000373475

MINISTRIO DA EDUCAO
UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO SUL

PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM ENGENHARIA MECNICA
MEDIO DE DESLOCAMENTO ATRAVS DE SENSORES

MAGNETORESISTIVOS APLICADA AO MOVIMENTO MANDIBULAR
JEANINE MARCHIORI DA LUZ
TESE PARA OBTENO DO TTULO DE DOUTOR EM ENGENHARIA
Porto Alegre, 20 de dezembro de 2002
MEDIO DE DESLOCAMENTO ATRAVS DE SENSORES

MAGNETORESISTIVOS APLICADA AO MOVIMENTO MANDIBULAR
por
JEANINE MARCHIORI DA LUZ

Mestre em Engenharia Eltrica
Dissertao submetida ao Corpo Docente do Programa de Ps-Graduao em Engenharia

Mecnica, PROMEC, da Escola de Engenharia da Universidade Federal do Rio Grande do Sul,
como parte dos requisitos necessrios para a obteno do Ttulo de
Doutor em Engenharia
rea de Concentrao: Mecnica dos Slidos
Orientador: Prof. Dr. Milton Antnio Zaro
Comisso de Avaliao:
Prof. Dr. Dario Francisco Guimares de Azevedo
Prof. Dr. Ignacio Iturrioz
Prof. Dr. Marco Tllio Menna Barreto de Vilhena
Prof. Dr. Rosa Leamar Dias Blanco
Prof. Dr. Alberto Tamagna

Coordenador do PROMEC
Porto Alegre, 20 de dezembro de 2002.
ii
DEDICATRIA
Ao Lucas, Jeancarlo e Marco
iii
AGRADECIMENTOS
A generosidade uma das maiores virtudes e a injustia uma das piores atitudes dos seres
humanos.
O desenvolvimento deste trabalho foi longo e envolveu instituies, pessoas e recursos.
Preocupada em no ser injusta e para demonstrar o meu reconhecimento, registro os meus
agradecimentos:
- Pontifcia Universidade Catlica do Rio Grande do Sul pela oportunidade deste crescimento
profissional;
- Universidade Federal do Rio Grande do Sul, aos professores do PROMEC, ao pessoal de
apoio, ao Paulo e a Helen;
- Ao professor Milton Antnio Zaro pela orientao, pacincia, apoio e estmulo constantes;
- Ao IPCT Instituto de Pesquisa Cientficas e Tecnolgicas da PUCRS que forneceu todo o
suporte necessrio na rea de Mecnica de Preciso e Eletrnica, atravs do Engenheiro Carlos
Schossler, Mario Vian e Glademir da Silva Pinto cuja participao e comprometimento foram
fundamentais para a obteno dos resultados prticos;
- Aos professores da PUCRS Lus Fernando Alves Pereira e Pablo Spiller, pelo importante apoio
na infraestrutura de aquisio de dados; Lus Alberto Pereira pelo apoio computacional; Lus
Gustavo Longhi, pelo auxlio na definio do mtodo de identificao e ao colega e amigo
Flvio Becon Lemos pela solidariedade demonstrada no decorrer do trabalho.
- A direo da FENG, a coordenao do DEE e aos colegas professores e funcionrios da
PUCRS pela compreenso e apoio dados manifestados de diversas maneiras e durante todo o
tempo;
- Aos amigos pelo conforto e estmulo dedicados;
- Ao carinho dos meus pais Almir e Ieda, dos meus irmos Josiane, Jeferson, Josele e James que
sempre acreditaram e estiveram comigo;
- Ao Lucas, Jeancarlo e Marco, pela presena na minha vida, pela pacincia e amor.
iv
RESUMO
Neste trabalho apresentado um mtodo para medio de deslocamentos sem contato,
utilizando sensores magnetoresistivos, os quais so sensibilizados pela variao do campo
magntico produzido por um im permanente em deslocamento no espao. Os sensores
magnetoresistivos possuem, internamente, uma ponte de Wheathestone, onde a resistncia varia
conforme varia o campo magntico, de modo que o circuito mais indicado para este caso um
amplificador e um filtro para cada sensor. O principal objetivo do trabalho a obteno de uma
tcnica para medir deslocamentos sem contato, e estender os resultados para medida de
movimentos mandibulares. A montagem consiste de duas placas de celeron, distantes 30mm uma
da outra e unidas por parafusos de polietileno. Em cada uma destas placas foram dispostos
quatro sensores, num total de oito, sendo que para cada um deles existe um circuito de
amplificao e filtragem do sinal de sada. Sob uma chapa de alumnio foi fixado este
equipamento e uma mesa de calibrao em 3D, a qual, aps a obteno da matriz de calibrao,
foi substituda por um emulador de movimento mandibular. Os parmetros do modelo foram
estimados atravs do mtodo dos mnimos quadrados com auxlio do software Matlab, Release
12. Este software tambm foi utilizado para o sistema de aquisio de dados durante a realizao
dos experimentos. A impreciso dos resultados obtidos na determinao dos deslocamentos, est
na ordem de dcimos de milmetros. O trabalho apresenta, tambm, o mapeamento do campo
magntico do magneto utilizado nos experimentos atravs do software FEM2000 Mtodo de
elementos finitos aplicado ao eletromagnetismo.
ABSTRACT
In this work we present a method to measure the movement in three dimensions (3D) without
contact, using magnetoresistive sensors. These sensors are activated by the variation of a
magnetic field from a permanent magnet moving around the spatial region of interest. The
magnetoresistive sensor has a Wheathestone bridge built in, where the resistance varies
according to the magnetic field. Thus, the indicated circuit for this case is composed by an
amplifier and a filter for each sensor.
The main objective of the work is the attainment of a technique to measure systems without
contact and to extend the results to measure mandible movements. The experimental system is
composed by two celeron boards 30 mm apart connected by polythene screw. Four sensors were
allocated on each board, totalling 8 sensors in the whole system. For each sensor, an
amplification and filtering circuit was inserted. This equipment was assembled on an aluminium
metal sheet fixed and a 3D calibration table, which after to get the calibration matrix, was
replaced by a emulator of mandibular movement. The parameters of the empirical model were
estimated using the classical discrete least square method with the help of the software
MATLAB, Release 12. This software was also used for data acquisition during the
experiments. The results of the parameter estimation were accurate to tenth of a milimeter.
This work also shows the distribution of the magnetic field of the magnet used to activate the
sensors, using Finite Element Methods - Fem2000.
vi
NDICE
Pg.
CAPTULO I..................................................................................................................................1
INTRODUO .......................................................................................................................1
1.1 - CONSIDERAES GERAIS ................................................................................................1
1.2 - OBJETIVO........................................................................................................................2
1.3 - MOTIVAO DO TRABALHO ............................................................................................3
1.4 - ORGANIZAO DO TRABALHO........................................................................................4
CAPTULO II ................................................................................................................................6
REVISO BIBLIOGRFICA ................................................................................................6
CAPTULO III ............................................................................................................................16
ANATOMIA FUNCIONAL E A BIOMECNICA DO SISTEMA MASTIGATRIO .................................16
3.1 - INTRODUO ................................................................................................................16
3.2 - COMPONENTES ESQUELTICOS DO SISTEMA MASTIGATRIO .....................................16
3.2.1 - Articulao Temporo-Mandibular..................................................................18
3.3 - MSCULOS DA MASTIGAO .......................................................................................19
3.4 - BIOMECNICA DA ARTICULAO TEMPORO-MANDIBULAR .........................................21
3.4.1 - Disfunes do Conjunto Temporo-Mandibular .............................................24
3.4.2 - Sinais e Sintomas das Disfunes Temporo-Mandibular...............................24
3.4.3 - Causas das Disfunes Temporo-Mandibulares ............................................26
CAPTULO IV.............................................................................................................................29
SISTEMA DE MEDIO UTILIZANDO SENSORES MAGNETORESISTIVOS .....................................29
4.1 - INTRODUO ................................................................................................................29
4.2 - MONTAGEM DO SISTEMA ORIGINAL ..............................................................................30
4.2.1 - Disposio dos sensores .................................................................................30
4.2.2 - Circuito de condicionamento..........................................................................31
4.3 -
MONTAGEM ATUAL .......................................................................................................32
4.3.1 - Primeira montagem ........................................................................................32

4.3.1.1 - Disposio dos sensores ..................................................................32
4.3.1.2 - Circuito de condicionamento...........................................................33
vii
4.3.2 - Segunda montagem ........................................................................................35

4.3.2.1 - Disposio dos sensores ..................................................................35
4.3.2.2 - Segundo circuito de condicionamento ............................................36
4.3.2.3 - Terceiro circuito de condicionamento.............................................38
4.4 -
AQUISIO DE DADOS ...................................................................................................42
4.4.1 - Sistema original ..............................................................................................42

4.4.2 - Sistema atual...................................................................................................42
4.5 -
METODOLOGIA UTILIZADA ............................................................................................42
4.5.1 - Torre de calibrao .........................................................................................43

4.5.2 - Emulador de movimento mandibular .............................................................47
4.5.3 - Sistema completo ...........................................................................................53
4.6 - MONTAGEM DA MATRIZ DE CALIBRAO .....................................................................57
4.7 -
CONCLUSO ..................................................................................................................58
- Aproximao de placas .............................................................................................58

- Mudana do ngulo entre os sensores .......................................................................58
- Tipos de sensores.......................................................................................................58
- Conversor A/D ..........................................................................................................58
CAPTULO V ..............................................................................................................................59
MODELAGEM MATEMTICA PARA ESTIMAO DE PARMETROS .............................................59
5.1 - INTRODUO ................................................................................................................59

5.2 - MTODO DOS MNIMOS QUADRADOS............................................................................60
5.3 -
CONCLUSO ..................................................................................................................66
CAPTULO VI.............................................................................................................................67
PROCESSAMENTO DE SINAIS ....................................................................................................67
6.1 - INTRODUO ................................................................................................................67

6.2 -
CARACTERSTICAS ESTTICAS.......................................................................................67
6.2.1 6.2.2 6.2.3 6.2.4 6.2.5 6.2.6 6.2.7 6.2.8 6.2.9 -
Impreciso ......................................................................................................67
Exatido..........................................................................................................68
Resoluo .......................................................................................................68
Repetibilidade.................................................................................................70
Controle Estatstico ........................................................................................73
Ajuste de Zero (Zero Drift) ............................................................................80
Ajuste da Sensibilidade ..................................................................................82
Linearidade.....................................................................................................84
Limites de entrada (Input ranges)...................................................................91
viii
6.2.10 - Impedncia de Entrada ...................................................................................91

6.3 -
CONCLUSO ..................................................................................................................92
CAPTULO VII ...........................................................................................................................93

RESULTADOS OBTIDOS.............................................................................................................93
7.1 - INTRODUO ................................................................................................................93

7.2 -
RESULTADOS OBTIDOS ..................................................................................................94
7.2.1 - Ponto Fixo ......................................................................................................94

7.2.2 - Deslocamento na Direo X...........................................................................97
7.2.3 - Deslocamento na Direo Y...........................................................................99
7.2.4 - Deslocamento na Direo Z .........................................................................101
7.2.5 - Deslocamento em Duas Direes (X Y) ...................................................103
7.2.6 - Deslocamento em Duas Direes (X Y) Simultaneamente........................106
7.2.7 - Deslocamento em Duas Direes (X Z)....................................................109
7.2.8 - Deslocamento em Duas Direes (X Z) Simultaneamente .......................111
7.2.9 - Deslocamento em Duas Direes (Y Z)....................................................112
7.2.10 - Deslocamento em Duas Direes (Y Z) Simultaneamente .......................114
7.2.11 - Deslocamento em 3 Direes (X Y Z) .........................................................115
7.2.12 - Movimentos Diversos...................................................................................117
7.2.12.1 - Deslocamento com parafusos nos eixos X e Z com
movimentos repetitivos de ir e vir.................................................117
7.2.12.2 - Deslocamento de 1mm em cada eixo e tentar retornar ao
ponto inicial...................................................................................119
7.2.12.3 - Deslocamento de 1mm em cada eixo e depois retornar ao
ponto inicial...................................................................................120
7.2.12.4 - Deslocamento manual (sem parafusos) no eixo Z
movimento de subida e descida.....................................................122
7.2.12.5 - Deslocamento de 5mm somente no eixo X...................................123
7.3 - DETERMINAO DA IMPRECISO ................................................................................125
7.4 - MOVIMENTO MANDIBULAR ........................................................................................132
7.5 - CONCLUSO ...............................................................................................................134
CAPTULO VIII........................................................................................................................135
CONCLUSES E SUGESTES DE CONTINUIDADE......................................................................135
8.1 - INTRODUO ..............................................................................................................135

8.2 - CONCLUSES ..............................................................................................................135
8.3 - SUGESTES DE CONTINUIDADE ...................................................................................136
ix
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS ....................................................................................138

APNDICE I..............................................................................................................................142
ELETROMAGNETISMO E CLCULO DE CAMPO.........................................................142
1.1 - INTRODUO ..............................................................................................................142
1.2 - CONCEITOS FUNDAMENTAIS .......................................................................................144
1.2.1 - Magnetismo ...................................................................................................144
1.2.2 - Campo Magntico e Induo Magntica.......................................................145
1.2.3 - Fluxo Magntico............................................................................................145
1.2.4 - Magnetostrico ............................................................................................145
1.2.5 - Materiais magnticos.....................................................................................145
1.2.5.1 - Materiais moles .............................................................................146
1.2.5.2 - Materiais duros ..............................................................................150
1.2.5.3 - Principais tipos de Ims permanentes ...........................................153
1.3 - CLCULO DE CAMPO MAGNTICO..............................................................................154
1.3.1 - Equaes de Maxwell....................................................................................154
1.3.1.1 - Equaes de Maxwell na magnetosttica......................................157
1.3.1.2 - Equao de Poisson no Plano........................................................158
1.3.2 - Condies de Contorno .................................................................................161
1.3.2.1 - Condio de Contorno de Dirichlet...............................................162
1.3.2.2 - Condio de Contorno Neumann ..................................................162
1.3.2.3 - Problemas de Valores de Contorno ou Problemas de
Potencial ........................................................................................163
1.3.3 - Aproximao de Funes pelo Mtodo de Galerkin .....................................163
1.3.3.1 - Discretizao do Domnio .............................................................164
1.3.3.2 - Equaes Discretas........................................................................166
1.4 - RESULTADOS DE CLCULO DE CAMPO ATRAVS DO FEM2000....................................172
1.4.1 - Definio da geometria - Mdulo*.DES.......................................................174
1.4.2 - Definio de materiais e condio de contorno - Mdulo*.DAT .................175
1.4.3 - Processo de clculo Mdulo *.MESH........................................................177
1.5 - CONCLUSO ...............................................................................................................182
APNDICE II ............................................................................................................................185
SENSORES MAGNTICOS ..............................................................................................185
2.1 - INTRODUO ..............................................................................................................185
2.2 - SENSOR DE EFEITO HALL ............................................................................................185
2.2.1 - Teoria do efeito Hall.....................................................................................186
2.2.2 - Caractersticas bsicas ..................................................................................187
2.2.2.1 - Sensibilidade absoluta ...................................................................188
2.2.2.2 - Offset equivalente a Induo Magntica .......................................188
x
2.2.2.3 - Rudo equivalente de Induo Magntica .....................................188

2.2.2.4 - Sensibilidade a fatores externos ....................................................188
2.2.2.5 - No linearidade..............................................................................189
2.2.2.6 - Estabilidade ...................................................................................190
2.2.2.7 - Funo de transferncia.................................................................190
2.2.3 - Sensor de efeito Hall digital .........................................................................191
2.2.3.1 - Funo de transferncia.................................................................192
2.2.3.2 - Caractersticas bsicas...................................................................193
2.2.4 - Aplicaes tpicas.........................................................................................194
2.3 - FLUXGATES ................................................................................................................194
2.3.1 - Princpio de operao ...................................................................................195
2.4 - SENSORES BASEADOS EM MATERIAL AMORFO ............................................................197
2.4.2 - Aplicaes ....................................................................................................198
2.5 - SQUIDS.....................................................................................................................201
2.5.1 - Supercondutividade ......................................................................................201
2.5.2 - Efeito Meissner e quantificao do fluxo.....................................................202
2.5.3 - O efeito Josephson........................................................................................204
2.5.4 - Caractersticas construtivas ..........................................................................206
2.5.5 - Medio de campos magnticos com SQUIDs ............................................207
2.5.6 - Medio de grandezas eltricas utilizando SQUIDS e o efeito
Josephson......................................................................................................207
2.6 - SENSORES MAGNETORESISTIVOS ................................................................................208
2.6.1 - Fundamentos do sensor ................................................................................208
2.6.2 - Sensores magnetoresistivos Philips..............................................................211
2.6.4 - Aplicaes ....................................................................................................219
2.6.5 - Exemplos de aplicaes de medidas de posio...........................................223
2.7 - CONCLUSO ...............................................................................................................227
xi
NDICE DE FIGURAS
Pg.
Figura 2.1- Esquema proposto por Siegler. .....................................................................................9
Figura 2.2 - Axiografia apresentada por Piehslinger.....................................................................10
Figura 2.3 - Sirognatgrafo utilizado por Tallents et al. ..............................................................11
Figura 2.4 - Medio atravs do som da ATM..............................................................................12
Figura 2.5 - Mtodo de visualizao proposto por Hayasaki et al ...............................................13
Figura 2.6 - Aparelho da Myo-Tronics para medir movimentos mandibulares. ...........................15
Figura 3.1 - Arquitetura geral do crnio. .......................................................................................17

Figura 3.2 - Vista lateral do sistema mastigatrio. ........................................................................18
Figura 3.3 - Esquema da ATM. .....................................................................................................19
Figura 3.5 - Msculos da mastigao. ...........................................................................................21
Figura 3.6 - Biomecnica da ATM................................................................................................23
Figura 3.7 - Disfuno na mandbula em funo do tamanho da lngua. ......................................25
Figura 3.8 - Tipos de perfis em funo do posicionamento da mandbula....................................26
Figura 3.9 - Exemplos de disfuno na ATM. ..............................................................................28
Figura 4.1 - Esquema da montagem do circuito............................................................................30

Figura 4.2 - Dispositivo de calibrao em 2D. ..............................................................................31
Figura 4.3 - Circuito para amplificao e filtragem. .....................................................................32
Figura 4.4 - Coroa de Sensores de acrlico. ...............................................................................33
Figura 4.5 - Primeiro circuito de condicionamento de sinal..........................................................34
Figura 4.6 - Coroa de Sensores de celeron.................................................................................36
Figura 4.7 - Segundo circuito de condicionamento de sinal..........................................................37
Figura 4.8 - Terceiro circuito de condicionamento de sinal. .........................................................39
Figura 4.9 - Sistema de medio (Coroa de Sensores) Vista frontal. ........................................40
Figura 4.10 - Sistema de medio (Coroa de Sensores) com o terceiro circuito de
condicionamento de sinal.........................................................................................40
Figura 4.11 - Torre de calibrao. .................................................................................................44
Figura 4.12 - Projeto da Torre de Calibrao - Vista frontal.........................................................45
Figura 4.13 - Projeto da Torre de Calibrao - Vista lateral. ........................................................46
Figura 4.14 - Projeto da Torre de Calibrao - Vista superior. .....................................................47
Figura 4.15 - Emulador de Movimento Mandibular - Vista frontal. .............................................48
Figura 4.16 - Emulador de movimento mandibular - Vista lateral................................................49
Figura 4.17 - Emulador de movimento mandibular - Vista interna...............................................49
Figura 4.18 - Projeto do Emulador de Movimento Mandibular - Vista frontal.............................50
Figura 4.19 - Projeto do Emulador de Movimento Mandibular Planta. .....................................51
Figura 4.20 - Projeto do Emulador de Movimento Mandibular - Vista lateral. ............................52
Figura 4.21 - Estrutura externa e interna do Emulador de Movimento Mandibular. ....................53
Figura 4.22 - Sistema completo do Sistema de Calibrao - Vista frontal....................................54
Figura 4.23 - Sistema completo do Sistema de Calibrao - Vista lateral. ...................................54
Figura 4.24 - Sistema completo do Sistema de Calibrao - Vista superior. ................................55
Figura 4.25 - Sistema de Medio de Movimento Mandibular - Vista lateral. .............................55
Figura 4.26 - Sistema de Medio de Movimento Mandibular - Vista frontal. ............................56
Figura 4.27- Sistema de Medio de Movimento Mandibular - Vista lateral - boca fechada. ..56
Figura 4.28 - Sistema de Medio de Movimento Mandibular - Sistema desacoplado. ...............57
xii
Figura 5.1 - Curva de operao do Sensor 1..................................................................................61

Figura 6.1 - Deslocamento no eixo X entre 10 e 15mm com Y= Z=15mm..................................71

Figura 6.2 - Valores de Y =15mm em funo do deslocamento no eixo X entre 10 e 15 mm e
Z=15mm....................................................................................................................72
Figura 6.3 - Valores de Z =15mm em funo do deslocamento no eixo X entre 10 e 15 mm e
Y=15mm. ..................................................................................................................73
Figura 6.4 - Valores de X =15mm em funo do deslocamento no eixo Y entre 10 e 15 mm e
Z=15mm....................................................................................................................75
Figura 6.5 - Deslocamento no eixo Y entre 10 e 15 mm com X=Z=15mm..................................76
Figura 6.6 - Valores de Z =15mm em funo do deslocamento no eixo Y entre 10 e 15 mm e
X=15mm. ..................................................................................................................77
Figura 6.7 - Valores de X=15mm em funo do deslocamento no eixo Z entre 10 e 15 mm e
Y=15mm. ..................................................................................................................78
Figura 6.8 - Valores de Y=15mm em funo do deslocamento no eixo Z entre 10 e 15 mm e
X=15mm. ..................................................................................................................79
Figura 6.9 - Deslocamento no eixo Z entre 10 e 15 mm com X=Y=15mm..................................80
Figura 6.10 - Variao da sensibilidade do sensor KMZ10B com a temperatura.........................83
Figura 6.11 - Valores mdios estimados em 5 aquisies.............................................................90
Figura 7.1 - Deslocamento do magneto na direo X Y Z em funo do tempo (Ponto fixo)......94

Figura 7.2 - Detalhe do rudo no deslocamento no eixo X............................................................95
Figura 7.3 - Detalhe do rudo no deslocamento no eixo Y............................................................95
Figura 7.4 - Detalhe do rudo no deslocamento no eixo Z. ...........................................................96
Figura 7.5 - Ponto fixo - escala ampliada......................................................................................96
Figura 7.6 - Ponto fixo...................................................................................................................97
Figura 7.7 - Deslocamento do magneto na direo X em funo do tempo..................................98
Figura 7.8 - Deslocamento na direo X em 3D - escala ampliada...............................................98
Figura 7.9 - Deslocamento na direo X em 3D. ..........................................................................99
Figura 7.10 - Deslocamento do magneto na direo Y em funo do tempo..............................100
Figura 7.11 - Deslocamento na direo Y em 3D. ......................................................................100
Figura 7.12 - Deslocamento na direo Y em 3D. ......................................................................101
Figura 7.13 - Deslocamento do magneto na direo Z em funo do tempo. .............................102
Figura 7.14 - Deslocamento na direo Z em 3D........................................................................102
Figura 7.15 - Deslocamento na direo Z em 3D........................................................................103
Figura 7.16 - Deslocamento do magneto na direo X Y em funo do tempo.........................104
Figura 7.17 - Detalhe do rudo no deslocamento no eixo X........................................................105
Figura 7.18 - Detalhe do rudo no deslocamento no eixo Y........................................................105
Figura 7.19 - Detalhe do rudo no deslocamento no eixo Z. .......................................................106
Figura 7.20 - Deslocamento primeiramente em X e depois em Y com Z constante. ..................106
Figura 7.21 - Deslocamento simultneo do magneto na direo X Y em funo do tempo. ......107
xiii
Figura 7.22 - Detalhe do rudo no eixo X....................................................................................108

Figura 7.23 - Detalhe do rudo no eixo Y....................................................................................108
Figura 7.24 - Detalhe do rudo no eixo Z. ...................................................................................109
Figura 7.25 - Deslocamento na direo X Y em 3D. ..................................................................109
Figura 7.26 - Deslocamento do magneto na direo X Z em funo do tempo. .........................110
Figura 7.27 - Deslocamento na direo X Z em 3D....................................................................111
Figura 7.28 - Deslocamento simultneo do magneto em X Z em funo do tempo. ..................112
Figura 7.29 - Deslocamento na direo X Z simultaneamente em 3D........................................112
Figura 7.30 - Deslocamento do magneto na direo Y Z em funo do tempo. .........................113
Figura 7.31 - Deslocamento na direo Y Z em 3D....................................................................114
Figura 7.32 - Deslocamento simultneo do magneto em Y Z em funo do tempo. ..................115
Figura 7.33 - Deslocamento simultneo do magneto em Y Z em 3D. ........................................115
Figura 7.34 - Deslocamento simultneo do magneto em X Y Z em funo do tempo. ..............116
Figura 7.35 - Detalhe do rudo nos deslocamentos em X Y Z. ...................................................117
Figura 7.36 - Deslocamento do magneto em X Y Z em 3D........................................................117
Figura 7.37 - Deslocamento do magneto nos eixos X e Z no tempo...........................................118
Figura 7.38 - Deslocamento nos eixos X e Z em 3D...................................................................119
Figura 7.39 - Movimento de 1mm do magneto nos eixos X Y Z no tempo................................120
Figura 7.40 - Movimento de 1mm do magneto nos 3 eixos em 3D. ...........................................120
Figura 7.41 - Deslocamento de 1mm do magneto nos eixos X Y Z no tempo com retorno ao
ponto de partida. .....................................................................................................121
Figura 7.42 - Deslocamento de 1mm nos eixos X Y Z retornando ao ponto de partida em 3D. 122
Figura 7.43 - Deslocamento manual do magneto em movimentos de ir e vir sob o parafuso no
eixo Z. .....................................................................................................................123
eixo Z em 3D. .........................................................................................................123
Figura 7.45 - Deslocamento do magneto de 5mm no eixo X. .....................................................124
Figura 7.46 - Deslocamento do magneto de 5mm no eixo X em 3D. .........................................125
Figura 7.47 - Impreciso das medidas em 3D deslocamentos entre 0 e 25 mm.......................131
Figura 7.48 - Impreciso das medidas em 3D deslocamentos entre 0 e 23 mm.......................132
Figura 7.49 - Aquisio de dados do movimento mandibular ltimos 10 segundos................133
Figura 7.50 - Deslocamento no tempo.........................................................................................133
Figura 7.51 - Deslocamento em 3D.............................................................................................134
APNDICES
Figura 1.1a - Sistema de medio esquematizado mostrando as distncias mximas e

mnimas do magneto em relao a um dos sensores magnetoresistivos no
plano.......................................................................................................................142
Figura 1.2a - Anlise Geral de mtodos de anlise matemtica..................................................143
Figura 1.3a - Substncias diamagnticas.....................................................................................147
Figura 1.4a - Substncias paramagnticas...................................................................................148
Figura 1.5a - Substncias ferromagnticas. .................................................................................148
Figura 1.6a - Magneto no entreferro............................................................................................150
Figura 1.7a - Ciclo de funcionamento de um im. ......................................................................150
Figura 1.8a - Curva ideal de magnetizao de um magneto........................................................151
Figura 1.9a - Curva de definio de um magneto no segundo quadrante. ..................................152
xiv
Figura 1.10a - Curva B(H) de ims permanentes. .......................................................................154

Figura 1.11a - Esquema da diviso do eletromagnetismo. ..........................................................155
Figura 1.12a - Distribuio do campo magntico regido pela equao de Poisson e Laplace ....161
Figura 1.13a - Condio de contorno de Dirichlet. .....................................................................162
Figura 1.14a - Condio de contorno de Neumann. ....................................................................162
Figura 1.15a- Discretizao de um domnio simples em 6 subdomnios. ...................................165
Figura 1.16a- Domnio da Figura 1.12a aps ter sido discretizada (malha resultante). ..............166
Figura 1.17a - Tringulo genrico utilizado no equacionamento................................................168
Figura 1.18a - Distribuio de campo obtida pelo MEF. ............................................................172
Figura 1.19a - Fluxograma do FEM2000 ....................................................................................173
Figura 1.20a - Definio da zona de fronteira onde o campo magntico considerado nulo.....174
Figura 1.21a - Malha gerada........................................................................................................176
Figura 1.22a - Malha refinada ..................................................................................................177
Figura 1.23a - Induo magntica a 90mm do magneto (im no centro) malha original.........178
Figura 1.24a - Induo magntica a 72,33mm do magneto (im menor distncia)..................179
Figura 1.25a - Induo magntica a 107,67mm do magneto (im maior distncia).................179
Figura 1.26a - Induo magntica a 90mm do magneto (im no centro) malha refinada. .......180
Figura 1.27a - Induo magntica a 72,33mm do magneto (im menor distncia) malha refinada.......................................................................................................180
Figura 1.28a - Induo magntica a 107,67mm do magneto (im maior distncia) malha refinada.....................................................................................................181
Figura 1.29a - Variao de campo magntico nos sensores magnetoresistivos ..........................182
Figura 1.30a - Deslocamento do magneto no espao. .................................................................183
Figura 2.1a - Ilustrao do Efeito Hall. .......................................................................................185

Figura 2.2a - Sensor de efeito Hall. .............................................................................................186
Figura 2.3a - Funo de transferncia Sensor de efeito Hall analgico. ..................................190
Figura 2.4a - Sensor de efeito Hall com sada digital (Honeywell). ...........................................190
Figura 2.5a - Funo de transferncia de um sensor de efeito Hall com sada digital. ...............191
Figura 2.6a - Sensor de sada digital com transistor NPN...........................................................192
Figura 2.7a - Caractersticas de entrada para um sensor unipolar. ..............................................192
Figura 2.8a - Caractersticas de entrada para um sensor bipolar. ................................................193
Figura 2.9a - Fluxgate bsico. .....................................................................................................194
Figura 2.10a - Monitorao e Controle de trfego com sensores MI ..........................................200
Figura 2.11a - Parte de um supercondutor mostrando contornos de integrao (um inteiro
e outro com uma cavidade central). .....................................................................203
Figura 2.12a - Configurao bsica do transformador de fluxo. .................................................206
Figura 2.13a - Geometria de um sensor magnetoresistivo. .........................................................208
Figura 2.14a - Efeito magnetoresisivo no permalloy...................................................................211
Figura 2.15a - Configurao da ponte pelos resistores RT. ..........................................................212
Figura 2.16a - Caractersticas do sensor Philips..........................................................................213
Figura 2.17a - Sada do sensor como funo de um campo auxiliar Hx......................................214
Figura 2.18a - Variao da resistncia de um sensor KMZ10B com a temperatura. ..................214
Figura 2.19a - Variao da sensibilidade do sensor KMZ10B com a temperatura. ....................215
Figura 2.20a - Linearizao do efeito magnetoresistivo com tiras de alumnio..........................216
Figura 2.21a - Sada V0 do sensor como funo do campo transverso H para diversos valores de
campo auxiliar Hx..............................................................................................217
Figura 2.22a - Campo magntico num condutor. ........................................................................218
Figura 2.23a- Sada do sensor num campo magntico permanente. ...........................................219
Figura 2.24a - Sada do sensor num campo magntico muito forte. ...........................................220
xv
Figura 2.25a- Sensor magnetoresistivo como sensor de proximidade. .......................................221

Figura 2.26a - Sada do sensor como funo da distncia...........................................................221
Figura 2.27a - Medida de um ponto somente com um sensor KMZ10B PHILIPS.....................222
Figura 2.28a - Montagem para medida de posio com magneto FXD330. ...............................223
Figura 2.29a - Sada dos sensores com d=5mm e im de 10x15mm...........................................223
Figura 2.30a - Sada dos sensores com d=1mm e im de 4x5mm...............................................223
Figura 2.31a - Sensor perpendicular ao campo magntico..........................................................224
Figura 2.32a - Sada do sensor como funo do deslocamento...................................................225
Figura 2.33a - Sada do sensor como funo do deslocamento...................................................225
xvi
NDICE DE TABELAS
Pg.
Tabela 4.1 - Caractersticas de componentes eletrnicos. ........................................................ 34
Tabela 6.1 - Valores de tenso nos 8 sensores em funo de deslocamento no eixo X
com os parafusos nos eixos Y e Z fixos ............................................................... 69
Tabela 6.2 - Diferena de tenso entre 2 pontos distantes entre si de 1mm no eixo X
para os 8 sensores ................................................................................................. 69
Tabela 6.3 - Valores de deslocamentos no eixo X entre 10 e 15 mm com Y=Z=15mm.......... 71
Tabela 6.4 - Valores de Y =15mm em funo do deslocamento no eixo X entre 10 e
15 mm e Z=15mm ................................................................................................ 72
Tabela 6.5 - Valores de Z =15mm em funo do deslocamento no eixo X entre 10 e
15 mm e Y=15mm ................................................................................................ 73
Tabela 6.6 - Valores de X =15mm em funo do deslocamento no eixo Y entre 10 e
15 mm e Z=15mm ................................................................................................ 74
Tabela 6.7 - Valores de deslocamentos no eixo Y entre 10 e 15mm com X=Z=15mm........... 75
Tabela 6.8 - Valores de Z =15mm em funo do deslocamento no eixo Y entre 10 e
15 mm e X=15mm. ............................................................................................... 76
Tabela 6.9 - Valores de X =15mm em funo do deslocamento no eixo Z entre 10 e
15 mm e Y=15mm ................................................................................................ 77
Tabela 6.10 - Valores de Y =15mm em funo do deslocamento no eixo Z entre 10 e
15 mme X=15mm. ................................................................................................ 78
Tabela 6.11 - Valores de deslocamentos no eixo Z entre 10 e 15 mm com
X=Y=15mm.......................................................................................................... 79
Tabela 6.12 - Valores de tenso para a posio (15,20,20) mm 1a aquisio........................ 85
Tabela 6.13 - Valores calculados para (X,Y,Z) - 1a aquisio ................................................. 85
Tabela 6.22 - Valores mdios estimados nas 5 aquisies ....................................................... 90
Tabela 7.1 - Ponto fixo. ............................................................................................................ 94
Tabela 7.2 - Deslocamento no eixo X. ..................................................................................... 97
Tabela 7.3 - Deslocamento no eixo Y. ..................................................................................... 99
Tabela 7.4 - Deslocamento no eixo Z..................................................................................... 101
Tabela 7.5 - Deslocamento nos eixos X e Y........................................................................... 104
Tabela 7.6 - Deslocamento nos eixos X e Y simultaneamente. ............................................. 107
xvii
Tabela 7.7 - Deslocamento nos eixos X e Z. .......................................................................... 110

Tabela 7.8 - Deslocamento nos eixos X e Z simultaneamente............................................... 111
Tabela 7.9 - Deslocamento nos eixos Y e Z. .......................................................................... 113
Tabela 7.10 - Deslocamento nos eixos Y e Z simultaneamente............................................. 114
Tabela 7.11 - Deslocamento nos eixos X, Y e Z. ................................................................... 116
Tabela 7.12 - Deslocamento de ir e vir nos eixos X e Z. .................................................... 118
Tabela 7.13 - Deslocamento de ir e vir de 1mm nos eixos X e Z e de ir 1mm no
eixo Y................................................................................................................ 119
Tabela 7.14 - Deslocamento de ir e vir de 1mm nos eixos X ,Y e Z. ................................. 121
Tabela 7.15 - Deslocamento manual do magneto no eixo Z. ................................................. 122
Tabela 7.16 - Deslocamento de 5mm no eixo X. ................................................................... 124
Tabela 7.17 - Resultados do Ensaio 1..................................................................................... 126
Tabela 7.22 - Impreciso das medidas no eixo X................................................................... 129
Tabela 7.23 - Impreciso das medidas no eixo Y................................................................... 129
Tabela 7.24 - Impreciso das medidas no eixo Z. .................................................................. 130
Tabela 7.25 - Impreciso das medidas em 3D........................................................................ 130
APNDICES
Tabela 1.1a - Equaes de Potencial (Equaes de Campo).................................................. 163
Tabela 1.2a - Valores comparativos dos resultados do FEM2002. ........................................ 181
Tabela 2.1a - Caractersticas principais dos sensores magnetoresistivos Philips................ 212
Tabela 2.2a - Valores para campo magntico gerado por condutor conduzindo
corrente. ............................................................................................................ 218
Tabela 2.3a - Comparao entre sensores magnticos quanto a deteco de campo
magntico.......................................................................................................... 226
xviii
CAPTULO I
INTRODUO
1.1 - CONSIDERAES GERAIS
A pesquisa cientfica pode ser vista de diversas formas:
a) como uma fonte de investigao contnua visando a melhoria das condies de
sobrevivncia humana,
b) uma fonte de sobrevivncia financeira,
c) uma fonte enaltecedora de egos,
d) e tambm como uma arte, ou seja, a arte da criatividade e tambm a arte do desenvolvimento
da nobreza humana, refletida no comportamento altrusta de alguns pesquisadores, os quais
buscam, na maioria das vezes, contribuir para a melhoria da sociedade no planeta, e da
melhoria da convivncia no universo.
A arte est na simplicidade de alguns desenvolvimentos, na busca e no encontro de solues
simples para problemas complexos.
A identificao de movimentos mandibulares no uma tarefa simples, dado que pode ser
confirmado atravs da literatura, mas com o desenvolvimento tecnolgico na rea de sensores
magnticos, por exemplo, possvel desenvolver equipamentos que auxiliem o profissional da
rea, a obter dados que lhe permitam realizar diagnsticos mais eficazes e consequentemente
tratamentos mais adequados e rpidos a seus pacientes.
A tecnologia atual utilizada no desenvolvimento de sensores magnticos, permitiu a confeco
de sensores de alta sensibilidade, pequenas dimenses, compatveis com sistemas eletrnicos e
baixo custo, o que propicia o uso em diversos tipos de medidas, como medidas de deslocamento,
de presena, de atividade de ondas cerebrais, de corrente eltrica, de velocidade, presso e outras
tantas que podem se fazer necessrias.
O aspecto que deve ser observado quando se utilizam sensores magnticos, que grandezas
como correntes, deslocamentos, presso, por exemplo, no so medidas diretamente e sim,
Captulo I
2
atravs de variaes de campos magnticos, os quais so transformados nas grandezas de
interesse atravs de circuitos condicionadores de sinal.
Este trabalho apresenta o prottipo de um equipamento destinado a identificar pequenos
deslocamentos no espao atravs da variao de campo magntico, com preciso de dcimos de
milmetros. A idia original para utilizao do equipamento est no desenvolvimento de um
aparelho para identificar movimentos mandibulares em 3D, sendo que seu uso pode ser
estendido a outras reas, onde seja necessria a medio de deslocamentos sem contato, como
medidas em locais inspitos, de difcil acesso, bem com na rea da robtica na determinao de
posicionamento desejados.
O sensor escolhido para a confeco do prottipo um sensor magnetoresistivo pelo fato de no
existir na literatura conhecida, um equipamento para medir deslocamentos mandibulares
utilizando este tipo de sensor.
O processo consiste em determinar a trajetria de um magneto que se move no espao delimitado
em 25X25X23mm, atravs de 8 sensores dispostos de forma a captar a variao do campo
magntico quando o im se desloca. A variao do campo magntico no sensor provoca uma
variao nos valores da tenso de sada dos mesmos, os quais so transferidos para um
microcomputador, atravs de uma placa de aquisio de dados. A partir do processamento destas
informaes feita a identificao do movimento do im no espao. O software utilizado nesta
etapa o Matlab Release 12.
O trabalho apresenta, tambm, o mapeamento do campo magntico do magneto utilizado para
sensibilizar os sensores, atravs do software de elementos finitos aplicado ao eletromagnetismo FEM2000.
1.2 - OBJETIVO
O principal objetivo deste trabalho desenvolver um sistema que permita o estudo e a anlise de
um aparelho para medir deslocamentos no espao sem contato, utilizando somente a variao de
campo magntico para identificao deste movimento.
O sistema compreende a construo de:
a) uma mesa de calibrao que permita o deslocamento em trs eixos ortogonais,
independentemente um do outro;
Captulo I
3
b) de um equipamento (prottipo) para medir deslocamentos em trs dimenses utilizando
sensores magnetoresistivos, que o produto efetivamente desejado;
c) e de um emulador de movimento mandibular para a realizao de testes, que represente o
movimento mais prximo possvel do movimento de abrir e fechar a boca de uma pessoa.
Como objetivo secundrio pretende-se mapear o campo magntico do magneto utilizado nos
ensaios .
1.3 - MOTIVAO DO TRABALHO

A motivao pela rea de biomecnica, se deu atravs do interesse em pesquisar a influncia de
campos magnticos em seres humanos, ou seja, como os seres humanos so afetados em contato
com campos eletromagnticos conhecidos e desconhecidos. Pensava-se em desenvolver uma
equipamento que pudesse medir tais grandezas para uma possvel comprovao cientfica de
tantos fenmenos observados na prtica, e to difceis de serem comprovados cientificamente.
O desenvolvimento do trabalho aqui apresentado pode, de alguma forma, contribuir para este
avano, pois o mesmo trabalha na identificao de campos magnticos pequenos e sensores
magnetoresistivos de alta sensibilidade.
A motivao para confeco deste trabalho, mais precisamente, sobre o desenvolvimento deste
equipamento para medir deslocamentos mandibulares chamado de kinesigrafo, originou do
trabalho desenvolvido por Brusamarello, 1996, na busca de melhorar a preciso obtida por ele,
que era de 0,6mm nas medies realizadas no plano, e de 1mm nas medies realizadas no
espao.
Um outro fator motivacional, o fato de no existir no mercado brasileiro um equipamento para
realizar tais funes, o que, caso se concretize este projeto, o mesmo poderia ser confeccionado a
um custo bem menor que os aparelhos importados existentes, permitindo, com isso, um uso mais
extensivo aos profissionais da rea.
O princpio bsico do aparelho para medir deslocamentos mandibulares, consiste em medir a
variao do campo magntico de um superim colocado sobre o dente incisivo inferior do
paciente, quando o mesmo realiza movimentos de ocluso, obtendo com isto, a trajetria deste
deslocamento. Espera-se, atravs deste experimento, auxiliar no diagnstico de possveis
disfunes na articulao temporo-mandibular dos pacientes, permitindo, ao profissional da rea
de odontologia, um diagnstico mais preciso e em menor tempo.
Captulo I
importante salientar tambm, que o desenvolvimento de um aparelho para medir

deslocamentos sem contato em 3D, pode ser utilizado para uma grande variedade de medidas de
movimento, o que faz com que o trabalho tenha um espectro de utilizao, bastante grande.
1.4 - ORGANIZAO DO TRABALHO

O trabalho est organizado na forma de captulos de acordo com os temas desenvolvidos no
projeto e consta de oito captulos. Para facilitar ao leitor interessado na teoria que fundamenta
alguns dos captulos, foram inseridos dois apndices. A descrio sucinta dos contedos
abordados em cada captulo e nos apndices, est apresentados a seguir.
No Captulo I, denominado Introduo, esto definidos os objetivos, a motivao para o
desenvolvimento do trabalho, bem como a estrutura da diviso em captulos.
No Captulo II apresentada a Reviso Bibliogrfica sobre os mtodos de medio de
movimentos mandibulares utilizados at hoje.
No Captulo III so abordados os conceitos sobre a Anatomia Funcional e a Biomecnica do
Sistema Mastigatrio.
No Captulo IV, denominado de Sistema de Medio Utilizando Sensores Magnetoresistivos,
detalhada a metodologia utilizada para o desenvolvimento do aparelho de medio onde esto
descritas as confeces do prottipo, da torre de calibrao em 3D, do circuito eletrnico para o
condicionamento do sinal e do emulador de movimento mandibular.
No captulo V apresentada a modelagem matemtica utilizada para a estimao dos parmetros
e feita a descrio do mtodo dos mnimos quadrados na identificao dos parmetros
desejados, ou seja, o deslocamento em 3D, e foi denominado de Modelagem Matemtica para
Estimao de Parmetros.
No captulo VI, chamado Processamento de Sinais, so apresentadas as principais questes que
envolvem o processamento de sinais no desenvolvimento de um aparelho na rea biomdica,
anlise e quantificao do rudo presente no sistema.
No captulo VII so apresentados os resultados obtidos nos ensaios de deslocamento do magneto
no plano e no espao atravs de tabelas e grficos bi e tridimensionais e foi denominado de
Resultados Obtidos.
Captulo I
5
No captulo VIII so apresentadas as Concluses e Sugestes de continuidade para o
desenvolvimento do trabalho.
Os apndices so dois e foram denominados de Apndice I e Apndice II.
No Apndice I apresentada uma reviso sobre os conceitos bsicos do eletromagnetismo e
clculo de campo, visando uma melhor compreenso do mtodo dos elementos finitos utilizado
no trabalho, e o mapeamento de campo magntico do magneto utilizado nos ensaios atravs do
software FEM2000.
No Apndice II so apresentados os diversos tipos de sensores magnticos e suas aplicaes,
com nfase aos sensores magnetoresistivos, que so os sensores utilizados para a montagem do
aparelho.
Captulo I
CAPTULO II
REVISO BIBLIOGRFICA
A tentativa de identificar precisamente os movimentos mandibulares e consequentemente, as
disfunes na articulao temporo-mandibular (ATM), data de algum tempo. Muitos
pesquisadores j o fizeram, porm os resultados alcanados ainda podem ser melhorados.
Avanos tecnolgicos nas reas de eletrnica e computao facilitaram este registro, permitindo
um diagnstico mais preciso aos profissionais da rea de ortodontia.
Segundo Jankelson et al., 1975, em 1931, na tentativa de identificar os movimentos
mandibulares, foram utilizadas tcnicas cinematogrficas utilizando um ponto refletivo at
cineflurografia em 1940. Em 1942 foram utilizadas fotografias estroboscpicas e em 1951 foi
utilizado o traado mecnico de movimentos mastigatrios. As tcnicas utilizando registradores
eletrnicos foram utilizadas pela primeira vez, em 1953 para registrar a ocorrncia e a durao
da ocluso (movimento de abrir e fechar a boca) enquanto ocorria a mastigao. Procedimentos
deste tipo, com pequenas variaes foram utilizados nos anos subseqentes. A utilizao da
telemetria oclusal em 1961 e a introduo da eletromiografia, em 1964 forneceram um avano
nos conceitos originais no traado dos movimentos mandibulares.
Piehslinger et al., 1991, fazem uma descrio da evoluo dos procedimentos utilizados na
identificao de movimentos da ATM, desde 1967 at aproximadamente 1991 e que sero
abordados neste captulo na ordem cronolgica.
A eletrognatografia foi introduzida em 1967 por Bewersdorff como um mtodo de registrar
movimentos mandibulares em trs dimenses usando trs sensores de induo magntica, cada
um deles colocado em ambos os lados da mandbula e o outro fixado no crnio do paciente. Este
sistema oferece a vantagem de permitir registrar funes intraorais.
Em 1969 foram publicados os primeiros trabalhos de Lee, nos quais ele usava uma turbina dental
a ar localizada nos eixos das articulaes para gravar o movimento dos cndilos em blocos
plsticos.
Em 1970 Knap et al. desenvolveram um sistema de medio usando seis potencimetros como
sensores fornecendo um sinal eltrico atravs de uma inciso na mandbula para anlise
computacional. Este dispositivo ficava localizado em frente da face.
Captulo II
7
Krber, em 1971 registrou movimentos mandibulares aplicando sobre a face uma placa com
sensores cujos dados eram registrados atravs de um osciloscpio e de um plotter e, tambm em
1971, Gibbs e Messerman usaram um sistema de dupla-face e um CASE GNATHIC
REPLICATOR, o qual registrava movimentos da mandbula para posterior anlise
computacional .
Em 1972 Preiskel, estudando os eixos das articulaes, descreveu o chamado ngulo de
Fischer, como o ngulo entre o caminho percorrido pelo lado fixo do cndilo durante
movimento lateral e o caminho percorrido quando uma protruso simtrica realizada. Slavicek
atribui este ngulo ao fato de que em registro pantogrfico utilizado um indicador na
mandbula distante alguns milmetros do cndilo introduzindo portanto uma varivel
incontrolvel. Rosner descreve este problema geomtrico como sendo valores de ngulos ou
inclinaes prprias, no sendo propriamente distncias intercondilares.
Heners em 1973, usou um osciloscpio amplificador para identificar movimentos no plano
sagital em tempo real, mas este equipamento no identificava movimentos laterais.
Jankelson et al., 1975, desenvolveram um dispositivo, denominado, Mandibular Kinesiograph,
utilizando um conjunto de quatro sensores fluxgates encapsulados em plstico montados em
uma estrutura de alumnio tendo o cuidado de observar o sentido do campo de campo de cada
sensor. Os sensores captavam o campo magntico gerado por um im colocado no dente incisivo
inferior do paciente quando este executasse movimentos mandibulares. Este conjunto de
sensores pesava 134 g. Uma das maiores dificuldades encontradas na fase de desenvolvimento
deste trabalho foi filtrar o campo magntico da terra nos dados de sada. O erro foi minimizado
colocando-se o quinto sensor (magnetometer) no conjunto de sensores, o qual tinha a finalidade
de detectar e cancelar este campo..
Piehslinger, 1991, continua a descrio dos diversos mtodos de identificao de movimentos da
ATM e escreve que Mc Coy et al., em 1976 utilizando a tcnica de LEE de gravar os
movimentos mandibulares em blocos plsticos, fotografaram estes blocos e transferiram estes
dados para um computador . A concluso foi que a coleo e avaliao de tais dados poderiam
esclarecer questes como a ocluso, estabilidade dos dentes, efeito na sade periodontal e ainda
permitir correlaes com sucesso de medidas ortodnticas.
Na Inglaterra em 1977, Winstanley relatou o uso de tcnicas pantogrficas no traado dos eixos
das articulaes para programar um articulador.
Captulo II
8
Waysenson e Salomon, 1977, utilizaram um receptor ptico eletrnico, o qual consistia de trs
clulas fotoeltricas montadas perpendicularmente umas as outras, as quais captavam o feixe
luminoso que passava pela garganta do paciente. Ao realizar movimentos mandibulares, cada
clula fotoeltrica captava diferentes sinais de luz, gerando diferentes tenses em cada uma das
clulas, os quais eram usados como sinais de entrada de um osciloscpio que mostrava na tela o
tipo de movimento realizado.
Ainda Piehslinger, 1991, escreve que em 1982, Klett usou um emissor de luz com fotosensores
para medir e registrar movimentos mandibulares onde artefatos poderiam ser eliminados.
Burckhardt descreveu em 1985 um sistema pticoeletrnico com infravermelho para determinar
os eixos das articulaes que inclua avaliao computacional.
Harada e Sakamoto, 1989, desenvolveram um pequeno sensor para medir campo magntico
utilizando um ncleo em anel e mosfets (metal oxide semiconductor field effect -transistor,
semicondutor de xido metlico). O circuito baseado no princpio de saturao do ncleo
magntico obtido atravs de chaveamento liga-desliga e formado por um ncleo magntico
saturado, um par de FETs (field effect transistor- transistor de efeito de campo) e um resistor de
sada, no qual o valor da tenso proporcional intensidade do campo magntico externo. O
mtodo consiste em utilizar um pequeno im permanente colado num dos dentes incisivos
inferiores, cuja variao de campo magntico gerada pelo movimento da mandbula ser captada
por oito destes sensores devidamente posicionados no crnio do paciente
Siegler et al., 1991, desenvolveram uma tcnica de kinesiologia tridimensional para investigar os
movimentos mandibulares, utilizando um sistema eltrico-ptico, o qual mede a localizao no
espao de mini-diodos emissores de luz (mini-LEDS), localizados na mandbula e no osso
temporal. Este sistema tem a capacidade de registrar o movimento de aproximadamente trinta e
dois (32) LEDS com um erro menor que 0,1mm e uma taxa de amostragem acima de 4000
amostras por segundo. O sistema consiste ainda de duas (2) cmeras especiais de vdeo, uma
unidade de controle para obter as informaes das cmeras e controlar a luz dos LEDs e um
microcomputador usado para coletar dados e apresentar os resultados. A anlise dos dados
consiste em derivar a posio relativa e orientao da mandbula com respeito ao osso temporal
atravs das medidas das coordenadas de pontos do osso temporal e da mandbula. O algoritmo
usado para determinao do movimento o mtodo de otimizao com restrio usando o
critrio dos mnimos quadrados para achar a melhor aproximao da posio da mandbula em
relao ao osso temporal atravs das medidas das posies do pontos destes ossos. A principal
Captulo II
9
vantagem desta tcnica sobre outras j desenvolvidas que a mesma fornece a descrio
completa do movimento da mandbula com respeito ao osso temporal, incluindo os seis (6) graus
de liberdade associados com este movimento; a descrio do movimento em termos de unio de
parmetros facilita a interpretao dos dados pelos clnicos; o movimento de qualquer ponto da
mandbula pode ser facilmente derivado atravs dos dados. Por no exigir fixao da cabea, o
sistema no interfere no processo de ocluso natural e o peso dos LEDs pode ser considerado
desprezvel.
Figura 2.1- Esquema proposto por Siegler.
Captulo II
10
Piehslinger et al., 1991, mostrou as vantagens da axiografia computadorizada na aplicao de
identificao de movimentos mandibulares mostrando as vantagens deste mtodo em relao aos
dispositivos mecnicos. Na axiografia computadorizada possvel, segundo ela, diagnosticar
pequenas alteraes dos movimentos mandibulares, desde o incio destas manifestaes.
Figura 2.2 Axiografia apresentada por Piehslinger.

Tallents et al., 1991, utilizaram o Sirognatgrafo desenvolvido por Arthur Lewin e pela Siemens,
para anlise de movimentos mandibulares, o qual utilizava 8 sensores Hall para identificar o
movimento de um magneto nas trs direes: vertical, lateral e anteroposterior.
Captulo II
11
Figura 2.3 Sirognatgrafo utilizado por Tallents et al.

Tambm em 1991, Yamamoto et al., 1991,
desenvolveram um sistema de medio
tridimensional utilizando a tcnica convencional, de triangulao para clculo de distncias para

acompanhamento de tratamentos ortodnticos. O sistema construdo consistia de um
equipamento ptico composto por um laser, um sensor de imagem e lentes e uma mesa de
deslocamento x-y, onde era colocado o molde de gesso. Fazia-se a incidncia do raio num
determinado ponto do molde e este ponto era monitorado entre um perodo que variava de 41
(quarenta e um) a 190 (cento e noventa) dias para verificar a evoluo do tratamento ortodntico.
Motoyoshi et al., 1996, investigaram a possvel relao entre os movimentos mandibulares,
obtidos atravs de registros axiogrficos e os sons produzidos durante estes movimentos para
avaliar a posio dos cndilos em relao fossa articular. Os movimentos mandibulares foram
registrados utilizando o CADIAX:SAM (computer aided Axiograph) e o registro dos sons foi
feito atravs do TMJ. Dopler Auscultation (3 Brothers enterprises, TMJ Doppler) e armazenados
numa fita magntica utilizando DAT: SONY (digital audio tape recorder TCD-D10). No sistema
de coordenadas utilizado, o eixo X corresponde a deslocamentos no plano orbital e o eixo Z
perpendicular a este, sendo que a distncia S calculada como sendo a hipotenusa dos valores
medidos em X e Z. Os sons registrados durante o movimento de abertura da mandbula foram
obtidos quando o valor de S variava de 8 a 23mm, verificados atravs da axiografia, e os sons
registrados durante o movimento de fechamento da mandbula foram obtidos quando S variava
entre 0 e 17mm. Calculando esses valores como porcentagens em relao ao movimento mximo
dos cndilos , os sons de abertura foram registrados num intervalo entre 41 a 100% , enquanto
Captulo II
12
que os sons dos movimentos de fechamento variaram entre 1 e 80% da mxima abertura. A
freqncia mdia dos sons na abertura foi de 87 Hz e de fechamento de 89Hz, sendo que foi
concludo no haver correlao entre o tempo (timing) do som da juno e o pico de freqncia
dos sons.
Figura 2.4 Medio de movimento mandibular atravs do som da ATM.

Hayasaki et al., 1998, apresentaram um mtodo para visualizao e diagnstico de movimentos
mandibulares utilizando o que eles chamaram de CMDME (curved mesh diagram of mandibular
excursion), ou seja diagrama de malha da curva de excurso mandibular. O mtodo consistia em
medir o movimento mandibular atravs de um equipamento comercial ptico-eletrnico
chamado TRIMET (Tokyo-shizaisha) com seis graus de liberdade e uma freqncia de
amostragem de 100 Hz. Os dados obtidos eram transferidos para uma estao de trabalho grfica
IRIS CRIMSON (SiliconGraphics Co.Inc., Mountain View, CA, USA) usando um
microcomputador PC-9801 BA (NEC Co., Tokyo, Japan) e a Ethernet. As trs coordenadas
(x,y,z) de um ponto da mandbula foram medidas usando um XYZAX-PJ 400 A (Tokyo Seimitsu
Inc., Tokyo, Japan), e para a determinao do ponto central do cndilo da mandbula foram
utilizados cefalogramas lateral e antero-posterior. A malha retangular formada se estendia 15mm
para frente, e 13mm para trs (longo do eixo x); e 14 mm para esquerda e 14 mm para a direita
(ao longo do eixo y), com a posio intercuspal como a origem. Portanto a malha era formada
por 78.961 (281X281) pontos. Cada uma das 12.000 medidas da posio mandibular era
mapeada nesta malha pelo mtodo da menor distncia entre dois pontos.
Captulo II
13
Figura 2.5- Mtodo de visualizao proposto por Hayasaki et al

Prinz, 1998, utilizou o registro dos sons produzidos ao se realizar movimentos de abrir e fechar a
boca para desenvolver um protocolo para identificar movimentos mandibulares. O som era
Captulo II
14
capturado atravs de microfones acoplados em fones de ouvido, amplificado e armazenado numa
fita e depois analisados no microcomputador. A freqncia de amostragem utilizada para captar
os dois microfones ao mesmo tempo (ouvido esquerdo e ouvido direito) foi de 1,7 kHz para
registrar 60 contatos de dentes (dentes superiores em contato com dentes inferiores). Foram
utilizados dois sistemas de converso analgico-digital para digitalizar os registros. O software
WAVESTUDIO suprido pela placa de som do Sound-Blaster (Creative, Singapore) foi utilizado
num tempo de 4 segundos, com taxa de amostragem de 44,1 kHz e 16 bits de resoluo. A
seleo dos dados contendo o som do contato dos dentes, ou o som da juno
temporomandibular foram salvos num disco para anlise posterior. O segundo conjunto de
registros foi feito usando um conversor analgico-digital (ADC-11, Pico Technology,
Cambridge, U.K.) de 10 canais com 10 bits de resoluo
Este mtodo no permite identificar a posio da mandbula, mas permite especificar o
comprimento do ciclo de abrir-fechar os dentes. Se a envoltria do movimento assumida como
uma aproximao senoidal, ento a direo do movimento mandibular pode ser considerada
como reverso na metade do ciclo. A preciso desta afirmativa baseia-se na experincia realizada
em nove pessoas num total de 129 ciclos. A variao mdia entre as pessoas, expressa em
percentagem do comprimento do ciclo foi de 1,30,9%.
Um dos aparelhos disponveis no mercado atualmente, fabricado pelo Myo-Tronics, Inc, e
pode ser visto na figura 2.6. Para utilizao deste aparelho, deve ser utilizado um pequeno
magneto acoplado na gengiva inferior do paciente e a medio obtida atravs de 8 sensores
magnticos, os quais no foram especificados. Segundo uma estimativa de preo obtida atravs
do representante do fabricante, o aparelho custa em torno de U$10,000.00
Captulo II
15
Figura 2.6 Aparelho da Myo-Tronics para medir movimentos mandibulares.
Captulo II
16
CAPTULO III
ANATOMIA FUNCIONAL E A BIOMECNICA DO SISTEMA
MASTIGATRIO
3.1 - INTRODUO
Segundo Okeson, 1992, o sistema mastigatrio a unidade funcional do corpo primordialmente
responsvel pela mastigao, fala e deglutio, atuando tambm no paladar e na respirao. O
sistema composto de: ossos, articulaes, ligamentos, dentes e msculos, alm de um intricado
sistema de controle neurolgico que controla e coordena todas essas estruturas e componentes.
3.2 - COMPONENTES ESQUELTICOS DO SISTEMA MASTIGATRIO

Os componentes esquelticos bsicos que compem o sistema mastigatrio so:
-
a maxila,
a mandbula ,
e o osso temporal.
A maxila e a mandbula suportam os dentes e o osso temporal suporta a mandbula em sua

articulao com o crnio.
A maxila forma a maior parte do esqueleto facial superior. A borda do maxilar estende-se na
parte superior para formar o assoalho da cavidade nasal e tambm o assoalho da cavidade
orbital., conforme pode ser visto na figura 3.1.
Captulo III
17
Figura 3.1 - Arquitetura geral do crnio.

A mandbula um osso em forma de U, que sustenta os dentes inferiores e forma a parte
inferior do esqueleto facial. No tem ligao ssea com o crnio, sendo sustentada abaixo do
maxilar por msculos, ligamentos e outros tecidos moles que por sua vez possibilitam a
mobilidade necessria ao funcionamento com o maxilar. O corpo da mandbula estende-se
pstero-inferiormente para formar o ngulo mandibular e pstero-superiormente para formar o
ramo ascendente. O ramo ascendente da mandbula formado por um osso vertical plano que se
Captulo III
18
estende para cima como dois processos. O anterior o processo coronide e o posterior o
cndilo. O cndilo a parte da mandbula que se articula no crnio ao redor do qual ocorrem os
movimentos.
O cndilo mandibular se articula na base do crnio com a poro escamosa do osso temporal. A
poro do osso temporal composta pela fossa mandibular cncava, na qual o cndilo se situa e
que tambm j foi chamada de fossa glenide ou articular. O teto posterior da fossa mandibular
bem fina, o que indica que esta rea do osso temporal no foi feita para suportar foras
excessivas.
Figura 3.2 - Vista lateral do sistema mastigatrio.
3.2.1 - ARTICULAO TEMPORO-MANDIBULAR

A articulao temporo-mandibular (ATM), uma das articulaes mais complexas do corpo
humano e tambm chamada de articulao craniomandibular.
A ATM formada pelo cndilo mandibular que se articula na fossa mandibular do osso
temporal. Entre estes dois ossos se situa o disco articular de forma que os dois ossos no se
articulem diretamente. A ATM classificada como uma articulao composta, que a rigor
deveria ser formada por pelo menos trs ossos, porm apesar da ATM ser composta por dois
ossos, funcionalmente o disco articular funciona como um osso no calcificado que permite os
movimentos complexos da articulao
Captulo III
19
Figura 3.3 - Esquema da ATM.
3.3 - MSCULOS DA MASTIGAO

A energia que move a mandbula e permite o funcionamento do sistema mastigatrio fornecida
pelos msculos.
So quatro os msculos chamados msculos da mastigao:
- o masseter
- o temporal
- o pterigideo mdio
- o pterigideo lateral.
Os msculos chamados digstricos, apesar de no serem considerados msculos da mastigao,
apresentam uma funo importante na funo mandibular.
Masseter: um msculo forte que proporciona a fora necessria para uma mastigao
eficiente. Quando as fibras do masseter se contraem, a mandbula se eleva e os dentes entram em
contato uns com os outros.
Temporal: um msculo grande em forma de leque que se origina da fossa temporal e da
superfcie lateral do crnio. Quando todo o temporal se contrai a mandbula se eleva e os dentes
entram em contato. um importante msculo posicionador da mandbula.
Pterigideo mdio (interno): quando as fibras deste msculo se contraem, a mandbula
elevada e os dentes entram em contato. Ele forma juntamente com o masseter, um suspensrio
muscular que sustenta a mandbula na altura do ngulo mandibular. Este msculo tambm atua
para protruir a mandbula.
Captulo III
20
Pterigideo lateral (externo): estes msculos se dividem em: pterigideo lateral inferior e
pterigideo lateral superior. Quando o pterigideo lateral inferior direito e esquerdo se contraem
simultaneamente, os cndilos so puxados para baixo nas eminncias articulares e a mandbula
se protrui. Quando esse msculo atua juntamente com as depressoras mandibulares a mandbula
abaixada e os cndilos deslizam para frente e para baixo nas eminncias articulares. Enquanto
o pterigideo lateral inferior atuante na abertura da boca, o superior permanece inativo,
atuando somente em conjuno com os msculos elevadores. O pterigideo lateral superior
muito atuante quando h fora de resistncia (movimentos que envolvem o fechamento da
mandbula com resistncia, por exemplo, na mastigao) e quando os dentes so mantidos
fechados.
Digstricos: apesar de no serem considerados msculos da mastigao, os digstricos
apresentam uma funo importante no funcionamento da mandbula. Quando os digstricos
direito e esquerdo se contraem e o osso hiideo preso pelos msculos suprahiideos e
infrahiideos, a mandbula abaixada e puxada para baixo e os dentes desocluem. Quando a
mandbula se estabiliza, os msculos digstricos juntamente com os msculos suprahiideos e
infrahiideos elevam o osso hiideo, que um procedimento necessrio para engolir. Os
msculos digstricos so um dos muitos msculos que abaixam a mandbula e elevam o osso
hiide. De uma forma geral os msculos que se prendem da mandbula ao osso hiide so
chamados suprahiideos e os que se prendem do osso hiide at a clavcula e esterno so
chamados infrahiideos.
Captulo III
21
Figura 3.4 - Msculos da mastigao.
3.4 - BIOMECNICA DA ARTICULAO TEMPORO-MANDIBULAR

A ATM uma articulao composta, podendo ser dividida em dois sistemas distintos:
Captulo III
22
a) Sistema articular: so os tecidos que envolvem a cavidade sinovial inferior, como por exemplo
o cndilo e o disco articular. Como o disco firmemente preso no cndilo pelos ligamentos
discais lateral e mediano, o nico movimento que pode ocorrer entre estas superfcies a rotao
do disco na superfcie articular do cndilo, portanto o complexo cndilo-disco o sistema
articular responsvel pelo movimento de rotao da ATM
b) Complexo Cndilo-disco: como o disco no firmemente preso fossa articular, um
movimento deslizante livre ocorre entre estas superfcies na cavidade superior. Este movimento
ocorre como resultado da mandbula estar posicionada para frente, chamada de movimento de
translao. A translao ocorre nesta cavidade articular superior entre a superfcie superior do
disco articular e a fossa mandibular, permitindo que o disco articular atue como um osso no
calcificado auxiliando ambos os sistemas, e por essa atuao do disco justificvel classificar a
ATM como uma articulao composta.
Solberg, 1989, descreveu o movimento do disco articular de acordo com os movimentos da
mandbula, dividindo-o em etapas que seguem:
- fase de abertura: durante a abertura o disco articular gira posteriormente prximo ao cndilo,
enquanto o complexo disco-cndilo se move para frente e para baixo, prximo eminncia
articular;
- abertura total: o deslize do disco anulado pela limitao do estiramento do msculo, pela
resistncia na cpsula e pela falta de superfcie articular disponvel. O exagerado movimento da
abertura da mandbula alm deste ponto causa subluxao, tal como o movimento irregular,
espasmdico do complexo disco-cndilo sobre as superfcies no articulares. Quando a boca
aberta completamente, o tecido mole sugado nos lados pstero-laterais da articulao;
- fora de mordida: no fechamento, ou fora de mordida, a articulao recebe o mximo de
tenso. Neste ponto, repentinas foras perturbadoras so criadas sobre o cndilo, pela resistncia
do bolo alimentar. A atividade na parte superior do msculo pterigideo lateral, no fechamento,
produz um componente anterior de tenso sobre o disco e faz com que o disco se mova para
frente;
-
posio oclusal: no fechamento total, o disco girado para frente, com as superfcies
da articulao em uma ntima relao de contato.
Captulo III
23
Figura 3.5 - Biomecnica da ATM.
Captulo III
24
3.4.1 - DISFUNES DO CONJUNTO TEMPORO-MANDIBULAR

As desordens temporo-mandibulares caracterizam-se pelo desconforto no sistema mastigatrio
(principalmente dor na regio do conjunto temporo-mandibular), agravados pela mastigao e
outro uso da mandbula, como por exemplo o bruxismo, mas independentemente da molstia
local envolvendo os dentes e a boca.
De acordo com a Associao Americana Dentria, aproximadamente 60 milhes de pessoas nos
Estados Unidos da Amrica so afetadas pelas disfunes do conjunto temporo-mandibular,
Gillespy et al, 1997.
3.4.2 - SINAIS E SINTOMAS DAS DISFUNES TEMPORO-MANDIBULAR

Segundo Moskowitz [apud Solberg, 1989], os sintomas das desordens temporo-mandibulares so
bem conhecidos e geralmente existe uma concordncia entre a comunidade cientfica a respeito
de como esses sintomas se manifestam. Sintomas como a dor funcional, a no coordenao da
articulao temporo-mandibular e a restrio do movimento da mandbula caracterizam a
clssica trade contra um variado nmero de sintomas.
O diagnstico das disfunes do conjunto temporo-mandibular feito atravs de alguns sintomas
e sinais clssicos que envolvem o conjunto temporo-mandibular, ouvidos, cabea, face e dentes.
Do universo de sintomas e sinais, pode-se citar os principais, segundo Gillespy et al, 1997 e
Solberg et. al., em 1989, quais sejam:
-
estalidos da mandbula (um dos sintomas mais comuns);
travamento do conjunto temporo-mandibular;
mudana na ocluso dentria ou na fora de mordida;
sintomas no(s) ouvidos, como dores e perda de audio;
dores de cabea severas (um dos sintomas mais comuns);
sensibilidade excessiva dos dentes;
- dificuldade na abertura da boca.

Atravs da anlise do sintomas apresentados, pode-se verificar a dificuldade de obteno de um
diagnstico correto sobre as disfunes do conjunto temporo-mandibular, pois os sinais
apresentados muitas vezes conduzem a tratamentos equivocados, como por exemplo, com as
dores de cabea severas, que muitas vezes so tratadas e confundidas com dores de cabea
normais ou anormalidades na cabea. Alm disso, muitos outros sintomas podem estar
associados com as disfunes do conjunto temporo-mandibular como a sensibilidade luz, pois
Captulo III
25
pacientes que apresentam o deslocamento do conjunto temporo-mandibular muitas vezes sofrem
de dores nos olhos, o que pode ser a causa da sensibilidade excessiva luz que este paciente
apresenta como sintoma. Fica evidente, portanto, a necessidade de uma estrutura de diagnstico
adequada para melhorar a caracterizao das desordens temporo-mandibulares como doenas
identificveis.
Figura 3.6 - Disfuno na mandbula em funo do tamanho da lngua.
Captulo III
26
Figura 3.7 - Tipos de perfis em funo do posicionamento da mandbula.
3.4.3 - CAUSAS DAS DISFUNES TEMPORO-MANDIBULARES

A Associao Americana Dentria catalogou as principais causas das disfunes do conjunto
temporo-mandibular, quais sejam
- Traumas (ferimentos na mandbula e na cabea: de acordo com a estatstica publicada no Jornal
da Associao Americana Dentria em 1990, 44% a 99% dos problemas do conjunto temporomandibular so causados por traumas);
- Acelerao e desacelerao cervical causadas por um acidente automobilstico: situao
comum nos dias atuais que pode causar problemas no conjunto temporomandibular em funo da
grande acelerao e desacelerao cervical. Durante a fase de hiperextenso, o crnio move-se
mais rpido do que a mandbula, que permanece aberta, no entanto, a musculatura mandibular
pode no se alongar o suficiente, podendo causar um deslocamento do disco articular ou partir os
tecidos do disco, resultando em danos no conjunto temporo-mandibular. Alguns instantes aps a
batida, o ocupante tende a fechar a boca violentamente, podendo fraturar o queixo, quebrar os
dentes e ferir a parte posterior do conjunto temporo-mandibular. Observa-se que mesmo o
ocupante estando com cinto de segurana, encosto de cabea e evitando traumas diretos na
cabea possvel ferir e provocar danos no conjunto temporo-mandibular.
- Utilizao de air bags: recentemente com o advento dos air bags, que apesar de salvarem
inmeras vidas, tem sido implicado como causador dos problemas do conjunto temporomandibular ao ser disparado. Pacientes que foram feridos com o air bag, muitas vezes
apresentaram os seguintes sintomas: queimadura ou raspo na pele do queixo, face e nariz; dor
quase imediata no conjunto temporo-mandibular; inchao do conjunto temporo-mandibular;
Captulo III
27
limitada abertura da boca; dores no pescoo e mudana na ocluso dentria ou na fora de
mordida.
- Bruxismo: que um anormal ranger dos dentes usualmente durante o sono, pode - acarretar
problemas no conjunto temporo-mandibular, pois pode produzir dores musculares, desgaste dos
dentes e presso demasiada no conjunto temporo-mandibular.
-Tratamentos dentrios errados: um tratamento equivocado pode ocasionar uma m ocluso
podendo acarretar em problemas no conjunto temporo-mandibular.
- Stress: o stress modifica fsica e psicologicamente as pessoas. Mudanas fisiolgicas podem
produzir alteraes e dores musculares e em casos crnicos produzir efeitos prejudiciais. Parece
que as aes do stress caminham juntamente com os problemas do conjunto temporomandibular.
- Doenas: vrias doenas podem causar ou agravar os problemas do conjunto temporomandibular, como por exemplo a artrite pode produzir inflamaes e algumas infeces virais
que podem causar danos no conjunto temporo-mandibular.
Considerando as desordens temporo-mandibulares em sua maior extenso, h evidncia de que
as dores de msculo e articulao, especialmente no quarto superior do corpo so a principal
causa de dias de trabalho perdidos.
Uma vez que a dor e a disfuno da articulao temporo-mandibular constituem um problema
musculoesqueletal, so tratados com as mesmas terapias apropriadas para outras articulaes e
msculos, isto , repouso, terapia fsica e placas de mordida para estabilizar as articulaes
temporo-mandibulares e a ocluso dental.
Captulo III
28
Figura 3.8 - Exemplos de disfuno na ATM.
Captulo III
29
CAPTULO IV
SISTEMA DE MEDIO UTILIZANDO SENSORES
MAGNETORESISTIVOS
4.1 - INTRODUO
Neste captulo ser apresentado um mtodo para medio de deslocamentos sem contato
utilizando sensores magnetoresistivos, os quais sero sensibilizados pela da variao do campo
magntico produzido por um magneto em deslocamento no espao. Atravs deste estudo buscase desenvolver um instrumento que permita obter medidas com preciso de dcimos de
milmetro.
O projeto baseia-se no trabalho desenvolvido por Brusamarello, 1996, em sua dissertao de
mestrado, e deseja melhorar a preciso das medidas obtidas por ele, que so na ordem de 0,6mm
no plano e de 1mm no espao.
Os sensores magnetoresistivos so sensores que possuem, internamente, uma ponte de
Wheathestone, onde a resistncia varia conforme varia o campo magntico, de modo que o
circuito mais indicado, nestes casos, um circuito amplificador e um filtro para cada sensor.
Para obter a melhoria na preciso requerida foram alterados os componentes do circuito
condicionador de sinais e a mesa de calibrao utilizada, os quais sero detalhados a seguir.
A montagem das duas placas paralelas onde se situam os sensores, na posio vertical, diferente
de Brusamarello, 1996, (placas na horizontal), se deve a inteno de simular um equipamento
para medir deslocamentos mandibulares. A coroa de sensores, denominao utilizada para o
medidor de deslocamento mandibular, deve-se ao fato do mesmo ser formado por duas placas
paralelas circulares na posio vertical e se assemelharem a uma coroa. O medidor de
movimento mandibular (coroa de sensores) dever ser colocado to prximo do paciente quanto
possvel mas sem nenhum contato com ele, de forma que quando o paciente executar
movimentos de abrir e fechar a boca, os sensores fixados na coroa captam a variao do campo
magntico, e o sistema desenvolvido identifica o movimento e conseqentemente os
deslocamentos mandibulares que a pessoa apresenta.
Para a simulao do movimento mandibular foi desenvolvido um emulador de movimento
mandibular, o qual ser descrito dentro do escopo deste captulo.
Captulo IV
30
4.2 - MONTAGEM DO SISTEMA ORIGINAL

O sistema utilizado, originalmente, era composto de oito sensores magnetoresistivos (PHILIPS
KMZ10B) dispostos em duas placas de acrlico, com quatro sensores em cada placa, de um
condicionador de sinais, de um conversor analgico-digital (A/D) e de um microcomputador,
como pode ser visto na Figura 4.1.
Sensor MR1
Sensor MR2
Sensor MR3
Condicionador
de Sinais
Sensor MR4
A/D
Microcomputador
Sensor MR5
Sensor MR6
Sensor MR7
Sensor MR8
Figura 4.1 - Esquema da montagem do circuito.
4.2.1 - DISPOSIO DOS SENSORES

Para medio no plano foram utilizados 4 (quatro) sensores magnetoresistivos dispostos numa
superfcie horizontal e eqidistantes entre si formando um quadrado, e dois parafusos
micromtricos adaptados a duas superfcies fixadas perpendicularmente uma em relao outra,
de modo a obter-se uma varredura confivel. Este dispositivo permite a variao das superfcies
num nico sentido conforme mostra a Figura 4.2.
Captulo IV
31
Figura 4.2 - Dispositivo de calibrao em 2D.

Os parafusos micromtricos utilizados eram curso de 22mm e preciso de 0,01mm.
Sobre este dispositivo, que pode ser chamada de uma mesa de calibrao em 2D, era fixado um
im de neodmio ferro-boro, de modo que qualquer movimento nos parafusos era captado pelos
quatro sensores magnetoresistivos estrategicamente colocados.
No caso da medida de deslocamento no espao, a calibrao era feita atravs deste mesmo
sistema com mais um eixo de liberdade (perpendicular aos dois existentes), onde na ponta deste
terceiro eixo se localizava o magneto.
4.2.2 - CIRCUITO DE CONDICIONAMENTO

O esquema do circuito utilizado mostrado na Figura 4.3, onde para cada sensor h um
amplificador de instrumentao e um filtro passa-baixa com freqncia de corte em 30 Hz para
eliminar rudos externos.
Captulo IV
32
Figura 4.3 - Circuito para amplificao e filtragem.

Nesta montagem deve ser observado que os ganhos dos amplificadores (um para cada sensor)
no so necessariamente iguais, uma vez que cada sensor tem sua prpria resposta. Neste caso,
dado que a entrada do conversor utilizado por Brusamarello, 1996, era de 400 mV, foi
considerado este valor como o valor mximo positivo, ou seja, na posio que o magneto
estivesse mais prximo possvel do im.
O conversor A/D utilizado por Brusamarello, 1996, foi um conversor NOVUS. de 8 canais, 12
bits e taxa de aquisio de 10Hz
4.3 - MONTAGEM ATUAL

Foram feitas duas montagens experimentais, ambas com sensores magnetoresistivos, porm com
trs circuitos de condicionamento de sinal diferentes. Sero mostradas a seguir as montagens.
4.3.1 - PRIMEIRA MONTAGEM

4.3.1.1 - Disposio dos sensores
A primeira montagem pode ser vista na Figura 4.4, e consiste de duas placas de acrlico,
distantes 30mm uma da outra e unidas por parafusos de polietileno. Em cada placa de acrlico
foram dispostos quatro sensores, totalizando oito sensores.
Captulo IV
33
Figura 4.4 - Coroa de Sensores de acrlico.

Em cada placa, os quatro sensores foram distribudos eqidistantes um do outro, ou seja
defasados 90 entre si, sendo que o comprimento das diagonais entre eles de 120mm.
Nesta montagem, como pode ser visto na Figura 4.4, cada sensor fica fixo numa placa onde esto
os componentes do circuito eletrnico, responsvel pela parte de amplificao do sinal, sendo
que o circuito de rebaixamento da tenso para a alimentao dos sensores foi colocado numa das
placas e a partir da, ento, foram alimentadas as outras placas.
4.3.1.2 - Circuito de condicionamento
A alimentao dos operacionais fornecida por uma fonte simtrica 12V, a qual ajustada pelos
reguladores de tenso LM317 (fonte positiva) LM337(fonte negativa). Os sensores so
alimentados por uma fonte simtrica de 2,5V como mostra a Figura abaixo.
Captulo IV
34
Figura 4.5 - Primeiro circuito de condicionamento de sinal.

Embora o circuito utilizado por Brusamarello, 1996, possusse ajuste de CMRR (Common Mode
Rejection Ratio Razo de Rejeio de modo comum - propriedade de um amplificador
operacional rejeitar sinais idnticos aplicados, simultaneamente nas suas entradas) e OFFSET
(tenso de sada devido a um desbalanceamento interno), o circuito atual foi melhorado
substituindo-se o amplificador diferencial discreto por um integrado, resultando em menor
OFFSET e interferncia causada por rudos externos. A tabela, a seguir, descreve as principais
caractersticas de alguns amplificadores de instrumentao integrados.
Tabela 4.1 - Caractersticas de componentes eletrnicos.
Amplificador de
instrumentao
INA125
INA128/129
AD624A
AD624C
AD620A
AD620B
INA114
LM363
AMP01
Fabricante
Burr-Brown
Burr-Brown
Analog Device
Analog Device
Analog Device
Analog Device
Burr-Brown
National
Analog Device
Offset(
V)
250
55
200
25
125
50
50
250
50
Offset Drift (
V/ C)
2
0,5
2
0,25
1
0,6
0,3
2
0,3
CMRR(dB)
100
120
120
120
120
120
120
120
125
PSRR(dB)
90
120
115
115
120
120
130
106
125
Captulo IV
35
Sendo a preciso da medida um fator crtico no projeto, era necessrio diminuir o rudo e o
OFFSET do circuito, o que foi feito utilizando-se um amplificador de instrumentao com baixo
OFFSET, alta PSRR (Power Supply Rejection - Rejeio de Sinal da Fonte propriedade do
amplificador rejeitar um sinal AC na sua entrada) e tambm alta CMRR. Comparando os dados
da Tabela 4.1, o ideal seria utilizar um AD624C, um AMP01, um INA114, ou ainda um
INA128/129, nessa ordem de importncia. Foi utilizado um AD620, que estava disponvel no
mercado.
4.3.2 - SEGUNDA MONTAGEM

4.3.2.1 - Disposio dos sensores
A segunda montagem pode ser vista na Figura 4.6, e consiste de duas placas de fibra de celeron,
material da famlia dos fenlicos (material isolante), com separadores de polietileno e unidas por
parafusos de alumnio. As placas possuem dois ajustes que permitem variar a distncia entre os
sensores e o magneto, ou seja aproximar os sensores do magneto ou afastar. A montagem das
placas de fibra na vertical, com os sensores posicionados de modo a ficarem lateralmente
posicionados em relao a um objeto colocado no centro das placas, se deve a inteno de
simular um equipamento para medir deslocamentos mandibulares.
Numa primeira posio, a distncia entre os sensores de um mesmo plano de 180mm, e na
segunda posio a distncia de 120mm, permitindo, com isso, verificar qual a melhor posio
para operao com os sensores. Os resultados apresentados no trabalho, so com os sensores
mais distantes entre si, ou seja com um afastamento no plano de 180mm.
Na disposio mostrada na Figura 4.6, o ngulo formado entre cada um dos sensores de 90.
Na placa foi prevista uma nova fixao com a finalidade de aproximar mais os sensores em
relao ao eixo horizontal , fixando-os na posio indicada pelas setas vermelhas na mesma
Figura, de modo que a ngulo entre eles seja de 60 considerando o eixo horizontal e 120
considerando o eixo vertical.
os componentes do circuito eletrnico responsvel pela de amplificao do sinal, sendo que o
circuito de rebaixamento da tenso para a alimentao dos sensores foi colocado numa caixa
preta separada das placas onde esto os sensores e de onde vem a alimentao dos mesmos. Os
sensores esto ligados em paralelo.
Captulo IV
36
Figura 4.6 - Coroa de Sensores de celeron.

4.3.2.2 - Segundo circuito de condicionamento
O circuito utilizado nesta montagem foi simplificado buscando-se com isso eliminar a
quantidade de fios apresentados na montagem anterior, otimizando a sua construo conforme
pode ser visto na Figura 4.7.
Captulo IV
37
Figura 4.7 - Segundo circuito de condicionamento de sinal.

Nesta montagem utiliza-se a fonte do microcomputador como a prpria fonte de alimentao, e
utilizam-se os reguladores de tenso LM317 e LM337, reguladores positivo e negativo,
respectivamente, para baixar a tenso para o valor simtrico de 2,5V que a tenso de
alimentao dos sensores.
A sada dos sensores passa por um amplificador AD620 utilizando-se um resistor varivel para o
ajuste do ganho. Neste circuito eliminou-se o processo de filtragem, porm em funo dos
resultados obtidos, verificou-se a necessidade de incluir novamente o circuito para filtragem do
sinal.
Captulo IV
38
4.3.2.3 - Terceiro circuito de condicionamento
O circuito eletrnico efetivamente utilizado para a apresentao dos resultados obtidos no
trabalho o circuito apresentado na Figura 4.8.
Fonte de alimentao
Sistema de amplificao e filtragem
Captulo IV
39
Sistema de alimentao dos sensores

Figura 4.8 - Terceiro circuito de condicionamento de sinal.
Na realidade o circuito basicamente o primeiro circuito de condicionamento utilizado, porm
remodelado no seu esquema de ligao diminuindo a quantidade de cabos utilizados na primeira
montagem e usando, como fonte simtrica, a prpria fonte chaveada do microcomputador
eliminando o sistema de terra flutuante da primeira montagem, e utilizando um terra comum,
dado que o equipamento no dever ter contato fsico com o paciente. O objetivo de utilizar a
prpria fonte do micro, equalizando o terra, diminuir o rudo.
os componentes do circuito eletrnico responsvel por parte da amplificao do sinal. O circuito
integrado com um filtro passa-baixa e mais um estgio de amplificao (CA324E), foi colocado
na mesma caixa onde est o circuito de alimentao dos sensores, juntamente com os reguladores
de tenso LM317 e LM337, reguladores positivo e negativo, respectivamente, para baixar a
tenso para o valor simtrico de 2,5V, que a tenso de alimentao dos sensores. A fonte de
alimentao utilizada a prpria fonte do microcomputador utilizada ( 12V).
Captulo IV
40
Figura 4.9 - Sistema de medio (Coroa de Sensores) Vista frontal.
Figura 4.10 - Sistema de medio (Coroa de Sensores) com o terceiro circuito de

condicionamento de sinal.
Para a montagem do circuito, enfatizando o fato do trabalho ser experimental e acadmico, foi
utilizado o material disponvel nos laboratrios de ensino tanto da UFRGS quando da PUCRS,
por isso, os capacitores utilizados foram os capacitores eletrolticos, devido no ter disponvel os
capacitores de tntalo, que seriam os mais indicados quanto a variao de umidade, salientando
porm, que os capacitores utilizados apresentam uma estabilidade em baixa freqncia, ou
seja, nvel de rudo baixo ao contrrio do que apresentam quando operam em alta freqncia, o
que no acontece, de forma alguma, neste trabalho.
Captulo IV
41
Na placa onde esto os sensores, os mesmos so alimentados atravs de um cabo blindado que
parte da caixa da alimentao e alimenta todos eles. A sada de cada sensor passa por um
amplificador AD620 utilizando-se de um resistor varivel para o ajuste do ganho. Para o circuito
em questo, o valor da resistncia de ganho RG igual para cada sensor e aproximadamente
99,5 ohms. O termo aproximadamente foi utilizado, devido a obteno deste valor ter sido feita
atravs da medio com um multmetro e o valor variar entre 99,3 ohms e 103,9 ohms (para o
sensor 2 e o sensor 7, respectivamente), tomando-se como valor para o clculo, a mdia dos oito
valores de resistncia medidos, o valor de 99,5 ohms.
Segundo o fabricante Analog Device do amplificador AD620, o clculo do ganho do mesmo
pode ser obtido atravs da equao 4.1:
G=
49.400
RG
+1
4.1
Aplicando-se a equao 4.1, obtm-se que o ganho para todos os sensores aproximadamente
igual a 500 (497,48).
Para o clculo da freqncia de corte do filtro passa baixa do integrado CA324E, foi utilizada a
equao 4.2:
fc=
4.2
2 R1 R 2 C1 C 2
O valor obtido para a freqncia de corte foi de 30,6Hz, onde R1=R2=10k; C1=1F e
C2=270F.
Para o clculo do ganho para o mesmo circuito integrado (CA324E), foi utilizado o circuito
integrado similar da Texas Instrument (LM324A) disponvel qual seja:
G = 1 + R2
4.3
R1
Sendo que os valores, nesta etapa de clculo so: R1 = R2 = 4,7k; e o valor do ganho igual a 2.
Captulo IV
42
4.4 - AQUISIO DE DADOS

4.4.1 - SISTEMA ORIGINAL
No sistema utilizado por Brusamarello, 1996, a aquisio de dados foi feita num
microcomputador PC486, atravs de um software em linguagem C, e foi utilizado um conversor,
considerado o mais estvel disponvel na poca, que era um conversor A/D da Novus, de 12 bits,
taxa de aquisio de 10 Hz e com oito canais de entrada.
4.4.2 - SISTEMA ATUAL

A aquisio de dados feita atravs de um microcomputador Pentium III, utilizando-se o
software MATLAB.
A placa utilizada a Lab-PC-1200/AI da National Instruments, de 12 bits, 8 canais e sada
bipolar de 5V, ou de 0 a 10V, e taxa de amostragem mxima de 100 kS/s.
Para o trabalho foi utilizada uma taxa de amostragem de 100S/s e tempo de 10 segundos, ou seja
so amostrados 1.000 pontos em 10 segundos, e para alguns exemplos apresentados foi utilizada
uma taxa de amostragem de 1.000S/s durante 20s; ou seja 20.000 pontos em 20 segundos. Para
os casos com 20.000 pontos adquiridos, a cada 10 pontos calculada a mdia entre eles e
utilizado o valor obtido como o valor adquirido trabalhando-se, portanto, como se fossem 2.000
pontos adquiridos.
O valor mximo e mnimo para tenso de 2,5V. Como a placa de 12 bits, o menor valor que
a mesma pode medir de 1,22 mV.
4.5 - METODOLOGIA UTILIZADA

Por ser este trabalho um projeto experimental e acadmico, fez-se necessrio adaptar as
necessidades com as disponibilidades existentes em termos de material e componentes
necessrios ao desenvolvimento do mesmo. Aps a montagem inicial dos sensores a qual estava,
originalmente, numa posio horizontal, verificou-se a necessidade de se colocar os sensores
numa posio vertical, ou seja, numa posio mais aproximada de um equipamento para medir
deslocamentos mandibulares. Para tanto era necessrio desenvolver uma bancada para a
colocao dos sensores bem como de um dispositivo que permitisse o deslocamento nas trs
direes.
Para a bancada utilizada uma placa de alumnio de 300X200X18mm onde so fixadas a coroa
de sensores e a torre de calibrao, assim denominada a mesa micromtrica, por permitir o
Captulo IV
43
deslocamento tambm no eixo Z. Aps a aquisio dos dados para a calibrao, a torre ser
substituda pelo emulador de movimento mandibular para a simulao de um movimento real de
uma pessoa.
Para a calibrao do equipamento e realizao dos ensaios desenvolveu-se um dispositivo que
permite a fixao de magneto de diversas dimenses, o qual acoplado torre de calibrao,
permitindo seu deslocamento ao longo dos trs eixos ortogonais.
Os ims utilizados so de Neodmio-Ferro-Boro com cobertura de Nquel que apresenta
remanncia magntica(Br) de 11.000Gauss (1,1T), coercividade intrnseca (Hc) de cerca de
15.000 Oersted e Produto de Energia (Bhmx)42MGOe e temperatura de trabalho mxima
recomendada 80C. Apresentam a forma cilndrica com dimetros de 3mm ,5mm e 11mm. Os
resultados apresentados neste Captulo, correspondem ao im de 11m de dimetro e 5mm de
altura.
4.5.1 - TORRE DE CALIBRAO

A torre de calibrao foi construda em duralumin (duralumnios) que so ligas de Al-Cu, Al-CuMg, as quais foram descobertas pelo metalurgista Alfred Wilm, da Drener-Metallwerke A. G.,
Duren, Alemanha, em 1906, da o seu nome. A escolha do alumnio foi feita por ser este um
material paramagntico.
A torre composta de 3 partes superpostas as quais permitem o movimento nas trs direes
X,Y,Z. Na extremidade de cada uma das partes est um parafuso micromtrico, tambm
denominado de micrmetro de curso 25mm e de 0,001mm de leitura.
No terceiro mdulo foi inserido uma pequena haste de ajuste flexvel para a colocao do
magneto.
Captulo IV
44
Figura 4.11 - Torre de calibrao.

Para realizar o deslizamento da torre sobre os trs eixos foram utilizadas guias fechadas com
rolamentos de esferas, devido a necessidade de se obter pequenos deslocamentos e evitar o
efeito stick-slip (efeito que limita a preciso de posicionamento de guias de escorregamento,
efeito de escorregamento entre duas superfcies, ou seja, uma aderncia descontnua na
superfcie de contato de deslizamento).
Nas guias de rolamentos o atrito reduzido pelos elementos rolantes, no entanto, nos pontos de
apoio dos elementos rolantes deve ser considerada a alta preciso existente. Nas guias com
elementos rolantes, como esferas, que o caso especfico utilizado na confeco da torre, as
esferas so montadas diretamente entre as partes mveis da guia, portanto, ambas as partes
devem possuir uma superfcie de guia com alto grau de acabamento superficial, isto retificado
e endurecido. Em um deslocamento s da guia, os elementos rolantes iro percorrer um
deslocamento s/2 .
As figuras 4.12, 4.13 e 4.14 apresentam o projeto da torre de calibrao, com as principais
medidas utilizadas nas trs vistas: frontal, lateral e superior da montagem executada, com todas
as medidas em milmetros.
Captulo IV
45
Figura 4.12 - Projeto da Torre de Calibrao - Vista frontal.
Captulo IV
46
Figura 4.13 - Projeto da Torre de Calibrao - Vista lateral.
Captulo IV
47
Figura 4.14 - Projeto da Torre de Calibrao - Vista superior.

Cabe salientar que o projeto e construo da torre de calibrao foi realizado junto ao IPCT
Instituto de Pesquisa Cientfica e Tecnolgica da PUCRS.
4.5.2 - EMULADOR DE MOVIMENTO MANDIBULAR

O emulador de movimento mandibular consiste de um boneco que abre e fecha a boca,
simulando o movimento realizado por uma pessoa.
O crnio foi construdo em fibra de polister com resina acrlica e borracha de silicone em
tamanho natural, sendo que os dentes foram moldados em resina acrlica e corante a partir de
forma obtida de um modelo de dentio natural.
Captulo IV
48
O chassis onde est fixada a dentadura foi todo construdo em alumnio e materiais no ferrosos
para evitar a influncia sobre os sensores.
O movimento mandibular obtido atravs do movimento circular uniforme do motor atravs de
uma manivela e os mancais, com excentricidade, permitem movimentos nas trs direes.
O acionamento automtico do sistema obtido por meio de um motor eltrico (pequeno motor
utilizado em uma parafusadeira), o qual utiliza duas baterias recarregveis de 1,2V em paralelo,
para se obter a freqncia de 40 ciclos por minuto.
As dimenses da estrutura foram determinadas em funo das dimenses mdia de uma pessoa,
de tal forma, que com o auxlio do formato da dentio natural reproduz o movimento
mandibular nas trs direes (X,Y,Z).
Figura 4.15 - Emulador de Movimento Mandibular - Vista frontal.
Captulo IV
49
Figura 4.16 - Emulador de movimento mandibular - Vista lateral.
Figura 4.17 - Emulador de movimento mandibular - Vista interna.
Captulo IV
50
O projeto do emulador de movimento mandibular est detalhado nas figuras 4.18, 4.19 e 4.20,
com todas as medidas em milmetros.
Figura 4.18 - Projeto do Emulador de Movimento Mandibular - Vista frontal.

1
2
3
4
5
6
7A
7B
8
9
10
11
12
Minimotor DC 1,2V
Redutor
Biela
Manivela
Mandbula
Maxila
Dentes superiores
Dentes inferiores
Eixo principal da articulao
Chassis
Eixo do redutor
Eixo do motor
Alimentao do motor
Captulo IV
51
Figura 4.19 - Projeto do Emulador de Movimento Mandibular Planta.

1
2
3
4
5
6
7A
7B
8
9
10
11
12
Minimotor DC 1,2V
Redutor
Biela
Manivela
Mandbula
Maxila
Dentes superiores
Dentes inferiores
Chassis
Eixo do redutor
Eixo do motor
Alimentao do motor
Captulo IV
52
Figura 4.20 - Projeto do Emulador de Movimento Mandibular - Vista lateral.

Nomenclatura
1
2
3
4
5
6
7A
7B
8
9
10
11
12
Minimotor DC 1,2V
Redutor
Biela
Manivela
Mandbula
Maxila
Dentes superiores
Dentes inferiores
Chassis
Eixo do redutor
Eixo do motor
Alimentao do motor
Captulo IV
53
A Figura 4.21 apresenta o emulador do movimento mandibular completo, mostrando o
dispositivo interno (responsvel pelo movimento mandibular) e a estrutura externa, ou seja a
cabea que constituda de fibra de polister com resina acrlica e borracha de silicone em
tamanho natural, obtida atravs de um modelo de um manequim.
Figura 4.21 - Estrutura externa e interna do Emulador de Movimento Mandibular.
4.5.3 - SISTEMA COMPLETO

O sistema completo para calibrao que consiste da torre de calibrao e do dispositivo de
medio (Coroa de Sensores) pode ser visto nas Figuras 4.22, 4.23 e 4.24.
Captulo IV
54
Figura 4.22 - Sistema completo do Sistema de Calibrao - Vista frontal.
Figura 4.23 - Sistema completo do Sistema de Calibrao - Vista lateral.

Captulo IV
55
Figura 4.24 - Sistema completo do Sistema de Calibrao - Vista superior.

O sistema montado para a simulao do movimento mandibular de uma pessoa, que consiste do
dispositivo de medio (Coroa de Sensores) e do Emulador de Movimento Mandibular, pode ser
visto nas Figuras 4.25, 4.26, 4.27 e 4.28.
Figura 4.25 - Sistema de Medio de Movimento Mandibular - Vista lateral.
Captulo IV
56
Figura 4.26 - Sistema de Medio de Movimento Mandibular - Vista frontal.
Figura 4.27- Sistema de Medio de Movimento Mandibular - Vista lateral - boca fechada.
Captulo IV
57
Figura 4.28 - Sistema de Medio de Movimento Mandibular - Sistema desacoplado.
4.6 - MONTAGEM DA MATRIZ DE CALIBRAO

As matrizes de calibrao utilizadas neste trabalho foram realizadas de forma sistemtica
fazendo-se uma varredura no espao de 25X25X23mm, de 5 em 5 milmetros., obtendo-se no
final uma matriz de calibrao em 3D.
A aquisio inicia na posio X=Y=Z=0mm, caracterizando o ponto (1,1,1) , sendo feita toda a
varredura em X e depois em Y. Depois de completado o plano, muda-se a posio do parafuso
micromtrico do eixo Z para a posio Z=5mm e inicia-se a varredura em X e Y, e assim
sucessivamente. A cada plano se obtm 36 valores, sendo que no final da aquisio so
totalizadas 216 medidas de tenso.
A estrutura computacional utilizada formada por oito matrizes tridimensionais, uma para cada
sensor.
Na apresentao dos resultados foram utilizadas as matrizes de calibrao realizadas em maio e
novembro de 2002.
Captulo IV
58
4.7 - CONCLUSO
Por ser um trabalho experimental sempre possvel aperfeioar o sistema e praticamente
impossvel esgotar todas as possibilidades na tentativa de acompanhar o desenvolvimento
tecnolgico atual. Algumas possibilidades de aperfeioamento do sistema esto dispostas como
concluses deste captulo.
- APROXIMAO DE PLACAS
O equipamento denominado de Coroa de Sensores no desenvolvimento do texto, foi construdo
de tal forma que as placas de celeron onde se encontram os sensores, faam com que a distncia
entre os mesmos seja de 40mm. possvel testar novas distncias entre as placas e analisar os
resultados obtidos.
- MUDANA DO NGULO ENTRE OS SENSORES

As placas onde se encontram os sensores tm quatro (4) posies definidas (duas posies
lineares e duas posies angulares). Na posio atual os sensores esto na maior distncia
possvel do magneto. possvel utilizar a posio onde os sensores fiquem mais prximos do
magneto mantendo, ainda, a distncia necessria para medida de movimentos na ATM.
- TIPOS DE SENSORES
possvel utilizar um outro tipo de sensor magnetoresistivo como o sensor magnetoresistivo
KMZ51 da Philips. O KMZ51 um sensor de superfcie e possui uma bobina interna para
calibrar o sistema toda vez que ele inicializado, portanto necessita de uma fonte de corrente,
com clock, para alimentar esta bobina. Este sensor apresenta uma sensibilidade quatro (4)
vezes maior que o KMZ10B.
- CONVERSOR A/D
Poderia se substituir o conversor A/D 12 bits, utilizado atualmente, por um conversor A/D de 16
bits, o que melhoraria consideravelmente a preciso da medida, pois seria possvel medir at
0,00762930mV, o que possibilitaria obter resultados de centsimos de milmetro.
Pode-se implementar mais de uma destas possibilidades conjuntamente, porm sendo este um
trabalho na rea experimental, testes tero que ser feitos para se optar pela melhor opo.
Captulo IV
59
CAPTULO V
MODELAGEM MATEMTICA PARA ESTIMAO DE
PARMETROS
5.1 - INTRODUO
Um modelo matemtico uma forma de representao simblica onde as variveis do sistema
fsico real so representadas atravs de smbolos que so relacionados atravs de expresses
matemticas que visam capturar os aspectos essenciais (no julgamento de quem os constri) do
funcionamento do sistema fsico real, permitindo uma estimativa rpida, numa linguagem
concisa e universal da representao, do comportamento do mesmo.
Um modelo matemtico, por ser uma representao, nunca pode ser considerado como uma
reproduo exata do sistema fsico real, e tambm no possvel dizer, que existe um nico
modelo para um sistema fsico real. A definio do melhor modelo depende da sua aplicao e
nem sempre o modelo que representa o sistema com maior grau de detalhamento, teoricamente
mais complicado, seja o modelo mais adequado.
O processo de modelagem pode se caracterizar por uma hierarquia de modelos variando entre os
mais detalhados e complexos at aos mais simples, que por seu lado so mais fceis de se
manipular analtica e numericamente.
Sjberg et al., 1995, afirma que o ponto chave da identificao de sistemas a determinao de
uma estrutura aceitvel para o modelo e que um ponto importante que esta escolha seja
parcimoniosa, isto , saber limitar a complexidade do modelo para obter o grau de preciso
desejado.
No trabalho em questo, era necessrio transformar oito medidas de tenso (uma medida por
sensor) em trs coordenadas (X;Y;Z), ou seja, identificar o movimento do magneto no espao,
em funo da variao do campo magntico captado por cada sensor, o qual tinha como valores
de sada, medidas de tenso. Tinha-se que estimar os valores de (X;Y;Z) em funo das medidas
de tenso dos oito sensores.
Optou-se por utilizar o Mtodo dos Mnimos Quadrados, estimando-se as coordenadas (X;Y;Z)
atravs de um ajuste quadrtico, em funo do comportamento dos sensores apresentarem um
comportamento prximo de uma funo quadrtica.
Captulo V
60
5.2 - MTODO DOS MNIMOS QUADRADOS

Para o problema especfico a questo determinar os valores de deslocamento nas 3 direes
ortogonais (X,Y,Z) tendo como grandezas medidas as tenses nos 8 sensores magnetoresistivos.
A soluo para o problema da forma mostrada nas equaes 5.1 a 5.3.
n
[ X ] = xi i (V 1 ,V 2 ,...,V 8)
(5.1)
i =1
n
[Y ] = yi i (V 1 ,V 2 ,...,V 8)
(5.2)
i =1
n
[ Z ] = zi i (V 1 , V 2 ,..., V 8)
(5.3)
i =1
onde:
X , Y , Z : valores de posio estimados;
xi , B yi , zi :parmetros desconhecidos;
i : funo quadrtica dos valores medidos;
u (t ) (V 1 , V 2 ,...V 8) : medidas de tenso.
Para a funo foi escolhido um ajuste quadrtico, pois a curva de operao dos sensores,
apresenta um comportamento que muito se assemelha a uma funo quadrtica, conforme pode
ser observado nas Figuras 5.1 a 5.8.
Captulo V
61
Figura 5.1 - Curva de operao do Sensor 1.
Captulo V
62
Captulo V
63
Captulo V
64

As Figuras 5.1 a 5.8, apresentam os valores de tenso medidos a cada 5mm entre o ponto 0 e
25mm, nos 3 eixos ortogonais (X,Y,Z). O primeiro plano corresponde a Z=0mm, e o sexto plano,
Captulo V
65
a Z=25mm; sendo que para cada plano destes, foram feitas medidas de 5 em 5mm variando-se,
primeiramente o parafuso no eixo X (de 0 a 25mm) e depois no eixo Y (de 0 a 25mm).
A equao geral para a obteno dos valores estimados de X , Y , Z para o caso especfico deste
trabalho pode ser vista na equao 5.4.
X = 1 + 2 V 1 + 3 V 2 + 4 V 3 + 5 V 4 + 6 V 5 + 7 V 6 + 8 V 7 +
9 V 8 + 10 V 12 + 11V 22 + 12 V 32 + 13 V 24 + 14 V 52 + 15 V 62 + 16 V 72 + 17 V 82 +
(5.4)
18 V 1 V 8 + 19 V 1V 7 + 20 V 1V 6 + 21V 1V 5 + 22 V 1V 4 + 23 V 1V 3 +
24 V 1V 2 + 25 V 2 V 8 + 26 V 2 V 7 + 27 V 2 V 6 + 28 V 2 V 5 + 29 V 2 V 4 + 30 V 2 V 3
+ 31V 3 V 8 + 32 V 3 V 7 + 33 V 3 V 6 + 34 V 3 V 5 + 35 V 3 V 4 + 36 V 4 V 8 + 37 V 4 V 7
+ 38 V 4 V 6 + 39 V 4 V 5 + 40 V 5 V 8 + 41V 5 V 7 + 42 V 5 V 6 + 43 V 6 V 8 + 44 V 6 V 7
+ 45 V 7 V 8
Sendo que a mesma equao (5.4) utilizada para determinar

Determinando-se ento os parmetros desconhecidos
Y e Z .
BetaX = ( T ) T X
(5.5)
BetaY = ( T ) T Y
(5.6)
BetaZ = ( T ) T Z
(5.7)
Sendo finalmente calculado os valores de
(X , Y , Z ) estimados:
X = BetaX
(5.8)
Y = BetaY
(5.9)
Z = BetaZ
(5.10)
Captulo V
66
5.3 - CONCLUSO
Neste captulo foi apresentado o modelo matemtico implementado para a identificao do
deslocamento em 3D.
Os programas para a implementao foram desenvolvidos utilizando o software Matlab, Release
12.
A utilizao do Mtodo dos Mnimos Quadrados com a matriz como uma funo quadrtica
dos valores medidos forneceu resultados satisfatrios na estimao das coordenadas X,Y,Z.
Para a apresentao dos resultados obtidos optou-se por um captulo especfico, sendo que os
mesmos encontram-se no captulo VII, deste trabalho.
Captulo V
67
CAPTULO VI
PROCESSAMENTO DE SINAIS
6.1 - INTRODUO
Neste captulo ser apresentado o comportamento do circuito eletrnico utilizado para o
desenvolvimento do prottipo para medir deslocamento em 3D, bem como o detalhamento do
processo de tratamento de sinais utilizado.
Pretende-se fazer uma abordagem do que consiste um processamento de sinais para o
desenvolvimento de um instrumento para uso mdico e suas principais caractersticas estticas.
Por caractersticas estticas se define a descrio do comportamento do instrumento em corrente
contnua ou com sinais de baixa freqncia. As propriedades do sinal de sada para uma gama de
variveis de entrada demonstram a qualidade das medidas que o instrumento oferece, bem como
o grau de confiana que o mesmo oferece. As definies utilizadas neste captulo esto em
Webster, 1992.
6.2 - CARACTERSTICAS ESTTICAS

6.2.1 - IMPRECISO
A impreciso de uma medida pode ser caracterizada pela diferena entre o valor verdadeiro da
grandeza e o valor medido dividido pelo valor verdadeiro, sendo essa razo expressa
normalmente em porcentagem.
O valor de referncia da medida, para o trabalho aqui apresentado, o valor definido na
calibrao pelos trs parafusos micromtricos utilizados no sistema. Para exemplificar ser
utilizado um ponto qualquer, cujos valores foram obtidos na mesma semana da confeco da
matriz de calibrao. Para o exemplo em questo, os dados referem-se matriz de calibrao
obtida no ms de maio de 2002. Ressalta-se a importncia da referncia da data da aquisio,
pois, devido sensibilidade do sensor, a matriz de calibrao necessita ser refeita de tempos em
tempos. Esse tempo pode variar em funo da temperatura ambiente, mas estima-se que a
calibrao deve ser refeita, no mnimo, uma vez por ms.
Ponto fixo: (X,Y,Z) = (12mm, 16mm, 18mm), valores no parafuso micromtrico.
Captulo VI
68
Xcal = 12,0499
Impreciso: 0,41%
Ycal = 16,0535
Impreciso: 0,33%
Zcal = 18,2515
Impreciso: 1,39%
Os valores com o sub-ndice cal, referem-se aos valores calculados no software.
6.2.2 - EXATIDO
A exatido de uma medida expressa o nmero de algarismos significativos que podem ser
considerados. Por exemplo, um medidor que mostra uma leitura de 2,434V mais exato que um
instrumento que mostra uma leitura de 2,43V. importante se dizer que alta exatido da medida
no implica em preciso da medida. Como exemplo, ser apresentado o mesmo ponto utilizado
na determinao da impreciso.
Ponto fixo: (X,Y,Z) = (12mm, 16mm, 18mm), valores no parafuso micromtrico
Xcal = 12,0499
Ycal = 16,0535
Zcal = 18,2515
Apesar do instrumento apresentar uma exatido de 04 algarismos depois da vrgula, somente um
algarismo significativo.
6.2.3 - RESOLUO
A resoluo de um medidor representa o menor incremento que este medidor pode medir. Para a
obteno deste valor, deve-se saber que devido a placa de aquisio de dados utilizada, (12 bits),
o menor valor que a mesma pode medir 1,22 mV, ou seja 0,00122V, pois foram fixados os
valores de 2,5V como valores limites para a placa de medio.
Em funo da caracterstica no linear do sensor magnetoresistivo utilizado, no possvel
definir exatamente qual o menor valor em mm possvel de ser medido, pois, a variao de tenso
obtida para uma variao de 1mm em 1mm varia conforme a posio que o magneto est em
relao ao sensor, conforme pode ser observado na Tabela 6.1, respectivamente para cada sensor.
A Tabela 6.1 apresenta os valores de tenso nos oito sensores magnetoresistivos, para um
deslocamento de 1 em 1mm no eixo X, entre os pontos X=10mm e X=15mm, enquanto os
parafusos nos eixos Y e Z eram mantidos fixos nos pontos Y=Z=10mm.
Captulo VI
69
Tabela 6.1- Valores de tenso nos 8 sensores em funo de deslocamento no eixo X com os
parafusos nos eixos Y e Z fixos
X(mm)
Y(mm)
Z(mm)
S1(V)
S2(V)
S3(V)
S4(V)
S5(V)
S6(V)
S7(V)
S8(V)
10
10
10
-1,1976
0,5939
-0,2361
0,4766
1,1313
0,1517
0,9105
0,4117
11
10
10
-1,1797
0,5667
-0,2482
0,4394
1,1459
0,1529
0,9256
0,3756
12
10
10
-1,1718
0,5416
-0,2634
0,3971
1,1550
0,1479
0,9367
0,3267
13
10
10
-1,1650
0,5160
-0,2810
0,3553
1,1643
0,1417
0,9467
0,2804
14
10
10
-1,1569
0,4920
0,2972
0,3103
1,1736
0,1383
0,9583
0,2286
15
10
10
-1,1485
0,4688
-0,3143
0,2646
1,1824
0,1305
0,9693
0,1747
OBS: os dados acima correspondem a medies realizadas em abril de 2002.

A diferena entre os valores de tenso de sada entre um ponto e outro, em cada sensor, ao se
realizar o deslocamento de 1 em 1mm no eixo X pode ser observado atravs da Tabela 6.2. A
primeira coluna da Tabela 6.2 mostra o deslocamento de 1mm entre os pontos 10 e 15mm
definidos pelos parafusos micromtricos da torre de calibrao, que corresponde a um
deslocamento no plano horizontal. Nas colunas seguintes, est apresentada a diferena entre o
valor de tenso medido num ponto e o valor de tenso medido entre o outro ponto, distantes
entre si de 1mm. Pode-se verificar que esta diferena varivel, tanto para cada sensor, como
para o mesmo sensor em posies distintas.
Tabela 6.2- Diferena de tenso entre 2 pontos distantes entre si de 1mm no eixo X para os 8
sensores
1 mm
S1(mV)
S2(mV)
S3(mV)
S4(mV)
S5(mV)
S6(mV)
S7(mV)
S8(mV)
10-11
17,90
27,20
12,10
37,20
14,60
1,20
15,10
36,10
11-12
7,90
25,10
15,20
42,30
9,10
5,00
11,10
48,90
12-13
6,80
25,60
17,60
41,80
9,30
6,20
10,00
46,30
13-14
8,10
24,00
16,20
45,00
9,30
3,40
11,60
51,80
14-15
8,40
23,20
17,10
45,70
8,80
7,80
11,00
53,90
O que possvel afirmar quando houver um valor de deslocamento cuja tenso medida menor
que 1,22mV que:
Captulo VI
70
-
esta medida no pode ser considerada pois este valor representa o rudo do sistema ou;
no houve deslocamento do mvel ou;
o deslocamento foi to pequeno que o sensor no captou corretamente.
No exemplo da Tabela 6.2, a diferena da tenso medida pelo sensor 6 na posio X=10mm e
Y=11mm (1,20mV) no reflete o movimento efetuado sendo esta medida de pouco auxlio na
determinao do movimento. O fato do Sensor 6 apresentar esta pequena variao na tenso ao
se realizar um deslocamento (1mm) pode ser pela posio que o mesmo se encontra em relao
ao magneto ou por ele estar operando numa faixa de pouca sensibilidade (prxima de 0 Volts,
conforme mostra mostrado na Tabela 6.1). Para modificar esta situao necessrio alterar a
faixa de operao do sensor. Isto pode ser feito retirando-o do equipamento e colocando-o
prximo a um campo magntico externo capaz de alterar a posio interna das tiras de permalloy
alterando sua faixa de operao.
Salienta-se que o fato do Sensor 6 estar apresentando valores pouco significativos, em alguns
pontos, no prejudicam os resultados obtidos.
6.2.4 - REPETIBILIDADE
a capacidade de um instrumento repetir o valor medido para situaes idnticas em diferentes
ensaios e, conseqentemente em diferentes instantes de tempo.
A repetibilidade de medidas ser mostrada para os valores de posio (deslocamentos)
estimados, e no para os valores de tenso medida em cada sensor conforme a posio do im,
pois o importante a anlise da repetibilidade do instrumento quanto aos valores de
deslocamento, (em mm) estimados. As Tabelas 6.3, 6.4 e 6.5 apresentam os resultados quanto a
repetibilidade efetuados da seguinte forma: variar o parafuso do eixo X entre a posio X=10mm
e X=15mm de 1 em 1mm, mantendo-se os eixos Y e Z fixos e iguais a 15mm. Foram realizados
5 repeties e os resultados obtidos esto definidos na Tabela 6.3, 6.4 e 6.5, bem como o valor
mdio e o desvio padro de cada conjunto de valores estimados.
A Tabela 6.3 apresenta os valores de deslocamentos no eixo X, nos 5 ensaios realizados, para
Y=Z=15mm.
Captulo VI
71
Tabela 6.3- Valores de deslocamentos no eixo X entre 10 e 15 mm com Y=Z=15mm
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
10,0000
10,6812
10,6688
10,6437
10,6181
10,6037
10,6431
0,0327
11,0000
11,7399
11,7470
11,7128
11,6695
11,6949
11,7128
0,0320
12,0000
12,7856
12,8336
12,7898
12,7603
12,7645
12,7868
0,0292
13,0000
13,9175
13,8798
13,8417
13,8833
13,8108
13,8666
0,0412
14,0000
15,0036
15,0027
14,9524
14,9717
14,8844
14,9630
0,0490
15,0000
16,0809
16,0646
16,0454
16,0314
15,9467
16,0338
0,0522
X(mm)
A Figura 6.1 apresenta graficamente os dados da Tabela 6.3
Deslocamento no eixo X entre 10 e 15 mm com Y e Z =15mm
16,5
0,08
Ensaio 1
Ensaio 2
15,5
0,07
Ensaio 3
Ensaio 4
0,06
Mdia
14,5
0,05
Desvio
13,5
0,04
Desvio (mm)
Deslocamento medido (mm)
Ensaio 5
0,03
12,5
0,02
11,5
0,01
10,5
0
10
11
12
13
14
15
Deslocamento em X (mm)
Figura 6.1 Deslocamento no eixo X entre 10 e 15mm com Y= Z=15mm.

A Tabela 6.4 apresenta os valores obtidos nos cinco ensaios para a posio do parafuso fixado
em Y=15mm, quando estava sendo realizado o deslocamento no eixo X, entre 10 e 15mm, com
Z=15mm.
Captulo VI
72
Tabela 6.4- Valores de Y =15mm em funo do deslocamento no eixo X entre 10 e 15 mm e
Z=15mm
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
15,0000
15,7489
15,5594
15,5666
15,5182
15,5219
15,5830
0,0952
15,0000
15,5804
15,5455
15,5389
15,4876
15,4985
15,5302
0,0376
15,0000
15,5418
15,5507
15,5105
15,4939
15,4761
15,5146
0,0315
15,0000
15,5441
15,5286
15,5055
15,4966
15,4632
15,5076
0,0311
15,0000
15,5450
15,5288
15,4766
15,5036
15,4441
15,4996
0,0404
15,0000
15,5216
15,5026
15,4951
15,4991
15,4118
15,4860
0,0427
Y(mm)
A Figura 6.2 apresenta graficamente os dados da Tabela 6.4
Medidas em Y para deslocamento no eixo X entre 10 e 15 mm

0,110
16,0
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
0,090
Ensaio 4
Ensaio 5
0,070
Mdia
Medida em Y (mm)
Desvio
0,050
0,030
Desvio (mm)
15,8
0,010
15,6
-0,010
-0,030
-0,050
15,4
15
15
15
15
15
15
Deslocamento Y (mm)
Figura 6.2 - Valores de Y =15mm em funo do deslocamento no eixo X entre 10 e 15 mm e

Z=15mm.
em Z=15mm, quando estava sendo realizado o deslocamento no eixo X, entre 10 e 15mm, com
Y=15mm.
Captulo VI
73
Tabela 6.5- Valores de Z =15mm em funo do deslocamento no eixo X entre 10 e 15 mm e
Y=15mm
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
15,0000
15,6124
15,6717
15,6816
15,8032
15,8275
15,7193
0,0920
15,0000
15,6860
15,6338
15,6567
15,7401
15,8007
15,7035
0,0673
15,0000
15,6433
15,6753
15,6147
15,7279
15,7972
15,6917
0,0724
15,0000
15,6654
15,6235
15,6372
15,7257
15,7731
15,6850
0,0630
15,0000
15,6808
15,6506
15,5350
15,7128
15,7411
15,6641
0,0797
15,0000
15,7008
15,6662
15,6160
15,6882
15,7056
15,6754
0,0365
Z(mm)
A Figura 6.3 apresenta graficamente os dados da Tabela 6.5.

Medidas em Z para deslocamento no eixo X entre 10 e 15 mm
0,100
16,2
Ensaio 1
Ensaio 2
0,090
Ensaio 3
Ensaio 4
0,080
Ensaio 5
16,0
Mdia
0,070
0,060
0,050
15,8
0,040
Desvio (mm)
Medida em Z (mm)
Desvio
0,030
15,6
0,020
0,010
0,000
15,4
15
15
15
15
15
15
Deslocamento Z (mm)
Figura 6.3 - Valores de Z =15mm em funo do deslocamento no eixo X entre 10 e 15 mm e

Y=15mm.
6.2.5 - CONTROLE ESTATSTICO

O controle estatstico assegura que variveis randmicas que surjam no processo de medio
devido influncia de alguns fatores, possam ser toleradas. Erros ou tendncias nas obteno de
medidas podem ser removidos atravs de calibraes e correo de fatores, mas variveis
Captulo VI
74
aleatrias so problemas mais difceis de serem solucionados. O instrumento, ou mesmo a pessoa
que realiza a medida pode colaborar no sentido de tornar as medidas sem a repetibilidade
necessria para a confiabilidade das mesmas. Se a causa desta instabilidade no puder ser
eliminada, ento uma anlise estatstica dever ser utilizada para determinar a variao deste
erro. A estimao do valor verdadeiro pode ser obtida atravs da mdia de vrias medies
realizadas.
As Tabelas 6.3, 6.4 e 6.5 mostram a mdia dos valores estimados em 5 ensaios e o desvio padro
de cada conjunto de medidas, para um deslocamento no eixo X, mantendo-se o eixo Y e o eixo Z
na posio de 15mm, definidas pela torre de calibrao.
As Tabelas 6.6, 6.7 e 6.8 mostram os valores estimados, a mdia e o desvio padro, nos trs
eixos, para 5 ensaios realizados, deslocando-se o parafuso na direo do eixo Y entre 10 e
15mm, mantendo-se a posio nos eixos X igual ao eixo Z e igual a 15 mm.
A Tabela 6.6 apresenta os valores obtidos, nos cinco ensaios, para a posio do parafuso fixado
em X=15mm, quando estava sendo realizado o deslocamento no eixo Y, entre 10 e 15mm, com
Z=15mm.
Tabela 6.6- Valores de X =15mm em funo do deslocamento no eixo Y entre 10 e 15 mm e
Z=15mm
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
15,0000
15,8090
15,7970
15,7872
15,7890
16,0699
15,8504
0,1230
15,0000
15,8206
15,7746
15,7702
15,7725
16,0804
15,8436
0,1340
15,0000
15,7957
15,7950
15,7678
15,7887
16,0944
15,8483
0,1380
15,0000
15,8101
15,7719
15,8236
15,7590
16,1419
15,8613
0,1591
15,0000
15,8288
15,7659
15,8218
15,7622
15,7827
15,7923
0,0312
15,0000
15,8522
15,7427
15,7416
15,7423
15,7398
15,7637
0,0495
X(mm)
Captulo VI
75
Medidas em X para deslocamento no eixo Y entre 10 e 15 mm

0,200
17,0
Ensaio 1
Ensaio 2
16,8
Ensaio 3
0,150
Ensaio 4
16,6
Ensaio 5
0,100
Desvio
16,2
0,050
Desvio (mm)
Medida em X (mm)
Mdia
16,4
16,0
0,000
15,8
-0,050
15,6
-0,100
15,4
15
15
15
15
15
15
Deslocamento X (mm)
Figura 6.4 - Valores de X =15mm em funo do deslocamento no eixo Y entre 10 e 15 mm e

Z=15mm.
A Tabela 6.7 apresenta o resultado dos deslocamentos no eixo Y, nos 5 ensaios realizados para
X=Z=15mm.
Tabela 6.7- Valores de deslocamentos no eixo Y entre 10 e 15mm com X=Z=15mm
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
10,0000
10,3790
10,3629
10,3416
10,3460
10,3939
10,3647
0,0221
11,0000
11,3687
11,3182
11,3174
11,3267
11,3876
11,3437
0,0323
12,0000
12,3595
12,3237
12,3253
12,3231
12,3942
12,3451
0,0314
13,0000
13,3491
13,3093
13,3507
13,3062
13,3923
13,3415
0,0354
14,0000
14,3570
14,3094
14,3371
14,3012
14,3110
14,3231
0,0232
15,0000
15,3568
15,3028
15,3156
15,2925
15,2981
16,3131
0,0259
Y(mm)
Captulo VI
76
Deslocamento no eixo Yentre 10 e 15 mm com X e Z =15mm
17
0,06
Ensaio 1
Ensaio 2
16
0,05
Ensaio 3
Ensaio 5
15
Mdia
0,04
Desvio
14
0,03
13
Desvio (mm)
Ensaio 4
0,02
12
0,01
11
10
0
10
11
12
13
14
15
Deslocamento em Y (mm)
Figura 6.5 - Deslocamento no eixo Y entre 10 e 15 mm com X=Z=15mm.

em Z=15mm, quando estava sendo realizado o deslocamento no eixo Y entre 10 e 15mm, com
X=15mm.
Tabela 6.8- Valores de Z =15mm em funo do deslocamento no eixo Y entre 10 e 15 mm e
X=15mm.
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
15,0000
15,1194
15,0963
15,1421
15,1544
14,6812
15,0387
0,2011
15,0000
15,1519
15,1402
15,1440
15,1908
14,6992
15,0652
0,2056
15,0000
15,1682
15,1987
15,1880
15,2452
14,7430
15,1086
0,2063
15,0000
15,1858
15,2419
15,2830
15,2717
14,7052
15,1375
0,2446
15,0000
15,2444
15,3037
15,2909
15,2921
15,3322
15,2927
0,0317
15,0000
15,2740
15,3356
15,3786
15,3320
15,3375
15,3315
0,0373
Z(mm)
Captulo VI
77
Medidas em Z para deslocamento no eixo Y entre 10 e 15 mm

0,300
16,2
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
15,8
0,250
Ensaio 4
Ensaio 5
0,200
Desvio
15,4
0,150
0,100
15,0
Desvio (mm)
Medida em Z (mm)
Mdia
0,050
0,000
14,6
-0,050
-0,100
14,2
15
15
15
15
15
15
Deslocamento Z (mm)
Figura 6.6 - Valores de Z =15mm em funo do deslocamento no eixo Y entre 10 e 15 mm e

X=15mm.
As Tabelas 6.9, 6.10 e 6.11 mostram os valores estimados, a mdia e o desvio padro para 5
ensaios realizados, deslocando-se o parafuso na direo do eixo Z entre 10 e 15mm, mantendo-se
a posio nos eixos X igual ao eixo Y e igual a 15 mm.
em X=15mm, quando estava sendo realizado o deslocamento no eixo Z, entre 10 e 15mm, com
Y=15mm.
Tabela 6.9- Valores de X =15mm em funo do deslocamento no eixo Z entre 10 e 15 mm e
Y=15mm
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
15,0000
16,0319
16,0082
16,0879
16,0712
15,8866
16,0172
0,0795
15,0000
16,0376
16,0315
16,0541
16,0000
15,8748
15,9996
0,0725
15,0000
16,1121
16,0110
16,0256
15,8757
15,8495
15,9748
0,1098
15,0000
15,9847
15,9832
16,0102
15,8687
15,8494
15,9392
0,0743
15,0000
15,9746
15,9574
16,0215
15,8484
15,8199
15,9243
0,0862
15,0000
15,9711
16,0056
16,0351
15,8272
15,8332
15,9344
0,0978
X(mm)
Captulo VI
78
Medidas em X para deslocamento no eixo Z entre 10 e 15 mm

16,4
0,140
Ensaio 1
Ensaio 2
16,3
0,120
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
16,2
0,100
Mdia
16,1
0,080
16,0
0,060
15,9
0,040
15,8
0,020
15,7
Desvio (mm)
Medida em X (mm)
Desvio
0,000
15
15
15
15
15
15
Deslocamento X (mm)
Figura 6.7 - Valores de X=15mm em funo do deslocamento no eixo Z entre 10 e 15 mm e

Y=15mm.
em Y=15mm, quando estava sendo realizado o deslocamento no eixo Z entre 10 e 15mm, com
X=15mm.
Tabela 6.10- Valores de Y =15mm em funo do deslocamento no eixo Z entre 10 e 15 mme
X=15mm.
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
15,0000
15,4925
15,4809
15,4920
15,4886
15,5125
15,4933
0,0117
15,0000
15,4728
15,4663
15,4855
15,4503
15,5019
15,4754
0,0195
15,0000
15,4834
15,4499
15,4598
15,4920
15,4873
15,4745
0,0185
15,0000
15,4406
15,4385
15,4382
15,4849
15,4899
15,4584
0,0265
15,0000
15,3963
15,4100
15,4224
15,4607
15,4485
15,4276
0,0267
15,0000
15,3873
15,4043
15,4253
15,4342
15,4405
15,4183
0,0221
Y(mm)
Captulo VI
79
Figura 6.8 apresenta graficamente os dados da Tabela 6.10.
Medidas em Y para deslocamento no eixo Z entre 10 e 15 mm

15,8
0,050
Ensaio 1
Ensaio 2
0,040
Ensaio 3
Ensaio 4
15,7
Ensaio 5
0,030
Mdia
0,020
0,010
15,5
Desvio (mm)
Medida em Y (mm)
Desvio
15,6
0,000
-0,010
15,4
-0,020
15,3
-0,030
15
15
15
15
15
15
Deslocamento Y(mm)
Figura 6.8 - Valores de Y=15mm em funo do deslocamento no eixo Z entre 10 e 15 mm e

X=15mm.
A Tabela 6.11 apresenta o resultado dos deslocamentos no eixo Z nos 5 ensaios realizados para
X=Y=15mm.
Tabela 6.11- Valores de deslocamentos no eixo Z entre 10 e 15 mm com X=Y=15mm
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
(mm)
10,0000
10,1674
10,1581
10,2639
10,2493
10,1644
10,2006
0,0515
11,0000
11,1564
11,1502
11,2167
11,1863
11,1596
11,1738
0,0277
12,0000
12,1803
12,1313
12,1639
12,1048
12,1339
12,1429
0,0296
13,0000
13,1433
13,1332
13,1190
13,1122
13,1469
13,1309
0,0151
14,0000
14,0808
14,1133
14,0403
14,1123
14,1203
14,0934
0,0334
15,0000
15,0488
15,1394
15,0067
15,1131
15,1091
15,0834
0,0542
Z(mm)
Figura 6.9 apresenta graficamente os dados da Tabela 6.11.
Captulo VI
80
Deslocamento no eixo Z entre 10 e 15 mm com X e Y =15mm
17
0,08
Ensaio 1
Ensaio 2
16
0,07
Ensaio 3
Ensaio 4
0,06
Mdia
Desvio
0,05
14
0,04
13
Desvio (mm)
Ensaio 5
15
0,03
12
0,02
11
0,01
10
0
10
11
12
13
14
15
Deslocamento em Z (mm)
Figura 6.9 - Deslocamento no eixo Z entre 10 e 15 mm com X=Y=15mm.

A escolha dos valores apresentados para verificao da repetibilidade das medidas entre 10 e
15mm foi feita por representarem o centro do paraleleppedo formado pelo deslocamento do
magneto nas trs direes, e traando um paralelo com o caso real, ou seja, o im colocado no
dente incisivo do paciente, as variaes no plano sagital (esquerdo-direito) e orbital (anteriorposterior) seriam em torno desses valores.
6.2.6 - AJUSTE DE ZERO (ZERO DRIFT)

Interferncias e/ou modificaes na entrada podem afetar a curva de calibrao esttica do
instrumento de diversas maneiras. O zero drift ocorre quando todos os valores de sada
aumentam ou diminuem de um mesmo valor absoluto, porm a inclinao da curva de
sensibilidade no alterada. Os fatores que podem causar o zero drift so: desalinhamento na
montagem e/ou construo do equipamento, variaes na temperatura ambiente, histerese,
vibraes, choques e sensibilidade foras de natureza indesejadas.
Nos ensaios realizados pode-se constatar que a calibrao deve ser feita em intervalos de tempos
pequenos, o que significa que a alta sensibilidade do sensor quanto variao de temperatura e
tambm devido a pequenos choques (vibraes) na mesa onde est fixado o equipamento. No
Apndice II, as Figuras 2.18a e 2.19a fornecidas pela Philips fabricante dos sensores, confirmam
Captulo VI
81
esta afirmao: a sensibilidade do sensor cai com o acrscimo da temperatura. A razo para tal
fato complexa e est relacionada com a estrutura da banda de energia das tiras de .
importante salientar que mesmo que a calibrao no esteja perfeitamente atualizada,
possvel identificar o deslocamento, isto , quando o mvel se desloca de uma determinada
posio outra possvel identificar de quanto foi esse deslocamento, porm no se pode
determinar com preciso a posio exata do mvel, o que no relevante para o objetivo do
trabalho em questo. As Tabelas 6.3 a 6.10 apresentam os resultados obtidos e comprovam esta
questo.
Para a obteno das Tabelas 6.3 a 6.10 foi utilizada a matriz de calibrao obtida em maio de
2002, e os 5 ensaios, apresentados nas Tabelas foram realizados em julho de 2002.
Como exemplo pode-se tomar o deslocamento no eixo X (Tabela 6.3), onde se realizou um
deslocamento entre o ponto (10,15,15mm) definido no parafuso micromtrico, at o ponto
(15,15,15), ou seja um deslocamento de 5mm realizado de 1 em 1mm com os parafusos nos
eixos Y e Z constantes e iguais a 15mm.
Pode-se observar neste exemplo, que o valor mdio estimado para a posio X=10mm, foi de
10,6431mm, ou seja uma diferena de 0,6mm, que pode ser considerado um erro grosseiro de
medio, mas quando se verifica o deslocamento realizado pelo parafuso, observa-se que este
valor cai para 0,09 mm, observado entre a posio X=13 e X=14mm, respectivamente
Xest=13,8666 e Xest=14,9630. Entre os outros pontos essa diferena cai para 0,07 e 0,06mm.
Em relao ao movimento na direo do eixo Y, ao se estimar o valor para o ponto (15,10,15),
obteve-se (15,8090; 10,3790; 15,1194), porm ao se realizar o deslocamento na direo do eixo
Y, entre 10 e 15mm, a maior diferena encontrada foi de 0,02mm entre os pontos Y=10 e
Y=11mm.
Para o movimento na direo do eixo Z, a maior diferena encontrada foi de 0,03mm entre os
pontos onde Z=13 e Z=14mm, definidos no parafuso micromtrico. Pode-se observar que a
variao da estimativa para o eixo Z para essa matriz de calibrao utilizada, foi menor do que
para o eixo X, e um pouco maior do que o eixo Y (0,01mm), mas de qualquer forma, as
diferenas nos deslocamentos nos trs eixos foram da ordem de centsimos de milmetros.
Atravs das diferenas obtidas em cada direo possvel determinar a impreciso das medidas
em 3D. Pela teoria de clculo de erros de medidas obtm-se a impreciso em 3D atravs da raiz
Captulo VI
82
quadrada da soma dos quadrados das diferenas em cada direo. A maior diferena obtida em X
foi de 0,09mm, em Y foi de 0,02mm e em Z de 0,03mm, obtendo-se o valor total 0,0969mm, o
que representa um resultado adequado as necessidades do projeto em questo.
6.2.7 - AJUSTE DA SENSIBILIDADE

Quando a inclinao da curva de calibrao se altera como resultado de uma interferncia e/ou
de uma modificao na entrada, um desvio nos resultados pode ser observado. Este desvio causa
um erro que proporcional magnitude da entrada, podendo ser crescente ou decrescente. O
desvio na sensibilidade pode ser originado atravs de tolerncias consideradas na confeco do
instrumento, variaes na fonte de alimentao, no-linearidades e variaes na temperatura e
presso no ambiente. Um exemplo de desvios na sensibilidade pode ser observado no ganho de
tenso de um eletrocardigrafo quando h flutuaes na fonte de alimentao do mesmo ou
variaes na temperatura ambiente onde esto sendo realizadas as medidas.
O sensor magnetoresistivo utilizado apresenta duas posies estveis devido magnetizao
interna do permalloy. Se o sensor for submetido a um campo magntico intenso (mnimo de
3kA/m 37,5G) que se oponha ao alinhamento do campo interno, a magnetizao pode inverter
de posio e o sensor pode flippar e comea a operar na outra faixa de operao estvel. Tevese o cuidado durante todo o trabalho, de evitar o contato de campos magnticos distintos ficarem
em contato com o sensor, de forma a evitar este problema. Como se trabalha com uma matriz de
calibrao, no necessria a identificao de qual faixa de operao se est trabalhando, ou
seja, para alguns sensores, medida que o im se aproxima, o campo magntico se torna maior,
o valor de tenso na sada do sensor aumenta, mas para outros, na mesma situao, o valor de
tenso diminui, isto , os sensores esto trabalhando em posies estveis distintas um do outro,
o que para o problema em questo, no altera em nada o resultado.
O sensor KMZ10B utilizado apresenta uma variao na resistncia da ponte com a temperatura,
conforme mostrado na Figura 6.10, devido aos resistores da ponte serem dependentes da
temperatura. Isto explica o fato dos resultados da calibrao no terem um perodo longo de
validao, pois os ensaios foram feitos todos numa sala de trabalho da PUCRS, sem o mnimo
controle de temperatura e umidade do ar.
Captulo VI
83
Figura 6.10 - Variao da sensibilidade do sensor KMZ10B com a temperatura.

Para o trabalho em questo, o ajuste da sensibilidade pode ser feito atravs da colocao do
sensor em um campo magntico (maior que 3kA/m) por um perodo de tempo que pode ser de 1
minuto a 3minutos, que o mesmo altera a posio das tiras de permalloy que possui
internamente, alterando a sua resistncia interna e consequentemente o valor da tenso de sada.
Este afirmao se baseia no fato de que durante o processo de construo do equipamento, esta
experincia foi realizada (sensor a sensor), com o objetivo de deixar todos os sensores operando
numa faixa compatvel com os valores da placa de aquisio de dados (62,5V), quando os
mesmos estivessem submetidos a um mesmo afastamento linear
Uma outra maneira de ajustar a sensibilidade do equipamento, variar o ganho na sada do
amplificador, o que pode ser feito variando-se o valor da resistncia, entre o pino 1 e pino 8 do
amplificador operacional utilizado.
Captulo VI
84
6.2.8 - LINEARIDADE
Um sistema linear se apresenta a propriedade tal que se y1 resposta de x1, e y2 resposta de x2,
ento y1 + y2 a resposta de x1 + x2, e Ky1 a resposta de Kx1. Estas condies so satisfeitas para
instrumentos que apresentam a sua curva de calibrao uma linha reta.
Na prtica nenhum instrumento tem uma resposta perfeitamente linear, portanto necessrio
adotar ajustes utilizando os mnimos quadrados como A% do valor lido ou B % do valor de
fundo de escala. Para medidas em escala grande, o percentual do valor lido o mais indicado,
por ser a maioria dos erros proporcionais a leitura. Para leituras prximas do zero, no entanto,
porcentagens do fundo de escala so mais confiveis devido dificuldade de se estimar os
desvios dos valores medidos prximos de zero.
Para a quantificao da confiabilidade do equipamento e da quantificao do rudo, a
metodologia adotada foi de se tomar um ponto fixo e se realizar 5 aquisies subseqentes deste
ponto, anotando-se os valores da tenso mnima, da tenso mdia, e da tenso mxima de sada
para cada sensor.
Para cada aquisio realizada, calculavam-se os valores das coordenadas (X,Y,Z) para o ponto, e
se comparava- o valor mdio estimado com o valor definido no parafuso micromtrico,
determinando-se ento, o erro de medida obtido.
O ponto escolhido para exemplificar, foi o ponto de coordenadas X=15mm, Y=20 mm e
Z=20mm, ou seja (15,20,20).
As Tabelas 6.12 a 6.16 mostram os resultados obtidos nas 5 aquisies realizadas.
Captulo VI
85
Primeira aquisio:
Tabela 6.12 Valores de tenso para a posio (15,20,20) mm 1a aquisio
Sensores
Vmn (V)
Vmd(V)
Vmx(V)
Rudo (V)
Rudo (%)
S1
-1,3276
-1,3251
-1,3228
0,0024
0,18
S2
0,5303
0,5314
0,5339
0,0018
0,33
S3
-0,8821
-0,8799
-0,8772
0,0024
0,27
S4
0,3899
0,3916
0,3948
0,0024
0,62
S5
1,3970
1,3997
1,4018
0,0024
0,17
S6
-0,0142
-0,0117
-0,0093
0,0024
20,9
S7
0,5754
0,5775
0,5791
0,0018
0,32
S8
0,9416
0,9441
09465
0,0024
0,25
Tabela 6.13 Valores calculados para (X,Y,Z) - 1a aquisio

Valor
X (mm)
Y (mm)
Z (mm)
Parafuso
15
20
20
Mnimo
15,3149
20,3055
19,9905
Mdio
15,3539
20,3164
20,0412
Mximo
15,3768
20,3280
20,0917
Impreciso (mm)
0,3539
0,3164
0,0412
Impreciso (%)
2,35%
1,58%
0,20%
As imprecises definidas na Tabela 6.13 foram calculadas considerando a posio do parafuso

micromtrico como valor de referncia.
Captulo VI
86
Segunda aquisio
Sensores
Vmn (V)
Vmd(V)
Vmx(V)
Rudo (V)
Rudo (%)
S1
-1,3008
-1,2994
-1,2971
0,0018
0,14
S2
0,5278
0,5291
0,5315
0,0018
0,34
S3
-0,8565
-0,8545
-0,8516
0,0024
0,28
S4
0,4070
0,4085
0,4106
0,0018
0,44
S5
1,4055
1,4075
1,4104
0,0024
0,17
S6
0,0176
0,0190
0,0212
0,0018
9,47
S7
0,5937
0,5949
0,5974
0,0018
0,31
S8
0,9758
0,9772
0,9795
0,0018
0,18

Valor
X (mm)
Y (mm)
Z (mm)
Parafuso
15
20
20
Mnimo
15,0932
20,1652
20,6067
Mdio
15,1243
20,1769
20,6604
Mximo
15,1471
20,1886
20,7056
Impreciso (mm)
0,1243
0,1769
0,6067
Impreciso (%)
0,82%
0,88%
3,03%
Captulo VI
87
Terceira aquisio
Sensores
Vmn (V)
Vmd(V)
Vmx(V)
Rudo (V)
Rudo (%)
S1
-1,2922
-1,2904
-1,2874
0,0024
0,18
S2
0,5278
0,5297
0,5327
0,0024
0,46
S3
-0,8467
-0,8453
-0,8430
0,00184
0,21
S4
0,4119
0,4136
0,4167
0,0024
0,58
S5
1,4079
1,4100
1,4128
0,0024
0,17
S6
0,0237
0,0250
-0,0273
0,0018
7,20
S7
0,5986
0,6002
0,6023
0,0018
0,30
S8
0,9807
0,9821
0,9844
0,0018
0,18

Valor
X (mm)
Y (mm)
Z (mm)
Parafuso
15
20
20
Mnimo
15,0355
20,0859
20,5953
Mdio
15,0686
20,1007
20,6414
Mximo
15,0904
20,1133
20,6974
Impreciso (mm)
0,0686
0,1007
0,6414
Impreciso (%)
0,45%
0,50%
3,20%
Captulo VI
88
Quarta aquisio
Sensores
Vmn (V)
Vmd(V)
Vmx(V)
Rudo (V)
Rudo (%)
S1
-1,28373
-1,2813
-1,2788
0,0024
0,19
S2
0,5303
0,5322
0,5351
0,0024
0,45
S3
-0,8381
-0,8363
-0,8333
0,0024
0,28
S4
0,4192
0,4205
0,4228
0,0018
0,42
S5
1,4104
1,4123
1,4153
0,0024
0,17
S6
0,0237
0,0259
0,0286
0,0024
9,45
S7
0,6047
0,6059
0,6084
0,0018
0,30
S8
0,9697
0,9722
09746
0,0024
0,25

Valor
X (mm)
Y (mm)
Z (mm)
Parafuso
15
20
20
Mnimo
15,0132
19,9656
20,3366
Mdio
15,0411
19,9765
20,3807
Mximo
15,0605
19,9881
20,4204
Impreciso (mm)
0,0411
-0,0235
0,3807
Impreciso (%)
0,27%
-0,11%
1,90%
Captulo VI
89
Quinta aquisio
Sensores
Vmn (V)
Vmd(V)
Vmx(V)
Rudo (V)
Rudo (%)
S1
-1,2764
-1,2742
-1,2703
0,0030
0,23
S2
0,5303
0,5321
0,5351
0,0024
0,45
S3
-0,8333
-0,8310
-0,8284
0,0024
0,28
S4
0,4228
0,4251
0,4277
0,0024
0,56
S5
1,4141
1,4156
1,4177
0,0018
0,12
S6
0,0408
0,0424
0,0444
0,0018
4,24
S7
0,6096
0,6115
0,6133
0,0018
0,29
S8
0,9905
0,9926
0,9953
0,0024
0,24

Valor
X (mm)
Y (mm)
Z (mm)
Parafuso
15
20
20
Mnimo
14,9303
19,9652
20,7707
Mdio
14,9598
19,9765
20,8196
Mximo
14,9944
19,9881
20,8620
Impreciso (mm)
-0,0402
-0,0235
0,8196
Impreciso (%)
-0,26%
-0,11%
4,09%
A Tabela 6.22 apresenta os valores mdios estimados para as coordenadas (X,Y,Z) nas 5 (cinco)
aquisies realizadas e calcula a impreciso mdia em funo do valor do parafuso
micromtrico.
Captulo VI
90
Tabela 6.22 Valores mdios estimados nas 5 aquisies
Valor
Xmd (mm)
Ymd (mm)
Zmd (mm)
Parafuso
15
20
20
1a aquisio
15,3539
20,3164
20,0412
2a aquisio
15,1243
20,1769
20,6604
3a aquisio
15,0686
20,1007
20,6414
4a aquisio
15,0411
19,9765
20,3807
5a aquisio
14,9598
19,9765
20,8196
Mdia
15,1095
20,1094
20,5086
Impreciso (mm)
0,1095
0,1094
0,5086
Impreciso (%)
0,73%
0,54%
2,54%
A Figura 6.11 apresenta graficamente os resultados da Tabela 6.22, apresentando os valores

definidos pelo parafuso micromtrico, os valores mdios para as 5 aquisies, a mdia obtida nos
5 ensaios e o desvio padro.
Valores mdios estimados em 5 aquisies
20
15
Xmd (mm)
Ymd (mm)
Zmd (mm)
10
0
Parafuso
1a
aquisio
2a
aquisio
3a
aquisio
4a
aquisio
5a
aquisio
Mdia
Impreciso Impreciso
(mm)
(%)
Figura 6.11 - Valores mdios estimados em 5 aquisies.
Captulo VI
91
Com os dados apresentados na Tabela 6.22, pode-se verificar que a impreciso das medidas em
3D, de 0,5316mm. Esta impreciso se deve tentativa de identificar as 3 coordenadas dos
parafusos no espao, porm o sistema foi projetado para medir deslocamentos e no para
identificao de coordenadas com preciso de dcimos de milmetros.
6.2.9 - LIMITES DE ENTRADA (INPUT RANGES)

A definio dos valores utilizados na entrada do circuito, define os valores a serem medidos. A
alimentao dos sensores fixa de 2,5V, a qual, em funo do im utilizado para sensibilizar o
sensor, permite obter como sinal de sada uma tenso que varia entre 2,5V, dentro de uma
varredura de 25X25X25mm,sendo que a posio mais distante entre qualquer um dos sensores e
o im de 361 mm.
Para excitao do circuito foi utilizado para um im de forma cilndrica de Neodmio-Ferro-Boro
com cobertura de Nquel que apresenta remanncia magntica(Br) de 11.000 Gauss (1,1T),
coercividade intrnseca (Hc) de cerca de 15.000 Oersted e Produto de Energia (Bhmx)42MGOe
e temperatura de trabalho mxima recomendada 80C, que tem 11mm de dimetro e 5mm de
comprimento.
6.2.10 - IMPEDNCIA DE ENTRADA

O conceito para impedncia de entrada se deve ao fato de vrios instrumentos e sensores
biomdicos converterem sinais no eltricos em quantidades eltricas como valores de corrente e
tenso, com a finalidade de avaliar o grau de interferncia do instrumento no valor que est
sendo efetivamente medido. Para qualquer entrada Xd1 que se deseja medir, h implicitamente,
uma outra Xd2 tal que o produto de Xd1 Xd2 tenha a dimenso desta grandeza. Este produto
representa a taxa (grau) instantnea para a qual a energia transferida atravs da interface tecidosensor. A impedncia de entrada Zx a razo entre o fasor equivalente do esforo da varivel de
entrada senoidal em regime contnuo (tenso, fora, presso) pelo fasor equivalente do fluxo
senoidal em regime contnuo (corrente, velocidade, fluxo).
Zx =
X d1
X d2
(6.1)
A grandeza P a taxa de tempo da transferncia de energia do meio medido.
Captulo VI
92
(6.2)
P = X d 1 X d 2 = X d 1 = Z x X 2d 2
Zx
Para o projeto em questo, no h necessidade de se preocupar com a impedncia de entrada,

pois as medidas so feitas totalmente sem contato entre o paciente e o equipamento.
6.3 - CONCLUSO
Do exposto pode-se dizer que o prottipo apresenta resultados satisfatrios em relao aos
objetivos propostos.
A utilizao de matrizes de calibrao atualizadas melhoram o desempenho do sistema quando
se deseja determinar as coordenadas do ponto no espao. Porm o que ficou determinado pelos
ensaios realizados, o fato, de que mesmo utilizando-se matrizes de calibrao no-atualizadas,
os valores obtidos na determinao de pequenos deslocamentos, a preciso bastante boa.
Pelos dados contidos Tabela 6.22 foi determinada a impreciso na determinao das coordenadas
no espao do ponto (15;20;20)mm, sendo que o valor obtido foi de 0,5316mm, o que representa
um valor bastante diferente do valor obtido para o deslocamento, o que confirma a afirmativa, de
que o instrumento serve para medir deslocamentos com uma preciso de dcimos de milmetros,
e que para determinao de posio, a preciso obtida menor.
No captulo VII sero apresentados diversos exemplos mostrando diferentes tipos de
deslocamentos, com a finalidade de avaliar de forma mais ampla, o comportamento do sistema.
Captulo VI
93
Captulo VI
93
CAPTULO VII
RESULTADOS OBTIDOS
7.1 - INTRODUO
Neste captulo sero apresentados alguns exemplos obtidos durante a realizao deste trabalho,
utilizando para tanto matrizes de calibrao compostas de 216 elementos.
A apresentao dos dados ser feita de uma forma sistemtica, apresentando inicialmente um
ponto fixo, o qual foi adequadamente identificado pelo sistema, depois ser mostrado o
deslocamento somente na direo X, logo aps o deslocamento somente na direo Y e depois
um deslocamento na direo Z. A partir da sero apresentados deslocamentos nas duas direes,
XY, XZ e YZ , finalizando com deslocamentos nas 3 direes.
Os resultados foram resumidos atravs de tabelas, nas quais a primeira coluna discrimina os
eixos, a segunda coluna representa a posio definida nos parafusos micromtricos no incio da
aquisio e no final da aquisio; sendo que quando houver apenas um valor significa que no
houve deslocamento no respectivo eixo. A terceira coluna representa a mdia dos dez primeiros
valores calculados na aquisio e a quarta coluna, a mdia dos dez ltimos valores calculados
atravs da aquisio. A quinta coluna representa o deslocamento calculado, ou seja a diferena
entre o valor final e o valor inicial calculados pelo software; e a sexta e ltima coluna mostram a
diferena entre o deslocamento calculado e o deslocamento definido pelos parafusos, que
representa a impreciso da medida em cada direo. A raiz quadrada da soma dos quadrados das
imprecises em cada direo, a impreciso em 3D.
A apresentao grfica dos resultados foi sistematizada atravs de cores distintas para cada caso.
Nos grficos de deslocamento em funo do tempo foi utilizada a cor azul para o deslocamento
no eixo X, a cor vermelha para o deslocamento no eixo Y e a cor verde para o deslocamento no
eixo Z. Nos grficos em 3D, foi utilizada a cor azul, para deslocamentos somente do eixo X, a
cor vermelha, para deslocamentos somente no eixo Y e a cor verde, somente para deslocamentos
no eixo Z; para deslocamentos em 2 eixos (X-Y, X-Z e Y-Z) foi utilizada a cor magenta, e para
deslocamentos nos 3 eixos, foi utilizada a cor amarelo-ouro.
Os dados obtidos foram gravados em arquivos, os quais receberam denominao, que de alguma
forma, permitem identificar a data segundo a qual, os testes foram realizados e os mesmos esto
disponveis em disquete ou CD. Sero apresentados, para cada conjunto de dados, apenas os
Captulo VII
94
dados relevantes, devido a quantidade de elementos ser muito grande (1.000 ou 2.000 pontos,
dependendo da aquisio realizada) e tambm atravs de grficos em 3D.
7.2 - RESULTADOS OBTIDOS

7.2.1 - PONTO FIXO
Neste exemplo definiu-se no parafuso micromtrico a posio desejada, e para tanto se optou
pelo ponto com coordenadas X=12mm, Y=16mm e Z=18mm. Os valores obtidos neste ensaio
podem ser vistos na Tabela 7.1
Tabela 7.1 Ponto fixo.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
12
12,0477
12,0493
0,0016
0,0016
16
16,0431
16,0422
-0,0009
0,0009
18
18,2284
18,2408
0,0124
0,0124
A impreciso em 3D para este ensaio de 0,0125mm

As Figuras 7.1 a 7.6, representam de forma grfica este ensaio.
Linha azul: deslocamento no eixo X

Linha vermelha: deslocamento no eixo Y
Linha verde: deslocamento no eixo Z
Figura 7.1 - Deslocamento do magneto na direo X Y Z em funo do tempo (Ponto fixo).
Captulo VII
95
Figura 7.2 - Detalhe do rudo no deslocamento no eixo X.
Figura 7.3 - Detalhe do rudo no deslocamento no eixo Y.
Captulo VII
96
Figura 7.4 - Detalhe do rudo no deslocamento no eixo Z.
Figura 7.5 - Ponto fixo escala ampliada.
Captulo VII
97
Figura 7.6 - Ponto fixo.
7.2.2 - DESLOCAMENTO NA DIREO X

O deslocamento na direo X foi feito movimentando-se o parafuso micromtrico entre o ponto
22 mm em direo ao ponto 0mm mantendo-se o parafuso na direo de Y (fixo) em 16mm, e o
parafuso na direo Z (fixo) em 18mm.
O caminho percorrido pelo parafuso foi de 6,6mm, no tempo fixado para a aquisio que foi de
10 segundos. Os valores obtidos esto na Tabela 7.2.
Tabela 7.2 Deslocamento no eixo X.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
22 ! 15,4 (6,6)
22,1907
15,6502
-6,5405
-0,0595
16
16,0250
16,0573
0,0323
0,0323
18
16,4393
16,3649
-0,0744
-0,0744
A impreciso, considerando o deslocamento nas trs direes, de 0,10mm.

A Figura 7.7 mostra o deslocamento nas trs direes no tempo; e as Figura 7.8 e 7.9
apresentam o deslocamento no espao variando apenas os limites dos eixos.
Captulo VII
98
Linha azul: deslocamento no eixo X

Linha vermelha: deslocamento no eixo Y
Linha verde: deslocamento no eixo Z
Figura 7.7 - Deslocamento do magneto na direo X em funo do tempo.
Figura 7.8 - Deslocamento na direo X em 3D - escala ampliada.
Captulo VII
99
Figura 7.9 - Deslocamento na direo X em 3D.
7.2.3 - DESLOCAMENTO NA DIREO Y

O deslocamento na direo Y foi feito movimentando-se o parafuso micromtrico entre o ponto
20 mm em direo ao ponto 0mm, mantendo-se o parafuso na direo de X (fixo) em 15mm, e o
parafuso na direo Z (fixo) em 18mm.
No final da aquisio, o valor lido no parafuso foi de 15,3mm, pois foi feita movimentao do
parafuso manualmente no tempo de 10 segundos.
Os valores obtidos neste ensaio podem ser vistos na Tabela 7.3.
Tabela 7.3 Deslocamento no eixo Y.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
15
15,0128
14,9401
-0,0727
-0,0727
20 ! 15,3 (4,7)
20,0002
15,4296
-4,5706
-0,1294
18
18,2658
18,0809
-0,1849
-0,1849
A impreciso total para este ensaio, considerando as trs direes de 0,23 mm.
A Figuras 7.10 a 7.12 ilustram o resultado deste ensaio.
Captulo VII
100
Linha azul: deslocamento no eixo X.

Linha vermelha: deslocamento no eixo Y.
Linha verde: deslocamento no eixo Z.
Figura 7.10 - Deslocamento do magneto na direo Y em funo do tempo.
Figura 7.11 - Deslocamento na direo Y em 3D.
Captulo VII
101
Figura 7.12 - Deslocamento na direo Y em 3D.
7.2.4 - DESLOCAMENTO NA DIREO Z

O deslocamento na direo Z foi feito movimentando-se o parafuso micromtrico entre o ponto
18 mm em direo ao ponto 0mm, mantendo-se o parafuso na direo de X (fixo) em 15mm, e o
parafuso na direo Y (fixo) em 20mm.
O parafuso no eixo Z variou entre 18mm e 14mm, percorrendo, portanto 4mm no tempo fixado
para a aquisio de 10 segundos.
Os valores calculados pelo software podem ser vistos na Tabela 7.4 A Figura 7.13 mostra o
deslocamento na direo X em trao azul, o deslocamento na direo Y em trao vermelho e o
deslocamento na direo Z em verde.
Tabela 7.4 Deslocamento no eixo Z.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
15
15,0060
15,0949
0,0088
0,0088
20
19,9776
20,0047
0,0281
0,0281
18 ! 14 (4)
18,4746
14,1342
-4,3404
0,3404
A impreciso deste resultado foi de 0,34mm.

As Figuras 7.13, 7.14 e 7.15 apresentam graficamente este deslocamento.
Captulo VII
102
Figura 7.13 - Deslocamento do magneto na direo Z em funo do tempo.
Figura 7.14 - Deslocamento na direo Z em 3D.
Captulo VII
103
Figura 7.15 - Deslocamento na direo Z em 3D.

A Figura 7.14 apresenta, em detalhes o rudo do sistema, sendo que a oscilao observada na
figura deve-se a uma batida na superfcie (mesa comum) onde estava disposto o equipamento. A
Figura 7.15 a mesma Figura 7.14, com os limites dos eixos X e Y modificados.
7.2.5 - DESLOCAMENTO EM DUAS DIREES (X Y)

Neste exemplo foi utilizada a aquisio de 20.000 pontos, sendo que, a cada 10 pontos
adquiridos, foi feita a mdia entre eles e se tomava este valor mdio, como sendo o valor real
medido. Isto pode ser feito porque a taxa de aquisio utilizada foi de 1.000 amostras por
segundo o que garantia a total reproduo do movimento, dado que a mxima freqncia que se
pretende utilizar no trabalho de 1Hz, ou seja 1 ciclo por segundo. A utilizao da mdia dos
ltimos 10 pontos adquiridos foi uma forma de se minimizar os efeitos de rudos no sistema
O movimento, para ilustrar este exemplo, iniciou pelo deslocamento do parafuso no eixo X, logo
aps parou-se este movimento e moveu-se o parafuso na direo Y, e em seguida foram
movimentados simultaneamente os dois parafusos. Salienta-se que esta aquisio foi feita para
ilustrar o comportamento do equipamento, no se preocupando em marcar o tempo de cada um
dos movimentos, nem mesmo calcular as imprecises das medidas.
A Tabela 7.6 mostra, resumidamente, os valores calculados.
Captulo VII
104
Tabela 7.5 Deslocamento nos eixos X e Y.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
15
15,1721
9,4300
5,7421
20
20,3718
16,3705
4,0013
15
14,9078
15,0301
0,1223
Impreciso(mm)
A Figura 7.16 apresenta o deslocamento nas trs direes no tempo; as Figuras 7.17, 7.18 e 7.19,
apresentam, em detalhe, a variao do sinal (rudo) nos eixos X, Y e Z respectivamente, e a
Figura 7.20 mostra o deslocamento em 3D.
Salienta-se que no foram calculadas as imprecises das medidas, pois o movimento foi feito
aleatoriamente e no se anotou o valor do colarinho no final do ensaio, servindo este ensaio para
analisar o comportamento do sistema a este tipo de movimento e visualizar o sinal adquirido.
As Figuras 7.16 a 7.20 ilustram este ensaio.

Figura 7.16 - Deslocamento do magneto na direo X Y em funo do tempo.
Captulo VII
105
Figura 7.17 - Detalhe do rudo no deslocamento no eixo X.
Figura 7.18 - Detalhe do rudo no deslocamento no eixo Y.
Captulo VII
106
Figura 7.19 - Detalhe do rudo no deslocamento no eixo Z.
Figura 7.20 - Deslocamento primeiramente em X e depois em Y com Z constante.
7.2.6 - DESLOCAMENTO EM DUAS DIREES (X Y) SIMULTANEAMENTE

Para este exemplo, fixou-se o parafuso do eixo Z na posio 15mm e iniciou-se o movimento
simultneo nos eixos X=10mm em direo a posio X=0mm e o parafuso no eixo Y=15mm em
direo a posio Y=25mm.
Os resultados podem ser observados na Tabela 7.6.
Captulo VII
107
Tabela 7.6 Deslocamento nos eixos X e Y simultaneamente.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
10 ! 0
10,2236
0,3034
-9,9202
-0,0798
15 ! 22,4 (7,4)
15,4586
22,9870
7,5284
0,1284
15
14,9994
14,8234
-0,1760
-0,1760
A impreciso das medidas considerando o deslocamento nas trs dimenses de 0,23mm.

O resultado grfico do deslocamento obtido, pode ser observado nas Figuras 7.21 a 7.25.

Figura 7.21 - Deslocamento simultneo do magneto na direo X Y em funo do tempo.
Captulo VII
108
Figura 7.22 - Detalhe do rudo no eixo X.
Figura 7.23 - Detalhe do rudo no eixo Y.
Captulo VII
109
Figura 7.24 - Detalhe do rudo no eixo Z.
Figura 7.25 - Deslocamento na direo X Y em 3D.
7.2.7 - DESLOCAMENTO EM DUAS DIREES (X Z)

Neste exemplo foi utilizada a aquisio de 20.000 pontos, da mesma forma que a aquisio na
direo XY, ou seja, a cada 10 pontos adquiridos foi tomada a mdia entre eles e se usava este
valor mdio, como sendo o valor real medido.
Captulo VII
110
O movimento para ilustrar este exemplo iniciou pelo deslocamento do parafuso no eixo X, logo
aps parou-se este movimento e moveu-se o parafuso na direo Z, e em seguida foram
movimentados simultaneamente os dois parafusos. Salienta-se que esta aquisio foi feita para
ilustrar o comportamento do equipamento, no se preocupando em marcar o tempo de cada um
dos movimentos, e nem determinar as imprecises das medidas, pois no foi anotado o valor de
colarinho dos parafusos. A Tabela 7.7 apresenta os resultados obtidos.
Tabela 7.7 Deslocamento nos eixos X e Z.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
-0,1467
4,5924
4,7391
15
15,4297
15,5124
0,0827
15
15,0961
9,6911
5,4050
Impreciso(mm)
Convm salientar, que o grfico em azul representa o deslocamento no eixo X, o grfico em

vermelho o deslocamento no eixo Y, e o grfico em verde o deslocamento no eixo Z.
O resultado deste ensaio pode ser visto nas Figuras 7.26 e 7.27.

Figura 7.26 - Deslocamento do magneto na direo X Z em funo do tempo.
Captulo VII
111
Figura 7.27 - Deslocamento na direo X Z em 3D.
7.2.8 - DESLOCAMENTO EM DUAS DIREES (X Z) SIMULTANEAMENTE

Para este exemplo, fixou-se o parafuso do eixo Y na posio 15mm, e iniciou-se o movimento
simultneo nos eixos X= 5mm em direo a posio X=12mm e o parafuso no eixo Z=5mm em
direo a posio Z=12mm, procurando-se realizar o movimento conjuntamente, sendo que um
parafuso estava sendo manipulado com a mo direita e o outro com a mo esquerda. Os
resultados esto disponveis na Tabela 7.8.
Tabela 7.8 Deslocamento nos eixos X e Z simultaneamente.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
5 !12,1 (7,1)
4,8149
12,0485
7,2336
0,1336
15
15,2532
15,3607
0,1075
0,1075
5 !12 (6,9)
5,1313
11,8600
6,7287
-0,1713
A impreciso em 3D, para este ensaio, foi de 0,24mm.

O resultado do deslocamento obtido pode ser observado nas Figuras 7.28 e 7.29
Captulo VII
112

Figura 7.28 - Deslocamento simultneo do magneto em X Z em funo do tempo.
Figura 7.29 - Deslocamento na direo X Z simultaneamente em 3D.
7.2.9 - DESLOCAMENTO EM DUAS DIREES (Y Z)

A metodologia utilizada continua a mesma, ou seja faz-se a aquisio de 20.000 pontos sendo
que a cada 10 pontos adquiridos feita a mdia entre eles e se toma este valor mdio, como
sendo o valor real medido.
O movimento iniciou-se pelo deslocamento do parafuso no eixo Z em direo crescente, logo
aps cessou-se este movimento e iniciou-se o movimento do parafuso na direo Y em valores
tambm crescentes, e em seguida foi retornado este movimento no eixo Y e finalmente foi
retornado o parafuso no eixo Z, porm no foi anotado o valor de colarinho dos parafusos neste
movimento, no sendo possvel determinar a impreciso da medida. Este ensaio serve para
Captulo VII
113
ilustrar o comportamento do sistema. Os valores obtidos para este ensaio esto Tabela 7.9 e o
detalhamento deste movimento pode ser observado nas Figuras 7.30 e 7.31.
Tabela 7.9 Deslocamento nos eixos Y e Z.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
10
10,0099
9,9952
-0,0147
15
15,2510
16,7510
1,5000
10
10,1693
10,6792
0,5099
Impreciso(mm)

Figura 7.30 - Deslocamento do magneto na direo Y Z em funo do tempo.
Captulo VII
114
Figura 7.31 - Deslocamento na direo Y Z em 3D.
7.2.10 - DESLOCAMENTO EM DUAS DIREES (Y Z) SIMULTANEAMENTE

Para este exemplo, manteve-se o parafuso do eixo X na posio 10mm, e iniciou-se o movimento
simultneo nos eixos Y= 20mm em direo a posio Y=10mm e o parafuso no eixo Z=5mm em
direo a posio Z=15mm, procurando-se realizar o movimento conjuntamente, sendo que um
parafuso estava sendo manipulado com a mo direita e o outro com a mo esquerda. Os valores
deste ensaio, podem ser vistos na Tabela 7.10.
Tabela 7.10 Deslocamento nos eixos Y e Z simultaneamente.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
10
9,8202
10,1210
0,3008
0,3008
20 ! 10,8 (9,2)
20,1662
10,8643
-9,3019
0,1019
5 !13,2 (8,3)
5,1201
13,5468
8,4267
0,1267
A impreciso em 3D de 0,34mm.
As Figuras 7.32 e 7.33, ilustram graficamente este ensaio. A Figura 7.32 apresenta o
deslocamento no tempo, sendo que o grfico em azul o deslocamento em X, o grfico em
vermelho o deslocamento em Y e o grfico verde, o deslocamento em Z. A Figura 7.33 mostra
o deslocamento no espao.
Captulo VII
115

Figura 7.32 - Deslocamento simultneo do magneto em Y Z em funo do tempo.
Figura 7.33 - Deslocamento simultneo do magneto em Y Z em 3D.
7.2.11 - DESLOCAMENTO EM 3 DIREES (X Y Z)

Este exemplo apresenta o resultado do deslocamento nas trs direes separadamente. Iniciou-se
variando o parafuso na direo X, depois o parafuso na direo Y e finalmente o parafuso na
Captulo VII
116
direo Z, num tempo de aquisio de 20 segundos e taxa de aquisio de 1.000 pontos por
segundo, da mesma forma que os exemplos de deslocamento em duas direes.
Conforme pode ser observado nas Figuras 7.34 e 7.35, o deslocamento iniciou-se com o
movimento em X que variou entre aproximadamente 15 e 11mm, o movimento em Y variou,
entre 15 a 13mm e o movimento em Z de 15 a 12 mm. Na Tabela 7.11 esto representados os
valores obtidos neste ensaio.
Tabela 7.11 Deslocamento nos eixos X, Y e Z.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
15 ! 11,1 (3,9)
15,1245
11,0945
4,0300
0,13
15 ! 13,2 (1,8)
15,2592
13,4090
1,8502
0,05
15 ! 12,7 (2,3)
15,0353
12,4699
2,5654
0,26

Figura 7.34 - Deslocamento simultneo do magneto em X Y Z em funo do tempo.
Captulo VII
117

Figura 7.35 - Detalhe do rudo nos deslocamentos em X Y Z.
Figura 7.36 - Deslocamento do magneto em X Y Z em 3D.
7.2.12 - MOVIMENTOS DIVERSOS

7.2.12.1 - Deslocamento com parafusos nos eixos X e Z com movimentos repetitivos de ir e
vir
Este exemplo foi feito girando quatro voltas o parafuso no eixo X (correspondendo a 2 mm) em
sentido decrescente (horrio), em seguida o mesmo procedimento em relao ao parafuso no
eixo Z, aps, foi retornado o parafuso no eixo X para a posio inicial.
Captulo VII
118
Os valores iniciais e finais deste ensaio esto na Tabela 7.12.
Tabela 7.12 Deslocamento de ir e vir nos eixos X e Z.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
15 ! 13 !15
15,1519
14,9714
0,1805 (*)
0,1805
20
20,1383
20,1991
0,0608
0,0608
20 !18
20,3580
18,5067
1,8513
0,1487
Na Tabela 7.12 so apresentados apenas os valores inicial e final do ensaio, por isso, ao se andar
2mm para frente e 2mm para trs, o deslocamento deveria ser igual a zero (considerando o
deslocamento como a diferena entre o valor final e o inicial), portanto o valor de 0,1805,
representa o deslocamento e tambm a impreciso da medida no eixo X. A impreciso neste
ensaio foi de 0,24mm.
As Figuras 7.37 e 7.38 representam graficamente este ensaio.

Figura 7.37 - Deslocamento do magneto nos eixos X e Z no tempo.
Captulo VII
119
Figura 7.38 - Deslocamento nos eixos X e Z em 3D.

7.2.12.2 - Deslocamento de 1mm em cada eixo e tentar retornar ao ponto inicial
O movimento iniciou pelo eixo X deslocando-se o parafuso da posio 15mm para a posio de
14mm, em seguida movimentou-se o parafuso do eixo Z deslocando-o da posio 20mm para a
posio 19mm, logo aps movimentou-se o parafuso do eixo Y da posio 20mm para a posio
19mm; em seguida movimentou-se novamente o parafuso do eixo X retornando-o para a posio
inicial (15mm); e o mesmo foi feito em relao ao parafuso do eixo Z, retornando-o a posio
20mm. Neste exemplo, em funo do tempo de aquisio utilizado e da velocidade do
movimento no foi possvel retornar o parafuso do eixo Y ao ponto de partida.
A Tabela 7.13 apresenta os resultados obtidos.
Tabela 7.13 Deslocamento de ir e vir de 1mm nos eixos X e Z e de ir 1mm no eixo Y.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
15 ! 14 !15
15,0997
15,1370
0,0373
0,0373
20 ! 19
20,1421
19,1974
-0,9447
-0,0553
20 !19 ! 20
20,5554
20,5681
0,0127
0,0127
A impreciso deste ensaio em 3D de 0,06mm.

As Figuras 7.39 e 7.40 representam estes deslocamentos no tempo e no espao, respectivamente.
Captulo VII
120

Figura 7.39 - Movimento de 1mm do magneto nos eixos X Y Z no tempo.
Figura 7.40 - Movimento de 1mm do magneto nos 3 eixos em 3D.

7.2.12.3 - Deslocamento de 1mm em cada eixo e depois retornar ao ponto inicial
O movimento iniciou pelo eixo X deslocando-se o parafuso da posio 15mm para a posio de
14mm, em seguida movimentou-se o parafuso do eixo Z deslocando-o da posio 20mm para a
posio 19mm, logo aps movimentou-se o parafuso do eixo Y da posio 20mm para a posio
Captulo VII
121
19mm; em seguida inverteu-se o movimento dos parafusos, retornado-os a posio inicial na
mesma ordem de deslocamento, ou seja, primeiro o eixo X, depois o eixo Z e por ltimo o eixo
Y.
A Tabela 7.14 apresenta os resultados obtidos no ensaio.
Tabela 7.14 Deslocamento de ir e vir de 1mm nos eixos X ,Y e Z.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
15 ! 14 !15
15,1200
15,1801
0,0601
0,0601
20 ! 19 !20
20,1482
20,3221
0,1739
0,1739
20 !19 ! 20
20,7403
20,7557
0,0154
0,0154
A impreciso das medidas em 3D de 0,18mm.

A Figura 7.41 apresenta este deslocamento no tempo para os trs eixos, e a Figura 7.42 apresenta
o deslocamento em 3D.

Figura 7.41 - Deslocamento de 1mm do magneto nos eixos X Y Z no tempo com retorno ao
ponto de partida.
Captulo VII
122
Figura 7.42 - Deslocamento de 1mm nos eixos X Y Z retornando ao ponto de partida em 3D.
7.2.12.4 - Deslocamento manual (sem parafusos) no eixo Z movimento de subida e descida
O deslocamento foi obtido movimentando-se com a mo o eixo Z na torre de calibrao, com o
objetivo de obter um movimento mais rpido que o obtido atravs do movimento girando os
parafusos micromtricos. O movimento consistia em subir e descer o eixo Z.
O ponto de partida definido pelos parafusos era (15;20;20)mm, sendo que os valores calculados
pelo programa podem ser vistos na Tabela 7.15.
Tabela 7.15 Deslocamento manual do magneto no eixo Z.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
15
15,2421
15,2506
0,0094
0,0094
20
20,3000
20,3124
0,0124
0,0124
20
20,0508
20,1016
0,0508
0,0508
Como o magneto era deslocado e voltava para o ponto de origem, a diferena entre o valor final
e o valor inicial a impreciso da medida e vale 0,05mm, considerando as medidas nos trs
eixos.
A Figuras 7.43 apresenta o deslocamento nas trs direes, em funo do tempo, e a Figura 7.44
mostra o mesmo deslocamento em 3D.
Captulo VII
123


eixo Z.

eixo Z em 3D.
7.2.12.5 - Deslocamento de 5mm somente no eixo X
Neste exemplo os parafusos estavam na posio inicial (20;20;20)mm e girou-se o parafuso do
eixo X at a posio X=15mm, ou seja foram dadas 10 voltas no parafuso micromtrico no eixo
Captulo VII
124
X, mantendo-se os outros dois parafusos fixos. O resultado deste ensaio est mostrado na Tabela
7.16.
Tabela 7.16 Deslocamento de 5mm no eixo X.
Eixo
Parafuso (mm)
Valor inicial (mm)
Valor final (mm)
Deslocamento(mm)
Impreciso(mm)
20 ! 15
20,1547
15,1585
-4,9962
-0,0038
20
20,1050
20,1622
0,0572
0,0572
20
20,0818
20,2946
0,2128
0,2128
A impreciso em X onde efetivamente ocorreu o deslocamento bastante pequena (0,0038mm),

porm quando se calcula a impreciso em 3D, o valor obtido de 0,22mm devido, praticamente,
a variao em Z.
A Figura 7.45 apresenta o deslocamento nos eixos X (azul), Y (vermelho) e Z (verde) no tempo,
e a Figura 7.46, o mesmo deslocamento em 3D.

Figura 7.45 - Deslocamento do magneto de 5mm no eixo X.
Captulo VII
125
Figura 7.46 - Deslocamento do magneto de 5mm no eixo X em 3D.

Conforme pode ser comprovado atravs dos exemplos apresentados, a impreciso do sistema
varia conforme o caso estudado, sendo necessrio, portanto, ensaios repetitivos para se obter
uma mdia dessa grandeza, o que ser abordado na seo 7.3 deste .
7.3 - DETERMINAO DA IMPRECISO

Para a determinao da impreciso das medidas, foram feitos 5 (cinco) ensaios entre o ponto de
coordenadas (0;0;0)mm e o ponto de coordenadas (25;25;25)mm com variao de 1 em 1mm. A
cada posio dos parafusos era feita a aquisio dos dados sendo possvel determinar qual o
deslocamento calculado pelo programa, bem como a impreciso da medida em qualquer posio
do deslocamento.
Salienta-se que a aquisio foi feita de forma esttica, ou seja, primeiramente definia-se o ponto
atravs dos colarinhos dos parafusos e depois se fazia a aquisio.
As Tabelas 7.17 a 7.21 foram extradas diretamente do Matlab, sendo que a primeira linha
corresponde ao ponto com coordenadas (0;0;0)mm, a segunda linha ao ponto com (1;1;1)mm e
assim por diante, sendo a ltima linha o ponto de coordenadas (25;25;25)mm.
As trs primeiras colunas so os valores calculados para as posies de X, Y e Z,
respectivamente, as prximas trs colunas representam o deslocamento nos eixos X, Y e Z, ou
seja; a diferena entre a linha (i+1) e a linha (i) respectivamente aos trs eixos; nas prximas trs
Captulo VII
126
colunas est representada a diferena entre o valor de deslocamento indicado no colarinho dos
parafusos micromtricos (1mm) e o valor obtido pelo programa; e a ltima coluna representa o
valor da impreciso, considerando o deslocamento nos trs eixos. Todos os valores esto em
milmetros.
Tabela 7.17 Resultados do Ensaio 1.
Valor calculado
X
Y
Deslocamento
Y
Impreciso
Y
Z
3D
Impreciso
Y
Z
3D

X
Valor calculado
Y
Deslocamento
Y
Captulo VII
127
X
Valor calculado
Y
Deslocamento
Y
Impreciso
Y
Z
3D
Impreciso
Y
Z
3D

X
Valor calculado
Y
Deslocamento
Y
Captulo VII
128
X
Valor calculado
Y
Deslocamento
Y
Impreciso
Y
Z
3D
Para a determinao da impreciso das medidas em cada eixo e tambm em 3D, os dados foram
organizados de forma a ficarem distribudos conforme o eixo considerado, ou seja, os valores das
imprecises, da mdia e do desvio padro para o eixo X, esto numa tabela, bem como as
imprecises, a mdia e o desvio padro para o eixo Y esto em outra tabela, e assim
sucessivamente para o eixo Z e para os valores de impreciso em 3D.
As cinco primeiras colunas da Tabelas 7.22 apresentam o resultado das imprecises nos cinco
ensaios realizados, na determinao do deslocamento no eixo X. Na sexta coluna mostrado o
valor mdio dessas imprecises, e na stima e ltima coluna, aparece o desvio padro das
imprecises das medidas no eixo X.
Convm salientar, que as imprecises consideradas se referem a deslocamentos de 1mm entre os
pontos de coordenadas (0;0;0) e (25;25;25)mm. A diferena entre o valor calculado para o ponto
(1;1;1) e o ponto (0;0;0), o deslocamento calculado, e a diferena entre 1mm e este valor
obtido, corresponde primeira linha da tabela, e assim sucessivamente.
Captulo VII
129
Tabela 7.22 Impreciso das medidas no eixo X.
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
Tabela 7.23 Impreciso das medidas no eixo Y.

Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
Captulo VII
130
Tabela 7.24 Impreciso das medidas no eixo Z.
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
Tabela 7.25 Impreciso das medidas em 3D.

Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Ensaio 5
Mdia
Desvio
Captulo VII
131
O resultado das imprecises em 3D para os 5 (cinco) ensaios realizados est mostrado na Figura
7.47, o que representa graficamente, os dados da Tabela 7.25.
Impreciso das medidas em 3D
0,40
1
Ensaio 1
0,35
Ensaio 2
0,9
Ensaio 3
0,30
Ensaio 4
0,8
0,25
Ensaio 5
0,7
Mdia
Impreciso (mm)
0,15
0,10
0,5
0,05
0,4
Desvio (mm)
0,20
Desvio
0,6
0,00
0,3
-0,05
0,2
-0,10
0,1
-0,15
-0,20
1
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
Deslocamento (mm)
Figura 7.47 - Impreciso das medidas em 3D deslocamentos entre 0 e 25 mm.

Nas duas ltimas linhas da Tabela 7.24 aparecem valores de impreciso muito altos, como
0,7012mm, 0,9899, 09151mm, totalmente distintos dos valores presentes nas outras linhas da
tabela e tambm dos valores mostrados nas Tabelas 7.22 e 7.23. Isto se deve ao fato de que o
deslocamento no eixo Z, o qual deveria ser de 25mm conforme os deslocamentos nos eixos X e
Y de apenas 23mm devido a torre de calibrao no percorrer o percurso de 25mm e sim de
23mm. Isto se deve a uma questo estrutural no projeto de construo da torre.
Para uma anlise correta do comportamento do equipamento deve-se deixar de considerar as
duas ltimas linhas das tabelas referentes a deslocamentos entre os pontos de coordenadas
(23;23;23)mm e (25;25;25)mm, fato este que pode ser contornado, na necessidade de um maior
deslocamento no eixo Z, substituindo a torre por outra de maior curso ou via software.
Devido ao fato da Tabela 7.25 representar a impreciso em 3D, que foi calculada considerandose todas as linhas das Tabelas 7.22, 7.23 e 7.24, ao se desconsiderar as duas ltimas linhas da
Tabela 7.24, a Tabela 7.25 tambm deve desconsider-las, ficando a Figura 7.47 da forma
mostrada na Figura 7.48.
Captulo VII
132
Impreciso das medidas em 3D
0,40
Ensaio 1
0,35
Ensaio 2
0,9
Ensaio 3
0,30
Ensaio 4
0,8
0,25
Ensaio 5
0,7
Mdia
Impreciso (mm)
0,6
0,15
0,5
0,10
0,05
0,4
Desvio (mm)
0,20
Desvio
0,00
0,3
-0,05
0,2
-0,10
0,1
-0,15
-0,20
1
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
Deslocamento (mm)
Figura 7.48 - Impreciso das medidas em 3D deslocamentos entre 0 e 23 mm.
7.4 - MOVIMENTO MANDIBULAR

Como curiosidade ser apresentado o deslocamento executado pelo Emulador de Movimento
Mandibular desenvolvido para este fim.
Para a demonstrao deste movimento foi necessrio subtrair do conjunto (Coroa de Sensores e
Torre de Calibrao) a Torre de Calibrao e colocar no seu lugar o Emulador de Movimento
Mandibular. Para tanto era de fundamental importncia para validao das medidas, que o
magneto colado no dente do paciente (Emulador) ficasse na mesma posio que o magneto
quando na torre de calibrao.
Ao se realizar os ensaios verificou-se que o resultado obtido na direo Z estava totalmente fora
da zona mapeada pela torre de calibrao, ou seja, o mximo movimento em Z que a calibrao
valida de 23mm e o emulador executa uma abertura mnima de 34mm, no sendo possvel
validar as medidas em Z. Os resultados apresentados valem como demonstrao de que o
aparelho funciona e que necessita de pequenos ajustes para a utilizao como medidor de
deslocamento mandibular.
O exemplo apresentado ser de uma aquisio dinmica, de abrir e fechar a boca. A Figura 7.47
mostra a tela no momento final da aquisio, a qual totalizou 20 segundos.
Captulo VII
133
Figura 7.49 Aquisio de dados do movimento mandibular ltimos 10 segundos.

Conforme pode ser visto na Figura 7.50, o deslocamento mximo em X (grfico em azul) foi de
3,2mm; o deslocamento mximo (grfico em vermelho) em Y foi de 2,8mm e, o deslocamento
mximo (grfico verde) foi de 73,0 mm. O deslocamento em Z no pode ser considerado vlido,
pois a matriz de calibrao utilizada, valida valores de Z at 23mm. De qualquer forma, o
movimento reproduzido se assemelha bastante ao movimento mandibular de um indivduo,
Nielsen et al, 1990.

Figura 7.50 - Deslocamento no tempo.
Captulo VII
134
Movimento mandibular
80
Eixo Z(mm)
60
40
20
0
-20
25
20
25
15
20
15
10
10
5
Eixo Y (mm)
5
0
Eixo X (mm)
Figura 7.51 - Deslocamento em 3D.
7.5 - CONCLUSO
Neste foram apresentados diversos exemplos de deslocamento do magneto no plano e no espao.
Os resultados foram apresentados atravs tabelas e grficos de deslocamento no tempo e no
espao.
A determinao das imprecises das medidas, foi consolidada, atravs de cinco ensaios
realizados entre os pontos de coordenadas (0;0;0)mm e (25;25;25)mm, com exceo do eixo Z,
que a variao efetiva est entre os pontos (2;2;2) e (25;25;25)mm.
Considerando-se o valor mdio nos cinco ensaios, a maior impreciso no eixo X foi de 0,16mm;
no eixo Y de 0,11mm; no eixo Z de 0,19mm, e considerando o deslocamento nas trs direes o
maior valor obtido foi de 0,26mm. Convm ressaltar que estes valores foram observados sempre
nas extremidades nunca no centro do cubo que representa o deslocamento no espao.
O sensor magnetoresistivo um elemento apropriado para medir pequenos deslocamentos com
preciso na ordem de dcimos de milmetros
Atravs destes resultados possvel afirmar que o objetivo proposto por este trabalho foi
alcanado.
Captulo VII
135
CAPTULO VIII
CONCLUSES E SUGESTES DE CONTINUIDADE
8.1 - INTRODUO
Neste captulo so apresentadas as concluses obtidas atravs dos vrios ensaios realizados no
decorrer do desenvolvimento do trabalho, bem como algumas propostas para dar continuidade ao
mesmo, visando uma possvel transformao do modelo em um equipamento comercial.
Os objetivos propostos pelo trabalho foram alcanados, pois o sistema desenvolvido melhorou a
preciso do sistema desenvolvido por Brusamarello, 1996, que era de 0,6mm no plano e de 1mm
no espao, para valores na ordem de 0,24mm no plano XZ (maior valor encontrado para os
planos) e 0,26mm no espao.
8.2 - CONCLUSES
O sensor magnetoresistivo um elemento apropriado para medir pequenos deslocamentos com
preciso na ordem de dcimos de milmetros, porm no se indica sua utilizao para
identificao precisa de posio.
A utilizao de matrizes de calibrao atualizadas melhoram o desempenho do sistema quando
se deseja determinar as coordenadas do ponto no espao, porm o que ficou determinado pelos
ensaios realizados o fato de que mesmo utilizando-se matrizes de calibrao no-atualizadas, a
preciso boa para os valores obtidos na determinao de pequenos deslocamentos
A determinao das imprecises das medidas foi consolidada atravs de cinco ensaios realizados
entre os pontos de coordenadas (0;0;0)mm e (25;25;25)mm, com exceo do eixo Z, que a
variao efetiva est entre os pontos (2;2;2) e (25;25;25)mm.
Considerando-se o valor mdio nos cinco ensaios, a maior impreciso no eixo X foi de 0,16mm;
no eixo Y, de 0,11mm; no eixo Z de 0,19mm.
A maior impreciso calculada para deslocamentos no plano XY foi de 0,19mm; no plano XZ foi
de 0,24mm e plano YZ o valor calculado foi de 0,21mm. Considerando o deslocamento nas trs
direes, o maior valor obtido foi de 0,26mm. Convm ressaltar que estes valores foram
observados sempre nas extremidades nunca no centro do cubo que representa o deslocamento no
espao, o que significa 0,26mm a mxima impreciso obtida pelo equipamento.
Captulo VIII
136
Convm salientar que no sistema de coordenadas utilizado, considerando o equipamento
disposto num paciente, o eixo X corresponde a deslocamentos entre esquerda e direita; eixo Y
corresponde ao movimento posterior-anterior, e o eixo Z corresponde ao movimento de abrir e
fechar a boca.
Considerando o objetivo secundrio proposto pelo trabalho, pode-se afirmar que o valor da
induo magntica no campo dos sensores para um deslocamento entre 0 e 25mm no plano varia
entre 8 e 20 Gauss. Na posio mais prxima entre o im e um dos sensores (distncia=
72,32mm), a induo calculada foi de 18G. Na posio mais distante (distncia=107,67mm), o
valor da induo calculada foi de 8G, fato que confirma os dados fornecidos pelo fabricante dos
sensores (Philips) que o sensor KMZ10B mede campos cuja induo esteja entre 25G.
possvel afirmar atravs destes resultados que o objetivo proposto por este trabalho foi
alcanado.
8.3 - SUGESTES DE CONTINUIDADE

Por ser um trabalho experimental, sempre possvel aperfeioar o sistema, e praticamente
impossvel esgotar todas as possibilidades na tentativa de acompanhar o desenvolvimento
tecnolgico atual. Algumas possibilidades de aperfeioamento do sistema esto dispostas como
concluses deste captulo.
- Aproximao de Placas
O equipamento, denominado de Coroa de Sensores no desenvolvimento do texto, foi construdo
de tal forma que as placas de celeron, onde se encontram os sensores, faam com que a distncia
entre os mesmos seja de 40mm. possvel testar novas distncias entre as placas e analisar os
resultados obtidos.
- Mudana do ngulo entre os sensores
As placas onde se encontram os sensores tm 4 posies definidas (duas posies lineares e duas
posies angulares). Na posio atual os sensores esto na maior distncia possvel do magneto.
possvel utilizar a posio onde os sensores fiquem mais prximos do magneto, ainda
mantendo a distncia necessria para medida de movimentos na ATM.
Captulo VIII
137
- Tipos de sensores
possvel utilizar outros tipos de sensores magnetoresistivos como o sensor magnetoresistivo
KMZ51 da Philips. O KMZ51 um sensor de superfcie que possui uma bobina interna para
calibrar o sistema toda vez que ele inicializado, portanto necessita de uma fonte de corrente
com clock para alimentar esta bobina. Este sensor apresenta uma sensibilidade 4 vezes maior
que o KMZ10B.
Conversor A/D
Poderia se substituir o conversor A/D 12 bits, utilizado atualmente, por um conversor A/D de 16
bits, o que melhoraria consideravelmente a preciso da medida, pois seria possvel medir at
0,00762930mV, o que possibilitaria obter resultados de centsimos de milmetro.
Pode-se implementar mais de uma destas possibilidades conjuntamente, porm sendo este um
trabalho na rea experimental, testes tero que ser feitos para se optar pela melhor opo.
Para finalizar importante ressaltar que os ensaios foram realizados numa sala da PUCRS, isto ,
sem controle de temperatura e umidade, fato este que apesar de no poder ser quantificado neste
trabalho, afeta o comportamento dos sensores magnetoresistivos.Uma sugesto para melhorar
ainda mais o desempenho do equipamento realizar as medies em ambiente com controle de
temperatura e umidade.
Captulo VIII
138
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
[1]
Assumpo Bastos, J.P., Eletromagnetismo e Clculo de Campos, Editora da UFSC,

Florianpolis, SC, 1992.
[2]
Aston, R., Principles of Biomedical Instrumentation and Measurement, Pennsylvania

State University Wilkes-Barre, 1990.
[3]
Astrm, K, J & Wittenmark, B., Orthogonal Least Squares Methods and their
Application to Non-linear Systems Identification, International Journal of Control, 50,
No 5, pp1873-1896, 1989.
[4]
Balbinot, A.; Desenvolvimento de um Sistema para gerar e medir o perodo de silncio

em pacientes com problemas na articulao temporo-mandibular,. Dissertao de
Mestrado em Engenharia Mecnica - Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Porto
Alegre, 1998.
[5]
Brusamarello, V.J., Medio de Deslocamento no Plano e no Espao , sem Contato,

Utilizando Sensores Magnticos, Dissertao de Mestrado em Engenharia Mecnica Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, 1996.
[6]
Caruso, M.J.; Bratland, T.; Smith, C.; Schneider, R.; A New Perspective on Magnetic
Field Sensing, Honeywell, Inc., www.ssec.honeywell.com, 1998.
[7]
Gallop J., ,Squids, the Josephson effects and measurement, National Phisical
Laboratory, Teddington, Middlesex TW11 0LW, UK, Meas. Sci. Technol 2, pg. 485496, 1991.
[8]
Gillespy T., Richardson, M; TMJ anatomy The American Academy of Head , Neck
and Facial Pain,
http://www.rad.washington.Edu/Anatomy/TMJ/TMJAnatomy,html.
[9]
Graber, T.M., Vanarsdall Jr., R.L.. Ortodontia Prncipios e Tcnicas Atuais

Guanabara Koogan, 2a edio, 1996
[10]
Hameyer, K., Belmans, Ronnie, Numerical Modelling and Design of Electrical

Machines and Devices, WITPress Southhampton, Boston, 1999.
Referncias Bibliogrficas
139
[11]
Harada K., Sunouchi Y., Sakamoto H; A new magnetometer using a small ring core
and mos-fets, IEEE Transactions on Magnetics, Volume 25, Nmero 5, pg. 33993401, 1989.
[12]
Hayasaki H., Nakata S., Nishima N., Okamoto A. , Minematsu K., Yamasaki Y., Nakata
M., CMDME (curved mesh diagram of mandibular excursion) method for visualization
and diagnosis of mandibular movement, Journal of Oral Rehabilition, Nmero 25,
1998:
[13]
Jankelson B., Swain C.W., Crane P. F., Radke J.C.; Kinesiometric instumentation: a
new technology, Jada, Volume 90, pg. 834-840, Abril, 1975.
[14]
Kwon, Y.W.; Bang H., The Finite Element Method Using Matlab , CRC Press LLC,
2000.
[15]
Longhi, L.G.S., Modelagem Semi-fsica: Uma alternativa Modelagem Emprica,

PEQ/COPPE/UFRJ, 1998
[16]
Motoyoshi Mitsuro; Sadowsky Lionel P.; Kamijo Koichiro; Fukui Mineo; Namura
Schinkichi, Studiew of Temporomandibular Joint Sounds; Part 4, Phase Relations of
TMJ Sounds and Jaw Movement, J. Nihon Univ. Sch. Dent., Volume 38, Nmero ,
pg. 155-160, 1996.
[17]
Nielsen, D.D.S.; Marcel, T.; Chun ,D.; Miller, A J.; Patterns of mandibular movements
in subjects with craniomandibular disorders, The Journal of Prosthetic dentistry, 1990.
[18]
Okeson Jefrey P.; Fundamentos de ocluso e desordens temporo-mandibulares,

Segunda Edio, Artes Mdicas Ltda, 1992.
[19]
Pereira, L. A., 1998, Mtodo dos Elementos Finitos Aplicado ao Eletromagnetismo,

apostila da disciplina de Ferramentas Computacionais Aplicadas Engenharia, do
Programa de Ps-Graduao em Engenharia Eltrica da PUCRS, 1998.
[20]
Pereira, L. A., Software for Teaching Electrical Machines and Eletromagnetics for
Graduate and Undergraduate Courses, IEEE International Eletric Machines and Drives
Conference, Annual Meeting, Cambribdge, Massachusetts, 2001.
[21]
Pertes R.A. , Gross S.G.; Temporomandibular disorders and orofacial pain,

140
Quintessence Books.
[22]
Piehslinger Eva; Celar Ales G.; Celar Robert M., Slavicek Rudolph, , Computerized
Axiography: Principles and Methods, The Journal of craniomandibular pratice, Volume
9, Nmero 4, pg. 344-355 ,1991.
[23]
Prinz J. F., Validation of a recording protocol for assessing temporomandibular sounds

and a method for assessing jaw position, Journal of Oral Rehabilitation, Nmero 25,
pg. 321-328, 1998.
[24]
Proffit, W.R., Fields Jr, H.W., Ortodontia Contempornea, Guanabara Koogan, 2a

edio, 1995.
[25]
Revista Eletrnica Tecnologia-Informtica-Automao- N0 338 - Maro, 2001.
[26]
Rohen, J.W, Yokochi, C., Anatomia Humana Atlas Fotogrfico de Anatomia e

Sistmica e Regional, Editora Manole Ltda, 2a edio, 1989.
[27]
Schartz, M.; Shaw, L.; Signal Precessin Discrete Spectral Analysis, Detection, and
Estimation, Mc Graw-Hill, 1975.
[28]
Siegler S., Hayes R., Nicolella D., Fielding A, A technique to investigate the threedimensional kinesiology of the human temporomandibular joint, The Journal of
Prosthetic Dentistry, Volume 65, Nmero 6,pg. 833-839, 1991.
[29]
Solberg W. K.; Disfunes e desordens temporo-mandibulares, So Paulo, Livraria

Editora Santos, 1989.
[30]
Tallents, R.H., Bruce G., Catania, J.A., Error Analysis of a Magnetic jaw tracking
Device, Journal of Craniomandibular Disorders: Facial &Oral Pain, Volume 5, pg.5156, 1991.
[31]
Taub, H.; Schilling, D. L., Principles of Communication System, McGraw-Hill Book

Company, Second Edition, 1986.
[32]
Uchiyama T., Mohri K., Itho H., Nakashima K., Ohuchi J., Sudo Y., Car Traffic
Monitoring System Using MI Sensor Built-In Disk Set on the Road, IEEE Transactions
on Magnetic, Volume 36, Nmero 5, pg. 3670-3672, 2000.
141
[33]
Waysenson B., Salomon J: Three-dimensional recordings of envelopes of motion

related to mandibular movements, Research and Education, Nmero 1, pg. 53-60,
Julho de 1977.
[34]
Yamamoto K., Hayashi S., Nishikawa H., Nakamura S., Mikami T., Measurements of
Dental Cast Profile and Three Dimensional Tooth Movement During Orthodontic
Treatment, IEEE Transactions on Biomedical Engineering, Volume 38, Nmero 4, pg.
672-676, 1991
[35]
Webster, J.G., Medical Instrumentation Application and Design, Second Edition

1992.
142
APNDICE I
ELETROMAGNETISMO E CLCULO DE CAMPO
1.1 - INTRODUO
Os sensores magnetoresistivos utilizados na confeco do equipamento apresentado neste
trabalho, so dispositivos sensveis que medem campos magnticos muito pequenos, que
segundo o fabricante se encontram na faixa de 2kA/m, ou seja 25 Gauss. O magneto
utilizado para sensibilizar estes sensores um im de Neodmio-Ferro-Boro de forma cilndrica
de 11mm de dimetro e 5mm de altura e 1,1 Tesla, o qual se desloca em 3 direes em torno de
um cubo de 25X25X23mm, ficando, em cada posio assumida pelo magneto, a uma distncia
dos sensores que varia entre aproximadamente 70mm e 110mm. Como o sensor ligado em
ponte e a sua sada em tenso, a questo era como identificar o valor da induo magntica no
prprio sensor.
A Figura 1.1a apresenta de forma esquemtica o sistema de medio de deslocamento, onde os
crculos em vermelho representam os sensores magnetoresistivos, o cubo em preto tracejado o
espao de deslocamento do magneto, e os retngulos em amarelo o magneto.
dmn=72,32mm
dmx=107,67mm
127mm
23mm
25mm
40mm
127mm
Figura 1.1a - Sistema de medio esquematizado mostrando as distncias mximas e mnimas do

magneto em relao a um dos sensores magnetoresistivos no plano.
Apndice I
143
medida que o magneto se desloca no espao, a intensidade do campo magntico em cada
sensor varia, e o objetivo identificar esta variao em cada sensor. Para tanto sero
apresentados resultados desta variao no plano salientado que estes resultados so preliminares
e que devero ser validados em trabalhos futuros.
No deslocamento no plano, considerando a trajetria possvel do magneto, a mnima distncia
entre cada sensor e o magneto de 72,32mm e a mxima de 107,67mm, conforme mostrado na
Figura 1.1a.
Para a obteno da intensidade do campo magntico do magneto que sensibiliza cada sensor, foi
utilizado o software FEM2000, desenvolvido por Pereira, 2001, que utiliza para o clculo o
Mtodo de Elementos Finitos.
A resoluo das equaes de Laplace e Poisson para campos eletromagnticos atravs de
mtodos analticos muito difcil de ser tratada, por isto a necessidade da utilizao do Mtodo
de Elementos Finitos para tal. A Figura 1.2a apresenta de forma esquemtica a diviso dos
mtodos de anlise utilizados at hoje.
Mtodos de anlise
Mtodos analticos
Mtodos exatos:
-separ. de variveis
-transf. LAPLACE
Aproximaes
-RAYLEIGH-RITZ
-GALERKIN
-
Mtodos numricos
Solues numricas
integrao
numrica
Mt. elem. finitos ou

discretos
diferenas
finitas
Figura 1.2a - Anlise Geral de mtodos de anlise matemtica

Os mtodos analticos permitem a soluo exata das equaes diferenciais, porm o mtodo de
separao de variveis, transformadas de Laplace, ou outros mtodos, podem ser aplicados
somente em problemas de formulao geomtrica simples. Aproximaes analticas so
utilizadas quando, por se conhecer o problema que est sendo solucionado, possvel aplicar
simplificaes convenientes. Apesar de serem mtodos indicados para problemas especficos,
possuem a vantagem de se obter os resultados em menor tempo.
Os mtodos de integrao numrica como Runge-Kutta, Euler e outras tcnicas, podem ser
obtidos atravs de solues diretas de sistemas de equaes diferenciais parciais. O mtodo das
Apndice I
144
diferenas finitas calcula a soluo atravs de sries de Taylor para aproximar o valor do campo
nos vrtices de uma malha dentro do domnio de interesse. O mtodo dos elementos finitos
pertence aos mtodos discretos e pode ser usado em diversas aplicaes, sendo em muitos casos
prticos, a nica ferramenta capaz de fornecer uma soluo aceitvel, ainda que aproximada.
Para solucionar problemas utilizando o mtodo dos elementos finitos, necessrio escolher
entre:
-
mtodo dos elementos finitos (MEF ou FEM)
mtodo das diferenas finitas (FDM)
mtodo dos elementos de fronteira (BEM)
circuito magntico equivalente (MEC)
mtodo de espelhamento (PMM).
O mtodo dos elementos finitos (FEM) bem conhecido e o mais comumente utilizado para
solucionar problemas de clculo de campos eletromagnticos sendo portanto, o que ser
abordado neste Apndice.
Neste trabalho ser utilizado o FEM atravs do software para mapeamento de campo magntico,
o qual utiliza a aproximao de funes pelo mtodo de Galerkin. O programa realiza o clculo
de campo magntico em duas dimenses e mostra o resultado atravs de grficos na tela, que
permitem a verificao dos valores desejados atravs de coordenadas retangulares e coordenadas
polares.
Para uma melhor compreenso do mtodo utilizado pelo software feita, no decorrer deste
Apndice, uma reviso dos fenmenos eletromagnticos regidos pelas equaes de Maxwell,
uma breve explanao sobre o Mtodo dos Elementos Finitos utilizando a aproximao de
funes pelo mtodo de Galerkin, bem como uma breve reviso dos conceitos bsicos em
Magnetismo.
1.2 - CONCEITOS FUNDAMENTAIS

1.2.1 - MAGNETISMO
O tratamento quantitativo dos fenmenos magnticos originou-se com a descoberta de Coulomb
da lei de atrao entre polos magnticos. Da se tornou possvel definir a unidade de polo, ou
massa magntica, como a massa magntica que provoca em uma massa idntica, colocada
distncia de 1cm, uma fora repulsiva de 1 dina.
Apndice I
145
O aspecto fsico do efeito do magnetismo, pode ser materializado, ao se introduzir o conceito de
linhas de fora, que so linhas normais s superfcies equipotenciais que envolvem os polos
magnticos. Essas linhas representam os circuitos magnticos que emanam ou convergem a um
polo. Por definio considera-se que uma esfera de 1cm de raio envolvendo um polo magntico
unitrio penetrada por 4 linhas de fora, portanto cada centmetro quadrado da superfcie
dessa esfera atravessado por uma linha de fora.
1.2.2 - CAMPO MAGNTICO E INDUO MAGNTICA

Diz-se que existe um campo magntico em um ponto, se uma fora, alm de qualquer fora
eletrosttica, exercida sobre uma carga mvel colocada neste ponto. O campo magntico H ,
tal como o campo eltrico E um campo de vetores e seu valor de orientao em qualquer ponto
chamado de B , vetor induo magntica. A unidade no SI para campo magntico e induo
magntica Tesla (N/A.m).
1.2.3 - FLUXO MAGNTICO

O fluxo magntico atravs de uma superfcie definido como a integral de superfcie da
componente normal de B sobre a superfcie. A unidade para fluxo magntico o Weber (N.m/A)
1.2.4 - MAGNETOSTRICO
A magnetostrico abrange todas as mudanas de dimenses que sofrem os materiais
ferromagnticos quando submetidos a campos magnetizantes. Esse fenmeno recebe vrias
denominaes como por exemplo, efeito Joule, quando se trata da variao do comprimento da
pea, em campos transversais; efeito Barrett , quando for a variao do volume e efeito
Wiedemann, quando as variaes de dimenso devido a campos radiais provocam movimentos
de toro.
Os materiais que se alongam quando submetidos a um campo magntico possuem uma
magnetostrico positiva; e nestes materiais a permeabilidade aumenta devido a deformaes
elsticas.
1.2.5 - MATERIAIS MAGNTICOS

A permeabilidade de um meio expressa intrnsicamente sua capacidade de se mostrar mais ou
menos suscetvel passagem de fluxo magntico. A definio de permeabilidade magntica
Apndice I
146
relativa de um material r a relao entre a permeabilidade real do meio e a permeabilidade
do ar 0 =4 10-7 H/m, ou seja:
r =
0
(1.1a)
Existem basicamente dois tipos de materiais magnticos:

- Materiais moles:
-diamagnticos
- paramagnticos
- ferromagnticos
- Materiais duros:
- ims-permanentes.
1.2.5.1 - Materiais moles
So materiais que, uma vez anulado o campo magntico neles aplicado, no guardam uma
induo dita remanente significativa. So meios passivos presena de campo magnticos.
Eles so classificados em diamagnticos, paramagnticos e ferromagnticos.
Para a maioria dos tomos e ons, os efeitos magnticos dos eltrons incluindo os devidos ao spin
e ao movimento orbital, se cancelam, de modo que os tomos e ons, de uma forma geral no so
magnticos. Isto vlido para os gases raros como o non e os ons, Materiais como estes no
exibem efeitos magnticos. Entretanto, para outros tomos e ons, os efeitos magnticos dos
eltrons no se compensam, o que faz com que eles possuam um momento magntico. Se for
colocada uma amostra de N tomos, cada um deles com um momento de dipolo num campo
magntico externo, todos estes dipolos elementares tendero de ficar alinhados com o campo. A
essa tendncia de alinhamento se denomina Paramagnetismo. Os materiais paramagnticos
possuem um r ligeiramente superior a 1, como exemplo deste tipo de material, pode-se citar o
alumnio onde r =1,00000036. Um exemplo deste fenmeno pode ser visto na Figura 1.1a
Michael Faraday, em 1846 descobriu que um pequeno pedao de bismuto colocado perto do polo
de um im bastante forte era por ele repelido. A este fenmeno ele denominou Diamagnetismo,
em contraposio s substncias paramagnticas, que so atradas. Os materiais diamagnticos
Apndice I
147
so os que apresentam uma permeabilidade relativa um pouco menor do que 1, como o mercrio,
ouro, prata e cobre, sendo que este ltimo apresenta uma permeabilidade relativa r = 0,999991.
O Diamagnetismo um fenmeno que est presente em todas as substncias, mas que produz
efeitos to fracos que a sua presena fica disfarada em substncias cujos tomos possuem um
dipolo magntico intrnseco, como o caso das substncias paramagnticas e ferromagnticas.
Para os elementos ferro, cobalto e nquel e para um grande nmero de ligas que contm estes e
tambm outros elementos, acontece um efeito especial que permite um algo grau de alinhamento
dos momentos magnticos elementares de uma amostra, apesar da tendncia para a desordem
devida agitao trmica dos tomos. Nesses materiais chamados de ferromagnticos, existe,
entre tomos vizinhos, um tipo especial de interao chamado de acoplamento de troca, o qual
une os seus momentos magnticos num paralelismo rgido. Os materiais ferromagnticos
possuem um r muito superior a 1. O ferro, por exemplo, com 0,2% de impurezas possui r =
6000. Algumas ligas de ferro chegam a apresentar um r=106 . Se este tipo de material estiver
em um ambiente aquecido, e se a temperatura em questo ultrapassar um valor crtico, chamado
de Temperatura Curie, acima da qual no h mais interao de troca, este meio passa a ter o
comportamento de um material paramagntico. Cada meio possui a sua prpria Temperatura de
Curie, sendo que para o ferro, este valor de aproximadamente 770C ( 1.043 K).
As Figuras 1.3a, 1.4a e 1.5a mostram as caractersticas destes trs tipos de materiais.
Figura 1.3a - Substncias diamagnticas.
Apndice I
148
Figura 1.4a - Substncias paramagnticas.
Figura 1.5a - Substncias ferromagnticas.

Outra caracterstica importante deste tipo de material o fenmeno da saturao, ou seja r
!
depender do campo | H | que estiver aplicado no material; este fenmeno, tambm chamado de
no-linearidade.
Um outro conceito importante em magnetismo o conceito de anisotropia magntica. Supondo
que existam meios cuja permeabilidade magntica seja preponderante em uma certa direo,
como por exemplo uma chapa de ferro com gros-orientados de modo que o fluxo magntico
flua com mais facilidade no sentido onde a permeabilidade maior. Imaginando a existncia de
!
um campo H tal que seus componentes Hx Hy sejam iguais a H e sendo x e y as
permeabilidade nas direes x e y , tem-se que:
Bx = x H
(1.2a)
Apndice I
149
By = y H
(1.3a)
!
!
Nota-se que Bx ser maior que By , havendo portanto, uma defasagem angular entre H e B . Se
!
!
Hx=Hy, H formar um ngulo de 45 com o eixo x, no entanto B formar um ngulo diferente
de 45 pois Bx e By so diferentes, de onde pode-se concluir que a relao
!
"
B = H
(1.4a)
onde um escalar, no geral, pois no satisfaz os casos acima e ser necessrio introduzir o
conceito de tensor de permeabilidade que ser notado sob a forma , tal que:
x 0
0
= 0 y 0
0
0 z
(1.5a)
Assim a expresso geral para o vetor induo magntica fica sendo:

B x x 0 0 H x
=0
0 H y
y
B y
B z 0 0 z H z
(1.6a)
!
!
Se o material isotrpico x=y= z= a equao assume a forma particular B = H . No
caso foi considerado que os termos fora da diagonal principal do tensor so nulos, pois foi
suposto que no havia interdependncia de variveis, no entanto, pode-se ter relaes mais
complexas e no tensor no haveria termos nulos.
Alm do conceito de anisotropia, que torna complexo o estudo de materiais magnticos, um
outro fenmeno freqente na maior parte de dispositivos eletromagnticos, segundo o qual a
!
permeabilidade no constante, pois depende do prprio valor de H existente no material
magntico em questo. Este fenmeno chamado de saturao e faz com que a relao geral
! !
de passagem entre B e H passe a ser:
!
!
B = (H ) H
(1.7a)
Apndice I
150
1.2.5.2 - Materiais duros
Os materiais considerados materiais duros, so os ims permanentes, pois os mesmos guardam
uma induo remanente significativa, aps o campo magntico externo ser extinto.
Supondo que o circuito magntico da Figura 1.6a seja constitudo por um material
ferromagntico com alta permeabilidade. No entreferro do circuito colocado um material duro
que no tenha sido submetido a nenhum campo magntico.
Figura 1.6a - Magneto no entreferro.

O campo H criado no im, proporcional a corrente e ao nmero de espiras (nI) e inversamente
proporcional ao comprimento l do entreferro. A induo magntica B no im proporcional ao
fluxo magntico , pois B igual a relao entre o fluxo magntico e a rea S pelo qual este
incide.
As etapas no ciclo de funcionamento do im podem ser observadas na Figura 1.7a.
Figura 1.7a - Ciclo de funcionamento de um im.
Apndice I
151
Agindo sobre a corrente I, faz-se o campo H passar de 0 a H1. A curva percorrida ser OM1,
chamada de curva de primeira imantao. Ao se diminuir a corrente at zero, ou seja fazendo o
campo H variar de H1 at zero (trecho M1 a M2 na Figura 1.7a), observa-se que o im guarda
uma imantao remanente considervel, indicada como Br na Figura 1.7a.
Ao se fazer a corrente circular no sentido contrrio, fazendo o campo H passar de zero a Hc
(trecho M2 a M3), observa-se que o fluxo do im idntico em mdulo, mas contrrio ao fluxo
gerado pela bobina; no h fluxo no circuito magntico e a induo B=0. Se continuasse o ciclo
(M3, M4, M5), novamente seria criado um fluxo magntico, porm a induo remanente Br no
ponto M5, teria sentido contrrio a induo remanente Br no ponto M2.
Quando a curva ideal de B vs H utilizada, o valor para os trs pontos sob a curva, mais
referenciados na literatura so:
Figura 1.8a - Curva ideal de magnetizao de um magneto.

Remanncia magntica - Br: o ponto sob o eixo positivo de B, onde H nulo, ou seja, mesmo
sem o campo magntico, o im mantm um valor de induo, igual a Br.
Coercividade Hc: o ponto sobre o eixo negativo de H, onde o valor de B nulo, ou seja o
valor de campo Hc (fora de magnetizao) necessrio para fazer a densidade de fluxo B cair a
zero.
Apndice I
152
Produto de energia mxima - (BH)max: o ponto, no segundo quadrante, sobre a curva B vs H na
qual o produto de B e H para o magneto maximizada. Para a curva ideal da Figura 1.6a est
localizada exatamente na metade da linha do segundo quadrante, cujo valor :
M
( BH )mx = 0 sat
2
(1.8a)
Os materiais magnticos possuem pequenas regies(de ordem de 10-3 10-6m) chamadas de

domnios de Weiss, compostas por vrias molculas. Inicialmente, estes domnios possuem
campos magnticos em todas as direes, porm quando se aplica um forte campo externo H, os
campos dos domnios tendem a se alinhar com o campo externo. Uma vez que H extinto nos
materiais duros, os campos dos domnios tendero a se manter na mesma situao de
alinhamento. A ao conjunta dos domnios de Weiss formar a induo remanente do im.
Um im definido por sua curva no segundo quadrante, conforme mostra a Figura 1.9a. Esta
curva, em geral, fornecida pelo fabricante, indica a induo remanente Br, o campo coercitivo Hc
bem como a prpria forma da mesma entre estes dois pontos. Seu objetivo definir como a
induo do im varia em funo do campo existente em seu interior.
Br
Hc
Figura 1.9a - Curva de definio de um magneto no segundo quadrante.

A curva de magnetizao de um im no segundo quadrante, devido ao fato de que o campo
externo Hi tem sentido oposto ao caminho de circulao He, e como h conservao de fluxo, a
induo magntica Bi e Be esto obrigatriamente no mesmo sentido, em relao ao caminho de
circulao. Alm disso, como no ar B e H possuem a mesma direo e sentido, constata-se que a
permeabilidade aparente do im negativa, visto que H<0 e B>0, da a curva no segundo
quadrante.
Apndice I
153
1.2.5.3 - Principais tipos de Ims permanentes
Um im permanente deve apresentar um elevado valor de campo coercitivo Hc, para que no seja
facilmente desmagnetizado, e um elevado valor de induo remanente Br para criar um campo
magntico elevado no circuito magntico no qual est inserido.
At 1930 utilizavam-se ligas de aos magnticos constitudas de cromo-tungstnio ou cromocobalto, cujo maior problema era apresentarem um Hc muito baixo (Hc<20000 A /m). Em 1940
apareceram as ligas de ALNICO (Fe+Al+Ni+Co) cujo Br de aproximadamente 1T e com
Hc>50.000 A /m.
Em 1947, com o aparecimento dos ims de cermica ferrite (SrFe12O19 ou BaFe12O), a utilizao
dos ims se generalizou, pois estes ims so baratos e possuem um valor elevado de Hc (100.000
A/m), embora seu Br seja baixo (Br0,4T). Os ims de ferrite so um dos mais empregados, pois
possuem caractersticas isolantes, o que os coloca como elemento preferencial para utilizaes
em altas frequncias, pois no existiro correntes parasitas circulando nos mesmos.
Em 1974, surgiram os ims de samrio-cobalto constitudos por elementos de terras raras , que
apresentaram uma revoluo neste domnio pois, alm de possurem um elevado Hc, apresentam,
tambm, um alto valor de Br. Os ims de samrio cobalto SmCo5 apresentam Br0,8T e
Hc600.000 A/m e Sm2Co17 apresentam Br1T e Hc600.000 A/m. Estes ims apresentam o
inconveniente de serem caros devido a um processo complexo de fabricao e da dificuldade de
obteno de matrias primas para a confeco dos mesmos.
Outros tipos de im utilizados atualmente so os ims de neodmio-ferro-boro Nd2Fe14B, com
Br1,2T e Hc800.000 A/m, porm estes ims apresentam o inconveniente de perderem suas
caractersticas em temperaturas relativamente baixas, em torno de -140 C, o que sob aspectos
construtivos, limita a utilizao dos mesmo.
A Figura 1.10a apresenta a curva B(H) dos principais ims permanentes.
Apndice I
154
Figura 1.10a - Curva B(H) de ims permanentes.

O magneto utilizado para sensibilizar os sensores magnetoresitivos de Neodmio-Ferro-Boro,
com cobertura de Nquel, remanncia magntica (Br) de 11.000 Gauss (1,1 T), coercividade
intrnseca (Hc) de cerca de 15.000 Oersted, Produto de Energia (Bhmx) 42 MGOe, e apresenta
a forma cilndrica de 11mm de dimetro e 5mm de altura .
1.3 - CLCULO DE CAMPO MAGNTICO

1.3.1 - EQUAES DE MAXWELL
Basicamente, existem dois domnios do eletromagnetismo: - o domnio das altas freqncias
(superiores a dezenas de kHz), que compreende o estudo das ondas eletromagnticas e a
propagao de energia pelas mesmas e; - o domnio das baixas freqncias (inferiores a dezenas
de kHz), que compreende a maior parte de dispositivos eletromagnticos como motores, rels,
transformadores, etc. Este domnio, corresponde aos estados quase-estacionrios, podendo-se
estudar separadamente campos eltricos e campos magnticos.
Esquematicamente, pode-se dividir o eletromagnetismo, conforme Figura 1.11a
Apndice I
155
ELETROMAGNETISMO
(eq. Maxwell)
ELETROMAGNETISMO
(Baixas Freqncias)
ELETROSTTICA
ELETROMAGNETISMO
(Altas Freqncias)
MAGNETISMO
MAGNETOSTTICA
MAGNETODINMICA
Figura 1.11a - Esquema da diviso do eletromagnetismo.

As equaes de Maxwell so um grupo de equaes diferenciais lineares sobre o tempo
aplicadas s grandezas eletromagnticas, as quais podem ser atribudas as qualidades de
princpios ou postulados baseados no fato de que experincias at aqui realizadas, no as
contradizem.
!
! ! B
H = J +
t
!
B = 0
!
"
B
E =
t
!
D =
(1.9a)
(1.10a)
(1.11a)
(1.12a)
onde:
!
H : intensidade de campo magntico
!
J :densidade superficial de corrente eltrica
!
B : induo magntica
!
E : intensidade de campo eltrico
!
D : induo eltrica
Apndice I
156
: densidade volumtrica de carga.

Nas expresses anteriores o operador Nabla () dado pela seguinte relao em coordenadas
cartesianas:
! " !
i + j + k
y
z
x
(1.13a)
onde
!
! !
i , j e k so os vetores unitrios nas direes x, y e z respectivamente. O uso deste operador
muito semelhante ao uso de um vetor; assim, operaes e (rotacional e divergente)
podem ser obtidas formalmente a partir do produto vetorial e do produto escalar entre e o
vetor sobre o qual o operador efetua.
Entre as intensidades e as densidades de campo eltrico e magntico existem ainda as seguintes
relaes, vlidas para materiais isotrpicos lineares:
!
!
B=H
(1.14a)
!
D = E
(1.15a)
!
!
J = E
(1.16a)
- permeabilidade magntica (Henry/metro)
- permissividade eltrica (Faraday/metro)

- condutividade eltrica ( 1 / (Ohm metro) )
, , e so grandeza escalares (constantes) para materiais lineares isotrpicos.
Por outro lado, as equaes (1.14a), (1.15a) e (1.16a) seguem vlidas. Neste caso existe uma
independncia entre o campo eltrico e o campo magntico. Para o estudo de campos magnticos
estticos, os quais sero abordados mais adiante pelo mtodo dos elementos finitos, necessita-se
considerar apenas as seguintes equaes:
! !
H = J
(1.17a)
Apndice I
157
!
B = 0
(1.18a)
!
!
B = H
(1.19a)
As equaes acima so as equaes fundamentais da Magnetosttica. Para a derivao do

Mtodo dos Elementos Finitos ser utilizado ainda o Teorema de Green no Plano, o qual
estabelece que para duas funes u(x,y) e v(x,y) vale a relao:
2
u ( x, y ) v( x, y ) dA = u ( x, y ) v( x, y ) dA + u ( x, y ) v( x, y ) dl
A
L ( A)
(1.20a)
1.3.1.1 - Equaes de Maxwell na magnetosttica

Para o caso especial da Magnetosttica as equaes de Maxwell so:
! !
H = J
!
B = 0
!
E = 0
(1.21a)
(1.22a)
(1.23a)
!
!
A equao 1.21a indica quantitativamente e a qualitativamente a formao de H a partir de J ,
a qual tambm pode ser escrita na sua forma integral:
! !
! !
rot
H
d
s
J
ds
S
(1.24a)
! !
Onde S uma superfcie onde H e J so definidos. Aplicando do teorema de Stokes, a equao
1.24a fica sendo:
!
rot H ds = H dl
S
L(S )
(1.25a)
Onde L(S) a linha que limita a superfcie de S. O lado direito da equao 1.24a representa o
!
fluxo do vetor J atravs de S, o que a corrente de conduo I atravessando a seo S, obtendose ento: .
! !
H
dl = I
L(S )
(1.26a)
!
A equao 1.26a indica que a circulao de H ao longo de um caminho L(S) que envolve uma
seo S igual a corrente I atravessando esta seo. A equao 1.26a conhecida como lei de
Ampre.
Apndice I
158
A equao 1.22a representa que o fluxo magntico conservativo, ou seja o fluxo magntico que
entra num volume igual ao fluxo magntico que sai do volume.
A equao 1.23a um caso particular da equao 1.11a, e indica que no h formao de campo
!
!
eltrico E devido uma variao temporal de B , no significando que no haja campo eltrico
no domnio, e sim, que no haver formao de campo eltrico adicional devido aos dispositivos
contidos neste domnio.
1.3.1.2 - Equao de Poisson no Plano
As equaes de Maxwell so raramente solucionadas na forma em que esto colocadas nas
expresses (1.17a) a (1.20a), pois implica encontrar uma soluo (analtica ou numrica) que
satisfaa as trs equaes simultaneamente, o que torna o processo de soluo em geral mais
difcil, sobretudo quando se procura uma soluo numrica aproximada. Neste caso, torna-se
mais complicado encontrar parmetros para a soluo que satisfaam simultaneamente as trs
equaes, segundo um determinado critrio de otimizao. Desta forma, costuma-se solucionar
uma equao equivalente, a qual decorre das trs equaes citadas. Para tanto, introduz-se uma
grandeza vetorial auxiliar chamada de "Potencial Vetor", o qual em princpio no possui um
significado fsico (muitos autores associam um significado fsico para o potencial vetor, mas isso
no essencial para a soluo dos problemas fsicos descritos pela equao de Poisson), servindo
!
apenas para facilitar a soluo numrica. O potencial vetor A definido de tal forma que a
!
induo B seja obtida por meio do seu rotacional:

! !
A = B
(1.27a)
Por outro lado, a relao abaixo vale para qualquer funo vetorial:
!
A = 0
(1.28a)
Assim, a definio do potencial vetor dada acima satisfaz a equao 1.22a, conforme se pode
verificar:
!
!
B = A = 0
(1.29a)
Introduzindo-se a equao (1.19a) na equao (1.27a), obtm-se:

! !
!
A = B = H
!
! 1
(1.30a)
H = A
Introduzindo-se agora a equao (1.30a) na equao (1.17a), resulta a seguinte expresso:

Apndice I
159
! !
!
1
H = A = J
(1.31a)
Considerando-se apenas materiais isotrpicos lineares pode-se escrever ainda:
!
!
A = J
(1.32a)
A expresso no lado esquerdo do sinal de igualdade pode ser expandida, resultando:

!
!
!
(1.33a)
A A = J
!
De acordo com a equao (1.27a) a induo B obtida por meio de uma operao derivao do
potencial. Existe, desta forma, um determinado grau de liberdade de escolha para o potencial
vetor. A fim de simplificar a expresso acima, pode-se optar por um potencial vetor que atenda a
seguinte condio:
!
A = 0
Com esta condio a equao (1.33a) se torna:
!
!
A = J
(1.34a)
(1.35a)
A equao acima conhecida como Equao de Poisson no espao, ela descreve no apenas os
fenmenos eletromagnticos, mas tambm muitos outros, tais como a transmisso de calor,
!
distribuio de temperaturas, escoamento de fluidos, etc.. Para caso o especial em que J igual
a zero, a equao assume a uma forma conhecida como Equao de Laplace:
!
A = 0
(1.36a)
A equao de Laplace pode portanto ser considerado um caso especial da equao de Poisson,
sendo que os mtodos numricos em geral procuram a soluo da equao de Poisson.
Conforme mostrado, por meio da introduo do potencial vetor chega-se a uma nica equao
que representa as equaes (1.17a) a (1.19a). O processo de soluo visa assim determinar o
!
vetor A( x, y, z ) , por meio do qual as grandezas eletromagnticas de interesse possam ser obtidas.
Para o caso particular em que o campo no variar segundo uma das variveis (em geral a varivel
z), obtm-se um caso bi-dimensional. O vetor densidade de corrente perpendicular ao plano em
que o campo descrito, conforme estabelece a equao (1.27a). Sendo o campo dependente
apenas das direes x e y, a densidade de corrente ter apenas componentes segundo o eixo z. O
potencial vetor ter, igualmente, apenas componentes segundo o eixo z:
Apndice I
160
!
!
J = J k
(1.37a)
!
!
A = Ak
(1.38a)
A e J so as amplitudes da densidade de campo e do potencial vetor respectivamente, ambos

funes escalares de x e y.
No caso bi-dimensional, a equao de Poisson para a Magnetosttica toma a seguinte forma:
A = J
(1.39a)
A ltima equao em geral escrita da seguinte forma:

2 A = J
(1.40a)
O operador 2 chamado de Laplaciano. Nas regies do domnio em estudo em que J zero,

vale a equao de Laplace :
2 A = 0
(1.41a)
As expresses (1.39a) e (1.40a) representam uma equao diferencial parcial de segunda ordem,
as quais descrevem problemas conhecidos como "Problemas de Valores de Contorno" ou ainda
"Problemas de Potencial". Escrita de uma forma mais explcita a equao (1.40a) fica:
2A 2A
+ 2 = J
x 2
y
(1.42a)
A determinao do campo nas direes x e y se reduz determinao do potencial A( x, y )

segundo estas direes.
A soluo da equao (1.41a) na forma analtica s possvel para casos com geometrias muito
simples e sob certas aproximaes, as quais nem sempre so justificveis na prtica, fazendo
com que a soluo analtica, embora possvel, no possua um valor inquestionvel para a grande
maioria dos casos prticos. A vantagem da soluo analtica , todavia, o fato de que a influncia
dos parmetros fsicos e geomtricos aparece explcita na soluo, facilitando a sua anlise. Por
outro lado, o Mtodo dos Elementos Finitos um mtodo de soluo numrica da equao
(1.41a) que pode ser aplicado para qualquer espcie de domnio, ele no fornece, entretanto, uma
soluo na forma analtica. Uma anlise da influncia dos parmetros fsicos e geomtricos
precisa ser obtida por variaes discretas de um grande nmero de casos semelhantes, fato que se
torna cada vez mais irrelevante a medida que computadores cada vez mais potentes e sistemas de
Apndice I
161
clculo por elementos finitos mais sofisticados vo surgindo. Outra vantagem importante do
Mtodo dos Elementos Finitos a possibilidade de tratamento de casos no-lineares, o que por
mtodos analticos, praticamente excludo.
A Figura 1.12a mostra um exemplo de domnio onde os fenmenos eletromagnticos so regidos
pela equao (1.40a) e (1.41a). O domnio onde a soluo procurada limitado por um
contorno retangular em torno da estrutura magntica. Nas regies em que circula corrente (J
diferente de zero) vale a equao de Poisson (1.40a). Por outro lado, onde no existe corrente (J
igual a zero) vale a equao de Laplace (1.41a). A soluo procurada para o potencial A deve,
portanto, ser tal que as equaes (1.40a) e (1.41a) sejam satisfeitas.
Linha de Simetria
!
H =0
! !
H = J
A
= A = 0
n
Ferro
Ar
!
J
Ferro
Fronteira externa
A =0
Figura 1.12a Distribuio do campo magntico regido pela equao de Poisson e Laplace
Para se obter a soluo completa da Equao de Poisson necessria a definio das condies
de contorno do problema a ser estudado.
1.3.2 - CONDIES DE CONTORNO

Como no caso de equaes diferenciais ordinrias, a soluo completa da Equao de Poisson
depende dos valores do potencial na fronteira do domnio em estudo. Os dois tipos mais comuns
de condies de contorno, tambm chamadas de condies de fronteira so:
Apndice I
162
1.3.2.1 - Condio de Contorno de Dirichlet
Esta condio de contorno vlida para segmentos do contorno em que o potencial constante
(em geral igual zero). Neste caso, o campo paralelo ao segmento, conforme mostra Figura
1.13a:
A = cte
A=0
(1.43a)
!
B
A =0
Figura 1.13a - Condio de contorno de Dirichlet.
No exemplo mostrado na Figura 1.13a, o potencial assumido como zero no contorno externo
do domnio considerado.
1.3.2.2 - Condio de Contorno Neumann
A condio de Neumann se aplica a segmentos do contorno em que a variao do potencial na
direo perpendicular ao contorno igual a zero. Nesta caso, a induo perpendicular ao
segmento em questo:
A
= A = 0
n
(1.44a)
!
B
A
= A = 0
n
Figura 1.14a - Condio de contorno de Neumann.
Apndice I
163
1.3.2.3 - Problemas de Valores de Contorno ou Problemas de Potencial
Baseado no exposto, a descrio dos problemas de valores de contorno pode ser resumida na
forma mostrada na tabela 1.1a. Eles se compem sempre da equao de Poisson, a qual vlida
para o interior do domnio e das condies de contorno impostas no contorno externo . A
condio de Dirichlet imposta na parte do domnio designado por 1 , enquanto que a condio
de Neumann imposta no restante do domnio designado por 2 . A tabela 1.1a sumariza a
descrio de um problema de potencial bi-dimensional.
Tabela 1.1a - Equaes de Potencial (Equaes de Campo).

2 A = J
sobre
( 1.45a)
A=0
sobre 1
( 1.46a)
A
= A = 0
n
sobre 2
= 1 2
( 1.47a)
Uma vez definido o problema de valor de contorno que se deseja resolver, pode-se passar para a
soluo do mesmo por meio do Mtodo dos Elementos Finitos (FEM ou MEF). O MEF
transforma este domnio contnuo num domnio discreto, onde a soluo conhecida em pontos
discretos do domnio de clculo, por exemplo em pontos de unio de uma malha triangular (ns).
O mtodo utilizado para o clculo o Mtodo de Galerkin.
1.3.3 - APROXIMAO DE FUNES PELO MTODO DE GALERKIN

Multiplicando-se a equao de Poisson ( equao1.45a) por uma funo g ( x, y ) (ainda a definir)
chamada de funo teste (funo peso ou funo de amostragem) obtm-se a seguinte expresso:
2 A g = J g
( 1.48a)
Integrando-se ambos os lados da equao (1.48a) sobre o domnio resulta:
A g d = J g d
( 1.49a)
Usando-se o teorema de Green para o plano, chega-se forma seguinte:
Apndice I
164
A g d A g d = J g d
( 1.50a)
A g d A g d A g d = J g d
( 1.51a)
Considerando-se as condies de contorno (equaes 1.46a e 1.47a), pode-se simplificar a ltima

expresso para a que segue:
A
= A = 0
n
( 1.52a)
sobre 2
A g d A g d = J g d
( 1.53a)
Como existe uma determinada liberdade na escolha da funo g ( x, y ) pode-se escolher g ( x, y )

de tal forma que a seguinte condio seja satisfeita:
g ( x, y ) = 0 sobre
( 1.54a)
Desta forma a equao 1.51a assume a forma simplificada:
A g d = J g d
( 1.55a)
A forma da equao 1.55a conhecida como "forma fraca" da equao de Poisson, ela pode ser
considerada como uma forma alternativa para o problema de potencial. Assim, toda soluo da
equao original de Poisson (1.45a) simultaneamente uma soluo da equao (1.55a). O termo
"fraca" se refere ao fato de que as condies impostas uma possvel soluo da equao (1.54a)
so menos restritivas que s impostas equao de Poisson original, dada pela equao (1.45a).
A funo admissvel como soluo da equao (1.45a) deve ter as derivadas de segunda ordem
contnuas, ao passo que uma funo admissvel para a soluo da equao (1.55a) s precisa
possuir a derivada de primeira ordem contnua. A grande vantagem que se obtm com o uso da
forma fraca , equao (1.55a), o fato de funes lineares poderem ser admitidas como soluo.
As equaes 1.45a e 1.55a representam as equaes bsicas utilizadas no MEF.
1.3.3.1 - Discretizao do Domnio
O prximo passo na aplicao do MEF a subdiviso do domnio original em uma srie de
subdomnios menores, este processo chamado de discretizao. Os subdomnios podem ser de
uma forma geomtrica qualquer, tais como tringulos, retngulo, quadrilteros, pentgonos, etc..
Apndice I
165
Pode-se tambm misturar subdomnios de formas geomtricas distintas, tais como tringulos e
retngulos. Cada subdomnio chamado comumente de elemento. A forma mais simples de
elemento utilizado na prtica o tringulo, ele pode aproximar domnios de formas quaisquer
com boa preciso. Em cada elemento so definidos pontos caractersticos, nos quais a soluo
ser determinada; a escolha das grandezas a determinar tambm determina parcialmente o tipo
de funo de aproximao que pode ser utilizado. No caso mais simples de elementos
triangulares so escolhidos os trs vrtices dos mesmos como pontos caractersticos, os quais so
chamados de ns. A Figura 1.15a mostra a diviso de um domnio bastante simples em 6
subdomnios menores.
5
M Elementos
N Ns
2
Ns
6
7
Figura 1.15a- Discretizao de um domnio simples em 6 subdomnios.
Em sistemas de clculo por elementos finitos modernos a discretizao da regio em estudo
feita de forma automtica, a partir dos dados geomtricos do domnio. O nmero de elementos
utilizados na prtica depende da natureza do domnio em estudo e do comportamento particular
da soluo. Em geral a preciso da soluo aumenta com o nmero de elementos utilizados,
havendo no entanto um limite para o nmero de elementos, a partir do qual os erros de
arredondamento se acumulam de tal forma que um aumento do nmero de elementos no traz
uma melhora na preciso. Por outro lado, a preciso da soluo depende tambm muito
fortemente do tipo da funo de aproximao utilizada (funo linear, funo quadrtica, funo
cbica, exponencial, etc...), do tipo de elemento utilizado (triangular, retangular, etc.).
O domnio discretizado comumente designado por malha, sendo a mesma caraterizada pelo
nmero de ns N e elementos M (subdomnios). A Figura 1.16a mostra novamente o domnio da
Figura 1.12a, aps ter sido discretizado. Os elementos so em parte tringulos e em parte
retngulos, havendo assim necessidade de um equacionamento diferente para cada um deles.
Apndice I
166
Figura 1.16a- Domnio da Figura 1.12a aps ter sido discretizada (malha resultante).
1.3.3.2 - Equaes Discretas
Uma vez que o domnio em estudo foi discretizado, pode-se obter as equaes aproximadas
vlidas para cada subdomnio designado por
e ,
chamadas de equaes discretas.
Considerando-se a subdiviso do domnio original em M elementos, pode-se inicialmente

escrever a equao 1.55a na seguinte forma:
M
e =1
A g d
e
= J g d e
( 1.56a)
e =1 e
A equao 1.56a estabelece simplesmente que a integral foi divida numa soma de integrais
parciais, abrangendo todos os M elementos que compem o domnio. A fim de avaliar as
integrais na equao 1.56a, preciso determinar a forma da soluo aproximada e da funo de
teste g ( x, y ) . A fim de tornar a anlise mais simples sero admitidas sempre funes lineares e
elementos triangulares. Desta forma, de acordo com o Mtodo de Galerkin, pode-se escrever a
funo de aproximao da seguinte forma:
N
A = A(x, y ) A (x, y ) = R j j (x, y )
( 1.57a)
j =1
Apndice I
167
Esta equao vale em princpio para todo o domnio em estudo, havendo N parmetros R j a
serem determinados para as N funes, a fim de que a soluo seja conhecida. As funes
j ( x, z ) so tambm conhecidas como funes de base e no caso mais simples so funes

lineares, as quais possuem em princpio um valor diferente de zero em todos os subdomnios. A
soluo aproximada dada por uma combinao linear destas funes. Um procedimento
semelhante utilizado ao se aproximar funes peridicas por meio de sries de Fourier. A
soluo na forma da equao 1.57a pode ser considerada uma generalizao do mtodo de
Fourier, uma vez que alm de funes senoidais, podem-se utilizar polinmios, exponenciais,
funes lineares, quadrticas, etc..
O Mtodo dos Elementos Finitos caracteriza-se pela forma particular como as funes j ( x, z ) e
os parmetros R j so definidos:
Os parmetros R j so escolhidos como sendo os potenciais nos ns da malha chamados de A j ,
ou seja R j = A j . Este procedimento muito semelhante ao que se utiliza no Mtodo de
Interpolao de Lagrange.
As funes j ( x, y ) so definidas de tal forma, que em cada subdomnio, apenas algumas delas
so diferentes de zero, a soluo dentro do elemento uma torna-se combinao linear destas
poucas funes, sendo assim mais fcil de ser determinada. Considerando-se, por exemplo,
elementos triangulares em duas dimenses, apenas trs delas tem valor diferente de zero em cada
elemento.
A definio das funes na forma acima traz inmeras vantagens prticas. Pode-se utilizar a
mesma forma para todas as funes, deixando-se os seus parmetros como incgnitas. Assim,
pode-se definir a soluo para apenas um tringulo e em seguida estend-la para todos os
demais, simplificando o equacionamento do problema. Considerando-se o tringulo genrico
mostrado na Figura 1.15a, obtm-se para a soluo aproximada:
A ( x, y ) = C 0 + C1 x + C 2 y
(1.58a)
Impondo-se que a funo A ( x, y ) fornea os potenciais nos ns 1, 2 e 3, obtm trs equaes

auxiliares que permitem determinar os coeficientes C 0 , C 1 e C 2 :
Apndice I
168
A1
1
A3
e
2
A2
Figura 1.17a - Tringulo genrico utilizado no equacionamento.

A ( x1 , y1 ) = A1
(1.59a)
A ( x 2 , y 2 ) = A2
(1.60a)
A ( x3 , y 3 ) = A3
(1.61a)
Os pares (x1 , y1 ) , (x 2 , y 2 ) e (x3 , y3 ) so as coordenadas dos ns 1, 2 e 3. Utilizando-se das

ltimas 3 equaes para a determinao das constantes C 0 , C 1 e C 2 chega-se forma:
A ( x, y ) = A j j (x, y )
(1.62a)
j =1
As funes j ( x, y ) so expressas pelas equaes:
1 =
1
[(x 2 y 3 y 2 x3 ) + x ( y 2 y 3 ) + y (x3 x 2 )]
D
(1.63a)
2 =
1
[(x3 y1 y3 x1 ) + x ( y3 y1 ) + y (x1 x3 )]
D
(1.64a)
1
3 = [(x1 y 2 y1 x 2 ) + x ( y1 y 2 ) + y (x 2 x1 )]
D
(1.65a)
D dado pela expresso:

D = x2 y 3 y 2 x3 + x3 y1 y 3 x1 + x1 y 2 y1 x 2
(1.66a)
Uma outra particularidade importante do MEF que as prprias funes j ( x, y ) so utilizadas

como funes de teste, as quais foram designadas anteriormente por g ( x, y ) na equao 1.54a.
Assim, tanto as funes de teste como as de aproximao so idnticas na forma dentro de cada
Apndice I
169
tringulo. Com estas consideraes e substituindo-se a equao 1.62a na equao 1.56a, resulta
para a integral sobre um elemento e :
3
A j j i d e = J i d e
e
e
j =1
A j j i d e = J i d e
j =1
(1.67a)
i = 1,2,3,
(1.68a)
i = 1,2,3
Como existem 3 funes de teste para cada tringulo, resultam, igualmente, 3 equaes para cada
tringulo, conforme estabelece a equao anterior. Considerando-se e J constante sobre o
elemento pode-se escrever a equao 1.68a na forma:
3
A
j
j =1
i d e = J i d e
i = 1,2,3
(1.69a)
Considerando-se todo o domnio pode-se ainda estabelecer uma equao global:

M
e =1
j =1
A
j
i d e = J i d e
(1.70a)
Dada a simplicidade das funes j ( x, y ) , a avaliao da integral se torna fcil, resultando tanto
no lado esquerdo como no lado direito valores constantes.
Considerando-se a equao 1.69a e variando-se os ndices i e j de 1 a 3 obtm-se um sistema
local de equaes, onde os potenciais dos ns aparecem como incgnitas:
3
A
j =1
K ije = bi
K ije = j i d e
i = 1, 2, 3
i = 1,2,3
(1.71a)
j = 1,2,3
(1.72a)
i = 1,2,3
(1.73a)
bie = J i d e
e
Na forma matricial pode-se ainda estabelecer:
Apndice I
170
K 11e
e
K 12
K 13e
K 12e
e
K 22
e
K 23
K 13e A1 b1e
e
e
K 23
A2 = b2
K 33e A3 b3e
(1.74a)
Considerando-se todos os elementos, obtm-se um sistema local semelhante a equao 1.74a

para cada elemento, onde a matriz de coeficientes locais simtrica. A fim de se obter a matriz
global do sistema, deve-se somar todos os sistemas locais, de acordo com a equao 1.70a,
obtendo-se desta forma um sistema nico de equaes chamado de sistema global. Os ndices 1 ,
2 e 3 nas equaes locais de cada elemento possuem uma correspondncia com a numerao
global dos ns, a qual vai de 1 a M. Na montagem da matriz global deve-se avaliar a
contribuio de cada um dos elementos e adicion-los matriz global. Por exemplo, supondo-se
que o elemento 1 de uma malha contendo 10 ns esteja sendo considerado e que exista a seguinte
correspondncia entre os ns locais e globais:
1
7 ,
Ao ser processado o elemento em questo, a sua contribuio ser adicionada matriz global da
forma esquematizada abaixo.
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0 0
0 0
0 0
0 0
0 K 111
0 0
1
0 K 12
0 0
1
0 K 13
0 0
0 0
0 0
0 0
0 0
1
0 K 12
0 0
1
0 K 22
0 0
1
0 K 23
0 0
0 0
0 0
0 0
0 0
0 K 131
0 0
1
0 K 23
0 0
1
0 K 33
0 0
0 A1 0

0 A2 0
0 A3 0

0 A4 0
0 A5 b51
=
0 A6 0
0 A7 b71

0 A8 0
0 A9 b91

0 A10 0
(1.75a)
De acordo com a equao 1.75a as contribuies locais so colocadas nas linhas e colunas da
matriz global dadas pelo nmero dos ns globais; K121 por exemplo ser colocado na linha 5 e
coluna 7, K131 na linha 5 e coluna 9, etc...
Supondo ainda que para o elemento 2 exista a seguinte correspondncia entre os ns globais e
locais:
Apndice I
171
1
5 ,
10
Ao inserir-se o elemento 2, procede-se analogamente ao feito para o elemento 1, resultando

ento para a matriz global:
0
0
0
0
0
0
0
0
0 0
0 0
0 K 112
0 0
0
0
0
0
0
0
K 122
0
0 K 122
0 0
0 0
0 0
0 0
2
0 K 111 + K 22
0
0
K 121
0
0
0
1
K 13
0
0 K 132
2
K 23
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0 K 121
0 0
1
0 K 22
0 0
1
0 K 23
0 K 131
0 0
1
0 K 23
0 0
1
0 K 33
0 A1 0

0 A2 0
K 132 A3 b32

0 A4 0
2
1
2
K 23
A b5 + b5
5 =
0 A6 0
0 A7 b71

0 A8 0
0 A9 b91
K 332 A10 b102
(1.76a)
Repetindo-se o procedimento ilustrado para todos os elementos da malha obtm-se um sistema

de equaes lineares do tipo:
[A ] [K ] = [b]
(1.77a)
Observa-se que a matriz de coeficientes [K ]g simtrica e esparsa, com poucos elementos fora
da diagonal principal. O nmero de elementos fora da diagonal em cada linha equivale ao
nmero de ns conectado ao n relativo quela linha. Estas caractersticas, em geral, so
aproveitadas em termos de armazenamento e soluo do sistema.
Depois de montada a matriz de coeficientes, solucionado o sistema de equaes resultante,
obtendo-se os potenciais dos ns. A soluo pode ser obtida tanto por meio de mtodos diretos
como indiretos, sendo na prtica, preferidos os mtodos indiretos, uma vez que a soluo pode
ser facilmente refinada. A introduo dos potenciais dos ns na equao 1.62a permite
determinar o potencial em cada um dos elementos, tomando-se as funes de base para o mesmo
!
elemento. Finalmente, a grandeza eletromagntica de interesse, a induo magntica B , obtida

por meio da relao estabelecida anteriormente:
!
B(x, y) = A(x, y)
(1.78a)
Para o caso de funes de lineares resultam valores de induo constantes sobre um elemento.
A Figura 1.18a ilustra a distribuio de campo obtida pela aplicao do MEF em duas dimenses
para a estrutura mostrada na Figura 1.12a.
Apndice I
172
Figura 1.18a - Distribuio de campo obtida pelo MEF.

Feita esta abordagem sobre aproximao de funes pelo mtodo de Galerkin, que o mtodo
utilizado pelo software FEM2000 para clculo de campo, ser apresentado o clculo do campo
magntico do magneto utilizado para sensibilizar os sensores magnetoresistivos do dispositivo
para medir deslocamentos no espao.
1.4 - RESULTADOS DE CLCULO DE CAMPO ATRAVS DO FEM2000

O FEM2000 um software de modelagem geomtrica e anlise de campos eletromagnticos de
dispositivos tais como mquinas eltricas, transformadores, rels, atuadores, etc. O sistema est
baseado no Mtodo dos Elementos Finitos em duas dimenses, o qual possibilita a obteno de
mapas de campo e demais grandezas eletromagnticas com preciso e confiabilidade. Pode-se
analisar geometrias complexas contendo materiais lineares e no-lineares.
A Figura 1.19a representa um fluxograma da organizao geral do software FEM2000, e uma
cpia da documentao disponvel no programa.
Apndice I
173
Figura 1.19a - Fluxograma do FEM2000

O software Sistemas de Clculo por Elementos Finitos FEM2000, um software que trabalha
em trs mdulos, definidos por trs extenses dos arquivos, a saber:
- .DES
- .DAT
- .MESH
No primeiro mdulo, cuja extenso .DES, definida a geometria do modelo, a qual pode ser
feita atravs de vrias funes de criao, edio e visualizao disponveis neste mdulo. O
desenho pode ser obtido atravs de pontos definidos pelo teclado ou por inseres com o mouse.
Aps a definio da modelagem geomtrica e exportado o arquivo para o segundo mdulo, cuja
extenso do arquivo .DAT, passa-se para o processo de discretizao do modelo, definindo-se
as caractersticas dos materiais e as condies de contorno.
Aps a gerao da malha, deve-se exportar a mesma para o terceiro e ltimo mdulo, isto , o
mdulo de clculo e anlise eletromagntica.
Apndice I
174
Nesta etapa possvel calcular as grandezas eletromagnticas tais como fluxo magntico,
induo magntica, fora, etc, atravs de teclas de atalho dispostas na tela, permitindo, tambm a
visualizao das curvas diretamente atravs de toques no mouse , bem como atravs de pontos
especficos no teclado.
A Figura 1.20a apresenta de forma esquemtica a disposio do magneto em relao aos
sensores magnetoresistivos, bem como a zona de fronteira onde o campo magntico
considerado nulo. Para apresentao dos resultados foi considerado o magneto no centro do
quadrado formado pelos 4 sensores, cuja diagonal de 180mm e, como zona de fronteira, um
quadrado cuja diagonal de 339,41mm, conforme mostrado na Figura 1.20a.
P1=(-120,120)
Zona de fronteira
Sensor magnetoresistivo
Magneto
Diagonal igual a339,41mm
P2=(120,-120)
Figura 1.20a - Definio da zona de fronteira onde o campo magntico considerado nulo.
Conforme dito anteriormente, o processo de utilizao do software consiste de 3 etapas, as quais
sero demonstradas a seguir.
1.4.1 - DEFINIO DA GEOMETRIA - MDULO*.DES

Para a primeira etapa, ou seja, a determinao da geometria do modelo, considerou-se o magneto
como um retngulo de 11mm de comprimento e 5mm de altura, centrado no ponto (0,0) no
sistema de referncia do programa, conforme pode ser visto na Figura 1.20a.
Apndice I
175
Como o FEM2000, calcula a induo magntica num plano, considerou-se o magneto disposto
no centro de um dos planos formado pelo conjunto de quatro sensores. A distncia entre o
magneto e cada um dos sensores, considerando o im no centro geomtrico do equipamento, de
90mm. Desta forma possvel determinar o valor da induo que atinge cada sensor, quando o
magneto se desloca neste plano.
Como fronteira (regio de potencial nulo) considerado um quadrado cujas ordenadas das
extremidades de uma das diagonais valem: P1=(-120,120) e P2=(120.-120), o que significa que o
campo nulo a 169,70mm de distncia do centro do magneto, distncias estas consideradas,
sempre, em relao a origem. A diagonal do retngulo, onde considerado nulo o campo
magntico, de 339,41mm
1.4.2 - DEFINIO DE MATERIAIS E CONDIO DE CONTORNO - MDULO*.DAT

Nesta etapa se definem as condies de contorno e as regies onde se deseja calcular o campo.
Para os exemplo foi considerada a opo Contorno Externo, para a definio de que na regio
definida pelo quadrado de diagonal igual a 339,41mm, o campo magntico nulo.
Feito isso, necessrio definir as caractersticas das regies em estudo, como a permeabilidade
relativa, o valor da magnetizao em cada direo X e/ou Y, e a densidade de corrente, quando
for o caso. Para o caso em estudo, foi considerado que a permeabilidade relativa do magneto a
mesma do ar, portanto igual a 1, e que o im possui magnetizao de 1,1T, na direo Y, valor
este fornecido pelo fabricante do magneto a Intermag Produtos Magnticos.
Definidos os materiais e as condies de contorno, gerada a malha de elementos finitos e
passa-se para a terceira etapa, que o mdulo de clculo.
Para o exemplo mostrado na Figura 1.21a, a malha gerada a chamada malha default, ou seja
a malha gerada automaticamente pelo sistema e apresenta 6.482 elementos e 3.338 ns.
Apndice I
176
Figura 1.21a - Malha gerada

Com a finalidade de validar os resultados obtidos, realizou-se um refinamento na malha para
efetuar a comparao entre os mesmos. O resultado do refinamento est apresentado na Figura
1.22a, e a malha refinada apresenta 25.928 elementos e 13.157 ns.
.
Apndice I
177
Figura 1.22a - Malha refinada

Concludo este mdulo, passa-se ao processo de clculo das grandezas necessrias.
1.4.3 - PROCESSO DE CLCULO MDULO *.MESH

Nesta etapa o programa oferece, aps ter gerado a malha, uma variedade de opes como o
clculo da induo num determinado ponto bem como a variao da induo entre um ponto e
outro desejado.
A sistemtica utilizada para demonstrao dos clculos foi a determinao da induo no ponto
mais prximo entre o magneto e um dos sensores (72,33mm); a determinao da induo
considerando o magneto no centro geomtrico dos sensores (90mm, eqidistante de todos os
sensores); e o valor da induo no ponto mais distante entre o magneto e um dos sensores
(107,67mm), considerando que a magnetizao seja na direo Y.
Os resultados apresentados foram obtidos inicialmente com a malha original e depois, com a
malha j refinada. Em ambos os casos foram utilizadas 400 linhas equipotenciais.
Apndice I
178
Figura 1.23a - Induo magntica a 90mm do magneto (im no centro) malha original.
Apndice I
179
Figura 1.24a - Induo magntica a 72,33mm do magneto (im menor distncia).
Figura 1.25a - Induo magntica a 107,67mm do magneto (im maior distncia).

Os resultados apresentados nas Figuras 1.26a, 1.27a e 1.28a, foram obtidos atravs do
refinamento da malha.
Apndice I
180
Figura 1.26a - Induo magntica a 90mm do magneto (im no centro) malha refinada.
Figura 1.27a- Induo magntica a 72,33mm do magneto (im menor distncia) - malha
refinada.
Apndice I
181
Figura 1.28a - Induo magntica a 107,67mm do magneto (im maior distncia) - malha
refinada.
Os resultados da induo magntica para os 3 pontos caracterizados por diferentes distncias
entre o im e os sensores, podem ser verificados na tabela 1.2a.
Tabela 1.2a - Valores comparativos dos resultados do FEM2002.
Distncias do
im ao sensor
Induo Magntica B (Tesla)

Malha default
Malha refinada
90mm
0,00116093
0,00128924
72,33mm
0,00194289
0,00184658
107,67mm
0,000836482
0,000813158
Atravs dos resultados obtidos pelo FEM2000, verifica-se que o campo que sensibiliza os
sensores magnetoresistivo se encontra entre 8 e 20 Gauss, o que coerente com os limites
(range) fornecido pelo fabricante dos mesmos, que de 25 Gauss.
Apndice I
182
A figura 1.29a apresenta a curva de variao da induo magntica que sensibiliza os sensores,
quando a distncia entre o magneto e o sensor varia entre 72,33mm (menor distncia no plano) e
107,67mm (maior distncia no plano), que atende ao objetivo secundrio do trabalho, ou seja
identificar o campo magntico que sensibiliza os sensores magnetoresistivos com o magneto
utilizado.
Variao da Induo Magntica nos Sensores

21
Induo magntica (Gauss)
19
17
15
13
11
9
7
5
60.00
70.00
80.00
90.00
100.00
110.00
120.00
Distncia entre magneto e sensor (mm)
Figura 1.29a Variao de campo magntico nos sensores magnetoresistivos

Mais uma vez importante enfatizar que os clculos apresentados so resultados obtidos atravs
de mapeamento de campo no plano, os quais devem ser estendidos para a obteno deste
mapeamento no espao. Os resultados para o mapeamento do campo magntico no espao
devem ser realizados futuramente, em trabalhos na rea.
1.5 - CONCLUSO
Os valores de induo magntica calculados permitem afirmar que: para um deslocamento entre
0 e 25mm no plano que os sensores so sensibilizados por campos que variam entre 8 e 20,
Gauss, aproximadamente. Na posio mais prxima entre o magneto e um dos sensores
(distncia=72,32mm), a induo calculada foi de 18G. Na posio mais distante
(distncia=107,67mm), o valor da induo calculada foi de 8G.
possvel fazer uma estimativa do valor do campo magntico que sensibiliza os sensores,
quando o magneto se move no mais no plano (quadrado de 25X25mm) mas sim no espao
(cubo de 25X25X23mm), considerando a pergunta: - qual a maior distncia possvel entre o
Apndice I
183
magneto e o sensor e qual a menor? A resposta simples. A menor distncia no espao a
menor distncia no plano isto , quando o sensor e o magneto estiverem no mesmo plano, a
menor distncia 72,32mm. A maior distncia no espao o sensor num plano e o magneto no
plano mais distante do mesmo em posio diagonalmente oposta ao sensor. A distncia entre os
planos dos sensores de 40mm, portanto a maior distncia possvel entre sensor e magneto
114,86mm, calculado pela equao 1.79a, onde 107,67mm a distncia , no plano vertical, entre
o sensor e o magneto.
(1.79a)
2
d mx = 107,67 + 40 2
A Figura 1.30a apresenta, esquematicamente, atravs da linha azul, esta distncia. O cubo
pequeno no interior do cubo maior, representa a trajetria do magneto; o quadrado amarelo
representa o magneto, e os crculos coloridos representam os oito sensores magnetoresistivos.
127mm
25mm
25mm
40mm
127mm
Figura 1.30a - Deslocamento do magneto no espao.

O software FEM2000 realiza o clculo da induo somente no plano, porm na tentativa de
estimar o valor da induo a uma distncia de 114,86mm no espao, foi feito o clculo da
induo no plano a esta distncia, e o valor encontrado foi de 6,98G, o que pode ser considerada
uma estimativa razovel.
Finalizando pode-se dizer que apesar do campo magntico ser pequeno no campo dos sensores e
considerado praticamente nulo pelos medidores de campo utilizados no meio acadmico, os
Apndice I
184
sensores magnetoresistivos so sensibilizados por estes campos e permitem com isso a
identificao de movimentos em 3D, com preciso na ordem de dcimos de milmetros.
Apndice I
185
APNDICE II
SENSORES MAGNTICOS
2.1 - INTRODUO
Os sensores magnticos so muito utilizados devido a suas caractersticas de sensoriamento sem
contato, seja pela necessidade de medies em ambientes hostis ou de difcil acesso, ou mesmo
por caractersticas como confiabilidade e alta sensibilidade a campos magnticos mesmo muito
pequenos.
O avano da tecnologia juntamente com a descoberta de novos materiais e principalmente a
descoberta de novas caractersticas de materiais j utilizados, permitiu uma melhora no
rendimento e desempenho deste tipo de sensores, fazendo com que atualmente se tenha uma
grande variedade de sensores com a mesma finalidade (medir campos magnticos) e que podem
funcionar baseados em diferentes princpios fsicos.
A seguir sero apresentados os principais sensores magnticos mostrando suas caractersticas e
principais aplicaes.
2.2 - SENSOR DE EFEITO HALL

Edwin Herbert Hall descobriu o efeito Hall, em 1879 enquanto trabalhava na sua tese de
doutorado em Fsica na Johns Hopkins University em Baltimore, Estados Unidos.
O efeito Hall est relacionado com a fora de Lorenz, que define a interao de uma carga q em
movimento num campo magntico B . Quando um condutor exposto a uma induo magntica
transversal, os eltrons em movimento so repelidos para uma das bordas. A concentrao de
eltrons nessa borda causa um campo eltrico, que por sua vez forma uma fora eletrosttica
contrria a fora resultante do campo magntico, a chamada fora de Lorenz. O efeito do campo
eltrico somente anula o efeito do campo magntico, determinando o equilbrio das foras. O
campo eltrico transversal ao condutor causa uma diferena de potencial entre as duas bordas
deste condutor, conhecida como tenso Hall, a qual varia conforme o tipo de condutor. Devido
s pequenas dimenses dos condutores e especialmente baixssima velocidade de deslocamento
dos eltrons, normalmente a tenso Hall no mensurvel na maioria dos materiais.
As aplicaes tcnicas do efeito Hall s se fizeram possveis pela metade dos anos 50, com a
descoberta de alguns semicondutores que possuem baixa concentrao e alta mobilidade de
Apndice II
186
portadores, e nos quais a corrente no originada atravs de portadores lentos se movimentando,
mas de poucos portadores com alta velocidade. Dessa forma, neste tipo de semicondutores a
tenso Hall muito maior que nos metais, sendo da ordem de at 100 mV, exemplos destes so o
InSb (Indio-Antimnio) e o InAs (Indio-Arsnico). Valores tpicos para mobilidade dos eltrons
so: InSb=105 cm2V-1s-1 e InAs=2,26 104 cm2V-1s-1.
O coeficiente que caracteriza a eficincia da tenso Hall no material o chamado coeficiente
Hall (RH), o qual est diretamente relacionado com a mobilidade dos portadores (H) e a
resistividade do material (b) pela equao
RH = H b
(2.1a)
2.2.1 - TEORIA DO EFEITO HALL

Quando um pedao de material condutor ou semicondutor conduz uma corrente na presena de
um campo magntico transversal, se produz uma fem (tenso Hall) nos bornes opostos como
mostra a figura 2.1a.
z
Bz [T]
l
x
Uy [V]
I x [A]
y
Figura 2.1a - Ilustrao do Efeito Hall.
A tenso produzida dada por:
Uy =
RH I B
x
z
(2.2a)
onde:
U y - Tenso Hall [mV]
l - espessura da pastilha [mm]
Apndice II
187
RH - coeficiente de Hall
I x - corrente na pastilha na direo x [mA]
Bz - Induo magntica na direo z [T, tesla ou G, gauss]
O sensor Hall , em sntese, consiste de um corpo semicondutor, dois terminais para dar caminho
corrente e dois eletrodos para coletar a tenso Hall. A tenso Hall que proporcional ao
produto da corrente pela induo magntica (B) perpendicular a ela da ordem de 7V/Vs/gauss
no silcio e portanto requer amplificao deste sinal para uso prtico. A tenso Vs a tenso da
fonte de alimentao.
2.2.2 - CARACTERSTICAS BSICAS

O elemento Hall a parte bsica do sensor de campo magntico e requer um condicionamento de
sinal para a tenso de sada. O condicionamento de sinal eletrnico necessita de um estgio de
amplificao do sinal e compensao da temperatura. A regulagem da tenso necessria
quando se trabalha com fontes irregulares de tenso.
Figura 2.2a - Sensor de efeito Hall.

Se a tenso Hall medida quando no h campo magntico presente, a tenso zero. Entretanto
se a tenso em cada terminal de sada for medida em relao referncia (terra), haver a tenso
de modo comum (common mode voltage CMV) que no zero e igual nos dois terminais.
Portanto a tenso que deve ser amplificada a diferena entre estes dois terminais, a tenso Hall,
sendo usado, portanto, um amplificador diferencial.
A tenso Hall de baixa intensidade, aproximadamente 30 V na presena de um campo
magntico de 1 Gauss, o que requer um amplificador com baixo rudo, alta impedncia de
entrada e ganho moderado. Um amplificador diferencial com estas caractersticas pode ser
facilmente implementado.
Quando utilizado como sensor magntico, o sensor Hall pode ser considerado como um
transdutor. A componente normal da induo magntica considerada o sinal de entrada e a
Apndice II
188
tenso Hall o prprio sinal de sada. A seguir sero apresentados os coeficientes bsicos do
sensor Hall, caracterizando sua operao como um transdutor de induo magntica/tenso Hall.
2.2.2.1 - Sensibilidade absoluta
o parmetro mais importante a ser avaliado, e define-se sensibilidade absoluta como a razo
entre a tenso Hall (UH) e a componente normal da induo magntica, considerando constantes
variveis como temperatura, freqncia e corrente de excitao.
SA =
(2.3a)
UH
BZ
2.2.2.2 - Offset equivalente a Induo Magntica

A tenso de offset na sada do sensor Hall no pode ser distinguida do sinal relativo a induo
magntica. Para caracterizar o erro na medida da induo magntica causada pelo offset, pode-se
calcular a induo magntica que produziria tenso Hall igual a tenso de offset, ou seja:
Boff =
(2.4a)
U off
SA
onde Boff o offset equivalente da induo magntica.

O maior causador de offset em sensores Hall so as imperfeies na fabricao dos mesmos,
como no uniformidade da resistividade e espessura do material. Tenses mecnicas (stress) na
combinao com o efeito piezoresistivo tambm podem causar offset.
2.2.2.3 - Rudo equivalente de Induo Magntica
O rudo na sada do sensor Hall pode ser interpretado como o resultado de uma induo
magntica equivalente atuando como rudo num dispositivo Hall.
Uma maneira coerente para descrever as propriedades do rudo de um sensor Hall em termos
de um limite de deteco. O limite de deteco o valor da medida da relao sinal/rudo.
2.2.2.4 - Sensibilidade a fatores externos
A sensibilidade a fatores externos (cross-sensitivity) de um sensor magntico uma indesejvel
sensibilidade a fatores externos como temperatura e presso. A equao geral para definir a
sensibilidade a um parmetro Pc qualquer :
Apndice II
189
1 S
(2.5a)
Pc = S P
onde Pc o parmetro a ser avaliado a sensibilidade externa (cross-sensitivity)

Se o parmetro a ser avaliado a temperatura, por exemplo, ento Pc se torna Tc , que o
coeficiente de sensibilidade de temperatura. Na equao acima, S denota a sensibilidade do
sensor Hall.
2.2.2.5 - No linearidade
A no-linearidade do sensor (NL) pode ser oriunda do prprio material de que o mesmo consiste,
e definida como:
2
NL M H B
2
(2.6a)
onde:
NLM: no linearidade do material
: coeficiente de no linearidade
H: mobilidade dos eltrons
B: induo magntica
O coeficiente de no linearidade do material depende dos fatores da rede e so relacionados com
o tempo de relaxao dos portadores
Outra fonte de no linearidade pode resultar da geometria do prprio semicondutor do qual
construdo o sensor, sendo definida como
NLG H B
2
(2.7a)
onde:
NLG :no linearidade da geometria
: coeficiente de no linearidade.
O coeficiente de no linearidade oriundo da geometria do material pode variar de 0 a 0,604.
Apndice II
190
Uma outra fonte de no linearidade que pode se identificar num sensor Hall o efeito de campo
da juno (NLJFE), a qual depende da estrutura do sensor e das condies de polarizao,
contrastando com as duas primeiras causas de no linearidade que so dependentes do quadrado
do campo magntico e independentes da polarizao.
A no linearidade pelo efeito de campo da juno , na maioria das aplicaes, dominante sobre
as outras duas, mas usando-se tcnicas adequadas de compensao, ela pode ser totalmente
anulada. Uma maneira de se fazer esta compensao utilizar um invlucro, (jaqueta que faz
contato com o sensor), com uma tenso aplicada dependente do valor da tenso Hall e de
polaridade invertida. No caso esta tenso aplicada anula o efeito indesejado da NLJFE.
2.2.2.6 - Estabilidade
O coeficiente Hall no pode ser considerado como um parmetro absolutamente estvel, e como
se sabe a sensibilidade do sensor Hall diretamente proporcional a este coeficiente. Um exemplo
disso quando um sensor submetido a uma tenso mecnica, devido ao efeito piezo-Hall, o
coeficiente Hall de um sensor com semicondutor tipo n de baixa dopagem, pode variar at 2,5%.
A sensibilidade relativa do sensor Hall tambm depende diretamente da densidade superficial de
cargas. Dessa maneira, qualquer efeito fsico que venha a causar qualquer variao na densidade
de portadores pode causar instabilidade.
Sensores de alta sensibilidade tendem a ser instveis. Quanto maior a sensibilidade do sensor
Hall, maior ser a influncia dos efeitos superficiais nele mesmo, porm com tcnicas de
correo, os sensores de efeito Hall podem ser estveis.
2.2.2.7 - Funo de transferncia
A funo de transferncia de um dispositivo descreve a sua sada em termos de sua entrada, e
pode ser expressa atravs de uma equao ou mesmo de um grfico. Para um sensor de efeito
Hall analgico a funo de transferncia expressa a relao entre o campo magntico de entrada
(Gauss) e a tenso de sada. A funo de transferncia tpica, para este tipo de sensor de um
determinado fabricante (Honeywell) pode ser vista na figura 2.3a.
Apndice II
191
Figura 2.3a - Funo de transferncia Sensor de efeito Hall analgico.

A equao abaixo uma aproximao da funo de transferncia deste sensor
4
U out = (6,25 10 U S ) B + 0,5 U S = Volts
(2.8a)
640 < B(Gauss) < +640
(2.9a)
O fator [(6,25 104 Us) B] na equao acima expressa a sensibilidade deste sensor, e o segundo
fator (0,5 Us) expressa o offset.
2.2.3 - SENSOR DE EFEITO HALL DIGITAL

A sada do sensor de efeito Hall digital pode apresentar dois estados: ON ou OFF. O circuito
analgico bsico pode ser convertido em sinal digital utilizando um dispositivo de disparo, o
trigger Schmitt, conforme figura 2.4a.
Figura 2.4a - Sensor de efeito Hall com sada digital (Honeywell).
Apndice II
192
O trigger Schmitt compara a sada do amplificador diferencial com uma referncia definida.
Quando a sada do amplificador exceder esta referncia, o Schmitt trigger dispara, inversamente,
quando a sada do amplificador cair abaixo da referncia, o trigger desliga.
O fenmeno da histerese est includo no trigger e ocorre atravs de duas referncias distintas, as
quais variam conforme o sensor estiver ON ou OFF.
2.2.3.1 - Funo de transferncia
A funo de transferncia para a sada digital de um sensor de efeitoHall, pode ser vista na figura
2.5a.
Figura 2.5a - Funo de transferncia de um sensor de efeito Hall com sada digital.
A principal caracterstica da relao entrada/sada o ponto de operao, e importante definir
bem este ponto ou o diferencial entre eles. A medida que o campo magntico aumenta, no
haver nenhuma alterao na sada do sensor at que o ponto de referncia seja alcanado. Uma
vez que o ponto alcanado o sensor muda de estado. Posteriores acrscimos no valor do campo,
no alteraro o estado, o mesmo vale para quando o campo magntico decresce.
Bem como nos sensores analgicos, usado um amplificador na sada, para permitir maior
flexibilidade nas aplicaes. Este transistor tipicamente um NPN.
Apndice II
193
Figura 2.6a - Sensor de sada digital com transistor NPN.

2.2.3.2 - Caractersticas bsicas
Os sensores com sada digital so disponveis em dois tipos: com regulagem e sem regulagem. A
maior parte dos sensores com regulagem e utiliza fonte de alimentao entre 3,8 a 24 VDC, e
servem para diversas aplicaes. Sensores sem regulagem so usados em aplicaes especiais e
necessitam de uma fonte DC de 4,5 a 5,5V (50,5V), e devem ser usados em conjunto com
circuitos lgicos.
A principal caracterstica de entrada de um sensor digital definir o ponto de operao, ou seja o
ponto em que ele muda seu estado (ON/OFF), e os valores mnimo e mximo de operao.
Como as caractersticas bsicas do sensor variam com a temperatura e mesmo de sensor para
sensor, estes valores so especificados em termos de uma faixa de operao.
Figura 2.7a - Caractersticas de entrada para um sensor unipolar.

O grfico da figura 2.7a considerado unipolar, pois os limites de operao (mnimo e mximo)
so positivos, isto , s referente ao polo sul.
Um sensor bipolar tem um ponto de operao positivo (polo sul) e um ponto de operao
negativo (polo norte), conforme mostra a figura 2.8a.
Apndice II
194
Figura 2.8a - Caractersticas de entrada para um sensor bipolar.

As caractersticas de sada de um sensor Hall digital so definidas pelas caractersticas eltricas
do transistor de sada, isto inclui, tipo do transistor, corrente mxima, tenso de quebra e tempo
de chaveamento.
2.2.4 - APLICAES TPICAS

Sensor de efeito Hall tem uma larga variedade de aplicaes. Pode ser usado como
magnetmetro e relacionar informao de campo magntico com deslocamento mecnico. Como
campo magntico est diretamente relacionado com corrente eltrica, uma vez que a induo
magntica exatamente proporcional a corrente, a medida de corrente pode ser efetuada sem ter
que abrir o circuito ou fazer qualquer contato entre o condutor e o instrumento. Ao se medir
corrente possvel se medir tenso, potncia e consequentemente at energia, o que prova que o
sensor de efeito Hall um multiplicador de quatro quadrantes.
2.3 - FLUXGATES
Um fluxgate um sensor utilizado para medir intensidade de campo magntico que se baseia em
caractersticas magnticas no lineares de um ncleo de material ferromagntico. Trata-se de um
sensor diferencial que mede a componente de campo paralela ao eixo da bobina.
Os fluxgates foram desenvolvidos em 1928 e posteriormente refinados pelos militares, para
direcionamento de aeronaves de inspeo geomagntica e deteco de submarinos, na segunda
guerra mundial .
Com o incio da era espacial nos anos 50, o fluxgate foi adaptado para a magnetometria espacial.
O primeiro satlite a carregar um fluxgate foi o Sputinik 3, lanado em 1958. Os fluxgates
voaram em vrias espaonaves para mapear campos geomagnticos da Terra, suas interaes
Apndice II
195
com partculas solares, campo magntico lunar, campos planetrios e interplanetrios. Fluxgates
triaxiais colocados na superfcie lunar por astronautas da Appolo so responsveis por
informaes sobre o campo magntico lunar.
Apesar do surgimento de novas tecnologias para sensores de campo magntico, os fluxgates
continuam sendo muito utilizados em diversas reas, devido sua confiabilidade, relativa
simplicidade, baixo custo e robustez.
Uma das propriedades que fazem do fluxgate um magnetmetro muito procurado a faixa de
medidas que podem ser feitas para um nvel de rudo muito baixo.
2.3.1 - PRINCPIO DE OPERAO

Um fluxgate consiste de um ncleo de material magntico envolvido por uma bobina. Se a
permeabilidade r do material do ncleo varia, surge uma tenso entre os terminais da bobina, e
esta tenso proporcional ao nmero de espiras da bobina, a rea da seo transversal e a
variao do campo magntico na bobina.
Figura 2.9a - Fluxgate bsico.

O campo da terra ao longo do eixo do ncleo produz um fluxo magntico = B A na rea
transversal A. Se a permeabilidade r do material do ncleo alterada, as mudanas de fluxo e a
tenso Usec so induzidas nas N espiras da bobina, onde:
U sec = N A
dB
dt
(2.10a)
onde o vetor induo magntica B proporcional a Bext para pequenos valores de Bext , e o fator
de proporcionalidade a (permeabilidade efetiva) depende do material e da geometria do ncleo:
Apndice II
196
B = a Bex
(2.11a)
B = 0 (H + M )
(2.12a)
O campo dentro do ncleo dado por:
onde M, a magnetizao proporcional a H :

M = H
(2.13a)
sendo a susceptibilidade o fator de proporcionalidade.

B = 0 H (1 + )
(2.14a)
Considerando que (1+)=r , tem-se:
O campo H dado por:
B = 0 r H
(2.15a)
H = H ex DM
(2.16a)
onde D o fator de desmagnetizao e:

H ex =
Bex
0
(2.17a)
Substituindo-se (2.16a), (2.17a) em (2.15a):
B = 0 r Bex DM
0
(2.18a)
Operando-se com esta equao chega-se que:

B=
r Bex
1 + D( r 1)
(2.19a)
Aplicando-se (2.19a) na equao geral (2.10a):
Apndice II
197
U sec = N A
d r (t ) Bex
dt 1 + D( r (t ) 1)
(2.20a)
que a equao bsica do fluxgate.

O tipo mais comum de fluxgate chamado de dispositivo de segunda harmnica. Este
dispositivo compreende duas bobinas, a primria e a secundria, dispostas em torno de um
ncleo de material ferromagntico de alta permeabilidade. A induo magntica neste ncleo
varia na presena de um campo magntico externo. Ao se aplicar uma tenso no enrolamento
primrio com uma freqncia de 10 kHz, por exemplo, faz-se com que o ncleo oscile em torno
do seu ponto de saturao, aparecendo um valor de tenso na sada do enrolamento secundrio.
Este valor de tenso afetado por qualquer variao na permeabilidade do ncleo do fluxgate.
Atravs de um detector de fase, o sinal de sada pode ser demodulado e atravs de um filtro
passa-baixa obter o valor do campo magntico externo.
Os medidores de campo magntico tipo fluxgate podem medir sinais na ordem de at 10
microGauss, tendo-se cuidado no circuito para condicionamento do sinal. Podem medir tanto
magnitude quanto direo do campo magntico e o limite superior da faixa de freqncia em
torno de 1kHz, devido a freqncia do sinal aplicado (10 kHz).
2.4 - SENSORES BASEADOS EM MATERIAL AMORFO

Materiais amorfos magnticos so materiais que possuem algumas caractersticas como superior
sensibilidade de deteco, mxima temperatura de operao, tempo de resposta, resistncia a
choques mecnicos e miniaturizao se comparados a materiais como o superpermalloy, ferrites
e supercondutores, materiais estes, tambm usados como ncleos de sensores.
Ligas de materiais amorfos utilizadas atualmente so compostas de FeCoSiB (Ferro,Cobalto,
Silcio,Boro) e FeNiSiB (Ferro, Nquel, Silcio, Boro) e filmes finos como FeCoZr
(fFerro,Cobalto, Zircnio ), TbFeco (Trbio, Ferro, Cobalto) e GdFeCo (Gadolneo ,Ferro,
Cobalto) dentre outros.

As principais caractersticas de materiais amorfos magnticos para uso em sensores so:
- possuem uma estrutura bidimensional extremamente uniforme;
Apndice II
198
- so materiais elsticos que suportam tenses acima de 400 kgf/mm2, podendo ser utilizados na
construo de grandes reas sensoras, atravs de malha de fios. Pelos dimetros encontrados,
tambm possvel fabricar bobinas miniaturas com ncleos;
- sua resistividade eltrica trs ou quatro vezes a resistividade do permalloy, que juntamente
com o pequeno dimetro significa baixas perdas, dessa forma uma excitao na banda de
megahertz possvel;
- a permeabilidade excede a do permalloy, e a faixa de rudo de rotao de magnetizao de
Barkausen baixo, o que significa que possvel fazer sensores de respostas rpidas e alta
sensibilidade (aproximadamente 10-6 Oersted);
- fcil controlar a magnetostrico (fenmeno que ocorre em alguns materiais, que quando
esto sob induo magntica, a rede cristalina se deforma, alterando as dimenses deste slido)
atravs da composio, desta forma, podem ser fabricados sensores de tenses mecnicas e
propagao de onda magnetostrictiva;.
Quando se utiliza material amorfo como sensor magntico deve ser observada a temperatura de
cristalizao que fica entre 400C e 500C, sendo aconselhvel operar abaixo de 200C, e que
materiais ferrosos sofrem de baixa resistncia a corroso, sendo obrigatria a adio de cromo.
Os materiais magnticos de liga amorfa para utilizao como sensores magnticos, so divididos
quanto a magnetostrico em: materiais com magnetostrico zero, e magnetostrico alta.
Materiais com magnetostrico zero (FeCoSiB) so os que apresentam mdulo da constante de
saturao da magnetostrico () menor ou igual a 10-7, e tm propriedades eletromagnticas
estveis, como alta permeabilidade e excelente resistncia a corroso e ao manuseio, e foram
primeiramente aplicados em cabeas magnticas para udio. Atualmente suas aplicaes incluem
sensores de campo magntico, sensores de corrente eltrica, sensores de deslocamento e outros.
Materiais de alta magnetostrico apresentam um efeito de magnetostrico muito sensvel, e
efeito inverso magnetostrictivo no encontrado em materiais cristalinos, mas suas aplicaes
prticas apresentaram problemas de corroso.
2.4.2 - APLICAES
No desenvolvimento de fios amorfos, foi detectado um grande efeito de Barkhausen, o qual
consiste do aparecimento de uma magnetizao reversa no interior de um ncleo magnetizado
Apndice II
199
axialmente, chamado de chaveamento de campo (H*), isto grandes pulsos de tenso
induzidos sob baixos campos magnticos, os quais tiveram aplicaes prticas como etiquetas
para sensores de segurana.
Mesas
digitalizadoras
tambm
so
implementadas
com
tiras
de
material
amorfo
magnetostrictivo, onde a intensidade de propagao magnetostrictiva controlada por um

magneto.
Algumas aplicaes destes sensores so baseados no efeito Matteucci. Originalmente o efeito
Matteucci consiste do aparecimento de um pulso de tenso AC entre os terminais de um cilindro
de alta permeabilidade quando este gira e est magnetizado por um campo aplicado paralelo ao
eixo de rotao do cilindro. No entanto, a tenso Matteucci pode ser detectada em fio de material
amorfo, mesmo sem estarem em rotao. Este efeito pode ser atribudo pelas tores sofrida
pelos materiais amorfos, durante o processo de solidificao dos mesmos. Algumas mesas
digitalizadoras so confeccionadas baseadas neste efeito.
Sensores de material amorfos podem ser utilizados na forma de biosensores. Por exemplo podese utilizar um biosensor vibracional que usa um sensor magntico para detectar atravs das
linhas de fora, as vibraes de um magneto que fica em contato com a pele.
Os sensores baseados em material amorfo tambm so conhecidos como:
Sensores Ressonantes
Este sensor um circuito ressonante composto de um ncleo de material amorfo dentro de um
indutor. Quando os pulsos de tenso passam pelo ncleo, estes so induzidos para a bobina. A
forma destes pulsos induzidos a mesma do circuito ressonante, porm atrasada, e seu tempo de
posio corresponde as frentes inicial e final do pulso. A freqncia de oscilao deste pulso
depende da intensidade do campo magntico externo e sua fase inicial depende do sinal da
projeo do campo magntico na fita de deteco. A medida de freqncia geralmente
realizada pelo registro de um a cinco meios perodos iniciais.
Uma das vantagens deste sensor sua capacidade de operar em temperaturas criognicas posto
que as fitas amorfas mantm suas caractersticas de sensibilidade a temperaturas do Hlio
lquido.
Sensores de vibrao
Apndice II
200
O princpio de operao dos sensores de vibrao medir a deformao do campo magntico
perto de uma das pontas de uma fita amorfa utilizando um sensor Hall de vibrao. Este campo
determinado pelo momento magntico da tira de material amorfo, conseqentemente o sensor
mede sua magnetizao, que por sua vez depende de um campo magntico externo ao longo da
tira.
A amplitude do sinal do sensor Hall ser determinada pela projeo do campo magntico externo
no eixo longitudinal da tira amorfa. O campo magntico perto da borda da fita amorfa d a
principal contribuio para o sinal de sada, assim este sensor pode ser utilizado para medir a
distribuio local do campo magntico.
O sensor consiste de uma barra de 2mm x 2mm x 60mm, onde numa das pontas existe uma tira
amorfa e na outra um sensor Hall. Neste conjunto h um vibrador piezoeltrico que tem a funo
de excitar o sistema. As caractersticas de sada do sensor de vibrao so dependentes da
intensidade do campo na tira amorfa, medidas pelo sensor Hall, e tambm podem operar a
temperatura criognicas.
Sensores Resistivos
O princpio de operao destes sensores medir a impedncia da fita amorfa em alta freqncias,
a qual varia conforme a intensidade do campo magntico aplicado. Aplica-se um sinal VAC de
amplitude constante atravs da tira amorfa e mede-se a corrente resultante para se determinar a
impedncia (relao entre tenso e corrente).
A dependncia da impedncia da tira amorfa com o campo magntico faz parte das
caractersticas de sada do sensor e so fornecida pelo fabricante.
Uchiyama et al, 2000 desenvolveram um sistema para monitorao e controle de trfego de
veculos utilizando um sensor de ligas amorfas do tipo magneto-impedncia (MI). O sistema
consiste de dois micro-sensores MI , um microcomputador e um semicondutor (CMOS)
encapsulado num s disco para ser instalado na pista de trnsito. Os sensores captam o campo
disperso emitido pelo veculo. Como os sensores esto afastados um do outro de
aproximadamente 20cm possvel, conforme mostra a figura 1.10, determinar a velocidade do
carro dividindo-se a distncia entre os sensores pelo tempo ocorrido entre a passagem do carro
no sensor 1 e no sensor 2.
Apndice II
201
Figura 2.10a Monitorao e Controle de trfego com sensores MI
2.5 - SQUIDS
Os SQUIDS (Superconducting Quantum Interference Devices) so dispositivos que utilizam o
fenmeno da supercondutividade juntamente com o efeito Josephson e o efeito Meissner para
medir campos magnticos com altos nveis de preciso.
A compreenso do funcionamento dos SQUIDS se torna melhor atravs da reviso de alguns
conceitos, a saber:
2.5.1 - SUPERCONDUTIVIDADE
A supercondutividade foi descoberta em 1911 pelo holands Heike Kamerlingh Onnes. Um
metal a temperatura ambiente tem resistncia eltrica pequena, mas no nula. Quando a
temperatura diminui, a resistncia do metal tambm diminui, at que para um determinado valor
de temperatura, a resistncia cai a zero. Para um fio de mercrio, o valor da resistncia cai a zero
quando a temperatura atinge 4,2 Kelvins (-269C).A temperatura na qual um material passa de
condutor normal para supercondutor chamada de temperatura crtica, Tc.
O fenmeno da supercondutividade foi verificado em vrios metais e ligas, mas sempre em
temperaturas muito baixas, mas esta limitao foi vencida em 1986, quando se comeou a falar
em supercondutores a altas temperaturas.
Apndice II
202
Em janeiro de 1986, Karl Mller e Georg Bednorz mostraram que uma cermica de xido de
brio, lantnio e cobre ficava supercondutora a 35K, o que teve um grande impacto entre os
pesquisadores. Em pouco tempo, novos materiais com valores de Tc cada vez mais altos, foram
sendo descobertos. Em 1987, Paul Chu e colaboradores apresentaram um xido de trio, brio e
cobre com Tc=93K (-180C) que est acima da temperatura do nitrognio lquido, a qual est ao
alcance de qualquer laboratrio de Fsica normal. Hoje o recorde vai para um xido de mercrio,
brio, clcio e cobre com Tc=134K.
Para um material passar de condutor normal a supercondutor necessrio que seus eltrons
formem pares, apesar da repulso eltrica mtua que h entre eles.
A teoria de J. Bardeen, L.Cooper e R. Schieffer (teoria BCS) mostra como possvel obter esse
acoplamento de eltrons aproveitando as vibraes internas do slido, chamadas de fonons.
Essas vibraes ou fonons, se estiverem organizadas, criam uma espcie de depresso que
mantm os eltrons juntos.
Essa formao de pares assistidos por fonons um efeito tipicamente quntico, sem analogia
clssica, e s possvel em temperaturas muito baixas. Quando a temperatura aumenta a
agitao dos tomos fica forte e desorganiza os fonons, quebrando os pares de eltrons e
destruindo a supercondutividade. A teoria BCS, como foi proposta originalmente, no se aplica
aos supercondutores a altas temperaturas; tudo indica que os spins dos eltrons e dos pares passa
a ter um papel fundamental na supercondutividade desses materiais.
2.5.2 - EFEITO MEISSNER E QUANTIFICAO DO FLUXO

Um supercondutor caracteriza-se por apresentar um valor de resistncia nula (R=0) e campo
magntico dentro do material tambm nulo (B=0), em baixas temperaturas.
A descoberta em 1933 do efeito do campo magntico nulo por W. Meissner e R.Ochsenfeld,
deu-se o nome de efeito Meissner. Supercondutores que apresentam um completo efeito
Meissner so ditos do tipo I, so supercondutores no apenas condutores perfeitos, mas tambm
diamagnticos perfeitos.
A demonstrao clssica do efeito Meissner consiste em fazer um im permanente flutuar sobre
a superfcie de um supercondutor. As linhas do campo magntico so impedidas de penetrarem
no supercondutor e tomam um forma semelhante a que teriam se houvesse outro im idntico
dentro do material supercondutor (im imagem), dessa forma o im sofre uma repulso que
compensa seu peso e levita sobre o supercondutor.
Apndice II
203
A variao espacial da fase da funo (forma) de onda do supercondutor (r) pode ser
influenciada pela aplicao de campos eltrico, magntico ou gravitacional. Para a quantificao
a seguir, ser considerado apenas os campos magnticos.
um caso bsico da mecnica quntica que o momento para uma partcula num campo
magntico descrito pelo potencial vetor A(r) :
p = p 0 + q A(r )
(2.21a)
onde p0 o momento quando o campo magntico zero e q a carga das partculas, (q = 2e) .
O operador Hamiltoniano contribuir, dando a seguinte forma para a equao de Schrdinger
independente do tempo:
(1 / 2m) (ih 2eA(r )) = E
2
(2.22a)
Pode-se mostrar que o efeito do potencial vetor multiplicar a funo de onda de campo
zero(0) por um fator adicional exp(-2ieA(r) dl/h), indo de um ponto a outro por pequenas
distncias dl. Agora a funo de onda tem de assumir um simples valor e como resultado a
mudana de fase em torno de qualquer caminho que permanece dentro do supercondutor deve
ser trocado por 2n, onde n um nmero inteiro:
(2e / h) A dl = 2n
(2.23a)
Considerando o contorno de integrao da figura 2.11a e fazendo uma sucesso de redues

infinitesimais no comprimento total do caminho de integrao, este tende a zero. Obviamente
para um caminho de comprimento zero, n deve ser igual a zero. Uma vez que o caminho
incrementado por variao infinitesimais, fcil aceitar que no existir uma mudana brusca na
fase, permitindo que n seja igual a 1. Isto s verdadeiro para n=0, para todos os caminhos. O
teorema de Stokes permite que esta integral de contorno seja transformada numa integral de
A sobre uma superfcie S.
A dl = A dS = 0
(2.24a)
Por definio tem-se B = A , substituindo-se na equao (1.24) tem-se:

B dS = = 0
(2.25a)
Apndice II
204
onde B a componente normal do fluxo magntico sobre a rea dS. Este o mecanismo quntico
bsico do efeito Meissner que mostra que os supercondutores, sob temperaturas crticas, excluem
todo o campo magntico do seu interior.
Figura 2.11a - Parte de um supercondutor mostrando contornos de integrao (um inteiro e outro
com uma cavidade central).
Para parte de um supercondutor com um furo no seu interior , como mostra a figura 2.11a, podese esperar que o campo seja expelido do interior do material, porm fazendo uma anlise anloga
a anterior verifica-se que no existe maneira de fazer o caminho decrementar at zero, de onde se
conclui que n sempre assumir um valor, e ainda que a componente normal do fluxo ser
quantizada em unidades de h/2e onde h a constante de Planck e a carga eltrica:
= B dS = nh / 2e = n 0
(2.26a)
O fluxo magntico muito pequeno ( 2 105 Wb ), e a quantizao concluda por supercorrentes

que se deslocam pela superfcie do material.
2.5.3 - O EFEITO JOSEPHSON

Experimentalmente, o efeito Josephson se caracteriza por uma corrente crtica, abaixo da qual
uma barreira de potencial, ou juno, supercondutora. No estado supercondutor o circuito
apresenta uma resistncia nula, conseqentemente, mesmo quando polarizado por uma corrente
eltrica a tenso verificada nos seus terminais nula.
A macroscpica funo de onda descrevendo uma parte de um semicondutor sem qualquer furo,
possui duas caractersticas fsicas observveis: o nmero de pares eltricos N, os quais para uma
Apndice II
205
pea isolada a T=0 K bem definido; e a fase . Os operadores correspondentes a estes dois so
conjugados, satisfazendo a relao:
[N , ] = 1
(2.27a)
Assim quando N exatamente especificado, a fase torna-se totalmente indeterminada e sem

nenhum significado.
Se dois supercondutores forem fracamente acoplados, de modo a formar uma juno Josephson,
suas funes de onda se misturaro e sero observados efeitos de tunelamento dos eltrons de um
para outro condutor. Por tunelamento se entende a penetrao de uma partcula atravs de uma
barreira de potencial, isto atravs de uma regio proibida dentro da mecnica clssica. Todo
tunelamento um efeito quntico.
A juno de Josephson conectada a um circuito externo equivalente a seguinte forma:
[Q, f ] = i h
(2.28a)
onde Q o operador para a diferena de cargas eltricas atravs da juno, f o operador para o
fluxo magntico total fechado na juno e suas influncias no circuito, i a corrente e h a
constante de Planck.
possvel descrever o comportamento quntico de qualquer circuito com esse modelo, por
exemplo um circuito ressonante LC e analogias entre osciladores eltricos e mecnicos. Nesta
representao Q anloga ao deslocamento e f pode ser substitudo por variveis clssicas.
Josephson provou que a supercorrente pode passar de um eletrodo para outro por tunelamento e
que a diferena de fase da funo de onda atravs da barreira pode se ajustar de acordo com:
i = i c sen( 1 2) = i c sen( )
(2.29a)
A corrente crtica ic, determina um limite para a supercorrente. Se uma corrente maior que ic for
identificada, aparecer uma tenso U atravs da juno e ao mesmo tempo uma supercorrente
alternada com freqncia:
f =
2 e U
h
(2.30a)
H dois regimes de comportamento para a juno de Josephson. Para baixas correntes (correntes
menores que ic) a representao utilizada em termos de transferncia coerente de um par de
Apndice II
206
eltrons de um eletrodo para outro. Para correntes que excedem ic, tem-se uma transferncia de
fluxo quntico.
2.5.4 - CARACTERSTICAS CONSTRUTIVAS

Um SQUID consiste de um anel supercondutor interrompido por uma juno de Josephson,
denominado SQUID RF, ou por duas junes de Josephson, chamado de SQUID DC. A
diferena entre os dois, essencialmente, reside no modo de deteco.
Os SQUIDs RF tiveram bastante sucesso nos primeiros magnetmetros comerciais, por sua
relativa facilidade de fabricao pois apresentam uma nica juno. Uma modulao aplicada
ao anel excitando o circuito ressonante perto de sua freqncia de ressonncia (aproximadamente
20 MHz) e a energia de absoro associada com a execuo do loop de histerese consome a
energia armazenada no LC, fazendo a amplitude de oscilao cair. Por seu funcionamento exigir
eletrnica de rdio-freqncia para deteco, pode gerar interferncias nas amostras a serem
medidas.
Atualmente, com o desenvolvimento das tcnicas de litografia possvel a confeco de
diferentes tipos de juno: (supercondutor /isolante/ supercondutor), (supercondutor/ condutor/
supercondutor), etc, de alta qualidade e reprodutibilidade, fazendo com que os SQUIDs/DC
sejam mais utilizados. Estes dispositivos apresentam uma configurao de um interfermetro a
duas junes e podem, eventualmente, ser medidos aplicando-se uma corrente contnua (DC) de
polarizao e verificando-se a variao de tenso nos seus terminais, o que seria o princpio
bsico de operao.
Nos magnetmetros convencionais, os sistemas apresentam uma bobina de entrada (pick-up
coil) que conectada s bobinas de deteco, acopladas com a amostra, e uma bobina de
modulao, que permite incorporar as vantagens tcnicas da realimentao e da deteco
sncrona. Estes sistemas esto acoplados s tcnicas convencionais de magnetometria de
Amostra Vibrante e de Extrao. Mais recentemente o desenvolvimento de tcnicas de
microlitografia, permitiu integrar SQUIDs diretamente sobe as amostras e detectar, em condies
de laboratrio, valores prognosticados pelo princpio de incerteza de Heisenberg (1,7 x10-34 J Hz1
) limite de resoluo intrnsecas mecnica quntica . interessante notar que os SQUIDs
podem perceber photons em udio-freqncias.
Apndice II
207
2.5.5 - MEDIO DE CAMPOS MAGNTICOS COM SQUIDS

Para se medir campo magntico com SQUIDs, utiliza-se uma bobina intermediria conhecida
como bobina transformadora de fluxo, ao invs de utilizar o anel (SQUID) com sensor direto de
campo magntico, conforme pode ser visto na figura 2.12a.
Figura 2.12a - Configurao bsica do transformador de fluxo.

Um transformador inteiramente supercondutor que faz uso da propriedade resistncia-zero dos
supercondutores para coletar a densidade de fluxo de uma grande bobina sensora, concentrada
em uma rea muito pequena dentro do anel do SQUID. Uma mudana no campo Bx, causa uma
mudana na corrente, que sentida pelo anel SQUID como uma mudana no fluxo x . A
mxima sensibilidade se d quando as indutncias dos enrolamentos primrio e secundrio so
iguais. Um SQUID dentro de ambientes livres de interferncias (rudos) capaz de detectar
mudanas B da ordem de 1fT. Este um valor muito menor que flutuaes tpicas do campo
magntico da terra que so da ordem de 1 nT.
Um SQUID pode medir somente mudanas de fluxo, e no o valor absoluto da densidade de
fluxo. Como parte de uma medio precisa do comprimento de onda do eltron de Compton, foi
desenvolvido um magnetmetro absoluto utilizando um SQUID que combina a alta sensibilidade
do supercondutor com uma medida precisa da densidade de fluxo dada pela ressonncia
magntica nuclear. Foram obtidas sensibilidades da ordem de 3x10-11 T.
2.5.6 - MEDIO DE GRANDEZAS ELTRICAS UTILIZANDO SQUIDS E O EFEITO

JOSEPHSON
Um SQUID pode ser facilmente convertido de um medidor de fluxo para um medidor de tenso
ou corrente.
Apndice II
208
A sensibilidade para tenses diretas extremamente alta (<10-20 V); e a sensibilidade para a
corrente de aproximadamente 10-13 A, sendo que para medidas desta ordem necessrio
ambiente estabilizado quanto a temperatura e livre de rudos magnticos
2.6 - SENSORES MAGNETORESISTIVOS

Sensores magnetoresistivos so sensores que tm a propriedade de variar a resistncia quando h
variao do campo magntico. So sensores feitos de filmes ferromagnticos muito finos e
podem medir campos magnticos numa faixa de 10-3 a 104 A/m (campos muito menores que os
sensores de efeito Hall). Esta alta sensibilidade se deve a camada de material ferromagntico que
possui uma alta magnetizao interna e que pode ser facilmente rotacionada.
2.6.1 - FUNDAMENTOS DO SENSOR

Relao resistncia / campo magntico
A resistividade de um metal anisotrpico ferromagntico depende do ngulo entre a
magnetizao interna M e a corrente I:
( ) = + ( ) cos 2
(2.31a)
onde e so respectivamente, as resistividades paralela e perpendicular a M. O quociente

( ) / = / denominado efeito magnetoresistivo e normalmente expresso em
porcentagem.
Os sensores magnetoresistivos so feitos de filmes finos de materiais ferromagnticos por
possurem duas grandes vantagens:
- a resistncia maior que 100 ohms
- a anisotropia uniaxial (se confeccionados corretamente).
As camadas se comportam como um domnio simples e possuem uma direo de magnetizao
no plano chamado de eixo fcil, que a direo de magnetizao sem a influncia de campos
externos.
Apndice II
209
,
Figura 2.13a - Geometria de um sensor magnetoresistivo.
A geometria tpica de um sensor magnetoresistivo apresenta um comprimento c de 100 mm,
largura l de 10mm e espessura e de 100nm (normalmente a espessura e varia entre 20nm e
1m.
Como a espessura, normalmente, muito menor que a largura e esta, por sua vez menor que o
comprimento do sensor, a corrente I flui paralela ao eixo X, tendo-se ento:
R = R0 + Rcos2
2.32a
onde o ngulo entre o eixo horizontal X e a magnetizao M (horizontal o mesmo que

paralelo ao eixo X.
Com uma corrente constante I a tenso Ux ser:
c
2
1 + cos
U x = I
l e
(2.33a)
onde a variao desta tenso est ligada diretamente com a variao da resistncia, e da mesma
forma existe uma tenso Vy, relativa a direo Y, ou seja:
c
U y = I sen cos
e
(2.34a)
Chamada de efeito planar ou pseudo efeito Hall, por se parecer como efeito Hall, mas de origem
fsica completamente diferente do efeito Hall.
Todos os sinais do sensor so determinados pelo ngulo , o qual depende de um campo
magntico externo. Assumindo que o eixo fcil o eixo X; sem a influncia de campos
magnticos externos, a magnetizao M ter somente uma componente X (=0 ou =180).
Apndice II
210
Quando a magnetizao M for rotacionada por campos magnticos externos, necessrio
introduzir duas energias: - a energia anisotrpica Ek, que dada pelo campo anisotrpico Hk (o
qual depende do material e do processo que este sofreu at ento); - a energia de
desmagnetizao Ed que depende da geometria. Esta dependncia geralmente mais complexa,
mas considerando uma elipside, onde pode ser introduzido um campo de desmagnetizao
uniforme Hd, tem-se:
e M s
H d
l 0
(2.35a)
onde:
e
= fator de desmagnetizao
l
Ms 1T
0=4 10-7 Vs/Am
N=
O campo magntico total que determina a faixa de medida dos sensores magnetoresistivos :
e Ms
H0 = Hk + Hd = Hk +
l 0
(2.36a)
Como:
sen =
Hy
Hx
H0 +
cos
H y H0 + Hx
(2.37a)
onde:
Hx : componente de campo na direo X
Hy: componente de campo na direo Y
No caso simples de Hx=0, tem-se:
2
c H y
1
1
I
=
Ux

l e H 0
Hy
c H y
U y = I
1
H0
e H 0
(2.38a)
(2.39a)
Para o caso de Hx0 e substituindo H0 por:

Apndice II
211
H0 = H0 +
(2.40a)
Hx
cos
Desconsiderando a parte constante de Vx, existem duas diferenas principais entre Vx e Hy:
1a ) o sinal magnetoresistivo Ux depende do quadrado de H y H 0 onde a tenso Hall de Uy
linear para Hy<<H0.
2a) a razo de seus valores mximos c/l. Por isso a tenso Hall muito menor, porque na
maioria do casos c>>l
Ser mostrado a seguir como contornar a dependncia quadrtica de Ux e Hy.
A equao 2.40a apenas uma simplificao do modelo fsico real, dessa forma, tem duas
solues: 1<90 e 2>90 (com 1+2=180 para Hx=0) de acordo com a teoria de Storner e
Wolfarth. Substituindo por (180-) isto no ter influncia na tenso Ux, mas muda a tenso
Hall e tambm a tenso da maioria dos sensores magnetoresistivos linearizados.
Desta forma uma das duas solues precisa ser escolhida para evitar ambigidade. Isto pode ser
feito por um campo prprio Hx, um pulso curto de H x > H k e de sinal correto que ir magnetizar
no estado desejado. Este estado ser mantido enquanto a componente X no mudar seu sinal (o
valor exato dado pelo desvio de Stoner-Wolfarth). Infelizmente, estas condies precisam ser
trazidas para um comportamento no ideal das camadas, descrita na teoria ripple: o valor
permitido de Hx agora est mais restrito ao valor de bloqueio da curva. aconselhvel (com
exceo de Hy<<H0) introduzir um campo estvel (Hst) na direo de X. O valor mnimo de Hst
depende da estrutura das camadas sensitivas e tem que ser da ordem de Hk. Grandes cristais
requerem um alto Hst, um valor insuficiente de Hst ir manifestar a caracterstica de histerese do
sensor.
2.6.2 - SENSORES MAGNETORESISTIVOS PHILIPS

Os sensores da famlia KMZ da Philips tm alta sensibilidade na deteco de campos
magnticos, larga faixa de operao de temperatura, baixo e estvel offset (compensao) e
pouca sensibilidade ao estresse mecnico, tendo portanto, facilidades de medir, tanto
deslocamentos lineares quanto angulares.
Exemplos de utilizao de sensores magnetoresistivos podem ser encontrados em aplicaes
automotivas como sensores de velocidade das rodas com ABS, gerenciamento de sistemas de
Apndice II
212
motores, como sensores de posio de chassis e medidas de posio de pedais e acelerador.
Outros exemplos importantes so no uso de instrumentao e controle de equipamentos, os quais
requerem sensores de posio para detectar deslocamentos de dcimos de milmetros (ou at
menos), e ainda em sistemas de ignio eletrnica, os quais torna possvel determinar a posio
angular de um motor de combusto interna com grande preciso. Finalmente, devido a sua
grande sensibilidade, os sensores magnetoresistivos podem medir pequenos campos magnticos
e so ideais para aplicaes em compassos eletrnicos, correo do campo da terra e deteco de
trfego.
- Princpios Operacionais
Sensores magnetoresistivos fazem uso do efeito magnetoresistivo, ou seja um material
magntico, ao ser circulado por uma corrente eltrica, altera sua resistividade na presena de um
campo magntico externo. As unidades utilizadas para campos magnticos so:
1kA/m= 1.25 mTesla (no ar)
1 mT = 10 Gauss
O prncipio de operao de um sensor magnetoresistivo mostrado na figura 2.14a:
Figura 2.14a - Efeito magnetoresisivo no permalloy.

A figura 2.14a apresenta uma lmina de um material chamado permalloy (20%Fe, 80%Ni).
Considerando que no haja campo magntico externo lmina, o permalloy apresenta uma
magnetizao interna paralela ao vetor corrente. Se um campo magntico externo H aplicado
lmina paralelo ao plano do permalloy, mas perpendicular ao fluxo da corrente, o vetor
magnetizao interna do permalloy girar em torno do ngulo . Como resultado, a resistncia R
do permalloy ir variar em funo do ngulo , tal que:
R = R0 + R0 cos2
(2.41a)
Apndice II
213
R e R0 so parmetros inerentes ao material e no caso do sensor Philips so usados o Ni19Fe81,
os quais apresentam alto valor de R0 e baixa magnetostrico, e neste caso, o valor de R0 de
3%.
Pode-se observar atravs da equao 2.41a que a relao entre a resistncia e campo magntico
no-linear e que cada valor de R no necessariamente associada a um nico valor de H.
Os sensores da srie KMZ10 possuem quatro faixas de pemalloy unidas atravs de silicone, os
quais so conectados numa ponte de Wheatstone, os quais apresentam as seguintes vantagens:
- reduo do pico de temperatura;
- duplicao do sinal de sada;
-os sensores podem ser alinhados na fbrica.
So includos dois resistores RT, conforme mostrado na figura 2.15a , os quais destinam-se a
regulagem da compensao (offset) para o valor zero, durante o processo produtivo.
Figura 2.15a - Configurao da ponte pelos resistores RT.

As principais caracterstica dos sensores magnetoresistivos Philips podem ser observadas atravs
da tabela 2.1a mostrada abaixo.
Tabela 2.1a - Caractersticas principais dos sensores magnetoresistivos Philips.
Rponte
(k
)
Linearizao
16,0
1,2
Sim
Navegao,
22,0
1,3
Sim
metal, controle de trfego
-2 a +2
12
4,0
2,1
Sim
Med. de corrente, posio
11B1
-2 a +2
12
4,0
2,1
Sim
linear e angular, deteco de
10C
-7,5 a +7,5
10
1,5
1,4
Sim
marca de referncia
41
H=100
12
2,8
2,5
No
Medidas angulares
50
-0,2 a +0,2
16,0
2,0
Sim
Navegao,
51
-0,2 a +0,2
16,0
2,0
Sim
metal, controle de trfego
Sensor
KMZ
Campo (kA/m)
Ucc
(V)
10 A
-0,5 a +0,5
10A1
-0,05 a +0,05
10B
Sensibilidade
(mV / V )
(kA / m)
Aplicao
deteco
deteco
Apndice II
de
de
214

Flipping (Variao brusca)
Conforme a magnetizao interna do permalloy, o sensor apresenta duas posies estveis. Se o
sensor for submetido a um campo magntico intenso (mnimo de 3kA/m), que se oponha ao
alinhamento do campo interno, a magnetizao pode inverter de posio e as tiras do permalloy
se posicionaro no sentido oposto a que estavam (como por exemplo uma posio de +x para
uma posio de -x), como pode ser visto na figura 2.16a.
Figura 2.16a - Caractersticas do sensor Philips.

O campo necessrio para promover a inverso no sensor e portanto nas suas caractersticas
depende da magnitude do campo transversal Hy.
Ao se observar as curvas da figura 2.16a onde Hy=0,5 kA/m as caractersticas do sensor so
estveis para valores positivos de Hx e um campo reverso de aproximadamente 1kA/m
necessrio para a flippagem ocorrer. Para um campo Hy =2kA/m no entanto, o sensor
flippar para um campo transversal de aproximadamente 0,5kA/m.
Apndice II
215
Figura 2.17a - Sada do sensor como funo de um campo auxiliar Hx.

Pode-se verificar atravs da figura 2.17a que a flippagem no ocorre instantaneamente, devido
ao fato que nem todas as tiras de permalloy variam com a mesma taxa, isto ilustra o efeito da
histerese apresentado neste tipo de sensor
A figura 2.18a mostra a variao da resistncia da ponte com a temperatura, devido aos resistores
da ponte serem dependentes da temperatura.
Figura 2.18a - Variao da resistncia de um sensor KMZ10B com a temperatura.

Em funo da variao da resistncia da ponte com a temperatura, a sensibilidade do sensor
tambm varia com a temperatura, a qual pode ser vista na figura 2.19a.
Apndice II
216
Figura 2.19a - Variao da sensibilidade do sensor KMZ10B com a temperatura.

Pela figura 2.19a pode-se ver que a sensibilidade cai com o acrscimo da temperatura. A razo
para tal fato complexa e est relacionada com a estrutura da banda de energia das tiras de
permalloy.
O efeito magnetoresistivo - MR
Nos sensores empregando o efeito magnetoresistivo, o valor da resistncia sobre a influncia de
um campo magntico varia como se movesse atravs de um ngulo , conforme equao 2.41a.
Considerando que:
H
sen = 2 para HH0
H0
(2.42a)
sen2=1 para H>H0
(2.43a)
Apndice II
217
onde H0 pode ser considerado como constante do material compreendendo a chamada
desmagnetizao e campos anisotrpicos.
Aplicando as equaes (2.42a) e (2.43a) em (2,41a), obtm-se:
2
R = R0 + R0 1 H 2 para HH0
H0
(2,44a)
R = R0 para H>H0
(2.45a)
A equao 2.44a mostra a natureza no-linear do efeito magnetoresistivo.

Linearizao
O efeito magnetoresistivo pode ser linearizado atravs do depsito de tiras de alumnio (Barber
poles) em cima das tiras de permalloy a 45 do eixo das mesmas, conforme mostra a figura
2.20a.
Figura 2.20a - Linearizao do efeito magnetoresistivo com tiras de alumnio.

Como o alumnio tem uma condutividade bem maior que o permalloy, o efeito das tiras de
alumnio rotacionar a direo da corrente em 45 (a corrente assume a forma de dente de serra),
mudando o ngulo de rotao da magnetizao relativa a corrente de para (-45).
A linearizao tambm pode ser obtida pela utilizao da ponte de Wheatstone. Num par de
elementos opostos diagonalmente, as tiras de alumnio esto a +45 do eixo, enquanto que no
outro par esto a -45. O aumento da resistncia em um dos pares de elementos devido a um
campo magntico externo compensado pelo decrscimo da resistncia de igual magnitude no
outro par. O resultado do balano da ponte uma funo linear da amplitude do campo
magntico externo, no plano das tiras de permalloy, normal ao eixo das mesmas.
Apndice II
218
Para o sensores que usam tiras de alumnio em ngulo de 45 as expresses para as
caractersticas do sensor so:
R = R0 +
2
R0
H
H
+ R0
1 2
2
H0
H0
(2.46a)
A equao (2.46a) linear quando H/H0=0

Para os sensores arranjados em um ngulo de -45 ,tem-se:
R = R0 +
2
R0
H
H
R0
1 2
2
H0
H0
(2.47a)
A equao 2.46a representa uma imagem das caractersticas mostradas na figura 2.17a. Portanto
o uso de configurao em ponte de Wheatstone assegura que todo o balano da ponte uma
funo linear da amplitude de um campo magntico externo.
Pela figura 2.17a pode-se observar que a flippagem no instantnea e tambm o efeito de
histerese apresentado pelo sensor. A figura 2.17a e a figura 2.21a tambm mostram que a
sensibilidade do sensor cai com o aumento de Hx . Isto tambm esperado pois o momento
imposto na magnetizao por Hx se ope diretamente ao imposto por Hy reduzindo, portanto,
o grau de desbalano e portanto o sinal de sada para um dado valor de Hy.
Figura 2.21a - Sada V0 do sensor como funo do campo transverso H para diversos valores de
campo auxiliar Hx.
Apndice II
219
2.6.4 - APLICAES
So vrias as aplicaes para este tipo de sensor, podendo-se citar algumas como: medidores de
corrente eltrica, sensoriamento (bssola), deteco de trfego, sistemas de navegao, realidade
virtual, instrumentos para rea mdica, processamento de alimentos, sensores de posio, etc.
Como exemplo de aplicao ser apresentado:
Medidor de corrente eltrica
O princpio de medio de corrente com sensor magnetoresistivo simples. Uma corrente
circulando num condutor (bobina) gera um campo magntico ao seu redor, o qual diretamente
proporcional ao valor da corrente.
A relao entre o campo magntico H e a corrente I para uma distncia d dada por:
H=
(2.48a)
I
2 d
Figura 2.22a - Campo magntico num condutor.

Alguns exemplos de medida de corrente podem ser vistos na tabela 2.2a.
Tabela 2.2a - Valores para campo magntico gerado por condutor conduzindo corrente.
Exemplo H (A/m)
1
2
3
3,18
318
15,9k
H (Gauss)
0,03995
3,995
199,748
Distncia (mm) Corrente

0,5
0,5
10
10 mA
1A
1000 A
H uma diferena na utilizao dos sensores para medidas de correntes AC ou DC devido aos
efeitos do campo geomagntico da terra. Para correntes AC os efeitos desse campo podem ser
eliminados usando tcnicas de filtragem, enquanto que para campos produzidos por corrente DC
so necessrias tcnicas de compensao, como por exemplo o uso de dois sensores.
Apndice II
220
Medidor de posio
A sensibilidade dos sensores magnetoresistivos presta-se a sistemas de medidas lineares de
posio, atravs de simples montagens.
Quando um sensor colocado num campo magntico permanente, geralmente ele fica exposto a
campos na direo x e na direo y. Se o magneto orientado de tal forma que o campo auxiliar
na direo x paralelo as tiras de permalloy do sensor, qualquer movimento na direo y pode
ser visto como flutuao no campo transversal, o qual pode ser equacionado para a posio do
magneto com respeito ao sensor.
A regio de linearidade da sada senoidal do sensor definida, de forma grosseira, pelo tamanho
do magneto. Fora desta rea, o campo axial produzido pelo magneto, se torna fraco e prximo
dos plos, e tambm troca de direo, o que pode provocar a flippagem no sensor.
A figura 2.23a mostra uma forma simples de montar um arranjo sensor/magneto para medidas
lineares de deslocamento.
Figura 2.23a- Sada do sensor num campo magntico permanente.

Se um campo magntico muito forte for usado, ou se o sensor for colocado muito prximo ao
magneto, h perigo de que o campo auxiliar exceda o valor necessrio para a flippagem ,
provocando uma histerese na sada do sensor, conforme mostra a figura 2.24a.
Apndice II
221
Figura 2.24a - Sada do sensor num campo magntico muito forte.

Este efeito pode ser usado como um fato positivo sob certas circunstncias, onde campos
temporrios ou flutuantes possam interferir no sinal medido. Neste caso se o sensor for usado na
regio entre D e D, a forte intensidade do campo magntico do magneto bloquear qualquer
campo estranho.
Sensor de proximidade
Orientando-se o eixo do sensor a 45 em relao ao magneto, conforme figura 2.25a possvel
utiliz-lo como um comparador, ou seja, como chave de aproximao. Nesta configurao o
sensor tem uma sada negativa, para os dois eixos do magneto, os quais podem ser ento
passados como uma inverso na entrada de um comparador.
Apndice II
222
Figura 2.25a- Sensor magnetoresistivo como sensor de proximidade.

A sada resultante do sensor indicadora da distncia d entre o magneto e o sensor, conforme
pode ser visto na figura 2.26a.
Figura 2.26a - Sada do sensor como funo da distncia.

Os nveis de chaveamento do sensor so muito importantes neste tipo de aplicao, pois abaixo
de um certo nvel, campos magnticos externos podem provocar distrbios no sensor produzindo
resultados ambguos.
possvel utilizar estes sensores para medir um simples ponto numa estrutura usando qualquer
regio no simtrica do material dentro de um alvo, tal como um furo, pino ou uma regio no
magntica do material dentro de um prato de estrutura metlica. O resultado da variao do
campo magntico produz uma variao na sada do sensor. A figura 2.27a mostra um exemplo
desta aplicao onde ,por exemplo, um furo na pea passa sobre o sensor, de tal forma que a
sada do sensor independe da distncia entre eles.
Apndice II
223
Figura 2.27a - Medida de um ponto somente com um sensor KMZ10B PHILIPS.

A vantagem desta tcnica que a distncia entre o sensor e o magneto irrelevante e
independente dos efeitos da temperatura, sendo facilmente implementado.
2.6.5 - EXEMPLOS DE APLICAES DE MEDIDAS DE POSIO.

Os sensores utilizados foram os sensores Philips: KMZ10B e KMZ10C , magnetos do tipo
FXD330; um de dimenses de 10X15mm, um de 4X5mm e dois magnetos juntos de 4X5mm
disposto de forma a realizar um deslocamento de 10mm. Foram feitas duas montagens: uma
dispondo o magneto paralelo ao eixo do sensor e a outra com o magneto perpendicular ao eixo
do mesmo.
Campo magntico paralelo ao plano do sensor
Nesta montagem o magneto e o sensor so colocados de tal forma que os plos do magneto
fiquem no plano do chip do sensor. Desta forma, o campo auxiliar fornecido pelo campo axial
(Hx) do im, o qual permanece razoavelmente constante sobre a regio de interesse.
A partir de uma montagem conforme figura 2.28a, os grficos das figuras 2.29a e 2.30a mostram
a sada dos sensores KMZ10B e KMZ10C em funo da distncia.
Apndice II
224
Figura 2.28a - Montagem para medida de posio com magneto FXD330.
Figura 2.29a - Sada dos sensores com d=5mm e im de 10x15mm.
Figura 2.30a - Sada dos sensores com d=1mm e im de 4x5mm.
Apndice II
225
Pelas grficos pode-se verificar que com o aumento da distncia entre o im e o sensor a curva
de sada tende a aplanar-se. Isto ocorre devido ao fato do sensor e o im estarem muito prximos
um do outro, e o campo transversal Hy do magneto ter um efeito maior sobre o sensor, fazendo
com que aumente a rotao da magnetizao interna do mesmo. Sendo o gradiente da curva uma
indicao direta da sensibilidade do sensor, deve-se observar, nas aplicaes prticas, que o
afastamento sensor/magneto um fator importante a ser considerado.
Campo magntico perpendicular ao plano do sensor
Quando o sensor est orientado de forma que o campo magntico seja perpendicular ao plano do
sensor, impossvel o im fornecer o campo magntico auxiliar Hx. Neste caso necessrio
inserir um magneto auxiliar, disposto conforme figura 2.31a.
Figura 2.31a - Sensor perpendicular ao campo magntico.

A partir das mesmas montagens referentes ao sensor paralelo ao campo magntico, as figuras
2.32a e 2.33a apresentam as curvas de operao dos sensores KMZ10B e KMZ10C.
Apndice II
226
Figura 2.32a - Sada do sensor como funo do deslocamento.
Figura 2.33a - Sada do sensor como funo do deslocamento.

Comparando-se os grficos nos dois tipos de montagem, verifica-se que quando o campo
magntico perpendicular ao plano do sensor, no aparece o fenmeno da histerese. Isto pode
ser atribudo ao fato de que ao se usar o campo magntico auxiliar, se estabiliza o sensor, e
tambm ao fato de que se o campo do im no atinge o sensor na direo x , no pode,
obviamente, afet-lo adversamente.
Uma caracterstica observada, nestas curvas, a forma como elas se modificam prximas aos
plos do magneto, podendo at reverter o valor do sinal, conforme pode ser observado para um
magneto 4x5mm usado com o sensor KMZ10B a uma distncia de 1mm, conforme mostra
figura 2.30a. A razo para a mudana na curvatura, que o campo magntico nos plos do im
Apndice II
227
mais forte que o campo necessrio para induzir a mxima resposta do sensor, provocando,
portanto, a saturao do mesmo
2.7 - CONCLUSO
Foram apresentados diversos tipos de sensores magnticos, dando-se nfase ao sensores
magnetoresistivos, devido ao fato de se optar por utilizar este tipo de sensor para efetuar o
trabalho.
Salienta-se que esta uma rea em contnuo desenvolvimento, possibilitando uma grande
variedade de opes para desenvolvimentos de trabalhos que necessitam medidas precisas e
confiveis, e que portanto est reviso necessita ser constantemente atualizada.
A tabela 2.3a apresenta uma comparao entre alguns tipos de sensores, quanto a deteco de
campo magntico, Caruso, et al, 1998.
Tabela 2.3a - Comparao entre sensores magnticos quanto a deteco de campo magntico
Sensores
Magnticos
Deteco de campo magntico (Gauss)

10-8
10-6
10-4
10-2
100
102
104
106
108
Campo da terra
Magnetoresistivo
Fluxgate
Efeito Hall
Squid
Apndice II

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MINISTRIO DA EDUCAO

UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO SUL

MEDIO DE DESLOCAMENTO ATRAVS DE SENSORES

JEANINE MARCHIORI DA LUZ

TESE PARA OBTENO DO TTULO DE DOUTOR EM ENGENHARIA

Porto Alegre, 20 de dezembro de 2002

MEDIO DE DESLOCAMENTO ATRAVS DE SENSORES

JEANINE MARCHIORI DA LUZ

Dissertao submetida ao Corpo Docente do Programa de Ps-Graduao em Engenharia

rea de Concentrao: Mecnica dos Slidos

Orientador: Prof. Dr. Milton Antnio Zaro

Prof. Dr. Ignacio Iturrioz

Prof. Dr. Marco Tllio Menna Barreto de Vilhena

Prof. Dr. Rosa Leamar Dias Blanco

Prof. Dr. Alberto Tamagna

Porto Alegre, 20 de dezembro de 2002.

Ao Lucas, Jeancarlo e Marco

MONTAGEM ATUAL .......................................................................................................32

4.3.1 - Primeira montagem ........................................................................................32

4.3.2 - Segunda montagem ........................................................................................35

AQUISIO DE DADOS ...................................................................................................42

4.4.1 - Sistema original ..............................................................................................42

METODOLOGIA UTILIZADA ............................................................................................42

4.5.1 - Torre de calibrao .........................................................................................43

- Aproximao de placas .............................................................................................58

5.1 - INTRODUO ................................................................................................................59

6.1 - INTRODUO ................................................................................................................67

6.2.1 6.2.2 6.2.3 6.2.4 6.2.5 6.2.6 6.2.7 6.2.8 6.2.9 -

6.2.10 - Impedncia de Entrada ...................................................................................91

CAPTULO VII ...........................................................................................................................93

7.1 - INTRODUO ................................................................................................................93

RESULTADOS OBTIDOS ..................................................................................................94

7.2.1 - Ponto Fixo ......................................................................................................94

8.1 - INTRODUO ..............................................................................................................135

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS ....................................................................................138

2.2.2.3 - Rudo equivalente de Induo Magntica .....................................188

Figura 3.1 - Arquitetura geral do crnio. .......................................................................................17

Figura 4.1 - Esquema da montagem do circuito............................................................................30

Figura 5.1 - Curva de operao do Sensor 1..................................................................................61

Figura 6.1 - Deslocamento no eixo X entre 10 e 15mm com Y= Z=15mm..................................71

Figura 7.1 - Deslocamento do magneto na direo X Y Z em funo do tempo (Ponto fixo)......94

Figura 7.22 - Detalhe do rudo no eixo X....................................................................................108

Figura 1.1a - Sistema de medio esquematizado mostrando as distncias mximas e

Figura 1.10a - Curva B(H) de ims permanentes. .......................................................................154

Figura 2.1a - Ilustrao do Efeito Hall. .......................................................................................185

Figura 2.25a- Sensor magnetoresistivo como sensor de proximidade. .......................................221

Tabela 7.7 - Deslocamento nos eixos X e Z. .......................................................................... 110

1.3 - MOTIVAO DO TRABALHO

importante salientar tambm, que o desenvolvimento de um aparelho para medir

1.4 - ORGANIZAO DO TRABALHO

Figura 2.1- Esquema proposto por Siegler.

Figura 2.2 Axiografia apresentada por Piehslinger.

Figura 2.3 Sirognatgrafo utilizado por Tallents et al.

desenvolveram um sistema de medio

tridimensional utilizando a tcnica convencional, de triangulao para clculo de distncias para

Figura 2.4 Medio de movimento mandibular atravs do som da ATM.

Figura 2.5- Mtodo de visualizao proposto por Hayasaki et al

Figura 2.6 Aparelho da Myo-Tronics para medir movimentos mandibulares.

3.2 - COMPONENTES ESQUELTICOS DO SISTEMA MASTIGATRIO

A maxila e a mandbula suportam os dentes e o osso temporal suporta a mandbula em sua

Figura 3.1 - Arquitetura geral do crnio.

Figura 3.2 - Vista lateral do sistema mastigatrio.

3.2.1 - ARTICULAO TEMPORO-MANDIBULAR

Figura 3.3 - Esquema da ATM.