Unidade 3

Controle
Estatstico de
Processo
- ndices de capabilidade Prof. Heitor Cardoso

Unid. 3 Controle Estatstico de Processo

ndices de capabilidade
Contedo programtico
Causas especiais para cartas de controle (reviso)
Capabilidade do processo:
Conceitos
Desempenho do processo versus especificao do processo
Anlise da capabilidade
Capabilidade do processo: ndices Cp, Cpk, Cpm e Cr
Desempenho do processo: ndices Pp e Ppk

Unid. 3 Controle Estatstico de Processo

ndices de capabilidade
Contedo programtico
Causas especiais para cartas de controle (reviso)
Capabilidade do processo:
Conceitos
Desempenho do processo versus especificao do processo
Anlise da capabilidade
Capabilidade do processo: ndices Cp, Cpk, Cpm e Cr
Desempenho do processo: ndices Pp e Ppk

1.1. Cartas de controle

1. Anlise das
cartas de controle

Um processo fora de controle detectado em uma carta de controle

quando algum ponto cai fora do limite de controle.
LSC

Mdia

LIC

1. Mdia
Disperso

Fora de controle
Sob controle

2. Mdia
Disperso

Sob controle
Fora de controle

3. Mdia
Disperso

Fora de controle
Fora de controle

3. Mdia
Disperso

Sob controle
Sob controle

Processo fora
de controle

Processo sob
controle
4

1.2. Causas especiais

para cartas de controle

1. Anlise das
cartas de controle

5 regras comuns:
Teste 1: 1 ponto alm da Zona A.
UCL

A
B

LCL

C
C

Teste 2: 4 em 5 pontos na Zona B ou alm.

UCL

B
X

C
C
B

LCL

1.2. Causas especiais

para cartas de controle

1. Anlise das
cartas de controle

5 regras comuns:
Teste 3: 2 em 3 pontos na Zona A ou alm.
UCL

A
B

LCL

Teste 4: 8 ou mais pontos consecutivos em

um lado da linha central.

UCL

B
X

C
C
B

LCL

1.2. Causas especiais

para cartas de controle

1. Anlise das
cartas de controle

5 regras comuns:
Teste 5: 6 ou mais pontos consecutivos
crescendo ou decrescendo.
UCL

A
B

C
C
B

LCL

1.2. Causas especiais

para cartas de controle

1. Anlise das
cartas de controle

Outros modelos no comuns:

Teste 6: 15 pontos ou mais na zona C.
UCL

A
B

C
C
B

LCL

Teste 7: mistura ou variao sistemtica.

UCL

A
B

C
C
B

LCL

1. Anlise das
cartas de controle

Exerccios lista 2

Unid. 3 Controle Estatstico de Processo

ndices de capabilidade
Contedo programtico
Causas especiais para cartas de controle (reviso)
Capabilidade do processo:
Conceitos
Desempenho do processo versus especificao do processo
Anlise da capabilidade
Capabilidade do processo: ndices Cp, Cpk, Cpm e Cr
Desempenho do processo: ndices Pp e Ppk

10

2. Capabilidade
do processo

2.1. Conceitos
Capabilidade do processo

Capabilidade do processo = controle do processo baseado nas

tolerncias (ou especificao).
Um estudo de
capabilidade do
processo inclui:
Planejamento

Limite
Inferior de
Especificao

O processo capar ou no
de atender s exigncias de
especificao?

Limite
Superior de
Especificao

de coleta de dados;
Coleta de
dados;
Plotagem e

anlise dos
resultados.
11

2.1. Conceitos

2. Capabilidade
do processo

Capabilidade de mquina vs Capabilidade do processo

Capabilidade de mquina
a variao em uma jornada muito
curta de partes de produo
sucessivas.
Refere-se reprodutibilidade sob
um conjunto de condies do
processo (operador, material, prtica
de manufatura uniforme etc.);
A variao inerente mquina.

Capabilidade do processo
Refere-se reprodutibilidade de um
longo perodo de tempo com trocas
normais de trabalhadores, materiais e
outras condies de processo;
o limite dentro do qual uma
ferramenta ou processo opera
baseado na mnima variabilidade
governada
por
circunstncias
predominantes.
12

2.1. Conceitos

2. Capabilidade
do processo

Clculo da capabilidade
Para o clculo da capabilidade necessrio que o processo esteja em
estado de controle estatstico por um razovel perodo de tempo.

Um processo sob controle estatstico apresenta conformidade com a distribuio Normal.

13

2.2. Desempenho vs
Especificao

2. Capabilidade
do processo

Desempenho do processo vs Especificao do processo

LSE
LSC
Distribuio dos
valores individuais
(todos)

Distribuio
das mdias

LIC
LIE

Limites de
controle

Espalhamento
do processo

14

2.2. Desempenho vs
Especificao

2. Capabilidade
do processo

Desempenho do processo vs Especificao do processo

Z

- 1 + 1

- 2

- 3

Z INFERIOR

X LIE
S

+ 2

+ 3

Z SUPERIOR

LSE X
S

15

2.3. Anlise da
capabilidade

2. Capabilidade
do processo

Anlise de capabilidade
A variabilidade que aparece em um processo pode ser caracterizada
como:
Variabilidade inerente: aquela que analisada em um determinado

momento (variabilidade instantnea, variabilidade entre observaes em

uma amostra).
Ex.: variabilidade de cada amostra (pego 5 amostras e comparo a
variao entre elas).
Variabilidade ao longo do tempo: variabilidade entre sub-

grupos.

16

2.3. Anlise da
capabilidade

2. Capabilidade
do processo

Anlise de capabilidade
Os ndices foram desenvolvidos tanto para medir a capabilidade potencial
como a capabilidade de desempenho dos processos.
Capacidade potencial (do processo)
Ex.: a velocidade mxima de determinado

veculo de 205Km/h.
o potencial do processo, ou seja, a

capacidade que pode ser encontrada, mas no

est necessariamente sendo encontrada
atualmente.

Capacidade de desempenho
Ex.: estou, atualmente, andando a uma

velocidade de 120Km/h;
A

capabilidade de desempenho do
processo pode ser interpretada como a
capabilidade que est sendo encontrada
atualmente;

Os ndices de capabilidade do processo

so usados para medir a capacidade potencial

de um sistema em atender as demandas ou
necessidades do cliente;
Cp, Cpk, Cpm e CR.

Os ndices de desempenho de processo

so usados para medir o desempenho do

sistema em atender as demandas ou
necessidades do cliente. Eles medem17o

2.3. Anlise da
capabilidade

2. Capabilidade
do processo

Anlise de capabilidade observao

Para calcular os ndices de capabilidade do processo (C), estima-se o
espalhamento do processo (Sp):
Sp R

R
d2

Sp

S
C4

Refere-se ao curto prazo!!!

Para calcular os ndices de desempenho do processo (P), estima-se ^ :

X X

n 1

Refere-se ao longo prazo!!!

18

2.4. Capabilidade do
processo

2. Capabilidade
do processo

Anlise de capabilidade do processo capabilidade potencial Cp

O ndice de capabilidade Cp definido como a largura de tolerncia
dividida pela capacidade de processo, independente de sua centralizao ou
no (neste processo).
O ndice Cp mede proporcionalidade!!!

LSE LIE
Cp
6 R

Cp

LSE LIE especificao

LSC LIC
controle

R = espalhamento do processo

Cp > 1,33

1,00 Cp 1,33

Cp < 1,00

Processo capaz

Capaz com controle apertado

Incapaz

19

2.4. Capabilidade do
processo

2. Capabilidade
do processo

Anlise de capabilidade do processo capabilidade potencial Cpk

O ndice de capabilidade Cpk calculado para identificar a centralizao
do processo. Ele relaciona a distncia em escala entre a mdia do processo
e o limite de especificao mais prximo.
O ndice Cp mede o quanto voc est distante do Limite de Especificao!!!

LSE X
X LIE
Cpk
ou
3 R
3 R

Cpk
1,00
Avaliao:
Cpk
Cpk

<
=
<

Z
OU CpK
3

1,30: tima estabilidade

Cpk < 1,30: processo capaz
1,00: capacidade marginal
1,00: processo incapaz

Onde...

Z SUP
Z INF

LSE X

X LIE

20

2.4. Capabilidade do
processo

2. Capabilidade
do processo

Anlise de capabilidade do processo capabilidade potencial Cpm

O ndice de capabilidade Cpm baseado no ndice de Taguchi, focando a
centralizao do processo.
O ndice Cpm mede o quanto voc est distante da mdia de especificao!!!

Cpm

LSE LIE
6 T
2

OU

Cpm

cp
1 2

LSE LIE
T
2
= mdia do processo
= desvio-padro do processo
Onde
T = valor alvo, ou mdia da especificao

X especificao X processo

processo

21

2.4. Capabilidade do
processo

2. Capabilidade
do processo

Anlise de capabilidade do processo capabilidade potencial Cr

O ndice de capabilidade Cr mede o percentual de tolerncia
(especificao) usado pelo processo.
O ndice Cr o inverso do ndice Cp; porm, em percentual!!!

6 R
Cr
LSE LIE
R

OU
R
d2

1
Cr
Cp
Cp

LSE LIE LSE LIE

6 R
LSC LIC
R = espalhamento do processo

Cr < 75%: processo capaz

Avaliao:
75% Cr 100%: processo capaz com controle apertado
Cr > 100%: processo incapaz

22

2.4. Capabilidade do
processo

2. Capabilidade
do processo

Anlise de capabilidade do processo EXERCCIO

Calcular e interpretar os ndices Cp, Cpk, Cpm e Cr para as curvas X e Y.

Curva X
Xproc. = 50.00
proc. = 5.00

Curva Y
Yproc. = 57.50
proc. = 2.50

23

2.4. Capabilidade do
processo

2. Capabilidade
do processo

Anlise de capabilidade do processo EXERCCIO

Calcular e interpretar os ndices Cp, Cpk, Cpm e Cr para as curvas X e Y.
Cp

USL LSL
65 35

6
6*5

1,0

USL X X LSL

Curva X

Cpk MN

65 50 50 35
;
MN 1 ; 1
3* 5
3*5

Cpk MN

Cpm

Cp
1

Cpm

Curva X
Xproc. = 50.00
proc. = 5.00

Curva Y
Yproc. = 57.50
proc. = 2.50

Cr

Cp

1,0

1
1 0

X esp. X proc .
50 50

proc .
5

1,0
0,0

1,0
24

2.4. Capabilidade do
processo

2. Capabilidade
do processo

Anlise de capabilidade do processo EXERCCIO

Calcular e interpretar os ndices Cp, Cpk, Cpm e Cr para as curvas X e Y.
Cp

USL LSL
65 35

6
6 * 2.5

2,0

USL X X LSL

Curva Y

Cpk MN

65 57.5 57.5 35
;
MN 1 ; 3 1,0
3 * 2.5
3 * 2.5

Cpk MN

Cpm

Cp
1

Cpm

Curva X
Xproc. = 50.00
proc. = 5.00

Curva Y
Yproc. = 57.50
proc. = 2.50

Cr

Cp

2
1 ( 3) 2

0,632

X esp. X proc .
50 57.5

-3,0
proc .
2.5

0,5
25

2.4. Capabilidade do
processo

2. Capabilidade
do processo

Anlise de capabilidade do processo EXERCCIO

Calcular e interpretar os ndices Cp, Cpk, Cpm e Cr para as curvas X e Y.
ndic
Critrios
e
Cp > 1,33
Cp

Cpk

1 Cp 1,33
Cp < 1,33
Cpk 1,30
1,00 < Cpk < 1,30
Cpk = 1,00
Cpk < 1,00

Com

Distncia () da
mdia

Cr

Cr < 0,75
0,75 Cr 1,00
Cr > 1,00

Curva X

1,0

1 Cp 1,33
Processo capaz com
controle apertado.

1,0

Cpk = 1,0
Capacidade marginal.

1,0

Estou distante 1,0 da

mdia de especificao

1,0

0,75 Cr 1,00
Processo capaz com
controle apertado.

Curva Y
2,0

1,0

Cp > 1,33
Processo capaz.
Cpk = 1,0
Capacidade marginal.

Estou distante 0,632 da

0,632 mdia de especificao
0,5

Cr < 0,75
Processo capaz.

26

2.5. Desempenho do
processo

2. Capabilidade
do processo

Anlise de desempenho do processo Pp

Pp o ndice de desempenho definido como a largura da tolerncia
dividido pelo desempenho do processo, independente da centralizao ou
no deste processo.
Pp expresso como a largura da tolerncia dividida por seis vezes o
desvio-padro da amostra.
A nica diferena computacional entre Cp e Pp o uso do desvio-padro
do processo de longo prazo ( ^ ).
LSE LIE
Cp
6 R
R = espalhamento
do pRocesso R

R
Sp
d2

LSE LIE
Pp
6

X X

n 1

^ = desvio-padro amostral

27

2.5. Desempenho do
processo

2. Capabilidade
do processo

Anlise de desempenho do processo Ppk

Ppk o ndice de desempenho que conta para a centralizao do
processo.

LSE X
X LIE

Ppk MN
;
3
3

Ppk < 1 deve indicar que o processo no atende aos mnimos de

desempenho de processo.
Ou seja, quanto menor o valor de Ppk, mais
deslocado da mdia de especificao o
processo se encontra.

28

Exerccios lista 3

29