a amostra de ao API 5L X70 (dimenses em

mm).
4.2 Sistemas de medio
Nesta seo so descritos os trs principais sistemas de medio utilizados neste trabalho, o
primeiro para gerao, recepo e processamento de sinais para ondas Lcr e os outros dois para a
obteno de imagens de rudo de gro geradas a partir sinais provenientes de sensores
estratificados ultrassnicos. Um dos sistemas para obteno de imagens apresenta 64 canais e o
segundo 128 canais e sero descritos com maiores detalhes nas sees seguintes.
61
4.2.1 Sistema de medio com ondas Lcr
A sonda para gerao e recepo da onda Lcr utilizada em todo o trabalho formada por
dois transdutores ultrassnicos de ondas longitudinais de frequncia de 2,25 MHz da marca
Olympus com elemento piezeltrico retangular de dimenses de 12,7 x 25,4 mm (0,5 x 1 pol)
(Figura 4.4). A frequncia do par de transdutores utilizado neste trabalho tem se mostrado
adequada para ensaios com onda Lcr no ao, conforme estudos anteriores (FRAGA, 2007;
BUENOS, 2014).
Figura 4.4. Modelo do transdutor utilizado para gerao e recepo da onda Lcr.
Os transdutores so acoplados em sapatas (ou cunhas) fabricadas de Rexolite e com
geometria que permita que o ngulo de incidncia da onda ultrassnica no material seja igual ao
primeiro ngulo crtico. Dessa forma a onda L cr formada no material e se propaga paralela
superfcie e atinge a sapata onde est acoplado o transdutor para recepo da onda. Um desenho
esquemtico com as principais dimenses da sonda e uma foto do dispositivo real podem ser
vistos na Figura 4.5.
62
(a)
(b)
Figura 4.5. (a) Desenho esquemtico da sonda de gerao e recepo de ondas L cr (dimenses em
mm) e (b) foto da sonda real.
O Rexolite foi escolhido como material da sapata por apresentar baixa atenuao para
ondas ultrassnicas na frequncia de trabalho utilizada se comparado, por exemplo, ao acrlico
(PMMA), material comumente utilizado para fabricao de sapatas para aplicaes ultrassnicas
(Santos et al., 2013). O ngulo de inclinao em que fica posicionado o transdutor na sapata
(23,6) calculado pela lei de Snell (Equao 2.1) considerando a velocidade mdia da onda
longitudinal no ao de 5.900 m/s e no Rexolite de 2.362 m/s (ENSINGER, 2011).
A distncia entre sapatas na sonda definida de modo que os transdutores emissor e
receptor no fiquem muito distantes entre si e a atenuao no material no dificulte a leitura do
sinal recebido, ao mesmo tempo tambm que no fiquem prximos demais, comprometendo a
preciso de medio do tempo percurso. Como os efeitos estudados de temperatura,
microestrutura e tenso afetam a velocidade de onda, o efeito no tempo de percurso, que
realmente medido, fica comprometido se a distncia percorrida pela onda reduzida.
A emisso dos sinais eltricos para o transdutor emissor na sonda bem com a recepo do
sinal gerado pelo transdutor receptor feita por um pulsador/receptor de sinais ultrassnicos da
marca Panametrics, modelo 5072PR (Figura 4.6).
63
Figura 4.6. Pulsador/receptor de sinais ultrassnicos Panametrics.
O controle da emisso e recepo dos sinais no pulsador/receptor bem como a converso

dos sinais analgicos para digital feita por uma placa osciloscpio digitalizadora da marca
National Instruments, modelo NI PXI 5114, com taxa de amostragem de 250 MHz e resoluo de
8 bits. Essa placa conectada a um controlador embarcado modelo NI PXI 8108 que funciona
como um PC, tendo um sistema operacional Windows XP instalado e conta com um processador
Intel Core 2 Duo T9400. Uma foto do controlador pode ser vista na Figura 4.7.
Figura 4.7. Controlador embarcado NI PXI 8108.
Para medio de temperatura das amostras durante os ensaios com ondas L cr, foi utilizado
um termopar do tipo K conectado a um mdulo condicionador de sinais para termopar e
conversor analgico/digital de 14 amostras por segundo e resoluo de 24 bits da National
Instruments, modelo NI 9211. A conexo entre o mdulo e o controlador embarcado feita via
rede Ethernet utilizado o mdulo transmissor modelo NI WLS/ENET-9163, tambm da empresa
National Instruments. O conjunto formado pelo termopar, mdulo condicionador e mdulo
transmissor pode ser visto na Figura 4.8.
64
Figura 4.8. Termopar, mdulo condicionador NI 9211 e mdulo transmissor NI WLS/ENET9163.
A leitura dos sinais adquiridos pelo sistema de medio de ondas L cr, assim como dos
valores de temperatura obtidos pelo termopar, feita atravs de uma aplicao desenvolvida
utilizado o programa LabVIEW chamada L Scope GU 2015. Essa aplicao foi adaptada a
partir das pesquisas desenvolvidas por Pereira Junior (2011) e Buenos (2014). A tela principal da
aplicao pode ser vista na Figura 4.9.
(c)
(e)
(a)
(b)
(d)
(f)
(g)
Figura 4.9. Tela principal da aplicao L Scope GU 2015.

65
A tela principal do programa denominada osciloscpio dividida em 7 partes principais,

designadas na Figura 4.9 pelas letras de (a) (g), marcadas na Figura 4.9. Em (a), por exemplo,
observa-se a forma de onda do sinal completo adquirido. Em (b) so apresentados os controles:
Mdia de Sinais, que define o nmero de sinais adquiridos consecutivamente para obteno do
sinal mdio calculado ponto a ponto e exibido pelo programa; Atraso do Tempo de Execuo,
que define a frequncia com que o programa faz a leitura dos sinais digitalizados; Nmero de
Gravaes, que define a quantidade de sinais gravados quando o boto Gravar Dados em (g)
acionado; indicador Taxa de Amostragem, que mostra a taxa atual em que o sinal est sendo
amostrado pela placa digitalizadora; e Comprimento de Gravao, que define a quantidade de
pontos do sinal a ser gravado.
Na parte (c) do programa so definidos os parmetros que determinam o tempo de percurso
medido da onda. Neste trabalho, utiliza-se como ponto de medio no sinal o segundo
cruzamento com o zero (ANDRINO, 2007) para determinao do TOF. Assim, o tempo de
percurso estabelecido de forma relativa como o segundo ponto de cruzamento com o zero do
sinal, aps o primeiro pico da onda Lcr ser detectado. Como o primeiro pico pode ter amplitude
pequena o suficiente a ponto de ser confundido com rudo, o programa permite que se use o
primeiro vale. Nesse caso, o segundo cruzamento com o zero aps o primeiro pico corresponde
ao primeiro cruzamento com o zero aps o primeiro vale. Tanto o primeiro pico quanto o
primeiro vale e o segundo cruzamento com o zero so indicados na Figura 4.10. Vale ainda notar,
que a onda Lcr a primeira a ser detectada pelo transdutor receptor, pois se trata de uma onda
longitudinal (mais rpida) e que viaja em linha reta paralela superfcie (menor percurso). Tanto
para o pico, como para o vale, necessrio informar para o programa um limiar (threshold) para
o que considerado pico ou vale, j que um rudo poderia ser utilizado por engano. O LabVIEW
disponibiliza uma funo para deteco de picos e vales e o resultado do cruzamento com o zero
obtido pela interpolao linear entre o ponto amostrado com valor de amplitude menor que zero
e a prxima amostra com valor maior que zero.
66
2 cruzamento
com o zero
Figura 4.10. Indicao do segundo cruzamento com o zero na onda Lcr.

A parte indicada pela letra (d) na tela do programa na Figura 4.9 no foi utilizada neste
trabalho. Em outro trabalho, foi empregada para o controle da presso de sobre o transdutor
(controle de fora no contato sonda-pea), ou da fora aplicada nos ensaios de tenso. Na parte
(e), podem-se observar os resultados lidos de temperatura e tempo de percurso da onda. O
programa permite gravar tanto os dados de temperatura e TOF, quanto as formas de onda. Na
parte indicada pela letra (f), possvel definir o local de gravao desses dados. Por fim, em (g),
esto localizados os botes de gravao e parada do programa.
As outras duas telas da aplicao L Scope GU 2015 podem ser vistas na Figura 4.11. Na
aba filtros, esto as configuraes para trs tipos de filtros digitais possveis includos no
programa: FIR (Finite Impulse Response), IIR (Infinite Impulse Response) e DWT (Digital
Wavelet Transform). Neste trabalho, para todos os ensaios usando o sistema com ondas L cr foi
utilizado um filtro passa-banda FIR com frequncia de corte entre 2 e 2,5 MHz, janela Hanning, e
nmero de coeficientes igual a 200. Essa configurao foi escolhida aps sucessivas variaes
dos parmetros para obteno do sinal livre de rudos, da forma que pode ser vista na Figura 4.10.
A presena de rudos de natureza eltrica e do prprio rudo de gro do material dificultaria a
definio do segundo cruzamento com o zero no sinal. Na aba controles avanados, so
encontrados ajustes mais especficos na aquisio do sinal como ajustes vertical e horizontal da
funo osciloscpio do programa, tipo de trigger, entre outros.
Um desenho esquemtico com todos os elementos necessrios para medio com ondas L cr
mostrado na Figura 4.12.
67
Figura 4.11. Telas de filtros ( esquerda) e controles avanados ( direita) da aplicao L

Scope GU 2015.
1
2
40
3
4
1) Controlador embarcado
4) Sonda para ondas Lcr
2) Pulsador/receptor
5) Amostra inspecionada
3) Mdulo de aquisio de temperatura
6) Termopar
Figura 4.12. Desenho esquemtico do sistema de medio com ondas L cr.
68
4.2.2 Sistema para gerao de imagens ultrassnicas (64 canais)
O sistema de medio para obteno das imagens a partir dos sinais provenientes da sonda
de sensores estratificados (array) composto pela prpria sonda, por uma unidade controladora e
um computador pessoal. Essa unidade responsvel principalmente pela emisso e recepo dos
sinais para cada um dos elementos da sonda, pela converso analgico/digital dos sinais e pela
sincronizao de acionamento dos elementos, dentre outras funes. Um laptop (Fabricante Dell,
modelo Latitute E6530, processador Intel Core i5-3340M CPU 2,70 GHz) com um programa
especfico utilizado para controle e monitoramento dos dados da unidade controladora, via cabo
USB.
Uma das unidades de controle utilizadas no trabalho a MultiX++ da fabricante M2M
(Figura 4.13) pertencente ao Laboratrio de Acustoelstica da UNICAMP. Essa unidade conta
com 64 canais, isso significa que ela pode controlar at 64 elementos da sonda conectada a ela
independentemente. Essa caracterstica permite que sinais sejam capturados pela tcnica Full
Matrix Capture (FMC), que consiste em gravar os sinais resultantes de todas as combinaes
possveis de elemento transmissor e receptor. Portanto, para uma aquisio que utilize todos os
64 canais da unidade, 4096 (64) formas de onda so gravadas pelo FMC. Essas formas de onda
so necessrias para formao de imagens pelo TFM.
Figura 4.13. Unidade de controle MultiX++.

69
Para esse sistema, foi utilizada uma sonda da fabricante Imasonic de frequncia central de 5
MHz e 64 elementos (modelo M2M_114). A frequncia assim como o nmero de elementos
escolhidos para a sonda tm se mostrado adequados em ensaios para gerao de imagens de TFM
(HOLMES et al., 2005; ZHANG et al., 2013). A Figura 4.14 mostra uma foto da sonda e um
desenho esquemtico mostrando as principais dimenses da sonda, como tamanho dos elementos
e distncia entre eles.
le
h
...
lT
Dimenses externas: L = 39 mm; H = 20 mm

Dimenses internas:
lT = 31,9 mm; h = 15 mm; p = 0,5 mm; e = 0,1 mm.
(a)
(b)
Figura 4.14. (a) Foto da sonda de 5 MHz e 64 elementos e (b) as principais dimenses dos seus
elementos.
As configuraes necessrias para efetuar a aquisio das formas de onda so feitas atravs
do programa Multi2000, verso 6.9.25, fornecido pela fabricante da unidade controladora. O
programa dividido em trs partes principais, uma para configurao, uma para definio de
parmetros e visualizao das formas de onda e a terceira para a aquisio dos sinais. Na tela de
configurao definido, por exemplo, o tipo de aquisio (para este trabalho, o FMC para gerar
as imagens pelo TFM) e dados sobre a sonda utilizada. Na tela de parmetros possvel ver o
70
sinal em cada um dos elementos em funo do elemento emissor escolhido, assim como uma
representao em B-scan (Figura 4.15). Nessa tela tambm so definidos a tenso eltrica
aplicada nos elementos, a largura de pulso, frequncia de excitao, frequncia de amostragem,
comprimento do sinal e o ganho. Por fim, na tela de aquisio, como o prprio nome sugere,
onde se aciona o boto para gravao dos sinais com base nas especificaes estabelecidas.
Depois da gravao, um arquivo contendo todas as 4096 formas de onda gerado em formato
txt para que essas sirvam de entrada para o algoritmo de formao das imagens.
Figura 4.15. Tela principal do programa Multi2000.
A temperatura das amostras tambm foi lida durante os ensaios com o array ultrassnico.
Para isso, os mesmos mdulos utilizados para o condicionamento do sinal e o termopar do tipo K,
descritos na seo anterior, foram empregados. Uma aplicao em LabVIEW foi criada
especialmente para leitura e gravao dos valores de temperaturas lidos pelo termopar. A tela
dessa aplicao est representada na Figura 4.16. Na Figura 4.17 est representado o desenho
esquemtico para o sistema de medies com array.
71
Figura 4.16. Tela do programa de medio de temperatura para sistema com array ultrassnico
de 64 canais.
3
6
1) Laptop
4) Sonda de array
2) Controlador
5) Amostra inspecionada
3) Mdulo de aquisio de temperatura
6) Termopar
Figura 4.17. Desenho esquemtico do sistema de medio com array de 64 canais.
72
4.2.3 Sistema para gerao de imagens ultrassnicas (128 canais)
Em parte do trabalho tambm foi utilizada uma unidade de controle de arrays de 128
canais, pertencente ao grupo de pesquisa em ultrassom e ensaios no destrutivos da Universidade
de Bristol (Reino Unido). Essa unidade, Micropulse FMC (Figura 4.18), foi fabricada pela
empresa Peak NDT. Para o controle da unidade, os pesquisadores desenvolveram uma aplicao
em MATLAB e sua tela principal pode ser vista na Figura 4.19.
Figura 4.18. Unidade de controle Micropulse FMC.
Figura 4.19. Tela do programa da unidade de controle Micropulse FMC.
Na tela do programa apresentado na Figura 4.19, os principais controles referentes

aquisio dos sinais so: o tipo de aquisio, a frequncia de amostragem, a voltagem e a largura
73
do pulso, o nmero de pontos gravados, a resoluo e a frequncia de excitao. Alm disso, na

tela principal, h tambm uma imagem resultante de uma combinao dos sinais adquiridos.
As sondas utilizadas em conjunto da unidade de controle de 128 canais esto detalhadas na
Tabela 4.7.
Tabela 4.7. Detalhes das sondas utilizadas com a unidade de controle Micropulse FMC.
Fabricante:
Frequncia central (MHz):
Nmero de elementos:
Distncia entre elementos
(Pitch), p (mm):
Espao entre elementos, e
(mm):
Elevao dos elementos, h
(mm):
2,5
64
Imasonic
5
128
10
128
0,5
0,3
0,3
0,15
0,1
0,05
15
15
10
4.3 Procedimentos experimentais
Nesta seo so listados os experimentos realizados no trabalho. Para cada seo

apresentada a seguir, os resultados obtidos correspondentes a cada experimento sero mostrados
no prximo captulo de resultados.
4.3.1 Avaliao da influncia da temperatura no tempo de percurso da onda L cr
A influncia da temperatura na velocidade de ondas ultrassnicas j bastante conhecida.

Em especial, para ondas Lcr, vrios trabalhos j abordaram esse tema como, por exemplo, Santos
(2007) para o ao API 5L X70 e Buenos (2014) para o ao A36. Nos trabalhos citados, verificouse que a velocidade da onda ultrassnica decresce linearmente com o aumento da temperatura e o
74
objetivo desse experimento verificar se o mesmo ocorre para as amostras e sistema de medio
utilizados neste trabalho. Se confirmado o efeito esperado, ser obtida a taxa com que o tempo de
percurso da onda Lcr cresce em funo da temperatura, ou a taxa com que decresce a velocidade
da onda em funo da temperatura. Essa taxa utilizada para realizar correes nos valores
medidos em diferentes temperaturas e normaliz-los para uma temperatura padro.
As posies de medio com a sonda de ondas L cr nas duas amostras esto representadas na
Figura 4.20. Em uma das amostras de ao A36 (pea 21) sem tratamento trmico e na amostra de
API 5L X70 foi posicionado o termopar descrito na seo 4.2.1. No dia anterior aos
experimentos, o ar condicionado do laboratrio foi deixado ligado em sua potncia mxima
durante a noite e no dia seguinte, ainda com o ar condicionado ligado, foi feita a primeira
medio com ondas Lcr e em seguida desligou-se o ar condicionado. medida que a temperatura
subia gradativamente ao longo do dia, foram feitas medies aproximadamente a cada grau
Celsius. A faixa de temperatura definida foi de 16 a 25 C. Devido oscilao na leitura dos
valores de TOF e temperatura, em cada medio, o programa gravava cinco valores obtidos em
sequncia.
Direo de
laminao
(a)
(b)
Figura 4.20. Posies de medio nas amostras de (a) ao A36 e (b) API 5L X70 nos ensaios para
verificao da influncia da temperatura no TOF da onda Lcr. Todas as dimenses esto
milmetros.
75
Nos contatos entre transdutor e sapata e entre sapata e amostra colocado gel para ensaios
ultrassnicos (marca Carbogel). O gel tem a finalidade de preencher os possveis espaos
vazios entre os contatos, criados devido s irregularidades superficiais e facilitar o acoplamento.
Foi colocado um peso morto de aproximadamente 2,3 kg sobre a sonda, de forma a melhorar o
contato e impedir que a sonda se mova durante os ensaios (Figura 4.21). Tanto o gel quanto o
peso morto foram utilizados em todos os ensaios com ondas L cr.
Figura 4.21. Sonda de ondas Lcr com peso morto.
4.3.2 Avaliao da influncia do tamanho de gro no tempo de percurso da onda L cr
Nas cinco amostras tratadas termicamente para crescimento do gro austentico, foi medido
o tempo de percurso da onda L cr e a temperatura da amostra com os sistemas de medio j
descritos, a fim de possibilitar a futura correo do valor de TOF para uma temperatura padro
escolhida. A posio da sonda de ondas Lcr na amostra durante as medies pode ser vista na
Figura 4.22.
Figura 4.22. Posio de medio com a sonda de ondas Lcr nas amostras tratadas termicamente.
Todas as dimenses esto milmetros.
76
Trs medies foram realizadas em cada pea, sendo que em cada medio, cinco valores
de TOF e temperaturas foram lidos e gravados. Aps cada uma das trs medies, a sonda foi
removida e o gel foi reposto. A sequncia de medio das peas foi aleatorizada.
4.3.3 Avaliao da influncia da direo de laminao no tempo de percurso da onda L cr
Foram escolhidas duas posies de medio nas 10 amostras no tratadas onde a direo de
propagao da onda Lcr coincide com a direo de laminao e outras duas posies onde a
direo de propagao da onda perpendicular direo de laminao. As posies citadas so
vistas na Figura 4.23. As temperaturas das amostras foram medidas usando o sistema j descrito
e, da mesma forma como para as amostras tratadas para crescimento de gro, trs medies foram
feitas em cada posio e em cada uma delas cinco valores de TOF e temperatura foram lidos.
Direo de
laminao
(a)
(b)
Figura 4.23. Posies de medio com a onda Lcr propagando (a) perpendicular (posies 1 e
2) e (b) paralela direo de laminao (posies 3 e 4). Dimenses em milmetros.
77
4.3.4 Avaliao da influncia da posio de medio no tempo de percurso da onda L cr
Neste ensaio foram definidas 6 posies de medio no sentido de laminao em cada uma
das 10 amostras no tratadas termicamente (Figura 4.24), totalizando 60 medies. A quantidade
de medies por ponto (trs) e o nmero de valores gravados de TOF e temperatura por medio
(cinco) so as mesmas do experimento do item 4.3.3.
Direo de
laminao
Figura 4.24. As 6 posies de medio com a onda Lcr em cada amostra. Dimenses em
milmetros.
4.3.5 Avaliao da influncia da tenso no tempo de percurso da onda Lcr
O sistema de aplicao de tenso nas amostras de ao API 5L X70 para verificao do

efeito acustoelstico o mesmo utilizado por Pereira Junior, (2011) e ele pode ser visto na Figura
4.25. Basicamente, o sistema composto por uma bomba hidrulica manual (marca Yellow
Power, presso mxima de 300 bars) que aciona dois cilindros hidrulicos (marca Yellow
Power, carga mxima de 20 toneladas) conectados ao dispositivo. Quando acionados, os
cilindros fazem com que a barra conectada ao dispositivo por meio de pinos encaixados nos furos
seja tracionada. Na bomba hidrulica, existe um manmetro digital que possibilita a leitura da
presso aplicada aos cilindros.
78
4
3
2
1 - Bomba Hidrulica
2 - Cilindros Hidrulicos
3 - Barra
4 - Pino para Travamento da Barra
Sentido da Fora Aplicada pelo
Cilindro Hidrulico
Figura 4.25. Dispositivo de aplicao de tenso na barra de ao API 5L X70 (PEREIRA

JUNIOR, 2011).
A posio de medio com a sonda de L cr a mesma indicada na Figura 4.20. Os nveis de

tenso aplicados pela bomba aos cilindros pneumticos foram 50, 100 e 150 bars (5, 10 e 15
MPa). Tambm foi feita a medio sem aplicar presso (0 bar). Trs repeties do ensaio foram
feitas, para cada uma foram feitas medidas, em sequncia, a 0, 50, 100 e 150 bars. Novamente,
cinco valores de TOF e temperatura foram gravados por medio.
4.3.6 Avaliao da influncia da temperatura na intensidade do rudo nas imagens

ultrassnicas
A pea no tratada termicamente n 25 foi escolhida para as medies neste experimento

(Figura 4.26). O mesmo procedimento descrito na seo 4.3.1 quanto ao controle de temperatura
do ambiente foi utilizado, exceo feita ao sistema de medio; nesse caso foi empregado o
sistema para medio com arrays de 64 canais. Similar ao que foi feito no ensaio com ondas Lcr,
dois pesos mortos foram utilizados, cada um pesando aproximadamente 2,3 kg, para manter fixa
79
a sonda de array no corpo de prova (Figura 4.27). Tambm foi utilizado gel acoplante entre a
sonda e a amostra.
Direo de
laminao
Figura 4.26. Posio de medio com a sonda de array para verificao da influncia da
temperatura.
Figura 4.27. Pesos de fixao da sonda na amostra.
Especificaes sobre a aquisio das formas de onda pelo array, tais como frequncia de
amostragem, resoluo, voltagem e largura do pulso, ganho e nmero de pontos so mostradas na
Tabela 4.8.
80
Tabela 4.8. Especificaes da aquisio para avaliao da influncia da temperatura nas imagens
ultrassnicas.
Frequncia de amostragem (MHz):
50
Voltagem do pulso (V):
70
Largura do pulso (ns):
100
Nmero de pontos:
600
Resoluo (bits):
Ganho (dB):
45,1
4.3.7 Avaliao da influncia do tamanho de gro na intensidade do rudo nas imagens

ultrassnicas
Para a verificao da influncia do tamanho de gro na intensidade do rudo nas imagens

ultrassnicas, foram feitos ensaios usando tanto o sistema de 64 canais quanto o de 128 canais.
Utilizando o sistema de 64 canais, as posies de medio com o array foram definidas na pea
conforme Figura 4.28. Para cada posio de medio por ondas L cr em cada pea, foram definidas
8 posies de medio pelo array. Portanto, para esse ensaio com o sistema de 64 canais foram
feitas 40 medies (8 por pea). Novamente, a temperatura foi monitorada em cada medio
utilizando a aplicao vista na Figura 4.16. As configuraes de aquisio so iguais s
apresentadas na Tabela 4.8, exceo feita ao ganho que para esse ensaio foi aumentado para 52,1
dB.
Figura 4.28. Posies de medio com o array nas amostras tratadas termicamente (sistema de 64
canais). Dimenses em milmetros.
81
Para as medies com o sistema de 128 canais no laboratrio de ultrassom da Universidade

de Bristol, as amostras tratadas termicamente foram cortadas na posio indicada na Figura 4.29
para facilitar o transporte das amostras. Duas novas posies de medio foram estabelecidas
com as sondas de array definidas na Tabela 4.7. Como o tratamento trmico deixou a superfcie
do material com certas irregularidades que atrapalham o acoplamento entre sonda e amostra,
optou-se por medir na superfcie cortada. Nesse caso foram feitas trs medies por posio, nas
cinco amostras cortadas, para as trs sondas, totalizando 90 medies (3 x 2 x 5 x 3). As
especificaes de aquisio esto na Tabela 4.9. Esse experimento com as peas cortadas tambm
foi repetido para sistema de 64 canais e a sonda de 5 MHz descrita na Figura 4.14 (especificaes
de gravao esto na Tabela 4.10).
Posies de medio 1 e 2
(a)
Posies de medio 1 e 2
(b)
(c)
Figura 4.29. (a) Posio de corte das amostras tratadas termicamente, (b) foto de uma amostra
cortada e (c) dimenses das amostras cortadas. Dimenses em milmetros.
82
Tabela 4.9. Especificaes da aquisio para avaliao da influncia do tamanho de gro nas
imagens ultrassnicas para o sistema de 128 canais.
50
100
80
Nmero de pontos:
2200
Resoluo (bits):
Ganho (dB):
50
Tabela 4.10. Especificaes da aquisio para avaliao da influncia do tamanho de gro nas
imagens ultrassnicas para o sistema de 64 canais (amostra cortada).
50
70
100
Nmero de pontos:
900
Resoluo (bits):
Ganho (dB):
54,1
4.3.8 Avaliao da influncia da direo de laminao na intensidade do rudo nas imagens

ultrassnicas
Para este experimento foi utilizado o sistema de 64 canais e as posies de medio em

funo da direo de laminao so mostradas na Figura 4.30. Novamente, as posies de
medio com o array foram definidas para serem condizentes com a posio de medio da onda
Lcr, e consequentemente com a regio de propagao da onda. Neste ensaio foram feitas 320
medies, sendo 8 medies por posio, 4 posies por pea para as 10 peas. As especificaes
de gravao so as mesmas das apresentadas na Tabela 4.8.
83
Direo de
laminao
Figura 4.30. Posies de medio com array para estudo da influncia da direo de laminao
nas imagens ultrassnicas. Dimenses em milmetros.
4.3.9 Avaliao da influncia da posio de medio na intensidade do rudo nas imagens

ultrassnicas
Seguindo o que foi mostrado na seo anterior, as posies de medio com array para
cada posio de medio por onda Lcr so mostradas na Figura 4.31 com o intuito de comparar os
resultados de TOF e intensidade de rudo nas imagens. Novamente, foi utilizado o sistema de 64
canais. Como agora so 48 posies por pea, o total de medies sobe para 480. Contudo, 160
medies so condizentes com as do ensaio descrito na seo anterior. As especificaes de
gravao continuam as mesmas das apresentadas na Tabela 4.8.
84
Direo de
laminao
Figura 4.31. Posies de medio com array para estudo da influncia da posio de medio nas
imagens ultrassnicas. Dimenses em milmetros.
4.3.10 Avaliao da influncia da tenso na intensidade do rudo nas imagens ultrassnicas
Por fim so feitas as medies com a sonda de array para verificar a influncia da tenso na
intensidade do rudo nas imagens de ultrassom. As posies de medio com o array so vistas
na Figura 4.32. Este ensaio foi realizado de forma similar ao descrito na seo 4.3.5, utilizando os
mesmos valores de presso na bomba hidrulica e sendo repetido trs vezes. As configuraes de
aquisio esto na Tabela 4.11.
Figura 4.32. Posies de medio com array para estudo da influncia da tenso nas imagens
ultrassnicas. Dimenses em milmetros.
85
Tabela 4.11. Especificaes da aquisio para avaliao da influncia da tenso nas imagens
ultrassnicas.
50
70
100
Nmero de pontos:
400
Resoluo (bits):
Ganho (dB):
41,9
4.4 Processamento de imagens ultrassnicas
Nessa seo so apresentados os procedimentos utilizados referentes ao processamento de

sinais gravados com o array ultrassnico para a formao de imagens pelo mtodo de TFM. So
definidas tambm as localizaes geomtricas das imagens nas amostras estudadas.
Para a obteno das imagens de TFM neste trabalho, foi considerada a velocidade da onda
longitudinal padro no ao de 5.900 m/s (inserida na Equao 2.22). Antes da formao da
imagem de TFM, o sinal filtrado no domnio da frequncia com uma janela gaussiana com
banda de passagem de -40 dB, largura de 4 MHz e frequncia de centro igual da sonda de array
utilizada em cada um dos experimentos. A escolha do filtro baseia-se na utilizao de filtros
anlogos em outros trabalhos que tambm utilizam o TFM para gerao de imagens, com em
(BOWLER et al., 2009). Vale destacar tambm que essa mesma funo gaussiana usada como
espectro do sinal transmitido S() na Equao 3.1, na modelagem dos sinais simulados e est
representada na Figura 4.33.
86
(a)
1,20
1,00
0,80
0,60
0,40
0,20
0,00
(b)
10
15
20
25
30
Frequncia (MHz)
35
40
45
50
0,04
0,03
0,02
0,01
0,00
0,0
2,0
4,0
6,0
8,0
10,0
12,0
14,0
16,0
-0,01
-0,02
-0,03
-0,04
Tempo (s)
Figura 4.33. (a) Espectro da funo gaussiana utilizada como filtro e (b) sinal no domnio do
tempo. Frequncia de centro de 5 MHz.
Na Figura 4.34, possvel ver trs regies delimitadas em um exemplo de imagem de TFM
e no desenho para amostras de ao A36 com espessura de 15,9 mm. A regio sobre o fundo da
pea usada para obteno da intensidade mxima do sinal e as regies na rea central da pea
so utilizadas para o clculo do valor RMS da intensidade do rudo. As reas foram escolhidas de
modo que elas no sofressem influncia da zona morta (dead zone) prxima da regio de
contato entre sonda e pea. Nessa regio, os elementos de recepo recebem o sinal de emisso
diretamente do elemento emissor e por esse motivo, no incio das formas de onda gravadas so
vistos componentes de alta amplitude. A influncia da profundidade da imagem nos resultados
tambm observada. As regies para as amostras cortadas e tratadas termicamente so definidas
87
na Figura 4.35 e para a amostra de ao API 5L X70 na Figura 4.36. Na Figura 4.35, as reas das
imagens de TFM so as mesmas usadas na simulao (Figura 3.12).
(a)
rea do TFM
(rudo)
rea do TFM
(rudo)
rea do TFM
(sinal do fundo)
(b)
Sonda
10 mm
14 mm
15,9 mm
19 mm
6 mm
reas do TFM
(rudo)
z
2 mm
Amostra
rea do TFM
(sinal do fundo)
20 mm
Figura 4.34. (a) reas delimitadas para obteno do valor RMS do rudo de gro e intensidade do
sinal de fundo em uma imagem de TFM e (b) na amostra de ao ASTM A36 (espessura de 15,9
mm).
88
Sonda
20 mm
35 mm
rea do TFM
(rudo)
10 mm
10 mm
40 mm
x
z
8 mm
rea do TFM
(sinal do fundo)
Amostra
2 mm
Figura 4.35. reas delimitadas na pea para obteno do valor RMS do rudo de gro e
intensidade do sinal de fundo para amostras cortadas e tratadas termicamente.
6,5 mm
9 mm
10 mm
13 mm
Sonda
rea do TFM
(rudo)
Amostra
2 mm
12 mm
rea do TFM
(sinal do fundo)
Figura 4.36. reas delimitadas na pea para obteno do valor RMS do rudo de gro e
intensidade do sinal de fundo para amostra de ao API 5L X70.
89
5 RESULTADOS E DISCUSSES
Os resultados obtidos das simulaes e da parte experimental do trabalho so apresentados

e discutidos neste captulo em consonncia com os objetivos da pesquisa. A influncia da
temperatura, tamanho de gro, direo de laminao, posio de medio e tenso no tempo de
percurso da onda Lcr e na intensidade do rudo nas imagens ultrassnicas medida e seus
resultados so apresentados. Neste captulo tambm, os resultados das simulaes com a
influncia da variao do tamanho mdio de gro no SNR das imagens de TFM so comparados
com as medies reais.
5.1 Influncia da temperatura no tempo de percurso da onda Lcr
O resultado do ensaio descrito no item 4.3.1 do Captulo 4 onde verificada a influncia da

temperatura no tempo de percurso (TOF) da onda Lcr no ao ASTM A36 apresentado no grfico
da Figura 5.1.
35.000
TOF (ns)
34.980
34.960
34.940
y = 10,85x + 34.716,40
R = 0,99
34.920
34.900
34.880
16,0
18,0
20,0
22,0
Temperatura ( C)
24,0
Figura 5.1. Influncia da temperatura no TOF da onda Lcr na amostra n 21 de ao ASTM A36.
90
A variao do TOF da onda Lcr em relao temperatura se mostrou linear, como era
esperado, e o coeficiente de variao encontrado foi de 10,85 ns/C. Esse coeficiente a
inclinao da linha de tendncia calculada pelo mtodo dos mnimos quadrados mostrada no
grfico da Figura 5.1. Esse coeficiente utilizado na Equao 5.1 para a correo dos valores de
TOF lidos em funo da temperatura medida. A temperatura escolhida para padronizar as
medies foi 24 C, por ser essa a temperatura mdia mantida no laboratrio durante os
experimentos. Apesar de a temperatura mxima obtida na avaliao da influncia da temperatura
estar prxima de 24 C, trabalhos anteriores mostram que a taxa de variao do TOF em funo
da temperatura se mantm constante mesmo para temperaturas mais altas (SANTOS, 2007;
BUENOS, 2014).
= + (24 )
(5.1)
Na Equao 5.1, o TOF corrigido (em nano-segundos), o TOF medido

(tambm em nano-segundos), o coeficiente encontrado de variao do TOF pela temperatura
e T a temperatura medida na amostra durante o experimento.
Na Figura 5.2 apresentado o resultado obtido do mesmo experimento, mas agora para o
ao API 5L X70 onde o coeficiente encontrado foi 9,70 ns/C.
34.980
TOF (ns)
34.960
34.940
34.920
y = 9,70x + 34.733,14
R = 0,97
34.900
34.880
34.860
14,0
16,0
18,0
20,0
22,0
Temperatura ( C)
24,0
Figura 5.2. Influncia da temperatura no TOF da onda Lcr na amostra de ao API 5L X70.
91
5.2 Influncia da temperatura na intensidade do rudo nas imagens ultrassnicas
Os resultados apresentados neste item so referentes aos procedimentos experimentais

descritos no item 4.3.6. As regies de anlise do rudo de gro e sinal de fundo usadas para o
clculo do SNR foram mostrados na Figura 4.34. A influncia da temperatura no SNR na amostra
nmero 25 de ao A36 pode ser visualizada na Figura 5.3, para a profundidade entre 6 e 10 mm e
na Figura 5.4 para a profundidade entre 10 e 14 mm.
45,00
44,80
SNR (dB)
44,60
44,40
y = 0,15x + 41,49
R = 0,95
44,20
44,00
43,80
43,60
15,0
16,0
17,0
18,0 19,0 20,0

Temperatura ( C)
21,0
22,0
23,0
Figura 5.3. Variao do SNR da imagem de TFM em funo da temperatura na amostra de ao

ASTM A36 para profundidade entre 6 e 10 mm (amostra n 25).
92
49,00
48,90
SNR (dB)
48,80
48,70
48,60
48,50
48,40
48,30
48,20
48,10
15,0
16,0
17,0
18,0 19,0 20,0

Temperatura ( C)
21,0
22,0
23,0

Ao analisar os grficos das Figuras 5.3 e 5.4, verifica-se que para a imagem mais prxima
da sonda a influncia da temperatura no SNR clara e apresenta uma relao praticamente linear.
Esse comportamento pode ser notado pelo coeficiente de determinao da linha de tendncia
prximo de 1 (R = 0,95). Entretanto, para o SNR obtido da imagem com profundidade entre 10 e
14 mm esse comportamento no claro (Figura 5.4).
Uma das possveis causas para o efeito da variao da temperatura no SNR seria o prprio
efeito da temperatura na velocidade da onda ultrassnica. Para obteno das imagens de TFM
neste trabalho utilizado o valor padro da velocidade da onda longitudinal no ao de 5.900 m/s.
Usando os prprios dados adquiridos para a formao da imagem, foi possvel estimar a
velocidade real na amostra em cada nvel de temperatura medido e us-la, ao invs do valor
padro. Para isso, foram utilizadas as formas de onda gravadas de cada um dos 64 elementos com
eles atuando tanto como emissores quanto receptores (modo pulso eco). Um exemplo de forma de
onda gravada no modo pulso eco pode ser vista na Figura 5.5. Como para essas formas de onda
gravadas pode-se verificar o eco de fundo duas vezes, possvel estimar o tempo de percurso da
onda no material e consequentemente sua velocidade. Os sinais gravados foram filtrados com a
janela gaussiana descrita no item 4.4 e as amplitudes mximas dos dois ecos de fundo foram
estabelecidas como pontos de medio na forma de onda para obteno do tempo de percurso. O
93
tempo obtido para cada um dos 64 elementos usado para calcular o tempo mdio e a velocidade
calculada considerando a espessura da amostra (15,9 mm). O efeito da dilatao trmica
tambm foi levado em considerao com a correo do valor da distncia percorrida pela onda. O
coeficiente de dilatao utilizando foi de 1,2x10-5 C-1 (HIBBELER, 2004). As velocidades
estimadas em funo das temperaturas podem ser vistas na Figura 5.6. Nas Figuras 5.7 e 5.8, so
mostrados os novos SNRs calculados com os valores medidos de velocidade.
Tempo de percurso
Figura 5.5. Exemplo de forma de onda adquirida no modo pulso eco com dois ecos de fundo da
pea para obteno do tempo de percurso.
94
6.038
y = - 1,02 x + 6.051,19
R = 0,87
Velocidade (m/s)
6.036
6.034
6.032
6.030
6.028
6.026
14,0
16,0
18,0
20,0
Temperatura ( C)
22,0
24,0
Figura 5.6. Variao da velocidade de onda em funo da temperatura para medies com
elementos do array no modo pulso eco.
42,40
42,20
SNR (dB)
42,00
41,80
y = 0,17x + 38,56
R = 0,93
41,60
41,40
41,20
41,00
15,0
16,0
17,0
18,0 19,0 20,0

Temperatura ( C)
21,0
22,0
23,0
Figura 5.7. Variao do SNR da imagem de TFM calculada com a velocidade corrigida em
funo da temperatura para a profundidade entre 6 e 10 mm.
95
47,10
47,00
SNR (dB)
46,90
46,80
46,70
46,60
46,50
46,40
46,30
15,0
16,0
17,0
18,0 19,0 20,0

Temperatura ( C)
21,0
22,0
23,0
Figura 5.8. Variao do SNR da imagem de TFM calculada com a velocidade corrigida em
funo da temperatura para a profundidade entre 10 e 14 mm.
Analisando primeiramente o grfico da Figura 5.6 verifica-se, como esperado, a reduo da

velocidade de onda em funo do aumento de temperatura. Nota-se tambm uma diferena entre
os valores de velocidade estimados, entre 6.038 e 6.028 m/s, e o valor padro de 5.900 m/s usado
previamente para obteno das imagens de TFM. Essa diferena, de aproximadamente 2% em
relao ao valor padro deve-se provavelmente a diferenas de microestruturas e imprecises na
medio de espessura da amostra e na prpria estimativa do tempo de percurso. Entretanto, se
usado o valor padro para obteno de todas as imagens, a comparao entre os SNRs continua
vlida.
Utilizando os valores de velocidade obtidos em cada temperatura em que ocorreram as
medies, novas imagens de TFM foram geradas e os SNRs calculados (Figuras 5.7 e 5.8). Os
resultados mostram que as tendncias nos dois grficos no se alteram significativamente se
comparados com os dos SNRs obtidos com a temperatura padro (Figuras 5.3 e 5.4). Para a
profundidade entre 6 e 10 mm o SNR apresenta a mesma tendncia de crescimento
aproximadamente linear com a temperatura e para a profundidade entre 10 e 14 mm, essa
tendncia mais difcil de ser percebida. Na Tabela 5.1, possvel comparar os valores mdios e
desvios padro de todos os SNRs, tanto para o uso da velocidade padro de 5.900 m/s quanto
para o uso da velocidade varivel com a temperatura. Nota-se que o desvio padro menor para o
96
SNR obtido para a maior profundidade na pea (0,21 dB para os dois casos, para temperatura
variando entre 15 e 22 C, aproximadamente), indicando que quanto maior a profundidade da
imagem de TFM usada para o clculo do SNR, menor influncia da temperatura.
Tabela 5.1. Mdia e desvios padro dos SNRs, em dB, para o ensaio de temperatura (amostra n
25).
Velocidade usada:
5.900 m/s
Varivel
Profundidade:
z = 6 a 10 mm
z = 10 a 14 mm
z = 6 a 10 mm
z = 10 a 14 mm
Mdia:
44,29
48,64
41,73
46,64
Desvio padro:
0,36
0,21
0,41
0,21
Para checar se os resultados se repetiam, o experimento para verificar a influncia da

temperatura no SNR das imagens de TFM foi repetido, dessa vez na amostra n 17. Contudo, ao
invs de iniciar as medies com a temperatura mais baixa, fez-se ao contrrio. A pea foi
colocada ao sol por cerca de 30 minutos antes das medies e a partir do incio das medies o ar
condicionado do laboratrio foi ligado. Sucessivas medies foram realizadas medida que a
temperatura da amostra caia. Os resultados para as duas profundidades da imagem, definidas na
Figura 4.34, esto nas Figuras 5.9 e 5.10.
97
48,00
47,50
SNR (dB)
47,00
46,50
46,00
45,50
y = 0,16x + 41,07
R = 0,94
45,00
44,50
20,0
25,0
30,0
35,0
Temperatura ( C)
40,0
45,0

49,90
49,80
SNR (dB)
49,70
49,60
49,50
49,40
49,30
49,20
49,10
49,00
20,0
25,0
30,0
35,0
Temperatura ( C)
40,0
45,0

Pelas Figuras 5.9 e 5.10, nota-se que o comportamento do SNR em funo da temperatura
semelhante ao verificado para a amostra 25 (Figuras 5.3 e 5.4). Para a profundidade de imagem
entre e 6 e 10 mm o SNR cresce 0,16 dB/C para a amostra 17 contra 0,15 dB/C para a amostra
98
25. No caso da profundidade entre 10 e 14 mm, torna-se mais difcil estabelecer essa mesma
relao linear, assim como ocorreu no experimento descrito anteriormente.
Para verificar se essas variaes em dB do SNR so significativas, foram feitas 7 medies
na amostra 25 no mesmo ponto usado para verificar a influncia da temperatura, mas nesse caso a
temperatura foi mantida constante (23,7 C, em mdia, com desvio padro de 0,1 C). Os
resultados, em dB, de cada medio do SNR so apresentados nas Figuras 5.11 e 5.12.
49,30
SNR (dB)
49,20
49,10
49,01 (mdia)
0,23 (desvio padro)
49,00
48,90
48,80
48,70
1
4
Medio
Figura 5.11. Variao do SNR em funo da medio para uma mesma posio e temperatura
(amostra n 25 e z = 6:10 mm).
99
45,00
SNR (dB)
44,80
44,65 (mdia)
0,12 (desvio padro)
44,60
44,40
44,20
44,00
43,80
4
Medio
Figura 5.12. Variao do SNR em funo da medio para uma mesma posio e temperatura
(amostra n 25 e z = 10:14 mm).
Os desvios padro obtidos e mostrados nos grficos das Figuras 5.11 e 5.12 correspondem,
aproximadamente, a 60% dos valores encontrados quando a temperatura variada (Tabela 5.1).
Esses valores de desvios padro so significativos levando-se em conta que no primeiro ensaio
foram utilizados 15 valores de temperatura diferentes com variao entre 15,5 e 22,3 C e no
segundo no ocorreu variao da temperatura. Pela comparao, razovel concluir que boa
parte variao verificada no SNR das medies se deve prpria incerteza da medio e no
apenas possveis variaes de temperatura.
Nas medies para esse trabalho, tomou-se o cuidado para que a temperatura das amostras
no sofresse grandes variaes, sendo monitorada para que ficasse em torno de 24 C. Isso foi
possvel atravs do sistema de medio com termopar e o controle de ar condicionado do
laboratrio onde ocorreram as medies. Portanto, decidiu-se que o SNR s seria corrigido para a
profundidade entre 6 e 10 mm com o valor de 0,155 dB/C obtido pela mdia da inclinao das
linhas de tendncia dos grficos das Figuras 5.3 e 5.9. A temperatura padro escolhida foi
tambm 24 C, assim como para a correo do TOF da Lcr (Equao 5.1). Para imagens obtidas
em maiores profundidades nas amostras de ao A36, optou-se em no corrigir o valor do SNR
por no ter sido possvel encontrar uma relao linear plausvel entre temperatura e SNR e pelo
fato da variao ser relativamente pequena.
100
O resultado para o ensaio para a verificao da influncia da temperatura no SNR para a

amostra do ao API 5L X70 mostrado no grfico da Figura 5.13. Nesse caso, foi considerada a
rea da imagem de TFM mostrada na Figura 4.36.
38,00
37,80
SNR (dB)
37,60
37,40
37,20
37,00
36,80
y = 0,07x + 34,78
R = 0,88
36,60
36,40
36,20
20,0
25,0
30,0
35,0
Temperatura ( C)
40,0
45,0

API 5L X70.
Pela linha de tendncia do grfico da Figura 5.13 possvel ver que o SNR aumenta a uma
taxa de 0,07 dB/C. Esse valor ser usado para corrigir os valores de SNR medidos para a
temperatura padro de 24 C.
5.3 Influncia do tamanho de gro no tempo de percurso da onda L cr e na intensidade do

rudo nas imagens ultrassnicas
A variao do tempo de percurso da onda Lcr em funo dos tamanhos mdios de gro das
cinco amostras de ao A36 mostrada no grfico da Figura 5.14.
101
35.750
35.700
TOF (ms)
35.650
35.600
35.550
35.500
35.450
35.400
35.350
35.300
50
100
150
200
Tamanho mdio de gro (m)
250
Figura 5.14. Grfico para a variao do TOF da onda Lcr em funo do tamanho mdio de gro.
O desvio padro para as medies do TOF em cada amostra variou entre 1 e 3 ns e por isso
no possvel visualizar a barra de erro associada a cada valor mdio no grfico da Figura 5.14.
Os resultados apresentados na Figura 5.14 mostram que o tempo de percurso da onda L cr tende a
ser maior para amostras com tamanhos mdios de gro maiores. Contudo, os valores obtidos para
a amostra tratada a 1.000 C e com tamanho mdio de gro de 98 m destoa do restante das
amostras. Pode-se especular que no uniformidades no material no relacionadas diretamente ao
tamanho de gro possam estar influenciando no resultado de tempo de percurso.
A relao entre o tamanho de gro mdio e o SNR mdio das oito posies de medio
(Figura 4.28) com a sonda de array de 5 MHz para o sistema de 64 canais pode ser vista nas
Figuras 5.15 e 5.16. No Apndice B so apresentados os valores de SNR obtidos para cada
posio nas amostras. Na Figura 5.15, o SNR calculado para a imagem de TFM com
profundidade entre 6 e 10 mm e na Figura 5.16 para z variando entre 10 e 14 mm.
102
45,00
y = -0,03x + 39,70
R = 0,79
43,00
41,00
SNR (dB)
39,00
37,00
35,00
33,00
31,00
29,00
27,00
25,00
0
50
100
150
200
250
Figura 5.15. Relao entre o SNR mdio e o tamanho mdio de gro para o sistema de medio
de 64 canais e z = 6:10 mm.
50,00
y = -0,03x + 46,91
R = 0,82
48,00
46,00
SNR (dB)
44,00
42,00
40,00
38,00
36,00
34,00
32,00
30,00
0
50
100
150
200
250
Figura 5.16. Relao entre o SNR mdio e o tamanho mdio de gro para o sistema de medio
de 64 canais e z = 10:14 mm.
Nota-se nos grficos das Figuras 5.15 e 5.16 que o SNR mdio tende a cair conforme o
tamanho de gro das amostras aumenta. Conforme a Equao 3.4, a amplitude de espalhamento
tende a aumentar conforme maior o espalhador. Consequentemente, a intensidade do rudo de
gro aumenta fazendo com que o SNR caia. As inclinaes das linhas de tendncia obtidas
103
apresentaram o mesmo coeficiente de inclinao (- 0,03 dB/m) para as duas profundidades de

imagem analisadas. Nota-se tambm pelas barras de erros, que os resultados apresentam grande
disperso, ou seja, os valores de SNR apresentam grande variao entre as oito posies de
medio para uma mesma amostra. Uma das causas para o valor elevado da disperso reside no
fato que as superfcies das peas tratadas termicamente acabam apresentando irregularidades que
atrapalham no acoplamento do array com a pea, conforme pode ser notado na Figura 4.2(b).
importante salientar tambm que o valor do SNR mdio pouco varia para as amostras com
tamanho de gro de 98, 131 e 166 m.
Se combinados os dados de SNR mdio e TOF da onda L cr apresentados nos grficos das
Figuras 5.14 5.16, possvel confrontar os dois parmetros conforme pode ser visto nas Figuras
5.17 e 5.18. Nos grficos, possvel notar uma relao aproximadamente linear entre o SNR
mdio e TOF, mas que no conclusiva, devido ao fato de que o SNR mdio pouco varia para as
amostras com tamanho de gro intermedirio.
35.750
35.700
35.650
TOF (ns)
35.600
35.550
35.500
35.450
35.400
35.350
y = -48,93x + 37.206,94
R = 0,82
35.300
35.250
30,00
32,00
34,00
36,00
SNR (dB)
38,00
40,00
Figura 5.17. Relao do TOF e SNR mdio para amostras de ao ASTM A36 tratadas
termicamente (z = 6:10 mm).
104
35.750
35.700
35.650
TOF (ns)
35.600
35.550
35.500
35.450
35.400
35.350
35.300
35.250
38,00
y = -50,29x + 37.612,78
R = 0,88
40,00
42,00
SNR (dB)
44,00
46,00
termicamente (z = 10:14 mm).
Na Tabela 5.2, so apresentadas as quantidades de gros usadas para cada distribuio de

gro gerada conforme modelo descrito no Captulo 3 bem como o tempo de simulao
aproximado para obteno de todas as formas de onda necessrias para a aplicao do FMC e
TFM. Para cada tamanho mdio de gro, trs distribuies diferentes de gro foram geradas
conforme o procedimento descrito na seo 3.1. A simulao dos sinais para o clculo do SNR
foi feita com base na Equao 3.7 para o rudo de gro e na Equao 3.8 para o sinal de fundo da
pea. Os sinais foram gerados com 700 pontos para o rudo de gro e 1.000 pontos para o sinal de
fundo da pea. A frequncia de amostragem considerada na simulao foi de 50 MHz, a mesma
utilizada para a aquisio dos sinais reais para os sistemas de 64 e 128 canais. No foi realizada a
simulao para a amostra de tamanho de 22 m, pois o tempo de simulao seria bastante
elevado, considerado o nmero de gros necessrios para preencher a regio de interesse. Um
programa foi desenvolvido em MATLAB para realizar os clculos e foi rodado em um laptop
marca Dell, modelo Latitute E6530, processador Intel Core i5-3340M CPU 2.70 GHz.
105
Tabela 5.2. Nmero de gros de cada modelo e tempo de simulao.

Tamanho de
Modelo
gro (m)
98
131
166
209
Nmero
Tempo de simulao (min)
de gros
Frequncia (MHz)/n de elementos

2,5/64
5,0/64
5,0/128
10/128
17.711
59
74
295
398
17.761
59
74
296
400
17.808
59
74
297
401
10.182
34
42
170
229
10.236
34
43
171
230
10.211
34
43
170
230
6.493
22
27
108
146
6.442
21
27
107
145
6.515
22
27
109
147
3.893
13
16
65
88
3.864
13
16
64
87
3.873
13
16
65
87
Na Figura 5.19 possvel ver uma srie de imagens de TFM obtidas pela simulao e
experimentalmente para a frequncia de 2,5 MHz. Os dados experimentais foram obtidos de
medies com o sistema de 128 canais da Universidade de Bristol, seguindo o procedimento
descrito na seo 4.3.7. Nas imagens, tanto experimentais quanto simuladas, percebe-se pela a
intensidade das manchas, que o nvel do rudo de gro aumenta medida que o gro aumenta.
Na Figura 5.20 apresentado um comparativo entre os SNRs obtidos experimentalmente e por
meio da simulao para as frequncias de 2,5, 5 e 10 MHz.
106
(a)
(e)
(b)
(f)
(c)
(g)
(d)
(h)
Figura 5.19. Exemplos de imagens de TFM (2,5 MHz). Tamanhos mdios de gro de (a) 98 m,
(b) 131 m, (c) 166 m, (d) 209 m, (e) 98 m, (f) 131 m, (g) 166 m, (h) 209 m. As imagens
de (a) at (d) foram obtidas pela simulao e de (e) at (h) foram obtidas experimentalmente.
107
(a)
Experimental
63,00
SNR (dB)
58,00
53,00
Simulao
48,00
43,00
Experimental:
38,00
y = -0,05x + 60,24
R = 0,90
33,00
28,00
50
100
150
200
250
Simulao:
y = -0,06x + 44,47
R = 0,82
(b)
67,00
Experimental
60,00
SNR (dB)
53,00
Simulao
46,00
39,00
Experimental:
32,00
y = -0,08x + 59,55
R = 0,96
25,00
18,00
50
100
150
200
250
Simulao:
y = -0,04x + 31,38
R = 0,70
(c)
60,00
Experimental
SNR (dB)
50,00
40,00
Simulao
30,00
Experimental:
y = -0,20x + 58,29
R = 0,98
20,00
10,00
0
50
100
150
200
250
Simulao:
y = -0,02x + 18,17
R = 0,97
Figura 5.20. Variao do SNR em funo do tamanho de gro para dados experimentais (sistema
de 128 canais) e simulados para as frequncias de (a) 2,5, (b) 5 e (c) 10 MHz.
Nos grficos da Figura 5.20 possvel notar que para um dado tamanho de gro o SNR
tende a cair com a frequncia e para uma dada frequncia o SNR diminui com o dimetro mdio
do gro. Neste experimento com o sistema de 128 canais, as medies foram feitas em amostras
108
com melhor acabamento superficial (Figura 4.29), e por esse motivo a disperso dos resultados
foi reduzida. Analisando primeiramente o grfico para a frequncia de 2,5 MHz, os coeficientes
angulares das linhas de tendncia obtidas a partir dos valores de SNR das imagens de TFM
simuladas e experimentais ficaram prximos (-0,06 e -0,05 dB/m, respectivamente). Entretanto,
existe uma diferena mdia de aproximadamente de 17,5 dB entre os valores obtidos
experimentalmente e por simulao para os SNRs. No est clara a razo desta diferena
aproximadamente constante encontrada nos valores de SNR entre experimento e simulao.
Pode-se especular sobre diferenas nos valores das constantes elsticas usados na simulao
(Tabela 3.1) com valores reais das amostras. Variaes na composio qumica das amostras
tambm poderiam ser responsveis por essa diferena. Para a frequncia de 5 MHz essa diferena
entre dados experimentais e simulados sobe para 22 dB e a inclinao das linhas de tendncia
para os dados experimentais passa para -0,08 dB/m, contra -0,04 dB/m do SNR das imagens
simuladas. Para a sonda de 10 MHz verifica-se grande discrepncia entre as inclinaes das
linhas de tendncia, com -0,02 dB/m para os dados simulados e -0,20 dB/m para os dados
experimentais, um valor dez vezes maior em termos absolutos. Nesse caso, para maiores
frequncias, o fenmeno de espalhamento mltiplo provvel que seja mais acentuado,
significando que o espalhamento deixa de ser considerado fraco e a aproximao de Born usada
no desenvolvimento do modelo usado nas simulaes no mais vlida.
Ainda nos grficos da Figura 5.20, considerando uma relao linear entre SNR e tamanho
de gro, a taxa de variao do SNR para os dados experimentais maior no experimento com a
sonda de 10 MHz, sendo -0,20 dB/m contra -0,08 e -0,05 dB/m para 5 e 2,5 MHz,
respectivamente. O R para o experimento com a sonda de 10 MHz tambm ficou mais prximo
de 1, se comparado com os outros dois (0,98 contra 0,96 e 0,90), indicando que a relao entre
SNR e tamanho de gro mdio pode ser aproximada melhor por uma reta.
No Apndice C so apresentados resultados complementares onde foi verificado o efeito da
utilizao de diferentes distribuies de gros para um mesmo dimetro mdio nas imagens
ultrassnicas bem como o efeito da variao da frao de gros na regio de interesse.
As amostras cortadas tambm foram medidas com o sistema de 64 canais e a comparao
da variao do SNR em funo do tamanho de gro obtida pelos dois sistemas apresentada na
Figura 5.21 para a frequncia de 5 MHz. Para o sistema de 64 canais foi usada a sonda de 64
109
elementos detalhada na Figura 4.14 e para o sistema de 128 canais foi usada de 5 MHz e 128
elementos descrita na Tabela 4.7. A diferena mxima observada entre os SNRs mdios foi de
2,11 dB (22 m). J os grficos relacionando o TOF e SNR mdio para as trs frequncias usadas
para o sistema de 128 canais so mostrados na Figura 5.22.
128 Canais
65,00
SNR (dB)
60,00
64 Canais
55,00
50,00
45,00
40,00
35,00
0
50
100
150
200
250
128 Canais:
y = -0,09x + 61,76
R = 0,95
64 Canais:
y = -0,08x + 59,55
R = 0,96
Figura 5.21. Variao do SNR em funo do tamanho mdio de gro para os sistemas de 64 e 128
canais utilizando sondas com frequncia 5 MHz.
110
TOF (ns)
(a)
35.750
35.700
35.650
35.600
35.550
35.500
35.450
35.400
35.350 y = -35,84x + 37.421,36
R = 0,73
35.300
35.250
48,00
52,00
56,00
60,00
SNR (dB)
TOF (ns)
(b)
35.750
35.700
35.650
35.600
35.550
35.500
35.450
35.400
35.350
y = -19,04x + 36.400,32
35.300
R = 0,66
35.250
40,00
44,00
48,00
52,00
SNR (dB)
56,00
60,00
50,00
60,00
TOF (ns)
(c)
35.750
35.700
35.650
35.600
35.550
35.500
35.450
35.400
35.350
y = -8,15x + 35.741,53
35.300
R = 0,65
35.250
10,00
20,00
30,00
40,00
SNR (dB)
termicamente e medidas com sondas de array de (a) 2,5, (b) 5 e (c) 10 MHz.
111
5.4 Influncia da direo de laminao no tempo de percurso da onda L cr e intensidade do

Os experimentos para verificar a relao entre o tempo de percurso da onda L cr, o SNR das
imagens de TFM e a direo de laminao nas amostras de ao A36 so descritos nas sees
4.3.3 e 4.3.8. Os resultados para essas medies so apresentados nas Figuras 5.23 e 5.24 para
imagens de TFM em regies das peas definidas na Figura 4.34. A direo de laminao est
associada forma do gro e verificado o comportamento da onda ultrassnica incidente nas
direes alongadas e achatadas dos gros da amostra laminada. Nos grficos so
apresentados os SNRs mdios calculados a partir dos SNRs obtidos das oito posies definidas
para cada posio de medio com a onda Lcr (ver Figuras 4.23 e 4.30). Os SNRs obtidos para
todas as posies de medio so apresentados no Apndice D. Portanto, esto representadas nos
grficos 20 medies de TOF e SNR mdio na direo de laminao (duas posies de medio
para cada uma das 10 peas) e 20 medies na direo transversal.
35.100
35.050
35.000
TOF (ns)
34.950
34.900
Direo
Transversal
34.850
34.800
34.750
34.700
34.650
39,0
Direo de
Laminao
y = -56,85x + 37.262,72
R = 0,97
40,0
41,0
42,0
43,0
44,0
SNR mdio (dB)
45,0
46,0
Figura 5.23. Variao do TOF da onda Lcr em funo do SNR mdio para medies na direo
paralela e transversal laminao das amostras (z = 6:10 mm).
112
35.100
35.050
35.000
TOF (ns)
34.950
34.900
Direo
Transversal
34.850
34.800
34.750
Direo de
Laminao
y = -56,81x + 37.512,53
R = 0,97
34.700
34.650
43,0
45,0
47,0
SNR mdio (dB)
49,0
51,0
Figura 5.24. Variao do TOF da onda Lcr em funo do SNR mdio para medies na direo
paralela e transversal laminao das amostras (z = 10:14 mm).
Percebe-se nos grficos das Figuras 5.23 e 5.24 que h um aumento do SNR com a queda
do TOF da onda Lcr. A taxa de variao do TOF em funo do SNR ficou em torno de -56,8
ns/dB, se for considerada que a relao entre os dois parmetros linear.
5.5 Influncia da posio de medio no tempo de percurso da onda L cr e intensidade do

Nesta seo avaliado se a variao que ocorre no tempo de percurso medido da onda L cr
para diferentes posies de medio ocorre tambm com o SNR obtido de imagens de TFM. Os
resultados aqui so referentes aos procedimentos experimentais descritos na seo 4.3.4 para
medio do TOF da onda Lcr e na seo 4.3.9 para obteno do SNR mdio das imagens de TFM.
Como so 10 amostras, e cada uma contm 6 posies de medio com sonda de onda L cr,
obtm-se ao todo 60 resultados de TOF. Assim como ocorreu para a verificao da influncia da
direo de laminao, o SNR mdio resultado dos SNRs obtidos das 8 posies de medio
com a sonda de array que compem a posio de medio com a onda L cr. Os dados obtidos so
113
apresentados nos grficos das Figuras 5.25 e 5.26. Os SNRs por posio de medio em cada
amostra so mostrados no Apndice E.
35.060
35.040
TOF (ns)
35.020
35.000
34.980
34.960
34.940
34.920
39,20
39,40
39,60
39,80 40,00 40,20

SNR mdio (dB)
40,40
40,60
Figura 5.25. Relao entre TOF e SNR mdio para diferentes amostras e posies de medio nas
amostras de ao A36 (z = 6:10 mm).
35.060
35.040
TOF (ns)
35.020
35.000
34.980
34.960
34.940
34.920
43,00
43,50
44,00
44,50
SNR mdio (dB)
45,00
45,50
Figura 5.26. Relao entre TOF e SNR mdio para diferentes amostras e posies de medio nas
amostras de ao A36 (z = 10:14 mm).
114
Para este experimento, as variaes encontradas nos tempos de percurso medidos da onda
Lcr no podem ser diretamente relacionadas com o SNR mdio, conforme pode ser visto nos
grficos das Figuras 5.25 e 5.26. No possvel encontrar relao aparente entre os valores de
TOF e SNR. Para o conjunto de dados, enquanto o TOF pode variar at 100 ns entre duas
posies de medio diferentes, o SNR pode variar pouco mais de 1 dB, apenas. Neste caso, o
fator desconhecido que causa a variao nas leituras de TOF, no afeta o valor medido de SNR
nas imagens de TFM.
5.6 Influncia da tenso no tempo de percurso da onda Lcr e intensidade do rudo nas
imagens ultrassnicas
Por fim, so apresentados os resultados da avaliao da influncia da tenso mecnica

aplicada na amostra de ao API 5L X70 no TOF da onda Lcr e no SNR das imagens de TFM,
baseando-se nos experimentos detalhados nas sees 4.3.5 e 4.3.10. A rea na amostra escolhida
para obteno da imagem de TFM para clculo do SNR foi apresentada na Figura 4.36. Os
resultados para a variao do TOF em funo da presso aplicada pelo cilindro hidrulico na
amostra esto na Figura 5.27 enquanto a variao do SNR mdio em funo da presso
mostrada na Figura 5.28. Os valores de SNR obtidos por posio de medio so apresentados no
Apndice F. Nos grficos esto representadas as mdias para as trs repeties do experimento. O
SNR mdio obtido tambm pela mdia dos SNRs medidos nas oito posies mostradas na
Figura 4.32.
115
35.000
34.995
34.990
TOF (ns)
34.985
34.980
34.975
34.970
y = 1,84x + 34.965,86
R = 1,00
34.965
34.960
34.955
10
15
Presso da bomba (MPa)
20
Figura 5.27. Variao do TOF da onda Lcr em funo da presso aplicada no dispositivo de
tenso no ensaio com a amostra de ao API 5L X70.
36,60
36,50
SNR mdio (dB)
36,40
36,30
36,20
36,10
y = 0,02x + 36,20
R = 0,87
36,00
35,90
35,80
10
15
Presso da bomba (MPa)
20
Figura 5.28. Variao do SNR mdio das imagens de TFM em funo da presso aplicada no
dispositivo de tenso no ensaio com a amostra de ao API 5L X70.
Conforme o esperado, o tempo de percurso da onda L cr varia linearmente com a tenso

aplicada (Figura 5.27). Na Figura 5.28, o SNR mdio tambm parece variar com a tenso, mas
essa variao bastante pequena pois de 0 a 15 MPa a mdia do SNR mdio varia apenas 0,27
dB. Alm disso, a incerteza alta como pode ser visto nas barras de erro calculadas com base no
116
desvio padro da mdia das trs repeties do experimento. De 0 a 15 MPa aplicados, o TOF
variou 27 ns. Para o ao API 5L X70, considerando a constante acustoelstica L11 de 2,45
(ANDRINO, 2007), essa variao de tempo de percurso j equivale a uma variao de
aproximadamente 87 MPa de tenso no material. Uma anlise de varincia (ANOVA) foi feita
tanto com os dados do TOF quanto do SNR e os resultados so dados nas Tabelas 5.3 e 5.4,
respectivamente.
Tabela 5.3. ANOVA para o TOF da onda Lcr.

ANOVA: fator nico
Nmero de
Grupo
medies
0 MPa
3
5 MPa
3
10 MPa
3
15 MPa
3
Fonte da variao
SQ
Entre grupos
1.266
Dentro dos grupos
134
Total
1.400
Soma
104.897
104.925
104.954
104.979
gl
3
8
Mdia
34.966
34.975
34.985
34.993
MQ
422
17
Varincia
30
14
8
15
F
25,1750
valor-P
0,0002
F crtico
4,0662
valor-P
0,3867
F crtico
4,0662
11
Tabela 5.4. ANOVA para o SNR.

ANOVA: fator nico
Nmero de
Grupo
medies
0 MPa
3
5 MPa
3
10 MPa
3
15 MPa
3
Fonte da variao
SQ
Entre grupos
0,12
Dentro dos grupos
0,28
Total
0,40
Soma
108,47
109,01
109,08
109,29
gl
3
8
Mdia
36,16
36,34
36,36
36,43
MQ
0,040
0,035
11
117
Varincia
0,102
0,008
0,020
0,011
F
1,1495
Nas Tabelas 5.3 e 5.4, SQ soma dos quadrados de todos os desvios em relao mdia de
todas as observaes; gl o nmero de graus de liberdade; MQ a mdia quadrtica; F a
estatstica usada para o teste que corresponde razo entre a varincia entre grupos e a varincia
dentro de cada grupo; o valor-P a probabilidade de a hiptese nula ser verdadeira, ou seja, as
mdias de todos os grupos so iguais e F crtico valor de uma distribuio F para 3 e 8 graus de
liberdade e nvel de significncia escolhido de 0,05. O valor-P calculado para o SNR de 0,3867
maior que 0,05, indicando que as mdias dos grupos so iguais, ou seja, as mdias dos SNRs
obtidas para cada nvel de tenso podem ser consideradas iguais. J para o TOF da onda L cr, o
valor-P calculado bem menor (0,0002) demonstrando a diferena de valores medidos entre os
diferentes nveis de tenso, conforme pde ser visualizado na tendncia linear do grfico da
Figura 5.27. Nesse sentido, razovel afirmar que a variao no SNR com tenso pequena o
suficiente para no poder ser distinguida da prpria variabilidade da medio, ao contrrio das
variaes devido ao tamanho e forma (referente direo de laminao) de gro. Nos grficos
das Figuras 5.11 e 5.12, por exemplo, o desvio padro para medies em um mesmo ponto e em
mesmas condies ficaram entre 0,12 e 0,23 dB. Esse resultado levanta a hiptese para a baixa
variabilidade encontrada nos SNRs medidos no experimento para verificao da influncia das
diferentes posies de medio nas amostras de ao A36 (Figuras 5.25 e 5.26). Uma hiptese
para a causa da variao do TOF aliada baixa variao no SNR verificada para aquele
experimento pode ser a presena de tenso residual em diferentes nveis em algumas amostras
medidas. Se for assumido que o SNR sensvel apenas microestrutura e no tenso, ento as
variaes de microestrutura dentro das amostras no so relevantes. Entretanto, se nas mesmas
amostras verificada uma variao no TOF da Lcr, uma provvel causa pode ser a presena de
tenso residual em algumas amostras. Esse fato explicaria a variao do TOF enquanto o SNR,
em mdia no sofre alterao.
Na Figura 5.29, os dados dos grficos das Figuras 5.17 e 5.23 so agrupados em um mesmo
grfico para profundidade de imagem de TFM entre 6 e 10 mm enquanto na Figura 5.30 so
utilizados os grficos das Figuras 5.18 e 5.24 para a profundidade de imagem entre 10 e 14 mm.
O objetivo mostrar ao mesmo tempo as variaes do tempo de percurso da onda Lcr e do SNR
devido s variaes relativas microestrutura do material, especificamente o tamanho mdio de
gro e direo de laminao. Nos grficos, alm dos dados, esto representadas tambm as linhas
118
de tendncias e suas respectivas equaes de reta e linhas que mostram o intervalo de confiana
calculado de acordo com uma distribuio normal e nvel de significncia de 5%.
36.200
36.000
35.800
TOF (ns)
35.600
35.400
35.200
35.000
34.800
y = -75,72x + 38.131,25
R = 0,92
34.600
34.400
30,00
35,00
40,00
45,00
SNR mdio (dB)
Influncia da direo de laminao

Influncia do tamanho de gro
Figura 5.29. Relao entre TOF e SNR mdio para as amostras de ao A36 (z = 6:10 mm).
36.200
36.000
35.800
TOF (ns)
35.600
35.400
35.200
35.000
34.800
y = -89,26x + 39.205,17
R = 0,77
34.600
34.400
35,00
40,00
45,00
50,00
SNR mdio (dB)

Influncia da direo de laminao
Influncia do tamanho de gro
Figura 5.30. Relao entre TOF e SNR mdio para as amostras de ao A36 (z = 10:14 mm).
Os grficos das Figuras 5.29 e 5.30 acumulam as tendncias de queda do TOF em funo
do aumento do SNR verificadas nos ensaios para tamanho de gro e direo de laminao. Em
outras palavras, mostra que a velocidade da onda ultrassnica menor quando a intensidade do
119
rudo maior. Uma relao precisa entre o TOF e SNR seria extremamente til, pois medindo o
SNR de uma amostra, seria possvel conhecer o TOF do material indiretamente e havendo
diferena entre o TOF estimado e o TOF medido, essa diferena seria causada apenas pela tenso
no material. Apesar de existir uma tendncia linear na relao encontrada entre TOF e SNR, os
R das linhas de tendncia para os dados dos grficos no so altos o suficiente para utilizar as
equaes de reta com segurana para estimar o TOF. Como exemplo, a maior diferena entre o
TOF medido representado em um ponto nos grficos das Figuras 5.29 e 5.30 e o TOF calculado
pela equao de reta encontrada para um mesmo SNR mdio foi de 179 ns para a imagem entre 6
e 10 mm e 249 ns para 10 e 14 mm. Essas diferenas equivalem em tenso a 575 e 800 MPa,
respectivamente.
5.7 Resumo dos resultados obtidos
Como concluso do captulo, so apresentados a seguir os principais resultados obtidos

com este trabalho de pesquisa:
Na avaliao da influncia da temperatura no TOF da onda L cr, verificou-se a relao

linear j previamente descrita em trabalhos anteriores. A taxa de variao encontrada
foi utilizada nas medies posteriores do trabalho como fator de correo das medidas
de TOF em diferentes temperaturas.
Quanto relao entre o SNR de imagens de TFM e a temperatura, foi possvel extrair
uma relao apenas para imagens relacionadas regio mais prxima da superfcie,
entre e 6 e 10 mm de profundidade da pea. Neste caso a relao encontrada foi
tambm linear, com o SNR aumentando em funo da temperatura. Entretanto, a
variao do SNR Para imagens mais prximas do fundo da pea, entre 10 e 14 mm, no
foi encontrada relao entre temperatura e SNR, mesmo descontando o efeito de
variao da velocidade da onda ultrassnica em funo da temperatura usada para o
clculo do TFM e a dilatao trmica das amostras.
120
Tanto o TOF da onda Lcr quanto o SNR das imagens ultrassnicas se mostraram
sensveis ao tamanho mdio do gro austentico. O SNR se mostrou mais sensvel
variao do tamanho de gro para frequncias mais altas com relao praticamente
linear para a frequncia de 10 MHz. Um modelo matemtico foi proposto para a
obteno do SNR em imagens de TFM a partir de uma distribuio de dimetros de
gros conhecida. O modelo mostrou boa concordncia para a frequncia mais baixa de
array utilizada (2,5 MHz) em relao taxa de variao do SNR em funo do
dimetro mdio do gro. Para frequncias mais altas, a divergncia entre o resultado do
modelo e o experimental foi alta, provavelmente devido ao efeito do espalhamento
mltiplo ser preponderante em relao ao espalhamento simples considerado no
modelo.
A variao no SNR e no TOF da onda L cr em funo da direo de laminao nas

amostras tambm foi verificado. Os resultados mostraram que enquanto o TOF maior
para a onda Lcr se propagando paralela direo de laminao se comparada direo
transversal, o SNR apresenta comportamento oposto.
A variao do SNR em funo da tenso aplicada foi estudada para verificar a

viabilidade da utilizao das imagens de TFM para avaliar a microestrutura do material
e propiciar possveis correes na medio de tenso com ondas Lcr. Ao contrrio do
TOF da onda Lcr, no foi verificada influncia significativa da tenso no do SNR obtido
de imagens de TFM.
Por fim, foram apresentados em um mesmo grfico os resultados dos experimentos para
avaliar a influncia do tamanho de gro e direo de laminao no TOF e SNR com o
intuito de se obter uma relao considerando variaes da microestrutura relacionadas
ao tamanho e forma de gro.
121
6 CONCLUSES E SUGESTES PARA PRXIMOS TRABALHOS
No trabalho apresentado, foi avaliada a influncia do tamanho de gro mdio, direo de

laminao, tenso e temperatura na intensidade do rudo de gro em imagens geradas por array
ultrassnico. O intuito da avaliao foi verificar a viabilidade de utilizar arrays para determinar
caractersticas da microestrutura do material que influenciam de forma significativa a velocidade
da onda longitudinal criticamente refratada (Lcr) usada para medio de tenso. Conforme j
demonstrado na literatura, os fatores de influncia estudados neste trabalho para as imagens
ultrassnicas apresentam grande influncia na velocidade onda Lcr. Foram feitas medies com a
onda Lcr e array em amostras com diferentes tamanhos de gro, em amostras com direo de
laminao conhecida e em amostras em diferentes temperaturas e sob diferentes nveis de tenso.
O nvel de rudo de gro foi avaliado atravs da relao sinal-rudo (SNR) utilizando a amplitude
do eco de fundo da pea como sinal na relao. O mtodo de gerao de imagens foi o Total
Focusing Method (TFM). A velocidade da onda Lcr foi representada pelo tempo de percurso
(TOF), j que distncia percorrida pela onda durante os diferentes experimentos foi mantida a
mesma. Os materiais utilizados no trabalho foram o ao ASTM A36 e o ao API 5l X70. A seguir
so apresentadas as principais concluses sobre os tpicos abordados no trabalho:
a) Influncia da temperatura no TOF da onda LCR e no SNR das imagens de TFM

A influncia da temperatura na velocidade da onda L cr apesar de j ser conhecida, precisou
ser avaliada nos dois materiais. Como se sabe que a relao entre temperatura e velocidade
de onda linear para a faixa de temperatura e tipo de material usado nos experimentos, a
taxa de variao do TOF com a temperatura obtida no experimento foi utilizada para
corrigir os valores medidos nos outros experimentos com onda L cr. Para o ao ASTM A36
foi encontrado o valor de 10,85 ns/C e para o API 5L X70 o valor foi 9,70 ns/C. Para as
imagens ultrassnicas, percebeu-se que o SNR aumenta linearmente com a temperatura
considerando imagens da amostra de ao A36 para a profundidade entre 6 e 10 mm. A taxa
mdia de aumento verificada foi de 0,155 dB/C. Entretanto, para imagens obtidas entre 10
e 14 mm da amostra no foi verificada influncia da temperatura no SNR. O desvio padro
122
das medidas de SNR obtidas das imagens nas duas profundidades, entre 10 e 14 mm o valor
foi de 0,21 dB contra 0,41 dB entre 6 e 10 mm, variando a temperatura entre 15 e 22 C.
Comparando esses valores com os desvios obtidos temperatura constante, 0,23 e 0,12 dB
para 6 a 10 e 10 a 14 mm, respectivamente, nota-se que a variao no SNR em funo
apenas da temperatura corresponde aproximadamente 50% da variao total. Com base
nos resultados, pode-se concluir que a influncia da temperatura no SNR menos
perceptvel para imagens obtidas mais distantes da sonda de array. Portanto, optou-se por
corrigir o valor de SNR das medies em funo da temperatura apenas das imagens
obtidas entre 6 e 10 mm. Para o ao API 5L X70, verificou-se tambm uma variao linear
pequena com taxa de 0,07 dB/C.
b) Influncia do tamanho de gro no TOF da onda LCR e no SNR das imagens de TFM
A influncia do tamanho de gro mdio no TOF da onda Lcr e no SNR das imagens
ultrassnicas em amostras foi verificado em medies em amostras tratadas termicamente
para crescimento do gro austentico. Nesse caso, verificou-se que o TOF em geral aumenta
com o tamanho mdio de gro ao passo que o SNR cai. Agrupando os dados dos dois
experimentos, foram traados grficos de variao do TOF em funo do SNR de imagens
geradas por sondas de array nas faixas de profundidade de 6 a 10 e de 10 a 14 mm.
Tranando uma linha de tendncia linear obtida pelo mtodo dos mnimos quadrados, a
taxa de variao do TOF em funo do SNR mdio foi -48,93 ns/dB para a imagem de 6:10
mm e -50,29 ns/dB para 10:14 mm. O coeficiente de determinao (R) encontrado para as
linhas de tendncia variou entre 0,82 e 0,88.
c) Desenvolvimento de um modelo matemtico para clculo do SNR das imagens de

TFM a partir de uma distribuio de gros
Um modelo matemtico foi proposto para relacionar tamanho de gro e SNR em imagens
de TFM. O modelo parte do princpio de espalhamento simples da onda refletida pelos
gros e recebe como entrada uma distribuio de tamanhos de gros em uma determinada
rea, propriedades do material e especificaes da sonda de array. Comparando os
resultados simulados do modelo e experimentais para trs frequncias de array (2,5, 5 e 10
123
MHz), foi verificada boa concordncia para 2,5 MHz no que se refere a taxa de variao do
SNR em funo do tamanho de gro. Entretanto, verificou-se uma diferena em mdia de
aproximadamente 17,5 dB entre valores simulados e obtidos experimentalmente.
Diferenas entre propriedades do material utilizadas para a simulao com valores reais das
amostras podem ter causado esse offset entre dados simulados e experimentais. Para as
frequncias de 5 e 10 MHz no foi verificada boa concordncia, possivelmente pelo fato de
que a hiptese de espalhamento simples usada no modelo no seja mais vlida.
d) Influncia da direo de laminao no TOF da onda LCR e no SNR das imagens de

TFM
Em dez amostras de ao A36 com direo de laminao conhecida, tanto o TOF quanto o
SNR foram medidos na direo da laminao e na direo transversal. Os resultados das
duas medies foram apresentados em um grfico TOF versus SNR mdio e novamente
verificou-se uma queda do TOF em funo do SNR. Considerando uma linha de tendncia
reta, a taxa de variao encontrada foi de aproximadamente -56,8 ns/dB. Entre as medies
feitas nas amostras seguindo uma mesma direo de propagao da onda L cr foram
encontradas diferenas em TOF de at 100 ns, mas no foi possvel estabelecer uma relao
com SNR medido das imagens.
e) Obteno da relao entre o TOF da onda LCR e o SNR das imagens de TFM
Combinando os resultados dos ensaios de tamanho de gro e direo de laminao, a
relao entre TOF e SNR pode ser estendida para uma faixa maior de valores. A reta obtida
nesse caso para a profundidade de imagem entre 6 e 10 mm apresentou inclinao de -75,72
ns/dB e R de 0,92 e para a imagem entre 10 e 14 mm -89,26 ns/dB e R igual a 0,77.
Apesar da reta obtida no se ajustar adequadamente aos dados experimentais com
coeficiente de determinao mais prximo de 1, os resultados so promissores para a
obteno de uma relao entre SNR e TOF da onda L cr. A verificao da viabilidade da
utilizao das imagens de TFM para identificar variaes microestruturais que influenciam
a velocidade da onda Lcr constitui o objetivo principal do trabalho. Tal verificao est
124
condicionada a obteno dessa relao entre o TOF da onda L cr e o SNR das imagens de
TFM.
f) Influncia da tenso no TOF da onda LCR e no SNR das imagens de TFM

Por fim, foi verificado se o SNR nas imagens de TFM sensvel variao da tenso
aplicada ao material, utilizando a amostra de ao API 5L X70. Confirmou-se primeiramente
a variao praticamente linear do TOF da onda Lcr em funo da variao de tenso
prevista pela teoria acustoelstica. Em seguida foram medidos os SNR para diferentes
nveis de tenso aplicados amostra e atravs de uma anlise de varincia (ANOVA) no
foi notada variao significativa do SNR em funo dos nveis de tenso aplicados. Esse
fato oferece uma boa perspectiva de utilizao do SNR para estimar o TOF da onda Lcr
influenciado somente por variaes de microestrutura como tamanho e direo preferencial
de alinhamento do gro, desde que previamente conhecida a relao entre TOF e SNR para
o material. Neste caso, uma diferena entre o TOF estimado e o TOF propriamente medido
seria resultado somente do estado de tenso do material.
Como sugesto de trabalho futuro com o intuito de aprimorar a tcnica apresentada sugerese tentar medir o SNR de uma imagem mais prxima da superfcie onde a onda Lcr viaja. Para
isso, possvel utilizar sondas de array com frequncias mais altas que permitem a reduo da
profundidade da zona morta ou at mesmo utilizar sapatas montadas na sonda para a gerao das
ondas para formao da imagem tambm no primeiro ngulo crtico formando assim uma
imagem de TFM tambm com ondas L cr. Para reduzir a disperso das medies de SNR, as
amostras podem ser usinadas antes das medies para permitir melhor acoplamento entre sonda e
pea, j que principalmente as amostras tratadas termicamente que podem apresentar superfcie
bastante irregular. Contudo, deve-se tomar cuidado para que no sejam criadas tenses residuais
durante o processo de usinagem das peas.
Outra linha de estudo que pode ser abordada refere-se a desenvolver dispositivos de
medio tenso com uma sonda que comporte tanto os transdutores e sapatas para a gerao da
onda Lcr quanto a sonda de array. Outra alternativa que pode ser estudada a gerao de imagens
de TFM a partir de ondas de cisalhamento geradas por um array prprio para este tipo de onda ou
125
por um array de ondas longitudinais acoplado a uma sapata para criar ondas de cisalhamento
refratadas. O uso de sondas de array matriciais ao invs dos arrays lineares usados neste trabalho
tambm pode ser uma alternativa para obter imagens com maior sensibilidade microestrutura do
material inspecionado.
Concluindo, este trabalho atendeu aos objetivos propostos, aplicando duas tcnicas
diferentes em uma abordagem inovadora para a identificao dos efeitos da microestrutura sobre
a medio de tenses por ondas ultrassnicas. Os resultados obtidos, embora ainda preliminares,
mostram que a tcnica conjunta pode ser usada para a identificao das tenses, desde que sejam
controlados os fatores de influncia e o procedimento de determinao seja criterioso. Novos
estudos permitiro o aprofundamento dessas descobertas.
126
REFERNCIAS
ANDRINO, M. H. Avaliao de tenses residuais em soldas de dutos utilizando o efeito

acustoelstico. 2003. 186p. Dissertao (Mestrado) Faculdade de Engenharia Mecnica,
Universidade Estadual de Campinas, Campinas.
ANDRINO, M. H. Aplicao de ondas longitudinais criticamente refratadas para a medio

de tenses em dutos. 2007. 203p. Tese (Doutorado) Faculdade de Engenharia Mecnica,
ASTM - AMERICAN SOCIETY FOR TESTING AND MATERIALS. ASTM E2491 08:
Standard guide for evaluating performance characteristics of phased-array ultrasonic testing
instruments and systems. West Conshohocken, PA, 2008.
ASTM - AMERICAN SOCIETY FOR TESTING AND MATERIALS. ASTM E2700 09:
Standard practice for contact ultrasonic testing of welds using phased arrays. West
Conshohocken, PA, 2009.
ASTM - AMERICAN SOCIETY FOR TESTING AND MATERIALS. ASTM E112-10:
Standard Test Methods for Determining Average Grain Size. United States, 2010.
ASTM - AMERICAN SOCIETY FOR TESTING AND MATERIALS. A36/A36M 14:
Standard Specification for Carbon Structural Steel. West Conshohocken, PA, 2014.
BOWER, A. F. Applied Mechanics of Solids. Boca Raton: CRC Press, 2009. 820p.
BOWLER, A. I.; DRINKWATER, B. W.; WILCOX, P. D. Ultrasonic array speckle image

correlation for internal strain and displacement measurement in metals. In: Proceedings of SPIE
Volume 7294 - Nondestructive Characterization for Composite Materials, Aerospace
Engineering, Civil Infrastructure, and Homeland Security, 2009. Anais, 2009. p. 1-9.
BOWLER, A. I.; DRINKWATER, B. W.; WILCOX, P. D. An investigation into the feasibility of

internal strain measurement in solids by correlation of ultrasonic images. Proceedings of the
Royal Society A, v. 467, n. 2132, p. 1-24, 2011.
127
BRAY, D. E.; STANLEY, R. K. Nondestrucitve evaluation. A tool in design, manufacturing

and service. Boca Raton: CRC Press, 1997. 586p.
BRAY, D. E. Acoustoelastic constants (Lij) for longitudinal and shear waves in engineering
materials. Disponvel em: <http://brayengr.com/AECTable122612.pdf>. Acesso em 04 de
Agosto de 2015.
BUENOS, A. A. Influncia do tamanho de gro austentico e textura do ao ASTM A36 na

velocidade de propagao de ondas longitudinais criticamente refratadas. 2014. 247p. Tese
(Doutorado) Faculdade de Engenharia Mecnica, Universidade Estadual de Campinas,
Campinas.
BUENOS, A. A.; PEREIRA JR, P.; MEI, P. R., SANTOS, A. A. Influence of Grain Size on the
Propagation of LCR Waves in Low Carbon Steel. Journal of Nondestructive Evaluation, v. 33,
pp.562570, 2014.
CAETANO, S. F. Determinao das constantes acustoelsticas para ao API 5L X70 para

gasodutos. 2003. 167p. Dissertao (Mestrado) Faculdade de Engenharia Mecnica,
DRINKWATER, B.; WILCOX, P. Ultrasonic arrays for non-destructive evaluation: A review.

NDT & E International, v. 39, n. 7, p. 525541, 2006.
DUBOIS, M.; MOREAU, A.; DAWSON, A.; MILITZER, M.; BUSSIERE, J. F. Laser ultrasonic
measurement of microstructure evolution during metals processing. In: RTO AVT Workshop on
Intelligent Processing of High Performance Materials, 1998, Bruxelas, Anais, 1998. p. 1-9
DUPOND, O.; FEUILLY, N.; CHASSIGNOLE, B.; FOUQUET, T.; MOYSAN, J.;
CORNELOUP, G. Relation between ultrasonic scattering and microstructure of polycrystalline
materials. Journal of Physics: Conference Series, v. 269, p. 1-8, 2011.
DUXBURY, D.; RUSSEL, J.; LOWE, M. The effect of variation in phased array element
performance for Non-Destructive Evaluation (NDE). Ultrasonics. v. 53, n. 6, p. 1065-1078,
2012.
128
EGLE, D. M.; BRAY, D. E. Measurement of acoustoelastic and third order elastic constants for
rail steel. The Journal of the Acoustical Society of America, v. 60, n. 3, p. 741-744, 1976.
ENSINGER.
Material
Data
Sheet
Rexolite
1422.
<http://www.ensinger.co.uk/1809.file.dld>. Acesso em 29 de abril de 2015.
Disponvel
em:
ERHARD, A.; WUSTENBERG, H.; SCHENK, G.; MOHRLE, W. Calculation and construction
of phased array-UT probes. Nuclear Engineering and Design, v. 94, n. 3, p. 375-385, 1986.
FRAGA, R. S. Avaliao da profundidade de penetrao de ondas longitudinais

criticamente refratadas. 2007. 167p. Dissertao (Mestrado) Faculdade de Engenharia
Mecnica, Universidade Estadual de Campinas, Campinas.
GINZEL, E.; EKHLAS, A. G.; MATHESON, M.; CYR, P.; BROWN, B. Near field length
compensation options. The e-Journal of Nondestructive Testing, v. 19, n. 6, p. 1 18, 2014.
GUBERNATIS, J.E.; DOMANY, E.; KRUMHANSL, J.A. Formal aspects of the theory of the
scattering of ultrasound by flaws in elastic materials. Journal of Applied Physics, v. 48, n. 7, p.
2804 2811, 1977.
HASEGAWA, M.; YANO, Y.; MATSUMURA, J.; ODA, K. Prospects for within-tree variation
of the acoustoelastic behaviors in Japanese cedar, NDT & E International, v. 49, n. 7, p. 57-63.
2012.
HIBBELER, R. C. Resistncia dos materiais. So Paulo: Pearson Education, 2004. 670p.
HOLMES, C.; DRINKWATER, B. W.; WILCOX, P. D. Post processing of the full matrix of
ultrasonic transmit-receive array data for non-destructive evaluation. NDT & E International, v.
38, n. 8, p. 701-711, 2005.
HUGHES, D. S.; KELLY, J. L. Second - order elastic deformation of solids. Physical Review, v.
92, n. 4, p. 1145-1149, 1953.
129
JAVADI, Y.; AKHLAGHI, M.; NAJAFABADI, M. A. Using finite element and ultrasonic
method to evaluate welding longitudinal residual stress through the thickness in austenitic
stainless steel plates. Materials & Design, v. 45, p. 628-642, 2013.
JAVADI, Y.; NAJAFABADI, M. A. Comparison between contact and immersion ultrasonic

method to evaluate welding residual stresses of dissimilar joints. Materials & Design, v. 47, p.
473-482, 2013.
JAVADI, Y.; PIRZAMAN, H. S.; RAEISI, M. H.; NAJAFABADI, M. A. Ultrasonic stress

evaluation through thickness of a stainless steel pressure vessel. International Journal of
Pressure Vessels and Piping, v. 123124, p. 111-120, 2014.
JAVADI, Y.; HASANI, M.; SADEGHI, S. Investigation of clamping effect on the welding subsurface residual stress and deformation by using the ultrasonic stress measurement and finite
element method. Journal of Nondestructive Evaluation. v. 34, n. 1, p. 1-11, 2015.
JOSEPH, A.; PALANICHAMY, P.; JAYAKUMAR, T. Evaluation of residual stresses in carbon

steel weld joints by ultrasonic Lcr wave technique. Journal of Nondestructive Evaluation. v.
34, n. 1, p. 1-7, 2014.
KRAUSE, M.; MIELENTZ, F.; MILMAN, B.; MULLER, W.; SCHIMTZ, V.;
WIGGENHAUSER, H. Ultrasonic imaging of concrete members using an array system. NDT &
E International, v. 34, n. 6, p. 403-408, 2001.
KRUGER, S. E.; REBELLO, J. M. A.; CHARLIER, J. Broadband ultrasonic backscattering

applied to nondestructive characterization of materials. IEEE Transactions on Ultrasonics,
Ferroelectrics and Frequency Control, v. 51, n. 7, p.832838, 2004.
KUBE, C. M.; DU, H.; GHOSHAL, G.; TURNER, J. A. Stress-dependent changes in the diffuse
ultrasonic backscatter coefficient in steel: Experimental results. The Journal of the Acoustical
Society of America, v. 132, n. 1, p. 43-48, 2012.
KUNDU, T. Advanced ultrasonic methods for material and structure inspection. London:
ISTE, 2007. 393p.
130
LAI, W. M.; RUBIN, D.; KREMPL, E. Introduction to continuum mechanics. Woburn:

Butterworth-Heinemann, 1999. 556p.
LI, C.; PAIN, D.; WILCOX, P. D.; DRINKWATER, B. W. Imaging composite material using
ultrasonic arrays. NDT & E International, v. 53, n. 1, p. 8-17, 2013.
LI, J.; YANG, L.; ROKHLIN, S.I. Effect of texture and grain shape on ultrasonic backscattering
in polycrystals. Ultrasonics, v. 54, n. 7, p.17891803, 2014.
LILLAMAND, I., CHAIX, J. F.; PLOIX, M. A.; GARNIER, V. Acoustoelastic effect in concrete
material under uni-axial compressive loading. NDT & E International, v. 43, n. 8, p. 655660.
2010.
M2M. Gekko. Disponvel em: <http://m2m-ndt.com/products/Gekko.htm>. Acesso em 13 de

maio de 2015.
MARGETAN, F.J.; THOMPSON, R.B.; YALDA-MOOSHABAD, I. Backscattered

microstructural noise in ultrasonic toneburst inspections. Journal of Nondestructive
Evaluation, v. 13, n. 3, p.111136, 1994.
MATWEB. ASTM A36 Steel, bar. Disponvel em:

<http://www.matweb.com/search/DataSheet.aspx?MatGUID=d1844977c5c8440cb9a3a967f8909
c3a>. Acesso em 10 de maro de 2015.
MCNAB, A.; CAMPBELL, M. J. Ultrasonic phased array for nondestructive testing. NDT
International, v. 6, n. 12, p. 333-337, 1987.
MINICUCCI, D. J. Avaliao de tenses por ultra-som no aro de rodas ferrovirias forjadas

novas classe C. 2003. 119p. Dissertao (Mestrado) - Faculdade de Engenharia Mecnica,
MUIR, D. D. One-sided ultrasonic determination of third order elastic constants using

angle-beam acoustoelasticity measurements. 2009. 165p. Tese (Doutorado) - School of
Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology.
131
MURNAGHAN, T. D. Finite deformation of an elastic solid. New York: John Wiley and Sons,
1951. 140p.
NAKAHATA, K.; KONO, N. 3-D modelings of ultrasonic phased array transducer and its
radiation properties in solid. In: SANTOS, A. A. Ultrasonic waves. Rijeka: InTech. 2012. Cap.
3, p. 59-80.
OLYMPUS. Advances in phased array ultrasonic technology applications. Waltham:

Olympus NDT, 2007a. 512p.
OLYMPUS. Introduction to phased array ultrasonic technology applications. Waltham:

Olympus NDT, 2007b. 376p.
OLYMPUS. Phased Array Testing - Basic Theory for Industrial Applications. Waltham:
Olympus NDT, 2010. 113p.
OLYMPUS. Ultrasonic transducers technical notes. Disponvel em: <http://www.olympusims.com/pt/.downloads/download/?file=285213010&fl=en_US>. Acesso em 29 de abril de 2015.
PANETTA, P. D.; BLAND, L. G.; TRACY, M.; HASSAN, W. Ultrasonic backscattering

measurements of grain size in metal alloys. In: TMS2014 Annual Meeting Supplemental
Proceedings - Integration of Materials Science and Nondestructive Evaluation for Materials
Characterization, Anais San Diego: San Diego Convention Center, 2014. p.721730.
PAO, Y.H.; SACHSE, W.; FUKUOKA, H. Acoustoelasticity residual stress measurements. In

MASON, W. P. (Ed.); THURSTON, R. N. Physical Acoustics, New York: Academic Press.,
1984. v. 17, c. 2, p.61143.
PAO, Y.H.; GAMER, U. Acoustoelastics waves in orthotropic media. The Journal of the
Acoustical Society of America, v. 77, n. 3, p.806-812, 1985.
PEREIRA JUNIOR, P. Influncia da Anisotropia gerada por laminao sobre a medio de

tenses por ultrassom em ligas de alumnio 7050. 2011. 137p. Dissertao (Mestrado) Faculdade de Engenharia Mecnica, Universidade Estadual de Campinas, Campinas.
132
PEREIRA JR., P.; BUENOS, A. A.; SANTOS, C. S.; SANTOS JR. A. A. Influncia do tamanho
mdio de gro na birrefringncia acstica. In: CONFERNCIA SOBRE TECNOLOGIA DE
EQUIPAMENTOS (COTEQ), 2013, Porto de Galinhas. Anais, Porto de Galinhas, 2013. p. 110.
POGUET, J.; GARCIA, A.; VAZQUEZ, J.; MARGUET, J.; PICHONNAT, F. Phased array
technology, concepts, and applications. In: 8th Europena Congress on Non Destructive testing,
2002, Barcelona, Espanha. Anais, Barcelona, 2002. p. 1-7.
POWELL, D. J.; HAYWARD, G. Flexible ultrasonic transducer arrays for non-destructive

evaluation applications part 1: the theoretical modelling approach. IEEE Transactions on
Ultrasonics Ferroelectrics and Frequency Control, v. 43, n. 3, p. 385-392, 1996.
SADD, M. H. Elasticity. Theory, applications and numerics. Burlington: Elsevier Inc., 2005.
461p.
SANTOS, C. S. Proposta de sistema automatizado para medio de tenso utilizando o

efeito acustoelstico. 2013. 220p. Tese (Doutorado) - Faculdade de Engenharia Mecnica,
SANTOS, A. A.; AMBIEL, L. B.; GARCIA, R. H.; RODOVALHO, T. G. Stress analysis in

carbon/epoxy composites using Lcr waves. Journal of Composite Materials, v. 48, n. 27, p.
3425-3434, 2014.
SANTOS, C. S.; PEREIRA JR., P.; BUENOS, A. A.; SANTOS JR. A. A.; SANTOS, A. H. C.
Estudo da influncia do acrlico e rexolite na medio de tenso usando ondas longitudinais
criticamente refratadas (Lcr). In: CONFERNCIA SOBRE TECNOLOGIA DE
EQUIPAMENTOS (COTEQ), 2013, Porto de Galinhas. Anais, Porto de Galinhas, 2013. p. 19.
SANTOS, R. A. Efeito da temperatura sobre a medio de tenso por ondas LCR em aos
API 5L X70. 2007. 127p. Dissertao (Mestrado) - Faculdade de Engenharia Mecnica,
SCHMERR, L. W. Fundamentals of Ultrasonic Nondestructive Evaluation: A Modeling

Approach. New York: Plenum Publishing Co., 1998. 559p.
133
SCHMERR, L. W. Fundamentals of Ultrasonic Phased Arrays. Springer International

Publishing Switzerland, 2015. 377p.
SHAHJAHAN, S.; RUPIN, F.; AUBRY, A.; CHASSIGNOLE, B.; FOUQUET, T.; DERODE, A.
Comparison between experimental and 2-D numerical studies of multiple scattering in
Inconel600 by means of array probes. Ultrasonics, v. 54, n. 1, p.35867, 2014.
SIMONETTI, F. Multiple scattering: The key to unravel the subwavelength world from the farfield pattern of a scattered wave. Physical Review E, v. 73, n. 3, p. 1-13, 2006.
SMITH, W. A. The role of piezocomposites in ultrasonic transducers. Proceedings of

Ultrasonics Symposium IEEE, v. 2, n. 3-6, p. 755766, 1989.
SOMER, J. C. Electronic sector scanning for ultrasonic diagnosis. Ultrasonics, v. 6, n. 3, p. 153159, 1968.
SZELAZEK, J. Ultrasonic evaluation of residual hoop stress in forged and cast railroads
wheelsdifferences. Journal of Nondestructive Evaluation. v. 34, n. 1, p. 1-13, 2015.
THOMPSON, R.B.; GRAY, T.A. A model relating ultrasonic scattering measurements through
liquidsolid interfaces to unbounded medium scattering amplitudes. The Journal of the
Acoustical Society of America, vol. 74, n. 4, 1983.
UCHIDA, K.; NAGAII, S.; KASHIWAYA, H.; ARII, M. Availability study of a phased array
ultrasonic technique. Nuclear Engineering and Design, v. 81, n. 2, p. 309-314, 1984.
UZUN, F.; BILGE, A. N. Ultrasonic investigation of the effect of carbon content in carbon steels
on bulk residual stress. Journal of Nondestructive Evaluation. v. 34, n. 2, p. 1-10, 2015.
VON RAMM, O. T.; THURSTONE, F. L. Cardiac imaging using a phased array ultrasound
system. I. System design. Circulation, v. 53, n. 2, p. 258-262, 1976.
VON RAMM, O. T.; SMITH, S. W. Beam steering with linear arrays. Transactions on
Biomedical Engineering, v. 30, n. 8, p. 438-452. 1983.
134
WILCOX, P. Guided wave beam steering from omni directional transducer arrays. Review of
Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation, v. 22, p.761-768, 2003.
WILCOX, P.; HOLMES, C.; DRINKWATER, B. Advanced reflector characterization with

ultrasonic phased arrays in NDE applications. IEEE Transactions on Ultrasonics,
Ferroelectrics and Frequency Control, v. 54, n. 8, p. 15411550, 2007.
WILCOX, P. D. Array imaging of noisy materials. Review of Progress in Quantitative

Nondestructive Evaluation, v. 30, p.890-897, 2011.
WILLEMS, H.; GOEBBELS, K. Characterization of microstructure by backscattered ultrasonic

waves. Metal Science, v. 15, n. 11-12, p. 549553, 1981.
YALDA, I.; THOMPSON, R.B.; MARGETAN, F.J. Predicting ultrasonic grain noise in
polycrystals: A Monte Carlo model. The Journal of the Acoustical Society of America, v. 99,
n. 6, 1996.
YANEZ, Y.; GARCIA-RODRIGUEZ, M.; GARCIA-HERNANDEZ, M. J.; SALAZAR, J.;

TURO, A.; CHAVEZ, J. A. Lamb wave generation with an air-coupled piezoelectric concave
array using square-wave burst excitation. NDT & E International, v. 41, n. 4, p. 292-299, 2008.
ZHANG, J.; DRINKWATER, B. W.; WILCOX, P. D.; HUNTER, A. J. Defect detection using
ultrasonic arrays: The multi-mode total focusing method. NDT & E International, v. 43, n. 2,
p.123133, 2010.
ZHANG, J.; DRINKWATER, B. W.; WILCOX. Comparison of Ultrasonic Array Imaging

Algorithms for Nondestructive Evaluation. IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics,
and Frequency Control, v. 60, n. 8, p.17321745, 2013.
135
APNDICE A Cdigo para gerao de coordenadas e tamanhos

de gro
Neste apndice apresentado o programa criado em MATLAB para a gerao das

coordenadas e tamanhos de gro para o modelo descrito no Captulo 3.
clc
clear all
close all
% Dimenses do gro: -------------------------------------------------me_dia = 98e-6;
% Dimetro mdio do gro
sd_dia = 26e-6;
% Desvio padro na distribuio de gros
%---------------------------------------------------------------------% Definio do tamanho da regio de interesse (RDI): -----------------img.zrange = [19, 31] * 1e-3;
% Limites da RDI na direo z
img.xrange = [-6, 6] * 1e-3;
% Limites da RDI na direo x
%---------------------------------------------------------------------% Clculo do nmero de gros: ----------------------------------------no_grain_x = ceil((img.xrange(2) - img.xrange(1)) / me_dia);
% Nmero de gros na direo x
no_grain_z = ceil((img.zrange(2) - img.zrange(1)) / me_dia);
% Nmero de gros na direo z
%---------------------------------------------------------------------% Distribuio de tamanhos de gros: ---------------------------------dia = normrnd(me_dia, sd_dia, [no_grain_z, no_grain_x]);
% 'dia' a matriz de dimetro de gros com 'no_grain_z' linhas e
% 'no_grain_x' colunas formadas de dimetros de gros obtidos a
% partir de uma distribuio normal aleatorizada com base na mdia
% ('me_dia') e desvio padro ('sd_dia')
a = dia/2; % matriz de raios dos gros
%---------------------------------------------------------------------% Inicializao das matrizes de coordenadas dos gros: ---------------z = zeros(no_grain_z, no_grain_x); % Matrizes 'z' e 'x' recebem 0's
x = z;
%---------------------------------------------------------------------% Posio de referencial inicial nas matrizes de coordenadas 'x' e 'z':
136
z0 = img.zrange(1) * ones(1,no_grain_x);
x0 = img.xrange(1);
%---------------------------------------------------------------------% Constantes e variveis auxiliares: ---------------------------------cof = 0.75;
% constante de sobreposio de gros
flag = 1;
% constante para alocao de gros
aux = 1;
% varivel auxiliar
%---------------------------------------------------------------------% Lao para definio das coordenadas dos gros: ---------------------for i = 1:no_grain_z
for k = 1:no_grain_x
x(i,k) = x0 + flag * a(i,k);
x0 = x(i,k) + flag * a(i,k);
end
flag = -flag;
if flag < 0
aux = 2;
else
aux = 1;
end
x0 = img.xrange(aux);
z(i,:) = z0 + cof * max(max(a(i,:)));
z0 = z(i,:) + cof * max(max(a(i,:)));
end
% --------------------------------------------------------------------% Ajuste de coordenadas para aleatorizao de posies: --------------desv = normrnd(0, 0.2*me_dia, [no_grain_z, no_grain_x]);
x = x + desv;
z = z + desv;
%---------------------------------------------------------------------% Verificao se as coordenadas dos gros criadas continuam na RDI aps
% aleatorizao das posies. Se no, elas so realocadas novamente na
% RDI.
for i=1:no_grain_z
for k=1:no_grain_x
if (x(i,k) < img.xrange(1))|(x(i,k) > img.xrange(2))
x(i,k) = (img.xrange(2)-img.xrange(1)).*rand +...
img.xrange(1);
end
if (z(i,k) < img.zrange(1))|(z(i,k) > img.zrange(2))
z(i,k) = (img.zrange(2)-img.zrange(1)).*rand +...
img.zrange(1);
end
end
end
137
%---------------------------------------------------------------------% Inicializao dos vetores de posio e raio dos gros: -------------pos = zeros(no_grain_x * no_grain_z , 3);
% vetor de posio, onde
% cada linha corresponde s coordenadas de um gro, sendo a primeira
% coluna para 'x', a segunda para 'y' e a terceira para 'z'
ag = zeros(no_grain_x * no_grain_z , 1);
% vetor de raios de gros
%---------------------------------------------------------------------% Lao para vetores de posio e gros receberem os dados das matrizes
% 'x','z' e 'a': -----------------------------------------------------l = 1;
for i = 1:no_grain_z
for k = 1:no_grain_x
pos(l,1) = x(i,k);
pos(l,2) = 0;
pos(l,3) = z(i,k);
ag(l) = a(i,k);
l = l + 1;
end
end
%---------------------------------------------------------------------% Verificao da ocupao da RDI: ------------------------------------area_g = sum(pi * ag.^2);
% rea da soma total de gros
area_i = (img.zrange(2) - img.zrange(1))*...
(img.xrange(2) - img.xrange(1));
% rea da RDI
occup1 = 100 * area_g/ area_i
% taxa de ocupao dos gros
%---------------------------------------------------------------------% Lao para insero de novos gros na RDI at a rea total de gros
seja igual rea da RDI: --------------------------------------------while area_g < area_i
pos(l,1) = (img.xrange(2)-img.xrange(1)).*rand + img.xrange(1);
pos(l,2) = 0;
pos(l,3) = (img.zrange(2)-img.zrange(1)).*rand + img.zrange(1);
ag(l) = 0.5*normrnd(me_dia, sd_dia);
area_g = sum(pi * ag.^2);
l = l + 1;
end
occup2 = 100 * area_g/ area_i
% novo clculo de ocupao
%---------------------------------------------------------------------% Grava os vetores de posio e raio dos gros: ----------------------csvwrite('vetor_de_posio.txt',pos);
csvwrite('vetor_de_raios.txt',ag);
%----------------------------------------------------------------------
138
% Gerao de figuras de representao dos gros na RDI: --------------ang=0:0.1:2*pi;

hold on
for i = 1:size(pos,1)
xpos = ag(i) * cos(ang);
zpos = ag(i) * sin(ang);
plot((pos(i,1) + xpos), (pos(i,3) + zpos),'k');
end
line([img.xrange(1) img.xrange(1)],[img.zrange(1) img.zrange(2)])
set(gcf,'color','white')
axis equal
xlabel 'x (mm)'
ylabel 'z (mm)'
hold off
%----------------------------------------------------------------------
139
APNDICE B Relaes sinal-rudo obtidas nas peas tratadas

termicamente
Na Tabela B.1so apresentadas as relaes sinal-rudo (SNR) obtidas em cada posio de

medio usando o sistema de 64 canais nas amostras tratadas termicamente para crescimento de
gro na profundidade entre 6 e 10 mm e na Tabela B.2 so apresentadas para a profundidade
entre 10 e 14 mm. As posies nas amostras esto representadas na Figura 4.28. O TOF da onda
Lcr medido na posio correspondente s oito posies de medio de SNR tambm
apresentado nas Tabelas B.1 e B.2.
Tabela B.1. SNR por posio nas amostras tratadas termicamente para crescimento de gro
(profundidade entre 6 e 10 mm).
SNR (dB)
Posio
Posio 1
Posio 2
Posio 3
Posio 4
Posio 5
Posio 6
Posio 7
Posio 8
Mdia
Desvio padro
TOF (ns)
22
40,40
39,28
37,91
40,61
38,46
38,63
38,29
39,00
39,07
0,92
35.352
Tamanho de gro (m)

98
131
166
37,10
32,28
37,06
38,10
32,93
37,75
36,79
35,58
35,50
37,96
36,80
37,01
36,89
34,41
36,04
36,77
36,09
34,78
30,08
37,55
35,77
30,44
37,19
35,38
35,52
35,35
36,16
3,07
1,84
0,95
35.462
35.387
35.424
140
209
30,05
25,59
34,30
30,63
27,06
36,51
35,87
33,11
31,64
3,74
35.712
Tabela B.2. SNR por posio nas amostras tratadas termicamente para crescimento de gro
(profundidade entre 10 e 14 mm).
SNR (dB)
Posio
Posio 1
Posio 2
Posio 3
Posio 4
Posio 5
Posio 6
Posio 7
Posio 8
Mdia
Desvio padro
TOF (ns)
22
46,60
45,79
46,75
47,44
46,07
45,73
44,92
44,28
45,95
1,02
35.352
Tamanho de gro (m)

98
131
166
44,43
40,55
44,00
45,87
40,18
43,63
44,97
42,96
43,04
44,79
45,01
44,15
44,47
42,06
42,56
44,73
43,87
42,29
36,90
44,85
42,46
38,24
42,92
41,79
43,05
42,80
42,99
3,43
1,80
0,86
35.462
35.387
35.424
141
209
36,02
32,44
40,86
38,51
34,17
43,62
42,31
40,18
38,51
3,98
35.712
APNDICE C Avaliao da variao da relao sinal-rudo em

funo de diferentes distribuies de gros
Com intuito de investigar o efeito de variaes entre diferentes distribuies de gros, dez
diferentes distribuies de gros para um particular dimetro (209 m) foram geradas e o modelo
proposto no Captulo 3 foi usado para extrair a relao sinal-rudo (SNR) das imagens de TFM.
Na Tabela C.1 so mostradas as diferenas entre o SNR de cada modelo e a mdia obtida das dez
distribuies, em dB e a porcentagem relativa mdia. Uma regio de interesse (RDI) menor se
comparada apresentada no Captulo 3 de 6x6 mm e rea de imagem de TFM de 5x5 mm foram
utilizadas, o que aumenta a sensibilidade para uma distribuio especfica, medida que menos
gros so utilizados. O centro da RDI e da imagem de TFM foi o mesmo considerado na Figura
3.12. Com exceo RDI e rea da imagem de TFM, os outros parmetros de entrada da
simulao utilizados na comparao com os dados experimentais foram mantidos. A frequncia
da sonda de array escolhida foi de 5 MHz e nmero de elementos igual a 128.
Tabela C.1. SNRs obtido da simulao para diferentes distribuies de gros. Tamanho de gro
mdio igual a 209 m.
Nmero
Diferena com a
Diferena com a mdia
Distribuio: de gros SNR (dB)
mdia (absoluta):
(em %, relativa mdia):
999
22,152
0,655
3,04%
1
946
20,892
0,606
2,82%
2
972
21,018
0,480
2,23%
3
967
20,927
0,571
2,66%
4
976
22,492
0,995
4,63%
5
973
22,015
0,517
2,41%
6
953
21,064
0,434
2,02%
7
959
21,036
0,462
2,15%
8
971
22,084
0,586
2,73%
9
963
21,298
0,200
0,93%
10
21,498
2,56%
Mdia:
Mdia:
0,377
0,01%
Varncia:
Varincia:
142
A pequena diferena relativa em SNR (2,56%, em mdia, relativa ao SNR mdio) para
diferentes distribuies mostra que razovel considerar a aproximao adotada no trabalho onde
apenas uma realizao para o modelo usada para cada tamanho de gro.
A influncia da variao da frao de rea no SNR tambm foi testada. O procedimento
descrito na seo 3.1 para distribuir os gros na RDI pode gerar a sobreposio de gros
conforme pode ser visto na Figura 3.3b. Na Figura C.1 apresentado um grfico mostrando como
o SNR varia em funo da frao de rea. Dois tamanhos de gro foram escolhidos para a
simulao, 166 e 209 m, e a sonda com 128 elementos e 5 MHz de frequncia foi utilizada.
Analisando o grfico, verifica-se que um aumento de 90 a 105 % na frao de rea leva a uma
reduo do SNR de 3,01 dB para o tamanho de gro mdio de 166 m e 1,11 dB para 209 m.
Apesar destes efeitos poderem ser considerados pequenos, eles so significantes, sugerindo que a
correta seleo do nmero de gros modelado importante para a obteno de boa concordncia
entre simulao e experimentos.
29.00
28.00
SNR (dB)
27.00
26.00
25.00
24.00
23.00
22.00
21.00
20.00
88
90
92
94
96
98
Frao de rea (%)
Tamanho de gro mdio (m): 209

y = -0.08x + 29.24
R = 0.94
100
102
104
106
Tamanho de gro mdio (m): 166

y = -0.20x + 45.70
R = 0.99
Figura C.1. SNR em funo da frao de rea para distribuies de gros de tamanho mdio de
209 e 166 m.
143
APNDICE D Relaes sinal-rudo obtidas para ensaio de

verificao da influncia da direo de laminao no rudo de
Neste apndice so apresentadas as relaes sinal-rudo (SNR) medidas em imagens de

TFM para diferentes pontos em amostras com direo de laminao conhecida. Os pontos de
medio foram mostrados na Figura 4.30. Na Tabela D.1so apresentados os SNRs para a
profundidade de imagem entre 6 e 10 mm e direo de propagao da onda Lcr transversal
direo de laminao (posies 1.x e 2.x na Figura 4.30) ao passo que na Tabela D.2 esto os
valores obtidos paras posies 3.x e 4.x, paralelas direo de laminao. Nas Tabelas D.3 e
D.4 so mostrados os mesmos resultados, mas para a profundidade de imagem de TFM entre 10 e
14 mm. Os tempos de percurso (TOF) da onda Lcr medidos nas posies correspondentes s
posies de medio da SNR esto representados tambm nas Tabelas citadas.
144
Tabela D.1. SNRs medidos, em dB, para a onda Lcr se propagando na direo transversal
direo de laminao. Profundidade da imagem definida entre 6 e 10 mm.
Posio array
TOF
Posio
Desvio
Lcr
Amostra
Lcr
1
2
3
4
5
6
7
8 Mdia padro (ns)
25
1
44,9 45,0 45,1 45,2 45,2 45,1 45,1 44,9 45,1
0,1
34.724
25
2
45,0 45,1 44,8 44,9 44,9 44,8 44,8 44,8 44,9
0,1
34.715
21
1
45,1 45,0 44,8 44,9 44,8 44,9 44,5 44,3 44,8
0,3
34.718
21
2
45,0 45,0 45,0 44,9 44,8 44,9 44,7 45,0 44,9
0,1
34.724
24
1
44,7 44,9 45,0 44,9 44,8 44,8 44,4 44,7 44,8
0,2
34.723
24
2
45,0 45,1 45,0 44,7 44,9 44,7 44,7 44,7 44,8
0,2
34.729
17
1
44,9 44,4 44,7 44,3 44,7 44,7 44,5 44,6 44,6
0,2
34.727
17
2
44,8 44,6 44,2 44,5 44,4 44,6 44,2 44,4 44,5
0,2
34.721
9
1
44,5 44,5 44,7 44,9 44,6 44,6 44,3 44,4 44,6
0,2
34.730
9
2
44,2 44,2 44,3 43,9 43,9 43,9 44,0 44,2 44,1
0,2
34.739
15
1
43,7 44,0 44,6 44,7 44,4 44,6 44,1 44,7 44,3
0,4
34.707
15
2
44,8 44,6 44,4 44,3 43,9 44,5 44,3 44,6 44,4
0,3
34.723
16
1
44,8 44,8 44,9 44,9 44,9 44,9 44,9 43,7 44,7
0,4
34.730
16
2
44,2 44,4 44,0 43,9 43,7 43,9 44,0 44,2 44,0
0,2
34.753
19
1
44,9 45,0 44,9 44,7 44,9 44,8 44,9 44,9 44,9
0,1
34.743
19
2
45,1 45,0 45,1 45,1 45,0 45,2 45,1 45,1 45,1
0,0
34.741
10
1
44,9 44,7 44,9 44,8 44,9 44,7 45,0 44,8 44,8
0,1
34.725
10
2
44,8 44,6 44,5 44,6 44,5 43,9 44,4 44,2 44,4
0,3
34.726
8
1
44,8 44,9 44,9 44,7 44,7 44,7 44,7 44,7 44,8
0,1
34.684
8
2
44,6 44,4 44,3 44,2 44,2 44,2 44,5 44,3 44,3
0,1
34.693
145
Tabela D.2. SNRs medidos, em dB, para a onda Lcr se propagando na direo paralela direo
de laminao. Profundidade da imagem definida entre 6 e 10 mm.
Posio array
Posio
Amostra
Lcr
25
3
25
4
21
3
21
4
24
3
24
4
17
3
17
4
9
3
9
4
15
3
15
4
16
3
16
4
19
3
19
4
10
3
10
4
8
3
8
4
Desvio
1
2
3
4
5
6
7
8 Mdia padro
40,2 39,9 40,2 40,0 40,5 40,0 39,8 39,8 40,0
0,3
40,2 40,0 40,3 40,2 40,2 40,2 40,1 40,1 40,2
0,1
39,4 39,7 40,1 40,1 40,2 40,0 39,4 40,4 39,9
0,4
40,0 39,6 39,9 39,9 40,1 40,0 39,4 39,5 39,8
0,3
40,0 40,1 40,0 39,8 39,7 39,8 39,9 40,0 39,9
0,1
40,1 40,2 39,9 39,9 40,0 40,1 40,0 40,1 40,0
0,1
40,0 40,0 40,2 40,0 39,9 39,8 40,0 39,9 40,0
0,1
39,9 40,3 39,5 40,0 40,0 39,9 39,5 39,9 39,9
0,2
39,7 39,2 40,0 40,0 39,7 39,9 39,3 40,1 39,7
0,3
40,0 39,7 40,1 39,8 39,4 39,9 39,9 40,2 39,9
0,2
40,3 40,2 40,2 40,4 40,5 40,1 40,4 40,4 40,3
0,1
40,1 40,2 40,2 40,3 40,3 40,3 40,5 40,2 40,3
0,1
40,0 39,5 39,8 39,9 39,5 40,0 40,1 40,2 39,9
0,3
40,3 39,7 39,6 39,9 39,8 39,9 40,2 40,1 39,9
0,2
40,5 40,0 40,1 40,4 40,0 40,3 40,5 40,2 40,2
0,2
40,2 40,1 40,0 40,3 39,7 40,0 40,4 40,2 40,1
0,2
40,2 40,6 40,2 40,3 40,3 40,3 40,5 40,4 40,3
0,1
40,5 40,2 40,0 40,1 40,3 40,2 40,3 40,3 40,2
0,2
40,2 39,7 40,1 40,3 40,6 40,1 39,8 39,7 40,1
0,3
40,3 40,1 40,5 40,2 40,0 40,3 39,5 40,0 40,1
0,3
146
TOF
Lcr
(ns)
34.977
34.977
34.966
34.960
34.972
34.964
35.019
35.039
35.001
35.013
34.984
34.984
35.019
35.008
34.995
34.986
34.988
34.988
34.950
34.956
Tabela D.3. SNRs medidos, em dB, para a onda Lcr se propagando na direo transversal
direo de laminao. Profundidade da imagem definida entre 10 e 14 mm.
Posio array
Posio
Amostra
Lcr
25
1
25
2
21
1
21
2
24
1
24
2
17
1
17
2
9
1
9
2
15
1
15
2
16
1
16
2
19
1
19
2
10
1
10
2
8
1
8
2
Desvio
1
2
3
4
5
6
7
8 Mdia padro
48,6 49,8 49,2 49,6 49,1 49,1 49,3 49,6 49,3
0,4
49,3 49,7 49,6 49,6 49,1 49,7 49,0 49,5 49,4
0,3
49,7 49,3 49,2 49,4 49,3 49,3 49,2 49,5 49,4
0,2
49,7 49,6 49,4 49,5 49,2 49,4 49,5 49,6 49,5
0,2
48,5 49,1 49,3 49,2 49,1 49,0 49,1 49,3 49,1
0,2
49,1 49,2 49,2 49,0 49,0 49,2 49,4 49,1 49,2
0,1
49,3 48,9 49,0 49,0 48,5 48,4 48,3 49,3 48,9
0,4
49,2 48,9 47,3 49,0 48,9 49,1 48,7 48,5 48,7
0,6
48,6 47,8 48,4 49,0 47,3 48,6 46,5 48,9 48,1
0,9
48,8 48,0 49,0 48,4 48,6 48,1 48,5 48,9 48,5
0,4
49,1 49,2 49,2 49,3 49,1 48,7 48,7 49,3 49,1
0,2
49,4 49,4 49,2 49,3 49,4 49,3 49,6 49,3 49,4
0,1
49,2 49,2 49,3 48,9 49,3 49,3 49,3 48,8 49,2
0,2
49,2 49,2 48,7 48,8 48,8 49,1 49,1 49,3 49,0
0,2
49,5 49,3 49,3 49,0 49,1 49,2 49,0 49,3 49,2
0,2
49,6 49,5 49,4 49,4 49,5 49,6 49,4 49,2 49,5
0,1
46,7 49,3 48,8 48,7 49,3 49,2 49,5 49,0 48,8
0,9
49,1 49,2 49,3 49,2 49,4 48,8 48,7 49,0 49,1
0,2
49,0 48,9 49,4 49,1 49,1 49,1 49,1 49,2 49,1
0,1
49,1 48,5 48,8 48,8 49,0 49,0 48,8 49,1 48,9
0,2
147
TOF
Lcr
(ns)
34.724
34.715
34.718
34.724
34.723
34.729
34.727
34.721
34.730
34.739
34.707
34.723
34.730
34.753
34.743
34.741
34.725
34.726
34.684
34.693
Tabela D.4. SNRs medidos, em dB, para a onda Lcr se propagando na direo paralela direo
de laminao. Profundidade da imagem definida entre 10 e 14 mm.
Posio array
Posio
Amostra
Lcr
25
3
25
4
21
3
21
4
24
3
24
4
17
3
17
4
9
3
9
4
15
3
15
4
16
3
16
4
19
3
19
4
10
3
10
4
8
3
8
4
Desvio
1
2
3
4
5
6
7
8 Mdia padro
45,1 45,1 44,0 44,7 44,3 44,8 44,0 44,2 44,5
0,5
44,6 45,0 44,6 44,8 45,0 44,8 44,3 44,3 44,7
0,3
44,4 44,3 44,6 44,4 44,9 44,8 44,4 44,9 44,6
0,2
44,4 44,4 44,6 44,5 44,7 44,8 44,5 44,6 44,6
0,1
44,7 44,7 44,6 44,6 44,3 44,6 44,5 44,6 44,6
0,1
44,7 44,8 44,4 44,6 44,7 44,8 44,8 45,0 44,7
0,2
43,7 44,6 44,8 44,4 44,3 44,2 43,6 44,0 44,2
0,4
44,1 44,8 44,3 44,4 44,5 42,7 44,4 44,6 44,2
0,7
44,3 43,4 44,1 44,5 44,1 43,6 44,2 44,4 44,1
0,4
44,4 43,6 44,1 44,1 43,8 43,6 43,2 44,7 43,9
0,5
44,4 44,8 44,7 44,9 45,0 45,0 44,9 42,5 44,5
0,8
44,7 44,9 44,9 45,2 45,1 45,0 44,9 45,1 45,0
0,2
44,5 44,5 44,4 44,4 44,1 44,2 44,3 44,7 44,4
0,2
44,4 44,4 43,0 44,3 43,8 44,4 44,7 44,5 44,2
0,5
45,1 44,6 44,6 44,6 44,4 44,6 44,8 44,8 44,7
0,2
44,8 44,7 44,6 44,6 44,2 44,4 44,8 44,8 44,6
0,2
44,8 44,6 44,3 44,3 44,5 44,5 44,5 44,7 44,5
0,2
44,4 44,6 43,9 44,3 44,6 44,1 44,6 44,4 44,3
0,3
45,0 44,1 44,8 45,0 44,6 44,6 44,1 44,1 44,5
0,4
44,8 44,8 45,0 44,6 43,6 44,8 43,8 44,4 44,5
0,5
148
TOF
Lcr
(ns)
34.977
34.977
34.966
34.960
34.972
34.964
35.019
35.039
35.001
35.013
34.984
34.984
35.019
35.008
34.995
34.986
34.988
34.988
34.950
34.956
APNDICE E Relaes sinal-rudo obtidas para ensaio de

verificao da influncia da posio de medio no rudo de
As relaes sinal-rudo (SNR) medidas em imagens de TFM para diferentes pontos nas
amostras de ao ASTM A36 so apresentadas neste Apndice. Os pontos de medio foram
mostrados na Figura 4.31. Nas Tabelas de E.1 a E.10, so apresentados os SNRs para a
profundidade de imagem entre 6 e 10 mm, por amostra. Nas Tabelas de E.11 a E.20 so
mostrados os mesmos resultados, mas para a profundidade de imagem de TFM entre 10 e 14 mm.
Os tempos de percurso (TOF) da onda L cr medidos nas posies correspondentes s posies de
medio da SNR tambm esto presentes nas Tabelas citadas.
Tabela E.1. SNR em dB obtido de cada posio de medio da imagem de TFM na profundidade
entre 6 e 10 mm (amostra n 25).
Amostra 25
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
39,6
40,2
40,2
40,2
39,5
39,8
2
38,2
39,3
39,9
40,0
40,4
39,5
3
40,4
40,3
40,2
40,3
40,2
40,0
Posio array
4
5
6
40,2 39,2 39,8
40,1 39,4 40,2
40,0 40,5 40,0
40,2 40,2 40,2
40,3 39,9 40,1
40,2 40,3 40,3
149
7
38,1
40,4
39,8
40,1
40,1
40,2
8
39,3
39,7
39,8
40,1
39,5
40,3
Mdia
39,34
39,94
40,04
40,17
40,00
40,08
TOF
Lcr (ns)
34.966
34.973
34.977
34.977
34.967
34.970
Amostra 21
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
40,2
40,1
39,4
40,0
39,8
39,5
2
39,2
39,4
39,7
39,6
40,1
40,0
3
39,6
39,5
40,1
39,9
39,7
40,0
Posio array
4
5
6
39,2 39,5 40,0
39,7 40,2 39,9
40,1 40,2 40,0
39,9 40,1 40,0
39,5 39,4 39,6
39,6 38,8 39,4
7
39,4
40,1
39,4
39,4
39,9
39,5
8
38,0
39,6
40,4
39,5
38,9
37,5
Mdia
39,40
39,82
39,92
39,81
39,61
39,29
TOF
Lcr
34.949
34.955
34.966
34.960
34.959
34.959
Amostra 24
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
39,4
39,9
40,0
40,1
40,1
39,3
2
39,8
39,6
40,1
40,2
40,3
40,2
3
39,3
39,9
40,0
39,9
40,1
39,5
Posio array
4
5
6
39,7 39,8 40,0
39,8 39,7 39,8
39,8 39,7 39,8
39,9 40,0 40,1
40,2 39,8 39,8
39,5 39,7 39,7
7
39,8
39,9
39,9
40,0
40,2
39,6
8
39,8
39,0
40,0
40,1
40,1
40,0
Mdia
39,69
39,72
39,93
40,05
40,07
39,69
TOF
Lcr
34.975
34.975
34.972
34.964
34.956
34.969
Amostra 17
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
40,6
40,3
40,0
39,9
40,2
38,2
2
40,1
40,2
40,0
40,3
40,3
39,8
3
40,3
40,0
40,2
39,5
39,9
39,6
Posio array
4
5
6
40,1 40,2 39,8
39,9 40,3 39,9
40,0 39,9 39,8
40,0 40,0 39,9
40,2 40,3 39,9
39,5 40,3 38,2
150
7
39,6
39,8
40,0
39,5
40,1
38,9
8
39,9
39,3
39,9
39,9
40,1
39,8
Mdia
40,08
39,99
39,99
39,86
40,12
39,30
TOF
Lcr
35.028
35.019
35.019
35.039
35.014
35.005
Amostra 9
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
40,2
40,0
39,7
40,0
40,4
40,1
2
39,2
39,3
39,2
39,7
39,8
39,8
3
40,3
39,8
40,0
40,1
40,0
40,2
Posio array
4
5
6
39,8 39,4 40,0
40,2 39,9 40,1
40,0 39,7 39,9
39,8 39,4 39,9
40,0 39,9 39,9
40,0 40,2 39,7
7
40,2
40,1
39,3
39,9
40,0
40,4
8
40,4
40,3
40,1
40,2
40,3
40,3
Mdia
39,95
39,99
39,74
39,90
40,04
40,10
TOF
Lcr
35.008
35.003
35.001
35.013
35.006
35.013
Amostra 15
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
40,7
40,2
40,3
40,1
40,5
40,4
2
40,0
40,3
40,2
40,2
40,3
39,9
3
39,3
40,1
40,2
40,2
40,2
39,4
Posio array
4
5
6
40,2 40,0 39,7
40,2 39,9 40,4
40,4 40,5 40,1
40,3 40,3 40,3
40,1 40,0 39,5
40,4 40,2 39,0
7
40,5
40,4
40,4
40,5
39,9
40,0
8
39,6
40,3
40,4
40,2
39,8
40,3
Mdia
40,01
40,24
40,33
40,27
40,03
39,94
TOF
Lcr
34.988
34.976
34.984
34.984
34.983
34.981
Amostra 16
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
40,3
39,9
40,0
40,3
40,1
40,5
2
38,9
39,1
39,5
39,7
40,0
40,0
3
40,1
39,4
39,8
39,6
39,9
40,5
Posio array
4
5
6
40,0 39,0 40,3
39,8 39,1 39,9
39,9 39,5 40,0
39,9 39,8 39,9
40,2 39,7 39,5
39,9 40,0 40,2
151
7
40,3
40,2
40,1
40,2
40,0
39,6
8
39,9
40,1
40,2
40,1
40,4
40,4
Mdia
39,86
39,69
39,89
39,93
39,99
40,12
TOF
Lcr
34.996
35.004
35.019
35.008
34.994
34.992
Amostra 19
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
40,1
40,4
40,5
40,2
40,5
40,2
2
39,6
40,1
40,0
40,1
38,4
39,1
3
40,6
40,3
40,1
40,0
40,1
40,4
Posio array
4
5
6
39,9 40,0 40,3
40,3 40,3 39,9
40,4 40,0 40,3
40,3 39,7 40,0
39,5 40,2 39,9
40,6 40,6 39,6
7
39,8
40,2
40,5
40,4
40,4
39,9
8
40,1
40,3
40,2
40,2
40,6
40,0
Mdia
40,04
40,22
40,23
40,11
39,94
40,05
TOF
Lcr
34.977
34.985
34.995
34.986
34.978
34.988
Amostra 10
Posio Lcr 1
1
40,3
2
40,5
3
40,2
4
40,5
5
40,3
6
40,4
2
40,4
40,5
40,6
40,2
40,6
40,5
3
40,4
40,2
40,2
40,0
39,6
40,6
Posio array
4
5
6
40,4 40,0 40,7
40,2 40,5 40,4
40,3 40,3 40,3
40,1 40,3 40,2
40,3 40,2 40,3
40,5 40,4 40,5
7
40,4
40,5
40,5
40,3
40,6
40,5
8
40,4
40,5
40,4
40,3
40,5
40,3
Mdia
40,39
40,42
40,34
40,22
40,31
40,46
TOF
Lcr
34.988
34.984
34.988
34.988
34.986
34.981
Tabela E.10. SNR em dB obtido de cada posio de medio da imagem de TFM na

profundidade entre 6 e 10 mm (amostra n 8).
Amostra 8
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
40,1
40,1
40,2
40,3
40,2
39,9
2
39,1
38,9
39,7
40,1
40,7
39,7
3
40,0
40,5
40,1
40,5
40,1
39,8
Posio array
4
5
6
40,0 39,4 39,9
40,4 40,3 40,0
40,3 40,6 40,1
40,2 40,0 40,3
40,2 39,9 39,6
40,1 39,9 40,1
152
7
39,8
39,9
39,8
39,5
39,3
40,1
8
39,7
39,5
39,7
40,0
39,8
39,9
Mdia
39,73
39,97
40,06
40,11
39,98
39,95
TOF
Lcr
34.937
34.935
34.950
34.956
34.945
34.960

Amostra 25
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
44,7
44,8
45,1
44,6
45,2
44,7
2
43,1
44,6
45,1
45,0
45,2
44,3
3
44,8
45,0
44,0
44,6
45,0
44,8
Posio array
4
5
6
43,3 44,8 44,9
44,7 43,7 44,5
44,7 44,3 44,8
44,8 45,0 44,8
44,6 44,5 44,6
44,8 45,5 45,1
7
43,9
44,7
44,0
44,3
44,7
43,2
8
44,2
44,6
44,2
44,3
44,4
44,7
Mdia
44,22
44,58
44,51
44,67
44,76
44,65
TOF
Lcr
34.966
34.973
34.977
34.977
34.967
34.970

Amostra 21
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
44,7
44,7
44,4
44,4
44,6
44,5
2
44,6
44,5
44,3
44,4
44,4
44,8
3
44,5
44,3
44,6
44,6
44,4
44,8
Posio array
4
5
6
44,5 44,5 45,0
44,7 44,9 44,7
44,4 44,9 44,8
44,5 44,7 44,8
44,5 44,4 44,5
44,6 44,8 44,3
7
44,4
44,9
44,4
44,5
44,8
44,7
8
44,0
44,4
44,9
44,6
44,5
42,5
Mdia
44,53
44,63
44,59
44,57
44,52
44,35
TOF
Lcr
34.949
34.955
34.966
34.960
34.959
34.959

Amostra 24
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
44,4
44,7
44,7
44,7
44,8
44,3
2
44,5
44,1
44,7
44,8
44,9
44,8
3
44,0
44,6
44,6
44,4
44,9
44,4
Posio array
4
5
6
44,6 44,4 44,7
44,4 44,5 44,2
44,6 44,3 44,6
44,6 44,7 44,8
44,9 44,4 44,6
44,7 44,4 44,3
153
7
44,5
44,5
44,5
44,8
44,8
44,6
8
44,5
44,6
44,6
45,0
44,8
44,9
Mdia
44,44
44,45
44,58
44,72
44,75
44,56
TOF
Lcr
34.975
34.975
34.972
34.964
34.956
34.969

Amostra 17
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
45,8
44,9
43,7
44,1
44,5
43,7
2
44,0
44,3
44,6
44,8
44,9
44,7
3
45,2
44,1
44,8
44,3
44,4
45,0
Posio array
4
5
6
44,6 44,8 44,5
43,0 43,4 43,4
44,4 44,3 44,2
44,4 44,5 42,7
44,9 44,8 44,6
44,6 44,9 43,9
7
44,4
44,3
43,6
44,4
44,5
44,1
8
43,5
44,3
44,0
44,6
44,8
44,7
Mdia
44,61
43,96
44,21
44,21
44,67
44,46
TOF
Lcr
35.028
35.019
35.019
35.039
35.014
35.005

Amostra 9
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
44,7
44,6
44,3
44,4
43,5
44,3
2
44,0
43,1
43,4
43,6
42,4
44,0
3
44,5
42,2
44,1
44,1
43,3
44,4
Posio array
4
5
6
44,3 44,3 44,5
44,6 44,2 44,1
44,5 44,1 43,6
44,1 43,8 43,6
43,6 42,0 44,1
44,2 44,7 44,4
7
44,4
44,5
44,2
43,2
43,1
44,7
8
44,4
44,6
44,4
44,7
44,6
44,6
Mdia
44,40
44,00
44,08
43,93
43,34
44,40
TOF
Lcr
35.008
35.003
35.001
35.013
35.006
35.013

Amostra 15
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
45,1
44,7
44,4
44,7
44,9
44,9
2
44,9
44,9
44,8
44,9
44,9
44,7
3
44,6
43,6
44,7
44,9
44,9
44,1
Posio array
4
5
6
44,7 44,8 44,8
44,9 44,8 44,9
44,9 45,0 45,0
45,2 45,1 45,0
44,9 44,7 44,8
44,9 45,0 44,6
154
7
45,2
45,1
44,9
44,9
44,9
44,6
8
44,6
45,0
42,5
45,1
44,8
45,2
Mdia
44,86
44,74
44,52
44,97
44,84
44,76
TOF
Lcr
34.988
34.976
34.984
34.984
34.983
34.981

Amostra 16
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
45,0
44,4
44,5
44,4
44,6
45,0
2
44,6
44,2
44,5
44,4
44,8
44,6
3
44,9
44,2
44,4
43,0
44,4
44,8
Posio array
4
5
6
44,7 44,5 45,1
44,3 44,1 44,3
44,4 44,1 44,2
44,3 43,8 44,4
44,5 44,3 43,7
44,6 44,6 44,5
7
44,9
44,7
44,3
44,7
44,4
44,4
8
44,8
44,7
44,7
44,5
44,7
44,9
Mdia
44,80
44,33
44,40
44,19
44,41
44,68
TOF
Lcr
34.996
35.004
35.019
35.008
34.994
34.992

Amostra 19
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
44,8
45,0
45,1
44,8
44,9
45,0
2
44,6
44,5
44,6
44,7
44,0
44,4
3
45,1
44,8
44,6
44,6
44,8
44,9
Posio array
4
5
6
44,5 44,7 44,8
44,9 44,7 44,7
44,6 44,4 44,6
44,6 44,2 44,4
44,3 44,7 44,5
44,9 45,0 44,6
7
44,6
44,9
44,8
44,8
45,0
44,7
8
44,7
44,6
44,8
44,8
45,0
45,0
Mdia
44,72
44,78
44,70
44,62
44,63
44,81
TOF
Lcr
34.977
34.985
34.995
34.986
34.978
34.988

Amostra 10
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
44,9
44,7
44,8
44,4
44,7
42,9
2
45,0
44,7
44,6
44,6
44,8
44,1
3
44,1
44,3
44,3
43,9
44,1
45,0
Posio array
4
5
6
44,8 44,3 44,6
44,9 42,9 44,5
44,3 44,5 44,5
44,3 44,6 44,1
44,6 43,6 44,3
44,6 44,9 44,8
155
7
44,5
43,0
44,5
44,6
45,0
44,7
8
44,7
44,6
44,7
44,4
44,9
44,8
Mdia
44,63
44,19
44,52
44,35
44,51
44,47
TOF
Lcr
34.988
34.984
34.988
34.988
34.986
34.981

Amostra 8
Posio Lcr
1
2
3
4
5
6
1
44,9
45,0
45,0
44,8
44,9
42,7
2
44,0
44,0
44,1
44,8
45,3
44,8
3
44,8
45,2
44,8
45,0
45,0
44,6
Posio array
4
5
6
44,8 44,4 44,8
45,2 44,9 44,5
45,0 44,6 44,6
44,6 43,6 44,8
44,9 44,6 44,4
45,1 44,8 44,6
156
7
44,5
44,2
44,1
43,8
44,1
44,6
8
44,3
44,0
44,1
44,4
44,0
44,4
Mdia
44,54
44,63
44,54
44,48
44,67
44,46
TOF
Lcr
34.937
34.935
34.950
34.956
34.945
34.960
APNDICE F Relaes sinal-rudo obtidas para ensaio de

verificao da influncia da tenso no rudo de imagens
ultrassnicas
Neste apndice so apresentadas as relaes sinal rudo obtidas nas oito posies de
medio do array conforme Figura 4.32 para cada nvel de presso aplicado na bomba hidrulica
do dispositivo tracionador e para cada uma das trs repeties do ensaio realizadas. Na Tabela
F.1 so mostrados os resultados de SNR e tambm o TOF da onda Lcr para cada medio
correspondente.
Tabela F.1. SNR em dB por posio de medio do array nos ensaios para verificao da
influncia da tenso na intensidade do rudo nas imagens de TFM.
Ensaio
Presso
(MPa)
0
5
10
15
0
5
10
15
0
5
10
15
1
36,2
36,4
36,6
36,1
36,3
35,9
36,0
36,3
35,7
36,3
36,5
36,6
2
36,4
36,4
36,6
36,6
36,5
36,5
36,2
36,7
36,5
36,2
36,5
36,5
Posies de medio do array

3
4
5
6
32,6 36,0 36,3 36,3
36,3 36,2 36,5 36,5
36,3 35,1 36,6 36,3
36,3 36,3 36,2 36,4
36,4 36,3 36,5 36,5
36,4 36,3 36,4 36,0
36,5 36,5 36,5 36,4
36,5 36,4 36,5 36,8
36,6 36,3 36,5 36,4
36,5 36,4 36,3 36,4
36,5 36,5 36,6 36,5
36,5 36,4 36,7 36,5
157
7
36,3
36,3
36,5
36,3
36,1
36,3
36,4
36,5
36,4
36,5
36,6
36,3
8
36,3
36,4
36,1
36,3
36,3
36,0
35,9
36,1
36,2
36,4
36,4
36,5
Mdia
TOF Lcr
(ns)
35,8
36,4
36,3
36,3
36,4
36,2
36,3
36,5
36,3
36,4
36,5
36,5
34.968
34.978
34.988
34.997
34.969
34.977
34.984
34.992
34.959
34.971
34.982
34.990

Tese PPJ Final PDF

Enviado por

Dados do documento

Título original

Direitos autorais

Formatos disponíveis

Compartilhar este documento

Compartilhar ou incorporar documento

Opções de compartilhamento

Você considera este documento útil?

Este conteúdo é inapropriado?

Direitos autorais:

Formatos disponíveis

Tese PPJ Final PDF

Enviado por

Direitos autorais:

Formatos disponíveis

PAULO PEREIRA JUNIOR

Avaliao do Efeito da Microestrutura na

UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS

Avaliao do Efeito da Microestrutura na

ESTE EXEMPLAR CORRESPONDE VERSO

UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS

Avaliao do Efeito da Microestrutura na

A Banca Examinadora composta pelos membros abaixo aprovou esta Tese:

Campinas, 31 de julho de 2015.

Gostaria de prestar sinceros agradecimentos minha me Maria Lcia e minha irm

As tcnicas no destrutivas que utilizam ondas ultrassnicas para avaliao de tenses

Desenho esquemtico da gerao da onda Lcr (PEREIRA JUNIOR, 2011) ..................... 10

Representao do campo prximo e distante para um transdutor circular (OLYMPUS,

Esquema de gerao de um feixe de incidncia (a) normal e (b) angular (OLYMPUS,

Principais parmetros dimensionais da sonda de array linear .......................................... 21

Exemplo de varredura linear (OLYMPUS, 2007b) ........................................................ 23

Sequncia de disparo dos elementos no FMC. a) 1 elemento emitindo; b) 2 elemento

Desenho esquemtico representando a formao de imagem pelo os mtodos FMC e TFM

Fluxograma do modelo para obteno do SNR de imagens de TFM ............................... 40

Representao de gros (a) antes e (b) depois da aleatorizao de posies. Dimetro

mdio de gros = 209 m e desvio padro = 59 m ........................................................ 43

Exemplo de distribuio de gros (dimetro mdio de gros = 209 m e desvio padro =

Exemplos de espalhamento simples e mltiplo para dois gros ....................................... 45

Esquema geomtrico para o modelo de gros como espalhadores ................................... 45

Representao do ngulo entre elemento do array e um ponto em (x,z) para clculo da

Esquema geomtrico para modelamento do sinal de fundo ............................................. 51

RDI e rea das imagens de TFM considerada para a simulao ....................................... 53

Desenho esquemtico representado a amostra sem tratamento trmico (dimenses em

Desenho esquemtico representado a amostra com tratamento trmico (dimenses em

Desenho esquemtico representado a amostra de ao API 5L X70 (dimenses em mm) . 61

Modelo do transdutor utilizado para gerao e recepo da onda Lcr ............................... 62

(a) Desenho esquemtico da sonda de gerao e recepo de ondas L cr (dimenses em

Pulsador/receptor de sinais ultrassnicos Panametrics..................................................... 64

Controlador embarcado NI PXI 8108.............................................................................. 64

Termopar, mdulo condicionador NI 9211 e mdulo transmissor NI WLS/ENET-9163 . 65

Tela principal da aplicao L Scope GU 2015 ............................................................. 65

Indicao do segundo cruzamento com o zero na onda L cr .............................................. 67

Telas de filtros ( esquerda) e controles avanados ( direita) da aplicao L Scope

Desenho esquemtico do sistema de medio com ondas Lcr .......................................... 68

Unidade de controle MultiX++ ....................................................................................... 69

Tela principal do programa Multi2000 ........................................................................ 71

Tela do programa de medio de temperatura para sistema com array ultrassnico de 64

Desenho esquemtico do sistema de medio com array de 64 canais ............................ 72

Unidade de controle Micropulse FMC ......................................................................... 73

Tela do programa da unidade de controle Micropulse FMC......................................... 73

Sonda de ondas Lcr com peso morto................................................................................ 76

Posies de medio com a onda Lcr propagando (a) perpendicular (posies 1 e 2) e

As 6 posies de medio com a onda Lcr em cada amostra. Dimenses em milmetros. . 77

Dispositivo de aplicao de tenso na barra de ao API 5L X70 (PEREIRA JUNIOR,

Posio de medio com a sonda de array para verificao da influncia da temperatura

Pesos de fixao da sonda na amostra ............................................................................. 80

Posies de medio com o array nas amostras tratadas termicamente (sistema de 64

Influncia da temperatura no TOF da onda Lcr na amostra n 21 de ao ASTM A36 ....... 90

Influncia da temperatura no TOF da onda Lcr na amostra de ao API 5L X70 ............... 91

Variao do SNR da imagem de TFM em funo da temperatura na amostra de ao

Variao do SNR da imagem de TFM em funo da temperatura na amostra de ao

Variao da velocidade de onda em funo da temperatura para medies com elementos

Variao do SNR da imagem de TFM calculada com a velocidade corrigida em funo da

Variao do SNR da imagem de TFM calculada com a velocidade corrigida em funo da

Variao do SNR da imagem de TFM em funo da temperatura na amostra de ao

Variao do SNR da imagem de TFM em funo da temperatura na amostra de ao

Variao do SNR da imagem de TFM em funo da temperatura na amostra de ao API

Variao do SNR em funo do tamanho de gro para dados experimentais (sistema de