Definio da Difrao de raios X

O exame de raios X um mtodo no destrutivo de deteco da presena de

descontinuidades do material, como incluses, bolhas, mudanas de massa
especfica (densidade), microtrincas, fases presentes. O processo emprega a
energia proveniente dos chamados feixes de raios X, descobertos por Roentgen em
1895 [1].
Na indstria, o ensaio utilizado com trs propsitos: investigao, inspeo
de rotina e controle da qualidade, tanto no produto final como nas etapas dirias de
um processo de fabricao [1].
Certas propriedades dos raios X so importantes na aplicao prtica como
meio, podendo-se citar: capacidade de penetrao nos materiais; a diferena na
absoro da energia para cada materiais; a propagao das ondas em linha reta;
capacidade de interagir com um filme radiogrfico; capacidade de ionizar gases;
capacidade de estimular ou destruir a pea analisada [2].
A tcnica de difrao mais comum emprega utiliza se de amostras no estado
em p ou de policristalinos (que consiste em muitas partculas finas e orientadas
aleatoriamente) so expostos a radiao monocromtica (feixes de raios X). Cada
partcula de p (ou gros) um cristal, e tendo um grande nmero deles com
orientaes aleatrias garante que algumas partculas apresentam uma determinada
orientao, de tal modo que cada conjunto determine um planos cristalogrficos [2].

Histria da Difrao de raios X

Os filmes fotogrficos so os detectores mais antigos de raios-x. Em 1912 foi
utlizadado pela primeira vez por Laue Camera na descoberta da natureza
ondulatria dos raios-x [3].
O instrumento mais simples representado pela Figura 1 (cmera Pinhole de
transmio), a simetria e o padro das manchas podem ser utilizadas para
determinar a orientao do cristal em relao aos feixes de raios X. Quando a
radiao onocromtica usada, a amostra policristalina, o filme iria mostrar um
conjunto de anis concntricos, conhecidos como anis de Debye [3].
Figura 1: Funcionamento da cmera Pinhole de transmio [3].

A principal desvantagem que as amostras devem ser fina o suficiente para

os raios-X possa penetrar.nas amostras metlicas tipicamente deve ser menor do
que 0,1 mm de espessura. Isto limita severamente a utilidade do tcnica [3].
A Figura 2 mostra uma cmera Pinhole de reflexo preta. Se a radiao
branca, isto , a variao contnua de comprimentos de onda, a partir do tubo do
raio x usado. Esta tcnica amplamente utilizada para determinar a orientao
cristalogrfica de cristais simples [3].
Quando a radiao monocromtica usada para amostras policristalinas, a
fotografia constitudo por anis concntricos, como na cmara de pinhole
transmisso. Estes anis Debye ser a partir da back-reflexo (2> 90 ) regio.
Facilmente diferenciada, porque o filme volta-reflexo tem um furo no centro, onde o

colimador passou por, e o filme de transmisso tem um ponto de luz se uma

paragem de feixe foi usado ou um local muito escuro, se no houve parada feixe [3].
Figura 2: Funcionamento da cmera Pinhole de Reflexo preta

A cmera pinhole monocromtica usado principalmente em duas reas. A

primeira a determinao da orientao preferida numa amostra. orientao
preferencial ocorre se determinados planos cristalogrficos tm maior ocorrncia em
certos direes na amostra. Por exemplo, fios de alumnio estirados tem um [111]
orientao preferencial ao longo do seu eixo e um orientao aleatria sobre sua
circunferncia. Este tipo de orientao preferida geralmente referido como uma
textura de fibras porque tambm ocorre em fibras naturais e artificiais [3].
O segundo uso principal descobrir o tamanho cristalito e a deformao
plstica da amostra. Se o gro apresenta um tamanho maior que 30 mm, os anis
Debye so granuladaos. Quando o tamanho de gro menor do que alguns
milhares de angstroms, os anis de Debye so alargados. A deformao plstica
tambm vai ampliar o anis em amostras de gro fino. Em amostras de um nico
cristal ou de gros grosseiros, as manchas iro formar estrias [3].
A cmera pinhole, particularmente a de reflexo preta, uma forma eficaz e
de menor custo para avaliar o alinhamento dos cristais dos materiais [3].
Debye-Scherrer / Cmaras Gandolfi
A tcnica de filme Debye-Scherrer a tcnica mais amplamente utilizada
DRX( difrao de raios X) pois um mtodo barato, flexvel, e de fcil utilizao [3].

A Figura 3 (a) mostra a geometria de Debye-Scherrer e uma pelcula tpica

resultante na Figura 3 (b) [3].
Figura 3: (a) Geometria de Debye-Scherrer e em (b) a pelcula tpica resultante [3].

.
Na tcnica de Debye-Scherrer, a amostra consiste num p finamente disperso
que est em um pequeno cilindro (com uma orientao aleatria dos cristalitos) que
rodada em torno do seu eixo longitudinal e atacado com os feixes de raios-X
monocromticos [3].
Neste conjunto aleatrio, algumas das partculas iro ser orientar com ngulo
adequado para difratar raios-x (100), outras tero uma orientao (110) e assim por
diante. H uma continua orientaes que permite que um determinado conjunto de
planos para um ngulo adequado, produzindo um cone de raios-x provenientes da
amostra para cada conjunto de planos de difrao. O mtodo de Debye-Scherrer
amplamente utilizado para operaes tais como a determinao da preciso dos
parmetros de rede, a identificao da fase, e o determinao da cristalinidade [3].

A cmara Gandolfi
A cmera de Gandolfi uma verso adaptao de Debye-Scherrer, que til na
anlise de materiais que no pode apresentar um conjunto aleatrio de ps
finamente dispersos. A principal diferena dos dois mtodos est no movimento da
amostra. Enquanto que no modelo de Debye-Scherrer, a amostra sofre rotao em
torno de um eixo perpendicular aos feixes de raios-x [3].

Na cmara Gandolfi, a amostra montado como sendo uma pequena esfera,

assim a amostra tem duas maneiras em que rotacionada em relao aos feixes de
raios-X. Isto aumenta o nmero de maneiras que cada gro ou pode sofrer difrao
pelo feixe de raios-x. Este mtodo excelente para examinar as amostras
metalrgica para a analise da separao fsica de uma ou mais fases [3].

Tcnicas de difrao
O difratmetro um aparelho utilizado para determinar os ngulos de difrao
das amostras em p, as suas caractersticas so representados esquematicamente
na Figura X. [J]
Figura X: Diagrama esquemtico de um difratmetro de raios X: T=fonte de raios X, S=
Amostra, C= detector e O=o eixo em torno do qual a amostra e detector giram. [J]

Uma amostra S sob a forma de uma placa plana apoiada de modo que
rotaes sobre o eixo rotulados O sejam possveis, este eixo perpendicular ao
plano da pgina. Os feixes monocromticos de raios X se propagaro at o encontro
de S, sob a forma de uma placa plana apoiada de modo que sejam possveis
rotaes em torno do eixo marcado com S, este eixo perpendicular ao plano da
pgina. O feixe de raios-X monocromtico gerada no ponto T, e as intensidades
feixes de difractados so detectadas com um contador rotulada C como mostra na
Figura X. Enquanto que a amostra, a fonte de raios-x e contador so todos no
mesmo plano. [J]
O feixe de raios-X monocromtico gerada no ponto T, e as intensidades dos
feixes difractados so detectadas com um contador rotulada C como mostra a
Figura X. Enquanto que a amostra a ser analisada, a fonte de raios-x esto todos no
mesmo plano. [J]
A plataforma e a amostra esto acopladas mecanicamente, de tal modo
que uma rotao da amostra por um ngulo acompanhada de uma rotao do
contador que equivale a 2, isso assegura que os ngulos de incidncia e reflexo
sejam mantidos iguais um ao outro. Colimadores (absorvedor de radiao) so
incorporados dentro da trajetria do feixe para produzir um feixe focado e bem

definido. A utilizao de um filtro proporciona um feixe praticamente monocromtico.

[J]
A medida que o contador se move a uma velocidade angular constante, um
registrador plota automaticamente a intensidade do feixe difratado (monitorada pelo
contador) em funo do valor de 2, chamado de ngulo de difrao, que medido
experimentalmente. A Figura Z mostra um difratograma para uma amostra exemplo :
[J]
Figura 1:Difratograma obtido por um difratrmetro de raios X de raios X do p para uma amostra finamente
pulverizada de baixo quartzo. Picos so indexados com o apropriado hkl responsvel pela flexo. [L]

As alturas dos picos so diretamente proporcionais a intesidade dos efeitos

de difrao . Um exemplo de difratrograma de baixo quartzo dado acima. As
posies 2 dos picos de difrao neste traado podem ser lidos diretamente ou
podem ser tabelados com posies

2 com a utilizao de software . Os

espaamentos interplanos que deram origem aos picos so calculados utilizando a

equao n=2dsen. [L]
Uma vez que o difratograma tenha sido obtido e os vrios picos de difrao
tenham sido tabelados em uma sequncia de espaamentos interplanos
decrescentes(d) juntamente com suas intensidades relativas (I, com o pico mais
forte representado por 100 e todos os outros picos em escala em relao) pode se

fazer a identificao. Por meio de softwares, procurando os padres de difrao

comprveis ou idnticos com base nas linhas mais fortes ou os espaamentos
interplanos maiores. [L]
Cada padro inclui uma tabela de espaamentos interplanos (d), intensidades
relativas (I) e ndices de Miller, bem como informaes adicionais tais como a
frmula qumica, nome do componente, nome do mineral, frmula estrutural, sistema
cristalino, dados fsicos, parmetros experimentais e referncias. A tabela X
apresenta um exemplo do citado para o baixo quartzo. [L]
Figura 2:Exemplo de um resultado impresso para Si02, baixo quartzo, como obtido de um
arquivo de difrao em p (PDF-2) licenciado pelo lnternational Center for Diffraction Data
(CDD). [L]

O mtodo do p tem uma utilizao mais ampla, porm, e ainda h inmeras

aplicaes importantes. Variaes na composio qumica de uma substncia
conhecida envolvem a substituio de ons, geralmente de um tamanho um pouco
diferente, em posies especficas na estrutura do cristal. [L]
Como resultado desta substituio, as dimenses da cela unitria e,
consequentemente, os espaamentos interplanos so levemente alterados. Com as
mudanas no espaamento interplano, as posies das linhas no difratograma do p
tambm se deslocam. Atravs da medida destes pequenos deslocamentos na
posio das linhas nos padres do p das substncias de estruturas conhecidas,
trocas na composio qumica podem ser detectadas com grande preciso. [L]
Figura 3: Variao de b e V (volume) da cela unitria e a posio do pico 1,11,0 como uma funo da
composio na srie monoclnica cummingtonita -grunerita com composio entre Fe 2Mg5Si8022(0H)2
e Fe7Si8022(0H)2.

A Figura X ilustra o diagrama de variao que correlaciona dimenses de

cela unitria (b e o volume da cela unitria) e trocas na posio de uma difrao
mxima especfica (1,11,O) com composio para os membros da srie
cummingtonita-grunerta (anfiblios). Alm disso, as propores relativas de dois ou
mais minerais conhecidos numa mistura podem ser determinadas pela comparao
das intensidades dos picos equivalentes em padres difratomtricos de amostras de
controle com composio conhecida. Isto geralmente aplicado ao estudo de
materiais finamente granulados tais como os argilominerais. [L]

Para padres de difrao de raios X dos argilominerais, ps-orientados so

utilizados para maximizar a reflexo de hkls caractersticos e especficos
(predominantemente os picos 00l). Contudo, relacionar a intensidade do pico de
difrao com a abundncia do material no fcil e numerosos fatores devem ser
levados em conta. [L]
Uma tcnica de difrao do p, o mtodo de refinamento Rietveld, permite a
extrao de informaes estruturais de espcimes e partindo de amostras em p em
vez de monocristais. Esta uma tcnica especialmente importante para a
determinao

de

estruturas

cristalinas

de

minerais

que

so

tipicamente

microcristalinos e no so observados m monocristais bem desenvolvidos.

Exemplos

destes

minerais

microcristalinos

ou

pouco

ordenados

so

os

argilomineras, xidos e hidrxidos de ferro e mangans e algumas zelitas. [L]

H trs requisitos bsicos para o refinamento Rietveld:
1. Disponibilidade de informaes acuradas sobre a intensidade da difrao do
mtodo do p medidas em intervalos especficos de 2. [L]
2. Um entendimento preliminar ("modelo de partida") da verdadeira estrutura
cristalina do material que est sendo estudado. [L]
3. Um entendimento quantitativo das formas, larguras e erros sistemticos nas
posies dos picos de raios X no padro do p. [L]

Referencias
[J] CALLISTER, W. D. Cincia e Engenharia de Materiais: Uma Introduo. 5ed.
LTC, So Paulo, 2002. p.66
[L]KLEIN, C.; DUTROW, B. Manual de Cincia dos Minerais. 23a ed., Porto Alegre,
Artmed Editora S.A. 2012. p.344-346