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Avaliao da Qualidade de Energia Eltrica S.M.Deckmann e J . A.

Pomilio
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2. Tratamento estatstico de sinais aleatrios

At aqui se considerou que os sinais, no domnio do tempo, eram peridicos. Vai-se tratar
agora de sinais no-peridicos, para descrever uma aplicao com sinais aleatrios.
Um problema tpico com variveis eltricas verificar se uma determinada grandeza viola
um limite pr-fixado por mais de alguma frao do tempo de observao.
Esse problema ocorre, por exemplo, com as flutuaes de tenso em redes de distribuio
que alimentam cargas variveis. Dependendo da faixa de freqncias dessas flutuaes e da
amplitude das variaes, podem ocorrer problemas que afetam outras cargas e consumidores.
Por exemplo, se as flutuaes ocorrerem na faixa 0-30Hz, poder ocorrer o fenmeno da
cintilao luminosa ("lamp flicker"), que o incmodo visual provocado pela variao da
luminosidade das lmpadas devido s variaes da tenso. O problema torna-se crtico em algumas
instalaes porque uma flutuao sustentada de apenas 0,2% da tenso em torno de 9Hz torna-se
perceptvel como efeito flicker no sistema de iluminao.
Uma maneira simples de se constatar esse efeito atravs da modulao da amplitude da
tenso.

Figura 2.1 Tenso modulada senoidalmente.

No caso de um sinal modulado senoidalmente, a expresso da tenso resultante dada por:
] sen . 1 [ sen ) ( t m t V t v
m p
+ =

onde
p
=freqncia da portadora (2 .fp)

m
=freqncia da modulante (2.fm)
m =
V
V
=ndice de modulao 0 m 1;

Na prtica, o sinal modulante varia em amplitude e freqncia em decorrncia da variao
aleatria das diversas cargas do sistema. O tratamento da envoltria da tenso, chamada tenso de
flutuao V
f
nessas condies torna-se mais complexo.
Variaes mais elevadas na tenso podem afetar dispositivos sensveis como
microcomputadores, equipamentos hospitalares, instrumentos de medio, etc.
As normas prevem limites para essas variaes, tanto em termos de "flicker" como de sub- e
sobretenso, e da durao dos eventos.
Vamos supor que so dados os limites mximo (Vmax) e mnimo (Vmin) da tenso e a
durao relativa (1%) que esses limites podem ser violados.
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Figura 2.2 Flutuaes aleatrias dos valores eficazes da tenso.


V
ref

T
2

T
3
T
4
T
5

V
max

V
min

T
1

0
To
t

Figura 2.3 Intervalo de observao

Para o limite mnimo queremos saber se a durao da violao menor que 1% do intervalo
de observao, ou seja:


T T T T
To
1 3 4 5
100 1%
+ + +
< .

e, para o limite mximo, se:
T
To
2
100 1% . <

Pode-se desejar saber tambm qual a tenso mdia do perodo de observao. Atravs do
registro grfico do nvel da tenso se poderia obter essas respostas, porm o trabalho para extrair
essa informao analgica seria enorme. Esse um problema tpico para se resolver digitalmente.

2.1 Processo de amostragem e classificao
Para automatizar a soluo desse problema, pode-se montar um procedimento baseado nas
seguintes etapas:

Etapa 1 - Discretizar a faixa de valores da grandeza que ser avaliada em nveis.
Nesta anlise, o nmero de nveis de discretizao afeta a preciso do resultado de
classificao, de modo que se deve definir o nmero de nveis em funo do erro mximo que se
admiti na classificao.
Por exemplo, se se quer erro de discretizao menor ou igual a 1%, usa-se, no mnimo, 100
nveis de classificao.

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3
0
n =100
1
t

Figura 2.4 Discretizao por nveis.

O PRODIST, no que se refere verificao da tenso de atendimento, estabelece faixas (cujo
valor absoluto depende do nvel de tenso), de modo que a verificao se d em relao
quantificao da violao de cada limite.



Tenso de Referncia (TR);
Faixa Adequada de Tenso (TR ADINF, TR +ADSUP);
Faixas Precrias de Tenso (TR +ADSUP, TR +ADSUP +PRSUP ou
TR ADINF PRINF, TR ADINF);
Faixas Crticas de Tenso (>TR +ADSUP +PRSUP ou
<TR ADINF PRINF);
Figura 2.5 Limites de tenso de atendimento segundo o PRODIST

Etapa 2 - Amostrar o sinal em intervalos iguais de tempo t
A escolha de t se baseia em dois princpios:
i - freqncia mxima que se deseja discriminar;
ii - nmero mximo de amostras que se deseja obter.
A freqncia mxima observvel corresponde a:
t 2
1
f
max

= (Teorema da amostragem)
e o nmero mximo de amostras resultantes portanto ser:
t
T
N
o

=
0
n =100
1
1
N
t

Figura 2.6 Discretizao temporal (amostragem).
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O PRODIST estabelece que o conjunto de leituras para gerar os indicadores individuais deve
compreender o registro de 1008 leituras vlidas, obtidas em intervalos consecutivos (perodo de
integralizao) de 10 minutos cada, salvo as que eventualmente sejam expurgadas (por erros de
medio ou outras circunstncias estabelecidas no documento). No intuito de se obter 1008 leituras
vlidas, intervalos adicionais devem ser agregados, sempre consecutivamente.
Os valores eficazes devem ser calculados a partir das amostras coletadas em janelas
sucessivas. Cada janela compreender uma seqncia de doze ciclos (0,2 segundos) a quinze ciclos
(0,25 segundos).
Aps a obteno do conjunto de leituras vlidas, quando de medies oriundas por
reclamao ou amostrais, devem ser calculados os ndices de durao relativa da transgresso para
tenso precria (DRP) e o para tenso crtica (DRC) de acordo com as seguintes expresses:


Onde nlp e nlc representam o maior valor entre as fases do nmero de leituras situadas nas faixas
precria e crtica, respectivamente.

Etapa 3 - Classificar as amostras em funo dos nveis discretizados
Uma outra maneira de verificar, graficamente, as violaes feito a partir do "histograma de
ocorrncias". Isso corresponde a contar o nmero de vezes em que cada nvel observado,
eliminando-se a varivel temporal.
O histograma mostra qual a distribuio das observaes sobre os diferentes nveis de
discretizao. Notar que se perdeu o vnculo temporal das amostras, ou seja, no se sabe mais
quando cada amostra foi observada.


0 n
1 2 3
Nveis
No.
Observaes

Figura 2.7 Histograma de observaes por nvel.

Etapa 4 - Normalizar o histograma
Como a soma do contedo de todas as classes deve ser igual ao nmero total de observaes,
ou seja:
n N
i
i
n
=

=
1

A normalizao do histograma consiste em dividir todos os valores por N, resultando:
n
N
i
i
n

=
1
1
Dessa forma podemos interpretar o histograma normalizado como sendo a curva de
distribuio das freqncias (duraes) estatsticas dos nveis da tenso amostrada.

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Etapa 5 - Obter a curva das freqncias acumuladas
A soma acumulada das freqncias normalizadas produz a curva de probabilidade de "estar
abaixo" de um dado nvel i: FA
n
N
i
i
i
=

1


0 n 1 2 3
Nveis i
FA
i

1.0
i
10%

Figura 2.8 Funo Acumulativa de Probabilidades

A interpretao de "estar abaixo" decorre do fato de que qualquer valor de FA
i
expressa a
probabilidade de uma amostra estar abaixo do nvel i, e, portanto, uma curva de violao de
limites mnimos.

Etapa 6 - Obter a curva complementar
A funo cumulativa complementar dada por: FAC FA
i i
= 1
e, portanto, assume a forma complementar da curva anterior:
Essa curva interpretada como probabilidade de "estar acima", e por isso uma curva de
violao de limites mximos. O valor de FAC
i
expressa a probabilidade de uma amostra estar acima
do nvel i, ou de ultrapassar o limite i.


0 n 1 2 3
Nveis i
FAC
i
1.0
10%
i

Figura 2.9 Funo acumulativa complementar

Etapa 7 - Determinao de pontos de teste
Como a discretizao produz curvas descontnuas (degraus), necessrio utilizar
interpolaes para se testar os limites fixados.
Uma outra possibilidade consiste em suavizar as curvas por linearizao ou aproximao por
polinmios para fazer o teste de limites:

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0 Max
Min Nveis i
FAC
i
100%
50%
Med

Figura 2.10 Funo complementar suavizada.

A determinao dos nveis Max e Min quase imediata (pontos extremos). O nvel mdio
(Med) tambm pode ser obtido com facilidade.
Uma vez que a amostragem foi feita com intervalos regulares de tempo t, pode-se relacionar
diretamente o nmero de amostras com o tempo de observao. Assim a frao de amostras que
ultrapassam um certo nvel mede tambm a frao do tempo que durou essa violao:

x
t
T
n t
N t
n
N
viol
o
viol viol
% .
.
.
. . = = = 100% 100% 100%



2.2 Exemplo:
Uma classe de 100 alunos apresenta a seguinte distribuio de alturas:
1,50-1,60m 5% 1,60-1,70m 49% 1,70-1,80m 37%
1,80-1,90m 8% 1,90-2,00m 1%
a) Supondo representao central por classe, estimar a altura mdia da turma;
b) Estimar a altura ultrapassada por 10% dos alunos usando interpolao linear;
c) Qual a altura que no alcanada por 10% dos alunos?

Soluo
1) Histograma de distribuio dos alunos por altura:

1,5 1,6 1,7 1,8 1,9 2,0
5%
49%
37%
8%
1%
altura


a) Mdia ponderada

h
h p
p
m
med
i i
i
= =
+ + + +
=

. %
%
, . , . , . , . , .
,
1 55 5 1 65 49 175 37 1 85 8 1 95 1
100
1701

b) Funo acumulativa
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7
1,5 1,6 1,7 1,8 1,9 2,0
5%
99%
91%
54%
altura
100%


Verificamos que os 10% de alunos mais altos tem altura entre 1,65 e 1,75m. Fazendo
interpolao linear entre os pontos mdios dessas classes temos:
1,65 1,75
54
91
90
x



x
0 10
90 54
91 54
36
37 ,
=

= x = =
3 6
37
0 0973
,
,
Portanto a altura ultrapassada pelos 10% mais altos vale: h m
10
1 65 0 0973 17473
+
= + = , , ,

c) Os 10% alunos mais baixos:
1.55 1.65
5
54
10
y

Neste caso, tem-se:


49
5
5 54
5 10
1 , 0
=

=
y

y = = 0 1
5
49
0 005 , . ,
h m
10
1 55 0 005 1 555

= + = , , ,

Notar que a hiptese de representar cada classe pelo valor mdio pode afetar bastante o
resultado, principalmente quando so poucas as classes. Porm, quando o nmero de classes
aumenta, esse erro diminui.

2.3 Exemplos de medies
As figuras a seguir mostram resultados de medies em uma subestao. No primeiro caso
tem-se a tenso de uma fase (valor eficaz) e a correspondente funo cumulativa complementar.
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Pode-se verificar, facilmente, a probabilidade de um nvel de tenso estar acima de um certo valor.


Figura 2.11 Valor eficaz de tenso e funo cumulativa complementar.

No exemplo que segue, a varivel considerada a DHT da tenso. A distoro mnima de
1.1%, enquanto a mxima de 3,2%. A probabilidade de ter uma DHT maior que 3% de 2,5%.


Figura 2.12 DHT da tenso e correspondente FAC.

No que se refere avaliao de distoro harmnica da tenso, o PRODIST estabelece a
seguinte Metodologia de Medio:
Os sinais a serem monitorados devem ser tratados no domnio do tempo, empregando para
tanto sistemas de medio baseados em tecnologia com microprocessadores e capacidade de
armazenamento compatvel aos requisitos impostos pelos bancos de dados definidos pelos
protocolos de medio.
Em se tratando de sistemas trifsicos, as medies devem ser feitas atravs das tenses fase-
neutro para sistemas estrela aterrada e fase-fase para as demais.
A medio dever dirigir-se a sinais eltricos de natureza quase-estacionria, empregando-
se para tanto protocolos de medio estruturados de acordo com a tabela a seguir.
Ao final do intervalo semanal de monitorao, para cada tenso analisada, ser obtido um
conjunto de 7 valores representativos da distoro harmnica total e das distores
harmnicas individuais. Dentre este conjunto de resultados, ser selecionado aquele de maior
valor para representar o resultado final. Este ser ento comparado com os ndices de
referncia estabelecidos.

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Tabela 2.1 Protocolo de medies: intervalos de medio


O tratamento dado pelo PRODIST para a obteno do indicador, diferentemente do mostrado
na figura anterior, no toma diretamente os valores calculados, mas sim, de acordo com a Tabela 2.1.
Das 144 amostras de curta durao (T
C
), so descartadas as 5% maiores, ou seja, elevadas
distores que aconteam em curtos intervalos de tempo no so consideradas.
O maior destes valores a cada dia caracteriza um dos valores que compe os dados para
anlise do intervalo semanal. O maior dos 7 valores obtidos ser, ento, comparado com o ndice de
referncia.
Note-se que, desta forma, o valor tomado para comparao foi ultrapassado pelo menos por
5% do tempo, em um dia, o limite.
A figura a seguir ilustra, para um perodo de 24 horas, os valores mdio e de P95% da
distoro harmnica total de tenso medida em uma subestao. A figura mostra ainda uma faixa
com de valores indicando um desvio padro a mais ou a menos nos valores. Note que a curva de
P95% est acima deste limite de um desvio padro. Os valores mximos medidos em cada intervalo
de 10 minutos, obviamente, esto acima da curva P95%.
95% das medies estiveram abaixo dos valores indicados na curva verde (o que equivale a
dizer que 5 % estiveram acima deste limite).


Figura 2.13
1
Perfil dirio de DHT da tenso.

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Andr Luis Zago de Grandi, J ules Renato V. Carneiro, Caracterizao das Distores Harmnicas de
Tenso em Circuitos Secundrios de Baixa Tenso, CBQEE 2009, Blumenau, 2009.

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