Você está na página 1de 66

3

O Erro de Medição
Fundamentos da Metrologia
Científica e Industrial

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
Erro de Medição

sistema de
medição mensurando

indicação  valor verdadeiro

erro de
medição

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 2/67)


Um exemplo de erros...
 Teste de precisão de tiro de canhões:
 Canhão situado a 500 m de alvo fixo;
 Mirar apenas uma vez;
 Disparar 20 tiros sem nova chance para
refazer a mira;
 Distribuição dos tiros no alvo é usada para
qualificar canhões.
 Quatro concorrentes:

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 3/67)


A B

D C

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 4/67)


Ea Ea
Es Es

A B

D C

Ea Ea

Es Es

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 5/67)


3.1
Tipos de erros

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
Tipos de erros
 Erro sistemático: é a parcela previsível do
erro. Corresponde ao erro médio.

 Erro aleatório: é a parcela imprevisível do


erro. É o agente que faz com que
medições repetidas levem a distintas
indicações.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 7/67)


Precisão & Exatidão
 São parâmetros qualitativos associados ao
desempenho de um sistema.

 Um sistema com ótima precisão repete


bem, com pequena dispersão.

 Um sistema com excelente exatidão


praticamente não apresenta erros.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 8/67)


3.2 e 3.3
Caracterização e componentes do
erro de medição

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
Exemplo de erro de medição

(1000,00 ± 0,01) g
E = I - VVC

1 E = 1014 - 1000

1014
E = + 14 g
g

1014
0g
Indica a mais do
que deveria!
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 10/67)
Erros em medições repetidas
1020
1014 g

dispersão
1015 g
1017 g
(1000,00
(1000,00
(1000,00
± 0,01)
± 0,01)
± 0,01)
g g g
1012 g
1015 g
111 1018 g
1014 g 1010

erro médio
1015 g
1016 g
1014
1015
1017
0g
1013 g
1016 g
1015 g

1000
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 11/67)
Cálculo do erro sistemático

média de infinitas indicações


condições:
valor verdadeiro conhecido exatamente

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 12/67)


Estimativa do erro sistemático

VVC
tendência

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 13/67)


3.4
Erro sistemático, tendência e
correção

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
Algumas definições
 Tendência (Td)
 é uma estimativa do Erro Sistemático
 Valor Verdadeiro Convencional (VVC)
 é uma estimativa do valor verdadeiro
 Correção (C)
 é a constante que, ao ser adicionada à
indicação, compensa os erros sistemáticos
 é igual à tendência com sinal trocado

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 15/67)


Correção dos erros sistemáticos

Td C = -Td

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 16/67)


Indicação corrigida
Nº I C Ic Ea
1 1014 -15 999 -1 C = -Td
2 1015 -15 1000 0
3 1017 -15 1002 2
4 1012 -15 997 -3
5 1015 -15 1000 0 C = 1000 - 1015
6 1018 -15 1003 3
7 1014 -15 999 -1 C = -15 g
8 1015 -15 1000 0
9 1016 -15 1001 1
10 1013 -15 998 -2
11 1016 -15 1001 1
12 1015 -15 1000 0
média 1015 -15 1000 0

995 1000 1005


Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 17/67)
3.5
Erro aleatório, incerteza padrão e
repetitividade

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
Erro aleatório e repetitividade

-5 0 5
O valor do erro aleatório é imprevisível.

A repetitividade define a faixa dentro da qual


espera-se que o erro aleatório esteja contido.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 19/67)


Distribuição de probabilidade
uniforme ou retangular

1.2

probabilidade 1

Probabilidade (1/6)
0.8

0.6

1/6 0.4

0.2

0
0 1 2 3 4 5 6 7
Valores
1 2 3 4 5 6
Lançamento de um dado

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 20/67)


Distribuição de probabilidade
triangular
probabilidade (1/36)

6
4
2

1,0 1,5 2,0 2,5 3,0 3,5 4,0 4,5 5,0 5,5 6,0
Média de dois dados

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 21/67)


Distribuição de probabilidade
triangular
7
6
Probabilidade (1/36)

5
4

3
2

1
0
0 1 2 3 4 5 6 7
Média de 2 dados

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 22/67)


Lançamento de um dado
1.2

1
Probabilidade (1/6)

0.8

0.6

0.4

0.2

0
0 1 2 3 4 5 6 7
Valores

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 23/67)


Média de dois dados
7

6
P rob a b ilid ade (1/36)

0
0 1 2 3 4 5 6 7

M édi a d e 2 d ado s

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 24/67)


Média de três dados
30

25
P r o bab ilid ade (1/2 16)

20

15

10

0
0 1 2 3 4 5 6 7

M édi a d e 3 d ado s

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 25/67)


Média de quatro dados
16 0

14 0
P ro bab ilid a d e (1 /12 96)

12 0

10 0

80

60

40

20

0
0 1 2 3 4 5 6 7

M édi a d e 4 d ado s

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 26/67)


Média de seis dados
500 0
450 0
P ro b a bili dad e ( 1/ 466 56)

400 0
350 0
300 0
250 0
200 0
150 0
100 0
50 0
0
0 1 2 3 4 5 6 7

M édi a d e 6 d ado s

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 27/67)


Média de oito dados
160000
Probabilidade (1/1679616)

140000
120000
100000
80000
60000
40000
20000
0
0 1 2 3 4 5 6 7
Média de 8 dados

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 28/67)


“Teorema do sopão”
 Quanto mais
ingredientes diferentes
forem misturados à
mesma sopa, mais e
mais o seu gosto se
aproximará do gosto
único, típico e
inconfundível do
"sopão".

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 29/67)


Teorema central do limite
 Quanto mais variáveis aleatórias forem
combinadas, tanto mais o comportamento
da combinação se aproximará do
comportamento de uma distribuição
normal (ou gaussiana).

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 30/67)


Curva normal

pontos de inflexão
 desvio padrão
 média

assíntota   assíntota

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 31/67)
Efeito do desvio padrão

>>


Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 32/67)
Cálculo e estimativa do
desvio padrão

cálculo exato: estimativa:


(da população) (da amostra)
n n

 i
( I  I ) 2
 i
( I  I ) 2

  lim i 1
s i 1
n  n n 1

Ii i-ésima indicação
I média das "n" indicações
n número de medições repetitivas efetuadas
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 33/67)
Incerteza padrão (u)

 medida da intensidade da componente


aleatória do erro de medição.
 corresponde à estimativa do desvio padrão
da distribuição dos erros de medição.
 u=s
 Graus de liberdade ():
 corresponde ao número de medições
repetidas menos um.
 =n-1
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 34/67)
Área sobre a curva normal

95,45%

 

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 35/67)
Estimativa da repetitividade
(para 95,45 % de probabildiade)

A repetitividade define a faixa dentro da qual,


para uma dada probabilidade, o erro aleatório é
esperado.

Para amostras infinitas: Para amostras finitas:

Re = 2 .  Re = t . u

Sendo “t” o coeficiente de Student para  = n - 1


graus de liberdade.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 36/67)


Coeficiente “t” de Student

 t  t  t  t
1 13.968 10 2.284 19 2.140 80 2.032
2 4.527 11 2.255 20 2.133 90 2.028
3 3.307 12 2.231 25 2.105 100 2.025
4 2.869 13 2.212 30 2.087 150 2.017
5 2.649 14 2.195 35 2.074 200 2.013
6 2.517 15 2.181 40 2.064 1000 2.003
7 2.429 16 2.169 50 2.051 10000 2.000
8 2.366 17 2.158 60 2.043 100000 2.000
9 2.320 18 2.149 70 2.036  2.000

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 37/67)


Exemplo de estimativa da
repetitividade
1014 g 12
1015 g
1017 g
 i
( I  1015) 2

(1000,00 ± 0,01) g
1012 g u i 1

1015 g 12  1
1 1018 g
u = 1,65 g
1014 g
1015 g  = 12 - 1 = 11
1014
g 1016 g
1014
0g
1013 g t = 2,255
1016 g
1015 g Re = 2,255 . 1,65
média: 1015 g Re = 3,72 g
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 38/67)
Exemplo de estimativa da
repetitividade

-3,72 1015 +3,72

1010 1015 1020

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 39/67)


Efeitos da média de medições
repetidas sobre o erro de medição
 Efeito sobre os erros sistemáticos:
 Como o erro sistemático já é o erro médio,
nenhum efeito é observado.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 40/67)


Efeitos da média de medições
repetidas sobre o erro de medição
 Efeitos sobre os erros aleatórios
 A média reduz a intensidade dos erros
aleatórios, a repetitividade e a incerteza
padrão na seguinte proporção:
ReI uI
ReI  uI 
n n
sendo:
n o número de medições utilizadas para calcular a média

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 41/67)


Exemplo
 No problema anterior, a repetitividade da
balança foi calculada:

ReI = 3,72 g
 Se várias séries de 12 medições fossem
efetuadas, as médias obtidas devem
apresentar repetitividade da ordem de:
3,72
Re I12   1,07 g
12
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 42/67)
3.6
Curva de erros e erro máximo

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
Curva de erros
Td + Re
Td
erro Td - Re
Emáx
15

1015 indicação

- Emáx Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 44/67)


Algumas definições
 Curva de erros:
 É o gráfico que representa a distribuição dos
erros sistemáticos e aleatórios ao longo da
faixa de medição.
 Erro máximo:
 É o maior valor em módulo do erro que pode
ser cometido pelo sistema de medição nas
condições em que foi avaliado.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 45/67)


3.7
Representação gráfica dos erros
de medição

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
Sistema de medição “perfeito”
(indicação = VV)
indicação
960 980 1000 1020 1040

960 980 1000 1020 1040


mensurando
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 48/67)
Sistema de medição com erro
sistemático apenas
indicação
960 980 1000 1020 1040

+Es

960 980 1000 1020 1040


mensurando
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 49/67)
Sistema de medição com erros
aleatórios apenas
indicação Re

960 980 1000 1020 1040

960 980 1000 1020 1040


mensurando
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 50/67)
Sistema de medição com erros
sistemático e aleatório
indicação Re

960 980 1000 1020 1040

+Es

960 980 1000 1020 1040


mensurando
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 51/67)
3.8
Erro ou incerteza?

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
Erro ou incerteza?
 Erro de medição:
 é o número que resulta da diferença entre a
indicação de um sistema de medição e o valor
verdadeiro do mensurando.
 Incerteza de medição:
 é o parâmetro, associado ao resultado de uma
medição, que caracteriza a faixa dos valores
que podem fundamentadamente ser
atribuídos ao mensurando.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 53/67)


3.9
Fontes de erros

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
Fontes de erros:
fatores externos
operador

sistema de medição
sinal de
medição indicação
fatores
internos
retroação retroação

mensurando
fatores externos
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 55/67)
Erros provocados por fatores
internos
 Imperfeições dos componentes e
conjuntos (mecânicos, elétricos etc).
 Não idealidades dos princípios físicos.

alongamento

força
região linear região não linear
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 56/67)
Erros provocados por fatores
externos
 Condições ambientais
 temperatura
 pressão atmosférica
 umidade
 Tensão e freqüência da rede elétrica
 Contaminações

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 57/67)


Erros provocados por retroação
 A presença do sistema de medição
modifica o mensurando.

65 °C
20 °C

70 °C 65 °C

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 58/67)


Erros induzidos pelo operador
 Habilidade
 Acuidade visual
 Técnica de medição
 Cuidados em geral
 Força de medição

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 59/67)


Dilatação térmica
 Propriedade dos materiais modificarem suas
dimensões em função da variação da
temperatura.

T

b b' b = b' - b
c = c' - c
c
c' b =  . T . b
c =  . T . c
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 60/67)
Temperatura de referência
 Por convenção, 20 °C é a temperatura de
referência para a metrologia dimensional.
 Os desenhos e especificações sempre se
referem às características que as peças
apresentariam a 20 °C.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 61/67)


Dilatação térmica:
distintos coeficientes de expansão térmica

I = 40,0
I = 44,0 >
I = 38,0

20°C 40°C 10°C

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 62/67)


Dilatação térmica:
mesmos coeficientes de expansão térmica

I = 40,0 I = 40,0 =


I = 40,0

20°C 40°C 10°C

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 63/67)


Dilatação térmica:
Ce

Sabendo que a 20C


Ci = Ce
α=α

Qual a resposta certa


Ci a 40C?

(a) Ci < Ce
(b) Ci = Ce

(c) Ci > Ce

(d) NRA

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 64/67)


Dilatação térmica:

(a) Ci < Ce
(b) Ci = Ce

(c) Ci > Ce

(d) NRA

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 65/67)


Micrômetro

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 66/67)


Correção devido à
dilatação térmica

SM Peça a medir Correção devido à temperatura


Mat Temp. Mat Temp.
A 20 °C A 20 °C C=0
A TSM  20 °C A TP = TSM C=0
A TSM A TSM  TP C = A . L . (TSM - TP)
A 20 °C B 20 °C C=0
A TSM  20 °C B TSM = TP C = (A - B). (TSM - 20°C) . L
A TSM B TSM  TP C = [A . (TSM - 20°C) - B . (TP - 20°C)] . L

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 3 - (slide 67/67)

Você também pode gostar