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3. Objetivo: Descreva sucintamente o objetivo geral do projeto. Deve basear-se no item 1 da Chamada.
Caracteriza a essência do objeto da proposta (Texto limitado a 8000 caracteres):
O equipamento conta com (1) um analisador de elétrons hemisférico de alta precisão construído
concentricamente a um analisador de espelho esférico; a combinação de ambos analisadores
permite a aquisição de fotoelétrons no modo espectroscópico e de imagem; (2) um sistema de
automático de inserção de amostras; (3) sistema de bombas de vácuo; (4) microscópio de alga
magnificação; (5) fonte de raios X monocromática e automatizada; (6) fonte de íons; (7) refrigerador
a água; (8) sistema de aquisição de tratamento de dados; (9) unidade de distribuição de força.
5. Valor do equipamento:
A sala para acomodar o equipamento deve ter uma área aproximada de 25 m 2, a umidade relativa
deve ser menor que 70%, sem condensação, a temperatura deve estar na faixa de 15 a 25 oC, a
vibração não deve exceder 10 m na faixa de 0,1 a 60 Hz, a voltagem deve ser de 200 a 240 V, 50 a
60 Hz. Há necessidade de água e ar comprimido. Esta sala já existe no Laboratório de Caracterização
Estrutural – LCD, no DEMa.
7. Justificativa Resumida: Justificar sucintamente a necessidade de aquisição do equipamento
pretendido, dentro do contexto de prioridades estabelecidas pela instituição, evidenciando o caráter
multiusuário, o foco que orientou a escolha e referenciando-a em termos de competências
institucionais e do contexto científico e tecnológico, socioeconômico e regional. Informar se há
equipamentos iguais ou similares na UFSCar (Texto limitado a 4.000 caracteres):
Este equipamento visa substituir um antigo espectrômetro obsoleto que estava instalado na
UFSCar/CCET/DEMa/CCDM e que não funciona desde 2013, por falta de peças de reposição. Desde
então, a UFSCar não dispõe de um espectrômetro de XPS e os seus pesquisadores têm que contar
com a boa vontade de colegas da USP, UNICAMP, UNESP, UFABC, além do CNPEM/LNNano, para a
realização de análises de XPS. O equipamento objeto desta solicitação trará de volta a capacidade
da caracterização de superfícies de diversos tipos de materiais, e terá uma resolução suficiente para
analisar as primeiras camadas atômicas; capacidade esta que é fundamental ao desenvolvimento de
vários projetos em andamento na UFSCar, principalmente no DEMa, DQ, DF e DEQ. Este novo
equipamento trará uma maior capacidade instalada à UFSCar, tornando suas pesquisas mais
competitivas a nível internacional.
9. Laboratório a ser apoiado: Informar o laboratório onde o equipamento solicitado no subprojeto será
instalado. O nome e a descrição do laboratório deverão corresponder aos dados cadastrados na
Plataforma Nacional de Infraestrutura de Pesquisa do MCTI - PNIPE. (Texto limitado a 2.500
caracteres):
O LCE, por ser um laboratório multiusuário, conta com um comitê gestor e um comitê de usuários,
além de um sistema de agendamento on-line dos equipamentos (http://www.lce-dema.ufscar.br).
Todos os equipamentos instalados no LCE estão sob o plano de gestão do LCE e os equipamentos de
grande porte têm contratos permanentes de manutenção preventiva, o que tem garantido uma
excepcional regularidade no uso e disponibilização das técnicas de microscopia e espectroscopia
eletrônica aos nossos usuários. As manutenções corretivas têm sido viabilizadas através de projetos
específicos apoiados pelas tradicionais agências de fomento do país: CNPq, CAPES, FAPESP e FINEP.
O projeto (1) do item 8 enquadra-se na área de tecnologia para qualidade de vida. O material
metálico mais usado na produção de implantes ortopédicos é o aço inoxidável AISI 316L. Porém,
suas propriedades mecânicas, químicas e bioquímicas para aplicações como biomateriais são
inferiores às propriedades de ligas de titânio-nióbio, que têm um custo mais elevado que o aço.
Uma opção promissora é recobrir-se a superfície do aço com filmes espessos de ligas binárias Ti-Nb
e ternárias Ti-Nb-Zr, para se obter uma superfície com uma melhor resistência à corrosão e
resistência ao desgaste e que não apresente citotoxicidade. Os métodos de modificação superficial
podem produzir uma nova geração de biomateriais, de forma a aproveitar os implantes já
disponíveis no mercado, sem um aumento expressivo no custo final, aumentando sua durabilidade
e melhorando a qualidade de vida do paciente. A análise dos recobrimentos de Ti-Nb e Ti-Nb-Zr por
XPS é muito importante para identificar os estados de oxidação dos elementos metálicos
constituintes. Estudos realizados por nosso grupo indicam a predominância de TiO 2, Nb2O5 e ZrO2. A
formação de uma camada oxidada na superfície é benéfica para materiais de implante, pois esta
camada provê uma maior proteção à corrosão e uma melhor osseointegração.
Os projetos (2), (3), (4) e (5) se enquadram na área de tecnologias habilitadoras, dos setores de
materiais avançados e inteligência artificial. Os projetos visam o uso de metodologias
computacionais para o modelamento e desenvolvimento de ligas metálicas avançadas capazes de
ter melhor desempenho em ambientes extremos, como em altas temperaturas e ambientes muito
agressivos.
O projeto (9) está inserido no contexto das tecnologias para o desenvolvimento sustentável, área
prioritária do MCTI, em particular a bioeconomia circular, estando também alinhado com vários dos
objetivos de desenvolvimento sustentável da ONU na direção da economia de baixo carbono e da
exploração de recursos biorrenováveis para a produção de materiais avançados.
Os projetos (11), (12), (14), (18), (19) e (20) se enquadram em Tecnologias Habilitadoras - Materiais
Avançados.
O projeto (13) se enquadra na área de materiais para aplicação em dispositivos óticos de alta
resistência mecânica visando rotas de sinterização e conformação com menor consumo energético.
O projeto (21) contempla a área de Tecnologias Habilitadoras - Materiais Avançados, bem como a
área de Tecnologias de Produção no setor da Indústria e a área de Tecnologia para a Qualidade de
Vida.
O coordenador deste subprojeto, Pedro Augusto de Paula Nascente, tem 40 anos de experiência
com XPS, tendo iniciado seu aprendizado na técnica no final da graduação, em 1981, no Laboratório
de Física de Superfícies do Departamento de Física Aplicada (DFA) do Instituto de Física “Gleb
Wataghin” (IFGW) da Unicamp, sob supervisão do Prof. John David Rogers. De agosto de 1982 a
maio de 1985, ele realizou o mestrado em física com bolsa da FAPESP, empregando XPS para
estudar a estrutura eletrônica das ligas bimetálicas Pd-Au, sob orientação do Prof. Rogers (até o seu
falecimento no final de 1984) e da Profa. Sandra Graça Carnicero de Castro. Cabe mencionar que o
primeiro espectrômetro de XPS, e durante muitos anos o único, estava instalado no
DFA/IFGW/Unicamp. Durante o doutorado, além de XPS, Pedro teve a oportunidade de trabalhar
com outras técnicas de superfícies, durante o período de doutorado “sandwich” (bolsa da CAPES)
no Laboratório de Ciência de Superfícies do Prof. Gabor A. Somorjai, da Universidade da Califórnia
em Berkeley, EUA, no período de janeiro de 1988 a julho de 1990. Durante o pós-doutoramento, de
fevereiro de 1991 a janeiro de 1992, Pedro continuoi trabalhando com XPS no DFA/IFGW/Unicamp.
Desde fevereiro de 1992, ele é professor junto ao DEMa/CCET/UFSCar, tendo sido responsável pela
aquisição e operação e um espectrômetro de XPS da Kratos Analytical, modelo XSAM HS, de
meados de 1995, quando foi instalado, até meados de 2013, quando parou definitivamente de
funcionar, instalado no CCDM/DEMa/CCET/UFSCar. Desde então, Pedro faz análises de XPS em
colaboração com os Profs. Richard Landers e Abner de Siervo, responsáveis por um espectrômetro
de XPS instalado no DFA/IFGW/Unicamp, e o Prof. Valmor R. Mastelaro, responsável pele
espectrômetro de XPS instalado no IFSC/USP. Com certa frequência, usa o espectrômetro de
pequeno porte instalado no CNPEM/LNNano, para análises corriqueiras. Para análises de difração
de fotoelétrons (XPD), usou o espectrômetro Omicron, modelo Ha 125HR, que podia ser acoplado à
linha SXS do LNLS/CNPEM. Atualmente, Pedro é Professor Titular do DEMa/CCET/UFSCar, bolsista
de produtividade em pesquisa do CNPq nível 1D. Já orientou 3 pós-docs, 8 doutores, 11 mestres e
25 alunos de IC; atualmente, orienta 3 alunos de doutorado e 3 alunos de mestrado. Publicou 154
artigos completos em periódicos científicos, sendo 130 no Web of Science, com H-index 28. As 10
publicações mais citadas são:
M.S.P. Francisco, P.A.P. Nascente, V.R. Mastelaro, and A.O. Florentino, Activity and characterization
by XPS, HR-TEM, Raman spectroscopy, and BET surface area of CuO/CeO 2-TiO2 catalyts, Journal of
Physical Chemistry B 105, 10515-10522 (2001), doi: 10.1021/jp0109675;
G.R. Salazar-Banda, L.S. Andrade, P.A.P. Nascente, P.S. Pizani, R.C. Rocha-Filho, L.A. Avaca, On the
changing electrochemical behaviour of boron-doped diamond surfaces with time after cahodic pre-
treatments, Electrochimica Acta 51, 4612-4619 (2006), doi: 10.1016/j.electacta.2005.12.039;
F.L. Souza, K.P. Lopes, P.A.P. Nascente, E.R. Leite, Nanostructured hematite thin films produced by
spin-coating deposition solution: application in water splitting, Solar Energy Materials and Solar Cells
93, 362-368 (2009), doi: 10.1016/j.solmat.2008.11.049;
P.A.P. Nascente, S.G.C. de Castro, R. Landers, and G.G. Kleiman, X-ray photoemission and Auger
energy shifts in some gold-palladium alloys, Physical Review B 43, 4659-4666 (1991), doi:
10.1103/PhysRevB.43.4659;
C.A. Della Rovere, J.H. Alano, R. Silva, P.A.P. Nascente, J. Otubo, S.E. Kuri, Characterization of
passive films on shape memory stainless steels, Corrosion Science 57, 154-161 (2012); doi:
10.1016/j.corsci.2011.12.022;
C.E.B. Marino, P.A.P. Nascente, S.R. Biaggio, R.C. Rocha-Filho, and N. Bocchi, XPS characterization of
anodic titanium oxide films grown in phosphate buffer solutions, Thin Solid Films 468, 109-112
(2004), doi: 10.1016/j.tsf.2004.05.006;
N. Anselmo, J.E. May, N.A. Mariano, P.A.P. Nascente, S.E. Kuri, Corrosion behavior of
supermartensitic stainless steel in aerated and Co 2-saturated synthetic seawater, Materials Science
and Engineering A: Structural Materials – Properties, Microstructures and Processing 428, 73-79
(2006), doi: 10.1016/j.msea.2006.04.107;
B.M.P. Ferreira, L.M.P. Pinheiro, P.A.P. Nascente, M.J. Ferreira, E.A.R. Duek, Plasma surface
treatments of poly-L-lactic acid (PLLA) and poly(hydroxybutyrate-co-hydroxyvalerate) (PHBV),
Materials Science and Engineering C: Biomimetic Materials, Sensors and Systems 29, 806-813
(2009), doi: 10.1016/j.msec.2008.07.026;
H.M. Villullas, F.I. Mattos-Costa, P.A.P. Nascente, and L.O.S. Bulhões, Anodic oxidation of
formaldehyde on Pt modified SnO2 thin film electrodes prepared by a sol-gel method, Electrochimica
Acta 49, 3909-3916 (2004), doi: 10.1016/j.electacta.2004.01.079;
L.C. Gontijo, R. Machado, E.J. Miola, L.C. Casteletti, N.G. Alcântara, P.A.P. Nascente, Study of the S
Phase Formed on Plasma-Nitrided AISI 316L Stainless Steel, Materials Science and Engineering A:
Structural Materials – Properties, Microstructures and Processing 431, 315-321 (2006), doi:
10.1016/j.msea.2006.06.023.
Outros membros:
- Prof. Dr. Francisco Gil Coury, professor adjunto do Departamento de Engenharia de Materiais,
link para currículo lattes – http://lattes.cnpq.br/8609825406277730
- Prof. Dr. Carlos Alberto Della Rovere, professor adjunto do Departamento de Engenharia de
Materiais, link para currículo lattes – http://lattes.cnpq.br/8141224513975606
- Prof. Dr. Prof. Dr. Conrado Ramos Moreira Afonso, professor associado do Departamento de
Engenharia de Materiais, link para currículo lattes – http://lattes.cnpq.br/2176215981291453
Bolsista de Produtividade em Pesquisa CNPq PQ-2. Equipe: Dr (2), MsC (4), PD (2), IC (4).
12. Utilização multiusuária dos equipamentos: informar o nível de uso compartilhado dos
equipamentos do laboratório a ser apoiado, as áreas/programas beneficiados e o número de
discentes e docentes atendidos. Também deverão ser apresentados de forma objetiva os critérios
de agendamento e utilização dos equipamentos multiusuários pelo público externo ao laboratório e
sua divulgação pública (Limite de 4000 caracteres):
13. Resultados e Impactos Esperados: Indicar os impactos esperados de caráter científico, tecnológico,
econômico, social e ambiental decorrentes do desenvolvimento das atividades de pesquisa e/ou
pós-graduação associadas aos equipamentos de pesquisa solicitados. Deverão ser apresentados
indicadores – sempre que possível quantificáveis – capazes de dimensionar e permitir seu
monitoramento a curto, médio e longo prazo. (Texto limitado a 8.000 caracteres):
O grupo proponente envolve quatro departamentos do CCET/UFSCar, com três programas nota 7 da
CAPES: PPGCEM, PPGQ e PPGEQ. A manutenção deste conceito é fundamental para manter o
elevado nível dos alunos formados, além de manter as pesquisas na fronteira do conhecimento.
Sem dúvida, um equipamento de ponta de caracterização de superfícies (XPS) irá contribuir de
forma marcante para manter o elevado nível de publicações internacionais e o elevado nível das
dissertações e teses que estão sendo desenvolvidas. Além disso, irá alavancar os outros
departamentos com programas avaliados com notas menores, possibilitando que esses programas
tenham acesso a um equipamento de nível internacional, viabilizando assim publicações de mais
alto nível. Desta forma, este equipamento irá contribuir para manter o elevado nível das
publicações e das teses e melhorar a aceitação internacional dos artigos relacionados às diversas
áreas envolvidas neste projeto. Finalmente, podemos dizer que além de consolidar as áreas de
pesquisa existente, a aquisição do XPS pode abrir novas áreas de estudos, principalmente
envolvendo estudos de interação superficial de sólidos e o impacto de caraterísticas físico-químicas
da superfície em propriedades tribológicas, bem como áreas relacionadas à compatibilidade
biológica.