FANOR – FACULDADE NORDESTE

DISCIPLINA DE CIÊNCIAS DOS MATERIAIS

DIFRAÇÃO DE RAIO X

Nome: Marcos Hyan da Silva Silveira

Professor(a): Julianne Ribeiro dos Santos

Fortaleza, 09 de abril de 2015.

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 SUMÁRIO

1. Introdução.................................................................................................................. 3
2. Lei de Bragg................................................................................................................4
3. Aplicações................................................................................................................... 5

1. INTRODUÇÃO

Para o estudo das estruturas cristalinas os métodos de difração medem diretamente

a distância entre planos paralelos de pontos do reticulo cristalino. Esta informação é usada
para determinar os parâmetros do reticulo de um cristal. Os métodos de difração também
medem os ângulos entre os planos do reticulo. Estes são usados para determinar os
ângulos interaxiais de um cristal.
Por volta de 1912, Max Von Laue concebeu a possibilidade de realizar difração de
raios X, utilizando uma estrutura tridimensional, as primeiras experiências foram
realizadas por dois alunos de Laue, Walter Friedrich e Paul Knipping. Logo depois Willian
Bragg e seu filho Willian Lawrence Bragg demonstraram a relação que passou a ser

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conhecida como lei de Bragg, fundamental para o estudo de estruturas cristalinas com o
uso da difração de raios X.

2. LEI DE BRAGG

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 Considerando-se dois ou mais planos de uma estrutura cristalina, as condições para
que ocorra a difração de raios X vão depender da diferença de caminho percorrida pelos
raios X e o comprimento de onda da radiação incidente. Esta condição é expressa pela lei
de Bragg, ou seja n λ = 2 d senϴ, onde λ corresponde ao comprimento de onda da
radiação incidente, “n” a um número inteiro (ordem de difração), “d’’ à distância
interplanar para o conjunto de planos hkl (índice de Miller) da estrutura cristalina e ϴ ao
ângulo de incidência de raios X (medido entre o feixe incidente e os planos cristalinos).

 Equação de Lei de Bragg

n λ = 2 d senϴ

Figura 1: Difração de raios X e equação de Bragg

3. APLICAÇÕES DA DIFRAÇÃO DE RAIO X

A difração de raios X é, entre outras técnicas analíticas, uma poderosa ferramenta

de auxilio no desenvolvimento e na produção de um conjunto de materiais
semicondutores, cujo emprego na indústria eletroeletrônica é primordial para a fabricação
de diodos, transistores, microprocessadores e nanocircuitos baseados na nanotecnologia.
Os métodos mais utilizados no setor são a análise quantitativa de fases amorfas e
cristalinas, analise de tensão residual, analise de filmes finos, analise de reflexão e textura,

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além de estudos de transformação de fase, reação cinética e comportamento de tensão em
temperatura com auxílio de acessórios de alta temperatura.
Embora a difração de raios X seja uma técnica de caracterização indispensável, em
alguns casos ela depende de informações com a composição dos elementos químicos, a
morfologia física da amostra e a distribuição das fases. Essas informações podem ser
obtidas, respectivamente, por outras técnicas: fluorescência de raios X, microscopia
eletrônica de varredura e de transmissão.