Introduo Objetivo da tcnica: O espectrmetro de IR (Infravermelho) um dos instrumentos mais importante para observar o espectro vibracional de diferentes materiais.

. Dependendo da natureza da vibrao, que determinada pela simetria da molcula, estas vibraes podem ser ativas ou proibidas no espectro do IR. Esta tcnica permite a identificao e a anlise dos constituintes presentes no material em uma ampla gama de tipo de materiais, principalmente em materiais orgnicos como os polmeros. A anlise em materiais inorgnicos revela que as bandas de absoro so largas. Se um composto inorgnico contm ons, as bandas no espectro do on ou de coordenao depender da estrutura e orientao do on ou complexo, por isso o FTIR utilizado como uma anlise complementar a difrao de raios X em compostos inorgnicos.[1] Composio do equipamento: O equipamento utilizado foi o espectrofotmetro de infravermelho Perkin Elmer, modelo Frontier IR-FIR, a imagem mostrada abaixo:

Figura 1: Imagem do equipamento de espectrometria de infravermelho Perkin Elmer (FTIR).

A instrumentao espectroscpica ilustrada na imagem 2. Um espectrmetro FTIR usualmente constitudo pelas partes: fonte, interfermetro, detector e um computador para coleta das informaes. e impressora (acho que impressora no parte constituinte de um FTIR). Na espectrometria de disperso, so possveis arranjos de feixe simples e feixe duplo. O laser utilizado foi o de HeNe. O range espectral no experimento foi de 4000 cm-1 a 450 cm-1.[2]

Figura 2 : Instrumentao espectroscpica do FTIR.

Mtodos: Espectrometria de infravermelho a tcnica de espectrometria molecular mais flexvel e verstil atualmente, porque apresenta velocidade mais alta, confiabilidade, alta resoluo, sensibilidade, preciso, exatido de comprimento de onda sem paralelo, preciso e convenincia. Pode ser aplicada em uma larga faixa de materiais de origem orgnica e inorgnica. A base do espectrmetro o interfermetro de Michelson (Figura 2). Nesse sistema, a radiao de uma fonte monocromtica hipottica dividida em dois feixes no beamsplitter (divisor de feixe). Um dos feixes, (A) segue para a direo do espelho de posio fixa no qual reflete e volta para beamsplitter, onde parte desse feixe reflete e volta para a fonte e parte para o detector. O outro feixe, (B) parte do beamsplitter em direo ao espelho de posio mvel. O espelho mvel tambm reflete o feixe, parte de volta para a fonte e parte para o detector. Se a posio do espelho mvel tal que percorre a mesma distncia que o feixe B antes de chegar ao detector (=n, onde n=0,1,2...), os feixes esto em fase, reforando um ao outro (interferncia construtiva), e assim a energia que chega ao detector mxima. Se o feixe estiver fora de fase a 90 a energia que chega ao detector mnima, assim com os dados fornecidos, possvel plotar um grfico, que junto com uma tabela de banda de conduo (estiramento), fornece informaes sobre a composio qumica do material.[3]