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1- Introdução
A idéia do Smart Cut ™ surgiu com a observação dos materiais que constituem
os reatores nucleares, sob radiação α. A projeção de átomos leves, como He, em alta
energia e dose, já tinha sido observado como o causador da formação de bolhas dentro da
câmara do reator. O efeito do excesso de vacâncias gerado pelas altas energias dos gases
e da migração das espécies implantadas foi proposta para ajudar na formação de cavidades
planas no material. No entanto, a esfoliação superficial resultante foi considerada como
um efeito colateral indesejável. Bruel propôs a ligação de uma chamada “Camada de
reforço” em contato com a superfície implantada, a fim de auxiliar o desenvolvimento
das cavidades até a divisão de camadas paralelas a superfície. A etapa de divisão é o ponto
de partida do Smart Cut ™, bem como o principal tópico de interesse neste estudo [2]. A
técnica desenvolvida permitiu obter substratos que são usados como base para os produtos
eletrônicos e nanotecnologias mais avançados da atualidade.
2- Oxidação
3- Implantação
4- Limpeza
5- Corte
Referências
[1] B. MICHEL, “Process for the production of thin semiconductor material films”. Patente US
5374564, 20 Dezembro 1994.
[2] R. Meyer, The advanced developments of the Smart Cut™ technology : fabrication of
silicon thin wafers silicon-on-something hetero-structures, 2018.
[3] European Patent Office, “An Insulating Layer Leads to Semiconductor Success,” Acesso:
07/04/2019. https://www.epo.org/mobile/european-inventor/finalists/2006/Bruel.html.