Felipe T CC Final

UNIVERSIDADE FEDERAL DE CAMPINA GRANDE
CENTRO DE ENGENHARIA ELÉTRICA E

INFORMÁTICA
UNIDADE ACADÊMICA DE ENGENHARIA ELÉTRICA
Aprimoramento do Uso da Transformada Wavelet na

Análise das Curvas de Resistência de Contato Dinâmico de
Disjuntores de Alta Tensão
Aluno: Felipe Nóbrega de Castro
Professor Orientador: Edson Guedes da Costa, D. Sc.
Campina Grande
Julho, 2010
CENTRO DE ENGENHARIA ELÉTRICA E INFORMÁTICA
TRABALHO DE CONCLUSÃO DE CURSO
Trabalho de Conclusão de Curso apresentado ao Curso de

Graduação em Engenharia Elétrica da Universidade Federal de
Campina Grande, em cumprimento parcial às exigências para
obtenção do Grau de Engenheiro Eletricista.
Campina Grande
Julho, 2010
ii
CENTRO DE ENGENHARIA ELÉTRICA E INFORMÁTICA
TRABALHO DE CONCLUSÃO DE CURSO
Data da aprovação: ___/___/____
BANCA EXAMINADORA
_____________________________
Edson Guedes da Costa, D. Sc.
UFCG
Orientador
______________________________
Professor Convidado
UFCG
Avaliador
Campina Grande
Julho, 2010
iii
AGRADECIMENTOS
Primeiramente, agradeço a Deus pela oportunidade de estar nesse mundo e por

todas as graças concedidas ao longo de minha caminhada terrena.
Aos meus pais e irmãos pelo apoio e motivação nos momentos difíceis do curso,
por suportarem os momentos de estresse e principalmente pela educação a mim dada.
Agradecimentos também pela compreensão da ausência em vários momentos de convívio
familiar.
Aos colegas de curso, companheiros de algumas noites em claro, de vários finais de

semana de estudo e de incontáveis dias de aulas e provas. Companheiros de alegrias,
brincadeiras e de alguns momentos não muito felizes superados. Em especial a José
Maurício que me ajudou várias vezes na elaboração das rotinas no MatLab ®.
Aos amigos de várias conversas, de vários divertimentos, de apoio nas dificuldades

e obstáculos da vida, de conselhos e de compreensão da ausência nos momentos de provas
e trabalhos.
Aos professores que contribuíram em minha formação acadêmica, principalmente,

ao professor Edson Guedes, que se dispôs em me orientar.
iv
SUMÁRIO
Lista de Figuras ......................................................................................................... vi

Lista de Tabelas ......................................................................................................... vii
1. INTRODUÇÃO .................................................................................................... 1
2. A TRANSFORMADA WAVELET .....................................................................
. 1
2.1. Transformada Wavelet Contínua .................................................................. 2
2.2. Transformada Wavelet Discreta ................................................................... 3
2.3. Transformada Wavelet Discreta Inversa ...................................................... 4
2.4. Energia dos Coeficientes Wavelets .............................................................. 5
3. DISJUNTORES DE POTÊNCIA ......................................................................... 6
3.1. Tipos de Disjuntores ..................................................................................... 7
3.2. Manutenção dos Disjuntores ......................................................................... 9
3.2.1. Manutenção Corretiva ......................................................................... 9
3.2.2. Manutenção Preventiva ....................................................................... 9
3.2.3. Manutenção Preditiva .......................................................................... 9
3.3. Ensaios em Disjuntores ................................................................................. 10
3.3.1. Medição da Resistência do Contato Principal ..................................... 10
3.3.2. Medição da Resistência de Contato Dinâmico .................................... 10
4. CURVAS SINTÉTICAS ....................................................................................... 13
4.1. Interpolação dos Dados ................................................................................ 16
4.2. Curvas Sintéticas .......................................................................................... 17
5. APLICAÇÃO DA TRANSFORMA WAVELET ................................................ 18
6. CONSIDERAÇÕES FINAIS ................................................................................ 44
7. REFERÊNCIAS .................................................................................................... 45
8. ANEXOS ............................................................................................................... 46
8.1. Rotina Para Aplicação da Transformada Wavelet e Cálculo da Energia ..... 46
8.2. Função wenergy_Felipe Para Cálculo da Energia ........................................ 49
8.3. Rotina Para Salvar as Curvas Sintéticas ....................................................... 50
v
LISTA DE FIGURAS
Figura 2.1: Wavelets mãe. (a) Haar; (b) Daubechies; (c) Coiflet; (d) Symmlet .............. 2
Figura 2.2: Esquema para Obtenção dos Coeficientes de Aproximação e Wavelet ........ 4
Figura 2.3: Esquema da TWDI de banco de filtros .......................................................... 5
Figura 3.1: Curvas de resistência de contato dinâmico. (a) a velocidade nominal, (b) a
baixa velocidade ............................................................................................................... 11
Figura 3.2: Resistência de Contato em função da distância entre os contatos ................. 12
Figura 4.1: Curvas de Resistência de Contato Dinâmico em um Disjuntor de 120 kV.
(a) Antes da Manutenção. (b) Após a Manutenção .......................................................... 14
Figura 4.2: Métodos de Interpolação. (a)-(c) Interpolação Polinomial. (d) Interpolação
Spline ................................................................................................................................ 16
Figura 4.3: Gráficos das Curvas Sintéticas Geradas pela Rotina Computacional ........... 18
Figura 5.1: Gráfico da curva sintética 2 ........................................................................... 19
Figura 5.9: Gráfico da curva sintética 10 ......................................................................... 23
Figura 5.10: Gráfico da curva sintética 11 ....................................................................... 23
Figura 5.11: Cinco Níveis do Coeficiente de Detalhe da Curva 9 com Coif4 ................. 24
Figura 5.12: Cinco Níveis do Coeficiente de Detalhe da Curva 9 com DB4 .................. 25
Figura 5.13: Cinco Níveis do Coeficiente de Detalhe da Curva 9 com Haar .................. 27
Figura 5.14: Cinco Níveis do Coeficiente de Detalhe da Curva 4 com Coif4 ................. 29
Figura 5.15: Cinco Níveis do Coeficiente de Detalhe da Curva 4 com DB4 .................. 30
Figura 5.16: Cinco Níveis do Coeficiente de Detalhe da Curva 4 com Haar .................. 32
vi
LISTA DE TABELAS
TABELA 4.1: Dados para Construção das Curvas Sintéticas ......................................... 15

TABELA 5.1: Energias de Detalhe e Diferenças Utilizando a Wavelet Haar ................ 35
TABELA 5.2: Energias de Detalhe e Diferenças Utilizando a Wavelet DB4 ................. 36
TABELA 5.3: Energias de Detalhe e Diferenças Utilizando a Wavelet Coif4 ............... 37
TABELA 5.4: Ordenação das Diferenças Para o Primeiro Nível ................................... 39
TABELA 5.5: Ordenação das Diferenças Para o Segundo Nível ................................... 40
TABELA 5.6: Ordenação das Diferenças Para o Terceiro Nível .................................... 41
TABELA 5.7: Ordenação das Diferenças Para o Quarto Nível ...................................... 42
TABELA 5.8: Ordenação das Diferenças Para o Quinto Nível ...................................... 43
vii
1. INTRODUÇÃO
Disjuntores de alta tensão são equipamentos elétricos utilizados com a função de
proteção, e em estado de operação normal do sistema, de manobra. Os disjuntores devem
ser capazes de interromper correntes normais de carga, correntes de magnetização de
transformadores e reatores, correntes capacitivas e, quando da ocorrência de um curto-
circuito, correntes de curto-circuito a fim de minimizar ou impedir os danos causados aos
equipamentos do sistema elétrico. Deve ter também a capacidade de fechamento de
circuitos em condições normais e na presença de curtos-circuitos.
As principais funções dos disjuntores são a condução de correntes normais de carga

quando estão fechados e isolamento entre duas partes quando estão abertos. Para avaliar a
condição de operacionalidade dos contatos do disjuntor, a medição da resistência do
contato principal é normalmente executada. Contudo, a resistência estática medida quando
o disjuntor permanece fechado não dá nenhuma indicação da condição dos contatos de
arco e para avaliar sua condição, uma inspeção interna pode ser feita, mas os
procedimentos de manutenção a serem seguidos exigem muito tempo e alto custo.
A técnica atualmente mais utilizada é a Medição da Resistência Dinâmica de

Contato (MRDC), contudo a interpretação dos resultados das medições necessita de um
especialista ou muitas vezes apresenta resultados não conclusivos. O aprimoramento da
técnica de medição de resistência dinâmica de contato (MRDC) que permita o
monitoramento e diagnóstico das condições dos contatos principal e de arco será de grande
valia, resultando em vantagens econômicas e de confiabilidade. Para tanto será estudada a
viabilidade do uso de técnicas de apoio a decisão. Especificamente, neste trabalho, será
utilizada a transformada Wavelet para análise das curvas sintéticas de resistência de
contato dinâmico obtidas em (LANDRY, 2006). A partir da análise das curvas, buscar-se-á
a criação de um padrão de comparação das condições de operacionalidade dos disjuntores.
2. A TRANSFORMADA WAVELET
Assim como outras ferramentas de análise de sinais, a Transformada Wavelet é
uma operação linear que torna possível uma representação alternativa do sinal. Ela permite
que um sinal seja representado em termos de funções bases em posições e escalas
diferentes, realizando uma análise multiresolucional. Dessa forma, torna-se mais fácil
analisar os sinais e realçar algumas características importantes do sinal.
As Wavelets possuem a energia do seu sinal concentrada no tempo e é uma

ferramenta para análise de fenômenos transitórios, não-estacionários ou variantes no
tempo. Com ela, é possível analisar o sinal no domínio do tempo ou da freqüência.
Para análise do sinal a ser estudado, é necessário decompor tal sinal em termos das
wavelets filhas, que são funções escalonadas, transladadas e dilatadas originadas da
wavelet mãe. A wavelet mãe é uma função que tem as seguintes propriedades:
1. Ψ (t) L²(R), L={L: R  R; ∫|f(t)|²dt <∞};
1
2. CΨ (t) = , onde ψ (w) é a transformada de Fourier de ψ (t).
Das propriedades, decorre que as wavelets são funções oscilatórias assimétricas, de curta
duração, de energia finita e de valor médio zero.Há várias funções wavelets mãe, como
exemplo tem-se as seguintes: Daubechies, Meyer, Lemarié, Morlet, Haar, Mexican Hat,
Symlets e Coiflets.
2.1. TRANSFORMADA WAVELET CONTÍNUA (TWC)
A TWC de uma função f(t) é uma operação linear que decompõe a função em um
conjunto de funções e é definida como o produto interno entre f(t) e as ψa,b(t), wavelets
filhas, conforme pode ser visto na Equação 2.1.
2.1
As wavelets filhas são funções obtidas a partir da wavelet mãe através de operações
de escalonamento e translação. A operação de escalonamento é realizada pelo parâmetro a,
quando a<1, comprime, quando a>1, dilata o sinal, e a translação, pelo parâmetro b, b>0
atrasa, b<0, adianta o sinal. Dessa forma, pode-se definir matematicamente a wavelet filha
como na Equação 2.2.
2.2
onde, o termo 1/√|a| torna a energia da wavelet filha igual à da wavelet mãe.
Na Figura 2.1, tem-se exemplos de wavelets mãe.
(a) (b) (c) (d)
Figura 2.1: Wavelets mãe. (a) Haar; (b) Daubechies; (c) Coiflet; (d) Symmlet.
Como a transformada wavelet é um produto interno do sinal analisado e das

wavelets filhas, pode-se interpretá-la como uma medida da semelhança entre os sinais. A
transformada wavelet pode ser vista como filtros passa-faixa.
2
2.2. TRANSFORMADA WAVELET DISCRETA (TWD)
Apesar do interesse teórico da TWC, em aplicações práticas, é necessária a sua

discretização. Isso se deve ao fato da redundância presente na Equação 2.1, que define a
TWC, visto que os parâmetros a e b variam continuamente.
Na TWD, a wavelet mãe não é transladada, nem escalonada continuamente, mas

em intervalos discretos. A Equação 2.3 define a wavelet filha para TWD e a Equação 2.4
define a TWD.
. 2.3
. 2.4
Comparando as Equações 2.2 e 2.3, nota-se que apenas os parâmetros da

transformada são discretizados. A discretização dos parâmetros é:
a = a0j
b = kb0a0j
com, j e k N*.
Pode-se observar da expressão 2.4 que:
a TWD é definida apenas para os valores de escalas positivos;

o passo de translação é proporcional a escala;
a TWD produz um conjunto finito de coeficientes wavelet;
o processamento é realizado sobre tempo contínuo.
Quando a transformada wavelet for aplicada a funções discretas, surge a Série

Wavelet Discreta no Tempo, que é dada pela Equação 2.5.
2.5
Se o processo de discretização dos parâmetros da transformada tem como objetivos

eliminar a redundância presente na forma continua e garantir a inversabilidade, então a
escolha de a0 e b0 deve ser feita de modo que as wavelets filhas formem uma base
ortogonal para L²(R). Pode-se escolher a0 = 2 e b0 = 1, dessa forma, os coeficientes wavelet
discretos serão:
. 2.6
3
Em 1989, baseado na análise multiresolucional, Mallat (1989) propôs um algoritmo
rápido e eficiente para o cálculo da TWD, podendo ser interpretado como um banco de
filtros. Matematicamente, tem-se:
e 2.7
2.8
onde, cj+1 e dj+1 são os coeficientes de aproximação e detalhe, ou wavelet, da escala j+1,
respectivamente, e h(k) e g(k) são filtros passa-baixa e passa-alta.
As Equações 2.7 e 2.8 representam um processo de filtragem digital, seguido por

sub-amostragem por um fator de dois. Destas equações, os coeficientes de aproximação e
wavelet, na primeira escala, são obtidos fazendo-se j = 0.
e 2.8
2.9
onde, c0 é o sinal original.
Na Figura 2.2, tem-se o esquema para obtenção dos coeficientes de aproximação e

wavelet.
Figura 2.2: Esquema para Obtenção dos Coeficientes de Aproximação e Wavelet.
2.3. TRANSFORMADA WAVELET DISCRETA INVERSA (TWDI)
Dada uma função wavelet mãe, uma função qualquer f(t) pode sempre ser
recuperada a partir do seu conjunto de coeficientes wavelet contínuos quando f(t) foi uma
função contínua. Entretanto, no caso discreto, uma função f(t) pode não ser recuperada se o
processo de reconstrução da função não convergir. O processo dependerá da escolha da
wavelet mãe e do processo de discretização realizado.
A reconstituição ideal é aquela que ocorre com o máximo de eficiência e com o

mínimo de perda de informação. Dessa forma, a função f(t) pode ser reconstruída a partir
dos seus coeficientes wavelet discretos com aproximação por:
4
, 2.10
onde, c é uma constante dependente do processo de discretização e da wavelet mãe

utilizada.
A estrutura de bancos de filtros da TWDI é semelhante àquela utilizada na

decomposição do sinal original, mas na ordem reversa. Na Figura 2.3, tem-se o esquema de
TWDI.
Figura 2.3: Esquema da TWDI de banco de filtros.
Os blocos h(k) e g(k) são os filtros digitais e o bloco ↑2 representa a operação de

sobre-amostragem.
2.4. ENERGIA DOS COEFICIENTES WAVELETS
O teorema de Parseval estabelece que a energia do sinal original é igual a soma das
energias concentradas dos coeficientes wavelet no diferentes níveis de resolução.
Significando que a energia do sinal pode ser particionada em termos da energia dos
coeficientes wavelets.Esta propriedade será exemplificada utilizando-se um sinal digital
pela simplicidade de visualização. Seja o sinal f = (f 1, f2, f3,..., fk), onde k é o número de
amostras do sinal. A energia do sinal será a soma dos quadrados dos seus valores
amostrados, i.e.,
. 2.11
Mostrar-se-á que a energia da sua transformada wavelet será igual a energia do sinal. Isso
é, Ef = E(ci|di|di-1|...|d1), onde ci e di são os coeficientes de aproximação e de detalhe de
nível i, sendo a energia da transformada calculada pela Equação 2.12.
, 2.12
onde, são os valores do vetor ci e os valores do vetor di, para i=n. O exemplo a
seguir é uma ilustração dessa propriedade. Seja o sinal f = (4, 6, 10, 12, 8, 6, 5, 5).
Encontra-se que sua energia é 446. Sua transformada Haar de nível 1 dá origem aos
coeficientes c1 = (5√2, 11√2, 7√2, 5√2) e d1 = (-√2, -√2, √2, 0). A energia da transformada,
neste caso, será 446, que é o mesmo valor da energia do sinal. Pode-se considerar as
5
energias dos coeficientes de aproximação e wavelet separadamente, neste caso, tem-se
E(a1) = 440 e E(d1) = 6.
Outra propriedade da transformada wavelet, chamada característica de pequenas

oscilações, pode ser muito útil na nossa análise, essa propriedade decorre da definição do
coeficiente wavelet. Para sinais amostrados de sinais analógicos contínuos com um
intervalo de amostragem muito pequeno, as amostras terão valores muito próximos, e
como o coeficiente wavelet é definido como
, 2.13
os valores dos coeficientes wavelet serão todo muito próximos de zero. Dessa forma, o
valor de sua energia será uma parcela muito pequena da energia total do sinal.
Quando o sinal analógico amostrado apresentar muitas variações no seu

comportamento, maiores serão os valores dos coeficientes wavelet e, conseqüentemente,
sua energia. Dessa forma, a energia dos coeficientes wavelet pode ser mais uma variável de
analise na utilização da ferramenta para avaliação das condições de disjuntores.
3. DISJUNTORES DE POTÊNCIA
A principal função dos disjuntores é a interrupção de correntes de falta tão
rapidamente quanto possível, de forma a limitar os possíveis danos causados aos
equipamentos pelos curtos-circuitos. Os disjuntores devem ter capacidade de interrupção
de correntes normais de carga, correntes de magnetização de transformadores e reatores e
as correntes capacitivas de banco de capacitores e de linhas em vazio.
Os disjuntores devem ser capazes mecanicamente para abrir em tempos tão curtos
quanto 2 ciclos, mesmo permanecendo vários meses na posição fechada. Dadas tais
exigências, para construção de disjuntores, primeiramente, devem-se definir as
características nominais às quais o disjuntor deverá atender, sendo a mais importante delas
a capacidade de interrupção de correntes de curto-circuito. As características são
escolhidas, geralmente, a partir de valores normalizados. Em segundo lugar, deve-se
definir o meio de extinção, o meio isolante e o tipo de mecanismo de operação a ser
utilizado para melhor atender as características escolhidas.
Algumas aplicações necessitam de características que tornem o disjuntor mais

robusto, características como valores-limites de sobretensões suportáveis, suportabilidade
dinâmica e térmica. As aplicações especiais são: manobras de bancos de capacitores;
abertura e fechamento de um único banco de capacitores, fechamento de banco de
capacitores em paralelo como outro já energizado, manobra de motores, fornos elétricos e
reatores.
6
3.1. TIPOS DE DISJUNTORES
Para atender ao crescimento das potências de interrupção e à elevação dos níveis de

tensão nos sistemas elétricos, houve a evolução dos disjuntores desde o disjuntor de
interrupção ao ar livre até os disjuntores a semicondutores, passando, em ordem
cronológica, pelos disjuntores a óleo, disjuntores a ar comprimido, disjuntores a SF6 e
disjuntores a vácuo.
DISJUNTORES A ÓLEO
Nos disjuntores a óleo, os dispositivos de interrupção são imersos em óleo

isolantes. Nesses dispositivos, a extinção do arco se dá através da geração de gases,
principalmente hidrogênio, em virtude da decomposição das moléculas de óleo devida às
altas temperaturas desenvolvidas na região do arco, a quantidade de gás liberada depende
diretamente da magnitude da corrente e da duração do arco. O gás liberado desempenha
duas funções: primeira, resfriar o arco e segunda, aumentar a pressão em torno do arco,
determinando uma elevação do gradiente de tensão necessário à sua manutenção. O
aumento da pressão interna nas câmaras de interrupção cria um fluxo de óleo que irá
desionizar o dielétrico, resfriar e alongar o arco. As câmaras de extinção podem ser de dois
tipos: sopro transversal e sopro axial.
DISJUNTORES A AR COMPRIMIDO
Nos disjuntores a ar comprimido, a extinção do arco é obtida a partir da admissão,

nas câmaras, de ar comprimido que, soprando sobre a região entre os contatos, determina o
resfriamento do arco e sua compressão. O sopro de ar inicia-se pela abertura das válvulas
de sopro para a atmosfera, provocando um fluxo de ar comprimido no interior das câmaras.
O ar comprimido também é utilizado para isolamento e acionamento dos contatos móveis.
A reignição do arco é prevenida pela exaustão dos produtos ionizados do arco da região
entre os contatos pelo sopro de ar comprimido. Há dois tipos de câmaras de extinção:
câmara de sopro axial numa única direção e câmara de sopro axial em duas direções. Nos
disjuntores modernos, as câmaras de extinção são total e permanentemente pressurizadas.
Nos disjuntores de sopro único, o fluxo de ar comprimido para a atmosfera se dá através do
contato móvel e nos disjuntores de sopro único, uma válvula de sopro principal e uma
auxiliar são abertas para atmosfera, dando origem a um fluxo através dos contatos móvel e
fixo.
DISJUNTORES A SF6
Os disjuntores a SF6 podem ser do tipo dupla pressão ou do tipo pressão única,
puffer type.
Os disjuntores de dupla pressão são caracterizados por sua alta potência de ruptura
e curto tempo de interrupção. Eles possuem um compressor de gás responsável pela
manutenção de um volume de gás SF6 a alta pressão, armazenado num reservatório interno
ao disjuntor. Numa interrupção, no instante em que os contatos se separam e há a formação
do arco, o gás do reservatório de alta pressão é soprado diretamente na região entre os
contatos, no sistema de baixa pressão. Após cessar o fluxo de gás, a pressão do sistema de
7
alta pressão é reposta pela transferência do gás do sistema de baixa para o sistema de alta
pressão, através do compressor de gás.
Os disjuntores de pressão única possuem um projeto mais recente e dispensam a

utilização do compressor de gás. O gás permanece no disjuntor, durante a maior parte do
tempo, a uma pressão constante de 3 a 6 bar, servindo ao isolamento entre as partes com
potenciais diferentes. A pressão necessária à extinção do arco é produzida durante a
operação de abertura, em cada câmara, por meio de um pistão solidário à haste do contato
móvel que, se movimentar, comprime o gás dentro da câmara. A compressão do SF6 por
esse processo produz pressões da ordem de duas a seis vezes a pressão original e no
intervalo entre a separação dos contatos e o fim do movimento, o gás, assim comprimido, é
forçado a fluir entre os contatos e através de uma ou duas passagens, extinguindo o arco de
modo semelhante ao dos disjuntores de dupla pressão.
DISJUNTORES A VÁCUO
Nos disjuntores a vácuo, o arco que se forma entre os contatos é bastante diferente
dos arcos em outros tipos de disjuntor, sendo basicamente mantido por íons de material
metálico vaporizado proveniente dos contatos. A técnica de interrupção da corrente
consiste na separação de um contato móvel de um contato fixo, dentro de um recipiente
com vácuo da ordem de 0,00001 Torr (1 mBar = 0,7500615 Torr). A interrupção do arco é
semelhante ao processo dos demais tipos de disjuntores, o arco será extinto na passagem da
corrente por zero. O arco será extinto se a energia do sistema for menor que a dissipada no
processo de desionização, e assim permanecerá se o restabelecimento da suportabilidade
dielétrica entre os contatos for suficientemente rápido para suportar a tensão de
restabelecimento transitória. A eficiência do processo de interrupção é determinada pela
rapidez da condensação do vapor metálico nas superfícies dos contatos e barreiras de
proteção.
DISJUNTORES A SEMICONDUTORES
A técnica de interrupção a semicondutores permite desempenhos próximos daquele

teoricamente atribuído ao disjuntor ideal, muito mais que os das outras técnicas, isso
ocorre principalmente pela ausência de manifestações externas. A resistência dos
semicondutores tem como característica passar rapidamente de um valor muito baixo para
um valor considerável quando a corrente elétrica passa por zero. O aumento da resistência
ocorre em temperatura ambiente. O fato de a interrupção do arco elétrico ocorrer a altas
temperaturas faz os disjuntores a semicondutores ainda não serem viáveis
economicamente. Algumas das vantagens do emprego dos semicondutores no processo de
interrupção do arco são: obtenção de condições ideais de interrupção, sem provocar
sobretensão de manobra; ausência de desgastes e manutenção; e possibilidade de
determinar previamente o desempenho dos equipamentos.
8
3.2. MANUTENÇÃO DOS DISJUNTORES
A Manutenção é um conjunto de ações que se realiza direta ou indiretamente em

um sistema ou equipamento, com a finalidade de verificar, manter ou restabelecer as
condições de cumprir com segurança e eficiência suas funções. As vantagens da
manutenção são o aumento do tempo de vida, a redução do número de falhas ou defeitos e
a possibilidade de se detectar, previamente, anormalidades nos equipamentos. A boa
manutenção é assegurar as operações a um custo global otimizado.
A manutenção pode ser classificada em três tipos de acordo com sua finalidade. A
manutenção pode ser corretiva, quando tem o objetivo de reparar o equipamento em estado
de pane, preventiva, quando o objetivo é evitar que falhas ocorram e preditiva, que tem o
mesmo objetivo da preventiva, mas é baseada no monitoramento contínuo do equipamento.
3.2.1. MANUTENÇÃO CORRETIVA
A Manutenção corretiva é todo serviço para reparar ou retirar do estado de pane um

componente ou conjunto de componentes cuja avaria resultou na falha do equipamento. Os
custos associados à manutenção corretiva são elevados devido à estocagem de peças,
trabalho extra, tempo de paralisação do equipamento elevado e indisponibilidade do
sistema.
3.2.2. MANUTENÇÃO PREVENTIVA
A Manutenção preventiva consiste em ações visando detectar previamente

condições que poderiam afetar negativamente o comportamento do equipamento,
reduzindo-se a probabilidade de ocorrência de defeitos. A manutenção preventiva oferece
diminuição dos custos comparada à manutenção corretiva, melhor produtividade e redução
de mão-de-obra, porém o número de intervenções as quais o equipamento é submetido,
provavelmente, é maior que o necessário.
3.2.3. MANUTENÇÃO PREDITIVA
As falhas são normalmente precedidas de alguma mudança sensível no

comportamento do componente e, conseqüentemente, dos parâmetros por ele
influenciados, fornecendo um indicativo de uma falha incipiente. Logo, a manutenção
passa a ser realizada somente quando e onde é necessária, reduzindo seus custos. Com base
nisso, surgiu a manutenção preditiva.
A manutenção preditiva diferencia-se da corretiva e da preventiva no fato de ser

baseada no monitoramento contínuo dos equipamentos, utilizando sistemas de monitoração
que, através de coleta de dados e de sua interpretação, permitem concluir sobre o estado de
desgaste ou de deterioração de componentes, com base no conhecimento prévio das
estimativas de degradação e de uso que os componentes possuem.
9
3.3. ENSAIOS EM DISJUNTORES
Os ensaios em disjuntores são ferramentas insubstituíveis tanto na fase de projeto e

recebimento do produto quando na verificação do estado do equipamento após
determinado tempo de uso. Apesar da tendência de lançar mão de meios analíticos em
substituição parcial ou complementação dos ensaios, a necessidade destes continuará
existindo. Sua aplicação, entretanto, será cada vez mais racional, acarretando em
diminuição dos custos de manutenção e do equipamento.
Dentre os vários ensaios normalizados para disjuntores, vamos falar dos ensaios de
medição da resistência do contato principal e medição da resistência de contato dinâmico.
3.3.1. MEDIÇÃO DA RESISTÊNCIA DO CONTATO PRINCIPAL
A resistência do circuito principal de cada pólo do disjuntor deve ser medida para
comparação entre elevação da temperatura verificada no protótipo e nos equipamentos de
mesmo tipo submetidos posteriormente aos ensaios de rotina que são realizados
normalmente em cada fornecimento. A resistência em qualquer disjuntor não poderá
exceder em mais de 20% a resistência encontrada nos protótipos.
A medição da resistência do circuito principal deve ser feita pela injeção de

corrente, registrando-se a resistência ou a queda de tensão direta entre os terminais de cada
pólo. A corrente para teste deve ter um valor convenientemente escolhido até o limite da
corrente nominal do equipamento, mas, preferencialmente, deve ser no mínimo 100 A. As
medições devem ser feitas à temperatura ambiente e antes do ensaio de elevação de
temperatura.
Na pratica, a resistência de contato nos disjuntores é verificada com o Ducter, um

medidor de baixos valores de resistência, que apresenta o seguinte principio de
funcionamento: uma fonte de corrente faz circular um valor conhecido de corrente através
da resistência a ser medida, medindo-se sua queda de tensão. Utilizando-se uma constante
apropriada, o valor da queda de tensão é convertido em resistência. Como os valores de
resistência de contato são da ordem de micro ohms, quanto maior for o valor da corrente
elétrica estabelecida pela fonte no circuito, maior precisão será obtida na leitura.
Além da medição da resistência de contato principal, é necessária inspeção interna

das câmaras principais dos disjuntores para verificação das condições dos componentes
que sofrem desgastes devido à ação do arco elétrico e das condições dos contatos
principais.
3.3.2. MEDIÇÃO DA RESISTÊNCIA DE CONTATO DINÂMICO
Apesar de a medição da resistência do contanto principal ser um método bastante

útil e bastante difundido, ele não oferece informações sobre as condições dos contatos de
arco do disjuntor. Para isto, é necessária a abertura da câmara de extinção do disjuntor,
10
procedimento que despende muito tempo e tem alto custo de mão-de-obra e de
indisponibilidade do equipamento.
Para superar os problemas citados, foi desenvolvida a medição da resistência de

contato dinâmico. O aperfeiçoamento da técnica é a medição da resistência de contato
dinâmico em baixa velocidade, já que em velocidade nominal as curvas apresentam vários
picos que as tornam ambíguas e de difícil interpretação. Na figura 3.1, tem-se as curvas de
resistência de contato dinâmico em velocidade nominal e em baixa velocidade.
(a)
(b)
Figura 3.1: Curvas de resistência de contato dinâmico. (a) a velocidade nominal, (b) a baixa velocidade.
(Adaptado: LANDRY, 2008).
11
O procedimento de medição da resistência é semelhante ao empregado na medição
da resistência do contato principal, com a diferença de ser necessário o cálculo instantâneo
da resistência de contato e o procedimento acontece durante a abertura dos contatos do
disjuntor. Os procedimentos seguintes são necessários para realização da medição:
Injeção de corrente;
Medição da queda de tensão e da corrente que circula nos contatos do disjuntor;
Cálculo da resistência (queda de tensão/corrente) em função do deslocamento dos
contatos ou do tempo.
A medição da resistência de contato dinâmico deve ser executada de preferência

durante as operações de abertura com velocidade de contato de aproximadamente 0,002 até
0,2 m/s. Como a velocidade não é constante em todos os testes, para que haja um
parâmetro comum a todos os testes, pode-se traçar a curva da resistência em função da
distância entre os contatos.
A partir da curva da resistência em função da distância entre os contatos, é possível

avaliar dois parâmetros adicionais para diagnosticar as condições do contato de arco, são
eles:
Ra (µΩ): Resistência média do contato de arco. Soma dos valores medidos dividida
pelo número de amostrar após a abertura do contato principal. (Ra = ∑R, i=1,N)/N
(Figura 3.2);
Ra*Da (µΩ.mm): Área abaixo da curva de resistência como uma função da
distância entre os contato (Figura 3.2).
Figura 3.2: Resistência de Contato em função da distância entre os contatos (LANDRY, 2006).
12
As variáveis que aparecem na Figura 3.2 são enunciadas a seguir.
Rp (µΩ): A média da resistência do contato principal;
Dp (mm): Deslocamento do contato principal;
Da (mm): Deslocamento do contato de arco;
Pa (mm): A posição dos contatos do disjuntor na separação do contato de arco.
A área abaixo da curva fornece um critério para avaliar o desgaste global do contato
do disjuntor e/ou a posição de alinhamento do contato. Uma vez que o gráfico é traçado,
todos os parâmetros de diagnósticos podem ser deduzidos.
4. CURVAS CARACTERISTICAS
A obtenção experimental da curva de resistência de contato dinâmico exige um
equipamento chamado analisador de disjuntores. O analisador faz a medição de
sincronismo dos contatos principais e auxiliares, traça a curva de movimento dos contatos,
além de efetuar a medição de elementos resistivos e capacitivos. Esse equipamento tem um
alto custo e não foi possível a utilização desse equipamento durante os estudos.
Nos experimentos realizados em (LANDRY, 2006), as curvas de resistência foram

obtidas utilizando um sistema de aquisição de dados e uma rotina computacional a fim de
eliminar o uso do analisador de disjuntores. As características do sistema de aquisição são:
Três entradas analógicas com resolução de no mínimo 12 bits e faixa de tensão

apropriada, as entradas têm a função de registrar os sinais de corrente injetada,
queda de tensão através dos contatos e a distância entre os contatos;
Freqüência de amostragem de pelo menos 10 kHz;
Tempo de aquisição entre 30s e 100 s;
Conexão a um computador para cálculo da resistência de contato instantânea a
partir de uma rotina computacional;
Para medição exata da magnitude da corrente e da sua variação abrupta no

momento da separação dos contatos de arco, é necessário um sensor de corrente de efeito
Hall. É, também, preciso um sensor de deslocamento para medição da distância entre os
contatos, a depender da tecnologia de abertura do disjuntor, o sensor pode ser linear ou
rotativo.
Na ausência de um banco de dados experimental para estudo e análise, recorremos

às curvas obtidas em experimentos realizados em (LANDRY, 2006), as curvas estão na
Figura 4.1. As curvas são provenientes de testes em um disjuntor a gás SF6 de 120 kV de
um banco de capacitores antes da manutenção para correção de uma falha e após a
correção da falha.
13
(a)
(b)
Figura 4.1: Curvas de Resistência de Contato Dinâmico em um Disjuntor de 120 kV. (a) Antes da
Manutenção. (b) Após a Manutenção. (Adaptado LANDRY, 2006)
A partir dos gráficos mostrados na Figura 4.1, montou-se o conjunto de dados para
construção das curvas sintéticas para simulação das curvas experimentais. Na Tabela 4.1,
estão os dados. Pode-se notar que não foi utilizado um espaçamento uniforme na coleção
dos dados, tal medida foi utilizada para termos um maior detalhe das curvas experimentais
e diminuir os erros de aproximação da modelagem.
14
TABELA 4.1: Dados para Construção das Curvas Sintéticas
Distância entre os contatos Resistência dinâmica Disjuntor Resistência dinâmica Disjuntor

(mm) sem Defeito (mΩ) com Defeito (mΩ)
0,0 0,03 0,05
5,0 0,03 0,05
10,0 0,03 0,05
15,0 0,03 0,05
20,0 0,03 0,05
23,0 0,03 0,05
25,0 0,05 0,05
26,0 0,05 0,15
27,0 0,05 0,24
28,0 0,08 0,17
29,0 0,08 0,22
30,0 0,10 0,18
31,0 0,12 0,40
32,0 0,15 0,42
33,0 0,15 0,50
33,5 0,15 0,52
33,7 0,15 0,70
34,0 0,15 0,85
34,1 0,18 0,50
34,3 0,18 0,65
34,7 0,18 0,52
35,0 0,20 0,60
36,0 0,20 0,50
37,0 0,20 0,60
37,5 0,20 0,47
38,0 0,20 1,10
39,0 0,20 1,25
40,0 0,20 0,95
41,0 0,20 1,10
41,5 0,20 0,70
42,0 0,20 0,45
42,5 0,20 0,45
43,0 0,20 0,30
44,0 0,20 0,30
44
44,5 0,30 0,25
45,0 0,50 0,25
46,0 1,50 0,35
47,0 3,00 3,00
15
4.1. INTERPOLAÇÃO DOS DADOS
Para obtenção da função que descreve os dados, lançaremos mão de métodos

interpolação.
Polinômios de ordem n são usados para interpolar (n-1) pontos. Por exemplo, para
oito pontos, podemos conseguir um polinômio da sétima ordem perfeito. Esta curva
capturaria todas as sinuosidades sugeridas pelos pontos. Contudo, há casos onde essas
funções podem levar a resultados errôneos. Uma aproximação alternativa é aplicar
polinômios de ordem mais baixa aos subconjuntos dos pontos. Tais polinômios são
chamados funções de Spline.
Na Figura 4.2, temos uma situação onde uma Spline tem melhor desempenho do
que um polinômio de mais alta ordem. Este é o caso onde uma função é geralmente lisa,
mas sofre uma mudança abrupta em algum lugar ao longo da região de interesse. O
aumento do passo representado na Figura 4.2 é um exemplo extremo de tal modificação e
serve para ilustrar isso.
Nas Figuras 4.2a, 4.2b e 4.2c, vemos como os polinômios de ordem mais alta
tendem a apresentar grandes oscilações na proximidade de uma modificação abrupta. Ao
contrário, a Spline, Figura 4.2d, também une os pontos, mas por ser limitada a
modificações de ordem mais baixa, as oscilações são limitadas a um mínimo. Como tal, a
Spline normalmente fornece uma aproximação melhor do comportamento de funções que
têm modificações locais abruptas.
Figura 4.2: Métodos de Interpolação. (a)-(c) Interpolação Polinomial. (d) Interpolação Spline. (Adaptado:
Chapra, 1998)
16
A Spline linear apresenta a desvantagem de ter derivada primeira descontínua nos
nós.
Se usarmos Splines quadráticas, teremos derivadas contínuas até ordem 1 apenas e,

portanto, a curvatura do polinômio pode mudar nos nós. Por esta razão, as Splines cúbicas
são mais usadas.
O método consiste na divisão de um intervalo com (n+1) pontos, [x 0,xn], em n
subintervalos formados por dois pontos consecutivos, [x0,x1], [x1,x2], ... [xn-1,xn], [xn,xn+1],
e aproximar por um polinômio de ordem n (no nosso caso, terceira ordem) a função em
cada intervalo. O polinômio pode ser representado pela Equação 4.1.
4.1
Dessa forma, teremos 4n constantes a serem determinadas. Para obtenção dos

valores das 4n incógnitas, devemos ter 4n equações que são obtidas a partir das condições
abaixo:
1. O valor da função deve ser igual nos nós interiores (2n-2 equações);
Si(xi) = yi
2. A primeira e a última funções devem passar pelos pontos finais (2 equações);
S1(x1) = y1 e Sn(xn+1) = yn+1
3. As primeiras derivadas nos nós interiores devem ser iguais (n-1 equações);
Si’(xi) = Si+1’(xi)
4. As segundas derivadas nos nós interiores devem ser iguais (n-1 equações);
Si”(xi) = Si+1”(xi)
5. As segundas derivadas nos nós do fim são zero (2 equações).
S1”(x0) = Sn”(xn+1) = 0
4.2. CURVAS INTERPOLADAS
De posse dos dados e da definição do método de interpolação, desenvolveu-se uma

rotina computacional no MatLab® para implementar o método de interpolação. A rotina
está em anexo.
Na Figura 4.3, tem-se a superposição dos gráficos das curvas características geradas
pela rotina de implementação da interpolação spline.
17
Figura 4.3: Gráficos das Curvas Características Geradas pela Rotina Computacional.
5. APLICAÇÃO DA TRANSFORMADA WAVELET

A medição de resistência de contato dinâmico de disjuntores é um método
promissor, entretanto, a dificuldade de interpretação de seus resultados o torna pouco
utilizado. A análise da curvas da resistência utilizando a transformada wavelet tem o
objetivo de eliminar a dificuldade de interpretação dos dados.
Para isso, a utilização da energia dos coeficientes de detalhe servirá para análise das
curvas. Como se pode ver da Figura 4.3, o gráfico da função da resistência do disjuntor
com defeito possui muitas variações bruscas, enquanto a curva para o disjuntor sem defeito
é muito mais lisa. A diferença de comportamento entre as curvas, pela característica de
pequenas oscilações, resultará em energias do coeficiente de detalhe diferentes.
O valor relativo da diferença da energia do coeficiente de detalhe da curva da

resistência para um disjuntor com defeito e da curva de um disjuntor sem defeito será o
critério utilizado para escolha da wavelet a ser empregada para análise dos dados. Nos
estudos, serão utilizadas as wavelets Haar, DB4 e Coif4. Para os estudos comparativos,
foram determinados 05 níveis de detalhe para cada wavelet. Foram geradas manualmente
mais dez curvas com o intuito de simular a evolução da degradação dos contatos de
disjuntores. A base da geração das curvas foram as curvas mostradas na Figura 4.3, sendo
elas a Curva 1, vermelha, e a Curva 12, azul. As curvas sintéticas geradas estão mostradas
nas Figuras 5.1 a 5.10.
18
Figura 5.1: Gráfico da curva sintética 2.
19
20
21
22
23
Nas Figuras 5.11 a 5.13, são mostradas as curvas com os detalhes do primeiro ao
quinto nível para a Curva 9 utilizando as transformadas wavelets Haar, DB4 e Coif4. Nas
Figuras 5.14 a 5.16, são mostradas as curvas com os detalhes do primeiro ao quinto nível
para a Curva 4 utilizando as transformadas wavelets Haar, DB4 e Coif4.
(a)
(b)
(c)
24
(d)
(e)
Figura 5.11: Cinco Níveis do Coeficiente de Detalhe da Curva 9 com Coif4. (a) Primeiro Nível. (b) Segundo
Nível. (c) Terceiro Nível. (d) Quarto Nível. (e) Quinto Nível.
(a)
25
(b)
(c)
(d)
26
(e)
Figura 5.12: Cinco Níveis do Coeficiente de Detalhe da Curva 9 com DB4. (a) Primeiro Nível. (b) Segundo
(a)
(b)
27
(c)
(d)
(e)
Figura 5.13: Cinco Níveis do Coeficiente de Detalhe da Curva 9 com Haar. (a) Primeiro Nível. (b) Segundo
28
(a)
(b)
(c)
29
(d)
(e)
Figura 5.14: Cinco Níveis do Coeficiente de Detalhe da Curva 4 com Coif4. (a) Primeiro Nível. (b) Segundo
(a)
30
(b)
(c)
(d)
31
(e)
Figura 5.15: Cinco Níveis do Coeficiente de Detalhe da Curva 4 com DB4. (a) Primeiro Nível. (b) Segundo
(a)
(b)
32
(c)
(d)
(e)
Figura 5.16: Cinco Níveis do Coeficiente de Detalhe da Curva 4 com Haar. (a) Primeiro Nível. (b) Segundo
33
Pela observação da Curva 9 e da Curva 4, vê-se que a Curva 9 apresenta oscilações
de menor amplitude que as oscilações da Curva 4 e os valores de resistência da Curva 9
são, também, menores em relação à Curva 4. A Curva 9 apresenta um comportamento mais
uniforme e representa um disjuntor com poucas operações de abertura, já a Curva 4
representa um disjuntor bastante desgastado ou mesmo com contatos defeituosos.
A comparação dos gráficos do coeficiente de detalhe de mesmo nível e utilizando a

mesma transformada das duas curvas mostra uma diferença dos valores dos coeficientes.
Nota-se que os valores dos coeficientes da Curva 4 são maiores que os valores dos
coeficientes da Curva 9. A diferença dos valores também será refletida na energia do sinal
de detalhe.
Com intuito de aplicar ferramentas matemáticas de apoio a decisão, buscou-se

analisar as diferenças relativas entre as energias envolvidas, em cada nível, para o disjuntor
sem defeito e com defeito. Assim, a energia de detalhe para cada um dos 5 níveis de cada
curva para cada uma das wavelet foram calculadas e a diferença da energia em relação a
energia da Curva 1 também foi calculada, já que a Curva 1 foi obtida em (LANDRY,
2006), da medição de um disjuntor em perfeito estado de conservação.
Na Equação 5.1, é apresentada a equação para cálculo da diferença relativa de

energia entre as curvas sintéticas e a Curva 1.
, 5.1
com x variando de 2 a 12.
Nas Tabelas 5.1 a 5.3, são apresentados todos os valores calculados para as energias
e para a diferença.
34
TABELA 5.1: Energias de Detalhe e Diferenças Utilizando a Wavelet Haar
Energia de Detalhe
Nível Curva 1 Curva 2 Curva 3 Curva 4 Curva 5 Curva 6 Curva 7 Curva 8 Curva 9 Curva 10 Curva 11 Curva 12
1 3,417E+00 1,426E+01 8,790E+00 1,778E+01 6,526E+00 1,282E+01 1,101E+01 3,682E+00 3,493E+00 3,561E+00 1,189E+01 1,179E+01
2 1,358E+01 5,569E+01 3,419E+01 6,982E+01 2,534E+01 5,002E+01 4,278E+01 1,466E+01 1,387E+01 1,416E+01 4,669E+01 4,620E+01
3 5,506E+01 2,281E+02 1,466E+02 2,768E+02 1,091E+02 2,095E+02 1,816E+02 5,912E+01 5,627E+01 5,690E+01 1,943E+02 1,882E+02
4 2,225E+02 8,853E+02 5,996E+02 1,068E+03 4,447E+02 7,938E+02 6,803E+02 2,371E+02 2,264E+02 2,242E+02 7,802E+02 7,515E+02
5 6,878E+02 1,235E+03 6,071E+02 1,427E+03 4,209E+02 1,258E+03 1,057E+03 7,618E+02 6,818E+02 7,500E+02 1,434E+03 1,216E+03
Diferença
1 0% 317% 157% 420% 91% 275% 222% 8% 2% 4% 248% 245%
2 0% 310% 152% 414% 87% 268% 215% 8% 2% 4% 244% 240%
3 0% 314% 166% 403% 98% 281% 230% 7% 2% 3% 253% 242%
4 0% 298% 169% 380% 100% 257% 206% 7% 2% 1% 251% 238%
5 0% 80% -12% 108% -39% 83% 54% 11% -1% 9% 109% 77%
35
TABELA 5.2: Energias de Detalhe e Diferenças Utilizando a Wavelet DB4
Energia de Detalhe
1 2,362E-02 3,366E-01 2,980E-01 2,434E-01 2,371E-01 3,437E-01 6,574E-01 1,632E-02 2,564E-02 1,541E-02 2,510E-01 2,419E-01
2 7,113E-02 1,113E+00 8,961E-01 1,021E+00 7,139E-01 1,065E+00 5,386E+00 4,852E-02 7,745E-02 4,832E-02 7,598E-01 8,083E-01
3 1,263E+00 2,749E+01 1,796E+01 3,769E+01 1,456E+01 2,450E+01 3,065E+01 7,950E-01 1,411E+00 9,870E-01 1,531E+01 1,914E+01
4 1,207E+01 2,804E+02 1,593E+02 7,507E+02 1,297E+02 2,440E+02 2,666E+02 8,180E+00 1,375E+01 1,519E+01 1,515E+02 1,930E+02
5 1,889E+01 1,113E+03 7,125E+02 2,171E+03 6,527E+02 1,892E+03 1,873E+03 2,768E+01 4,249E+01 6,104E+01 9,208E+02 6,452E+02
Diferença
1 0% 1325% 1162% 931% 904% 1355% 2684% -31% 9% -35% 963% 924%
2 0% 1465% 1160% 1335% 904% 1397% 7472% -32% 9% -32% 968% 1036%
3 0% 2076% 1322% 2884% 1053% 1839% 2326% -37% 12% -22% 1112% 1415%
4 0% 2223% 1220% 6120% 975% 1922% 2109% -32% 14% 26% 1155% 1499%
5 0% 5792% 3672% 11393% 3355% 9914% 9816% 46% 125% 223% 4774% 3315%
36
TABELA 5.3: Energias de Detalhe e Diferenças Utilizando a Wavelet Coif4
Energia de Detalhe
1 4,352E-02 5,957E-01 5,289E-01 4,292E-01 4,192E-01 6,044E-01 6,344E-01 3,065E-02 4,708E-02 2,911E-02 4,474E-01 4,304E-01
2 3,105E+00 3,984E+01 3,536E+01 2,909E+01 2,781E+01 3,966E+01 4,128E+01 2,239E+00 3,341E+00 2,144E+00 3,021E+01 2,914E+01
3 8,334E+00 1,085E+02 9,304E+01 8,488E+01 7,302E+01 1,046E+02 1,086E+02 6,026E+00 8,963E+00 5,822E+00 7,989E+01 8,037E+01
4 7,586E+00 2,025E+02 7,693E+01 2,432E+02 6,130E+01 1,177E+02 1,195E+02 5,149E+00 8,336E+00 9,790E+00 7,955E+01 1,339E+02
5 4,480E+01 7,228E+02 4,592E+02 1,174E+03 3,836E+02 1,396E+03 1,097E+03 6,883E+01 6,581E+01 7,425E+01 7,186E+02 4,931E+02
Diferença
1 0% 1269% 1115% 886% 863% 1289% 1358% -30% 8% -33% 928% 889%
2 0% 1183% 1039% 837% 796% 1178% 1230% -28% 8% -31% 873% 839%
3 0% 1202% 1016% 918% 776% 1155% 1203% -28% 8% -30% 859% 864%
4 0% 2570% 914% 3106% 708% 1451% 1475% -32% 10% 29% 949% 1665%
5 0% 1513% 925% 2521% 756% 3016% 2349% 54% 47% 66% 1504% 1001%
37
Com o objetivo de facilitar a análise dos dados, separaram-se os dados de acordo
com o nível da wavelet e ordenaram-se as diferenças em ordem crescente. O novo arranjo
dos dados está apresentado nas Tabelas 5.4 a 5.8. A partir da organização dos dados, será
feita a análise do método wavelet que melhor adéqua-se para análise das curvas de
resistência de disjuntores.
Nas tabelas, também é explicitada a ordem tomada como referência que foi
elaborada pela inspeção visual das curvas sintéticas. A ordem de referência tem o objetivo
de colocar as curvas sintéticas em ordem crescente de desgaste de disjuntores e tendo,
assim, a referência para comparação dos resultados obtidos do tratamento com as
transformadas wavelet.
38
TABELA 5.4: Ordenação das Diferenças Para o Primeiro Nível
Método
DB4 Haar Coif4

Ordem de Ordem de Ordem de
Diferença Curva Acertos Diferença Curva Acertos Diferença Curva Acertos
Referência Referência Referência
9% 9 9 Certo 2% 9 9 Certo 8% 9 9 Certo
31% 8 5 Errado 4% 10 5 Errado 30% 8 5 Errado
931% 4 7 Errado 222% 7 7 Certo 889% 12 7 Errado
1355% 6 6 Certo 317% 2 6 Errado 1289% 6 6 Certo

39
TABELA 5.5: Ordenação das Diferenças Para o Segundo Nível
Método
DB4 Haar Coif4


40
TABELA 5.6: Ordenação das Diferenças Para o Terceiro Nível
Método
DB4 Haar Coif4

1415% 12 12 Certo 242% 12 12 Certo 918% 4 12 Errado

41
TABELA 5.7: Ordenação das Diferenças Para o Quarto Nível
Método
DB4 Haar Coif4

14% 9 9 Certo 1% 10 9 Errado 10% 9 9 Certo

42
TABELA 5.8: Ordenação das Diferenças Para o Quinto Nível
Método
DB4 Haar Coif4

46% 8 9 Errado 1% 9 9 Certo 47% 9 9 Certo
9914% 6 6 Certo 108% 4 6 Errado 2521% 4 6 Errado
11393% 4 4 Certo 109% 11 4 Errado 3016% 6 4 Errado

43
A análise das Tabelas 5.4 a 5.8 revela a Transformada Wavelet Haar como sendo a
mais eficiente das três wavelets comparadas. Vê-se, pelas tabelas, que para os níveis 1, 2, 3
e 5 ela possui quatro acertos e para o nível 4, três acertos.
Levando-se em conta que as Curvas 3, 5, 8, 9 e 10 representam comportamentos de

curvas de resistência de disjuntores levemente desgastados, então as cinco curvas são as
mais próximas da Curva 1, tida como a curva de resistência de um disjuntor perfeito, com
isso, devem possuir as cinco menores diferenças, independente da ordem entre elas cinco,
ou seja, na ordenação das diferenças, as cinco menores diferenças devem pertencer às
Curvas 3, 5, 8, 9 e 10.
Para a Wavelet Daubechies4, nos nível 1 e 5, a Curva 12 é analisada como sendo

um disjuntor levemente desgastados, quando se sabe que essa curva é a curva original
obtida em (LANDRY, 2006) para o disjuntor antes da manutenção. Nos níveis 2, 3 e 4, a
Curva 11 está entre as cinco primeiras.
Para a Wavelet Coif4, nos níveis 1 e 2, a curva 4 está classificada como uma curva
de um disjuntor levemente desgastado, mas pela inspeção da curva, nota-se que a curva
trate de um disjuntor danificado. No nível 3, vê-se a curva 11 no 5º lugar, caracterizada
como para um disjuntor levemente danificado, o que não é correto. Nos demais níveis, a
classificação está correta.
Para a Wavelet Haar, observa-se que em todos os níveis as cinco primeiras

diferenças são pertencentes a uma das cinco curvas. Fica notório que a wavelet Haar
apresenta melhor desempenho para análise das curvas de resistência de disjuntores.
Ainda considerando como comportamentos ligados aos disjuntores levemente

desgastados as Curvas 3, 5, 8, 9 e 10, nota-se que a diferença máxima é de 169% para a
Curva 3 com o 4º nível de detalhe, isso é, a energia de detalhe no 4º nível da Curva 3 é
cerca de 2,70 vezes a energia de detalhe da Curva 1 no quarto nível.
6. CONSIDERAÇÕES FINAIS
A medição da resistência de contato dinâmico de um disjuntor é um excelente
método de verificação das condições dos contatos de disjuntores. A inspeção visual das
curvas e comparação com curvas padrões possibilita a verificação das condições do
equipamento.
A aplicação da transformada wavelet em conjunto com o método de medição de

resistência de contato dinâmico é uma ferramenta que poderá facilitar a análise e
interpretação das curvas de resistência de disjuntores, a partir dos coeficientes de
aproximação e de detalhe.
O uso da energia do coeficiente de detalhe para caracterização das condições de

disjuntores mostrou-se eficiente nas análises feitas no trabalho. Contudo, não há garantias
que seu uso está completamente consolidado, faz-se necessário um maior número de
curvas para análise. Outro ponto que pode ser questionado é a não obtenção das curvas de
44
forma experimental, não possibilitando a certeza das condições dos disjuntores e a
fidelidade das curvas sintéticas.
A nova técnica de análise das curvas de resistência de contato dinâmico pode ser
associada a uma ferramenta de análise mais completa, como exemplo as redes neurais.
Outros métodos wavelets podem, ainda, ser testados e apresentarem resultados

melhores que os obtidos no estudo atual com a wavelet Haar, não invalidando as análises
feitas e os resultados obtidos nos estudos.
Outro ponto que pode ser explorado com a aplicação da wavelet às curvas de
resistência de contato dinâmico é determinar com precisão o ponto de separação dos
contatos principais, ponto de muita importância na determinação das condições de
funcionamento dos contatos de arco.
7. REFERÊNCIAS
[1] BRITO, N. S. D. Teoria Wavelet e Sua Aplicação em Sistemas de Energia Elétrica,
Dissertação de Mestrado. Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação,
Universidade Estadual de Campinas, 1996.
[2] COSTA, F. B. Detecção e Classificação de Faltas em Linhas de Transmissão

Baseadas na Transformada Wavelet. Dissertação de Mestrado. Departamento de
Engenharia Elétrica. Universidade Federal de Campina Grande, Campina Grande,
PB, 2006.
[3] COSTA, F. F. Digitalizaçao e Estudo de Descargas Parciais Utilizando

Transformada Wavelet Discreta. Dissertação de Mestrado. Departamento de
Engenharia Elétrica. Universidade Federal da Paraíba, Campina Grande, PB, 2001.
[4] LANDRY, M., MERCIER, A., OULLET, G., RAJOTTE, C., CARON, J., ROY, M.,
BRIKCI, F. A New Measurement Method of the Dynamic Contact Resistance of HV
Circuit Breakers, 2006, IEEE IPES Transmission and Distribution Conference and
Exposition Latin American, Venezuela.
[5] LANDRY, M., TURCOTTE, O., BRIKCI, F. A Complete Strategy for Conducting
Dynamic Contact Resistance Measurements on HV Circuit Breakers, IEEE
Transactions on Power Delivery, Vol. 23, No. 2, April, 2008.
[6] D’AJUZ, A et al. Equipamentos Elétricos, aplicação e especificação em subestações

de alta tensão. Rio de Janeiro: FURNAS – Editora da Universidade Federal
Fluminense. 1985.
45
[7] CARVALHO, A.C.C de, Disjuntores e Chaves, Aplicação em Sistemas de Potência.
Niterói: FURNAS – Editora da Universidade Federal Fluminense. 1985.
[8] Walker, J.S. A Primer on Wavelets and Their Scientific Applications, 2nd Ed. New
York: Chapman & Hall/CRC, Taylor & Francis Group, 2008.
8. ANEXOS
8.1. ROTINA PARA APLICAÇÃO DA TRANSFORMADA WAVELET E CÁLCULO
DA ENERGIA
clear all;
close all;
clc;
% Resistência dinâmica de contato em função da distancia entre contatos

% abertura em baixa velocidade
% curva 1
% Distancia entre contatos (mm)
x1 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.7 34 34.1 34.3
34.7 35 36 37 37.5 38 39 40 41 41.5 42 42.5 43 44 44.5 45 46 47];
% Resistência: Disjuntor sem defeito (10^-3)

y1 = [0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.05 0.05 0.05 0.08 0.08 0.1 0.12
0.15 0.15 0.15 0.15 0.15 0.18 0.18 0.18 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2
0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.3 0.5 1.5 3];
%curva 12
x12 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.7 34 34.1 34.3
34.7 35 36 37 37.5 38 39 40 41 41.5 42 42.5 43 44 44.5 45 46 47];
y12 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.18 0.4 0.42
0.5 0.52 0.7 0.85 0.5 0.65 0.52 0.6 0.5 0.6 0.47 1.1 1.25 0.95 0.95 1.1
0.7 0.45 0.45 0.3 0.3 0.25 0.25 0.35 3];
% curva 2
x2 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.7 34 34.1 34.3
34.7 35 36 37 37.5 38 39 40 41 41.5 42 42.5 42.7 43 43.2 43.8 44 44.2
44.5 44.8 45 45.4 45.5 46 47];
y2 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.18 0.4 0.42
0.5 0.52 0.7 0.85 0.5 0.65 0.52 0.6 0.6 0.66 0.47 1.1 1.25 0.95 0.95 1.1
0.7 0.43 0.45 0.53 0.3 0.43 0.5 0.3 0.43 0.25 0.5 0.43 0.5 0.46 0.35 3];
% curva 3
x3 = [0 5 10 15 20 20 25 26 27 28 29 30 31.1 32.2 32.6 33.3 34.4 35.5
35.9 36.6 37.8 38.4 38.9 40 40.2 41.1 41.9 42.2 43.3 44.4 45.5 46.2 47];
y3 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.4 0.44
0.42 0.48 0.45 0.43 0.46 0.48 0.44 0.45 0.48 0.45 0.45 0.47 0.42 0.42
0.39 0.38 0.4 0.4 0.58 3];
%curva 4
x4 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.7 34 34.1 34.3
34.7 35 36 37 37.5 37.6 38 38.4 38.9 39.3 39.9 40.1 40.7 40.9 41.3 41.6
41.8 42.1 42.3 42.7 43 44 44.5 45 46 47];
y4 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.18 0.4
0.42 0.5 0.52 0.7 0.85 0.5 0.65 0.52 0.6 0.56 0.56 0.67 0.93 1.04 1.23
1.36 1.31 1.43 1.34 1.37 1.41 1.63 1.53 1.66 1.58 0.83 0.28 0.3 0.3 0.25
0.25 0.35 3];
46
%curva 5
x5 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 28.6 29.3 29.8 30.4 31 31.7 32.2 33.2
34.1 34.6 35.1 35.6 36 36.7 36.9 37.8 38.4 38.7 39.1 39.6 40.7 41.3 41.8
42.4 43 43.3 43.6 43.8 44 44.2 44.4 44.8 45.1 45.6 46.2 47];
y5 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.18 0.22 0.2
0.17 0.17 0.21 0.19 0.24 0.21 0.23 0.25 0.23 0.21 0.23 0.22 0.23 0.27
0.22 0.24 0.27 0.24 0.25 0.22 0.22 0.23 0.26 0.31 0.38 0.52 0.6 0.63
0.68 0.83 0.92 1 3];
%curva 6
x6 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.6 34.2 34.4 35
35.3 35.7 36 36.2 36.4 36.8 37.3 37.8 38 38.2 38.6 38.7 38.9 39.2 39.6
40 40.3 40.6 40.9 41.6 41.8 42.2 42.9 43.4 43.9 44.2 44.4 44.7 44.9 45.3
45.6 45.9 46.2 47];
y6 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.18 0.4
0.42 0.5 0.52 0.83 0.77 0.9 1.12 0.83 0.78 0.83 0.77 0.8 0.72 0.82 1.2
1.1 1 1.07 1 1.07 1.05 0.86 0.76 0.87 0.97 0.87 0.95 0.7 0.62 0.53 0.62
0.54 0.62 0.57 0.62 0.57 0.63 0.59 0.65 0.77 3];
% curva 7
x7 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.6 34.2 34.7
35.3 35.8 36.4 36.9 37.2 37.3 37.8 37.9 38.2 38.4 38.9 39.1 39.4 39.9
40.4 40.9 41.3 41.8 42.3 42.6 43.1 43.6 43.9 44.2 44.4 44.9 45.1 45.3
45.6 46 46.2 47];
y7 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.18 0.4
0.42 0.5 0.52 0.83 0.93 0.88 0.95 0.9 1 0.91 0.96 0.9 0.93 0.81 0.86
0.74 0.72 0.8 0.69 0.78 0.73 0.8 0.73 0.8 0.73 0.81 0.75 0.79 0.76 0.75
0.78 0.77 0.82 0.8 0.85 0.88 0.91 3];
%curva 8
x8 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 32.4 32.9 33.3 33.8 34
34.4 34.7 34.9 35.3 35.8 36.2 36.7 37.1 37.6 38 38.4 38.9 39.3 39.8 40.2
41.1 41.6 42 42.4 42.9 43.1 43.6 44 44.4 45 46 47];
y8 = [0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.05 0.05 0.05 0.08 0.08 0.1 0.12
0.15 0.17 0.24 0.3 0.34 0.35 0.33 0.28 0.22 0.18 0.13 0.11 0.1 0.15 0.23
0.29 0.32 0.29 0.23 0.18 0.14 0.13 0.12 0.16 0.2 0.25 0.28 0.18 0.17
0.39 0.5 1.5 3];
%curva 9
x9 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.7 34 34.1 34.3
34.7 35.1 35.3 35.6 36 36.2 36.7 37.1 37.3 37.8 38.1 38.7 39.1 39.3 40
40.2 40.4 40.7 40.9 41.1 41.3 41.8 42.2 42.7 43.3 43.8 44.2 44.5 45 46
47];
y9 = [0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.05 0.05 0.05 0.08 0.08 0.1 0.12
0.15 0.15 0.15 0.15 0.15 0.18 0.18 0.18 0.2 0.15 0.12 0.14 0.16 0.18
0.14 0.11 0.13 0.17 0.12 0.13 0.15 0.12 0.13 0.17 0.13 0.12 0.13 0.16
0.13 0.13 0.17 0.2 0.25 0.3 0.3 0.5 1.5 3];
% curva 10
x10 = [0 5 10 15 20 23 25.6 26.2 26.9 27.6 27.8 28 28.2 28.4 28.9 29.3
30.7 31.1 31.8 32.2 32.9 33.6 34.2 34.6 35.1 35.6 36.2 36.7 37.1 37.3
37.6 38 38.4 38.9 39.3 40 40.2 40.4 40.7 41.3 41.8 42.2 42.7 43.3 43.6
44 44.4 44.9 45.3 46 47];
y10 = [0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.07 0.07 0.08 0.09 0.1 0.3 0.37
0.39 0.4 0.42 0.41 0.37 0.33 0.32 0.33 0.37 0.41 0.45 0.47 0.42 0.38 0.4
0.43 0.45 0.56 0.45 0.43 0.4 0.4 0.42 0.47 0.5 0.47 0.43 0.36 0.53 0.5
0.53 0.6 0.59 0.66 0.76 0.82 1.5 3];
%curva 11
x11 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.3 33.8 34 34.2 34.4
34.9 35.3 35.8 36.2 36.7 37.1 37.6 38 38.4 38.7 38.9 39.3 40 40.4 40.8
41.3 41.8 42.2 42.8 43.3 43.8 44.2 44.7 45.3 46 47];
y11 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.18 0.4
0.42 0.5 0.7 1.08 1.27 1.12 1.07 0.97 0.91 0.850.82 0.8 0.86 0.93 1.03
47
1.17 1.23 1.1 0.93 0.86 0.82 0.81 0.87 0.94 1.07 1.27 0.38 0.3 0.25 0.22
0.2 0.35 3];
for i=1:12
if i ==1,
y = y1;
x = x1;
elseif i==2,
y = y2;
x = x2;
elseif i==3,
y = y3;
x = x3;
elseif i==4,
y = y4;
x = x4;
elseif i==5,
y = y5;
x = x5;
elseif i==6,
y = y6;
x = x6;
elseif i==7,
y = y7;
x = x7;
elseif i==8,
y = y8;
x = x8;
elseif i==9,
y = y9;
x = x9;
elseif i==10,
y = y10;
x = x10;
elseif i==11,
y = y11;
x = x11;
elseif i==12,
y = y12;
x = x12;
end
% Interpolação dos dados

y_interpolado(i,:)=spline(x,y,0:.01:47);
x_interpolado = [0:0.01:47];
% Métodos Wavelet
wname={'haar','db4','coif4'};
aux=[0,2,4,6,8];
j=0;
for k=1:length(wname)
c_apro=y_interpolado(i,:);
% Calculo dos cinco níveis da wavelet

for nivel=1:5
j=j+1
% Aplicação da transformada Wavelet discreta

[c_apro,c_det] = dwt(c_apro,wname{k});
% Calculo da Energia
[C_cd,L_cd] = wavedec(c_apro,1,wname{k});
[Ea_cd,Ed_cd] = wenergy_Felipe(C_cd,L_cd);
h1=figure(j);
subplot(2,1,1),plot(c_apro,'b')
48
title(['Coeficiente de Aproximação da curva ',num2str(i),' com wavelet
tipo ', wname{k}])
ylabel('Resistência Dinâmica (miliohms)');
xlabel('Distância entre os contatos do disjuntor (mm)');
axis([0 2500 1.1*min(c_apro) 1.1*max(c_apro)])
grid on;
subplot(2,1,2),plot(c_det,'b')
title(['Coeficiente de Detalhe da curva ',num2str(i),' com wavelet tipo
', wname{k}])
axis([0 2500 1.8*min(c_det) 1.1*max(c_det)])
grid on;
% Salva as figuras em arquivos de imagens

set(0,'DefaultFigurePaperPositionMode','auto')
print(h1,'-
dpng',['Grafico_Curva_',num2str(i),'_',wname{k},'_Nivel_',num2str(nivel)
])
close all;
% Matriz de Energia
Energia(1+aux(nivel),k)=Ea_cd;
Energia(2+aux(nivel),k)=Ed_cd;
% Energia(3+aux(nivel),k)=(Ed_cd-Ed_sd)/Ed_sd*100;
end
end
% Salva as matrizes em nos arquivos EnergiaI.mat

save(['Energia',num2str(i)],'Energia')
end
8.2. FUNÇÃO wenergy_Felipe PARA CÁLCULO DA ENERGIA

function [Ea,Ed] = wenergy(C,L)
%WENERGY Energy for 1-D wavelet decomposition.
% For a one dimensional wavelet decomposition [C,L],
% (see WAVEDEC) [Ea,Ed] = WENERGY(C,L) returns Ea,
% which is the percentage of energy corresponding to
% the approximation and Ed, which is the vector containing
% the percentages of energy corresponding to the details.
%
% Example:
% load noisbump
% [C,L] = wavedec(noisbump,4,'sym4');
% [Ea,Ed] = wenergy(C,L)
% M. Misiti, Y. Misiti, G. Oppenheim, J.M. Poggi 12-Mar-96.

% Last Revision: 22-Nov-2001.
% Copyright 1995-2002 The MathWorks, Inc.
% $Revision: 1.2 $
% Check arguments.
[err,msg] = errargn(mfilename,nargin,[2,3],nargout,[0:2]);
error(msg)
Et = sum(C.^2);
level = length(L)-2;
Ca = C(1:L(1));
Cd = detcoef(C,L,'cells');
Ea = 100*sum(Ca.^2);
for k=1:level , Ed(k) = 100*sum(Cd{k}.^2); end
49
8.3. ROTINA PARA SALVAR AS CURVAS SINTÉTICAS
clear all;
close all;
clc;
% Resistência dinâmica de contato em função da distancia entre contatos

% abertura em baixa velocidade
% curva 1
% Distancia entre contatos (mm)
x1 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.7 34 34.1 34.3
34.7 35 36 37 37.5 38 39 40 41 41.5 42 42.5 43 44 44.5 45 46 47];
% Resistência: Disjuntor sem defeito (10^-3)

y1 = [0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.05 0.05 0.05 0.08 0.08 0.1 0.12
0.15 0.15 0.15 0.15 0.15 0.18 0.18 0.18 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2
0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 0.3 0.5 1.5 3];
%curva 12
x12 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.7 34 34.1 34.3
34.7 35 36 37 37.5 38 39 40 41 41.5 42 42.5 43 44 44.5 45 46 47];
y12 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.18 0.4 0.42
0.5 0.52 0.7 0.85 0.5 0.65 0.52 0.6 0.5 0.6 0.47 1.1 1.25 0.95 0.95 1.1
0.7 0.45 0.45 0.3 0.3 0.25 0.25 0.35 3];
% curva 2
x2 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.7 34 34.1 34.3
34.7 35 36 37 37.5 38 39 40 41 41.5 42 42.5 42.7 43 43.2 43.8 44 44.2
44.5 44.8 45 45.4 45.5 46 47];
y2 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.18 0.4 0.42
0.5 0.52 0.7 0.85 0.5 0.65 0.52 0.6 0.6 0.66 0.47 1.1 1.25 0.95 0.95 1.1
0.7 0.43 0.45 0.53 0.3 0.43 0.5 0.3 0.43 0.25 0.5 0.43 0.5 0.46 0.35 3];
% curva 3
x3 = [0 5 10 15 20 20 25 26 27 28 29 30 31.1 32.2 32.6 33.3 34.4 35.5
35.9 36.6 37.8 38.4 38.9 40 40.2 41.1 41.9 42.2 43.3 44.4 45.5 46.2 47];
y3 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.4 0.44
0.42 0.48 0.45 0.43 0.46 0.48 0.44 0.45 0.48 0.45 0.45 0.47 0.42 0.42
0.39 0.38 0.4 0.4 0.58 3];
%curva 4
x4 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.7 34 34.1 34.3
34.7 35 36 37 37.5 37.6 38 38.4 38.9 39.3 39.9 40.1 40.7 40.9 41.3 41.6
41.8 42.1 42.3 42.7 43 44 44.5 45 46 47];
y4 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.18 0.4
0.42 0.5 0.52 0.7 0.85 0.5 0.65 0.52 0.6 0.56 0.56 0.67 0.93 1.04 1.23
1.36 1.31 1.43 1.34 1.37 1.41 1.63 1.53 1.66 1.58 0.83 0.28 0.3 0.3 0.25
0.25 0.35 3];
%curva 5
x5 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 28.6 29.3 29.8 30.4 31 31.7 32.2 33.2
34.1 34.6 35.1 35.6 36 36.7 36.9 37.8 38.4 38.7 39.1 39.6 40.7 41.3 41.8
42.4 43 43.3 43.6 43.8 44 44.2 44.4 44.8 45.1 45.6 46.2 47];
y5 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.18 0.22 0.2
0.17 0.17 0.21 0.19 0.24 0.21 0.23 0.25 0.23 0.21 0.23 0.22 0.23 0.27
0.22 0.24 0.27 0.24 0.25 0.22 0.22 0.23 0.26 0.31 0.38 0.52 0.6 0.63
0.68 0.83 0.92 1 3];
%curva 6
x6 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.6 34.2 34.4 35
35.3 35.7 36 36.2 36.4 36.8 37.3 37.8 38 38.2 38.6 38.7 38.9 39.2 39.6
40 40.3 40.6 40.9 41.6 41.8 42.2 42.9 43.4 43.9 44.2 44.4 44.7 44.9 45.3
45.6 45.9 46.2 47];
y6 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.18 0.4
0.42 0.5 0.52 0.83 0.77 0.9 1.12 0.83 0.78 0.83 0.77 0.8 0.72 0.82 1.2
50
1.1 1 1.07 1 1.07 1.05 0.86 0.76 0.87 0.97 0.87 0.95 0.7 0.62 0.53 0.62
0.54 0.62 0.57 0.62 0.57 0.63 0.59 0.65 0.77 3];
% curva 7
x7 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.6 34.2 34.7
35.3 35.8 36.4 36.9 37.2 37.3 37.8 37.9 38.2 38.4 38.9 39.1 39.4 39.9
40.4 40.9 41.3 41.8 42.3 42.6 43.1 43.6 43.9 44.2 44.4 44.9 45.1 45.3
45.6 46 46.2 47];
y7 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.18 0.4
0.42 0.5 0.52 0.83 0.93 0.88 0.95 0.9 1 0.91 0.96 0.9 0.93 0.81 0.86
0.74 0.72 0.8 0.69 0.78 0.73 0.8 0.73 0.8 0.73 0.81 0.75 0.79 0.76 0.75
0.78 0.77 0.82 0.8 0.85 0.88 0.91 3];
% curva 8
x8 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 32.4 32.9 33.3 33.8 34
34.4 34.7 34.9 35.3 35.8 36.2 36.7 37.1 37.6 38 38.4 38.9 39.3 39.8 40.2
41.1 41.6 42 42.4 42.9 43.1 43.6 44 44.4 45 46 47];
y8 = [0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.05 0.05 0.05 0.08 0.08 0.1 0.12
0.15 0.17 0.24 0.3 0.34 0.35 0.33 0.28 0.22 0.18 0.13 0.11 0.1 0.15 0.23
0.29 0.32 0.29 0.23 0.18 0.14 0.13 0.12 0.16 0.2 0.25 0.28 0.18 0.17
0.39 0.5 1.5 3];
% curva 9
x9 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.5 33.7 34 34.1 34.3
34.7 35.1 35.3 35.6 36 36.2 36.7 37.1 37.3 37.8 38.1 38.7 39.1 39.3 40
40.2 40.4 40.7 40.9 41.1 41.3 41.8 42.2 42.7 43.3 43.8 44.2 44.5 45 46
47];
y9 = [0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.05 0.05 0.05 0.08 0.08 0.1 0.12
0.15 0.15 0.15 0.15 0.15 0.18 0.18 0.18 0.2 0.15 0.12 0.14 0.16 0.18
0.14 0.11 0.13 0.17 0.12 0.13 0.15 0.12 0.13 0.17 0.13 0.12 0.13 0.16
0.13 0.13 0.17 0.2 0.25 0.3 0.3 0.5 1.5 3];
% curva 10
x10 = [0 5 10 15 20 23 25.6 26.2 26.9 27.6 27.8 28 28.2 28.4 28.9 29.3
30.7 31.1 31.8 32.2 32.9 33.6 34.2 34.6 35.1 35.6 36.2 36.7 37.1 37.3
37.6 38 38.4 38.9 39.3 40 40.2 40.4 40.7 41.3 41.8 42.2 42.7 43.3 43.6
44 44.4 44.9 45.3 46 47];
y10 = [0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.03 0.07 0.07 0.08 0.09 0.1 0.3 0.37
0.39 0.4 0.42 0.41 0.37 0.33 0.32 0.33 0.37 0.41 0.45 0.47 0.42 0.38 0.4
0.43 0.45 0.56 0.45 0.43 0.4 0.4 0.42 0.47 0.5 0.47 0.43 0.36 0.53 0.5
0.53 0.6 0.59 0.66 0.76 0.82 1.5 3];
% curva 11
x11 = [0 5 10 15 20 23 25 26 27 28 29 30 31 32 33 33.3 33.8 34 34.2 34.4
34.9 35.3 35.8 36.2 36.7 37.1 37.6 38 38.4 38.7 38.9 39.3 40 40.4 40.8
41.3 41.8 42.2 42.8 43.3 43.8 44.2 44.7 45.3 46 47];
y11 = [0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.05 0.15 0.24 0.17 0.22 0.18 0.4
0.42 0.5 0.7 1.08 1.27 1.12 1.07 0.97 0.91 0.850.82 0.8 0.86 0.93 1.03
1.17 1.23 1.1 0.93 0.86 0.82 0.81 0.87 0.94 1.07 1.27 0.38 0.3 0.25 0.22
0.2 0.35 3];
for i=1:12
if i ==1,
y = y1;
x = x1;
elseif i==2,
y = y2;
x = x2;
elseif i==3,
y = y3;
x = x3;
elseif i==4,
y = y4;
x = x4;
elseif i==5,
y = y5;
51
x = x5;
elseif i==6,
y = y6;
x = x6;
elseif i==7,
y = y7;
x = x7;
elseif i==8,
y = y8;
x = x8;
elseif i==9,
y = y9;
x = x9;
elseif i==10,
y = y10;
x = x10;
elseif i==11,
y = y11;
x = x11;
elseif i==12,
y = y12;
x = x12;
end
% Interpolação dos dados

y_interpolado(i,:)=spline(x,y,0:.01:47);
x_interpolado = [0:0.01:47];
h1=figure(i);
plot(x_interpolado,y_interpolado(i,:),'b')
title(['Curva ',num2str(i)])
axis([0 50 0 1.1*max(y)])
grid on;
% Salva as figuras em arquivos de imagens

set(0,'DefaultFigurePaperPositionMode','auto')
print(h1,'-dpng',['Curva_',num2str(i)])
close all;
end
52

Felipe T CC Final

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UNIVERSIDADE FEDERAL DE CAMPINA GRANDE

CENTRO DE ENGENHARIA ELÉTRICA E

Aprimoramento do Uso da Transformada Wavelet na

Aluno: Felipe Nóbrega de Castro

Professor Orientador: Edson Guedes da Costa, D. Sc.

CENTRO DE ENGENHARIA ELÉTRICA E INFORMÁTICA

UNIDADE ACADÊMICA DE ENGENHARIA ELÉTRICA

TRABALHO DE CONCLUSÃO DE CURSO

Trabalho de Conclusão de Curso apresentado ao Curso de

CENTRO DE ENGENHARIA ELÉTRICA E INFORMÁTICA

UNIDADE ACADÊMICA DE ENGENHARIA ELÉTRICA

TRABALHO DE CONCLUSÃO DE CURSO

Data da aprovação: ___/___/____

Primeiramente, agradeço a Deus pela oportunidade de estar nesse mundo e por

Aos colegas de curso, companheiros de algumas noites em claro, de vários finais de

Aos amigos de várias conversas, de vários divertimentos, de apoio nas dificuldades

Aos professores que contribuíram em minha formação acadêmica, principalmente,

Lista de Figuras ......................................................................................................... vi

TABELA 4.1: Dados para Construção das Curvas Sintéticas ......................................... 15

As principais funções dos disjuntores são a condução de correntes normais de carga

A técnica atualmente mais utilizada é a Medição da Resistência Dinâmica de

As Wavelets possuem a energia do seu sinal concentrada no tempo e é uma

1. Ψ (t) L²(R), L={L: R  R; ∫|f(t)|²dt <∞};

2.1. TRANSFORMADA WAVELET CONTÍNUA (TWC)

Na Figura 2.1, tem-se exemplos de wavelets mãe.

(a) (b) (c) (d)

Como a transformada wavelet é um produto interno do sinal analisado e das

Apesar do interesse teórico da TWC, em aplicações práticas, é necessária a sua

Na TWD, a wavelet mãe não é transladada, nem escalonada continuamente, mas

Comparando as Equações 2.2 e 2.3, nota-se que apenas os parâmetros da

Pode-se observar da expressão 2.4 que:

a TWD é definida apenas para os valores de escalas positivos;

Quando a transformada wavelet for aplicada a funções discretas, surge a Série

Se o processo de discretização dos parâmetros da transformada tem como objetivos

As Equações 2.7 e 2.8 representam um processo de filtragem digital, seguido por

onde, c0 é o sinal original.

Na Figura 2.2, tem-se o esquema para obtenção dos coeficientes de aproximação e

Figura 2.2: Esquema para Obtenção dos Coeficientes de Aproximação e Wavelet.

2.3. TRANSFORMADA WAVELET DISCRETA INVERSA (TWDI)

A reconstituição ideal é aquela que ocorre com o máximo de eficiência e com o

onde, c é uma constante dependente do processo de discretização e da wavelet mãe

A estrutura de bancos de filtros da TWDI é semelhante àquela utilizada na

Figura 2.3: Esquema da TWDI de banco de filtros.

Os blocos h(k) e g(k) são os filtros digitais e o bloco ↑2 representa a operação de

2.4. ENERGIA DOS COEFICIENTES WAVELETS

Outra propriedade da transformada wavelet, chamada característica de pequenas

Quando o sinal analógico amostrado apresentar muitas variações no seu

Algumas aplicações necessitam de características que tornem o disjuntor mais

Para atender ao crescimento das potências de interrupção e à elevação dos níveis de

Nos disjuntores a óleo, os dispositivos de interrupção são imersos em óleo

Nos disjuntores a ar comprimido, a extinção do arco é obtida a partir da admissão,

Os disjuntores de pressão única possuem um projeto mais recente e dispensam a

A técnica de interrupção a semicondutores permite desempenhos próximos daquele

A Manutenção é um conjunto de ações que se realiza direta ou indiretamente em

3.2.1. MANUTENÇÃO CORRETIVA

A Manutenção corretiva é todo serviço para reparar ou retirar do estado de pane um

3.2.2. MANUTENÇÃO PREVENTIVA

A Manutenção preventiva consiste em ações visando detectar previamente

3.2.3. MANUTENÇÃO PREDITIVA

As falhas são normalmente precedidas de alguma mudança sensível no

A manutenção preditiva diferencia-se da corretiva e da preventiva no fato de ser

Os ensaios em disjuntores são ferramentas insubstituíveis tanto na fase de projeto e

3.3.1. MEDIÇÃO DA RESISTÊNCIA DO CONTATO PRINCIPAL

Data da aprovação: _/_/____