Interfermetro de Michelson

Grupo 6:
Lilian Afonso
Carolina Penhavel
Laboratrio de Fsica
Moderna
O interfermetro de Michelson o tipo
mais fundamental de interfermetro de dois
feixes. Ele pode ser utilizado para medir
comprimentos de onda com grande preciso.
Este aparelho visava comprovar a
existncia do ter, um meio hipottico que
servia de suporte para a propagao da luz.
Se a velocidade da luz fosse diferente em
diferentes direes quando se rodasse o
interfermetro, o padro de interferncia
deveria deslocar-se. Anos mais tarde,
Einstein publicou um trabalho rejeitando
definitivamente a existncia do ter.

Considere que a luz parte de uma fonte F e incide
em um espelho semiprateado (M), de espessura
desprezvel. A luz ento dividida em dois feixes que
seguem respectivamente para os espelhos M
1
e M
2
, onde
so refletidos de volta para M e so respectivamente
transmitidos e refletidos interferindo no ponto de
observao O. Sejam
Y
1
= a
1
sen (t
1
)
e
Y
2
= a
2
sen (t
2
)
as duas ondas que interferem em O e produzem como
resultado uma onda que pode ser descrita como:
Y = A sen(t + )
Onde
A = (a
1
+ a
2
+ 2a
1
a
2
cos )

=
1
+
2

Figura 1: Esquema Interfermetro de Michelson. Pode-se ter uma placa
compensadora entre M e M2 para que se igualem os comprimentos
pticos dos dois percursos, fazendo com que as distancias M M1, M
M2 contenham o mesmo numero de ciclos da onda luminosa.
Inicialmente os raios esto em fase,
mas, ao se encontrarem no anteparo,
suas fases relativas dependem da
diferena de caminho seguido por cada
um. Quando uma lente convexa
colocada entre o laser e o separador de
raios, o raio diverge, e podemos ver no
anteparo a formao de uma figura
composta por anis claros e escuros,
as chamadas franjas de interferncia.
Se movemos lentamente o espelho
M
1
de uma distncia d
m
e contamos o
nmero m de vezes que a figura de
interferncia retorna a sua posio
inicial, o comprimento de onda da luz
incidente pode ser calculado por:

= 2d
m
/m
Procedimento Experimental
O experimento est dividido em 2
partes: a primeira tem como objetivo
observar o comportamento das franjas
de interferncia no caso em que
polarizadores so inseridos; na
segunda parte, verificado o ndice
de refrao do ar.
Inicialmente sero feitas medidas de
introduo ao aparato, onde a distncia
do espelho 2 variada para que seja
possvel calcular o comprimento de onda
do laser. Ainda nessa parte sero
utilizados polarizadores afim de observar
os efeitos causados pelo mesmo.
Na segunda parte ser adicionada
uma clula de vcuo, onde a presso
ser variada e a partir da ser possvel
calcular o ndice de refrao do ar,
utilizando-se o grfico de variao de n
pela presso.
Bibliografia
EISBERG, R.; RESNICK, R. Fsica
Quntica - tomos, molculas, slidos,
ncleos e partculas. 1979. Rio de
Janeiro, RJ.
TIPLER, P. A.; LLEWELLYN, R. A.
Fsica Moderna. Ed. 3, LTC.