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DETERMINAO DAS CARACTERSTICAS DO FERRO

PURO COM O MTODO DA DIFRAO DE RAIOS-X


Marcos Kelvin Lira de Oliveira



Resumo

Este trabalho tem o objetivo de estudar as variaes dos resultados dos difratogramas de raios-x
do p de ferro com dois procedimentos diferentes. Um estudo feito no ano de 2013 e outro feito
no ano de 2014 com o mesmo material, porm com um procedimento diferente na obteno do
difratograma. No estudo do ano de 2013 a variao do ngulo de aplicao dos raios-x foi maior
do que no trabalho de 2014, como tambm, na atividade de 2014, a variao do ngulo em relao
ao tempo foi maior que em 2013. Normalizou-se o grfico obtido com os dados coletados nos dois
anos e foram discutidas as divergncias dos respectivos diagramas.

Palavras Chave: Difrao de raios-x. Ferro.

1. INTRODUO

A difrao de raios-x uma tcnica muito utilizada e delicada que requer um alto
nvel de experincia alm de conhecimento fsico do processo, pois difrao um fenmeno
fsico que pode ser explicado com palavras simples, diferente da sua utilizao para
caracterizar uma substncia.
A delicadeza da tcnica pede um elevado grau de cuidado na preparao da amostra,
pois at mesmo um desnvel na amostra do p da substncia acarreta numa diferena no seu
difratograma. Ou uma diferena de altura, mesmo que uniforme, pode deslocar um dos picos
do grfico. Mas tambm podemos ter uma perda na qualidade da obteno dos pontos e isso
nos trazer uma oscilao maior do que a esperada. Ainda podemos ter uma m calibrao do
equipamento e tudo isso pode ser interpretado como uma substncia diferente, o que na
verdade no passa de uma m preparao.
Apesar de todo o cuidado necessrio, a preciso da tcnica incrvel e nos dar desde
o parmetro da rede cristalina at a quantidade de cada substncia em uma mistura de um
p, por exemplo.



Graduando em Licenciatura Plena em Fsica pela Universidade Federal do
Amazonas.



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2. MTODO

Usamos o p de ferro para uma anlise da sua difrao de raios-x feita no laboratrio
de geologia no ano de 2014. Utilizamos os resultados do trabalho feito sobre a mesma
substncia, no ano de 2013, com o objetivo de comparar com os resultados obtidos na nossa
anlise. Como se pode ver na fig.1 variamos o ngulo de a , ao passo de e
varremos a cada um minuto, obtivemos assim 3501 pontos e cada ponto foi analisado
durante 0.40 segundos pelo detector. Por sua vez, no estudo feito no ano de 2013 o ngulo
foi variado de a , ao mesmo passo, e foi varrido a cada um minuto, portanto
cada ponto foi analisado durante 0.60 segundos. E vale ressaltar tambm que misturamos um
pouco de lcool com a finalidade da amostra no cair quando o porta amostra for girando.
Tubo de raios-x.

Alvo = Cobre
Voltagem = 40.0 (kV)
Corrente = 30.0 (mA)












3. RESULTADOS E DISCUSSO
Os grficos apresentados a seguir so os resultados das anlises dos difratogramas e
podemos ratificar na fig. 2 que realmente so as mesmas amostras, porquanto os picos so
exatamente nos mesmos pontos, conquanto veremos que eles tem uma pequena diferena a
qual tem sua fundamentao na forma como fizemos a anlise. O fato de o detector ficar
mais tempo em cada ponto, por exemplo, faz com que ele receba um maior numero de
ftons, logo podemos determinar que a diferena nas alturas dos picos devido ao tempo em
que submetemos cada ponto, ou seja, ao perodo que escolhemos para terminar o processo.
Fig. 1 Difratograma da amostra de
ferro.


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Quando normalizamos os
grficos, fig. 3, e deixamos as
duas curvas nas mesmas alturas e
podemos assim comparar o que
obtivemos. Para isso usamos o
primeiro pico, onde temos a
maior intensidade, o qual est
ilustrado na fig.4, e verificamos
que esse est ligeiramente mais
para a esquerda e o ombro da
curva vermelha um pouco maior tambm. Outra diferena pode ser observada na fig. 5,
onde temos uma oscilao maior no grfico do trabalho de 2014 do que na curva do trabalho
de 2013, entretanto podemos constatar que os picos esto muito mais prximos nesse ponto.









Fig. 2 Os difratogramas dos dois procedimentos superpostos sem a normalizao. O grfico em
vermelho representa o estudo do ano de 2014 e o em preto indica o trabalho de 2013. Unidade
arbitrria (u.a.).
Fig. 3 Normalizao do grfico.
Fig. 4 Primeiro pico. Mostrando a diferena nas
posies dos picos e nos ombros.
Fig. 5 Segundo pico. Mostrando as
diferenas nas oscilaes das curvas.


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Poderamos pensar que o deslocamento ocorre por uma compresso ou uma
distenso na amostra de p de ferro, o que realmente faria com que o pico se deslocasse um
pouco. Porm o esforo, necessrio para que varissemos as distncias entre os planos, seria
algo sobre-humano. A explicao vem da preparao da amostra, por que, no momento do
nivelamento da amostra, deixamos a nossa, amostra de 2014, mais alta do que a amostra do
trabalho de 2013, ento a interferncia construtiva aconteceu um pouquinho antes, entretanto
que j pode ser observado com um estudo mais detalhado.
A oscilao pode ser entendida como apenas uma m qualidade na obteno dos
pontos. Pois claro que, se no trabalho de 2014 cada ponto foi analisado durante 0.40
segundos e no trabalho de 2013 cada ponto foi analisado durante 0.60 segundos, o erro
associado ao detector ser no trabalho da curva vermelha. Embora tenhamos curvas temos
que encarar o grfico como vrios pontos e quanto maior a qualidade mais a curva se
aproxima do ideal.
4. CONSIDERAES FINAIS
O mtodo utilizado para caracterizar o p de ferro foi satisfatrio e tivemos muito
xito na obteno do difratograma o qual est muito prximo do ideal. Os objetivos
apresentados neste trabalho foram alcanados com muito agrado, pois conseguimos
classificar as divergncias, ou seja, os diferentes tipos de diferenas entre os grficos e
explicar fisicamente o motivo.
Conquanto fosse o p da mesma substncia e, alm disso, do mesmo pote, podemos
ver pequenas diferenas entre os diagramas e isso foi interpretado corretamente como apenas
uma diferena de utilizao do mtodo de difrao de raios-x do p de ferro e no como uma
substncia diferente ou uma impureza na amostra de ferro.
5. REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS

[1] D. B. Cullity. Elements of X-Ray Difraction. 2th Ed.
[2] Dr. Henrique Kahn. Difrao de raios-x.