Você está na página 1de 15

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

Qualidade de Energia no Brasil

IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

"Qualquer problema de energia manifestado na tenso, corrente ou nas variaes de freqncia que resulte em falha ou m operao de equipamentos de consumidores".

IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

Distrbio Interrupes

Descrio
Interrupo total da alimentao eltrica

Causas
Curto-circuitos, descargas atmosfricas, e outros acidentes que exijam manobras precisas de fusveis, disjuntores, etc. Descargas atmosfricas Manobras da concessionria Manobras de grandes cargas e bancos de capacitores Queda/Partida de grandes equipamentos Curto-circuitos Falha em equipamentos ou manobras da concessionria Interferncia de estaes de rdio e TV; Operao de equipamentos eletrnicos UPS, Reatores eletrnicos, inversores de freqncia, retificadores e outras cargas nolineares. Equipamentos e fiao sobrecarregados; Utilizao imprpria de transformadores Fiao subdimensionada ou conexes mal feitas

Efeitos
Queda do sistema Danificao de componentes Perda de produo Travamento, perda de memria e erros de processamento; Queima de placas eletrnicas, danificao de materiais de isolao e de equipamentos Perda de dados e erros de processamento; Desligamento de equipamentos; Oscilaes em motores com reduo de vida til Travamentos, perda de dados e erros de processamento; Recepes distorcidas (audio e video) Sobreaquecimento de cabos e equipamentos; Diminuio da performance de motores Operao errnea de disjuntores, rels e fusveis Desligamento de equipamentos Sobreaquecimento de motores e lmpadas Reduo de vida til ou de eficincia dos equipamentos

Solues
UPS Geradores de emergncia (interrupes de longa durao) Supressores de transientes UPS com supressores de transientes Transformadores de isolao UPS Reguladores de tenso

Transientes

Distrbio na curva senoidal, resultando em rpido e agudo aumento de tenso Subtenses (sags) ou sobretenses (swells) curtas (meio ciclo at 3 segundos) Sags respondem por cerca de 87% de todos os distrbios eltricos Sinal indesejado de alta freqncia que altera o padro normal de tenso (onda senoidal) Alterao do padro normal de tenso (onda senoidal), causada por freqncias mltiplas da fundamental (50-60Hz) Variaes de tenso com durao acima de 1 minuto

Sag / Swell

Rudos

UPS Transformadores de isolao Filtros de linha Filtros de harmnicas Reatores de linha; Melhorias na fiao e no aterramento Transformadores de isolao UPS Verificar conexes e fiaes eltricas; Transferncia de equipamentos para outros circuitos

Harmnicos

Variaes de Tenso de Longa Durao

Fonte: www.engecomp.com.br IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

NORMAS INTERNACIONAIS
Imunidade: limita os nveis mximos de perturbaes, Imunidade s quais um equipamento/sistema pode ser submetido; Emisso: limita os nveis mximos de perturbaes Emisso que um Equipamento/sistema pode produzir;

IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

NORMAS INTERNACIONAIS
IMUNIDADE IEC/EN 61000-3-3 IEC 1000-3-3 Consolidated edition (03-2002) (12-1994)
Limitation of voltage changes, voltage fluctuations and flicker in public low-voltage supply systems, for equipment with rated current <= 16 A per phase and not subject to conditional connection

IEC 61000-4-4 IEC 61000-4-5 IEC 61000-4-11

BURST SURGE DIPs, CLICKs and VOLTAGE VARIATION


IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

NORMAS INTERNACIONAIS
EMISSES IEC/EN 61000-3-2 IEC/EN 61000-3-2 IEC 61000-3-2 Consolidated edition (10-2001) (12-2000 (A14)) (03-1995) + (am1 + am2 04-1998) Limits for harmonic current emissions (equipment input current < 16 A per phase single & 3 phase). (08-2002) (07-1991) General guide on harmonic and interharmonic measurements and instrumentation, for power supply systems and connected equipment.
IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

IEC/EN 61000-4-7 IEC 61000-4-7

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

SITUAO BRASILEIRA
ANVISA AGNCIA NACIONAL DE VIGILNCIA SANITRIA RESOLUO 444 DE 1999 ADOTA A NORMA IEC 60601

ANATEL AGNCIA NACIONAL DE TELECOMUNICAES RESOLUES IMPORTANTES (2001) RESOLUO N 237 (14/11/2000) RESOLUO N 238 (13/11/2000 RESOLUO 303 (10/7/2002)
IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

SITUAO BRASILEIRA
RESOLUO ANATEL 237
I Anatel - Regulamento para Certificao e Homologao de Produtos para Telecomunicaes. II - IEC 61000-4-2(1999) - Electromagnetic Compatibility (EMC) - Part 4: Testing and Measurement Techniques. Section 2 Electrostatic discharge immunity test. III - IEC 61000-4-3 (1998) - Electromagnetic Compatibility (EMC) - Part 4: Testing and Measurement Techniques. Section 3 Radiated electromagnetic field requirements. IV - IEC 61000-4-4 (1995) - Electromagnetic Compatibility (EMC) - Part 4: Testing and Measurement Techniques. Section 4 Electrical fast transient. V - IEC 61000-4-5 (1995) - Electromagnetic Compatibility (EMC) - Part 4: Test and Measurement Techniques - Section 5 : Surge Immunity Test. VI - IEC 61000-4-6 (1996) - Electromagnetic Compatibility (EMC) - Part 4: Testing and Measurement Techniques. Section 6 Immunity to conducted disturbances induced by radio-frequency fields. VII - IEC 61000-4-11 (1994) - Electromagnetic Compatibility (EMC): Part 4: Testing and Measurement Techniques; Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations; Immunity tests. IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

SITUAO BRASILEIRA
RESOLUO ANATEL 237 (Cont.)
VIII - CISPR 11 (1997) - Industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment - Electromagnetic disturbance characteristic - Limits and methods of measurement. IX - CISPR 22 (1997) - Limits and methods of measurement of radio disturbance characteristics of information technology equipment; X - CISPR 24 (1997) - Information technology equipment - Immunity characteristics - Limits and methods of measurement XI - ITU-T Rec. K.21 (1996) - Resistibility of Subscriber's Terminal to Overvoltage and Overcurrents. XII - ITU-T Rec. K.22 (1995) - Overvoltage Resistibility of Equipment Connected to an ISDN T/S Bus. XIII - ITU-T Rec. K.38 (1996) - Radiated emission testing of physically large telecommunication systems. IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

SITUAO BRASILEIRA
RESOLUO ANATEL 238
I Anatel Regulamento para Certificao e Homologao de Produtos para Telecomunicaes. II - IEC 60950 (1999) - Safety of Information Technology Equipment. III - IEC 651 (1979) - Sound level meters. IV - ITU-T Rec. K.21 (1996) - Resistibility of Subscriber's Terminal to Overvoltage and Overcurrents. V - ITU-T Rec. P.36 (1988) - Efficiency of Devices for Preventing the Occurrence of Excessive Acoustic Pressure by Telefone Receivers.

IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

IEC 60601-1-2

IEC 61000-4-2

IEC 61000-4-3

SITUAO BRASILEIRA RESOLUO ANVISA 444

IEC 61000-4-4

IEC 61000-4-5

IEC 61000-4-6

IEC 61000-4-8

IEC 61000-4-11

IEC 61000-4-29

CISPR 11 RAD

IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

CISPR 11 CON

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

SITUAO BRASILEIRA
PREO DOS ENSAIOS (HORA DE LABORATRIO) AMBIENTE VALOR POR HORA (US$) LAB. COMUM 100,00 NACIONAL 1 CMARA 170,00 LAB. COMUM 90,00 NACIONAL 2 CMARA 150,00 LAB. COMUM 250,00 ESTRANGEIRA (USA) CMARA 450,00 ESTIMATIVA DE CUSTOS (REALIZAO IEC 60601-1-2) NACIONAL 1 NACIONAL 2 ESTRANGEIRA (USA) 6.520,00 5.820,00 16.700,00 ENTIDADE

IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

ANEEL AGNCIA NACIONAL DE ENERGIA ELTRICA QUALIDADE DE ENERGIA = NMERO DE INTERRUPES

IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

ANATEL CBCs: Comits Brasileiros de Certificao

ANVISA INMETRO/COBEI (ABNT)

ABINEE Associao Brasileira da Indstria Eltrica e Eletrnica

ANEEL...
IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Universidade Estadual de Campinas Faculdade de Engenharia Eltrica e de Computao

Date: Tue, 22 Mar 2005 15:18:28 -0300 From: ouv.bo315@aneel.gov.br To: calixto@dmo.fee.unicamp.br Subject: Solicitao de Ouvidoria n 0100306570560-Gustavo Calixto Este E-Mail transcreve o contedo da Comunicao de Ouvidoria n 09480/2005-SMA Braslia, 22 de maro de 2005 Assunto: Solicitao de Ouvidoria n 0100306570560 Gustavo Calixto Senhor Gustavo Calixto, Reportamo-nos sua solicitao referente a grupo de estudos sobre aspectos de compatibilidade eletromagntica (EMC) e qualidade de energia. Sobre o assunto, informamos que a Agncia Nacional de Energia Eltrica - ANEEL, autarquia em regime especial, vinculada ao Ministrio de Minas e Energia - MME, foi criada pela Lei 9.427 de 26 de Dezembro de 1996, sendo de competncia desta Agncia, entre outras, as macrofunes: regular, fiscalizar, dirimir os conflitos de interesses entre os agentes do setor eltrico e entre estes e os consumidores, e por delegao da Unio, a concesso do servio pblico de energia eltrica. Desta forma, a ANEEL no o rgo adequado para fornecer as informaes ora solicitadas. Atenciosamente, OUVIDORIA/ANEEL Superintendncia de Mediao Administrativa Setorial IE327K Tpicos Especiais em Microeletrnica III

Você também pode gostar